JP2003330082A

JP2003330082A - 電子撮像装置

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Publication number: JP2003330082A
Application number: JP2002142703A
Authority: JP
Inventors: Junichi Ito; 順一伊藤
Original assignee: Olympus Optical Co Ltd
Current assignee: Olympus Corp
Priority date: 2002-05-17
Filing date: 2002-05-17
Publication date: 2003-11-19
Anticipated expiration: 2022-05-17
Also published as: CN101202835B; CN1462145A; CN1303809C; CN100527786C; CN101202835A; CN1984253A; JP3917893B2

Abstract

(57)【要約】【課題】アクセサリ装置の着脱時に構成部材に付着す
る塵を確実に除去するような防塵機能付きの電子撮像装
置を提案する。【解決手段】本発明の電子撮像装置は、例えば記録メ
ディア２７、外部電源７０またはストロボユニット８０
等のアクセサリを着脱可能な装置(カメラ)であり、被写
体の光学像を結像する撮影レンズ１、ＣＣＤユニット２
２、このＣＣＤと撮影レンズとの間に配される構成部材
(防塵ガラス３０)および、このガラスを複数種類の周波
数で振動させ付着した塵を除去する塵除去手段(圧電素
子３１および防塵ガラス駆動回路４０)を有して構成さ
れ、上記アクセサリの何れかの装着に応じた効果的なタ
イミングで圧電素子３１による共振動作により塵除去動
作を効率的に行う。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、撮像素子を有する
電子撮像装置に係わり、例えばカメラシステムなどの構
成部材に付着した塵を除去可能な防塵機能付きの電子撮
像装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】従来、光学装置の防塵機能に関する技術
の一例としては、撮像素子を保護する保護ガラス(防塵
ガラス)を振動させることで、そのガラスに付着した塵
を払い落とすという技術が提案されている。具体的に例
えば、特願平２０００−４０１２９１号に教示されたも
のがあり、これには、ガラス板を振動させる手段として
圧電素子が用いられている。この圧電素子は印加される
電圧に反応して伸縮して、取り付けられたガラス板を所
定の１つの周期で加振するものである。

【０００３】

【発明が解決しようとする課題】種々のアクセサリ装置
が着脱自在に提供されており、運用に際して所望のアク
セサリ装置をその本体に装着して利用される。ただしカ
メラの場合などは、交換レンズの着脱のほかにも、アク
セサリ装置の着脱をするとカメラの内部に外部の空気が
循環してカメラ内部には空気中の塵が進入し、この塵が
レンズガラスやＣＣＤなどの表面に付着することが多
い。しかしながら、上記特願平２０００−４０１２９１
号には、アクセサリ装置の着脱時にガラス板に付着する
塵を除去する点に関しての開示はされていない。

【０００４】そこで本発明の目的は、アクセサリ装置の
着脱時に構成部材に付着する塵を確実に除去するような
防塵機能付きの電子撮像装置を提供することにある。

【０００５】

【課題を解決するための手段】上記課題を解決し目的を
達成するため本発明では次のような手段を講じている。
即ち第１の態様によれば、アクセサリ装置を着脱可能な
電子撮像装置であり、被写体の光学像を電気信号に変換
する撮像手段と、この撮像手段の前面に配される光学素
子と、この光学素子を振動させることによって上記光学
素子の表面に付着した塵を除去する塵除去手段と、を有
し、上記アクセサリ装置の装着に応じて上記塵除去手段
による塵除去動作を行うようにような電子撮像装置を提
案する。

【０００６】第２の態様によれば、被写体の光学像を電
気信号に変換する撮像手段を有する電子撮像装置であ
り、この電子撮像装置に着脱自在なアクセサリ装置と、
上記撮像手段の前面に配置された光学素子と、この光学
素子を振動させる加振手段と、この加振手段に対して周
波数信号を供給することで上記加振手段を駆動する駆動
制御手段と、を有し、この駆動制御手段は、その光学素
子の共振周波数を検出するために上記加振手段を駆動す
る共振周波数検出モードと、上記光学素子に付着した塵
を除去するために上記加振手段を駆動する塵除去モード
とを機能的に有し、アクセサリ装置が装着されたタイミ
ングにおいては、上記共振周波数検出モードおよび塵除
去モードを連続して実行するような電子撮像装置を提案
する。

【０００７】また、第３の態様によれば、被写体の光学
像を電気信号に変換する撮像手段を有する電子撮像装置
であって、この電子撮像装置に着脱自在で上記撮像手段
に光学像を結像させる撮像光学系と、この撮像光学系と
撮像手段との間に配される光学素子と、この光学素子を
振動させる加振手段と、この加振手段に対して周波数信
号を供給することで上記加振手段を駆動する駆動制御手
段と、を有し、この駆動制御手段は、上記撮像光学系が
この電子撮像装置に装着されたら上記加振手段を駆動し
て光学素子を振動させるような電子撮像装置を提案す
る。

【０００８】

【発明の実施の形態】以下、本発明に係わる防塵機能付
きの電子撮像装置として、撮像素子と種々のアクセサリ
を有するカメラシステムを例に挙げ、実施形態に基づき
詳しく説明する。図１には、本発明に係わる一実施形態
のカメラシステム構成をブロック構成図で示す。このカ
メラシステムは、カメラ本体としてのボディユニット１
００と、アクセサリ装置（以下「アクセサリ」と略称す
る）として例えば、交換レンズとしてのレンズユニット
１０と、撮影した画像データを記録しておく記録メディ
ア２７、外部電源７０および外付けのストロボユニット
８０などから主にシステム構成されている。

【０００９】ユーザが所望するレンズユニット１０は、
ボディユニット１００の前面に設けられたレンズマウン
ト(不図示)を介して着脱自在に設定されている。上記の
記録メディア２７は、各種のメモリカードや、外付けの
ＨＤＤ等の外部記録媒体であり、通信コネクタ３５を介
してカメラ本体と通信可能かつ交換可能に装着される。
上記の外部電源７０はＡＣ／ＤＣコンバータ機能を内蔵
し、付属するコネクタ７１とプラグ７２を介して、例え
ば家庭用電源コンセントからカメラ本体側のジャック３
７へ、プラグ７２を差し込むことで必要な電力が供給可
能になっている。

【００１０】また上記のストロボユニット８０は、閃光
電球８１、ＤＣ／ＤＣコンバータ８２、ストロボ制御マ
イクロコンピュータ８３および電池８４から成り、スト
ロボ通信コネクタ８５を介してカメラ本体と通信可能に
装着できる。

【００１１】レンズユニット１０の制御はレンズ制御用
マイクロコンピュータ(以下”Ｌｕｃｏｍ”と称する)５
が行う。ボディユニット１００の制御はボディ制御用マ
イクロコンピュータ(以下“Ｂｕｃｏｍ”と称する)５０
が行う。尚、これらＬｕｃｏｍ５とＢｕｃｏｍ５０と
は、合体時において通信コネクタ６を介して通信可能に
電気的接続がなされる。そしてカメラシステムとしてＬ
ｕｃｏｍ５がＢｕｃｏｍ５０に従属的に協働しながら稼
動するようになっている。

【００１２】レンズユニット１０内には撮影レンズ１と
絞り３が設けられている。撮影レンズ１はレンズ駆動機
構２内に在る図示しないＤＣモータによって駆動され
る。絞り３は絞り駆動機構４内に在る図示しないステッ
ピングモータによって駆動される。Ｌｕｃｏｍ５はＢｕ
ｃｏｍ５０の指令に従ってこれら各モータを制御する。

【００１３】ボディユニット１００内には次の構成部材
が図示のように配設されている。例えば、光学系として
の一眼レフ方式の構成部材（クイックリターンミラー１
１、ペンタプリズム１２、接眼レンズ１３、サブミラー
１４）と、光軸上のフォーカルプレーン式のシャッタ１
５と、上記サブミラー１４からの反射光束を受けて自動
測距する為のＡＦセンサユニット１６が設けられてい
る。また、上記ＡＦセンサユニット１６を駆動制御する
ＡＦセンサ駆動回路１７と、上記クイックリターンミラ
ー１１を駆動制御するミラー駆動機構１８と、上記シャ
ッタ１５の先幕と後幕を駆動するばねをチャージするシ
ャッタチャージ機構１９と、それら先幕と後幕の動きを
制御するシャッタ制御回路２０と、上記ペンタプリズム
１２からの光束に基づき測光処理する測光回路２１が設
けられている。

【００１４】光軸上には、上記光学系を通過した被写体
像を光電変換するためのＣＣＤユニット２２が光電変換
素子として設けられ、更にこのＣＣＤユニット２２と撮
影レンズ１との間に配された光学素子としての防塵ガラ
ス３０によって保護されている。そして、この防塵ガラ
ス３０を所定の周波数で振動させる加振手段の一部とし
て例えば圧電素子３１がその防塵ガラス３０の周縁部に
取り付けられている。

【００１５】また、圧電素子３１は２つの電極（詳細後
述）を有しており、この圧電素子３１が加振手段の一部
としての防塵ガラス駆動回路４０によって防塵ガラス３
０を振動させ、そのガラス表面に付着していた塵を除去
できるように構成されている。よって、このカメラシス
テムはいわゆる「防塵機能付きカメラ」に属する基本構
造をもつ電子カメラである。なお、ＣＣＤユニット２２
の周辺の温度を測定するために、防塵ガラス３０の近傍
には、温度測定回路３３が設けられている。

【００１６】このカメラシステムにはまた、ＣＣＤユニ
ット２２に接続したＣＣＤインターフェイス回路２３、
液晶モニタ２４、記憶領域として設けられたＳＤＲＡＭ
２５、ＦｌａｓｈＲＯＭ２６および記録メディア２７な
どを利用して画像処理する画像処理コントローラ２８と
が設けられ、電子撮像機能と共に電子記録表示機能を提
供できるように構成されている。その他の記憶領域とし
ては、カメラ制御に必要な所定の制御パラメータを記憶
する不揮発性記憶手段として例えばＥＥＰＲＯＭから成
る不揮発性メモリ２９が、Ｂｕｃｏｍ５０からアクセス
可能に設けられている。

【００１７】Ｂｕｃｏｍ５０には、当該カメラの動作状
態を表示出力によってユーザへ告知するための動作表示
用ＬＣＤ５１と、カメラ操作ＳＷ５２とが設けられてい
る。上記カメラ操作ＳＷ５２は、例えばレリーズＳＷ、
モード変更ＳＷおよびパワーＳＷなどの、当該カメラを
操作するために必要な操作釦を含むスイッチ群である。
さらに、電源としての電池５４と、この電源の電圧を、
当該カメラシステムを構成する各回路ユニットが必要と
する電圧に変換して供給する電源回路５３ａが設けら
れ、外部電源７０からジャック３７を介して電流が供給
されたときの電圧変化を検知する電圧検出回路５３ｂが
併設されている。

【００１８】上述した如くに構成されたカメラシステム
では、各部が次のように稼動する。画像処理コントロー
ラ２８は、Ｂｕｃｏｍ５０の指令に従ってＣＣＤインタ
ーフェイス回路２３を制御してＣＣＤユニット２２から
画像データを取り込む。この画像データは画像処理コン
トローラ２８でビデオ信号に変換され、液晶モニタ２４
にて出力表示される。ユーザはこの液晶モニタ２４の表
示画像から、撮影した画像イメージを確認できる。ＳＤ
ＲＡＭ２５は画像データの一時的保管用メモリであり、
画像データが変換される際のワークエリアなどに使用さ
れる。またこの画像データはＪＰＥＧデータに変換され
た後には記録メディア２７に保管されるように設定され
ている。

【００１９】ＣＣＤユニット２２は、透明な防塵ガラス
３０によって保護されている。この防塵ガラス３０の周
縁部にはそのガラス面を加振するための圧電素子３１が
配置されており、この圧電素子３１は、後で詳しく説明
するようにこの為の駆動手段としても働く防塵ガラス駆
動回路４０によって駆動される。ＣＣＤユニット２２お
よび圧電素子３１は、防塵ガラス３０を一面とし且つ破
線で示すような枠体によって囲まれたケース内に一体的
に収納されることが、防塵のためにはより好ましい。

【００２０】通常、温度はガラス製の物材の弾性係数に
影響し、その固有振動数を変化させる要因の１つである
ため、運用時にその温度を計測してその固有振動数の変
化を考慮しなければならない。稼動中に温度上昇が激し
いＣＣＤユニット２２の前面を保護するため設けられた
防塵ガラス３０の温度変化を測定してその時の固有振動
数を予想するほうがよい。したがってこの例の場合、上
記温度測定回路３３に接続されたセンサ(不図示)が、Ｃ
ＣＤユニット２２の周辺温度を測定するため設けられて
いる。尚、そのセンサの温度測定ポイントは、防塵ガラ
ス３０の振動面の極近傍に設定されるのが好ましい。

【００２１】ミラー駆動機構１８は、クイックリターン
ミラー１１をＵＰ位置とＤＯＷＮ位置へ駆動するための
機構であり、このクイックリターンミラー１１がＤＯＷ
Ｎ位置にある時、撮影レンズ１からの光束はＡＦセンサ
ユニット１６側とペンタプリズム１２側へと分割されて
導かれる。ＡＦセンサユニット１６内のＡＦセンサから
の出力は、ＡＦセンサ駆動回路１７を介してＢｕｃｏｍ
５０へ送信されて周知の測距処理が行われる。

【００２２】また、ペンタプリズム１２に隣接する接眼
レンズ１３からはユーザが被写体を目視できる一方、こ
のペンタプリズム１２を通過した光束の一部は測光回路
２１内のホトセンサ(不図示)へ導かれ、ここで検知され
た光量に基づき周知の測光処理が行われる。

【００２３】次に、図２に示す防塵ガラス駆動回路４０
の回路図と、図３のタイムチャートに基づいて、この実
施形態における防塵機能付きカメラの防塵ガラス３０の
駆動およびその動作と制御について説明する。ここに例
示した防塵ガラス駆動回路４０は、図２に示すような回
路構成を有し、その各部において、図３のタイムチャー
トで表わす波形信号（Ｓｉｇ１〜Ｓｉｇ６）が生成さ
れ、それらの信号に基づいて次のように制御される。す
なわち、防塵ガラス駆動回路４０は図２に例示の如く、
Ｎ進カウンタ４１、１／２分周回路４２、インバータ４
３、複数のＭＯＳトランジスタ(Ｑ００,Ｑ０１,Ｑ０２)
４４ａ,４４ｂ,４４ｃ、トランス４５、抵抗(Ｒ００)４
６、Ａ/Ｄコンバータ６０、圧電素子３１の第１の電極
Ａとこれに並ぶ第２の電極Ｂ６１、ダイオード(Ｄ００)
６２、抵抗(Ｒ０１,Ｒ０２)６３，６４、およびコンデ
ンサ(Ｃ００)６５から構成されている。

【００２４】上記トランス４５の１次側に接続されたト
ランジスタ(Ｑ０１)４４ｂおよびトランジスタ(Ｑ０２)
４４ｃのＯＮ／ＯＦＦ切替え動作によって、そのトラン
ス４５の２次側に所定周期の信号(Ｓｉｇ４)が発生する
ように構成されており、この所定周期の信号に基づき２
つの電極Ａ，Ｂを有した圧電素子３１を種々に駆動させ
ながら、効率的な共振周波数を探し出して防塵ガラス３
０を効果的に共振させるようになっている（詳細後
述）。

【００２５】Ｂｕｃｏｍ５０は、制御ポートとして設け
られた２つのＩＯポートＰ＿ＰｗＣｏｎｔ及びＩＯポー
トＤ＿ＮＣｎｔと、このＢｕｃｏｍ５０内部に存在する
クロックジェネレータ５５を介して防塵ガラス駆動回路
４０を次のように制御する。クロックジェネレータ５５
は、圧電素子３１へ印加する信号周波数より充分に早い
周波数でパルス信号(基本クロック信号)をＮ進カウンタ
４１へ出力する。この出力信号が図３中のタイムチャー
トが表わす波形の信号Ｓｉｇ１である。そしてこの基本
クロック信号はＮ進カウンタ４１へ入力される。

【００２６】Ｎ進カウンタ４１は、当該パルス信号をカ
ウントし所定の値“Ｎ”に達する毎にカウント終了パル
ス信号を出力する。即ち、基本クロック信号を１／Ｎに
分周することになる。この出力信号が図３中のタイムチ
ャートが表わす波形の信号Ｓｉｇ２である。この分周さ
れたパルス信号はＨｉｇｈとＬｏｗのデューティ比が
１：１ではない。そこで、１／２分周回路４２を通して
デューティ比を１：１へ変換する。

【００２７】なお、この変換されたパルス信号は図３中
のタイムチャートが表わす波形の信号Ｓｉｇ３に対応す
る。この変換されたパルス信号のＨｉｇｈ状態におい
て、この信号が入力されたＭＯＳトランジスタ(Ｑ０１)
４４ｂがＯＮする。一方、トランジスタ(Ｑ０２)４４ｃ
へはインバータ４３を経由してこのパルス信号が印加さ
れる。したがって、パルス信号のＬｏｗ状態において、
この信号が入力されたトランジスタ(Ｑ０２)４４ｃがＯ
Ｎする。トランス４５の１次側に接続されたトランジス
タ(Ｑ０１)４４ｂとトランジスタ(Ｑ０２)４４ｃが交互
にＯＮすると、２次側には図３中の信号Ｓｉｇ４の如き
周期の信号が発生する。

【００２８】トランス４５の巻き線比は、電源回路５３
のユニットの出力電圧と圧電素子３１の駆動に必要な電
圧から決定される。尚、抵抗(Ｒ００)４６はトランス４
５に過大な電流が流れることを制限するために設けられ
ている。圧電素子３１を駆動するに際しては、トランジ
スタ(Ｑ００)４４ａがＯＮ状態にあり、電源回路５３ユ
ニットからトランス４５のセンタータップに電圧が印加
されていなければならない。図中トランジスタ(Ｑ００)
４４ａのＯＮ／ＯＦＦ制御はＩＯポートのＰ＿ＰｗＣｏ
ｎｔを介して行われる。Ｎ進カウンタ４１の設定値
“Ｎ”はＩＯポートＤ＿ＮＣｎｔから設定できる。よっ
て、Ｂｕｃｏｍ５０は、設定値“Ｎ”を適宜に制御する
ことで、圧電素子３１の駆動周波数を任意に変更可能で
ある。

【００２９】このとき、次式によって周波数は算出可能
である。Ｎ：カウンタへの設定値、ｆｐｌｓ：クロックジェネレータの出力パルスの周波
数、ｆｄｒｖ：圧電素子へ印加される信号の周波数、ｆｄｒｖ＝ｆｐｌｓ／２Ｎ …（１式）尚、この式に基づいた演算は、Ｂｕｃｏｍ５０のＣＰＵ
(制御手段)で行われる。

【００３０】電極Ｂ６１は、ガラス板の振動状態を検出
するための圧電素子の電極である。この電極Ｂ６１から
そのガラス板の振動状態に応じた交流電圧(モニタ信号)
が発生する。これが図３のタイムチャート上のＳｉｇ５
である。電極Ｂ６１に接続するダイオード(Ｄ００)６２
はそのモニタ信号を半波整流するために設けられてい
る。また、このダイオード(Ｄ００)６２に続く抵抗(Ｒ
０１,Ｒ０２)６３，６４およびコンデンサ(Ｃ００)６５
によって、そのモニタ信号の包絡線が形成されている。
これら抵抗(Ｒ０１,Ｒ０２)６３，６４およびコンデン
サ(Ｃ００)６５から成る検出回路によって決定される時
定数は、ガラスの振動周波数によって最適値が異なる。
この実施形態のガラス板は２つの共振モード(第１、第
２の駆動モード)で駆動される。この２つの共振モード
における駆動周波数が大きく異なるときは、時定数を変
更できるように回路構成を採用する必要がある。抵抗
(Ｒ０１,Ｒ０２)６３，６４でモニタ信号は、Ａ/Ｄコン
バータ６０へ入力可能なレベルまで減圧される。この信
号が図３のタイムチャート上のＳｉｇ６である。

【００３１】この信号はＡ/Ｄコンバータ６０でデジタ
ルデータに変換され、Ｂｕｃｏｍ５０のＩＯポートＤ＿
ＤＡＣｉｎから読み取られる。Ｂｕｃｏｍ５０は、モニ
タ信号が最大レベルになるようにＮ進カウンタ４１に設
定する値を変化させればよい。最大レベルを示すＮ進カ
ウンタ４１の値(共振周波数)でガラスを駆動するとき、
効率よく塵を払うことができる。

【００３２】上述のカメラボディ制御用マイクロコンピ
ュータ(Ｂｕｃｏｍ)５０が行う制御について、図４に示
された制御プログラムのメインルーチンに基づき、具体
的に説明する。カメラの電源ＳＷ(不図示)がＯＮされる
と、Ｂｕｃｏｍ５０は稼動を開始し、＃０００ではま
ず、カメラシステムを起動するための処理が実行され
る。電源回路５３を制御してこのカメラシステムを構成
する各回路ユニットへ電力を供給する。また、各回路ユ
ニットの初期設定を行う。

【００３３】＃００１では、サブルーチン「共振点検出
動作」がコールされ実行される。このサブルーチンでは
防塵ガラス３０が効率よく振動させるために適した駆動
周波数(共振周波数)を検出する（詳細後述）。この為の
周波数データはＢｕｃｏｍ５０の所定アドレスのメモリ
領域に記憶されている。

【００３４】続いて＃００２では、サブルーチン「塵除
去動作」がコールされ実行される。このサブルーチン中
では、上記＃００１で検出された共振周波数で防塵ガラ
ス３０を加振し、ガラス面に付着した塵を振り払うこと
で、このカメラを撮影に使用しない期間に、ユーザが意
図せずに付着した塵を除去できるようになっている。

【００３５】本発明の特徴的な１つである処理ステップ
＃００３〜＃０１０５にて、各種のアクセサリの装着の
有無およびその状態について順次にチェックしていく。
まず、＃００３は、周期的に実行されるステップであ
り、Ｌｕｃｏｍ５と通信動作を行うことでレンズユニッ
ト１０の状態を検出するための動作ステップである。そ
して＃００４１にて、レンズユニット１０がボディユニ
ット１００に装着されたことを検出すると＃００４４へ
移行する。一方、レンズユニット１０がボディユニット
１００から外されたことを検出したときは、＃００４２
から＃００４３へ移行して、制御フラグＦ＿Ｌｅｎｓを
リセットする。そして＃００５に移行する。＃００４４
では、制御フラグＦ＿Ｌｅｎｓをセットする。この制御
フラグは、当該カメラのボディユニット１００にレンズ
ユニット１０が装着されている期間は“１”を示し、レ
ンズユニット１０が外されている期間は“０”を示す。

【００３６】＃００５は周期的に実行されるステップで
あり、通信コネクタ３５の状態判定を行うことで記録メ
ディア２７がボディユニット１００内に装着された状態
を検出できるステップである。＃００６１では、記録メ
ディア２７がボディユニット１００内に装着されたこと
を検出すると、＃００６４へ移行する。一方、記録メデ
ィア２７がボディユニット１００から取り出されたこと
を検出したときは、＃００６２から＃００６３へ移行し
て、制御フラグＦ＿Ｍｅｄｕｍをリセットする。そして
＃０１０へ移行する。＃００６４では、制御フラグＦ＿
Ｍｅｄｕｍをセットする。そして＃００８へ移行する。
この制御フラグは、当該カメラのボディユニット１００
内に記録メディア２７が装着されている期間は“１”を
示し、取り出されている期間は“０”を示す。

【００３７】同様にして、アクセサリであるストロボユ
ニット８０や、外部電源７０なども次の処理手順にて判
定できる。すなわち、＃０１０は周期的に実行されるス
テップであり、ストロボ通信コネクタ８５の状態判定を
行うことでストロボユニット８０がボディユニット１０
０に装着されたか否かを検出する。＃０１００にて、ス
トロボユニット８０がボディユニット１００に装着され
たことを検出すると、＃０１０３へ移行して、制御フラ
グＦ＿Ｓｔｒｏｂｅをセットした後、＃００８へ移行す
る。一方、ストロボユニット８０がボディユニット１０
０から取り出されたことを検出すると、＃０１０１から
＃０１０２へ移行して、制御フラグＦ＿Ｓｔｒｏｂｅを
リセットしてから、＃０１０４へ移行する。

【００３８】尚、この制御フラグもまた、ストロボユニ
ット８０の装着期間は“１”を示し、外されている期間
は“０”を示す。

【００３９】次にまた、＃０１０４も周期的に実行され
るステップであり、ジャック３７の状態判定を行うこと
で、プラグ７２がボディユニット１００のジャック３７
に挿入されたか否かを検出する。＃０１０５にて、プラ
グ７２がジャック３７に挿入されたことで外部電源７０
の接続が検出できると＃００８へ移行するが、外部電源
７０の接続がなければ、＃０１４へ移行する。詳しく
は、外部電源７０を介して電流が電源回路５３ａと電圧
検出回路５３ｂへ供給されると、電圧変化が生ずるので
検知できる。よって、ここでは専用の制御フラグは設定
しなくても接続状態がわかる。

【００４０】上記の何れかのアクセサリが装着されると
次に、＃００８にて、前述同様にサブルーチン「共振点
検出動作」がコールされ実行されて、その直後の＃００
９においては同様に、防塵ガラス３０の塵を除去するた
めのサブルーチン「塵除去動作」がコールされ実行され
る。

【００４１】通常、カメラ本体であるボディユニット１
００にレンズユニット１０が装着されていない期間にお
いて、レンズや防塵ガラス３０等に塵が付着する可能性
が高い。したがってレンズユニット１０の装着を検出し
たタイミングで塵を払う動作を実行することが望まし
い。また、レンズ交換やアクセサリの装着をすると、カ
メラの内部に外部の空気が循環してカメラ内部の温度が
変化する場合がある。よって、この温度変化によってガ
ラスの共振周波数も変化する。そこで、上記＃００８で
は、新しい駆動周波数(共振周波数)を決定するため上記
「共振点検出動作」が実行され、続いて、その直後の＃
００９にて、その決定された周波数で「塵除去動作」が
実行されるようになっている。

【００４２】＃０１４では、カメラ操作ＳＷの１つであ
る１st.レリーズＳＷ(不図示)が操作されたか否かを判
定する。もし、１st.レリーズＳＷがＯＮしているなら
ば＃０１５へ移行し、ＯＦＦならば上記＃００３へ再び
移行する。

【００４３】＃０１５では、測光回路２１から被写体の
輝度情報を入手する。そしてこの情報からＣＣＤユニッ
ト２２の露光時間(Ｔｖ値)と撮影レンズ１の絞り設定値
（Ａｖ値）を算出する。＃０１６では、ＡＦセンサ駆動
回路１７を経由してＡＦセンサユニット１６の検知デー
タを入手する。このデータに基づきピントのズレ量を算
出する。ここで＃０１７にて、Ｆ＿Ｌｅｎｓの状態を判
定する。“０”ならばレンズユニット１０が存在しない
ことを意味するので、次の＃０１８以降の撮影動作は実
行できない。そこでこの場合は上記＃００３へ再び移行
する。

【００４４】＃０１８では、Ｌｕｃｏｍ５に対してピン
トのズレ量を送信して、このズレ量に基づく撮影レンズ
１の駆動を指令する。＃０１９では、カメラ操作ＳＷ５
２の１つである２nd.レリーズＳＷ(不図示)が操作され
たか否かを判定する。この２nd.レリーズＳＷがＯＮし
ているときは＃０１９０へ移行するが、ＯＦＦのときは
上記＃００３へ再び移行する。

【００４５】＃０１９０では、制御フラグＦ＿Ｍｅｄｕ
ｍの値に基づき記録媒体の有無を判定する。もし”１”
以外であれば、上記＃００３へ再び移行する。一方、”
１”であれば、撮影動作に先立って塵を除くため「塵除
去動作」ルーチンが実行される。但しこの動作によって
タイムラグが発生することを避けるため、ここでは「共
振点検出動作」ルーチンは実行されない。

【００４６】確実に塵を払うにはこれら２つのルーチン
による動作をあわせて行う事が望ましいが、共振周波数
が変化する可能性が無ければ、「共振点検出動作」ルー
チンは省略してもかまわない。尚、このルーチンの実行
の省略は、レンズ交換時のほか、カメラシステムの電源
起動時、スリープ状態解除時、などではこの限りではな
い。但し、連写モード時は、二回目の撮像動作後からは
このルーチンの実行を省略してもかまわない。

【００４７】撮像動作として、＃０２０から、まずＬｕ
ｃｏｍ５へＡｖ値を送信し、絞り３の駆動を指令し、＃
０２１にてクイックリターンミラー１１をＵＰ位置へ移
動する。＃０２２にてシャッタ１５の先幕走行を開始さ
せシャッタ１５を開く。＃０２２０では、制御フラグＦ
＿Ｓｔｒｏｂｅが”１”にセットされていれば、＃０２
３０にてストロボ発光を行なわせ、それ以外ならばスト
ロボ発光せずに、＃０２３にて画像処理コントローラ２
８に対して撮像動作の実行を指令する。

【００４８】Ｔｖ値で示される時間、ＣＣＤユニット２
２による撮像が終了すると、＃０２４において、シャッ
タ１５の後幕走行を開始させ、＃０２５にてクイックリ
ターンミラー１１をＤｏｗｎ位置へ駆動する。またこれ
と並行してシャッタ１５のチャージ動作を行う。そして
＃０２６では、Ｌｕｃｏｍ５に対して絞り３を開放位置
へ復帰させるように指令し、＃０２７では、画像処理コ
ントローラ２８に対して、撮影した画像データを記録メ
ディア２７へ記録するように指令する。その画像データ
の記録が終了すると、再び上記＃００３へ移行して、同
様な一連の処理ステップを繰り返す。

【００４９】以下、図５に例示するフローチャートおよ
び図７（ａ）〜図１１（ｂ）に基づき、サブルーチン
「共振点検出動作」について詳しく説明する。その前
に、共振対象の防塵ガラス３０の支持構造と振動形態に
ついて、図７（ａ）〜図８（ｂ）を参照しながら概説し
ておく。本発明に係わる電子撮像装置においては、防塵
ガラス３０の形状を仮に円盤とする。またその防塵ガラ
ス３０のガラス板の円周に沿って加振用の圧電素子３１
を配置すると、このガラス板は円周で支持されることに
なる。このとき、当該ガラス板は複数の振動モード(振
動形態)で加振する。本発明ではこの振動モードの中か
ら２つのモードを選択して使い分けることとする。図７
（ａ）,（ｂ）および図８（ａ）,（ｂ）に選択した振動
モードにおけるガラス板の振動の状態を示す。

【００５０】この実施形態に係わる防塵ガラス３０は、
図７（ａ）,（ｂ）にそれぞれ図示したような振動形態
を示す。すなわち、加振手段として働く圧電素子３１に
よって振動を加えると、そのガラス板の周囲には振動し
ない「節」が発生するが、概ねガラス全面が同じ位相に
て、太矢印で示された如く図７（ａ）と図７（ｂ）の状
態を交互に繰り返して振動する。このような振動形態を
以下「振動モード１」と称する。

【００５１】同様に、この実施形態の防塵ガラス３０
は、加える振動の周波数によっては、図８（ａ）,
（ｂ）にそれぞれ図示したような形態でも振動すること
ができる。すなわち、図８（ａ）,（ｂ）に例示した防
塵ガラス３０の振動形態は、ガラス板の内側と外側が１
８０度ずれた位相で振動するものである。詳しくは、図
示する振動形態ではガラス板の周囲と内部に節がそれぞ
れ発生するモードであり、図示の如く、内側の節に囲ま
れた領域の振動と内部の節の外側領域（ドーナツ状の領
域）の振動は位相が１８０度ずれている。以下これを
「振動モード２」と称する。

【００５２】よって、図５に示す当該サブルーチン「共
振点検出動作」では、上述した振動モード１と振動モー
ド２の二種類の振動モードにおける共振周波数の検知動
作が最初に行われる。ガラスの特性（例えば形状、組
成、支持方法など）によって共振周波数が存在する範囲
が予想できるので、この範囲内でガラス板に振動を加え
て共振点を検出するべきである。さもないと、検出動作
に必要以上に時間がかかることになる。また、検出範囲
を想定しないと、意図した振動モード以外の高次の共振
モードにおける共振周波数を検出するおそれがある。

【００５３】そこで本実施形態においては、共振周波数
の検出動作のために必要なパラメータを、図９にメモリ
マップで示された複数の領域を有するＥＥＰＲＯＭ２９
に予め記憶しておき、例えば「振動モード１対応制御パ
ラメータ」として有している。振動モード１に対応する
制御パラメータの値の詳細は、図１０（ａ）に例示され
た値で記憶されている。例えば、ＳｔａｒｔＯｆｆｓｅ
ｔはこのテーブルの読出し開始位置を示す。

【００５４】また同様に、「振動モード１対応周波数補
正テーブル」として振動モード１に対応する制御パラメ
ータの値の詳細は、図１１（ａ）に例示された値で記憶
されている。このようなデータテーブルは、振動モード
１でガラスを駆動するときＮ進カウンタ４１に設定する
値を示している。このテーブルはクロックジェネレータ
５５が周波数４０(ＭＨｚ)のパルス信号を出力するもの
として算出されている。既に説明した（１式）を使えば
駆動周波数が算出できる。

【００５５】ＳｔｏｐＯｆｆｓｅｔはこの振動モード１
対応周波数補正テーブルの読出し終了位置を示す。Ｓｔ
ａｒｔＯｆｆｓｅｔからＳｔｏｐＯｆｆｓｅｔの範囲で
駆動周波数を遷移させると、何れかのテーブルの値でガ
ラス板は振動モード１で振動する。

【００５６】ＳｔｅｐＴｉｍｅは、駆動周波数を遷移さ
せる際の１つの周波数で駆動すべき時間を示す。防塵ガ
ラス駆動回路４０の安定時間を考慮して決定する。駆動
周波数の変更に対しても、ガラス板の振動が直ちに追従
するわけではない。追従しなければ、モニタ信号の出力
もあてにならない。

【００５７】ＡＤｗａｉｔは、モニタ信号をＡ/Ｄ変換
する周波数を決定するパラメータであり、ガラスの共振
周波数に応じて適当な値に決定する。Ｍ１ＯｓｃＴｉｍ
ｅは、検出された周波数で防塵ガラス３０を加振する時
間を示している。これは、サブルーチン「塵除去動作」
で必要になる。以上は、振動モード１における制御パラ
メータである。振動モード２対応の制御パラメータの詳
細は、図１０（ｂ）に示される。また、振動モード２対
応周波数補正テーブルの詳細は図１１（ｂ）に示され、
振動モード１と同様な構成のパラメータであり、基本的
に同じなのでその説明は省略する。

【００５８】さらに図５のフローチャートおよび図９〜
図１２に基づき「共振点検出動作」の手順について説明
する。＃１００では、ＥＥＰＲＯＭ２９から４つの制御
パラメータ（ＳｔａｒｔＯｆｆｓｅｔ，ＳｔｏｐＯｆｆ
ｓｅｔ，ＳｔｅｐＴｉｍｅ，ＡＤｗａｉｔ）を読み出
す。そして＃１０１では、ＥＥＰＲＯＭ２９の読出し開
始アドレスとしてＡｄｄｒｅｓｓＭ１＋ＳｔａｒｔＯｆ
ｆｓｅｔを設定し、読出し終了アドレスとしてＡｄｄｒ
ｅｓｓＭ１＋ＳｔｏｐＯｆｆｓｅｔを設定する。Ａｄｄ
ｒｅｓｓＭ１は振動モード１対応周波数補正テーブルの
先頭アドレスを示している。

【００５９】仮に、読出し開始位置（ＳｔａｒｔＯｆｆ
ｓｅｔ）を”３”とし、読出し終了位置（ＳｔｏｐＯｆ
ｆｓｅｔ）を”９”とすると、図１１（ａ）中の＊１か
ら＊２で示された領域のプリセット値”Ｎ”をＮ進カウ
ンタ４１へ設定することになる。すなわち、ｆ１,ｆ２,
ｆ３, …,ｆ７の周波数の中からモニタ信号の出力が最
大となる周波数を検出することになる。

【００６０】＃１０２では、モニタ信号の最大値を一時
的に記憶するために確保したメモリＤ＿ＡＤＭＡＸへ便
宜上モニタ信号の最小値である＃０を設定する。＃１０
３では、圧電素子３１を駆動するための準備動作が行わ
れる。ＩＯポートのＰ＿ＰｗＣｏｎｔを制御してトラン
ジスタＱ００をＯＮ状態にする。更に、クロックジェネ
レータ５５からパルス信号の出力を開始する。この状態
でＮ進カウンタ４１にテーブルから取り出したデータを
設定すれば、所望の周波数で圧電素子３１を駆動でき
る。

【００６１】＃１０４においては、設定されたＥＥＰＲ
ＯＭ２９のアドレスからプリセット値（Ｎ）を読み出
す。そして、ＩＯポートのＤ＿ＮＣｎｔからＮ進カウン
タ４１に読み出したプリセット値を設定する。そして＃
１０５にて、周波数駆動回路の安定するまでの所定時間
だけ待機する。

【００６２】＃１０６では、タイマカウンタ１へＳｔｅ
ｐｔｉｍｅを設定し、タイマのカウント動作を開始す
る。例えば図１０（ａ）に示す如く、Ｓｔｅｐｔｉｍｅ
が記憶されていると、２(msec)がタイマカウンタ１へ設
定されることになる。＃１０７にて、Ａ/Ｄコンバータ
６０の加算データを一時的に記憶するために確保したメ
モリ領域Ｄ＿ＡＤＳＵＭへ＃０を設定する。更にＡ/Ｄ
コンバータ６０の動作回数をカウントするために確保し
たメモリＤ＿ＡＤｃｏｕｎｔへ＃０を設定する。

【００６３】＃１０８では、タイマカウンタ２へＡＤｗ
ａｉｔを設定し、カウント動作を開始する。例えば図１
０（ａ）に示す如くＡＤｗａｉｔが記憶されていると、
８０(μsec)がタイマカウンタ２へ設定されることにな
る。そして、＃１０９にて、Ａ/Ｄコンバータ６０を用
いてモニタ信号のＡ/Ｄ変換値を取得する。

【００６４】＃１１０では、モニタ信号のＡ/Ｄ変換値
を、メモリ領域Ｄ＿ＡＤＳＵＭへ加算する。更にメモリ
領域Ｄ＿ＡＤｃｏｕｎｔをインクリメント（１を加算）
する。＃１１１では、タイマカウンタ２のカウント動作
が終了するまで待機する。＃１１２では、タイマカウン
タ１のカウント動作が終了しているか否かを判定する。
まだ終了していない場合は、再度モニタ信号の測定のた
め、上記＃１０８へ移行する。もし終了していれば＃１
１３へ移行する。

【００６５】＃１１３では、メモリ領域Ｄ＿ＡＤＳＵＭ
とＤ＿ＡＤｃｏｕｎｔから、ＡＤ変換値の平均値を求め
る。そして、平均値はその平均値の記録のため確保した
メモリ領域Ｄ＿ＡＤＡＶＥへ格納される。Ｄ＿ＡＤＡＶ
Ｅは、現在の駆動周波数におけるモニタ信号のレベルを
示すことになる。＃１１４では、Ｄ＿ＡＤＡＶＥとＤ＿
ＡＤＭＡＸとの内容を比較する。もしＤ＿ＡＤＡＶＥの
内容がＤ＿ＡＤＭＡＸの内容よりも大きい場合は、＃１
１５へ移行し、小さい場合は＃１１９へ移行する。

【００６６】＃１１５では、Ｄ＿ＡＤＡＶＥの内容をＤ
＿ＡＤＭＡＸ中に移す。古い最大値は破棄され、今回測
定された値がモニタ信号の最大値として記憶される。そ
して、現在、振動モード１でモニタ信号を測定中なら
ば、＃１１６から＃１１７へ移行する。現在、振動モー
ド２でモニタ信号を測定中ならば、＃１１６から＃１１
８へ移行する。

【００６７】＃１１７では、現在のＥＥＰＲＯＭ２９の
アドレスをＤ＿Ｍ１ｒｅｓｏｎａｎｔに記憶する。Ｄ＿
Ｍ１ｒｅｓｏｎａｎｔは振動モード１用のアドレスを記
憶するためメモリ上に確保した領域である。また、＃１
１８では、現在のＥＥＰＲＯＭのアドレスをＤ＿Ｍ２ｒ
ｅｓｏｎａｎｔに記憶する。Ｄ＿Ｍ２ｒｅｓｏｎａｎｔ
は振動モード２用のアドレスを記憶するためメモリ上に
確保した領域である。これらＤ＿Ｍ１ｒｅｓｏｎａｎｔ
及びＤ＿Ｍ２ｒｅｓｏｎａｎｔの値は、後述のサブルー
チン「塵除去動作」で使用される。

【００６８】＃１１９では、ＥＥＰＲＯＭ読出し終了ア
ドレスで示される駆動周波数までモニタ信号の測定が終
了したか否かを判定する。まだ終了していなければ＃１
２１へ移行し、終了していれば次の＃１２０へ移行す
る。＃１２０では、駆動動作を停止する処理が行われ
る。トランジスタＱ００をＯＦＦして、クロックジェネ
レータの動作を止める。＃１２１では、ＥＥＰＲＯＭ２
９の読出しアドレスをインクリメントし、＃１０４へ移
行する。

【００６９】＃１２２では、振動モード１と振動モード
２における共振点の検出動作が終了したか否かを判定す
る。共に検出動作が終了していればメインルーチンへリ
ターンする。振動モード１のみが終了している場合は、
振動モード２における共振周波数を検出するために＃１
３０へ移行する。尚、＃１３０，＃１３１の動作は既に
説明した＃１００，＃１０１と基本的に同じねあるので
説明は省略する。そして、共振周波数を検出するため再
び上記＃１０２へ移行する。

【００７０】尚、本サブルーチンでは２つのパラメータ
（ＳｔａｒｔＯｆｆｓｅｔ、ＳｔｏｐＯｆｆｓｅｔ）で
規定される範囲で周波数補正テーブルからプリセット値
を読み出した。そしてこのプリセット値すべてを利用し
てガラス板を駆動し、モニタ信号のレベルを測定するも
のである。

【００７１】図１２には周波数とガラス板の振幅の関係
を示している。また、＊３は共振モード１の特性を示す
と仮定する。本ルーチンでは、図１１（ａ）に例示した
ｆ１,ｆ２,ｆ３, …,ｆ７という周波数(プリセット値)
において、モニタ信号レベルを測定する。＊３の特性に
おける共振周波数はｆｃである。ｆｃはｆ４に相当す
る。本ルーチンでは、ｆ１,ｆ２,ｆ３,ｆ４と順次に駆
動周波数を変更していきながらモニタ信号の測定を行
う。そして、共振周波数ｆｃを過ぎても、ｆ５,ｆ６,ｆ
７と順次に駆動を続ける。

【００７２】ｆ１〜ｆ４では、モニタ信号は増加方向に
ある。そして、ｆ５からモニタ信号は減少方向に変化す
る。よって、このモニタ信号の増加方向から減少方向へ
の変化を検出すれば、ｆ６,ｆ７の周波数であえて駆動
する必要性はなくなる。なお、周波数を変化させる範囲
が広い場合は、共振周波数の検出時間短縮のために、こ
こで例示した如くの制御プログラムを作ることが望まし
い。

【００７３】ここで、図６に示すサブルーチン「塵除去
動作」について説明する。このサブルーチンでは、上述
した振動モード１と振動モード２の２つのモードで防塵
ガラス３０が共振されるように圧電素子３１を駆動する
ように設定されている。一般的に、塵の特性（例えば重
さ、形状、素材など）によって、塵を除去しやすい周波
数や振幅が異なる。そこで、確実に塵を除くためにはこ
れら２つの振動モードでそのガラス板を共振させるとよ
い。勿論、更に複数の振動モードで共振させてもよい。
但し、除去動作にかかる時間もまたその分余計にかかる
ことがあるので、除去効果の程度と所要時間とを充分鑑
みて適当な数に設定するべきである。

【００７４】そこでまず、＃２００では、ＥＥＰＲＯＭ
２９の振動モード１対応制御パラメータよりＭ１ＯＳＣ
ｔｉｍｅを、振動モード２対応制御パラメータよりＭ２
ＯＳＣｔｉｍｅをそれぞれ読み出す。＃２０１では、圧
電素子３１を駆動するための準備動作が行われる。ＩＯ
ポートのＰ＿ＰｗＣｏｎｔを制御して、トランジスタＱ
００をＯＮ状態にする。更に、クロックジェネレータ５
５からパルス信号の出力を開始する。この状態でＮ進カ
ウンタ４１にＥＥＰＲＯＭ２９のテーブルから取り出し
たデータを設定すれば、所望の周波数で圧電素子３１を
駆動できる。

【００７５】＃２０２では、Ｄ＿Ｍ１ｒｅｓｏｎａｎｔ
が示すＥＥＰＲＯＭ２９のアドレスからプリセット値
(Ｎ)を読み出す。この値は、Ｎ進カウンタ４１へセット
される。これにより防塵ガラス駆動回路４０は、そのガ
ラス板を振動モード１の共振周波数で駆動する。＃２０
３では、タイマカウンタ１へＭ１ＯｓｃＴｉｍｅを設定
し、カウント動作を開始する。例えば、図１０（ａ）に
示す如くＭ１ＯｓｃＴｉｍｅが記憶されていると、２０
０(msec)がタイマカウンタ１ヘ設定されることになる。
＃２０４では、タイマカウンタ１のカウント動作が終了
するまで待機する。以上により、振動モード１による塵
払いの動作は完了する。さらに、確実に塵払いを行うた
め、振動モード２でガラス板を振動させる。

【００７６】＃２０５では、Ｄ＿Ｍ２ｒｅｓｏｎａｎｔ
が示すＥＥＰＲＯＭ２９のアドレスからプリセット値
(Ｎ)を読み出す。この値は、Ｎ進カウンタ４１へセット
される。これにより防塵ガラス駆動回路４０は、そのガ
ラス板を振動モード２の共振周波数で駆動する。＃２０
６では、タイマカウンタ２へＭ２ＯｓｃＴｉｍｅを設定
し、カウント動作を開始する。例えば、図１０（ｂ）に
示す如くＭ２ＯｓｃＴｉｍｅが記憶されていると、１０
０(msec)がタイマカウンタ２ヘ設定されることになる。

【００７７】＃２０７では、タイマカウンタ２のカウン
ト動作が終了するまで待機する。そして＃２０８では、
駆動動作を停止する処理が行われる。トランジスタＱ０
０をＯＦＦ状態にし、クロックジェネレータ５５の動作
を止める。その後は、メインルーチンへリターンする。

【００７８】なお、カメラシステムの設計段階では、ガ
ラス板の共振周波数のバラツキを予測することは非常に
困難である。したがって、このカメラシステムが完成し
た後に、圧電素子３１の駆動周波数を決定する制御パラ
メータを設定できるようにすべきである。そこで必要な
パラメータは、上述した如く本発明ではすべてＥＥＰＲ
ＯＭ２９に選択可能に格納されている。また、本サブル
ーチン「塵除去動作」は、前述したサブルーチン「共振
点検出動作」で検出された共振周波数のみでガラス板の
駆動を行っている。

【００７９】図１２には、周波数とガラス板の振幅の関
係を示している。サブルーチン「共振点検出動作」を実
行しているときの特性を＊３とする。共振周波数ｆｃ
は、図１１（ａ）中のｆ４に相当するものとする。しか
し、共振周波数が予期しない要因で特性が＊４、＊５の
如く変動する可能性もある。このような変動が生じても
対応できるようにＥＥＰＲＯＭ２９のテーブルからｆ４
以外にもｆ３，ｆ５のデータを読み出して当該サブルー
チンを実行してもよい。

【００８０】また、温度によっても共振周波数がある範
囲で変動するので、所定の実験により作成した温度補正
テーブルを適正に設定し参照可能に保持することで、そ
の運用時の温度において最も好適な共振周波数でそのガ
ラス板を駆動させてもよい。そのためには、振動モード
に対応する温度補正テーブルからその時の温度に対応す
るパラメータを読み出すために、温度情報（ｔ）を当サ
ブルーチンの実行前に、温度測定回路３３の温度センサ
(不図示)によって検出しておけばよい。

【００８１】このように当該実施形態の防塵機能付きの
電子撮像装置(例えばカメラ)によれば、レンズユニット
１０のほか、記録メディア２７、外部電源７０またはス
トロボユニット８０等のアクセサリを着脱可能であり、
撮影レンズ１とＣＣＤユニット２２の間に配される構成
部材(防塵ガラス３０)および、このガラスを複数種類の
周波数で振動させ付着した塵を除去する塵除去手段(圧
電素子３１および防塵ガラス駆動回路４０)を有して構
成されているので、上記アクセサリの何れかの装着に応
じた効果的なタイミングにて圧電素子３１による共振動
作で塵除去動作を行うことができる。

【００８２】特にここでの防塵機能においては、光学素
子(防塵ガラス３０)の共振周波数を検出する為に加振手
段(圧電素子３１)を駆動する共振周波数検出モードと、
上記光学素子に付着した塵を除去する為に圧電素子３１
を駆動する塵除去モードとを有し、アクセサリ装置が装
着されたタイミングにて、基本的には上記共振周波数検
出モードと上記塵除去モードを連続して実行するように
している。また、共振周波数検出の為の所要時間による
タイムラグを撮影時に与えないように、共振周波数検出
動作を撮影直前には省略している。よって、撮影タイミ
ングに悪影響を与えず、効率的かつ確実な塵除去が可能
となる。

【００８３】（変形例）以上、電子撮像装置としてカメ
ラシステムを一例に、保護ガラス(防塵ガラス)における
実施形態について説明してきたが、埃や塵を嫌うその他
の電子撮像装置においても、また防塵ガラス以外の構成
部材やその他の部位においても、本発明を同様に適用す
れば、前述の実施形態と同等な効果が得られる。また、
共振周波数を特定できないガラス以外の光学素子部材を
適用することもでき、その場合にも、製品個々のバラツ
キに起因する固有共振周波数に対する調整は不要とな
り、前述同等な効果が期待できる。このほかにも、本発
明の要旨を逸脱しない範囲で種々の変形実施が可能であ
る。

【００８４】

【発明の効果】このように本発明によれば、アクセサリ
装置の着脱時に構成部材に付着する塵を確実に除去でき
る防塵機能付きの電子撮像装置を提供することが可能と
なる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明に係わる実施形態のカメラの構成を示
すブロック構成図。

【図２】本発明の実施形態としての加振手段(防塵ガ
ラス駆動回路)の回路構成を示す回路図。

【図３】防塵ガラス駆動回路の動作を説明するため、
図２中の各部における信号波形の表わすタイムチャー
ト。

【図４】カメラボディ制御用マイコンのカメラシーケ
ンスの手順を表わすフローチャート。

【図５】図４のフローチャート中のルーチン「共振点
検出動作」の詳細手順を表わすフローチャート。

【図６】図４のフローチャート中のルーチン「塵除去
動作」の詳細手順を表わすフローチャート。

【図７】図７（ａ）,（ｂ）は本発明に係わる防塵ガ
ラスの振動形態を示し、ガラス板の周囲に節が発生して
全面が同じ位相で振動する形態(振動モード１)の説明
図。

【図８】図８（ａ）,（ｂ）は本発明に係わる防塵ガ
ラスの振動形態を示し、ガラス板の内側と外側が１８０
°異なる位相で振動する形態(振動モード２)の説明図。

【図９】ＥＥＰＲＯＭに占める周波数補正に関するテ
ーブル領域を示すメモリマップ。

【図１０】図１０（ａ）,（ｂ）は、振動モードの周
波数補正に関する制御パラメータを示し、（ａ）は、振
動モード１対応制御パラメータテーブルの詳細を表わす
一覧表、（ｂ）は、振動モード２対応制御パラメータテ
ーブルの詳細を表わす一覧表。

【図１１】図１１（ａ）,（ｂ）は振動モードに対応
する補正値を示し、（ａ）は、振動モード１対応周波数
補正テーブルの詳細表、（ｂ）は、振動モード２対応周
波数補正テーブルの詳細表。

【図１２】駆動周波数とガラス板の振動の振幅との関
係を表わす特性グラフ。

【符号の説明】

１…撮影レンズ、２…レンズ駆動機構、３…絞り、
４…絞り駆動機構、５…レンズ制御用マイクロコ
ンピュータ、６…通信コネクタ、１０…レンズユニット
（交換レンズ）、１１…クイックリターンミラー、１２
…ペンタプリズム、１３…接眼レンズ、１４…サブミ
ラー、１５…シャッタ（前幕、後幕）、１６…ＡＦセン
サ、１７…ＡＦセンサ駆動回路、１８…ミラー駆動機
構、１９…シャッタチャージ機構、２０…シャッタ制御
回路、２１…測光回路、２２…ＣＣＤユニット（光電変
換素子）、２３…ＣＣＤインターフェイス回路、２４…
液晶モニタ、２５…ＳＤＲＡＭ、２６…ＦｌａｓｈＲ
ＯＭ、２７…記録メディア（アクセサリ）、２８…画像
処理コントローラ、２９…不揮発性メモリ（ＥＥＰＲＯ
Ｍ）、３０…防塵ガラス（光学素子）、３１…圧電素子
（加振手段、塵除去手段）、３３…温度測定回路、３５
…通信コネクタ、３７…ジャック、４０…防塵ガラス
駆動回路（加振、駆動手段）、４１…Ｎ進カウンタ、
４２…１／２分周回路、４３…インバータ、４４…
トランジスタ、４４ａ，４４ｂ，４４ｃ…ＭＯＳトラン
ジスタ、４５…トランス、４６…抵抗、４７…Ｄ
／Ａコンバータ、４８…ＶＣＯ（電圧制御発振器）、４
９…アンプ、５０…ボディ制御用マイクロコンピュー
タ、５１…動作表示用ＬＣＤ、５２…カメラ操作ＳＷ、
５３ａ…電源回路、５３ｂ…電圧検出回路、５４…電
池、５５…クロックジェネレータ、６０…Ａ／Ｄ
コンバータ、６１…電極Ｂ（モニタ用圧電素子電極）、
６２…ダイオード（検出回路要素）、６３，６４…抵抗
（：）、６５…コンデンサ（：）、７０…外部電源（ア
クセサリ）、７１…コネクタ（コンセント用プラグ）、
７２…プラグ（ピンジャック）、８０…ストロボユニッ
ト（アクセサリ）、８１…閃光電球、８２…ＤＣ／Ｄ
Ｃコンバータ、８３…ストロボ制御マイクロコンピュー
タ、８４…電池（ストロボ用バッテリ）、８５…ストロ
ボ通信コネクタ。

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】アクセサリ装置を着脱可能な電子撮像装
置において、被写体の光学像を電気信号に変換する撮像手段と、上記撮像手段の前面に配される光学素子と、上記光学素子を振動させることによって、上記光学素子
の表面に付着した塵を除去する塵除去手段と、を具備
し、上記アクセサリ装置の装着に応じて上記塵除去手段によ
る塵除去動作を行うように制御されることを特徴とする
電子撮像装置。
【請求項２】上記アクセサリ装置は、交換可能な撮影
レンズ、上記撮像手段で撮像した電子画像を記録する画
像記憶媒体、ストロボ装置、または外部電源の少なくと
も１つであることを特徴とする、請求項１に記載の電子
撮像装置。
【請求項３】被写体の光学像を電気信号に変換する撮
像手段を有する電子撮像装置において、この電子撮像装置に着脱自在なアクセサリ装置と、上記撮像手段の前面に配置された光学素子と、上記光学素子を振動させる加振手段と、上記加振手段に対して周波数信号を供給することによっ
て、上記加振手段を駆動する駆動制御手段と、を具備し
て成り、上記駆動制御手段は、上記光学素子の共振周波数を検出
するために上記加振手段を駆動する共振周波数検出モー
ドと、上記光学素子に付着した塵を除去するために上記
加振手段を駆動する塵除去モードとを有し、上記アクセサリ装置が装着されたタイミングにおいて
は、上記共振周波数検出モードと上記塵除去モードを連
続して実行するように制御することを特徴とする電子撮
像装置。
【請求項４】被写体の光学像を電気信号に変換する撮
像手段を有する電子撮像装置において、上記電子撮像装置に着脱自在であって、上記撮像手段に
上記光学像を結像させる撮像光学系と、上記撮像光学系と上記撮像手段との間に配される光学素
子と、上記光学素子を振動させる加振手段と、上記加振手段に対して周波数信号を供給することによっ
て、上記加振手段を駆動する駆動制御手段と、を具備し
ており、上記駆動制御手段は、上記撮像光学系が上記電子撮像装
置に装着されたら、上記加振手段を駆動して上記光学素
子を振動させるように制御することを特徴とする電子撮
像装置。
【請求項５】上記駆動制御手段は、上記光学素子の共
振周波数を検出するための共振点検出動作を実行した
後、上記共振点検出動作によって検出された共振周波数
でもって上記加振手段を駆動することを特徴とする、請
求項４に記載の電子撮像装置。
【請求項６】上記駆動制御手段は、上記光学素子の共
振周波数を検出するために上記加振手段を駆動する共振
周波数検出モードと、上記光学素子に付着した塵を除去
するために上記加振手段を駆動する塵除去モードとを有
し、上記撮像光学系が装着されたタイミングにおいては、上
記共振周波数検出モードと上記塵除去モードを連続して
実行し、撮像動作に先立つ所定のタイミングにおいては、上記塵
除去モードのみを実行するように制御することを特徴と
する、請求項４に記載の電子撮像装置。