JP2003215145A - 回転数検出装置 - Google Patents

回転数検出装置

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JP2003215145A JP2002013996A JP2002013996A JP2003215145A JP 2003215145 A JP2003215145 A JP 2003215145A JP 2002013996 A JP2002013996 A JP 2002013996A JP 2002013996 A JP2002013996 A JP 2002013996A JP 2003215145 A JP2003215145 A JP 2003215145A
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 MR比の大きなTMR素子を用いて、その感
度変化を最も効率よく検出可能な新規な回転数検出装置
を提供する。 【解決手段】 ピンド層、トンネル膜、フリー層が積層
された素子20を有し、ピンド層とフリー層との間に流
れるトンネル電流値の変化に基づいて磁気抵抗変化を検
出するトンネル電流型磁気センサ10を備え、フリー層
の中心を原点とし、ピンド層の磁化方向をX軸、X軸に
垂直かつピンド層平面に垂直な方向をZ軸、XZ平面に
垂直な方向をY軸とするデカルト座標系を規定した時、
素子20から見てY軸方向に、表面にS極とN極が交互
に複数回配置された着磁ロータ40を配置し、発生する
磁界Kが素子20の中心部においてY軸方向と概ね平行
方向になるように磁石30を素子20近傍に配置し、着
磁ロータ40の回転時に、ロータ40のS極とN極は素
子20のY軸上で概ねX軸と平行な方向に移動するよう
になっている。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、トンネル電流型磁
気センサ(TMR素子)を用いた回転数検出装置に関す
る。
【0002】
【従来の技術】一般に、車両の車輪速センサ等に用いら
れる回転数検出装置としては、MR素子(磁気抵抗素
子)等が用いられているが、MR素子はMR比(磁気抵
抗変化率)が3%程度と小さく、検出信号が小さい。
【0003】このため、増幅回路で信号を増幅すること
となるが、素子自体の信号が小さいと大きな増幅率が必
要であり、その検出結果の誤差成分も大きくなり、規模
の大きな誤差補正回路等が必要となる。
【0004】このような問題に対して、このMR素子よ
りも大きなMR比(例えば室温で18%以上)を持つT
MR素子を用いて着磁ロータ等の回転体の回転数を検出
する回転数検出装置が、特開平8−70148号公報、
特開平11−108689号公報、特開2000−30
4568号公報、特開2000−123328号公報等
に記載されている。
【0005】このTMR素子は、一般に、基板上に強磁
性体からなるピンド層、絶縁膜からなるトンネル膜、強
磁性体からなるフリー層が形成された素子を有し、素子
の置かれた場の磁界に応じて、トンネル膜を介してピン
ド層とフリー層との間に流れるトンネル電流値の変化に
基づいて磁気抵抗変化を検出するようにしたものであ
る。
【0006】具体的には、円周側面にS極とN極が交互
に着磁された着磁ロータを回転させ、その際に生じる磁
界の変化の回数を検出することで、着磁ロータの回転数
を求めることができる。この場合、検出される回転数
は、複数回の回転数だけでなく、1回未満の回転数、例
えば1/2回転等も含むものである。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記し
たTMR素子を用いた回転数検出装置は、いまだ開発途
上であり、改良の余地が多い。
【0008】そこで、本発明は、MR比の大きなTMR
素子を用いて、その感度変化を最も効率よく検出可能な
新規な回転数検出装置を提供することを目的とする。
【0009】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明者等は以下のような検討を行った。TMR素
子は、磁化方向が固定されたピンド層に対して、フリー
層の磁化方向が外部磁界により変化することで、磁気抵
抗変化が発生する。
【0010】ここで、フリー層の中心を原点とし、ピン
ド層の磁化の方向をX軸、X軸に垂直であってピンド層
平面に垂直な方向をZ軸、X軸およびZ軸を含む平面に
垂直な方向をY軸とするデカルト座標系を規定した。
【0011】そして、この座標系において、X軸および
Y軸を含むXY平面、X軸およびZ軸を含むXZ平面お
よびY軸およびZ軸を含むYZ平面といった各面におけ
る外部磁界の回転に対する磁気抵抗値変化(MR比の変
化)を調べると、図3〜図5に示すようになる。
【0012】図3は、XY平面にてZ軸回りに外部磁界
が回転した場合に、外部磁界のX軸に対する回転角度θ
と磁気抵抗値変化との関係を示し、図4は、XZ平面に
てY軸回りに外部磁界が回転した場合に、外部磁界のX
軸に対する回転角度θと磁気抵抗値変化との関係を示
し、図5は、YZ平面にてX軸回りに外部磁界が回転し
た場合に、外部磁界のY軸に対する回転角度θと磁気抵
抗値変化との関係を示す。
【0013】これら図において、変化する磁気抵抗値の
最大値と最小値の比が実質的にMR比に相当する。図3
の場合、抵抗値変化が最も急峻な部分である領域Aの範
囲を利用することにより、大きな磁気抵抗値変化を得る
ことができる。つまり、外部磁界の方向がXY平面に平
行であってY軸を中心に角度変化する場合に高感度な検
出が可能となる。
【0014】また、図4の場合、抵抗値変化が最も急峻
な部分である領域Bの範囲を利用することにより、大き
な磁気抵抗値変化を得ることができる。つまり、外部磁
界の方向がXZ平面に平行であってZ軸を中心に角度変
化する場合に高感度な検出が可能となる。
【0015】言い換えれば、図3や図4に示す領域Aや
Bは、外部磁界の角度変化に対して、MR比が最も大き
くなる範囲である。なお、図5の場合、外部磁界の回転
によっては、フリー層の磁化方向の変化が起こらないた
め、外部磁界の変化に対しては磁気抵抗値は一定にな
る。
【0016】本発明は、このような図3や図4に示され
るTMR素子の特性を利用し、感度変化を最も効率よく
検出可能な回転体と素子との位置関係を工夫することに
より、なされたものである。
【0017】すなわち、請求項1に記載の発明では、基
板(21)上に強磁性体からなるピンド層(24)、絶
縁膜からなるトンネル膜(25)、強磁性体からなるフ
リー層(26)が形成された素子(20)を有し、素子
の置かれた場の磁界に応じて、トンネル膜を介してピン
ド層と前記フリー層との間に流れるトンネル電流値の変
化に基づいて磁気抵抗変化を検出するようにしたトンネ
ル電流型磁気センサ(10)を備え、フリー層の中心を
原点とし、ピンド層の磁化の方向をX軸、X軸に垂直で
あってピンド層平面に垂直な方向をZ軸、X軸およびZ
軸を含む平面に垂直な方向をY軸とするデカルト座標系
を規定した時、素子の近傍には、素子から見てY軸方向
に、表面にS極とN極が交互に複数回配置された着磁ロ
ータ(40)が配置され、素子近傍には磁石(30)が
配置してあり、磁石が発生する磁界は、素子の中心部に
おいてY軸方向と概ね平行方向になるように配置されて
おり、着磁ロータが回転する時に、着磁ロータのS極と
N極は、素子のY軸上で概ねX軸と平行な方向に移動す
るようになっていることを特徴とする。
【0018】本発明によれば、着磁ロータの回転に伴っ
て着磁ロータのS極とN極が、素子のY軸上で概ねX軸
と平行な方向へ移動することにより、素子の中心部にお
いてY軸方向と概ね平行方向となっている磁石の磁界
が、XY平面と平行な面内でY軸を中心として角度変化
する。
【0019】そして、その角度変化に伴いトンネル電流
型磁気センサのトンネル電流値が変化する。このトンネ
ル電流値変化の回数等を求めることで、着磁ロータの回
転量すなわち回転数を検出することができる。このよう
に、本発明では、上記図3に示す領域Aの範囲を利用し
た高感度な検出が可能となっている。
【0020】よって、本発明によれば、MR比の大きな
TMR素子を用いて、その感度変化を最も効率よく検出
可能な新規な回転数検出装置を提供することができる。
【0021】また、請求項2に記載の発明では、基板
(21)上に強磁性体からなるピンド層(24)、絶縁
膜からなるトンネル膜(25)、強磁性体からなるフリ
ー層(26)が形成された素子(20)を有し、素子の
置かれた場の磁界に応じて、トンネル膜を介してピンド
層とフリー層との間に流れるトンネル電流値の変化に基
づいて磁気抵抗変化を検出するようにしたトンネル電流
型磁気センサ(10)を備え、フリー層の中心を原点と
し、ピンド層の磁化の方向をX軸、X軸に垂直であって
ピンド層平面に垂直な方向をZ軸、X軸およびZ軸を含
む平面に垂直な方向をY軸とするデカルト座標系を規定
した時、素子の近傍には、素子から見てY軸方向に歯車
(50)が配置されており、素子近傍には磁石(30)
が配置してあり、磁石が発生する磁界は、素子の中心部
においてY軸方向と概ね平行方向になるように配置され
ており、歯車が回転する時に、歯車の歯は、素子のY軸
上で概ねX軸と平行な方向に移動するようになっている
ことを特徴とする。
【0022】本発明は、上記請求項1に記載の回転数検
出装置において、着磁ロータを歯車に置き換えたもので
ある。それによれば、歯車の回転に伴って歯車の歯が素
子のY軸上で概ねX軸と平行な方向へ移動することによ
り、素子の中心部においてY軸方向と概ね平行方向とな
っている磁石の磁界が、XY平面と平行な面内でY軸を
中心として角度変化する。
【0023】このように、本発明では、上記図3に示す
領域Aの範囲を利用した高感度な検出が可能となってお
り、あとは、その角度変化に伴うトンネル電流値変化の
回数等を求めることで、歯車の回転数を検出することが
できる。
【0024】よって、本発明によれば、MR比の大きな
TMR素子を用いて、その感度変化を最も効率よく検出
可能な新規な回転数検出装置を提供することができる。
【0025】また、請求項3に記載の発明では、基板
(21)上に強磁性体からなるピンド層(24)、絶縁
膜からなるトンネル膜(25)、強磁性体からなるフリ
ー層(26)が形成された素子(20)を有し、素子の
置かれた場の磁界に応じて、トンネル膜を介してピンド
層とフリー層との間に流れるトンネル電流値の変化に基
づいて磁気抵抗変化を検出するようにしたトンネル電流
型磁気センサ(10)を備え、フリー層の中心を原点と
し、ピンド層の磁化の方向をX軸、X軸に垂直であって
ピンド層平面に垂直な方向をZ軸、X軸およびZ軸を含
む平面に垂直な方向をY軸とするデカルト座標系を規定
した時、素子の近傍には、素子から見てZ軸方向に、表
面にS極とN極が交互に複数回配置された着磁ロータ
(40)が配置され、素子近傍には磁石(30)が配置
してあり、磁石が発生する磁界は、素子の中心部におい
てZ軸方向と概ね平行方向になるように配置されてお
り、着磁ロータが回転する時に、着磁ロータのS極とN
極は、素子のZ軸上で概ねX軸と平行な方向に移動する
ようになっていることを特徴とする。
【0026】本発明は、上記請求項1に記載の回転数検
出装置と比べて、素子の近傍に配置される着磁ロータの
位置を素子から見てZ軸方向に代え、磁石が発生する磁
界を素子の中心部においてZ軸方向と概ね平行方向にな
るように代え、着磁ロータが回転する時の着磁ロータの
S極とN極の移動方向を素子のZ軸上で概ねX軸と平行
な方向に代えたものである。
【0027】それによれば、着磁ロータの回転に伴って
着磁ロータのS極とN極が、素子のZ軸上で概ねX軸と
平行な方向へ移動することにより、素子の中心部におい
てZ軸方向と概ね平行方向となっている磁石の磁界が、
XZ平面と平行な面内でZ軸を中心として角度変化す
る。
【0028】このように、本発明では、上記図4に示す
領域Bの範囲を利用した高感度な検出が可能となってお
り、あとは、その角度変化に伴うトンネル電流値変化の
回数等を求めることで、着磁ロータの回転数を検出する
ことができる。
【0029】よって、本発明によれば、MR比の大きな
TMR素子を用いて、その感度変化を最も効率よく検出
可能な新規な回転数検出装置を提供することができる。
【0030】また、請求項4に記載の発明では、基板
(21)上に強磁性体からなるピンド層(24)、絶縁
膜からなるトンネル膜(25)、強磁性体からなるフリ
ー層(26)が形成された素子(20)を有し、素子の
置かれた場の磁界に応じて、トンネル膜を介してピンド
層と前記フリー層との間に流れるトンネル電流値の変化
に基づいて磁気抵抗変化を検出するようにしたトンネル
電流型磁気センサ(10)を備え、フリー層の中心を原
点とし、ピンド層の磁化の方向をX軸、X軸に垂直であ
ってピンド層平面に垂直な方向をZ軸、X軸およびZ軸
を含む平面に垂直な方向をY軸とするデカルト座標系を
規定した時、素子の近傍には、素子から見てZ軸方向に
歯車(50)が配置されており、素子近傍には磁石(3
0)が配置してあり、磁石が発生する磁界は、素子の中
心部においてZ軸方向と概ね平行方向になるように配置
されており、歯車が回転する時に、歯車の歯は、素子の
Z軸上で概ねX軸と平行な方向に移動するようになって
いることを特徴とする。
【0031】本発明は、上記請求項3に記載の回転数検
出装置において、着磁ロータを歯車に置き換えたもので
ある。それによれば、歯車の回転に伴って歯車の歯が素
子のZ軸上で概ねX軸と平行な方向へ移動することによ
り、素子の中心部においてZ軸方向と概ね平行方向とな
っている磁石の磁界が、XZ平面と平行な面内でZ軸を
中心として角度変化する。
【0032】このように、本発明では、上記図4に示す
領域Bの範囲を利用した高感度な検出が可能となってお
り、あとは、その角度変化に伴うトンネル電流値変化の
回数等を求めることで、歯車の回転数を検出することが
できる。
【0033】よって、本発明によれば、MR比の大きな
TMR素子を用いて、その感度変化を最も効率よく検出
可能な新規な回転数検出装置を提供することができる。
【0034】また、請求項5に記載の発明では、基板
(21)上に強磁性体からなるピンド層(24)、絶縁
膜からなるトンネル膜(25)、強磁性体からなるフリ
ー層(26)が形成された素子(20)を有し、素子の
置かれた場の磁界に応じて、トンネル膜を介してピンド
層と前記フリー層との間に流れるトンネル電流値の変化
に基づいて磁気抵抗変化を検出するようにしたトンネル
電流型磁気センサ(10)を備え、フリー層の中心を原
点とし、ピンド層の磁化の方向をX軸、X軸に垂直であ
ってピンド層平面に垂直な方向をZ軸、X軸およびZ軸
を含む平面に垂直な方向をY軸とするデカルト座標系を
規定した時、素子の近傍には、素子から見てY軸方向
に、表面にS極とN極が交互に複数回配置された着磁ロ
ータ(40)が配置され、着磁ロータが回転する時に、
着磁ロータのS極とN極は、素子のY軸上で概ねX軸と
平行な方向に移動するようになっていることを特徴とす
る。
【0035】本発明によれば、着磁ロータの回転に伴っ
て着磁ロータのS極とN極が、素子のY軸上で概ねX軸
と平行な方向へ移動することにより、素子の中心部にお
いては、着磁ロータのS極とN極による磁界が、XY平
面と平行な面内で角度変化する。
【0036】つまり、本発明においても、上記図3に示
す領域Aの範囲を利用した高感度な検出が可能となって
おり、あとは、その角度変化に伴うトンネル電流値変化
の回数等を求めることで、着磁ロータの回転数を検出す
ることができる。
【0037】よって、本発明によれば、MR比の大きな
TMR素子を用いて、その感度変化を最も効率よく検出
可能な新規な回転数検出装置を提供することができる。
【0038】また、請求項6に記載の発明では、基板
(21)上に強磁性体からなるピンド層(24)、絶縁
膜からなるトンネル膜(25)、強磁性体からなるフリ
ー層(26)が形成された素子(20)を有し、素子の
置かれた場の磁界に応じて、トンネル膜を介してピンド
層と前記フリー層との間に流れるトンネル電流値の変化
に基づいて磁気抵抗変化を検出するようにしたトンネル
電流型磁気センサ(10)を備え、フリー層の中心を原
点とし、ピンド層の磁化の方向をX軸、X軸に垂直であ
ってピンド層平面に垂直な方向をZ軸、X軸およびZ軸
を含む平面に垂直な方向をY軸とするデカルト座標系を
規定した時、素子の近傍には、素子から見てZ軸方向
に、表面にS極とN極が交互に複数回配置された着磁ロ
ータ(40)が配置され、着磁ロータが回転する時に、
着磁ロータのS極とN極は、素子のZ軸上で概ねX軸と
平行な方向に移動するようになっていることを特徴とす
る。
【0039】本発明によれば、着磁ロータの回転に伴っ
て着磁ロータのS極とN極が、素子のZ軸上で概ねX軸
と平行な方向へ移動することにより、素子の中心部にお
いては、着磁ロータのS極とN極による磁界が、XZ平
面と平行な面内で角度変化する。
【0040】つまり、本発明においても、上記図4に示
す領域Bの範囲を利用した高感度な検出が可能となって
おり、あとは、その角度変化に伴うトンネル電流値変化
の回数等を求めることで、着磁ロータの回転数を検出す
ることができる。
【0041】よって、本発明によれば、MR比の大きな
TMR素子を用いて、その感度変化を最も効率よく検出
可能な新規な回転数検出装置を提供することができる。
【0042】なお、上記各手段の括弧内の符号は、後述
する実施形態に記載の具体的手段との対応関係を示す一
例である。
【0043】
【発明の実施の形態】以下、本発明を図に示す実施形態
について説明する。以下の実施形態に示す回転数検出装
置は、車両の車輪速センサ等に用いることができる。な
お、各実施形態相互にて同一部分には、図中、同一符号
を付してある。
【0044】(第1実施形態)図1(a)、(b)は、
本発明の第1実施形態に係る回転数検出装置S1の構成
を示す図であり、(b)は(a)のC矢視図である。回
転数検出装置S1は、トンネル電流型磁気センサ10
と、このセンサ10の近傍に配置された磁石30および
着磁ロータ40とを備えている。
【0045】図2は、トンネル電流型磁気センサ10に
おけるTMR素子としての素子20の概略断面構成を示
す図である。この素子20は、シリコン基板等からなる
基板21を有し、基板21の上には、下部電極22、反
強磁性膜からなるピニング層23、強磁性膜からなるピ
ンド層24、絶縁膜からなるトンネル膜25、強磁性膜
からなるフリー層26、上部電極27といった各膜が積
層されている。
【0046】下部および上部電極22、27は例えばP
t等の電極材料からなる。ピニング層23は例えばFe
−Mn等の反強磁性材料からなり、ピンド層24および
フリー層26は例えばNi−Fe等の強磁性材料からな
る。また、トンネル膜25は例えばアルミナ等の絶縁性
かつ非磁性材料からなる。このような素子20はスパッ
タや蒸着などの一般的な成膜方法により製造することが
できる。
【0047】ピニング層23は、ピンド層24の磁化反
転をピン止めするものであり、フリー層26は外部磁界
により磁化方向が自在に反転するものである。そして、
素子20においては、トンネル膜25を介してピンド層
24とフリー層26との間にトンネル電流が流れるが、
外部磁界が変化した場合、磁化反転をピン止めされたピ
ンド層24の磁化方向は一定であるのに対し、フリー層
26の磁化方向が変化することで、上下電極22と27
との間の抵抗値(磁気抵抗値)が変化し、トンネル電流
値が変化するようになっている。
【0048】なお、素子20の構成は、上記図2に示す
構成に限定するものではない。つまり、素子20は、基
板上に強磁性体からなるピンド層、絶縁膜からなるトン
ネル膜、強磁性体からなるフリー層が形成されたもので
あって、素子20の置かれた場の磁界に応じて、トンネ
ル膜を介してピンド層とフリー層との間に流れるトンネ
ル電流値の変化に基づいて磁気抵抗変化を検出するよう
にしたものであれば良い。例えば、上記した従来公報等
に記載されているようなTMR素子構成であっても良
い。
【0049】ここで、図1および図2中に示すX、Y、
Z軸は、フリー層26の中心を原点とし、ピンド層24
の磁化の方向をX軸、このX軸に垂直であってピンド層
24平面に垂直な方向をZ軸、X軸およびZ軸を含むX
Z平面に垂直な方向をY軸とするデカルト座標系を示す
ものである。
【0050】このようなデカルト座標系において、素子
20の磁気抵抗変化特性は、「解決手段」の欄にて述べ
た図3〜図5に示したものと同じ特性を示す。つまり、
図3に示すように、XY平面にてZ軸回りに外部磁界が
回転した場合に、抵抗値変化が最も急峻な部分である領
域Aの範囲、すなわち、外部磁界の方向がXY平面に平
行であってY軸(図3では、θ=90°)を中心に角度
変化する範囲を利用することにより、高感度な検出が可
能となる。
【0051】また、図4に示すように、XY平面にてZ
軸回りに外部磁界が回転した場合に、抵抗値変化が最も
急峻な部分である領域Bの範囲、すなわち、外部磁界の
方向がXZ平面に平行であってZ軸(図4では、θ=9
0°)を中心に角度変化する範囲を利用することによ
り、高感度な検出が可能となる。
【0052】そして、図1に示すように、着磁ロータ4
0は、トンネル電流型磁気センサ10の素子20の近傍
にて、素子20から見てY軸方向に配置されている。着
磁ロータ40は円盤状の磁性体からなり、その円周側面
にはS極とN極が着磁されて交互に複数回配置されてい
る。
【0053】この着磁ロータ40は、ロータ軸41によ
り円周回りに回転可能となっている。例えば、ロータ軸
41は、車輪軸等に組み付けられて車輪軸等と一体に連
動することで着磁ロータ40を回転させるようになって
いる。
【0054】この着磁ロータ40が回転する時に、着磁
ロータ40のS極とN極は、素子20のY軸上で概ねX
軸と平行な方向に移動するようになっている。つまり、
素子20の中心からY軸を着磁ロータ40方向へ延ばし
たとき、その延ばしたY軸上においては、着磁ロータ4
0のS極とN極は、概ねX軸と平行な方向に移動するよ
うになっている。
【0055】また、図1に示すように、磁石30は、素
子20の近傍において素子20と着磁ロータ40との距
離よりも近い位置に配置してある。この磁石30は、磁
石30が発生する磁界Kが素子20の中心部においてY
軸方向と概ね平行方向になるように、配置されている。
【0056】例えば、磁石30とトンネル電流型磁気セ
ンサ10とは樹脂でモールドされて一体化され、このモ
ールド体が測定体の適所に取り付けられるようになって
いる。
【0057】次に、上記構成に基づき回転数検出装置S
1の作動について述べる。この回転数検出装置S1は、
車輪の回転等と連動する着磁ロータ40の回転数を検出
する。なお、検出される回転数は、複数回の回転数だけ
でなく、1回未満の回転数、例えば1/2回転等も含む
ものである。
【0058】図1に示すように、着磁ロータ40が静止
しているとき、素子20の置かれた場の磁界は、磁石3
0の磁界Kであり、この磁界Kは素子20の中心部にお
いてY軸方向と概ね平行方向となっている。つまり、磁
界Kのベクトル方向は、上記図3においてX軸を基準と
した角度θが略90°の状態となっている。
【0059】着磁ロータ40が円周回りに回転すると、
この回転に伴って着磁ロータ40のS極とN極が、素子
20のY軸上で概ねX軸と平行な方向へ移動する。する
と、この着磁ロータ40のS極とN極の移動による磁界
変化の影響を受け、磁石30の磁界Kのベクトル方向
は、XY平面と平行な面内でY軸(θ=90°)を中心
として回転し上記角度θが変化する。
【0060】そして、その磁界Kの角度変化に伴いトン
ネル電流型磁気センサ10のトンネル電流値が変化す
る。このトンネル電流値変化の回数等を求めることで、
着磁ロータ40の回転量すなわち回転数を検出すること
ができる。
【0061】このように、本実施形態では、上記図3に
示す領域Aの範囲を利用した高感度な検出が可能となっ
ており、MR比の大きなTMR素子20を用いて、その
感度変化を最も効率よく検出可能な新規な回転数検出装
置S1を提供することができる。
【0062】ここで、本第1実施形態の変形例としての
回転数検出装置S1’を図6に示す。この変形例は、上
記図1に示す回転数検出装置S1において、着磁ロータ
40を、円周側面に凸部51と凹部52が交互に形成さ
れた歯車50に置き換えたものである。
【0063】この歯車50は、素子20の近傍にて素子
20から見てY軸方向に配置されており、車輪等と連動
する歯車軸53を軸として円周回りに回転するようにな
っている。そして、歯車50が回転する時に、歯車50
の歯すなわち凸部51は、素子20のY軸上で概ねX軸
と平行な方向に移動するようになっている。
【0064】この変形例としての回転数検出装置S1’
においては、歯車50の回転に伴って歯車50の歯が素
子20のY軸上で概ねX軸と平行な方向へ移動すること
により、磁石30と歯車50の歯(凸部51)とが対向
する時点と、対向しない時点とが交互に現れる。
【0065】すると、磁石の磁界Kのベクトル方向は、
歯車50の歯に引っ張られるように変化する。そのた
め、初期において、素子20の中心部においてY軸方向
と概ね平行方向となっている磁石30の磁界Kは、XY
平面と平行な面内でY軸(θ=90°)を中心として回
転し上記角度θが変化する。
【0066】このように、本変形例においても、上記図
3に示す領域Aの範囲を利用した高感度な検出が可能と
なっており、あとは、その角度変化に伴うトンネル電流
値変化の回数等を求めることで、歯車50の回転数を検
出することができる。よって、MR比の大きなTMR素
子20を用いて、その感度変化を最も効率よく検出可能
な新規な回転数検出装置S1’を提供することができ
る。
【0067】(第2実施形態)図7は、本発明の第2実
施形態に係る回転数検出装置S2の構成を示す図であ
る。上記第1実施形態との相違点を中心に述べる。
【0068】図7に示すように、着磁ロータ40は、ト
ンネル電流型磁気センサ10の素子20の近傍にて、素
子20から見てZ軸方向に配置されている。また、磁石
30は、素子20の近傍において、磁石30が発生する
磁界Kが素子20の中心部においてZ軸方向と概ね平行
方向になるように配置されている。
【0069】また、着磁ロータ40が回転する時に、着
磁ロータ40のS極とN極は、素子20のZ軸上で概ね
X軸と平行な方向に移動するようになっている。つまり
素子20の中心からZ軸を着磁ロータ40方向へ延ばし
たとき、その延ばしたZ軸上においては、着磁ロータ4
0のS極とN極は、概ねX軸と平行な方向に移動するよ
うになっている。
【0070】このように、本第2実施形態の回転数検出
装置S2は、上記第1実施形態の回転数検出装置S1と
比べて、素子20により規定されるデカルト座標系の
X、Y、Z軸と磁石30および着磁ロータ40との位置
関係を変えたものである。
【0071】それによれば、図7に示すように、着磁ロ
ータ40が静止しているとき、素子20の置かれた場の
磁界である磁石30の磁界Kは、素子20の中心部にお
いてZ軸方向と概ね平行方向となっている。つまり、磁
界Kのベクトル方向は、上記図4においてX軸を基準と
した角度θが略90°の状態となっている。
【0072】着磁ロータ40が円周回りに回転すると、
この回転に伴って着磁ロータ40のS極とN極が、素子
20のZ軸上で概ねX軸と平行な方向へ移動する。する
と、この着磁ロータ40のS極とN極の移動による磁界
変化の影響を受け、磁石30の磁界Kのベクトル方向
は、XZ平面と平行な面内でZ軸(θ=90°)を中心
として回転し上記角度θが変化する。
【0073】このように、本第2実施形態では、上記図
4に示す領域Bの範囲を利用した高感度な検出が可能と
なっており、あとは、その磁界Kの角度変化に伴うトン
ネル電流値変化の回数等を求めることで、着磁ロータ4
0の回転数を検出することができる。こうして、本実施
形態によれば、MR比の大きなTMR素子20を用い
て、その感度変化を最も効率よく検出可能な新規な回転
数検出装置S2を提供することができる。
【0074】ここで、本第2実施形態の変形例としての
回転数検出装置S2’を図8に示す。この変形例は、上
記図7に示す回転数検出装置S2において、着磁ロータ
40を歯車50に置き換えたものである。
【0075】ここにおいて、歯車50は、素子20の近
傍にて素子20から見てZ軸方向に配置されており、車
輪等と連動する歯車軸53を軸として円周回りに回転す
るようになっている。そして、歯車50が回転する時
に、歯車50の歯すなわち凸部51は、素子20のZ軸
上で概ねX軸と平行な方向に移動するようになってい
る。
【0076】この変形例としての回転数検出装置S2’
においては、歯車50の回転に伴って歯車50の歯が素
子20のZ軸上で概ねX軸と平行な方向へ移動すること
により、素子20の中心部においてY軸方向と概ね平行
方向となっている磁石30の磁界Kが、XZ平面と平行
な面内でZ軸(θ=90°)を中心として回転し上記角
度θが変化する。
【0077】このように、本変形例においても、上記図
4に示す領域Bの範囲を利用した高感度な検出が可能と
なっており、あとは、その角度変化に伴うトンネル電流
値変化の回数等を求めることで、歯車50の回転数を検
出することができる。よって、MR比の大きなTMR素
子20を用いて、その感度変化を最も効率よく検出可能
な新規な回転数検出装置S2’を提供することができ
る。
【0078】(第3実施形態)図9は、本発明の第3実
施形態に係る回転数検出装置S3の構成を示す図であ
る。この回転数検出装置S3は、上記図1に示す回転数
検出装置を変形したもので、図1において磁石30を省
略したものである。
【0079】本実施形態によれば、着磁ロータ40の回
転に伴って着磁ロータ40のS極とN極が、素子20の
Y軸上で概ねX軸と平行な方向へ移動することにより、
素子20の中心部においては、着磁ロータ40のS極と
N極による磁界が、XY平面と平行な面内で回転し角度
変化する。
【0080】つまり、本実施形態においても、上記図3
に示す領域Aの範囲を利用した高感度な検出が可能とな
っており、あとは、上記第1実施形態と同様、その角度
変化に伴うトンネル電流値変化の回数等を求めること
で、着磁ロータ40の回転数を検出することができる。
【0081】よって、本第3実施形態によっても、MR
比の大きなTMR素子20を用いて、その感度変化を最
も効率よく検出可能な新規な回転数検出装置S3を提供
することができる。
【0082】(第4実施形態)図10は、本発明の第4
実施形態に係る回転数検出装置S4の構成を示す図であ
る。この回転数検出装置S4は、上記図7に示す回転数
検出装置を変形したもので、図7において磁石30を省
略したものである。
【0083】本実施形態によれば、着磁ロータ40の回
転に伴って着磁ロータ40のS極とN極が、素子20の
Z軸上で概ねX軸と平行な方向へ移動することにより、
素子20の中心部においては、着磁ロータ40のS極と
N極による磁界が、XZ平面と平行な面内で回転し角度
変化する。
【0084】つまり、本実施形態においても、上記図4
に示す領域Bの範囲を利用した高感度な検出が可能とな
っており、あとは、上記第1実施形態と同様、その角度
変化に伴うトンネル電流値変化の回数等を求めること
で、着磁ロータ40の回転数を検出することができる。
【0085】よって、本第4実施形態によっても、MR
比の大きなTMR素子20を用いて、その感度変化を最
も効率よく検出可能な新規な回転数検出装置S4を提供
することができる。
【0086】ここで、上記第1および第2実施形態と上
記第3および第4実施形態とを比べると、磁石30の有
無が相違する。この磁石30をトンネル電流型磁気セン
サ10の素子20と一体化するように設けることで、次
のような利点がある。
【0087】すなわち、着磁ロータ40や歯車50とい
った回転体が静止している初期状態において、素子20
の中心部に印加される磁界KをY軸またはZ軸に略平行
に設定することが確実に実現できる。当該磁界KをY軸
またはZ軸に平行にすることは、上記図3や図4におい
て角度θを90°とすることであり、すなわち感度が一
番大きい点を中心に動作点を設定することである。
【0088】トンネル電流型磁気センサ10と磁石30
とは、上述したように、樹脂モールド等にて一体化可能
であるため、上記磁界Kの設定誤差は比較的小さいが、
センサ10と回転体40、50とは一体化できず組み付
け誤差が比較的大きくなり、上記動作点のずれを招きや
すい。このようなことから、磁石30を設けた方が、感
度変化を最も効率よく検出するという点からは好まし
い。
【0089】(他の実施形態)なお、上記第1実施形
態、第2実施形態においては、トンネル電流型磁気セン
サ10および磁石30は着磁ロータ40の円形面と対向
していたが、図11、図12に示すように、着磁ロータ
40の円周側面と対向した配置であっても良い。このこ
とは、着磁ロータ40を歯車50に置き換えた場合も同
様である。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1実施形態に係る回転数検出装置の
構成を示す図である。
【図2】トンネル電流型磁気センサにおける素子の概略
断面図である。
【図3】XY平面にてZ軸回りに外部磁界が回転した場
合に、外部磁界のX軸に対する回転角度θと磁気抵抗値
変化との関係を示す図である。
【図4】XZ平面にてY軸回りに外部磁界が回転した場
合に、外部磁界のX軸に対する回転角度θと磁気抵抗値
変化との関係を示す図である。
【図5】YZ平面にてX軸回りに外部磁界が回転した場
合に、外部磁界のY軸に対する回転角度θと磁気抵抗値
変化との関係を示す図である。
【図6】上記第1実施形態の変形例としての回転数検出
装置の構成を示す図である。
【図7】本発明の第2実施形態に係る回転数検出装置の
構成を示す図である。
【図8】上記第2実施形態の変形例としての回転数検出
装置の構成を示す図である。
【図9】本発明の第3実施形態に係る回転数検出装置の
構成を示す図である。
【図10】本発明の第4実施形態に係る回転数検出装置
の構成を示す図である。
【図11】本発明の他の実施形態に係る回転数検出装置
の一つの例を示す図である。
【図12】本発明の他の実施形態に係る回転数検出装置
のもう一つの例を示す図である。
【符号の説明】
10…トンネル電流型磁気センサ、20…素子、21…
基板、24…ピンド層、25…トンネル膜、26…フリ
ー層、30…磁石、40…着磁ロータ、50…歯車。
フロントページの続き (72)発明者 村田 雄一朗 愛知県刈谷市昭和町1丁目1番地 株式会 社デンソー内 (72)発明者 上野山 博文 愛知県刈谷市昭和町1丁目1番地 株式会 社デンソー内 Fターム(参考) 2F077 AA28 NN04 NN17 NN21 PP14 RR02

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 基板(21)上に強磁性体からなるピン
    ド層(24)、絶縁膜からなるトンネル膜(25)、強
    磁性体からなるフリー層(26)が形成された素子(2
    0)を有し、前記素子の置かれた場の磁界に応じて、前
    記トンネル膜を介して前記ピンド層と前記フリー層との
    間に流れるトンネル電流値の変化に基づいて磁気抵抗変
    化を検出するようにしたトンネル電流型磁気センサ(1
    0)を備え、 前記フリー層の中心を原点とし、前記ピンド層の磁化の
    方向をX軸、前記X軸に垂直であって前記ピンド層平面
    に垂直な方向をZ軸、前記X軸および前記Z軸を含む平
    面に垂直な方向をY軸とするデカルト座標系を規定した
    時、 前記素子の近傍には、前記素子から見て前記Y軸方向
    に、表面にS極とN極が交互に複数回配置された着磁ロ
    ータ(40)が配置され、 前記素子近傍には磁石(30)が配置してあり、 前記磁石が発生する磁界は、前記素子の中心部におい
    て、前記Y軸方向と概ね平行方向になるように配置され
    ており、 前記着磁ロータが回転する時に、前記着磁ロータのS極
    とN極は、前記素子の前記Y軸上で概ね前記X軸と平行
    な方向に移動するようになっていることを特徴とする回
    転数検出装置。
  2. 【請求項2】 基板(21)上に強磁性体からなるピン
    ド層(24)、絶縁膜からなるトンネル膜(25)、強
    磁性体からなるフリー層(26)が形成された素子(2
    0)を有し、前記素子の置かれた場の磁界に応じて、前
    記トンネル膜を介して前記ピンド層と前記フリー層との
    間に流れるトンネル電流値の変化に基づいて磁気抵抗変
    化を検出するようにしたトンネル電流型磁気センサ(1
    0)を備え、 前記フリー層の中心を原点とし、前記ピンド層の磁化の
    方向をX軸、前記X軸に垂直であって前記ピンド層平面
    に垂直な方向をZ軸、前記X軸および前記Z軸を含む平
    面に垂直な方向をY軸とするデカルト座標系を規定した
    時、 前記素子の近傍には、前記素子から見て前記Y軸方向に
    歯車(50)が配置されており、 前記素子近傍には磁石(30)が配置してあり、 前記磁石が発生する磁界は、前記素子の中心部におい
    て、前記Y軸方向と概ね平行方向になるように配置され
    ており、 前記歯車が回転する時に、前記歯車の歯は、前記素子の
    前記Y軸上で概ね前記X軸と平行な方向に移動するよう
    になっていることを特徴とする回転数検出装置。
  3. 【請求項3】 基板(21)上に強磁性体からなるピン
    ド層(24)、絶縁膜からなるトンネル膜(25)、強
    磁性体からなるフリー層(26)が形成された素子(2
    0)を有し、前記素子の置かれた場の磁界に応じて、前
    記トンネル膜を介して前記ピンド層と前記フリー層との
    間に流れるトンネル電流値の変化に基づいて磁気抵抗変
    化を検出するようにしたトンネル電流型磁気センサ(1
    0)を備え、 前記フリー層の中心を原点とし、前記ピンド層の磁化の
    方向をX軸、前記X軸に垂直であって前記ピンド層平面
    に垂直な方向をZ軸、前記X軸および前記Z軸を含む平
    面に垂直な方向をY軸とするデカルト座標系を規定した
    時、 前記素子の近傍には、前記素子から見て前記Z軸方向
    に、表面にS極とN極が交互に複数回配置された着磁ロ
    ータ(40)が配置され、 前記素子近傍には磁石(30)が配置してあり、 前記磁石が発生する磁界は、前記素子の中心部におい
    て、前記Z軸方向と概ね平行方向になるように配置され
    ており、 前記着磁ロータが回転する時に、前記着磁ロータのS極
    とN極は、前記素子の前記Z軸上で概ね前記X軸と平行
    な方向に移動するようになっていることを特徴とする回
    転数検出装置。
  4. 【請求項4】 基板(21)上に強磁性体からなるピン
    ド層(24)、絶縁膜からなるトンネル膜(25)、強
    磁性体からなるフリー層(26)が形成された素子(2
    0)を有し、前記素子の置かれた場の磁界に応じて、前
    記トンネル膜を介して前記ピンド層と前記フリー層との
    間に流れるトンネル電流値の変化に基づいて磁気抵抗変
    化を検出するようにしたトンネル電流型磁気センサ(1
    0)を備え、 前記フリー層の中心を原点とし、前記ピンド層の磁化の
    方向をX軸、前記X軸に垂直であって前記ピンド層平面
    に垂直な方向をZ軸、前記X軸および前記Z軸を含む平
    面に垂直な方向をY軸とするデカルト座標系を規定した
    時、 前記素子の近傍には、前記素子から見て前記Z軸方向に
    歯車(50)が配置されており、 前記素子近傍には磁石(30)が配置してあり、 前記磁石が発生する磁界は、前記素子の中心部におい
    て、前記Z軸方向と概ね平行方向になるように配置され
    ており、 前記歯車が回転する時に、前記歯車の歯は、前記素子の
    前記Z軸上で概ね前記X軸と平行な方向に移動するよう
    になっていることを特徴とする回転数検出装置。
  5. 【請求項5】 基板(21)上に強磁性体からなるピン
    ド層(24)、絶縁膜からなるトンネル膜(25)、強
    磁性体からなるフリー層(26)が形成された素子(2
    0)を有し、前記素子の置かれた場の磁界に応じて、前
    記トンネル膜を介して前記ピンド層と前記フリー層との
    間に流れるトンネル電流値の変化に基づいて磁気抵抗変
    化を検出するようにしたトンネル電流型磁気センサ(1
    0)を備え、 前記フリー層の中心を原点とし、前記ピンド層の磁化の
    方向をX軸、前記X軸に垂直であって前記ピンド層平面
    に垂直な方向をZ軸、前記X軸および前記Z軸を含む平
    面に垂直な方向をY軸とするデカルト座標系を規定した
    時、 前記素子の近傍には、前記素子から見て前記Y軸方向
    に、表面にS極とN極が交互に複数回配置された着磁ロ
    ータ(40)が配置され、 前記着磁ロータが回転する時に、前記着磁ロータのS極
    とN極は、前記素子の前記Y軸上で概ね前記X軸と平行
    な方向に移動するようになっていることを特徴とする回
    転数検出装置。
  6. 【請求項6】 基板(21)上に強磁性体からなるピン
    ド層(24)、絶縁膜からなるトンネル膜(25)、強
    磁性体からなるフリー層(26)が形成された素子(2
    0)を有し、前記素子の置かれた場の磁界に応じて、前
    記トンネル膜を介して前記ピンド層と前記フリー層との
    間に流れるトンネル電流値の変化に基づいて磁気抵抗変
    化を検出するようにしたトンネル電流型磁気センサ(1
    0)を備え、 前記フリー層の中心を原点とし、前記ピンド層の磁化の
    方向をX軸、前記X軸に垂直であって前記ピンド層平面
    に垂直な方向をZ軸、前記X軸および前記Z軸を含む平
    面に垂直な方向をY軸とするデカルト座標系を規定した
    時、 前記素子の近傍には、前記素子から見て前記Z軸方向
    に、表面にS極とN極が交互に複数回配置された着磁ロ
    ータ(40)が配置され、 前記着磁ロータが回転する時に、前記着磁ロータのS極
    とN極は、前記素子の前記Z軸上で概ね前記X軸と平行
    な方向に移動するようになっていることを特徴とする回
    転数検出装置。
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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006145329A (ja) * 2004-11-18 2006-06-08 Tdk Corp 加速度センサ
JP2006317389A (ja) * 2005-05-16 2006-11-24 Tdk Corp 角度スイッチセンサ
JP2007064825A (ja) * 2005-08-31 2007-03-15 Shinka Jitsugyo Kk 加速度センサ及びこれを装備した電子装置
WO2007086548A1 (ja) * 2006-01-30 2007-08-02 Alps Electric Co., Ltd. 磁気エンコーダ
JP2007218610A (ja) * 2006-02-14 2007-08-30 Alps Electric Co Ltd 磁気エンコーダ
JP2008151759A (ja) * 2006-12-20 2008-07-03 Alps Electric Co Ltd 磁気センサ及びそれを用いた磁気エンコーダ
US7621185B2 (en) 2005-07-28 2009-11-24 Sae Magnetics (H.K.) Ltd. Acceleration sensor and electronic device comprising the same
JP2009276216A (ja) * 2008-05-15 2009-11-26 Mitsubishi Electric Corp 磁気回転センサ
JP2009276217A (ja) * 2008-05-15 2009-11-26 Mitsubishi Electric Corp 磁気回転センサ
US7786725B2 (en) 2005-08-31 2010-08-31 Mitsubishi Electric Corporation Magnetic field detection apparatus for detecting an external magnetic field applied to a magnetoresistance effect element, and method of adjusting the same
JP2015129698A (ja) * 2014-01-08 2015-07-16 アルプス電気株式会社 回転検出装置
JP2015190880A (ja) * 2014-03-28 2015-11-02 Dmg森精機株式会社 位置検出装置
JP2016503173A (ja) * 2013-01-09 2016-02-01 江▲蘇▼多▲維▼科技有限公司Multidimension Technology Co., Ltd. 磁気角エンコーダおよび電子水道メータ
JP2016503174A (ja) * 2013-01-11 2016-02-01 江▲蘇▼多▲維▼科技有限公司Multidimension Technology Co., Ltd. マルチターンアブソリュート磁気エンコーダ
US10337891B2 (en) 2013-10-18 2019-07-02 Mitsubishi Electric Corporation Magnetic detection apparatus with a tunnel magnetoresistive element
CN110658354A (zh) * 2018-06-28 2020-01-07 英飞凌科技股份有限公司 传感器装置和制造传感器装置的方法

Families Citing this family (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007024598A (ja) * 2005-07-13 2007-02-01 Denso Corp 磁気センサ
JP2011040509A (ja) * 2009-08-07 2011-02-24 Imec 2層式トランス
CN202974369U (zh) 2012-08-24 2013-06-05 江苏多维科技有限公司 直读式计量装置和直读式水表
JP5532166B1 (ja) 2013-03-29 2014-06-25 Tdk株式会社 磁気センサおよび磁気センサシステム
JP5843079B2 (ja) 2013-03-29 2016-01-13 Tdk株式会社 磁気センサおよび磁気センサシステム
CN103280292A (zh) * 2013-06-08 2013-09-04 无锡隆盛科技股份有限公司 开关型霍尔传感器用磁性组件
JP5721804B2 (ja) 2013-10-29 2015-05-20 三菱電機株式会社 磁気検出装置、およびこれを搭載した車両用回転検出装置
DE102013225316A1 (de) * 2013-12-09 2015-06-11 Continental Teves Ag & Co. Ohg Untersuchen eines Drehzahlsensors auf Neigung zum Flippen
JP6202282B2 (ja) 2015-02-17 2017-09-27 Tdk株式会社 磁気センサ
KR102182095B1 (ko) * 2016-07-12 2020-11-24 한양대학교 산학협력단 3축 자기 센서
JP6631672B1 (ja) * 2018-10-03 2020-01-15 住友電装株式会社 車輪速センサ
CN110165847B (zh) * 2019-06-11 2021-01-26 深圳市瑞达美磁业有限公司 不同宽度波形的径向各向异性多极实心磁体的生产方法

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0870148A (ja) 1994-08-30 1996-03-12 Mitsubishi Materials Corp 磁気抵抗素子
JPH0870149A (ja) 1994-08-30 1996-03-12 Mitsubishi Materials Corp 磁気抵抗素子
JPH11108689A (ja) 1997-10-01 1999-04-23 Fujitsu Ltd 無接点回転スイッチ
JP4104748B2 (ja) 1998-10-12 2008-06-18 富士通株式会社 磁気センサ、磁気ヘッド及び磁気エンコーダ
JP2000304568A (ja) 1999-04-23 2000-11-02 Hitachi Metals Ltd 磁気式移動体検出センサー
JP5254514B2 (ja) * 1999-09-10 2013-08-07 コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ 減少した電磁切換え磁場を持つ磁気抵抗検知器又は記憶素子

Cited By (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7222535B2 (en) 2004-11-18 2007-05-29 Tdk Corporation Acceleration sensor and magnetic disk drive apparatus
JP2006145329A (ja) * 2004-11-18 2006-06-08 Tdk Corp 加速度センサ
JP2006317389A (ja) * 2005-05-16 2006-11-24 Tdk Corp 角度スイッチセンサ
US7621185B2 (en) 2005-07-28 2009-11-24 Sae Magnetics (H.K.) Ltd. Acceleration sensor and electronic device comprising the same
US7786725B2 (en) 2005-08-31 2010-08-31 Mitsubishi Electric Corporation Magnetic field detection apparatus for detecting an external magnetic field applied to a magnetoresistance effect element, and method of adjusting the same
JP2007064825A (ja) * 2005-08-31 2007-03-15 Shinka Jitsugyo Kk 加速度センサ及びこれを装備した電子装置
DE102006035661B4 (de) * 2005-08-31 2014-09-04 Mitsubishi Electric Corp. Magnetfelderfassungsvorrichtung und Verfahren zu deren Einstellung
WO2007086548A1 (ja) * 2006-01-30 2007-08-02 Alps Electric Co., Ltd. 磁気エンコーダ
JP2007218610A (ja) * 2006-02-14 2007-08-30 Alps Electric Co Ltd 磁気エンコーダ
JP2008151759A (ja) * 2006-12-20 2008-07-03 Alps Electric Co Ltd 磁気センサ及びそれを用いた磁気エンコーダ
JP2009276216A (ja) * 2008-05-15 2009-11-26 Mitsubishi Electric Corp 磁気回転センサ
JP2009276217A (ja) * 2008-05-15 2009-11-26 Mitsubishi Electric Corp 磁気回転センサ
JP2016503173A (ja) * 2013-01-09 2016-02-01 江▲蘇▼多▲維▼科技有限公司Multidimension Technology Co., Ltd. 磁気角エンコーダおよび電子水道メータ
JP2016503174A (ja) * 2013-01-11 2016-02-01 江▲蘇▼多▲維▼科技有限公司Multidimension Technology Co., Ltd. マルチターンアブソリュート磁気エンコーダ
US10337891B2 (en) 2013-10-18 2019-07-02 Mitsubishi Electric Corporation Magnetic detection apparatus with a tunnel magnetoresistive element
JP2015129698A (ja) * 2014-01-08 2015-07-16 アルプス電気株式会社 回転検出装置
JP2015190880A (ja) * 2014-03-28 2015-11-02 Dmg森精機株式会社 位置検出装置
CN110658354A (zh) * 2018-06-28 2020-01-07 英飞凌科技股份有限公司 传感器装置和制造传感器装置的方法

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Publication number Publication date
US6661225B2 (en) 2003-12-09
US20030137381A1 (en) 2003-07-24
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