JP2008527653A - 質量分析器における改良された感度のための方法および装置 - Google Patents
質量分析器における改良された感度のための方法および装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2008527653A JP2008527653A JP2007550506A JP2007550506A JP2008527653A JP 2008527653 A JP2008527653 A JP 2008527653A JP 2007550506 A JP2007550506 A JP 2007550506A JP 2007550506 A JP2007550506 A JP 2007550506A JP 2008527653 A JP2008527653 A JP 2008527653A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- ion guide
- ions
- vacuum chamber
- ion
- inlet opening
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/02—Details
- H01J49/06—Electron- or ion-optical arrangements
- H01J49/067—Ion lenses, apertures, skimmers
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/02—Details
- H01J49/06—Electron- or ion-optical arrangements
- H01J49/062—Ion guides
- H01J49/063—Multipole ion guides, e.g. quadrupoles, hexapoles
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
- Electron Tubes For Measurement (AREA)
Abstract
Description
本出願は、2005年12月22日に出願された米国一部継続特許出願に対する優先権を主張し、その出願番号はまだ割り当てられておらず、その出願は、2005年1月10日に出願された米国特許出願第11/032,376号の一部継続である。
本教示は、サンプルにおけるイオンの検出のためにイオンを送るための方法および装置に関する。
質量分析器のための1つの用途は、サンプル分子がイオン化のステップにおいて、イオンに変換され、次いで、質量分離および検出のステップにおいて、質量解析器によって検出される、生物学的なサンプルの研究に向けられる。イオン化技術の多様なタイプは、現在公知であり、一般的に公称の大気圧の領域においてイオンを生成する。質量解析器は、RF/DCイオンガイドが質量電荷比(m/z)値の限られた占有の範囲内でイオンを送るために使用される四重極の解析器、大きな磁場がm/zに従ってイオンをそらせるためにイオンの動きに垂直に力を及ぼす扇形磁場解析器および各イオンの飛行時間を測定することがm/zの決定を可能にする飛行時間(「TOF」)解析器であり得る。質量解析器は、隣接する圧力分離を提供するチャンバ間開口を備える1つ以上の個別的にポンプされる真空チャンバにおける配置を一般的には必要とする低圧環境で一般に動作する。イオン化ステップと質量解析器の真空チャンバとの間に配置される1つ以上の開口は、一般に、イオンを質量解析器に送るためのインターフェースを定義する。
上述を考慮して、本教示は、サンプルにおけるイオンの検出のためにイオンを送るための装置を提供する。該装置は、高圧領域において、例えば、大気圧でサンプルからイオンを生成するためのイオン源および該イオンを受け取るための真空チャンバを備えている。該真空チャンバは、高圧領域から真空チャンバへイオンを通過させるための入口開口を有する。異なる圧力と関連して、入口開口の直径は、既定のバレルショックおよびマッハディスクを有する、超音速自由ジェット膨張を提供するように寸法を合わせられ、その結果、イオンを真空チャンバ内に閉じ込める。該装置はまた、所定の断面を有する少なくとも1つのイオンガイドを備え、その所定の断面は、超音速自由ジェット膨張を半径方向に閉じ込めるように寸法を合わせられ、その結果、実質的にすべてのイオンを捕捉する。RF電源によって供給されるRF電圧がイオンガイドに印加される際、超音速自由ジェットにおけるイオンが、出口開口に集束され向けられるように、該イオンガイドは、入口開口と出口開口との間のチャンバに位置付けられ得る。多様な実施形態において、入口開口は、音速ノズルまたは音速開口部を備えているタイプのものであり得、イオンガイドは、多極イオンガイドであり得る。
多様なエレメントを参照して本教示に関連して使用される「1つ(a)」または「1つ(an)」という句は、文脈が格別に明示しない場合には、「1つ以上」または「少なくとも1つ」を含む。最初に図1が参照され、図1は、参照番号20によって概して示される質量分析器を概略的に示す。質量分析器20は、対象であるサンプル(図示されず)からイオン30を提供するためのイオン源22を備えている。イオン源22は、背景ガス(図示されず)を含み、概して24に示される高圧P0領域に配置され得る一方で、イオン30は、矢印38によって示される方向に、真空チャンバ26に向かって進む。該イオンは、入口開口28を介してチャンバ26に入り、入口開口28でイオンがガスの超音速流によって閉じ込められ、ガスの超音速流は、以下に記載されるように超音速自由ジェット膨張34として概して参照される。真空チャンバ26は、入口開口28から下流に位置する出口開口32と、開口28および32の間に位置し、超音速自由ガスジェット34からのイオン30を半径方向に閉じ込め、集中させ、送るイオンガイド36とをさらに備えている。図1の出口開口32は、チャンバ間開口として示され、チャンバ間開口は、第一の真空チャンバ26としても知られる真空チャンバ26を、次の、または第二の真空チャンバ45から分離し、第二の真空チャンバ45は、以下に記載されるように、追加のイオンガイドまたは質量解析器44を収納し得る。本教示の一般的な質量解析器44は、四重極質量解析器、イオントラップ質量解析器(線イオントラップ質量解析器を含む)および飛行時間質量解析器を含み得る。真空チャンバ26における圧力P1は、ポンプ42によって維持され得、電源40は、公知の方法でRF電圧を提供するためにイオンガイド36に接続され得る。イオンガイド36は、参照文字D(図5にもまた図示される)によって示される直径を有する内接円によって特徴付けられる所定の断面を有する一組の四極ロッドであり得、内部の体積37を定義するようにイオンガイド36の軸方向の長さに沿って伸びている。イオン30は、最初に開口部カーテンガス領域を通過し得、その開口部カーテンガス領域は、一般に当業技術に公知であり、脱溶媒を実行し、望まれない微粒子が真空チャンバに入るのを遮断するが、明瞭性のために、これは、図1に示されない。
図15は、本教示に従い三重の四極質量分析器システムの感度を示すし、本教示は、m/z609先行モデルのm/z195フラグメントイオンをモニタする動作のマルチ反応モニタリングモードを使用して、200uL/分のサンプルの流量率で合成レセルピンの50pg注入に起因する。信号のピークの高さは、該システムの感度の直接的な指標であり得る。2つの別個の実験からの反応は、図15で重ね合わされ、この場合に、垂直軸は、正規化された強度を示し、水平軸は、任意の単位における時間の関数である。
図20は、本教示に従った三重の四極質量分析器システムの感度を示し、このシステムは、図1の単一のイオンガイド36を図16の一連のイオンガイド36dおよび36eならびに対応するRF電圧を置換することから得たものである。図15と類似して、図20の結果は、m/z609先行モデルのm/z195フラグメントイオンをモニタする動作のマルチ反応モニタリングモードを使用して、200uL/分のサンプルの流量率で合成レセルピンの10pg/uLの注入液からであった。信号のピークの高さは、該システムの感度の直接的な指標であり得る。2つの別々の実験からの応答は、図20で重ね合わされ、この場合に、垂直軸は、正規化された強度を示し、水平軸は、任意の単位における時間の関数である。
Claims (40)
- 高圧領域においてイオンを生成するイオン源と、
真空チャンバであって、該高圧領域から該真空チャンバの中へイオンを通過させるための入口開口と、該真空チャンバからイオンを通過させるための出口開口とを備える真空チャンバと、
該入口開口と該出口開口との間のイオンガイドであって、内部の体積を定義する所定の断面を有するイオンガイドと、
該イオンガイドの該内部のボリューム内で半径方向にイオンを閉じ込めるために該イオンガイドにRF電圧を提供する電源と
を備えた質量分析器であって、
該入口開口の構成、および該イオン源と該真空チャンバとの間の圧力の相違が、該入口開口下流に超音速自由ジェット膨張を提供し、該超音速自由ジェット膨張は、所定の直径のバレルショックを備えており、
該イオンガイドの断面は、該超音速自由ジェット膨張の該バレルショックの所定の直径の少なくとも50%の大きさに合わされている、質量分析器。 - 前記入口開口は、音速ノズルまたは音速開口部を備えている、請求項1に記載の質量分析器。
- 前記イオンガイドは、四重極イオンガイド、六重極イオンガイド、八重極イオンガイド、リングガイドおよびそれらの任意の組み合わせから選択される、請求項2に記載の質量分析器。
- 前記イオンガイドは、四重極イオンガイドである、請求項3に記載の質量分析器。
- 前記高圧領域は、実質的に大気圧である、請求項3に記載の質量分析器。
- 前記真空チャンバは、約0.1トルと約10トルとの間の圧力を有する、請求項5に記載の質量分析器。
- 前記入口開口部は、円形であり、約0.1ミリメータと約1ミリメータとの間の直径を有する、請求項6に記載の質量分析器。
- 前記所定の断面は、内接円を形成し、約1ミリメータと約8ミリメータとの間の直径を有する、請求項7に記載の質量分析器。
- 前記真空チャンバから通過されたイオンを受け取る質量解析器をさらに備えた、請求項1に記載の質量分析器。
- 質量解析器と、
該質量解析器によって解析されるべきイオンを生成するイオン源と、
第1の真空チャンバであって、該イオンを受け取るための入口開口と、第一の該真空チャンバから該イオンを輸送するための出口開口とを備える第一の真空チャンバと、
所定の断面を有するイオンガイドであって、該入口開口と該出口開口との間の該第一の真空チャンバに配置されたイオンガイドと、
イオンガイドに接続され、該イオンガイドにRF電圧を提供する電源と
を備えた質量分析器であって、
該入口開口のサイズ、および該イオン源と該第一の真空チャンバとの間の差圧は、該第一の真空チャンバにおいて超音速自由ジェット膨張を生成し、
該イオンガイドの断面は、該超音速自由ジェット膨張のバレルショックの所定の直径の少なくとも50%のサイズにされており、
該超音速自由ジェット膨張内のイオンは、該イオンが該イオンガイドを横断するときに、半径方向に閉じ込められる、質量分析器。 - 前記第一の真空チャンバの下流にある第二の真空チャンバと、
該第一の真空チャンバから前記イオンを受け取るためのチャンバ間開口を備える第二の真空チャンバと、
該第二の真空チャンバから該質量解析器にイオンを輸送するための流出開口と、
該チャンバ間の開口と該流出開口との間に配置されるRFのみのイオンガイドと
をさらに備える、請求項10に記載の質量分析器。 - 前記第二の真空チャンバにおける前記RFのみのイオンガイド接続されて、該RFのみのイオンガイドにRF電圧を提供する電源をさらに備え、
それによって、イオンが該RFのみのイオンガイドを横断するときに、該イオンは、半径方向に集束される、請求項11に記載の質量分析器。 - 質量解析を実行する方法であって、該方法は、
高圧領域においてイオンを生成することと、
真空チャンバであって、該高圧領域から該真空チャンバの中へイオンを通過させるための入口開口と、該真空チャンバからイオンを通過させるための出口開口とを備えた該真空チャンバの中へ該イオンを通過させることと、
該入口開口と出口開口との間のイオンガイドであって、内部のボリュームを定義する所定の断面を有するイオンガイドを提供することと、
該イオンガイドの該内部のボリューム内でイオンを半径方向にイオンを閉じ込めるために該イオンガイドにRF電圧を印加することと
を含み、
該入口開口の構成、および該高圧領域と該真空チャンバとの間の圧力差が、該入口開口の下流に超音速自由ジェット膨張を提供し、該超音速自由ジェット膨張は、所定の直径のバレルショックを備えており、
該イオンガイドの断面は、該超音速自由ジェット膨張のバレルショックの所定の直径の少なくとも50%のサイズにされている、方法。 - 前記入口開口は、音速ノズルまたは音速開口を備えている、請求項13に記載の質量解析を実行するための方法。
- 前記イオンガイドは、四重極イオンガイド、六重極イオンガイド、八重極イオンガイド、リングガイドおよびそれらの任意の組み合わせから選択される、請求項14に記載の質量解析を実行するための方法。
- 前記イオンガイドは、四重極イオンガイドである、請求項15に記載の質量解析を実行するための方法。
- 前記高圧領域は、実質的に大気圧である、請求項15に記載の質量解析を実行するための方法。
- 前記真空チャンバは、約0.1トルと約10トルとの間の圧力を有する、請求項17に記載の質量解析を実行するための方法。
- 前記入口開口は、円形であり、約0.1ミリメータと約1ミリメータとの間の直径を有する、請求項18に記載の質量解析を実行するための方法。
- 前記所定の断面は、内接円を形成し、約1ミリメータと約8ミリメータとの間の直径を有する、請求項19に記載の質量解析を実行するための方法。
- 高圧領域においてイオンを生成するイオン源と、
真空チャンバであって、該高圧領域から該真空チャンバの中へイオンを通過させるための入口開口と、該真空チャンバからイオンを通過させるための出口開口とを備えている真空チャンバと、
該入口開口と該出口開口との間の一連の多極イオンガイドであって、該一連のイオンガイドの各々は、内部のボリュームを定義する所定の断面を有し、該一連のイオンガイドは、該入口開口の最も近くに配置された少なくとも第一のイオンガイドと、該出口開口の最も近くに配置された第二のイオンガイドとを備える、一連のイオンガイドと、
該イオンガイドの該内部のボリューム内でイオンを半径方向に閉じ込めるために、該イオンガイドの各々に対応するRF電圧を提供する電源と
を備えた質量分析器であって、
該入口開口の構成、および該イオン源と該真空チャンバとの間の圧力の相違が、該入口開口下流にの超音速自由ジェット膨張ダウンストリームを提供し、該超音速自由ジェット膨張は、所定の直径のバレルショックを備えており、
該第一のイオンガイドの断面、および該第一のイオンガイドに印加される対応するRF電圧は、該超音速自由ジェット膨張のバレルショックの該所定の直径の少なくとも50%を受け入れるように構成されている、質量分析器。 - 前記第二のイオンガイドの断面、および該第二のイオンガイドに印加される対応するRF電圧は、前記出口開口の大きさに前記イオンを集中させるように構成されている、請求項21に記載の質量分析器。
- 前記第二のイオンガイドの断面、および前記第一のイオンガイドの断面は、1以下の相対比を有する、請求項22に記載の質量分析器。
- 前記比は、0.6以下である、請求項23に記載の質量分析器。
- 前記多極イオンガイドは、四重極イオンガイド、六重極イオンガイド、八重極イオンガイドおよびそれらの任意の組み合わせから選択される、請求項21に記載の質量分析器。
- 各イオンガイドは、四重極イオンガイドである、請求項21に記載の質量分析器。
- 前記高圧領域は、実質的に大気圧である、請求項21に記載の質量分析器。
- 前記真空チャンバは、約0.1トルと約10トルとの間の圧力を有する、請求項27に記載の質量分析器。
- 前記入口開口部は、円形であり、約0.1ミリメータと約1ミリメータとの間の直径を有する、請求項28に記載の質量分析器。
- 前記第一のイオンガイドの断面は、内接円を形成し、約1ミリメータと約8ミリメータとの間の直径を有する、請求項29に記載の質量分析器。
- 前記電源は、対応するRF電圧を提供するための少なくとも2つの別々の電源を備えている、請求項21に記載の質量分析器。
- 前記真空チャンバから通過されたイオンを受け取る質量解析器をさらに備えている、請求項21に記載の質量分析器。
- 高圧領域においてイオンを生成するイオン源と、
真空チャンバであって、該高圧領域から該真空チャンバの中へイオンを通過させるための入口開口と、該真空チャンバからイオンを通過させるための出口開口とを備える真空チャンバと、
該入口開口と該出口開口との間の一連の多極イオンガイドであって、該イオンガイドは、内部のボリュームを定義する入口断面および出口断面を有し、該出口断面および該入り口断面は、1未満の相対比を有する、一連の多極イオンガイドと、
該イオンガイドの該内部のボリューム内で半径方向にイオンを閉じ込めるために該イオンガイドにRF電圧を提供する電源と
を備えた質量分析器であって、
該入口開口の構成、および該イオン源と該真空チャンバとの間の圧力の相違が、該入口開口の下流に超音速自由ジェット膨張を提供し、該超音速自由ジェット膨張は、所定の直径のバレルショックを備えており、
該入口断面は、該超音速自由ジェット膨張のバレルショックの該所定の直径の少なくとも50%を受け入れるように構成され、該出口断面は、該イオンを該出口開口に集中させるように構成されている、質量分析器。 - 前記比は、0.4以下である、請求項33に記載の質量分析器。
- 前記イオンガイドは、四重極イオンガイド、六重極イオンガイドおよび八重極イオンガイドから選択される、請求項33に記載の質量分析器。
- 前記イオンガイドは、四重極イオンガイドである、請求項33に記載の質量分析器。
- 質量解析を実行するための方法であって、該方法は、
高圧領域においてイオンを生成することと、
真空チャンバであって、該高圧領域から該真空チャンバの中へイオンを通過させるための入口開口と、該真空チャンバからイオンを通過させるための出口開口とを備える真空チャンバにイオンを通過させることと、
該入口開口と該出口開口との間の一連の多極イオンガイドであって、該一連のイオンガイドの各々は、内部のボリュームを定義する所定の断面を有し、該一連のイオンガイドは、該入口開口の最も近くに配置された少なくとも第一のイオンガイドおよび該出口開口の最も近くに配置された第二のイオンガイドを備えている一連の多極イオンガイドを提供することと、
該イオンガイドの内部のボリューム内で半径方向にイオンを閉じ込めるために、各イオンガイドに対応するRF電圧を印加することと
を備え、
該入口開口の構成、および該高圧領域と該真空チャンバとの間の圧力の相違が、該入口開口下流に超音速自由ジェット膨張を提供し、該超音速自由ジェット膨張は、所定の直径のバレルショックを備えており、
該一連のイオンガイドにおける少なくとも第一のイオンガイドの断面および対応するRF電圧は、該超音速自由ジェット膨張のバレルショックの該所定の直径の少なくとも50%を受け入れるように構成されている、方法。 - 前記一連のイオンガイドにおける少なくとも該第二のイオンガイドの断面および該第二のイオンガイドに印加される対応するRF電圧は、該出口開口の大きさにイオンを集中するように構成されている、請求項37に記載の質量解析を実行するための方法。
- 前記第二のイオンガイドの断面および前記第一のイオンガイドの断面は、1以下の相対比を有する、請求項38に記載の質量解析を実行するための方法。
- 前記比は、0.6以下である、請求項39に記載の質量解析を実行するための方法。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US11/032,376 US7256395B2 (en) | 2005-01-10 | 2005-01-10 | Method and apparatus for improved sensitivity in a mass spectrometer |
US11/315,788 US7259371B2 (en) | 2005-01-10 | 2005-12-22 | Method and apparatus for improved sensitivity in a mass spectrometer |
PCT/US2006/000492 WO2006076228A2 (en) | 2005-01-10 | 2006-01-05 | Method and apparatus for improved sensitivity in a mass spectrometer |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2008527653A true JP2008527653A (ja) | 2008-07-24 |
Family
ID=36678095
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2007550506A Pending JP2008527653A (ja) | 2005-01-10 | 2006-01-05 | 質量分析器における改良された感度のための方法および装置 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7259371B2 (ja) |
EP (1) | EP1856714B1 (ja) |
JP (1) | JP2008527653A (ja) |
WO (1) | WO2006076228A2 (ja) |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009523300A (ja) * | 2006-01-13 | 2009-06-18 | イオニクス マス スペクトロメトリー グループ インコーポレーティッド | 集束型質量分析計イオンガイド、分光計および方法 |
JP2009245933A (ja) * | 2008-02-22 | 2009-10-22 | Microsaic Systems Ltd | 質量分析計システム |
JP2012506126A (ja) * | 2008-10-15 | 2012-03-08 | サーモ フィニガン リミテッド ライアビリティ カンパニー | 積層リングイオンガイドに結合された動電又は静電レンズ |
JP2015507334A (ja) * | 2012-02-01 | 2015-03-05 | ディーエイチ テクノロジーズ デベロップメント プライベート リミテッド | 質量分析計における改良された感度のための方法および装置 |
WO2018225423A1 (ja) * | 2017-06-08 | 2018-12-13 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 質量分析装置およびノズル部材 |
JP2020198317A (ja) * | 2020-09-02 | 2020-12-10 | 株式会社日立ハイテク | イオンガイド及びそれを用いた質量分析装置 |
Families Citing this family (25)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7405397B2 (en) * | 2002-03-28 | 2008-07-29 | Mds Sciex Inc. | Laser desorption ion source with ion guide coupling for ion mass spectroscopy |
US7339166B2 (en) * | 2006-02-24 | 2008-03-04 | Battelle Memorial Institute | Interface and process for enhanced transmission of non-circular ion beams between stages at unequal pressure |
US7888630B2 (en) * | 2006-04-06 | 2011-02-15 | Wong Alfred Y | Reduced size high frequency quadrupole accelerator for producing a neutralized ion beam of high energy |
US9103783B2 (en) * | 2008-03-17 | 2015-08-11 | Shimadzu Corporation | Ionization method and apparatus including applying converged shock waves to a spray |
US8362421B2 (en) * | 2008-04-02 | 2013-01-29 | Sociedad Europea de Analisis Diferencial de Movilidad | Use ion guides with electrodes of small dimensions to concentrate small charged species in a gas at relatively high pressure |
GB0817433D0 (en) * | 2008-09-23 | 2008-10-29 | Thermo Fisher Scient Bremen | Ion trap for cooling ions |
DE102008052533B4 (de) * | 2008-10-21 | 2013-10-24 | Roentdek-Handels Gmbh | Ionenstrahlquelle, Ionenstrahlrastersystem, Ionenrastermikroskop sowie Ionenstrahl-Lithographievorrichtung |
US20100154568A1 (en) * | 2008-11-19 | 2010-06-24 | Roth Michael J | Analytical Instruments, Assemblies, and Methods |
US8242440B2 (en) * | 2009-05-01 | 2012-08-14 | Thermo Finnigan Llc | Method and apparatus for an ion transfer tube and mass spectrometer system using same |
JP5422485B2 (ja) * | 2010-05-27 | 2014-02-19 | 株式会社堀場エステック | ガス分析計 |
CN103155091B (zh) * | 2010-09-01 | 2017-10-03 | Dh科技发展私人贸易有限公司 | 用于质谱分析的离子源 |
US8440964B2 (en) * | 2011-08-19 | 2013-05-14 | Science And Engineering Services, Inc. | Multiple ion guide operating at elevated pressures |
GB2498173C (en) | 2011-12-12 | 2018-06-27 | Thermo Fisher Scient Bremen Gmbh | Mass spectrometer vacuum interface method and apparatus |
US9177771B2 (en) | 2011-12-29 | 2015-11-03 | Dh Technologies Development Pte. Ltd | Method and apparatus for improved sensitivity in a mass spectrometer |
US8859961B2 (en) * | 2012-01-06 | 2014-10-14 | Agilent Technologies, Inc. | Radio frequency (RF) ion guide for improved performance in mass spectrometers |
US9147567B2 (en) | 2012-02-01 | 2015-09-29 | Dh Technologies Development Pte. Ltd. | Method and apparatus for improved sensitivity in a mass spectrometer |
US8471199B1 (en) * | 2012-04-06 | 2013-06-25 | Science And Engineering Services, Inc. | Portable mass spectrometer with atmospheric pressure interface |
JP6292722B2 (ja) | 2012-10-12 | 2018-03-14 | ディーエイチ テクノロジーズ デベロップメント プライベート リミテッド | 質量分析のためのイオンガイド |
DE112014002609B4 (de) | 2013-05-31 | 2024-10-31 | Micromass Uk Limited | Kompaktes Massenspektrometer |
US10090138B2 (en) | 2013-05-31 | 2018-10-02 | Micromass Uk Limited | Compact mass spectrometer |
WO2014191746A1 (en) | 2013-05-31 | 2014-12-04 | Micromass Uk Limited | Compact mass spectrometer |
DE112014002582B4 (de) | 2013-05-31 | 2024-09-26 | Micromass Uk Limited | Kompaktes Massenspektrometer |
GB201409604D0 (en) * | 2014-05-30 | 2014-07-16 | Shimadzu Corp | Improvements in or relating to mass spectrometry |
CN106340437B (zh) | 2015-07-09 | 2019-03-22 | 株式会社岛津制作所 | 质谱仪及其应用的减少离子损失和后级真空负载的方法 |
US20240162022A1 (en) | 2021-03-24 | 2024-05-16 | Dh Technologies Development Pte. Ltd. | Mass Spectrometry Methods And Systems For High Pressure Charge State Control And/Or Fragmentation |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001060447A (ja) * | 1999-08-20 | 2001-03-06 | Shimadzu Corp | 質量分析装置 |
WO2003041115A1 (fr) * | 2001-11-07 | 2003-05-15 | Hitachi High-Technologies Corporation | Spectrometre de masse |
JP2004039400A (ja) * | 2002-07-02 | 2004-02-05 | Anelva Corp | イオン付着質量分析装置、イオン化装置、およびイオン化方法 |
JP2004111149A (ja) * | 2002-09-17 | 2004-04-08 | Shimadzu Corp | イオンガイド |
JP2004335417A (ja) * | 2003-05-12 | 2004-11-25 | Hitachi High-Technologies Corp | イオントラップ質量分析方法及び装置 |
Family Cites Families (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4023398A (en) * | 1975-03-03 | 1977-05-17 | John Barry French | Apparatus for analyzing trace components |
US4542293A (en) * | 1983-04-20 | 1985-09-17 | Yale University | Process and apparatus for changing the energy of charged particles contained in a gaseous medium |
JP2913924B2 (ja) * | 1991-09-12 | 1999-06-28 | 株式会社日立製作所 | 質量分析の方法および装置 |
US6011259A (en) * | 1995-08-10 | 2000-01-04 | Analytica Of Branford, Inc. | Multipole ion guide ion trap mass spectrometry with MS/MSN analysis |
DK0748249T3 (da) * | 1994-02-28 | 2009-11-09 | Analytica Of Branford Inc | Multipolionguide for massespektrometri |
WO1998052682A1 (en) | 1997-05-17 | 1998-11-26 | Analytica Of Branford, Inc. | Configuration of an atmospheric pressure ion source |
US5973322A (en) * | 1998-03-14 | 1999-10-26 | Sensar Corporation | Collisional axialization of ions in a supersonic expansion for ion injection into time of flight mass spectrometers |
US6107628A (en) | 1998-06-03 | 2000-08-22 | Battelle Memorial Institute | Method and apparatus for directing ions and other charged particles generated at near atmospheric pressures into a region under vacuum |
US6528784B1 (en) * | 1999-12-03 | 2003-03-04 | Thermo Finnigan Llc | Mass spectrometer system including a double ion guide interface and method of operation |
CA2448335C (en) | 2001-05-25 | 2010-01-26 | Analytica Of Branford, Inc. | Atmospheric and vacuum pressure maldi ion source |
-
2005
- 2005-12-22 US US11/315,788 patent/US7259371B2/en active Active
-
2006
- 2006-01-05 JP JP2007550506A patent/JP2008527653A/ja active Pending
- 2006-01-05 EP EP06717665.1A patent/EP1856714B1/en active Active
- 2006-01-05 WO PCT/US2006/000492 patent/WO2006076228A2/en active Application Filing
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001060447A (ja) * | 1999-08-20 | 2001-03-06 | Shimadzu Corp | 質量分析装置 |
WO2003041115A1 (fr) * | 2001-11-07 | 2003-05-15 | Hitachi High-Technologies Corporation | Spectrometre de masse |
JP2004039400A (ja) * | 2002-07-02 | 2004-02-05 | Anelva Corp | イオン付着質量分析装置、イオン化装置、およびイオン化方法 |
JP2004111149A (ja) * | 2002-09-17 | 2004-04-08 | Shimadzu Corp | イオンガイド |
JP2004335417A (ja) * | 2003-05-12 | 2004-11-25 | Hitachi High-Technologies Corp | イオントラップ質量分析方法及び装置 |
Cited By (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009523300A (ja) * | 2006-01-13 | 2009-06-18 | イオニクス マス スペクトロメトリー グループ インコーポレーティッド | 集束型質量分析計イオンガイド、分光計および方法 |
JP2009245933A (ja) * | 2008-02-22 | 2009-10-22 | Microsaic Systems Ltd | 質量分析計システム |
JP2012506126A (ja) * | 2008-10-15 | 2012-03-08 | サーモ フィニガン リミテッド ライアビリティ カンパニー | 積層リングイオンガイドに結合された動電又は静電レンズ |
JP2015507334A (ja) * | 2012-02-01 | 2015-03-05 | ディーエイチ テクノロジーズ デベロップメント プライベート リミテッド | 質量分析計における改良された感度のための方法および装置 |
GB2576850A (en) * | 2017-06-08 | 2020-03-04 | Hitachi High Tech Corp | Mass spectrometer and nozzle member |
CN110462784A (zh) * | 2017-06-08 | 2019-11-15 | 株式会社日立高新技术 | 质量分析装置和管嘴部件 |
WO2018225423A1 (ja) * | 2017-06-08 | 2018-12-13 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 質量分析装置およびノズル部材 |
US20210159063A1 (en) | 2017-06-08 | 2021-05-27 | Hitachi High-Technologies Corporation | Mass Spectrometer and Nozzle Member |
US11049706B2 (en) | 2017-06-08 | 2021-06-29 | Hitachi High-Tech Corporation | Mass spectrometer and nozzle member |
CN110462784B (zh) * | 2017-06-08 | 2021-09-17 | 株式会社日立高新技术 | 质量分析装置和管嘴部件 |
GB2576850B (en) * | 2017-06-08 | 2022-06-15 | Hitachi High Tech Corp | Mass spectrometer and nozzle member |
JP2020198317A (ja) * | 2020-09-02 | 2020-12-10 | 株式会社日立ハイテク | イオンガイド及びそれを用いた質量分析装置 |
JP7073459B2 (ja) | 2020-09-02 | 2022-05-23 | 株式会社日立ハイテク | イオンガイド及びそれを用いた質量分析装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
WO2006076228A3 (en) | 2007-06-21 |
US7259371B2 (en) | 2007-08-21 |
US20060169891A1 (en) | 2006-08-03 |
WO2006076228A2 (en) | 2006-07-20 |
EP1856714B1 (en) | 2019-05-01 |
EP1856714A2 (en) | 2007-11-21 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP2008527653A (ja) | 質量分析器における改良された感度のための方法および装置 | |
US7256395B2 (en) | Method and apparatus for improved sensitivity in a mass spectrometer | |
US7982183B2 (en) | Ion transfer tube with spatially alternating DC fields | |
US8148679B2 (en) | Efficient atmospheric pressure interface for mass spectrometers and method | |
US8941058B2 (en) | Utilizing gas flows in mass spectrometers | |
US8481928B2 (en) | Introduction of ions into mass spectrometers through laval nozzles | |
US8309916B2 (en) | Ion transfer tube having single or multiple elongate bore segments and mass spectrometer system | |
US7462822B2 (en) | Apparatus and method for the transport of ions into a vacuum | |
CN110870042B (zh) | 多极离子导向器 | |
JP4454157B2 (ja) | 質量分析装置のためのイオン源 | |
US10770279B2 (en) | Ion transfer apparatus | |
WO2016067373A1 (ja) | 質量分析装置 | |
US9589782B2 (en) | Charged droplets generating apparatus including a gas conduit for laminarization of gas flows | |
Bruins | ESI source design | |
GB2458602A (en) | Multichannel transport of ions into the vacuum system of a mass spectrometer |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20081107 |
|
A711 | Notification of change in applicant |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A712 Effective date: 20090618 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20110721 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20110725 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20111018 |
|
A602 | Written permission of extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602 Effective date: 20111025 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20120322 |