JPS6266154A - 化学感応半導体装置 - Google Patents
化学感応半導体装置Info
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- JPS6266154A JPS6266154A JP61211830A JP21183086A JPS6266154A JP S6266154 A JPS6266154 A JP S6266154A JP 61211830 A JP61211830 A JP 61211830A JP 21183086 A JP21183086 A JP 21183086A JP S6266154 A JPS6266154 A JP S6266154A
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- passageway
- sensitive
- field effect
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N27/00—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
- G01N27/26—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating electrochemical variables; by using electrolysis or electrophoresis
- G01N27/403—Cells and electrode assemblies
- G01N27/414—Ion-sensitive or chemical field-effect transistors, i.e. ISFETS or CHEMFETS
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- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は化学感応(chemical 5ensiti
ve)半導体装置に関し、さらに詳細には、化学感応電
界効果型トランジスタに関する。
ve)半導体装置に関し、さらに詳細には、化学感応電
界効果型トランジスタに関する。
例えば血液試料のような水溶液中のカリウム、水素、カ
ルシウムおよびナトリウムイオンを同時に測定するのに
適した化学感応半導体装置が、ビー・ディー・ホエイリ
(P 、 D 、Whalley)およびエイ・ケ
イ・コビングトン(A、 K、 Covtngton)
により、アナリティカ・キミ力・アクタ(Analyt
ica Chiiica Acta)、第159巻
、1985年、第47〜62ページに記述されている。
ルシウムおよびナトリウムイオンを同時に測定するのに
適した化学感応半導体装置が、ビー・ディー・ホエイリ
(P 、 D 、Whalley)およびエイ・ケ
イ・コビングトン(A、 K、 Covtngton)
により、アナリティカ・キミ力・アクタ(Analyt
ica Chiiica Acta)、第159巻
、1985年、第47〜62ページに記述されている。
ぞの装置は第1図に示されているものであり、それぞれ
測定されるべき4種のイオンのうちの各1つに応答する
露呈された化学感応電界効果型ゲート領域を有している
4個の化学感応電界効果型トランジスタよりなる集積回
lit具備している。
測定されるべき4種のイオンのうちの各1つに応答する
露呈された化学感応電界効果型ゲート領域を有している
4個の化学感応電界効果型トランジスタよりなる集積回
lit具備している。
この集積回路は16ビンDILソケツトアダプタ3に取
付けられた適当な基板2上に形成されている。
付けられた適当な基板2上に形成されている。
検体が屈曲ガラス管4に沿ってゲート領域に供給される
。この場合、そのガラス管4は上記基板上に配置されか
つ5で示されているように開孔を形成されており、試料
が4つの化学感応ゲート+iM域に接触して集積回路を
横切る方向に流動しうるようになされている。
。この場合、そのガラス管4は上記基板上に配置されか
つ5で示されているように開孔を形成されており、試料
が4つの化学感応ゲート+iM域に接触して集積回路を
横切る方向に流動しうるようになされている。
この種の装置は通常約30μlの流れ容積(Now−t
hrough volume)を有しているが、ある種
の場合(例えば新生児血液検査)には、用いうる試ネー
1の量が非常に少ないので、これでは十分ではないこと
がありうる。さらに 試料がゲーI−領域のすぐ上に流
れない層を形成する傾向があり、その場合には、各検査
の終りに、装置を完全に洗い流さなければならず、かつ
ある種の場合には、500μβもの大きい容積が必要と
されることがありうる。
hrough volume)を有しているが、ある種
の場合(例えば新生児血液検査)には、用いうる試ネー
1の量が非常に少ないので、これでは十分ではないこと
がありうる。さらに 試料がゲーI−領域のすぐ上に流
れない層を形成する傾向があり、その場合には、各検査
の終りに、装置を完全に洗い流さなければならず、かつ
ある種の場合には、500μβもの大きい容積が必要と
されることがありうる。
本発明の目的は、上述した種類の装置における問題点の
うちの少なくとも幾つかを解消する化学感応半導体装置
を提供することである。
うちの少なくとも幾つかを解消する化学感応半導体装置
を提供することである。
本発明によれば、半導体材料の基体と、検査試料がそれ
に沿って移動しうる前記基体の主表面を連結する11回
路と、この1jllの壁に形成された化学感応ゲート領
域を具備した化学感応半導体装置が提供される。
に沿って移動しうる前記基体の主表面を連結する11回
路と、この1jllの壁に形成された化学感応ゲート領
域を具備した化学感応半導体装置が提供される。
本発明は、上述した種類の構成によって、比較的小さい
流れ容積を有する装置を製作しうる点で特に有益である
。本発明の装置は新生児血液試料の検査時のように比較
的少量の試料しか利用できない場合に有益である。
流れ容積を有する装置を製作しうる点で特に有益である
。本発明の装置は新生児血液試料の検査時のように比較
的少量の試料しか利用できない場合に有益である。
通路が例えば角錐台状で基部が四角形のピラミッド形の
ように先細にテーパしていれば有利でありうる。このよ
うな形状にすれば、検体と化学感応ゲート領域との間の
接触が改善されることになりかつ検査の終りに容易に洗
い流されうる。さらに、テーパした形状により、化学感
応層および/またはゲート電極の被着が容易となる。
ように先細にテーパしていれば有利でありうる。このよ
うな形状にすれば、検体と化学感応ゲート領域との間の
接触が改善されることになりかつ検査の終りに容易に洗
い流されうる。さらに、テーパした形状により、化学感
応層および/またはゲート電極の被着が容易となる。
以下図面を参照して本発明の実施例について説明しよう
。
。
まず第2図を参照すると、図示の装置は、p型結晶性シ
リコンの(100)ウェーハの形をしたW体11を具備
しており、通常のV−MO3技術で形成された通路12
がそのウェーハの主表面を連結している。
リコンの(100)ウェーハの形をしたW体11を具備
しており、通常のV−MO3技術で形成された通路12
がそのウェーハの主表面を連結している。
この実施例の装置は化学感応電界効果型トランジスタを
具備している。これがために、n1型半導体材料のソー
スおよびドレン領域14.15が前記通路の両端にそれ
のまわりに形成され、かつその通路の側部13には、ド
レンおよびソース領域間に、Gで示された化学感応ゲー
ト83域が形成されている。
具備している。これがために、n1型半導体材料のソー
スおよびドレン領域14.15が前記通路の両端にそれ
のまわりに形成され、かつその通路の側部13には、ド
レンおよびソース領域間に、Gで示された化学感応ゲー
ト83域が形成されている。
従来技術と同様に、二酸化ケイ素および必要に応じて窒
化ケイ素の絶縁層16がウェーハの主表面上に設けられ
、かつ前記通路の側部に、ゲート絶縁を形成する比較的
薄い石17が設けられている。さらに、漏洩電流を阻止
するために、ソース領域14のまわりには絶縁保護層(
図示せず)が埋設されうる。
化ケイ素の絶縁層16がウェーハの主表面上に設けられ
、かつ前記通路の側部に、ゲート絶縁を形成する比較的
薄い石17が設けられている。さらに、漏洩電流を阻止
するために、ソース領域14のまわりには絶縁保護層(
図示せず)が埋設されうる。
電柵18.20および22はそれぞれ酸化物層上の適当
な開口19.20を通してソース領域、バルク領域およ
びドレン領域に対する電気的接続を形成する。各電極は
適当なリード線を接続しうるボンドバンド(例えば24
.25)を有している。化学感応ゲーt4M域Gと露呈
された状態にあるポンドバンドを除いて、装置全体がポ
リミド材料の薄い保護膜(図示せず)で被覆されている
。
な開口19.20を通してソース領域、バルク領域およ
びドレン領域に対する電気的接続を形成する。各電極は
適当なリード線を接続しうるボンドバンド(例えば24
.25)を有している。化学感応ゲーt4M域Gと露呈
された状態にあるポンドバンドを除いて、装置全体がポ
リミド材料の薄い保護膜(図示せず)で被覆されている
。
この装置を使用する場合には、検査されるべき検体が前
記通路を通されて化学感応ゲート領域に親密に接触され
る。後でさらに詳細に説明するが、ゲート領域は所望の
用途に適合するように作成されうるちのであり、これが
ために、酸化物層17上に、通路の側部を被って、適当
な化学感応層および/またはゲート電極が被着されうる
。使用される材料の例については後述する。
記通路を通されて化学感応ゲート領域に親密に接触され
る。後でさらに詳細に説明するが、ゲート領域は所望の
用途に適合するように作成されうるちのであり、これが
ために、酸化物層17上に、通路の側部を被って、適当
な化学感応層および/またはゲート電極が被着されうる
。使用される材料の例については後述する。
この実施例では、通路12は、図示のように、テーパを
つけられておりかつ一般的に角錐台状で基部が四角形の
ピラミッド形状をなしている。この形状は、この通路を
通る検体が化学感応ゲート領域とより親密な接触をなし
かつ検査が終った時点でより容易に洗い流されうる点で
特に有益であることが認められた。さらに、このテーパ
した形状では、化学感応層および/またはゲート電極の
被着を容易になしうる。
つけられておりかつ一般的に角錐台状で基部が四角形の
ピラミッド形状をなしている。この形状は、この通路を
通る検体が化学感応ゲート領域とより親密な接触をなし
かつ検査が終った時点でより容易に洗い流されうる点で
特に有益であることが認められた。さらに、このテーパ
した形状では、化学感応層および/またはゲート電極の
被着を容易になしうる。
従来のV−MOSエツチング技術を用いて、エッチャン
トに触れる領域を制限することにより、通路の寸法が精
確に制御されうる0通常用いられるエッチャントは水酸
化カリウムであり、これは(100)面を選択的にエツ
チングし、(111)面はエツチングしない、この場合
、通路の側部は(111)面で形成され、角錐台状で基
部が四角形のピラミッド形状が得られる。
トに触れる領域を制限することにより、通路の寸法が精
確に制御されうる0通常用いられるエッチャントは水酸
化カリウムであり、これは(100)面を選択的にエツ
チングし、(111)面はエツチングしない、この場合
、通路の側部は(111)面で形成され、角錐台状で基
部が四角形のピラミッド形状が得られる。
典型的には、取り入れ側が1〜2平方1程度で、取り出
し側が0.4〜1.4平方■、深さが0.4鶴のjII
l路が形成されるが、他の寸法も可能である。取り入れ
側が1.2平方鶴、取り出し側が0.6平方1111、
深さが0.375+nの通路の場合には、流れ容積は約
0.32μρとなる。この容積は、前述した公知の設計
を用いて得られた通常30μρの容積と比較して非常に
小さいものであることがわかるであろう。実際に、従来
の設計による場合には通常500μρもの大きい試料容
積がa・要とされていたが、それに比較して、本発明の
装置によれば、2μp程度の非常に小さい試料容積を用
いて検査を成功させることができるのである。従って、
本発明は、例えば新生児血液試料を検査するに際し、は
んの少量の試料しか利用できない場合に特に有益である
ことがわかるであろう。
し側が0.4〜1.4平方■、深さが0.4鶴のjII
l路が形成されるが、他の寸法も可能である。取り入れ
側が1.2平方鶴、取り出し側が0.6平方1111、
深さが0.375+nの通路の場合には、流れ容積は約
0.32μρとなる。この容積は、前述した公知の設計
を用いて得られた通常30μρの容積と比較して非常に
小さいものであることがわかるであろう。実際に、従来
の設計による場合には通常500μρもの大きい試料容
積がa・要とされていたが、それに比較して、本発明の
装置によれば、2μp程度の非常に小さい試料容積を用
いて検査を成功させることができるのである。従って、
本発明は、例えば新生児血液試料を検査するに際し、は
んの少量の試料しか利用できない場合に特に有益である
ことがわかるであろう。
通路12は上述のように角錐台状で基部が四角形のピラ
ミッド形状を有することはかならずしも必要ではない。
ミッド形状を有することはかならずしも必要ではない。
フッ化水素酸と硝酸の混合物のような非選択性の適当な
エッチャントを用いて形成されるような円錐状の穴が形
成されてもよい。
エッチャントを用いて形成されるような円錐状の穴が形
成されてもよい。
前記基体はn゛型半導体材料よりなり、ドレンおよびソ
ース領域はp型材料よりなるものであってもよいことも
理解されるであろう。
ース領域はp型材料よりなるものであってもよいことも
理解されるであろう。
第3図は他の実施例を示しており、この実施例では、従
来のエピタキシャル層技術を用いてFETが形成される
。この場合には、n゛型基体がドレン領域15を形成し
、かつ主表面が(100)面となるように配向された結
晶性ケイ素よりなる。
来のエピタキシャル層技術を用いてFETが形成される
。この場合には、n゛型基体がドレン領域15を形成し
、かつ主表面が(100)面となるように配向された結
晶性ケイ素よりなる。
この場合にも、4つの(111)配向された面13を有
する角錐台形のピラミッド状通路12を形成するために
1つの領域がエツチングされる。バルク領域11はn゛
型基体の一側上に沈積されたエピタキシャル層技術より
なる。ソース領域は通路12のまわりにおけるエピタキ
シャルp型層上に形成されたn′領域14よりなる。ソ
ース領域14のまわりにおける薄い埋設絶縁層、酸化物
/窒化物層16および17、導体18.20および22
、接触領域19.21および23、およびボンドバッド
24および25は第2図の実施例に関して前述したもの
と同様のものである。
する角錐台形のピラミッド状通路12を形成するために
1つの領域がエツチングされる。バルク領域11はn゛
型基体の一側上に沈積されたエピタキシャル層技術より
なる。ソース領域は通路12のまわりにおけるエピタキ
シャルp型層上に形成されたn′領域14よりなる。ソ
ース領域14のまわりにおける薄い埋設絶縁層、酸化物
/窒化物層16および17、導体18.20および22
、接触領域19.21および23、およびボンドバッド
24および25は第2図の実施例に関して前述したもの
と同様のものである。
第4図は本発明による他の実施例を示している。
この構造は、電界効果型トランジスタに代えてゲート制
御ダイオードを具備している点以外は第2図の構造と同
様である。この実施例では、コネクタ20はこの装置の
陽極となり、コネクタ18は陰極となり、第2図におい
て22で示されたコネクタと15で示されたドレン領域
は省略されている。イオン感応ゲート・コンドロールド
・ダイオードの動作の詳細については、チェノ(Che
n)およびゼメル(Z emal)による「イオン濃度
測定のためのゲート・コンドロールド・ダイオード」と
いう論文(I EE E Transactions
onE Iectron Devices+ Vo
l E D −26、No、12゜1979年12月
第1945〜1951ページ)に記載されている。
御ダイオードを具備している点以外は第2図の構造と同
様である。この実施例では、コネクタ20はこの装置の
陽極となり、コネクタ18は陰極となり、第2図におい
て22で示されたコネクタと15で示されたドレン領域
は省略されている。イオン感応ゲート・コンドロールド
・ダイオードの動作の詳細については、チェノ(Che
n)およびゼメル(Z emal)による「イオン濃度
測定のためのゲート・コンドロールド・ダイオード」と
いう論文(I EE E Transactions
onE Iectron Devices+ Vo
l E D −26、No、12゜1979年12月
第1945〜1951ページ)に記載されている。
英国特許出願第2096824A号に記載されているよ
うに、化学感応FETのゲートを延長することにより化
学感応領域をそのFETから離れたところに配置するこ
とができ、その結果、被覆が簡単になるとともに、長期
的な電気的安定性が改善される。延長ゲート型FETを
具備した本発明の実施例が第5図に示されている。第2
図と比較して、このFETは通路12から離れたところ
に配置され、ソースおよびドレン領域14および15は
p型基体11の同じ側で互いに近接している。ソースお
よびドレン導体は第5図では18および22で示されて
いる。領域14および15間には、比較的薄いケイ素酸
化物/窒化物1126が設けられており、これはゲート
絶縁体となり、その上にゲート電極27が形成されてい
る。通路12の側部13には導体層2日が形成されてい
る。ゲート導体27と導体N28は、FETから遠隔の
延長されたゲートを形成するための被着された導体スト
リップ29によって接続されている。この実施例では、
化学感応層30は導体層28を完全に被うように被着さ
れている。
うに、化学感応FETのゲートを延長することにより化
学感応領域をそのFETから離れたところに配置するこ
とができ、その結果、被覆が簡単になるとともに、長期
的な電気的安定性が改善される。延長ゲート型FETを
具備した本発明の実施例が第5図に示されている。第2
図と比較して、このFETは通路12から離れたところ
に配置され、ソースおよびドレン領域14および15は
p型基体11の同じ側で互いに近接している。ソースお
よびドレン導体は第5図では18および22で示されて
いる。領域14および15間には、比較的薄いケイ素酸
化物/窒化物1126が設けられており、これはゲート
絶縁体となり、その上にゲート電極27が形成されてい
る。通路12の側部13には導体層2日が形成されてい
る。ゲート導体27と導体N28は、FETから遠隔の
延長されたゲートを形成するための被着された導体スト
リップ29によって接続されている。この実施例では、
化学感応層30は導体層28を完全に被うように被着さ
れている。
ある種の場合には、化学感応装置の感度に対する温度と
光の影響を補償することが望ましい。このような補償を
与えるための好都合な方法は、一方の装置は化学的に感
応しかつ検体流体に露呈されるようになされ、他方の装
置はそれと同じ幾何学的形状を有するが検査中の検体に
は感応しないものであるこれら一対の互いに整合した装
置を用いることである。
光の影響を補償することが望ましい。このような補償を
与えるための好都合な方法は、一方の装置は化学的に感
応しかつ検体流体に露呈されるようになされ、他方の装
置はそれと同じ幾何学的形状を有するが検査中の検体に
は感応しないものであるこれら一対の互いに整合した装
置を用いることである。
本発明による1つの実施例が第6図(alに示されてお
り、この実施例では、Sで示されている1つの装置は検
体に感応しかつ第2図に関して述べたように構成され、
■で示されている他の装置は検体には不感応でありかつ
通路12の側部13上に被着された電極31を有してい
る。電極31に対する接続は被着された導体32を通じ
て行なわれる。第6図(1))は、上述した互いに整合
した装置に対する電気的接続と、装置8に対する基準電
極38を示している。通路12を通じて検体流体を供給
するための機構が第7図に示されている。化学感応ゲー
ト制御半導体装1.35の両側にチューブ33および3
4が装着され、これらのチューブによって形成された穴
内に通路12が配置されている。
り、この実施例では、Sで示されている1つの装置は検
体に感応しかつ第2図に関して述べたように構成され、
■で示されている他の装置は検体には不感応でありかつ
通路12の側部13上に被着された電極31を有してい
る。電極31に対する接続は被着された導体32を通じ
て行なわれる。第6図(1))は、上述した互いに整合
した装置に対する電気的接続と、装置8に対する基準電
極38を示している。通路12を通じて検体流体を供給
するための機構が第7図に示されている。化学感応ゲー
ト制御半導体装1.35の両側にチューブ33および3
4が装着され、これらのチューブによって形成された穴
内に通路12が配置されている。
矢印36で示されているように、検体流体は通路がより
小さくなる方向に流れるようになされている。これによ
って、通路の側部13に形成されたゲート絶縁体17上
に被着された化学感応層37との良好な接触が確保され
る。
小さくなる方向に流れるようになされている。これによ
って、通路の側部13に形成されたゲート絶縁体17上
に被着された化学感応層37との良好な接触が確保され
る。
多孔質プラグ39を有する基準電極38は出口チューブ
34に都合よく挿入されることができ、検体と接触され
る。
34に都合よく挿入されることができ、検体と接触され
る。
前記通路の壁の異なる領域に異なる化学感応層を形成し
かつ各異なる化学感応層に対して独立の半導体装置を設
けることによって、多重感知が実現されうるそれに代え
であるいはそれに加えて、テーパした穴を有する1つ以
上の装置に検体を流すようにしてもよい。
かつ各異なる化学感応層に対して独立の半導体装置を設
けることによって、多重感知が実現されうるそれに代え
であるいはそれに加えて、テーパした穴を有する1つ以
上の装置に検体を流すようにしてもよい。
通路12の側部に被着される化学感応層および/または
ゲート電極を適当に選択することによって、本発明によ
る広範な異なる化学感応装置を製造することができる。
ゲート電極を適当に選択することによって、本発明によ
る広範な異なる化学感応装置を製造することができる。
使用しうる異なる材料の例として、基準電極(例えば第
7図における・電極38)に対して用いられかつH゛イ
オン対して感応するSl:lN4、Al、Os、ZrO
2またはT a z Osのような無機酸化物または窒
化物が含まれる。
7図における・電極38)に対して用いられかつH゛イ
オン対して感応するSl:lN4、Al、Os、ZrO
2またはT a z Osのような無機酸化物または窒
化物が含まれる。
酸化物層17上にプラチナおよび/またはパラジウムを
金属化して形成されたゲート電極はH2または水素を含
有するガス(例えばN Hs、Ht s )に感応する
。
金属化して形成されたゲート電極はH2または水素を含
有するガス(例えばN Hs、Ht s )に感応する
。
基準電極に関連して用いられる層17上に被着されたガ
ラスは特定の陽イオン(例えばH3、Na”、K”)に
感応する。
ラスは特定の陽イオン(例えばH3、Na”、K”)に
感応する。
酸化物層17上にゲート電極として被着された多孔質パ
ラジウムはcoに感応する。
ラジウムはcoに感応する。
さらに、化学感応層はソルベント・キャスティングによ
って酸化物層上に形成されてもよい。化学感応層は可塑
化されたポリマ、シリコーンゴムまたは公知の同様の不
活性支持マトリクスに溶解またはQiされる。適当な可
塑化されたポリマはセバシン酸ジオクチルを添加したテ
トラヒドロパフランに溶解された塩化ビニル(PVC)
粉末よりなる。粘性溶液が化学感応層を形成するために
ゲート絶縁体17上に被着されるか、あるいは第8図に
示されているようにチューブ33.34の表面上の沈積
物38と一緒にゲート絶縁体17上に沈積物37を形成
するために出口チューブ33、通路12そして出口チュ
ーブ34を通過される。
って酸化物層上に形成されてもよい。化学感応層は可塑
化されたポリマ、シリコーンゴムまたは公知の同様の不
活性支持マトリクスに溶解またはQiされる。適当な可
塑化されたポリマはセバシン酸ジオクチルを添加したテ
トラヒドロパフランに溶解された塩化ビニル(PVC)
粉末よりなる。粘性溶液が化学感応層を形成するために
ゲート絶縁体17上に被着されるか、あるいは第8図に
示されているようにチューブ33.34の表面上の沈積
物38と一緒にゲート絶縁体17上に沈積物37を形成
するために出口チューブ33、通路12そして出口チュ
ーブ34を通過される。
沈積物が通路の表面に対してよりもチューブに対してよ
り良好に付着すれば特に有益である。
り良好に付着すれば特に有益である。
適当な化学感応材料の例としては、
例えばCa”イオンに感応するリン酸ジオクチルフェニ
ル中のリン酸ジアルキルカルシウムのような陰イオン交
換体; 例えばF−イオンに感応するLaF3のようなほんのわ
ずかしか溶解しない非多孔質の塩粒子;それぞれC12
/ B r / [イオンに感応するAgC1/AgB
r/Ag I ; 例えばベリシニンに感応するベリシリナーゼのような、
ゲルに固定化されかつH゛感応ゲート(例えば窒化ケイ
素)に被着された酵素基質;グルコースに感応するグル
コースデヒドロゲナーゼ がある。
ル中のリン酸ジアルキルカルシウムのような陰イオン交
換体; 例えばF−イオンに感応するLaF3のようなほんのわ
ずかしか溶解しない非多孔質の塩粒子;それぞれC12
/ B r / [イオンに感応するAgC1/AgB
r/Ag I ; 例えばベリシニンに感応するベリシリナーゼのような、
ゲルに固定化されかつH゛感応ゲート(例えば窒化ケイ
素)に被着された酵素基質;グルコースに感応するグル
コースデヒドロゲナーゼ がある。
化学感応層の他の例は親水性ゲルと一緒にゲート絶縁体
17を被着しそして次に多孔質金膜の形にゲート電極を
スパツクすることによって形成される。この構成によれ
ば、水蒸気が検知されうる。
17を被着しそして次に多孔質金膜の形にゲート電極を
スパツクすることによって形成される。この構成によれ
ば、水蒸気が検知されうる。
適当な親水性ゲルは重合された塩化ポリビニル・アルコ
ール(PVA)であり、これは前述した可塑化された疎
水性pvcと同じ方法で作成されうる。
ール(PVA)であり、これは前述した可塑化された疎
水性pvcと同じ方法で作成されうる。
本発明は比較的少量の流体試料を検査するのに適した化
学感応半導体装置を提供するものであることが理解され
るであろう。本発明の装置は、広範なガス、蒸気および
溶液中のイオンを検知しかつ/またはそれらの濃度を測
定するために製作されうろことが当業者には理解される
であろう。
学感応半導体装置を提供するものであることが理解され
るであろう。本発明の装置は、広範なガス、蒸気および
溶液中のイオンを検知しかつ/またはそれらの濃度を測
定するために製作されうろことが当業者には理解される
であろう。
第1図は従来の化学感応半導体装置の一例を示す概略図
、第2図+a+は本発明による化学感応電界効果型トラ
ンジスタの斜視図、第2(b)は第2図(a)に示され
た装置の線A−A上でみた断面図、第3図(alおよび
(blは本発明による化学感応電界効果型トランジスタ
の他の例を示す同様の斜視図および断面図、第4図fa
+は本発明による化学感応ゲート制御ダイオードの斜視
図、第4図(blは第4図(alに示された装置の線B
−B上でみた断面図、第5図は延長されたゲート電極を
設けられた本発明による化学感応電界効果型トランジス
タの断面図、第6図は二重FET装宣の断面図、第7図
は本発明による装置に形成された通路を通じて検体を供
給するための機構を示す図、第8図は延長された化学感
応層を示す図である。 図面において、11はウェーハ、12は通路、14はソ
ース領域、15はドレン領域、16は絶縁層、17は酸
化物層、工8はソース導体、22はドレン導体、26は
ゲート絶縁体、27はゲート電極、28は導体層、29
は導体ストリップ、30は化学感応層、31は電極、3
3.34はチュープ、35はゲート制御半導体装置、3
7は化学感応層、38は基準電極、39は多孔質プラグ
をそれぞれ示す。
、第2図+a+は本発明による化学感応電界効果型トラ
ンジスタの斜視図、第2(b)は第2図(a)に示され
た装置の線A−A上でみた断面図、第3図(alおよび
(blは本発明による化学感応電界効果型トランジスタ
の他の例を示す同様の斜視図および断面図、第4図fa
+は本発明による化学感応ゲート制御ダイオードの斜視
図、第4図(blは第4図(alに示された装置の線B
−B上でみた断面図、第5図は延長されたゲート電極を
設けられた本発明による化学感応電界効果型トランジス
タの断面図、第6図は二重FET装宣の断面図、第7図
は本発明による装置に形成された通路を通じて検体を供
給するための機構を示す図、第8図は延長された化学感
応層を示す図である。 図面において、11はウェーハ、12は通路、14はソ
ース領域、15はドレン領域、16は絶縁層、17は酸
化物層、工8はソース導体、22はドレン導体、26は
ゲート絶縁体、27はゲート電極、28は導体層、29
は導体ストリップ、30は化学感応層、31は電極、3
3.34はチュープ、35はゲート制御半導体装置、3
7は化学感応層、38は基準電極、39は多孔質プラグ
をそれぞれ示す。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、半導体材料の基体と、検査試料がそれに沿って通過
しうる前記基体の主表面を連結する通路と、この通路の
1つの壁上に形成された化学感応ゲート領域を具備する
化学感応半導体装置。 2、特許請求の範囲第1項記載の装置において、前記通
路がテーパしている前記装置。 3、特許請求の範囲第2項記載の装置において、前記通
路が角錐台状で基部が四角形のピラミッド形状をなして
いる前記装置。 4、特許請求の範囲第1〜3項記載の装置において、化
学感応電界効果型トランジスタとして構成された前記装
置。 5、特許請求の範囲第4項記載の装置において、前記ト
ランジスタのドレンおよびソース領域が前記通路の各端
部に設けられている前記装置。 6、特許請求の範囲第4項記載の装置において、前記ト
ランジスタのドレンおよびソース領域が1つの極性型式
を有し、かつ前記ドレンおよびソース領域のうちの1つ
が反対の極性型式を有するエピタキシャル層に形成され
ている前記装置。 7、特許請求の範囲第4項記載の装置において、前記ト
ランジスタのドレンおよびソース領域が化学感応ゲート
領域から離れており、かつそのゲート領域に延長された
ゲート導体によって接続されている前記装置。 8、特許請求の範囲第1項記載の装置において、第1の
化学感応ゲート領域を設けられた第1の通路を有する第
1の電界効果型トランジスタと、第2の化学感応ゲート
領域を設けられた第2の通路を有する第2の電界効果型
トランジスタよりなり、前記第1および第2の化学感応
ゲート領域のうちの1つだけが特定の検体に感応し、か
つ前記2つのゲート領域は両方とも、光および温度の影
響に対して実質的に同一の感度を有しており、前記第1
および第2の電界効果型トランジスタは、前記特定の検
体だけを表わす出力信号を発生しうるように互いに接続
されている前記装置。 9、特許請求の範囲第1〜3項記載の装置において、化
学感応ゲート制御ダイオードとして構成された前記装置
。 10、特許請求の範囲第1項記載の装置において、前記
通路におよびその通路から検体を移送するようになされ
たダクトを有している前記装置。 11、特許請求の範囲第4〜8項および第10項記載の
装置において、前記ダクトの1つの壁に取付けられた基
準電極を具備している前記装置。 12、特許請求の範囲第10または11項記載の装置に
おいて、前記化学感応ゲート領域が化学感応材料よりな
る層を具備しており、かつその材料は前記ダクトの内表
面上にも被着されている前記装置。
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
GB8522785 | 1985-09-14 | ||
GB858522785A GB8522785D0 (en) | 1985-09-14 | 1985-09-14 | Chemical-sensitive semiconductor device |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6266154A true JPS6266154A (ja) | 1987-03-25 |
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ID=10585189
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---|---|---|---|
JP61211830A Pending JPS6266154A (ja) | 1985-09-14 | 1986-09-10 | 化学感応半導体装置 |
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EP (1) | EP0215546A3 (ja) |
JP (1) | JPS6266154A (ja) |
GB (1) | GB8522785D0 (ja) |
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