JP2003331649A - 積層セラミックコンデンサー外部電極用銅ペースト組成物 - Google Patents
積層セラミックコンデンサー外部電極用銅ペースト組成物Info
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Abstract
性と高い接着強度が得られる積層セラミックコンデンサ
ー外部電極用銅ペースト組成物を提供すること。 【解決手段】 銅粉末50〜95重量部と、ガラスフリ
ット0.5〜10重量部と、有機ビヒクル3.0〜50
重量部からなる銅ペースト組成物であって、銅粉末が以
下の銅粉末Aと銅粉末Bとを、銅粉末A:銅粉末B=
5:95〜80:20の重量比率で併用する。銅粉末A
は、フレーク状粉末もしくは樹枝状粉末あるいは針状粉
末であり、マイクロトラック法による平均粒径が1.0
〜15.0μmで且つBET比表面積が7000cm2
/g 未満の粉末の中から選ばれたものであり、銅粉末
Bは、球状粉末もしくは粒状粉末で、マイクロトラック
法による平均粒径が1.0〜10.0μmで且つBET
比表面積が7000cm2/g 未満の粉末の中から選ば
れたものである。
Description
されにくく、安定した電気容量値を示し、素体との接着
性、特にNiメッキもしくはSnメッキ等のメッキ処理
を施した後においても高い接着強度が得られる積層セラ
ミックコンデンサー外部電極用銅ペースト組成物に関す
るものである。
ば、図1(a)に示すように、セラミックからなる誘電
体層1内に上下で隣接する内部電極2間に所定間隔を設
けて複数の内部電極2を積層したものからなる素体3
に、図1(b)に示すように、外部電極4、4を接着し
た構成を有している。
外部電極用ペースト組成物としては、例えば内部電極に
Pdを用い、外部電極にAgもしくはAg−Pdペース
トを用いる場合が多いが、Pdは高価であり、近年にお
いては内部電極としてNi、外部電極としてCuといっ
た卑金属を用いることが多い。
u粉末としては、焼成後に良好な電極形状を得るため
に、還元法によって得られる板状粉と、球状粉もしくは
粒状粉とを併用したものが多く見られる。
は、「平均粒径3μm未満でBET比表面積7000c
m2/g 以上の略球形状の金属粉末である球形銅粉末
と、平均粒径3μm以上でBET比表面積7000cm
2/g 未満の扁平形状の金属粉末である扁平銅粉末と
を、球形粉末:扁平粉末=100:0〜50:50の重
量比で配合した導電ペースト」が開示されている。
積層セラミックコンデンサー外部電極用銅ペーストにあ
っては、一般的に、表面が活性な還元銅粉末を主として
用いていることから、焼成時の雰囲気の影響を受け易い
という欠点がある。すなわち、焼成炉内のO2 ドープ量
や焼成時に発生するガスの影響を受けて、導体表面に酸
化物や好ましくない化合物が発生し、電気的特性が低下
する。
ペーストは、ペーストの流動性を改善するために、BE
T比表面積7000cm2/g 以上の球形粉末を用いて
いるので、粉末表面の活性度が高いことにより、焼成炉
内のO2 ドープ量や焼成時に発生するガスの影響を受
けて、焼成後のコンデンサーとしての電気的特性が低下
するという問題がある。
題点に鑑みてなされたものであって、その目的は、焼成
雰囲気の影響を受けにくくて、安定した電気的特性と高
い接着強度を有する積層セラミックコンデンサー外部電
極用銅ペースト組成物を提供することにある。
に本発明の要旨は、銅粉末50〜95重量部と、ガラス
フリット0.5〜10重量部と、有機ビヒクル3.0〜
50重量部からなる銅ペースト組成物であって、銅粉末
が以下の銅粉末Aと銅粉末Bとを、銅粉末A:銅粉末B
=5:95〜80:20の重量比率で併用することを特
徴とする積層セラミックコンデンサー外部電極用銅ペー
スト組成物にある。
または針状粉末であり、マイクロトラック法による平均
粒径が1.0〜15.0μmで且つBET比表面積が7
000cm2/g 未満の粉末の中から選ばれたものであ
る。
で、マイクロトラック法による平均粒径が1.0〜1
0.0μmで且つBET比表面積が7000cm2/g
未満の粉末の中から選ばれたものである。
に必要であり、ガラスフリットは導体と素体との接着強
度を確保するために必要であり、有機ビヒクルは適度の
流動性を確保するために必要なものであるが、本発明
は、BET比表面積が7000cm2/g 未満の銅粉末
を用いることを重要な特徴としており、焼成時の焼成炉
内雰囲気に影響されにくいという理由により、安定した
電気的特性や高い接着強度が得られる。
粉末Aは、フレーク状粉末もしくは樹枝状粉末あるいは
針状粉末であって、マイクロトラック法による平均粒径
が1.0〜15.0μmであるから、適度な焼結性や良
好な塗布形状が得られるという効果が期待でき、銅粉末
Bは、球状粉末もしくは粒状粉末で、マイクロトラック
法による平均粒径が1.0〜10.0μmであるから、
適度な焼結性や内部Ni電極との相互拡散による良好な
接続が得られるという効果が期待できる。
80:20の重量比率で併用することにより、良好な電
気的特性を得ることができる。銅粉末Aが5重量%未満
で銅粉末Bが95重量%超である場合、ペースト粘度が
低くなりすぎるという理由により、素体端部に塗布した
際、角部分の厚みが薄くなるなどの欠陥が生じ、焼成後
に電極クラック等が発生して、所定の電気的特性が得ら
れなくなったり、接着強度が低下したりする。一方、銅
粉末Aが80重量%超で銅粉末Bが20重量%未満であ
る場合、得られるペーストのチクソトロピー性が上昇し
すぎ、素体に塗布した形状がツノ状になったりする形状
不良が発生するのみならず、導体膜密度が低下し、セラ
ミック素体上に導体ペースト組成物を塗布して焼成後、
その導体ペースト組成物上にNiメッキまたはSnメッ
キを施す場合、メッキ液のような酸性溶液が導体内部に
浸透し、導体ペースト組成物の素体への接着強度が低下
するという問題がある。
粉末とガラスフリットと有機ビヒクルを含有しており、
各成分の限定理由は以下の通りである。
の接続不良もしくは導電性不足が起こり、コンデンサー
としての所定の電気特性を得ることができない。一方、
銅粉末が95重量部超では、ペースト自体の粘度が高く
なり、塗布形状が悪化するからである。
焼成後の導体と素体との十分な接着強度を確保できず、
一方、10重量部超では、ガラスフリットが多すぎて内
部電極との接続不良を招くからである。
対する有機ビヒクル中の樹脂量が不足することに伴って
チクソトロピー性が過度に上昇し、塗布形状不良を招く
からであり、一方、50重量部超では、ペースト粘度の
低下およびチクソトロピー性の低下に伴って塗布時のペ
ーストのダレが起こるからである。
ば、水アトマイズ法またはガスアトマイズ法で製造され
た球状銅粉末を撹拌ミルに投入し、粉砕媒体として1/
8〜1/4インチ径のスチールボールを使用し、銅粉末
に対して脂肪酸を重量で0.5〜1%添加し、空気中あ
るいは不活性雰囲気中で粉砕するという方法でフレーク
状に加工した銅粉末を用いることができる。
析出させた銅粉末を用いることができ、銅粉末Aの針状
粉末は、その樹枝状粉末を針状に粉砕して得ることがで
きる。
アトマイズ法またはガスアトマイズ法で製造された球状
銅粉末や、電解法で析出させた銅粉末をジェットミル等
で粉砕するという方法で球状または粒状に加工した粉
末、もしくは特開平4−88104号公報に記載されて
いるように直接電解法で得られた粒状銅粉末を用いるこ
とができる。
で、焼結性や膜密度の調整のために一定限度内で還元法
で得た銅粉末を使用することが可能であり、銅粉末Bに
対して、マイクロトラック法による平均粒径が0.3〜
10μmである還元法によって得られた球状銅粉末Cを
併用することができるが、銅粉末Bと銅粉末CのBET
比表面積の加重平均が7000cm2/g 以上となるよ
うに銅粉末Cを配合すると、焼成雰囲気の影響を受けや
すくなり、不良率(容量抜け)が増加する。そこで、銅
粉末Bと銅粉末CのBET比表面積の加重平均が700
0cm2/g 未満となるように銅粉末Cを配合するのが
好ましい。
の接着性を確保するためのもので、ZnO・PbO・B
2O3系、ZnO・B2O3系、ZnO・B2O3・SiO2
系、MgO・B2O3系、MgO・B2O3・SiO2系、
MgO・PbO・SiO2系、BaO・B2O3・SiO2
系、BaO・ZnO・B2O3・SiO2系、TiO・B
aO・B2O3・SiO2系、TiO・ZnO・B2O3・
SiO2系、NaO・B2 O3・SiO2系、NaO・B
2 O3・ZnO系、ZnO・P2O5系、 P2O5・Sn
O系、ZnO・P2O5・SnO系のガラス組成物の1種
類もしくは2種類以上を併用して使用することができ
る。
およびその誘導体、ヒドロキシプロピルセルロースおよ
びその誘導体、ブチラール樹脂またはアクリル樹脂等
を、有機溶剤(テルピネオール、ジヒドロテルピネオー
ル、エチルセルソルブ、ブチルセルソルブ、エチルカル
ビトール、ブチルカルビトールまたはそれらの酢酸エス
テル、ペンタンジオールアルキルエーテル、ジブチルフ
タレートやγ−ブチロラクトン、その他、芳香族系、ア
ルコール、エステル系、ケトン系などの有機溶媒等)に
1.0〜50.0%の濃度で溶解したものを使用でき
る。
はかかる実施例に限定されるものではない。
ト組成物を得、その導体ペースト組成物をX7R−10
0nFの1608素体にディップ法(コンデンサー端部
をペースト溜めに浸漬してペーストを塗布する方法)に
て塗布し、熱風乾燥機中で120℃で10分間乾燥し
た。そして、この導体ペースト組成物を塗布した素体を
コンベア式連続焼成炉にて、酸素濃度5ppm 以下の窒素
雰囲気下または脱灰ゾーン(バインダー樹脂等の有機物
を焼き飛ばすエリア)において酸素濃度100ppm とな
るように窒素中に酸素を導入(またはドープ)し、室温
から800℃まで25分間かけて昇温し、ピーク温度8
00℃にて10分間焼成し、800℃から室温まで25
分間かけて降温した。次に、その素体の導体ペースト組
成物上に以下の条件で電解Niメッキを施した。
体」とは、−25℃〜125℃で静電容量のドリフトが
±15%以下(X7R)で、静電容量が100nF(ナ
ノファラッド)で、断面寸法が1.6mm×0.8mm(1
608)の素体をいう。
る。 「前処理」 8容積%硫酸水溶液(pH2.0以下)に2分間浸漬した。 「メッキ浴」 高pHワット浴(pH4.5〜6.0、浴温45〜70℃、電 流密度2〜10A/dm2) 「温度」 55℃ 「陰極電流密度」 3.0A/dm2 「メッキ時間」 30分間 「メッキ厚さ」 5μm 以下の表2には、銅粉末Aの製造方法、形状、平均粒径
および比表面積を示し、表3には、銅粉末B、Cの製造
方法、形状、平均粒径および比表面積を示す。
〜4の電気的特性と接着強度を測定した結果を示す。
0〜130が好ましい範囲であり、Tanδ(静電損
失)は3.0%以下が好ましい範囲であり、容量抜け
は、0/100が好ましく、プル強度は、5.0N以上
が好ましい範囲である。容量抜けとは、静電容量が設計
仕様を満足しない不良品の数をいい、プル強度とは、作
製したコンデンサーの両端子電極に0.6mm径のSnメ
ッキ銅線を半田付けし、そのSnメッキ銅線を引張試験
したときの引張強度をいう。
焼成時の酸素濃度が低くても(<5ppm )、酸素濃度が
100ppm のときでも、Cp値、Tanδ、容量抜けお
よびプル強度のすべてにおいて良好な値を示している。
元法によって得られた銅粉末のみを併用し、しかも、そ
の還元法によって得られた銅粉末のBET比表面積の加
重平均が大きいので、焼成時の酸素濃度が多いとき(1
00ppm) に、Cp値が低く、Tanδが高く、容量抜
けがあり、プル強度が極めて低い。
られた銅粉末のみを使用しているので、比較例2は、焼
成時の酸素濃度が低くても(<5ppm)、Tanδが高
く、プル強度が低い。また、比較例3は、焼成時の酸素
濃度が低くても(<5ppm)、容量抜けがあり、プル強度
が極めて低い。
元法によって得られた銅粉末のみを併用しているので、
焼成時の酸素濃度が低くても(<5ppm)、Cp値が低
く、Tanδが高く、容量抜けがあり、プル強度が極め
て低い。
構成されており、焼成雰囲気の影響を受けにくくて、安
定した電気的特性と高い接着強度を有する積層セラミッ
クコンデンサー外部電極用銅ペースト組成物を提供する
ことができる。
体の断面図、図1(b)は積層セラミックコンデンサー
の断面図である。
Claims (3)
- 【請求項1】 銅粉末50〜95重量部と、ガラスフリ
ット0.5〜10重量部と、有機ビヒクル3.0〜50
重量部からなる銅ペースト組成物であって、銅粉末が以
下の銅粉末Aと銅粉末Bとを、銅粉末A:銅粉末B=
5:95〜80:20の重量比率で併用することを特徴
とする積層セラミックコンデンサー外部電極用銅ペース
ト組成物。 銅粉末Aは、フレーク状粉末、樹枝状粉末または針状粉
末であり、マイクロトラック法による平均粒径が1.0
〜15.0μmで且つBET比表面積が7000cm2
/g 未満の粉末の中から選ばれたものである。 銅粉末Bは、球状粉末もしくは粒状粉末で、マイクロト
ラック法による平均粒径が1.0〜10.0μmで且つ
BET比表面積が7000cm2/g 未満の粉末の中か
ら選ばれたものである。 - 【請求項2】 銅粉末Aのフレーク状粉末がアトマイズ
法によって得られた球状粉末を物理的な方法でフレーク
状に加工した粉末であり、銅粉末Aの樹枝状粉末もしく
は針状粉末が電解法によって得られた粉末であり、銅粉
末Bの球状粉末もしくは粒状粉末が、アトマイズ法によ
って得られた球状粉末または電解法によって得られた粉
末を球状もしくは粒状に加工して得られた粉末である請
求項1記載の積層セラミックコンデンサー外部電極用銅
ペースト組成物。 - 【請求項3】 銅粉末Bに対して、マイクロトラック法
による平均粒径が0.3〜10μmである還元法によっ
て得られた球状の銅粉末Cを、銅粉末Bと銅粉末CのB
ET比表面積の加重平均が7000cm2/g 未満の範
囲で併用した請求項2記載の積層セラミックコンデンサ
ー外部電極用銅ペースト組成物。
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Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2006126333A1 (ja) | 2005-05-26 | 2006-11-30 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | 積層セラミック電子部品およびその製造方法 |
JP2007018884A (ja) * | 2005-07-07 | 2007-01-25 | Noritake Co Ltd | 導電性ペースト |
US20140233147A1 (en) * | 2013-02-20 | 2014-08-21 | Samsung Electro-Mechanics Co., Ltd. | Multilayer ceramic electronic component |
JP2014239040A (ja) * | 2013-06-07 | 2014-12-18 | ヘレウス プレシャス メタルズ ノース アメリカ コンショホーケン エルエルシー | 窒化アルミニウム基板用の厚盛りプリント銅ペースト |
KR101742033B1 (ko) | 2016-04-18 | 2017-06-15 | (주)창성 | Uv 경화를 이용한 내압착용 전극 페이스트 조성물 및 이를 이용한 칩부품 제조 방법 |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001220607A (ja) * | 1999-12-01 | 2001-08-14 | Dowa Mining Co Ltd | 銅粉および銅粉の製法 |
JP2002015622A (ja) * | 2000-06-30 | 2002-01-18 | Fukuda Metal Foil & Powder Co Ltd | 導電ペースト用銅粉末及びその製造方法 |
JP2002056717A (ja) * | 2000-08-10 | 2002-02-22 | Shoei Chem Ind Co | 積層セラミック電子部品用端子電極ペースト |
-
2002
- 2002-05-15 JP JP2002139977A patent/JP3965075B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001220607A (ja) * | 1999-12-01 | 2001-08-14 | Dowa Mining Co Ltd | 銅粉および銅粉の製法 |
JP2002015622A (ja) * | 2000-06-30 | 2002-01-18 | Fukuda Metal Foil & Powder Co Ltd | 導電ペースト用銅粉末及びその製造方法 |
JP2002056717A (ja) * | 2000-08-10 | 2002-02-22 | Shoei Chem Ind Co | 積層セラミック電子部品用端子電極ペースト |
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2006126333A1 (ja) | 2005-05-26 | 2006-11-30 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | 積層セラミック電子部品およびその製造方法 |
US7612983B2 (en) | 2005-05-26 | 2009-11-03 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | Monolithic ceramic electronic component and method for manufacturing the same |
JP2007018884A (ja) * | 2005-07-07 | 2007-01-25 | Noritake Co Ltd | 導電性ペースト |
US20140233147A1 (en) * | 2013-02-20 | 2014-08-21 | Samsung Electro-Mechanics Co., Ltd. | Multilayer ceramic electronic component |
US9190207B2 (en) * | 2013-02-20 | 2015-11-17 | Samsung Electro-Mechanics Co., Ltd. | Multilayer ceramic electronic component having external electrodes which include a metal layer and conductive resin layer |
JP2014239040A (ja) * | 2013-06-07 | 2014-12-18 | ヘレウス プレシャス メタルズ ノース アメリカ コンショホーケン エルエルシー | 窒化アルミニウム基板用の厚盛りプリント銅ペースト |
KR101742033B1 (ko) | 2016-04-18 | 2017-06-15 | (주)창성 | Uv 경화를 이용한 내압착용 전극 페이스트 조성물 및 이를 이용한 칩부품 제조 방법 |
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