JP2004111149A - イオンガイド - Google Patents
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Abstract
【解決手段】中間室30内に、イオン通過孔を有する板状電極32をイオンの輸送方向に複数枚並置する。中間室30と隣接室31との間に、両者の真空度を維持すると共にイオンを透過させるために細孔(アパーチャ)33aを設けた板状のアパーチャ電極33を設置する。板状電極32及びアパーチャ電極33を区別せずにこれらの電極に高周波電圧を印加する。形成される高周波電場により、気体分子との衝突によって進行方向が変化したイオンを、所定の進行方向へ誘導することができる。この高周波電場は板状電極32からアパーチャ電極33まで連続的に形成され、従来イオンの損失が生じていたアパーチャ付近においても効率よくイオンを輸送することができる。
【選択図】 図6
Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、質量分析装置等において、低真空領域で生成されたイオンを高真空領域へ輸送するためのイオンガイドに関する。
【0002】
【従来の技術】
液体クロマトグラフ質量分析装置等の質量分析部に用いられるエレクトロスプレイ質量分析装置、高周波誘導結合プラズマ質量分析装置、大気圧化学イオン化質量分析装置等においては、試料をイオン化し、このイオンについて四重極質量分析器や飛行時間型質量分析器等を用いて質量分析を行う。ここで、試料のイオン化は大気圧に近い圧力下で行うのに対して、質量分析はイオンの散乱を防ぐために高真空下で行う必要がある。そのため、イオンをその発生源である低真空領域から質量分析器のある高真空領域に輸送する必要がある。このイオンの輸送の際に生じるイオンの損失を抑えることが、質量分析装置の高感度化を実現するためには重要である。
【0003】
以下に、エレクトロスプレイ質量分析装置を例に挙げて、低真空領域から高真空領域へイオンを輸送するための構成を図1を用いて説明する。この質量分析装置には、液体クロマトグラフ装置のカラムの出口端に接続されたノズル15が配設されたイオン化室11と、四重極フィルタ17及びイオン検出器18が配設された分析室14との間に、第1中間室12及び第2中間室13が設けられる。イオン化室11と第1中間室12との間は細径の脱溶媒パイプ16を設けた隔壁によって隔てられ、第1中間室12と第2中間室13との間及び第2中間室13と分析室14との間はそれぞれ小径の通過口(アパーチャ)19及び20を設けた隔壁によって隔てられる。第1中間室及び第2中間室にはそれぞれイオンガイド21及び22が設けられる。
【0004】
イオン化室11内はノズル15から試料液を噴霧するために、ほぼ大気圧とする。第1中間室12内はロータリーポンプにより約10+2Paの低真空域まで排気され、第2中間室13内はターボ分子ポンプにより約10−1〜10−2Paの中真空域まで排気される。質量分析室14内はターボ分子ポンプにより約10− 4Paの高真空域まで排気される。即ち、イオン化室11から分析室14に向かって各室毎に真空度を高くすること(差動排気)により、質量分析室14内を高真空状態に維持する。なお、ここでは中間室の数が2室である例を示したが、中間室は3室以上設けてもよく、装置を簡略化したい場合には1室としてもよい。
【0005】
試料液はノズル15からイオン化室11内に噴霧され、液滴中の溶媒が蒸発する過程で試料分子はイオン化される。イオンを含む微細液滴はイオン化室11と第1中間室12との圧力差により脱溶媒パイプ16に引き込まれ、脱溶媒パイプ16を通過する過程で溶媒が更に蒸発してイオン化が進む。こうして試料がイオン化され、このイオンがイオンガイド21、アパーチャ19、イオンガイド22、アパーチャ20を経て、分析室14に到達する。
【0006】
従来、中間室内のイオンの輸送には、図2に示す静電イオンレンズが用いられてきた。これは、複数枚並置した静電イオンレンズ23の各々に相異なる直流電圧を印加し、それによって各静電イオンレンズ間に与えられる電位差によってイオンを輸送するものである。しかしこのイオンレンズでは、低真空域において気体分子との衝突によってイオンの進行方向が変化すれば、その方向を元に戻すことができず、イオンの輸送効率が良くない。そこで近年、高周波電場を利用したイオンガイドが使用されるようになった。そのようなイオンガイドには、図3に示すように偶数本のポール電極24を、イオン光軸を中心に平行かつ軸対称に配置した多極子構造のものや、図4に示すように複数のリング状電極25を進行方向に配置したもの等がある。これらのイオンガイドはいずれも、隣り合う電極間に位相の異なる高周波電圧を印加することにより高周波電場を形成する。低真空域において気体分子との衝突によってイオンの進行方向が変化したとしても、イオンはこの高周波電場によりイオンガイド内部ではその中心(イオン光軸)方向に反射され、進行方向に進むことができる。そのため、これらのイオンガイドにおけるイオンの輸送効率は、従来の直流電圧を印加する静電イオンレンズにおけるイオンの輸送効率よりも良い。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】
イオンガイドの内径はイオンの輸送量を高めるために大きい方が望ましく、アパーチャの内径は各室の真空を隔離するために小さい方が望ましい。そのため、イオンガイドを通過したイオンがアパーチャ周囲の隔壁に衝突する確率が高くなり、イオンの輸送効率が低くなる。
【0008】
そこで、イオンガイドを通過したイオンをできるだけ多くアパーチャを通過させるために、従来は図5に示すようにイオンガイドとアパーチャとの間に静電イオンレンズ26を配置する方法や、アパーチャ自体に静電レンズの機能を持たせるなどの方法が用いられてきた。しかし、いずれもイオンガイドとアパーチャとの間(図5の例では、領域27)には高周波電場がないため、低真空雰囲気における気体分子にイオンが衝突してその進行方向が変化することがある。
【0009】
このように、イオンガイドの導入によって質量分析器全体ではイオンの輸送効率が向上したものの、アパーチャ近傍では未だイオンの輸送効率がよくなかった。
【0010】
本発明はこのような課題を解決するために成されたものであり、その目的とするところは、アパーチャ近傍におけるイオンの輸送効率を向上させ、これにより装置全体において高いイオンの輸送効率を得ることができるイオンガイドを提供することにある。
【0011】
【課題を解決するための手段】
上記課題を解決するために成された本発明に係るイオンガイドは、低真空室から高真空室へイオンを輸送する経路にあり、前記低真空室と前記高真空室との間に設けられる中間室に設置されるイオンガイドにおいて、
a)前記中間室内に、イオンの輸送方向に複数枚並置し、イオン光軸の周囲にイオン通過孔を設けた板状電極と、
b)前記中間室と隣接する室との隔壁の一部として配置し、イオン光軸の周囲に細孔を設けた板状のアパーチャ電極と、
c)前記複数枚の板状電極及びアパーチャ電極に高周波電圧を印加する高周波電源と、
を備えることを特徴とする。
【0012】
【発明の実施の形態】
本発明は、イオン化室等の低真空室と質量分析室等の高真空室との間に、それらの中間の真空度に保持される1つ以上の中間室を備える装置を対象とする。本発明のイオンガイドは、その中間室に設けられるものである。1つの中間室は隔壁によって隣接する他の室と隔離される。ここで「隣接する他の室」(本明細書では、これを「隣接室」と呼ぶ)とは、他の中間室である場合と、低真空室又は高真空室である場合がある。また、1つの中間室には2つの隣接室が存在するが、以下では説明の都合上、一方の隣接室のみに着目して説明を行う。もちろん、他方の隣接室に対しても、以下の構成を同様に適用することができる。
【0013】
以下、図6(a)を用いて本発明のイオンガイドについて説明する。1つの中間室30内に、イオン光軸の周囲にイオンが通過する孔を設けた板状電極32をイオンの輸送方向に複数枚並置する。
【0014】
この板状電極32を設けた中間室30と隣接室31との間の隔壁に、イオン光軸の周囲にアパーチャ33aを設けた板状電極(アパーチャ電極33)を設置する。隔壁が導電性材料から成る場合は、隔壁とアパーチャ電極33との間に絶縁体34を設ける。アパーチャ33aは、中間室から隣接室へイオンを送出(又は隣接室31から中間室30へイオンを導入)しつつ、中間室30と隣接室31との間の真空度の差を維持する役割を持つ。
【0015】
前記のように、板状電極32のイオン通過孔はイオンの輸送量を高めるために大きい方が望ましく、アパーチャ電極33のアパーチャ33aは中間室30と隣接室31との間の真空度の差を維持するために小さい方が望ましい。
【0016】
これらの板状電極32及びアパーチャ電極33に高周波電源36を接続する。図6(a)には2個の高周波電源を用い、隣り合う電極には相異なる高周波電源に接続する例を示した。このような2個の高周波電源からは、互いに位相が180°異なる高周波電圧が電極に印加される。この高周波電源の接続は、板状電極32とアパーチャ電極33とを区別せずに行う。このため、イオン光軸の周囲には整合性ある連続的な高周波電場が形成され、板状電極32とアパーチャ電極33は全体として協同してイオンガイドとしての役割を有する。
【0017】
イオンガイド中を通過するイオンは、中間室内の気体分子等と衝突した時に、この高周波電場によってイオン光軸35の周囲に引き戻される。この高周波電場が隣接室との境界にあるアパーチャ電極33まで形成され、より多くのイオンが隣接室まで到達することができる。
【0018】
ここまでは1つの中間室に着目して説明したが、図6(b)に示すように2つ以上の中間室が連続して設けられる場合には、各中間室に複数の板状電極32を並置し、各中間室との境界の隔壁にアパーチャ電極33を設ける。そして、これらの板状電極32及びアパーチャ電極33に高周波電源36を接続する。この構成により、複数の中間室に亘って整合性ある連続的な高周波電場が形成され、より多くのイオンがこの複数の中間室を通過し隣接室まで到達することができる。
【0019】
更に、高周波電圧に重畳して各電極に異なる直流電圧を印加することにより、イオンの進行方向に電場勾配を形成してもよい。これによって、イオンを進行方向に加速することができる。また、この電場勾配の大きさを制御することによって、イオンの運動エネルギーを制御することができる。
【0020】
そのような直流電圧を重畳するための一構成例を図7に示す。隣接する電極間に抵抗R1,R2...を接続し、直流電源37から直流電圧を抵抗に印加することよって、各板状電極32及びアパーチャ電極33にそれぞれ異なる直流電位が与えられる。これによって各電極には、異なる直流電圧が高周波電圧に重畳されて印加される。直流電源37が印加する直流電圧の大きさを制御することによって、各電極に印加される直流電圧の大きさを制御することができる。
【0021】
【発明の効果】
本発明に係るイオンガイドは、アパーチャ自体をイオンガイドの1構成要素である電極の1つとすることによって、アパーチャに至るまで整合性ある連続的な高周波電場が形成される。そのため、イオンガイドとアパーチャとの間における気体分子との衝突による損失が抑えられ、より多くのイオンがアパーチャを通過することができる。これにより、装置全体において高いイオンの輸送効率を得ることができる。このイオンガイドは、低真空領域から高真空領域へイオンを輸送する各種装置に好適に用いることができる。例えば、このイオンガイドを用いた質量分析器は、イオンの輸送効率が高いため、高い感度で分析を行うことができる。
【0022】
【実施例】
本発明の一実施例として、本発明のイオンガイドを設けた液体クロマトグラフ質量分析装置について図8を用いて説明する。前記従来技術の質量分析装置と同様に、この質量分析装置は試料液をイオン化するイオン化室11と分析室14との間に第1中間室12及び第2中間室13を備え、これらの各室はイオン化室11から分析室14に向かって各室毎に真空度が高くなるように差動排気される。図8には、分析室14内に四重極質量分析器を設ける例を示したが、もちろん分析室14内には飛行時間型質量分析器等の他の質量分析器を設けてもよい。
【0023】
脱溶媒パイプ16の直後から第1中間室12及び第2中間室13に亘り、本発明に係るイオンガイドが以下のように設けられる。第1中間室12内及び第2中間室13内にはそれぞれ、直径5mmのイオン通過孔を設けた板状電極32が設置される。第1中間室12と第2中間室13との間及び第2中間室13と分析室14との間には、それぞれアパーチャ電極331及び332が設けられる。アパーチャ電極331及び332には、その両隣の室の真空度を維持し且つイオンを通過させるために直径3mmあるいは直径5mmのアパーチャ331a及び332aが設けられる。
【0024】
板状電極32とアパーチャ電極331及び332に高周波電源を接続する。本実施例では2個の高周波電源361及び362を、隣り合う電極には互いに異なる高周波電源から電力が供給されるように接続する。高周波電源361及び362は互いに180°位相の異なる高周波電圧を電極に印加する。この高周波電圧の印加により、脱溶媒パイプ16の直後からアパーチャ332aに亘り、整合性ある連続的な高周波電場が形成される。
【0025】
本実施例では更に、隣接する電極間に抵抗を接続し、直流電源37から直流電圧を抵抗に印加することよって、各板状電極32及びアパーチャ電極331及び332にそれぞれ異なる直流電位を供給し、イオンの進行方向に電場勾配を与える。
【0026】
上記構成の質量分析装置におけるイオンの輸送について説明する。試料液がイオン化室11内に噴霧され、更に脱溶媒パイプ16を通過することによって、試料分子はイオン化される。脱溶媒パイプ16の直後に最初の板状電極32があり、且つ板状電極32のイオン通過孔の直径(5mm)が脱溶媒パイプ16の内径(0.3mm)よりも大きいため、脱溶媒パイプ16を通過したイオンはイオン光軸35に垂直な方向への拡散が小さいうちに最初の板状電極32のイオン通過孔に導入される。そのため、脱溶媒パイプ16と最初の板状電極32との間での損失は十分小さい。
【0027】
その最初の板状電極32のイオン通過孔からアパーチャ332aまで、前記のように整合性ある連続的な高周波電場が形成される。これによって、従来イオンの損失が生じていたアパーチャ周辺も含め、第1中間室12及び第2中間室13内において気体分子等と衝突してもイオン光軸35の周囲に引き戻されるため、多くのイオンが分析室14まで到達することができる。
【0028】
また、高周波電圧に重畳させて各電極に印加した直流電圧が生成する電場勾配により、イオンはイオン光軸35の進行方向に加速される。この電場勾配を設けなくとも、各室の真空度の差によってイオンをイオン化室11から分析室14まで輸送することは可能であるが、この電場勾配によってイオンを更に進行方向に加速することができる。この電場勾配の大きさを制御することによって、イオンの運動エネルギーを制御することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】質量分析装置の一構成例を表す図。
【図2】静電イオンレンズの一構成例を表す断面図。
【図3】従来の多極子構造のイオンガイドの一構成例を表す斜視図。
【図4】従来のリング状電極を用いたイオンガイドの一構成例を表す斜視図。
【図5】従来のイオンガイドにおいてイオンの散乱を受けやすい領域を表す図。
【図6】本発明に係るイオンガイドの一構成例を表す断面図。
【図7】本発明に係るイオンガイドの各電極に直流電圧を印加する一構成例を表す断面図。
【図8】本発明に係るイオンガイドを用いた質量分析装置の一実施例を表す図。
【符号の説明】
11…イオン化室
12…第1中間室
13…第2中間室
14…分析室
15…ノズル
16…脱溶媒パイプ
17…四重極フィルタ
18…イオン検出器
19、20…アパーチャ
21、22…イオンガイド
23…静電イオンレンズ
24…ポール電極
25…リング状電極
26…静電イオンレンズ
28…隔壁
30…中間室
31…隣接室
32…板状電極
33、331、332…アパーチャ電極
33a、331a、332a…アパーチャ
34…絶縁体
35…イオン光軸
36、361、362…高周波電源
37…直流電源
Claims (2)
- 低真空室から高真空室へイオンを輸送する経路にあり、前記低真空室と前記高真空室との間に設けられる中間室に設置されるイオンガイドにおいて、
a)前記中間室内に、イオンの輸送方向に複数枚並置し、イオン光軸の周囲にイオン通過孔を設けた板状電極と、
b)前記中間室と隣接する室との隔壁の一部として配置し、イオン光軸の周囲に細孔を設けた板状のアパーチャ電極と、
c)前記複数枚の板状電極及びアパーチャ電極に高周波電圧を印加する高周波電源と、
を備えることを特徴とするイオンガイド。 - 前記板状電極及びアパーチャ電極にイオン加速用の直流電圧を重畳することを特徴とする請求項1に記載のイオンガイド。
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Cited By (21)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007536530A (ja) * | 2004-05-05 | 2007-12-13 | エムディーエス インコーポレイテッド ドゥーイング ビジネス アズ エムディーエス サイエックス | 質量選択的な軸方向放出のための方法および装置 |
JP2008513941A (ja) * | 2004-09-14 | 2008-05-01 | マイクロマス ユーケー リミテッド | 質量分析計 |
JP2008130534A (ja) * | 2006-11-20 | 2008-06-05 | Korea Basic Science Inst | 混成イオン伝送装置 |
JP2008522377A (ja) * | 2004-12-02 | 2008-06-26 | マイクロマス ユーケー リミテッド | 質量分析計 |
JP2008527663A (ja) * | 2005-01-17 | 2008-07-24 | マイクロマス ユーケー リミテッド | 質量分析計 |
JP2008527653A (ja) * | 2005-01-10 | 2008-07-24 | アプレラ コーポレイション | 質量分析器における改良された感度のための方法および装置 |
JP2009526353A (ja) * | 2006-02-08 | 2009-07-16 | エムディーエス アナリティカル テクノロジーズ, ア ビジネス ユニット オブ エムディーエス インコーポレイテッド, ドゥーイング ビジネス スルー イッツ サイエックス ディビジョン | 無線周波数イオンガイド |
WO2009110025A1 (ja) * | 2008-03-05 | 2009-09-11 | 株式会社島津製作所 | 質量分析装置 |
JP2009535761A (ja) * | 2006-04-28 | 2009-10-01 | マイクロマス ユーケー リミテッド | 質量分析計 |
JP2010507207A (ja) * | 2006-10-16 | 2010-03-04 | マイクロマス ユーケー リミテッド | 質量分析計 |
JP2010508643A (ja) * | 2006-11-07 | 2010-03-18 | サーモ フィッシャー サイエンティフィック (ブレーメン) ゲーエムベーハー | イオン移送装置 |
JP2010530120A (ja) * | 2007-06-15 | 2010-09-02 | サーモ フィニガン リミテッド ライアビリティ カンパニー | イオントランスポートデバイスおよびその作動モード |
JP2010531031A (ja) * | 2007-05-31 | 2010-09-16 | アナリティカ オブ ブランフォード インコーポレイテッド | 質量分析におけるバックグラウンドノイズ低減用の多重極イオンガイドインタフェース |
JP2011108569A (ja) * | 2009-11-20 | 2011-06-02 | Shimadzu Corp | 質量分析装置 |
JP2011159422A (ja) * | 2010-01-29 | 2011-08-18 | Shimadzu Corp | 質量分析装置 |
JP2012506126A (ja) * | 2008-10-15 | 2012-03-08 | サーモ フィニガン リミテッド ライアビリティ カンパニー | 積層リングイオンガイドに結合された動電又は静電レンズ |
WO2013057822A1 (ja) * | 2011-10-20 | 2013-04-25 | 株式会社島津製作所 | 質量分析装置 |
US8455819B2 (en) | 2006-04-28 | 2013-06-04 | Micromass Uk Limited | Mass spectrometer device and method using scanned phase applied potentials in ion guidance |
JP2015511704A (ja) * | 2012-03-16 | 2015-04-20 | アナリティク イエナ アーゲーAnalytik Jena Ag | 質量分析計装置のための改良されたインタフェース |
WO2017022125A1 (ja) * | 2015-08-06 | 2017-02-09 | 株式会社島津製作所 | 質量分析装置 |
WO2020129199A1 (ja) * | 2018-12-19 | 2020-06-25 | 株式会社島津製作所 | 質量分析装置 |
Families Citing this family (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20140166875A1 (en) | 2010-09-02 | 2014-06-19 | Wayne State University | Systems and methods for high throughput solvent assisted ionization inlet for mass spectrometry |
WO2012058248A2 (en) * | 2010-10-25 | 2012-05-03 | Wayne State University | Systems and methods extending the laserspray ionization mass spectrometry concept from atmospheric pressure to vacuum |
US8927940B2 (en) * | 2011-06-03 | 2015-01-06 | Bruker Daltonics, Inc. | Abridged multipole structure for the transport, selection and trapping of ions in a vacuum system |
CA3000341C (en) | 2015-10-07 | 2019-04-16 | Battelle Memorial Institute | Method and apparatus for ion mobility separations utilizing alternating current waveforms |
US10692710B2 (en) | 2017-08-16 | 2020-06-23 | Battelle Memorial Institute | Frequency modulated radio frequency electric field for ion manipulation |
US10497552B2 (en) * | 2017-08-16 | 2019-12-03 | Battelle Memorial Institute | Methods and systems for ion manipulation |
WO2019070324A1 (en) | 2017-10-04 | 2019-04-11 | Battelle Memorial Institute | METHODS AND SYSTEMS FOR INTEGRATING ION HANDLING DEVICES |
EP3776624B1 (en) | 2018-04-05 | 2023-11-22 | Technische Universität München | Ion guide comprising electrode wires and ion beam deposition system |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0748249B1 (en) * | 1994-02-28 | 2009-07-08 | Analytica Of Branford, Inc. | Multipole ion guide for mass spectrometry |
US6417511B1 (en) * | 2000-07-17 | 2002-07-09 | Agilent Technologies, Inc. | Ring pole ion guide apparatus, systems and method |
-
2002
- 2002-09-17 JP JP2002270320A patent/JP3791479B2/ja not_active Expired - Lifetime
-
2003
- 2003-07-31 US US10/630,733 patent/US20040051038A1/en not_active Abandoned
Cited By (31)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4684287B2 (ja) * | 2004-05-05 | 2011-05-18 | エムディーエス インコーポレイテッド ドゥーイング ビジネス アズ エムディーエス サイエックス | 質量選択的な軸方向放出のための方法および装置 |
JP2007536530A (ja) * | 2004-05-05 | 2007-12-13 | エムディーエス インコーポレイテッド ドゥーイング ビジネス アズ エムディーエス サイエックス | 質量選択的な軸方向放出のための方法および装置 |
JP2008513941A (ja) * | 2004-09-14 | 2008-05-01 | マイクロマス ユーケー リミテッド | 質量分析計 |
JP2008522377A (ja) * | 2004-12-02 | 2008-06-26 | マイクロマス ユーケー リミテッド | 質量分析計 |
JP2008527653A (ja) * | 2005-01-10 | 2008-07-24 | アプレラ コーポレイション | 質量分析器における改良された感度のための方法および装置 |
JP2008527663A (ja) * | 2005-01-17 | 2008-07-24 | マイクロマス ユーケー リミテッド | 質量分析計 |
JP2009526353A (ja) * | 2006-02-08 | 2009-07-16 | エムディーエス アナリティカル テクノロジーズ, ア ビジネス ユニット オブ エムディーエス インコーポレイテッド, ドゥーイング ビジネス スルー イッツ サイエックス ディビジョン | 無線周波数イオンガイド |
US8455819B2 (en) | 2006-04-28 | 2013-06-04 | Micromass Uk Limited | Mass spectrometer device and method using scanned phase applied potentials in ion guidance |
JP2009535761A (ja) * | 2006-04-28 | 2009-10-01 | マイクロマス ユーケー リミテッド | 質量分析計 |
JP2010507207A (ja) * | 2006-10-16 | 2010-03-04 | マイクロマス ユーケー リミテッド | 質量分析計 |
US8148679B2 (en) | 2006-11-07 | 2012-04-03 | Thermo Fisher Scientific (Bremen) Gmbh | Efficient atmospheric pressure interface for mass spectrometers and method |
JP2010508643A (ja) * | 2006-11-07 | 2010-03-18 | サーモ フィッシャー サイエンティフィック (ブレーメン) ゲーエムベーハー | イオン移送装置 |
JP2010508642A (ja) * | 2006-11-07 | 2010-03-18 | サーモ フィッシャー サイエンティフィック (ブレーメン) ゲーエムベーハー | イオン移送装置 |
JP2008130534A (ja) * | 2006-11-20 | 2008-06-05 | Korea Basic Science Inst | 混成イオン伝送装置 |
JP2010531031A (ja) * | 2007-05-31 | 2010-09-16 | アナリティカ オブ ブランフォード インコーポレイテッド | 質量分析におけるバックグラウンドノイズ低減用の多重極イオンガイドインタフェース |
US8723107B2 (en) | 2007-05-31 | 2014-05-13 | Perkinelmer Health Sciences, Inc. | Multipole ion guide interface for reduced background noise in mass spectrometry |
US8507850B2 (en) | 2007-05-31 | 2013-08-13 | Perkinelmer Health Sciences, Inc. | Multipole ion guide interface for reduced background noise in mass spectrometry |
JP2010530120A (ja) * | 2007-06-15 | 2010-09-02 | サーモ フィニガン リミテッド ライアビリティ カンパニー | イオントランスポートデバイスおよびその作動モード |
US8658969B2 (en) | 2008-03-05 | 2014-02-25 | Shimadzu Corporation | Mass spectrometer |
JP5152320B2 (ja) * | 2008-03-05 | 2013-02-27 | 株式会社島津製作所 | 質量分析装置 |
WO2009110025A1 (ja) * | 2008-03-05 | 2009-09-11 | 株式会社島津製作所 | 質量分析装置 |
JP2012506126A (ja) * | 2008-10-15 | 2012-03-08 | サーモ フィニガン リミテッド ライアビリティ カンパニー | 積層リングイオンガイドに結合された動電又は静電レンズ |
JP2011108569A (ja) * | 2009-11-20 | 2011-06-02 | Shimadzu Corp | 質量分析装置 |
JP2011159422A (ja) * | 2010-01-29 | 2011-08-18 | Shimadzu Corp | 質量分析装置 |
WO2013057822A1 (ja) * | 2011-10-20 | 2013-04-25 | 株式会社島津製作所 | 質量分析装置 |
JP2015511704A (ja) * | 2012-03-16 | 2015-04-20 | アナリティク イエナ アーゲーAnalytik Jena Ag | 質量分析計装置のための改良されたインタフェース |
WO2017022125A1 (ja) * | 2015-08-06 | 2017-02-09 | 株式会社島津製作所 | 質量分析装置 |
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JPWO2020129199A1 (ja) * | 2018-12-19 | 2021-09-27 | 株式会社島津製作所 | 質量分析装置 |
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