JPH087127B2 - 冷熱衝撃試験装置 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 （産業上の利用分野） 本発明は、冷熱衝撃試験装置、詳しくは、高温室と低
温室及びテスト室を備え、該テスト室を前記高温室又は
低温室に連通させて、前記テスト室内に加熱空気又は冷
却空気を選択的に導入することにより、前記テスト室に
配置する電子部品などの一定時間にわたる高温さらしと
低温さらしとを行うようにした冷熱衝撃試験装置に関す
る。

（従来の技術） 従来、この種冷熱衝撃試験装置は、例えば実公昭58−
24202号公報に記載され、かつ、第10図に示したごと
く、テスト室（Ｔ）に隣接する上下部位に、加熱器
（Ｈ）及び加熱ファン（HF）を備えた高温室（Ａ）と、
蓄冷器（Ｒ）と冷却器（Ｃ）及び冷却ファン（CF）を備
えた低温室（Ｂ）とをそれぞれ形成すると共に、前記テ
スト室（Ｔ）と高温室（Ａ）とを画成する隔壁に、前記
テスト室（Ｔ）側の室内空気を高温室（Ａ）に供給する
供給口（E1）と、この高温室（Ａ）で加熱された加熱空
気を前記テスト室（Ｔ）側に吹出す吹出口（E2）とを設
けて、これら供給口（E1）と吹出口（E2）とに、それぞ
れ第１及び第２切換ダンパ（D1）（D2）を開閉可能に設
ける一方、前記テスト室（Ｔ）と低温室（Ｂ）とを画成
する隔壁に、前記テスト室（Ｔ）側の室内空気を低温室
（Ｂ）に供給する供給口（E3）と、この低温室（Ｂ）で
冷却した冷却空気を前記テスト室（Ｔ）側に吹出す吹出
口（E4）とを形成して、これら供給口（E3）と吹出口
（E4）とに、それぞれ第３及び第４切換ダンパ（D3）
（D4）を開閉可能に取付けている。

そして、前記テスト室（Ｔ）で電子部品などの冷熱衝
撃試験を行う場合には、先ず、前記第3,第４切換ダンパ
（D3）（D4）を閉鎖し、前記テスト室（Ｔ）と低温室
（Ｂ）とを遮断した状態で、前記第1,第２切換ダンパ
（D1）（D2）を、同図の仮想線で示したように開放し
て、前記高温室（Ａ）内の加熱空気を前記テスト室
（Ｔ）へと導入することにより、前記電子部品などの所
定時間にわたる高温さらしを行い、次に、前記第1,第２
切換ダンパ（D1）（D2）を閉鎖した後、前記第3,第４切
換ダンパ（D3）（D4）を、同図の仮想線で示したように
開放して、前記低温室（Ｂ）内の冷却空気を前記テスト
室（Ｔ）側へと導入することにより、前記電子部品など
の所定時間にわたる低温さらしを行うのである。また、
以上のように、電子部品などの高温さらしを行うときに
は、前記低温室（Ｂ）において、前記冷却器（Ｃ）によ
る冷却気流を前記蓄冷器（Ｒ）へと循環させて、該蓄冷
器（Ｒ）で蓄熱し、この蓄冷器（Ｒ）で蓄熱された冷却
熱と、前記冷却器（Ｃ）による冷却熱とを、低温さらし
時に、前記テスト室（Ｔ）側に供給して、該テスト室
（Ｔ）内を速やかに冷却するのである。

（発明が解決しようとする課題） 所で、以上のように、電子部品などの低温さらしを行
う場合で、低温さらし開始初期時には、前記蓄冷器
（Ｒ）で蓄熱された冷却熱が、前記冷却器（Ｃ）による
冷却熱と共に前記テスト室（Ｔ）に供給され、該テスト
室（Ｔ）の冷却に寄与するのであるが、一方、低温さら
し開始から一定時間が経過して、前記蓄冷器（Ｒ）の冷
却熱量が放熱されてしまったとき、この蓄冷器（Ｒ）が
逆負荷となって前記冷却器（Ｃ）による冷却熱を奪い、
前記テスト室（Ｔ）の速やかな冷却を妨げたのである。

即ち、後で後述する第９図から明らかなごとく、所定
の高温さらし温度（T1）と低温さらし温度（T2）との間
で電子部品などの冷熱衝撃試験を行う場合には、同図の
直線（イ）で示したような波形サイクルで前記テスト室
（Ｔ）の温度制御を行うことが望ましいが、従来のもの
では、同図の曲線（ハ）で示したように、所定の高温さ
らし温度（T1）から低温さらし温度（T2）にまで冷却す
る場合で、低温さらし開始初期時には、前記蓄冷器
（Ｒ）で蓄熱された冷却熱と前記冷却器（Ｃ）による冷
却熱とが、前記テスト室（Ｔ）に供給されるため、該テ
スト室（Ｔ）が前記直線（イ）に沿って冷却されるのに
対し、前記蓄冷器（Ｒ）による冷却熱量が放熱終了した
地点、つまり、同図（T3）付近から前記直線（イ）に対
して緩やかな冷却勾配となり、前記テスト室（Ｔ）を低
温さらし温度（T2）にまで速やかに冷却できなかったの
である。尚、以上の問題を解決するために、前記テスト
室（Ｔ）の設定温度に対し、能力大に設定された冷却器
（Ｃ）や蓄冷器（Ｒ）の使用が考えられるが、斯くする
ときには、全体構造が大型化したりコスト的にも高くな
るのである。

本発明は以上のような問題に鑑みてなしたもので、そ
の目的は、テスト室を速やかに低温さらし温度にまで冷
却することができる冷熱衝撃試験装置を提供することに
ある。

（課題を解決するための手段） 上記目的を達成するために、本発明は、低温室（３）
と高温室（２）及びテスト室（１）とを有し、前記低温
室（３）内に冷却器（31）を配置すると共に、この冷却
器（31）に対し前記低温室（３）を流れる気流の上流側
に蓄冷器（33）を配置し、高温さらし時蓄冷するように
した冷熱衝撃試験装置において、前記蓄冷器（33）を、
低温さらし時に、前記低温室（３）を流れる気流に対し
て回避させる回避手段（５）を設けると共に、前記蓄冷
器（33）で蓄熱した冷却熱量の放熱終了又は終了近くを
検出して出力する検出手段（６）と、低温さらし時、前
記検出手段（６）からの出力により前記回避手段（５）
を動作させ、前記低温室（３）を流れる気流を前記蓄冷
器（33）をバイパスする気流に切換えるコントローラ
（７）とを備え、且つ、前記蓄冷器（33）を冷却器（3
1）に対し、前記蓄冷器（33）の冷却器（31）への対面
側が、低温室（３）を流れる気流の出口側となるように
配置して、前記蓄冷器（33）の上部に入口通路（35）を
形成すると共に、前記蓄冷器（33）と冷却器（31）との
間に、前記蓄冷器（33）の出口側を閉鎖し、低温室
（３）を流れる気流を、前記蓄冷器（33）をバイパスす
る気流に切換えるダンパー（53）を備え、このダンパー
（53）は、蓄冷器（33）の上部に設ける入口通路（35）
の開放時、該入口通路（35）に介入するフロストキャッ
チグリッド（55）を備えていることを特徴とするもので
ある。

（作用） 低温さらし時には、前記蓄冷器（33）で蓄熱された冷
却熱量の放熱終了又は放熱終了近くが前記検出手段
（６）で検出され、この検出に基づく前記コントローラ
（７）からの出力で前記回避手段（５）が動作されて、
前記低温室（３）を流れる気流が、前記蓄冷器（33）を
バイパスされるのであり、すなわち、ダンパー（53）を
介してバイパス気流への切換えが確実に行われるのであ
り、従って、前記蓄冷器（33）が前記冷却器（31）によ
る冷却熱を奪ったりすることなく、該冷却器（31）によ
る前記テスト室（１）の速やかな冷却が行われる。しか
も、フロストキャッチグリッド（55）で低温室（３）を
流れる気流中のフロスト成分が捕捉され、前記冷却器
（31）や蓄冷器（33）での結氷発生が阻止される。

（実施例） 第１図に示した冷熱衝撃試験装置は、ハウジング（H
G）の内部を断熱隔壁（Ｗ）で３つに区画して、中央部
に電子部品などの冷熱衝撃試験を行うテスト室（１）
を、該テスト室（１）に隣接して上下部位に、高温室
（２）と低温室（３）とをそれぞれ形成すると共に、前
記高温室（２）内に加熱器（21）と加熱ファン（22）を
配置する一方、前記低温室（３）内に、冷却器（31）と
冷却ファン（32）を配置し、かつ、前記冷却器（31）に
対して前記低温室（３）を流れる気流の上流側に蓄冷器
（33）を配置している。尚、前記高温室（２）と低温室
（３）に設ける前記各ファン（22）（32）は、それぞれ
室外側に配設されたモータ（M1）（M2）で回転駆動され
る。

また、前記テスト室（１）と高温室（２）とを画成す
る隔壁（Ｗ）に、前記テスト室（１）の室内空気を高温
室（２）に供給する供給口（11）と、この高温室（２）
で加熱された加熱空気を前記テスト室（１）側に吹出す
吹出口（12）とを設けて、これら供給口（11）と吹出口
（12）とに、それぞれ高温ダンパー（41）（42）を開閉
可能に取付けると共に、前記テスト室（１）と低温室
（３）とを画成する隔壁（Ｗ）に、前記テスト室（１）
側の室内空気を低温室（３）に供給する供給口（13）
と、この低温室（３）で冷却された冷却空気を前記テス
ト室（１）側へと吹出す吹出口（14）とを形成して、こ
れら供給口（13）と吹出口（14）とに、それぞれ低温ダ
ンパー（43）（44）を開閉可能に取付けている。更に、
前記各吹出口（12）（14）における高，低温室（２）
（３）側に、高，低温さらし時に開放される仕切ダンパ
ー（45）（46）を設けている。

第１図に示したものは、本願請求項記載の発明の実施
例と対比するものであるが、このものも、前記低温室
（３）の内部に、低温さらし時、前記蓄冷器（33）を前
記低温室（３）を流れる気流に対し回避させる回避手段
（５）を設けると共に、前記蓄冷器（33）で蓄熱した冷
却熱量の放熱終了又は終了近くを検出する検出手段
（６）と、低温さらし時に、該検出手段（６）からの出
力で前記回避手段（５）を動作させ、前記低温室（３）
を流れる気流を前記蓄冷器（33）をバイパスする気流に
切換えるコントローラ（７）とを設けたのである。

具体的には、前記低温室（３）の内部で前記供給口
（13）近くの隅部に、前記蓄冷器（33）を、下部側に若
干の隙間をあけ、かつ、前記冷却器（31）に対し斜め状
に対向配置すると共に、前記蓄冷器（33）の下部側に出
口通路（34）を形成して、前記低温室（３）を流れる気
流を、前記蓄冷器（33）の冷却器（31）と対向する入口
側から前記出口通路（34）を経て前記冷却器（31）へと
供給するようになす一方、この冷却器（31）と蓄冷器
（33）との間に、前記回避手段（５）を介装するのであ
る。また、前記回避手段（５）には、前記低温室（３）
を流れる気流を、前記蓄冷器（33）をバイパスさせる気
流に切換えたとき、このバイパス気流に対し前記蓄冷器
（33）の入口側を遮断する遮断手段を備えるのである。

以上の回避手段（５）としては、第２図でも明らかに
したごとく、駆動軸（51a）をもったダンパー（51）を
使用し、該ダンパー（51）を前記冷却器（31）と蓄冷器
（33）との間に揺動可能に介装させて、前記ダンパー
（51）の揺動操作で、前記蓄冷器（33）の入口側を遮断
することにより、前記低温室（３）内の気流が前記蓄冷
器（33）に流れることなく、この蓄冷器（33）をバイパ
スさせて、前記冷却器（31）へと直接供給させることが
できるのである。また、前記ダンパー（51）で前記蓄冷
器（33）の入口側を開放することにより、前記低温室
（３）の気流を前記蓄冷器（33）と出口通路（34）とを
経て冷却器（31）に供給循環させるようになす。尚、前
記蓄冷器（33）の入口側で上部位置には、閉鎖板（15）
を設けて、前記ダンパー（51）による閉鎖時に、該ダン
パー（51）と前記閉鎖板（15）とで前記蓄冷器（33）の
入口側を確実に遮断するようにしている。

そして、前記ダンパー（51）に設けた駆動軸（51a）
を、前記ハウジング（HG）を構成する側壁から外方に突
出させ、この突出部位を減速歯車機構（51b）を介して
モータ（M3）に連動連結させると共に、前記検出手段
（６）として例えば温度センサーを使用し、該センサー
を前記出口通路（34）に配置して、低温さらし時に、前
記センサーで前記蓄冷器（33）で蓄熱した冷却熱量の放
熱終了又は終了近くを検出したとき、前記コントローラ
（７）からの出力で前記モータ（M3）を回転制御して、
前記ダンパー（51）で前記蓄冷器（33）の入口側を閉鎖
するようになす。尚、前記ダンパー（51）は、断熱材な
どを貼着一体化した断熱構造となし、このダンパー（5
1）で前記蓄冷器（33）を遮断したとき、該蓄冷器（3
3）側に前記気流の熱が伝導されないようになす。

また、前記ダンパー（51）には、全体が概略く形状と
なるように、前記駆動軸（51a）の下部側に閉鎖部（5
2）を一体状に設けて、低温さらし時で、前記ダンパー
（51）により前記蓄冷器（33）の入口側を遮断したと
き、これと同時に前記閉鎖部（52）で前記出口通路（3
4）を閉鎖し、前記蓄冷器（33）の全体を遮断状態に保
持して、該蓄冷器（33）による熱影響が前記低温室
（３）側の気流に及ぶのを確実に排除するようにしてい
る。尚、前記閉鎖部（52）は、前記ダンパー（51）と必
ずしも一体形成する必要はなく、これら両者をそれぞれ
別部材で形成し、両者をバネなどで連結するようにして
もよいのである。

更に、前記検出手段（６）としては、前述した温度セ
ンサー以外に、例えばタイマーを使用することも可能で
あり、即ち、前記テスト室（１）内における高温さらし
と低温さらしとは、予め設定された一定時間毎に行わ
れ、また、低温さらし時における前記蓄冷器（33）の放
熱終了時間も、予め推定できることから、以上のように
タイマーを使用する場合でも、前記ダンパー（51）によ
る前記蓄冷器（33）の遮断操作が正確に行えるのであ
る。

次に、第１図に示した冷熱衝撃試験装置の使用態様に
ついて説明する。

先ず、前記テスト室（１）内で電子部品などの高温さ
らしを行う場合には、第３図で示したように、前記低温
ダンパー（43）（44）を閉鎖して、前記テスト室（１）
と低温室（３）とを遮断した状態で、前記高温ダンパー
（41）（42）と切換ダンパー（45）とを開放して、前記
高温室（２）内の加熱空気を、同図の矢印で示したよう
に、前記テスト室（１）内へと導入することにより、前
記電子部品などの所定時間にわたる高温さらしが行われ
る。また、以上の高温さらし時には、前記低温室（３）
内において、前記回避手段（５）を構成するダンパー
（51）が開動作されて、前記蓄冷器（33）の入口側が開
放され、この蓄冷器（33）に前記冷却器（31）による冷
却気流が、同図矢印で示したように循環され、前記冷却
器（31）の冷却熱が前記蓄冷器（33）で蓄熱される。

次に、低温さらしを行う場合で、その開始初期時に
は、第４図で示したように、前記高温ダンパー（41）
（42）を閉鎖した後、前記低温ダンパー（43）（44）と
切換ダンパー（46）とをそれぞれ開放し、また、前記ダ
ンパー（51）を前記蓄冷器（33）側に開動作させて、こ
の蓄冷器（33）の入口側を開放させ、前記テスト室
（１）内の空気を、同図の矢印で示したように、前記蓄
冷器（33）から出口通路（34）及び冷却器（31）を経て
前記テスト室（１）へと循環させることにより、前記冷
却器（31）による冷却熱と、前記蓄冷器（33）で蓄熱さ
れた冷却熱とで前記テスト室（１）内が速やかに冷却さ
れるのである。

しかして、以上の低温さらし時で、その開始から一定
時間が経過して、前記蓄冷器（33）で蓄熱された冷却熱
量が放熱終了したようなとき、前記温度センサーなどの
検出手段（６）からコントローラ（７）に検出信号が出
力され、該コントローラ（７）で前記ダンパー（51）
が、第５図で示したように閉動作され、前記蓄冷器（3
3）の入口側が遮断されると同時に、前記ダンパー（5
1）の閉鎖部（52）で前記出口通路（34）が閉鎖され、
前記テスト室（１）から低温室（３）側に至る空気が、
同図の矢印で示したように、前記蓄冷器（33）を通過す
ることなく、該蓄冷器（33）をバイパスされるのであ
り、従って、前記蓄冷器（33）が前記冷却器（31）によ
る冷却熱を奪ったりすることなく、該冷却器（31）によ
る前記テスト室（１）の速やかな冷却が行われ、斯かる
テスト室（１）内で前記電子部品などの所定時間にわた
る低温さらしが行われる。

第９図は、縦軸に温度を、また、横軸に時間をとり、
テスト室（１）内で所定の高温さらし温度（T1）と低温
さらし温度（T2）との間で冷熱衝撃試験を行う場合の温
度制御グラフを示し、該図において、直線（イ）は前記
テスト室（１）の理想制御サイクルを、点線で示す曲線
（ロ）は本発明による制御サイクルを、また、二点鎖線
で示す曲線（ハ）は従来の制御サイクルをそれぞれ示し
ている。

しかして、従来では、前記曲線（ハ）で示したよう
に、所定の高温さらし温度（T1）から低温さらし温度
（T2）にまで冷却する場合で、低温さらし開始から一定
時間が経過して、前記蓄冷器（33）で蓄熱された冷却熱
量が放熱終了した地点（T3）の付近から、前記直線
（イ）に対し緩やかな冷却勾配となって、前記テスト室
（１）を低温さらし温度（T2）にまで速やかに冷却でき
なかったのに対し、本発明による場合には、前記曲線
（ロ）で示したように、ほぼ前記直線（イ）に沿って前
記テスト室（１）の冷却が速やかに行われるのである。

所で、前記各吹出口（12）（14）に、前記高，低温ダ
ンパー（42）（44）と対向状に配設する前記各仕切ダン
パー（45）（46）は、これら各ダンパー（42）（45）及
び（44）（46）をそれぞれ連動機構（８）を介して互い
に連動させるのであり、これら各連動機構（８）は同一
のものを使用するために、その一つの連動機構（８）に
ついてのみ説明する。

即ち、前記連動機構（８）は、第６図で示したよう
に、前記ハウジング（HG）を構成する側壁外部側にアク
チュエータ（81）を取付け、該アクチュエータ（81）に
設けたロッド（82）の先端側に、前記ハウジング（HG）
の側壁から内部へと延び、前記低温ダンパー（44）に連
結される操作軸（83）を取付けると共に、前記低温ダン
パー（44）と仕切ダンパー（46）との間に、長さ方向中
間部位が軸杆（84）を介して枢支された第１連結杆（8
5）を配設する一方、前記ダンパー（44）（46）の内面
側に、それぞれ第２及び第３連結杆（86）（87）を連結
して、これら各連結杆（86）（87）の長さ方向他端側
を、前記第１連結杆（85）の両側に連結する。そして、
前記アクチュエータ（81）の進出動作で、同図の仮想線
で示したように、前記低温ダンパー（44）を開動作させ
るとき、前記各連結杆（85）（86）（87）をそれぞれ介
して前記仕切ダンパー（46）を共に開動作させるのであ
る。

次に、本願請求項記載の発明の実施例について説明す
る。すなわち、第７図で示したように、前記低温室
（３）内における前記供給口（13）の近くに、前記蓄冷
器（33）を、前記ハウジング（HG）の側壁との間に所定
の隙間をあけて、前記冷却器（31）と対向状に配置する
と共に、前記蓄冷器（33）の上部側に入口通路（35）を
形成して、前記低温室（３）を流れる気流を、前記入口
通路（35）を経て前記蓄冷器（33）のハウジング側壁と
対向する入口側から導入し、前記蓄冷器（33）の冷却器
（31）と対面する出口側から、該冷却器（31）へと供給
するようになす一方、この冷却器（31）と蓄冷器（33）
との間に、前記回避手段（５）として、前記低温室
（３）を流れる気流を前記蓄冷器（33）をバイパスする
気流に選択的に切換可能としたダンパー（53）を揺動可
能に介装させるようにしているのである。

更に、前記ダンパー（53）には、第８図でも明らかに
したごとく、全体が概略く形状となるように、その幅方
向一側端に閉鎖部（54）を一体状に設けて、低温さらし
時で、前記ダンパー（53）により前記蓄冷器（33）の出
口側を遮断したとき、これと同時に前記閉鎖部（54）で
前記入口通路（35）を閉鎖し、前記蓄冷器（33）の全体
を遮断状態に保持して、該蓄冷器（33）による熱影響が
前記低温室（３）側の気流に及ぶのを確実に排除するよ
うになす。

そして、第７図の実線で示したように、前記低温ダン
パー（43）（44）と仕切ダンパー（46）とを共に閉鎖し
て、前記テスト室（１）内の高温さらしと同時に、前記
低温室（３）内で前記蓄冷器（33）による蓄熱を行うと
き、また、同図の一点鎖線で示したように、前記低温ダ
ンパー（43）（44）と仕切ダンパー（46）とを共に開放
して、前記テスト室（１）内の低温さらしを行う場合
で、その開始初期時には、前記ダンパー（53）を、同図
実線のように揺動させて、前記蓄冷器（33）の出口側を
開放し、かつ、前記閉鎖部（54）を入口通路（35）から
待避させることにより、前記低温室（３）内の気流を、
前記入口通路（35）から蓄冷器（33）を経て冷却器（3
1）へと循環させ、前記蓄冷器（33）による蓄熱と、こ
の蓄冷器（33）と前記冷却器（31）との冷却熱による前
記テスト室（１）内の低温さらしとをそれぞれ行うので
ある。また、以上の低温さらし時で、前記蓄冷器（33）
で蓄熱された冷却熱量が放熱終了したようなとき、前記
ダンパー（53）を、同図仮想線のように揺動させて、前
記蓄冷器（33）の出口側を閉鎖し、かつ、前記閉鎖部
（54）で入口通路（35）を閉鎖することにより、前記低
温室（３）内の気流を前記蓄冷器（33）に供給すること
なく、この蓄冷器（33）をバイパスさせて、該蓄冷器
（33）による熱影響を排除し、前記冷却器（31）による
冷却熱のみで前記テスト室（１）の冷却を行うのであ
る。

また、前記ダンパー（53）と閉鎖部（54）との中間部
には、外方に向けてほぼ直交状に突出する金網などから
成るフロストキャッチグリッド（55）を一体状に取付け
る。そして、前記ダンパー（53）で前記蓄冷器（33）の
出口側を開放し、かつ、前記閉鎖部（54）で前記入口通
路（35）を開放したときに、第７図の実線で示したよう
に、前記グリッド（55）を前記入口通路（35）へと介入
させて、このグリッド（55）で前記低温室（３）内を流
れる気流中のフロスト成分を捕捉することにより、前記
冷却器（31）や蓄冷器（33）での結氷の発生を未然に阻
止するのである。また、前記ダンパー（53）で蓄冷器
（33）の出口側を閉鎖し、かつ、前記閉鎖部（54）で入
口通路（35）を閉鎖したときに、同図の仮想線で示した
ように、前記グリッド（55）を前記冷却器（31）と蓄冷
器（33）との中間上方部へと斜め状に回転させて、前記
グリッド（55）で捕捉したフロスト成分を落下除去する
のである。

（発明の効果） 以上説明したように、本発明の冷熱衝撃試験装置で
は、低温さらし時には、蓄冷器（33）で蓄熱された冷却
熱量の放熱終了又は放熱終了近くが検出手段（６）で検
出され、この検出に基づくコントローラ（７）からの出
力で回避手段（５）が動作されて、低温室（３）を流れ
る気流が、蓄冷器（33）をバイパスされるのであり、す
なわち、ダンパー（53）を介してバイパス気流への切換
えが確実に行われるのであり、従って、蓄冷器（33）が
冷却器（31）による冷却熱を奪ったりすることなく、該
冷却器（31）によるテスト室（１）の速やかな冷却が行
われるのであるし、しかも、フロストキャッチグリッド
（55）で低温室（３）を流れる気流中のフロスト成分が
捕捉され、冷却器（31）や蓄冷器（33）での結氷発生が
阻止されるのである。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明にかかる冷熱衝撃試験装置の全体構成を
示す縦断面図、第２図はダンパー駆動部の断面図、第３
図〜第５図は第１図のものによる試験態様を説明する一
部分の断面図、第６図は各ダンパーの開閉機構を示す図
面、第７図は本願請求項にかかる発明の実施例を示す一
部省略断面図、第８図は同実施例で使用するダンパーの
斜視図、第９図は冷熱衝撃試験時におけるテスト室内の
温度制御グラフ、第10図は従来例を示す断面図である。 （１）……テスト室 （２）……高温室 （３）……低温室 （31）……冷却器 （33）……蓄冷器 （34）……出口通路 （35）……入口通路 （５）……回避手段 （51,53）……ダンパー （52,54）……閉鎖部 （55）……フロストキャッチグリッド （６）……検出手段 （７）……コントローラ

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】低温室（３）と高温室（２）及びテスト室
   （１）とを有し、前記低温室（３）内に冷却器（31）を
   配置すると共に、この冷却器（31）に対し前記低温室
   （３）を流れる気流の上流側に蓄冷器（33）を配置し、
   高温さらし時蓄冷するようにした冷熱衝撃試験装置にお
   いて、前記蓄冷器（33）を、低温さらし時に、前記低温
   室（３）を流れる気流に対し回避させる回避手段（５）
   を設けると共に、前記蓄冷器（33）で蓄熱した冷却熱量
   の放熱終了又は終了近くを検出して出力する検出手段
   （６）と、低温さらし時、前記検出手段（６）からの出
   力により、前記回避手段（５）を動作させ、前記低温室
   （３）を流れる気流を前記蓄冷器（33）をバイパスする
   気流に切換えるコントローラ（７）とを備え、且つ、前
   記蓄冷器（33）を冷却器（31）に対し、前記蓄冷器（3
   3）の冷却器（31）への対面側が、低温室（３）を流れ
   る気流の出口側となるように配置して、前記蓄冷器（3
   3）の上部に入口通路（35）を形成すると共に、前記蓄
   冷器（33）と冷却器（31）との間に、前記蓄冷器（33）
   の出口側を閉鎖し、低温室（３）を流れる気流を、前記
   蓄冷器（33）をバイパスする気流に切換えるダンパー
   （53）を備え、このダンパー（53）は、蓄冷器（33）の
   上部に設ける入口通路（35）の開放時、該入口通路（3
   5）に介入するフロストキャッチグリッド（55）を備え
   ていることを特徴とする冷熱衝撃試験装置。