JP2003185728A5 - - Google Patents

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Description

【００１３】
【課題を解決するための手段】
この発明は、基線ベクトルと整数バイアスとを推定する手段を備え、複数の測位用衛星の増減および基準となる測位用衛星が切り替わった場合に、推定された基線ベクトルまたは推定された整数バイアスから新たな整数バイアスを推定する方法を用いて、キャリア位相相対測位装置を構成する。これにより、複数の測位用衛星の増減する場合、または基準となる測位用衛星が切り替わった場合に、新たに整数バイアスを推定せず、直前での整数バイアスまたは基線ベクトルを用いて、その時点までの整数バイアスの推定を継続する。
【００１７】
また、この発明は、整数バイアスおよび基線ベクトルを推定する手段で推定された整数バイアスを検定する手段を備え、この整数バイアスを検定する手段で、連続して検出された整数バイアス推定値について、所定回数、その確かさが認められることにより、整数バイアスとして決定する。これにより、同一の整数バイアス推定値が繰り返される回数をカウントし、検定された整数バイアスの確かさを確認する。
【００１８】
また、この発明は、整数バイアスおよび基線ベクトルを推定する手段で推定された整数バイアスを検定する手段を備え、この整数バイアスを検定する手段で、連続して検出された整数バイアス推定値が、所定回数、同じ値となることにより、整数バイアスとして決定する。これにより、同一の整数バイアス推定値が連続して繰り返される回数をカウントし、更に高精度に検定された整数バイアスの確かさを確認する。
【００２０】
また、この発明は、floating ambiguity を基にＬＡＭＢＤＡ法を用いて、整数バイアスの推定および決定を行う。これにより、整数バイアスを推定、算出し、その確かさを向上する。
【０１５５】
また、この発明によれば、連続して検出された整数バイアス推定値が、所定回数、同じ値となることにより、整数バイアスとして決定する方法を用いることにより、検定された整数バイアスの確かさを、更に高精度に確認することができる。
【０１５７】
また、この発明によれば、floating ambiguity を基にＬＡＭＢＤＡ法を用いて、整数バイアスの推定および決定を行うことにより、容易に整数バイアスを推定、算出し、その確かさを向上することができる。

Claims (8)

  1. 移動体上または、移動体上と固定位置とに配置された複数のアンテナと、前記複数のアンテナのうち１つを基準アンテナとして、前記複数のアンテナで複数の測位用衛星からの電波をそれぞれ受信して、１重位相差または２重位相差の観測結果から整数バイアスおよび基線ベクトルを推定する手段を備えるキャリア位相相対測位装置において、
    前記複数の測位用衛星が増減した場合、または基準となる測位用衛星が切り替わった場合に、前記推定された基線ベクトルまたは前記推定された整数バイアスから新たな前記整数バイアスを推定することを特徴とするキャリア位相相対測位装置。
  2. 前記測位用衛星が増加した場合に、該測位用衛星が増加する前に推定された前記基線ベクトルのみから、前記整数バイアスを推定することを特徴とする請求項１に記載のキャリア位相相対測位装置。
  3. 前記測位用衛星が減少した場合に、該減少した測位用衛星に関する前記整数バイアスの推定値を除去することにより、測位用衛星減少後の前記整数バイアスを推定することを特徴とする請求項１に記載のキャリア位相相対測位装置。
  4. 前記整数バイアスの推定に前記２重位相差を用い、前記基準となる測位用衛星が切り替わった場合に、該切り替わりに応じて、差分演算処理を行うことにより、切り替わり後の前記整数バイアスを推定することを特徴とする請求項１に記載のキャリア位相相対測位装置。
  5. 前記整数バイアスおよび基線ベクトルを推定する手段で推定された整数バイアスを検定する手段を備え、
    該整数バイアスを検定する手段は、連続して検出された前記整数バイアス推定値について、所定回数、その確かさが認められることにより、整数バイアスとして決定することを特徴とする請求項１〜４のいずれかに記載のキャリア位相相対測位装置。
  6. 前記整数バイアスおよび基線ベクトルを推定する手段で推定された整数バイアスを検定する手段を備え、
    前記整数バイアスを検定する手段は、連続して検出された前記整数バイアス推定値が、所定回数、同じ値となることにより、整数バイアスとして決定することを特徴とする請求項１〜請求項４のいずれかに記載のキャリア位相相対測位装置。
  7. 前記整数バイアスの基となるfloating ambiguity と基線ベクトルとの推定に、カルマンフィルタを用いることを特徴とする請求項１〜６のいずれかに記載のキャリア位相相対測位装置。
  8. 前記floating ambiguity を基にＬＡＭＢＤＡ法を用いて、前記整数バイアスの推定および決定を行うことを特徴とする請求項７に記載のキャリア位相相対測位装置。
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