JP2003297902A - カセットアダプタ - Google Patents
カセットアダプタInfo
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 カセット載置台に載置されるカセットアダプ
タにおいて、カセット載置台に設けられた複数個のカセ
ット検出手段の検出部材を載置されたカセットによって
それぞれ作動するようにしたカセットアダプタを提供す
る。 【解決手段】 半導体ウエーハ処理装置に配設され半導
体ウエーハを収容するカセットを載置する載置面を有す
るカセット載置台と、該カセット載置台にそれぞれ間隔
を置いて配設され載置面より上方に突出して設けられた
検出部材を有する複数個のカセット検出手段とを具備す
るカセット載置機構におけるカセット載置台上に載置す
るカセットアダプタであって、上面にカセットを載置す
る載置領域を備えたテーブルプレートと、該テーブルプ
レートにそれぞれ間隔を置いて配設され載置領域に載置
されたカセットによって作動せしめられ複数個の検出部
材をそれぞれ作動する複数個の作動機構とを備えてい
る。
タにおいて、カセット載置台に設けられた複数個のカセ
ット検出手段の検出部材を載置されたカセットによって
それぞれ作動するようにしたカセットアダプタを提供す
る。 【解決手段】 半導体ウエーハ処理装置に配設され半導
体ウエーハを収容するカセットを載置する載置面を有す
るカセット載置台と、該カセット載置台にそれぞれ間隔
を置いて配設され載置面より上方に突出して設けられた
検出部材を有する複数個のカセット検出手段とを具備す
るカセット載置機構におけるカセット載置台上に載置す
るカセットアダプタであって、上面にカセットを載置す
る載置領域を備えたテーブルプレートと、該テーブルプ
レートにそれぞれ間隔を置いて配設され載置領域に載置
されたカセットによって作動せしめられ複数個の検出部
材をそれぞれ作動する複数個の作動機構とを備えてい
る。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、半導体ウエーハを
個々の半導体チップに分割するダイシング装置等の半導
体ウエーハ処理装置に配設されたカセット載置台上に載
置するカセットアダプタに関する。
個々の半導体チップに分割するダイシング装置等の半導
体ウエーハ処理装置に配設されたカセット載置台上に載
置するカセットアダプタに関する。
【0002】
【従来の技術】例えば、半導体デバイス製造工程におい
ては、略円板形状である半導体ウエーハの表面に格子状
に配列された多数の領域にIC、LSI等の回路を形成
し、該回路が形成された各領域を所定のストリート(切
断ライン)に沿ってダイシングすることにより個々の半
導体チップを製造している。このような半導体ウエーハ
の分割は、一般にダイシング装置としての切削装置によ
って行われる。切削装置は半導体ウエーハを収容したカ
セットを載置するカセット載置台を備えたカセット載置
機構と、該カセット載置台に載置されたカセットから搬
出された半導体ウエーハを保持するチャックテーブル
と、該チャックテーブルに保持された半導体ウエーハを
切削する切削機構とを具備している。
ては、略円板形状である半導体ウエーハの表面に格子状
に配列された多数の領域にIC、LSI等の回路を形成
し、該回路が形成された各領域を所定のストリート(切
断ライン)に沿ってダイシングすることにより個々の半
導体チップを製造している。このような半導体ウエーハ
の分割は、一般にダイシング装置としての切削装置によ
って行われる。切削装置は半導体ウエーハを収容したカ
セットを載置するカセット載置台を備えたカセット載置
機構と、該カセット載置台に載置されたカセットから搬
出された半導体ウエーハを保持するチャックテーブル
と、該チャックテーブルに保持された半導体ウエーハを
切削する切削機構とを具備している。
【0003】近年、半導体ウエーハは生産性を向上させ
るためにサイズ(直径)が拡大し、直径が200mm、
300mmと大口径となってきている。これに伴って、
ダイシング装置等の半導体ウエーハ処理装置も大口径の
半導体ウエーハに対応した構成となってきている。しか
るに、半導体ウエーハを収容するカセットは半導体ウエ
ーハのサイズ毎に専用カセットが用いられており、従っ
て、カセット載置機構も各サイズ毎の専用カセットに対
応する構成が必要となる。このため、所定のサイズのカ
セットを載置するカセット載置機構のカセット載置台上
に、半導体ウエーハのサイズに対応したカセットの載置
領域を備えたカセットアダプタを載置し、このカセット
アダプタ上にカセットを載置する方式が用いられてい
る。
るためにサイズ(直径)が拡大し、直径が200mm、
300mmと大口径となってきている。これに伴って、
ダイシング装置等の半導体ウエーハ処理装置も大口径の
半導体ウエーハに対応した構成となってきている。しか
るに、半導体ウエーハを収容するカセットは半導体ウエ
ーハのサイズ毎に専用カセットが用いられており、従っ
て、カセット載置機構も各サイズ毎の専用カセットに対
応する構成が必要となる。このため、所定のサイズのカ
セットを載置するカセット載置機構のカセット載置台上
に、半導体ウエーハのサイズに対応したカセットの載置
領域を備えたカセットアダプタを載置し、このカセット
アダプタ上にカセットを載置する方式が用いられてい
る。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】上記カセット載置台に
はカセットが所定位置に載置されているか否かを検出す
るためのカセット検出手段が配設されており、このカセ
ット検出手段の検出部材がカセット載置台の載置面より
上方に突出して配置されている。なお、カセットがカセ
ット載置台の所定位置に適正に載置されているか否かを
検出するために、3個のカセット検出手段を設け、この
3個のカセット検出手段の各検出部材を互いに適宜の間
隔を置いて配設するようにしたものが実用に供されてい
る。而して、カセット載置台に載置される従来のカセッ
トアダプタには、上記3個の検出部材を載置されたカセ
ットによってそれぞれ作動する機構が設けられていない
ために、カセットアダプタに載置されたカセットが所定
位置に適正に載置されているか否かを検出することがで
きないという問題がある。
はカセットが所定位置に載置されているか否かを検出す
るためのカセット検出手段が配設されており、このカセ
ット検出手段の検出部材がカセット載置台の載置面より
上方に突出して配置されている。なお、カセットがカセ
ット載置台の所定位置に適正に載置されているか否かを
検出するために、3個のカセット検出手段を設け、この
3個のカセット検出手段の各検出部材を互いに適宜の間
隔を置いて配設するようにしたものが実用に供されてい
る。而して、カセット載置台に載置される従来のカセッ
トアダプタには、上記3個の検出部材を載置されたカセ
ットによってそれぞれ作動する機構が設けられていない
ために、カセットアダプタに載置されたカセットが所定
位置に適正に載置されているか否かを検出することがで
きないという問題がある。
【0005】本発明は上記事実に鑑みてなされたもので
あり、その主たる技術課題は、カセット載置台に載置さ
れるカセットアダプタにおいて、カセット載置台に設け
られた複数個のカセット検出手段の検出部材を載置され
たカセットによってそれぞれ作動するようにしたカセッ
トアダプタを提供することにある。
あり、その主たる技術課題は、カセット載置台に載置さ
れるカセットアダプタにおいて、カセット載置台に設け
られた複数個のカセット検出手段の検出部材を載置され
たカセットによってそれぞれ作動するようにしたカセッ
トアダプタを提供することにある。
【0006】
【課題を解決するための手段】上記主たる技術課題を解
決するため、本発明によれば、半導体ウエーハ処理装置
に配設され半導体ウエーハを収容するカセットを載置す
る載置面を有するカセット載置台と、該カセット載置台
にそれぞれ間隔を置いて配設され該載置面より上方に突
出して設けられた検出部材を有する複数個のカセット検
出手段とを具備するカセット載置機構における該カセッ
ト載置台上に載置するカセットアダプタであって、上面
にカセットを載置する載置領域を備えたテーブルプレー
トと、該テーブルプレートにそれぞれ間隔を置いて配設
され該載置領域に載置されたカセットによって作動せし
められ該複数個の検出部材をそれぞれ作動する複数個の
作動機構とを備えている、ことを特徴とするカセットア
ダプタが提供される。
決するため、本発明によれば、半導体ウエーハ処理装置
に配設され半導体ウエーハを収容するカセットを載置す
る載置面を有するカセット載置台と、該カセット載置台
にそれぞれ間隔を置いて配設され該載置面より上方に突
出して設けられた検出部材を有する複数個のカセット検
出手段とを具備するカセット載置機構における該カセッ
ト載置台上に載置するカセットアダプタであって、上面
にカセットを載置する載置領域を備えたテーブルプレー
トと、該テーブルプレートにそれぞれ間隔を置いて配設
され該載置領域に載置されたカセットによって作動せし
められ該複数個の検出部材をそれぞれ作動する複数個の
作動機構とを備えている、ことを特徴とするカセットア
ダプタが提供される。
【0007】上記作動機構は一端部が上記載置領域の載
置面に対して垂直な面内で回動可能に支持された作動レ
バーからなっており、該作動レバーの他端部には上記検
出部材の上端面に当接する力点部が設けられ、作動レバ
ーの上面には載置領域に載置されるカセットによって押
圧される作用部が設けられている。
置面に対して垂直な面内で回動可能に支持された作動レ
バーからなっており、該作動レバーの他端部には上記検
出部材の上端面に当接する力点部が設けられ、作動レバ
ーの上面には載置領域に載置されるカセットによって押
圧される作用部が設けられている。
【0008】また、上記カセット載置台には上記載置面
に載置するカセットを位置決めする3本の位置決めピン
が間隔を置いて立設して設けられており、上記カセット
アダプタの上記テーブルプレートの下面には該3本の位
置決めピンとそれぞれ係合する係合凹部を備えた3個の
被位置決め部材が配設されている。この3個の被位置決
め部材に形成された係合凹部はそれぞれ長溝からなって
おり、該3個の長溝の中心線が共通の交点をもって交差
するように構成されていることが望ましい。
に載置するカセットを位置決めする3本の位置決めピン
が間隔を置いて立設して設けられており、上記カセット
アダプタの上記テーブルプレートの下面には該3本の位
置決めピンとそれぞれ係合する係合凹部を備えた3個の
被位置決め部材が配設されている。この3個の被位置決
め部材に形成された係合凹部はそれぞれ長溝からなって
おり、該3個の長溝の中心線が共通の交点をもって交差
するように構成されていることが望ましい。
【0009】
【発明の実施の形態】以下、本発明によって構成された
カセットアダプタの好適な実施形態について、添付図面
を参照して詳細に説明する。
カセットアダプタの好適な実施形態について、添付図面
を参照して詳細に説明する。
【0010】図1には、本発明によって構成されたカセ
ットアダプタを適用する半導体ウエーハ処理装置として
の切削装置の斜視図が示されている。図示の実施形態に
おける切削装置は、略直方体状の装置ハウジング2を具
備している。この装置ハウジング2内には、被加工物を
保持するチャックテーブル3が切削送り方向である矢印
Xで示す方向に移動可能に配設されている。チャックテ
ーブル3は、図2に示すように基台31と、該基台31
上に装着された吸着チャック32を具備している。基台
31はステンレス鋼等の金属材によって円盤状に形成さ
れており、上方が開放された円形状の凹部311を備え
ている。この凹部311にポーラスセラミック部材によ
って円盤状に形成された吸着チャック32が嵌合され
る。なお、基台31には、中心部に凹部311に開口す
る負圧通路312が形成されているとともに、凹部31
1に開口する複数個の吹き上げ通路313が形成されて
いる。基台31に形成された負圧通路312を図示しな
い吸引手段に接続され、また、複数個の吹き上げ通路3
13は連通路314、315を介して図示しない圧縮空
気供給手段に接続されている。従って、図示しない吸引
手段によって凹部311に負圧が作用せしめられると、
吸着チャック32の表面である載置面上に被加工物であ
る例えば円盤状の半導体ウエーハを吸引保持する。ま
た、図示しない圧縮空気供給手段によって凹部311に
圧縮空気が供給されると、基台上の半導体ウエーハを吸
着チャック32の表面である載置面から分離する。ま
た、上記のように構成されたチャックテーブル3は、図
示しない回転機構によって回動可能に構成されている。
ットアダプタを適用する半導体ウエーハ処理装置として
の切削装置の斜視図が示されている。図示の実施形態に
おける切削装置は、略直方体状の装置ハウジング2を具
備している。この装置ハウジング2内には、被加工物を
保持するチャックテーブル3が切削送り方向である矢印
Xで示す方向に移動可能に配設されている。チャックテ
ーブル3は、図2に示すように基台31と、該基台31
上に装着された吸着チャック32を具備している。基台
31はステンレス鋼等の金属材によって円盤状に形成さ
れており、上方が開放された円形状の凹部311を備え
ている。この凹部311にポーラスセラミック部材によ
って円盤状に形成された吸着チャック32が嵌合され
る。なお、基台31には、中心部に凹部311に開口す
る負圧通路312が形成されているとともに、凹部31
1に開口する複数個の吹き上げ通路313が形成されて
いる。基台31に形成された負圧通路312を図示しな
い吸引手段に接続され、また、複数個の吹き上げ通路3
13は連通路314、315を介して図示しない圧縮空
気供給手段に接続されている。従って、図示しない吸引
手段によって凹部311に負圧が作用せしめられると、
吸着チャック32の表面である載置面上に被加工物であ
る例えば円盤状の半導体ウエーハを吸引保持する。ま
た、図示しない圧縮空気供給手段によって凹部311に
圧縮空気が供給されると、基台上の半導体ウエーハを吸
着チャック32の表面である載置面から分離する。ま
た、上記のように構成されたチャックテーブル3は、図
示しない回転機構によって回動可能に構成されている。
【0011】図1に基づいて説明を続けると図示の実施
形態における切削装置は、切削機構としてのスピンドル
ユニット4を具備している。スピンドルユニット4は、
図示しない移動基台に装着され割り出し方向である矢印
Yで示す方向および切り込み方向である矢印Zで示す方
向に移動調整されるスピンドルハウジング41と、該ス
ピンドルハウジング41に回転自在に支持され図示しな
い回転駆動機構によって回転駆動される回転スピンドル
42と、該回転スピンドル42に装着された切削ブレー
ド43とを具備している。
形態における切削装置は、切削機構としてのスピンドル
ユニット4を具備している。スピンドルユニット4は、
図示しない移動基台に装着され割り出し方向である矢印
Yで示す方向および切り込み方向である矢印Zで示す方
向に移動調整されるスピンドルハウジング41と、該ス
ピンドルハウジング41に回転自在に支持され図示しな
い回転駆動機構によって回転駆動される回転スピンドル
42と、該回転スピンドル42に装着された切削ブレー
ド43とを具備している。
【0012】図示の実施形態における切削装置は、上記
チャックテーブル3を構成する吸着チャック32の表面
に保持された被加工物の表面を撮像し、上記切削ブレー
ド43によって切削すべき領域を検出したり、切削溝の
状態を確認したりするための撮像機構5を具備してい
る。この撮像機構5は顕微鏡やCCDカメラ等の光学手
段からなっている。また、図示の切削装置は、撮像機構
5によって撮像された画像を表示する表示手段6を具備
している。
チャックテーブル3を構成する吸着チャック32の表面
に保持された被加工物の表面を撮像し、上記切削ブレー
ド43によって切削すべき領域を検出したり、切削溝の
状態を確認したりするための撮像機構5を具備してい
る。この撮像機構5は顕微鏡やCCDカメラ等の光学手
段からなっている。また、図示の切削装置は、撮像機構
5によって撮像された画像を表示する表示手段6を具備
している。
【0013】図示の実施形態における切削装置は、被加
工物としての例えば直径が300mmの半導体ウエーハ
8を収容するカセット7を具備している。半導体ウエー
ハ8は、ステンレス鋼等の金属材によって環状に形成さ
れ支持フレーム9の内側開口部91を覆うように装着し
た粘着テープ10に貼着されている。上記カセット7
は、一端部に支持フレーム9に粘着テープ10を介して
支持された半導体ウエーハ8(以下、支持フレーム9に
粘着テープ10を介して支持された状態状態の半導体ウ
エーハ8を単に半導体ウエーハ8という)を出し入れす
るための搬出入開口71を備えており、内部には半導体
ウエーハを載置するための複数個のラック棚72が上下
方向に設けられている。直径が300mmの半導体ウエ
ーハ8を収容したカセット7は、搬出入開口71を被加
工物載置領域11に向けてカセット載置機構50のカセ
ット載置台51上に載置される。カセット載置機構50
は、カセット7を載置するカセット載置台51と、該カ
セット載置台51を昇降せしめる図示しない周知の昇降
機構とからなっている。なお、カセット載置台51につ
いては、後で詳細に説明する。
工物としての例えば直径が300mmの半導体ウエーハ
8を収容するカセット7を具備している。半導体ウエー
ハ8は、ステンレス鋼等の金属材によって環状に形成さ
れ支持フレーム9の内側開口部91を覆うように装着し
た粘着テープ10に貼着されている。上記カセット7
は、一端部に支持フレーム9に粘着テープ10を介して
支持された半導体ウエーハ8(以下、支持フレーム9に
粘着テープ10を介して支持された状態状態の半導体ウ
エーハ8を単に半導体ウエーハ8という)を出し入れす
るための搬出入開口71を備えており、内部には半導体
ウエーハを載置するための複数個のラック棚72が上下
方向に設けられている。直径が300mmの半導体ウエ
ーハ8を収容したカセット7は、搬出入開口71を被加
工物載置領域11に向けてカセット載置機構50のカセ
ット載置台51上に載置される。カセット載置機構50
は、カセット7を載置するカセット載置台51と、該カ
セット載置台51を昇降せしめる図示しない周知の昇降
機構とからなっている。なお、カセット載置台51につ
いては、後で詳細に説明する。
【0014】図示の実施形態における切削装置は、カセ
ット載置台51上に載置されたカセット7に収容された
被加工物としての半導体ウエーハ8を被加工物載置領域
11に搬出するとともに切削加工後の半導体ウエーハ8
をカセット7に搬入する被加工物搬出入機構12と、該
被加工物搬出入機構12によって搬出された半導体ウエ
ーハ8を上記チャックテーブル3上に搬送する被加工物
搬送機構13と、チャックテーブル3で切削加工された
半導体ウエーハ8を洗浄する洗浄手段14と、チャック
テーブル3で切削加工された半導体ウエーハ8を洗浄手
段14へ搬送する洗浄搬送機構15を具備している。
ット載置台51上に載置されたカセット7に収容された
被加工物としての半導体ウエーハ8を被加工物載置領域
11に搬出するとともに切削加工後の半導体ウエーハ8
をカセット7に搬入する被加工物搬出入機構12と、該
被加工物搬出入機構12によって搬出された半導体ウエ
ーハ8を上記チャックテーブル3上に搬送する被加工物
搬送機構13と、チャックテーブル3で切削加工された
半導体ウエーハ8を洗浄する洗浄手段14と、チャック
テーブル3で切削加工された半導体ウエーハ8を洗浄手
段14へ搬送する洗浄搬送機構15を具備している。
【0015】図示の実施形態における切削装置は以上の
ように構成されており、以下その作用について図1を参
照して説明する。半導体ウエーハ8のダイシングを行う
に際しては、半導体ウエーハ8を収容したカセット7
を、カセット載置機構50のカセット載置台51上の所
定位置に載置する。カセット7がカセット載置台51上
の所定位置に載置されることにより、カセット7に収容
された半導体ウエーハ8のダイシング作業の準備が完了
する。
ように構成されており、以下その作用について図1を参
照して説明する。半導体ウエーハ8のダイシングを行う
に際しては、半導体ウエーハ8を収容したカセット7
を、カセット載置機構50のカセット載置台51上の所
定位置に載置する。カセット7がカセット載置台51上
の所定位置に載置されることにより、カセット7に収容
された半導体ウエーハ8のダイシング作業の準備が完了
する。
【0016】上述したようにダイシング作業の準備が完
了し切削作業の開始指令がなされると、被加工物搬出入
機構12が進退作動してカセット7の所定位置に収容さ
れた半導体ウエーハ8を被加工物載置領域11に搬出す
る。被加工物載置領域11に搬出された半導体ウエーハ
8は、被加工物搬送手段13の旋回動作によって上記チ
ャックテーブル3を構成する吸着チャック32の載置面
に搬送される。そして、図示しない吸引手段によってチ
ャックテーブル3の凹部311に負圧を作用させること
により、吸着チャック32に半導体ウエーハ8を吸引保
持せしめる。このようにして半導体ウエーハ8を吸引保
持したチャックテーブル3は、撮像機構5の直下まで移
動せしめられる。チャックテーブル3が撮像機構5の直
下に位置付けられると、撮像機構5によって半導体ウエ
ーハ8に形成されているストリート(切断ライン)が検
出され、スピンドルユニット4の割り出し方向である矢
印Y方向に移動調節して精密位置合わせ作業が行われ
る。
了し切削作業の開始指令がなされると、被加工物搬出入
機構12が進退作動してカセット7の所定位置に収容さ
れた半導体ウエーハ8を被加工物載置領域11に搬出す
る。被加工物載置領域11に搬出された半導体ウエーハ
8は、被加工物搬送手段13の旋回動作によって上記チ
ャックテーブル3を構成する吸着チャック32の載置面
に搬送される。そして、図示しない吸引手段によってチ
ャックテーブル3の凹部311に負圧を作用させること
により、吸着チャック32に半導体ウエーハ8を吸引保
持せしめる。このようにして半導体ウエーハ8を吸引保
持したチャックテーブル3は、撮像機構5の直下まで移
動せしめられる。チャックテーブル3が撮像機構5の直
下に位置付けられると、撮像機構5によって半導体ウエ
ーハ8に形成されているストリート(切断ライン)が検
出され、スピンドルユニット4の割り出し方向である矢
印Y方向に移動調節して精密位置合わせ作業が行われ
る。
【0017】その後、半導体ウエーハ8を吸引保持した
チャックテーブル3を切削送り方向である矢印Xで示す
方向(切削ブレード43の回転軸と直交する方向)に移
動することにより、チャックテーブル3に保持された半
導体ウエーハ8は切削ブレード43により所定のストリ
ート(切断ライン)に沿って切断される。即ち、切削ブ
レード43は割り出し方向である矢印Yで示す方向およ
び切り込み方向である矢印Zで示す方向に移動調整され
て位置決めされたスピンドルユニット4に装着され、回
転駆動されているので、チャックテーブル3を切削ブレ
ード43の下側に沿って矢印Xで示す切削送り方向に移
動することにより、チャックテーブル3に保持された半
導体ウエーハ8は切削ブレード43により所定のストリ
ート(切断ライン)に沿って切断される。このように半
導体ウエーハ8をストリート(切断ライン)に沿って切
断することにより、個々の半導体チップに分割される。
分割された半導体チップは、粘着テープ10の作用によ
ってバラバラにはならず、フレーム9に支持された半導
体ウエーハ8の状態が維持されている。
チャックテーブル3を切削送り方向である矢印Xで示す
方向(切削ブレード43の回転軸と直交する方向)に移
動することにより、チャックテーブル3に保持された半
導体ウエーハ8は切削ブレード43により所定のストリ
ート(切断ライン)に沿って切断される。即ち、切削ブ
レード43は割り出し方向である矢印Yで示す方向およ
び切り込み方向である矢印Zで示す方向に移動調整され
て位置決めされたスピンドルユニット4に装着され、回
転駆動されているので、チャックテーブル3を切削ブレ
ード43の下側に沿って矢印Xで示す切削送り方向に移
動することにより、チャックテーブル3に保持された半
導体ウエーハ8は切削ブレード43により所定のストリ
ート(切断ライン)に沿って切断される。このように半
導体ウエーハ8をストリート(切断ライン)に沿って切
断することにより、個々の半導体チップに分割される。
分割された半導体チップは、粘着テープ10の作用によ
ってバラバラにはならず、フレーム9に支持された半導
体ウエーハ8の状態が維持されている。
【0018】このようにして半導体ウエーハ8の切断が
終了した後、フレーム9に粘着テープ10を介して支持
されている分割された半導体チップ(以下、ダイシング
後の半導体ウエーハ8という)は、最初に半導体ウエー
ハ8を吸引保持した位置に戻され、ここでダイシング後
の半導体ウエーハ8の吸引保持を解除する。そして、図
示しない圧縮空気供給手段によってチャックテーブル3
の凹部311に圧縮空気が供給され、吸着チャック32
上の半導体ウエーハを吸着チャック32の載置面から分
離する。このとき、凹部311に圧縮空気を供給する吹
き上げ通路313は複数個設けられているので、半導体
ウエーハ8の分離時に圧縮空気の圧力が1か所に集中す
ることがなく、半導体ウエーハ8の下面に分散すること
ができる。従って、脆弱な状態の半導体ウエーハを破壊
することなく吸着チャック32の載置面から分離するこ
とができる。次に、ダイシング後の半導体ウエーハ8
は、洗浄搬送機構15によって洗浄手段14に搬送さ
れ、ここで上記切削時に生成されたコンタミが洗浄除去
される。このようにして洗浄されたダイシング後の半導
体ウエーハ8は、被加工物搬送機構13によって被加工
物載置領域11に搬送される。被加工物載置領域11に
搬送された半導体ウエーハ8は、被加工物搬出手段12
によってカセット7の所定位置に収納される。
終了した後、フレーム9に粘着テープ10を介して支持
されている分割された半導体チップ(以下、ダイシング
後の半導体ウエーハ8という)は、最初に半導体ウエー
ハ8を吸引保持した位置に戻され、ここでダイシング後
の半導体ウエーハ8の吸引保持を解除する。そして、図
示しない圧縮空気供給手段によってチャックテーブル3
の凹部311に圧縮空気が供給され、吸着チャック32
上の半導体ウエーハを吸着チャック32の載置面から分
離する。このとき、凹部311に圧縮空気を供給する吹
き上げ通路313は複数個設けられているので、半導体
ウエーハ8の分離時に圧縮空気の圧力が1か所に集中す
ることがなく、半導体ウエーハ8の下面に分散すること
ができる。従って、脆弱な状態の半導体ウエーハを破壊
することなく吸着チャック32の載置面から分離するこ
とができる。次に、ダイシング後の半導体ウエーハ8
は、洗浄搬送機構15によって洗浄手段14に搬送さ
れ、ここで上記切削時に生成されたコンタミが洗浄除去
される。このようにして洗浄されたダイシング後の半導
体ウエーハ8は、被加工物搬送機構13によって被加工
物載置領域11に搬送される。被加工物載置領域11に
搬送された半導体ウエーハ8は、被加工物搬出手段12
によってカセット7の所定位置に収納される。
【0019】次に、上記カセット載置機構50のカセッ
ト載置台51について、図3を参照して説明する。図示
の実施形態におけるカセット載置台51は、その上面が
載置面511となっており、この載置面511上に3本
の位置決めピン52が立設されている。3本の位置決め
ピン52は、載置面511に上述した300mmの半導
体ウエーハ8を収容するカセット7が所定位置に載置さ
れるように位置決めする。カセット載置台51の下面に
は、載置面511上に載置されるカセット7の有無を検
出するカセット検出手段としての3個のスイッチ53が
適宜の間隔を置いて配設されている。また、カセット載
置台51には、上記3個のスイッチ53とそれぞれ対応
した位置に載置面511に開口する3個の穴512が設
けられている。この3個の穴512にはスイッチ53の
検出部材531が配設されており、検出部材531はカ
セット載置台51内に配設された図示しないリターンス
プリングによってその上端が載置面511より上方に突
出するように位置付けられている。このようにカセット
載置台51に配設されたカセット検出手段としてのスイ
ッチ53は、載置面511の所定位置にカセット7が載
置されると、検出部材531が図示しないリターンスプ
リングのばね力に抗して押されスイッチ53がONする
ようになっている。なお、3個のスイッチ53は直列に
接続されており、従って、全てスイッチがONになって
いない場合には、載置面511の所定位置にカセット7
が適正に載置されていることを検出することができ、警
報信号を発する構成となっている。
ト載置台51について、図3を参照して説明する。図示
の実施形態におけるカセット載置台51は、その上面が
載置面511となっており、この載置面511上に3本
の位置決めピン52が立設されている。3本の位置決め
ピン52は、載置面511に上述した300mmの半導
体ウエーハ8を収容するカセット7が所定位置に載置さ
れるように位置決めする。カセット載置台51の下面に
は、載置面511上に載置されるカセット7の有無を検
出するカセット検出手段としての3個のスイッチ53が
適宜の間隔を置いて配設されている。また、カセット載
置台51には、上記3個のスイッチ53とそれぞれ対応
した位置に載置面511に開口する3個の穴512が設
けられている。この3個の穴512にはスイッチ53の
検出部材531が配設されており、検出部材531はカ
セット載置台51内に配設された図示しないリターンス
プリングによってその上端が載置面511より上方に突
出するように位置付けられている。このようにカセット
載置台51に配設されたカセット検出手段としてのスイ
ッチ53は、載置面511の所定位置にカセット7が載
置されると、検出部材531が図示しないリターンスプ
リングのばね力に抗して押されスイッチ53がONする
ようになっている。なお、3個のスイッチ53は直列に
接続されており、従って、全てスイッチがONになって
いない場合には、載置面511の所定位置にカセット7
が適正に載置されていることを検出することができ、警
報信号を発する構成となっている。
【0020】次に、上記カセット載置台51上に載置す
るカセットアダプタについて、図4乃至図6を参照して
説明する。図示の実施形態におけるカセットアダプタ6
0は、例えば直径が200mmの半導体ウエーハ8を収
容するカセット7aを載置するように構成されている。
このカセットアダプタ60は、上面にカセット7aを載
置する載置領域611を備えたテーブルプレート61を
具備している。テーブルプレート61の上面には、カセ
ット7aを所定の載置領域611に位置付けるための位
置決め部材621、622が装着されている。テーブル
プレート61の載置領域611内には、適宜の間隔をお
いて上下方向に貫通する3個の穴612が形成されてい
る。この3個の穴612内に上記スイッチ53の検出部
材531を作動する作動機構63がそれぞれ配設されて
いる。作動機構63は、図5に示すように作動レバー6
31と該作動レバー631の一端部に装着された支持ピ
ン632とからなっている。作動レバー631は、他端
に下方に突出する力点部631aを備えているととも
に、中間部の上面に上方に突出する作用部631bを備
えている。支持ピン632は、テーブルプレート61の
載置領域611と平行な面内に回動可能に支持されてい
る。従って、支持ピン632によって支持された作動レ
バー631は、載置領域611に対して垂直な面内にお
いて支持ピン632を中心として揺動可能に構成されて
いる。このように構成された作動機構63は、カセット
アダプタ60を後述するようにカセット載置台51の所
定位置に載置した状態において、作動レバー631の力
点部631aが上記スイッチ53の検出部材531の上
端面に当接し、作用部631bが載置領域611の上面
より上方に突出して位置するようになっている。なお、
作動レバー631の他端上部には係止部631cが突出
して設けられており、この係止部631cがテーブルプ
レート61の穴612の下部に突出するストッパー61
3に当接して、作動レバー631のそれ以上の回動を規
制するようになっている。上記カセットアダプタ60を
構成するテーブルプレート61の両側部上面には、作業
者ガ把持する把手65、65が装着されている。
るカセットアダプタについて、図4乃至図6を参照して
説明する。図示の実施形態におけるカセットアダプタ6
0は、例えば直径が200mmの半導体ウエーハ8を収
容するカセット7aを載置するように構成されている。
このカセットアダプタ60は、上面にカセット7aを載
置する載置領域611を備えたテーブルプレート61を
具備している。テーブルプレート61の上面には、カセ
ット7aを所定の載置領域611に位置付けるための位
置決め部材621、622が装着されている。テーブル
プレート61の載置領域611内には、適宜の間隔をお
いて上下方向に貫通する3個の穴612が形成されてい
る。この3個の穴612内に上記スイッチ53の検出部
材531を作動する作動機構63がそれぞれ配設されて
いる。作動機構63は、図5に示すように作動レバー6
31と該作動レバー631の一端部に装着された支持ピ
ン632とからなっている。作動レバー631は、他端
に下方に突出する力点部631aを備えているととも
に、中間部の上面に上方に突出する作用部631bを備
えている。支持ピン632は、テーブルプレート61の
載置領域611と平行な面内に回動可能に支持されてい
る。従って、支持ピン632によって支持された作動レ
バー631は、載置領域611に対して垂直な面内にお
いて支持ピン632を中心として揺動可能に構成されて
いる。このように構成された作動機構63は、カセット
アダプタ60を後述するようにカセット載置台51の所
定位置に載置した状態において、作動レバー631の力
点部631aが上記スイッチ53の検出部材531の上
端面に当接し、作用部631bが載置領域611の上面
より上方に突出して位置するようになっている。なお、
作動レバー631の他端上部には係止部631cが突出
して設けられており、この係止部631cがテーブルプ
レート61の穴612の下部に突出するストッパー61
3に当接して、作動レバー631のそれ以上の回動を規
制するようになっている。上記カセットアダプタ60を
構成するテーブルプレート61の両側部上面には、作業
者ガ把持する把手65、65が装着されている。
【0021】カセットアダプタ60を構成するテーブル
プレート61の下面には、図4および図6に示すように
上記カセット載置台51に設けられた3本の位置決めピ
ン52と係合する3個の被位置決め部材64が配設され
ている。この3個の被位置決め部材64は、それぞれ断
面が三角形状の長溝からなる係合凹部641を備えてい
る。3個の被位置決め部材64に形成された長溝からな
る係合凹部641は、それぞれの中心線641aが共通
の交点をもって交差するように構成されている。従っ
て、3個の長溝からなる係合凹部641が3本の位置決
めピン52と係合した位置が、カセットアダプタ60の
カセット載置台51に対する所定の載置位置となる。こ
のため、カセットアダプタ60の所定位置への載置作業
が容易となる。
プレート61の下面には、図4および図6に示すように
上記カセット載置台51に設けられた3本の位置決めピ
ン52と係合する3個の被位置決め部材64が配設され
ている。この3個の被位置決め部材64は、それぞれ断
面が三角形状の長溝からなる係合凹部641を備えてい
る。3個の被位置決め部材64に形成された長溝からな
る係合凹部641は、それぞれの中心線641aが共通
の交点をもって交差するように構成されている。従っ
て、3個の長溝からなる係合凹部641が3本の位置決
めピン52と係合した位置が、カセットアダプタ60の
カセット載置台51に対する所定の載置位置となる。こ
のため、カセットアダプタ60の所定位置への載置作業
が容易となる。
【0022】図示の実施形態におけるカセット載置台5
1およびカセットアダプタ61は以上のように構成され
ており、以下、300mmの半導体ウエーハ8を収容す
るカセット7を載置するカセット載置台51上に直径が
200mmの半導体ウエーハ8を収容するカセット7a
を載置する場合について図7および図8を参照して説明
する。先ず、図7に示すようにカセット載置台51上に
カセットアダプタ61を載置する。このとき、上述した
ようにカセット載置台51上に設けられた3本の位置決
めピン52にカセットアダプタ61を構成するテーブル
プレート61の裏面に配設された3個の被位置決め部材
64の係合凹部641を係合することにより、所定の載
置位置に位置付けられる。このようにして、カセットア
ダプタ61がカセット載置台51の所定位置に位置付け
らた状態においては、図7に示すように作動機構63を
構成する作動レバー631の力点部631aが上記スイ
ッチ53の検出部材531の上端面に当接し、作用部6
31bが載置領域611の上面より上方に突出して位置
するようになっている。
1およびカセットアダプタ61は以上のように構成され
ており、以下、300mmの半導体ウエーハ8を収容す
るカセット7を載置するカセット載置台51上に直径が
200mmの半導体ウエーハ8を収容するカセット7a
を載置する場合について図7および図8を参照して説明
する。先ず、図7に示すようにカセット載置台51上に
カセットアダプタ61を載置する。このとき、上述した
ようにカセット載置台51上に設けられた3本の位置決
めピン52にカセットアダプタ61を構成するテーブル
プレート61の裏面に配設された3個の被位置決め部材
64の係合凹部641を係合することにより、所定の載
置位置に位置付けられる。このようにして、カセットア
ダプタ61がカセット載置台51の所定位置に位置付け
らた状態においては、図7に示すように作動機構63を
構成する作動レバー631の力点部631aが上記スイ
ッチ53の検出部材531の上端面に当接し、作用部6
31bが載置領域611の上面より上方に突出して位置
するようになっている。
【0023】次に、図8に示すようにカセットアダプタ
60を構成するテーブルプレート61の載置領域611
に直径が200mmの半導体ウエーハ8を収容するカセ
ット7aを載置する。このとき、カセット7aはテーブ
ルプレート61の上面に設けられた位置決め部材62
1、622によって位置決めされ、所定の載置領域61
1に位置付けられる。このようにして、カセット7aを
テーブルプレート61の所定の載置領域611に載置す
ると、カセット7aの底面が3個の作動機構63の作動
レバー631の作用部631bを押すため、3個の作動
レバー631はそれぞれ支持ピン632を中心として下
方に回動する。この結果、3個の作動レバー631の力
点部631aが上記スイッチ53の検出部材531を押
圧し、3個のスイッチ53をそれぞれONせしめてカセ
ット7aがカセットアダプタ60の所定の載置領域61
1に載置されていることを検出する。なお、カセットア
ダプタ60上に載置されたカセット7aが所定の載置領
域611からずれた位置に載置された場合には、少なく
とも1か所が位置決め部材621または622上に位置
し浮き上がった状態となる。この結果、カセット7aが
浮き上がった側に位置する作動機構63を構成する作動
レバー631の作用部631bを押圧することができ
ず、該作動機構63によって作動せしめられるスイッチ
53をONすることができないため、カセット7aがカ
セットアダプタ60の所定の載置領域611に載置され
ていないことを検出することができる。
60を構成するテーブルプレート61の載置領域611
に直径が200mmの半導体ウエーハ8を収容するカセ
ット7aを載置する。このとき、カセット7aはテーブ
ルプレート61の上面に設けられた位置決め部材62
1、622によって位置決めされ、所定の載置領域61
1に位置付けられる。このようにして、カセット7aを
テーブルプレート61の所定の載置領域611に載置す
ると、カセット7aの底面が3個の作動機構63の作動
レバー631の作用部631bを押すため、3個の作動
レバー631はそれぞれ支持ピン632を中心として下
方に回動する。この結果、3個の作動レバー631の力
点部631aが上記スイッチ53の検出部材531を押
圧し、3個のスイッチ53をそれぞれONせしめてカセ
ット7aがカセットアダプタ60の所定の載置領域61
1に載置されていることを検出する。なお、カセットア
ダプタ60上に載置されたカセット7aが所定の載置領
域611からずれた位置に載置された場合には、少なく
とも1か所が位置決め部材621または622上に位置
し浮き上がった状態となる。この結果、カセット7aが
浮き上がった側に位置する作動機構63を構成する作動
レバー631の作用部631bを押圧することができ
ず、該作動機構63によって作動せしめられるスイッチ
53をONすることができないため、カセット7aがカ
セットアダプタ60の所定の載置領域611に載置され
ていないことを検出することができる。
【0024】以上、本発明を図示の実施形態に基づいて
説明したが、本発明は実施形態のみに限定されるもので
はない。即ち、図示の実施形態においては切削装置に本
発明を適用した例を示したが、半導体ウエーハの裏面を
研削する研削装置や他の半導体ウエーハ処理装置に広く
適用することができる。
説明したが、本発明は実施形態のみに限定されるもので
はない。即ち、図示の実施形態においては切削装置に本
発明を適用した例を示したが、半導体ウエーハの裏面を
研削する研削装置や他の半導体ウエーハ処理装置に広く
適用することができる。
【0025】
【発明の効果】本発明によるカセットアダプタは以上の
ように構成され、上面にカセットを載置する載置領域を
備えたテーブルプレートと、該テーブルプレートにそれ
ぞれ間隔を置いて配設され載置領域に載置されたカセッ
トによって作動せしめられカセット載置台に配設された
複数個のカセット検出手段の検出部材をそれぞれ作動す
る複数個の作動機構とを備えているので、カセットが所
定の載置領域に適正に載置されているか否かを確実に検
出でき、カセットが所定の載置領域からずれた位置に載
置された場合にはこれを確実に検出することができる。
ように構成され、上面にカセットを載置する載置領域を
備えたテーブルプレートと、該テーブルプレートにそれ
ぞれ間隔を置いて配設され載置領域に載置されたカセッ
トによって作動せしめられカセット載置台に配設された
複数個のカセット検出手段の検出部材をそれぞれ作動す
る複数個の作動機構とを備えているので、カセットが所
定の載置領域に適正に載置されているか否かを確実に検
出でき、カセットが所定の載置領域からずれた位置に載
置された場合にはこれを確実に検出することができる。
【図1】本発明に従って構成されたカセットアダプタを
適用する切削装置の斜視図。
適用する切削装置の斜視図。
【図2】図1に示す切削装置に装備されるチャックテー
ブルの一部を破断して示す斜視図。
ブルの一部を破断して示す斜視図。
【図3】図1に示す切削装置に装備されるカセット載置
機構を構成するカセット載置台の斜視図。
機構を構成するカセット載置台の斜視図。
【図4】本発明に従って構成されたカセットアダプタお
よび該カセットアダプタに載置するカセットの斜視図。
よび該カセットアダプタに載置するカセットの斜視図。
【図5】図4に示すカセットアダプタにおけるA−A線
断面図。
断面図。
【図6】図4に示すカセットアダプタの背面図。
【図7】図3に示すカセット載置台上に図4に示すカセ
ットアダプタを載置した状態を示す説明図。
ットアダプタを載置した状態を示す説明図。
【図8】図8に示すカセットアダプタ上にカセットを載
置した状態を示す説明図。
置した状態を示す説明図。
2:装置ハウジング
3:ャックテーブル
4:スピンドルユニット
41:スピンドルハウジング
42:回転スピンドル
43:切削ブレード
5:撮像機構
6:表示手段
7:カセット
7a:カセット
8:半導体ウエーハ
9:支持フレーム
10:粘着テー
11:被加工物載置領域
12:被加工物搬出入機構
13:被加工物搬送機構
14:洗浄手段
15:洗浄搬送機構
50:カセット載置機構
51:カセット載置台
52:位置決めピン
53:スイッチ(カセット検出手段)
531:検出部材
60:カセットアダプタ
61:テーブルプレート
621、622:位置決め部材
63:作動機構
631:作動レバー
632:支持ピン
64:被位置決め部材
641:係合凹部
65:把手
─────────────────────────────────────────────────────
【手続補正書】
【提出日】平成14年3月29日(2002.3.2
9)
9)
【手続補正1】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】発明の名称
【補正方法】変更
【補正内容】
【発明の名称】 カセットアダプタ
【手続補正2】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】特許請求の範囲
【補正方法】変更
【補正内容】
【特許請求の範囲】
Claims (4)
- 【請求項1】 半導体ウエーハ処理装置に配設され半導
体ウエーハを収容するカセットを載置する載置面を有す
るカセット載置台と、該カセット載置台にそれぞれ間隔
を置いて配設され該載置面より上方に突出して設けられ
た検出部材を有する複数個のカセット検出手段とを具備
するカセット載置機構における該カセット載置台上に載
置するカセットアダプタであって、 上面にカセットを載置する載置領域を備えたテーブルプ
レートと、該テーブルプレートにそれぞれ間隔を置いて
配設され該載置領域に載置されたカセットによって作動
せしめられ該複数個の検出部材をそれぞれ作動する複数
個の作動機構とを備えている、 ことを特徴とするカセットアダタ。 - 【請求項2】 該作動機構は一端部が該載置領域の載置
面に対して垂直な面内で回動可能に支持された作動レバ
ーからなっており、該作動レバーの他端部には該検出部
材の上端面に当接する力点部が設けられ、該作動レバー
の上面には該載置領域に載置されるカセットによって押
圧される作用部が設けられている、請求項1記載のする
カセットアダタ。 - 【請求項3】 該カセット載置台には該載置面に載置す
るカセットを位置決めする3本の位置決めピンが間隔を
置いて立設して設けられており、該カセットアダプタの
該テーブルプレートの下面には該3本の位置決めピンと
それぞれ係合する係合凹部を備えた3個の被位置決め部
材が配設されている、請求項1記載のするカセットアダ
タ。 - 【請求項4】 該3個の被位置決め部材に形成された該
係合凹部はそれぞれ長溝からなっており、該3個の長溝
の中心線が共通の交点をもって交差するように構成され
ている、請求項3記載のするカセットアダタ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2002094533A JP2003297902A (ja) | 2002-03-29 | 2002-03-29 | カセットアダプタ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2002094533A JP2003297902A (ja) | 2002-03-29 | 2002-03-29 | カセットアダプタ |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2003297902A true JP2003297902A (ja) | 2003-10-17 |
Family
ID=29386992
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| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2002094533A Withdrawn JP2003297902A (ja) | 2002-03-29 | 2002-03-29 | カセットアダプタ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2003297902A (ja) |
Cited By (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010129879A (ja) * | 2008-11-28 | 2010-06-10 | Fuji Mach Mfg Co Ltd | 基板支持装置 |
| JP2012064828A (ja) * | 2010-09-17 | 2012-03-29 | Sinfonia Technology Co Ltd | カセットアダプタ、及び着座センサ機構 |
| KR101467551B1 (ko) * | 2014-08-20 | 2014-12-02 | 정병철 | 반도체 웨이퍼 티칭 지그 |
| JP2015170689A (ja) * | 2014-03-06 | 2015-09-28 | 株式会社ディスコ | 切削装置 |
| JP2018078159A (ja) * | 2016-11-08 | 2018-05-17 | 株式会社ディスコ | 簡易テーブル |
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