JP2004146807A - 位置決め装置及び露光装置並びにデバイスの製造方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】位置決め装置は、XYスライダをX梁、Y梁とともに移動させる。XYスライダとX梁、Y梁との間には電磁ガイド(電磁機構)が設けられる。電磁ガイドは、XYスライダ109cに設けられた位置決め用電磁石XEM1〜XEM4、YEM1〜YEM4および加速用電磁石XAEM1、XAEM2、YAEM1、YAEM2と、X梁、Y梁に設けられたターゲットとで構成される。位置決め用電磁石はフィードバック制御され、加速用電磁石はフィードフォワード制御される。
【選択図】図3
Description
Gapは、ギャップ変動が零の時の標準のギャップの値であり、単位はX2gapと同じである。ここでは、X梁105、Y梁107とXYスライダ109の各々の計測値から電磁石のギャップを割り出したが、電磁石の近傍に該電磁石とターゲットとのギャップを計測するギャップセンサを用いてもよい。XEM2指令器403では、前述した力指令の平方根である√(Xf12)に対して、このギャップ補正係数Col_X2gapを乗じたものを、電磁石XEM2のコイルを駆動する電流ドライバ222に対する電流指令(XI2)として算出する。
F1+F2=F3
F1・L1−F2・L2=F3・L3 …(数式1)
という、関係式が得られる。
F3=m・a …(数式2)
となる。
F1=(L2+L3/L1+L2)×m・a
F2=(L1−L3/L1+L2)×m・a …(数式3)
となる。駆動システム900は、これらの力をY梁107の両端のリニアモータ103a、103bに、フィードフォワード制御指令として与え、Y梁107の重心Ygにかかるモーメント力を打ち消すことができる。
F3=f∝i2/r2 …(数式4)
と表される。但し、iは電磁石に流れる電流であり、rは電磁石から吸引される磁性体までの距離(ギャップ)である。
F1=(L2+L3/L1+L2)×f
F2=(L1−L3/L1+L2)×f …(数式5)
となる。駆動システム900は、これらの力をY梁107の両端のリニアモータ103a、103bにフィードフォワード制御指令として加え、Y梁107の重心Ygにかかるモーメントを打ち消すことができる。なお、駆動システム900は、XYスライダ109の重心XYgがX梁105の重心とY方向にずれた位置にあるときには、X梁105の両端のリニアモータ101a、101bにフィードフォワード制御指令を加える方法を採用することができる。
Claims (14)
- 位置決め装置であって、
位置決めすべき構造物と、
前記構造物の位置決めのために移動する移動体と、
前記構造物と前記移動体との間に電磁的に力を作用させることにより、前記構造物と前記移動体との間に間隙を形成しつつ前記移動体の移動に伴って前記構造物が移動することを可能にする電磁機構とを備え、
前記電磁機構は、
前記構造物の目標位置と実際位置との偏差に基づいてフィードバック制御される第1電磁アクチュエータと、
前記構造物の目標位置に基づいてフィードフォワード制御される第2電磁アクチュエータと、を有し、
前記第1及び第2電磁アクチュエータは、各々、
同一線上において互いに反対の方向に力を発生するように配置された一対の電磁石と、
前記一対の電磁石の各々と対向して配置された一対のターゲットと、
を有し、前記電磁石と前記ターゲットとの間において、前記電磁石が発生する磁束による吸引力が前記ターゲットに作用することを特徴とする位置決め装置。 - 少なくとも1つの前記ターゲットは、少なくとも2つの前記電磁石によって共用されるように配置されることを特徴とする請求項1に記載の位置決め装置。
- 前記フィードバック制御では、前記偏差を低減するために前記第1電磁アクチュエータが発生すべき力の平方根に前記第1電磁アクチュエータにおける前記電磁石と前記ターゲットとの間の間隙に相当する補正項を乗じた値に従って前記電磁石のコイルに流す電流を制御することを特徴とする請求項1に記載の位置決め装置。
- 前記フィードフォワード制御では、前記構造物の目標位置を前記第2電磁アクチュエータの前記電磁石が発生すべき磁束の指令値に変換し、該指令値と前記電磁石が発生している磁束の値との差分に基づいて前記電磁石を制御することを特徴とする請求項1に記載の位置決め装置。
- 前記一対の電磁石の一方の電磁石を駆動しているときは他方の電磁石を駆動しないことを特徴とする請求項1に記載の位置決め装置。
- 前記装置は、前記第1電磁アクチュエータを2組備え、前記第2電磁アクチュエータが前記2組の第1電磁アクチュエータの間に配置されていることを特徴とする請求項1に記載の位置決め装置。
- 前記第2電磁アクチュエータが発生する力の力線が、前記構造体の重心を通る線と一致していることを特徴とする請求項1に記載の位置決め装置。
- 前記第1電磁アクチュエータと前記ターゲットの間隔は前記第2電磁アクチュエータと前記ターゲットの間隔以上あることを特徴とする請求項1に記載の位置決め装置。
- 前記移動体の両端に配置されて前記移動体を駆動する2つの駆動機構を更に備え、前記2つの駆動機構は、前記構造物の位置に応じて分配される推力でそれぞれ前記移動体を駆動することを特徴とする請求項1乃至請求項8のいずれか1項に記載の位置決め装置。
- 前記推力は、前記構造物から前記移動体が受ける反力によって生じる前記移動体の重心周りの力のモーメントを打ち消すように分配されることを特徴とする請求項9に記載の位置決め装置。
- 前記推力は、前記構造物と前記移動体とを一体物としたときの重心位置に基づいて分配されることを特徴とする請求項10に記載の位置決め装置。
- 前記推力は、前記構造物の重心位置と前記移動体の重心位置とに基づいて分配されることを特徴とする請求項10に記載の位置決め装置。
- 請求項1乃至請求項12のいずれか1項に記載の位置決め装置を利用して、位置決め対象物を位置決めし露光動作を実行することを特徴とする露光装置。
- 請求項13に記載の露光装置を利用して、
基板にパターンを転写する工程と、
前記基板を現像する工程と、
を含むことを特徴とするデバイスの製造方法。
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Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2006006449A1 (ja) * | 2004-07-14 | 2006-01-19 | Sumitomo Heavy Industries, Ltd. | 移動体位置制御装置及びこの制御装置を用いたステージ装置 |
WO2006088098A1 (ja) * | 2005-02-18 | 2006-08-24 | Yokogawa Electric Corporation | Xyステージ |
JP2006252484A (ja) * | 2005-03-14 | 2006-09-21 | Yaskawa Electric Corp | 2次元位置決め装置 |
JP2006256559A (ja) * | 2005-03-18 | 2006-09-28 | Honda Motor Co Ltd | 電動パワーステアリング装置 |
JP2008060563A (ja) * | 2006-08-29 | 2008-03-13 | Asml Netherlands Bv | 可動物体の位置を制御するための方法、位置決めシステム、および、リソグラフィ装置 |
KR100828459B1 (ko) * | 2004-07-14 | 2008-05-13 | 스미도모쥬기가이고교 가부시키가이샤 | 이동체 위치 제어장치 및 이 제어장치를 이용한스테이지장치 |
KR102722525B1 (ko) * | 2021-11-29 | 2024-10-25 | 도쿄엘렉트론가부시키가이샤 | 기판의 반송을 행하는 장치, 및 기판의 반송을 행하는 방법 |
Families Citing this family (24)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3762401B2 (ja) * | 2002-09-30 | 2006-04-05 | キヤノン株式会社 | 位置決め装置及び露光装置並びにデバイスの製造方法 |
JP3950861B2 (ja) * | 2004-02-25 | 2007-08-01 | キヤノン株式会社 | 位置決め装置及び露光装置 |
JP4447949B2 (ja) | 2004-03-25 | 2010-04-07 | キヤノン株式会社 | 位置決め装置の初期化方法、露光装置およびデバイス製造方法 |
US20080236997A1 (en) * | 2004-08-24 | 2008-10-02 | Nikon Corporation | Stage Apparatus and Exposing Apparatus |
JP2006211873A (ja) | 2005-01-31 | 2006-08-10 | Canon Inc | 移動体制御装置及び移動体制御方法 |
US8140288B2 (en) * | 2007-04-18 | 2012-03-20 | Nikon Corporation | On-machine methods for identifying and compensating force-ripple and side-forces produced by actuators on a multiple-axis stage |
JP2009016385A (ja) * | 2007-06-29 | 2009-01-22 | Canon Inc | ステージ装置、露光装置及びデバイス製造方法 |
US8267388B2 (en) * | 2007-09-12 | 2012-09-18 | Xradia, Inc. | Alignment assembly |
DE102008001896B4 (de) * | 2008-05-21 | 2023-02-02 | Robert Bosch Gmbh | Mikromechanisches Bauteil und Herstellungsverfahren für ein mikromechanisches Bauteil |
US8763999B2 (en) * | 2009-10-27 | 2014-07-01 | Applied Materials Israel, Ltd. | Stage structure for operation in vacuum |
US10036544B1 (en) | 2011-02-11 | 2018-07-31 | Soraa, Inc. | Illumination source with reduced weight |
JP2012235026A (ja) * | 2011-05-06 | 2012-11-29 | Canon Inc | 位置決め装置、露光装置およびデバイス製造方法 |
USD736724S1 (en) * | 2011-08-15 | 2015-08-18 | Soraa, Inc. | LED lamp with accessory |
USD736723S1 (en) * | 2011-08-15 | 2015-08-18 | Soraa, Inc. | LED lamp |
US9488324B2 (en) | 2011-09-02 | 2016-11-08 | Soraa, Inc. | Accessories for LED lamp systems |
US9360190B1 (en) | 2012-05-14 | 2016-06-07 | Soraa, Inc. | Compact lens for high intensity light source |
US9995439B1 (en) | 2012-05-14 | 2018-06-12 | Soraa, Inc. | Glare reduced compact lens for high intensity light source |
US10436422B1 (en) | 2012-05-14 | 2019-10-08 | Soraa, Inc. | Multi-function active accessories for LED lamps |
US9215764B1 (en) | 2012-11-09 | 2015-12-15 | Soraa, Inc. | High-temperature ultra-low ripple multi-stage LED driver and LED control circuits |
US9267661B1 (en) | 2013-03-01 | 2016-02-23 | Soraa, Inc. | Apportioning optical projection paths in an LED lamp |
US9435525B1 (en) | 2013-03-08 | 2016-09-06 | Soraa, Inc. | Multi-part heat exchanger for LED lamps |
US9891599B2 (en) | 2016-02-01 | 2018-02-13 | Varian Semiconductor Equipment Associates, Inc. | Proportional integral derivative control incorporating multiple actuators |
US10152033B2 (en) | 2016-02-01 | 2018-12-11 | Varian Semiconductor Equipment Associates, Inc. | Proportional integral derivative control incorporating multiple actuators |
JP6779390B2 (ja) * | 2017-12-15 | 2020-11-04 | 三菱電機株式会社 | 推力測定装置 |
Family Cites Families (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5228358A (en) * | 1990-02-21 | 1993-07-20 | Canon Kabushiki Kaisha | Motion guiding device |
US6246204B1 (en) * | 1994-06-27 | 2001-06-12 | Nikon Corporation | Electromagnetic alignment and scanning apparatus |
JP3815750B2 (ja) * | 1995-10-09 | 2006-08-30 | キヤノン株式会社 | ステージ装置、ならびに前記ステージ装置を用いた露光装置およびデバイス製造方法 |
JP3145355B2 (ja) | 1998-06-08 | 2001-03-12 | キヤノン株式会社 | 移動案内装置 |
JP3312297B2 (ja) | 1999-07-02 | 2002-08-05 | 住友重機械工業株式会社 | ステージ位置制御装置 |
JP3814453B2 (ja) * | 2000-01-11 | 2006-08-30 | キヤノン株式会社 | 位置決め装置、半導体露光装置およびデバイス製造方法 |
JP3481540B2 (ja) | 2000-02-21 | 2003-12-22 | シャープ株式会社 | ステージ装置 |
DE60136667D1 (de) * | 2000-02-21 | 2009-01-08 | Sharp Kk | Präzisionsträgerplatte |
JP3679776B2 (ja) * | 2002-04-22 | 2005-08-03 | キヤノン株式会社 | 駆動装置、露光装置及びデバイス製造方法 |
JP3762401B2 (ja) | 2002-09-30 | 2006-04-05 | キヤノン株式会社 | 位置決め装置及び露光装置並びにデバイスの製造方法 |
US20060170382A1 (en) * | 2005-01-28 | 2006-08-03 | Nikon Corporation | Linear motor force ripple identification and compensation with iterative learning control |
-
2003
- 2003-09-17 JP JP2003324688A patent/JP3762401B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2003-09-26 US US10/670,241 patent/US7193493B2/en not_active Expired - Fee Related
-
2005
- 2005-10-11 US US11/246,185 patent/US7330093B2/en not_active Expired - Fee Related
Cited By (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2006006449A1 (ja) * | 2004-07-14 | 2006-01-19 | Sumitomo Heavy Industries, Ltd. | 移動体位置制御装置及びこの制御装置を用いたステージ装置 |
US7333862B2 (en) | 2004-07-14 | 2008-02-19 | Sumitomo Heavy Industries, Ltd. | Position control device of moving body, stage device using the position control device, and position control method of moving body |
KR100828459B1 (ko) * | 2004-07-14 | 2008-05-13 | 스미도모쥬기가이고교 가부시키가이샤 | 이동체 위치 제어장치 및 이 제어장치를 이용한스테이지장치 |
WO2006088098A1 (ja) * | 2005-02-18 | 2006-08-24 | Yokogawa Electric Corporation | Xyステージ |
JP2006226862A (ja) * | 2005-02-18 | 2006-08-31 | Yokogawa Electric Corp | Xyステージ |
JP4678204B2 (ja) * | 2005-02-18 | 2011-04-27 | 横河電機株式会社 | Xyステージ |
JP2006252484A (ja) * | 2005-03-14 | 2006-09-21 | Yaskawa Electric Corp | 2次元位置決め装置 |
JP4591136B2 (ja) * | 2005-03-14 | 2010-12-01 | 株式会社安川電機 | 2次元位置決め装置 |
JP2006256559A (ja) * | 2005-03-18 | 2006-09-28 | Honda Motor Co Ltd | 電動パワーステアリング装置 |
JP4571529B2 (ja) * | 2005-03-18 | 2010-10-27 | 本田技研工業株式会社 | 電動パワーステアリング装置 |
JP2008060563A (ja) * | 2006-08-29 | 2008-03-13 | Asml Netherlands Bv | 可動物体の位置を制御するための方法、位置決めシステム、および、リソグラフィ装置 |
KR102722525B1 (ko) * | 2021-11-29 | 2024-10-25 | 도쿄엘렉트론가부시키가이샤 | 기판의 반송을 행하는 장치, 및 기판의 반송을 행하는 방법 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
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