JP2003123943A - 加熱装置 - Google Patents
加熱装置Info
- Publication number
- JP2003123943A JP2003123943A JP2001318943A JP2001318943A JP2003123943A JP 2003123943 A JP2003123943 A JP 2003123943A JP 2001318943 A JP2001318943 A JP 2001318943A JP 2001318943 A JP2001318943 A JP 2001318943A JP 2003123943 A JP2003123943 A JP 2003123943A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- heating element
- auxiliary
- heating
- main
- power supply
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 title claims abstract description 359
- 238000009826 distribution Methods 0.000 claims abstract description 18
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 52
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 claims description 25
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 claims description 21
- 239000012212 insulator Substances 0.000 claims description 15
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 9
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 8
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 8
- 239000000463 material Substances 0.000 description 6
- 239000010408 film Substances 0.000 description 5
- ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N Molybdenum Chemical compound [Mo] ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N platinum Chemical compound [Pt] BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 229920001721 polyimide Polymers 0.000 description 4
- 239000009719 polyimide resin Substances 0.000 description 4
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 4
- 239000012530 fluid Substances 0.000 description 3
- 229920006015 heat resistant resin Polymers 0.000 description 3
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 3
- 229910052750 molybdenum Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000011733 molybdenum Substances 0.000 description 3
- PMHQVHHXPFUNSP-UHFFFAOYSA-M copper(1+);methylsulfanylmethane;bromide Chemical compound Br[Cu].CSC PMHQVHHXPFUNSP-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 239000011888 foil Substances 0.000 description 2
- 229910052735 hafnium Inorganic materials 0.000 description 2
- VBJZVLUMGGDVMO-UHFFFAOYSA-N hafnium atom Chemical compound [Hf] VBJZVLUMGGDVMO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 239000010445 mica Substances 0.000 description 2
- 229910052618 mica group Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910001120 nichrome Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000036581 peripheral resistance Effects 0.000 description 2
- 229910052697 platinum Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 2
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 2
- 229910052702 rhenium Inorganic materials 0.000 description 2
- WUAPFZMCVAUBPE-UHFFFAOYSA-N rhenium atom Chemical compound [Re] WUAPFZMCVAUBPE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000002791 soaking Methods 0.000 description 2
- 229910052715 tantalum Inorganic materials 0.000 description 2
- GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N tantalum atom Chemical compound [Ta] GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N tungsten Chemical compound [W] WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010937 tungsten Substances 0.000 description 2
- 229910052582 BN Inorganic materials 0.000 description 1
- PZNSFCLAULLKQX-UHFFFAOYSA-N Boron nitride Chemical compound N#B PZNSFCLAULLKQX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910001182 Mo alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052581 Si3N4 Inorganic materials 0.000 description 1
- BLRPTPMANUNPDV-UHFFFAOYSA-N Silane Chemical compound [SiH4] BLRPTPMANUNPDV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000004809 Teflon Substances 0.000 description 1
- 229920006362 Teflon® Polymers 0.000 description 1
- ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N Tin Chemical compound [Sn] ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 1
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 1
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 1
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 1
- PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N aluminium oxide Inorganic materials [O-2].[O-2].[O-2].[Al+3].[Al+3] PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 1
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000005229 chemical vapour deposition Methods 0.000 description 1
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 1
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 1
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 1
- 238000011109 contamination Methods 0.000 description 1
- 238000005336 cracking Methods 0.000 description 1
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 1
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 1
- 230000003993 interaction Effects 0.000 description 1
- 239000011229 interlayer Substances 0.000 description 1
- 230000008018 melting Effects 0.000 description 1
- 238000002844 melting Methods 0.000 description 1
- 239000012528 membrane Substances 0.000 description 1
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 1
- NJPPVKZQTLUDBO-UHFFFAOYSA-N novaluron Chemical compound C1=C(Cl)C(OC(F)(F)C(OC(F)(F)F)F)=CC=C1NC(=O)NC(=O)C1=C(F)C=CC=C1F NJPPVKZQTLUDBO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 1
- 239000002994 raw material Substances 0.000 description 1
- 239000003870 refractory metal Substances 0.000 description 1
- 229910000077 silane Inorganic materials 0.000 description 1
- HBMJWWWQQXIZIP-UHFFFAOYSA-N silicon carbide Chemical compound [Si+]#[C-] HBMJWWWQQXIZIP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910010271 silicon carbide Inorganic materials 0.000 description 1
- HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N silicon nitride Chemical compound N12[Si]34N5[Si]62N3[Si]51N64 HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000010935 stainless steel Substances 0.000 description 1
- 229910001220 stainless steel Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000002230 thermal chemical vapour deposition Methods 0.000 description 1
- 230000008646 thermal stress Effects 0.000 description 1
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 1
- 229910052718 tin Inorganic materials 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67005—Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67011—Apparatus for manufacture or treatment
- H01L21/67098—Apparatus for thermal treatment
- H01L21/67103—Apparatus for thermal treatment mainly by conduction
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/04—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
- H01L21/18—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer the devices having semiconductor bodies comprising elements of Group IV of the Periodic Table or AIIIBV compounds with or without impurities, e.g. doping materials
- H01L21/30—Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26
- H01L21/324—Thermal treatment for modifying the properties of semiconductor bodies, e.g. annealing, sintering
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Resistance Heating (AREA)
- Surface Heating Bodies (AREA)
- Control Of Resistance Heating (AREA)
Abstract
を加熱する加熱面を備えている加熱装置において、加熱
装置を所定の装置に設置した後の加熱面の温度分布を、
低コストで容易に低減できるようにする。 【解決手段】加熱装置25は、電力を供給することによ
って発熱し、被加熱物を加熱する加熱面4aを備えてい
る主加熱素子3、電力を供給することによって発熱する
複数の補助加熱素子5A−5D、主加熱素子3に電力を
供給するための主電源1、補助加熱素子に電力を供給す
るための補助電源2、および主加熱素子と補助加熱素子
とに対する電力供給量をそれぞれ独立して制御する電源
制御装置2を備えている。主加熱素子3に対して複数の
補助加熱素子5A−5Dが積層されている。電源制御装
置2によって加熱面4aの温度分布に応じて複数の各補
助加熱素子5A−5Dへの電力供給量を制御する。
Description
のである。
どによってシランガスなどの原料ガスから半導体薄膜を
製造するに当たって、基板であるウエハーを加熱するた
めのセラミックスヒーターが具えられている。セラミッ
クスヒーターとしては、いわゆる2ゾーンヒーターと呼
ばれるものが知られている。2ゾーンヒーターにおいて
は、セラミックス基体中に、高融点金属からなる内周側
抵抗発熱体と外周側抵抗発熱体とを埋設し、これらの抵
抗発熱体にそれぞれ別個の電流導入端子を接続し、各抵
抗発熱体にそれぞれ独立して電圧を印加することによ
り、内周抵抗発熱体および外周側抵抗発熱体を独立に制
御する。
いては、セラミックスヒーターの抵抗発熱体を、高融点
金属などからなる複数の回路パターンによって構成して
いる。そして、一つの回路パターンの折れ目や折り返し
部などに、他の回路パターンを重ね合わせている。
いては、加熱面の温度を全体に均一に制御することが必
要であり、使用条件下で例えば加熱面の全体にわたって
±5℃以下といった厳格な仕様を満足することが要求さ
れている。
ーターを製造した後に、内部の抵抗発熱体に対して電力
を供給し、目標温度まで昇温したときに、目標の均熱性
が得られたものとする。しかし、このセラミックスヒー
ターを、実際のチャンバーに取り付けると、加熱面の温
度分布が変化する。これは、セラミックスヒーターをチ
ャンバーに取り付けるための器具との接触面の面積、接
触面の形状、器具の熱容量、チャンバーの形状および熱
容量、チャンバー内面の熱反射および熱吸収、チャンバ
ー内外の気体の気圧と流れといった多数の複雑な要因に
よって左右される。
をチャンバーに取り付ける前に加熱面の均熱性が得られ
ていた場合でも、セラミックスヒーターをチャンバーに
取り付けた後には、目標の均熱性が得られないことが多
い。従って、セラミックスヒーターをチャンバーに取り
付けた後に、抵抗発熱体に対する電力を微調整すること
によって、加熱面の温度分布が小さくなるように調節す
る必要がある。
あった。なぜなら、抵抗発熱体に対する電力供給量を増
加、減少させると、その抵抗発熱体の全体の発熱量が変
化するだけであって、必ずしもセラミックスヒーター設
置後の加熱面の温度分布が小さくなるわけではなく、か
えって大きくなることもあるからである。また、前述し
たいわゆる2ゾーンヒーターは、加熱面の外周部分の平
均温度や内周部分の平均温度を変化させるのには有効で
ある。しかし、セラミックスヒーターの設置後には、加
熱面の一部のみにコールドスポットやホットスポットが
発生することが多く、このため有効に対応できない。
ンに分割し、各ゾーンに対応してそれぞれ別個に抵抗発
熱体を埋設することも考えられる。この場合には、コー
ルドスポットがあるゾーンに対応する抵抗発熱体への電
力供給量を増大させることによって、コールドスポット
を消去することが可能なように見える。
にはこのような制御は困難であることが判明してきた。
なぜなら、加熱面の各部分の温度は、その部分の直下の
抵抗発熱体の発熱量だけでなく、他のゾーンの抵抗発熱
体の発熱の影響も受けている。つまり、加熱面の温度分
布は、各抵抗発熱体からの発熱量だけでなく、セラミッ
クス基板の形状、寸法、熱容量、および基板の周辺の温
度、気圧、気体の流れなどの多数の変数の相互作用によ
って決まっている。コールドスポットが存在するゾーン
に対応する抵抗発熱体への電力供給量を増大させること
によって、そのコールドスポットを消去することは可能
である。しかし、この場合には、コールドスポット下の
抵抗発熱体からの熱量が、隣接するゾーンへと伝達さ
れ、加熱面の温度分布のバランスを変えてしまい、ホッ
トスポットが生成することがあり、また加熱面の平均温
度を上昇させてしまう。加熱面の平均温度が上昇する
と、これを低下させるために他のゾーンに対応する抵抗
発熱体への電力供給量を低減する必要があるが、この場
合には別のコールドスポットが生成する原因となる。従
って、一つのコールドスポットを消去しても、加熱面の
最高温度と最低温度との差は、かえって広がってしまう
ことが多い。
って発熱し、被加熱物を加熱する加熱面を備えている加
熱装置において、加熱装置を所定の装置に設置した後の
加熱面の温度分布を、低コストで容易に低減できるよう
にすることである。
ることによって発熱し、被加熱物を加熱する加熱面を備
えている主加熱素子、電力を供給することによって発熱
する補助加熱素子、主加熱素子に電力を供給するための
主電源、補助加熱素子に電力を供給するための補助電
源、および主加熱素子と補助加熱素子とに対する電力供
給量をそれぞれ独立して制御する電源制御装置を備えて
いる加熱装置であって、主電源から主加熱素子に供給さ
れる電力の制御幅に対し、補助電源から補助加熱素子に
供給される電力の制御幅が小さくなるように、電源制御
装置によって補助加熱素子への電力供給量を制御し、加
熱面の温度分布を制御することを特徴とする、加熱装置
に係るものである。
力を供給することによって、加熱面の平均温度をほぼ目
標値に保持する。これとは別に、加熱装置を所定個所に
設置した後の加熱面の温度分布の微調整を目的として補
助加熱素子を設置し、電源制御装置によって補助加熱素
子への電力供給量を制御することを想到した。これによ
って、例えば加熱面にコールドスポットが発生した場合
には、そのコールドスポットに対応する補助加熱素子へ
の電力供給量を増加させ、コールドスポットを消去す
る。
熱面の微調整という機能を、主加熱素子とは別の補助加
熱素子に担持させ、主加熱素子とは切り離したことであ
る。かりに、コールドスポットを主加熱素子への電力供
給量の増大によって消去しようとすると、前述したよう
に、他のゾーンへの影響が大きく、結果として加熱面の
温度分布を充分に縮小させることは困難である。これ
は、各主加熱素子が、対応ゾーンの温度をほぼ平均温度
に維持する機能を有しており、このため比較的に大電力
で動作しているからである。
熱素子を設置し、各補助加熱素子への電力供給量をそれ
ぞれ独立して制御する場合には、主加熱素子がそのゾー
ンにおいて加熱面の温度をほぼ目標温度に維持する機能
を担い、補助加熱素子がそのゾーンの温度の微調整を担
う。このように機能が分離されているので、補助加熱素
子への電力供給量は、主加熱素子への電力供給量に比べ
て非常に小さく、補助加熱素子への電力供給による他の
ゾーンへの熱的影響は最小限とできる。従って、比較的
に低コストで、容易に加熱面の温度分布の微調整が可能
になった。
制御幅に対し、補助電源から補助加熱素子に供給される
電力の制御幅が小さくなるように制御するとは、以下の
趣旨である。主電源から主加熱素子に供給される電力の
制御幅とは、この電力の制御可能な上限と下限との差の
ことである。この制御幅は、出力指示幅と定格最大電力
との積である。定格最大電力のときの出力指示幅を10
0%とし、出力0のときの出力指示幅を0%とする。そ
して、実際の加熱装置において制御可能な出力指示幅を
百分率比によって表す。例えば、最大定格電力を5kW
とし、出力指示幅を0〜100%とすると、電力制御幅
は0〜5kWである。補助電源から補助加熱素子に供給
される電力の制御幅も同じ意味である。例えば、補助電
源の最大定格電力を20Wとし、出力指示幅を0〜10
0%とすると、電力制御幅は0〜20Wである。このよ
うに、補助電源の制御幅は、主電源における電力の制御
幅に比べて充分に小さい。このような制御幅の小さい補
助電源による制御を、制御幅の大きい主電源による温度
制御に組み合わせることによって、精度の高い制御が可
能である。
態は、本発明の目的を達成することができれば、限定さ
れないが、以下の形態を例示できる。 (A)主加熱素子と補助加熱素子とが別体である場合。 (B)加熱装置が一体物である場合。
素子の各形態は特に限定されない。
ましい。 (A1)絶縁体からなる基板の内部に抵抗発熱体を埋設
して得られたヒーター。 (A2)絶縁体からなる基板の表面に発熱体を付着させ
て得られたヒーター。 (A3)抵抗発熱体からなる基板をヒーターとして使用
する。この基板に電力を供給することにより、基板それ
自体が発熱する。
の形態が好ましい。 (A1)絶縁体からなる基板の内部に抵抗発熱体を埋設
して得られたヒーター。 (A2)絶縁体からなる基板の表面に発熱体を付着させ
て得られたヒーター。 (A3)抵抗発熱体からなる基板をヒーターとして使用
する。この基板に電力を供給することにより、基板それ
自体が発熱する。 (A4)絶縁体シートの間に抵抗発熱体を挟んで得られ
たヒーター。
素子とが一体のヒーターをなしている。この場合には、
以下の形態を例示できる。 (B1)絶縁体からなる基板の内部に、主加熱素子とし
て作用する抵抗発熱体と、補助加熱素子として作用する
抵抗発熱体とを埋設することによって、ヒーターを作製
する。 (B2)絶縁体からなる基板の内部に、主加熱素子とし
て作用する抵抗発熱体を埋設する。この基板の背面(加
熱面と反対側の主面)上に、補助加熱素子として作用す
る抵抗発熱体を付着させる。
は、絶縁体は特に限定されないが、汚染防止の観点から
セラミックスが好ましく、アルミナ、窒化アルミニウ
ム、窒化珪素、窒化ホウ素(p−BN)、炭化珪素が特
に好ましい。
は、抵抗発熱体の形態は特に限定されず、線、箔、網状
物、コイルスプリング状物、平板状物、リボン状物、シ
ート状物であってよい。
いては、抵抗発熱体の材質は特に限定されず、金属、導
電性セラミックスであってよい。具体的な材質として
は、タンタル、タングステン、モリブデン、白金、レニ
ウム、ハフニウムからなる群より選ばれた純金属、ある
いは、タンタル、タングステン、モリブデン、白金、レ
ニウム、ハフニウムからなる群より選ばれた二種以上の
金属の合金が好ましい。基板を窒化アルミニウムから構
成した場合においては、抵抗発熱体の材質はモリブデン
及びモリブデン合金であることが好ましい。また、ニク
ロム線などの公知の抵抗発熱体や、カーボン、TiN、
TiCなどの導電性材料を使用することもできる。
発熱体を印刷法によって形成することができ、あるいは
バルク体である抵抗発熱体を基板の表面に接合できる。
また、基板に対して、線状、リボン状、ストリップ状、
コイル状の抵抗発熱体を巻き付けることができる。
抵抗発熱体を挟んで固定することができる。このような
樹脂シートの材質は、加熱装置の上限温度に耐える耐熱
性を有していれば良いが、ポリイミド樹脂、フッ素樹脂
(特に「テフロン(登録商標)」)を例示できる。
対して固定する方法は特に限定されないが、以下を例示
できる。 (1)補助加熱素子を主加熱素子に対して機械的に固定
する。 (2)補助加熱素子を主加熱素子に対して接着する。こ
の接着剤は限定されないが、耐熱性樹脂(例えばポリイ
ミド樹脂、フッ素樹脂)が好ましい。
熱素子を主加熱素子の周縁部上に配置する。これは、加
熱装置をチャンバーに固定する際には、加熱装置を構成
する基板の周縁を固定することが多く、このために加熱
装置の周縁部において熱伝導が多くなり、コールドスポ
ットやホットスポットが生じやすくなる。従って、主加
熱素子の周縁部において加熱面の温度を微調整するため
には、主加熱素子の周縁部上に補助加熱素子を設置する
ことが有利だからである。
熱素子が、主加熱素子の周縁部上に、主加熱素子の中心
に対して略回転対称の位置に配置されている。ここで、
回転対称とは、補助加熱素子のうちの一つを主加熱素子
の中心に対して所定角度回転させると、隣接する補助加
熱素子の位置と重なることを意味している。この回転角
度が180°であると2回対称となり、120°となる
と3回対称となり、90°となると4回対称となる。
が、セラミックスからなる基板と、この基板の内部に埋
設されている抵抗発熱体とを備えている。本発明は、セ
ラミックスヒーターの加熱面の温度の微調整に対して特
に有用である。
が、絶縁体板と、絶縁体板に巻き付けられている発熱体
とを備えている。この絶縁板の材質は、前記したものを
例示できる。
助加熱素子を機械的に積層状態に保持する保持手段を備
えている。このような機械的固定手段を使用すること
で、熱応力が補助加熱素子と主加熱素子との界面に加わ
り、セラミックスが破損するのを防止できる。
素子とを積層する。ここで、好適な実施形態において
は、加熱面と補助加熱素子とが互いに略平行である。こ
れにより、加熱装置中における上下方向の熱の伝導が均
一に行われる。ここでいう略平行とは、幾何学的に見て
完全に平行な場合に加えて、0〜3度の範囲内にあるも
のをいう。
いが、化学的気相成長装置、エッチング装置、ベーキン
グ装置、コータ用のキュアリング装置を例示できる。
態を更に詳細に説明する。図1は、本発明の一実施形態
に係る加熱装置25を模式的に示すブロック図であり、
主加熱素子3および補助加熱素子4を平面的に見てい
る。図2は、図1の加熱装置を模式的に示すブロック図
であり、主加熱素子3および補助加熱素子4の断面を図
示している。
板4からなる。この基板の詳細は、種々選択可能なの
で、図示しない。基板4の中に抵抗発熱体を埋設するこ
とができ、基板4の表面に抵抗発熱体を付着させること
ができる。あるいは、基板4それ自体を抵抗発熱体とし
て機能させることができる。4aは加熱面であり、4b
は背面である。7は、主加熱素子3の周縁部であり、2
2は、主加熱素子3の内周部である。周縁部7は円環形
状をしている。
け、各ゾーンにそれぞれ補助加熱素子5A、5B、5
C、5Dを設置した。各補助加熱素子は、主加熱素子4
の背面4b上に設置されている。4つの補助加熱素子は
円周方向に互いに連続しており、全体として円環形状の
加熱素子を形成している。補助加熱素子は、主加熱素子
4の中心Oに対して、4回の回転対称の位置に配置され
ている。即ち、各補助加熱素子を90°回転させると、
隣接する素子の位置にくる。
て主電源1に対して接続されている。補助加熱素子の端
子は、電源制御装置2に対して接続されている。本例で
は、電源制御装置2は、4つの電源制御部2a、2b、
2c、2dに分かれている。そして、各補助加熱素子5
A、5B、5C、5Dは、それぞれ、ケーブル6a、6
b、6c、6dを通して、各電源制御部2a、2b、2
c、2dに対して接続されている。
は、主電源1によって制御する。そして、各補助加熱素
子への各電力供給量は、各電源制御部2a、2b、2
c、2dによって制御する。例えば、加熱装置の設置後
に、周縁部7のうち補助加熱素子5Aのゾーンにコール
ドスポットが発生した場合には、対応する補助加熱素子
5Aへの電力供給を開始し、他の補助加熱素子5B、5
C、5Dへは電力を供給しない。これによって、僅かな
消費電力でコールドスポットを確実に消去でき、かつ加
熱面の他の部分への影響を最小限とできる。
熱素子への電力供給量(合計値)の主加熱素子への電力
供給量に対する倍率(補助加熱素子への電力供給量(合
計値)/主加熱素子への電力供給量)は、1/10以下
とすることが好ましく、1/20以下とすることが更に
好ましく、1/100以下とすることが最も好ましい。
特に600℃以上の高温で使用する場合には、主加熱素
子への総電力供給量が急激に大きくなるため、1/10
0以下にすることが望ましい。
ただし、加熱面のうち一部のみの温度制御を迅速に行う
という観点からは、補助加熱素子の個数が3個以上であ
ることが好ましく、4個以上であることが更に好まし
い。4個以上あることが特に好ましい理由は、以下の通
りである。半導体製造装置のチャンバーには、ウエハー
搬入用のゲートバルブ側とチャンバー内の視認用窓があ
る場合が多く、加熱素子からの放熱バランスが変化しや
すくなる。4個以上の補助加熱素子を設けることによっ
て、ゲートバルブや視認用窓側の領域を加熱したり、逆
にゲートバルブと視認用窓の間の領域を加熱することが
できる。これによって、ウエハー面内の成膜を均一化で
きるように、加熱素子の温度分布を微調整できるからで
ある。
かえってコストアップ要因となることから、コスト削減
という観点からは、補助加熱素子の個数を32個以下と
することが好ましい。各制御装置をSSR方式とする場
合には、12個以下とすることが好ましい。更に、各補
助加熱素子を組み合わせて加熱コントロールする場合に
おいては、8個以下としても、良好な温度分布が得られ
る。
加熱素子に対して各制御ゾーンを割り当てた場合には、
各制御ゾーンにおける電力を変化させることによって、
全体として良好な温度分布を得ることができる。例え
ば、図3において、基体を8つのゾーン15A〜15H
に分割して制御するものとする。この場合には、特定の
制御ゾーンの電力を変化させた場合には、隣接する制御
ゾーンの温度に影響が出る。従って、ある制御ゾーンに
おいては、隣接する制御ゾーンにおける電力の変動を相
殺するような方向に電力を変化させることが好ましい。
例えば、制御ゾーン15Aにおいて補助加熱装置の出力
指示値が100%であるとすると、隣接する制御ゾーン
15Hにおける補助加熱装置の出力指示値を0%とし、
制御ゾーン15Bにおける出力指示値を40%とするこ
とができる。更に、ゾーン15Aの出力指示値を100
%とした場合に、隣接するゾーン15B、15Hの出力
をそれぞれ0%、10%とし、ゾーン15C、15Gの
出力指示値をそれぞれ40%、30%とすることができ
る。ゾーン15Aを100%とすることにより、ゾーン
15B、15Hの温度が上がりすぎる場合には、ゾーン
15C、15Gの出力を上げることにより、即ち、単に
コールドスポット部を補助加熱するだけでなく、隣接す
る補助ゾーンの出力や、更にこれに隣接する補助ゾーン
の出力までもコントロールすることにより、ヒーターの
面内周方向の温度勾配までコントロールすることができ
るのである。
ーターまたは3ゾーンヒーターであり、補助加熱素子の
個数が4〜8個である。
具体化した加熱装置25Aに係るものである。図4は、
加熱装置25Aのブロック図であるが、主加熱素子3A
および補助加熱素子5A−5Dを平面的に図示してい
る。図5は、加熱装置25Aのブロック図であるが、主
加熱素子3Aおよび補助加熱素子5A−5Dの断面を図
示している。
基板4と、基板4中に埋設されている抵抗発熱体11と
からなる。抵抗発熱体11は、金属線、金属箔、金属ペ
ースト印刷電極であってよい。基板4の背面4bには、
例えば4個の補助加熱素子5A−5Dが設置されてい
る。
と、基板9の周囲に巻き付けられた抵抗発熱体10とか
らなる。基板9は、前述したような絶縁体からなり、特
に好ましくはマイカからなる。抵抗発熱体10は、基板
9の表面に、例えはらせん状に巻回されており、一種の
コイルを形成している。補助加熱素子5Aの抵抗発熱体
10の両端は、ケーブル6aを通して電源制御部2aに
接続されており、補助加熱素子5Bの抵抗発熱体10の
両端は、ケーブル6bを通して電源制御部2bに接続さ
れており、補助加熱素子5Cの抵抗発熱体10の両端
は、ケーブル6cを通して電源制御部2cに接続されて
おり、補助加熱素子5Dの抵抗発熱体10の両端は、ケ
ーブル6dを通して電源制御部2dに接続されている。
助加熱素子を機械的に積層状態に保持する保持手段を設
ける。図6、図7は、この実施形態に係るものである。
図6は、図4、図5の加熱装置25Aを機械的に保持し
て得られた加熱装置12を概略的に示す断面図である。
図7は、加熱装置12を、コータ用のキュアリング装置
のチャンバーに取り付けた状態を示す断面図である。
装置25を保持部材13によって保持して得られたもの
である。本例では、補助加熱素子5A−5Dの背面側に
リング状の絶縁体シート14が設置されている。絶縁体
シート14の材質は限定されないが、耐熱性樹脂からな
ることが、セラミックスの割れを防止するという観点か
ら特に好ましい。こうした耐熱性樹脂としては、ポリイ
ミド樹脂、フッ素樹脂を例示できる。
aと、下側の保持部13bとを備えている。保持部13
aは基板4の加熱面4aのエッジを保持している。保持
部13bは、絶縁体シート14を介して補助加熱素子5
A−5Dをその背面側から保持している。このように、
絶縁体シート14を補助加熱素子と保持部材との間に介
在させた場合には、保持部材13を金属によって形成す
ることが可能となる。
バー18に取り付ける。チャンバー18には開口18a
が設けられており、開口18aの回りに台座20を介し
て保持枠19が設置されている。保持枠19上に加熱装
置12が設置されている。加熱装置12をチャンバー1
8に設置した状態で、開口18aが、加熱装置12の背
面空間24に連通しており、各ケーブルは空間24およ
び開口18aを通過し、チャンバー18の外部に設けら
れた主電源および電源制御装置に接続されている。
により塗布されたウエハー17が設置されており、所定
温度に加熱されている。チャンバー18内の空間16に
は流体導入孔15が設置されており、流体導入孔15か
ら矢印のように流体をウエハー17の表面に供給し、加
熱装置12によってウエハー17を加熱して熱硬化させ
る。これによって、所定の膜特性を得る。膜としては、
レジトス膜の他に、低誘電率(3以下)の層間絶縁膜
(Low-K膜/例えばSilk)や、キャパシタ材(例えばSB
T)等が挙げられる。
加熱素子への電力供給量を制御するものであり、この機
能を担う限りは、公知の電源制御装置を転用でき、電源
制御装置の種類は限定されない。前述の例のように、各
補助加熱素子に対応する複数の電源制御部に分かれてい
る必要はない。ここで、各補助加熱素子への電力供給
は、オン−オフ制御することができる。あるいは、各補
助加熱素子への電力供給量を、0と最大値との間で連続
的に制御することができる。
6に示すような加熱装置12を製造し、図7に示すよう
にコータ用キュアリング装置のチャンバーに加熱装置1
2を設置した。
ターを用いた。このヒーターを構成するセラミックスは
AlNであり、抵抗発熱体はモリブデン線からなる。ヒ
ーター3Aの加熱面4aの直径は320mmであり、ヒー
ター3Aの厚さは4mmである。基板4中に熱電対を挿
入し、埋設した。
によって形成し、抵抗発熱体10はニクロム線にした。
保持部材13はステンレス鋼によって形成した。絶縁体
シート14はポリイミド樹脂によって形成した。補助加
熱素子の外径は300mmであり、内径は220mmで
あり、厚さは1mmである。
ー18に取り付け、主加熱素子3Aに対して電力を供給
し、熱電対による測定温度が200℃になるようにし
た。このときの主電源の出力は342.6ワットであっ
た。このとき、加熱面4aの温度分布をRTDウエハー
によって観測し、最高温度と最低温度との差を測定した
ところ、5.2℃であった。全体として加熱面の内周部
の温度が高く、周縁部の温度が低くなっていた。しか
し、加熱面の周縁部の温度は一定ではなく、周縁部の約
1/4ほどは内周部と同程度の高温になっていた。
せ、周縁部に設置された補助加熱素子に電力を供給し
た。ただし、周縁部のうち高温のゾーンに対応する補助
加熱素子には電力を供給しなかった。そして、熱電対で
の測定温度が200℃となるようにした。
給量は334.2ワットであり、補助加熱素子への電力
供給量は合計で8.5ワットであった。そして、この状
態で加熱面の最高温度と最低温度との差を測定したとこ
ろ、1.1℃とすることができた。
電力を供給することによって発熱し、被加熱物を加熱す
る加熱面を備えている加熱装置において、加熱装置を所
定の装置に設置した後の加熱面の温度分布を、低コスト
で容易に低減できる。
的に示すブロック図であり、主加熱素子3および補助加
熱素子5A−5Dが平面的に示されている。
であり、主加熱素子3および補助加熱素子5A−5Dの
断面が示されている。
模式的に示すブロック図であり、主加熱素子3Aおよび
補助加熱素子5A−5Dが平面的に示されている。
図であり、主加熱素子3Aおよび補助加熱素子5A−5
Dの断面が示されている。
よって固定して得られた加熱装置12を示す断面図であ
る。
けた状態を概略的に示す断面図である。
b、2c、2d 電源制御部 3、3A 主加熱
素子 4 主加熱素子の基板 4a 加熱
面 4b 背面 5A、5B、5C、5D
補助加熱素子 6a、6b、6c、6d、8
電力供給ケーブル 7 周縁部 9 補助加熱素子の基板 1
0 補助加熱素子の抵抗発熱体 11 基板4内
の抵抗発熱体 12、25、25A 加熱装置
13 保持部材 14 絶縁体シー
ト 15コータ 17 ウエハー
18 チャンバー 22 内周部
Claims (9)
- 【請求項1】電力を供給することによって発熱し、被加
熱物を加熱する加熱面を備えている主加熱素子、電力を
供給することによって発熱する補助加熱素子、前記主加
熱素子に電力を供給するための主電源、前記補助加熱素
子に電力を供給するための補助電源、および前記主加熱
素子と前記補助加熱素子とに対する電力供給量をそれぞ
れ独立して制御する電源制御装置を備えている加熱装置
であって、 前記主電源から前記主加熱素子に供給される電力の制御
幅に対し、前記補助電源から前記補助加熱素子に供給さ
れる電力の制御幅が小さくなるように、前記電源制御装
置によって前記補助加熱素子への電力供給量を制御し、
前記加熱面の温度分布を制御することを特徴とする、加
熱装置。 - 【請求項2】複数の前記補助加熱素子を備えていること
を特徴とする、請求項1記載の加熱装置。 - 【請求項3】前記補助加熱素子が、前記主加熱素子の周
縁部上に積層されていることを特徴とする、請求項1ま
たは2記載の加熱装置。 - 【請求項4】前記複数の補助加熱素子が、前記主加熱素
子の周縁部上に、前記主加熱素子の中心に対して略回転
対照の位置に配置されていることを特徴とする、請求項
3記載の加熱装置。 - 【請求項5】前記主加熱素子が、セラミックスからなる
基板と、この基板の内部に埋設されている発熱体とを備
えていることを特徴とする、請求項1〜4のいずれか一
つの請求項に記載の加熱装置。 - 【請求項6】前記補助加熱素子が、絶縁体板と、この絶
縁体板に巻き付けられている発熱体とを備えていること
を特徴とする、請求項1〜5のいずれか一つの請求項に
記載の加熱装置。 - 【請求項7】前記基板および前記補助加熱素子を機械的
に積層状態に保持する保持部材を備えていることを特徴
とする、請求項4または5記載の加熱装置。 - 【請求項8】前記補助加熱素子が、セラミックスからな
る基板と、この基板の内部に埋設されている発熱体とを
備えていることを特徴とする、請求項1〜5のいずれか
一つの請求項に記載の加熱装置。 - 【請求項9】前記主加熱素子と前記補助加熱素子が一体
化されており、セラミックスからなる基板の内部に埋設
されていることを特徴とする、請求項1〜5のいずれか
一つの請求項に記載の加熱装置。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001318943A JP3856293B2 (ja) | 2001-10-17 | 2001-10-17 | 加熱装置 |
TW091114405A TWI267937B (en) | 2001-10-17 | 2002-06-28 | A heating system |
US10/244,986 US6875960B2 (en) | 2001-10-17 | 2002-09-17 | Heating system |
KR10-2002-0061172A KR100495987B1 (ko) | 2001-10-17 | 2002-10-08 | 가열장치 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001318943A JP3856293B2 (ja) | 2001-10-17 | 2001-10-17 | 加熱装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2003123943A true JP2003123943A (ja) | 2003-04-25 |
JP3856293B2 JP3856293B2 (ja) | 2006-12-13 |
Family
ID=19136563
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2001318943A Expired - Lifetime JP3856293B2 (ja) | 2001-10-17 | 2001-10-17 | 加熱装置 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6875960B2 (ja) |
JP (1) | JP3856293B2 (ja) |
KR (1) | KR100495987B1 (ja) |
TW (1) | TWI267937B (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2014529910A (ja) * | 2011-08-30 | 2014-11-13 | ワトロウ エレクトリック マニュファクチュアリング カンパニー | 高精度ヒータおよびその動作方法 |
WO2017188189A1 (ja) * | 2016-04-28 | 2017-11-02 | 京セラ株式会社 | ヒータシステム、セラミックヒータ、プラズマ処理装置及び吸着装置 |
JP2018056331A (ja) * | 2016-09-29 | 2018-04-05 | 日本特殊陶業株式会社 | 加熱装置 |
JP2022120251A (ja) * | 2021-02-05 | 2022-08-18 | 日本碍子株式会社 | ウエハ支持台 |
Families Citing this family (21)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4026759B2 (ja) * | 2002-11-18 | 2007-12-26 | 日本碍子株式会社 | 加熱装置 |
EP1651911A4 (en) * | 2003-07-28 | 2010-09-01 | Phillips & Temro Ind Inc | CONTROL FOR INTAKE AIR HEATING DEVICE |
US7126092B2 (en) * | 2005-01-13 | 2006-10-24 | Watlow Electric Manufacturing Company | Heater for wafer processing and methods of operating and manufacturing the same |
KR20060107048A (ko) * | 2005-04-07 | 2006-10-13 | 삼성전자주식회사 | 가열장치 및 그 구동방법 |
US9892941B2 (en) * | 2005-12-01 | 2018-02-13 | Applied Materials, Inc. | Multi-zone resistive heater |
US20070125762A1 (en) * | 2005-12-01 | 2007-06-07 | Applied Materials, Inc. | Multi-zone resistive heater |
US8226769B2 (en) * | 2006-04-27 | 2012-07-24 | Applied Materials, Inc. | Substrate support with electrostatic chuck having dual temperature zones |
WO2009014333A1 (en) * | 2007-07-20 | 2009-01-29 | Lg Electronics Inc. | Electric heater |
US20110073039A1 (en) * | 2009-09-28 | 2011-03-31 | Ron Colvin | Semiconductor deposition system and method |
US10138551B2 (en) | 2010-07-29 | 2018-11-27 | GES Associates LLC | Substrate processing apparatuses and systems |
US8822887B2 (en) * | 2010-10-27 | 2014-09-02 | Shaw Arrow Development, LLC | Multi-mode heater for a diesel emission fluid tank |
US9018567B2 (en) * | 2011-07-13 | 2015-04-28 | Asm International N.V. | Wafer processing apparatus with heated, rotating substrate support |
GB201122178D0 (en) | 2011-12-22 | 2012-02-01 | Thermo Fisher Scient Bremen | Method of tandem mass spectrometry |
JP5951438B2 (ja) * | 2012-10-05 | 2016-07-13 | 光洋サーモシステム株式会社 | 熱処理装置 |
US9698041B2 (en) * | 2014-06-09 | 2017-07-04 | Applied Materials, Inc. | Substrate temperature control apparatus including optical fiber heating, substrate temperature control systems, electronic device processing systems, and methods |
CN104853461A (zh) * | 2015-04-29 | 2015-08-19 | 韦道义 | 一种红外加热器 |
KR102321919B1 (ko) * | 2015-05-22 | 2021-11-03 | 어플라이드 머티어리얼스, 인코포레이티드 | 방위방향으로 튜닝가능한 다중-구역 정전 척 |
DE202016103834U1 (de) * | 2016-07-15 | 2017-10-19 | Aixtron Se | Vorrichtung zum Beheizen eines Suszeptors eines CVD-Reaktors |
CN107845589A (zh) * | 2017-10-27 | 2018-03-27 | 德淮半导体有限公司 | 加热基座以及半导体加工设备 |
KR102091251B1 (ko) * | 2018-08-21 | 2020-03-19 | 엘지전자 주식회사 | 전기 히터 |
CN114675625A (zh) * | 2022-03-21 | 2022-06-28 | 潍柴动力股份有限公司 | 一种控制器控制方法及装置 |
Family Cites Families (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US613120A (en) * | 1898-10-25 | Carpet-beater | ||
JPS5959876A (ja) | 1982-09-30 | 1984-04-05 | Ushio Inc | 光照射炉の運転方法 |
JPH05326112A (ja) | 1992-05-21 | 1993-12-10 | Shin Etsu Chem Co Ltd | 複層セラミックスヒーター |
US5700992A (en) * | 1993-10-08 | 1997-12-23 | Toshiba Machine Co., Ltd. | Zigzag heating device with downward directed connecting portions |
US6133557A (en) * | 1995-01-31 | 2000-10-17 | Kyocera Corporation | Wafer holding member |
KR100274127B1 (ko) * | 1996-04-23 | 2001-01-15 | 이시다 아키라 | 기판 온도 제어방법, 기판 열처리장치 및 기판 지지장치 |
EP0899986B1 (en) * | 1996-05-05 | 2004-11-24 | Tateho Chemical Industries Co., Ltd. | Electric heating element and electrostatic chuck using the same |
KR100249391B1 (ko) * | 1997-12-30 | 2000-03-15 | 김영환 | 가열장치 |
JP3764278B2 (ja) * | 1998-07-13 | 2006-04-05 | 株式会社東芝 | 基板加熱装置、基板加熱方法及び基板処理方法 |
US6469283B1 (en) * | 1999-03-04 | 2002-10-22 | Applied Materials, Inc. | Method and apparatus for reducing thermal gradients within a substrate support |
US6423949B1 (en) * | 1999-05-19 | 2002-07-23 | Applied Materials, Inc. | Multi-zone resistive heater |
JP4328009B2 (ja) | 2000-11-30 | 2009-09-09 | 日本碍子株式会社 | 加熱装置 |
-
2001
- 2001-10-17 JP JP2001318943A patent/JP3856293B2/ja not_active Expired - Lifetime
-
2002
- 2002-06-28 TW TW091114405A patent/TWI267937B/zh not_active IP Right Cessation
- 2002-09-17 US US10/244,986 patent/US6875960B2/en not_active Expired - Lifetime
- 2002-10-08 KR KR10-2002-0061172A patent/KR100495987B1/ko active IP Right Grant
Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2014529910A (ja) * | 2011-08-30 | 2014-11-13 | ワトロウ エレクトリック マニュファクチュアリング カンパニー | 高精度ヒータおよびその動作方法 |
US10043685B2 (en) | 2011-08-30 | 2018-08-07 | Watlow Electric Manufacturing Company | High definition heater and method of operation |
US10734256B2 (en) | 2011-08-30 | 2020-08-04 | Watlow Electric Manufacturing Company | High definition heater and method of operation |
WO2017188189A1 (ja) * | 2016-04-28 | 2017-11-02 | 京セラ株式会社 | ヒータシステム、セラミックヒータ、プラズマ処理装置及び吸着装置 |
JPWO2017188189A1 (ja) * | 2016-04-28 | 2019-02-21 | 京セラ株式会社 | ヒータシステム、セラミックヒータ、プラズマ処理装置及び吸着装置 |
JP2018056331A (ja) * | 2016-09-29 | 2018-04-05 | 日本特殊陶業株式会社 | 加熱装置 |
JP2022120251A (ja) * | 2021-02-05 | 2022-08-18 | 日本碍子株式会社 | ウエハ支持台 |
JP7407752B2 (ja) | 2021-02-05 | 2024-01-04 | 日本碍子株式会社 | ウエハ支持台 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
TWI267937B (en) | 2006-12-01 |
US20030071032A1 (en) | 2003-04-17 |
KR100495987B1 (ko) | 2005-06-20 |
KR20030032846A (ko) | 2003-04-26 |
JP3856293B2 (ja) | 2006-12-13 |
US6875960B2 (en) | 2005-04-05 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP2003123943A (ja) | 加熱装置 | |
TWI281833B (en) | Heater, wafer heating apparatus and method for manufacturing heater | |
USRE46136E1 (en) | Heating apparatus with enhanced thermal uniformity and method for making thereof | |
KR101427427B1 (ko) | 가열 장치 | |
US6558508B1 (en) | Processing apparatus having dielectric plates linked together by electrostatic force | |
US20090159590A1 (en) | Substrate temperature adjusting-fixing devices | |
KR100407052B1 (ko) | 가열 장치 | |
KR100709536B1 (ko) | 가열 장치 | |
CN111869318B (zh) | 多区域加热器 | |
US8890038B2 (en) | Heating apparatus with multiple element array | |
JP2008527694A (ja) | 基板を空間的かつ時間的に温度制御するための装置 | |
JP2016536803A (ja) | 温度プロファイル制御装置を有する加熱基板支持体 | |
WO2020153079A1 (ja) | セラミックヒータ | |
EP3614806B1 (en) | Electric heater | |
JP4328009B2 (ja) | 加熱装置 | |
US20050242078A1 (en) | Ceramic Susceptor | |
CN113707591A (zh) | 静电卡盘和其制造方法以及基板处理装置 | |
WO2020153086A1 (ja) | セラミックヒータ | |
JP2005243243A (ja) | 加熱方法 | |
JP2002050461A (ja) | 基板加熱装置 | |
KR100679679B1 (ko) | 적외선 가열기구 및 기지 가열기 형식의 진공 챔버 | |
JP4671262B2 (ja) | 半導体加熱装置 | |
JP7202326B2 (ja) | セラミックヒータ | |
WO2024018826A1 (ja) | ヒータ、定着装置、画像形成装置及び加熱装置 | |
JP2005063691A (ja) | 加熱装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20040809 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20060223 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20060419 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20060608 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20060907 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20060907 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 3856293 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100922 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110922 Year of fee payment: 5 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110922 Year of fee payment: 5 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120922 Year of fee payment: 6 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120922 Year of fee payment: 6 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130922 Year of fee payment: 7 |