JP2003045660A - Elパネル - Google Patents
ElパネルInfo
- Publication number
- JP2003045660A JP2003045660A JP2001228272A JP2001228272A JP2003045660A JP 2003045660 A JP2003045660 A JP 2003045660A JP 2001228272 A JP2001228272 A JP 2001228272A JP 2001228272 A JP2001228272 A JP 2001228272A JP 2003045660 A JP2003045660 A JP 2003045660A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- thin film
- alkaline earth
- phosphor thin
- phosphor
- green
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 239000010409 thin film Substances 0.000 claims abstract description 135
- OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N Phosphorus Chemical compound [P] OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 93
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 44
- UCKMPCXJQFINFW-UHFFFAOYSA-N Sulphide Chemical compound [S-2] UCKMPCXJQFINFW-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 22
- 239000000203 mixture Substances 0.000 claims description 18
- 239000011575 calcium Substances 0.000 claims description 16
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 claims description 14
- 229910052791 calcium Inorganic materials 0.000 claims description 13
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 12
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 claims description 12
- 229910052749 magnesium Inorganic materials 0.000 claims description 10
- 229910052712 strontium Inorganic materials 0.000 claims description 10
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 claims description 8
- 229910052788 barium Inorganic materials 0.000 claims description 8
- 229910052717 sulfur Inorganic materials 0.000 claims description 8
- NINIDFKCEFEMDL-UHFFFAOYSA-N Sulfur Chemical compound [S] NINIDFKCEFEMDL-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 7
- 229910052733 gallium Inorganic materials 0.000 claims description 7
- 239000011593 sulfur Substances 0.000 claims description 7
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 claims description 6
- XTQHKBHJIVJGKJ-UHFFFAOYSA-N sulfur monoxide Chemical compound S=O XTQHKBHJIVJGKJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 6
- 229910052761 rare earth metal Inorganic materials 0.000 claims description 5
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 claims description 4
- 150000004763 sulfides Chemical class 0.000 claims description 4
- DSAJWYNOEDNPEQ-UHFFFAOYSA-N barium atom Chemical group [Ba] DSAJWYNOEDNPEQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- JGIATAMCQXIDNZ-UHFFFAOYSA-N calcium sulfide Chemical group [Ca]=S JGIATAMCQXIDNZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- FZBINJZWWDBGGB-UHFFFAOYSA-L strontium 3,4,5-trihydroxythiobenzate Chemical group [Sr++].Oc1cc(cc(O)c1O)C([O-])=S.Oc1cc(cc(O)c1O)C([O-])=S FZBINJZWWDBGGB-UHFFFAOYSA-L 0.000 claims description 3
- -1 B is Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 56
- 239000010408 film Substances 0.000 description 54
- 238000000034 method Methods 0.000 description 30
- 230000008020 evaporation Effects 0.000 description 23
- 238000001704 evaporation Methods 0.000 description 23
- 229910052984 zinc sulfide Inorganic materials 0.000 description 20
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 14
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 12
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 11
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 11
- 229910018072 Al 2 O 3 Inorganic materials 0.000 description 9
- 238000010894 electron beam technology Methods 0.000 description 9
- 230000004044 response Effects 0.000 description 7
- LTPBRCUWZOMYOC-UHFFFAOYSA-N Beryllium oxide Chemical compound O=[Be] LTPBRCUWZOMYOC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 239000003086 colorant Substances 0.000 description 6
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 6
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 6
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 238000000137 annealing Methods 0.000 description 5
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 5
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 5
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 5
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 5
- 239000000843 powder Substances 0.000 description 5
- 238000002441 X-ray diffraction Methods 0.000 description 4
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 4
- 239000002019 doping agent Substances 0.000 description 4
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 4
- 229910052738 indium Inorganic materials 0.000 description 4
- 238000007639 printing Methods 0.000 description 4
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 4
- KDLHZDBZIXYQEI-UHFFFAOYSA-N Palladium Chemical compound [Pd] KDLHZDBZIXYQEI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910052581 Si3N4 Inorganic materials 0.000 description 3
- 229910004298 SiO 2 Inorganic materials 0.000 description 3
- PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N aluminium oxide Inorganic materials [O-2].[O-2].[O-2].[Al+3].[Al+3] PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910052796 boron Inorganic materials 0.000 description 3
- 238000010304 firing Methods 0.000 description 3
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 3
- 238000002156 mixing Methods 0.000 description 3
- 239000002994 raw material Substances 0.000 description 3
- HBMJWWWQQXIZIP-UHFFFAOYSA-N silicon carbide Chemical compound [Si+]#[C-] HBMJWWWQQXIZIP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910010271 silicon carbide Inorganic materials 0.000 description 3
- HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N silicon nitride Chemical compound N12[Si]34N5[Si]62N3[Si]51N64 HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 238000003980 solgel method Methods 0.000 description 3
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 3
- 229910015999 BaAl Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910052684 Cerium Inorganic materials 0.000 description 2
- XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N Iron Chemical compound [Fe] XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N Nickel Chemical compound [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N Titanium Chemical compound [Ti] RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- MCMNRKCIXSYSNV-UHFFFAOYSA-N Zirconium dioxide Chemical compound O=[Zr]=O MCMNRKCIXSYSNV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 150000004645 aluminates Chemical class 0.000 description 2
- 229910052787 antimony Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910052785 arsenic Inorganic materials 0.000 description 2
- JRPBQTZRNDNNOP-UHFFFAOYSA-N barium titanate Chemical compound [Ba+2].[Ba+2].[O-][Ti]([O-])([O-])[O-] JRPBQTZRNDNNOP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910002113 barium titanate Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000004888 barrier function Effects 0.000 description 2
- 229910052790 beryllium Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000008859 change Effects 0.000 description 2
- 238000005229 chemical vapour deposition Methods 0.000 description 2
- 239000002131 composite material Substances 0.000 description 2
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 2
- NKZSPGSOXYXWQA-UHFFFAOYSA-N dioxido(oxo)titanium;lead(2+) Chemical compound [Pb+2].[O-][Ti]([O-])=O NKZSPGSOXYXWQA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 230000005684 electric field Effects 0.000 description 2
- 230000007613 environmental effect Effects 0.000 description 2
- 229910052698 phosphorus Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000000704 physical effect Effects 0.000 description 2
- BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N platinum Chemical compound [Pt] BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052705 radium Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 2
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N silicon dioxide Inorganic materials O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N tantalum atom Chemical compound [Ta] GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000010936 titanium Substances 0.000 description 2
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000011701 zinc Substances 0.000 description 2
- PIGFYZPCRLYGLF-UHFFFAOYSA-N Aluminum nitride Chemical compound [Al]#N PIGFYZPCRLYGLF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N Chromium Chemical compound [Cr] VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- RWSOTUBLDIXVET-UHFFFAOYSA-N Dihydrogen sulfide Chemical compound S RWSOTUBLDIXVET-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- KRHYYFGTRYWZRS-UHFFFAOYSA-M Fluoride anion Chemical compound [F-] KRHYYFGTRYWZRS-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- 229910005191 Ga 2 O 3 Inorganic materials 0.000 description 1
- KJTLSVCANCCWHF-UHFFFAOYSA-N Ruthenium Chemical compound [Ru] KJTLSVCANCCWHF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 101150051106 SWEET11 gene Proteins 0.000 description 1
- 229910052772 Samarium Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910006404 SnO 2 Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910003668 SrAl Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052771 Terbium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000005083 Zinc sulfide Substances 0.000 description 1
- 239000000654 additive Substances 0.000 description 1
- 230000000996 additive effect Effects 0.000 description 1
- 229910000287 alkaline earth metal oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910021417 amorphous silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011230 binding agent Substances 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 1
- 229910052804 chromium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011651 chromium Substances 0.000 description 1
- 239000000470 constituent Substances 0.000 description 1
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 1
- PMHQVHHXPFUNSP-UHFFFAOYSA-M copper(1+);methylsulfanylmethane;bromide Chemical compound Br[Cu].CSC PMHQVHHXPFUNSP-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 1
- 238000005090 crystal field Methods 0.000 description 1
- 238000002425 crystallisation Methods 0.000 description 1
- 230000008025 crystallization Effects 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 1
- 239000003989 dielectric material Substances 0.000 description 1
- KZHJGOXRZJKJNY-UHFFFAOYSA-N dioxosilane;oxo(oxoalumanyloxy)alumane Chemical compound O=[Si]=O.O=[Si]=O.O=[Al]O[Al]=O.O=[Al]O[Al]=O.O=[Al]O[Al]=O KZHJGOXRZJKJNY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000001194 electroluminescence spectrum Methods 0.000 description 1
- 229910052839 forsterite Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910000037 hydrogen sulfide Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910001026 inconel Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000002347 injection Methods 0.000 description 1
- 239000007924 injection Substances 0.000 description 1
- 229910052741 iridium Inorganic materials 0.000 description 1
- GKOZUEZYRPOHIO-UHFFFAOYSA-N iridium atom Chemical compound [Ir] GKOZUEZYRPOHIO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052742 iron Inorganic materials 0.000 description 1
- HCWCAKKEBCNQJP-UHFFFAOYSA-N magnesium orthosilicate Chemical compound [Mg+2].[Mg+2].[O-][Si]([O-])([O-])[O-] HCWCAKKEBCNQJP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000001755 magnetron sputter deposition Methods 0.000 description 1
- 230000008018 melting Effects 0.000 description 1
- 238000002844 melting Methods 0.000 description 1
- 239000007769 metal material Substances 0.000 description 1
- 229910021421 monocrystalline silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052863 mullite Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 description 1
- SIWVEOZUMHYXCS-UHFFFAOYSA-N oxo(oxoyttriooxy)yttrium Chemical compound O=[Y]O[Y]=O SIWVEOZUMHYXCS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- BPUBBGLMJRNUCC-UHFFFAOYSA-N oxygen(2-);tantalum(5+) Chemical compound [O-2].[O-2].[O-2].[O-2].[O-2].[Ta+5].[Ta+5] BPUBBGLMJRNUCC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052763 palladium Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052697 platinum Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910021420 polycrystalline silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010453 quartz Substances 0.000 description 1
- 230000009257 reactivity Effects 0.000 description 1
- 230000004043 responsiveness Effects 0.000 description 1
- 229910052702 rhenium Inorganic materials 0.000 description 1
- WUAPFZMCVAUBPE-UHFFFAOYSA-N rhenium atom Chemical compound [Re] WUAPFZMCVAUBPE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052703 rhodium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010948 rhodium Substances 0.000 description 1
- MHOVAHRLVXNVSD-UHFFFAOYSA-N rhodium atom Chemical compound [Rh] MHOVAHRLVXNVSD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052707 ruthenium Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000007650 screen-printing Methods 0.000 description 1
- 238000007789 sealing Methods 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 150000003376 silicon Chemical class 0.000 description 1
- 229910052814 silicon oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 1
- 229910001220 stainless steel Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010935 stainless steel Substances 0.000 description 1
- VEALVRVVWBQVSL-UHFFFAOYSA-N strontium titanate Chemical compound [Sr+2].[O-][Ti]([O-])=O VEALVRVVWBQVSL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052715 tantalum Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 1
- 229910052725 zinc Inorganic materials 0.000 description 1
- DRDVZXDWVBGGMH-UHFFFAOYSA-N zinc;sulfide Chemical compound [S-2].[Zn+2] DRDVZXDWVBGGMH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Classifications
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C09—DYES; PAINTS; POLISHES; NATURAL RESINS; ADHESIVES; COMPOSITIONS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; APPLICATIONS OF MATERIALS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- C09K—MATERIALS FOR MISCELLANEOUS APPLICATIONS, NOT PROVIDED FOR ELSEWHERE
- C09K11/00—Luminescent, e.g. electroluminescent, chemiluminescent materials
- C09K11/08—Luminescent, e.g. electroluminescent, chemiluminescent materials containing inorganic luminescent materials
- C09K11/77—Luminescent, e.g. electroluminescent, chemiluminescent materials containing inorganic luminescent materials containing rare earth metals
- C09K11/7728—Luminescent, e.g. electroluminescent, chemiluminescent materials containing inorganic luminescent materials containing rare earth metals containing europium
- C09K11/7734—Aluminates
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C09—DYES; PAINTS; POLISHES; NATURAL RESINS; ADHESIVES; COMPOSITIONS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; APPLICATIONS OF MATERIALS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- C09K—MATERIALS FOR MISCELLANEOUS APPLICATIONS, NOT PROVIDED FOR ELSEWHERE
- C09K11/00—Luminescent, e.g. electroluminescent, chemiluminescent materials
- C09K11/08—Luminescent, e.g. electroluminescent, chemiluminescent materials containing inorganic luminescent materials
- C09K11/77—Luminescent, e.g. electroluminescent, chemiluminescent materials containing inorganic luminescent materials containing rare earth metals
- C09K11/7728—Luminescent, e.g. electroluminescent, chemiluminescent materials containing inorganic luminescent materials containing rare earth metals containing europium
- C09K11/7729—Chalcogenides
- C09K11/7731—Chalcogenides with alkaline earth metals
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05B—ELECTRIC HEATING; ELECTRIC LIGHT SOURCES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; CIRCUIT ARRANGEMENTS FOR ELECTRIC LIGHT SOURCES, IN GENERAL
- H05B33/00—Electroluminescent light sources
- H05B33/12—Light sources with substantially two-dimensional radiating surfaces
- H05B33/14—Light sources with substantially two-dimensional radiating surfaces characterised by the chemical or physical composition or the arrangement of the electroluminescent material, or by the simultaneous addition of the electroluminescent material in or onto the light source
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05B—ELECTRIC HEATING; ELECTRIC LIGHT SOURCES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; CIRCUIT ARRANGEMENTS FOR ELECTRIC LIGHT SOURCES, IN GENERAL
- H05B33/00—Electroluminescent light sources
- H05B33/12—Light sources with substantially two-dimensional radiating surfaces
- H05B33/18—Light sources with substantially two-dimensional radiating surfaces characterised by the nature or concentration of the activator
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Inorganic Chemistry (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Materials Engineering (AREA)
- Organic Chemistry (AREA)
- Electroluminescent Light Sources (AREA)
- Luminescent Compositions (AREA)
Abstract
純度の良好な、特にフルカラーEL用のRGBの駆動に
適した蛍光体薄膜を有するELパネルを提供する。 【解決手段】 赤色、緑色、青色を発光する3種類のE
L蛍光体薄膜を有し、この3種類のEL蛍光体薄膜共
に、発光中心として少なくともEu元素を必ず含有する
構成のELパネルとした。
Description
関し、特にRGB3色を有するフルカラーパネルの発光
層を有するELパネルに関する。
パネルディスプレイとして、薄膜EL素子が盛んに研究
されている。黄橙色発光のマンガン添加硫化亜鉛からな
る蛍光体薄膜を用いたモノクロ薄膜ELディスプレイは
図2に示すような薄膜の絶縁層2,4を用いた2重絶縁
型構造で既に実用化されている。図2において、基板1
上には所定パターンの下部電極5が形成されていて、こ
の下部電極5が形成されている基板1上に第1の絶縁層
2が形成されている。また、この第1の絶縁層2上に
は、発光層3、第2の絶縁層4が順次形成されるととも
に、第2の絶縁層4上に前記下部電極5とマトリクス回
路を構成するように上部電極6が所定パターンで形成さ
れている。
TV用、その他表示用に対応するためにはカラー化が必
要不可欠である。硫化物蛍光体薄膜を用いた薄膜ELデ
ィスプレイは、信頼性、耐環境性に優れているが、現在
のところ、赤色、緑色、青色の3原色に発光するEL用
蛍光体の特性が十分でないため、カラー用には不適当と
されている。青色発光蛍光体は、母体材料としてSr
S、発光中心としてCeを用いたSrS:CeやZn
S:Tm、赤色発光蛍光体としてはZnS:Sm、Ca
S:Eu、緑色発光蛍光体としてはZnS:Tb、Ca
S:Ceなどが候補であり研究が続けられている。
する蛍光体薄膜は発光輝度、効率、色純度に問題があ
り、現在、カラーELパネルの実用化には至っていな
い。特に、青色は、SrS:Ceを用いて、比較的高輝
度が得られてはいるが、フルカラーディスプレー用の青
色としては、輝度が不足し、色度も緑側にシフトしてい
るため、さらによい青色発光層の開発が望まれている。
122364号公報、特開平8−134440号公報、
信学技報EID98−113、19−24ページ、およ
びJpn.J.Appl.Phys.Vol.38、(1999) pp. L1291-1292に
述べられているように、SrGa2S4 :Ce、CaG
a2S4 :Ceや、BaAl2S4 :Eu等のチオガレー
トまたはチオアルミネート系の青色蛍光体が開発されて
いる。これら、チオガレート系蛍光体では、色純度の点
では問題ないが、輝度が低く、特に多元組成であるた
め、組成の均一な薄膜を得難い。組成制御性の悪さによ
る結晶性の悪さ、イオウ抜けによる欠陥の発生、不純物
の混入などによって、高品質の薄膜が得られず、そのた
め輝度が上がらないと考えられている。特に、チオアル
ミネートは組成制御性に困難を極める。
青、緑、赤用の蛍光体を、安定に、低コストで実現する
蛍光体材料が必要であるが、上記したように蛍光体薄膜
の母体材料や発光中心材料の化学的あるいは物理的な性
質が、個々の材料により異なっているために、蛍光体薄
膜の種類によって、発光の特性が異なる。特に発光中心
が異なると発光の応答速度、発光残光などが異なり、
青、緑、赤それぞれのピクセルをドライブするために
は、それぞれの色に合わせた点灯方法が必要になる。
薄膜のELスペクトルは、すべてブロードであり、フル
カラーELパネルに用いる場合には、パネルとして必要
な、RGBをフィルタを用いて、EL蛍光体薄膜のEL
スペクトルから切り出さなければならない。フィルター
を用いると製造工程が複雑になるばかりか、最も問題な
のは、輝度の低下である。フィルターを用いてRGBを
取り出すと、青、緑、赤、のEL蛍光体薄膜の輝度は、
10〜50%のロスがでるため、輝度が低下し、実用に
ならない。
ルタを用いなくとも色純度の良好でかつ高輝度に発光す
る赤、緑、青の蛍光体薄膜材料および、同一の発光中心
で発光の応答速度、発光残光などを一致させ、青、緑、
赤それぞれのピクセルをドライブするに当たり、それぞ
れの色に合わせた点灯方法を必要とせず、同一のドライ
ブ方式を用いることが可能なELパネルが求められてい
た。
Bの蛍光体フィルタを必要としない、色純度の良好な、
特にフルカラーEL用のRGBの駆動に適した蛍光体薄
膜を有するELパネルを提供することである。
〜(8)のいずれかの本発明の構成により達成される。 (1) 赤色、緑色、青色を発光する3種類のEL蛍光
体薄膜を有し、この3種類のEL蛍光体薄膜共に、発光
中心として少なくともEu元素を必ず含有するELパネ
ル。 (2) 前記3種類のEL蛍光体薄膜は、下記組成式で
表される上記(1)のELパネル。 AxByOzSw :R [但し、AはMg、Ca、Sr、Baおよび希土類元素
から選ばれた少なくとも一つの元素、Bは、Al、Ga
およびInから選ばれた少なくとも一つの元素を表し、
x=0〜5、y=0〜15、z=0〜30、w=0〜3
0である。Rは発光中心となる元素を表し、Euを必ず
含む。] (3) 赤色を発光するEL蛍光体薄膜の母体材料がア
ルカリ土類硫化物であり、緑色を発光するEL蛍光体薄
膜の母体材料がアルカリ土類チオガレードであり、青色
を発光するEL蛍光体薄膜の母体材料がアルカリ土類チ
オアルミネートである上記(1)または(2)のELパ
ネル。 (4) 前記アルカリ土類硫化物が硫化カルシウムであ
る上記(1)〜(3)のいずれかのELパネル。 (5) 前記アルカリ土類チオガレードがストロンチウ
ムチオガレードである上記(1)〜(4)のいずれかの
ELパネル。 (6) 前記アルカリ土類チオアルミネートがバリウム
チオアルミネートである上記(1)〜(5)のいずれか
のELパネル。 (7) 前記、赤色、緑色または青色を発光するEL蛍
光体薄膜がアルカリ土類硫化物、アルカリ土類チオアル
ミネート、アルカリ土類チオガレード、およびアルカリ
土類チオインデートから選ばれた少なくとも一つの化合
物に酸素が含有されたオキシ硫化物であって、前記オキ
シ硫化物中の酸素元素とイオウ元素とのモル比率を、O
/(S+O)と表したときに、 O/(S+O)=0.01〜0.85 である上記(1)〜(6)のいずれかのELパネル。 (8) 前記、赤色、緑色または青色を発光するいずれ
かのEL蛍光体薄膜が酸化物である上記(1)または
(2)のELパネル。
細に説明する。
を発光する3種類のEL蛍光体薄膜を有しており、この
3種類のEL蛍光体薄膜中に添加された発光中心となる
元素として3種類共に少なくともEu元素を必ず含有す
るものである。
蛍光体薄膜は、アルカリ土類硫化物、アルカリ土類酸化
物、アルカリ土類チオアルミネート、アルカリ土類アル
ミネート、アルカリ土類チオガレード、アルカリ土類ガ
レード、アルカリ土類インデート、アルカリ土類チオイ
ンデートのいずれかの母体材料に、発光中心として少な
くともEuを添加したものである。
なくとも色純度の良好でかつ高輝度に発光する赤、緑、
青の蛍光体薄膜材料および、Euを同一の発光中心と
し、発光の応答速度、発光残光などを一致させているた
めに、青、緑、赤それぞれのピクセルをドライブするに
当たり、それぞれの色に合わせた点灯方法を必要とせ
ず、同一のドライブ方式を用いることが可能なELパネル
とすることができる。
なくとも600〜700nmの波長帯域のうちに発光極大
波長を有するものを赤色、少なくとも500〜600nm
の波長帯域のうちに発光極大波長を有するものを緑色、
少なくとも400〜500nmの波長帯域のうちに発光極
大波長を有するものを青色の発光とする。
アルミネート、アルカリ土類アルミネート、アルカリ土
類チオガレード、アルカリ土類ガレード、アルカリ土類
インデート、アルカリ土類チオインデートなどは、アル
カリ土類をA、Al、GaまたはInをB、イオウまた
は酸素をCとすると、A5B2C8 、A4B2C7 、A2B2
C5 、AB2C4 、AB4C7 、A4B14C25 、AB8C
13 、AB12C19 などがあり、基本材料としてはこれら
の単体または2種以上を混合してもよいし、明確な結晶
構造を有しない非晶質状態となってもよい。
Sr,BaおよびRaのいずれかであるが、これらのな
かでもMg,Ca,SrおよびBaが好ましく、特にB
aおよびSrが好ましい。
る元素はAl、GaまたはInであり、これらの元素の
組み合わせは任意である。
し、 組成式 AxByOzSw :R [但し、AはMg、Ca、Sr、Baおよび希土類元素
から選ばれた少なくとも一つの元素、BはAl、Gaお
よびInから選ばれた少なくとも一つの元素を表す。R
は発光中心となる元素を表し、Euを必ず含む。]で表
されるものが好ましい。
ぞれ元素A,B,O,Sのモル比を表す。
体材料に、母体材料のイオウに対する原子比で、O/
(S+O)と表したとき、0.01〜0.85,特に
0.05〜0.5の範囲内で添加することが好ましい。
すなわち、上式では、z/(z+w)の値が0.01〜
0.85、好ましくは0.05〜0.5、より好ましく
は0.1〜0.4、特に0.2〜0.3であることが好
ましい。
F)、X線光電子分析(XPS)等により確認すること
ができる。
に高める効果がある。発光素子は発光時間の経過と共に
輝度が劣化する寿命が存在する。酸素を添加することに
より、寿命特性を向上させ、輝度劣化を防止することが
できる。硫化物に酸素が添加されると、この母体材料の
成膜時または、成膜後のアニール等の後処理時に結晶化
が促進され、添加された希土類が化合物結晶場内で有効
な遷移を有し、高輝度で安定な発光が得られるものと考
えられる。また、母材自体も純粋な硫化物に比べ、空気
中で安定になる。これは、膜中の硫化物成分を安定な酸
化物成分が大気から保護するためと考えられる。
であってもよい。酸化物は、発光寿命、耐環境性に優れ
る。
から選ばれた少なくとも一つの元素、BはAl、Gaお
よびInから選ばれた少なくとも一つの元素を表す。R
は発光中心となる元素を表し、Euを必ず含む。]で表
されるものが好ましい。
元素A,B,Oのモル比を表す。
に、青用の蛍光体薄膜は、BaxAlyOzSw :Euで
あることが好ましい。
かでは、CaxAlyOz :Euが特に好ましい。
であることが特に好ましい。
かでは、SrxAlyOz :Euが特に好ましい。
アルカリ土類インデートを母体材料とし、さらに発光中
心としてEuを添加したもの、またはアルカリ土類硫化
物を母体材料とし、さらに発光中心としてEuを添加し
たものが好ましい。また、Ga2O3 のように、w=0
の酸化物も好ましい。
Sr,BaおよびRaのいずれかであるが、これらのな
かでもMg,Ca,SrおよびBaが好ましく、特に硫
化物の場合、すなわちz=0の時は、Caが好ましい。
またCaとSr、CaとMgなど二種類以上を用いても
よい。また特に酸化物の場合、すなわちw=0の場合、
Mgが好ましい。
るものではないが、厚すぎると駆動電圧が上昇し、薄す
ぎると発光効率が低下する。具体的には、蛍光材料にも
よるが、好ましくは100〜2000nm、特に150〜
700nm程度である。
量は、アルカリ土類原子に対して0.1〜10原子%添
加することが好ましい。CaSに関しては、0.1〜
0.5原子%、好ましくは0.2〜0.4原子%が最も好
ましい。本発明では、発光中心として添加される元素は
Euを必ず含むものであるが、Eu単独の他、二種類以
上の元素を添加してもよい。たとえば、Euを発光中心
とした場合、さらにCuやCeなどの添加により、応答
性、発光輝度を向上が可能になる。
は、50nm〜300nm、好ましくは150nm〜250
nmが良い。厚すぎると駆動電圧が上昇し、特に応答性が
悪く数秒から数十秒にもなってしまう。薄すぎると逆に
発光効率が低下する。特にこの範囲にすることにより応
答性、発光効率共にに優れたEL素子が得られる。
ZnS薄膜/蛍光体薄膜/ZnS薄膜の構造であることが
好ましい。蛍光体薄膜が薄い範囲で、ZnS薄膜でサン
ドイッチすることにより、蛍光体薄膜の電荷の注入特
性、耐電圧特性が向上し、高輝度に発光するEL素子と
なる。特に蛍光体薄膜として、CaS:Euを用いた時
には、効果が著しく、高輝度で応答性の高い赤色EL薄膜
を得ることができる。ZnS薄膜の膜厚は、30nm〜4
00nm、好ましくは、100nm〜300nmが良い。
nS薄膜/蛍光体薄膜/ZnS薄膜、ZnS薄膜/蛍光
体薄膜/ZnS薄膜/蛍光体薄膜/ZnS薄膜、また
は、ZnS薄膜/蛍光体薄膜/ZnS薄膜/ ・・繰り
返し・・/蛍光体薄膜/ZnS薄膜のように多層にして
もよい。
ば、以下の蒸着法によることが好ましい。
化物を作製し、真空槽内でこの蒸発源をEB蒸着させ、
これを単独か、同時にチオアルミネート、チオガレー
ド、チオインデートを抵抗加熱蒸着することにより、E
u添加アルカリ土類硫化物、アルカリ土類チオガレー
ド、アルカリ土類チオアルミネート、アルカリ土類チオ
インデート等を形成する。これらの組成は、各々の源の
パワーを調整する。このとき、蒸着中にH2Sガスを導
入してもよい。
または硫化物の形で原料に添加する。添加量は、原料と
形成される薄膜で異なるので、適当な添加量となるよう
に原料の組成を調整する。
ましくは、300℃〜500℃とすればよい。基板温度
が高すぎると、母体材料の薄膜表面の凹凸が激しくな
り、薄膜中にピンホールが発生し、EL素子に電流リー
クの問題が発生してくる。また、薄膜が褐色に色づいた
りもする。このため、上述の温度範囲が好ましい。ま
た、成膜後にアニール処理を行うことが好ましい。アニ
ール温度は、好ましくは600℃〜1000℃、特に6
00℃〜800℃である。
薄膜であることが好ましい。結晶性の評価は、例えばX
線回折により行うことができる。結晶性を上げるために
は、できるだけ基板温度を高温にする。また、薄膜形成
後の真空中、N2 中、Ar中、大気中、S蒸気中、H2
S中等でのアニールも効果的である。
のではないが、厚すぎると駆動電圧が上昇し、薄すぎる
と発光効率が低下する。具体的には、蛍光材料にもよる
が、好ましくは100〜2000nm、特に150〜70
0nm程度である。
-4 〜1.33×10-1 Pa(1×10-6 〜1×10-3
Torr)である。またH2Sなどのガスを導入する際、圧
力を調整して6.65×10-3 〜6.65×10-2 Pa
(5×10-5 〜5×10-4Torr)とするとよい。圧力
がこれより高くなると、Eガンの動作が不安定となり、
組成制御が極めて困難になってくる。ガスの導入量とし
ては、真空系の能力にもよるが5〜200SCCM、特に1
0〜30SCCMが好ましい。
たは回転させてもよい。基板を移動、回転させることに
より、膜組成が均一となり、膜厚分布のバラツキが少な
くなる。
ては、好ましくは10回/min 以上、より好ましくは1
0〜50回/min 、特に10〜30回/min 程度であ
る。基板の回転数が速すぎると、真空チャンバーへの導
入時にシール性などの問題が発生しやすくなる。また、
遅すぎると槽内の膜厚方向に組成ムラが生じ、作製した
発光層の特性が低下してくる。基板を回転させる回転手
段としては、モータ、油圧回転機構等の動力源と、ギ
ア、ベルト、プーリー等を組み合わせた動力伝達機構・
減速機構等を用いた公知の回転機構により構成すること
ができる。
熱容量、反応性等を備えたものであればよく、例えばタ
ンタル線ヒータ、シースヒータ、カーボンヒータ等が挙
げられる。加熱手段による加熱温度は、好ましくは10
0〜1400℃程度、温度制御の精度は、1000℃で
±1℃、好ましくは±0.5℃程度である。
成例の一つを図1に示す。ここでは、Euを添加したア
ルカリ土類硫化物と、チオアルミネート、チオガレー
ド、チオインデートのいずれかを蒸発源とし、H2Sを
導入しつつ、Eu添加アルカリ土類硫化物、アルカリ土
類チオガレード、アルカリ土類チオアルミネート、アル
カリ土類チオインデート等を作製する方法を例にとる。
図において、真空層11内には、発光層が形成される基
板12と、抵抗加熱蒸発源であるK−セル14,EB蒸
発源15が配置されている。
加熱蒸発源(K−セル)14には、発光中心の添加され
たアルカリ土類硫化物14aが収納されている。このK
−セル14は、図示しない加熱手段により加熱され、所
望の蒸発速度で金属材料を蒸発させるようになってい
る。
チオインデートのいずれかの蒸発手段となるEB(エレ
クトロンビーム)蒸発源15は、チオアルミネート、チ
オガレード、チオインデートのいずれか15aが納めら
れる”るつぼ”50と、電子放出用のフィラメント51
aを内蔵した電子銃51とを有する。電子銃51内に
は、ビームをコントロールする機構が内蔵されている。
この電子銃51には、交流電源52およびバイアス電源
53が接続されている。電子銃51からは電子ビームが
コントロールされ、あらかじめ設定したパワーで、チオ
アルミネート、チオガレード、チオインデートのいずれ
か15aを所定の蒸発速度で蒸発させることができる。
図においては、K−セルとEガンで蒸発源を制御してい
るが、一つのEガンで多元同時蒸着を行うことも可能で
ある。その場合の蒸着方法は、多元パルス蒸着法といわ
れる。
に各蒸発源14,15の配置が基板に対して偏在してい
るようにもみえるが、実際には組成および膜厚が均一と
なるような位置に配置される。
この排気ポートからの排気により、真空槽11内を所定
の真空度にできるようになっている。また、この真空槽
11は、硫化水素などのガスを導入する原料ガス導入ポ
ート11bを有している。
れ、この基板ホルダー12aの固定軸12bは図示しな
い回転軸固定手段により、真空槽11内の真空度を維持
しつつ、外部から回転自在に固定されている。そして、
図示しない回転手段により、必要に応じて所定の回転数
で回転可能なようになっている。また、基板ホルダー1
2aには、ヒーター線などにより構成される加熱手段1
3が密着・固定されていて、基板を所望の温度に加熱、
保持できるようになっている。
B蒸発源15から蒸発させたアルカリ土類硫化物蒸気
と、チオアルミネート、チオガレード、チオインデート
のいずれかの蒸気とを基板12上に堆積結合させ、Eu
添加アルカリ土類硫化物、アルカリ土類チオガレード、
アルカリ土類チオアルミネート、アルカリ土類チオイン
デート等の蛍光層が形成される。そのとき、必要により
基板12を回転させることにより、堆積される発光層の
組成と膜厚分布をより均一なものとすることができる。
EL素子を得るには、例えば、図2に示すような構造と
すればよい。
素子の構造を示す一部断面斜視図である。図2におい
て、基板1上には所定パターンの下部電極5が形成され
ていて、この下部電極5上に厚膜の第1の絶縁層(厚膜
誘電体層)2が形成されている。また、この第1の絶縁
層2上には、発光層3、第2の絶縁層(薄膜誘電体層)
4が順次形成されるとともに、第2の絶縁層4上に前記
下部電極5とマトリクス回路を構成するように上部電極
6が所定パターンで形成されている。マトリックス電極
の交点では、赤、緑、青の蛍光体薄膜が塗り分けられて
いる。
絶縁層4のそれぞれの間には、密着を上げるための層、
応力を緩和するための層、反応を防止するバリア層、な
ど中間層を設けてもよい。また厚膜表面は研磨したり、
平坦化層を用いるなどして平坦性を向上させてもよい。
にバリア層としてBaTiO3 薄膜層を設けることが好
ましい。
およびEL蛍光層の形成温度、EL素子のアニール温度
に耐えうる耐熱温度ないし融点が600℃以上、好まし
くは700℃以上、特に800℃以上の基板を用い、そ
の上に形成される発光層等の機能性薄膜によりEL素子
が形成でき、所定の強度を維持できるものであれば特に
限定されるものではない。具体的には、ガラス基板やア
ルミナ(Al2O3 )、フォルステライト(2MgO・
SiO2 )、ステアタイト(MgO・SiO2)、ムラ
イト(3Al2O3 ・2SiO2 )、ベリリア(Be
O)、窒化アルミニウム(AlN)、窒化シリコン(S
iN)、炭化シリコン(SiC+BeO)等のセラミッ
ク基板、結晶化ガラスなど耐熱性ガラス基板を挙げるこ
とができる。これらのなかでも特にアルミナ基板、結晶
化ガラスが好ましく、熱伝導性が必要な場合にはベリリ
ア、窒化アルミニウム、炭化シリコン等が好ましい。
ウエハー等、チタン、ステンレス、インコネル、鉄系な
どの金属基板を用いることもできる。金属等の導電性基
板を用いる場合には、基板上に内部に電極を有した厚膜
を形成した構造が好ましい。
は、公知の誘電体厚膜材料を用いることができる。さら
に比較的誘電率の大きな材料が好ましい。
ン酸バリウム系等の材料を用いることができる。
cm以上、特に1010 〜1018 Ω・cm程度である。また
比較的高い誘電率を有する物質であることが好ましく、
その誘電率εとしては、好ましくはε=100〜100
00程度である。膜厚としては、5〜50μm が好まし
く、10〜30μm が特に好ましい。
ず、10〜50μm 厚の膜が比較的容易に得られる方法
が良いが、ゾルゲル法、印刷焼成法などが好ましい。
適当に揃え、バインダーと混合し、適当な粘度のペース
トとする。このペーストを基板上にスクリーン印刷法に
より形成し、乾燥させる。このグリーンシートを適当な
温度で焼成し、厚膜を得る。
しては、例えば酸化シリコン(SiO2 )、窒化シリコ
ン(SiN)、酸化タンタル(Ta2O5 )、チタン酸
ストロンチウム(SrTiO3 )、酸化イットリウム
(Y2O3 )、チタン酸バリウム(BaTiO3 )、チ
タン酸鉛(PbTiO3 )、PZT、ジルコニア(Zr
O2 )、シリコンオキシナイトライド(SiON)、ア
ルミナ(Al2O3 )、ニオブ酸鉛、PMN−PT系材
料等およびこれらの多層または混合薄膜を挙げることが
でき、これらの材料で絶縁層を形成する方法としては、
蒸着法、スパッタ法、CVD法、ゾルゲル法、印刷焼成
法など既存の方法を用いればよい。この場合の絶縁層の
膜厚としては、好ましくは50〜1000nm、特に10
0〜500nm程度である。
たは第1の誘電体内に形成される。厚膜形成時、さらに
発光層と共に熱処理の高温下にさらされる電極層は、主
成分としてパラジウム、ロジウム、イリジウム、レニウ
ム、ルテニウム、白金、タンタル、ニッケル、クロム、
チタン等の1種または2種以上の通常用いられている金
属電極を用いればよい。
常、発光を基板と反対側から取り出すため、所定の発光
波長域で透光性を有する透明な電極が好ましい。透明電
極は、基板および絶縁層が透光性を有するものであれ
ば、発光光を基板側から取り出すことが可能なため下部
電極に用いてもよい。この場合、ZnO、ITOなどの
透明電極を用いることが特に好ましい。ITOは、通常
In2O3 とSnOとを化学量論組成で含有するが、O
量は多少これから偏倚していてもよい。In2O3に対す
るSnO2 の混合比は、1〜20質量%、さらには5〜
12質量%が好ましい。また、IZOでのIn2O3 に
対するZnOの混合比は、通常、12〜32質量%程度
である。
良い。このシリコン電極層は、多結晶シリコン(p−S
i)であっても、アモルファス(a−Si)であっても
よく、必要により単結晶シリコンであってもよい。
を確保するため不純物をドーピングする。不純物として
用いられるドーパントは、所定の導電性を確保しうるも
のであればよく、シリコン半導体に用いられている通常
のドーパントを用いることができる。具体的には、B、
P、As、Sb、Al等が挙げられ、これらのなかで
も、特にB、P、As、SbおよびAlが好ましい。ド
ーパントの濃度としては0.001〜5at%程度が好ま
しい。
ては、蒸着法、スパッタ法、CVD法、ゾルゲル法、印
刷焼成法など既存の方法を用いればよいが、特に、基板
上に内部に電極を有した厚膜を形成した構造を作製する
場合、誘電体厚膜と同じ方法が好ましい。
に効率よく電界を付与するため、1Ω・cm以下、特に
0.003〜0.1Ω・cmである。電極層の膜厚として
は、形成する材料にもよるが、好ましくは50〜200
0nm、特に100〜1000nm程度である。
たが、本発明のELパネルを用いると、他の形態の素
子、主にディスプレイ用のフルカラーパネル、マルチカ
ラーパネル、部分的に3色を表示するパーシャリーカラ
ーパネルに応用することができる。
をさらに詳細に説明する。
た。基板、厚膜絶縁層とも同じ材料であるBaTiO3
系の誘電体材料誘電率5000のものを用い、下部電極
としてPd電極を用いた。作製は、基板のシートを作製
し、この上に下部電極、厚膜絶縁層をスクリーン印刷し
てグリーンシートとし、同時に焼成した。表面は、研磨
し、30μm 厚の厚膜第一絶縁層付き基板を得た。さら
に、この上にバッファ層としてBaTiO3 膜をスパッ
タリングにより400nm形成し、700℃の空気中でア
ニールし、複合基板とした。
発光させるため、赤、緑、青の3種類の蛍光体薄膜を、
Al2O3 膜、50nm/ZnS膜、200nm/蛍光体薄
膜(発光層)、300nm/ZnS膜、200nm/Al2
O3 膜、50nmの構造体として作製した。
め、あらかじめマスクパターンを各色で準備し、それぞ
れをマスク蒸着により、部分的に形成した。
色はCaS系、緑色はSrGs2S4系、青色はBaAl
2S4 系の蛍光体薄膜を用いた。発光中心には、いずれ
もEuを用いた。
のような操作により薄膜を形成した。成膜には図1に示
すような装置を用いた。ここでは、Eガン1台のみを用
いた。
れたEB源15をH2Sガスを導入した真空槽11内に
設け、源より蒸発させ、400℃に加熱し、回転させた
基板上に薄膜を成膜した。蒸発源の蒸発速度は、基板上
に成膜される膜の成膜速度で1 nm/sec になるように
調節した。このときH2Sガスを20SCCM導入し、蛍光
体薄膜を得た。得られた薄膜は、Al2O3 膜、50nm
/ZnS膜、200nm/蛍光体薄膜、300nm/ZnS
膜、200nm/Al2O3 膜、50nmの構造にしてか
ら、750℃の空気中で10分間アニールした。
を形成した。得られた蛍光体薄膜について、CaS:E
u薄膜を蛍光X線分析により組成分析した結果、原子比
でCa:S:Eu=24.07:25.00:0.15
であった。
のような操作により薄膜を形成した。成膜には図1に示
すような装置を用いた。ここでは、Eガン1台と、抵抗
加熱蒸発源(セル源)1台を用いた。
EB源15、Ga2S3 粉を入れた抵抗加熱源14をH2
Sガスを導入した真空槽11内に設け、それぞれの源よ
り同時に蒸発させ、400℃に加熱し、回転させた基板
上に薄膜を成膜した。各々の蒸発源の蒸発速度は、基板
上に成膜される膜の成膜速度で1 nm/sec になるよう
に調節した。このときH2Sガスを20SCCM導入し、薄
膜を得た。得られた薄膜は、Al2O3 膜、50nm/Z
nS膜、200nm/蛍光体薄膜、300nm/ZnS膜、
200nm/Al2O3 膜、50nmの構造にしてから、7
50℃の空気中で10分間アニールした。
を形成した。得られた蛍光体薄膜について、SrxGay
OzSw :Eu薄膜を蛍光X線分析により組成分析した
結果、原子比でSr:Ga:O:S:Eu=6.02:
19.00:11.63:48.99:0.34であっ
た。
のような操作により薄膜を形成した。成膜には図1に示
すような装置を用いた。ここでは、Eガン1台と、抵抗
加熱蒸発源(セル源)1台を用いた。
EB源15、Al2S3 粉を入れた抵EB源14をH2S
ガスを導入した真空槽11内に設け、それぞれの源より
同時に蒸発させ、400℃に加熱し、回転させた基板上
に薄膜を成膜した。各々の蒸発源の蒸発速度は、基板上
に成膜される膜の成膜速度で1 nm/sec になるように
調節した。このときH2Sガスを20SCCM導入し、薄膜
を得た。得られた薄膜は、Al2O3 膜、50nm/Zn
S膜、200nm/蛍光体薄膜、300nm/ZnS膜、2
00nm/Al2O3 膜、50nmの構造にしてから、75
0℃の空気中で10分間アニールした。
を形成した。得られた蛍光体薄膜について、BaxAly
OzSw :Eu薄膜を蛍光X線分析により組成分析した
結果、原子比でBa:Al:O:S:Eu=8.91:
18.93:9.33:28.05:0.35であっ
た。
ターゲットを用いRFマグネトロンスパッタリング法に
より、基板温度250℃で、膜厚200nmのITO透明
電極を形成した後、パターニングしてマトリックス構造
のEL素子を完成した。
の電極間に240Hz、パルス幅50μSの電界を7種の
電圧で印加することにより各色を8ビット階調を付け
た。ELパネルは平均で100cd/m2 で512色を応
答性良く発光することができた。
て、SrxGayOzSw :Eu薄膜に代えてSrAl2O
4 :Euを用いたところ、ほぼ同様な結果が得られた。
ルタを用いなくとも色純度の良好でかつ高輝度に発光す
る赤、緑、青の蛍光体薄膜材料、また、化学的あるいは
物理的な性質が類似した、蛍光体母体材料、特に発光中
心材料として3色全てEu元素を用いることにより、フ
ルカラーELパネルのドライブ法を簡略化し、輝度のバ
ラツキ少なく、歩留まりを上げ、回路などを含めたパネ
ル製造コストを低減することを可能とすることができ、
実用的価値が大きい。
蛍光体フィルタを必要としない、色純度の良好な、特に
フルカラーEL用のRGBの駆動に適した蛍光体薄膜を
有するELパネルを提供することができる。
の製造装置の構成例を示す概略断面図である。
素子の構成例を示す一部断面図である。
3)
〜(8)のいずれかの本発明の構成により達成される。 (1) 赤色、緑色、青色を発光する3種類のEL蛍光
体薄膜を有し、この3種類のEL蛍光体薄膜共に、発光
中心として少なくともEu元素を必ず含有するELパネ
ル。 (2) 前記3種類のEL蛍光体薄膜は、下記組成式で
表される上記(1)のELパネル。 AxByOzSw :R [但し、AはMg、Ca、Sr、Baおよびアルカリ土
類元素から選ばれた少なくとも一つの元素、Bは、A
l、GaおよびInから選ばれた少なくとも一つの元素
を表し、x=0〜5、y=0〜15、z=0〜30、w
=0〜30である。Rは発光中心となる元素を表し、E
uを必ず含む。] (3) 赤色を発光するEL蛍光体薄膜の母体材料がア
ルカリ土類硫化物であり、緑色を発光するEL蛍光体薄
膜の母体材料がアルカリ土類チオガレードであり、青色
を発光するEL蛍光体薄膜の母体材料がアルカリ土類チ
オアルミネートである上記(1)または(2)のELパ
ネル。 (4) 前記アルカリ土類硫化物が硫化カルシウムであ
る上記(1)〜(3)のいずれかのELパネル。 (5) 前記アルカリ土類チオガレードがストロンチウ
ムチオガレードである上記(1)〜(4)のいずれかの
ELパネル。 (6) 前記アルカリ土類チオアルミネートがバリウム
チオアルミネートである上記(1)〜(5)のいずれか
のELパネル。 (7) 前記、赤色、緑色または青色を発光するEL蛍
光体薄膜がアルカリ土類硫化物、アルカリ土類チオアル
ミネート、アルカリ土類チオガレード、およびアルカリ
土類チオインデートから選ばれた少なくとも一つの化合
物に酸素が含有されたオキシ硫化物であって、前記オキ
シ硫化物中の酸素元素とイオウ元素とのモル比率を、O
/(S+O)と表したときに、 O/(S+O)=0.01〜0.85 である上記(1)〜(6)のいずれかのELパネル。 (8) 前記、赤色、緑色または青色を発光するいずれ
かのEL蛍光体薄膜が酸化物である上記(1)または
(2)のELパネル。
Claims (8)
- 【請求項1】 赤色、緑色、青色を発光する3種類のE
L蛍光体薄膜を有し、 この3種類のEL蛍光体薄膜共に、発光中心として少な
くともEu元素を必ず含有するELパネル。 - 【請求項2】 前記3種類のEL蛍光体薄膜は、下記組
成式で表される請求項1のELパネル。 AxByOzSw :R [但し、AはMg、Ca、Sr、Baおよび希土類元素
から選ばれた少なくとも一つの元素、Bは、Al、Ga
およびInから選ばれた少なくとも一つの元素を表し、
x=0〜5、y=0〜15、z=0〜30、w=0〜3
0である。Rは発光中心となる元素を表し、Euを必ず
含む。] - 【請求項3】 赤色を発光するEL蛍光体薄膜の母体材
料がアルカリ土類硫化物であり、 緑色を発光するEL蛍光体薄膜の母体材料がアルカリ土
類チオガレードであり、 青色を発光するEL蛍光体薄膜の母体材料がアルカリ土
類チオアルミネートである請求項1または2のELパネ
ル。 - 【請求項4】 前記アルカリ土類硫化物が硫化カルシウ
ムである請求項1〜3のいずれかのELパネル。 - 【請求項5】 前記アルカリ土類チオガレードがストロ
ンチウムチオガレードである請求項1〜4のいずれかの
ELパネル。 - 【請求項6】 前記アルカリ土類チオアルミネートがバ
リウムチオアルミネートである請求項1〜5のいずれか
のELパネル。 - 【請求項7】 前記、赤色、緑色または青色を発光する
EL蛍光体薄膜がアルカリ土類硫化物、アルカリ土類チ
オアルミネート、アルカリ土類チオガレード、およびア
ルカリ土類チオインデートから選ばれた少なくとも一つ
の化合物に酸素が含有されたオキシ硫化物であって、前
記オキシ硫化物中の酸素元素とイオウ元素とのモル比率
を、O/(S+O)と表したときに、 O/(S+O)=0.01〜0.85 である請求項1〜6のいずれかのELパネル。 - 【請求項8】 前記、赤色、緑色または青色を発光する
いずれかのEL蛍光体薄膜が酸化物である請求項1また
は2のELパネル。
Priority Applications (7)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001228272A JP3704068B2 (ja) | 2001-07-27 | 2001-07-27 | Elパネル |
KR10-2001-0059029A KR100445328B1 (ko) | 2001-07-27 | 2001-09-24 | El패널 |
CNB011393211A CN1211455C (zh) | 2001-07-27 | 2001-09-30 | El板 |
EP01308427A EP1279718A3 (en) | 2001-07-27 | 2001-10-02 | EL panel |
TW090124429A TWI236861B (en) | 2001-07-27 | 2001-10-03 | Electroluminescence panel |
CA002358295A CA2358295C (en) | 2001-07-27 | 2001-10-04 | El panel |
US09/970,669 US6597108B2 (en) | 2001-07-27 | 2001-10-05 | Multi-color el panel comprising phosphor thin films with europium as luminescent center |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001228272A JP3704068B2 (ja) | 2001-07-27 | 2001-07-27 | Elパネル |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2003045660A true JP2003045660A (ja) | 2003-02-14 |
JP3704068B2 JP3704068B2 (ja) | 2005-10-05 |
Family
ID=19060809
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2001228272A Expired - Fee Related JP3704068B2 (ja) | 2001-07-27 | 2001-07-27 | Elパネル |
Country Status (7)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6597108B2 (ja) |
EP (1) | EP1279718A3 (ja) |
JP (1) | JP3704068B2 (ja) |
KR (1) | KR100445328B1 (ja) |
CN (1) | CN1211455C (ja) |
CA (1) | CA2358295C (ja) |
TW (1) | TWI236861B (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2004077887A1 (ja) * | 2003-02-28 | 2004-09-10 | The Westaim Corporation | El機能膜及びel素子 |
Families Citing this family (25)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4252665B2 (ja) * | 1999-04-08 | 2009-04-08 | アイファイヤー アイピー コーポレイション | El素子 |
US6761835B2 (en) * | 2000-07-07 | 2004-07-13 | Tdk Corporation | Phosphor multilayer and EL panel |
DE10044425C2 (de) * | 2000-09-08 | 2003-01-09 | Siemens Ag | Verfahren zur Herstellung einer Leuchstoffschicht |
US7005198B2 (en) * | 2001-04-19 | 2006-02-28 | The Westaim Corporation | Phosphor thin film, preparation method, and EL panel |
US6821647B2 (en) * | 2001-04-19 | 2004-11-23 | Tdk Corporation | Phosphor thin film preparation method, and EL panel |
JP2003055651A (ja) * | 2001-08-10 | 2003-02-26 | Tdk Corp | 蛍光体薄膜およびelパネル |
US6781304B2 (en) * | 2002-01-21 | 2004-08-24 | Tdk Corporation | EL panel |
JP2003301171A (ja) * | 2002-02-06 | 2003-10-21 | Tdk Corp | 蛍光体薄膜、その製造方法およびelパネル |
CA2482833A1 (en) | 2002-04-17 | 2003-10-30 | James Alexander Robert Stiles | Oxygen substituted barium thioaluminate phosphor materials |
KR20050053653A (ko) * | 2002-09-12 | 2005-06-08 | 이화이어 테크놀로지 코포레이션 | 전계발광 디스플레이용 실리콘 옥시니트리드 패시베이트희토류 활성 티오알루미네이트 인광물질 |
CA2509417A1 (en) * | 2002-12-20 | 2004-07-08 | Ifire Technology Corp. | Aluminum nitride passivated phosphors for electroluminescent displays |
TW200420740A (en) * | 2003-01-30 | 2004-10-16 | Ifire Technology Inc | Controlled sulfur species deposition process |
US7622149B2 (en) * | 2004-03-04 | 2009-11-24 | Ifire Ip Corporation | Reactive metal sources and deposition method for thioaluminate phosphors |
JP2007112950A (ja) * | 2005-10-24 | 2007-05-10 | Canon Inc | 蛍光体材料及びこれを用いた発光部材、画像表示装置 |
JP4777077B2 (ja) * | 2006-01-20 | 2011-09-21 | 富士フイルム株式会社 | 機能素子 |
EP1821579A3 (en) * | 2006-02-17 | 2008-04-02 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Light emitting element, light emitting device, and electronic appliance |
US20070194321A1 (en) * | 2006-02-17 | 2007-08-23 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Light emitting element, light emitting device, and electronic device |
KR20080110747A (ko) | 2006-03-21 | 2008-12-19 | 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 | 발광소자, 표시장치 및 전자기기 |
TWI589023B (zh) * | 2016-06-27 | 2017-06-21 | 國立暨南國際大學 | 半導體裝置用基材及使用其之半導體裝置 |
US10017396B1 (en) | 2017-04-28 | 2018-07-10 | Eie Materials, Inc. | Phosphors with narrow green emission |
US10056530B1 (en) | 2017-07-31 | 2018-08-21 | Eie Materials, Inc. | Phosphor-converted white light emitting diodes having narrow-band green phosphors |
US10177287B1 (en) | 2017-09-19 | 2019-01-08 | Eie Materials, Inc. | Gamut broadened displays with narrow band green phosphors |
US10174242B1 (en) | 2018-05-17 | 2019-01-08 | Eie Materials, Inc. | Coated thioaluminate phosphor particles |
US10236422B1 (en) | 2018-05-17 | 2019-03-19 | Eie Materials, Inc. | Phosphors with narrow green emission |
CN116044742B (zh) * | 2023-03-28 | 2023-06-20 | 常州凯鹏液流器材有限公司 | 一种采用油泵系统的散热器及其工作方法 |
Family Cites Families (16)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63224190A (ja) * | 1987-03-12 | 1988-09-19 | 株式会社日立製作所 | El素子 |
EP0649159B1 (en) * | 1991-07-18 | 1999-03-17 | Nippon Hoso Kyokai | DC type gas-discharge display panel |
JP3030958B2 (ja) * | 1991-08-13 | 2000-04-10 | 富士ゼロックス株式会社 | フルカラー薄膜elパネルおよび表示装置 |
JP2840185B2 (ja) * | 1993-10-21 | 1998-12-24 | 松下電器産業株式会社 | 蛍光体薄膜とこれを用いた薄膜elパネル |
JPH08134440A (ja) | 1994-11-14 | 1996-05-28 | Mitsui Mining & Smelting Co Ltd | 薄膜エレクトロルミネッセンス素子 |
JPH08245956A (ja) * | 1995-03-08 | 1996-09-24 | Olympus Optical Co Ltd | 発光材料及びこれを用いた発光素子 |
US5725801A (en) * | 1995-07-05 | 1998-03-10 | Adrian H. Kitai | Doped amorphous and crystalline gallium oxides, alkaline earth gallates and doped zinc germanate phosphors as electroluminescent materials |
US5656888A (en) * | 1995-11-13 | 1997-08-12 | Sun; Sey-Shing | Oxygen-doped thiogallate phosphor |
FR2755122B1 (fr) * | 1996-10-31 | 1998-11-27 | Rhodia Chimie Sa | Compose a base d'un alcalino-terreux, de soufre et d'aluminium, de gallium ou d'indium, son procede de preparation et son utilisation comme luminophore |
WO1998037165A1 (en) * | 1997-02-24 | 1998-08-27 | Superior Micropowders Llc | Oxygen-containing phosphor powders, methods for making phosphor powders and devices incorporating same |
US6255670B1 (en) * | 1998-02-06 | 2001-07-03 | General Electric Company | Phosphors for light generation from light emitting semiconductors |
US6252254B1 (en) * | 1998-02-06 | 2001-06-26 | General Electric Company | Light emitting device with phosphor composition |
JP3322225B2 (ja) * | 1998-03-24 | 2002-09-09 | 松下電器産業株式会社 | 放電ランプおよび照明器具 |
KR100528893B1 (ko) * | 1998-07-02 | 2006-01-27 | 삼성에스디아이 주식회사 | 적색 발광 형광체 및 이를 이용한 전계 방출 표시소자 |
JP3725725B2 (ja) * | 1999-03-30 | 2005-12-14 | 三菱電機株式会社 | プラズマディスプレイパネル |
US6451460B1 (en) * | 2000-09-08 | 2002-09-17 | Planner Systems, Inc. | Thin film electroluminescent device |
-
2001
- 2001-07-27 JP JP2001228272A patent/JP3704068B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2001-09-24 KR KR10-2001-0059029A patent/KR100445328B1/ko not_active IP Right Cessation
- 2001-09-30 CN CNB011393211A patent/CN1211455C/zh not_active Expired - Fee Related
- 2001-10-02 EP EP01308427A patent/EP1279718A3/en not_active Withdrawn
- 2001-10-03 TW TW090124429A patent/TWI236861B/zh not_active IP Right Cessation
- 2001-10-04 CA CA002358295A patent/CA2358295C/en not_active Expired - Fee Related
- 2001-10-05 US US09/970,669 patent/US6597108B2/en not_active Expired - Lifetime
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2004077887A1 (ja) * | 2003-02-28 | 2004-09-10 | The Westaim Corporation | El機能膜及びel素子 |
CN100456903C (zh) * | 2003-02-28 | 2009-01-28 | 伊菲雷知识产权公司 | 电致发光功能膜和电致发光元件 |
US8466615B2 (en) | 2003-02-28 | 2013-06-18 | Ifire Ip Corporation | EL functional film and EL element |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CA2358295A1 (en) | 2003-01-27 |
CN1211455C (zh) | 2005-07-20 |
US6597108B2 (en) | 2003-07-22 |
CA2358295C (en) | 2005-06-14 |
KR20030011201A (ko) | 2003-02-07 |
EP1279718A3 (en) | 2005-08-03 |
EP1279718A2 (en) | 2003-01-29 |
CN1400848A (zh) | 2003-03-05 |
KR100445328B1 (ko) | 2004-08-21 |
JP3704068B2 (ja) | 2005-10-05 |
US20030020396A1 (en) | 2003-01-30 |
TWI236861B (en) | 2005-07-21 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP3704068B2 (ja) | Elパネル | |
JP3704057B2 (ja) | 蛍光体薄膜その製造方法、およびelパネル | |
JP2003238953A (ja) | 蛍光体およびelパネル | |
JP3479273B2 (ja) | 蛍光体薄膜その製造方法およびelパネル | |
JP2004137480A (ja) | 蛍光体薄膜およびその製造方法ならびにelパネル | |
US7011896B2 (en) | Phosphor thin film, preparation method, and EL panel | |
KR100497523B1 (ko) | 형광체박막, 그 제조방법 및 el패널 | |
JP4230363B2 (ja) | 蛍光体薄膜およびその製造方法ならびにelパネル | |
US6761835B2 (en) | Phosphor multilayer and EL panel | |
JP3472236B2 (ja) | 蛍光体薄膜とその製造方法およびelパネル | |
JP2003217859A (ja) | Elパネル | |
JP4230164B2 (ja) | 蛍光体薄膜、その製造方法、およびelパネル | |
US6821647B2 (en) | Phosphor thin film preparation method, and EL panel | |
JP2003055651A (ja) | 蛍光体薄膜およびelパネル | |
JP3501742B2 (ja) | 積層蛍光体およびelパネル | |
JP2003272848A (ja) | 蛍光体薄膜およびelパネルの製造方法 | |
KR100496400B1 (ko) | 형광체박막, 그 제조방법 및 el패널 | |
JP2003301170A (ja) | 蛍光体薄膜、その製造方法、およびelパネル | |
JP2003217860A (ja) | Elパネルおよびその製造方法 | |
JP2002201468A (ja) | 蛍光体薄膜その製造方法、およびelパネル | |
JP2003003161A (ja) | 蛍光体薄膜とその製造方法およびelパネル | |
JP2003201471A (ja) | 蛍光体薄膜およびelパネル |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20040317 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20040323 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20040524 |
|
RD01 | Notification of change of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7421 Effective date: 20040601 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20041109 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20050111 |
|
A711 | Notification of change in applicant |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A711 Effective date: 20050117 |
|
RD03 | Notification of appointment of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7423 Effective date: 20050117 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20050311 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20050520 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20050705 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20050721 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313113 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080729 Year of fee payment: 3 |
|
S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313113 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080729 Year of fee payment: 3 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080729 Year of fee payment: 3 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090729 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090729 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100729 Year of fee payment: 5 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |