JP2003533676A - 超高速の核酸配列決定のための電界効果トランジスタ装置 - Google Patents

超高速の核酸配列決定のための電界効果トランジスタ装置

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Abstract

(57)【要約】 検出領域の近くの核酸鎖のようなポリマーの構成要素を表す電荷を検出するための凹部または開口部などを中に含むことができる少なくとも1つの検出領域を有する少なくとも1つの半導体装置または絶縁および金属層の構成を使用するシステムおよび方法、ならびにこのような半導体装置を製造するための方法。このため、システムおよび方法は、リボ核酸(RNA)またはデオキシリボ核酸(DNA)の個々のヌクレオチドまたは塩基を配列決定するために用いることができる。半導体装置は、p型半導体層に注入された2つのn型領域またはn型半導体層に注入された2つのp型領域のような少なくとも2つのドープ領域を含む。検出領域は、DNAまたはRNA鎖の塩基のようなポリマーの構成要素の存在に応じて2つのドープ領域間に電流が通るようにする。電流は、検出されたDNAまたはRNA鎖の塩基を表す特性のようなポリマーの構成要素を表す特性を有する。

Description

【発明の詳細な説明】
本出願は、米国特許法第119条(e)に基づき、「超高速の半導体に基づい
た遺伝子配列決定("Ultra-Fast, Semiconductor-Based Gene Sequencing")」
という名称のジョン R.ザウアー(Jon R. Sauer)らの米国特許仮出願、第6
0/199,130号、出願日2000年4月24日、「DNA配列決定用電荷
検知および増幅装置("Charge Sensing and Amplification Device for DNA Seq
uencing")」という名称のバート ヴァン ゼーブロック(Bart Van Zeghbroec
k)らの米国特許仮出願、第60/217,681号、出願日2000年7月1
2日、および「DNA配列決定用電荷検知および増幅装置("Charge Sensing an
d Amplification Device for DNA Sequencing")」という名称のジョン R.ザ
ウアー(Jon R. Sauer)らの米国特許仮出願、第60/259,584号、出願
日2001年1月4日の利益を主張し、米国特許法第120条に基づき、「超高
速核酸配列決定装置ならびにそれを製作および使用するための方法("An Ultra-
Fast Nucleic Acid Sequencing Device and a Method for Making and Using th
e Same")」という名称のジョン R.ザウアー(Jon R. Sauer)らの米国特許
非仮出願(non-provisional application)、第09/653,543号、出願
日2001年8月31日の利益を主張するものであり、本出願はその一部継続出
願で、上記仮出願および非仮出願の双方の全内容は参照により本明細書に援用さ
れている。発明の背景 発明の分野 本発明は、炭水化物、タンパク質のような長鎖ポリマーの個々の構成要素(me
rs)およびデオキシリボ核酸(DNA)またはリボ核酸(RNA)の個々の塩基
を識別するための検出領域を有する半導体装置を使用するシステムおよび方法な
らびに半導体装置を製作するための方法に関する。特に、本発明は、DNA/R
NA鎖の塩基を識別し、これにより対象となる鎖の配列決定を可能にすることが
できる電界効果トランジスタ装置と同様の半導体装置を使用するシステムおよび
方法に関する。関連技術の説明 DNAは、共通の軸の周りを巻いている2つの非常に長いらせん状のポリヌク
レオチド鎖からなる。二重らせんの2つの鎖は反対の向きになっている。2つの
鎖は、アデニン(A)、チミン(T)、グアニン(G)およびシトシン(C)か
らなる対の塩基間の水素結合によってまとめられている。アデニンは常にチミン
と対になり、グアニンは常にシトシンと対になる。それゆえ、二重らせんの一方
の鎖はもう一方と相補的である。
【0001】 遺伝情報は、DNA鎖に沿った塩基の具体的な配列において暗号化される。通
常の細胞においては、遺伝情報はDNAからRNAへ渡される。RNA分子の大
部分は一本鎖であるが、大部分は鎖がヘアピン状の構造に折れることから生じる
広範囲の二重らせん領域を含む。 DNA配列のマッピングは、ヒトゲノム計画によって具体化される新時代の遺
伝子に基づく医療の一部を成している。この計画の尽力によって、いつか医者は
個人の遺伝子の構成に基づいて治療をその人に合ったものにすることができるで
あろうし、出生前に遺伝子の欠陥を修正することさえできるかもしれない。しか
しながら、この課題を達成するためには各個人のDNAを配列決定することが必
要となる。ヒトゲノム配列の差異はおよそ0.1%であるが、この小さな差異が
個人の種々の病気に対する素因を理解するのに重要である。近い将来には、医療
が「DNA的に個人化(DNA personalized)」され、医師は今日のコレステロー
ル検査を手配するのと全く同じくらい容易に、配列情報を手配するようになると
考えられる。したがって、このような発展を日常生活において用いられるように
するために、より高速で経済的なDNA配列決定方法が求められる。
【0002】 DNA配列決定を行う1つの方法は、米国特許第5,653,939号に開示
されており、その全内容は参照により本明細書に援用されている。この方法は、
半導体基板のような基板上に形成されたテストサイトのモノリシックアレイを使
用する。各テストサイトは、所定の標的分子構造と結合するようになっているプ
ローブを含んでいる。テストサイトでのプローブへの分子構造の結合は、テスト
サイトの電気的、機械的および光学的特性を変化させる。したがって、テストサ
イトに信号が与えられると、各テストサイトの電気的、機械的および光学的特性
を測定して、どのプローブがそれぞれの標的分子構造と結合したのかを決定する
ことができる。しかしながら、テストサイトのアレイは製造するには複雑で、種
々のタイプの標的分子構造を検出するための多数のプローブを用いなければなら
ないため、この方法は不利である。
【0003】 配列決定の別の方法は、ゲル電気泳動として公知である。この技術では、DN
Aを分解して1つの鎖にして4つのヌクレオチドのうちの1つ、例えばAを破壊
する化学物質に露出し、これにより、Aで終わり、反対側の一端で標識されたD
NA断片のランダムな分布を有する鎖を生成する。他の3つの残りの塩基につい
て同じ手続きを繰り返す。DNA断片は、ゲル電気泳動によって長さに応じて分
けられる。長さは標識された端から既知の塩基への距離を示し、対象範囲にギャ
ップがなければもとのDNA鎖断片の配列が決定される。
【0004】 このDNA配列決定方法は、それと関連する欠点を多く有している。この技術
ではおよそ500の塩基の読取りしかできない。なぜなら、それより多くの塩基
を含むDNA鎖だと「丸まって」しまい、正しく読取ることができないからであ
る。また、鎖の長さが長くなると長さ決定の分解能が急激に低下し、このことも
同様に鎖の解析を500塩基長までに制限する。加えて、ゲル電気泳動は非常に
時間がかかり、複雑な有機体のゲノムの配列決定という課題に対しては有効な解
決手段ではない。さらに、電気泳動の前の準備および後の解析は、本質的に費用
および時間がかかるものである。したがって、より高速で、一定していて、より
経済的なDNA配列決定のための方法が求められている。
【0005】 DNA配列決定への別のアプローチは、米国特許第5,795,782号およ
び第6,015,714号に記載されており、それらの全内容は参照により本明
細書に援用されている。この技術では、2つの液体がアルファヘモリシン(アル
ファ溶血素)孔(alpha hemolysin pores)を有する生体膜によって分離される
。DNAが膜を通過すると、孔を通るイオン電流が遮断される。実験によって、
孔を通るイオン電流が遮断される時間の長さはDNA断片の長さと比例すること
が示されている。さらに、遮断の量および速度は、どの塩基が孔の最も狭い部分
にあるかに依存する。このため、これらの現象から塩基配列を決定できる可能性
がある。
【0006】 この技術の問題には、これまでのところ個々のヌクレオチドを区別できないと
いうことがある。また、個々のヌクレオチドの空間的な向きを見分けることは困
難である。さらに、電荷の流れを測定する電極が孔からかなり離れており、この
ことが測定の精度に悪影響を及ぼす。これは、大部分は、電流検知電極の特有の
静電容量と、少量の電流の検知における統計的変動が大きいこととによるもので
ある。さらに、特有のショットノイズなどのノイズ源が信号を歪ませ、さらなる
誤差を招く。したがって、塩基がシーケンサを通過するときにそれらを判別する
、より感度の高い検出システムが求められている。発明の要旨 本発明の目的は、DNAまたはRNAの個々の塩基を正確かつ有効に識別する
ためのシステムおよび方法を提供することである。
【0007】 本発明の別の目的は、DNAまたはRNAの個々の塩基を配列決定するための
半導体装置を使用するシステムおよび方法を提供することである。 本発明のさらなる目的は、半導体に基づいたDNAまたはRNA配列決定装置
を製造するための方法を提供することである。 本発明の別の目的は、正確かつ有効に、炭水化物またはタンパク質のような長
鎖ポリマーの個々の構成要素を識別し、かつ長鎖ポリマーの長さを測定するため
のシステムおよび方法を提供することである。
【0008】 本発明のさらに別の目的は、DNAまたはRNA分子がシーケンサにおいて開
口部を通過する位置で電荷を測定することによってDNAまたはRNAの塩基を
正確かつ有効に識別するための、中に開口部を有する半導体に基づいた装置を使
用するシステムおよび方法を提供し、これにより、開口部を通るDNAまたはR
NA分子のランダムな動きと関連するショットノイズなどのノイズ源の影響を排
除または少なくとも最小化することである。 本発明のこれらおよび他の目的は、少なくとも1つのポリマーを検出するため
のシステムを提供することによって、実質的に達成される。このシステムは、検
出領域の近くのポリマーの構成要素を表す電荷を検出するようになっている少な
くとも1つの検出領域を有する少なくとも1つの半導体装置または絶縁および金
属層の構成を含む。構成要素は核酸鎖の塩基を含むことができるので、検出領域
は核酸鎖の塩基を表す電荷を検出するようになっている。検出領域はさらに、検
出された電荷を表す信号を生成するようになっている。また、検出領域は、半導
体装置における凹部、またはポリマーが開口部に入るのを可能にするのに十分な
断面を有する半導体装置における開口部が形成された半導体装置の領域を含むこ
とができるので、検出領域は開口部における構成要素の電荷を検出する。さらに
、半導体装置は、好ましくは少なくとも2つのドープ領域をさらに含み、検出領
域は、検出領域の近くの構成要素の存在に応じて2つのドープ領域間に電流を送
ることができる。
【0009】 本発明の上記および他の目的は、少なくとも1つの半導体装置の検出領域の近
くにポリマーの一部を位置決めするステップと、検出領域において検出領域の近
くのポリマーの構成要素を表す電荷を検出するステップとを含む、少なくとも1
つのポリマーを検出するための方法を提供することによってもまた実質的に達成
される。構成要素は核酸鎖の塩基を含むことができるので、検出ステップは塩基
を表す電荷を検出する。方法は、検出された電荷を表す信号を検出領域において
生成するステップをさらに含む。検出領域は、半導体装置における凹部、または
ポリマーが開口部に入るのを可能にするのに十分な断面を有する半導体装置にお
ける開口部が形成された半導体装置の領域を含むことができるので、検出ステッ
プは、凹部または開口部における構成要素の電荷を検出する。さらに、半導体装
置は少なくとも2つのドープ領域をさらに含むことができるので、方法は、検出
領域の近くの構成要素の存在に応じて2つのドープ領域間に電流を送るステップ
をさらに含むことができる。
【0010】 本発明の上記および他の目的は、少なくとも1つの半導体層を含む半導体構造
を提供するステップと、検出領域が検出領域の近くのポリマーの構成要素を表す
電荷を検出するようになるように半導体構造に検出領域を作成するステップとを
含む、ポリマーを検出するための装置を製造するための方法を提供することによ
って、さらに実質的に達成される。構成要素は核酸鎖の塩基を含むことができ、
核酸鎖の塩基を表す電荷を検出するために検出領域を作成することができる。方
法は、検出領域が凹部または開口部における構成要素を表す電荷を検出するよう
になるように検出領域に対して位置決めされた、半導体構造における凹部を作成
、またはポリマーの一部が通過することを可能にするのに十分な断面を有する半
導体構造における開口部を作成するステップをさらに含む。方法は、開口部の断
面を小さくするために開口部を有する半導体層の壁面に絶縁層を形成するステッ
プをさらに含むことができる。さらに、方法は、検出領域が検出領域の近くのポ
リマーの構成要素に応じてドープ領域間に電流を送るようになるように検出領域
に対して位置決めされた少なくとも2つのドープ領域を半導体層に作成するステ
ップを含むことができる。ドープ領域は、異なるドーピングを有する半導体層の
部分によって分離することができ、それぞれが第1のドーピングを有し、第2の
ドーピングを有する層によって分離されたドープ領域の積み重ねとして作成する
ことができる。ドープ領域は、p型またはn型ドーピングのいずれかを含むこと
ができる。図面の簡単な説明 本発明のこれらおよび他の目的、利点ならびに新規な特徴は、添付の図面と一
緒に読むと、以下の詳細な説明からより容易に理解されるであろう。図面におい
て: 図1は、本発明の実施形態に従って構成されたDNAまたはRNAシーケンサ
を含むDNAまたはRNA配列決定を行うためのシステムを図示する; 図2は、図1に示すDNAまたはRNAシーケンサの平面図を示す; 図3は、DNAまたはRNA配列のアデニン(A)、チミン(T)、グアニン
(G)およびシトシン(C)塩基がDNAまたはRNAシーケンサを通過すると
きの、図1に示すシステムの電流検出器によって検出された電流を表す波形の例
を示すグラフである; 図4は、本発明の実施形態に従って図1に示すようなDNAまたはRNAシー
ケンサを作製するシリコンオンインシュレータ(SOI)基板の断面図を示す; 図5は、シリコン層に形成された浅いn型領域および深いn型領域ならびに切
り欠かれた基板の部分を有する図4に示すSOI基板の断面図を示す; 図6は、絶縁体の一部が切り欠かれ、別の浅いn型領域がシリコン層に形成さ
れた図5に示すSOI基板の断面図を示す; 図7は、エッチングで形成された開口部を有するSOI基板の断面図を示す; 図8は、図7に示すSOI基板の平面図を示す; 図9は、シリコン層上およびその中の開口部を形成する壁面上に形成された酸
化層を有する図7に示すSOI基板の断面図を示す; 図10は、図9に示すSOI基板の平面図を示す; 図11は、シリコン層上およびその中の開口部を形成する壁面上に形成された
酸化層を有する図9に示すSOI基板の詳細な断面図を示す; 図12は、図11に示すSOI基板の平面図を示す; 図13は、図7に示すSOI基板の開口部の構成例の詳細な断面図を示す; 図14は、図13に示す開口部の平面図を示す; 図15は、酸化層にエッチングされた穴および浅いn型領域と深いn型領域に
接触するためにそれぞれ穴の上方に形成された金属コンタクトを有する図9に示
すSOI基板の断面図を示す; 図16は、図4〜15に示す製造ステップに従って作製された図1に示すDN
AまたはRNAシーケンサの断面図を示す; 図17は、本発明の別の実施形態による複数のn型領域によって形成された複
数の検出器を有するDNAまたはRNAシーケンサの平面図を示す; 図18は、本発明の別の実施形態によるDNAまたはRNAシーケンサの断面
図を示す; 図19は、本発明のさらなる実施形態によるDNAまたはRNAシーケンサの
断面図を示す; 図20は、本発明のさらなる実施形態によるDNAまたはRNAシーケンサの
断面図を示す; 図21は、図20に示すDNAまたはRNAシーケンサの平面図を示す。
【0011】 図22は、DNAまたはRNAシーケンサのマトリックス配置の例を図示する
概念ブロック図である; 図23は、電子トンネリングを実現するために中間の半導体層の代わりに金属
層を有するシーケンサの断面図である; 図24は、図7に示すSOI基板の開口部の別の構成例の詳細な断面図を示す
; 図25は、図24に示す開口部の平面図を示す; 図26は、別個の液体領域と共に用いられる複数開口部シーケンサの断面図を
示す; 図27Aおよび27Bは、半導体構造に形成された開口部パターンの写真のイ
メージである; 図28Aおよび28Bは、半導体構造に形成された開口部パターンの写真のイ
メージである。好適な実施形態の詳細な説明 図1および2は、DNAまたはRNA、タンパク質または炭水化物のようなポ
リマー、あるいは石油のような長鎖ポリマーの存在を検出するための、より好ま
しくはポリマーまたは長鎖ポリマーの個々の構成要素およびポリマーまたは長鎖
ポリマーの長さを識別するためのシステム100を図示する。システム100は
、好ましくは、本発明の実施形態によるDNAまたはRNA配列決定のような核
酸の配列決定を行えるようになっている。したがって、この明細書において、核
酸配列決定と関連してシステム100を説明する。
【0012】 システム100は、以下により詳細に説明するように、半導体装置である核酸
配列決定装置102を含む。特に、核酸配列決定装置102は、2つのドープ領
域つまりドレイン領域104およびソース領域106を含む点で、MOSFET
のような電界効果トランジスタに似ている。しかしながら、MOSFETとは異
なり、核酸配列決定装置は以下に述べる理由のためにゲート領域を含まない。 核酸配列決定装置102は、水、ゲル、KCLなどの緩衝液、または他のあら
ゆる適切な溶液などの液体110を含む容器108の中に配置される。なお、溶
液110は、油などの絶縁媒体または他のあらゆる適切な絶縁媒体であってもよ
い。さらに、容器108は液体のような媒体を含まなくてもよい。つまり、容器
108は、核酸配列決定装置102が配置される真空をつくるために密封して排
気することもできる。また、図1は例として容器108の中に1つの核酸配列決
定装置102しか示していないが、容器は、並行して複数のDNA配列決定測定
を行うための複数の核酸配列決定装置102を含むことができる。
【0013】 容器108内の液体110などの媒体または真空は、核酸配列決定装置102
によって配列決定される核酸鎖または核酸鎖の部分111を含む。さらに図示す
るように、直流電圧源のような電圧源112が、それぞれドレインおよびソース
領域104および106を介してリード線116によって電流計114に直列に
結合されている。この例では、電圧源112の正のリード線はドレイン領域10
4に結合され、電圧源112の負のリード線は電流計114を介してソース領域
106に結合されている。
【0014】 核酸配列決定装置102のドレインおよびソース領域104および106に印
加される電位は、例えば約100mVと小さくてもよく、これは、核酸配列決定
装置102の開口部118に核酸鎖を引き込むためにドレインおよびソース領域
104および106に勾配をつくるのに十分である。つまり、核酸鎖111は、
局部的な勾配によって開口部118を通って移動する。あるいはまたはさらに、
液体はイオン溶液を含み得る。この場合、局部的な勾配によって溶液中のイオン
が開口部118を通って流れ、このことがDNAまたはRNAのような核酸鎖1
11が同様に開口部118を通って移動する助けとなる。
【0015】 媒体110内に置かれてさらなる電圧源117および121に接続されたさら
なる電極113および115があれば、開口部118に向かう核酸鎖の移動をさ
らに容易にする。すなわち、外部電極113および115は、媒体110内に電
界を印加するために用いられる。この電界は、核酸鎖111などの全ての荷電し
た粒子が開口部118へ向けてか開口部118から離れてかのいずれかに流れる
原因となる。このため、電極113および115は、核酸鎖111を開口部11
8の中へまたはその外へ向けるための手段として用いられる。電圧源112およ
び117を核酸シーケンサ102に接続するために、金属コンタクト123が以
下により詳細に説明するn型ドープ領域128および130に結合されている。
電極113および115は、交流電圧源125によってDC電圧に重畳される高
周波電圧を提供することもでき得る。メガヘルツ範囲(例えば10MHz)のよ
うな無線周波数範囲の周波数を有し得るこの高周波電圧によって、核酸鎖111
およびイオンが振動する。この振動は、塩の粒がシェーカーの開口部を通過でき
るようにソルトシェーカーを振るのと同様の方法で、核酸鎖111がより円滑に
開口部118を通るようにする。あるいは、音波発生装置のような装置127を
液体110の中または他のあらゆる適切な位置に配置することができ、同様の機
械的振とう機能を提供するために装置102を介して音波の振動を送るように制
御される。
【0016】 当業者が十分に理解できるように、核酸鎖は、それぞれが特定の大きさおよび
極性のイオン電荷を含有する塩基A、C、GおよびTの異なる組み合わせをそれ
ぞれ含んでいる。このため、ドレインおよびソース領域104および106間ま
たはそうでなければ開口部118の両端の電荷勾配は、荷電した核酸鎖に開口部
118を通過させる。あるいは、開口部118と液体の間に電位差をつくるため
に別の電圧源(図示せず)を用いることができる。また、ソースおよびドレイン
106および104間に印加される電圧と無関係にDNAの流れを制御するため
に開口部118の両端に圧力差を与えることができる。
【0017】 また、配列決定装置102は、電圧源112を基準として媒体110に正の電
圧を印加することによって核酸鎖を開口部118に引き寄せることができる。さ
らに、ドレインおよびソース領域104および106の極性をそれぞれ反転する
ことによって、媒体110中の核酸鎖を開口部118に押し込んだりそこから押
し出したりし、複数回解析することもできる。 以下により詳細に説明するように、開口部118は、ナノメートルの範囲内、
例えば約1nmから約10nmの範囲内の直径を有するように構成される。した
がって、常に1つのDNA鎖だけしか開口部118を通過することができない。
DNA鎖が開口部118を通過すると、塩基の配列は、鏡像電荷を誘起する。こ
の鏡像電荷は、開口部118が形成された装置の壁面に沿って垂直方向に延伸す
るチャネル119をドレインおよびソース領域104および106間に形成する
。電圧源112によってソース領域106およびドレイン領域104間に電圧が
印加されると、チャネル内のこれらの鏡像電荷はソースからドレインへと流れ、
結果として電流計114によって検出することができる電流フローとなる。開口
部118内に電荷がある限り電流がチャネル内に存在するので、電流計114に
よって検出される装置電流は、移動電荷と関連する電流よりもはるかに大きい。
例えば、1マイクロ秒に開口部118を通過する1つ1つの荷電イオンは、0.
16pAのイオン電流および160nAの装置電流の原因となる。
【0018】 あるいは、塩基は、チャネル119内に電荷の変化を誘起し、電流計114に
よって検出されるような電流の変化をもたらす。DNA鎖の存在による開口部を
通るイオンの流れの変化が同様にチャネル119内の鏡像電荷の変化の原因とな
り、結果として電流計114によって検出される電流の変化となる。つまり、電
流計114によって測定される装置電流は、DNA鎖111が開口部118を通
過すると、例えば80μAから4μAに減少する。 各タイプの塩基A、C、GおよびTのそれぞれは、それぞれの塩基のタイプと
関連する特定の電荷を表す特定の大きさおよび波形を有する電流を誘起する。す
なわち、Aタイプの塩基は、核酸配列決定装置102のドレインおよびソース領
域間のチャネル内にAタイプの塩基であることを示す大きさおよび波形を有する
電流を誘起する。同様に、C、TおよびG塩基は、それぞれ特定の大きさおよび
波形を有する電流を誘起する。
【0019】 検出された電流の波形の例を図3に示す。この図は、A、C、GおよびT塩基
の存在によって生成される予想信号の形、大きさおよび時間分解能を象徴的に図
示している。電流の大きさは、一般的にマイクロアンペア(μA)の範囲にあり
、これはピコアンペアの範囲にある開口部118を通って流れるイオン電流の1
6倍の大きさである。個々の塩基の静電位の計算は、水素結合をもたらす電荷
の相補分布を示す。例えば、T−AおよびC−Gの対は、外から対にして見ると
同様の分布を有するが、対ではない一本鎖DNAを解析する場合は、水素結合が
起こる面が独特である。大きなAおよびG塩基は、水素結合面上でほぼ相補的(
正と負が逆)であり、小さなTおよびC塩基についても同様である。
【0020】 したがって、DNA鎖が開口部118を通過すると、電流計114によって検
出された誘起された電流の波形および大きさを解釈することによって、鎖の塩基
の配列を検出し、それゆえ確認できる。したがって、システム100は、非常に
正確で効率的な方法でDNA配列決定を行うことを可能にする。 チャネル119内の電子の速度は開口部を通過するイオンの速度よりもはるか
に大きいので、ドレイン電流もまた開口部118を通るイオン電流よりもはるか
に大きい。イオンの速度1cm/秒および電子の速度106cm/秒の場合、1
00万倍の増幅が得られる。
【0021】 また、DNA分子の存在は、開口部118を通る電流IPを監視することによ
って検出できる。つまり、開口部を通る電流IPは、DNA分子が開口部を通過
するとき80pAから4pAに減少する。これは、分子が開口部を通過する際の
1マイクロ秒当たり25の電子の電荷に相当する。 開口部を通る電流ではなく装置電流を測定することには以下の利点がある。装
置電流は比較的大きいので測定しやすい。大きな電流は短時間での正確な測定を
可能にし、それにより2つのn型領域の間に位置する1つのDNA塩基と関連す
る電荷の測定を可能にする。これに対して、開口部を通る電流の測定の帯域幅は
、開口部118を通る電荷のランダムな動きと関連したショットノイズによって
制限される。例えば、10MHzの帯域幅で1pAの電流を測定すると、3.2
pA相当のノイズ電流が生じる。また、装置電流は、開口部118の両側の液体
が電気的に絶縁されていなくても測定することができる。つまり、上述のように
、配列決定装置102は単一の液体の容器に浸されている。このため、複数の電
流測定を並行して行えるようにするために複数のシーケンサ102を単一の液体
の容器に浸すことができる。さらに、以下により詳細に述べるように、ナノメー
トルサイズの開口部118の代わりにDNA分子を2つのn型領域に極めて接近
させる他のあらゆる構造または方法を用いることができる。
【0022】 核酸配列決定装置102を作製する好適な方法を図4〜16を参照して説明す
る。図4に示すように、作製工程は、シリコン基板122、二酸化シリコン(S
iO2)層124および薄いp型シリコン層126を含むシリコンオンインシュ
レータ(SOI)基板のようなウエハ120から始まる。この例では、シリコン
基板122は約300μmから約600μmの範囲内の厚さを有し、二酸化シリ
コン層124は約200から6400nmの範囲内の厚さを有し、p型シリコン
層126は約1μm以下(例えば約100nmから約1000nmの範囲内)の
厚さを有する。
【0023】 図5に示すように、ヒ素、リンなどのようなn型ドーパントのイオン注入およ
びアニーリングまたは拡散によってドープn型領域128がp型シリコン層12
6につくられる。図示するように、n型領域128は、p型シリコン126を完
全には貫通しない浅い領域である。図5に示すように深いn型領域130もまた
p型シリコン126につくられる。深いn型領域130は、p型シリコン126
を貫通して二酸化シリコン124に至り、n型領域128をつくるのに用いられ
るn型物質と同一または同様であり得るn型物質の拡散、あるいはイオン注入お
よびアニーリングのような公知の方法によってつくられる。図5にさらに示すよ
うに、シリコン基板122は、水酸化カリウム(KOH)中でのエッチングなど
のような公知の方法によってその(111)平面に沿ってエッチングされる。基
板122の背面はテフロン(登録商標)ジグ(teflon jig)でエッチ
ングすることもできる。図示するように、エッチング工程によりシリコン基板1
22の中央部分が二酸化シリコン124まで切り欠かれて、シリコン基板122
に開口部132がつくられる。
【0024】 図6に示すように、開口部132に露出した二酸化シリコン124の部分が、
フッ化水素酸中でのエッチング、反応性エッチングなどのような従来のエッチン
グ方法によって切り欠かれる。n型領域128および130をつくるのに用いら
れるのと同一または同様のn型物質の注入または拡散のような公知の方法によっ
て、開口部132で露出したp型シリコン126の場所に別の浅いn型領域13
4がつくられる。 次いで開口部118(図1および2参照)が、例えば図7および8に示すよう
にフレオン(Freon)14(CF4)を用いる反応性イオンエッチング(RIE)
、光学リソグラフィー、電子ビームリソグラフィーまたはその他の細線リソグラ
フィーによって、n型領域128、p型シリコン126および底部のn型領域1
34を貫いて形成され、約10nmの直径を有する開口部となる。図9に示すよ
うに、開口部の直径は、シリコンを酸化することでp型シリコン層126および
開口部118を形成する壁面の上に二酸化シリコン層136を形成することによ
ってさらに小さくすることができる。この酸化状態は、例えば800〜1000
℃の酸素雰囲気中でのシリコンの熱酸化により形成することができる。図11お
よび12に詳細に示すように、結果としての酸化物は、酸化工程中に消費された
シリコンよりも大きな体積を有しており、このことが開口部118の直径をさら
に狭める。開口部118の直径が1nmほどの小ささであると望ましい。
【0025】 例示のために図1、2および3〜9は開口部118を円筒形の開口部であるよ
うに示しているが、例えば図13および14に示すように開口部118が漏斗形
を有するのが好ましい。この漏斗形の開口部118は、水酸化カリウム(KOH
)を用いて(100)p型シリコン層126のV字形溝エッチングを行うことに
よってつくられ、p型シリコン126の(111)平面138に沿って形成され
たV字形の溝となる。図14に明示するように、V字形または漏斗形の開口部は
、開口部118を通るDNA鎖の動きを容易にし、DNA鎖が丸まってしまうた
めに開口部118を通過するのが困難になる可能性を最小にする。酸化およびV
字形溝エッチングを組み合わせてさらに小さい開口部を生み出すことができる。
さらに、上記のように、熱酸化の代わりに陽極酸化を用いることができる。陽極
酸化は、最適な開口部サイズが得られると工程を中止できるように酸化の際に開
口部サイズの監視を可能にするというさらなる利点を有する。
【0026】 特に、開口部118は、1度に1つのDNA鎖の分子だけを通過させるのに十
分に小さくなければならない。電子ビームリソグラフィーでは10nmほどの小
ささの開口部118を形成できるが、さらに小さな開口部が必要である。上記の
ようなシリコンの酸化およびV字形溝エッチングは、開口部をさらに小さくして
1〜2nmという所望のサイズにするために用いることができる。シリコンの酸
化によって酸化の際に消費されたシリコンの約2倍の体積を有する二酸化シリコ
ンが得られることが公知である。小さな開口部118の酸化によって開口部サイ
ズが徐々に小さくなり、それにより所望の開口部サイズが提供される。KOHを
用いた(100)配向シリコンのV字形溝エッチングにより、(111)平面に
よって形成されたV字形溝が得られる。正方形のSiO2またはSi34マスク
を介してのKOHエッチングにより、正方形の断面を有する漏斗形の開口部が得
られる。薄いシリコン層のエッチングにより、極めて小さなサイズの開口部11
8がもう一方の側に得られる。
【0027】 酸化およびV字形溝エッチングを組み合わせてさらに小さな開口部118を形
成することもできる。熱酸化の代わりに、酸化の際の開口部118のサイズの監
視を可能にするというさらなる利点を有する陽極酸化を用いることができ、適切
なサイズの開口部118が得られると酸化を中止することができる。 ここで図15を参照すると、n型領域128およびn型領域130を露出させ
るために二酸化シリコン136に穴140がエッチングされる。次いで、各n型
領域128および130に接触するために、金属コンタクト142が二酸化シリ
コン層136上および穴140内に堆積される。その後、図16に示すように金
属コンタクト142の上に絶縁体144が堆積され、このようにして図1に示す
装置102が得られる。
【0028】 図1にさらに示すように、リード線116がn型領域128および130に接
触できるように絶縁体144の一部を取り除くことができ、このことによりこれ
らの領域はそれぞれドレイン領域104およびソース領域106を形成する。リ
ード線116がn型領域128および130に接触するために延伸して通る開口
部を密閉するために、さらなる絶縁体146が絶縁体144の上に堆積される。
その結果、上述のようなDNA配列決定を行うために完成した装置102を作動
させることができる。
【0029】 DNA分子の塩基を識別するためには、単一の電子の電荷を測定するのが望ま
しい。配列決定装置102が0.1×0.1μmの長さおよび幅を有すように製
作され、二酸化シリコン層の厚さが開口部118の壁面に沿って0.1μmであ
ると、0.35fFの静電容量、0.45mVの電圧の変化、1mSの装置の相
互コンダクタンスおよび0.5nAの電流の変化が実現される。したがって、こ
れらの寸法および特徴を有する配列決定装置102は、単一の電子の電荷を検出
するのに用いることができる。配列決定装置102は、異なるヌクレオチドを区
別するのに十分な特別の分解能を得るためにさらにサイズを小さくすることがで
きる。配列決定装置102は、さらに高い電荷検知能力を有するためにより小さ
くするのが好ましい。例えば、配列決定装置の幅は10nm、長さは10nmで
あってもよく、開口部118は1nmの直径を有してもよい。
【0030】 装置102のさらなる実施形態もまた作製することができる。例えば、図17
は、本発明の別の実施形態による核酸配列決定装置の平面図を示す。この実施形
態では、最終的にドレインおよびソース領域を形成するn型領域を形成するため
に、図3から16に関して上述したステップが実行される。しかしながら、この
実施形態では、例えば図5に示すn型領域128は、4つの別個のn型領域15
0として上記のp型シリコン層126と同様のp型シリコン層に形成される。二
酸化シリコン層154は、中にn型領域150がつくられたp型シリコン層を覆
っている。穴156は、二酸化シリコン層154上に堆積された金属コンタクト
158がn型領域150に接触できるように、二酸化シリコン層154において
エッチングされる。n型領域150によって形成された4つのドレイン領域およ
びソース領域(図示せず)間を流れる電流を検出することによって、開口部15
2を通過するDNA鎖の塩基の空間的な向きを検出することができる。
【0031】 図18は、本発明の別の実施形態による核酸配列決定装置160の断面である
。核酸配列決定装置102と同様に、核酸配列決定装置160は、シリコン基板
162、二酸化シリコン層164、p型シリコン168に注入されたn型領域1
66およびp型シリコン168に注入された第2のn型領域170を含む。核酸
配列決定装置160は、それを貫通する開口部172をさらに有する。開口部は
円筒形でもよいし、上記のようなV字形または漏斗形の開口部でもよい。二酸化
シリコン層174は、図示するようにp型シリコン層168、n型領域170お
よびn型領域166を覆っており、上記のようにして開口部172の直径を減少
させる。リード線176をn型領域170に接合させるために二酸化シリコン層
174に開口部がエッチングされている。別のリード線176もまたn型領域1
66の露出部分に接合されているので、電圧源178はn型領域170によって
形成されたドレイン領域180およびn型領域166によって形成されたソース
領域182の間に電位を印加することができる。このようにして、核酸配列決定
装置160を上記の方法でDNA鎖184の塩基を検出するのに用いることがで
きる。
【0032】 図19は、本発明の別の実施形態によるDNA配列決定システム186を示す
。システム186は、この例では互いの上部に積み重ねられた3つのMOSFE
T型装置を含む多層核酸配列決定装置188を含む。つまり、装置188は、上
記のシリコン基板122と同様のシリコン基板190を含む。二酸化シリコン層
192はシリコン基板190の上にある。装置188は、n型ドープシリコン領
域194、p型二酸化シリコン領域196、n型ドープシリコン領域198、p
型二酸化シリコン領域200、n型ドープシリコン領域202、p型二酸化シリ
コン領域204およびn型ドープシリコン領域206をさらに含む。領域194
から206は、図19に明示するように互いの上部に積み重ねられている。しか
しながら、当業者は十分に理解できるように、この実施形態および本明細書に記
載のその他の全ての実施形態について層の極性を反転させることができる。つま
り、装置188は、p型ドープシリコン領域194、n型二酸化シリコン領域1
96、p型ドープシリコン領域198などを含んでもよい。
【0033】 さらに、薄い二酸化シリコン層208が図示するように層の上に形成され、開
口部118に関して上述した方法で開口部210の直径を減少させるために開口
部210を形成する壁面上にも形成される。また、開口部210は、上記のよう
に円筒形でもV字型の溝または漏斗形の溝でもあり得る。以下に説明するように
電圧源214、216および218ならびに電流計220、222および224
を装置188に結合するためにリード線212を領域194、198、202お
よび206に接合できるように、二酸化シリコン層208に穴が形成される。上
記のように、電圧源214、216および218ならびに電流計220、222
および224は、それぞれ電圧源112および電流計114と同様である。
【0034】 特に、リード線212は、電圧源214および電流計220をn型ドープシリ
コン領域202およびn型ドープシリコン領域206に直列に結合する。したが
って、電圧源214は、p型二酸化シリコン領域204によって分離された領域
202および206の間に電圧を印加する。リード線212はまた、図示するよ
うに電圧源216および電流計222をn型ドープシリコン領域198およびn
型ドープシリコン領域202に結合する。さらに、リード線212は、図示する
ように電圧源218および電流計224をn型ドープシリコン領域194および
n型ドープシリコン領域202に結合する。その結果、図19から十分に理解で
きるように、n型ドープシリコン領域198およびn型ドープシリコン領域19
4はそれぞれ第1のMOSFETのドレインおよびソース領域として作用し、n
型ドープシリコン領域202およびn型ドープシリコン領域198はそれぞれ第
2のMOSFETのドレインおよびソース領域として作用し、n型ドープシリコ
ン領域206およびn型ドープシリコン領域202はそれぞれ第3のMOSFE
Tのドレインおよびソース領域として作用する。これらの3つのMOSFET型
装置は、開口部210を通過するDNA鎖の塩基によって誘起された電流を測定
することができ、これにより、精度を高めるためにこれらの塩基の複数の測定を
行うことができる。
【0035】 また、図20および21に示すように、上記の核酸配列決定装置は、DNA鎖
が装置の開口部を通過することを必要とすることなく核酸鎖の塩基を検知するよ
うに構成することができる。つまり、上記の技術を用いて、図1に示す核酸配列
決定装置102と同様の、表面に近接してドレインおよびソース領域を有する核
酸配列決定装置226を作製することができる。なお、図1、20および21に
示す同様の構成要素は、同様の参照番号で識別されている。しかしながら、開口
部118の代わりに、ドレイン領域からソース領域へと延伸する表面に1つ以上
の溝(groove)228を任意に形成することができる。あるいは、表面に溝は形
成されないが、核酸鎖111を検出するための検出領域がドレインおよびソース
領域間にある。電圧源117および121による電位の印加ならびに容器108
内の圧力差の生成のような、上述したものと同様の技術は、核酸鎖111を装置
の表面に沿って溝228の上を水平方向に移動させるために用いることができる
。核酸鎖の塩基は、電流がドレインおよびソース領域間を流れられるようにする
鏡像電荷チャネル230をドレインおよびソース領域間につくる。塩基によって
核酸配列決定装置内に誘起された電流は、上記のものと同様の方法で測定するこ
とができる。
【0036】 さらに、装置226は、鏡像電荷を含むチャネル230が垂直ではなく水平で
ある点で、図1、17および19に表すその他の実施形態と異なる。この構造は
図1、17および19に示す装置102におけるような開口部118を含まない
が、この実施形態は、チャネル230のすぐ上方に電荷検知領域を含む。図1と
同様に、核酸鎖111を電荷検知領域の方へまたはそれから離れるように向ける
電界を与えるために外部電極113および115が用いられる。つまり、核酸鎖
111の動きは、ドープ領域130に印加される電圧を基準として外部電極11
3および115に電圧を印加することによって制御される。核酸鎖111を図2
0に示す平面に垂直に動かすために、さらなる電極(図示せず)を加えることも
できる。
【0037】 装置の電荷検知領域は、チャネル230のすぐ上方かつ2つのドープ領域13
0の間に位置している。個々の塩基の識別には、2つのドープ領域間の距離が1
つの塩基程度であり、各塩基が連続して電荷検知領域の上方にあるように核酸鎖
111が動くことが必要である。この水平構成は、さらに並行的かつ連続的な核
酸鎖111の解析を可能にし、小さな開口部の作製を必要としない。このアプロ
ーチをさらに高めるために、核酸鎖111を導く上述のような溝228の形成な
どのさらなる表面処理を用いることができる。
【0038】 図19および20に示す水平の実施形態はまた、多数の核酸鎖111の存在を
検出するためにも有利である。例えば、媒体として電気泳動ゲルを用いて、種々
の長さの核酸鎖111を電極113および115間に置くことから始める。ドー
プ領域130を基準として負の電圧を電極113および115に印加する。そう
すると、核酸鎖111は電荷検知領域へ向けて移動する。小さな鎖は速く移動し
、大きな鎖はゆっくり移動する。したがって、小さな鎖がまず電荷検知領域に到
着し、その後に大きなものが続く。したがって、電荷検知領域に蓄積された電荷
は、およびそれゆえにチャネル230の鏡像電荷もまた、時間とともに「階段状
に」増加する。この結果として、電流計114によって測定される電流が階段状
に増加または減少する。
【0039】 この処理は、1つのDNA/RNA鎖の個々の塩基の識別とはならないが、電
気泳動測定によって行われるのと同等の鎖の長さの測定を提供する。標準の電気
泳動に対する利点は、DNA/RNA鎖の位置のリアルタイムの測定が行われる
ことである。また、標準の電気泳動がcmサイズではないとしてもmmサイズの
泳動領域を用いるのに対して、ミクロンサイズの装置を容易に製作できるので寸
法を大幅に削減することができる。このサイズの削減によって、単一の電荷検知
装置の費用も削減しながら、必要なDNA/RNA鎖がより少ない高速の測定が
もたらされる。
【0040】 さらに、多数のDNAセンサ(例えば、配列決定装置102)を、図22に示
すように電子的にアドレス指定および読み出しされる2次元アレイ300に構成
することができる。アレイは、配列決定装置102のドレイン・ソース電流が対
応するトランジスタ304のソースに流れるように、一方で接地に接続され他方
で例えばトランジスタ304のソースに接続された配列決定装置102を含むセ
ル302からなる。トランジスタ304のゲートはワード線306に接続され、
そのワード線306がデコーダ308に接続される。各セル302のトランジス
タ304のドレインは、センス線310に接続される。センス線310は、セン
ス増幅器312として図示される一連のセンス増幅器に接続される。
【0041】 アレイ300は、マイクロプロセッサなどのような制御器(図示せず)からデ
コーダ308へアドレスを供給することによって作動される。そして、デコーダ
308は、アドレスに対応するワード線306に電圧を印加する。センス増幅器
312は、選択された配列決定装置102の列にバイアス電圧を提供する。バイ
アス電圧によって、選択された配列決定装置において開口部118を通るDNA
分子の流れがもたらされる。選択された配列決定装置102は、対応するトラン
ジスタ304に上記のようにして個々のヌクレオチドの電荷に比例する電流を提
供する。センス増幅器は、選択された各配列決定装置102の電流を測定する。
このようにして、アレイ300は、単一の配列決定装置102と比べて配列決定
速度を増加させ、同時に欠陥のある配列決定装置102に対する冗長性およびさ
らなる許容差を提供する、複数の同時測定を可能にする。
【0042】 さらに、上記のDNAシーケンサ(例えば、配列決定装置102)のいずれも
が、半導体チャネル(例えば、図1に示す配列決定装置102のチャネル119
)とDNA分子を含む媒体(例えば、図1に示す液体110)との間の障壁(例
えば、酸化物層136)の代替を含み得る。例えば、酸化物層136は取り除く
ことができ、それでもなお半導体と媒体との間に電位障壁を残す。酸化物層13
6の代わりにドナーおよび/またはアクセプタでドーピングされたバンドギャッ
プが広い半導体を用いることができる。酸化物層136の代わりにドーピングさ
れていない、バンドギャップが広い半導体層を用いることもできる。
【0043】 さらに、酸化物層136の代わりに1つ以上のシリコンナノ結晶を含む酸化物
を用いることができる。このタイプの障壁を有する配列決定装置102の作動は
、酸化物層136を有する配列決定装置102のものと少し違うものである。つ
まり、半導体チャネル119において鏡像電荷を直接につくるのではなく、個々
のヌクレオチドの電荷が障壁のナノ結晶を分極する。このナノ結晶の分極が半導
体チャネル119における鏡像電荷をつくる。電子がヌクレオチドからナノ結晶
へトンネルするので、配列決定装置102の感度はさらに高められる。ナノ結晶
に蓄積された電荷は、配列決定装置102のドレインおよびソースの間に短い電
圧パルスを印加することによって、測定(例えば、電流計114による電流の読
取り)の後で取り除くことができる。
【0044】 上記の配列決定装置(例えば、配列決定装置102)はいずれも、半導体を用
いずに構築することもできる。この構成では、中間のp型半導体126(図1参
照)の代わりに二酸化シリコンのような絶縁層が用いられ、n型のソース領域1
06およびドレイン領域104の代わりに金属電極が用いられる。2つの金属電
極の間の酸化物層は、電子が酸化物層をトンネルできるように十分に薄くなけれ
ばならない(10nm未満)。2つの金属電極を分離する酸化物は、トンネリン
グが開口部でだけ起こるように開口部の周りをより薄くしてもよい。
【0045】 図23を参照してこのタイプの配列決定装置102−1の作動を以下に説明す
る。DNA分子は、薄い酸化物層のそばを通ると、酸化物の局部的な電位を変化
させ、酸化物層を介する電子のトンネリングによる電流の変化をもたらす。分子
をチャネル119から分離している障壁は非常に薄いので、分子への電子のトン
ネリングおよび分子からの電子のトンネリングが起こり得る。このトンネリング
は、チャネル119から分子へ/分子からチャネル119へと発生し得る。配列
決定装置内での大きな増幅のために、この電流はチャネル119内の電流よりも
はるかに小さいと考えられる。しかしながら、(代替の障壁材料として上述した
ような)ナノ結晶へとナノ結晶からのトンネリングは、同様の増幅をもたらす。
したがって、このトンネリングは、DNA分子に沿った電荷の分布についての有
用で測定可能な情報を提供する。
【0046】 上述のように、配列決定装置の開口部(例えば、配列決定装置102の開口部
118)のサイズは、広範囲にわたって変えることができる。しかしながら、正
しい作動のために、開口部118は、DNAが電荷センサの極めて近くにあるよ
うに十分小さくなければならず、DNAが開口部を通過できるように十分大きく
なければならない。一本鎖DNAの直径は約1.5nmに等しいので、最適な検
知のために開口部は1nmと3nmの間でなければならない。開口部が大きくな
るとS/N(signal to noise)比を低下させるかもしれないが、より大きなイ
オンが開口部118を通るであろう。
【0047】 さらに、配列決定装置の開口部を非対称的にすることによっていくつかの利点
が達成される。例えば、上記の関連した記述としての図13および14に対応す
る図24および25に示すように、V字形溝エッチング前の最初のパターンを非
対称的にすることによって、最終的な開口部118もまた非対称的、例えば正方
形や円とはならず、長円形または長方形となる。そうすると、非対称的であるヌ
クレオチドは開口部118を通過するときに好ましい向きを有する。このことは
、ヌクレオチドの特性の識別におけるそれらの骨格軸の周りの回転による不明瞭
さを取り去り、センサ信号の解析を非常に簡単にする。さらに、開口部118の
長軸に沿って電界をかけ、ヌクレオチドの塩基固有の双極子モーメントを電界に
そろえることができる。例えば、シトシンの双極子モーメントは6.44デバイ
であり、チミンの双極子モーメントは4.50デバイであり、アデニンの双極子
モーメントは2.66デバイであり、グアニンの双極子モーメントは6.88デ
バイである。電界が十分に強ければ双極子モーメントに沿って塩基(ヌクレオチ
ド)を伸ばすことができ、これにより塩基の電荷をセンサに近づけて感度を高め
ることができる。したがって、これらの技術は、データを非常に解釈しやすくし
、塩基を判別するために用いられる信号を増加させる。
【0048】 さらに、図26に示すように、上記の配列決定装置(例えば、配列決定装置1
02)のアレイ300は、槽400内の液体が2つの領域すなわちソース領域4
02および1つ以上の収集領域404に分けられた構成において用いることがで
きる。ソース領域402は、上記のイオン、水、ゲルまたはその他のタイプの液
体などの流動体、ならびにDNA鎖のような数種類の核酸鎖406−1および4
06−2を含む。 図示するように、収集領域404は収集槽408によって形成できる。収集槽
408は、収集領域404の液体をソース領域402の流動体から隔離すること
ができ、この場合、ソース領域402の流動体は収集領域404の流動体と同じ
であっても違っていてもよい。あるいは、収集槽408は、核酸鎖406−1お
よび406−2に対して不浸透性であってそれゆえ核酸鎖406−1および40
6−2がソース領域402から収集領域404におよびその逆に収集槽408を
通り抜けるのを妨げながら、収集領域404の流動体がソース領域402におよ
びその逆に流れるのを可能にするために多孔性であり得る。
【0049】 ソース領域は、多くの無関係なDNA鎖および多くの既知または部分的に既知
の基準配列を有する特定のタイプのDNA(タイプX)の鎖を含むかもしれない
。そうすると、DNA鎖をアレイ300において作動するN個の配列決定装置1
02の開口部(例えば、開口部118)を介して引き寄せるために、アレイ30
0を上記のように制御することができる。ここで、Nは1よりもはるかに大きな
数(例えば、100以上)である。DNA鎖が開口部118を通過して、配列決
定されると、無関係な鎖はソース領域に後退させられる。ソース領域は、この鎖
が出たばかりの開口部118の近傍から取り除かれ、かつ別の開口部に入る可能
性が無視できるものであるように操作される。
【0050】 例えば、基準配列を有するタイプXの鎖は、計数されるが、同時に拒絶されて
ソース領域へ返される。しかしながら、ナノ開口部j(j=1からN)によって
検出された塩基配列に1つまたはいくつかの差異を有するタイプXの鎖は、開口
部118を通過させられ、流動体の収集領域を含む容器に捕捉される。そして、
そのように捕捉された一番目の鎖と同一のタイプXの鎖はいずれも、同様に計数
されて適切な収集容器へ送られる。異なった(または偶然に同じである)非基準
配列のX鎖は、各開口部118で収集される。配列決定が終わると、基準のX鎖
に対するそれぞれのタイプの非基準のX鎖の比率がわかり、変異タイプのそれぞ
れの100%純粋な試料が個々の収集槽408に収集されている。そして、これ
らの純粋な試料をPCRによって複製し、個別に研究することができる。上記の
方法は、例えば、個人のDNAにおける突然変異および/または不正確な複製の
率ならびにそれゆえに老化の研究に用いることができる。
【0051】 上記の装置の全ては他の方法でも変形させることができる。例えば、SiO2
酸化物層をアルカリ溶液中で用いる亜酸化窒素(NO)雰囲気中のSi34に交
換することができる。さらに、DNA分子111は負に荷電しているので、装置
のソースを基準として正の電圧を液体110に印加するために電極113および
115のような電極を用いることによって分子111を開口部118に引き寄せ
ることができる。 上述のように、DNA分子を含むのに液体110の代わりにゲルを用いること
ができる。ゲルを用いるとイオンの動きを遅くし、S/N比をさらに改善する。
さらに、ソースおよびドレイン間に印加される電圧とは無関係に流れを制御する
ために開口部の両端に圧力差をかけることができる。
【0052】 二本鎖DNAも同様に解析することができる。二本鎖DNAが中性分子であっ
ても、分子は電荷を含有するので、電荷検知によってヌクレオチドを識別するこ
とができる。さらに、分子の剛性を高めて/変えてそれによりナノメートルサイ
ズの開口部への分子の挿入を容易にするために、ヘキストダイ(Hoechst dye)
のような蛍光色素などの他の分子を一本鎖DNAに付着させることができる。さ
らに、上記の装置は、一般にいかなるタイプの個々のポリマーをも解析するのに
用いることができるので、いくつか例を挙げると石油産業、製薬産業および合成
繊維産業などのポリマーを扱う産業において用いることができる。
【0053】 さらに、単一の分子(例えば、図1に示すような核酸鎖111)の電荷の測定
を容易にするために、大きなサイズの粒子を単一の分子に付着させることができ
る。例えば、金のナノ粒子を一本鎖DNA6に付着させることができる。金のナ
ノ粒子の目的は、DNA分子に固体のアンカーを提供することである。金の粒子
は容易に荷電および放電させられる。結果として、電界をかけることによって金
の粒子および付着されたDNA分子を操作することができる。 そして、一本鎖DNAに付着させられた金のナノ粒子を、図1に示す構成にお
いて液体110として用いることができる合成油などの絶縁液体中に置くことが
できる。この液体の目的は、DNA鎖と一緒になった粒子が自由に動くのを可能
にすることである。液体は、導電液体中にあるイオンによる電荷遮蔽を回避する
ために絶縁していなければならない。合成油は、抵抗性が高く、一本鎖DNAと
の化学結合を形成しないので、良い候補として認められている。
【0054】 次に、浮動ゲートを含む図1に示す装置102または図21に示すようなゲー
ト電極のない装置226のような半導体に基づいた電荷センサを用いて金のナノ
粒子の電荷を測定することができる。荷電した粒子が装置に近づくと、上記のよ
うにしてシリコン/酸化物界面に鏡像電荷が形成される。いかなる鏡像電荷に対
しても最も感度が高くなる閾値の範囲内の状態で作動するように、装置(例えば
、装置102)に適切なバイアスが印加される。そして、誘起された鏡像電荷は
、装置のさらに高い導電性をもたらし、増加した電流の形で読み出される。例と
して、それぞれ電子電荷の3分の1を持つ100の塩基をそれぞれ含む100の
DNA分子が10nmの厚さの酸化物を有する1μm×1μmのMOSFETの
閾値電圧を150mVずらすことを容易に計算できる。このずれは、(例えば、
図1に示す電流計114によって測定できるように)装置のドレイン電流の変化
を測定することによって測定できる。測定された電荷は、DNAの水素殻におけ
る電荷遮蔽陽イオンおよび遊離イオンの有無による影響を受けると考えられる。
また、大きなDNA分子から小さなイオンを分離するために電界を用いることが
できる。
【0055】 さらに、図1に示す装置102の開口部118などの上記のナノメートルサイ
ズの開口部のタイプは、図27Aおよび27Bに示すような明確な正方形の穴と
して製作することができる。これらの穴を形成するために、適切な幅および間隔
を有する一連の線をパターンに規定し、そのパターンをSiO2のようなマスキ
ング材料に転写する。次いで、90°回転させた同じ線のパターンを規定し、2
組の線の間の重なり合う領域によって規定される領域だけがエッチングの際に取
り除かれるように下にあるマスキング材料に転写する。この工程により、開口部
452を有する図27Aに示すパターン450から理解できるように、単一のリ
ソグラフィーステップで穴を規定するのに比べて、穴の縁の明確さが非常に良く
なる。図27Aおよび27Bに示すパターンは、3μm幅および3μm間隔の線
のパターンを用いて上記の技術で製作されたものである。そして、結果として得
られたエッチングマスクを、水酸化カリウム(KOH)を用いてシリコンにピッ
トをエッチングするのに用いた。
【0056】 線の幅のさらなる削減は、電子ビームリソグラフィーを用いて達成することが
できる。例えば、フィリップス(Phillips)の515走査型電子顕微鏡(SEM
)を用いた電子ビームリソグラフィーによって100nm幅の線のパターンを作
ることができる。開口部462を有する図28Aおよび28Bに示すパターン4
60を達成するためにポリメチルメタクリレート(PMMA)を電子レジストと
して用いることができ、メチルイソブチルケトン/イソプロピルアルコール(M
IBK/IPA)で現像することができる。図示するように、線は明確に規定さ
れ、電子ビームリソグラフィーで用いられるビームのスポットサイズによって制
限される。ガウシアンビームでの1回の露光が用いられたので、各線の始まりは
丸くなっている。この丸みは、図27Aおよび27Bに関して記載した交差線リ
ソグラフィー技術を用いることによってなくすことができる。PMMAは、図示
するような薄いSiO2層にパターンをうまく転写するためにエッチングマスク
として用いることもできる。
【0057】 したがって、最先端の電子ビームリソグラフィーを上述した2つの周知のサイ
ズ削減技術と組み合わせることによって、開口部118を(100)シリコン簿
膜上に作製することができる。PMMAに10nmの線を規定するために、走査
型透過電子顕微鏡(STEM)を用いることができる。交差線はSiO2マスク
に10nm平方の穴をつくるのに用いられる。シリコン簿膜のもう一方の側に2
〜4nmの開口部を設けるV字形のピットをエッチングするためにKOHエッチ
ングを用いることができる。シリコンの熱酸化は、酸化されたシリコンの約2倍
の体積を有する酸化物を生じさせるので、それによって開口部のサイズはさらに
削減される。この酸化もまた上述のようにゲート酸化物をもたらす。
【0058】 本発明のいくつかの実施例だけを上記に詳細に説明したが、当業者には、本発
明の新規な教示および利点から著しく逸脱することなく、実施例において多くの
変形が可能であることが容易に理解される。したがって、このような変形の全て
は、以下の請求の範囲において規定されるような本発明の範囲内に含まれるもの
である。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の実施形態に従って構成されたDNAまたはRNAシーケンサを含むD
NAまたはRNA配列決定を行うためのシステムを図示する。
【図2】 図1に示すDNAまたはRNAシーケンサの平面図を示す。
【図3】 DNAまたはRNA配列のアデニン(A)、チミン(T)、グアニン(G)お
よびシトシン(C)塩基がDNAまたはRNAシーケンサを通過するときの、図
1に示すシステムの電流検出器によって検出された電流を表す波形の例を示すグ
ラフである。
【図4】 本発明の実施形態に従って図1に示すようなDNAまたはRNAシーケンサを
作製するシリコンオンインシュレータ(SOI)基板の断面図を示す。
【図5】 シリコン層に形成された浅いn型領域および深いn型領域ならびに切り欠かれ
た基板の部分を有する図4に示すSOI基板の断面図を示す。
【図6】 絶縁体の一部が切り欠かれ、別の浅いn型領域がシリコン層に形成された図5
に示すSOI基板の断面図を示す。
【図7】 エッチングで形成された開口部を有するSOI基板の断面図を示す。
【図8】 図7に示すSOI基板の平面図を示す。
【図9】 シリコン層上およびその中の開口部を形成する壁面上に形成された酸化層を有
する図9に示すSOI基板の断面図を示す。
【図10】 図9に示すSOI基板の平面図を示す。
【図11】 シリコン層上およびその中の開口部を形成する壁面上に形成された酸化層を有
する図7に示すSOI基板の詳細な断面図を示す。
【図12】 図11に示すSOI基板の平面図を示す。
【図13】 図7に示すSOI基板の開口部の構成例の詳細な断面図を示す。
【図14】 図13に示す開口部の平面図を示す。
【図15】 酸化層にエッチングされた穴および浅いn型領域と深いn型領域に接触するた
めにそれぞれ穴の上方に形成された金属コンタクトを有する図9に示すSOI基
板の断面図を示す。
【図16】 図4〜15に示す製造ステップに従って作製された図1に示すDNAまたはR
NAシーケンサの断面図を示す。
【図17】 本発明の別の実施形態による複数のn型領域によって形成された複数の検出器
を有するDNAまたはRNAシーケンサの平面図を示す。
【図18】 本発明の別の実施形態によるDNAまたはRNAシーケンサの断面図を示す。
【図19】 本発明のさらなる実施形態によるDNAまたはRNAシーケンサの断面図を示
す。
【図20】 本発明のさらなる実施形態によるDNAまたはRNAシーケンサの断面図を示
す。
【図21】 図20に示すDNAまたはRNAシーケンサの平面図を示す。
【図22】 DNAまたはRNAシーケンサのマトリックス配置の例を図示する概念ブロッ
ク図である。
【図23】 電子トンネリングを実現するために中間の半導体層の代わりに金属層を有する
シーケンサの断面図である。
【図24】 図7に示すSOI基板の開口部の別の構成例の詳細な断面図を示す。
【図25】 図24に示す開口部の平面図を示す。
【図26】 別個の液体領域と共に用いられる複数開口部シーケンサの断面図を示す。
【図27】 図27Aおよび27Bは、半導体構造に形成された開口部パターンの写真のイ
メージである。
【図28】 図28Aおよび28Bは、半導体構造に形成された開口部パターンの写真のイ
メージである。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) H01L 29/06 601 H01L 29/06 601N 29/66 29/66 T 51/00 29/28 (31)優先権主張番号 09/653,543 (32)優先日 平成12年8月31日(2000.8.31) (33)優先権主張国 米国(US) (31)優先権主張番号 60/259,584 (32)優先日 平成13年1月4日(2001.1.4) (33)優先権主張国 米国(US) (81)指定国 EP(AT,BE,CH,CY, DE,DK,ES,FI,FR,GB,GR,IE,I T,LU,MC,NL,PT,SE,TR),OA(BF ,BJ,CF,CG,CI,CM,GA,GN,GW, ML,MR,NE,SN,TD,TG),AP(GH,G M,KE,LS,MW,MZ,SD,SL,SZ,TZ ,UG,ZW),EA(AM,AZ,BY,KG,KZ, MD,RU,TJ,TM),AE,AG,AL,AM, AT,AU,AZ,BA,BB,BG,BR,BY,B Z,CA,CH,CN,CO,CR,CU,CZ,DE ,DK,DM,DZ,EE,ES,FI,GB,GD, GE,GH,GM,HR,HU,ID,IL,IN,I S,JP,KE,KG,KP,KR,KZ,LC,LK ,LR,LS,LT,LU,LV,MA,MD,MG, MK,MN,MW,MX,MZ,NO,NZ,PL,P T,RO,RU,SD,SE,SG,SI,SK,SL ,TJ,TM,TR,TT,TZ,UA,UG,US, UZ,VN,YU,ZA,ZW (72)発明者 ヴァン ゼイブロエック,バート アメリカ合衆国,コロラド州 80303,ボ ルダー,1097 ラブ コート Fターム(参考) 2G045 AA35 DA13 FB05 FB15 GC17 GC20 2G060 AA15 AD06 AF02 AF11 AF20 AG11 DA02 DA04 DA07 DA10 DA17 DA27 FA07 FA15 4B029 AA07 AA23 BB20 FA15 4B063 QA13 QQ41 QS11 QX04

Claims (55)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 少なくとも1つのポリマーを検出するためのシステムであって、少なくとも1
    つの検出領域を有し、前記検出領域の近くの前記ポリマーの構成要素を表す電荷
    を検出するようになっている少なくとも1つの半導体装置を含むシステム。
  2. 【請求項2】 前記構成要素が核酸鎖の塩基を含み; 前記検出領域が前記核酸鎖の前記塩基を表す前記電荷を検出するようになって
    いる、請求項1に記載のシステム。
  3. 【請求項3】 前記検出領域がさらに前記検出された電荷を表す信号を生成するようになって
    いる、請求項1に記載のシステム。
  4. 【請求項4】 前記検出領域が開口部における前記構成要素の前記電荷を検出するようになる
    ように、前記検出領域が、前記ポリマーが前記開口部に入ることを可能にするの
    に十分な断面を有する前記半導体装置における前記開口部が形成された前記半導
    体装置の領域を含む、請求項1に記載のシステム。
  5. 【請求項5】 前記開口部を通る前記ポリマーの動きを容易にするために前記半導体装置にお
    いて動きを生成するようになっている励起装置をさらに含む、請求項4に記載の
    システム。
  6. 【請求項6】 前記検出領域が凹部における前記構成要素の前記電荷を検出するようになるよ
    うに、前記検出領域が前記半導体装置における前記凹部が形成された前記半導体
    装置の領域を含む、請求項1に記載のシステム。
  7. 【請求項7】 前記半導体装置が複数の前記検出領域を含み; 前記検出領域のそれぞれがその近くの前記少なくとも1つのポリマーの構成要
    素を表す電荷を検出するようになっている、請求項1に記載のシステム。
  8. 【請求項8】 前記半導体装置が少なくとも2つのドープ領域をさらに含み; 前記検出領域が前記検出領域の近くの前記構成要素の存在に応じて前記2つの
    ドープ領域間に電流を送るようになっている、請求項1に記載のシステム。
  9. 【請求項9】 前記半導体装置が、複数のドープ領域、および対になった前記ドープ領域のそ
    れぞれと関連するそれぞれの検出領域を含み、それぞれの前記検出領域がその近
    くの構成要素の存在に応じて前記対になったドープ領域のそれぞれの間に電流を
    送るようになっている、請求項1に記載のシステム。
  10. 【請求項10】 複数の前記半導体装置をさらに含む、請求項1に記載のシステム。
  11. 【請求項11】 前記検出領域によってその近くの前記構成要素に応じて生成された信号を検出
    するようになっている検出器をさらに含む、請求項1に記載のシステム。
  12. 【請求項12】 少なくとも1つのポリマーを検出するための方法であって、 少なくとも1つの半導体装置の検出領域の近くに前記ポリマーの一部を位置決
    めする位置決めステップと; 前記検出領域において、前記検出領域の近くの前記ポリマーの構成要素を表す
    電荷を検出する検出ステップとを含む方法。
  13. 【請求項13】 前記構成要素が核酸鎖の塩基を含み; 前記検出ステップが前記核酸鎖の前記塩基を表す前記電荷を検出する、請求項
    12に記載の方法。
  14. 【請求項14】 前記検出領域において前記検出された電荷を表す信号を生成するステップをさ
    らに含む、請求項12に記載の方法。
  15. 【請求項15】 前記検出領域が、前記ポリマーが開口部に入ることを可能にするのに十分な断
    面を有する前記半導体装置における前記開口部が形成された前記半導体装置の領
    域を含み; 前記検出ステップが前記開口部における前記構成要素の前記電荷を検出する、
    請求項12に記載の方法。
  16. 【請求項16】 前記開口部を通る前記ポリマーの動きを容易にするために前記半導体装置にお
    いて動きを生成するステップをさらに含む、請求項15に記載の方法。
  17. 【請求項17】 前記検出領域が前記半導体装置において凹部が形成された前記半導体装置の領
    域を含み; 前記検出ステップが前記凹部における前記構成要素の前記電荷を検出する、請
    求項12に記載の方法。
  18. 【請求項18】 前記半導体装置が複数の前記検出領域を含み; 前記検出ステップが、前記検出領域のそれぞれにおいて、その近くの前記少な
    くとも1つのポリマーの構成要素を表す電荷を検出するステップを含む、請求項
    12に記載の方法。
  19. 【請求項19】 前記半導体装置が少なくとも2つのドープ領域をさらに含み; 前記方法が前記検出領域の近くの前記構成要素の存在に応じて前記2つのドー
    プ領域間に電流を送るステップをさらに含む、請求項12に記載の方法。
  20. 【請求項20】 前記半導体装置が、複数のドープ領域、および対になった前記ドープ領域のそ
    れぞれと関連するそれぞれの検出領域を含み; 前記方法が、前記検出領域のそれぞれにおいて、その近くの構成要素の存在に
    応じて前記対になったドープ領域のそれぞれの間に電流を送るステップをさらに
    含む、請求項12に記載の方法。
  21. 【請求項21】 前記位置決めステップが、複数の前記ポリマーのそれぞれの一部をそれぞれの
    半導体装置の検出領域の近くに位置決めし; 前記検出ステップが、前記検出領域のそれぞれにおいて、前記検出領域の近く
    の前記ポリマーの構成要素を表す電荷を検出する、請求項12に記載の方法。
  22. 【請求項22】 前記検出領域によってその近くの前記構成要素に応じて生成された信号を検出
    するステップをさらに含む、請求項12に記載の方法。
  23. 【請求項23】 ポリマーを検出するための装置を製造するための方法であって、 少なくとも1つの半導体層を含む半導体構造を提供するステップと; 前記半導体構造に検出領域を作成し、前記検出領域が前記検出領域の近くの前
    記ポリマーの構成要素を表すそれぞれの電荷を検出するようになっている、ステ
    ップとを含む方法。
  24. 【請求項24】 前記構成要素が核酸鎖の塩基を含み; 前記作成ステップが前記核酸鎖の前記塩基を表す前記電荷を検出するようにな
    っている前記検出領域を作成する、請求項23に記載の方法。
  25. 【請求項25】 前記半導体構造に開口部を作成し、前記開口部が、前記ポリマーの一部が通過
    することを可能にするのに十分な断面を有し、前記検出領域が前記開口部におけ
    る前記構成要素を表す前記電荷を検出するようになるように前記検出領域に対し
    て位置決めされているステップをさらに含む、請求項23に記載の方法。
  26. 【請求項26】 前記開口部作成ステップが、前記開口部の前記断面を小さくするために前記開
    口部を形成する前記半導体層の壁面に絶縁層を形成するステップを含む、請求項
    25に記載の方法。
  27. 【請求項27】 前記検出領域が凹部における前記構成要素を表す前記電荷を検出するようにな
    るように前記検出領域に対して位置決めされた前記凹部を前記半導体構造に作成
    するステップをさらに含む、請求項23に記載の方法。
  28. 【請求項28】 前記半導体層に少なくとも2つのドープ領域を作成し、前記ドープ領域が、前
    記検出領域がその近くの前記ポリマーの前記構成要素に応じて前記ドープ領域間
    に電流を送るようになるように前記検出領域に対して位置決めされているステッ
    プをさらに含む、請求項23に記載の方法。
  29. 【請求項29】 前記ドープ領域作成ステップが、前記ドープ領域が第2のドーピングを有する
    前記半導体層の部分によって分離されるように第1のドーピングを有する前記ド
    ープ領域を作成する、請求項28に記載の方法。
  30. 【請求項30】 前記ドープ領域作成ステップが、それぞれが第1のドーピングを有し、第2の
    ドーピングを有する層によって分離されたドープ領域の積み重ねとして前記ドー
    プ領域を作成する、請求項28に記載の方法。
  31. 【請求項31】 前記ドープ領域のそれぞれがp型ドーピングを含む、請求項28に記載の方法
  32. 【請求項32】 前記ドープ領域のそれぞれがn型ドーピングを含む、請求項28に記載の方法
  33. 【請求項33】 前記検出領域の前記領域が、前記開口部が形成された絶縁層を含む、請求項4
    に記載のシステム。
  34. 【請求項34】 前記絶縁層が酸化物層を含む、請求項33に記載のシステム。
  35. 【請求項35】 前記検出領域の前記領域が、ドーピングされていない半導体層を含む、請求項
    4に記載のシステム。
  36. 【請求項36】 前記検出領域の前記領域が、前記開口部が形成された酸化物層を含み、前記酸
    化物層が少なくとも1つのシリコンナノ結晶を含んでいる、請求項4に記載のシ
    ステム。
  37. 【請求項37】 前記開口部が非円形である、請求項4に記載のシステム。
  38. 【請求項38】 前記開口部作成ステップが、酸化物を含む前記絶縁層を形成するステップをさ
    らに含む、請求項26に記載の方法。
  39. 【請求項39】 前記開口部作成ステップが、前記開口部の前記断面を小さくするために前記開
    口部を形成する前記半導体層の壁面にドーピングされていない半導体層を形成す
    るステップを含む、請求項25に記載の方法。
  40. 【請求項40】 前記開口部作成ステップが、前記開口部の前記断面を小さくするために前記開
    口部を形成する前記半導体層の壁面に酸化物層を形成し、前記酸化物層が少なく
    とも1つのシリコンナノ結晶を含んでいるステップを含む、請求項25に記載の
    方法。
  41. 【請求項41】 少なくとも1つのポリマーを検出するためのシステムであって、 検出領域の近くの前記ポリマーの構成要素を表す電荷を検出するようになって
    いる少なくとも1つの前記検出領域を形成するために構成された絶縁層および少
    なくとも1つの金属層を含む少なくとも1つの構造を含むシステム。
  42. 【請求項42】 前記絶縁層が前記金属層に接触する、請求項41に記載のシステム。
  43. 【請求項43】 前記構造が2つの金属層を含み、前記絶縁層が前記2つの金属層の間に配置さ
    れている、請求項41に記載のシステム。
  44. 【請求項44】 前記検出領域が開口部における前記構成要素の前記電荷を検出するようになる
    ように、前記検出領域が、前記ポリマーが前記開口部に入ることを可能にするの
    に十分な断面を有する前記開口部が形成された前記構造の領域を含む、請求項4
    1に記載のシステム。
  45. 【請求項45】 前記開口部を通る前記ポリマーの動きを容易にするために前記構造において動
    きを生成するようになっている励起装置をさらに含む、請求項44に記載のシス
    テム。
  46. 【請求項46】 前記開口部が非円形である請求項44に記載のシステム。
  47. 【請求項47】 前記検出領域が凹部における前記構成要素の電荷を検出するようになるように
    、前記検出領域が前記構造において前記凹部が形成された前記構造の領域を含む
    、請求項41に記載のシステム。
  48. 【請求項48】 ポリマーを検出するための装置を製造するための方法であって、 絶縁層および少なくとも1つの金属層を含む構造を提供するステップと; 前記構造に検出領域を作成し、前記検出領域が前記検出領域の近くの前記ポリ
    マーの構成要素を表す電荷を検出するようになっているステップとを含む方法。
  49. 【請求項49】 前記構成要素が核酸鎖の塩基を含み、 前記作成ステップが前記核酸鎖の前記塩基を表す前記電荷を検出するようにな
    っている前記検出領域を作成する、請求項48に記載の方法。
  50. 【請求項50】 前記構造に開口部を作成し、前記開口部が前記ポリマーの一部がそれを通過す
    ることを可能にするのに十分な断面を有し、前記検出領域が前記開口部における
    前記構成要素を表す前記電荷を検出するようになるように前記検出領域に対して
    位置決めされているステップをさらに含む、請求項48に記載の方法。
  51. 【請求項51】 前記開口部が非円形である、請求項50に記載の方法。
  52. 【請求項52】 前記検出領域が凹部における前記構成要素を表す前記電荷を検出するようにな
    るように前記検出領域に対して位置決めされた前記凹部を前記構造に作成するス
    テップをさらに含む、請求項48に記載の方法。
  53. 【請求項53】 少なくとも1つのポリマーを検出するためのシステムであって、 検出領域の近くの前記ポリマーの構成要素を表す電荷を検出するようになって
    いる少なくとも1つの前記検出領域をそれぞれが有する複数の検出装置と; 前記検出装置のそれぞれからの読取りを選択的に得るようになっており、それ
    ぞれの前記読取りが前記検出装置によって検出された電荷のそれぞれを表してい
    る読取り器とを含むシステム。
  54. 【請求項54】 少なくとも1つの前記検出装置が、 前記検出領域の近くの前記ポリマーの構成要素を表す電荷を検出するようにな
    っている少なくとも1つの前記検出領域を有する少なくとも1つの半導体装置を
    含む、請求項53に記載のシステム。
  55. 【請求項55】 少なくとも1つの前記検出装置が、 前記検出領域の近くの前記ポリマーの構成要素を表す電荷を検出するようにな
    っている少なくとも1つの前記検出領域を規定するために構成された絶縁層およ
    び少なくとも1つの金属層を含む構造を含む、請求項53に記載のシステム。
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