JP3917893B2 - 電子撮像装置 - Google Patents
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Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、撮像素子を有する電子撮像装置に係わり、例えばカメラシステムなどの構成部材に付着した塵を除去可能な防塵機能付きの電子撮像装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
従来、光学装置の防塵機能に関する技術の一例としては、撮像素子を保護する保護ガラス(防塵ガラス)を振動させることで、そのガラスに付着した塵を払い落とすという技術が提案されている。具体的に例えば、特願平２０００−４０１２９１号に教示されたものがあり、これには、ガラス板を振動させる手段として圧電素子が用いられている。この圧電素子は印加される電圧に反応して伸縮して、取り付けられたガラス板を所定の１つの周期で加振するものである。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】
種々のアクセサリ装置が着脱自在に提供されており、運用に際して所望のアクセサリ装置をその本体に装着して利用される。ただしカメラの場合などは、交換レンズの着脱のほかにも、アクセサリ装置の着脱をするとカメラの内部に外部の空気が循環してカメラ内部には空気中の塵が進入し、この塵がレンズガラスやＣＣＤなどの表面に付着することが多い。
しかしながら、上記特願平２０００−４０１２９１号には、アクセサリ装置の着脱時にガラス板に付着する塵を除去する点に関しての開示はされていない。
【０００４】
そこで本発明の目的は、アクセサリ装置の着脱時に構成部材に付着する塵を確実に除去するような防塵機能付きの電子撮像装置を提供することにある。
【０００５】
【課題を解決するための手段】
上記課題を解決し目的を達成するため本発明では次のような手段を講じている。即ち第１の態様によれば、被写体の光学像を電気信号に変換する撮像手段を有する電子撮像装置において、この電子撮像装置に着脱自在なアクセサリ装置と、上記撮像手段の前面に配置された光学素子と、上記光学素子を振動させる加振手段と、上記加振手段に対して周波数信号を供給することによって、上記加振手段を駆動する駆動制御手段と、を具備し、上記駆動制御手段は、上記光学素子の共振周波数を検出するために上記加振手段を駆動する共振周波数検出モードと、上記光学素子に付着した塵を除去するために上記加振手段を駆動する塵除去モードとを有し、上記アクセサリ装置が装着されたタイミングにおいては、上記共振周波数検出モードと上記塵除去モードを連続して実行するように制御するような電子撮像装置を提案する。
【０００６】
第２の態様によれば、被写体の光学像を電気信号に変換する撮像手段を有する電子撮像装置において、上記電子撮像装置に着脱自在であって、上記撮像手段に上記光学像を結像させる撮像光学系と、上記撮像光学系と上記撮像手段との間に配される光学素子と、上記光学素子を振動させる加振手段と、上記加振手段に対して周波数信号を供給することによって、上記加振手段を駆動する駆動制御手段と、を具備しており、上記駆動制御手段は、上記撮像光学系が上記電子撮像装置に装着されると、上記光学素子の共振周波数を検出する為の共振点検出動作を実行した後、上記共振点検出動作によって検出された共振周波数で上記加振手段を駆動して、上記光学素子の振動を制御するような電子撮像装置を提案する。
【０００７】
また、第３の態様によれば、被写体の光学像を電気信号に変換する撮像手段を有する電子撮像装置において、上記電子撮像装置に着脱自在であって、上記撮像手段に上記光学像を結像させる撮像光学系と、上記撮像光学系と上記撮像手段との間に配される光学素子と、上記光学素子を振動させる加振手段と、上記加振手段に対して周波数信号を供給することによって、上記加振手段を駆動する駆動制御手段と、を具備しており、上記駆動制御手段は、上記光学素子の共振周波数を検出するために上記加振手段を駆動する共振周波数検出モードと、上記光学素子に付着した塵を除去するために上記加振手段を駆動する塵除去モードとを有し、上記撮像光学系が装着されたタイミングにおいては、上記共振周波数検出モードと上記塵除去モードを連続して実行し、撮像動作に先立つ所定のタイミングにおいては、上記塵除去モードのみを実行するように制御するような電子撮像装置を提案する。
【０００８】
【発明の実施の形態】
以下、本発明に係わる防塵機能付きの電子撮像装置として、撮像素子と種々のアクセサリを有するカメラシステムを例に挙げ、実施形態に基づき詳しく説明する。
図１には、本発明に係わる一実施形態のカメラシステム構成をブロック構成図で示す。このカメラシステムは、カメラ本体としてのボディユニット１００と、アクセサリ装置（以下「アクセサリ」と略称する）として例えば、交換レンズとしてのレンズユニット１０と、撮影した画像データを記録しておく記録メディア２７、外部電源７０および外付けのストロボユニット８０などから主にシステム構成されている。
【０００９】
ユーザが所望するレンズユニット１０は、ボディユニット１００の前面に設けられたレンズマウント(不図示)を介して着脱自在に設定されている。
上記の記録メディア２７は、各種のメモリカードや、外付けのＨＤＤ等の外部記録媒体であり、通信コネクタ３５を介してカメラ本体と通信可能かつ交換可能に装着される。
上記の外部電源７０はＡＣ／ＤＣコンバータ機能を内蔵し、付属するコネクタ７１とプラグ７２を介して、例えば家庭用電源コンセントからカメラ本体側のジャック３７へ、プラグ７２を差し込むことで必要な電力が供給可能になっている。
【００１０】
また上記のストロボユニット８０は、閃光電球８１、ＤＣ／ＤＣコンバータ８２、ストロボ制御マイクロコンピュータ８３および電池８４から成り、ストロボ通信コネクタ８５を介してカメラ本体と通信可能に装着できる。
【００１１】
レンズユニット１０の制御はレンズ制御用マイクロコンピュータ(以下”Ｌｕｃｏｍ”と称する)５が行う。ボディユニット１００の制御はボディ制御用マイクロコンピュータ(以下“Ｂｕｃｏｍ”と称する)５０が行う。尚、これらＬｕｃｏｍ５とＢｕｃｏｍ５０とは、合体時において通信コネクタ６を介して通信可能に電気的接続がなされる。そしてカメラシステムとしてＬｕｃｏｍ５がＢｕｃｏｍ５０に従属的に協働しながら稼動するようになっている。
【００１２】
レンズユニット１０内には撮影レンズ１と絞り３が設けられている。撮影レンズ１はレンズ駆動機構２内に在る図示しないＤＣモータによって駆動される。絞り３は絞り駆動機構４内に在る図示しないステッピングモータによって駆動される。Ｌｕｃｏｍ５はＢｕｃｏｍ５０の指令に従ってこれら各モータを制御する。
【００１３】
ボディユニット１００内には次の構成部材が図示のように配設されている。例えば、光学系としての一眼レフ方式の構成部材（クイックリターンミラー１１、ペンタプリズム１２、接眼レンズ１３、サブミラー１４）と、光軸上のフォーカルプレーン式のシャッタ１５と、上記サブミラー１４からの反射光束を受けて自動測距する為のＡＦセンサユニット１６が設けられている。
また、上記ＡＦセンサユニット１６を駆動制御するＡＦセンサ駆動回路１７と、上記クイックリターンミラー１１を駆動制御するミラー駆動機構１８と、上記シャッタ１５の先幕と後幕を駆動するばねをチャージするシャッタチャージ機構１９と、それら先幕と後幕の動きを制御するシャッタ制御回路２０と、上記ペンタプリズム１２からの光束に基づき測光処理する測光回路２１が設けられている。
【００１４】
光軸上には、上記光学系を通過した被写体像を光電変換するためのＣＣＤユニット２２が光電変換素子として設けられ、更にこのＣＣＤユニット２２と撮影レンズ１との間に配された光学素子としての防塵ガラス３０によって保護されている。そして、この防塵ガラス３０を所定の周波数で振動させる加振手段の一部として例えば圧電素子３１がその防塵ガラス３０の周縁部に取り付けられている。
【００１５】
また、圧電素子３１は２つの電極（詳細後述）を有しており、この圧電素子３１が加振手段の一部としての防塵ガラス駆動回路４０によって防塵ガラス３０を振動させ、そのガラス表面に付着していた塵を除去できるように構成されている。よって、このカメラシステムはいわゆる「防塵機能付きカメラ」に属する基本構造をもつ電子カメラである。
なお、ＣＣＤユニット２２の周辺の温度を測定するために、防塵ガラス３０の近傍には、温度測定回路３３が設けられている。
【００１６】
このカメラシステムにはまた、ＣＣＤユニット２２に接続したＣＣＤインターフェイス回路２３、液晶モニタ２４、記憶領域として設けられたＳＤＲＡＭ２５、ＦｌａｓｈＲＯＭ２６および記録メディア２７などを利用して画像処理する画像処理コントローラ２８とが設けられ、電子撮像機能と共に電子記録表示機能を提供できるように構成されている。
その他の記憶領域としては、カメラ制御に必要な所定の制御パラメータを記憶する不揮発性記憶手段として例えばＥＥＰＲＯＭから成る不揮発性メモリ２９が、Ｂｕｃｏｍ５０からアクセス可能に設けられている。
【００１７】
Ｂｕｃｏｍ５０には、当該カメラの動作状態を表示出力によってユーザへ告知するための動作表示用ＬＣＤ５１と、カメラ操作ＳＷ５２とが設けられている。上記カメラ操作ＳＷ５２は、例えばレリーズＳＷ、モード変更ＳＷおよびパワーＳＷなどの、当該カメラを操作するために必要な操作釦を含むスイッチ群である。さらに、電源としての電池５４と、この電源の電圧を、当該カメラシステムを構成する各回路ユニットが必要とする電圧に変換して供給する電源回路５３ａが設けられ、外部電源７０からジャック３７を介して電流が供給されたときの電圧変化を検知する電圧検出回路５３ｂが併設されている。
【００１８】
上述した如くに構成されたカメラシステムでは、各部が次のように稼動する。画像処理コントローラ２８は、Ｂｕｃｏｍ５０の指令に従ってＣＣＤインターフェイス回路２３を制御してＣＣＤユニット２２から画像データを取り込む。この画像データは画像処理コントローラ２８でビデオ信号に変換され、液晶モニタ２４にて出力表示される。ユーザはこの液晶モニタ２４の表示画像から、撮影した画像イメージを確認できる。
ＳＤＲＡＭ２５は画像データの一時的保管用メモリであり、画像データが変換される際のワークエリアなどに使用される。またこの画像データはＪＰＥＧデータに変換された後には記録メディア２７に保管されるように設定されている。
【００１９】
ＣＣＤユニット２２は、透明な防塵ガラス３０によって保護されている。この防塵ガラス３０の周縁部にはそのガラス面を加振するための圧電素子３１が配置されており、この圧電素子３１は、後で詳しく説明するようにこの為の駆動手段としても働く防塵ガラス駆動回路４０によって駆動される。
ＣＣＤユニット２２および圧電素子３１は、防塵ガラス３０を一面とし且つ破線で示すような枠体によって囲まれたケース内に一体的に収納されることが、防塵のためにはより好ましい。
【００２０】
通常、温度はガラス製の物材の弾性係数に影響し、その固有振動数を変化させる要因の１つであるため、運用時にその温度を計測してその固有振動数の変化を考慮しなければならない。稼動中に温度上昇が激しいＣＣＤユニット２２の前面を保護するため設けられた防塵ガラス３０の温度変化を測定してその時の固有振動数を予想するほうがよい。
したがってこの例の場合、上記温度測定回路３３に接続されたセンサ(不図示)が、ＣＣＤユニット２２の周辺温度を測定するため設けられている。尚、そのセンサの温度測定ポイントは、防塵ガラス３０の振動面の極近傍に設定されるのが好ましい。
【００２１】
ミラー駆動機構１８は、クイックリターンミラー１１をＵＰ位置とＤＯＷＮ位置へ駆動するための機構であり、このクイックリターンミラー１１がＤＯＷＮ位置にある時、撮影レンズ１からの光束はＡＦセンサユニット１６側とペンタプリズム１２側へと分割されて導かれる。
ＡＦセンサユニット１６内のＡＦセンサからの出力は、ＡＦセンサ駆動回路１７を介してＢｕｃｏｍ５０へ送信されて周知の測距処理が行われる。
【００２２】
また、ペンタプリズム１２に隣接する接眼レンズ１３からはユーザが被写体を目視できる一方、このペンタプリズム１２を通過した光束の一部は測光回路２１内のホトセンサ(不図示)へ導かれ、ここで検知された光量に基づき周知の測光処理が行われる。
【００２３】
次に、図２に示す防塵ガラス駆動回路４０の回路図と、図３のタイムチャートに基づいて、この実施形態における防塵機能付きカメラの防塵ガラス３０の駆動およびその動作と制御について説明する。
ここに例示した防塵ガラス駆動回路４０は、図２に示すような回路構成を有し、その各部において、図３のタイムチャートで表わす波形信号（Ｓｉｇ１〜Ｓｉｇ６）が生成され、それらの信号に基づいて次のように制御される。すなわち、防塵ガラス駆動回路４０は図２に例示の如く、Ｎ進カウンタ４１、１／２分周回路４２、インバータ４３、複数のＭＯＳトランジスタ(Ｑ００,Ｑ０１,Ｑ０２)４４ａ,４４ｂ,４４ｃ、トランス４５、抵抗(Ｒ００)４６、Ａ/Ｄコンバータ６０、圧電素子３１の第１の電極Ａとこれに並ぶ第２の電極Ｂ６１、ダイオード(Ｄ００)６２、抵抗(Ｒ０１,Ｒ０２)６３，６４、およびコンデンサ(Ｃ００)６５から構成されている。
【００２４】
上記トランス４５の１次側に接続されたトランジスタ(Ｑ０１)４４ｂおよびトランジスタ(Ｑ０２)４４ｃのＯＮ／ＯＦＦ切替え動作によって、そのトランス４５の２次側に所定周期の信号(Ｓｉｇ４)が発生するように構成されており、この所定周期の信号に基づき２つの電極Ａ，Ｂを有した圧電素子３１を種々に駆動させながら、効率的な共振周波数を探し出して防塵ガラス３０を効果的に共振させるようになっている（詳細後述）。
【００２５】
Ｂｕｃｏｍ５０は、制御ポートとして設けられた２つのＩＯポートＰ＿ＰｗＣｏｎｔ及びＩＯポートＤ＿ＮＣｎｔと、このＢｕｃｏｍ５０内部に存在するクロックジェネレータ５５を介して防塵ガラス駆動回路４０を次のように制御する。クロックジェネレータ５５は、圧電素子３１へ印加する信号周波数より充分に早い周波数でパルス信号(基本クロック信号)をＮ進カウンタ４１へ出力する。この出力信号が図３中のタイムチャートが表わす波形の信号Ｓｉｇ１である。そしてこの基本クロック信号はＮ進カウンタ４１へ入力される。
【００２６】
Ｎ進カウンタ４１は、当該パルス信号をカウントし所定の値“Ｎ”に達する毎にカウント終了パルス信号を出力する。即ち、基本クロック信号を１／Ｎに分周することになる。この出力信号が図３中のタイムチャートが表わす波形の信号Ｓｉｇ２である。
この分周されたパルス信号はＨｉｇｈとＬｏｗのデューティ比が１：１ではない。そこで、１／２分周回路４２を通してデューティ比を１：１へ変換する。
【００２７】
なお、この変換されたパルス信号は図３中のタイムチャートが表わす波形の信号Ｓｉｇ３に対応する。
この変換されたパルス信号のＨｉｇｈ状態において、この信号が入力されたＭＯＳトランジスタ(Ｑ０１)４４ｂがＯＮする。一方、トランジスタ(Ｑ０２)４４ｃへはインバータ４３を経由してこのパルス信号が印加される。したがって、パルス信号のＬｏｗ状態において、この信号が入力されたトランジスタ(Ｑ０２)４４ｃがＯＮする。トランス４５の１次側に接続されたトランジスタ(Ｑ０１)４４ｂとトランジスタ(Ｑ０２)４４ｃが交互にＯＮすると、２次側には図３中の信号Ｓｉｇ４の如き周期の信号が発生する。
【００２８】
トランス４５の巻き線比は、電源回路５３のユニットの出力電圧と圧電素子３１の駆動に必要な電圧から決定される。尚、抵抗(Ｒ００)４６はトランス４５に過大な電流が流れることを制限するために設けられている。
圧電素子３１を駆動するに際しては、トランジスタ(Ｑ００)４４ａがＯＮ状態にあり、電源回路５３ユニットからトランス４５のセンタータップに電圧が印加されていなければならない。図中トランジスタ(Ｑ００)４４ａのＯＮ／ＯＦＦ制御はＩＯポートのＰ＿ＰｗＣｏｎｔを介して行われる。Ｎ進カウンタ４１の設定値“Ｎ”はＩＯポートＤ＿ＮＣｎｔから設定できる。よって、Ｂｕｃｏｍ５０は、設定値“Ｎ”を適宜に制御することで、圧電素子３１の駆動周波数を任意に変更可能である。
【００２９】
このとき、次式によって周波数は算出可能である。
Ｎ：カウンタへの設定値、
ｆｐｌｓ：クロックジェネレータの出力パルスの周波数、
ｆｄｒｖ：圧電素子へ印加される信号の周波数、
ｆｄｒｖ ＝ ｆｐｌｓ／２Ｎ …（１式）
尚、この式に基づいた演算は、Ｂｕｃｏｍ５０のＣＰＵ(制御手段)で行われる。
【００３０】
電極Ｂ６１は、ガラス板の振動状態を検出するための圧電素子の電極である。この電極Ｂ６１からそのガラス板の振動状態に応じた交流電圧(モニタ信号)が発生する。これが図３のタイムチャート上のＳｉｇ５である。
電極Ｂ６１に接続するダイオード(Ｄ００)６２はそのモニタ信号を半波整流するために設けられている。また、このダイオード(Ｄ００)６２に続く抵抗(Ｒ０１,Ｒ０２)６３，６４およびコンデンサ(Ｃ００)６５によって、そのモニタ信号の包絡線が形成されている。これら抵抗(Ｒ０１,Ｒ０２)６３，６４およびコンデンサ(Ｃ００)６５から成る検出回路によって決定される時定数は、ガラスの振動周波数によって最適値が異なる。この実施形態のガラス板は２つの共振モード(第１、第２の駆動モード)で駆動される。この２つの共振モードにおける駆動周波数が大きく異なるときは、時定数を変更できるように回路構成を採用する必要がある。抵抗(Ｒ０１,Ｒ０２)６３，６４でモニタ信号は、Ａ/Ｄコンバータ６０へ入力可能なレベルまで減圧される。この信号が図３のタイムチャート上のＳｉｇ６である。
【００３１】
この信号はＡ/Ｄコンバータ６０でデジタルデータに変換され、Ｂｕｃｏｍ５０のＩＯポートＤ＿ＤＡＣｉｎから読み取られる。Ｂｕｃｏｍ５０は、モニタ信号が最大レベルになるようにＮ進カウンタ４１に設定する値を変化させればよい。最大レベルを示すＮ進カウンタ４１の値(共振周波数)でガラスを駆動するとき、効率よく塵を払うことができる。
【００３２】
上述のカメラボディ制御用マイクロコンピュータ(Ｂｕｃｏｍ)５０が行う制御について、図４に示された制御プログラムのメインルーチンに基づき、具体的に説明する。
カメラの電源ＳＷ(不図示)がＯＮされると、Ｂｕｃｏｍ５０は稼動を開始し、＃０００ではまず、カメラシステムを起動するための処理が実行される。電源回路５３を制御してこのカメラシステムを構成する各回路ユニットへ電力を供給する。また、各回路ユニットの初期設定を行う。
【００３３】
＃００１では、サブルーチン「共振点検出動作」がコールされ実行される。このサブルーチンでは防塵ガラス３０が効率よく振動させるために適した駆動周波数(共振周波数)を検出する（詳細後述）。この為の周波数データはＢｕｃｏｍ５０の所定アドレスのメモリ領域に記憶されている。
【００３４】
続いて＃００２では、サブルーチン「塵除去動作」がコールされ実行される。このサブルーチン中では、上記＃００１で検出された共振周波数で防塵ガラス３０を加振し、ガラス面に付着した塵を振り払うことで、このカメラを撮影に使用しない期間に、ユーザが意図せずに付着した塵を除去できるようになっている。
【００３５】
本発明の特徴的な１つである処理ステップ＃００３〜＃０１０５にて、各種のアクセサリの装着の有無およびその状態について順次にチェックしていく。
まず、＃００３は、周期的に実行されるステップであり、Ｌｕｃｏｍ５と通信動作を行うことでレンズユニット１０の状態を検出するための動作ステップである。そして＃００４１にて、レンズユニット１０がボディユニット１００に装着されたことを検出すると＃００４４へ移行する。一方、レンズユニット１０がボディユニット１００から外されたことを検出したときは、＃００４２から＃００４３へ移行して、制御フラグＦ＿Ｌｅｎｓをリセットする。そして＃００５に移行する。
＃００４４では、制御フラグＦ＿Ｌｅｎｓをセットする。この制御フラグは、当該カメラのボディユニット１００にレンズユニット１０が装着されている期間は“１”を示し、レンズユニット１０が外されている期間は“０”を示す。
【００３６】
＃００５は周期的に実行されるステップであり、通信コネクタ３５の状態判定を行うことで記録メディア２７がボディユニット１００内に装着された状態を検出できるステップである。
＃００６１では、記録メディア２７がボディユニット１００内に装着されたことを検出すると、＃００６４へ移行する。一方、記録メディア２７がボディユニット１００から取り出されたことを検出したときは、＃００６２から＃００６３へ移行して、制御フラグＦ＿Ｍｅｄｕｍをリセットする。そして＃０１０へ移行する。
＃００６４では、制御フラグＦ＿Ｍｅｄｕｍをセットする。そして＃００８へ移行する。この制御フラグは、当該カメラのボディユニット１００内に記録メディア２７が装着されている期間は“１”を示し、取り出されている期間は“０”を示す。
【００３７】
同様にして、アクセサリであるストロボユニット８０や、外部電源７０なども次の処理手順にて判定できる。すなわち、
＃０１０は周期的に実行されるステップであり、ストロボ通信コネクタ８５の状態判定を行うことでストロボユニット８０がボディユニット１００に装着されたか否かを検出する。
＃０１００にて、ストロボユニット８０がボディユニット１００に装着されたことを検出すると、＃０１０３へ移行して、制御フラグＦ＿Ｓｔｒｏｂｅをセットした後、＃００８へ移行する。一方、ストロボユニット８０がボディユニット１００から取り出されたことを検出すると、＃０１０１から＃０１０２へ移行して、制御フラグＦ＿Ｓｔｒｏｂｅをリセットしてから、＃０１０４へ移行する。
【００３８】
尚、この制御フラグもまた、ストロボユニット８０の装着期間は“１”を示し、外されている期間は“０”を示す。
【００３９】
次にまた、＃０１０４も周期的に実行されるステップであり、ジャック３７の状態判定を行うことで、プラグ７２がボディユニット１００のジャック３７に挿入されたか否かを検出する。
＃０１０５にて、プラグ７２がジャック３７に挿入されたことで外部電源７０の接続が検出できると＃００８へ移行するが、外部電源７０の接続がなければ、＃０１４へ移行する。詳しくは、外部電源７０を介して電流が電源回路５３ａと電圧検出回路５３ｂへ供給されると、電圧変化が生ずるので検知できる。よって、ここでは専用の制御フラグは設定しなくても接続状態がわかる。
【００４０】
上記の何れかのアクセサリが装着されると次に、＃００８にて、前述同様にサブルーチン「共振点検出動作」がコールされ実行されて、その直後の＃００９においては同様に、防塵ガラス３０の塵を除去するためのサブルーチン「塵除去動作」がコールされ実行される。
【００４１】
通常、カメラ本体であるボディユニット１００にレンズユニット１０が装着されていない期間において、レンズや防塵ガラス３０等に塵が付着する可能性が高い。したがってレンズユニット１０の装着を検出したタイミングで塵を払う動作を実行することが望ましい。また、レンズ交換やアクセサリの装着をすると、カメラの内部に外部の空気が循環してカメラ内部の温度が変化する場合がある。よって、この温度変化によってガラスの共振周波数も変化する。そこで、上記＃００８では、新しい駆動周波数(共振周波数)を決定するため上記「共振点検出動作」が実行され、続いて、その直後の＃００９にて、その決定された周波数で「塵除去動作」が実行されるようになっている。
【００４２】
＃０１４では、カメラ操作ＳＷの１つである１st.レリーズＳＷ(不図示)が操作されたか否かを判定する。もし、１st.レリーズＳＷがＯＮしているならば＃０１５へ移行し、ＯＦＦならば上記＃００３へ再び移行する。
【００４３】
＃０１５では、測光回路２１から被写体の輝度情報を入手する。そしてこの情報からＣＣＤユニット２２の露光時間(Ｔｖ値)と撮影レンズ１の絞り設定値（Ａｖ値）を算出する。
＃０１６では、ＡＦセンサ駆動回路１７を経由してＡＦセンサユニット１６の検知データを入手する。このデータに基づきピントのズレ量を算出する。
ここで＃０１７にて、Ｆ＿Ｌｅｎｓの状態を判定する。“０”ならばレンズユニット１０が存在しないことを意味するので、次の＃０１８以降の撮影動作は実行できない。そこでこの場合は上記＃００３へ再び移行する。
【００４４】
＃０１８では、Ｌｕｃｏｍ５に対してピントのズレ量を送信して、このズレ量に基づく撮影レンズ１の駆動を指令する。
＃０１９では、カメラ操作ＳＷ５２の１つである２nd.レリーズＳＷ(不図示)が操作されたか否かを判定する。この２nd.レリーズＳＷがＯＮしているときは＃０１９０へ移行するが、ＯＦＦのときは上記＃００３へ再び移行する。
【００４５】
＃０１９０では、制御フラグＦ＿Ｍｅｄｕｍの値に基づき記録媒体の有無を判定する。もし”１”以外であれば、上記＃００３へ再び移行する。一方、”１”であれば、撮影動作に先立って塵を除くため「塵除去動作」ルーチンが実行される。但しこの動作によってタイムラグが発生することを避けるため、ここでは「共振点検出動作」ルーチンは実行されない。
【００４６】
確実に塵を払うにはこれら２つのルーチンによる動作をあわせて行う事が望ましいが、共振周波数が変化する可能性が無ければ、「共振点検出動作」ルーチンは省略してもかまわない。
尚、このルーチンの実行の省略は、レンズ交換時のほか、カメラシステムの電源起動時、スリープ状態解除時、などではこの限りではない。但し、連写モード時は、二回目の撮像動作後からはこのルーチンの実行を省略してもかまわない。
【００４７】
撮像動作として、＃０２０から、まずＬｕｃｏｍ５へＡｖ値を送信し、絞り３の駆動を指令し、＃０２１にてクイックリターンミラー１１をＵＰ位置へ移動する。＃０２２にてシャッタ１５の先幕走行を開始させシャッタ１５を開く。
＃０２２０では、制御フラグＦ＿Ｓｔｒｏｂｅが”１”にセットされていれば、＃０２３０にてストロボ発光を行なわせ、それ以外ならばストロボ発光せずに、＃０２３にて画像処理コントローラ２８に対して撮像動作の実行を指令する。
【００４８】
Ｔｖ値で示される時間、ＣＣＤユニット２２による撮像が終了すると、＃０２４において、シャッタ１５の後幕走行を開始させ、＃０２５にてクイックリターンミラー１１をＤｏｗｎ位置へ駆動する。
またこれと並行してシャッタ１５のチャージ動作を行う。そして＃０２６では、Ｌｕｃｏｍ５に対して絞り３を開放位置へ復帰させるように指令し、＃０２７では、画像処理コントローラ２８に対して、撮影した画像データを記録メディア２７へ記録するように指令する。その画像データの記録が終了すると、再び上記＃００３へ移行して、同様な一連の処理ステップを繰り返す。
【００４９】
以下、図５に例示するフローチャートおよび図７（ａ）〜図１１（ｂ）に基づき、サブルーチン「共振点検出動作」について詳しく説明する。その前に、共振対象の防塵ガラス３０の支持構造と振動形態について、図７（ａ）〜図８（ｂ）を参照しながら概説しておく。
本発明に係わる電子撮像装置においては、防塵ガラス３０の形状を仮に円盤とする。またその防塵ガラス３０のガラス板の円周に沿って加振用の圧電素子３１を配置すると、このガラス板は円周で支持されることになる。このとき、当該ガラス板は複数の振動モード(振動形態)で加振する。本発明ではこの振動モードの中から２つのモードを選択して使い分けることとする。図７（ａ）,（ｂ）および図８（ａ）,（ｂ）に選択した振動モードにおけるガラス板の振動の状態を示す。
【００５０】
この実施形態に係わる防塵ガラス３０は、図７（ａ）,（ｂ）にそれぞれ図示したような振動形態を示す。すなわち、加振手段として働く圧電素子３１によって振動を加えると、そのガラス板の周囲には振動しない「節」が発生するが、概ねガラス全面が同じ位相にて、太矢印で示された如く図７（ａ）と図７（ｂ）の状態を交互に繰り返して振動する。このような振動形態を以下「振動モード１」と称する。
【００５１】
同様に、この実施形態の防塵ガラス３０は、加える振動の周波数によっては、図８（ａ）,（ｂ）にそれぞれ図示したような形態でも振動することができる。すなわち、図８（ａ）,（ｂ）に例示した防塵ガラス３０の振動形態は、ガラス板の内側と外側が１８０度ずれた位相で振動するものである。詳しくは、図示する振動形態ではガラス板の周囲と内部に節がそれぞれ発生するモードであり、図示の如く、内側の節に囲まれた領域の振動と内部の節の外側領域（ドーナツ状の領域）の振動は位相が１８０度ずれている。以下これを「振動モード２」と称する。
【００５２】
よって、図５に示す当該サブルーチン「共振点検出動作」では、上述した振動モード１と振動モード２の二種類の振動モードにおける共振周波数の検知動作が最初に行われる。
ガラスの特性（例えば形状、組成、支持方法など）によって共振周波数が存在する範囲が予想できるので、この範囲内でガラス板に振動を加えて共振点を検出するべきである。さもないと、検出動作に必要以上に時間がかかることになる。また、検出範囲を想定しないと、意図した振動モード以外の高次の共振モードにおける共振周波数を検出するおそれがある。
【００５３】
そこで本実施形態においては、共振周波数の検出動作のために必要なパラメータを、図９にメモリマップで示された複数の領域を有するＥＥＰＲＯＭ２９に予め記憶しておき、例えば「振動モード１対応制御パラメータ」として有している。振動モード１に対応する制御パラメータの値の詳細は、図１０（ａ）に例示された値で記憶されている。例えば、ＳｔａｒｔＯｆｆｓｅｔはこのテーブルの読出し開始位置を示す。
【００５４】
また同様に、「振動モード１対応周波数補正テーブル」として振動モード１に対応する制御パラメータの値の詳細は、図１１（ａ）に例示された値で記憶されている。このようなデータテーブルは、振動モード１でガラスを駆動するときＮ進カウンタ４１に設定する値を示している。このテーブルはクロックジェネレータ５５が周波数４０(ＭＨｚ)のパルス信号を出力するものとして算出されている。既に説明した（１式）を使えば駆動周波数が算出できる。
【００５５】
ＳｔｏｐＯｆｆｓｅｔはこの振動モード１対応周波数補正テーブルの読出し終了位置を示す。ＳｔａｒｔＯｆｆｓｅｔからＳｔｏｐＯｆｆｓｅｔの範囲で駆動周波数を遷移させると、何れかのテーブルの値でガラス板は振動モード１で振動する。
【００５６】
ＳｔｅｐＴｉｍｅは、駆動周波数を遷移させる際の１つの周波数で駆動すべき時間を示す。防塵ガラス駆動回路４０の安定時間を考慮して決定する。駆動周波数の変更に対しても、ガラス板の振動が直ちに追従するわけではない。追従しなければ、モニタ信号の出力もあてにならない。
【００５７】
ＡＤｗａｉｔは、モニタ信号をＡ/Ｄ変換する周波数を決定するパラメータであり、ガラスの共振周波数に応じて適当な値に決定する。Ｍ１ＯｓｃＴｉｍｅは、検出された周波数で防塵ガラス３０を加振する時間を示している。これは、サブルーチン「塵除去動作」で必要になる。
以上は、振動モード１における制御パラメータである。
振動モード２対応の制御パラメータの詳細は、図１０（ｂ）に示される。また、振動モード２対応周波数補正テーブルの詳細は図１１（ｂ）に示され、振動モード１と同様な構成のパラメータであり、基本的に同じなのでその説明は省略する。
【００５８】
さらに図５のフローチャートおよび図９〜図１２に基づき「共振点検出動作」の手順について説明する。
＃１００では、ＥＥＰＲＯＭ２９から４つの制御パラメータ（ＳｔａｒｔＯｆｆｓｅｔ，ＳｔｏｐＯｆｆｓｅｔ，ＳｔｅｐＴｉｍｅ，ＡＤｗａｉｔ）を読み出す。
そして＃１０１では、ＥＥＰＲＯＭ２９の読出し開始アドレスとしてＡｄｄｒｅｓｓＭ１＋ＳｔａｒｔＯｆｆｓｅｔを設定し、読出し終了アドレスとしてＡｄｄｒｅｓｓＭ１＋ＳｔｏｐＯｆｆｓｅｔを設定する。ＡｄｄｒｅｓｓＭ１は振動モード１対応周波数補正テーブルの先頭アドレスを示している。
【００５９】
仮に、読出し開始位置（ＳｔａｒｔＯｆｆｓｅｔ）を”３”とし、読出し終了位置（ＳｔｏｐＯｆｆｓｅｔ）を”９”とすると、図１１（ａ）中の＊１から＊２で示された領域のプリセット値”Ｎ”をＮ進カウンタ４１へ設定することになる。すなわち、ｆ１,ｆ２,ｆ３, …,ｆ７の周波数の中からモニタ信号の出力が最大となる周波数を検出することになる。
【００６０】
＃１０２では、モニタ信号の最大値を一時的に記憶するために確保したメモリＤ＿ＡＤＭＡＸへ便宜上モニタ信号の最小値である＃０を設定する。
＃１０３では、圧電素子３１を駆動するための準備動作が行われる。ＩＯポートのＰ＿ＰｗＣｏｎｔを制御してトランジスタＱ００をＯＮ状態にする。更に、クロックジェネレータ５５からパルス信号の出力を開始する。この状態でＮ進カウンタ４１にテーブルから取り出したデータを設定すれば、所望の周波数で圧電素子３１を駆動できる。
【００６１】
＃１０４においては、設定されたＥＥＰＲＯＭ２９のアドレスからプリセット値（Ｎ）を読み出す。そして、ＩＯポートのＤ＿ＮＣｎｔからＮ進カウンタ４１に読み出したプリセット値を設定する。
そして＃１０５にて、周波数駆動回路の安定するまでの所定時間だけ待機する。
【００６２】
＃１０６では、タイマカウンタ１へＳｔｅｐｔｉｍｅを設定し、タイマのカウント動作を開始する。例えば図１０（ａ）に示す如く、Ｓｔｅｐｔｉｍｅが記憶されていると、２(msec)がタイマカウンタ１へ設定されることになる。
＃１０７にて、Ａ/Ｄコンバータ６０の加算データを一時的に記憶するために確保したメモリ領域Ｄ＿ＡＤＳＵＭへ＃０を設定する。更にＡ/Ｄコンバータ６０の動作回数をカウントするために確保したメモリＤ＿ＡＤｃｏｕｎｔへ＃０を設定する。
【００６３】
＃１０８では、タイマカウンタ２へＡＤｗａｉｔを設定し、カウント動作を開始する。例えば図１０（ａ）に示す如くＡＤｗａｉｔが記憶されていると、８０(μsec)がタイマカウンタ２へ設定されることになる。
そして、＃１０９にて、Ａ/Ｄコンバータ６０を用いてモニタ信号のＡ/Ｄ変換値を取得する。
【００６４】
＃１１０では、モニタ信号のＡ/Ｄ変換値を、メモリ領域Ｄ＿ＡＤＳＵＭへ加算する。更にメモリ領域Ｄ＿ＡＤｃｏｕｎｔをインクリメント（１を加算）する。＃１１１では、タイマカウンタ２のカウント動作が終了するまで待機する。 ＃１１２では、タイマカウンタ１のカウント動作が終了しているか否かを判定する。まだ終了していない場合は、再度モニタ信号の測定のため、上記＃１０８へ移行する。もし終了していれば＃１１３へ移行する。
【００６５】
＃１１３では、メモリ領域Ｄ＿ＡＤＳＵＭとＤ＿ＡＤｃｏｕｎｔから、ＡＤ変換値の平均値を求める。そして、平均値はその平均値の記録のため確保したメモリ領域Ｄ＿ＡＤＡＶＥへ格納される。Ｄ＿ＡＤＡＶＥは、現在の駆動周波数におけるモニタ信号のレベルを示すことになる。
＃１１４では、Ｄ＿ＡＤＡＶＥとＤ＿ＡＤＭＡＸとの内容を比較する。もしＤ＿ＡＤＡＶＥの内容がＤ＿ＡＤＭＡＸの内容よりも大きい場合は、＃１１５へ移行し、小さい場合は＃１１９へ移行する。
【００６６】
＃１１５では、Ｄ＿ＡＤＡＶＥの内容をＤ＿ＡＤＭＡＸ中に移す。古い最大値は破棄され、今回測定された値がモニタ信号の最大値として記憶される。そして、現在、振動モード１でモニタ信号を測定中ならば、＃１１６から＃１１７へ移行する。現在、振動モード２でモニタ信号を測定中ならば、＃１１６から＃１１８へ移行する。
【００６７】
＃１１７では、現在のＥＥＰＲＯＭ２９のアドレスをＤ＿Ｍ１ｒｅｓｏｎａｎｔに記憶する。Ｄ＿Ｍ１ｒｅｓｏｎａｎｔは振動モード１用のアドレスを記憶するためメモリ上に確保した領域である。
また、＃１１８では、現在のＥＥＰＲＯＭのアドレスをＤ＿Ｍ２ｒｅｓｏｎａｎｔに記憶する。Ｄ＿Ｍ２ｒｅｓｏｎａｎｔは振動モード２用のアドレスを記憶するためメモリ上に確保した領域である。
これらＤ＿Ｍ１ｒｅｓｏｎａｎｔ及びＤ＿Ｍ２ｒｅｓｏｎａｎｔの値は、後述のサブルーチン「塵除去動作」で使用される。
【００６８】
＃１１９では、ＥＥＰＲＯＭ読出し終了アドレスで示される駆動周波数までモニタ信号の測定が終了したか否かを判定する。まだ終了していなければ＃１２１へ移行し、終了していれば次の＃１２０へ移行する。
＃１２０では、駆動動作を停止する処理が行われる。トランジスタＱ００をＯＦＦして、クロックジェネレータの動作を止める。
＃１２１では、ＥＥＰＲＯＭ２９の読出しアドレスをインクリメントし、＃１０４へ移行する。
【００６９】
＃１２２では、振動モード１と振動モード２における共振点の検出動作が終了したか否かを判定する。共に検出動作が終了していればメインルーチンへリターンする。
振動モード１のみが終了している場合は、振動モード２における共振周波数を検出するために＃１３０へ移行する。尚、＃１３０，＃１３１の動作は既に説明した＃１００，＃１０１と基本的に同じねあるので説明は省略する。そして、共振周波数を検出するため再び上記＃１０２へ移行する。
【００７０】
尚、本サブルーチンでは２つのパラメータ（ＳｔａｒｔＯｆｆｓｅｔ、ＳｔｏｐＯｆｆｓｅｔ）で規定される範囲で周波数補正テーブルからプリセット値を読み出した。そしてこのプリセット値すべてを利用してガラス板を駆動し、モニタ信号のレベルを測定するものである。
【００７１】
図１２には周波数とガラス板の振幅の関係を示している。また、＊３は共振モード１の特性を示すと仮定する。
本ルーチンでは、図１１（ａ）に例示したｆ１,ｆ２,ｆ３, …,ｆ７という周波数(プリセット値)において、モニタ信号レベルを測定する。＊３の特性における共振周波数はｆｃである。ｆｃはｆ４に相当する。本ルーチンでは、ｆ１,ｆ２,ｆ３,ｆ４と順次に駆動周波数を変更していきながらモニタ信号の測定を行う。そして、共振周波数ｆｃを過ぎても、ｆ５,ｆ６,ｆ７と順次に駆動を続ける。
【００７２】
ｆ１〜ｆ４では、モニタ信号は増加方向にある。そして、ｆ５からモニタ信号は減少方向に変化する。よって、このモニタ信号の増加方向から減少方向への変化を検出すれば、ｆ６,ｆ７の周波数であえて駆動する必要性はなくなる。なお、周波数を変化させる範囲が広い場合は、共振周波数の検出時間短縮のために、ここで例示した如くの制御プログラムを作ることが望ましい。
【００７３】
ここで、図６に示すサブルーチン「塵除去動作」について説明する。
このサブルーチンでは、上述した振動モード１と振動モード２の２つのモードで防塵ガラス３０が共振されるように圧電素子３１を駆動するように設定されている。一般的に、塵の特性（例えば重さ、形状、素材など）によって、塵を除去しやすい周波数や振幅が異なる。そこで、確実に塵を除くためにはこれら２つの振動モードでそのガラス板を共振させるとよい。勿論、更に複数の振動モードで共振させてもよい。但し、除去動作にかかる時間もまたその分余計にかかることがあるので、除去効果の程度と所要時間とを充分鑑みて適当な数に設定するべきである。
【００７４】
そこでまず、＃２００では、ＥＥＰＲＯＭ２９の振動モード１対応制御パラメータよりＭ１ＯＳＣｔｉｍｅを、振動モード２対応制御パラメータよりＭ２ＯＳＣｔｉｍｅをそれぞれ読み出す。
＃２０１では、圧電素子３１を駆動するための準備動作が行われる。ＩＯポートのＰ＿ＰｗＣｏｎｔを制御して、トランジスタＱ００をＯＮ状態にする。更に、クロックジェネレータ５５からパルス信号の出力を開始する。この状態でＮ進カウンタ４１にＥＥＰＲＯＭ２９のテーブルから取り出したデータを設定すれば、所望の周波数で圧電素子３１を駆動できる。
【００７５】
＃２０２では、Ｄ＿Ｍ１ｒｅｓｏｎａｎｔが示すＥＥＰＲＯＭ２９のアドレスからプリセット値(Ｎ)を読み出す。この値は、Ｎ進カウンタ４１へセットされる。これにより防塵ガラス駆動回路４０は、そのガラス板を振動モード１の共振周波数で駆動する。
＃２０３では、タイマカウンタ１へＭ１ＯｓｃＴｉｍｅを設定し、カウント動作を開始する。例えば、図１０（ａ）に示す如くＭ１ＯｓｃＴｉｍｅが記憶されていると、２００(msec)がタイマカウンタ１ヘ設定されることになる。
＃２０４では、タイマカウンタ１のカウント動作が終了するまで待機する。 以上により、振動モード１による塵払いの動作は完了する。さらに、確実に塵払いを行うため、振動モード２でガラス板を振動させる。
【００７６】
＃２０５では、Ｄ＿Ｍ２ｒｅｓｏｎａｎｔが示すＥＥＰＲＯＭ２９のアドレスからプリセット値(Ｎ)を読み出す。この値は、Ｎ進カウンタ４１へセットされる。これにより防塵ガラス駆動回路４０は、そのガラス板を振動モード２の共振周波数で駆動する。
＃２０６では、タイマカウンタ２へＭ２ＯｓｃＴｉｍｅを設定し、カウント動作を開始する。例えば、図１０（ｂ）に示す如くＭ２ＯｓｃＴｉｍｅが記憶されていると、１００(msec)がタイマカウンタ２ヘ設定されることになる。
【００７７】
＃２０７では、タイマカウンタ２のカウント動作が終了するまで待機する。 そして＃２０８では、駆動動作を停止する処理が行われる。トランジスタＱ００をＯＦＦ状態にし、クロックジェネレータ５５の動作を止める。
その後は、メインルーチンへリターンする。
【００７８】
なお、カメラシステムの設計段階では、ガラス板の共振周波数のバラツキを予測することは非常に困難である。したがって、このカメラシステムが完成した後に、圧電素子３１の駆動周波数を決定する制御パラメータを設定できるようにすべきである。そこで必要なパラメータは、上述した如く本発明ではすべてＥＥＰＲＯＭ２９に選択可能に格納されている。
また、本サブルーチン「塵除去動作」は、前述したサブルーチン「共振点検出動作」で検出された共振周波数のみでガラス板の駆動を行っている。
【００７９】
図１２には、周波数とガラス板の振幅の関係を示している。サブルーチン「共振点検出動作」を実行しているときの特性を＊３とする。共振周波数ｆｃは、図１１（ａ）中のｆ４に相当するものとする。しかし、共振周波数が予期しない要因で特性が＊４、＊５の如く変動する可能性もある。このような変動が生じても対応できるようにＥＥＰＲＯＭ２９のテーブルからｆ４以外にもｆ３，ｆ５のデータを読み出して当該サブルーチンを実行してもよい。
【００８０】
また、温度によっても共振周波数がある範囲で変動するので、所定の実験により作成した温度補正テーブルを適正に設定し参照可能に保持することで、その運用時の温度において最も好適な共振周波数でそのガラス板を駆動させてもよい。そのためには、振動モードに対応する温度補正テーブルからその時の温度に対応するパラメータを読み出すために、温度情報（ｔ）を当サブルーチンの実行前に、温度測定回路３３の温度センサ(不図示)によって検出しておけばよい。
【００８１】
このように当該実施形態の防塵機能付きの電子撮像装置(例えばカメラ)によれば、レンズユニット１０のほか、記録メディア２７、外部電源７０またはストロボユニット８０等のアクセサリを着脱可能であり、撮影レンズ１とＣＣＤユニット２２の間に配される構成部材(防塵ガラス３０)および、このガラスを複数種類の周波数で振動させ付着した塵を除去する塵除去手段(圧電素子３１および防塵ガラス駆動回路４０)を有して構成されているので、上記アクセサリの何れかの装着に応じた効果的なタイミングにて圧電素子３１による共振動作で塵除去動作を行うことができる。
【００８２】
特にここでの防塵機能においては、光学素子(防塵ガラス３０)の共振周波数を検出する為に加振手段(圧電素子３１)を駆動する共振周波数検出モードと、上記光学素子に付着した塵を除去する為に圧電素子３１を駆動する塵除去モードとを有し、アクセサリ装置が装着されたタイミングにて、基本的には上記共振周波数検出モードと上記塵除去モードを連続して実行するようにしている。また、共振周波数検出の為の所要時間によるタイムラグを撮影時に与えないように、共振周波数検出動作を撮影直前には省略している。よって、撮影タイミングに悪影響を与えず、効率的かつ確実な塵除去が可能となる。
【００８３】
（変形例）
以上、電子撮像装置としてカメラシステムを一例に、保護ガラス(防塵ガラス)における実施形態について説明してきたが、埃や塵を嫌うその他の電子撮像装置においても、また防塵ガラス以外の構成部材やその他の部位においても、本発明を同様に適用すれば、前述の実施形態と同等な効果が得られる。
また、共振周波数を特定できないガラス以外の光学素子部材を適用することもでき、その場合にも、製品個々のバラツキに起因する固有共振周波数に対する調整は不要となり、前述同等な効果が期待できる。
このほかにも、本発明の要旨を逸脱しない範囲で種々の変形実施が可能である。
【００８４】
【発明の効果】
このように本発明によれば、アクセサリ装置の着脱時に構成部材に付着する塵を確実に除去できる防塵機能付きの電子撮像装置を提供することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図１】 本発明に係わる実施形態のカメラの構成を示すブロック構成図。
【図２】 本発明の実施形態としての加振手段(防塵ガラス駆動回路)の回路構成を示す回路図。
【図３】 防塵ガラス駆動回路の動作を説明するため、図２中の各部における信号波形の表わすタイムチャート。
【図４】 カメラボディ制御用マイコンのカメラシーケンスの手順を表わすフローチャート。
【図５】 図４のフローチャート中のルーチン「共振点検出動作」の詳細手順を表わすフローチャート。
【図６】 図４のフローチャート中のルーチン「塵除去動作」の詳細手順を表わすフローチャート。
【図７】 図７（ａ）,（ｂ）は本発明に係わる防塵ガラスの振動形態を示し、ガラス板の周囲に節が発生して全面が同じ位相で振動する形態(振動モード１)の説明図。
【図８】 図８（ａ）,（ｂ）は本発明に係わる防塵ガラスの振動形態を示し、ガラス板の内側と外側が１８０°異なる位相で振動する形態(振動モード２)の説明図。
【図９】 ＥＥＰＲＯＭに占める周波数補正に関するテーブル領域を示すメモリマップ。
【図１０】 図１０（ａ）,（ｂ）は、振動モードの周波数補正に関する制御パラメータを示し、
（ａ）は、振動モード１対応制御パラメータテーブルの詳細を表わす一覧表、
（ｂ）は、振動モード２対応制御パラメータテーブルの詳細を表わす一覧表。
【図１１】 図１１（ａ）,（ｂ）は振動モードに対応する補正値を示し、（ａ）は、振動モード１対応周波数補正テーブルの詳細表、
（ｂ）は、振動モード２対応周波数補正テーブルの詳細表。
【図１２】 駆動周波数とガラス板の振動の振幅との関係を表わす特性グラフ。
【符号の説明】
１…撮影レンズ、 ２…レンズ駆動機構、
３…絞り、 ４…絞り駆動機構、
５…レンズ制御用マイクロコンピュータ、
６…通信コネクタ、
１０…レンズユニット（交換レンズ）、
１１…クイックリターンミラー、
１２…ペンタプリズム、
１３…接眼レンズ、 １４…サブミラー、
１５…シャッタ（前幕、後幕）、
１６…ＡＦセンサ、 １７…ＡＦセンサ駆動回路、
１８…ミラー駆動機構、
１９…シャッタチャージ機構、
２０…シャッタ制御回路、
２１…測光回路、
２２…ＣＣＤユニット（光電変換素子）、
２３…ＣＣＤインターフェイス回路、
２４…液晶モニタ、 ２５…ＳＤＲＡＭ、
２６…ＦｌａｓｈＲＯＭ、
２７…記録メディア（アクセサリ）、
２８…画像処理コントローラ、
２９…不揮発性メモリ（ＥＥＰＲＯＭ）、
３０…防塵ガラス（光学素子）、
３１…圧電素子（加振手段、塵除去手段）、
３３…温度測定回路、
３５…通信コネクタ、 ３７…ジャック、
４０…防塵ガラス駆動回路（加振、駆動手段）、
４１…Ｎ進カウンタ、 ４２…１／２分周回路、
４３…インバータ、 ４４…トランジスタ、
４４ａ，４４ｂ，４４ｃ…ＭＯＳトランジスタ、
４５…トランス、 ４６…抵抗、
４７…Ｄ／Ａコンバータ、
４８…ＶＣＯ（電圧制御発振器）、
４９…アンプ、
５０…ボディ制御用マイクロコンピュータ、
５１…動作表示用ＬＣＤ、
５２…カメラ操作ＳＷ、
５３ａ…電源回路、５３ｂ…電圧検出回路、
５４…電池、 ５５…クロックジェネレータ、
６０…Ａ／Ｄコンバータ、
６１…電極Ｂ（モニタ用圧電素子電極）、
６２…ダイオード（検出回路要素）、
６３，６４…抵抗（：）、
６５…コンデンサ（：）、
７０…外部電源（アクセサリ）、
７１…コネクタ（コンセント用プラグ）、
７２…プラグ（ピンジャック）、
８０…ストロボユニット（アクセサリ）、
８１…閃光電球、 ８２…ＤＣ／ＤＣコンバータ、
８３…ストロボ制御マイクロコンピュータ、
８４…電池（ストロボ用バッテリ）、
８５…ストロボ通信コネクタ。
【発明の属する技術分野】
本発明は、撮像素子を有する電子撮像装置に係わり、例えばカメラシステムなどの構成部材に付着した塵を除去可能な防塵機能付きの電子撮像装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
従来、光学装置の防塵機能に関する技術の一例としては、撮像素子を保護する保護ガラス(防塵ガラス)を振動させることで、そのガラスに付着した塵を払い落とすという技術が提案されている。具体的に例えば、特願平２０００−４０１２９１号に教示されたものがあり、これには、ガラス板を振動させる手段として圧電素子が用いられている。この圧電素子は印加される電圧に反応して伸縮して、取り付けられたガラス板を所定の１つの周期で加振するものである。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】
種々のアクセサリ装置が着脱自在に提供されており、運用に際して所望のアクセサリ装置をその本体に装着して利用される。ただしカメラの場合などは、交換レンズの着脱のほかにも、アクセサリ装置の着脱をするとカメラの内部に外部の空気が循環してカメラ内部には空気中の塵が進入し、この塵がレンズガラスやＣＣＤなどの表面に付着することが多い。
しかしながら、上記特願平２０００−４０１２９１号には、アクセサリ装置の着脱時にガラス板に付着する塵を除去する点に関しての開示はされていない。
【０００４】
そこで本発明の目的は、アクセサリ装置の着脱時に構成部材に付着する塵を確実に除去するような防塵機能付きの電子撮像装置を提供することにある。
【０００５】
【課題を解決するための手段】
上記課題を解決し目的を達成するため本発明では次のような手段を講じている。即ち第１の態様によれば、被写体の光学像を電気信号に変換する撮像手段を有する電子撮像装置において、この電子撮像装置に着脱自在なアクセサリ装置と、上記撮像手段の前面に配置された光学素子と、上記光学素子を振動させる加振手段と、上記加振手段に対して周波数信号を供給することによって、上記加振手段を駆動する駆動制御手段と、を具備し、上記駆動制御手段は、上記光学素子の共振周波数を検出するために上記加振手段を駆動する共振周波数検出モードと、上記光学素子に付着した塵を除去するために上記加振手段を駆動する塵除去モードとを有し、上記アクセサリ装置が装着されたタイミングにおいては、上記共振周波数検出モードと上記塵除去モードを連続して実行するように制御するような電子撮像装置を提案する。
【０００６】
第２の態様によれば、被写体の光学像を電気信号に変換する撮像手段を有する電子撮像装置において、上記電子撮像装置に着脱自在であって、上記撮像手段に上記光学像を結像させる撮像光学系と、上記撮像光学系と上記撮像手段との間に配される光学素子と、上記光学素子を振動させる加振手段と、上記加振手段に対して周波数信号を供給することによって、上記加振手段を駆動する駆動制御手段と、を具備しており、上記駆動制御手段は、上記撮像光学系が上記電子撮像装置に装着されると、上記光学素子の共振周波数を検出する為の共振点検出動作を実行した後、上記共振点検出動作によって検出された共振周波数で上記加振手段を駆動して、上記光学素子の振動を制御するような電子撮像装置を提案する。
【０００７】
また、第３の態様によれば、被写体の光学像を電気信号に変換する撮像手段を有する電子撮像装置において、上記電子撮像装置に着脱自在であって、上記撮像手段に上記光学像を結像させる撮像光学系と、上記撮像光学系と上記撮像手段との間に配される光学素子と、上記光学素子を振動させる加振手段と、上記加振手段に対して周波数信号を供給することによって、上記加振手段を駆動する駆動制御手段と、を具備しており、上記駆動制御手段は、上記光学素子の共振周波数を検出するために上記加振手段を駆動する共振周波数検出モードと、上記光学素子に付着した塵を除去するために上記加振手段を駆動する塵除去モードとを有し、上記撮像光学系が装着されたタイミングにおいては、上記共振周波数検出モードと上記塵除去モードを連続して実行し、撮像動作に先立つ所定のタイミングにおいては、上記塵除去モードのみを実行するように制御するような電子撮像装置を提案する。
【０００８】
【発明の実施の形態】
以下、本発明に係わる防塵機能付きの電子撮像装置として、撮像素子と種々のアクセサリを有するカメラシステムを例に挙げ、実施形態に基づき詳しく説明する。
図１には、本発明に係わる一実施形態のカメラシステム構成をブロック構成図で示す。このカメラシステムは、カメラ本体としてのボディユニット１００と、アクセサリ装置（以下「アクセサリ」と略称する）として例えば、交換レンズとしてのレンズユニット１０と、撮影した画像データを記録しておく記録メディア２７、外部電源７０および外付けのストロボユニット８０などから主にシステム構成されている。
【０００９】
ユーザが所望するレンズユニット１０は、ボディユニット１００の前面に設けられたレンズマウント(不図示)を介して着脱自在に設定されている。
上記の記録メディア２７は、各種のメモリカードや、外付けのＨＤＤ等の外部記録媒体であり、通信コネクタ３５を介してカメラ本体と通信可能かつ交換可能に装着される。
上記の外部電源７０はＡＣ／ＤＣコンバータ機能を内蔵し、付属するコネクタ７１とプラグ７２を介して、例えば家庭用電源コンセントからカメラ本体側のジャック３７へ、プラグ７２を差し込むことで必要な電力が供給可能になっている。
【００１０】
また上記のストロボユニット８０は、閃光電球８１、ＤＣ／ＤＣコンバータ８２、ストロボ制御マイクロコンピュータ８３および電池８４から成り、ストロボ通信コネクタ８５を介してカメラ本体と通信可能に装着できる。
【００１１】
レンズユニット１０の制御はレンズ制御用マイクロコンピュータ(以下”Ｌｕｃｏｍ”と称する)５が行う。ボディユニット１００の制御はボディ制御用マイクロコンピュータ(以下“Ｂｕｃｏｍ”と称する)５０が行う。尚、これらＬｕｃｏｍ５とＢｕｃｏｍ５０とは、合体時において通信コネクタ６を介して通信可能に電気的接続がなされる。そしてカメラシステムとしてＬｕｃｏｍ５がＢｕｃｏｍ５０に従属的に協働しながら稼動するようになっている。
【００１２】
レンズユニット１０内には撮影レンズ１と絞り３が設けられている。撮影レンズ１はレンズ駆動機構２内に在る図示しないＤＣモータによって駆動される。絞り３は絞り駆動機構４内に在る図示しないステッピングモータによって駆動される。Ｌｕｃｏｍ５はＢｕｃｏｍ５０の指令に従ってこれら各モータを制御する。
【００１３】
ボディユニット１００内には次の構成部材が図示のように配設されている。例えば、光学系としての一眼レフ方式の構成部材（クイックリターンミラー１１、ペンタプリズム１２、接眼レンズ１３、サブミラー１４）と、光軸上のフォーカルプレーン式のシャッタ１５と、上記サブミラー１４からの反射光束を受けて自動測距する為のＡＦセンサユニット１６が設けられている。
また、上記ＡＦセンサユニット１６を駆動制御するＡＦセンサ駆動回路１７と、上記クイックリターンミラー１１を駆動制御するミラー駆動機構１８と、上記シャッタ１５の先幕と後幕を駆動するばねをチャージするシャッタチャージ機構１９と、それら先幕と後幕の動きを制御するシャッタ制御回路２０と、上記ペンタプリズム１２からの光束に基づき測光処理する測光回路２１が設けられている。
【００１４】
光軸上には、上記光学系を通過した被写体像を光電変換するためのＣＣＤユニット２２が光電変換素子として設けられ、更にこのＣＣＤユニット２２と撮影レンズ１との間に配された光学素子としての防塵ガラス３０によって保護されている。そして、この防塵ガラス３０を所定の周波数で振動させる加振手段の一部として例えば圧電素子３１がその防塵ガラス３０の周縁部に取り付けられている。
【００１５】
また、圧電素子３１は２つの電極（詳細後述）を有しており、この圧電素子３１が加振手段の一部としての防塵ガラス駆動回路４０によって防塵ガラス３０を振動させ、そのガラス表面に付着していた塵を除去できるように構成されている。よって、このカメラシステムはいわゆる「防塵機能付きカメラ」に属する基本構造をもつ電子カメラである。
なお、ＣＣＤユニット２２の周辺の温度を測定するために、防塵ガラス３０の近傍には、温度測定回路３３が設けられている。
【００１６】
このカメラシステムにはまた、ＣＣＤユニット２２に接続したＣＣＤインターフェイス回路２３、液晶モニタ２４、記憶領域として設けられたＳＤＲＡＭ２５、ＦｌａｓｈＲＯＭ２６および記録メディア２７などを利用して画像処理する画像処理コントローラ２８とが設けられ、電子撮像機能と共に電子記録表示機能を提供できるように構成されている。
その他の記憶領域としては、カメラ制御に必要な所定の制御パラメータを記憶する不揮発性記憶手段として例えばＥＥＰＲＯＭから成る不揮発性メモリ２９が、Ｂｕｃｏｍ５０からアクセス可能に設けられている。
【００１７】
Ｂｕｃｏｍ５０には、当該カメラの動作状態を表示出力によってユーザへ告知するための動作表示用ＬＣＤ５１と、カメラ操作ＳＷ５２とが設けられている。上記カメラ操作ＳＷ５２は、例えばレリーズＳＷ、モード変更ＳＷおよびパワーＳＷなどの、当該カメラを操作するために必要な操作釦を含むスイッチ群である。さらに、電源としての電池５４と、この電源の電圧を、当該カメラシステムを構成する各回路ユニットが必要とする電圧に変換して供給する電源回路５３ａが設けられ、外部電源７０からジャック３７を介して電流が供給されたときの電圧変化を検知する電圧検出回路５３ｂが併設されている。
【００１８】
上述した如くに構成されたカメラシステムでは、各部が次のように稼動する。画像処理コントローラ２８は、Ｂｕｃｏｍ５０の指令に従ってＣＣＤインターフェイス回路２３を制御してＣＣＤユニット２２から画像データを取り込む。この画像データは画像処理コントローラ２８でビデオ信号に変換され、液晶モニタ２４にて出力表示される。ユーザはこの液晶モニタ２４の表示画像から、撮影した画像イメージを確認できる。
ＳＤＲＡＭ２５は画像データの一時的保管用メモリであり、画像データが変換される際のワークエリアなどに使用される。またこの画像データはＪＰＥＧデータに変換された後には記録メディア２７に保管されるように設定されている。
【００１９】
ＣＣＤユニット２２は、透明な防塵ガラス３０によって保護されている。この防塵ガラス３０の周縁部にはそのガラス面を加振するための圧電素子３１が配置されており、この圧電素子３１は、後で詳しく説明するようにこの為の駆動手段としても働く防塵ガラス駆動回路４０によって駆動される。
ＣＣＤユニット２２および圧電素子３１は、防塵ガラス３０を一面とし且つ破線で示すような枠体によって囲まれたケース内に一体的に収納されることが、防塵のためにはより好ましい。
【００２０】
通常、温度はガラス製の物材の弾性係数に影響し、その固有振動数を変化させる要因の１つであるため、運用時にその温度を計測してその固有振動数の変化を考慮しなければならない。稼動中に温度上昇が激しいＣＣＤユニット２２の前面を保護するため設けられた防塵ガラス３０の温度変化を測定してその時の固有振動数を予想するほうがよい。
したがってこの例の場合、上記温度測定回路３３に接続されたセンサ(不図示)が、ＣＣＤユニット２２の周辺温度を測定するため設けられている。尚、そのセンサの温度測定ポイントは、防塵ガラス３０の振動面の極近傍に設定されるのが好ましい。
【００２１】
ミラー駆動機構１８は、クイックリターンミラー１１をＵＰ位置とＤＯＷＮ位置へ駆動するための機構であり、このクイックリターンミラー１１がＤＯＷＮ位置にある時、撮影レンズ１からの光束はＡＦセンサユニット１６側とペンタプリズム１２側へと分割されて導かれる。
ＡＦセンサユニット１６内のＡＦセンサからの出力は、ＡＦセンサ駆動回路１７を介してＢｕｃｏｍ５０へ送信されて周知の測距処理が行われる。
【００２２】
また、ペンタプリズム１２に隣接する接眼レンズ１３からはユーザが被写体を目視できる一方、このペンタプリズム１２を通過した光束の一部は測光回路２１内のホトセンサ(不図示)へ導かれ、ここで検知された光量に基づき周知の測光処理が行われる。
【００２３】
次に、図２に示す防塵ガラス駆動回路４０の回路図と、図３のタイムチャートに基づいて、この実施形態における防塵機能付きカメラの防塵ガラス３０の駆動およびその動作と制御について説明する。
ここに例示した防塵ガラス駆動回路４０は、図２に示すような回路構成を有し、その各部において、図３のタイムチャートで表わす波形信号（Ｓｉｇ１〜Ｓｉｇ６）が生成され、それらの信号に基づいて次のように制御される。すなわち、防塵ガラス駆動回路４０は図２に例示の如く、Ｎ進カウンタ４１、１／２分周回路４２、インバータ４３、複数のＭＯＳトランジスタ(Ｑ００,Ｑ０１,Ｑ０２)４４ａ,４４ｂ,４４ｃ、トランス４５、抵抗(Ｒ００)４６、Ａ/Ｄコンバータ６０、圧電素子３１の第１の電極Ａとこれに並ぶ第２の電極Ｂ６１、ダイオード(Ｄ００)６２、抵抗(Ｒ０１,Ｒ０２)６３，６４、およびコンデンサ(Ｃ００)６５から構成されている。
【００２４】
上記トランス４５の１次側に接続されたトランジスタ(Ｑ０１)４４ｂおよびトランジスタ(Ｑ０２)４４ｃのＯＮ／ＯＦＦ切替え動作によって、そのトランス４５の２次側に所定周期の信号(Ｓｉｇ４)が発生するように構成されており、この所定周期の信号に基づき２つの電極Ａ，Ｂを有した圧電素子３１を種々に駆動させながら、効率的な共振周波数を探し出して防塵ガラス３０を効果的に共振させるようになっている（詳細後述）。
【００２５】
Ｂｕｃｏｍ５０は、制御ポートとして設けられた２つのＩＯポートＰ＿ＰｗＣｏｎｔ及びＩＯポートＤ＿ＮＣｎｔと、このＢｕｃｏｍ５０内部に存在するクロックジェネレータ５５を介して防塵ガラス駆動回路４０を次のように制御する。クロックジェネレータ５５は、圧電素子３１へ印加する信号周波数より充分に早い周波数でパルス信号(基本クロック信号)をＮ進カウンタ４１へ出力する。この出力信号が図３中のタイムチャートが表わす波形の信号Ｓｉｇ１である。そしてこの基本クロック信号はＮ進カウンタ４１へ入力される。
【００２６】
Ｎ進カウンタ４１は、当該パルス信号をカウントし所定の値“Ｎ”に達する毎にカウント終了パルス信号を出力する。即ち、基本クロック信号を１／Ｎに分周することになる。この出力信号が図３中のタイムチャートが表わす波形の信号Ｓｉｇ２である。
この分周されたパルス信号はＨｉｇｈとＬｏｗのデューティ比が１：１ではない。そこで、１／２分周回路４２を通してデューティ比を１：１へ変換する。
【００２７】
なお、この変換されたパルス信号は図３中のタイムチャートが表わす波形の信号Ｓｉｇ３に対応する。
この変換されたパルス信号のＨｉｇｈ状態において、この信号が入力されたＭＯＳトランジスタ(Ｑ０１)４４ｂがＯＮする。一方、トランジスタ(Ｑ０２)４４ｃへはインバータ４３を経由してこのパルス信号が印加される。したがって、パルス信号のＬｏｗ状態において、この信号が入力されたトランジスタ(Ｑ０２)４４ｃがＯＮする。トランス４５の１次側に接続されたトランジスタ(Ｑ０１)４４ｂとトランジスタ(Ｑ０２)４４ｃが交互にＯＮすると、２次側には図３中の信号Ｓｉｇ４の如き周期の信号が発生する。
【００２８】
トランス４５の巻き線比は、電源回路５３のユニットの出力電圧と圧電素子３１の駆動に必要な電圧から決定される。尚、抵抗(Ｒ００)４６はトランス４５に過大な電流が流れることを制限するために設けられている。
圧電素子３１を駆動するに際しては、トランジスタ(Ｑ００)４４ａがＯＮ状態にあり、電源回路５３ユニットからトランス４５のセンタータップに電圧が印加されていなければならない。図中トランジスタ(Ｑ００)４４ａのＯＮ／ＯＦＦ制御はＩＯポートのＰ＿ＰｗＣｏｎｔを介して行われる。Ｎ進カウンタ４１の設定値“Ｎ”はＩＯポートＤ＿ＮＣｎｔから設定できる。よって、Ｂｕｃｏｍ５０は、設定値“Ｎ”を適宜に制御することで、圧電素子３１の駆動周波数を任意に変更可能である。
【００２９】
このとき、次式によって周波数は算出可能である。
Ｎ：カウンタへの設定値、
ｆｐｌｓ：クロックジェネレータの出力パルスの周波数、
ｆｄｒｖ：圧電素子へ印加される信号の周波数、
ｆｄｒｖ ＝ ｆｐｌｓ／２Ｎ …（１式）
尚、この式に基づいた演算は、Ｂｕｃｏｍ５０のＣＰＵ(制御手段)で行われる。
【００３０】
電極Ｂ６１は、ガラス板の振動状態を検出するための圧電素子の電極である。この電極Ｂ６１からそのガラス板の振動状態に応じた交流電圧(モニタ信号)が発生する。これが図３のタイムチャート上のＳｉｇ５である。
電極Ｂ６１に接続するダイオード(Ｄ００)６２はそのモニタ信号を半波整流するために設けられている。また、このダイオード(Ｄ００)６２に続く抵抗(Ｒ０１,Ｒ０２)６３，６４およびコンデンサ(Ｃ００)６５によって、そのモニタ信号の包絡線が形成されている。これら抵抗(Ｒ０１,Ｒ０２)６３，６４およびコンデンサ(Ｃ００)６５から成る検出回路によって決定される時定数は、ガラスの振動周波数によって最適値が異なる。この実施形態のガラス板は２つの共振モード(第１、第２の駆動モード)で駆動される。この２つの共振モードにおける駆動周波数が大きく異なるときは、時定数を変更できるように回路構成を採用する必要がある。抵抗(Ｒ０１,Ｒ０２)６３，６４でモニタ信号は、Ａ/Ｄコンバータ６０へ入力可能なレベルまで減圧される。この信号が図３のタイムチャート上のＳｉｇ６である。
【００３１】
この信号はＡ/Ｄコンバータ６０でデジタルデータに変換され、Ｂｕｃｏｍ５０のＩＯポートＤ＿ＤＡＣｉｎから読み取られる。Ｂｕｃｏｍ５０は、モニタ信号が最大レベルになるようにＮ進カウンタ４１に設定する値を変化させればよい。最大レベルを示すＮ進カウンタ４１の値(共振周波数)でガラスを駆動するとき、効率よく塵を払うことができる。
【００３２】
上述のカメラボディ制御用マイクロコンピュータ(Ｂｕｃｏｍ)５０が行う制御について、図４に示された制御プログラムのメインルーチンに基づき、具体的に説明する。
カメラの電源ＳＷ(不図示)がＯＮされると、Ｂｕｃｏｍ５０は稼動を開始し、＃０００ではまず、カメラシステムを起動するための処理が実行される。電源回路５３を制御してこのカメラシステムを構成する各回路ユニットへ電力を供給する。また、各回路ユニットの初期設定を行う。
【００３３】
＃００１では、サブルーチン「共振点検出動作」がコールされ実行される。このサブルーチンでは防塵ガラス３０が効率よく振動させるために適した駆動周波数(共振周波数)を検出する（詳細後述）。この為の周波数データはＢｕｃｏｍ５０の所定アドレスのメモリ領域に記憶されている。
【００３４】
続いて＃００２では、サブルーチン「塵除去動作」がコールされ実行される。このサブルーチン中では、上記＃００１で検出された共振周波数で防塵ガラス３０を加振し、ガラス面に付着した塵を振り払うことで、このカメラを撮影に使用しない期間に、ユーザが意図せずに付着した塵を除去できるようになっている。
【００３５】
本発明の特徴的な１つである処理ステップ＃００３〜＃０１０５にて、各種のアクセサリの装着の有無およびその状態について順次にチェックしていく。
まず、＃００３は、周期的に実行されるステップであり、Ｌｕｃｏｍ５と通信動作を行うことでレンズユニット１０の状態を検出するための動作ステップである。そして＃００４１にて、レンズユニット１０がボディユニット１００に装着されたことを検出すると＃００４４へ移行する。一方、レンズユニット１０がボディユニット１００から外されたことを検出したときは、＃００４２から＃００４３へ移行して、制御フラグＦ＿Ｌｅｎｓをリセットする。そして＃００５に移行する。
＃００４４では、制御フラグＦ＿Ｌｅｎｓをセットする。この制御フラグは、当該カメラのボディユニット１００にレンズユニット１０が装着されている期間は“１”を示し、レンズユニット１０が外されている期間は“０”を示す。
【００３６】
＃００５は周期的に実行されるステップであり、通信コネクタ３５の状態判定を行うことで記録メディア２７がボディユニット１００内に装着された状態を検出できるステップである。
＃００６１では、記録メディア２７がボディユニット１００内に装着されたことを検出すると、＃００６４へ移行する。一方、記録メディア２７がボディユニット１００から取り出されたことを検出したときは、＃００６２から＃００６３へ移行して、制御フラグＦ＿Ｍｅｄｕｍをリセットする。そして＃０１０へ移行する。
＃００６４では、制御フラグＦ＿Ｍｅｄｕｍをセットする。そして＃００８へ移行する。この制御フラグは、当該カメラのボディユニット１００内に記録メディア２７が装着されている期間は“１”を示し、取り出されている期間は“０”を示す。
【００３７】
同様にして、アクセサリであるストロボユニット８０や、外部電源７０なども次の処理手順にて判定できる。すなわち、
＃０１０は周期的に実行されるステップであり、ストロボ通信コネクタ８５の状態判定を行うことでストロボユニット８０がボディユニット１００に装着されたか否かを検出する。
＃０１００にて、ストロボユニット８０がボディユニット１００に装着されたことを検出すると、＃０１０３へ移行して、制御フラグＦ＿Ｓｔｒｏｂｅをセットした後、＃００８へ移行する。一方、ストロボユニット８０がボディユニット１００から取り出されたことを検出すると、＃０１０１から＃０１０２へ移行して、制御フラグＦ＿Ｓｔｒｏｂｅをリセットしてから、＃０１０４へ移行する。
【００３８】
尚、この制御フラグもまた、ストロボユニット８０の装着期間は“１”を示し、外されている期間は“０”を示す。
【００３９】
次にまた、＃０１０４も周期的に実行されるステップであり、ジャック３７の状態判定を行うことで、プラグ７２がボディユニット１００のジャック３７に挿入されたか否かを検出する。
＃０１０５にて、プラグ７２がジャック３７に挿入されたことで外部電源７０の接続が検出できると＃００８へ移行するが、外部電源７０の接続がなければ、＃０１４へ移行する。詳しくは、外部電源７０を介して電流が電源回路５３ａと電圧検出回路５３ｂへ供給されると、電圧変化が生ずるので検知できる。よって、ここでは専用の制御フラグは設定しなくても接続状態がわかる。
【００４０】
上記の何れかのアクセサリが装着されると次に、＃００８にて、前述同様にサブルーチン「共振点検出動作」がコールされ実行されて、その直後の＃００９においては同様に、防塵ガラス３０の塵を除去するためのサブルーチン「塵除去動作」がコールされ実行される。
【００４１】
通常、カメラ本体であるボディユニット１００にレンズユニット１０が装着されていない期間において、レンズや防塵ガラス３０等に塵が付着する可能性が高い。したがってレンズユニット１０の装着を検出したタイミングで塵を払う動作を実行することが望ましい。また、レンズ交換やアクセサリの装着をすると、カメラの内部に外部の空気が循環してカメラ内部の温度が変化する場合がある。よって、この温度変化によってガラスの共振周波数も変化する。そこで、上記＃００８では、新しい駆動周波数(共振周波数)を決定するため上記「共振点検出動作」が実行され、続いて、その直後の＃００９にて、その決定された周波数で「塵除去動作」が実行されるようになっている。
【００４２】
＃０１４では、カメラ操作ＳＷの１つである１st.レリーズＳＷ(不図示)が操作されたか否かを判定する。もし、１st.レリーズＳＷがＯＮしているならば＃０１５へ移行し、ＯＦＦならば上記＃００３へ再び移行する。
【００４３】
＃０１５では、測光回路２１から被写体の輝度情報を入手する。そしてこの情報からＣＣＤユニット２２の露光時間(Ｔｖ値)と撮影レンズ１の絞り設定値（Ａｖ値）を算出する。
＃０１６では、ＡＦセンサ駆動回路１７を経由してＡＦセンサユニット１６の検知データを入手する。このデータに基づきピントのズレ量を算出する。
ここで＃０１７にて、Ｆ＿Ｌｅｎｓの状態を判定する。“０”ならばレンズユニット１０が存在しないことを意味するので、次の＃０１８以降の撮影動作は実行できない。そこでこの場合は上記＃００３へ再び移行する。
【００４４】
＃０１８では、Ｌｕｃｏｍ５に対してピントのズレ量を送信して、このズレ量に基づく撮影レンズ１の駆動を指令する。
＃０１９では、カメラ操作ＳＷ５２の１つである２nd.レリーズＳＷ(不図示)が操作されたか否かを判定する。この２nd.レリーズＳＷがＯＮしているときは＃０１９０へ移行するが、ＯＦＦのときは上記＃００３へ再び移行する。
【００４５】
＃０１９０では、制御フラグＦ＿Ｍｅｄｕｍの値に基づき記録媒体の有無を判定する。もし”１”以外であれば、上記＃００３へ再び移行する。一方、”１”であれば、撮影動作に先立って塵を除くため「塵除去動作」ルーチンが実行される。但しこの動作によってタイムラグが発生することを避けるため、ここでは「共振点検出動作」ルーチンは実行されない。
【００４６】
確実に塵を払うにはこれら２つのルーチンによる動作をあわせて行う事が望ましいが、共振周波数が変化する可能性が無ければ、「共振点検出動作」ルーチンは省略してもかまわない。
尚、このルーチンの実行の省略は、レンズ交換時のほか、カメラシステムの電源起動時、スリープ状態解除時、などではこの限りではない。但し、連写モード時は、二回目の撮像動作後からはこのルーチンの実行を省略してもかまわない。
【００４７】
撮像動作として、＃０２０から、まずＬｕｃｏｍ５へＡｖ値を送信し、絞り３の駆動を指令し、＃０２１にてクイックリターンミラー１１をＵＰ位置へ移動する。＃０２２にてシャッタ１５の先幕走行を開始させシャッタ１５を開く。
＃０２２０では、制御フラグＦ＿Ｓｔｒｏｂｅが”１”にセットされていれば、＃０２３０にてストロボ発光を行なわせ、それ以外ならばストロボ発光せずに、＃０２３にて画像処理コントローラ２８に対して撮像動作の実行を指令する。
【００４８】
Ｔｖ値で示される時間、ＣＣＤユニット２２による撮像が終了すると、＃０２４において、シャッタ１５の後幕走行を開始させ、＃０２５にてクイックリターンミラー１１をＤｏｗｎ位置へ駆動する。
またこれと並行してシャッタ１５のチャージ動作を行う。そして＃０２６では、Ｌｕｃｏｍ５に対して絞り３を開放位置へ復帰させるように指令し、＃０２７では、画像処理コントローラ２８に対して、撮影した画像データを記録メディア２７へ記録するように指令する。その画像データの記録が終了すると、再び上記＃００３へ移行して、同様な一連の処理ステップを繰り返す。
【００４９】
以下、図５に例示するフローチャートおよび図７（ａ）〜図１１（ｂ）に基づき、サブルーチン「共振点検出動作」について詳しく説明する。その前に、共振対象の防塵ガラス３０の支持構造と振動形態について、図７（ａ）〜図８（ｂ）を参照しながら概説しておく。
本発明に係わる電子撮像装置においては、防塵ガラス３０の形状を仮に円盤とする。またその防塵ガラス３０のガラス板の円周に沿って加振用の圧電素子３１を配置すると、このガラス板は円周で支持されることになる。このとき、当該ガラス板は複数の振動モード(振動形態)で加振する。本発明ではこの振動モードの中から２つのモードを選択して使い分けることとする。図７（ａ）,（ｂ）および図８（ａ）,（ｂ）に選択した振動モードにおけるガラス板の振動の状態を示す。
【００５０】
この実施形態に係わる防塵ガラス３０は、図７（ａ）,（ｂ）にそれぞれ図示したような振動形態を示す。すなわち、加振手段として働く圧電素子３１によって振動を加えると、そのガラス板の周囲には振動しない「節」が発生するが、概ねガラス全面が同じ位相にて、太矢印で示された如く図７（ａ）と図７（ｂ）の状態を交互に繰り返して振動する。このような振動形態を以下「振動モード１」と称する。
【００５１】
同様に、この実施形態の防塵ガラス３０は、加える振動の周波数によっては、図８（ａ）,（ｂ）にそれぞれ図示したような形態でも振動することができる。すなわち、図８（ａ）,（ｂ）に例示した防塵ガラス３０の振動形態は、ガラス板の内側と外側が１８０度ずれた位相で振動するものである。詳しくは、図示する振動形態ではガラス板の周囲と内部に節がそれぞれ発生するモードであり、図示の如く、内側の節に囲まれた領域の振動と内部の節の外側領域（ドーナツ状の領域）の振動は位相が１８０度ずれている。以下これを「振動モード２」と称する。
【００５２】
よって、図５に示す当該サブルーチン「共振点検出動作」では、上述した振動モード１と振動モード２の二種類の振動モードにおける共振周波数の検知動作が最初に行われる。
ガラスの特性（例えば形状、組成、支持方法など）によって共振周波数が存在する範囲が予想できるので、この範囲内でガラス板に振動を加えて共振点を検出するべきである。さもないと、検出動作に必要以上に時間がかかることになる。また、検出範囲を想定しないと、意図した振動モード以外の高次の共振モードにおける共振周波数を検出するおそれがある。
【００５３】
そこで本実施形態においては、共振周波数の検出動作のために必要なパラメータを、図９にメモリマップで示された複数の領域を有するＥＥＰＲＯＭ２９に予め記憶しておき、例えば「振動モード１対応制御パラメータ」として有している。振動モード１に対応する制御パラメータの値の詳細は、図１０（ａ）に例示された値で記憶されている。例えば、ＳｔａｒｔＯｆｆｓｅｔはこのテーブルの読出し開始位置を示す。
【００５４】
また同様に、「振動モード１対応周波数補正テーブル」として振動モード１に対応する制御パラメータの値の詳細は、図１１（ａ）に例示された値で記憶されている。このようなデータテーブルは、振動モード１でガラスを駆動するときＮ進カウンタ４１に設定する値を示している。このテーブルはクロックジェネレータ５５が周波数４０(ＭＨｚ)のパルス信号を出力するものとして算出されている。既に説明した（１式）を使えば駆動周波数が算出できる。
【００５５】
ＳｔｏｐＯｆｆｓｅｔはこの振動モード１対応周波数補正テーブルの読出し終了位置を示す。ＳｔａｒｔＯｆｆｓｅｔからＳｔｏｐＯｆｆｓｅｔの範囲で駆動周波数を遷移させると、何れかのテーブルの値でガラス板は振動モード１で振動する。
【００５６】
ＳｔｅｐＴｉｍｅは、駆動周波数を遷移させる際の１つの周波数で駆動すべき時間を示す。防塵ガラス駆動回路４０の安定時間を考慮して決定する。駆動周波数の変更に対しても、ガラス板の振動が直ちに追従するわけではない。追従しなければ、モニタ信号の出力もあてにならない。
【００５７】
ＡＤｗａｉｔは、モニタ信号をＡ/Ｄ変換する周波数を決定するパラメータであり、ガラスの共振周波数に応じて適当な値に決定する。Ｍ１ＯｓｃＴｉｍｅは、検出された周波数で防塵ガラス３０を加振する時間を示している。これは、サブルーチン「塵除去動作」で必要になる。
以上は、振動モード１における制御パラメータである。
振動モード２対応の制御パラメータの詳細は、図１０（ｂ）に示される。また、振動モード２対応周波数補正テーブルの詳細は図１１（ｂ）に示され、振動モード１と同様な構成のパラメータであり、基本的に同じなのでその説明は省略する。
【００５８】
さらに図５のフローチャートおよび図９〜図１２に基づき「共振点検出動作」の手順について説明する。
＃１００では、ＥＥＰＲＯＭ２９から４つの制御パラメータ（ＳｔａｒｔＯｆｆｓｅｔ，ＳｔｏｐＯｆｆｓｅｔ，ＳｔｅｐＴｉｍｅ，ＡＤｗａｉｔ）を読み出す。
そして＃１０１では、ＥＥＰＲＯＭ２９の読出し開始アドレスとしてＡｄｄｒｅｓｓＭ１＋ＳｔａｒｔＯｆｆｓｅｔを設定し、読出し終了アドレスとしてＡｄｄｒｅｓｓＭ１＋ＳｔｏｐＯｆｆｓｅｔを設定する。ＡｄｄｒｅｓｓＭ１は振動モード１対応周波数補正テーブルの先頭アドレスを示している。
【００５９】
仮に、読出し開始位置（ＳｔａｒｔＯｆｆｓｅｔ）を”３”とし、読出し終了位置（ＳｔｏｐＯｆｆｓｅｔ）を”９”とすると、図１１（ａ）中の＊１から＊２で示された領域のプリセット値”Ｎ”をＮ進カウンタ４１へ設定することになる。すなわち、ｆ１,ｆ２,ｆ３, …,ｆ７の周波数の中からモニタ信号の出力が最大となる周波数を検出することになる。
【００６０】
＃１０２では、モニタ信号の最大値を一時的に記憶するために確保したメモリＤ＿ＡＤＭＡＸへ便宜上モニタ信号の最小値である＃０を設定する。
＃１０３では、圧電素子３１を駆動するための準備動作が行われる。ＩＯポートのＰ＿ＰｗＣｏｎｔを制御してトランジスタＱ００をＯＮ状態にする。更に、クロックジェネレータ５５からパルス信号の出力を開始する。この状態でＮ進カウンタ４１にテーブルから取り出したデータを設定すれば、所望の周波数で圧電素子３１を駆動できる。
【００６１】
＃１０４においては、設定されたＥＥＰＲＯＭ２９のアドレスからプリセット値（Ｎ）を読み出す。そして、ＩＯポートのＤ＿ＮＣｎｔからＮ進カウンタ４１に読み出したプリセット値を設定する。
そして＃１０５にて、周波数駆動回路の安定するまでの所定時間だけ待機する。
【００６２】
＃１０６では、タイマカウンタ１へＳｔｅｐｔｉｍｅを設定し、タイマのカウント動作を開始する。例えば図１０（ａ）に示す如く、Ｓｔｅｐｔｉｍｅが記憶されていると、２(msec)がタイマカウンタ１へ設定されることになる。
＃１０７にて、Ａ/Ｄコンバータ６０の加算データを一時的に記憶するために確保したメモリ領域Ｄ＿ＡＤＳＵＭへ＃０を設定する。更にＡ/Ｄコンバータ６０の動作回数をカウントするために確保したメモリＤ＿ＡＤｃｏｕｎｔへ＃０を設定する。
【００６３】
＃１０８では、タイマカウンタ２へＡＤｗａｉｔを設定し、カウント動作を開始する。例えば図１０（ａ）に示す如くＡＤｗａｉｔが記憶されていると、８０(μsec)がタイマカウンタ２へ設定されることになる。
そして、＃１０９にて、Ａ/Ｄコンバータ６０を用いてモニタ信号のＡ/Ｄ変換値を取得する。
【００６４】
＃１１０では、モニタ信号のＡ/Ｄ変換値を、メモリ領域Ｄ＿ＡＤＳＵＭへ加算する。更にメモリ領域Ｄ＿ＡＤｃｏｕｎｔをインクリメント（１を加算）する。＃１１１では、タイマカウンタ２のカウント動作が終了するまで待機する。 ＃１１２では、タイマカウンタ１のカウント動作が終了しているか否かを判定する。まだ終了していない場合は、再度モニタ信号の測定のため、上記＃１０８へ移行する。もし終了していれば＃１１３へ移行する。
【００６５】
＃１１３では、メモリ領域Ｄ＿ＡＤＳＵＭとＤ＿ＡＤｃｏｕｎｔから、ＡＤ変換値の平均値を求める。そして、平均値はその平均値の記録のため確保したメモリ領域Ｄ＿ＡＤＡＶＥへ格納される。Ｄ＿ＡＤＡＶＥは、現在の駆動周波数におけるモニタ信号のレベルを示すことになる。
＃１１４では、Ｄ＿ＡＤＡＶＥとＤ＿ＡＤＭＡＸとの内容を比較する。もしＤ＿ＡＤＡＶＥの内容がＤ＿ＡＤＭＡＸの内容よりも大きい場合は、＃１１５へ移行し、小さい場合は＃１１９へ移行する。
【００６６】
＃１１５では、Ｄ＿ＡＤＡＶＥの内容をＤ＿ＡＤＭＡＸ中に移す。古い最大値は破棄され、今回測定された値がモニタ信号の最大値として記憶される。そして、現在、振動モード１でモニタ信号を測定中ならば、＃１１６から＃１１７へ移行する。現在、振動モード２でモニタ信号を測定中ならば、＃１１６から＃１１８へ移行する。
【００６７】
＃１１７では、現在のＥＥＰＲＯＭ２９のアドレスをＤ＿Ｍ１ｒｅｓｏｎａｎｔに記憶する。Ｄ＿Ｍ１ｒｅｓｏｎａｎｔは振動モード１用のアドレスを記憶するためメモリ上に確保した領域である。
また、＃１１８では、現在のＥＥＰＲＯＭのアドレスをＤ＿Ｍ２ｒｅｓｏｎａｎｔに記憶する。Ｄ＿Ｍ２ｒｅｓｏｎａｎｔは振動モード２用のアドレスを記憶するためメモリ上に確保した領域である。
これらＤ＿Ｍ１ｒｅｓｏｎａｎｔ及びＤ＿Ｍ２ｒｅｓｏｎａｎｔの値は、後述のサブルーチン「塵除去動作」で使用される。
【００６８】
＃１１９では、ＥＥＰＲＯＭ読出し終了アドレスで示される駆動周波数までモニタ信号の測定が終了したか否かを判定する。まだ終了していなければ＃１２１へ移行し、終了していれば次の＃１２０へ移行する。
＃１２０では、駆動動作を停止する処理が行われる。トランジスタＱ００をＯＦＦして、クロックジェネレータの動作を止める。
＃１２１では、ＥＥＰＲＯＭ２９の読出しアドレスをインクリメントし、＃１０４へ移行する。
【００６９】
＃１２２では、振動モード１と振動モード２における共振点の検出動作が終了したか否かを判定する。共に検出動作が終了していればメインルーチンへリターンする。
振動モード１のみが終了している場合は、振動モード２における共振周波数を検出するために＃１３０へ移行する。尚、＃１３０，＃１３１の動作は既に説明した＃１００，＃１０１と基本的に同じねあるので説明は省略する。そして、共振周波数を検出するため再び上記＃１０２へ移行する。
【００７０】
尚、本サブルーチンでは２つのパラメータ（ＳｔａｒｔＯｆｆｓｅｔ、ＳｔｏｐＯｆｆｓｅｔ）で規定される範囲で周波数補正テーブルからプリセット値を読み出した。そしてこのプリセット値すべてを利用してガラス板を駆動し、モニタ信号のレベルを測定するものである。
【００７１】
図１２には周波数とガラス板の振幅の関係を示している。また、＊３は共振モード１の特性を示すと仮定する。
本ルーチンでは、図１１（ａ）に例示したｆ１,ｆ２,ｆ３, …,ｆ７という周波数(プリセット値)において、モニタ信号レベルを測定する。＊３の特性における共振周波数はｆｃである。ｆｃはｆ４に相当する。本ルーチンでは、ｆ１,ｆ２,ｆ３,ｆ４と順次に駆動周波数を変更していきながらモニタ信号の測定を行う。そして、共振周波数ｆｃを過ぎても、ｆ５,ｆ６,ｆ７と順次に駆動を続ける。
【００７２】
ｆ１〜ｆ４では、モニタ信号は増加方向にある。そして、ｆ５からモニタ信号は減少方向に変化する。よって、このモニタ信号の増加方向から減少方向への変化を検出すれば、ｆ６,ｆ７の周波数であえて駆動する必要性はなくなる。なお、周波数を変化させる範囲が広い場合は、共振周波数の検出時間短縮のために、ここで例示した如くの制御プログラムを作ることが望ましい。
【００７３】
ここで、図６に示すサブルーチン「塵除去動作」について説明する。
このサブルーチンでは、上述した振動モード１と振動モード２の２つのモードで防塵ガラス３０が共振されるように圧電素子３１を駆動するように設定されている。一般的に、塵の特性（例えば重さ、形状、素材など）によって、塵を除去しやすい周波数や振幅が異なる。そこで、確実に塵を除くためにはこれら２つの振動モードでそのガラス板を共振させるとよい。勿論、更に複数の振動モードで共振させてもよい。但し、除去動作にかかる時間もまたその分余計にかかることがあるので、除去効果の程度と所要時間とを充分鑑みて適当な数に設定するべきである。
【００７４】
そこでまず、＃２００では、ＥＥＰＲＯＭ２９の振動モード１対応制御パラメータよりＭ１ＯＳＣｔｉｍｅを、振動モード２対応制御パラメータよりＭ２ＯＳＣｔｉｍｅをそれぞれ読み出す。
＃２０１では、圧電素子３１を駆動するための準備動作が行われる。ＩＯポートのＰ＿ＰｗＣｏｎｔを制御して、トランジスタＱ００をＯＮ状態にする。更に、クロックジェネレータ５５からパルス信号の出力を開始する。この状態でＮ進カウンタ４１にＥＥＰＲＯＭ２９のテーブルから取り出したデータを設定すれば、所望の周波数で圧電素子３１を駆動できる。
【００７５】
＃２０２では、Ｄ＿Ｍ１ｒｅｓｏｎａｎｔが示すＥＥＰＲＯＭ２９のアドレスからプリセット値(Ｎ)を読み出す。この値は、Ｎ進カウンタ４１へセットされる。これにより防塵ガラス駆動回路４０は、そのガラス板を振動モード１の共振周波数で駆動する。
＃２０３では、タイマカウンタ１へＭ１ＯｓｃＴｉｍｅを設定し、カウント動作を開始する。例えば、図１０（ａ）に示す如くＭ１ＯｓｃＴｉｍｅが記憶されていると、２００(msec)がタイマカウンタ１ヘ設定されることになる。
＃２０４では、タイマカウンタ１のカウント動作が終了するまで待機する。 以上により、振動モード１による塵払いの動作は完了する。さらに、確実に塵払いを行うため、振動モード２でガラス板を振動させる。
【００７６】
＃２０５では、Ｄ＿Ｍ２ｒｅｓｏｎａｎｔが示すＥＥＰＲＯＭ２９のアドレスからプリセット値(Ｎ)を読み出す。この値は、Ｎ進カウンタ４１へセットされる。これにより防塵ガラス駆動回路４０は、そのガラス板を振動モード２の共振周波数で駆動する。
＃２０６では、タイマカウンタ２へＭ２ＯｓｃＴｉｍｅを設定し、カウント動作を開始する。例えば、図１０（ｂ）に示す如くＭ２ＯｓｃＴｉｍｅが記憶されていると、１００(msec)がタイマカウンタ２ヘ設定されることになる。
【００７７】
＃２０７では、タイマカウンタ２のカウント動作が終了するまで待機する。 そして＃２０８では、駆動動作を停止する処理が行われる。トランジスタＱ００をＯＦＦ状態にし、クロックジェネレータ５５の動作を止める。
その後は、メインルーチンへリターンする。
【００７８】
なお、カメラシステムの設計段階では、ガラス板の共振周波数のバラツキを予測することは非常に困難である。したがって、このカメラシステムが完成した後に、圧電素子３１の駆動周波数を決定する制御パラメータを設定できるようにすべきである。そこで必要なパラメータは、上述した如く本発明ではすべてＥＥＰＲＯＭ２９に選択可能に格納されている。
また、本サブルーチン「塵除去動作」は、前述したサブルーチン「共振点検出動作」で検出された共振周波数のみでガラス板の駆動を行っている。
【００７９】
図１２には、周波数とガラス板の振幅の関係を示している。サブルーチン「共振点検出動作」を実行しているときの特性を＊３とする。共振周波数ｆｃは、図１１（ａ）中のｆ４に相当するものとする。しかし、共振周波数が予期しない要因で特性が＊４、＊５の如く変動する可能性もある。このような変動が生じても対応できるようにＥＥＰＲＯＭ２９のテーブルからｆ４以外にもｆ３，ｆ５のデータを読み出して当該サブルーチンを実行してもよい。
【００８０】
また、温度によっても共振周波数がある範囲で変動するので、所定の実験により作成した温度補正テーブルを適正に設定し参照可能に保持することで、その運用時の温度において最も好適な共振周波数でそのガラス板を駆動させてもよい。そのためには、振動モードに対応する温度補正テーブルからその時の温度に対応するパラメータを読み出すために、温度情報（ｔ）を当サブルーチンの実行前に、温度測定回路３３の温度センサ(不図示)によって検出しておけばよい。
【００８１】
このように当該実施形態の防塵機能付きの電子撮像装置(例えばカメラ)によれば、レンズユニット１０のほか、記録メディア２７、外部電源７０またはストロボユニット８０等のアクセサリを着脱可能であり、撮影レンズ１とＣＣＤユニット２２の間に配される構成部材(防塵ガラス３０)および、このガラスを複数種類の周波数で振動させ付着した塵を除去する塵除去手段(圧電素子３１および防塵ガラス駆動回路４０)を有して構成されているので、上記アクセサリの何れかの装着に応じた効果的なタイミングにて圧電素子３１による共振動作で塵除去動作を行うことができる。
【００８２】
特にここでの防塵機能においては、光学素子(防塵ガラス３０)の共振周波数を検出する為に加振手段(圧電素子３１)を駆動する共振周波数検出モードと、上記光学素子に付着した塵を除去する為に圧電素子３１を駆動する塵除去モードとを有し、アクセサリ装置が装着されたタイミングにて、基本的には上記共振周波数検出モードと上記塵除去モードを連続して実行するようにしている。また、共振周波数検出の為の所要時間によるタイムラグを撮影時に与えないように、共振周波数検出動作を撮影直前には省略している。よって、撮影タイミングに悪影響を与えず、効率的かつ確実な塵除去が可能となる。
【００８３】
（変形例）
以上、電子撮像装置としてカメラシステムを一例に、保護ガラス(防塵ガラス)における実施形態について説明してきたが、埃や塵を嫌うその他の電子撮像装置においても、また防塵ガラス以外の構成部材やその他の部位においても、本発明を同様に適用すれば、前述の実施形態と同等な効果が得られる。
また、共振周波数を特定できないガラス以外の光学素子部材を適用することもでき、その場合にも、製品個々のバラツキに起因する固有共振周波数に対する調整は不要となり、前述同等な効果が期待できる。
このほかにも、本発明の要旨を逸脱しない範囲で種々の変形実施が可能である。
【００８４】
【発明の効果】
このように本発明によれば、アクセサリ装置の着脱時に構成部材に付着する塵を確実に除去できる防塵機能付きの電子撮像装置を提供することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図１】 本発明に係わる実施形態のカメラの構成を示すブロック構成図。
【図２】 本発明の実施形態としての加振手段(防塵ガラス駆動回路)の回路構成を示す回路図。
【図３】 防塵ガラス駆動回路の動作を説明するため、図２中の各部における信号波形の表わすタイムチャート。
【図４】 カメラボディ制御用マイコンのカメラシーケンスの手順を表わすフローチャート。
【図５】 図４のフローチャート中のルーチン「共振点検出動作」の詳細手順を表わすフローチャート。
【図６】 図４のフローチャート中のルーチン「塵除去動作」の詳細手順を表わすフローチャート。
【図７】 図７（ａ）,（ｂ）は本発明に係わる防塵ガラスの振動形態を示し、ガラス板の周囲に節が発生して全面が同じ位相で振動する形態(振動モード１)の説明図。
【図８】 図８（ａ）,（ｂ）は本発明に係わる防塵ガラスの振動形態を示し、ガラス板の内側と外側が１８０°異なる位相で振動する形態(振動モード２)の説明図。
【図９】 ＥＥＰＲＯＭに占める周波数補正に関するテーブル領域を示すメモリマップ。
【図１０】 図１０（ａ）,（ｂ）は、振動モードの周波数補正に関する制御パラメータを示し、
（ａ）は、振動モード１対応制御パラメータテーブルの詳細を表わす一覧表、
（ｂ）は、振動モード２対応制御パラメータテーブルの詳細を表わす一覧表。
【図１１】 図１１（ａ）,（ｂ）は振動モードに対応する補正値を示し、（ａ）は、振動モード１対応周波数補正テーブルの詳細表、
（ｂ）は、振動モード２対応周波数補正テーブルの詳細表。
【図１２】 駆動周波数とガラス板の振動の振幅との関係を表わす特性グラフ。
【符号の説明】
１…撮影レンズ、 ２…レンズ駆動機構、
３…絞り、 ４…絞り駆動機構、
５…レンズ制御用マイクロコンピュータ、
６…通信コネクタ、
１０…レンズユニット（交換レンズ）、
１１…クイックリターンミラー、
１２…ペンタプリズム、
１３…接眼レンズ、 １４…サブミラー、
１５…シャッタ（前幕、後幕）、
１６…ＡＦセンサ、 １７…ＡＦセンサ駆動回路、
１８…ミラー駆動機構、
１９…シャッタチャージ機構、
２０…シャッタ制御回路、
２１…測光回路、
２２…ＣＣＤユニット（光電変換素子）、
２３…ＣＣＤインターフェイス回路、
２４…液晶モニタ、 ２５…ＳＤＲＡＭ、
２６…ＦｌａｓｈＲＯＭ、
２７…記録メディア（アクセサリ）、
２８…画像処理コントローラ、
２９…不揮発性メモリ（ＥＥＰＲＯＭ）、
３０…防塵ガラス（光学素子）、
３１…圧電素子（加振手段、塵除去手段）、
３３…温度測定回路、
３５…通信コネクタ、 ３７…ジャック、
４０…防塵ガラス駆動回路（加振、駆動手段）、
４１…Ｎ進カウンタ、 ４２…１／２分周回路、
４３…インバータ、 ４４…トランジスタ、
４４ａ，４４ｂ，４４ｃ…ＭＯＳトランジスタ、
４５…トランス、 ４６…抵抗、
４７…Ｄ／Ａコンバータ、
４８…ＶＣＯ（電圧制御発振器）、
４９…アンプ、
５０…ボディ制御用マイクロコンピュータ、
５１…動作表示用ＬＣＤ、
５２…カメラ操作ＳＷ、
５３ａ…電源回路、５３ｂ…電圧検出回路、
５４…電池、 ５５…クロックジェネレータ、
６０…Ａ／Ｄコンバータ、
６１…電極Ｂ（モニタ用圧電素子電極）、
６２…ダイオード（検出回路要素）、
６３，６４…抵抗（：）、
６５…コンデンサ（：）、
７０…外部電源（アクセサリ）、
７１…コネクタ（コンセント用プラグ）、
７２…プラグ（ピンジャック）、
８０…ストロボユニット（アクセサリ）、
８１…閃光電球、 ８２…ＤＣ／ＤＣコンバータ、
８３…ストロボ制御マイクロコンピュータ、
８４…電池（ストロボ用バッテリ）、
８５…ストロボ通信コネクタ。
Claims (3)
- 被写体の光学像を電気信号に変換する撮像手段を有する電子撮像装置において、
この電子撮像装置に着脱自在なアクセサリ装置と、
上記撮像手段の前面に配置された光学素子と、
上記光学素子を振動させる加振手段と、
上記加振手段に対して周波数信号を供給することによって、上記加振手段を駆動する駆動制御手段と、
を具備し、
上記駆動制御手段は、上記光学素子の共振周波数を検出するために上記加振手段を駆動する共振周波数検出モードと、上記光学素子に付着した塵を除去するために上記加振手段を駆動する塵除去モードとを有し、
上記アクセサリ装置が装着されたタイミングにおいては、上記共振周波数検出モードと上記塵除去モードを連続して実行するように制御することを特徴とする電子撮像装置。 - 被写体の光学像を電気信号に変換する撮像手段を有する電子撮像装置において、
上記電子撮像装置に着脱自在であって、上記撮像手段に上記光学像を結像させる撮像光学系と、
上記撮像光学系と上記撮像手段との間に配される光学素子と、
上記光学素子を振動させる加振手段と、
上記加振手段に対して周波数信号を供給することによって、上記加振手段を駆動する駆動制御手段と、
を具備しており、
上記駆動制御手段は、上記撮像光学系が上記電子撮像装置に装着されると、上記光学素子の共振周波数を検出する為の共振点検出動作を実行した後、上記共振点検出動作によって検出された共振周波数で上記加振手段を駆動して、上記光学素子の振動を制御することを特徴とする電子撮像装置。 - 被写体の光学像を電気信号に変換する撮像手段を有する電子撮像装置において、
上記電子撮像装置に着脱自在であって、上記撮像手段に上記光学像を結像させる撮像光学系と、
上記撮像光学系と上記撮像手段との間に配される光学素子と、
上記光学素子を振動させる加振手段と、
上記加振手段に対して周波数信号を供給することによって、上記加振手段を駆動する駆動制御手段と、
を具備しており、
上記駆動制御手段は、上記光学素子の共振周波数を検出するために上記加振手段を駆動する共振周波数検出モードと、上記光学素子に付着した塵を除去するために上記加振手段を駆動する塵除去モードとを有し、上記撮像光学系が装着されたタイミングにおいては、上記共振周波数検出モードと上記塵除去モードを連続して実行し、撮像動作に先立つ所定のタイミングにおいては、上記塵除去モードのみを実行するように制御することを特徴とする電子撮像装置。
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