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  1. マトリクス配線された複数の電子放出素子と、該電子放出素子からの放出電子によりそれぞれ発光する複数の蛍光体と、を有し、前記電子放出素子の第1の方向における配置間隔が該第1の方向と異なる第2の方向における配置間隔よりも狭い画像形成装置の製造方法であって、
    測定領域内の蛍光体の数以上の素子を有するエリアセンサによって各蛍光体の輝度を測定する測定工程を有し、
    前記測定工程は、前記第1の方向に並ぶ複数の電子放出素子であって、該第1の方向に隣接しない複数の電子放出素子が同時に電子を放出することによって発光する複数の蛍光体の輝度を測定する測定工程である
    ことを特徴とする画像形成装置の製造方法。
  2. マトリクス配線された複数の電子放出素子と、該電子放出素子からの放出電子によりそれぞれ発光する複数の蛍光体と、を有し、第1の方向に隣接する前記蛍光体の間には第1のブラックストライプが設けられ、該第1の方向と異なる第2の方向に隣接する前記蛍光体の間には第2のブラックストライプが設けられ、前記第1のブラックストライプの幅は前記第2のブラックストライプの幅よりも狭い画像形成装置の製造方法であって、
    測定領域内の蛍光体の数以上の素子を有するエリアセンサによって各蛍光体の輝度を測定する測定工程を有し、
    前記測定工程は、前記第1の方向に並ぶ複数の蛍光体に対応する複数の電子放出素子であって、該第1の方向に隣接しない複数の蛍光体に対応する複数の電子放出素子が同時に電子を放出することによって発光する複数の蛍光体の輝度を測定する測定工程である、
    ことを特徴とする画像形成装置の製造方法。
  3. 前記エリアセンサは、複数の素子の出力の和で1つの蛍光体の輝度を測定する
    ことを特徴とする請求項1又は2に記載の画像形成装置の製造方法。
  4. 前記測定工程における測定結果に基づいて、前記電子放出素子からの放出電子により発光する蛍光体の輝度を調整する調整工程を有すること、
    を特徴とする請求項1乃至3のいずれかに記載の画像形成装置の製造方法。
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