JP2003331649A - 積層セラミックコンデンサー外部電極用銅ペースト組成物 - Google Patents

積層セラミックコンデンサー外部電極用銅ペースト組成物

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Abstract

(57)【要約】 【課題】 焼成雰囲気に影響されない、安定した電気特
性と高い接着強度が得られる積層セラミックコンデンサ
ー外部電極用銅ペースト組成物を提供すること。 【解決手段】 銅粉末50〜95重量部と、ガラスフリ
ット0.5〜10重量部と、有機ビヒクル3.0〜50
重量部からなる銅ペースト組成物であって、銅粉末が以
下の銅粉末Aと銅粉末Bとを、銅粉末A:銅粉末B=
5:95〜80:20の重量比率で併用する。銅粉末A
は、フレーク状粉末もしくは樹枝状粉末あるいは針状粉
末であり、マイクロトラック法による平均粒径が1.0
〜15.0μmで且つBET比表面積が7000cm2
/g 未満の粉末の中から選ばれたものであり、銅粉末
Bは、球状粉末もしくは粒状粉末で、マイクロトラック
法による平均粒径が1.0〜10.0μmで且つBET
比表面積が7000cm2/g 未満の粉末の中から選ば
れたものである。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、焼成雰囲気に影響
されにくく、安定した電気容量値を示し、素体との接着
性、特にNiメッキもしくはSnメッキ等のメッキ処理
を施した後においても高い接着強度が得られる積層セラ
ミックコンデンサー外部電極用銅ペースト組成物に関す
るものである。
【0002】
【従来の技術】積層セラミックコンデンサーとは、例え
ば、図1(a)に示すように、セラミックからなる誘電
体層1内に上下で隣接する内部電極2間に所定間隔を設
けて複数の内部電極2を積層したものからなる素体3
に、図1(b)に示すように、外部電極4、4を接着し
た構成を有している。
【0003】この従来の積層セラミックコンデンサー用
外部電極用ペースト組成物としては、例えば内部電極に
Pdを用い、外部電極にAgもしくはAg−Pdペース
トを用いる場合が多いが、Pdは高価であり、近年にお
いては内部電極としてNi、外部電極としてCuといっ
た卑金属を用いることが多い。
【0004】卑金属系のものにおいて用いられているC
u粉末としては、焼成後に良好な電極形状を得るため
に、還元法によって得られる板状粉と、球状粉もしくは
粒状粉とを併用したものが多く見られる。
【0005】例えば、特開平8−96623号公報に
は、「平均粒径3μm未満でBET比表面積7000c
2/g 以上の略球形状の金属粉末である球形銅粉末
と、平均粒径3μm以上でBET比表面積7000cm
2/g 未満の扁平形状の金属粉末である扁平銅粉末と
を、球形粉末:扁平粉末=100:0〜50:50の重
量比で配合した導電ペースト」が開示されている。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
積層セラミックコンデンサー外部電極用銅ペーストにあ
っては、一般的に、表面が活性な還元銅粉末を主として
用いていることから、焼成時の雰囲気の影響を受け易い
という欠点がある。すなわち、焼成炉内のO2 ドープ量
や焼成時に発生するガスの影響を受けて、導体表面に酸
化物や好ましくない化合物が発生し、電気的特性が低下
する。
【0007】また、特開平8−96623号公報の導電
ペーストは、ペーストの流動性を改善するために、BE
T比表面積7000cm2/g 以上の球形粉末を用いて
いるので、粉末表面の活性度が高いことにより、焼成炉
内のO2 ドープ量や焼成時に発生するガスの影響を受
けて、焼成後のコンデンサーとしての電気的特性が低下
するという問題がある。
【0008】本発明は従来の技術の有するこのような問
題点に鑑みてなされたものであって、その目的は、焼成
雰囲気の影響を受けにくくて、安定した電気的特性と高
い接着強度を有する積層セラミックコンデンサー外部電
極用銅ペースト組成物を提供することにある。
【0009】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に本発明の要旨は、銅粉末50〜95重量部と、ガラス
フリット0.5〜10重量部と、有機ビヒクル3.0〜
50重量部からなる銅ペースト組成物であって、銅粉末
が以下の銅粉末Aと銅粉末Bとを、銅粉末A:銅粉末B
=5:95〜80:20の重量比率で併用することを特
徴とする積層セラミックコンデンサー外部電極用銅ペー
スト組成物にある。
【0010】銅粉末Aは、フレーク状粉末、樹枝状粉末
または針状粉末であり、マイクロトラック法による平均
粒径が1.0〜15.0μmで且つBET比表面積が7
000cm2/g 未満の粉末の中から選ばれたものであ
る。
【0011】銅粉末Bは、球状粉末もしくは粒状粉末
で、マイクロトラック法による平均粒径が1.0〜1
0.0μmで且つBET比表面積が7000cm2/g
未満の粉末の中から選ばれたものである。
【0012】適量の銅粉末は所定の電気特性を得るため
に必要であり、ガラスフリットは導体と素体との接着強
度を確保するために必要であり、有機ビヒクルは適度の
流動性を確保するために必要なものであるが、本発明
は、BET比表面積が7000cm2/g 未満の銅粉末
を用いることを重要な特徴としており、焼成時の焼成炉
内雰囲気に影響されにくいという理由により、安定した
電気的特性や高い接着強度が得られる。
【0013】また、銅粉末はAとBの2種類を用い、銅
粉末Aは、フレーク状粉末もしくは樹枝状粉末あるいは
針状粉末であって、マイクロトラック法による平均粒径
が1.0〜15.0μmであるから、適度な焼結性や良
好な塗布形状が得られるという効果が期待でき、銅粉末
Bは、球状粉末もしくは粒状粉末で、マイクロトラック
法による平均粒径が1.0〜10.0μmであるから、
適度な焼結性や内部Ni電極との相互拡散による良好な
接続が得られるという効果が期待できる。
【0014】そして、銅粉末A:銅粉末B=5:95〜
80:20の重量比率で併用することにより、良好な電
気的特性を得ることができる。銅粉末Aが5重量%未満
で銅粉末Bが95重量%超である場合、ペースト粘度が
低くなりすぎるという理由により、素体端部に塗布した
際、角部分の厚みが薄くなるなどの欠陥が生じ、焼成後
に電極クラック等が発生して、所定の電気的特性が得ら
れなくなったり、接着強度が低下したりする。一方、銅
粉末Aが80重量%超で銅粉末Bが20重量%未満であ
る場合、得られるペーストのチクソトロピー性が上昇し
すぎ、素体に塗布した形状がツノ状になったりする形状
不良が発生するのみならず、導体膜密度が低下し、セラ
ミック素体上に導体ペースト組成物を塗布して焼成後、
その導体ペースト組成物上にNiメッキまたはSnメッ
キを施す場合、メッキ液のような酸性溶液が導体内部に
浸透し、導体ペースト組成物の素体への接着強度が低下
するという問題がある。
【0015】
【発明の実施の形態】本発明の銅ペースト組成物は、銅
粉末とガラスフリットと有機ビヒクルを含有しており、
各成分の限定理由は以下の通りである。
【0016】銅粉末が50重量部未満では、内部電極と
の接続不良もしくは導電性不足が起こり、コンデンサー
としての所定の電気特性を得ることができない。一方、
銅粉末が95重量部超では、ペースト自体の粘度が高く
なり、塗布形状が悪化するからである。
【0017】ガラスフリットが0.5重量部未満では、
焼成後の導体と素体との十分な接着強度を確保できず、
一方、10重量部超では、ガラスフリットが多すぎて内
部電極との接続不良を招くからである。
【0018】有機ビヒクルが3重量部未満では、粉末に
対する有機ビヒクル中の樹脂量が不足することに伴って
チクソトロピー性が過度に上昇し、塗布形状不良を招く
からであり、一方、50重量部超では、ペースト粘度の
低下およびチクソトロピー性の低下に伴って塗布時のペ
ーストのダレが起こるからである。
【0019】銅粉末Aのフレーク状粉末としては、例え
ば、水アトマイズ法またはガスアトマイズ法で製造され
た球状銅粉末を撹拌ミルに投入し、粉砕媒体として1/
8〜1/4インチ径のスチールボールを使用し、銅粉末
に対して脂肪酸を重量で0.5〜1%添加し、空気中あ
るいは不活性雰囲気中で粉砕するという方法でフレーク
状に加工した銅粉末を用いることができる。
【0020】また、銅粉末Aの樹枝状粉末は、電解法で
析出させた銅粉末を用いることができ、銅粉末Aの針状
粉末は、その樹枝状粉末を針状に粉砕して得ることがで
きる。
【0021】銅粉末Bの球状粉末または粒状粉末は、水
アトマイズ法またはガスアトマイズ法で製造された球状
銅粉末や、電解法で析出させた銅粉末をジェットミル等
で粉砕するという方法で球状または粒状に加工した粉
末、もしくは特開平4−88104号公報に記載されて
いるように直接電解法で得られた粒状銅粉末を用いるこ
とができる。
【0022】さらに、還元銅粉末は、表面活性が高いの
で、焼結性や膜密度の調整のために一定限度内で還元法
で得た銅粉末を使用することが可能であり、銅粉末Bに
対して、マイクロトラック法による平均粒径が0.3〜
10μmである還元法によって得られた球状銅粉末Cを
併用することができるが、銅粉末Bと銅粉末CのBET
比表面積の加重平均が7000cm2/g 以上となるよ
うに銅粉末Cを配合すると、焼成雰囲気の影響を受けや
すくなり、不良率(容量抜け)が増加する。そこで、銅
粉末Bと銅粉末CのBET比表面積の加重平均が700
0cm2/g 未満となるように銅粉末Cを配合するのが
好ましい。
【0023】ガラスフリットは、焼成後の導体と素体と
の接着性を確保するためのもので、ZnO・PbO・B
23系、ZnO・B23系、ZnO・B23・SiO2
系、MgO・B23系、MgO・B23・SiO2系、
MgO・PbO・SiO2系、BaO・B23・SiO2
系、BaO・ZnO・B23・SiO2系、TiO・B
aO・B23・SiO2系、TiO・ZnO・B23
SiO2系、NaO・B2 3・SiO2系、NaO・B
2 3・ZnO系、ZnO・P25系、 P25・Sn
O系、ZnO・P25・SnO系のガラス組成物の1種
類もしくは2種類以上を併用して使用することができ
る。
【0024】有機ビヒクルとしては、 エチルセルロース
およびその誘導体、ヒドロキシプロピルセルロースおよ
びその誘導体、ブチラール樹脂またはアクリル樹脂等
を、有機溶剤(テルピネオール、ジヒドロテルピネオー
ル、エチルセルソルブ、ブチルセルソルブ、エチルカル
ビトール、ブチルカルビトールまたはそれらの酢酸エス
テル、ペンタンジオールアルキルエーテル、ジブチルフ
タレートやγ−ブチロラクトン、その他、芳香族系、ア
ルコール、エステル系、ケトン系などの有機溶媒等)に
1.0〜50.0%の濃度で溶解したものを使用でき
る。
【0025】
【実施例】以下に本発明の実施例を説明するが、本発明
はかかる実施例に限定されるものではない。
【0026】以下の表1に示す組成(重量%)のペース
ト組成物を得、その導体ペースト組成物をX7R−10
0nFの1608素体にディップ法(コンデンサー端部
をペースト溜めに浸漬してペーストを塗布する方法)に
て塗布し、熱風乾燥機中で120℃で10分間乾燥し
た。そして、この導体ペースト組成物を塗布した素体を
コンベア式連続焼成炉にて、酸素濃度5ppm 以下の窒素
雰囲気下または脱灰ゾーン(バインダー樹脂等の有機物
を焼き飛ばすエリア)において酸素濃度100ppm とな
るように窒素中に酸素を導入(またはドープ)し、室温
から800℃まで25分間かけて昇温し、ピーク温度8
00℃にて10分間焼成し、800℃から室温まで25
分間かけて降温した。次に、その素体の導体ペースト組
成物上に以下の条件で電解Niメッキを施した。
【0027】なお、「X7R−100nFの1608素
体」とは、−25℃〜125℃で静電容量のドリフトが
±15%以下(X7R)で、静電容量が100nF(ナ
ノファラッド)で、断面寸法が1.6mm×0.8mm(1
608)の素体をいう。
【0028】電解Niメッキ条件は、以下のとおりであ
る。 「前処理」 8容積%硫酸水溶液(pH2.0以下)に2分間浸漬した。 「メッキ浴」 高pHワット浴(pH4.5〜6.0、浴温45〜70℃、電 流密度2〜10A/dm2) 「温度」 55℃ 「陰極電流密度」 3.0A/dm2 「メッキ時間」 30分間 「メッキ厚さ」 5μm 以下の表2には、銅粉末Aの製造方法、形状、平均粒径
および比表面積を示し、表3には、銅粉末B、Cの製造
方法、形状、平均粒径および比表面積を示す。
【0029】
【表1】
【0030】
【表2】
【0031】
【表3】
【0032】以下の表4には、実施例1〜6と比較例1
〜4の電気的特性と接着強度を測定した結果を示す。
【0033】
【表4】
【0034】表4において、Cp値(静電容量)は10
0〜130が好ましい範囲であり、Tanδ(静電損
失)は3.0%以下が好ましい範囲であり、容量抜け
は、0/100が好ましく、プル強度は、5.0N以上
が好ましい範囲である。容量抜けとは、静電容量が設計
仕様を満足しない不良品の数をいい、プル強度とは、作
製したコンデンサーの両端子電極に0.6mm径のSnメ
ッキ銅線を半田付けし、そのSnメッキ銅線を引張試験
したときの引張強度をいう。
【0035】表4に明らかなように、実施例1〜6は、
焼成時の酸素濃度が低くても(<5ppm )、酸素濃度が
100ppm のときでも、Cp値、Tanδ、容量抜けお
よびプル強度のすべてにおいて良好な値を示している。
【0036】しかし、比較例1は、銅粉末Aに対して還
元法によって得られた銅粉末のみを併用し、しかも、そ
の還元法によって得られた銅粉末のBET比表面積の加
重平均が大きいので、焼成時の酸素濃度が多いとき(1
00ppm) に、Cp値が低く、Tanδが高く、容量抜
けがあり、プル強度が極めて低い。
【0037】また、比較例2と3は、還元法によって得
られた銅粉末のみを使用しているので、比較例2は、焼
成時の酸素濃度が低くても(<5ppm)、Tanδが高
く、プル強度が低い。また、比較例3は、焼成時の酸素
濃度が低くても(<5ppm)、容量抜けがあり、プル強度
が極めて低い。
【0038】さらに、比較例4は、銅粉末Aに対して還
元法によって得られた銅粉末のみを併用しているので、
焼成時の酸素濃度が低くても(<5ppm)、Cp値が低
く、Tanδが高く、容量抜けがあり、プル強度が極め
て低い。
【0039】
【発明の効果】本発明のペースト組成物は上記のとおり
構成されており、焼成雰囲気の影響を受けにくくて、安
定した電気的特性と高い接着強度を有する積層セラミッ
クコンデンサー外部電極用銅ペースト組成物を提供する
ことができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】図1(a)は積層セラミックコンデンサー用素
体の断面図、図1(b)は積層セラミックコンデンサー
の断面図である。
【符号の説明】
1…誘電体層 2…内部電極 3…素体 4…外部電極

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 銅粉末50〜95重量部と、ガラスフリ
    ット0.5〜10重量部と、有機ビヒクル3.0〜50
    重量部からなる銅ペースト組成物であって、銅粉末が以
    下の銅粉末Aと銅粉末Bとを、銅粉末A:銅粉末B=
    5:95〜80:20の重量比率で併用することを特徴
    とする積層セラミックコンデンサー外部電極用銅ペース
    ト組成物。 銅粉末Aは、フレーク状粉末、樹枝状粉末または針状粉
    末であり、マイクロトラック法による平均粒径が1.0
    〜15.0μmで且つBET比表面積が7000cm2
    /g 未満の粉末の中から選ばれたものである。 銅粉末Bは、球状粉末もしくは粒状粉末で、マイクロト
    ラック法による平均粒径が1.0〜10.0μmで且つ
    BET比表面積が7000cm2/g 未満の粉末の中か
    ら選ばれたものである。
  2. 【請求項2】 銅粉末Aのフレーク状粉末がアトマイズ
    法によって得られた球状粉末を物理的な方法でフレーク
    状に加工した粉末であり、銅粉末Aの樹枝状粉末もしく
    は針状粉末が電解法によって得られた粉末であり、銅粉
    末Bの球状粉末もしくは粒状粉末が、アトマイズ法によ
    って得られた球状粉末または電解法によって得られた粉
    末を球状もしくは粒状に加工して得られた粉末である請
    求項1記載の積層セラミックコンデンサー外部電極用銅
    ペースト組成物。
  3. 【請求項3】 銅粉末Bに対して、マイクロトラック法
    による平均粒径が0.3〜10μmである還元法によっ
    て得られた球状の銅粉末Cを、銅粉末Bと銅粉末CのB
    ET比表面積の加重平均が7000cm2/g 未満の範
    囲で併用した請求項2記載の積層セラミックコンデンサ
    ー外部電極用銅ペースト組成物。
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