JP2003515871A - ディスクドライブユニット - Google Patents

ディスクドライブユニット

Info

Publication number
JP2003515871A
JP2003515871A JP2001542327A JP2001542327A JP2003515871A JP 2003515871 A JP2003515871 A JP 2003515871A JP 2001542327 A JP2001542327 A JP 2001542327A JP 2001542327 A JP2001542327 A JP 2001542327A JP 2003515871 A JP2003515871 A JP 2003515871A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
disk drive
drive unit
air
carrier
flow
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2001542327A
Other languages
English (en)
Other versions
JP4646476B2 (ja
Inventor
マンキャスター、ティモシー・ジョン
サビル、ウィリアム・アルバート
Original Assignee
ザイラテックス・テクノロジー・リミテッド
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Family has litigation
First worldwide family litigation filed litigation Critical https://patents.darts-ip.com/?family=10865375&utm_source=google_patent&utm_medium=platform_link&utm_campaign=public_patent_search&patent=JP2003515871(A) "Global patent litigation dataset” by Darts-ip is licensed under a Creative Commons Attribution 4.0 International License.
Application filed by ザイラテックス・テクノロジー・リミテッド filed Critical ザイラテックス・テクノロジー・リミテッド
Publication of JP2003515871A publication Critical patent/JP2003515871A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4646476B2 publication Critical patent/JP4646476B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11BINFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B33/00Constructional parts, details or accessories not provided for in the other groups of this subclass
    • G11B33/14Reducing influence of physical parameters, e.g. temperature change, moisture, dust
    • G11B33/1406Reducing the influence of the temperature
    • G11B33/1413Reducing the influence of the temperature by fluid cooling
    • G11B33/142Reducing the influence of the temperature by fluid cooling by air cooling
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11BINFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B33/00Constructional parts, details or accessories not provided for in the other groups of this subclass
    • G11B33/14Reducing influence of physical parameters, e.g. temperature change, moisture, dust
    • G11B33/1406Reducing the influence of the temperature
    • G11B33/144Reducing the influence of the temperature by detection, control, regulation of the temperature

Landscapes

  • Automatic Analysis And Handling Materials Therefor (AREA)
  • Feeding And Guiding Record Carriers (AREA)
  • Manufacturing Of Magnetic Record Carriers (AREA)
  • Control Of Temperature (AREA)

Abstract

(57)【要約】 ディスクドライブユニットキャリア(1)は単一ディスクドライブユニット(2)を担持するように適応させる。ディスクドライブユニットキャリア(1)は、ディスクドライブユニット(2)の温度を制御するための温度制御装置(4)を含む。温度制御装置(4)は、ディスクドライブユニット(2)の所用温度に従って適切にディスクドライブユニット(2)を横切る空気の流動を制御するための空気流動制御装置(5,6)の形であることが好ましい。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、ディスクドライブユニットキャリア、ディスクドライブ試験装置、
データ記憶装置、複数のディスクドライブユニットを試験する方法、および複数
のディスクドライブユニットを操作する方法に関する。
【0002】
【従来の技術】
ディスクドライブユニットの製造中に、ディスクドライブユニットを試験して
、それらが要求される仕様を満たすことを確認する必要がある。試験作業の一環
として、ディスクドライブユニットの温度を制御する必要がある。ディスクドラ
イブユニットの温度は、試験中に広範囲にわたって変化する。出願人自身の既知
の試験装置の一つでは、複数のディスクドライブユニットの温度が、全てのディ
スクドライブユニットに共通する冷却または加熱空気を用いることによって制御
される。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】
また、ディスクドライブユニットの通常の作動中に、すなわちディスクドライ
ブユニットが最終使用者によって通常使用されているときに、ディスクドライブ
ユニットの温度を予め定められた範囲内に維持することも望ましい。コンピュー
タでは、構成部品の温度を引き下げておくために、空気を引き込んで冷却空気を
コンピュータ内の特にCPUをはじめとする構成部品上に流動させる冷却ファン
を設けることが一般的慣例である。しかし、これは粗雑な冷却機構をもたらし、
コンピュータの個々の構成部品、特にディスクドライブユニットの温度の別個の
制御は得られない。
【0004】
【課題を解決するための手段と発明の実施の態様】
本発明の第1実施形態では、ディスクドライブユニットを受容するためのディ
スクドライブユニットキャリアを設け、該キャリアが単一ディスクドライブユニ
ットを担持するように適応され、該キャリアに受容されたディスクドライブユニ
ットの温度をディスクドライブユニットの作動中予め定められた温度に制御する
ための温度制御装置を含む。
【0005】 キャリアは、キャリア内のディスクドライブユニットの温度を、ディスクドラ
イブユニットの作動中、予め定められた温度になるように制御することを可能に
する。実際には温度は特定の範囲内の予め定められた温度になるように制御され
ると理解され、「予め定められた温度」とはそれに従って解釈されるものとする
。製造工程の一環としてディスクドライブユニットの試験中に、ディスクドライ
ブユニットキャリアを使用してディスクドライブユニットを受容する場合、後で
さらに論じるように、他の同様のキャリアがそれら自体のそれぞれのディスクド
ライブユニットを各々担持する状態で、キャリアを突き止めることができる。そ
の場合、本発明は、個々のディスクドライブユニットの温度を独立して制御する
ことができる。これは言い換えると、異なるディスクドライブユニットを同時に
異なる温度にすることができることを意味し、それは、それぞれのキャリア内へ
のディスクドライブユニットの挿入および取外しを含め、ディスクドライブユニ
ットの完全に独立した試験が可能になるという点で有利である。さらに、様々な
ディスクドライブユニットに異なるレベルの電力を供給することができる。これ
は、先行技術の装置では、異なるディスクドライブユニットが通常異なる温度で
あることを必然的に意味する。対照的に、本発明のキャリアでは、異なる電力レ
ベルで作動するディスクドライブユニットの温度を、希望するならば同一に維持
することができる。
【0006】 好適な実施形態の温度制御装置は、キャリアに受容されたディスクドライブユ
ニットに空気を流動させるための空気流動制御装置を含む。下でさらに論じるよ
うに、空気は、ディスクドライブユニットを冷却または加熱するため、かつ/ま
たはディスクドライブユニットの温度を一定に維持するために使用することがで
きる。
【0007】 キャリアは、キャリアに受容されたディスクドライブユニット上を通過した空
気の少なくとも一部分を選択的に受容して冷却し、それによって冷却空気を提供
するための熱交換器を含むことができ、流動制御装置は、キャリアに受容された
ディスクドライブユニットに空気を直接再循環させるか、あるいはキャリアに受
容されたディスクドライブユニット上を通過した空気の少なくとも一部分を熱交
換器内に通過させて冷却空気を提供して、キャリアに受容されたディスクドライ
ブユニットに前記冷却空気を流動させるか、あるいは直接再循環された空気と冷
却空気の混合物を、キャリアに受容されたディスクドライブユニットに流動させ
るように、選択的に作動可能である。
【0008】 空気流動制御装置は、キャリアに受容されたディスクドライブユニットに空気
を再循環させるか、あるいはキャリアの外部からの新鮮な空気をキャリアに受容
されたディスクドライブユニットに流動させるか、あるいは再循環された空気と
キャリアの外部からの新鮮な空気の混合物を、キャリアに受容されたディスクド
ライブユニットに流動させるように、選択的に作動可能にすることができる。
【0009】 一般的に、ディスクドライブユニットに空気を再循環させると、キャリアから
の熱損失がディスクドライブユニットの電力消費と一致するまでディスクドライ
ブユニットの温度は上昇する。新鮮な空気は通常ディスクドライブユニットの温
度より低い温度であり、したがってディスクドライブユニットを冷却させる傾向
がある。また一方で、熱交換器を用いて冷却空気を提供することができる。空気
流動手段は、再循環空気と新鮮なまたは冷却された空気との混合物をディスクド
ライブユニットに流動させるように作動することができ、中間温度を得て維持す
ることができる。
【0010】 好適な実施形態では、空気流動制御装置は選択的に可動なバフルを含む。
【0011】 バフルの運動を制御するために、サーボ制御装置を設けることができる。
【0012】 キャリアは、空気がキャリアに受容されたディスクドライブユニットに流動す
る前に前記空気を選択的に加熱するために、キャリアに受容されたディスクドラ
イブユニットへの空気流路で選択的に作動可能な加熱器を含むことができる。こ
れにより、ディスクドライブユニットの温度を上昇させ、あるいはそれ以外の場
合より素早く上昇させることができる。
【0013】 一実施形態では、ディスクドライブユニットキャリアは、ディスクドライブユ
ニットの試験中にディスクドライブユニットを受容するためのディスクドライブ
ユニットキャリアである。
【0014】 本発明の第2実施形態では、複数のディスクドライブユニットを受容するため
のディスクドライブユニット試験装置を提供する。試験装置は上述の通り、それ
ぞれのディスクドライブユニットを各々受容して、ディスクドライブユニットの
試験中にそれぞれのディスクドライブユニットの温度を独立して制御させる複数
のキャリアを含む。
【0015】 上で簡単に示した通り、そのような試験装置は、製造工程の一環として、複数
のディスクドライブユニットを相互に独立して試験させ、各々のディスクドライ
ブユニットの温度の独立制御が可能である。これは、以前には利用できなかった
柔軟性を試験中に提供する。
【0016】 本発明の別の態様では、データ記憶装置を提供する。該装置は上述の通り、そ
れぞれのディスクドライブユニットを各々受容して、ディスクドライブユニット
の試験中にそれぞれのディスクドライブユニットの温度を独立して制御させる複
数のキャリアを含む。
【0017】 データ記憶装置内の複数のディスクドライブユニットの温度の独立制御をする
ことにより、データ記憶装置内で使用中の個々のディスクドライブユニットの温
度の事実上完全な制御が得られる。これは言い換えると、ディスクドライブユニ
ットが各々指定された安全な温度範囲内で機能する可能性が高いことを意味し、
これはデータ記憶装置の全体としての性能をいっそう信頼できるものにする。対
照的に、複数のディスクドライブユニットの全てに共通する単一温度制御装置し
か無い先行技術では、個々のディスクドライブユニットの温度が安全温度範囲外
に逸脱することがあり得るだけでなく、その個別ディスクドライブユニットの信
頼性を低下させ、故障させる可能性さえあり、これは、他のディスクドライブユ
ニットの温度が影響を受けることがあり得ることをも意味する。これらの問題は
、本発明によるデータ記憶装置により克服される。
【0018】 上述した装置の各々は、ディスクドライブユニットキャリアの温度制御装置の
独立制御のための制御装置を含むことができる。
【0019】 本発明の別の態様では、ディスクドライブユニットの試験中にディスクドライ
ブユニットの各々の温度が独立して制御される、複数のディスクドライブユニッ
トの試験方法を提供する。
【0020】 好適な実施形態では、該方法は、各々のディスクドライブユニットを横切る空
気の流動を独立して制御し、それにより各々のディスクドライブユニットの温度
を独立して制御するステップを含む。
【0021】 該方法は、空気をディスクドライブユニットに直接再循環させるか、ディスク
ドライブユニット上を通過した空気の少なくとも一部分を熱交換器に通すことに
よって得られる冷却空気をディスクドライブユニットに流動させるか、あるいは
直接再循環する空気と冷却空気の混合物をディスクドライブユニットに流動させ
るように、各ディスクドライブユニットごとに独立して、ディスクドライブユニ
ットを横切る空気の流動を制御するステップを含むことができる。
【0022】 該方法は、空気をディスクドライブユニットに再循環させるか、新鮮な空気を
ディスクドライブユニットに流動させるか、あるいは再循環空気と新鮮な空気の
混合物をディスクドライブユニットに流動させるように、各ディスクドライブユ
ニットごとに独立して、ディスクドライブユニットを横切る空気の流動を制御す
るステップを含むことができる。
【0023】 本発明のさらに別の態様では、複数のディスクドライブユニットの作動方法を
提供する。ここで、ディスクドライブユニットの作動中、各々のディスクドライ
ブユニットの温度は独立して制御される。
【0024】 該方法は、ディスクドライブユニットの各々を横切る空気の流動を独立して制
御し、それによりディスクドライブユニットの各々の温度を独立して制御するス
テップを含む。
【0025】 一実施形態では、該方法は、空気をディスクドライブユニットに直接再循環さ
せるか、ディスクドライブユニット上を通過した空気の少なくとも一部分を熱交
換器に通すことによって得られる冷却空気をディスクドライブユニットに流動さ
せるか、あるいは直接再循環する空気と冷却空気との混合物をディスクドライブ
ユニットに流動させるように、各ディスクドライブユニットごとに独立して、デ
ィスクドライブユニットを横切る空気の流動を制御するステップを含むことがで
きる。
【0026】 別の実施形態では、該方法は、空気をディスクドライブユニットに再循環させ
るか、新鮮な空気をディスクドライブユニットに流動させるか、あるいは再循環
空気と新鮮な空気との混合物をディスクドライブユニットに流動させるように、
各ディスクドライブユニットごとに独立して、ディスクドライブユニットを横切
る空気の流動を制御するステップを含むことができる。
【0027】
【実施例】
本発明の一実施形態を今から一例として添付の図面を参照しながら説明する。
【0028】 図1には、本発明によるディスクドライブユニットキャリア1の一例の斜視図
が部分的に仮想線で示されている。キャリア1は一般的に矩形断面の箱状構成で
ある。ディスクドライブユニット2は、キャリア1の前部分に受容される。キャ
リア1は、ディスクドライブユニット2をキャリア1内に挿入したりキャリア1
から取り出すことを可能にするために開けるか取り外すことのできる扉3を正面
に有する。ディスクドライブユニット2は一般的に、データを格納できる1つま
たはそれ以上の回転可能な磁気ディスクと、1つまたはそれ以上の読み/書きア
ームに装着された1つまたはそれ以上の読み/書きヘッドと、該アームを動かす
ための少なくとも1つのモータと、適切な内部電気接続とを有する完全なユニッ
トである。ディスクドライブユニット2へ、およびそこから、電力および制御信
号を供給するための電気接続が設けられるが、図面を分かりやすくするために図
示されていない。
【0029】 キャリア1の後部は、ディスクドライブユニット2の作動中にディスクドライ
ブユニット2の温度を予め定められた温度に制御するための温度制御装置4を含
む。ディスクドライブユニット2の「作動」は、ディスクドライブユニット2の
試験中の作動、および最終使用者による通常の使用中のディスクドライブユニッ
ト2の作動をも含む。キャリア1の前部と後部の間には仕切り壁21が設けられ
、該仕切り壁21はその最下縁に貫通穴20を有し、かつキャリア1の全高には
伸長しない。
【0030】 図示した例では、温度制御装置4は、図面に示した方向付けで垂直軸を中心に
回転する遠心ファン5と、空気の流れを適切に方向付けるためのバフル(baffle
邪魔板)6とを含む。バフル6は、直立半円壁の形であり、モータ8によって垂
直軸を中心に枢動することができる。図4にも示される遠心ファン5は、ファン
5から出る空気の流れをディスクドライブユニット2に向かって方向付ける一般
的に円形の筐体10内に含まれる。筐体10は、その下面の中央にあるファン5
への空気入口11と、その上面にありディスクドライブユニット2に向かって方
向付けられた一般的に接線状の空気出口12とを有する。
【0031】 キャリア1の側壁15の2つの部分がキャリア1の後部寄りに存在せず、2つ
の隣接する開口16、17が側壁15のファン5に近い位置に設けられる。側壁
15は開口16、17の間に、一般的にキャリア1の内方にファン5の方向に向
き付けられる短い壁部分7を有する。前部開口16を通してキャリア1から出る
空気が熱交換器18を通過し、そこで空気が冷却され後部開口17を介してキャ
リア1内へ戻るように、側壁15の開口16、17越しにキャリア1に熱交換器
18が固定される。
【0032】 今、図2を参照すると、それは空気を単にディスクドライブユニット2の周囲
に再循環させるように構成された温度制御装置4を示しており、半円形バフル6
がバフルモータ8によって回転して、内側を向いた壁部分7とキャリア1の反対
側の側壁19との間の隙間にわたされ、かつ側壁15の後部開口17からファン
5の入口11への空気取入経路を遮断する位置に着いていることが分かる。した
がって回転遠心ファン5は空気をファン筐体10の出口12から仕切り壁21の
頂部を越え、かつディスクドライブユニット2の頂部を越えてキャリア1の正面
方向に押しやる。次いでキャリア1の扉3は、空気をディスクドライブユニット
2の正面の向こう側へ方向付ける。次いで空気はディスクドライブユニット2の
下のキャリア1の床13によって、ディスクドライブユニット2と温度制御装置
4との間の仕切り壁21の開口20を通して逆戻りし、ファン筐体のファン5へ
の入口11に向かって直接方向付けられる。次いで空気は再びファン5によって
引き上げられて、ディスクドライブユニット2の頂部を越えて逆方向に通過する
。閉鎖された後部開口17は空気が熱交換器18を通過するのを妨げるので、空
気は前部開口16を通して排出することができない。
【0033】 今、図3を参照すると、空気冷却構成の温度制御装置4が示されている。この
構成では、キャリア1の側壁15の後部開口17からの空気取入経路にファン入
口11を露出させるために、バフルモータ8がバフル6をファン筐体10の周り
に180°回転させたところである。この構成では、ディスクドライブユニット
2の上および下を通過し、かつ開口20を通過した空気は、バフル6によって側
壁15の前部開口16を通過するように方向付けられ、ファン5によって熱交換
器18内に引き寄せられることによって冷却される。冷却された空気は次に側壁
15の後部開口17を通過してファン5内に入り、再び頂部の上を流れ、正面で
下降してディスクドライブユニット2の下を流れるように強制される。理解され
る通り、この構成では、バフル6はディスクドライブユニット2の下から流れ出
る空気がファン入口11に直接戻るのを妨げる。それどころか、この構成では、
ディスクドライブユニット2の下から出た空気の流れは、側壁15の前部開口1
6に向かい、熱交換器18を通して側壁15の後部開口17へと方向付けられる
【0034】 理解される通り、図2に示す構成のように空気をディスクドライブユニット2
の周囲で再循環させるだけ場合、ディスクドライブユニット2の温度は、キャリ
ア1からの熱損失がディスクドライブユニット2の電力消費と実質的に一致する
まで上昇する。これは、ディスクドライブユニット2の急速な加熱をもたらす。
これは、高温でのディスクドライブユニット2の試験が必要なときに、そうした
高温をより迅速に達成することができ、試験中のディスクドライブユニット2の
高速スループットが可能になるので、特に有利である。図面に示する好適な実施
形態では、出口12からディスクドライブユニット2への空気流路に電気加熱器
14が設けられ、選択的に作動して空気を加熱し、それにより、必要ならば、い
っそう迅速なディスクドライブユニット2の加熱が達成される。
【0035】 キャリア1が図3に示す冷却空気モードで作動しているとき、冷却空気はディ
スクドライブユニット2上を流動させられ、それによりディスクドライブユニッ
ト2を必要に応じて冷却することができる。冷却空気の使用は、ディスクドライ
ブユニット2のいっそう迅速な冷却を達成することを可能にする。
【0036】 図2および図3に示した極端な位置の間にバフル6を適切に配置することによ
って、冷却空気と直接再循環される空気の混合をディスクドライブユニット2に
流動させることができ、混合は任意の所望の割合とすることができる。したがっ
て、バフル6は予め定められたレベルのディスクドライブユニット2の温度を達
成し、かつ維持するように配置することができる。
【0037】 本発明によるキャリア1の第2例を図5に示す。該図面およびこの第2例の説
明では、上述したキャリアの第1例の場合と同一または対応する部品を表わすた
めに同一参照番号を使用し、共通部品の詳細な説明はここでは行なわない。キャ
リア1の第2例は、熱交換器18がキャリア1の側壁15の前部および後部開口
16、17越しに設けられていないという点で、第1例とは異なる。それどころ
か、第2例では、前部開口16にはフラップ30が蝶着される。フラップ30は
モータ(図示せず)によって作動させることができ、あるいは単に自由に蝶着し
て、ディスクドライブユニット2上を通過してきた空気をキャリア1から排出さ
せるように前部開口16を開くか、または前部開口16を閉じて空気をファン5
へと直接再循環させることができる。後部開口17は、新鮮な空気が外部からキ
ャリア1内に選択的に通過することのできる、単なる新鮮な空気の取入口にすぎ
ない。
【0038】 したがって、新鮮空気モードの第2例の作動のために、バフル6は後部開口1
7を開いて新鮮な空気がキャリア1に入ることができるように移動し、キャリア
1の外部からの新鮮な空気は一般的に、作動中のディスクドライブユニット2よ
りずっと低温であると理解される。同時に、前部開口16のフラップ30が開い
て、ディスクドライブユニット2上を通過してきて暖められた空気はキャリア1
から外に出て行くことができる。空気循環モードでは、バフル6は後部開口17
を閉じるように移動し、フラップ30は前部開口16を閉じるように移動するの
で、ディスクドライブユニット2上を通過してきた空気はファン5へ直接戻る。
バフル6およびフラップ30の適切な配置によって、循環空気と新鮮な空気の混
合をディスクドライブユニット2上に通過させることができる。
【0039】 上述したいずれの例でも、バフルモータ8の作動はサーボ制御下に置くことが
できる。バフル6およびフラップ30(設けた場合)の移動、および加熱器14
の作動の制御は、適切なコンピュータ上で作動する適切なソフトウェアの下で行
なうことができる。1つまたはそれ以上の温度センサを設けて、ディスクドライ
ブユニット2の温度を監視し、かつ1つまたはそれ以上の制御信号をサーボ制御
装置に送ることができる。
【0040】 図面に示した空気流動構成は単なる例であって、ディスクドライブユニット2
上の空気流動の代替構成が可能であることは理解されるであろう。例えば、空気
は頂部の上およびディスクドライブユニット2の下を同一方向に流動させること
ができ、ディスクドライブユニット2の一方または両方の長い側部に沿ってファ
ン5へ戻すことができる。この構成は、ケーブルがディスクドライブユニット2
の後部に接続される場合、そのようなケーブルはそれ以外では空気の流動特性に
影響を与えるかもしれないので、有利であるかもしれないが、その結果としてそ
れ以外の場合よりキャリア1がわずかに幅広くなり、よってキャリア1の配置の
ために追加空間が必要になるかもしれない。
【0041】 上述したキャリア1の各々は、ディスクドライブユニット2の通常の製造工程
の一環として、ディスクドライブユニット2の試験中にディスクドライブユニッ
ト2の温度を制御するために使用することができる。キャリア1の各々は、最終
使用者によるディスクドライブユニット2の通常の操作中に、ディスクドライブ
ユニット2の温度を制御するためにも使用することができる。
【0042】 複数のキャリア1を、例えばテストラックなどのディスクドライブユニット試
験装置に統合するか組み込むことができる。この方法で、各々のディスクドライ
ブユニット2の温度の独立制御を行ないながら、複数のディスクドライブユニッ
トを相互に独立して試験することができる。これは、装置内の他のディスクドラ
イブユニットの試験に影響を及ぼすことなく、個々のディスクドライブユニット
2を試験装置内外に移動させることができ、以前には利用できなかった特徴であ
る。試験装置内の個々のディスクドライブユニット2の温度は、装置内の他のデ
ィスクドライブユニット2の温度から著しく異なることができる。ディスクドラ
イブユニット2の各々の温度は、予め定められたレベルになるように制御するこ
とができ、それは、個々のディスクドライブユニット2の電力消費に関係なく、
すべてのディスクドライブユニット2に対して同一であってもなくてもよい。
【0043】 試験中のディスクドライブユニット2の温度の制御に使用する以外に、上述し
たキャリア1の各々は、データ記憶製品として最終使用者によって使用されると
きに、ディスクドライブユニット2の温度を制御するために使用することができ
る。同様に、複数のキャリア1を統合するか一つに組み付けて、独立に作動可能
であり各々の温度を独立に制御することができる複数のディスクドライブユニッ
トを有するデータ記憶装置を形成することができる。そのようなデータ記憶装置
内の個々のディスクドライブユニット2を相互に完全に独立させることにより、
個々のディスクドライブユニット2が例えば保守または交換のために取り外され
たとき、あるいはディスクドライブユニット2の1つが過熱するか、何らかの理
由で作動できない場合に、データ記憶装置内のディスクドライブユニットの作動
は事実上全く影響されずにすますことができる。
【0044】 キャリア1は比較的低コストで単純に大量生産することができる。キャリア1
は、複数のキャリア1を他のキャリア1の作動に影響することなく一つに積み上
げていくことができるという点で、事実上モジュールである。
【0045】 特定の例では、ディスクドライブユニット2の温度は、周囲+3℃〜70℃の
範囲内の標的温度の±1℃内に制御することができる。達成可能な温度の最大上
昇率は、毎分ほぼ+6℃程度とすることができ、温度の最大低下率は毎分ほぼ2
℃程度とすることができる。
【0046】 ディスクドライブユニット2上の空気の流動は、比較的高い速度であることが
好ましい。これは、ディスクドライブユニット2の温度が、空気速度またはディ
スクドライブユニット2の熱出力の変化にあまり敏感でなくなることを確実にす
るからである。さらに、高い空気流速はディスクドライブユニット2内外への優
れた熱伝達率をもたらす。
【0047】 本発明の実施形態を、図示した例を特に参照しながら説明した。しかし、説明
した例に本発明の範囲内で変形および変化を施すことができることは理解される
であろう。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の一態様によるディスクドライブユニット用のキャリアの
一例を、分かりやすくするために部品を除去して、部分的に仮想線で示した斜視
図である。
【図2】 分かりやすくするために部品を除去し、部分的に仮想線で示した
、空気再循環モードの図1のキャリアの斜視図である。
【図3】 分かりやすくするために部品を除去し、部分的に仮想線で示した
、冷却空気モードの図1および図2のキャリアの斜視図である。
【図4】 図1ないし図3のキャリアに適したファンの斜視図である。
【図5】 本発明の一態様によるディスクドライブユニット用のキャリアの
第2例を部分的に仮想線で示した斜視図である。
【符号の説明】
1 ディスクドライブユニットキャリア 2 ディスクドライブユニット 3 扉 4 温度制御装置 5 遠心ファン 5 回転遠心ファン 6 バフル 7 壁部分 8 バフルモータ 10 ファン筐体 11 空気入口 12 空気出口 13 床 14 電気加熱器 15 側壁 16 前部開口 17 後部開口 18 熱交換器 19 側壁 20 開口 20 貫通穴 21 壁 30 フラップ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 サビル、ウィリアム・アルバート イギリス国、ピーオー16・7ビーズィー、 ハンプシャー、フェアハム、セント・トー マス・クローズ、6番

Claims (19)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 ディスクドライブユニットを受容するためのディスクドライ
    ブユニットキャリアであって、単一ディスクドライブユニットを担持するように
    適応され、前記キャリアに受容されたディスクドライブユニットの温度を前記デ
    ィスクドライブユニットの作動中に予め定められた温度となるように制御するた
    めの温度制御装置を含むキャリア。
  2. 【請求項2】 温度制御装置が、空気をキャリアに受容されたディスクドラ
    イブユニットに流動させるための空気流動制御装置を含む、請求項1に記載のキ
    ャリア。
  3. 【請求項3】 キャリアに受容されたディスクドライブユニット上を通過し
    た空気の少なくとも一部分を選択的に受け取って冷却し、それにより冷却空気を
    提供する熱交換器を含み、空気流動制御装置が、空気をキャリアに受容されたデ
    ィスクドライブユニットに直接再循環させるか、あるいはキャリアに受容された
    ディスクドライブユニット上を通過してきた空気の少なくとも一部分を熱交換器
    に通して冷却空気を提供し、前記冷却空気をキャリアに受容されたディスクドラ
    イブユニットに流動させるか、あるいは直接再循環された空気と冷却空気の混合
    物をキャリアに受容されたディスクドライブユニットに流動させるように選択的
    に作動可能である、請求項2に記載のキャリア。
  4. 【請求項4】 空気流動制御装置が、空気をキャリアに受容されたディスク
    ドライブユニットに再循環させるか、あるいはキャリアの外部からの新鮮な空気
    をキャリアに受容されたディスクドライブユニットに流動させるか、あるいは再
    循環される空気とキャリアの外部からの新鮮な空気の混合物をキャリアに受容さ
    れたディスクドライブユニットに流動させるように、選択的に作動可能である、
    請求項2に記載のキャリア。
  5. 【請求項5】 空気流動制御装置が選択的に可動なバフルを含む、請求項3
    または4に記載のキャリア。
  6. 【請求項6】 バフルの運動を制御するためのサーボ制御装置を含む、請求
    項5に記載のキャリア。
  7. 【請求項7】 空気がキャリアに受容されたディスクドライブユニットに流
    動する前に空気を選択的に過熱するために、キャリアに受容されたディスクドラ
    イブユニットへの空気の流路に選択的に作動可能な加熱器を含む、請求項2ない
    し6のいずれかに記載のキャリア。
  8. 【請求項8】 ディスクドライブユニットキャリアが、ディスクドライブユ
    ニットをディスクドライブユニットの試験中に受容するためのディスクドライブ
    ユニット試験キャリアである、請求項1ないし7のいずれかに記載のキャリア。
  9. 【請求項9】 複数のディスクドライブユニットを受容するためのディスク
    ドライブユニット試験装置であって、各々がそれぞれのディスクドライブユニッ
    トを受容してそれぞれのディスクドライブユニットの温度をディスクドライブユ
    ニットの試験中に独立して制御することを可能にする請求項1ないし8のいずれ
    かに記載のキャリアを複数含む試験装置。
  10. 【請求項10】 各々がそれぞれのディスクドライブユニットを受容して、
    それぞれのディスクドライブユニットの温度をディスクドライブユニットの作動
    中に独立して制御することを可能にする請求項1ないし8のいずれかに記載のキ
    ャリアを複数含むデータ記憶装置。
  11. 【請求項11】 ディスクドライブユニットキャリアの温度制御装置の独立
    制御のための制御装置を含む、請求項9または10に記載の装置。
  12. 【請求項12】 複数のディスクドライブユニットを試験する方法であって
    、ディスクドライブユニットの各々の温度がディスクドライブユニットの試験中
    に独立して制御されるようにした方法。
  13. 【請求項13】 ディスクドライブユニットの各々を横切る空気の流動を独
    立して制御し、それによってディスクドライブユニットの各々の温度を独立して
    制御するステップを含む、請求項12に記載の方法。
  14. 【請求項14】 空気をディスクドライブユニットに直接再循環させるか、
    あるいはディスクドライブユニット上を通過してきた空気の少なくとも一部分を
    熱交換器に通すことによって得られる冷却空気をディスクドライブユニットに流
    動させるか、あるいは直接再循環する空気と冷却空気の混合物を前記ディスクド
    ライブユニットに流動させるように、各ディスクドライブユニットごとに独立し
    て、前記ディスクドライブユニットを横切る空気の流動を制御するステップを含
    む、請求項13に記載の方法。
  15. 【請求項15】 空気をディスクドライブユニットに再循環させるか、ある
    いは新鮮な空気をディスクドライブユニットに流動させるか、あるいは再循環空
    気と新鮮な空気の混合物をディスクドライブユニットに流動させるように、各デ
    ィスクドライブユニットごとに独立して、ディスクドライブユニットを横切る空
    気の流動を制御するステップを含む、請求項13に記載の方法。
  16. 【請求項16】 複数のディスクドライブユニットを作動させる方法であっ
    て、ディスクドライブユニットの各々の温度がディスクドライブユニットの作動
    中に独立して制御されるようにした方法。
  17. 【請求項17】 ディスクドライブユニットの各々を横切る空気の流動を独
    立して制御し、それによってディスクドライブユニットの各々の温度を独立して
    制御するステップを含む、請求項16に記載の方法。
  18. 【請求項18】 空気をディスクドライブユニットに直接再循環させるか、
    あるいはディスクドライブユニット上を通過してきた空気の少なくとも一部分を
    熱交換器に通すことによって得られる冷却空気をディスクドライブユニットに流
    動させるか、あるいは直接再循環する空気と冷却空気の混合物をディスクドライ
    ブユニットに流動させるように、各ディスクドライブユニットごとに独立して、
    ディスクドライブユニットを横切る空気の流動を制御するステップを含む、請求
    項17に記載の方法。
  19. 【請求項19】 空気をディスクドライブユニットに再循環させるか、ある
    いは新鮮な空気をディスクドライブユニットに流動させるか、あるいは再循環空
    気と新鮮な空気の混合物をディスクドライブユニットに流動させるように、各デ
    ィスクドライブユニットごとに独立して、ディスクドライブユニットを横切る空
    気の流動を制御するステップを含む、請求項17に記載の方法。
JP2001542327A 1999-11-29 2000-11-23 ディスクドライブユニット Expired - Fee Related JP4646476B2 (ja)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
GBGB9928211.3A GB9928211D0 (en) 1999-11-29 1999-11-29 Disk drive kit
GB9928211.3 1999-11-29
PCT/GB2000/004466 WO2001041148A1 (en) 1999-11-29 2000-11-23 Disk drive unit

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2003515871A true JP2003515871A (ja) 2003-05-07
JP4646476B2 JP4646476B2 (ja) 2011-03-09

Family

ID=10865375

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2001542327A Expired - Fee Related JP4646476B2 (ja) 1999-11-29 2000-11-23 ディスクドライブユニット

Country Status (7)

Country Link
US (1) US6826046B1 (ja)
EP (1) EP1234308B1 (ja)
JP (1) JP4646476B2 (ja)
DE (1) DE60028410T2 (ja)
GB (1) GB9928211D0 (ja)
MY (1) MY123430A (ja)
WO (1) WO2001041148A1 (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005532643A (ja) * 2002-07-05 2005-10-27 ザイラテックス・テクノロジー・リミテッド ディスクドライブユニット用の取り付けデバイス、解除可能ファスナ、およびディスクドライブユニットのテスト方法
JP2011518403A (ja) * 2008-04-17 2011-06-23 テラダイン、 インコーポレイテッド ディスクドライブ試験システム内の温度制御
JP2012113814A (ja) * 2004-09-17 2012-06-14 Xyratex Technology Ltd ディスクドライブ用筐体および装置

Families Citing this family (49)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7054150B2 (en) 2001-08-29 2006-05-30 Xyratex Technology Limited Mounting for disk drive unit and method of handling
WO2003021598A1 (en) 2001-08-29 2003-03-13 Xyratex Technology Limited, Mounting for disk drive unit and method of handling
CN1842870B (zh) 2003-09-08 2011-04-13 克西拉特克斯技术有限公司 温度控制装置、盘驱动单元测试设备和测试或操作多个盘驱动单元的方法
CN1846271B (zh) 2003-09-08 2010-05-12 克西拉特克斯技术有限公司 盘驱动单元的支架、保持装置和装载盘驱动单元的方法
EP1672642A1 (en) * 2004-12-20 2006-06-21 Harman Becker Automotive Systems GmbH Electronic built-in system
US8755177B2 (en) * 2005-09-16 2014-06-17 Xyratex Technology Limited Method and apparatus for controlling the temperature of a disk drive during manufacture
US7483269B1 (en) 2005-09-30 2009-01-27 Maxtor Corporation Test rack adapter for hard disk drive
US7447011B2 (en) * 2005-12-01 2008-11-04 Xyratex Technology Limited Data storage device carrier and carrier tray
US7558063B2 (en) * 2007-04-26 2009-07-07 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Server with a flexible cooling scheme
CN101295201B (zh) * 2007-04-26 2011-11-09 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 数据存储器框架
US7996174B2 (en) 2007-12-18 2011-08-09 Teradyne, Inc. Disk drive testing
US8549912B2 (en) 2007-12-18 2013-10-08 Teradyne, Inc. Disk drive transport, clamping and testing
US7975045B2 (en) * 2007-12-26 2011-07-05 Verizon Patent And Licensing Inc. Method and system for monitoring and analyzing of IP networks elements
US8041449B2 (en) 2008-04-17 2011-10-18 Teradyne, Inc. Bulk feeding disk drives to disk drive testing systems
US8238099B2 (en) 2008-04-17 2012-08-07 Teradyne, Inc. Enclosed operating area for disk drive testing systems
US8305751B2 (en) 2008-04-17 2012-11-06 Teradyne, Inc. Vibration isolation within disk drive testing systems
US8160739B2 (en) 2008-04-17 2012-04-17 Teradyne, Inc. Transferring storage devices within storage device testing systems
US7848106B2 (en) * 2008-04-17 2010-12-07 Teradyne, Inc. Temperature control within disk drive testing systems
US8095234B2 (en) 2008-04-17 2012-01-10 Teradyne, Inc. Transferring disk drives within disk drive testing systems
US8102173B2 (en) 2008-04-17 2012-01-24 Teradyne, Inc. Thermal control system for test slot of test rack for disk drive testing system with thermoelectric device and a cooling conduit
US8117480B2 (en) 2008-04-17 2012-02-14 Teradyne, Inc. Dependent temperature control within disk drive testing systems
US7945424B2 (en) 2008-04-17 2011-05-17 Teradyne, Inc. Disk drive emulator and method of use thereof
WO2009148942A2 (en) 2008-06-03 2009-12-10 Teradyne, Inc. Processing storage devices
JP4727709B2 (ja) * 2008-11-12 2011-07-20 株式会社日立製作所 記憶制御装置
US8547123B2 (en) 2009-07-15 2013-10-01 Teradyne, Inc. Storage device testing system with a conductive heating assembly
US7920380B2 (en) 2009-07-15 2011-04-05 Teradyne, Inc. Test slot cooling system for a storage device testing system
US8116079B2 (en) * 2009-07-15 2012-02-14 Teradyne, Inc. Storage device testing system cooling
US8466699B2 (en) 2009-07-15 2013-06-18 Teradyne, Inc. Heating storage devices in a testing system
US7995349B2 (en) * 2009-07-15 2011-08-09 Teradyne, Inc. Storage device temperature sensing
US8687356B2 (en) 2010-02-02 2014-04-01 Teradyne, Inc. Storage device testing system cooling
US8628239B2 (en) * 2009-07-15 2014-01-14 Teradyne, Inc. Storage device temperature sensing
US9779780B2 (en) 2010-06-17 2017-10-03 Teradyne, Inc. Damping vibrations within storage device testing systems
US8687349B2 (en) 2010-07-21 2014-04-01 Teradyne, Inc. Bulk transfer of storage devices using manual loading
US9001456B2 (en) 2010-08-31 2015-04-07 Teradyne, Inc. Engaging test slots
US9095075B2 (en) * 2012-11-27 2015-07-28 Hamilton Sundstrand Corporation Enclosure for electronic components with enhanced cooling
US9459312B2 (en) 2013-04-10 2016-10-04 Teradyne, Inc. Electronic assembly test system
CN104569506B (zh) * 2014-11-19 2017-10-20 苏州欧康诺电子科技股份有限公司 一种用于超高速磁电硬盘检测的接口适配器
US10725091B2 (en) 2017-08-28 2020-07-28 Teradyne, Inc. Automated test system having multiple stages
US11226390B2 (en) 2017-08-28 2022-01-18 Teradyne, Inc. Calibration process for an automated test system
US10948534B2 (en) 2017-08-28 2021-03-16 Teradyne, Inc. Automated test system employing robotics
US10845410B2 (en) 2017-08-28 2020-11-24 Teradyne, Inc. Automated test system having orthogonal robots
US10983145B2 (en) 2018-04-24 2021-04-20 Teradyne, Inc. System for testing devices inside of carriers
US10775408B2 (en) 2018-08-20 2020-09-15 Teradyne, Inc. System for testing devices inside of carriers
US11899042B2 (en) 2020-10-22 2024-02-13 Teradyne, Inc. Automated test system
US11953519B2 (en) 2020-10-22 2024-04-09 Teradyne, Inc. Modular automated test system
US11754596B2 (en) 2020-10-22 2023-09-12 Teradyne, Inc. Test site configuration in an automated test system
US11754622B2 (en) 2020-10-22 2023-09-12 Teradyne, Inc. Thermal control system for an automated test system
US11867749B2 (en) 2020-10-22 2024-01-09 Teradyne, Inc. Vision system for an automated test system
US12007411B2 (en) 2021-06-22 2024-06-11 Teradyne, Inc. Test socket having an automated lid

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0589655A (ja) * 1991-04-15 1993-04-09 Hitachi Ltd 磁気デイスク装置

Family Cites Families (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4685303A (en) 1985-07-15 1987-08-11 Allen-Bradley Company, Inc. Disc drive isolation system
US4888549A (en) * 1987-10-30 1989-12-19 Wilson Laboratories, Inc. System for testing individually a plurality of disk drive units
US4967155A (en) * 1988-04-08 1990-10-30 Micropolis Corporation Environmentally controlled media defect detection system for Winchester disk drives
AU608996B2 (en) * 1988-09-01 1991-04-18 Fujitsu Limited Rotating disc device
DE69131144T2 (de) 1990-11-30 1999-08-05 Fujitsu Ltd Plattenspeicherungseinheit mit einer Mehrzahl von Plattenmodulen
US5414591A (en) * 1991-04-15 1995-05-09 Hitachi, Ltd. Magnetic disk storage system
US5263537A (en) 1992-04-27 1993-11-23 International Business Machines Corporation Oscillating cooling system
JP3213156B2 (ja) * 1994-03-15 2001-10-02 富士通株式会社 電子機器
US5851143A (en) * 1996-05-10 1998-12-22 Thermal Industries Disk drive test chamber
KR100214308B1 (ko) * 1996-05-11 1999-08-02 윤종용 하드디스크 드라이브의 테스트장치
KR100209018B1 (ko) * 1996-09-16 1999-07-15 윤종용 보조기억장치 테스트용 오븐
US6526841B1 (en) * 1999-08-02 2003-03-04 Pemstar, Inc. Environmental test chamber and a carrier for use therein
US6327150B1 (en) * 2000-02-10 2001-12-04 Maxtor Corporation Disk drive test rack with universal electrical connector

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0589655A (ja) * 1991-04-15 1993-04-09 Hitachi Ltd 磁気デイスク装置

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005532643A (ja) * 2002-07-05 2005-10-27 ザイラテックス・テクノロジー・リミテッド ディスクドライブユニット用の取り付けデバイス、解除可能ファスナ、およびディスクドライブユニットのテスト方法
JP4681294B2 (ja) * 2002-07-05 2011-05-11 ザイラテックス・テクノロジー・リミテッド ディスクドライブユニット用の台座デバイス、解除可能ファスナ、およびディスクドライブユニットのテスト方法
JP2012113814A (ja) * 2004-09-17 2012-06-14 Xyratex Technology Ltd ディスクドライブ用筐体および装置
JP2011518403A (ja) * 2008-04-17 2011-06-23 テラダイン、 インコーポレイテッド ディスクドライブ試験システム内の温度制御
US8482915B2 (en) 2008-04-17 2013-07-09 Teradyne, Inc. Temperature control within disk drive testing systems

Also Published As

Publication number Publication date
MY123430A (en) 2006-05-31
DE60028410D1 (de) 2006-07-06
JP4646476B2 (ja) 2011-03-09
EP1234308A1 (en) 2002-08-28
US6826046B1 (en) 2004-11-30
DE60028410T2 (de) 2007-06-06
WO2001041148A1 (en) 2001-06-07
EP1234308B1 (en) 2006-05-31
GB9928211D0 (en) 2000-01-26

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2003515871A (ja) ディスクドライブユニット
US7612996B2 (en) Temperature control device, disk drive unit test apparatus, and a method of testing or operating a plurality of disk drive units
US11158355B2 (en) Data storage library with positive pressure system
SG176842A1 (en) Storage device testing system cooling
US20050103034A1 (en) Cooling air flow control valve for burn-in system
JPS634483A (ja) 磁気デイスク装置
KR100655206B1 (ko) 광 디스크 장치
JP3072039B2 (ja) 外部記憶装置の冷却構造
JP2004061107A (ja) 電子レンジ
JP2007107919A (ja) バーンイン装置及びその制御方法
JP4186867B2 (ja) ディスク装置
JPH0276299A (ja) Pcbラック装置
JP2799183B2 (ja) 集合型ディスク記憶装置
KR20190040816A (ko) 번인 장치
JP6123470B2 (ja) 自動販売機
JP2004127467A (ja) 記憶装置及び記憶装置を搭載する電子装置
JP3095522B2 (ja) ディスク装置
JPH09231739A (ja) 記録媒体ドライブ装置
JPH11282546A (ja) 電気部品を内蔵した機器の温度制御装置
JPH04299794A (ja) 自動販売機
JPH08226660A (ja) 空気調和機の室内機
JPH0385695A (ja) 自動販売機の内部送風装置
JPH087127B2 (ja) 冷熱衝撃試験装置
JP2000231783A (ja) ディスク装置及びその冷却方法
JP2003240324A (ja) 一体型空気調和機

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20070605

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20100601

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20100607

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20100906

A602 Written permission of extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602

Effective date: 20100913

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20101007

A602 Written permission of extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602

Effective date: 20101015

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20101025

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20101116

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20101207

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20131217

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees