JP2003521050A - 光干渉デバイスを用いる自動物体検証システム及び方法 - Google Patents

光干渉デバイスを用いる自動物体検証システム及び方法

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JP2003521050A JP2001554299A JP2001554299A JP2003521050A JP 2003521050 A JP2003521050 A JP 2003521050A JP 2001554299 A JP2001554299 A JP 2001554299A JP 2001554299 A JP2001554299 A JP 2001554299A JP 2003521050 A JP2003521050 A JP 2003521050A
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ジー コームス ポール
エム フリードリッヒ ドナルド
ディー カーデル ケン
アール フルスカ カーティス
ティー マーカンテス チャールズ
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フレックス プロダクツ インコーポレイテッド
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Abstract

(57)【要約】 光セキュリティフィーチャを有する物体を認証する自動検証システムであり、光学システムと、移送ステージ装置と、分析装置とを備える。光学システムは狭帯域光ビーム又は広帯域光ビームを発生し得る１以上の光源を含む。移送ステージ装置は、光源と協働して、光ビームが物体のセキュリティフィーチャの設置部分に衝突するように物体を位置させるように構成する。分析装置は物体から反射された又は透過した光ビームを受光し、光ビームの光学特性を変化する角度及び／又は波長において分析して物体の正当性を検証する。

Description

【発明の詳細な説明】
【０００１】 １．発明の技術分野 本発明は、概して物体の正当性を決定するシステム及び方法に関する。特には
、本発明は予め決められたスペクトル反射率特性を有するセキュリティフィーチ
ャを走査することによりアイテムの正当性を自動的に検証するシステム及び方法
に関する。
【０００２】 ２．関連技術 現代社会では、商品やサービスの売買に種々の慣習的な売買方法が使用されて
いる。しかし、偽造品や偽造通貨を製造してこのような売買方法を回避しようと
する種々の個人や主体が存在する。特に、通貨、銀行券、クレジットカード等の
ような物品の偽造は頻繁に起こる問題である。このような物品の生産は絶え間な
く増加しており、偽造は近年におけるカラー印刷やコピー技術のような技術の向
上とともにますます精巧になっている。これに照らせば、個人やビジネス主体は
交換する商品及び／又は受け取る通貨の正当性を検証する改善された方法を望ん
でいる。したがって、偽造商品や物品の検出によって偽造を防止する方法は精度
を向上させる必要がある。
【０００３】 通貨や他のセキュリティアイテムを走査してそれらの正当性を検証する方法は
ホップウッド他のUSP5,915,518及びUSP5,915,518に開示されている。これらのホ
ップウッド特許に開示されている方法は、紫外（ＵＶ）電磁放射又は光源を用い
て偽造通貨や物品を検出する。一般に、被検物品をＵＶ光で照明し、反射された
ＵＶ光の量を２以上のフォトセルで測定する。物品からの反射されたＵＶ光の量
を基準物品から反射されるＵＶ光のレベルと比較する。反射レベルが一致する場
合、被検物品は正当であるとみなす。
【０００４】 ホップウッド特許の方法は、真性紙幣は一般に特定の未漂白紙から製造される
が、偽造紙幣は一般に漂白紙から製造されるという原理に基づいている。漂白紙
と未漂白紙との区別は、紙をＵＶ放射源の下で観察することにより行うことがで
きる。検出プロセスは、疑わしい紙幣を走査ステージに置き、光検出器及び関連
するデータ処理回路付きデータ分析装置を用いて被検紙幣から反射されるＵＶ光
の検出レベルを測定し、比較することにより自動化することができる。
【０００５】 あいにく、ＵＶ反射及び蛍光検出システムは不正確な比較や真性紙幣の誤検証
を生ずる等、多くの問題がある。例えば、疑わしい物品や商品が洗濯された場合
、この物品は蛍光を発光する薬品を捕捉することが可能になり、偽造品とみなさ
れ得る。その結果、誤検出されたアイテムは手動的に検証して真性物品の排除を
阻止しなければならない。
【０００６】 偽造物品を検出する他の慣例の方法は磁気インクで型押又は捺印された物品の
磁気検出、及び／又は物品上のイメージのイメージ検証を使用するものである。
あいにく、磁気インクは偽造者に入手可能であり、偽造物品に容易に塗布するこ
とができ、イメージ検証システムはカラーコピーやカラープリンタにより作成さ
れた偽造通貨にだまされてしまうので、これらの偽造防止策の有効性は低い。
【０００７】 他の検証方法は磁気検出特性を使用して所定の透明導電性化合物で捺印された
商品の電気抵抗を検出するものである。しかし、これらの方法はかなり複雑であ
り、特に商品の正当性を速く検証したい小売店や銀行が容易に入手し得ない、維
持し得ない、又は容易に動作し得ない専門装置を必要とする。
【０００８】 最近では、銀行券や通貨やクレジットカードのような種々の商品は、偽造防止
のために光学的に変化し得るインクや箔(膜)のような光干渉デバイスで捺印又は
型押されている。光学的に変化し得るインクや箔は観察角とともに変化するカラ
ーシフトを示す。これらの光干渉デバイスは偽造の抑止に有効であるが、真性光
干渉デバイスで捺印された商品を検証する精密且つ便利な測定装置が依然として
望まれている。
【０００９】 現在の技術の進歩に伴い、偽造物品を製造する偽造者の能力と戦う新技術が必
要になる。したがって、商品の正当性を検証するために政府、小売業者及び銀行
に広く入手し得る認証システムを提供する必要がある。
【００１０】 発明の概要 本発明は、概して、予め決められたスペクトル反射率又は透過率特性を有する
カラーシフトデバイスのような光干渉デバイスの形態の光干渉セキュリティフィ
ーチャ（安全保護特徴部）を走査することにより物品の正当性を自動的に検証す
るシステム及び方法を提供する。このシステム及び方法によれば光干渉デバイス
で捺印又は型押された通貨、銀行券、クレジットカード、その他の類似の商品の
ような種々の物品を認証することができる。
【００１１】 カラーシフトセキュリティフィーチャは観察角の関数として特性スペクトル反射
率とスペクトルシフトを示し、本発明の検証システムはこれらの特性を使用して
物品の正当性を決定することができる。本発明の検証システムは検証すべき物品
を移送ステージの上に置いて物品を走査のために直線的に移動させることにより
自動化することができる。
【００１２】 本発明の検証システムは、一般に光学系と、移送ステージ装置と,分析装置を含
む。光学系は狭帯域又は広帯域の光ビームを発生し得る１以上の光源を含む。移
送ステージ装置が光源と協働して、１以上の光ビームが検証すべき物体の、セキ
ュリティフィーチャ（安全保護特徴部）が位置する部分に衝突するように物体を
位置させる。分析装置は物体及びセキュリティフィーチャから反射又は透過した
光ビームを受光し、物体から反射又は透過した光ビームの光学的特性を変化する
角度及び／又は波長で分析して物体の正当性を検証する。
【００１３】 物体の正当性を検証する本発明の一つの方法では、少なくとも１つの光ビーム
を第１の入射角で認証すべき物品に向け入射する。物体は、光ビームが物体の光
干渉セキュリティフィーチャが位置する部分に入射するように位置させる。光ビ
ームは物体から、例えば反射又は透過により、１以上の光路に沿って進み、この
光ビームの１以上の光学的特性を分析して物体の正当性を検証する．光学的特性
は物体から異なる角度で反射又は透過した２つの光ビームのスペクトル差を基準
スペクトルシフトと比較することにより、或いは物品から反射又は透過した少な
くとも１つの光ビームのスペクトル形状を基準スペクトル形状と比較することに
より分析することができる。
【００１４】 本発明のこれらの特徴及び他の特徴は以下の記載及び特許請求の範囲の記載か
ら十分に明らかになり、また以下に記載する本発明の実施例から知ることができ
る。 本発明の上述した特徴及び目的及び他の特徴及び目的を達成する方法をもっと
十分に理解できるように、本発明を図面に示す特定の実施例を参照してもっと詳
しく説明する。しかし、これらの図面は本発明の代表的な実施例を示すのみであ
り、本発明の範囲を制限するものではない。図面を参照して本発明の追加の特定
性及び細部についても説明する。
【００１５】 本発明の実施例の詳細な説明 本発明は、予め決められた光スペクトル特性を有する光干渉セキュリティフィ
ーチャ（安全保護特徴部）を走査することにより物品の正当性を自動的に検証す
るシステム及び方法を提供する。本発明は、カラーシフト顔料、インク、箔、又
はこれに限定されないがプラスチックのようなバルク材料等のような光干渉セキ
ュリティフィーチャで捺印又は型押された銀行券、通貨、クレジットカード等の
ような種々の物体の正当性を検査するのに特に有用である。
【００１６】 セキュリティフィーチャとして使用される最近開発されたカラーシフト顔料、
インク、箔及びバルク材料は、商品、通貨、銀行券、クレジットカード等の偽造
を著しくて難しくしている。カラーシフト顔料、インク、箔及びバルク材料は製
造が極めて複雑な多層膜干渉コーティングから形成されている。したがって、こ
のようなカラーシフトセキュリティフィーチャの効果を偽造者が複製することは
極めて困難である。更に、銀行券及び通貨の場合には、特定のカラーシフト顔料
又はインクの配合は正当な製造業者及び特定の政府機関、例えば米国財務省等、
しか入手し得ない。これらのカラーシフト顔料及びインクは観察角とともに変化
する可視カラーシフトを示す。カラーシフトの量はコーティングの各層の形成に
使用する材料及び各層の厚さに依存する。更に、所定の波長において、カラーシ
フト顔料及びインクは観察角の増大とともに高くなる反射率特性を示す。セキュ
リティフィーチャに使用し得るこのようなカラーシフト顔料又はインクの特定の
組成の例がフィリップス他のUSP5,135,812に開示されており、その内容が参考の
ためにここに含まれているものとする。カラーシフト顔料又はインクからの光学
効果は特定タイプのコーティング構造ごとに再現可能であり且つ一意であるため
、真正セキュリティフィーチャのカラーシフト、反射率及び／又は透過率を測定
し、これを標準又は基準として用いて商品や物品に設けられた疑わしいセキュリ
ティフィーチャを試験することができる。
【００１７】 本明細書に記載するシステム及び方法は、セキュリティフィーチャに入射する
１以上の光ビームを用いて反射率又は透過率のような光学特性及び／又は角度に
伴うスペクトルシフト量を走査することにより正当性を簡単且つ便利に検証する
ことができる。光学特性及び／又はスペクトルシフトを蓄積基準データと比較し
てセキュリティフィーチャ、したがって物品の正当性を検証する。
【００１８】 図面において、対応する構造には対応する符号が付されている。図１は本発明
の一実施例に従う自動検証システム１０の概略図であり、本例システムは光干渉
セキュリティフィーチャを含む物品の正当性を検証するのに使用することができ
る。検証システム１０は物体１４上の光干渉セキュリティフィーチャ１６に対す
る反射率スペクトルのスペクトル形状を測定してその正当性を検証する。しかし
、検証システム１０は透過率スペクトルのスペクトル形状を単独で、或いは反射
率スペクトルと組み合わせて使用してセキュリティフィーチャ１６の正当性を検
証することもできる。
【００１９】 セキュリティフィーチャ１６はカラーシフトインク、顔料又は箔を含む光学的
に変化し得るインク、顔料又は箔；プラスチックのようなバルク材料；コレステ
リック液晶；ダイクロイックインク、顔料又は箔；干渉マイカインク又は顔料；
ゴニオクロマティックインク、顔料又は箔；回折表面、ホログラフィック表面又
はプリズム表面のような種々の光干渉デバイス、又は認証用に物体の表面に付与
することができる任意の他の光干渉デバイスの形をとることができる。回折表面
又はホログラフィック表面をカラーシフトインク又は箔と組み合わせた他の好適
な光干渉デバイスが２０００年１月２１日に出願されたロゲル ダブリュ． フ
ィリップス他の同時継続米国出願「光学的に変化し得るセキュリティ装置」に開
示されており、その内容が参考のためにここに含まれているものとする。追加の
好適な光干渉デバイスが１９９９年７月８日に出願された同時継続米国出願09/3
51,102号、「カラーシフト背景を有する解説表面」に開示されており、その内容
が参考のためにここに含まれているものとする。
【００２０】 セキュリティフィーチャ１６を付与する物体１４は、認証が望まれる種々の品
物、例えば機密保護文書、機密保護ラベル、銀行券、通貨、流通約束手形、株券
、銀行債や国債、小切手、クレジットカード、バンクカード、金融取引カード、
パスポート、ビザ、イミグレーションカード、ＩＤカード、バッジ、商品、製品
タグ、商品荷物、証明書、並びに種々の紙、プラスチック、ガラス製品などから
選択することができる。
【００２１】 図１に示す検証システム１０は認証すべき物体１４を移送する移送ステージ装
置１２と、物体１４を照明する光学システム（光学系）１８と、反射率スペクト
ルの特徴を分析する分析システム２０とを備える。したがって、検証システム１
０はセキュリティフィーチャ１６に対する反射率スペクトルのスペクトル形状を
分析することにより物体１４を認証する。一般に、システム１０は２つの異なる
反射角θ2a及びθ2bにおける反射率スペクトルを比較することによりセキュリテ
ィフィーチャ１６の正当性を検証する。
【００２２】 検証システム１０は広帯域光源２４ａ，２４ｂのような２以上の光源を有する
光学システム１８を含む。広帯域光源２４ａ，２４ｂは例えば約３５０ｎｍから
約１０００ｎｍの波長範囲の光を発生し、物体１４上に位置するセキュリティフ
ィーチャ１６をコリメートされた光で照明する。光源２４ａ，２４ｂに好適な装
置は、タングステンフィラメントランプ、石英ハロゲンランプ、ネオンフラッシ
ュランプ及び広帯域発光ダイオード（ＬＥＤ）を含む。システム１０は１つの光
源２４のみを含み、例えばミラーやビームスプリッタを備えた構成、或いは１つ
の共通光源から２つに分岐された光ファイバを備えた構成に変更することもでき
る。
【００２３】 光源２４ａ、２４ｂはそれぞれ第１ビーム２６ａ及び第２ビーム６ｂを発生し
、交点５２に、法線５０に対し異なる入射角θ1a及びθ1bで入射する。第１ビー
ム２６ａ及び第2ビーム２６ｂは交差しない異なる点に入射させることもできる
。この場合には、ビーム２６ａ，２６ｂを物体14が通過する移送ステージ装置の
長さ方向軸線上に位置する２つの別々の点に収束させる。この構成では、ビーム
２６ａ，２６bを順々にオン，オフさせる必要がなく、ビーム２６ａ，２６bを連
続的に動作させることができる。
【００２４】 光ビーム２６ａ，２６bは、ビーム２８ａ，２８bで示すように、セキュリティ
フィーチャ１６からそれぞれ角度θ2a及びθ2bを有する２つの異なる光路に沿っ
て分析システム２０に向かって進行する。図に示すように、ビーム２８ａ，２８
ｂはセキュリティフィーチャ１６から反射されるが、これらの光路は図１０に示
すように透過ビームを含むものとすることができる。反射角について議論するが
、同様の議論が透過角について言える。本発明の動作はθ1aがθ2aに等しく且つ
θ2aがθ2bに等しいときでも可能にすることができる。ビーム２６ａ及び２６ｂ
の入射角θ1a及びθ1bは検証方法に直接影響を及ぼすので、入射角θ1a及びθ1b
の特定の値が、分析システム２０に入射する光の反射角θ2a及びθ2bとともに、
本発明の重要な特徴である。したがって、システム１０は、入射角θ1aと反射角
θ2aが法線５０から約３０°〜８０°の範囲内、好ましくは約４０°〜約６０°
の範囲内になるように構成するとともに、入射角θ1bと反射角θ2bが法線５０か
ら約０°〜３０°の範囲内、好ましくは約５°〜約１５°の範囲内になるように
構成する。θ1aをθ2aに等しくしないとともにθ1bをθ2bに等しくないのが好ま
しい。言い換えると、反射ビーム２８ａ，２８ｂの測定を法線５０に対し入射光
の入射角度と異なる角度方向で行うべきである。こうすると、セキュリティフィ
ーチャ16の光沢表面から反射する光の光沢効果が緩和される。
【００２５】 図1の実施例の分析システム２０は分析装置４２に作動的に接続された第1光検
出器４０ａと第２光検出器４０ｂを含む。検出器４０ａ，４０ｂは分光光度計又
はスペクトログラフ（分光写真器）とするのが好ましい。検出器４０ａ，４０ｂ
を用いて分析中のセキュリティフィーチャに対し反射率の大きさを波長の関数と
して測定する。検出器４０ａ，４０ｂは物体１４上のセキュリティフィーチャ１
６からの反射率を２つの異なる角度で波長の範囲に亘って測定し、各波長におけ
る反射率データを合成して各反射角に対するスペクトル曲線を生成する。
【００２６】 検出器４０ａ，４０ｂは、例えばリニアダイオードアレイ又は電荷結合装置（
ＣＣＤ）アレイに装着されたリニア可変フィルタ（ＬＶＦ）を備えるものとする
ことができる。ＬＶＦは光のスペクトル成分を分離分析する分光計という光学装
置群の一例である。リニアダイオードアレイは空間的に変化する光分散ビームを
一般に画素として表示される電気信号に変換する光検出器群の一例である。分光
計と光検出器は共同で分光光度計やスペクトログラフというスペクトル分析装置
を構成する。したがって、所望の反射率データを得るために種々の分光計と光検
出器の組合せを使用することができる。例えば、これに限定されないが、一構成
例では、検出器４０ａ，４０ｂは格子型、プリズム型、フィルタ型又は干渉計型
分光計とし、そのスペクトル出力をリニアダイオードアレイのような測光アレイ
装置により走査又は測光するよう構成する。リニアダイオードアレイはイメージ
増倍管に接続することができるが、接続しないこともできる。他の構成例では、
検出器４０ａ，４０ｂは写真フィルムを使用し、これを現像して走査型マイクロ
デンシトメータに結合する。更に他の構成例では、検出器４０ａ，４０ｂは、光
スペクトルをフォトダイオードやフォトマルチプライヤのような単一の光検出器
の前に取り付けられたスリットを横切って走査させることにより伝統的な走査型
分光光度計のように動作するものとする。更に他の構成例では、検出器４０ａ，
４０ｂは分光計又はＬＶＦの出力表面を横切って光検出器を機械的に又は光学的
に走査させるものとする。更に他の構成では、検出器４０ａ，４０ｂは光検出器
を横切って干渉計の干渉パターンを走査させ、その出力を分析光のスペクトルに
電子変換するように動作するものとする。これらの組合せのすべては、光をスペ
クトルという電子的に表示されるグラフに変換する方法として従来既知であり、
当業者に分光光度計及びスペクトログラフと総称されている。検出器４０ａは、
好ましくは入射角θ1aに近い反射角θ2aで反射された光ビーム２８ａを受信する
ように構成し、検出器４０ｂは好ましくは入射角θ1bに近い反射角θ2bで反射さ
れた光ビーム２８ｂを受信するように構成する。したがって、各検出器４０ａ，
４０ｂはそれぞれの検出器により受光される光の反射角に対応する特定の角度方
向に配置する。図１に示すように、検出器４０ａは検出器４０ｂより大きい角度
方向に配置する。
【００２７】 データ分析装置４２は検出器４０ａ，４０ｂと通信する。データ分析装置４２
は検出器４０ａ，４０ｂから受信したデータを電気的に処理し、蓄積基準データ
と比較してセキュリティフィーチャの正当性を検証する。データはセキュリティ
フィーチャから２つの異なる角度で反射された光のスペクトルシフトを表す電気
信号を含んでいる。具体的には、各検出器４０ａ，４０ｂは波長範囲に亘り反射
率を測定して角度θ2a及び角度θ2bで反射された各光ビーム２８ａ，２８ｂに対
するスペクトル曲線をそれぞれ発生する。データ分析装置４２はマイクロプロセ
ッサ及び追加の回路を使用して各検出器４０ａ，４０ｂにより発生されたスペク
トル曲線を分析し、セキュリティフィーチャ16の正当性を検証する。例えば、ソ
フトウエアを利用して測定スペクトル曲線を分析システム２０のデータベースに
蓄積されている基準スペクトルと比較する。測定スペクトルの特徴が基準スペク
トルの特徴とほぼ一致する場合、その品物は本物とみなす。したがって、分析装
置４２は検査中の物体が本物であるか偽物の可能性が高いかを利用者に知らせる
ことができる。検出器４０ａ，４０ｂの場合と同様に、所望の機能を実行し得る
アプリケーションスペシフィック論理装置やマイクロプロセッサやコンピュータ
のような種々のタイプのデータ分析装置が当業者に既知である。
【００２８】 図１に示す実施例のセキュリティフィーチャ１６は、顔料、インク、箔又はプラ
スチックのようなバルクカプセル材料として物体１４に付与された高精度光干渉
デバイスからなる。セキュリティフィーチャ１６への入射光の角度が変化すると
、反射率対波長プロファイルのピーク波長と谷波長が変化する。これはセキュリ
ティフィーチャ１６により発生される低及び高反射率スペクトル特徴（すなわち
ピーク及び谷）間のコントラストを与え、これを検証システム１０で利用してセ
キュリティフィーチャの正当性を決定する。
【００２９】 光干渉デバイスの反射率及び透過率は観察角の増大に伴い短波長側にシフトす
ることが物理学から明らかである。物体14の正当性を検証するためにシステム１
０で使用する方法では、光源２４ａ，２４ｂからの入射光ビーム２６ａ，２６ｂ
の波長をセキュリティフィーチャ１６に対する既知の反射率対波長プロファイル
のピーク又は谷に近い波長に予め選択する。例えば、角度θ2aが角度θ2bより大
きいものと仮定すると、光源２４ａ，２４ｂからのビーム２６ａ，２６ｂの波長
が反射率対波長プロファイルのピーク（すなわち反射率最大）に対応する値に近
い場合には、角度θ2aにおける反射率と角度θ2bにおける反射率との比（すなわ
ち反射率比）は1より小さくなる。逆に、光源２４ａ，２４ｂからのビーム２６
ａ，２６ｂの波長が反射率対波長プロファイルの谷（すなわち反射率最小）に対
応する値に近い場合には、角度θ2aにおける反射率と角度θ2bにおける反射率と
の比（すなわち反射率比）は1より大きくなる。反射率対波長プロファイルの谷
に近い波長を選択するこの後者の場合は、殆どの材料は実際には入射角の増大に
伴い反射率が減少するが、セキュリティ捺印に使用されるカラーシフト顔料、イ
ンク、箔及びバルクカプセル材料は入射角の増大に伴い反射率が増大するユニー
クな特性を有するので、有利である。したがって、この後者の場合は検証を更に
確かなものとする利点をもたらす。
【００３０】 入射角の変化に伴う反射率の変化を測定可能にするためには、ビーム２６ｂの
通過を許可する間、ビーム２６ａを遮断し、その逆にビーム２６ａの通過を許可
する間、ビーム２６ｂを遮断するのが望ましいものとすることができる。したが
って、ここに記載する各実施例は、異なる角度方向からの連続ビーム２６ａ，２
６ｂか交互ビーム２６ａ，２６ｂを用いて動作し得るものとすることができる。
したがって、交互ビーム２６ａ，２６ｂを達成する一つの方法は光源２４ａ，２
４ｂへの電力を遮断するもの、或いは光チョッパや電子機械シャッタのようなバ
リヤ装置を使用するものである。ビーム２６ａ，２６ｂを遮断する装置の種々の
他の構成が当業者に既知である点に注意されたい。
【００３１】 低光沢表面に付与されるフィリップスの’812号特許出願に記載されているよ
うなカラーシフト顔料及びインクの場合には、入射角θ1a及びθ1bをそれぞれの
反射角θ2a及びθ2bにほぼ等しくするのが好ましい。反射角は使用する光干渉セ
キュリティフィーチャのタイプに応じて変化するので、反射角θ2a及びθ2bはそ
れぞれの入射角θ1a及びθ1bに等しくする必要はない点に注意されたい。
【００３２】 検証システム１０の動作中、セキュリティフィーチャ１6が付加された銀行券
のような物体１4を移送ステージ装置１２の上におく。光源２４ａ，２４ｂが移
送ステージ装置１２の表面上の交点５２に入射するように向けられた光ビーム２
６ａ，２６ｂを発生する。物体１４は交点５２を通って直線的に移動し、セキュ
リティフィーチャ１６が交点５２を直線的に通過する。物体１４は交点５２を通
過するため、検証システム１０はセキュリティフィーチャ１６の点ではなく線状
領域を走査する能力を有する。セキュリティフィーチャ１６から反射された光ビ
ーム２８ａ、２８ｂが検出器４０ａ，４０bに入射し、これらの検出器が２つの
異なる反射角θ2a及びθ2bにおける反射率を同時に測定し、各角度における反射
率スペクトルを発生する。このようなデータを分析する一つの技術は、スペクト
ルから一つの波長を選び、両角度θ2a及びθ2bで測定されたこの一つの波長にお
ける反射率を比較して該波長における反射率比を発生させる。反射角θ2a及びθ
2bにおける反射光ビームの反射率比を既知の認証用セキュリティフィーチャの基
準反射率比と比較して正当性を決定する。例えば、正しいセキュリティフィーチ
ャはθ2bよりθ2aで高い反射率を発生するよう構成され、予め決められた反射率
比を発生するが、偽物はθ2aでθ2bと同一もしくはそれより低い反射率を示し、
異なる反射率比を発生する。検証システム１０は反射モードではなく透過モード
で動作してセキュリティフィーチャ16の正当性を検証することもできる点に注意
されたい。
【００３３】 本発明の他の特徴では、検証システム１０は移送ステージ装置１２を備える。
移送ステージ装置１２は、光ビームが物体のセキュリティフィーチャが位置する
部分に入射するように物体を位置決めする手段を提供する。所望の移送及び位置
決め機能を達成する種々の構成を移送ステージ装置１２に使用することができる
。例えば、移送ステージ装置１２は認証処理中物体１４を所要の向きに担持及び
／又は保持するベルト又はコンベアを含み、物体１４を光学システム１８を通過
して線形に移動させるものとすることができる。このようなベルト又はコンベア
は高速又は低速構成にして複数の物体、商品又は品物の連続的な検証を提供する
ことができる。他の構成では、移送ステージ装置１２は検証システム１０内で物
体の静止位置決めを与えるものとする。移送及び位置決め手段として機能する他
の種々の構造も当業者に既知である。
【００３４】 セキュリティフィーチャの一点を測定する慣例の検証システムは本発明のシス
テムより著しく精度が低い。その理由は、品物上のセキュリティフィーチャ以外
の位置で測定が行われる可能性があるからである。これは、セキュリティフィー
チャを構成するインクやその他の材料が検査中の品物上の正確な座標位置に存在
することを保証することが殆ど不可能であるために起こる。これに対し，本発明
の検証システムはセキュリティフィーチャの位置を自動的に決定する能力を提供
し、増大した決定精度を提供することができる。
【００３５】 図２は、セキュリティフィーチャが捺印された銀行券のような品物のライン走
査により得られた直線位置の関数としての反射強度の代表的なプロットを示す。
このようなプロットは、更に、この銀行券がシステム１０の交点５２を通過する
とき検出器４０ａ，４０ｂ及びデータ分析装置４２により検出された反射データ
の成分を表す。図２に示すように、反射強度の変化（通常増大）は銀行券上のセ
キュリティフィーチャの位置で起こる。測定スペクトルの特徴が基準スペクトル
の特徴とほぼ一致する場合、この品物は本物とみなされる。
【００３６】 図１及び２に関する以上の説明は銀行券のような文書の認証に焦点を当ててい
るが、本発明のシステム、方法及び装置はセキュリティフィーチャの検証が必要
とされる他の種々の状況、例えばクレジットカード、パスポート、小切手、商品、
認識票、製品タグなどの検証に使用することができることは当業者に明らかであ
る。
【００３７】 図３は、本発明の他の実施例に基づく自動検証システム１１０を示す。本例検
証システム１１０はシステム１０について述べた特徴のいくつかを含んでおり、
認証すべき物体１４を搬送する移送ステージ装置１２を備えている。しかし、検
証システム１１０は光干渉セキュリティフィーチャ１６から反射された単波長帯
の電磁放射の角度シフト又はカラーシフトを分析することにより物体１４を認証
するように構成されている。
【００３８】 検証システム１１０は、概して、物体１４を搬送する移送ステージ装置１２と
、光学システム１１８と、分析システム１２０とを備える。光学システム１１８
は２つの光源、すなわち第１光源１２４ａ及び第２光源１２４ｂを備え、これら
の光源は単色コリメート光ビーム１２６ａ，１２６ｂをそれぞれ発生し得るヘリ
ウムネオンレーザ又はレーザダイオードである。光源１２４ａ，１２４bは、単
色光ビームを発生し得る限り、他の種々の形態のものとすることができる。例え
ば、光源１２４ａ，１２４ｂはモノクロメータとすることができ、また狭通過帯
域フィルタ付き広帯域光源とすることができる。
【００３９】 分析システム１２０はデータ分析装置１４２に作動的に結合された第１光検出
器１４０ａ及び第２光検出器１４０ｂを含んでいる。図１に示す実施例の検出器
４０ａ，４０ｂと異なり、検出器１４０ａ，１４０ｂはセキュリティフィーチャ
１６から反射される光を検出し得る半導体フォトダイオードの形にすることがで
きる。検出器１４０ａ，１４０ｂはセキュリティフィーチャ１６から反射された
光ビーム１２８ａ，１２８bの反射率特性を電気データに変換し、データ分析装
置１４２に伝送する。当業者であれば、これらに限定されないが、光電子増倍管
やＣＣＤアレイやパイロ電気検出器やフォトサーマル検出器のような種々の他の
検出器を用いて所望の機能、例えば分光光度計及びスペクトログラフを達成する
ことができる。
【００４０】 検証システム１１０の動作中、第１ビーム１２６ａが光源１２４ａにより発生
され、光源１２４ｂにより発生される第2ビーム１２６ｂの入射角θ1bと相違す
る入射角θ1aで物体１４に入射する。ビーム１２６ａは、ビーム１２８ａとして
示すように、反射角θ2aの第1光路に沿って検出器１４０ａに向って反射され、
ビーム１２６ｂは、ビーム１２８ｂとして示すように、反射角θ2bの第２光路に
沿って検出器１４０ｂに向って反射される。先に述べたように、本発明の各検証
システムは反射モード以外に透過モードで動作することもできる。したがって、
ビーム１２８ａ，１２８ｂの第１及び／又は第２光路は物体１４を貫通する透過
光路とすることができる。データ分析装置１４２は検出器１４０ａ，１４０ｂに
作動的に接続し、検出器１４０ａ，１４０ｂから受信されたスペクトルシフト特
性に関するデータを処理して物体１４上のセキュリティフィーチャの正当性を検
証する。
【００４１】 図４は上述した図３の実施例の代替実施例を示す。検証システム１１０に関し
て述べた特徴の大部分が本例自動検証システム１６０にも適用されている。検証
システム１６０はシステム１１０につき述べた特徴のいくつかを含み、認証すべ
き物体１４を搬送する移送ステージ装置１２を含んでいる。検証システム１６０
と検証システム１１０との顕著な差は光学システム１６８にある。図４に示すよ
うに，光学システム１６８は単色コリメート光ビーム１７６を発生し得るヘリウ
ムネオンレーザ又はレーザダイオードのような単一光源１７４を含む。光源１７
４は、単色光ビームを発生し得る限り，他の形態のものとすることができる。例
えば、光源１７４はモノクロメータ又は狭通過帯域光フィルタ付き広帯域光源と
することができる。
【００４２】 ビームスプリッタ１８２が光源１７４と光学的に関連し、光ビーム１７６を２
つのビーム、すなわち第１光ビーム１７６ａと第２光ビーム１７６bに分割する
。第１ビーム１７６ａは法線５０に対し第１の入射角θ1aで移送ステージ装置１
２に向かい、第２ビーム１７６bはミラー１８０へ反射され、このミラーが第2ビ
ーム１７６ｂを第２の入射角θ1bで移送ステージ装置１２に向かうよう反射する
。ビームスプリッタ１８２は光ビーム１７６を種々の態様、例えば、これらに限
定されないが、偏光成分、帯域幅、強度などについて分割することができる。し
たがって，ビームスプリッタ１８２は偏光ビームスプリッタ、キュービックビー
ムスプリッタ、部分レフレクタ等とすることができる。
【００４３】 更に、ビームスプリッタ１８２及びミラー１８０の複合機能は、２分岐ファイ
バ光学系により入射光ビーム１７６を分割し、１７６ａ及び１７６ｂのような１
以上の強度ビームの向きを変更することにより達成することもできる。
【００４４】 ビーム１７６ｂはミラー１８０から移送ステージ装置１２に向け反射される。
この所望の機能を達成するのに好適な種々のミラー１８０が当業者に既知である
。ミラー１８０は、ビーム１７６ｂがミラー１８０から移送ステージ装置１２に
向け、第１ビーム１７６ａの入射角θ1aと異なる第２の入射角θ1bで反射される
ように移送ステージ装置１２と光学的に関連して位置させる。それでも、ミラー
１８０から反射されたビーム１７６ｂは、図４に示す交点５２において、物体１
４上のセキュリティフィーチャ１６に、ビーム１７６ａとほぼ同一の点に入射す
る。ビーム１７６ａ，１７６ｂは交点５２で出会うように示されているが、ビー
ム１７６ａ，１７６ｂは出会う必要はなく、物体１４が移送ステージ装置１２に
沿って通過するのと同一の長さ方向通路上の異なる点で移送ステージ装置１２に
入射させることができる。
【００４５】 分析システム１７０は検証システム１１０において先に述べたものと同様の検
出器及びデータ分析装置を含み、セキュリティフィーチャ１６を認証する。した
がって，分析システム１７０はデータ分析装置１９２に作動的に接続された第１
光検出器１９０ａ及び第２光検出器１９０ｂを含む。検出器１９０ａ，１９０ｂ
はセキュリティフィーチャ６から反射された光ビーム１７８ａ，１７８ｂの反射
率特性を電気データに変換し、データ分析装置１９２に伝送する。
【００４６】 図５は自動検証システムの代替実施例２１０を示す。本例検証システム２１０
は検証システム１６０について述べた特徴の大部分を含み、認証すべき物体１４
を搬送する移送ステージ装置１２を含んでいる。検証システム１６０と検証シス
テム２１０との顕著な差は光学システム２１８と分析システム２２０の構成にあ
る。分析システム２２０は、物体１４から２以上の反射又は透過ビーム２２８ａ
，２２８ｂを受光して単一ビーム２２８に合成し、これを物体１４の正当性の検
証に使用するよう構成されている。したがって，分析システム２２０はミラー２
３０とビームスプリッタ２３２を含む。図に示されているように、ビーム２２８
ｂはセキュリティフィーチャ１６から角度θ2bでミラー２３０に向け反射される
。種々のタイプのミラー２３０が可能であり、当業者に既知である。ミラー２３
０から反射されたビーム２２８ｂはビームスプリッタ２３２に入射し、これがビ
ーム２２８ｂとθ2aで反射されたビーム２２８ａとを単一ビーム２２８に合成す
る。ビームスプリッタ２３２はビーム２２８ａ，２２８ｂを種々の態様、例えば
、これらに限定されないが、偏光成分、帯域幅、強度などについて合成すること
ができる。したがって、ビームスプリッタ２３２は偏光ビームスプリッタ、キュ
ービックビームスプリッタ、部分レフレクタ等とすることができる。更に、他の
構成例では、ビームスプリッタ２３２とミラー２３０の機能は反射ビーム２２８
ａ，２２８ｂを合成する２分岐ファイバ光学系により与えることができる。
【００４７】 検証システム１６０及び２１０の機能及び構成は、図６に示すように、単一の
検証システム２６０に合成することができる。検証システム２６０はミラー２８
０とビームスプリッタ２８２を用いてビーム２７６を２つのビーム２７６ａ，２
７６ｂに分割する光学システム２６８を含む。更に、検証システム２６０はミラ
ー２８４とビームスプリッタ２８６を用いて反射ビーム２７８ａ，２７８ｂを単
一ビーム７８に再合成し、検出器２９０及びデータ分析装置２９２に向ける分析
システム２７０を含む。
【００４８】 図７は自動検証システム１１０の他の代替実施例３１０を示す。検証システム
１１０について述べた特徴の大部分が本例検証システム３１０にも適用されてい
る。システム３１０は認証すべき物体を搬送する移送ステージ装置１２を含んで
いる。光学システム３１８は単波長又は少数の離散波長を有する光ビーム３２６
を発生する。分析システム３２０は物体１４上のセキュリティフィーチャ１６か
ら反射又は透過した光ビーム３２８の角度反射率又は透過率を検証する。このシ
ステムは、２以上の光源からの光を収集する変わりに、回転ミラーのような光走
査装置を用いて多数の入射角を達成する。
【００４９】 図７に示すように、検証システム３１０は光ビーム３２６の角度反射率を検証
するが、当業者であれば、検証システム３１０の構成を角度透過率を検証するよ
うに変更することができる。光学システム３１８は単色コリメート光ビーム３２
６を発生し得るヘリウムネオンレーザ又はレーザダイオードのような光源３２４
を含む。先に述べたように、光源３２４は上述した機能を達成する限り他の種々
の形態のものとすることができる。本例では、光源３２４は極めて良好にコリメ
ートされたビーム３２６を発生することが重要である。その理由は、分析システ
ム３２０はセキュリティフィーチャ１６の正当性を決定するために光スペクトル
ではなく角度反射率を使用するためである。高度にコリメートされたビーム３２
６を用いる別の有利な特性はビーム３２６が極めて明るくなり、高い強度を有す
ることにある。
【００５０】 回転ミラー３３０の形態の光走査装置と円柱レンズ３３２が光ビーム３２６と
光学的に関連する。回転可能ミラー３３０は全体的に多角形をなし、ミラー３３
０の回転により各ミラー表面から出るビーム３２６の角度方向が変化する。ミラ
ー３３０の回転はタイミング回路(図示せず)により制御され、これにより任意の
瞬時におけるビーム３２６の入射角及び反射角を完全に制御することができる。
回転可能ミラー３３０の代わりに、他の種々の光走査機構，例えば回転又は振動
平面ミラー、検流計式光スキャナ、電気光学ビーム偏向器、音響光学ビーム偏向
器、ディジタルミラーディスプレイ（ＤＭＤ）のようなマイクロメカニクスシス
テムスキャナ（ＭＥＭＳ）等を使用することができる。
【００５１】 ミラー３３０から反射された光は円柱レンズ３３２に入射する。レンズ３３２
は入力表面３３４と出力表面３３６を有するほぼ円柱の形を有する。回転可能ミ
ラー３３０から反射されたビーム３２６はレンズ３３２を透過して物体１４のセ
キュリティフィーチャ１６に、変化する入射角θ1a−θ1nで入射する。レンズ３
３２としては、所望の機能，すなわち入射光ビーム３２６をセキュリティフィー
チャ１６に伝送する機能を達成する限り、他の種々の構成のレンズが当業者に既
知である。
【００５２】 分析システム３２０は検出器３４０とデータ分析装置３４２を含む。検出器３
４０は単一のリニア検出器又はフォトダイオードアレイの形態を有する。複数の
検出器を使用することもでき、また当業者に既知のタイプの分光光度計又はスペ
クトログラフを使用することもできる。
【００５３】 検出器３４０は、ビーム３２６の変化する入射角θ1a−θ1nのために、セキュ
リティフィーチャ１６から変化する反射角θ2a−θ2nで反射されるビーム３２８
を受光する。検出器３４０は所定の反射角θ2a−θ2nで反射された光の強度を測
定し、所要のデータをデータ分析装置３４２に送る。データ分析装置３４２はタ
イミング回路（図示せず）に動作的に接続して、ミラー３３０の回転を制御して
、任意の瞬時における特定の入射角θ1a−θ1nを知ることができるようにする。
入射角θ1a−θ1nを反射角θ2a−θ2n及び検出強度と比較することにより、デー
タ分析装置３４２は反射率強度を入射角の関数として算定することができる。そ
の結果を用いて物体１４の正当性を検証する。
【００５４】 動作中、光源３２４はミラー３３０に向かうビーム３２６を発生する。ビーム
３２６は回転可能ミラー３３０から、変化する角度方向に反射され、例えばミラ
ーの反射表面の法線に対し±３０°の範囲で反射される。したがって、ミラー３
３０が回転するにつれて、ミラー３３０から反射されるビーム３２６はミラー表
面の法線に対し＋３０°から−３０°まで掃引する。この掃引光ビームは円柱レ
ンズ３３２の入力表面に入射する。円柱レンズ３３２は各掃引ビーム３２６を、
物体１４のセキュリティフィーチャ１６が通過する移送ステージ装置１２上の特
定の点に伝送する。ビーム３２６の角度方向は連続的に変化し、したがって入射
角θ1a−θ1n及びビーム３２８の反射角θ2a−θ2n及び関連する光路が連続的に
変化する。これらの反射角の変化θ2a−θ2nが検出され、セキュリティフィーチ
ャ１６の正当性の検証に使用される。もっと詳しく言うと、セキュリティフィー
チャ１６は光干渉デバイスであるため、反射光は偽物とは異なる光干渉デバイス
の特性に従って角度及び波長の双方について変化する。
【００５５】 本発明の上述した実施例の種々の他の構成が可能であり、当業者に既知である
。例えば、検証システム３１０の他の構成では異なる波長を有する種々の単色光
ビームを発生しうる複数の光源を含むものとする。この場合には、多角形ミラー
３３０の隣接する反射表面が異なる波長の光を反射して、反射率を数個の異なる
離散波長で同時に測定することが可能になる。他の構成では、入射角θ1a−θ1n
は法線５０に近接する、或いはその両側を包囲するようにする。この場合には、
反射光の検出を可能にするために入射平面を法線５0の方向から離す必要がある
。これを達成するために，分析システム３２０を法線５０に対しスキューさせ、
したがって円柱レンズ３３２と回転可能ミラー３３０の双方を法線５０を含む平
面に対し等しい傾度だけ反対方向にスキューさせる。
【００５６】 図８は本発明の他の実施例に基づく自動検証システム３６０を示す。本検証シ
ステム３６０はシステム１０について述べた特徴の幾つかを含み、認証すべき物
体１４を搬送する移送ステージ装置１２を含んでいる。しかし、本検証システム
３６０はセキュリティフィーチャ１６から単一反射角で反射された光の光スペク
トルのスペクトル形状を分析することにより物体１４を認証するよう構成されて
いる。
【００５７】 ここでは、反射率スペクトルの使用による検証と関連する種々の構造及び機能
について議論するが、透過率スペクトルについても同様の議論を適用し得る。
【００５８】 上述したように、セキュリティフィーチャ１６は一般に高精度光干渉デバイス
からなるため、高及び低反射率スペクトル特徴、すなわちピーク及び谷の間に大
きなコントラストが存在する。更に、ピークと谷の間隔、及びそれらの波長は予
測可能であり且つ反復可能であるから、各セキュリティフィーチャのスペクトル
形状又はプロフィルを光干渉デバイスの物理構造の「指紋」として作用させるこ
とができる。例えば、フィリップスの‘８１２号特許出願に記載されているよう
な、「金属1−誘電体−金属2−誘電体−金属1（Ｍ１ＤＭ２ＤＭ１）」デザイン
を有する５層多層膜干渉デバイスでは、ピーク（Ｈ）及び谷（Ｌ）は次の数式と
関連する波長を有する。 λＬ１ ≒ １/４波長光学的厚さ λＨ１ ≒ λＬ１/２ λＬ２ ≒ λＬ１/３ λＨ２ ≒ λＬ１/４ λＬ３ ≒ λＬ１/５ λＨ３ ≒ λＬ１/６ λＬ４ ≒ λＬ１/３ λＨ４ ≒ λＬ１/８ λＬ５ ≒ λＬ１/９
【００５９】 真正セキュリティフィーチャの１/４波長光学的厚さ(quarter wave optical t
hickness)及び上記の比を知ることにより、セキュリティフィーチャ（例えばデ
ザインＭ１ＤＭ２ＤＭ１）の最大反射率の波長λmax及び最小反射率の波長λmin
を計算することができる。更に、検査すべき品物の反射率（又は透過率）スペク
トルを測定することにより、λmax及びλminに対する測定値を決定することがで
きる。次いで、λmax及びλminの測定値を式から予測される値と比較することに
より、物体１４上に位置するセキュリティフィーチャ１６の正当性を決定するこ
とができる。
【００６０】 代替方法では、セキュリティフィーチャを走査してその反射率スペクトル及び
/又はその透過率スペクトルの形状を得ることができる。次に、測定したスペク
トルの特性形状を既知の真正セキュリティフィーチャの基準スペクトルと比較し
てセキュリティフィーチャの正当性を決定することができる。
【００６１】 図８につき再び説明すると、検証システム３６０は光学システム３６８を有し
、この光学システムは広帯域光源３７４を含み、この光源は例えば約３５０ｎｍ
〜約１０００ｎｍのような波長範囲の光を発生し、物体１４上に位置するセキュ
リティフィーチャ１６をコリメートされたビームで照明する。光源３７４に好適
な装置は種々の発光器，例えばタングステンフィラメント、石英ハロゲンランプ
、キセノンフラッシュランプ、及び広帯域発光ダイオード（ＬＥＤ）を含むが、
これらに限定されない。
【００６２】 第１ビーム３７６は光源３７４により発生され、物体１４に入射角θ1aで入射
する。光源３７4は、入射角θ1aが法線５０に対し約０°〜約８０°の範囲内、
好ましくは約５°〜約６０°の範囲内になるように構成する。
【００６３】 検証システム３６０は更に分析システム２０と同様の分析システム３７０を含
む。したがって、分析システム３７０は検出器３９０とデータ分析装置３９２を
含む。検出器３９０は小形分光光度計の形態にするのが好ましいが、検出器３９
０は当業者に既知のスペクトログラフとすることもできる。検出器３９０を用い
て分析中のセキュリティフィーチャについて反射率の大きさを波長の関数として
測定する。検出器３９０は、反射角θ2aで反射された光ビーム３７８を受光する
ように構成する。反射角θ2aは入射角θ1aにほぼ等しい大きさにするのが好まし
い。
【００６４】 検証システム３６０の動作中、検出器３９０は物体１４上のセキュリティフィ
ーチャ１６からの反射率を波長範囲に亘って測定し、各波長における反射率デー
タを合成してスペクトル曲線を発生させる。データ分析装置３９２は検出器３９
０により発生されたスペクトル曲線又は形状を分析してセキュリティフィーチャ
１６の正当性を検証する。品物のセキュリティフィーチャから測定されたスペク
トル曲線をデータベースに蓄積された基準スペクトルと比較するのにソフトウエ
アが使用される。測定スペクトルの特徴が基準スペクトルの特徴とほぼ一致する
場合、その品物は本物とみなす。
【００６５】 検証システム３６０の他の構成では、波長範囲に亘る反射率スペクトルを収集
するために高精度分光光度計又はスペクトログラフと光源を使用することができ
る。反射率スペクトルを分析し、その結果のλmax及びλminを計算する。λmax
及びλminの値を予測値と比較して物体１４及びセキュリティフィーチャ１６の
正当性を決定する。
【００６６】 図９は検証システムの他の代替実施例４１０を示す。図１について述べた特徴
の大部分が本例検証システム４１０にも適用されている。例えば、検証システム
４１０は２つの光源４２４ａ及び４２４ｂを含む光学システム４１８を含んでい
る。検証システム４１０のユニークな特徴は分析システム４２０の構成にある。
【００６７】 分析システム４２０は検出器４４０、データ分析装置４４２、及び集光器４４
６を含む。集光器４４６は中空ホーン状光パイプを形成するように配置された４
つの台形ミラー４４８を有する。集光器４４６の上端４５０は検出器４４０と結
合する。この特定の実施例では、検出器４４０は小形分光光度計又はスペクトロ
グラフの形態にするのが好ましい。集光器４４６の下端４５２は開口させて物体
１４上のセキュリティフィーチャ１６から反射された光を受光させる。この構成
では、セキュリティフィーチャ１６に入射するビーム４２６ａ及び４２６ｂは線
４２８ａ及び４２８ｂで示すようにコーン状に反射される。反射光のコーンは集
光器４４６に入射し、これにより集光されて検出器4４０に伝送される。
【００６８】 当業者であれば、集光器４４６としてその機能を達成し得る他の種々の構成を
認識することができる。例えば、他の構成では、集光器４４６を、セキュリティ
フィーチャ１６から反射された光の入射コーンを集光し伝送し得る光学材料の固
体ピースから構成する。
【００６９】 図９の実施例は、単一波長又は広帯域波長のいずれの入射照明の場合にも有効
に動作することができる。例えば、光源４２４ａ，４２４ｂが実際上単色性であ
る場合には、検出器４４０は簡単なフォトダイオード又はその種の他のものにす
ることができる。光源４２４ａ，４２４ｂが広帯域光源である場合には、検出器
４４０は分光光度計又はスペクトログラフにすべきである。
【００７０】 検証システム４１０は反射率データを用いて物体１４及びセキュリティフィー
チャ１６の正当性を検証するが、検証システム４１０を透過率システムを用いて
動作させることができることは当業者にように認識される。
【００７１】 図１０は検証システムの他の代替実施例４６０を示す。検証システム１０につ
いて述べた特徴の大部分が本例検証システム４６０にも適用されている。検証シ
ステム４６０は、移送ステージ装置１２の長さに沿って、もっと具体的に云うと
、そのトラック４６３に沿って、長さ方向に配置された複数の検証ステーション
４７２ａ−４７２ｎを含んでいる。各ステーション４７２ａ−４７２ｎは光源４
７４ａ−４７４ｎと分析システム４７０の検出器４９０ａ−４９０ｎとの組合せ
からなる。したがって、各検証システム４７２ａ−４７２ｎは光ビーム４７６ａ
−４７６ｎを発生し、反射された又は透過した光ビーム４７８ａ−４７８ｎを受
光し、反射又は透過光ビーム４７８ａ−４７８ｎを表すデータをデータ分析装置
に伝送する。
【００７２】 検証システム４６０の構成は、光源４７４ａ−４７４ｎと検出器４９０ａ−４
９０ｎの簡単な光学的整列を許容する。更に、各ステーション４７２ａ−４７２
ｎはきわめて簡単であるため、物体１４の正当性の検証に必要な数より多数のス
テーション４７２ａ−４７２ｎを付加することにより、信頼性とともに冗長性を
加えることができる。例えば、ステーション４７２ａ−４７２ｎのうちの数個が
機能停止した場合、検証システム４６０は故障ステーションを取り替える間も機
能させつづけることができる。これは、残りのステーションで正確の正当性の検
証が可能であるためである。冗長性を許容するのに加えて、検証システム４６０
の速度は、物体１４が検出器４９０ａ−４９０ｎの下を通過する速度とデータ処
理速度によって制限されるのみである。
【００７３】 図に示すように、各光源４７４ａ−４７４ｎはそれぞれ狭い波長範囲の電磁放
射を有する光ビーム４７６ａ−４７６ｎを発生する。各光ビーム４７６ａ−４７
６ｎは物体１４のセキュリティフィーチャ１６上に、他の光ビーム４７６ａ−４
７６ｎの角度方向に対し異なる角度方向又はほぼ同一の角度方向に入射させるこ
とができる。更に、各光ビーム４７６ａ−４７６ｎの波長は次の又は前の光ビー
ム４７６ａ−４７６ｎと異なる波長又は同一の波長にすることができる。例えば
、１つの光ビーム４７６ａは赤色領域の波長を有し、物体１４に高い角度で入射
させ、他の光ビーム４７６ｂは青色領域の波長を有し、物体１４に低い角度で入
射させることができる。
【００７４】 光源４７４ａ−４７４ｎの各々の一構成例は光ファイバの端に結合された発光
ダイオード（ＬＥＤ）である。光源４７４ａ−４７４ｎの種々の他の構成が使用
可能であり、当業者に既知である。
【００７５】 検証システム４６０は更にトラック４６３に沿って配置された複数の検出器４
９０ａ−４９０ｎを有する分析システム４７０を含む。各検出器４９０ａ−４９
０ｎは、物体１４の同一側に、或いは光源４７４ｎと検出器４９０ｎで示すよう
に物体１４の反対側に、関連する光源４７４ａ−４７４ｎに対向配置する。各検
出器４９０ａ−４９０ｎはセキュリティフィーチャ１６から反射された、或いは
セキュリティフィーチャ１６を透過した光ビーム４７８ａ−４７８ｎの一部分を
受光する。
【００７６】 分析システム４７０のデータ分析装置(図示せず)は、各ステーション４７２ａ
−４７２ｎからの、具体的には各検出器４９０ａ−４９０ｎからの、反射(又は
透過)光に基づく情報を合成して、セキュリティフィーチャ１６の特定のスペク
トル特性を識別する。図１１は検出器４９０ａ−４９０ｃにより測定された種々
の反射強度 (グラフ中にDETECTORＡ，Ｂ及びＣとして表記)を時間の関数として
示すグラフである。データ分析装置は測定スペクトル特性を真正セキュリティフ
ィーチャの蓄積データと比較してセキュリティフィーチャ１６及び物体１４の正
当性を検証する。したがって、データ分析装置は先に述べたデータ分析装置と同
一の構成とすることができる。
【００７７】 動作中に、物体１４、例えば紙幣が各ステーション４７２ａ−４７２ｎを通過
する。光ビーム４７６ａ−４７６ｎは、反射(又は透過)光が検出器４９０ａ−４
９０ｎに入射するように物体１４に種々の入射角、例えば２以上の異なる角度方
向で入射する。検出器４９０ａ−４９０ｎは各ステーション４７２ａ−４７２ｎ
における反射率(又は透過率)値を表すデータを収集する。したがって、種々の反
射率及び／又は透過率値がトラック４６３の長さに沿って測定される。例えば、
ステーション４７２ａは高い角度に配置された８５０ｎｍの光源４７４ａ及び検
出器４９０ａ有し、１つの反射率値を測定するものとし得る。次のステーション
４７２ｂは低い角度に配置された別の８５０ｎｍの光源及び検出器４９０ｂを有
し、異なる反射率値を測定するものとし得る。８５０ｎｍで測定されるセキュリ
ティフィーチャ１６の反射率が角度に伴い変化する場合、これらの２つのステー
ション４７２ａ，４７２ｂ間の反射率値の比較はこの８５０ｎｍにおける反射率
の差を示す。
【００７８】 これに加えて、或いはこれに代わり、他のステーション４７２ｃ−４７２ｎは
、他の波長、例えば５４０ｎｍ(緑色)の電磁放射を発生する光源と検出器の対を
有するものとすることができる。ステーション４７２ｃ−４７２ｎは、種々の異
なる波長の光を発生する光源４７４ｃ−４７４ｎを設置し、検出器４９０ｃ−４
９０ｎを種々の異なる角度で配列することができる。この構成では、多数のステ
ーション４７２ａ−４７２ｎから受信されるデータを、セキュリティフィーチャ
１６を一意に識別することができる十分な角度及び波長の組合せになるまで合算
することができる。
【００７９】 分析すべきセキュリティフィーチャ１６を構成する光干渉デバイスは異なる時
間に異なるステーションに位置するので、検証システム４６０の動作は時間依存
である。したがって、各ステーション４７２ａ−４７２ｎからの信号を再整列さ
せ、後で比較することができる。時間依存信号を再整列させるのに種々の方法を
使用することができる。これを達成する１つの方法は、物体の通過速度を各ステ
ーション４７２ａ−４７２ｎにより設定し、各ステーション４７２ａ−４７２ｎ
により発生された信号に時間遅延を挿入して、これらの信号をデータ分析装置に
同時に到達させて、これらの信号の直接比較を可能にするものである。
【００８０】 種々の構成の検出器を検証システム４６０に使用することができる。図１０に
示すように、個別の検出器をサンプルモーションラインに沿って構成配置する。
或いはまた、１以上のリニア検出器アレイを走行方向に沿って１以上の角度に装
着することができる。更に他の構成では、２次元検出器アレイを用いて反射率(
又は透過率)値を角度と下流位置の双方の関数として発生させることができる。
【００８１】 検証システム４６０について述べた構造及び方法は、光の種々の入射角及び種
々の波長を達成するために光源４７４ａ−４７４ｎをスイッチ「オン」及び「オフ」
させる必要を除去することができる利点を有する。
【００８２】 図１２は検証システムの他の実施例５１０を示す。検証システム１０について
述べた特徴の大部分がこの検証システム５１０にも適用されている。検証システ
ム５１０は光学システム５１８と分析システム５２０を有している。光学システ
ム５１８は２つの光ビーム５２６ａ，５２６ｂを発生する２つのコリメーテッド
広帯域光源５２４ａ，５２４ｂを含む。各光源５２４ａ，５２４ｂは光ファイバ
５４６ａ，５４６ｂを含み、その第１端５４８ａ，５４８ｂに光源５２４ａ，５
２４ｂが結合され、その第２端５５２ａ，５５２ｂにＧＲＩＮレンズのようなコ
リメータレンズ５５０ａ，５５０ｂが結合される。種々のタイプの光源５２４ａ
，５２４ｂ及びコリメータレンズ５５０ａ，５５０ｂが当業者に既知である。
【００８３】 光ビーム５２６ａ，５２６ｂに分析システム５２０を光学的に結合する。分析
システム５２０は拡散体５５４と、カメラ５５６のような画像記録装置を含む。
拡散体５５４は物体１４に近接配置し、セキュリティフィーチャ１６からの反射
光を拡散する。セキュリティフィーチャ１６からの反射光は反射角の範囲に亘っ
て広がり、種々の波長又は色の電磁放射がセキュリティフィーチャ１６を構成す
る光干渉デバイスの特性のために所定の方向に選択的に進む。したがって、光は
その表面から後方散乱するので、拡散体５５４は背面投写スクリーンとして作用
し、その表面上に種々の色を表示してカラースペクトルパターンを構成する。
【００８４】 更に、拡散体５５４は光をカメラに再び向ける。拡散体５５４はカメラ５５６
に伝送される光の量を後方散乱される光の量に対し平衡させるように選択する。
相対的に多量の光を散乱する拡散体５５４は吸収による光の損失を生ずるが、極
めて少量の光を散乱する拡散体５５４は観察可能な色をまっすぐ通してカメラレ
ンズ５５８に到達し得なくする。
【００８５】 拡散体５５４は、図１２の実施例に示すように、平面すりガラス拡散体とする
のが好ましい。しかし、種々の他のタイプの拡散体、例えば、これに限定されな
いが、ドーム形拡散体も適切である。このようなドーム形拡散体５５４’はシス
テム５１０と同様の構成素子を含む図１３に示す検証システムの代替構成例５１
０’に示されている。ドーム形拡散体５５４’はその表面に沿って均等な輝度を
提供する利点を有する。ドーム形拡散体は半球体、完全球体、球体の任意の部分
、楕円体の一部分などの形を有するものとすることができる。ここでは、「ドー
ム」とは３次元又は２次元の種々の湾曲又は曲面形状を意味する。
【００８６】 拡散体５５４に入射する後方散乱光をカメラ５５６で観察する。カメラ５５６
はカラーカメラとするが、種々の他の画像記録装置も適切である。例えば、分析
システム５２０内のカラーカメラは、赤外カメラ、又はＣＣＤのような検出器ア
レイ、リニアダイオードアレイ、又は２次元ダイオードアレイと置き換えること
ができる。
【００８７】 カメラ５５６を拡散体５５４の表面に焦点を合わせてその上に発生されている
波長又は色のパターンを撮像する。カメラ５５６により撮像された波長チャネル
を真正セキュリティフィーチャ１６の蓄積波長及び位置パターンを有するコンピ
ュータのようなデータ分析装置５４２に伝送する。データ分析装置５４２はカメ
ラ５５６により受信されたデータを認識アルゴリズムにより処理して、種々の波
長又は色が真正セキュリティフィーチャ１６と同一に反射されているか否かを決
定する。この決定には、波長又は色画像、画像パターン，及び各色又は波長の強
度のいずれか１つ又はそれらの組合せを使用することができる。更に、広帯域光
源５２４ａ，５２４ｂは拡散体５５４により発生されるカラーパターンとして白
色スポットを発生するため、データ分析装置５４２は検査物体１４により発生さ
れる白色スポットの位置及び数を真正物体及びセキュリティフィーチャにより発
生された白色スポットの位置及び数と比較することができる。
【００８８】 検証システム５１０の利点は、そのハードウエアを極めて容易に組み立てるこ
とができるとともに、データ分析装置５４２により観察画像を予測反射サンプル
と比較するによってトレランス誤差を容易に校正することができる点にある。
【００８９】 図１４は検証システムの他の代替実施例５６０を示す。検証システム１１０に
ついて述べた特徴の大部分が本例検証システム５６０にも適用されている。検証
システム５６０は光学システム５６８と分析システム５７０を含み、これらは部
分的に示されている。光学システム５６８は複数の光源５７４ａ−５７４ｎを含
み、これらの光源は２次元（２Ｄ）アレイ５７２に配列された広帯域光源(例え
ば白色光源)又は離散波長の電磁放射を発生する狭帯域光源(例えば発光ダイオー
ド)とすることができる。同様に、複数の検出器５９０ａ−５９０ｎ、例えば分
光光度計及び／又はスペクトログラフ、を同一のアレイ５７２上に、異なる位置
に、光源５７４ａ−５７４ｎに近接して配置する。光学システム５６８及び分析
システム５７０の両システムの他の部分は先に述べたシステムの構成と同様であ
り、ここでは後で説明する。
【００９０】 動作中、２Ｄアレイ５７２は物体と対面する位置に、アレイ５７２の中心がセ
キュリティフィーチャ１６とほぼ正対するように位置させる。しかし、アレイ５
７２は平面にするのが好ましいが、種々の他の構成、例えば、これに限定されな
いが、半球体、ドーム形などにすることができる。アレイ５７２は、１以上の光
源５７４ａ−５７４ｎを駆動するとともに１以上の検出器５９０ａ−５９０ｎか
らのデータを所定の時間に受信する制御システム(図示せず)に接続する。
【００９１】 検証システム５６０を動作させる種々の方法を以下に述べる。ここで述べる方
法は説明のためであり、本発明は他の動作モード、異なる波長の電磁放射又は検
証システム５６０の異なる構成に適用し得ることを排除するものではない点に注
意されたい。
【００９２】 一例では、光源５７４ａ−５７４ｎは白色光を発生し、検出器５９０ａ−５９
０ｎはこれらの検出器に到達する光の赤、緑及び青色強度に比例するＲＧＢ(赤
、緑、青)信号出力をデータ分析装置５９２に供給する。例えば、アレイ５７２
のほぼ中心に位置する光源５７４ａ−５７４ｎの１つがターンオンすると、検出
器５９０ａ−５９０ｎがＲＧＢ信号をアレイ５７２上の位置の関数(したがって
サンプルからの角度)の関数として記録する。次に各検出器５９０ａ−５９０ｎ
からの信号をデータ分析装置５９２によりサンプルの特性を示す反射率マップに
まとめる。例えば、フィリップスの特許出願‘８１２号に記載されているような
光学的に可変の顔料のような光干渉デバイスが設けられた物体１４は他のタイプ
の顔料から得られる反射率マップと異なる反射率マップを有する。マゼンダ−緑
に光学的に変化し得る顔料を用いて形成されたセキュリティフィーチャ１６の例
では、アレイ５７２の光源５７４ａ−５７４ｎの中心光源をターンオンさせて、
駆動光源５７４ａ−５７４ｎに隣接する検出器５９０ａ−５９０ｎでマゼンタの
近法線反射カラーを検出する。検出器信号から生成される反射率マップにおいて
、１つの光源５７４ａ−５７４ｎから外側に放射状に広がって位置する各検出器
５９０ａ−５９０ｎが、マゼンタから金色を経て最後に緑色に変化する色を検出
し、緑色は検出器５９０ａ−５９０ｎのうちアレイ５７２の周縁に位置する検出
器（表面法線から最も遠く離れた角度を有する）で検出する。この例では、デー
タ分析装置５９２は検出器５９０ａ−５９０ｎからのカラー値のみならず、各検
出器により測定される強度も提供する。
【００９３】 セキュリティフィーチャ１６が光干渉顔料の薄片を用いて作成され、これらの
薄片が物体１４の平面と本質的に整列しているこの例では、高い傾き角で位置す
る薄片は殆どないため、検出信号の強度は光源の位置から半径方向に減少する。
【００９４】 光源５７４ａ−５７４ｎの中で中心に位置する光源ではなく周縁に位置する光
源を駆動する場合にも、最も強い信号は入射角が反射角に最も近い位置で検出さ
れるが、この代替例では、これは光源に近い検出器に対応しない。使用する光源
が中心上部位置である場合、最大強度は中心底部位置で達成される。同一のマゼ
ンタ−緑光学的可変顔料サンプルの場合、約４５度の検出角を持つ中心底部検出
器が最大強度を有する緑色を検出し、光源に近い検出器は低い強度を有するマゼ
ンタ色を検出する。したがって、アレイ５７２内の異なる光源５７４ａ−５７４
ｎを電気的にスイッチングすることにより、検出器アレイによって検査中の特定
の光干渉デバイスを個別的にも集合的にも表す一連のマップを発生する強度信号
と色信号の双方を得ることができる。
【００９５】 光源５７４ａ−５７４ｎと検出器タイプの他の組合せをアレイ５７２に使用す
ることができる。例えば、白色光源を狭い範囲の波長（又は選択可能な波長）を
発生する発光ダイオード（ＬＥＤ）と置き換えることができる。これらのＬＥＤ
を広帯域検出器（例えばシリコンベース検出器）に並べて装着すると、波長、光
源位置及び検出器位置の関数としての強度データを与える一連のマップが得られ
る。異なるＬＥＤをスイッチ「オン」及び「オフ」することにより、セキュリティ
フィーチャ１６の光干渉デバイスを表す一連のマップを得ることができる。この
構成は、検出器及びＬＥＤ光源が安価である利点を有する。
【００９６】 図１５は検証システムの他の実施例６１０を示す。検証システム１０について
述べた特徴の大部分が本例検証システム６１０にも適用されている。検証システ
ム６１０は光学システム６１８と分析システム６２０を含む。検証システム６１
０によれば多数の光ビームを物体１４及びセキュリティフィーチャ１６上に、変
化する角度で入射させ、分析システム６２０により種々の個別の角度で反射光又
は透過光を受光して、物体１４のセキュリティフィーチャ１６の正当性を決定す
ることができる。
【００９７】 図１５に示すように、検証システム６１０はセキュリティフィーチャ１６によ
る反射特性を利用して物体１４の正当性を検証するよう構成されているが、当業
者であれば、透過率特性を単独で、或いは反射率特性と組み合わせて利用して物
体１４の正当性を検証する他の種々の構成を認識することができる。光学システ
ム６１８は複数の光伝送光ファイバ６２２ａ−６２２ｎにそれぞれ結合された複
数の光源６２４ａ−６２４ｎを有する。光ファイバ６２２ａ−６２２ｎに結合さ
れた各光源６２４ａ−６２４ｎはレーザ又はＬＥＤにより発生される単色ビーム
のような離散波長の電磁放射、或いは白色光源から発生される広帯域の電磁放射
を発生する。光ファイバ６２２ａ−６２２ｎの光源６２４ａ−６２４ｎからの遠
端は一緒に連結して光ファイバ束６３０を構成し、光源６２４ａ−６２４ｎを小
形で丈夫で耐久性に優れた構造にするとともに、設置と使用を容易にする。光フ
ァイバ６２２ａ−６２２ｎの遠端の配列は検証システム６１０の動作中に高錐角
での光結合の効果を制限するように注意深く行う必要がある。
【００９８】 光ファイバ６２２ａ−６２２ｎの遠端の１つ以上に、ＧＲＩＮレンズ又はマイ
クロボールレンズのような収束用又は狭縮用レンズ６３２ａ−６３２ｎを含めて
、光ファイバ６２２ａ−６２２ｎから射出する光の錐角を０．３の開口数に対応
する約３５°の代表的な錐角から０．１の開口数に対応する約１２°の錐角に減
少させることができる。したがって、各光ファイバ６２２ａ−６２２ｎの遠端か
ら射出する光はセキュリティフィーチャ１６に変化する角度方向で入射する。
【００９９】 セキュリティフィーチャ１６の表面から反射された、又はこれを透過した複数
のビーム６２８ａ−６２８ｎと１以上の検出器６４０ａ−６４０ｎが光学的に結
合する。各検出器６４０ａ−６４０ｎは分光光度計又はスペクトログラフ、或い
は所定の領域のスペクトルを通すフィルタを有する複数の検出器の形態にするこ
とができる。検出器６４０ａ−６４０ｎはセキュリティフィーチャ１６に近接し
て位置させて、光ファイバ束６３０の周縁部の光ファイバ６２２ａ−６２２ｎか
らの高角度での光結合の効果を制限することができる。検出器６４０ａ−６４０
ｎは、各光源６２４ａ−６２４ｎが時系列にターンオン及びオフされるとき、反
射光を収集する。このようにすると、検出器６４０ａ−６４０ｎは、各検出器６
４０ａ−６４０ｎに入射する反射光及び／又は透過光の強度を収集し、角度的に
変化する入射光錐が予め決められた時系列内で異なる波長又は色を有する。反射
率(又はと透過率)データをデータ分析装置６４２に送る。この分析装置はこのデ
ータを処理して光強度、波長(又は色)及び角度のパターンを決定する。このパタ
ーンを真正セキュリティフィーチャを表す蓄積パターンと比較して物体１４の正
当性を検証する。
【０１００】 図１５に示すように、検出器６４０ａ−６４０ｎは複数の受光光ファイバ６４
４ａ−６４４ｎに結合することができる。したがって、セキュリティフィーチャ
１６から反射された光又はこれを透過した光は多数の光路に沿って光ファイバ６
４４ａ−６４４ｎの遠端に向かって走行する。光は光ファイバ６４４ａ−６４４
ｎに沿って検出器６４０ａ−６４０ｎに伝達され、それぞれの検出器により測定
され、電気信号に変換されてデータ分析装置６４２に送られる。
【０１０１】 システム６１０と同様の構成素子を有する図１６に示す検証システム７１０の
代替実施例では、光ファイバ６２２ａ−６２２ｎは光源６２４ａ−６２４ｎに結
合され、光ファイバ６４４ａ−６４４ｎ検出器６４０ａ−６４０ｎに結合されて
いる。これらの光ファイバは、光ファイバ６２２ａ−６２２ｎの遠端と光ファイ
バ６４４ａ−６４４ｎの遠端を同一の光ファイバ束６３０内に一緒に束ねること
ができるように組み合わされている。そうすることにより、単一の光ファイバ束
６３０のみを物体１４及びセキュリティフィーチャ１６の近くに位置させ、検証
システム７１０の所要の空間を制限するとともに及びシステムの複雑さを低減す
ることができる。
【０１０２】 一般に、本発明は、種々の機能、例えば、(i) 第１の光ビームを第１の入射
角で、第２の光ビームを第２の入射角で認証すべき物体に指向させる手段と、（
ii）第１及び第２の光ビームが物体の光干渉セキュリティフィーチャの設置部分
に入射するように物体を位置させる手段と、（iii）物体から第１の光路に沿っ
て伝達される第１の光ビーム及び物体から第２の光路に沿って伝達される第２の
光ビームの１以上の光学的特性を分析して物体の正当性を検証する手段、を実行
する種々の構造に実現することができるが、これに限定されない。例えば、光ビ
ームを異なる入射角で指向させる機能を実行し得る種々の構造が本発明の上述し
た種々の実施例の光学システムに対し記載されている。光指向機能を実行する例
示構成は、図１、３、５及び９の実施例に示すように、物体に入射する１以上の
光ビームを発生する１以上の狭帯域又は広帯域光源を含む。光指向機能を実行す
る他の例示構成は図４及び図６に示され、この構成では１つの光源が単一の光ビ
ームを発生し、この光ビームをビームスプリッタ又はミラーで２つの光ビームに
分割している。光指向機能を実行し得る更に他の構成は図７に示され、この構成
では単一光ビームを回転ミラーに入射して光ビームを物体に向けて変化する入射
角で反射させている。光指向機能を実行する他の構成は図１２−１３及び図１５
−１６に示され、この構成では、多数の光源を光ファイバの端に結合させている
。光指向機能を実行し得る更に他の構成は図１０及び図１４に示され、図１０の
構成では複数の光源を一列に配置し、図１４の構成では複数の光源をアレイ内に
間隔を置いて配置している。
【０１０３】 光ビームが物体の光干渉セキュリティフィーチャの設置部分に入射するように
物体を位置させる物体位置決め機能を実行し得る種々の構成が本発明の上述した
実施例に対し記載されている。例えば、上述の実施例に対し記載した移送ステー
ジ装置は物体位置決め機能を実行する。上述したように、所望の移送及び位置決
め機能を実行する種々の構成、例えば物体を所要の向きに担持及び／又は保持し
て光学システムを直線的に通過するよう移動させるベルト又はコンベヤを使用す
ることができる。更に、本発明の検証システム内に物体を固定位置決めするステ
ージ装置を設けることもできる。
【０１０４】 物体からの光ビームを１以上の光学的特性を分析して物体の正当性を検証し得
る種々の構成がある。例えば、本発明の上述した実施例について記載した分析シ
ステムはこの分析機能を実行する。もっと詳しく言うと、これらの分析システム
は少なくとも１つの分光光度計又はスペクトログラフを含むもの、或いは多数の
検出器及び検出器アレイを含むものとすることができる。これらの分析システム
は、１以上の検出器と共同して種々の角度で反射又は透過した光ビームのスペク
トルシフト又はスペクトル曲線を分析するデータ分析装置も含む。この分析機能
を実行する他の種々の構成があり、当業者に既知である点に注意されたい。
【０１０５】 本発明の上述した実施例の各々は他の実施例の一部分を使用することができ、
ここで検討した一般的主要部を制限するものではない。例えば、これらの実施例
の各々、及び他の適用可能な適応例及び構成例は、セキュリティフィーチャ１６
及び物体１４からの反射光ではなく透過光を分析するものとすることができる。
更に、ここに記載する光源の各々は狭帯域光及び／又は広帯域光を空気又は他の
気体媒体を経て、光ファイバのような光導波路を経て、又は真空を経て伝送する
単一光源又は複数光源からなるものとすることができる。更に、各検証システム
は、ビームスプリッタ及びミラー、又は光ファイバを用いて光ビームを２以上の
別個のビームに分割し、反射されたこれらのビームを多数の検出器又は単一のア
レイ検出器により受光させる、或いは単一ビームに合成して単一検出器により受
光させることができる。最後に、各光源はセキュリティフィーチャ及び物体に入
射する連続光ビーム又は交代光ビームを発生するものとすることができる。
【０１０６】 更に、ここで検討した種々の実施例は既存の技術により携帯型装置として構成
及び小型化することができ、したがって移送ステージ装置を必要としないものと
することができる点に注意されたい。 本発明は、本発明の精神又は本質的な特徴から逸脱することなく、他の特定の
構成に具体化することができる。上述した実施例はすべての面で例示にすぎず、
本発明の範囲を限定するものではない。したがって、本発明の範囲は以上の記載
ではなく特許請求の範囲の記載により示される。特許請求の範囲の記載と同一及
び等価の範囲に入るすべての変更は本発明の範囲に含まれる。
【図面の簡単な説明】
【図１】 本発明の一実施例に基づく自動検証システムの概略図である。
【図２】 干渉セキュリティフィーチャが捺印された銀行券の位置の関数として
の反射強度を示すグラフである。
【図３】 本発明の代替実施例に基づく自動検証システムの概略図である。
【図４】 本発明の他の実施例に基づく自動検証システムの概略図である。
【図５】 本発明の他の実施例に基づく自動検証システムの概略図である。
【図６】 本発明の代替実施例に基づく自動検証システムの概略図である。
【図７】 本発明の他の実施例に基づく自動検証システムの概略図である。
【図８】 本発明の代替実施例に基づく自動検証システムの概略図である。
【図９】 本発明の他の実施例に基づく自動検証システムの概略図である。
【図１０】 本発明の代替実施例に基づく自動検証システムの概略図である。
【図１１】 図１０の実施例における種々のステーションの種々の反射率強度を
表すグラフである。
【図１２】 本発明の他の実施例に基づく自動検証システムの概略図である。
【図１３】 図１２の実施例の代替構成例の概略図である。
【図１４】 本発明の代替実施例に基づく自動検証システムの概略図である。
【図１５】 本発明の他の実施例に基づく自動検証システムの概略図である。
【図１６】 図１５の実施例の代替構成例の概略図である。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 ドナルド エム フリードリッヒ アメリカ合衆国 カリフォルニア州 95404 サンタ ローザ ガディス コー ト 1012 (72)発明者 ケン ディー カーデル アメリカ合衆国 カリフォルニア州 95472 セバストポル イー ハールバッ ト アヴェニュー 7474 (72)発明者 カーティス アール フルスカ アメリカ合衆国 カリフォルニア州 95401 サンタ ローザ アップル クリ ーク レイン 326 (72)発明者 チャールズ ティー マーカンテス アメリカ合衆国 カリフォルニア州 95401 サンタ ローザ ストーニー ポ イント ロード 155 ナンバー 21 Ｆターム(参考） 2G020 AA04 BA20 CD03 CD12 CD24 2G051 AA34 AA90 AB11 AB20 BA01 BA06 BA08 BA10 BA20 BB17 BC01 CA03 CA04 CA07 CB01 CB02 CC17 DA01 DA06 DA07 EA14 EA17 EB01 EB02 3E041 AA01 AA02 BB03 DB01 EA02 5B072 BB00 CC12 CC21 DD02 DD03 LL01 LL12 LL18 MM09

Claims (91)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】 物体の正当性を検証するシステムであって、 (ａ) 第１の光ビームを第１の入射角で、第２の光ビームを第２の入射角で認
    証すべき物体に指向させる手段と、 （ｂ）第１及び第２の光ビームが前記物体の光干渉セキュリティフィーチャの設
    置部分に入射するように前記物体を位置させる位置決め手段と、 （ｃ）前記物体から第１の光路に沿って伝達される第１の光ビーム及び物体から
    第２の光路に沿って伝達される第２の光ビームの１以上の光学的特性を分析して
    物体の正当性を検証する分析手段、 を備えることを特徴とする物体検証システム。
  2. 【請求項２】 第１の光ビーム及び第２の光ビームは１以上の単色光源から発生
    されることを特徴とする請求項１記載のシステム。
  3. 【請求項３】 前記１以上の光源はレーザ装置であることを特徴とする請求項２
    記載のシステム。
  4. 【請求項４】 第１の光ビーム及び第２の光ビームは１以上の広帯域光源から発
    生されることを特徴とする請求項１記載のシステム。
  5. 【請求項５】 前記位置決め手段は、複数の物体を第１の光ビーム及び第２の光
    ビームを通過するように移動させることができる移送ステージ装置を備えること
    を特徴とする請求項１記載のシステム。
  6. 【請求項６】 前記分析手段はデータ分析装置に動作的に接続された少なくとも
    １つの光検出器を備え、該光検出器は前記物体から第１の光路に沿って伝達され
    る第１の光ビーム及び第２の光路に沿って伝達される第２の光ビームを受光する
    ように構成されていることを特徴とする請求項１記載のシステム。
  7. 【請求項７】 第１及び第２の光ビームの一方又は双方が前記物体により反射さ
    れることを特徴とする請求項６記載のシステム。
  8. 【請求項８】 第１及び第２の光ビームの一方又は双方が前記物体を透過するこ
    とを特徴とする請求項６記載のシステム。
  9. 【請求項９】 前記データ分析装置及び前記光検出器は、第１の光路及び第２の
    光路に沿って伝達される第１の光ビーム及び第２の光ビームのスペクトル形状を
    用いて前記物体の正当性を検証するように構成されていることを特徴とする請求
    項６記載のシステム。
  10. 【請求項１０】 前記データ分析装置及び前記光検出器は、第１の光路及び第２
    の光路に沿って伝達される第１の光ビーム及び第２の光ビームのスペクトルシフ
    トを用いて前記物体の正当性を検証するように構成されていることを特徴とする
    請求項６記載のシステム。
  11. 【請求項１１】 前記データ分析装置及び前記光検出器は、第１の光路及び第２
    の光路に沿って伝達される第１の光ビーム及び第２の光ビームの分散パターンを
    用いて前記物体の正当性を検証するように構成されていることを特徴とする請求
    項６記載のシステム。
  12. 【請求項１２】 少なくとも１つの光検出器が分光光度計であることを特徴とす
    る請求項６記載のシステム。
  13. 【請求項１３】 少なくとも１つの光検出器がスペクトログラフであることを特
    徴とする請求項６記載のシステム。
  14. 【請求項１４】 物体の正当性を検証するシステムであって、 （ａ）光ビームを発生し得る光源と、 （ｂ）光源と光学的に結合され、前記光ビームを第１の光ビーム及び第２の光ビ
    ームに分割し、第２の光ビームはビームスプリッタから反射するが第１の光ビー
    ムは物体に向け第１の入射角で透過するよう構成されたビームスプリッタと、 （ｃ）前記第２光ビームを、物体に向けて、前記第１の入射角と異なる第２の入
    射角で反射するよう構成されたミラーと、 （ｄ）前記物体から第１の光路に沿って伝達される第１の光ビームを受光するよ
    う構成された第１の光検出器と、 （ｅ）前記物体から第２の光路に沿って伝達される第２の光ビームを受光するよ
    う構成された第２の光検出器と、 （ｆ）前記第１及び第２の光検出器に動作的に接続され、第１及び第２の光検出
    器からの１以上の信号を分析して物体から第１及び第２の光路に沿って伝達され
    る第１及び第２の光ビームのスペクトルシフトを決定し、物体の正当性を検証す
    るデータ分析装置と、 を備えることを特徴とする物体検証システム。
  15. 【請求項１５】 前記光源は単色光ビームを発生し得ることを特徴とする請求項
    １４記載のシステム。
  16. 【請求項１６】 前記光源は広帯域光ビームを発生し得ることを特徴とする請求
    項１４記載のシステム。
  17. 【請求項１７】 前記光源はレーザ装置であることを特徴とする請求項１４記載
    のシステム。
  18. 【請求項１８】 第１及び第２の光ビームが、前記物体の光干渉セキュリティフ
    ィーチャの設置部分に入射するように前記物体を位置させるように構成された移
    送ステージ装置を更に備えることを特徴とする請求項１４記載のシステム。
  19. 【請求項１９】 前記移送ステージ装置は複数の物体を第１及び第２の光ビーム
    を通過するように移送し得ることを特徴とする請求項１８記載のシステム。
  20. 【請求項２０】 前記第１及び第２の光検出器は分光光度計、スペクトログラフ
    及びそれらの組合せからなる群から選ばれることを特徴とする請求項１４記載の
    システム。
  21. 【請求項２１】 前記ビームスプリッタは偏光ビームスプリッタ、キュウビック
    ビームスプリッタ、部分レフレクタ及びそれらの組合せからなる群から選ばれる
    ことを特徴とする請求項１４記載のシステム。
  22. 【請求項２２】 物体の正当性を検証するシステムであって、 （ａ）第１の光ビームを第１の入射角で物体に指向するよう構成された第１の光
    源、及び第２の光ビームを第１の入射角と異なる第２の入射角で物体に指向する
    よう構成された第２の光源と、 （ｂ）前記物体から第１の光路に沿って伝達される第１の光ビームを受光するよ
    うに構成された第１の光検出器と、 （ｃ）前記物体から第２の光路に沿って伝達される第２の光ビームを受光するよ
    うに構成された第２の光検出器と、 （ｄ）前記第１及び第２の光検出器に動作的に接続され、第１及び第２の光検出
    器からの１以上の信号を分析して物体から第１及び第２の光路に沿って伝達され
    る第１及び第２の光ビームのスペクトルシフトを決定し、物体の正当性を検証す
    るデータ分析装置と、 を備えることを特徴とする物体検証システム。
  23. 【請求項２３】 第１及び第２の光源の少なくとも一方が単色光ビームを発生し
    得ることを特徴とする請求項２２記載のシステム。
  24. 【請求項２４】 第１及び第２の光源の少なくとも一方がレーザ装置であること
    を特徴とする請求項２２記載のシステム。
  25. 【請求項２５】 第１及び第２の光源の少なくとも一方が広帯域光ビームを発生
    し得ることを特徴とする請求項２２記載のシステム。
  26. 【請求項２６】 第１及び第２の光ビームが、前記物体の光干渉セキュリティフ
    ィーチャの設置部分に入射するように前記物体を位置させるように構成された移
    送ステージ装置を更に備えることを特徴とする請求項２２記載のシステム。
  27. 【請求項２７】 前記移送ステージ装置は複数の物体を第１及び第２の光源を通
    過するように移送し得ることを特徴とする請求項２６記載のシステム。
  28. 【請求項２８】 前記第１及び第２の光検出器は分光光度計、スペクトログラフ
    及びそれらの組合せからなる群から選ばれることを特徴とする請求項２２記載の
    システム。
  29. 【請求項２９】 物体の正当性を検証するシステムであって、 （ａ）入射光ビームを認証すべき物体に指向するよう構成された光源と、 （ｂ）前記物体から第１の光路に沿って伝達される光ビームを受光するように構
    成された光検出器と、 （ｃ）前記光検出器に動作的に接続され、該光検出器により発生されたスペクト
    ル形状を分析して物体の正当性を検証するデータ分析装置と、 を備えることを特徴とする物体検証システム。
  30. 【請求項３０】 前記光源は広帯域光ビームを発生することを特徴とする請求項
    ２９記載のシステム。
  31. 【請求項３１】 入射光ビームが前記物体の光干渉セキュリティフィーチャの設
    置部分に入射するように前記物体を位置させるように構成された移送ステージ装
    置を更に備えることを特徴とする請求項２９記載のシステム。
  32. 【請求項３２】 前記移送ステージ装置は複数の物体を前記光源を通過するよう
    に移送し得ることを特徴とする請求項３１記載のシステム。
  33. 【請求項３３】 前記光検出器は分光光度計、スペクトログラフ及びそれらの組
    合せからなる群から選ばれることを特徴とする請求項２９記載のシステム。
  34. 【請求項３４】 前記光検出器はリニアダイオードアレイに装着されたリニア可
    変フィルタを備えることを特徴とする請求項２９記載のシステム。
  35. 【請求項３５】 物体の正当性を検証するシステムであって、 (ａ) 少なくとも１つの光ビームを第１の入射角で認証すべき物体に指向する
    よう構成された少なくとも１つの光源と、 （ｂ）前記少なくとも１つの光ビームが前記物体の光干渉セキュリティフィーチ
    ャの設置部分に入射するように前記物体を位置させるよう構成された移送ステー
    ジ装置と、 （ｃ）前記物体からの拡散光の電磁スペクトルを分析して物体の正当性を検証す
    る分析装置、 を備えることを特徴とする物体検証システム。
  36. 【請求項３６】 追加の光ビームを第２の入射角で認証すべき物体に指向するよ
    う構成された追加の光源を更に備えることを特徴とする請求項３５記載のシステ
    ム。
  37. 【請求項３７】 前記分析装置は、拡散体と、該拡散体と光学的に通信する少な
    くとも１つの画像記録装置とを備えることを特徴とする請求項３５記載のシステ
    ム。
  38. 【請求項３８】 前記分析装置は、前記画像記録装置に作動的に結合されて前記
    拡散体に入射した光の後方散乱パターンを分析するように構成されたデータ分析
    装置を更に含むことを特徴とする請求項３７記載のシステム。
  39. 【請求項３９】 前記拡散体は平面拡散体であることを特徴とする請求項３７記
    載のシステム。
  40. 【請求項４０】 前記拡散体はドーム形拡散体であることを特徴とする請求項３
    ７記載のシステム。
  41. 【請求項４１】 前記分析装置は、拡散体と、該拡散体と光学的に通信する少な
    くとも１つの検出器アレイとを備えることを特徴とする請求項３５記載のシステ
    ム。
  42. 【請求項４２】 前記分析装置は、物体からの拡散光のカラースペクトルを分析
    するように構成されていることを特徴とする請求項３５記載のシステム。
  43. 【請求項４３】 物体の正当性を検証するシステムであって、 (ａ) 少なくとも１つの光ビームを第１の入射角で認証すべき物体に指向する
    よう構成された少なくとも１つの光源と、 （ｂ）前記物体から第１の光路に沿って伝達される光ビームを集光するよう構成
    された集光器と、 （ｃ）前記集光器に光学的に接続され、前記物体から前記集光器内に伝達される
    光ビームの光学的特性を分析して物体の正当性を検証する分析装置、 を備えることを特徴とする物体検証システム。
  44. 【請求項４４】 追加の光ビームを第２の入射角で認証すべき物体に指向するよ
    う構成された追加の光源を更に備えることを特徴とする請求項４３記載のシステ
    ム。
  45. 【請求項４５】 前記光ビームが前記物体の光干渉セキュリティフィーチャを設
    置部分に入射するように前記物体を位置させるよう構成された移送ステージ装置
    を更に備えることを特徴とする請求項４３記載のシステム。
  46. 【請求項４６】 前記分析装置は光検出器とデータ分析装置を備えることを特徴
    とする請求項４３記載のシステム。
  47. 【請求項４７】 前記集光器は中空内部反射体であることを特徴とする請求項４
    ３記載のシステム。
  48. 【請求項４８】 前記集光器はテーパー構造であることを特徴とする請求項３７
    記載のシステム。
  49. 【請求項４９】 物体の正当性を検証するシステムであって、 (ａ) 光ビームを発生するよう構成された光源と、 （ｂ）前記光源と光学的に関連し、前記光ビームを物体に向け変化する入射角で
    送る光走査装置と、 （ｃ）前記物体から１以上の光路に沿って進む光ビームの光学的特性を分析して
    物体の正当性を検証する分析装置、 を備えることを特徴とする物体検証システム。
  50. 【請求項５０】 前記光源は単色光ビームを発生することを特徴とする請求項４
    ９記載のシステム。
  51. 【請求項５１】 前記光源はレーザ装置であることを特徴とする請求項４９記載
    のシステム。
  52. 【請求項５２】 前記光源は広帯域光ビームを発生することを特徴とする請求項
    ４９記載のシステム。
  53. 【請求項５３】 前記光走査装置と光学的に関連し、光ビームを物体上に収束す
    るよう構成されたレンズを更に備え、前記光走査装置は回転可能ミラーを備える
    ことを特徴とする請求項４９記載のシステム。
  54. 【請求項５４】 前記光ビームが前記物体の光干渉セキュリティフィーチャの設
    置部分に入射するように前記物体を位置させるよう構成された移送ステージ装置
    を更に備えることを特徴とする請求項４９記載のシステム。
  55. 【請求項５５】 前記分析装置は少なくとも１つの光検出器とデータ分析装置を
    備えることを特徴とする請求項４９記載のシステム。
  56. 【請求項５６】 前記光検出器はリニア検出器アレイであることを特徴とする請
    求項５５記載のシステム。
  57. 【請求項５７】 前記光走査装置及び前記データ分析装置に動作的に接続された
    タイミング回路を更に備えることを特徴とする請求項５５記載のシステム。
  58. 【請求項５８】 物体の正当性を検証するシステムであって、 （ａ）各々光ビームを物体に向け放射するよう構成された複数の光源と、 （ｂ）複数の光検出器を備え、前記物体から変化する反射角で反射された光ビー
    ムの光学的特性を分析して物体の正当性を検証する分析装置とを備え、 前記複数の光源と前記複数の光検出器がアレイ内に互いに隣接して配置されて
    いることを特徴とする物体検証システム。
  59. 【請求項５９】 前記光ビームが前記物体の光干渉セキュリティフィーチャの設
    置部分に入射するように前記物体を位置させるよう構成された移送ステージ装置
    を更に備えることを特徴とする請求項５８記載のシステム。
  60. 【請求項６０】 前記アレイはほぼ平面状アレイであることを特徴とする請求項
    ５８記載のシステム。
  61. 【請求項６１】 前記アレイはドーム状アレイであることを特徴とする請求項５
    ８記載のシステム。
  62. 【請求項６２】 前記複数の光源の各々は離散波長の電磁放射エネルギーを発生
    することを特徴とする請求項５８記載のシステム。
  63. 【請求項６３】 前記複数の光源の各々は広波長帯域の電磁エネルギーを発生す
    ることを特徴とする請求項５８記載のシステム。
  64. 【請求項６４】 前記複数の光源の１つ以上を同時に駆動又は滅勢し得ることを
    特徴とする請求項５８記載のシステム。
  65. 【請求項６５】 物体の正当性を検証するシステムであって、 （ａ）各々光ビームを発生する光源と少なくとも１つの対応する光検出器を含む
    複数の検証ステーションと、 （ｂ）１以上の光ビームが前記物体の光干渉セキュリティフィーチャの設置部分
    に入射するように前記物体を位置させるよう構成された移送ステージ装置と、 （ｃ）前記物体から伝達される１以上の光ビームの光学的特性を分析して物体の
    正当性を検証するよう構成された分析装置と、 を備えることを特徴とする物体検証システム。
  66. 【請求項６６】 各光源は、光ビームが物体に２以上の異なる角度方向で入射す
    るように構成されていることを特徴とする請求項６５記載のシステム。
  67. 【請求項６７】 各光源は、他の光ビームと異なる離散波長を有する光ビームを
    発生するように構成されていることを特徴とする請求項６５記載のシステム。
  68. 【請求項６８】 前記複数の検証ステーションのうちの２以上がほぼ同一の波長
    の光ビームを発生することを特徴とする請求項６５記載のシステム。
  69. 【請求項６９】 物体の正当性を検証するシステムであって、 (ａ) 第１の光ビームを第１の入射角で、第２の光ビームを第２の入射角で認
    証すべき物体に指向させる手段と、 （ｂ）物体から第１の光路に沿って伝達される第１の光ビームを反射させる第１
    のミラーと、 （ｃ）前記ミラーにより反射された第１の光ビームを物体から第２の光路に沿っ
    て伝達される第２の光ビームと合成する第１のビームスプリッタと、 （ｄ）合成された第１及び第２の光ビームの光学的特性を分析して物体の正当性
    を検証する分析装置と、 を備えることを特徴とする物体検証システム。
  70. 【請求項７０】 前記ビーム指向手段は第１の光ビームを発生する第１の光源と
    第２の光ビームを発生する第２の光源を含むことを特徴とする請求項６９記載の
    システム。
  71. 【請求項７１】 前記ビーム指向手段は１つの光源と協働して第１の光ビーム及
    び第２の光ビームを発生する第２のミラー及び第２のビームスプリッタを含むこ
    とを特徴とする請求項６９記載のシステム。
  72. 【請求項７２】 第１及び第２の光ビームが、前記物体の光干渉セキュリティフ
    ィーチャの設置部分に入射するように前記物体を位置させるよう構成された移送
    ステージ装置を更に備えることを特徴とする請求項６９記載のシステム。
  73. 【請求項７３】 物体の正当性を検証するシステムであって、 (ａ) (i) 各々第１の端及び第２の端を有する複数の光伝送用光ファイバであ って、それらの第１の端が一緒に結合されてファイバ束を構成する複数の光 ファイバと、 (ii) 前記光ファイバの第２の端に結合され、複数の光ビームを発生する ように構成された複数の光源と、 を備える光学システムと、 （ｂ）物体から１以上の光路に沿って伝達される光ビームの光学的特性を分析し
    て物体の正当性を検証するよう構成された分析装置と、 を備えることを特徴とする物体検証システム。
  74. 【請求項７４】 各光源は他の光ビームと異なる波長を有する光ビームを発生す
    るよう構成されていることを特徴とする請求項７３記載のシステム。
  75. 【請求項７５】 前記光ビームが前記物体の光干渉セキュリティフィーチャの設
    置部分に入射するように前記物体を位置させるよう構成された移送ステージ装置
    を更に備えることを特徴とする請求項７３記載のシステム。
  76. 【請求項７６】 前記分析装置は少なくとも１つの検出器と少なくとも１つのデ
    ータ分析装置を備えることを特徴とする請求項７３記載のシステム。
  77. 【請求項７７】 前記分析装置はそれぞれ対応する検出器に結合された１以上の
    受光用光ファイバを更に備えることを特徴とする請求項７６記載のシステム。
  78. 【請求項７８】 前記検出器に結合された受光用光ファイバは前記光源に結合さ
    れた光伝送用光ファイバと混ぜ合わされていることを特徴とする請求項７７記載
    のシステム。
  79. 【請求項７９】 物体の正当性を検証する方法であって、 (ａ) 第１の光ビームを第１の入射角で、第２の光ビームを第２の入射角で認
    証すべき物体に指向させ、 （ｂ）第１及び第２の光ビームが前記物体の光干渉セキュリティフィーチャの設
    置部分に入射するように前記物体を位置させ、 （ｃ）前記物体から第１の光路に沿って伝達される第１の光ビーム及び物体から
    第２の光路に沿って伝達される第２の光ビームの１以上の光学的特性を分析して
    物体の正当性を検証する、 ことを特徴とする物体検証方法。
  80. 【請求項８０】 第１及び第２の光ビームの少なくとも１つは単色光ビームであ
    ることを特徴とする請求項７９記載の方法。
  81. 【請求項８１】 第１及び第２の光ビームの少なくとも１つはレーザ装置により
    発生されることを特徴とする請求項７９記載の方法。
  82. 【請求項８２】 第１及び第２の光ビームの少なくとも１つは広帯域光ビームで
    あることを特徴とする請求項７９記載の方法。
  83. 【請求項８３】 複数の認証すべき物体を第１及び第２の光ビームを通過するよ
    うに移動させることを特徴とする請求項７９記載の方法。
  84. 【請求項８４】 前記光学特性の分析は、物体から異なる角度方向に進行する第
    １及び第２の光ビームの間の測定スペクトルシフトを基準ステーションシフトと
    比較するステップを含むことを特徴とする請求項７９記載の方法。
  85. 【請求項８５】 測定スペクトルシフトは単波長光で生起することを特徴とする
    請求項８４記載の方法。
  86. 【請求項８６】 測定スペクトルシフトは電磁放射の波長範囲に亘って検証する
    ことを特徴とする請求項８４記載の方法。
  87. 【請求項８７】 前記測定スペクトルシフトと基準ステーションシフトとの比較
    は、種々の角度方向における第１及び第２の光ビームの反射強度を測定し、これ
    を蓄積基準反射率比と１以上の波長において比較することにより行うことを特徴
    とする請求項８４記載の方法。
  88. 【請求項８８】 前記光学特性の分析は、物体から第１及び第２の光路に沿って
    伝達される第１及び第２の光ビームのスペクト形状を基準ステーション形状と比
    較するステップを含むことを特徴とする請求項７９記載の方法。
  89. 【請求項８９】 前記光学特性の分析は、物体から第１及び第２の光路に沿って
    伝達される第１及び第２の光ビームの分散パターンを分析するステップを含むこ
    とを特徴とする請求項７９記載の方法。
  90. 【請求項９０】 前記光学特性の分析は、物体から第１及び第２の光路に沿って
    反射された第１及び第２の光ビームの一方又は双方の反射率特性を分析して物体
    の正当性を検証するステップを含むことを特徴とする請求項７９記載の方法。
  91. 【請求項９１】 前記光学特性の分析は、物体を第１及び第２の光路に沿って透
    過した第１及び第２の光ビームの一方又は双方の透過率特性を分析して物体の正
    当性を検証するステップを含むことを特徴とする請求項７９記載の方法。
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Cited By (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006524849A (ja) * 2003-04-29 2006-11-02 シクパ・ホールディング・ソシエテ・アノニム 文書と物品の認証のための方法及び装置
JP2008164628A (ja) * 2004-07-28 2008-07-17 Byk Gardner Gmbh 光表面特性の測角検査装置
JP2008298579A (ja) * 2007-05-31 2008-12-11 Konica Minolta Sensing Inc 反射特性測定装置及び反射特性測定装置の校正方法
JP2009503976A (ja) * 2005-07-27 2009-01-29 インゲニア・テクノロジー・リミテッド 物品の表面からのコヒーレントな光放射の散乱から得られた信号から作成された物品のシグネチャの検証
JP2009521039A (ja) * 2005-12-23 2009-05-28 インジェニア・ホールディングス・（ユー・ケイ）・リミテッド 光学的認証
JP2009536358A (ja) * 2006-05-05 2009-10-08 エージーシー・フラット・グラス・ノース・アメリカ， インコーポレイテッド 角度に対する色度測定（ａｎｇｕｌａｒｃｏｌｏｒｉｍｅｔｒｙ）のための装置及びその方法
JP2012070396A (ja) * 2004-03-12 2012-04-05 Engineer Technology (Uk) Ltd 認証可能な印刷物品を作成し、その後に検証するための方法および装置
JP2013542408A (ja) * 2010-09-10 2013-11-21 インテグレイテッド エレクトロニクス マニュファクチュアリング コーポレーション 符号化アプリケーションのための信号及び検出システム
JP2014071044A (ja) * 2012-09-28 2014-04-21 Glory Ltd スペクトルセンサの光学系調整方法及び光学系調整装置並びに紙葉類識別装置
US8837025B2 (en) 2006-03-15 2014-09-16 Mitsubishi Electric Corporation Image reading device
US9001329B2 (en) 2011-04-28 2015-04-07 Konica Minolta, Inc. Multi-angle colorimeter
JP2016528501A (ja) * 2013-08-16 2016-09-15 ブンデスドルッケライ・ゲゼルシャフト・ミト・ベシュレンクテル・ハフツング セキュリティ文書のセキュリティ要素を確認するための方法及び装置
JP2017151654A (ja) * 2016-02-23 2017-08-31 グローリー株式会社 有価書類識別装置、有価書類処理機、画像センサユニット及び光学可変素子領域の検出方法

Families Citing this family (171)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6473165B1 (en) * 2000-01-21 2002-10-29 Flex Products, Inc. Automated verification systems and methods for use with optical interference devices
US7162035B1 (en) * 2000-05-24 2007-01-09 Tracer Detection Technology Corp. Authentication method and system
CN1265328C (zh) * 2000-08-31 2006-07-19 联邦印刷有限公司 合格纸件识别装置和方法
PT1315619E (pt) * 2000-08-31 2014-06-23 Bundesdruckerei Gmbh Um papel certificado e um aparelho para discriminar a autenticidade do mesmo
EP1324257A4 (en) * 2000-10-04 2006-05-03 Tokyo Gas Co Ltd NON-DESTRUCTIVE READING PROCEDURE FOR ISOTOPIAN LABELS
US7260544B1 (en) * 2000-10-12 2007-08-21 Gemological Institute Of America, Inc. System and methods for evaluating the appearance of a gemstone
GB0025096D0 (en) * 2000-10-13 2000-11-29 Bank Of England Detection of printing and coating media
JP2002288604A (ja) * 2001-03-27 2002-10-04 Topcon Corp カードの真贋判定装置
JP2002283775A (ja) * 2001-03-27 2002-10-03 Topcon Corp カードの真贋判定装置
EP1273928A1 (de) * 2001-07-06 2003-01-08 Leica Geosystems AG Verfahren und Vorrichtung zur Unterdrückung elektromagnetischer Hintergrundstrahlung in einem Bild
JP2003067805A (ja) * 2001-08-28 2003-03-07 Hitachi Ltd 紙葉の真偽鑑別装置
JP4198346B2 (ja) * 2001-09-28 2008-12-17 富士フイルム株式会社 濃度測定装置
US7143950B2 (en) * 2001-10-02 2006-12-05 Digimarc Corporation Ink with cohesive failure and identification document including same
US6836349B2 (en) * 2001-12-07 2004-12-28 Jds Uniphase Corporation Optical performance monitoring device
EP1321904B2 (en) † 2001-12-20 2020-04-08 Crane Payment Innovations, Inc. Apparatus for sensing optical characteristics of a banknote
AU2002364255A1 (en) 2001-12-24 2003-07-15 Digimarc Id Systems, Llc Covert variable information on id documents and methods of making same
US7793846B2 (en) 2001-12-24 2010-09-14 L-1 Secure Credentialing, Inc. Systems, compositions, and methods for full color laser engraving of ID documents
US7694887B2 (en) 2001-12-24 2010-04-13 L-1 Secure Credentialing, Inc. Optically variable personalized indicia for identification documents
US7815124B2 (en) 2002-04-09 2010-10-19 L-1 Secure Credentialing, Inc. Image processing techniques for printing identification cards and documents
AU2002364036A1 (en) 2001-12-24 2003-07-15 Digimarc Id Systems, Llc Laser etched security features for identification documents and methods of making same
WO2003067231A1 (en) * 2002-02-07 2003-08-14 The Regents Of The University Of California Optically encoded particles
JP4210466B2 (ja) * 2002-04-22 2009-01-21 日立オムロンターミナルソリューションズ株式会社 判別装置
US7824029B2 (en) 2002-05-10 2010-11-02 L-1 Secure Credentialing, Inc. Identification card printer-assembler for over the counter card issuing
DE10234431A1 (de) * 2002-07-29 2004-02-12 Giesecke & Devrient Gmbh Vorrichtung und Verfahren zur Bearbeitung von Wertdokumenten
US6970236B1 (en) * 2002-08-19 2005-11-29 Jds Uniphase Corporation Methods and systems for verification of interference devices
US8171567B1 (en) 2002-09-04 2012-05-01 Tracer Detection Technology Corp. Authentication method and system
DE10246563A1 (de) * 2002-10-05 2004-04-15 november Aktiengesellschaft Gesellschaft für Molekulare Medizin Vorrichtung und Verfahren zur Bestimmung der Farbe/n auf einer Oberfläche
US7256874B2 (en) * 2002-10-18 2007-08-14 Cummins-Allison Corp. Multi-wavelength currency authentication system and method
US7804982B2 (en) 2002-11-26 2010-09-28 L-1 Secure Credentialing, Inc. Systems and methods for managing and detecting fraud in image databases used with identification documents
EP1429297A1 (en) * 2002-12-13 2004-06-16 Mars, Inc. Apparatus for classifying banknotes
EP1429296A1 (en) * 2002-12-13 2004-06-16 Mars, Inc. Apparatus for classifying banknotes
US7063260B2 (en) * 2003-03-04 2006-06-20 Lightsmyth Technologies Inc Spectrally-encoded labeling and reading
JP4188111B2 (ja) * 2003-03-13 2008-11-26 日立オムロンターミナルソリューションズ株式会社 紙葉の真偽鑑別装置
US7225991B2 (en) 2003-04-16 2007-06-05 Digimarc Corporation Three dimensional data storage
EP1496479A1 (de) * 2003-07-08 2005-01-12 Identification Systems DERMALOG GmbH Lesegerät zur automatischen Prüfung der Echtheit von Dokumenten
US20050045055A1 (en) * 2003-08-28 2005-03-03 Daniel Gelbart Security printing method
WO2005048169A2 (en) * 2003-11-14 2005-05-26 Sick Auto Ident Inc. Scanning imaging system and method for imaging articles using same
US7672475B2 (en) * 2003-12-11 2010-03-02 Fraudhalt Limited Method and apparatus for verifying a hologram and a credit card
ITMI20032565A1 (it) * 2003-12-22 2005-06-23 Calzoni Srl Dispositivo ottico indicatore dell'angolo di planata per velivoli
WO2005086099A1 (en) * 2004-03-08 2005-09-15 Council Of Scientific & Industrial Research Improved fake currency detector using integrated transmission and reflective spectral response
US7744002B2 (en) 2004-03-11 2010-06-29 L-1 Secure Credentialing, Inc. Tamper evident adhesive and identification document including same
EP2131309A3 (en) * 2004-03-12 2011-02-09 Ingenia Technology Limited Authenticity signatures
JP4529503B2 (ja) * 2004-03-22 2010-08-25 富士ゼロックス株式会社 光学情報読取装置
DE102004014541B3 (de) * 2004-03-23 2005-05-04 Koenig & Bauer Ag Optisches System zur Erzeugung eines Beleuchtungsstreifens
WO2005098746A2 (en) * 2004-03-26 2005-10-20 Digimarc Corporation Identification document having intrusion resistance
DE102004020661A1 (de) * 2004-04-24 2005-11-17 Smiths Heimann Biometrics Gmbh Anordnung und Verfahren zum Prüfen von optischen Beugungsstrukturen auf Dokumenten
US20050256807A1 (en) * 2004-05-14 2005-11-17 Brewington James G Apparatus, system, and method for ultraviolet authentication of a scanned document
FR2872322B1 (fr) * 2004-06-23 2006-09-22 Arjowiggins Security Soc Par A Article tel qu'un support de donnees ou un dispositif de conditionnement, comportant une structure interferencielle multicouche semi-reflechissante
PL1765600T5 (pl) 2004-06-30 2016-03-31 Kxo Ag Przedmiot zabezpieczony przed sfałszowaniem oraz sposób jego wytwarzania i weryfikacji
DE102004035494A1 (de) * 2004-07-22 2006-02-09 Giesecke & Devrient Gmbh Vorrichtung und Verfahren zur Prüfung von Wertdokumenten
GB0417422D0 (en) 2004-08-05 2004-09-08 Suisse Electronique Microtech Security device
JP4834968B2 (ja) * 2004-08-11 2011-12-14 富士ゼロックス株式会社 真偽判定システム、真偽判定装置及びプログラム
GB2417592B (en) * 2004-08-13 2006-07-26 Ingenia Technology Ltd Authenticity verification of articles
GB0422266D0 (en) * 2004-10-07 2004-11-10 Suisse Electronique Microtech Security device
US7239385B2 (en) * 2004-11-30 2007-07-03 Hutchinson Technology Incorporated Method and apparatus for monitoring output signal instability in a light source
US7383999B2 (en) * 2004-12-28 2008-06-10 Digimarc Corporation ID document structure with pattern coating providing variable security features
US20060202469A1 (en) * 2005-03-10 2006-09-14 Neil Teitelbaum Financial instrument having indicia related to a security feature thereon
US7939465B2 (en) * 2005-03-30 2011-05-10 L-1 Secure Credentialing Image destruct feature used with image receiving layers in secure documents
US7833937B2 (en) 2005-03-30 2010-11-16 L-1 Secure Credentialing, Inc. Image destruct feature used with image receiving layers in secure documents
US20060244806A1 (en) * 2005-04-12 2006-11-02 Overbeck James L Systems and methods for measuring a like-color region of an object
US7265370B2 (en) * 2005-04-28 2007-09-04 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Sensing light
US20060294583A1 (en) * 2005-05-11 2006-12-28 Ingenia Holdings (U.K.) Limited Authenticity Verification
DE102005028906A1 (de) * 2005-06-22 2006-12-28 Giesecke & Devrient Gmbh Vorrichtung für die Prüfung von Banknoten
DE102005031957B4 (de) 2005-07-08 2007-03-22 Koenig & Bauer Ag Vorrichtung zur Inspektion eines Bedruckstoffes mit uneinheitlich reflektierenden Oberflächen
WO2007012815A1 (en) * 2005-07-27 2007-02-01 Ingenia Technology Limited Authenticity verification
JP5123181B2 (ja) * 2005-07-27 2013-01-16 インジェニア・テクノロジー・（ユーケイ）・リミテッド 真正性の検証
RU2008107340A (ru) * 2005-07-27 2009-09-10 Инджениа Текнолоджи Лимитед (Gb) Аутентификация рецепта с использованием спекл-структур
GB2429950B (en) * 2005-09-08 2007-08-22 Ingenia Holdings Copying
EP1990312A3 (en) * 2005-10-03 2009-09-02 Sun Chemical Corporation Security pigments and the process of making thereof
US20080087189A1 (en) * 2005-10-03 2008-04-17 Sun Chemical Corporation Security pigments and the process of making thereof
JP4835098B2 (ja) * 2005-10-13 2011-12-14 富士ゼロックス株式会社 画像読取装置及び画像形成装置
US7462840B2 (en) * 2005-11-16 2008-12-09 Ncr Corporation Secure tag reader
EP1790972A1 (fr) * 2005-11-24 2007-05-30 Schreder Appareil et méthode pour déterminer les propriétés de réflexion d'une surface
GB2434442A (en) * 2006-01-16 2007-07-25 Ingenia Holdings Verification of performance attributes of packaged integrated circuits
US8224018B2 (en) 2006-01-23 2012-07-17 Digimarc Corporation Sensing data from physical objects
JP5394071B2 (ja) 2006-01-23 2014-01-22 ディジマーク コーポレイション 物理的な物品で有用な方法
GB2440386A (en) * 2006-06-12 2008-01-30 Ingenia Technology Ltd Scanner authentication
US8081304B2 (en) * 2006-07-31 2011-12-20 Visualant, Inc. Method, apparatus, and article to facilitate evaluation of objects using electromagnetic energy
US8076630B2 (en) 2006-07-31 2011-12-13 Visualant, Inc. System and method of evaluating an object using electromagnetic energy
US7996173B2 (en) * 2006-07-31 2011-08-09 Visualant, Inc. Method, apparatus, and article to facilitate distributed evaluation of objects using electromagnetic energy
EP2330568B1 (en) 2006-08-22 2012-06-20 MEI, Inc. Optical detector arrangement for document acceptor
DE102006045626A1 (de) * 2006-09-27 2008-04-03 Giesecke & Devrient Gmbh Vorrichtung und Verfahren zur optischen Untersuchung von Wertdokumenten
JP5168660B2 (ja) * 2006-09-29 2013-03-21 株式会社ユニバーサルエンターテインメント 紙葉識別装置
US9262284B2 (en) * 2006-12-07 2016-02-16 Lenovo Enterprise Solutions (Singapore) Pte. Ltd. Single channel memory mirror
DE602007010411D1 (de) * 2007-01-05 2010-12-23 Nordson Benelux B V Optischer Sensor zum Detektieren eines Kodes auf einem Substrat
CA2682467C (en) * 2007-03-29 2016-12-06 Glory Ltd. Paper-sheet recognition apparatus, paper-sheet processing apparatus, and paper-sheet recognition method
DE102007019107A1 (de) * 2007-04-23 2008-10-30 Giesecke & Devrient Gmbh Verfahren und Vorrichtung zur Prüfung von Wertdokumenten
JP2010525343A (ja) 2007-04-24 2010-07-22 シクパ・ホールディング・ソシエテ・アノニム 書類またはアイテムにマーキングする方法、マーキングされた書類またはアイテムを識別する方法および装置、円偏光粒子の使用法
GB2450131B (en) * 2007-06-13 2009-05-06 Ingenia Holdings Fuzzy Keys
US9739917B2 (en) 2007-08-12 2017-08-22 Toyota Motor Engineering & Manufacturing North America, Inc. Red omnidirectional structural color made from metal and dielectric layers
US10690823B2 (en) 2007-08-12 2020-06-23 Toyota Motor Corporation Omnidirectional structural color made from metal and dielectric layers
US10048415B2 (en) 2007-08-12 2018-08-14 Toyota Motor Engineering & Manufacturing North America, Inc. Non-dichroic omnidirectional structural color
US8593728B2 (en) * 2009-02-19 2013-11-26 Toyota Motor Engineering & Manufacturing North America, Inc. Multilayer photonic structures
US9612369B2 (en) 2007-08-12 2017-04-04 Toyota Motor Engineering & Manufacturing North America, Inc. Red omnidirectional structural color made from metal and dielectric layers
US8329247B2 (en) 2009-02-19 2012-12-11 Toyota Motor Engineering & Manufacturing North America, Inc. Methods for producing omni-directional multi-layer photonic structures
US8861087B2 (en) 2007-08-12 2014-10-14 Toyota Motor Corporation Multi-layer photonic structures having omni-directional reflectivity and coatings incorporating the same
US10788608B2 (en) 2007-08-12 2020-09-29 Toyota Jidosha Kabushiki Kaisha Non-color shifting multilayer structures
US10870740B2 (en) 2007-08-12 2020-12-22 Toyota Jidosha Kabushiki Kaisha Non-color shifting multilayer structures and protective coatings thereon
FI20075622A0 (fi) * 2007-09-07 2007-09-07 Valtion Teknillinen Spektrometri ja menetelmä liikkuvan näytteen mittaukseen
DE102007044878A1 (de) * 2007-09-20 2009-04-09 Giesecke & Devrient Gmbh Verfahren und Vorrichtung zur Prüfung von Wertdokumenten
GB2460625B (en) * 2008-05-14 2010-05-26 Ingenia Holdings Two tier authentication
US20090321217A1 (en) * 2008-06-30 2009-12-31 International Currency Technologies Corporation Bill accetor with a gate control unit
US8265346B2 (en) 2008-11-25 2012-09-11 De La Rue North America Inc. Determining document fitness using sequenced illumination
US8780206B2 (en) * 2008-11-25 2014-07-15 De La Rue North America Inc. Sequenced illumination
GB2466311B (en) 2008-12-19 2010-11-03 Ingenia Holdings Self-calibration of a matching algorithm for determining authenticity
GB2466465B (en) 2008-12-19 2011-02-16 Ingenia Holdings Authentication
RU2402815C1 (ru) * 2009-04-10 2010-10-27 Общество С Ограниченной Ответственностью "Конструкторское Бюро "Дорс" (Ооо "Кб "Дорс") Устройство для контроля подлинности банкнот
US8664605B2 (en) 2009-04-28 2014-03-04 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Covert label structure
JP5367509B2 (ja) * 2009-08-27 2013-12-11 株式会社東芝 光検出装置、及びこの光検出装置を備える紙葉類処理装置
US8749767B2 (en) 2009-09-02 2014-06-10 De La Rue North America Inc. Systems and methods for detecting tape on a document
US8194237B2 (en) 2009-10-15 2012-06-05 Authentix, Inc. Document sensor
GB2476226B (en) 2009-11-10 2012-03-28 Ingenia Holdings Ltd Optimisation
US8263948B2 (en) * 2009-11-23 2012-09-11 Honeywell International Inc. Authentication apparatus for moving value documents
DE102010014912A1 (de) * 2010-04-14 2011-10-20 Giesecke & Devrient Gmbh Sensor zur Prüfung von Wertdokumenten
US8196823B2 (en) 2010-08-10 2012-06-12 Toyota Motor Engineering & Manufacturing North America, Inc. Optical lock systems and methods
US8257784B2 (en) 2010-08-10 2012-09-04 Toyota Motor Engineering & Manufacturing North America, Inc. Methods for identifying articles of manufacture
US8994931B2 (en) 2010-09-22 2015-03-31 Hitachi-Omron Terminal Solutions, Corp. Paper sheets identification apparatus
US10067265B2 (en) 2010-10-12 2018-09-04 Toyota Motor Engineering & Manufacturing North America, Inc. Semi-transparent reflectors
CN101986352B (zh) * 2010-12-01 2015-04-29 威海华菱光电股份有限公司 接触式图像传感器
CN102014234A (zh) * 2010-12-22 2011-04-13 威海华菱光电有限公司 接触式图像传感器
CN102176260A (zh) * 2010-12-30 2011-09-07 南京理工速必得科技股份有限公司 一种检测纸币荧光油墨的方法及其实现装置
EP2686676A4 (en) * 2011-03-17 2015-04-01 Univ New York SYSTEMS, METHODS, AND COMPUTER READABLE MEDIA FOR AUTHENTICATION AND PERFORMANCE TESTING OF PHYSICAL OBJECTS
JP2013020540A (ja) * 2011-07-13 2013-01-31 Glory Ltd 紙葉類識別装置及び紙葉類識別方法
US20130044769A1 (en) * 2011-08-18 2013-02-21 United States Of America, As Represented By The Secretary Of The Army MEMS Q-Switched Monoblock Laser
JP2014532169A (ja) 2011-09-26 2014-12-04 シクパ ホルディング ソシエテ アノニムＳｉｃｐａ Ｈｏｌｄｉｎｇ Ｓａ 光学的可変実体の認証装置および方法
US8844802B2 (en) 2011-12-20 2014-09-30 Eastman Kodak Company Encoding information in illumination patterns
US8888207B2 (en) 2012-02-10 2014-11-18 Visualant, Inc. Systems, methods and articles related to machine-readable indicia and symbols
WO2014005085A1 (en) * 2012-06-29 2014-01-03 De La Rue North America Inc. Systems for capturing images of a document
US9053596B2 (en) 2012-07-31 2015-06-09 De La Rue North America Inc. Systems and methods for spectral authentication of a feature of a document
US9678260B2 (en) 2012-08-10 2017-06-13 Toyota Motor Engineering & Manufacturing North America, Inc. Omnidirectional high chroma red structural color with semiconductor absorber layer
US9658375B2 (en) 2012-08-10 2017-05-23 Toyota Motor Engineering & Manufacturing North America, Inc. Omnidirectional high chroma red structural color with combination metal absorber and dielectric absorber layers
US9664832B2 (en) 2012-08-10 2017-05-30 Toyota Motor Engineering & Manufacturing North America, Inc. Omnidirectional high chroma red structural color with combination semiconductor absorber and dielectric absorber layers
DE102012219905A1 (de) * 2012-10-31 2014-04-30 Bundesdruckerei Gmbh Verfahren und Vorrichtung zur Prüfung eines Sicherheitselements
US9885655B2 (en) 2012-11-13 2018-02-06 Viavi Solutions Inc. Spectrometer with a relay lightpipe
US9234839B2 (en) 2012-11-13 2016-01-12 Viavi Solutions Inc. Portable spectrometer
US9316581B2 (en) 2013-02-04 2016-04-19 Visualant, Inc. Method, apparatus, and article to facilitate evaluation of substances using electromagnetic energy
DE102013101587A1 (de) 2013-02-18 2014-08-21 Bundesdruckerei Gmbh Verfahren zum überprüfen der echtheit eines identifikationsdokumentes
US9041920B2 (en) 2013-02-21 2015-05-26 Visualant, Inc. Device for evaluation of fluids using electromagnetic energy
WO2014165003A1 (en) 2013-03-12 2014-10-09 Visualant, Inc. Systems and methods for fluid analysis using electromagnetic energy
WO2014207415A1 (en) * 2013-06-24 2014-12-31 Gluco Technology Limited Security coding system & marker, optoelectronic scanner and method of coding articles
CN104424688A (zh) * 2013-08-19 2015-03-18 吉鸿电子股份有限公司 验证装置
MX358688B (es) 2013-10-11 2018-08-31 Sicpa Holding Sa Dispositivo de mano y metodo para autenticar un marcado.
US20150116714A1 (en) * 2013-10-28 2015-04-30 International Currency Technologies Corp. Authenticating device
CN103903326B (zh) * 2014-03-03 2016-07-06 广州科珥光电科技有限公司 多光谱伪钞检测系统及其检测方法
JP6246620B2 (ja) * 2014-03-04 2017-12-13 株式会社東芝 検査装置
CN106461834B (zh) 2014-04-01 2021-01-15 丰田自动车工程及制造北美公司 无色移的多层结构
US10762736B2 (en) 2014-05-29 2020-09-01 Ncr Corporation Currency validation
DE102014108492A1 (de) * 2014-06-17 2015-12-17 Bundesdruckerei Gmbh Verfahren zum Detektieren eines blickwinkelabhängigen Merkmals eines Dokumentes
CN104036581A (zh) * 2014-06-19 2014-09-10 广州广电运通金融电子股份有限公司 一种有价文件光变油墨区域真伪识别的方法及系统
DE102014111171A1 (de) * 2014-08-06 2016-02-11 Bundesdruckerei Gmbh Bilderfassungsvorrichtung zum Erfassen eines ersten Bildes eines Identifikationsdokumentes in einem ersten Wellenlängenbereich und eines zweiten Bildes des Identifikationsdokumentes in einem zweiten Wellenlängenbereich
US9310313B1 (en) * 2014-12-29 2016-04-12 Oracle International Corporation Diffractive imaging of groove structures on optical tape
AT516824A1 (de) * 2015-01-23 2016-08-15 Ait Austrian Inst Technology Verfahren und Vorrichtung zur Prüfung von OVI-Merkmalen
WO2016121210A1 (ja) * 2015-01-26 2016-08-04 凸版印刷株式会社 識別装置、識別方法、識別プログラム、及び識別プログラムを含むコンピュータ可読媒体
US9810824B2 (en) 2015-01-28 2017-11-07 Toyota Motor Engineering & Manufacturing North America, Inc. Omnidirectional high chroma red structural colors
AT517868A1 (de) * 2015-11-05 2017-05-15 Ait Austrian Inst Technology Verfahren zur Bestimmung des räumlichen Reflexionsverhaltens einzelner Gegenstandspunkte
GB2550553B (en) * 2016-05-12 2020-02-05 De La Rue Int Ltd Document inspection apparatus
AT518675A1 (de) * 2016-05-19 2017-12-15 H & P Trading Gmbh Verfahren und Vorrichtung zur Ermittlung zumindest einer Prüfeigenschaft eines Prüfgegenstands
WO2017222365A1 (en) * 2016-06-22 2017-12-28 Thomas Buitelaar Method for testing banknote quality and device for testing banknote quality
GB201702478D0 (en) 2017-02-15 2017-03-29 Univ Of The West Of Scotland Apparatus and methods for depositing variable interference filters
GB2559957A (en) 2017-02-15 2018-08-29 Univ Of The West Of Scotland Infrared spectrophotometer
RU2644513C1 (ru) 2017-02-27 2018-02-12 Общество с ограниченной ответственностью "СМАРТ ЭНДЖИНС СЕРВИС" Способ детектирования голографических элементов в видеопотоке
EP3401885A1 (en) * 2017-05-08 2018-11-14 European Central Bank Apparatus and methods for authenticating a security feature
WO2018213971A1 (zh) * 2017-05-22 2018-11-29 深圳配天智能技术研究院有限公司 一种视觉检测参数的确定方法、视觉检测设备以及视觉检测系统
DK180215B1 (en) * 2017-06-07 2020-08-20 Dansk Retursystem As A validation system for authentication of recyclable containers
DE102017115922C5 (de) * 2017-07-14 2023-03-23 Precitec Gmbh & Co. Kg Verfahren und Vorrichtung zur Messung und Einstellung eines Abstands zwischen einem Bearbeitungskopf und einem Werkstück sowie dazugehöriges Verfahren zur Regelung
CN107492188B (zh) * 2017-08-31 2020-04-03 维沃移动通信有限公司 一种纸币的真伪验证方法及移动终端
CN110379065B (zh) * 2019-06-06 2022-06-10 深圳市博利凌科技有限公司 纸币、票券鉴别光学器件、装置、设备和方法
EP3907483A1 (en) * 2020-05-05 2021-11-10 X-Rite, Inc. Multichannel spectrophotometer using linear variable filter (lvf) bonded to 2d image sensor
US11953431B2 (en) * 2020-12-15 2024-04-09 Axalta Coating Systems Ip Co., Llc Measuring a color of a target coating
CN114574028A (zh) * 2022-02-22 2022-06-03 惠州市华阳光学技术有限公司 一种防伪颜料组合物及其制备方法
WO2023197126A1 (zh) * 2022-04-12 2023-10-19 华为技术有限公司 一种光学反射仪和检测待检测样品表面的方法

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH10512982A (ja) * 1994-10-27 1998-12-08 フレックス プロダクツ インコーポレイテッド 光学的可変デバイスの複数の色変化特性を同時に確認する観察装置および観察方法
JPH1153603A (ja) * 1990-02-05 1999-02-26 Cummins Allison Corp 書類識別装置および方法

Family Cites Families (45)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CH537064A (de) * 1971-02-26 1973-05-15 Gretag Ag Verfahren und Vorrichtung zur automatischen Echtheitsprüfung von graphischen Vorlagen
US4204765A (en) 1977-12-07 1980-05-27 Ardac, Inc. Apparatus for testing colored securities
US4183665A (en) 1977-12-07 1980-01-15 Ardac, Inc. Apparatus for testing the presence of color in a paper security
US5135812A (en) 1979-12-28 1992-08-04 Flex Products, Inc. Optically variable thin film flake and collection of the same
CH653459A5 (de) 1981-04-16 1985-12-31 Landis & Gyr Ag Dokument mit einem sicherheitsfaden und verfahren zur echtheitspruefung desselben.
DE3276200D1 (en) 1981-08-11 1987-06-04 De La Rue Syst Apparatus for scanning a sheet
EP0198819B1 (en) 1983-12-27 1988-08-24 BERGSTRÖM, Arne Apparatus for authenticating bank notes
US4881268A (en) * 1986-06-17 1989-11-14 Laurel Bank Machines Co., Ltd. Paper money discriminator
US4930866A (en) * 1986-11-21 1990-06-05 Flex Products, Inc. Thin film optical variable article and method having gold to green color shift for currency authentication
CH690471A5 (de) * 1988-04-18 2000-09-15 Mars Inc Einrichtung zum Erkennen der Echtheit von Dokumenten.
CH689523A5 (de) * 1989-05-01 1999-05-31 Mars Inc Pruefeinrichtung fuer ein blattfoermiges Gut.
US5652802A (en) * 1990-02-05 1997-07-29 Cummins-Allison Corp. Method and apparatus for document identification
US5875259A (en) * 1990-02-05 1999-02-23 Cummins-Allison Corp. Method and apparatus for discriminating and counting documents
US6241069B1 (en) * 1990-02-05 2001-06-05 Cummins-Allison Corp. Intelligent currency handling system
US5295196A (en) * 1990-02-05 1994-03-15 Cummins-Allison Corp. Method and apparatus for currency discrimination and counting
GB9019784D0 (en) * 1990-09-10 1990-10-24 Amblehurst Ltd Security device
US5624019A (en) 1991-04-18 1997-04-29 Mars Incorporated Method and apparatus for validating money
ES2103330T3 (es) 1991-10-14 1997-09-16 Mars Inc Dispositivo para el reconocimiento optico de documentos.
US5308992A (en) 1991-12-31 1994-05-03 Crane Timothy T Currency paper and banknote verification device
US5545885A (en) 1992-06-01 1996-08-13 Eastman Kodak Company Method and apparatus for detecting and identifying coded magnetic patterns on genuine articles such as bank notes
US5279403A (en) 1992-07-23 1994-01-18 Crane & Company, Inc. Microwave security thread detector
GB9221926D0 (en) 1992-10-19 1992-12-02 Rue De Systems Ltd Conductive strip detector
JPH06208613A (ja) * 1992-11-13 1994-07-26 Laurel Bank Mach Co Ltd パターン検出装置
US5417316A (en) 1993-03-18 1995-05-23 Authentication Technologies, Inc. Capacitive verification device for a security thread embedded within currency paper
US5552589A (en) 1993-08-31 1996-09-03 Eastman Kodak Company Permanent magnet assembly with MR element for detection/authentication of magnetic documents
US5700550A (en) 1993-12-27 1997-12-23 Toppan Printing Co., Ltd. Transparent hologram seal
ES2178664T3 (es) 1994-01-04 2003-01-01 Mars Inc Deteccion de objetos falsificados, por ejemplo, billetes de banco falsificados.
US5918960A (en) 1994-01-04 1999-07-06 Mars Incorporated Detection of counterfeit objects, for instance counterfeit banknotes
US5903340A (en) 1994-03-18 1999-05-11 Brown University Research Foundation Optically-based methods and apparatus for performing document authentication
US5568251A (en) * 1994-03-23 1996-10-22 National Research Council Of Canada Authenticating system
US5794135A (en) * 1994-07-27 1998-08-11 Daimler-Benz Aerospace Ag Millimeter wave mixer realized by windowing
US5889883A (en) 1995-01-23 1999-03-30 Mars Incorporated Method and apparatus for optical sensor system and optical interface circuit
US5616911A (en) 1995-05-24 1997-04-01 Eastman Kodak Company Read-only magnetic security pattern
US5535871A (en) 1995-08-29 1996-07-16 Authentication Technologies, Inc. Detector for a security thread having at least two security detection features
CH694636A5 (de) 1995-10-12 2005-05-13 Kba Giori Sa Verfahren zur Herstellung von Dokumenten mit einem Sicherheitsmerkmal in Form eines Folienelements und Dokument mit einem solchen Sicherheitsmerkmal.
GB2309299B (en) * 1996-01-16 2000-06-07 Mars Inc Sensing device
JPH1074276A (ja) * 1996-06-28 1998-03-17 Laurel Bank Mach Co Ltd 紙幣または有価証券の判別装置
GB9619781D0 (en) 1996-09-23 1996-11-06 Secr Defence Multi layer interference coatings
US5810146A (en) 1996-10-31 1998-09-22 Authentication Technologies, Inc. Wide edge lead currency thread detection system
US5923413A (en) * 1996-11-15 1999-07-13 Interbold Universal bank note denominator and validator
US5855268A (en) 1997-10-01 1999-01-05 Mars Incorporated Optical sensor system for a bill validator
US6104036A (en) * 1998-02-12 2000-08-15 Global Payment Technologies Apparatus and method for detecting a security feature in a currency note
DE29819954U1 (de) 1998-11-07 1999-03-04 Basler GmbH, 22926 Ahrensburg Vorrichtung zum optischen Prüfen von Hologrammen
US6473165B1 (en) * 2000-01-21 2002-10-29 Flex Products, Inc. Automated verification systems and methods for use with optical interference devices
JP4266495B2 (ja) * 2000-06-12 2009-05-20 グローリー株式会社 紙幣処理機

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH1153603A (ja) * 1990-02-05 1999-02-26 Cummins Allison Corp 書類識別装置および方法
JPH10512982A (ja) * 1994-10-27 1998-12-08 フレックス プロダクツ インコーポレイテッド 光学的可変デバイスの複数の色変化特性を同時に確認する観察装置および観察方法

Cited By (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101003818B1 (ko) 2003-04-29 2010-12-28 시크파 홀딩 에스에이 아이템의 진위 판정 방법 및 장치
JP2006524849A (ja) * 2003-04-29 2006-11-02 シクパ・ホールディング・ソシエテ・アノニム 文書と物品の認証のための方法及び装置
JP2012070396A (ja) * 2004-03-12 2012-04-05 Engineer Technology (Uk) Ltd 認証可能な印刷物品を作成し、その後に検証するための方法および装置
JP2008164628A (ja) * 2004-07-28 2008-07-17 Byk Gardner Gmbh 光表面特性の測角検査装置
JP2009503976A (ja) * 2005-07-27 2009-01-29 インゲニア・テクノロジー・リミテッド 物品の表面からのコヒーレントな光放射の散乱から得られた信号から作成された物品のシグネチャの検証
JP2009521039A (ja) * 2005-12-23 2009-05-28 インジェニア・ホールディングス・（ユー・ケイ）・リミテッド 光学的認証
US8908248B2 (en) 2006-03-15 2014-12-09 Mitsubishi Electric Corporation Image reading device which includes a light controlling unit
US9224258B2 (en) 2006-03-15 2015-12-29 Mitsubishi Electric Corporation Image reading device
US8837025B2 (en) 2006-03-15 2014-09-16 Mitsubishi Electric Corporation Image reading device
JP2009536358A (ja) * 2006-05-05 2009-10-08 エージーシー・フラット・グラス・ノース・アメリカ， インコーポレイテッド 角度に対する色度測定（ａｎｇｕｌａｒｃｏｌｏｒｉｍｅｔｒｙ）のための装置及びその方法
JP2008298579A (ja) * 2007-05-31 2008-12-11 Konica Minolta Sensing Inc 反射特性測定装置及び反射特性測定装置の校正方法
JP2013542408A (ja) * 2010-09-10 2013-11-21 インテグレイテッド エレクトロニクス マニュファクチュアリング コーポレーション 符号化アプリケーションのための信号及び検出システム
US9476826B2 (en) 2010-09-10 2016-10-25 Smart Wave Technologies Corp. Signal and detection system for keying applications
US9001329B2 (en) 2011-04-28 2015-04-07 Konica Minolta, Inc. Multi-angle colorimeter
JP5737390B2 (ja) * 2011-04-28 2015-06-17 コニカミノルタ株式会社 マルチアングル測色計
JP2014071044A (ja) * 2012-09-28 2014-04-21 Glory Ltd スペクトルセンサの光学系調整方法及び光学系調整装置並びに紙葉類識別装置
JP2016528501A (ja) * 2013-08-16 2016-09-15 ブンデスドルッケライ・ゲゼルシャフト・ミト・ベシュレンクテル・ハフツング セキュリティ文書のセキュリティ要素を確認するための方法及び装置
JP2017151654A (ja) * 2016-02-23 2017-08-31 グローリー株式会社 有価書類識別装置、有価書類処理機、画像センサユニット及び光学可変素子領域の検出方法

Also Published As

Publication number Publication date
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