JP2003081700A - アニーリング装置及び単結晶の製造方法 - Google Patents

アニーリング装置及び単結晶の製造方法

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JP2003081700A
JP2003081700A JP2001269412A JP2001269412A JP2003081700A JP 2003081700 A JP2003081700 A JP 2003081700A JP 2001269412 A JP2001269412 A JP 2001269412A JP 2001269412 A JP2001269412 A JP 2001269412A JP 2003081700 A JP2003081700 A JP 2003081700A
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annealing
crystal
vacuum container
calcium fluoride
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JP2001269412A
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English (en)
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Yoshikazu Matsumoto
芳和 松本
Toshihiko Yamamoto
俊彦 山本
Kazuto Shimizu
和人 清水
Sadao Yamashita
定雄 山下
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NIPPON KESSHO KOGAKU KK
Original Assignee
NIPPON KESSHO KOGAKU KK
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 使用時に単結晶における空孔の発生を抑制
し、結晶表面にクロム原子が付着することのない高品質
な単結晶のアニーリング装置及び、熱処理工程を含む単
結晶の製造方法を提供する。 【解決手段】 真空容器1と、加熱装置2と、真空容器
1の上部に蓋3とを備えるアニーリング装置において真
空容器1の内部にアニーリングケース5を配置し、さら
にアニーリングケース5の内部に支持部材4によって保
持されたフッ化カルシウム単結晶6と、フッ化物結晶7
とを配置する。アニーリングを行う際に、アニーリング
ケース5がフッ化カルシウム単結晶6及びフッ化物結晶
7を真空容器1の内部表面から遮蔽するため、真空容器
1の内部表面から飛散するクロム原子からフッ化カルシ
ウム単結晶6を保護できる。また、フッ化物結晶7から
気化したフッ素をアニーリングケース5内部に閉じこめ
るため、フッ化カルシウム単結晶6に空孔が生ずるのを
抑制できる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、単結晶を収納す
る真空容器と、該真空容器の周囲に配置された加熱装置
と、前記真空容器内部を真空化する排気系とを備え、単
結晶に対して熱処理を行うアニーリング装置及び熱処理
工程を含む単結晶の製造方法に関し、特に単結晶の構成
元素の脱離による空孔の発生を抑制できるアニーリング
装置及び熱処理工程を含む単結晶の製造方法に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、レンズ等の光学系や半導体装置の
材料として様々な単結晶が利用されており、装置の性能
を向上させる観点からは、これらの単結晶が結晶欠陥を
有さない、いわゆる完全結晶であることが望ましい。し
かし、現実に結晶欠陥を全く有さない単結晶は存在せ
ず、あらゆる単結晶は多かれ少なかれ欠陥を有する。欠
陥の存在により単結晶を構成する原子の周期性が乱れ、
特性が悪化するため、欠陥密度が高い単結晶は光学系や
半導体装置の材料として使用するのは適切ではない。
【0003】特に、集積回路のパターンを半導体基板に
転写する際に用いる露光装置の光学系に使用されるフッ
化カルシウム単結晶においては、欠陥密度が高い場合装
置の性能及び寿命に対して重要な影響を及ぼす。近年の
半導体集積回路の微細化に伴い露光装置の光源はKrF
エキシマレーザ等の紫外波長領域のレーザが用いられる
が、欠陥が存在するフッ化カルシウム単結晶を光学系に
用いた場合、この波長の光に対して透過度が低下し、吸
収係数が大きくなることが知られている。特に、フッ化
カルシウムは原料を充填した坩堝をいったん加熱し、坩
堝底部より徐々に冷却することで単結晶を得る垂直ブリ
ッジマン法によって製造されるため、坩堝とフッ化カル
シウムの熱膨張係数の相違等により単結晶に対しひずみ
が生じやすく、欠陥の一種である転位の発生を避けるこ
とができない。
【0004】これに対し、いったん得られた単結晶を熱
処理(以下「アニーリング」という)することにより欠
陥密度を低下させる方法が知られている。図3は従来知
られたフッ化カルシウム単結晶についてのアニーリング
装置の模式図を示す。アニーリングは以下のように行わ
れる。
【0005】まず、フッ化カルシウム単結晶34を支持
部材33で保持する形で真空容器31の内部に配置し、
図示を省略した真空排気系により真空に引いた後、アル
ゴン(Ar)等の不活性ガスを真空容器31に循環させ
ながら加熱装置32によってフッ化カルシウム単結晶3
4を加熱する。フッ化カルシウム単結晶34が一定の温
度に達した後、加熱装置32を制御してフッ化カルシウ
ム単結晶34の温度を非常にゆっくりとした速度で低下
させていき、室温程度まで温度を下げる。このようなア
ニーリングによってフッ化カルシウム単結晶34を高温
にするため、単結晶を構成する各原子は十分な熱エネル
ギーを得て、本来収まるべき位置に移動することが可能
となり、転位を効果的に解消することができる。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかし、アニーリング
を行うことで単結晶に別の結晶欠陥が発生することが知
られている。上述したように、アニーリングでは単結晶
を高温に加熱するが、その際に単結晶を構成する原子の
一部が結晶表面から脱離してしまい、本来原子が存在す
べき位置に原子が存在しない、いわゆる空孔が生ずる。
この現象は、特にフッ化カルシウムのような、化合物か
らなる結晶において一方の元素が他方に対して蒸気圧が
高い場合に顕著に生じる。
【0007】空孔を多数有するフッ化カルシウム単結晶
をレーザの光学系に用いると、レーザ光がフッ化カルシ
ウム単結晶に照射されることにより、単結晶中にカラー
センターが形成される。このカラーセンターによりレー
ザの耐久性は悪化し、装置の寿命が低下する。また、空
孔の存在は紫外波長領域の光に対する透過性が低下する
原因となるため、この観点からも空孔の発生を抑える必
要がある。
【0008】また、アニーリングに用いる真空容器は一
般にステンレス製であり、真空容器及び単結晶が加熱装
置により加熱された際に、ステンレスを構成するクロム
原子の一部が脱離を起こし、単結晶の表面に付着すると
いう欠点もある。これにより、フッ化カルシウムの単結
晶は表面が青みがかった色となり、光学系の材料として
製品化するためには表面研磨を行ってクロムを除去する
工程が別に必要となる。
【0009】アニーリングを行うことによって生ずる欠
点について、脱離する元素を成分に含む化合物を真空容
器内に配置する方法が提案されている。フッ化カルシウ
ム単結晶のアニーリングの場合、フッ化カルシウム単結
晶以外にフッ化物結晶を真空容器内に配置する。このよ
うに、単結晶以外の化合物を配置することで、化合物か
らも元素が脱離するため、その分単結晶からの脱離を抑
制することが可能である。
【0010】しかし、単に化合物を真空容器内に配置す
るだけでは単結晶からの原子の脱離を効果的に抑制する
ことはできない。通常、アニーリング工程中は真空容器
内部にArを循環させているため、化合物から脱離した
元素からなる気体はArの流れに乗って真空容器の外部
に排出されてしまう。従って、アニーリング工程中を通
して脱離元素からなる気体を発生させ単結晶中の空孔の
発生を抑制するためには、多量の化合物が必要となる。
また、フッ化物結晶からフッ素が脱離してフッ素の濃度
が十分な値となるためには一定の時間を要する。特に、
真空容器のように大きな容積を有する空間の場合、フッ
素の濃度が十分な値となる前にフッ化カルシウム単結晶
からフッ素原子が脱離してしまい、フッ化カルシウム単
結晶中に空孔が発生してしまう。
【0011】また、単結晶の表面にクロムが付着する問
題点については、この方法では何ら解決することができ
ない。
【0012】また、これらの問題点はフッ化カルシウム
単結晶のみならず、他の光学系の材料及び半導体単結晶
等についても同様に生ずる。
【0013】本発明は上記従来技術の欠点に鑑みてなさ
れたもので、使用時に単結晶における空孔の発生を抑制
し、結晶表面にクロム原子が付着することのない高品質
な単結晶を形成できるアニーリング装置、及びアニーリ
ング工程を含む単結晶の製造方法を提供することを目的
とする。
【0014】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、請求項1の発明に係るアニーリング装置は、単結晶
を収納する真空容器と、該真空容器の周囲に配置された
加熱装置と、前記真空容器内部を真空化する排気系とを
備え、真空容器内部に前記単結晶から脱離する元素を構
成元素に有する化合物を配置して、前記単結晶に対して
熱処理を行うアニーリング装置において、前記単結晶及
び前記結晶が収蔵されて、密閉された空間を画成するア
ニーリングケースを前記真空容器の内部に備えることを
特徴とする。ここで、「化合物」とは、単結晶、多結
晶、粉状体など様々な形態をとりうるものとする。ま
た、「密閉」とは、アニーリングケースの内部と外部と
の間で気体のやりとりが全く生じない場合のみならず、
少量ではあるが気体のやりとりが行われるような状態を
も含むものとする。
【0015】この請求項1の発明によれば、単結晶が真
空容器内部表面から遮蔽された状態でアニーリングを行
うため、真空容器の内部表面から飛散するクロム原子か
ら単結晶を保護することができ、単結晶に空孔が発生す
ることを効果的に抑制することができる。
【0016】また、請求項2の発明に係るアニーリング
装置は、請求項1に記載の発明において、互いに離接可
能な構造を有し、内部に前記単結晶を包含する2以上の
支持部材が、前記アニーリングケース内部において積層
されていることを特徴とする。
【0017】この請求項2の発明によれば、アニーリン
グケース内部に複数の支持部材を設けることにより、複
数の単結晶を一度にアニーリングすることができる。
【0018】また、請求項3の発明に係るアニーリング
装置は、請求項1に記載の発明において、それぞれ前記
単結晶及び前記化合物を包含する2以上の前記アニーリ
ングケースが、互いに離接可能な構造を有し、前記真空
容器の内部に積層されていることを特徴とする。
【0019】この請求項3の発明によれば、アニーリン
グケースが支持部材としての機能も有するため、真空容
器内において多数の単結晶を一度にアニーリングを行う
ことができる。
【0020】また、請求項4の発明に係るアニーリング
装置は、請求項1〜3のいずれかに記載の発明におい
て、前記単結晶がフッ化カルシウム単結晶であり、前記
化合物がフッ化化合物であることを特徴とする。
【0021】この請求項4の発明によれば、アニーリン
グ装置の使用時にフッ化カルシウム単結晶についてアニ
ーリングを行うことができ、転位及び空孔の生じない、
高品質なフッ化カルシウム単結晶を得ることができる。
【0022】また、請求項5の発明に係るアニーリング
装置は、請求項4に記載の発明において、前記化合物が
フッ化鉛であることを特徴とする。
【0023】この請求項5の発明によれば、フッ化カル
シウム単結晶からのフッ素原子の脱離を防止するための
化合物としてフッ化鉛を使用する。フッ化鉛はアニーリ
ングの際にフッ化カルシウムよりもフッ素を発生しやす
いため、フッ化カルシウム単結晶における空孔の発生を
より効果的に抑制できる。
【0024】また、請求項6の発明に係る単結晶の製造
方法は、単結晶を成長させる工程と、得られた単結晶及
び該単結晶から脱離する元素を構成元素に含む化合物を
真空容器内に配置して熱処理を行う工程とを含む単結晶
の製造方法において、アニーリングケースにより前記単
結晶及び前記化合物を覆うことで前記真空容器から遮蔽
した状態で、前記熱処理を行うことを特徴とする。
【0025】この請求項6の発明によれば、単結晶の製
造において、アニーリングを行う際に単結晶並びに結晶
をアニーリングケースにより覆うため、真空容器内部表
面から飛散するクロム原子の付着及び単結晶における空
孔の発生を抑制することができる。
【0026】
【発明の実施の形態】以下に図面を参照して、本発明の
実施の形態を説明する。なお、図面は模式的なものであ
り、厚みと幅との関係、各部分の厚みの比率などは現実
のものとは異なることに留意すべきである。又、図面の
相互間においても互いの寸法の関係や比率が異なる部分
が含まれていることはもちろんである。
【0027】実施の形態1.まず、図1を用いて、実施
の形態1に係るアニーリング装置の構造について説明す
る。実施の形態1に係るアニーリング装置は、真空容器
1と、真空容器1の周囲に配置された加熱装置2と、真
空容器1の上部に設けられた蓋3を備える。また、真空
容器1の中にはアニーリングケース5が配置されてお
り、アニーリングケース5の内部には支持部材4に支持
されたフッ化カルシウム単結晶6が配置されている。さ
らに、アニーリングケース5の内部にはフッ化物結晶7
が配置されている。
【0028】真空容器1は、フッ化カルシウム単結晶6
に酸素などの不純物が混入することを防止するために設
けられている。外気が内部に流入するのを防止し、アニ
ーリングの際に加熱装置2から加わる高熱に耐え得る構
造とするため、真空容器1はステンレスからなる。
【0029】加熱装置2は、フッ化カルシウム単結晶6
を外部から加熱することで、アニーリングを行うための
ものである。加熱装置2がフッ化カルシウム単結晶6を
加熱する機構としては、一般には抵抗加熱法が用いられ
る。可能ならばその他にもRFコイルまたは赤外線照射
によるものでも構わない。
【0030】蓋3は、真空容器1上に配置されており、
真空容器1と蓋3との連結部は外気が流入することを防
止するために凹凸構造を採用したり、シール構造を採用
する等の工夫がされている。また、真空容器1の内部を
真空にするために真空排気系と接続するためのバルブを
有し、アニーリング工程中に真空容器1の内部に気体の
Arを循環させるために、入力用及び排気用のバルブを
有する。さらに、蓋3及びこれらのバルブを熱から保護
するため、図示を省略した冷却装置が真空容器1と蓋3
との連結部付近に設けられている。
【0031】アニーリングケース5は、密度の高いカー
ボンからなりアニーリングケース5の外部の空間と内部
の空間とを遮断する機能を有する構造からなる。アニー
リングケース5が高密度カーボンからなるため、アニー
リングケース5の内部と外部との間は通気性が良好でな
く、気体を閉じこめる機能を有する。
【0032】フッ化カルシウム単結晶6は、例えば、垂
直ブリッジマン法等により成長した単結晶を適度な大き
さに切削したものを用いる。これらの方法により成長し
た単結晶には熱応力などの理由からひずみが加わること
により、転位が多く存在するためである。
【0033】支持部材4は、真空容器1内部にフッ化カ
ルシウム単結晶6を複数配置するためのものである。後
述するように、フッ化物結晶7から脱離したフッ素がフ
ッ化カルシウム単結晶6の表面に到達しやすい構造から
なることが必要であるため、支持部材4はアニーリング
ケース5と異なり密度が小さく、通気性の良好な物質か
らなる。また、図1に示すように複数の支持部材4を積
み重ねることができるように、各支持部材4は互いに連
結可能な構造を有する。
【0034】フッ化物結晶7は、フッ化カルシウム単結
晶6からのフッ素原子の脱離を抑制するために配置され
ている。実施の形態1では、アニーリングする際の温度
よりも低い温度で融解し、フッ素が脱離を起こしやすい
フッ化鉛(PbF2)を用いている。なお、フッ化物結
晶7はあくまでアニーリングの際にフッ素を発生できれ
ばよいため、フッ化物結晶7としてフッ化カルシウム等
のフッ化物結晶を用いることも可能であり、さらに単結
晶であっても、多結晶であっても、さらには紛状体であ
っても構わない。
【0035】次に、実施の形態1に係るアニーリング装
置を用いて行うアニーリングの方法について、図1を適
宜参照しながら説明する。まず、真空容器1から蓋3を
分離し、フッ化カルシウム単結晶6、支持部材4及びフ
ッ化物結晶7を真空容器1の内部に配置する。そして、
フッ化カルシウム単結晶6、支持部材4及びフッ化物結
晶7をすべて内部に含むようにアニーリングケース5を
かぶせる。
【0036】そして、蓋3を閉じて真空容器1と蓋3と
を密着させ、外気から真空容器1の内部を完全に遮断す
る。その後、蓋3に設けられたバルブの内、真空排気系
に接続されたバルブを開き、図示を省略した真空排気系
を作動して真空容器1内部の排気を行う。ここで、アニ
ーリングケース5は通気性の良好でない高密度カーボン
からなるため、アニーリングケース5内部の気体も十分
に排出できるように、通常よりも長い時間をかけ、真空
容器1の内部の気圧が10-1Pa程度になるまで排気を
行う。
【0037】その後、真空排気系に接続されたバルブを
閉め、Arを導入する。まず、Arを導入するためのバ
ルブを開き真空容器1の内部の気圧を1気圧程度にまで
上昇させる。真空容器1の内部の気圧が1気圧まで上昇
したら、Arを排気するためのバルブを開け、その後は
気圧を一定の値に維持したまま真空容器1の内部にAr
を循環させる。
【0038】そして、加熱装置2を用いて、フッ化カル
シウム単結晶6を加熱し、フッ化カルシウム単結晶6の
温度を1100度にまで上昇させる。フッ化カルシウム
の融点は1370〜1410度程度であるため、本工程
ではフッ化カルシウム単結晶6は融解せず、固体の状態
を維持している。その一方で、フッ化カルシウム単結晶
6を構成する各原子は十分な熱エネルギーを与えられる
ため、各原子はそれぞれ適切な位置に移動し、フッ化カ
ルシウム単結晶6の内部に存在した転位は解消してい
く。
【0039】また、実施の形態1においてフッ化物結晶
7にはフッ化鉛を用いており、フッ化鉛の融点は800
度程度であるためフッ化物結晶7は融解している。その
ため、フッ化物結晶7からはフッ素が多量に気化され
る。従って、フッ化カルシウム単結晶6の周囲にはフッ
素が多量に存在し、フッ化カルシウム単結晶6からのフ
ッ素原子の脱離は抑制され、空孔の発生が抑えられる。
【0040】その後、加熱装置2を制御することによ
り、フッ化カルシウム単結晶6の温度を徐々に低下させ
ていく。急激に温度を低下させると新たに転位が発生す
るため、1時間あたり1度程度の速度でフッ化カルシウ
ム単結晶6の温度を下降させる。
【0041】そして、フッ化カルシウム単結晶6の温度
が室温程度にまで下がったらArの循環を停止し、蓋3
を開けてフッ化カルシウム単結晶6を取り出す。以上
で、アニーリングは終了する。
【0042】第1の実施の形態に係るアニーリング装置
を用いてアニーリングを行うことで以下の効果が生ず
る。まず、加熱装置2によってフッ化カルシウム単結晶
6を加熱した際、真空容器1も高温となるため、真空容
器1の内部表面から真空容器1の材料であるステンレス
を構成するクロム原子の一部が真空容器1内部の空間に
飛散する。しかし、実施の形態1に係るアニーリング装
置においては、フッ化カルシウム単結晶6はアニーリン
グケース5に覆われた構造を有するためクロム原子はフ
ッ化カルシウム単結晶6にまで到達することはできず、
アニーリングケース5の外表面に吸着する。従って、フ
ッ化カルシウム単結晶6の表面にクロム原子が付着する
ことを防止することができる。
【0043】また、アニーリング工程中を通じて真空容
器1の内部にはバルブを通してArが循環しているた
め、従来のアニーリング装置ではフッ化物結晶7から発
生したフッ素もArとともに外部へ排出されてしまう。
しかし、実施の形態1に係るアニーリング装置はフッ化
カルシウム単結晶6及びフッ化物結晶7をアニーリング
ケース5が覆う構造を有するため、フッ化カルシウム単
結晶6及びフッ化物結晶7を含むアニーリングケース5
内部の空間は真空容器1中におけるアニーリングケース
5の外部の空間と遮断される。従って、フッ化物結晶7
から気化したフッ素はアニーリングケース5の内部の空
間にとどまり、外部へは少ししか放出されない。従っ
て、フッ化物結晶7の量を従来と比較して少なくしても
十分フッ化カルシウム単結晶6における空孔の発生を抑
制することが可能である。
【0044】また、真空容器1の内部にArを循環させ
るか否かに関わらず、フッ化物結晶7の量を少なくする
効果を有する。すなわち、実施の形態1に係るアニーリ
ング装置でアニーリングを行った場合、真空容器1の内
部全体に渡って一定の濃度のフッ素を供給する必要がな
く、アニーリングケース5の内部の空間で一定の濃度の
フッ素を供給できればフッ化カルシウム単結晶6からの
フッ素原子の脱離を抑制することが可能なためである。
【0045】さらに、アニーリングケース5を設けるこ
とでフッ化カルシウム単結晶6からのフッ素原子の脱離
を従来よりも抑制することが可能である。アニーリング
ケース5内部の空間の体積は真空容器1の容積よりも小
さいため、フッ化物結晶7からフッ素の供給が開始され
てから短い時間でアニーリングケース5内部の空間にお
けるフッ素の濃度が上昇する。従って、アニーリング工
程において、早い段階からフッ化カルシウム単結晶6か
らのフッ素原子の脱離を抑制でき、その分だけ空孔の発
生を防止することができる。
【0046】なお、実施の形態1に係るアニーリング装
置について、アニーリングケース5は、フッ化カルシウ
ム単結晶6などを上から覆う構造とするのではなく、底
を有し、側面若しくは上面に開閉可能な扉を有してフッ
化カルシウム単結晶6などを収納できる構造としても構
わない。この場合、あらかじめアニーリングケース5の
内部にフッ化カルシウム単結晶6、支持部材4、フッ化
物結晶7を収納しておくことが可能で、フッ化カルシウ
ム単結晶6等を真空容器1の内部に収納する際の手間を
省くことができる。
【0047】また、フッ化物結晶7を配置する位置は、
アニーリングケース5の内部であればよく、必ずしも図
1で示すように支持部材4の上に配置する必要はない。
フッ化カルシウム単結晶6及び支持部材4の配置につい
ても同様で、アニーリングケース5の内部に配置されて
いれば良く、図1で示すように鉛直方向に積層した配置
に限定されない。
【0048】また、アニーリングケース5について、実
施の形態1においては密度が高く、通気性の良好でない
材料からなるとしているが、必ずしもこれに限定され
ず、例えば、完全に通気性を有さない物質から構成する
ことも可能である。ただし、真空容器1内部を排気する
工程において、アニーリングケース5の内部も排気する
必要があるため、例えば真空容器1の外部から開閉を制
御できるふた等を備える必要がある。
【0049】さらに、フッ化カルシウム単結晶6につい
て、垂直ブリッジマン法により製造された単結晶に限ら
ず、チョクラルスキー法(CZ法)や、浮遊ゾーン法
(FZ法)などにより製造されたものでも良い。また、
フッ化カルシウム以外に、フッ化マグネシウム(MgF
2)等の光学材料の他、半導体単結晶についても実施の
形態1に係るアニーリング装置によってアニーリングを
行うことが可能である。
【0050】また、いわゆるバルク結晶のみならず、薄
膜単結晶についても実施の形態1に係るアニーリング装
置を用いてアニーリングを行うことが可能である。例え
ば、転位を解消するためのアニーリングのみならず、半
導体薄膜構造体において不純物をイオン注入した後に、
不純物を活性化するために行うアニーリングにおいて
も、実施の形態1にかかるアニーリング装置を用いるこ
とが有用である。例えば、GaAs単結晶に不純物をイ
オン注入した後にアニーリングを行う場合に、フッ化カ
ルシウム6の代わりにGaAs単結晶をアニーリングケ
ース5の内部に配置し、フッ化物結晶7の代わりにAs
の脱離を抑制するためのAs結晶を配置してアニーリン
グを行えば、GaAs単結晶を構成するAs原子の脱離
を抑えつつ、不純物原子をドーパントとして活性化する
ことが可能である。
【0051】実施の形態2.次に、実施の形態2に係る
アニーリング装置について、図2を用いて説明する。な
お、図2において図1と同一または類似する部分につい
ては同一の符号を付し、その説明を省略する。
【0052】実施の形態2に係るアニーリング装置は、
真空容器1と、真空容器1の周囲に配置された加熱装置
2と、真空容器1の上部に配置された蓋3を備える。ま
た、真空容器1の内部には、複数のアニーリングケース
8が配置されている。さらに、それぞれのアニーリング
ケース8の内部には、フッ化カルシウム単結晶6と、フ
ッ化物結晶9が配置されている。
【0053】アニーリングケース8は、上面及び側周壁
のみを有し、底部を有さない構造を有し、内部に含むフ
ッ化カルシウム単結晶6及びフッ化物結晶9を覆うこと
により、外部と遮断する機能を有する構造からなる。従
って、アニーリングケース8の大きさは、フッ化カルシ
ウム単結晶6及び必要な量のフッ化物結晶9を収納する
ことができれば十分であり、フッ化物結晶9が供給する
フッ素の量との関係からは、アニーリングケース8によ
って覆われる体積は小さいほどよい。
【0054】また、アニーリングケース8は、アニーリ
ング工程時の高温に耐えられ、かつ、通気性が良好でな
い性質を有する必要があり、そのため、アニーリングケ
ース8は高密度カーボンを材料とする。さらに、アニー
リングケース8は、互いが縦方向に積層可能な構造とな
っており、一方の上面の周辺部と、他方の側周壁の下端
部との間の連結部は、境目より気体が出入りすることを
防止するために凹凸構造を採用したり、シール構造を採
用するなどの工夫が施されている。アニーリングを縦に
積層する場合、一方と他方との間はネジにより締結さ
れ、ネジをはずすことにより互いを分離することが可能
である。縦に積層する場合には個々のアニーリングケー
スは下面及び側周壁のみを有し、上部を有さない構造を
有し一方の側周壁の上端部と他方の下面の周辺部とが連
結され、最上段のケースは蓋によって密閉される構造で
も良い。
【0055】実施の形態2に係るアニーリング装置がア
ニーリングケース8を有し、アニーリングケース8の内
部にフッ化カルシウム単結晶6及びフッ化物結晶9が配
置される構造をとることで、以下の利点が生ずる。
【0056】まず、アニーリングケース8は通気性の良
好でない高密度カーボンからなるため、実施の形態1の
場合と同様に真空容器1内部表面から飛散するクロム原
子がフッ化カルシウム単結晶6に付着することを防止す
ることができる。また、フッ化物結晶9から気化するフ
ッ素がアニーリングケース8の内部に効果的に閉じこめ
られることも実施の形態1に係るアニーリング装置と同
様である。
【0057】また、図2に示す通り、フッ化カルシウム
単結晶6とアニーリングケース8は直接接触する構造と
なるため、フッ化カルシウム単結晶6内部における温度
差を緩和することが可能である。従って、加熱装置2に
よりフッ化カルシウム単結晶6を1100度まで加熱し
た後、室温まで温度を下げる工程において、より均一に
温度を変化させることが可能となり、再度の転位の発生
をより効果的に抑制することができる。
【0058】さらに、実施の形態2におけるアニーリン
グケース8は、個々のフッ化カルシウム単結晶6を覆
い、フッ化カルシウム単結晶6に対応した形状からなる
ため、アニーリングケース8内部においてフッ素を気化
させる空間領域が小さくてすむ。そのため、加熱装置2
によってフッ化カルシウム単結晶6が加熱される際に、
フッ化物結晶9から生じたフッ素がアニーリングケース
8内部の空間領域において、より短時間で所定の濃度に
達し、フッ化カルシウム単結晶6からのフッ素原子の脱
離をより効果的に抑制することが可能である。
【0059】
【発明の効果】以上説明したように、請求項1に記載の
発明によれば、アニーリング装置において単結晶が真空
容器内部表面から遮蔽された状態でアニーリングを行う
構成としたため、真空容器の内部表面から飛散するクロ
ム原子から単結晶を保護することができ、単結晶に空孔
が発生することを効果的に抑制することができるという
効果を奏する。
【0060】また、請求項2に記載の発明によれば、ア
ニーリングケース内部に複数の支持部材を設ける構成と
したため、複数の単結晶を一度にアニーリングすること
ができるという効果を奏する。
【0061】また、請求項3に記載の発明によれば、ア
ニーリングケースが支持部材としての機能も有する構成
としたため、真空容器内において多数の単結晶を一度に
アニーリングを行うことができるという効果を奏する。
【0062】また、請求項4に記載の発明によれば、請
求項1〜3のいずれかに記載の発明において、アニーリ
ング装置が使用時においてフッ化カルシウム単結晶につ
いてアニーリングを行うことができ、転位及び空孔の生
じない、高品質なフッ化カルシウム単結晶を得ることが
できるという効果を奏する。
【0063】また、請求項5に記載の発明によれば、請
求項4に記載の発明において、フッ化カルシウム単結晶
からのフッ素原子の脱離を防止するための化合物として
フッ化鉛を使用する構成からなる。フッ化鉛はアニーリ
ングの際に効果的にフッ素を発生するため、フッ化カル
シウム単結晶における空孔の発生をより効果的に抑制で
きるという効果を奏する。
【0064】また、請求項6に記載の発明によれば、単
結晶の製造において、アニーリングを行う際に単結晶並
びに化合物をアニーリングケースにより覆うため、真空
容器内部表面から飛散するクロム原子の付着及び単結晶
における空孔の発生を抑制できるという効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
【図1】実施の形態1に係るアニーリング装置の構造を
示す模式図である。
【図2】実施の形態2に係るアニーリング装置の構造を
示す模式図である。
【図3】従来技術に係るアニーリング装置の構造を示す
模式図である。
【符号の説明】
1、31 真空容器 2、32 加熱装置 3、36 蓋 4、33 支持部材 5、8 アニーリングケース 6、34 フッ化カルシウム単結晶 7、9 フッ化物結晶
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 清水 和人 群馬県館林市野辺町810番地の5 日本結 晶光学株式会社内 (72)発明者 山下 定雄 群馬県館林市野辺町810番地の5 日本結 晶光学株式会社内 Fターム(参考) 4G077 AA02 BE02 FE06 4K061 AA01 BA02 CA08 FA12

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 単結晶を収納する真空容器と、該真空容
    器の周囲に配置された加熱装置と、前記真空容器内部を
    真空化する排気系とを備え、真空容器内部に前記単結晶
    から脱離する元素を構成元素に有する化合物を配置し
    て、前記単結晶に対して熱処理を行うアニーリング装置
    において、 前記単結晶及び前記結晶が収蔵されて、密閉された空間
    を画成するアニーリングケースを前記真空容器の内部に
    備えることを特徴とするアニーリング装置。
  2. 【請求項2】 互いに離接可能な構造を有し、内部に前
    記単結晶を包含する2以上の支持部材が、前記アニーリ
    ングケース内部において積層されていることを特徴とす
    る請求項1に記載のアニーリング装置。
  3. 【請求項3】 それぞれ前記単結晶及び前記結晶を包含
    する2以上の前記アニーリングケースが、互いに離接可
    能な構造を有し、前記真空容器の内部において積層され
    ていることを特徴とする請求項1に記載のアニーリング
    装置。
  4. 【請求項4】 前記単結晶がフッ化カルシウム単結晶で
    あり、前記化合物がフッ化化合物であることを特徴とす
    る請求項1〜3のいずれかに記載のアニーリング装置。
  5. 【請求項5】 前記化合物がフッ化鉛であることを特徴
    とする請求項4に記載のアニーリング装置。
  6. 【請求項6】 単結晶を成長させる工程と、得られた単
    結晶及び該単結晶から脱離する元素を構成元素に含む化
    合物を真空容器内に配置して熱処理を行う工程とを含む
    単結晶の製造方法において、 アニーリングケースにより前記単結晶及び前記化合物を
    覆うことで前記真空容器から遮蔽した状態で、前記熱処
    理を行うことを特徴とする単結晶の製造方法。
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