JP2003110140A - 窒化物半導体発光素子 - Google Patents
窒化物半導体発光素子Info
- Publication number
- JP2003110140A JP2003110140A JP2001301832A JP2001301832A JP2003110140A JP 2003110140 A JP2003110140 A JP 2003110140A JP 2001301832 A JP2001301832 A JP 2001301832A JP 2001301832 A JP2001301832 A JP 2001301832A JP 2003110140 A JP2003110140 A JP 2003110140A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- electrode
- region
- nitride semiconductor
- light emitting
- layer
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Abstract
により、窒化物半導体発光素子における光の取り出し効
率をさらに向上させ、寿命の長い窒化物半導体発光素子
を提供することを目的とする。 【解決手段】本発明の窒化物半導体発光素子は、n型窒
化物半導体層の所定の位置にn電極を備える窒化物半導
体発光素子である。特に、n電極は電気的に接続された
第1の領域と第2の領域とから構成されており、n電極
形成面側から見て、第1の領域の最背面は第2の領域の
最背面と略同じ面に位置している。さらに、n電極の第
2の領域は窒化物半導体発光素子からの光に対して、n
電極の第1の領域よりも高い反射率を備えることを特徴
とする。
Description
nXAlYGa1−X−YN、0≦X、0≦Y、X+Y
≦1)を層構造に含む発光素子、すなわち窒化物半導体
発光素子に係わり、特に発光効率を飛躍的に向上させた
窒化物半導体発光素子に関する。
体発光素子は高輝度純緑色発光LED、青色発光LED
として、フルカラーLEDディスプレイ、交通信号灯、
バックライトなど、様々な分野で広く利用されている。
どの基板上にn型窒化物半導体層、活性層、p型窒化物
半導体層が順に積層された構造となっている。さらに、
p型窒化物半導体層上にはp電極が配置され、n型窒化
物半導体層上にはn電極が配置されている。たとえば、
p電極とn電極とを同一面側に設ける場合は、p型窒化
物半導体層上にp電極が配置されると共に、p型窒化物
半導体層、活性層、およびn型窒化物半導体層の一部が
エッチングなどにより除去され、露出したn型窒化物半
導体層上にn電極が配置された構成となる。
などに応じて、発光出力の低下を伴わずに消費電力の低
減を可能とするLEDが望まれている現在において、上
記の構成では十分とは言えず、さらなる改良が求められ
ている。
層にて発光した光が各種半導体層または基板を介してL
EDの上面および側面から出射される。より詳細には、
活性層から出射された光の一部は、あらゆる界面、すな
わち基板と半導体層との界面、半導体層と半導体層の界
面、あるいは半導体層と電極との界面で反射してしま
う。そして、このような工程を複数回繰り返しても各々
の部材に吸収されずに残った光が、LEDの上面および
側面から出射される。ここで、主に側面から出射される
光の一部はp電極またはn電極に反射してLED外部に
取り出されると考えられるが、光の一部がp電極または
n電極に吸収されてしまうという問題があった。これに
より、活性層からの光の一部が無駄になり、LED外部
に光を効率よく取り出すことができなかった。また、こ
れに伴い、LEDを長寿命化することが困難となってし
まうという問題もあった。
成されたものであり、特にn電極を特定の構成とするこ
とにより、窒化物半導体発光素子における光の取り出し
効率をさらに向上させ、寿命の長い窒化物半導体発光素
子を提供することを目的とする。
光素子は、n型窒化物半導体層の所定の位置にn電極を
備える窒化物半導体発光素子である。特に、n電極は電
気的に接続された第1の領域と第2の領域とから構成さ
れており、n電極形成面側から見て、第1の領域の最背
面は第2の領域の最背面と略同じ面に位置している。さ
らに、n電極の第2の領域は窒化物半導体発光素子から
の光に対して、n電極の第1の領域よりも高い反射率を
備えることを特徴とする。これにより、光の取り出し効
率を大幅に向上させることができる。
化物半導体層とオーミック接触していることをが好まし
い。これにより、n電極における第1の領域および第2
の領域の構成部材を広範囲に選択することができる。
1の領域の最背面は、n電極形成面側から見たn電極の
最背面における周縁部の少なくとも一部に配置されてい
ることが好ましい。これにより、窒化物半導体発光素子
を効率よく発光させることができる。
は、n型窒化物半導体層の所定の位置に配置されるn電
極と同一面側であると共に、n型窒化物半導体層の該所
定の位置と異なる別の位置に、少なくとも活性層とp型
窒化物半導体層とが順に積層された構成において、n電
極形成面側から見た第1の領域の最背面が、n電極形成
面側から見て、p型窒化物半導体層の周縁部と対向して
配置されることが好ましい。これにより、窒化物半導体
発光素子をさらに効率よく発光させることができる。
の最背面は、n電極形成面側から見て、p型窒化物半導
体層の周縁部と略一定の距離をおいて配置されており、
さらに、n電極形成面側から見た第1の領域の最背面は
略一定の幅であることが好ましい。これにより、窒化物
半導体発光素子をさらに効率よく発光させることができ
る。
の領域および第2の領域から構成されるn電極の最上面
は、活性層の最下面よりも低い位置に配置されているこ
とが好ましい。これにより、窒化物半導体発光素子の端
面すなわち側面から出射された光がn電極に吸収される
のを大幅に軽減することができる。
Ti、V、Cr、Zr、Nb、Mo、Hf、Ta、W、
Re、Mn、Al、Zn、Pt、Au、Ru、Pd、R
hのうち少なくとも1つを含む層構造または合金であ
り、n電極を構成する第2の領域は、Al、Ag、P
t、Os、Ir、Rh、Pd、Ruのうち少なくとも1
つを含む層構造または合金であることが好ましい。これ
により、各電極を比較的容易に形成することができる。
発光素子としてLED(Light Emiting
Diode)を用いた例について説明する。本発明に係
るLEDを構成する各半導体層としては種々の窒化物半
導体を用いることができる。具体的には、有機金属気相
成長法(MOCVD)、ハイドライド気相成長法(HV
PE)などにより基板上にInXAlYGa1−X−Y
N(0≦X、0≦Y、X+Y≦1)の半導体を発光層と
して形成させたものが好適に用いられる。また、その層
構造としては、MIS接合、PIN接合やPN接合を有
したホモ構造、ヘテロ構造あるいはダブルへテロ構成の
ものが挙げられる。また、各層を超格子構造としたり、
活性層を量子効果が生ずる薄膜に形成させた単一量子井
戸構造や多重量子井戸構造とすることもできる。
に各半導体層を成長させて形成されるが、その際、基板
に絶縁性基板を用いその絶縁性基板を最終的に取り除か
ない場合、通常、p電極およびn電極はいずれも半導体
層上の同一面側に形成されることになる。この場合、フ
ェイスアップ実装すなわち半導体層側を視認側に配置し
発光された光を半導体層側から取り出すことも可能であ
るし、フェイスダウン実装すなわち基板側を視認側に配
置し発光された光を基板側から取り出すことも可能であ
る。もちろん、初めから絶縁性基板を用いず、あるいは
最終的に絶縁性基板を取り除くことにより、p電極とn
電極が半導体層構造を介して対向するように配置された
構成とすることもできる。
化物半導体層の所定の位置にn電極を備えるLEDであ
る。特に、n電極は電気的に接続された第1の領域と第
2の領域とから構成されており、n電極形成面側から見
て、第1の領域の最背面は第2の領域の最背面と略同じ
面に位置している。さらに、n電極の第2の領域はLE
Dからの光に対して、n電極の第1の領域よりも高い反
射率を備えることを特徴とする。これにより、n電極に
おける光の吸収を大幅に軽減することができるので、結
果的に光の取り出し効率を向上させることができる。な
お、ここでいう高い反射率とは、LEDからの光の全波
長において反射率が高いことをいう。もちろん、LED
からの光の所定の波長においてのみ反射率を高くするこ
とも可能であるが、LEDからの光の全波長において反
射率を高くすることにより、より優れた効果を得ること
ができる。
第2の領域は、n型窒化物半導体層に直接接した、換言
すればn型窒化物半導体層に直接配置された構成とする
ことが好ましいが、n電極とn型窒化物半導体層との間
に、LEDからの光を完全に遮ることのない部材を介し
て配置することもできる。
窒化物半導体層とオーミック接触している構成とするこ
とが好ましい。さらに、n電極形成面側から見たn電極
の第1の領域の最背面は、n電極形成面側から見たn電
極の最背面における周縁部の少なくとも一部に配置され
ている構成とすることが好ましい。このように構成する
ことにより、本発明のLEDに最終的に電流を供給する
際に、電流が流れる経路を広範囲に取ることができるの
で、より均一な発光を得ることができる。
導体層の所定の位置に配置されるn電極と同一面側であ
ると共に、n型窒化物半導体層の該所定の位置と異なる
別の位置に、少なくとも活性層とp型窒化物半導体層と
が順に積層された構成を備える場合、n電極形成面側か
ら見た第1の領域の最背面が、n電極形成面側から見
て、p型窒化物半導体層の周縁部と対向して配置される
ことが好ましい。すなわち、n電極形成面側から見て、
n電極の第1の領域が第2の領域を介さずにp型窒化物
半導体層の周縁部に隣接して配置させることが好まし
い。このように構成することにより、本発明のLEDに
最終的に電流を供給する際に、電流が流れる経路を短く
することができるので、より優れた発光効率を得ること
ができる。
の最背面は、n電極形成面側から見て、p型窒化物半導
体層の周縁部と略一定の距離をおいて配置されており、
さらに、n電極形成面側から見た第1の領域の最背面は
略一定の幅であることが好ましい。このように構成する
ことにより、本発明のLEDをより効率よく均一に発光
させることができる。
の領域および第2の領域から構成されるn電極の最上面
は、活性層の最下面よりも低い位置に配置されているこ
とが好ましい。このように構成することにより、LED
の端面から出射された光がn電極に吸収されるのを大幅
に軽減することができる。なお、ここではパッド部を備
えないn電極領域について記載したが、もちろん、パッ
ド部の最上面を活性層の最下面よりも低く設定すること
により、より優れた光の取り出し効率を得ることができ
る。
i、V、Cr、Zr、Nb、Mo、Hf、Ta、W、R
e、Mn、Al、Zn、Pt、Au、Ru、Pd、Rh
のうち少なくとも1つを含む層構造または合金であり、
n電極を構成する第2の領域は、Al、Ag、Pt、O
s、Ir、Rh、Pd、Ruのうち少なくとも1つを含
む層構造または合金とする。さらに、第1の領域を形成
した後にアニーリングを行うことにより、よりよいオー
ミック特性を得ることができる。また、第2の領域の膜
厚は400Å以上であることが好ましい。これにより、
第2の領域が薄すぎることにより生じる光の透過を略完
全に防止でき、第2の領域の持つ反射率をそのままに再
現することができる。
の形状はたとえば、n電極形成面側から見て、円形、四
角形、扇形など種々選択することができる。さらに、よ
り優れた発光効率を得るために、n電極を構成する第1
の領域および第2の領域のうち少なくとも第1の領域を
所定の方向に突起させた形状とすることもできる。ま
た、n電極は、少なくともn電極形成面すなわちn電極
とn型窒化物半導体層の接触面において第1の領域と第
2の領域とに分割されていればよく、たとえば第1の領
域の半導積層方向側に第2の領域が配置されてもよい。
て説明する。ただし、以下に示す実施の形態は、本発明
の技術思想を具体化するためのLEDを例示するもので
あって、本発明はLEDを以下のものに特定するもので
はない。さらに、各図面が示す部材の大きさや位置関係
などは、説明を明確にするため誇張していることがあ
る。
図を示す。ここでは、図に示すように同一面側にp電極
およびn電極を配置したLEDについて説明する。図1
は、本実施の形態のLEDをn電極形成面側から見た概
略図である。また、図2は、本実施の形態のLEDの層
構成を示す模式的断面図であり、図1のA−A部におけ
る断面すなわち半導体積層方向断面を表す。以下、本実
施の形態のLEDの各構成について詳細に説明する。 (基板1)まず、サファイア(C面)よりなる基板1を
MOCVDの反応容器内にセットし、容器内を水素で十
分に置換した後、水素を流しながら基板の温度を105
0℃まで上昇させ、基板のクリーニングを行う。基板1
はサファイアC面の他、R面、A面を主面とするサファ
イア基板、スピネル(MgAl2O4)のような絶縁性
の基板、SiC(6H、4H、3Cを含む)、Si、Z
nO、GaAs、GaNなどの半導体基板を用いること
ができる。 (バッファ層2)続いて温度を510℃まで下げ、キャ
リアガスに水素、原料ガスにアンモニアとTMG(トリ
メチルガリウム)とを用い、基板上にGaNよりなるバ
ッファ層2を約100Åの膜厚で成長させる。なお、こ
のバッファ層2は基板の種類、成長方法によっては省略
できる。また、このバッファ層2はAlの割合の小さい
AlGaNを用いることもできる。 (アンドープGaN層3)次に、バッファ層2成長後、
TMGのみを止めて、温度を1050℃まで上昇させ、
同じく原料ガスにTMG、アンモニアガスを用い、アン
ドープGaN層3を1.5μmの膜厚で成長させる。 (n型コンタクト層4)続いて1050℃で、同じく原
料ガスにTMG、アンモニアガス、不純物ガスにシラン
ガスを用い、Siを4.5×1018/cm3ドープし
たGaNよりなるn型コンタクト層4を2.165μm
の膜厚で成長させる。 (n型第1多層膜層5)次に、シランガスのみを止め、
1050℃でTMG、アンモニアガスを用い、アンドー
プGaNよりなる下層を3000Åの膜厚で成長させ、
続いて同温度にてシランガスを追加しSiを4.5×1
018/cm3ドープしたGaNよりなる中間層を30
0Åの膜厚で成長させ、更に続いてシランガスのみを止
め、同温度にてアンドープGaNからなる上層を50Å
の膜厚で成長させ、3層からなる層膜厚3350Åのn
型第1多層膜層5を成長させる。 (n型第2多層膜層6)次に、同様の温度で、アンドー
プGaNよりなる窒化物半導体層を40Åの膜厚で成長
させ、次に温度を800℃にしてTMG、TMI、アン
モニアを用い、アンドープIn0.1Ga0.9Nより
なる窒化物半導体層を20Åの膜厚で成長させる。これ
らの操作を繰り返し行い交互に10層ずつ積層し、さら
にアンドープGaNよりなる窒化物半導体層を40Åの
膜厚で成長させた超格子構造の多層膜よりなるn型第2
多層膜層6を640Åの膜厚で成長させる。 (活性層7)次にTMG、アンモニアを用いアンドープ
のGaNよりなる障壁層を250Åの膜厚で成長させ
る。続いて同温度にてTMIを追加し、In0.3Ga
0.7Nよりなる井戸層を30Åの膜厚で成長させる。
これらの操作を繰り返し行い交互に6層ずつ積層し、さ
らにアンドープGaNよりなる障壁を250Åの膜厚で
成長させ、多重量子井戸構造の活性層7を1930Åの
膜厚で成長させる。 (p型多層膜層8)次に、温度1050℃で、TMG、
TMA、アンモニア、Cp2Mg(シクロペンタンジエ
ニルマグネシウム)を用い、Mgを5×1019/cm
3ドープしたAl0.15Ga0.85Nよりなる窒化
物半導体層を40Åの膜厚で成長させ、続いて温度を8
00℃にして、TMG、TMI、アンモニア、Cp2M
gを用いMgを5×1019/cm3ドープしたIn
0.03Ga0.97Nよりなる窒化物半導体層を25
Åの膜厚で成長させる。これらの操作を繰り返し行い、
Al0.15Ga0.85N層とIn0.03Ga
0.97N層を交互に5層ずつ積層し、さらにMgを5
×1019/cm3ドープしたAl0.15Ga0.
85Nよりなる窒化物半導体層を40Åの膜厚で成長さ
せた超格子構造のp型多層膜層8を365Åの膜厚で成
長させる。 (p型コンタクト層9)続いて1050℃で、TMG、
アンモニア、Cp2Mgを用い、Mgを1×1020/
cm3ドープしたGaNからなるp型コンタクト層9を
1200Åの膜厚で成長させる。反応終了後、温度を室
温まで下げ、さらに窒素雰囲気中、ウェーハを反応容器
内において700℃でアニーリングを行い、p型層を更
に低抵抗化する。
り出し、所定の領域をRIE(反応性イオンエッチン
グ)装置でp側コンタクト層側からエッチングを行い、
図2に示すようにn型コンタクト層4の表面を露出させ
る。露出後、n型コンタクト層4の表面を300℃以上
で熱処理する。
どを用いて、p型コンタクト層9の略全域に膜厚20n
mのNiおよびAuを順に形成し、透光性のp電極10
を形成する。次に、予め露出させたn型コンタクト層4
面の一部に、スパッタリング装置、蒸着装置などを用い
て、たとえば膜厚100ÅのRhと膜厚500ÅのAl
とを順に積層させ、Rh/Alより構成される第1の領
域11aを形成する。さらに、Rh/Alからなる第1
の領域11aを500℃でアニーリングする。これによ
り、n型コンタクト層4とのより優れたオーミック特性
を得ることができる。引き続き、第1の領域11aと接
続した所定の部位に、Alの単層を500Åの膜厚で積
層し、第2の領域11bを形成する。このように本実施
の形態においては、n電極11は、Rh/Alより構成
される第1の領域11aとAlより構成される第2の領
域11bから構成されている。
aとしてRh/Alを示したが、本発明はこれに限定さ
れず、たとえば、Ti/Al、W/Alなど、上記した
種々の部材を用いることができる。
に、Wをバリア層として介して、Auからなるパッド部
12、13を形成する。なお、バリア層とはバリア層の
上下に位置する部材が合金化するのを防ぐための層であ
り、ここではWの膜厚を2000Å、Auの膜厚を30
00Åとしている。また、バリア層を構成する部材は特
に限定されず、Wの他に、Ti、Ni、TiN、Mo、
RhOなどを用いてもよい。
護膜、帯電防止膜として、SiO2を200nmの膜厚
で形成する。このとき、窒化物半導体露出面の全面にま
ずNiを100Å程度形成しておくと、SiO2の密着
性が向上する。最後にSiO 2およびNiの一部をエッ
チングして、pパッド部12およびnパッド部13を形
成すべき部位を露出させ、各露出部位にpパッド部12
およびnパッド部13を形成してLEDを作製する。こ
こでは図1に示すように、n電極形成面側から見て、p
パッド部12とnパッド部13がLEDの対角線上に配
置されるように構成される。なお、pパッド部12およ
びnパッド部13は、最終的に金線などから構成される
ワイヤーを取り付けるためのものであり、各ワイヤーを
介してLEDに電流を供給する、あるいは電流を取り出
すことができる。
から見たn電極11の形状を扇形とし、n電極形成面側
から見たn電極11の第1の領域11aの最背面が、n
電極形成面側から見てp型コンタクト層9と対向するよ
うに配置している。すなわち、n電極形成面側から見
て、扇形であるn電極11の円弧部位に第1の領域11
aの最背面が位置するように構成し、n電極形成面側か
ら見て円弧部位がp型コンタクト層9に隣接するように
配置されている。さらに、n電極形成面側から見た第1
の領域11aの最背面は、n電極形成面側から見て、p
型コンタクト層9の周縁部と略一定の距離をおいて配置
されており、さらに、n電極形成面側から見た第1の領
域11aの最背面は略一定の幅になるように構成されて
いる。換言すれば、n型コンタクト層4と第1の領域1
1aとの接触面が略一定の幅になるように構成されてい
る。また、本実施の形態においては、第1の領域11a
の半導体積層方向すなわちn型コンタクト層4上だけで
なく第1の領域11a上にも第2の領域が配置された構
成としている。
のLEDはより効率よく発光することができる。その理
由は定かではないが本発明者は次のように考えている。
すなわち、一般にLEDは電流を供給される際にpパッ
ド部(詳細には、pパッド部のワイヤーが接続される部
位)からnパッド部(詳細には、nパッド部のワイヤー
が接続される部位)に種々の経路を通って電流が流れ
る。しかしながら、たとえば図7に示すnコンタクト層
64とn電極71の接触面全域においてオーミック接触
しているLEDは、実際に電流を流すと、図における直
線A−A部上の矢印で表すように、直線A−A部周辺に
集中的に電流が流れる。このため、直線A−A部から離
れた部位、たとえば直線B−B部乃至C−C部上の矢印
で表すように、直線B−B部乃至C−C部周辺の発光が
少なくなってしまう。これは、n電極形成面側から見
て、pパッド部72のワイヤーが接続される部位とn電
極71の所望の部位を結んだ直線(たとえば直線A−A
部、直線B−B部、直線C−C部)において、その直線
が通過するn型コンタクト層64とn電極71の接触領
域が各々の直線によって異なることが原因のひとつであ
ると考えられる。具体的には、図7に示す形状のn電極
71の場合は、直線B−B部または直線C−C部よりも
直線A−A部の方が、直線が通過するn型コンタクト層
64とn電極71の接触領域が大きいのでより集中的に
電流が流れると考えられる。
は、n電極形成面側から見たn電極11の形状を扇形と
し、n電極形成面側から見てp型コンタクト層9と対向
する部位にn電極11の第1の領域11aを配置してい
る。すなわち、図において扇形であるn電極11の円弧
部位が第1の領域11aとなるように構成し、n電極形
成面側から見て円弧部位がp型コンタクト層9に隣接す
るように配置されている。さらに、n電極形成面側から
見た第1の領域11aの最背面は、n電極形成面側から
見て、p型コンタクト層9の周縁部と略一定の距離をお
いて配置されており、さらに、n電極形成面側から見た
第1の領域11aの最背面は略一定の幅になるように構
成されている。換言すれば、n型コンタクト層4と第1
の領域11aとの接触面が略一定の幅になるように構成
されている。これにより、pパッド部12のワイヤーが
接続される部位と第1の領域11aの異なる複数の部位
を結んだ各々の直線において、各直線が通過するn型コ
ンタクト層4と第1の領域11aの接触領域の大きさを
より均等にすることができる。すなわち、第1の領域1
1aのあらゆる部位において、pパッド部から供給され
る電流量をより一定とすることができるので、発光の分
布が均一化され、優れた発光効率が得られると本発明者
は考えている。
1bの反射率を次のようにして求める。まず、得られた
LEDのn電極形成面と反対側の面すなわち基板側か
ら、第1の領域11aまたは第2の領域11bのそれぞ
れに、得られたLEDの発光波長範囲を持つ所定の光を
垂直に照射し、各領域における反射率(反射波の強度と
入射波の強度との比)を算出する。これにより、第1の
領域11aおよび第2の領域11bそれぞれにおいて、
前記所定の光の発光波長範囲における反射率を得ること
ができる。このようにして得られた波長毎の反射率に、
得られたLEDの発光波長のうちピークとなる465n
mの波長を対応させて、第1の領域および第2の領域の
反射率を求めたところ、第1の領域の反射率は70%、
第2の領域の反射率は85%であった。このようにn電
極11を特定の構成とすることにより、比較的簡単な構
成であるにも係わらず発光効率を大幅に向上させること
ができる。
成面側から見てp電極およびn電極が対角に位置する構
成としたが本発明はこれに限定されず、たとえば図3、
4に示すような構成とすることもできる。ここでは、図
に示すように同一面側にp電極およびn電極を配置した
LEDについて説明する。図3は、本実施の形態のLE
Dをn電極形成面側から見た概略図である。また、図4
は、本実施の形態のLEDの層構成を示す模式的断面図
であり、図3のA−A部における断面を表す。なお、こ
こでは半導体層構造は先に記載したLEDと同様のもの
とする。
極形成面側から見て、円形のn電極31の周囲全域にp
型コンタクト層29が位置した構成となる。n電極31
は、詳細には、ドーナッツ状の第1の領域31aがn型
コンタクト層24と接するように構成され、その内部お
よび上部(半導体積層方向)に第2の領域31bが配置
された構成となる。なお、n電極31を構成する第1の
領域31aおよび第2の領域31bはそれぞれ、先に記
載したLEDと同様に、Rh/Alの二層膜およびAl
の単層膜により構成しているので、第1の領域31aと
第2の領域31bそれぞれにおける反射率は先に記載し
たLEDと同じである。
形のn電極31の周囲全域にp型コンタクト層29が位
置した構成となる場合は、n電極形成面側から見たn電
極31の最背面における全周縁部に第1の領域31aが
配置されることが好ましい。このように構成することに
より、より効率のよい均一な発光を得ることができる。
よびn電極を備え、n電極形成面側から見て、n電極が
所定の方向に突起しているLEDについて説明する。図
5は、本実施の形態のLEDをn電極形成面側から見た
概略図である。また、図6は、本実施の形態のLEDの
層構成を示す模式的断面図であり、図5のA−A部にお
ける断面を表す。なお、ここでは半導体層構造は先に記
載したLEDと同様のものとする。
に、n電極形成面側から見て、所定の方向に突起したn
電極51の周囲全域にp型コンタクト層49が位置した
構成となる。n電極51は、詳細には、n電極形成面側
から見て、所定の方向に突起したn電極51の最背面に
おける全周縁部が第1の領域51aとなる共に、その内
部および上部(半導体積層方向)に第2の領域51bが
配置された構成となる。なお、n電極51を構成する第
1の領域51aおよび第2の領域51bはそれぞれ、先
に記載したLEDと同様に、Rh/Alの二層膜および
Alの単層膜により構成しているので、第1の領域51
aと第2の領域51bそれぞれにおける反射率は先に記
載したLEDと同じである。
n電極の所定の一部に該n電極から外部に電流を取り出
すワイヤーを接続するためのnパッド部53を備える構
成とする。これにより、半導体積層方向断面において、
nパッド部53形成部位に比較してnパッド部53形成
部位以外のn電極51部位の高さを低くすることができ
るので、端面から出射される光を遮ることなく外部に取
り出すことができる。
クト層49の内側に所定の方向に突起したn電極51を
配置することにより、比較的容易に大電流、具体的には
20mA以上の電流を供給することができる。ここで、
一般に、大電流を効率よく供給するにはn電極51の断
面積がある程度必要となる。しかしながら、n電極51
の断面積を確保するために積層方向にn電極51を厚く
すると、部分的に設けられたパッド部を除く領域の半導
体積層方向断面において、n電極の最上面51hが活性
層の最下面47hよりも高い位置に配置されてしまう。
このように構成すると、LED端部から出射される光の
一部が第1の領域51aおよび第2の領域51bから構
成されるn電極51に吸収されてしまい、効率よく光を
取り出すことができない。そこで、n電極51の断面積
を保持しつつ、n電極の高さ51hを活性層の最下面4
7hよりも低くすると、当然、n電極51とn型コンタ
クト層44との接触面積が大きくなる。しかしながら、
n電極51とn型コンタクト層44との接触面積全域を
オーミック電極とする必要はなく、接触面積の一部を部
分的にオーミック電極とすることで十分なオーミック特
性を得ることができる。
n電極形成面側から見て、所定の方向に突起したn電極
51の周縁部全域に第1の領域51aが配置されると共
に、第1の領域51aの内部および上部に第2の51b
が配置された構成において、n電極上に部分的に設けら
れたパッド部を除く領域、たとえばA−A部の半導体積
層方向断面において、第1の領域51aおよび第2の領
域51bから構成されるn電極51の最上面51hを活
性層47の最下面47hよりも低い位置に配置すること
により、LED端面から出射された光がn電極51に吸
収されるを大幅に軽減することができる。
物半導体発光素子によれば、n電極における光の吸収を
最小限に抑えることができる。これにより、光の取り出
し効率を大幅に向上させることができる。
ら見た平面図である。
ら見た平面図である。
ら見た平面図である。
Dをn電極形成面側から見た平面図である。
Claims (7)
- 【請求項1】n型窒化物半導体層の所定の位置にn電極
を備える窒化物半導体発光素子において、 前記n電極は、電気的に接続された第1の領域と第2の
領域とから構成されており、 n電極形成面側から見て、前記第1の領域の最背面は前
記第2の領域の最背面と略同じ面に位置し、かつ前記n
電極の第2の領域は、前記窒化物半導体発光素子からの
光に対して、前記n電極の第1の領域よりも高い反射率
を有することを特徴とする窒化物半導体発光素子。 - 【請求項2】前記n電極の第1の領域は、前記n型窒化
物半導体層とオーミック接触していることを特徴とする
請求項1に記載の窒化物半導体発光素子。 - 【請求項3】n電極形成面側から見た前記n電極の第1
の領域の最背面は、n電極形成面側から見た前記n電極
の最背面における周縁部の少なくとも一部に配置されて
いることを特徴とする請求項1または2に記載の窒化物
半導体発光素子。 - 【請求項4】前記窒化物半導体発光素子は、前記n型窒
化物半導体層の所定の位置に配置されるn電極と同一面
側であると共に、前記n型窒化物半導体層の該所定の位
置と異なる別の位置に、少なくとも活性層とp型窒化物
半導体層とが順に積層された構成を備え、さらにn電極
形成面側から見た前記第1の領域の最背面は、n電極形
成面側から見て、前記p型窒化物半導体層の周縁部と対
向して配置されることを特徴とする請求項3に記載の窒
化物半導体発光素子。 - 【請求項5】n電極形成面側から見た前記第1の領域の
最背面は、n電極形成面側から見て、前記p型窒化物半
導体層の周縁部と略一定の距離をおいて配置されてお
り、さらにn電極形成面側から見た前記第1の領域の最
背面は略一定の幅であることを特徴とする請求項4に記
載の窒化物半導体発光素子。 - 【請求項6】半導体積層方向断面において、第1の領域
および第2の領域から構成される前記n電極の最上面
は、前記活性層の最下面よりも低い位置に配置されてい
ることを特徴とする請求項4または5に記載の窒化物半
導体発光素子。 - 【請求項7】 前記n電極を構成する第1の領域は、T
i、V、Cr、Zr、Nb、Mo、Hf、Ta、W、R
e、Mn、Al、Zn、Pt、Au、Ru、Pd、Rh
のうち少なくとも1つを含む層構造または合金であり、
かつ前記n電極を構成する第2の領域は、Al、Ag、
Pt、Os、Ir、Rh、Pd、Ruのうち少なくとも
1つを含む層構造または合金であることを特徴とする請
求項1から6のいずれかに記載の窒化物半導体発光素
子。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001301832A JP5055678B2 (ja) | 2001-09-28 | 2001-09-28 | 窒化物半導体発光素子 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001301832A JP5055678B2 (ja) | 2001-09-28 | 2001-09-28 | 窒化物半導体発光素子 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2003110140A true JP2003110140A (ja) | 2003-04-11 |
JP5055678B2 JP5055678B2 (ja) | 2012-10-24 |
Family
ID=19122185
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2001301832A Expired - Fee Related JP5055678B2 (ja) | 2001-09-28 | 2001-09-28 | 窒化物半導体発光素子 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5055678B2 (ja) |
Cited By (27)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2005057642A1 (en) * | 2003-12-10 | 2005-06-23 | Showa Denko K.K. | Gallium nitride-based compound semiconductor light-emitting device and negative electrode thereof |
WO2005059982A1 (en) * | 2003-12-17 | 2005-06-30 | Showa Denko K.K. | Gallium nitride-based compound semiconductor light-emitting device and negative electrode thereof |
JP2005203765A (ja) * | 2003-12-17 | 2005-07-28 | Showa Denko Kk | 窒化ガリウム系化合物半導体発光素子およびその負極 |
JP2005317931A (ja) * | 2004-03-29 | 2005-11-10 | Nichia Chem Ind Ltd | 半導体発光素子 |
US7049160B2 (en) | 2003-09-16 | 2006-05-23 | Stanley Electric Co., Ltd. | Gallium nitride compound semiconductor device and method of manufacturing the same |
JP2007258277A (ja) * | 2006-03-20 | 2007-10-04 | Matsushita Electric Works Ltd | 半導体発光素子 |
JP2008159957A (ja) * | 2006-12-26 | 2008-07-10 | Nichia Chem Ind Ltd | 半導体発光素子 |
JP2008199012A (ja) * | 2007-02-09 | 2008-08-28 | Cree Inc | 透明ledチップ |
JP2009049267A (ja) * | 2007-08-22 | 2009-03-05 | Toshiba Corp | 半導体発光素子及びその製造方法 |
JP2009532895A (ja) * | 2006-08-31 | 2009-09-10 | エピヴァレー カンパニー リミテッド | Iii族窒化物半導体発光素子 |
JP2010056322A (ja) * | 2008-08-28 | 2010-03-11 | Toshiba Corp | 半導体発光素子及びその製造方法 |
JP2010062274A (ja) * | 2008-09-03 | 2010-03-18 | Toshiba Corp | 半導体発光素子及びその製造方法 |
JP2011061246A (ja) * | 2010-12-27 | 2011-03-24 | Sharp Corp | 窒化物半導体発光素子およびその製造方法 |
JP2012212849A (ja) * | 2011-03-23 | 2012-11-01 | Toyoda Gosei Co Ltd | Iii族窒化物半導体発光素子 |
JP2013102192A (ja) * | 2013-01-10 | 2013-05-23 | Toshiba Corp | 半導体発光素子及びその製造方法 |
JP2014003166A (ja) * | 2012-06-19 | 2014-01-09 | Citizen Holdings Co Ltd | 半導体発光素子 |
JP2014045108A (ja) * | 2012-08-28 | 2014-03-13 | Toyoda Gosei Co Ltd | 半導体発光素子 |
US9041033B2 (en) | 2012-06-28 | 2015-05-26 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Semiconductor light emitting device |
JP2019036729A (ja) * | 2017-08-14 | 2019-03-07 | エルジー イノテック カンパニー リミテッド | 半導体素子 |
JP2019041109A (ja) * | 2017-08-25 | 2019-03-14 | エルジー イノテック カンパニー リミテッド | 半導体素子 |
US20190140141A1 (en) * | 2017-11-09 | 2019-05-09 | Asahi Kasei Kabushiki Kaisha | Nitride semiconductor element, nitride semiconductor light emitting element, ultraviolet light emitting element |
JP2019087750A (ja) * | 2017-11-09 | 2019-06-06 | 旭化成株式会社 | 窒化物半導体素子 |
US10734552B2 (en) | 2016-06-20 | 2020-08-04 | Lg Innotek Co., Ltd. | Semiconductor device having a light emitting structure |
US10903395B2 (en) | 2016-11-24 | 2021-01-26 | Lg Innotek Co., Ltd. | Semiconductor device having varying concentrations of aluminum |
US10910519B2 (en) | 2016-09-13 | 2021-02-02 | Lg Innotek Co., Ltd. | Semiconductor device having layers including aluminum and semiconductor device package including same |
US10937923B2 (en) | 2016-09-01 | 2021-03-02 | Lg Innotek Co., Ltd. | Semiconductor device and semiconductor device package including the same |
US11569416B2 (en) | 2016-09-10 | 2023-01-31 | Suzhou Lekin Semiconductor Co., Ltd. | Light emitting semiconductor device |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0997922A (ja) * | 1995-09-29 | 1997-04-08 | Sanyo Electric Co Ltd | 発光素子 |
JPH09232632A (ja) * | 1995-12-22 | 1997-09-05 | Toshiba Corp | 半導体発光素子及びその製造方法 |
JPH10209498A (ja) * | 1997-01-24 | 1998-08-07 | Rohm Co Ltd | 半導体発光素子 |
JPH10275934A (ja) * | 1997-03-28 | 1998-10-13 | Rohm Co Ltd | 半導体発光素子 |
-
2001
- 2001-09-28 JP JP2001301832A patent/JP5055678B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0997922A (ja) * | 1995-09-29 | 1997-04-08 | Sanyo Electric Co Ltd | 発光素子 |
JPH09232632A (ja) * | 1995-12-22 | 1997-09-05 | Toshiba Corp | 半導体発光素子及びその製造方法 |
JPH10209498A (ja) * | 1997-01-24 | 1998-08-07 | Rohm Co Ltd | 半導体発光素子 |
JPH10275934A (ja) * | 1997-03-28 | 1998-10-13 | Rohm Co Ltd | 半導体発光素子 |
Cited By (41)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7049160B2 (en) | 2003-09-16 | 2006-05-23 | Stanley Electric Co., Ltd. | Gallium nitride compound semiconductor device and method of manufacturing the same |
US7193247B2 (en) | 2003-09-16 | 2007-03-20 | Stanley Electric Co., Ltd. | Gallium nitride compound semiconductor device |
US7452740B2 (en) | 2003-12-10 | 2008-11-18 | Showa Denko K.K. | Gallium nitride-based compound semiconductor light-emitting device and negative electrode thereof |
KR100822771B1 (ko) * | 2003-12-10 | 2008-04-17 | 쇼와 덴코 가부시키가이샤 | 질화갈륨계 화합물 반도체 발광소자 및 그 음극 |
WO2005057642A1 (en) * | 2003-12-10 | 2005-06-23 | Showa Denko K.K. | Gallium nitride-based compound semiconductor light-emitting device and negative electrode thereof |
JP2011049609A (ja) * | 2003-12-17 | 2011-03-10 | Showa Denko Kk | 窒化ガリウム系化合物半導体発光素子およびその負極 |
JP2005203765A (ja) * | 2003-12-17 | 2005-07-28 | Showa Denko Kk | 窒化ガリウム系化合物半導体発光素子およびその負極 |
WO2005059982A1 (en) * | 2003-12-17 | 2005-06-30 | Showa Denko K.K. | Gallium nitride-based compound semiconductor light-emitting device and negative electrode thereof |
US7518163B2 (en) | 2003-12-17 | 2009-04-14 | Showa Denko K.K. | Gallium nitride-based compound semiconductor light-emitting device and negative electrode thereof |
JP2005317931A (ja) * | 2004-03-29 | 2005-11-10 | Nichia Chem Ind Ltd | 半導体発光素子 |
JP2007258277A (ja) * | 2006-03-20 | 2007-10-04 | Matsushita Electric Works Ltd | 半導体発光素子 |
JP2009532895A (ja) * | 2006-08-31 | 2009-09-10 | エピヴァレー カンパニー リミテッド | Iii族窒化物半導体発光素子 |
JP2008159957A (ja) * | 2006-12-26 | 2008-07-10 | Nichia Chem Ind Ltd | 半導体発光素子 |
JP2008199012A (ja) * | 2007-02-09 | 2008-08-28 | Cree Inc | 透明ledチップ |
JP2009049267A (ja) * | 2007-08-22 | 2009-03-05 | Toshiba Corp | 半導体発光素子及びその製造方法 |
JP2010056322A (ja) * | 2008-08-28 | 2010-03-11 | Toshiba Corp | 半導体発光素子及びその製造方法 |
US9070837B2 (en) | 2008-08-28 | 2015-06-30 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Semiconductor light-emitting device and method for manufacturing same |
JP2010062274A (ja) * | 2008-09-03 | 2010-03-18 | Toshiba Corp | 半導体発光素子及びその製造方法 |
JP2011061246A (ja) * | 2010-12-27 | 2011-03-24 | Sharp Corp | 窒化物半導体発光素子およびその製造方法 |
JP2012212849A (ja) * | 2011-03-23 | 2012-11-01 | Toyoda Gosei Co Ltd | Iii族窒化物半導体発光素子 |
JP2014003166A (ja) * | 2012-06-19 | 2014-01-09 | Citizen Holdings Co Ltd | 半導体発光素子 |
US9041033B2 (en) | 2012-06-28 | 2015-05-26 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Semiconductor light emitting device |
CN103682024A (zh) * | 2012-08-28 | 2014-03-26 | 丰田合成株式会社 | 半导体发光元件 |
JP2014045108A (ja) * | 2012-08-28 | 2014-03-13 | Toyoda Gosei Co Ltd | 半導体発光素子 |
JP2013102192A (ja) * | 2013-01-10 | 2013-05-23 | Toshiba Corp | 半導体発光素子及びその製造方法 |
US10734552B2 (en) | 2016-06-20 | 2020-08-04 | Lg Innotek Co., Ltd. | Semiconductor device having a light emitting structure |
US10937923B2 (en) | 2016-09-01 | 2021-03-02 | Lg Innotek Co., Ltd. | Semiconductor device and semiconductor device package including the same |
US11961943B2 (en) | 2016-09-10 | 2024-04-16 | Suzhou Lekin Semiconductor Co., Ltd. | Light emitting semiconductor device for enhancing light extraction efficiency |
US11569416B2 (en) | 2016-09-10 | 2023-01-31 | Suzhou Lekin Semiconductor Co., Ltd. | Light emitting semiconductor device |
US10910519B2 (en) | 2016-09-13 | 2021-02-02 | Lg Innotek Co., Ltd. | Semiconductor device having layers including aluminum and semiconductor device package including same |
US10903395B2 (en) | 2016-11-24 | 2021-01-26 | Lg Innotek Co., Ltd. | Semiconductor device having varying concentrations of aluminum |
JP2019036729A (ja) * | 2017-08-14 | 2019-03-07 | エルジー イノテック カンパニー リミテッド | 半導体素子 |
JP2019041109A (ja) * | 2017-08-25 | 2019-03-14 | エルジー イノテック カンパニー リミテッド | 半導体素子 |
JP7209331B2 (ja) | 2017-08-25 | 2023-01-20 | スージョウ レキン セミコンダクター カンパニー リミテッド | 半導体素子 |
US10937928B2 (en) * | 2017-11-09 | 2021-03-02 | Asahi Kasei Kabushiki Kaisha | Nitride semiconductor element, nitride semiconductor light emitting element, ultraviolet light emitting element |
JP2019087750A (ja) * | 2017-11-09 | 2019-06-06 | 旭化成株式会社 | 窒化物半導体素子 |
US20210119083A1 (en) * | 2017-11-09 | 2021-04-22 | Asahi Kasei Kabushiki Kaisha | Nitride semiconductor element, nitride semiconductor light emitting element, ultraviolet light emitting element |
JP7141803B2 (ja) | 2017-11-09 | 2022-09-26 | 旭化成株式会社 | 窒化物半導体素子 |
CN109768140A (zh) * | 2017-11-09 | 2019-05-17 | 旭化成株式会社 | 氮化物半导体元件、氮化物半导体发光元件、紫外线发光元件 |
US11637221B2 (en) | 2017-11-09 | 2023-04-25 | Asahi Kasei Kabushiki Kaisha | Nitride semiconductor element, nitride semiconductor light emitting element, ultraviolet light emitting element |
US20190140141A1 (en) * | 2017-11-09 | 2019-05-09 | Asahi Kasei Kabushiki Kaisha | Nitride semiconductor element, nitride semiconductor light emitting element, ultraviolet light emitting element |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP5055678B2 (ja) | 2012-10-24 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5055678B2 (ja) | 窒化物半導体発光素子 | |
JP4507532B2 (ja) | 窒化物半導体素子 | |
US7291865B2 (en) | Light-emitting semiconductor device | |
JP4604488B2 (ja) | 窒化物半導体発光素子およびその製造方法 | |
JP4148264B2 (ja) | 半導体素子及びその製造方法 | |
JP4977957B2 (ja) | 半導体発光素子 | |
US7259447B2 (en) | Flip-chip type nitride semiconductor light emitting diode | |
JP5719110B2 (ja) | 発光素子 | |
JP4043461B2 (ja) | フリップチップ用窒化物半導体発光素子 | |
JP4572597B2 (ja) | 窒化物半導体素子 | |
JP3244010B2 (ja) | 周縁に電極を有する発光ダイオード | |
US20050156185A1 (en) | Flip chip nitride semiconductor light emitting diode | |
EP2498307A2 (en) | Light emitting diode device | |
JP2006054420A (ja) | 窒化物半導体発光素子及びその製造方法、並びに窒化物半導体発光素子を備えたフリップチップ構造の発光装置 | |
JP2009049267A (ja) | 半導体発光素子及びその製造方法 | |
JP3921989B2 (ja) | 半導体発光素子 | |
JP2005259970A (ja) | 半導体発光素子 | |
EP1530242B1 (en) | Semiconductor light emitting device | |
JP2005217331A (ja) | 半導体発光素子 | |
JP2003051610A (ja) | Led素子 | |
KR100587018B1 (ko) | 플립칩용 질화물 반도체 발광소자 | |
KR100691264B1 (ko) | 수직구조 질화물 반도체 발광소자 | |
KR100631842B1 (ko) | 질화물 반도체 발광소자 | |
KR100631970B1 (ko) | 플립칩용 질화물 반도체 발광소자 | |
JP4635458B2 (ja) | 半導体発光素子 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20080925 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20110210 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20110301 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20110426 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20120214 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20120215 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20120703 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20120716 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150810 Year of fee payment: 3 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Ref document number: 5055678 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150810 Year of fee payment: 3 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |