JP2003158184A - 半導体集積回路およびそのレイアウト設計方法 - Google Patents

半導体集積回路およびそのレイアウト設計方法

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JP2003158184A
JP2003158184A JP2001356205A JP2001356205A JP2003158184A JP 2003158184 A JP2003158184 A JP 2003158184A JP 2001356205 A JP2001356205 A JP 2001356205A JP 2001356205 A JP2001356205 A JP 2001356205A JP 2003158184 A JP2003158184 A JP 2003158184A
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wiring
shield
power supply
gnd
terminal
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JP2001356205A
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Inventor
Jiyunji Yoshida
潤史 吉田
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Renesas Micro Systems Co Ltd
Original Assignee
Renesas Micro Systems Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】電源配線またはGND配線に既に信号配線が配
置されており、直接的にシールド配線を電源配線または
GND配線に接続できない場合に、配線を変更すること
なく容易に対象配線をシールドすることができる半導体
集積回路およびそのレイアウト設計方法を提供する。 【解決手段】電源配線またはGND配線に直接接続され
ないシールド配線が存在した場合、ステップS14にお
いて、この電源配線またはGND配線に未接続のシール
ド配線の終端近辺を起点として、スルーホールを配置す
る配置位置を探索しスルーホールを配置する。そしてス
テップS15で、配置したスルーホール近辺にフィルセ
ルを配置し、このフィルセルを用いてステップS16
で、シールド配線を電源配線またはGND配線に接続す
る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明はセルベース方式など
の半導体集積回路およびそのレイアウト設計方法に関
し、特にシールド配線を接続終端まで容易に配線するこ
とが出来る半導体集積回路およびそのレイアウト設計方
法に関する。
【0002】
【従来の技術】最近、半導体集積回路は高集積化・高速
化が著しく、配線間の寸法が小さくなるとともに平行す
る配線長が回路規模の増大とともに長くなり、配線間の
カップリング容量が大きくなってきている。この為、カ
ップリング容量に起因するクロストークが回路動作に重
大な影響を及ぼし、クロストークを軽減する半導体集積
回路およびそのレイアウト設計方法が必要とされてい
る。
【0003】従来クロストークを軽減する方法として、
シールドが必要とされる対象ネットに対して、対象ネッ
トに対応した対象配線に平行してシールド配線を配置す
る方法が行われており、特開2000−236066号
公報に、既存の電源配線/GND配線をシールド配線と
して用いる従来技術が記載されている。
【0004】図10を参照して、この公報記載のシール
ド配線方法を説明すると、水平方向のクロック配線10
1は、既存のGND配線102,103によってシール
ドされ、垂直方向のクロック配線105は、クロック配
線105を挟んで、既存のGND配線103,104を
垂直方向に接続するGND配線106,107によりシ
ールドされる。
【0005】このように、セル108に接続しシールド
すべき対象配線であるクロック配線101,105は、
既存の電源配線またはGND配線を用いてシールドさ
れ、シールド配線に伴う面積の増加が抑制される。
【0006】また、特開2000−294649公報
に、シールド配線の配線処理に伴って配線ショートなど
の設計規則違反が生じた場合、この修正を容易に行うこ
とができるシールド配線方法が記載されている。
【0007】図11に示すフローチャートを参照して、
この公報記載のシールド配線方法の主要な処理について
説明すると、ステップS114でネットリストの中から
シールドが必要なネットでかつ未処理のネットを抽出す
る。そしてステップS115で、対象ネットに対応した
対象配線の両側に配線スペースを設けるための隣接配線
禁止属性を付加する。
【0008】次にステップS116で、対象配線の配線
経路探索、配線敷設仮決定を行い、ステップS117で
対象配線に対して設計規則違反修復時に配線を引き剥が
して再配線の対象としないことを表す固定属性を付加す
る。
【0009】続いてステップS118で対象ネット以外
の通常ネットの配線経路探索、配線敷設仮決定を行い、
ステップS119で仮決定した通常ネットの配線同士が
配線ショートなどの設計規則違反をしていないかをチェ
ックする。違反があった場合は、ステップS1110で
違反箇所を含む領域の配線を一度引き剥がして再配線す
る。
【0010】次に、ステップS1111でシールドが必
要とされるネットに関わる配線、すなわち対象配線に設
計規則違反がないかどうかをチェックする。違反があっ
た場合は、ステップS1112で対象ネットの固定属性
を解除し、対象配線を再配線可能とする。そしてステッ
プS1113で、対象ネットおよび通常ネットのエラー
箇所を再配線し、両ネットの配線経路を決定する。
【0011】そして両ネットの配線経路が決定したら、
ステップS1114で対象ネットの隣接配線禁止属性を
解除し、続いてステップS1115で対象ネットに隣接
するシールドネットの配線を行う。
【0012】上述したように、対象ネットに設計規則違
反があった場合、対象ネットの隣接配線禁止属性および
固定属性を解除し、対象ネットと通常ネットを含めた両
方のネットを、違反箇所で再配線することにより、対象
ネットに対応する対象配線の設計規則違反を解消して、
シールド配線を配線することが出来る。
【0013】
【発明が解決しようとする課題】上述した特開2000
−236066号公報記載のシールド配線方法は、既存
の電源配線またはGND配線をシールド配線と兼用する
ので、既存の電源配線またはGND配線をシールド配線
として利用可能である場合は良いが、既存の電源配線ま
たはGND配線と対象配線とが離れている場合は、本公
報のシールド配線方法は適用できない。
【0014】すなわち、図10に示すように既存の電源
配線またはGND配線が規則的に配置されている場合
は、シールドすべきクロック配線を既存の電源配線また
はGND配線で挟むようにして規則的にシールドするこ
とが可能であるが、既存の電源配線またはGND配線が
規則的でない場合や、シールドすべき対象配線と既存の
電源配線またはGND配線が遠い場合、あるいは他の信
号線により隔離されている場合は本公報のシールド配線
方法を適用するのは困難である。
【0015】また特開2000−294649号公報記
載のシールド配線方法は、高機能化などの要求により回
路規模が増加しネット数が多くなった場合、配線密度が
高くなり、自動配線した際に、配線ショート等の設計規
則違反が多数発生し、これらの設計規則違反の全てを解
消することは困難である。
【0016】また上述した設計規則違反を解消する為
に、設計規則違反をおこしている箇所の再配線領域を拡
大すると、今度は配線長の増加を招いてしまい、配線容
量の増大に起因する動作スピードが低下するという問題
がある。
【0017】従って設計規則違反を解消するために、再
配線領域を拡大することなく完全にシールドするする為
には、配線領域面積を増やして配線自由度を上げるしか
ないが、これはチップ面積を大きくすることに他ならな
い。
【0018】チップ面積を大きくしないでシールド配線
する方法として、図11のステップS1114で行って
いる隣接配線禁止属性の解除を、ステップS1110の
通常ネットのエラー修復前に行い、通常ネットを配線す
ることが考えられる。
【0019】この場合、通常ネットがシールドが必要と
される対象ネットの隣接配線となり、シールド配線領域
が確保されなくなる場合が生じる。これにより、シール
ド配線とセルへ電源を供給するための電源配線またはG
ND配線とが接続出来なくなるという問題がある。
【0020】次に上記に述べた問題点について、図12
を参照して具体的に説明する。
【0021】図12において、121は配線トラック、
122は2層のGND配線、123は2層の電源配線、
124は1層の電源配線、125は1層のGND配線で
ある。また126は、シールドすべき対象配線であるク
ロック配線、127,128はシールド配線、129,
1210は信号配線である。ここで、クロック配線12
6,シールド配線127,128、信号配線129,1
210はいずれも2層配線である。
【0022】シールド配線127,128は、信号配線
129,1210が領域Aと領域Bをそれぞれ通過して
いるために、GND配線125にスルーホールを介して
接続することが出来ない。このように、信号配線が電源
配線またはGND配線と重なって既に配置されており、
シールド配線を終端で電源配線またはGND配線に接続
出来ない場合に、大幅なレイアウト修正を行わなければ
ならない。
【0023】このため本発明の目的は、シールド配線を
接続すべき電源配線またはGND配線に既に信号配線が
配置されており、直接的にシールド配線を電源配線また
はGND配線に接続できない場合において、フィルセル
を介してシールド配線を電源配線またはGND配線に接
続することにより、配線を変更することなく容易に対象
配線をシールドすることができる半導体集積回路および
そのレイアウト設計方法を提供することにある。
【0024】また本発明の目的は、回路ブロックをこの
回路ブロックと論理が等価でかつ外形および端子位置が
共通であり、内部にシールド配線を接続するための電源
端子またはGND端子を有する等価回路ブロックに置換
し、この等価回路ブロックの電源端子またはGND端子
にシールド配線を接続することにより、容易に対象配線
をシールドすることができる半導体集積回路およびその
レイアウト設計方法を提供することにある。
【0025】さらに本発明の目的は、直接的にシールド
配線を電源配線またはGND配線に接続できない場合に
おいて、シールド配線を通常の回路ブロックが備えてい
るリセット端子に接続することにより、配線の修正を行
うことなく、容易に対象配線をシールドすることができ
る半導体集積回路およびそのレイアウト設計方法を提供
することにある。
【0026】
【課題を解決するための手段】そのため、本発明による
半導体集積回路のレイアウト設計方法は、シールドすべ
き対象ネットをネットリストから抽出し、この対象ネッ
トを配線する工程と、前記対象ネットをシールドするシ
ールドネットを配線し、前記シールドネットに対応して
配線されたシールド配線に、電源配線またはGND配線
に接続されない未接続シールド配線が存在するか否かを
判定する判定工程と、前記判定工程で、前記未接続シー
ルド配線が存在すると判定された場合、前記未接続シー
ルド配線の終端近辺に、スルーホールを配置するスルー
ホール配置工程と、前記スルーホールの近辺に、電源端
子またはGND端子を有し論理動作を行わないフィルセ
ルを配置する工程と、前記未接続シールド配線を、前記
スルーホールを介して前記フィルセルを構成する前記電
源端子または前記GND端子に接続する工程と、を備え
ることを特徴としている。
【0027】また本発明による半導体集積回路は、電源
配線と、GND配線と、対象配線をシールドするシール
ド配線を有する半導体集積回路において、前記電源配線
または前記GND配線に直接接続されない前記シールド
配線を、論理動作をしないフィルセルを構成する電源端
子またはGND端子に、スルーホールを介して接続した
ことを特徴としている。
【0028】
【発明の実施の形態】次に、本発明の半導体集積回路お
よびそのレイアウト設計方法の第1の実施の形態につい
て図面を参照して説明する。
【0029】図1は、本発明の第1の実施の形態による
半導体集積回路のレイアウト設計方法を示すフローチャ
ートである。ステップS1において、回路ブロックの名
称、外形、端子位置、端子属性など回路ブロックに関す
るレイアウト情報を含むブロックライブラリ2と、回路
ブロック間の接続情報であるネットリスト1と、回路ブ
ロックを配置する際の配置トラックおよび配線する際の
配線トラックに関する情報、水平方向と垂直方向の各配
線層の定義、スルーホールなどについての設計規則など
の情報を含むレイアウト情報3とを参照して、配置トラ
ック上に回路ブロックを配置する。
【0030】次にステップS2において、ネットリスト
1の中からシールドが必要なネットである対象ネットを
抽出する。そしてステップS3で対象ネットに対して、
対象ネットを配線トラックに配置したときの配線である
対象配線の両側に配線スペースを設けるための隣接配線
禁止属性を付加する。
【0031】次にステップS4で、対象ネットの配線経
路を探索し仮配線する。そして対象ネットに対しては、
設計規則違反修復時に配線を引き剥がして再配線の対象
としないことを表す固定属性を付加する。
【0032】次にステップS5で対象ネット以外の通常
ネットについて配線経路を探索し、仮配線を行う。続い
てステップS6で、仮配線した通常ネットの配線同士が
配線ショートなどの設計規則違反をしていないかについ
て判定する。違反がないと判定された場合はステップS
9の処理を行い、違反があった場合はステップS7で対
象配線の隣接配線禁止属性を解除し、ステップS8で違
反箇所を含む領域の通常配線を一度引き剥がし、対象配
線の両側に設けられていた配線スペースを用いて通常配
線を再配線しエラーを修復する。
【0033】次にステップS9で、対象配線に接続違反
などの設計規則違反をしていないかについて判定する。
違反がない場合はステップS12の処理を行い、違反が
あった場合はステップS10で対象ネットの固定属性を
解除し、対象配線を再配線可能とする。そしてステップ
S11で、配線違反をおこしている対象ネットおよび通
常ネットを再配線し、配線違反を解消する。
【0034】次にステップS12で対象配線に隣接する
シールドネットの仮配線を行う。そしてステップS13
で、シールドネットに対応するシールド配線が電源配線
またはGND配線に直接接続されたか否かについて判定
する。
【0035】シールドネットに対応するシールド配線が
電源配線またはGND配線に直接接続されたと判定され
た場合は、ステップS17の処理を行い、電源配線また
はGND配線に直接接続されないシールド配線が存在す
ると判定された場合、ステップS14において、この電
源配線またはGND配線に未接続のシールド配線の終端
近辺を起点として、スルーホールを配置する配置位置を
探索し、探索結果に基づいてスルーホールを配置する。
【0036】スルーホールを配置する配置位置の探索方
法としては、シールド配線の終端、この場合電源配線ま
たはGND配線に未接続のシールド配線の終端近辺か
ら、シールド配線に沿って終端から離れる方向に探索す
る。そしてこの探索において、スルーホールの配置位置
を探索できなかった場合、シールド配線から平行な方向
に1配線トラック離れて、同様にシールド配線の終端か
ら、シールド配線に沿って終端から離れる方向に探索す
る。
【0037】このとき1個のみのスルーホールでは、シ
ールド配線がフィルセルの電源端子またはGND端子ま
で接続出来ない場合は、複数のスルーホールを生成し配
置する。
【0038】次にステップS15において、ステップS
14で配置したスルーホール近辺にフィルセルを配置す
る。ここでフィルセルについて図3および図4を参照し
て説明する。
【0039】図3に示すフィルセルは、N型ウェル層3
1と、N型ウェル層31に1層の電源配線34からバイ
アスを与えるためのコンタクト33およびN型拡散層3
2と、P型ウェル層35と、P型ウェル層35にGND
配線38から接地電位を与えるためのコンタクト37お
よびP型拡散層36と、フィルセル内に設けられた1層
のGND配線38と他のGND配線とを接続するための
GND端子28とを含んで構成される。
【0040】また図4に示すフィルセルは、N型ウェル
層31と、N型ウェル層31に1層の電源配線34’か
らバイアスを与えるためのコンタクト33およびN型拡
散層32と、P型ウェル層35と、P型ウェル層35に
1層のGND配線38’から接地電位を与えるためのコ
ンタクト37およびP型拡散層36と、フィルセル内に
設けられた電源配線34’と他の電源配線とを接続する
ための電源端子41とを含んで構成され、基本的に図3
に示すフィルセルと同様の構成であるが、GND端子2
8の代わりに電源端子41を設けている点が基本的な相
違点である。
【0041】なお、図3に示すフィルセルは、GND端
子のみを設けており、また図4に示すフィルセルは、電
源端子のみを設けているが、1つのフィルセルに両方の
端子、すなわちGND端子と電源端子を両方設けるよう
にしても良い。
【0042】また図2から明らかなようにフィルセルの
電源配線34は、図2に示す電源配線22Aと接続し、
フィルセルのGND配線38は、図2に示すGND配線
23Aと接続する。図4に示すフィルセルについても同
様に、フィルセル内の電源配線34’とGND配線3
8’が図2に示す電源配線22AおよびGND配線23
Aと接続する。
【0043】図3,4から明らかなように、フィルセル
はトランジスタを含まず論理動作を行わない特別な回路
ブロックであり、通常、回路ブロックが配置されない領
域を検出してこの領域にフィルセルを配置する設計方法
が行われるが、本発明の場合、シールド配線をフィルセ
ルを介してGND配線に接続、あるいはシールド配線を
フィルセルを介して電源配線に接続する目的で用いる。
【0044】次に図1に戻って説明を続けると、ステッ
プS16において、シールド配線をフィルセルを介して
電源配線またはGND配線に接続するように配線した
後、ステップS18でレイアウト設計を完了する。
【0045】またステップS13でシールドネットに対
応するシールド配線が電源配線またはGND配線に直接
接続されたと判定された場合は、ステップS17でステ
ップS12で生成した仮配線を確定し、ステップS18
でレイアウト設計を完了する。
【0046】次に図2および図1,3を参照して、本発
明の半導体集積回路およびそのレイアウト設計方法につ
いて具体的に説明する。
【0047】図2は、本発明による半導体集積回路の内
部領域の一部を表すレイアウト図であり、点線で示す配
線トラック21と、1層の電源配線22Aと、2層の電
源配線22Bと、電源配線22Aと電源配線22Bとを
接続するスルーホール22Cと、1層のGND配線23
Aと、2層のGND配線23Bと、GND配線23Aと
GND配線23Bとを接続するスルーホール23Cとを
有している。
【0048】また2層の対象配線24が、配線トラック
21上を垂直方向に通過し、2層の信号配線26A、2
6Bも同様に垂直方向に配線され、GND配線23A上
で水平方向に配線方向を変更し、ふたたび図2の下方で
垂直方向に配線されている。
【0049】なお図2で信号配線は、信号配線26A,
26Bの2本のみを示しているが、実際は多数の信号配
線が対象配線24の周辺に配線されており、本発明に直
接関連する配線だけを示している。
【0050】また2層のシールド配線25A,25B
は、図1のステップS12で仮配線される。このとき、
GND配線23A上を2層の信号配線26A,26Bが
通過しているために、スルーホールをGND配線23A
上に設け、シールド配線25A,25Bを直接GND配
線23Aに接続することが出来ず、シールド配線25
A,25Bの終端は、ステップS12の配線処理段階で
は未配線のままである。
【0051】従って図1のステップS13で、シールド
配線25A,25Bが電源配線またはGND配線に直接
接続されていないと判定され、ステップS14でシール
ド配線25A,25Bの各終端近辺を探索し、スルーホ
ール29A、29B、さらにスルーホール29Bに対応
するスルーホール29Cが生成されて配置される。
【0052】そしてステップS15において、ステップ
S14で配置されたスルーホール29A〜29Cの近辺
にフィルセル27A,27Bが配置される。ここでフィ
ルセル27A,27Bは、図3で示したフィルセルと同
様である。
【0053】シールド配線25Aは、1層配線と2層配
線を接続するスルーホール29Aを介して、図3のGN
D端子28に接続し、さらにGND配線38に接続す
る。
【0054】一方シールド配線25Bは、図1のステッ
プS16において、2層配線と3層配線を接続するスル
ーホール29Bを介して、3層配線210に接続し、さ
らに1層配線と2層配線と3層配線とを接続するスルー
ホール29Cを介して図3のGND端子28に接続し、
最終的にGND配線38に接続する。ここで配線210
を3層配線としたのは、基本的に水平方向の配線層は1
層および3層としており、垂直方向は2層配線としてい
るが、1層配線は回路ブロック内部の内部配線として使
われており、回路ブロック間の配線としては3層を用い
るためである。
【0055】このようにして、シールド配線が電源配線
またはGND配線に直接接続出来ない場合であっても、
フィルセルを介してシールド配線を電源配線またはGN
D配線に接続することにより、信号配線を変更すること
なく、対象配線をシールド配線によりシールドすること
ができる。
【0056】なお上記において、シールド配線を図3に
示すフィルセルを用いてGND配線に接続したが、図4
に示す電源端子41を有するフィルセルを用いて電源配
線に接続するようにしても同様の効果が得られる。図3
に示すフィルセルを用いるか、図4に示すフィルセルを
用いるかは、シールド配線の終端から電源端子またはG
ND端子までに配線し易い方を適宜選択する。
【0057】次に本発明の半導体集積回路およびそのレ
イアウト設計方法の第2の実施の形態について図5,6
を参照して説明する。
【0058】第2の実施の形態による半導体集積回路の
レイアウト設計方法は、図1のステップS1〜ステップ
S14およびステップS17と同様であるが、ステップ
S13で電源配線またはGND配線に直接接続されてい
ないシールド配線が存在すると判定された場合は、ステ
ップS14で第1の実施の形態と同様に、この電源配線
またはGND配線に未接続のシールド配線の終端近辺か
ら、シールド配線に沿って終端から離れる方向に、スル
ーホールを配置する配置位置を探索し、探索結果に基づ
いてスルーホールを配置する。
【0059】そしてステップS51で、ステップS14
で配置したスルーホールの近辺にある回路ブロックを、
シールド配線接続用端子を有する等価回路ブロックに置
換する。ここで等価回路ブロックについて図6を参照し
て説明する。
【0060】図6に示す等価回路ブロックは、N型ウェ
ル層31’と、N型ウェル層31’に電源配線34”か
らバイアスを与えるためのコンタクト33’およびN型
拡散層32’と、P型ウェル層35と’、P型ウェル層
35’にGND配線38”から接地電位を与えるための
コンタクト37’およびP型拡散層36’と、等価回路
ブロック内に設けられたGND配線38”と他のGND
配線とを接続するためのGND端子28’とを含んで構
成される。
【0061】等価回路ブロックは、置換する回路ブロッ
クと論理動作および入出力端子位置などのレイアウトは
全て同一であり、違いはGND配線38”に接続するG
ND端子28’を設けている点である。なお、N型ウェ
ル層31’とP型ウェル層35’に形成されるトランジ
スタについては、省略して書いている。
【0062】図5のステップS52に戻って説明を続け
ると、ステップS13で未接続と判定されたシールド配
線を、ステップS14で配置したスルーホールを介して
図6に示す等価回路ブロックのGND端子28’に接続
し、最終的にGND配線38”に接続する。
【0063】このようにして、既に配置されている回路
ブロックを論理動作および外形などのレイアウトも殆ど
同一の等価回路ブロックに置き換えることにより、フィ
ルセルを配置するスペースがない場合であっても、等価
回路ブロックを介してシールド配線を電源配線またはG
ND配線に接続することにより、信号配線を変更するこ
となく、対象配線をシールド配線によりシールドするこ
とができる。
【0064】なお上記において、等価回路ブロックにG
ND端子28’を設けて最終的にGND配線38”に接
続するとして説明したが、図4の場合のように、等価回
路ブロックに電源端子を設けて最終的に電源配線に接続
するようにしても良い。
【0065】次に本発明の半導体集積回路およびそのレ
イアウト設計方法の第3の実施の形態について図7〜図
9を参照して説明する。
【0066】第3の実施の形態による半導体集積回路の
レイアウト設計方法は、図1のステップS1〜ステップ
S13およびステップS17と同様であるが、ステップ
S13で電源配線またはGND配線に直接接続されてい
ないシールド配線が存在すると判定された場合は、ステ
ップS71において、ステップS13で未接続と判定さ
れたシールド配線の終端近辺から、シールド配線に沿っ
て終端から離れる方向に回路ブロックのリセット端子を
探索する。
【0067】ここで図9を参照して回路ブロックのリセ
ット端子について説明すると、図9に示す回路ブロック
は、N型ウェル層31’と、N型ウェル層31’に電源
配線91からバイアスを与えるためのコンタクト33’
およびN型拡散層32’と、P型ウェル層35’と、P
型ウェル層35’にGND配線92から接地電位を与え
るためのコンタクト37’およびP型拡散層36’と、
回路ブロックのリセット端子93と、リセット端子93
に接続するリセット配線94とを含んで構成される。こ
のリセット端子93は、電位的に安定しているのでシー
ルド配線を接続した場合は、シールド配線の電位を一定
に保つことが出来、シールド配線を電源配線またはGN
D配線に接続した場合と同様なシールド効果が得られ
る。
【0068】なお、N型ウェル層31’とP型ウェル層
35’に形成されるトランジスタについては、省略して
書いている。
【0069】図7のステップS72に戻って説明を続け
ると、ステップS13で未接続と判定されたシールド配
線を、ステップS71で探索したリセット端子93を介
して図9に示すリセット端子を有する回路ブロックのリ
セット配線94に接続する。
【0070】次に図8および図7,9を参照して、本実
施の形態による半導体集積回路のレイアウト設計方法に
ついて具体的に説明する。
【0071】図8は本実施の形態による半導体集積回路
の内部領域の一部を表すレイアウト図であり、図2と基
本的に同様であり、図2と共通の構成要素には共通の参
照文字/数字を付してある。図2との違いは、図2では
フィルセル27A,27Bが配置され、このフィルセル
を介してシールド配線がGND配線に接続されるのに対
して、図8では、図7のステップS71で探索したリセ
ット端子を有する回路ブロック81A,81Bのリセッ
ト端子82A,82Bを介して、シールド配線25A,
25Bが図9に示すリセット端子93に接続される点が
相違している。
【0072】すなわち、シールド配線25Aは、1層配
線と2層配線とを接続するスルーホール29Aを介し
て、図9のリセット端子93に接続し、最終的にリセッ
ト配線94に接続する。
【0073】一方シールド配線25Bは、図7のステッ
プS72において、2層配線と3層配線を接続するスル
ーホール29Bを介して3層配線83に接続し、さらに
1層配線と2層配線と3層配線とを接続するスルーホー
ル29Cを介して図9のリセット端子93に接続し、最
終的にリセット配線94に接続する。
【0074】このようにして、配置されている回路ブロ
ックが安定電位であるリセット端子を有している場合に
は、シールド配線をこの安定電位のリセット配線に接続
することにより、第2の実施の形態で行ったような付加
端子を有する回路ブロックに置換することなく、信号配
線を変更することなく、対象配線をシールド配線により
シールドすることができる。
【0075】なお上記において安定電位の端子として、
初期的にしか動作変化をしないリセット端子について具
体的に説明したが、他の安定電位の端子として、テスト
用の端子、モード切替用の端子など、回路動作に影響を
与えず安定した電位の端子であればシールド配線を接続
する端子として用いることが可能である。
【0076】
【発明の効果】以上説明したように、本発明による半導
体集積回路およびそのレイアウト設計方法は、シールド
配線を接続すべき電源配線またはGND配線に既に信号
配線が配置されており、直接的にシールド配線を電源配
線またはGND配線に接続できない場合において、信号
配線を有しないフィルセルを介してシールド配線を電源
配線またはGND配線に接続することにより、配線を変
更することなく容易に対象配線をシールドすることがで
きる。
【0077】このため、冗長な配線の迂回などが生じな
いため、シールド配線によるチップ面積の増大を抑制す
ることが出来る。
【0078】また、対象配線とシールド配線および信号
配線を最終的に配線処理するのに、修正が少なくて済む
のでレイアウト設計期間を短縮することが出来る。
【0079】また、回路ブロックをこの回路ブロックと
論理が等価でかつ外形および端子位置が共通であり、内
部にシールド配線を接続するための電源端子またはGN
D端子を有する等価回路ブロックに置換し、この等価回
路ブロックの電源端子またはGND端子にシールド配線
を接続することにより、容易に対象配線をシールドする
ことができる。
【0080】さらに、直接的にシールド配線を電源配線
またはGND配線に接続できない場合において、シール
ド配線を通常の回路ブロックが備えているリセット端子
に接続することにより、配線の修正を行うことなく、容
易に対象配線をシールドすることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施の形態による半導体集積回
路のレイアウト設計方法を表すフローチャートである。
【図2】本発明の第1の実施の形態による半導体集積回
路のレイアウト図である。
【図3】本発明の第1の実施の形態による半導体集積回
路およびそのレイアウト設計方法で用いるフィルセルの
レイアウト図である。
【図4】本発明の第1の実施の形態による半導体集積回
路およびそのレイアウト設計方法で用いるフィルセルの
レイアウト図である。
【図5】本発明の第2の実施の形態による半導体集積回
路のレイアウト設計方法を表すフローチャートである。
【図6】本発明の第2の実施の形態による半導体集積回
路およびそのレイアウト設計方法で用いる等価回路ブロ
ックのレイアウト図である。
【図7】本発明の第3の実施の形態による半導体集積回
路のレイアウト設計方法を表すフローチャートである。
【図8】本発明の第3の実施の形態による半導体集積回
路のレイアウト図である。
【図9】本発明の第3の実施の形態による半導体集積回
路およびそのレイアウト設計方法で用いる回路ブロック
のレイアウト図である。
【図10】特開2000−236066号公報に記載さ
れている従来技術のシールド配線方法を説明するための
レイアウト図である。
【図11】特開2000−294649公報に記載され
ている従来技術のシールド配線方法を説明するためのフ
ローチャートである。
【図12】特開2000−294649公報に記載され
ている従来技術のシールド配線方法の問題点を説明する
ためのレイアウト図である。
【符号の説明】
21,121 配線トラック 22A,22B,34,34’,34”,91,12
3,124 電源配線 22C,23C,29A,29B,29C,1211
スルーホール 23A,23B,38,38’,38”,92、10
2,103,104,106,107,122,125
GND配線 24 対象配線 25A,25B、127,128 シールド配線 26A,26B、129,1210 信号配線 27A,27B フィルセル 28、28’ GND端子 41 電源端子 210,83 配線 31、31’ N型ウェル層 32、32’ N型拡散層 33,33’37,37’ コンタクト 35,35’ P型ウェル層 36,36’ P型拡散層 81A,81B 回路ブロック 82A,82B,93 リセット端子 94 リセット配線 101,105,126 クロック配線 108 セル
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 5B046 AA08 BA06 5F038 BH10 CA05 CD02 CD05 EZ09 EZ20 5F064 AA04 DD02 EE02 EE03 EE12 EE14 EE16 EE20 EE23 EE24 EE25 EE27 EE46 EE52 EE57 EE58 GG01 HH06 HH12 HH17

Claims (10)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 シールドすべき対象ネットをネットリス
    トから抽出し、この対象ネットを配線する工程と、 前記対象ネットをシールドするシールドネットを配線
    し、前記シールドネットに対応して配線されたシールド
    配線に、電源配線またはGND配線に接続されない未接
    続シールド配線が存在するか否かを判定する判定工程
    と、 前記判定工程で、前記未接続シールド配線が存在すると
    判定された場合、前記未接続シールド配線の終端近辺
    に、スルーホールを配置するスルーホール配置工程と、 前記スルーホールの近辺に、電源端子またはGND端子
    を有し論理動作を行わないフィルセルを配置する工程
    と、 前記未接続シールド配線を、前記スルーホールを介して
    前記フィルセルを構成する前記電源端子または前記GN
    D端子に接続する工程と、 を備えることを特徴とする半導体集積回路のレイアウト
    設計方法。
  2. 【請求項2】 前記電源端子は前記電源配線に接続し、
    前記GND端子は前記GND配線に接続することを特徴
    とする請求項1記載の半導体集積回路のレイアウト設計
    方法。
  3. 【請求項3】 前記スルーホール配置工程において、前
    記シールド配線の前記終端近辺から、前記シールド配線
    に沿って前記終端から離れる方向に、配置可能なスルー
    ホール位置を探索し、探索結果を参照して前記スルーホ
    ールを配置することを特徴とする請求項1記載の半導体
    集積回路のレイアウト設計方法。
  4. 【請求項4】 前記スルーホール配置工程において、前
    記終端から前記フィルセルを構成する前記電源端子また
    は前記GND端子に前記シールド配線を接続するための
    前記スルーホールを、複数生成し配置することを特徴と
    する請求項1記載の半導体集積回路のレイアウト設計方
    法。
  5. 【請求項5】 ネットリストを参照して回路ブロックを
    配置する工程と、シールドすべき対象ネットを前記ネッ
    トリストから抽出し、この対象ネットを配線する工程
    と、 前記対象ネットをシールドするシールドネットを配線
    し、前記シールドネットに対応して配線されたシールド
    配線に、電源配線またはGND配線に接続されない未接
    続シールド配線が存在するか否かを判定する判定工程
    と、 前記判定工程で、前記未接続シールド配線が存在すると
    判定された場合、前記未接続シールド配線の終端近辺
    に、スルーホールを配置するスルーホール配置工程と、 前記スルーホールの近辺に配置された前記回路ブロック
    を、この回路ブロックと論理的に等価でかつ前記シール
    ド配線を接続するための電源端子またはGND端子を有
    する等価回路ブロックに置換する工程と、 前記未接続シールド配線を、前記スルーホールを介して
    前記等価回路ブロックを構成する前記電源端子または前
    記GND端子に接続する工程と、 を備えることを特徴とする半導体集積回路のレイアウト
    設計方法。
  6. 【請求項6】 ネットリストを参照して回路ブロックを
    配置する工程と、シールドすべき対象ネットを前記ネッ
    トリストから抽出し、この対象ネットを配線する工程
    と、 前記対象ネットをシールドするシールドネットを配線
    し、前記シールドネットに対応して配線されたシールド
    配線に、電源配線またはGND配線に接続されない未接
    続シールド配線が存在するか否かを判定する判定工程
    と、 前記判定工程で、前記未接続シールド配線が存在すると
    判定された場合、前記未接続シールド配線の終端近辺
    に、スルーホールを配置するスルーホール配置工程と、 前記スルーホールの近辺に配置された前記回路ブロック
    が有する端子の中で電位が安定している安定電位端子を
    探索し、探索した前記安定電位端子に前記スルーホール
    を介して前記未接続シールド配線を配線する工程と、 を備えることを特徴とする半導体集積回路のレイアウト
    設計方法。
  7. 【請求項7】 前記安定電位端子は、リセット端子、テ
    スト端子、回路動作のモード切替端子のいずれかである
    ことを特徴とする請求項6記載の半導体集積回路のレイ
    アウト設計方法。
  8. 【請求項8】 電源配線と、GND配線と、対象配線を
    シールドするシールド配線を有する半導体集積回路にお
    いて、 前記電源配線または前記GND配線に直接接続されない
    前記シールド配線を、論理動作をしないフィルセルを構
    成する電源端子またはGND端子に、スルーホールを介
    して接続したことを特徴とする半導体集積回路。
  9. 【請求項9】 回路ブロックと、この回路ブロックに接
    続する電源配線およびGND配線と、対象配線をシール
    ドするシールド配線を有する半導体集積回路において、 前記電源配線または前記GND配線に直接接続されない
    前記シールド配線を、前記回路ブロックと論理的に等価
    な等価回路ブロックを構成する前記シールド配線を接続
    するための電源端子またはGND端子に、スルーホール
    を介して接続したことを特徴とする半導体集積回路。
  10. 【請求項10】 回路ブロックと、この回路ブロックに
    接続する電源配線およびGND配線と、対象配線をシー
    ルドするシールド配線を有する半導体集積回路におい
    て、 前記電源配線または前記GND配線に直接接続されない
    前記シールド配線を、前記回路ブロックの電位が安定し
    ている安定電位端子に、スルーホールを介して接続した
    ことを特徴とする半導体集積回路。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2007256146A (ja) * 2006-03-24 2007-10-04 Nec Electronics Corp 半導体装置の故障検出装置及び故障検出方法
JP2009151364A (ja) * 2007-12-18 2009-07-09 Ydc Corp 基板設計装置

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