JP2003032187A - 光受信装置、光データ信号の波形最適化方法及び光データ信号の波形最適化プログラム - Google Patents

光受信装置、光データ信号の波形最適化方法及び光データ信号の波形最適化プログラム

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JP2003032187A
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 分散値を任意の値に制御できる可変分散等化
器の分散特性を制御することにより、光波形を最適化す
る。 【解決手段】 分散等化器を介して入力した光信号を電
気信号に変換し所定の振幅に増幅されたデータ信号を、
最適位置に制御された識別点で識別するクロックデータ
再生回路で識別再生する光受信装置において、所定の振
幅に増幅されたデータ信号、のアイパターンを制御して
クロックデータ再生回路によって再生されたデータ信号
のエラーが最小となるように分散等化器の分散特性を制
御する。

Description

【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、光受信装置、光デ
ータ信号の波形最適化方法及び光データ信号の波形最適
化プログラムに関し、特に、光データ信号の波形劣化を
最小に抑えるようにした光受信装置、光データ信号の波
形最適化方法及び光データ信号の波形最適化プログラム
に関する。
【０００２】
【従来の技術】昨今の、光アンプやＷＤＭ（波長多重伝
送）を含む光伝送系においては、従来の光伝送系に比べ
て、光受信波形を劣化させる要因が増えてきている。
【０００３】例えば、光受信波形を劣化させる要因とし
ては、光ファイバアンプが発生するＡＳＥ （ａｍｐｌ
ｉｆｉｅｄ ｓｐｏｎｔａｎｅｏｕｓ ｅｍｉｓｓｉｏ
ｎ）に起因する雑音の累積や、光ファイバ内の光信号パ
ワーの増大によりその影響が顕著になった光ファイバの
分散や非線形効果による波形劣化、及び波長多重伝送に
おける隣接チャネルからのクロストーク等が上げられ
る。
【０００４】従来は、クロックデータ再生回路（ＣＤＲ
ｃｌｏｃｋ ａｎｄ ｄａｔａｒｅｃｏｖｅｒｙ ｃ
ｉｒｃｕｉｔ）における識別位置の最適化等、受信装置
側で対応していたが、さらなる受信感度を向上のために
は、これだけでは十分とはいえず、波形の劣化そのもの
を補償する必要がある。
【０００５】光伝送系における送信直後の光受信波形
は、図３５に示すように、光入力データ信号を１又は０に
確実に識別できる領域、アイ開口部が大きいが、600ｋ
ｍ伝送後の光受信波形は、図３６に示すように、アイ開口
部が非常に小さくなる。
【０００６】このような光受信波形の劣化があっても、
光受信装置の識別回路は、最適な識別を行うことが要求
される。光受信波形のアイ開口部は、受光電力によって
異なるので、光受信波形の１又は０を識別する識別位置
の最適値は、受光電力によって異なるものであるが、従
来の光伝送路では、光受信波形の劣化に対して識別位置
の余裕が比較的あり、製品出荷時にメーカにより調整さ
れた値に固定されていても、実用上あまり問題とならな
かった。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】上述のように、波形劣
化要因の一つである光ファイバの分散による波形劣化に
対して、受信感度を向上させるためには、波形の劣化そ
のものを補償する必要がある。
【０００８】また、光アンプやＷＤＭ（波長多重伝送）
を含む光伝送系では、上述のように光受信波形を劣化さ
せる要因が増えたため、従来のように識別位置を固定さ
れた識別回路では、エラーレート特性の曲がり（フロ
ア）が生じ、伝送路品質を確保することが困難となる
（図３７上）。
【０００９】本発明の第１の目的は、このような状況に
鑑み、分散値を任意の値に制御できる可変分散等化器の
分散特性を制御することにより、光波形を最適化するこ
とのできる分散等化機能を有する光受信装置、光データ
信号の波形最適化方法及び光データ信号の波形最適化プ
ログラムを提案することにある。
【００１０】本発明の第２の目的は、光波形を最適化す
ると共に、各受光レベルにおける識別位置を最適に制御
することにより、さらに識別精度のよい識別電圧付与機
能付きクロックデータ再生回路を備える光受信装置を提
案することにある。
【００１１】本発明の第３の目的は、光波形を最適化す
ると共に、アイ開口部の内縁を検出することにより、中
央識別点を最適位置に制御することができる識別電圧付
与機能付きクロックデータ再生回路を備える光受信装置
を提案することにある。
【００１２】本発明の第４の目的は、エラーカウント部
の計測結果をもとに計測時間を調整しているので、計測
精度を上げることができ、また、悪い状態からすばやく
脱出することができる識別電圧付与機能付きクロックデ
ータ再生回路を備える光受信装置を提案することにあ
る。
【００１３】本発明の第５の目的は、計測したエラーの
数に応じて、計測時間を変更するので、いたずらに大規
模なカウンタを用いる必要がない識別電圧付与機能付き
クロックデータ再生回路を備える光受信装置を提案する
ことにある。
【００１４】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成する本発
明は、分散等化器を介して入力した光信号を電気信号に
変換し所定の振幅に増幅されたデータ信号を、最適位置
に制御された識別点で識別するクロックデータ再生回路
で識別再生する光受信装置において、所定の振幅に増幅
されたデータ信号のアイパターンを制御して、前記クロ
ックデータ再生回路によって再生されたデータ信号のエ
ラーが最小となるように前記分散等化器の分散特性を制
御する機能を有することを特徴とする。
【００１５】請求項２の本発明の光受信装置は、前記ク
ロックデータ再生回路からのデータ信号の識別情報に基
づいて、データ信号のアイパターンのアイ開口部を検出
し、当該アイ開口部の大きさに従って、前記データ信号
のエラーが最小となるように前記分散等化器の分散特性
を制御する波形最適化制御部を備えることを特徴とす
る。
【００１６】請求項３の本発明の光受信装置は、前記波
形最適化制御部が、アイパターンの時間軸上の左識別
点、中央識別点及び右識別点の３識別点の間隔を制御し
て前記３識別点が前記アイパターン内に収まるアイ開口
部の大きさを求めるアイ開口部検出部と、求めた前記ア
イ開口部の大きさに応じて、前記分散等化器の分散値を
増減することにより、前記分散値が最適な値となるよう
に制御する演算処理部とを備えることを特徴とする。
【００１７】請求項４の本発明の光受信装置は、前記演
算処理部が、現在と直前のアイ開口部の大きさを比較
し、前記アイ開口部の大きさの増減に応じて、前記分散
等化器の分散値を増減することを特徴とする。
【００１８】請求項５の本発明の光受信装置は、前記演
算処理部が、現在と直前のアイ開口部の大きさを比較
し、前記アイ開口部の大きさが増加している場合、前記
分散等化器の分散値を第１の所定値ずつ増加させ、前記
アイ開口部の大きさが減少している場合、前記分散等化
器の分散値を第２の所定値ずつ減少させる。
【００１９】請求項６の本発明の光受信装置は、前記演
算処理部が、現在と直前のアイ開口部の大きさを比較
し、前記アイ開口部の大きさの増減に応じて、前記分散
等化器の分散値を増減する第１の処理と、前記第１の処
理の分散値の増減を反転させる第２の処理を行なうこと
を特徴とする。
【００２０】請求項７の本発明の光受信装置は、前記演
算処理部が、現在と直前のアイ開口部の大きさを比較
し、前記アイ開口部の大きさが増加している場合、前記
分散等化器の分散値を増加させ、前記アイ開口部の大き
さが減少している場合、前記分散等化器の分散値を減少
させ、前記分散値を増加させる場合に、前記アイ開口部
の大きさの増加に応じて、前記分散値の増加量を段階的
に小さくすることを特徴とする。
【００２１】請求項８の本発明の光受信装置は、前記演
算処理部が、現在と直前のアイ開口部の大きさを比較
し、前記アイ開口部の大きさの増減方向が変化する度
に、前記分散等化器の分散値を所定値ずつ増加させる第
１の処理と、前記分散等化器の分散値を所定値ずつ減少
させる第２の処理とを切り替えて実行することを特徴と
する。
【００２２】請求項９の本発明は、分散等化器を介して
入力した光信号を電気信号に変換し所定の振幅に増幅さ
れたデータ信号を、最適位置に制御された識別点で識別
するクロックデータ再生回路で識別再生する光受信装置
の光データ信号の波形最適化方法において、所定の振幅
に増幅されたデータ信号のアイパターンを制御して、前
記クロックデータ再生回路によって再生されたデータ信
号のエラーが最小となるように前記分散等化器の分散特
性を制御する機能を有することを特徴とする。
【００２３】請求項１０の本発明の光データ信号の波形
最適化方法は、前記クロックデータ再生回路からのデー
タ信号の識別情報に基づいて、データ信号のアイパター
ンのアイ開口部を検出し、当該アイ開口部の大きさに従
って、前記データ信号のエラーが最小となるように前記
分散等化器の分散特性を制御することを特徴とする。
【００２４】請求項１１の本発明の光データ信号の波形
最適化方法は、アイパターンの時間軸上の左識別点、中
央識別点及び右識別点の３識別点の間隔を制御して前記
３識別点が前記アイパターン内に収まるアイ開口部の大
きさを求めるステップと、求めた前記アイ開口部の大き
さに応じて、前記分散等化器の分散値を増減することに
より、前記分散値が最適な値となるように制御するステ
ップとを備えることを特徴とする。
【００２５】請求項１２の本発明の光データ信号の波形
最適化方法は、前記分散値の制御ステップで、現在と直
前のアイ開口部の大きさを比較し、前記アイ開口部の大
きさの増減に応じて、前記分散等化器の分散値を増減す
ることを特徴とする。
【００２６】請求項１３の本発明の光データ信号の波形
最適化方法は、前記分散値の制御ステップで、現在と直
前のアイ開口部の大きさを比較し、前記アイ開口部の大
きさが増加している場合、前記分散等化器の分散値を第
１の所定値ずつ増加させ、前記アイ開口部の大きさが減
少している場合、前記前記前記分散等化器の分散値を第
２の所定値ずつ減少させることを特徴とする。
【００２７】請求項１４の本発明の光データ信号の波形
最適化方法は、前記分散値の制御ステップで、現在と直
前のアイ開口部の大きさを比較し、前記アイ開口部の大
きさの増減に応じて、前記分散等化器の分散値を増減す
る第１の処理と、前記第１の処理の分散値の増減を反転
させる第２の処理を行なうことを特徴とする。
【００２８】請求項１５の本発明の光データ信号の波形
最適化方法は、前記分散値の制御ステップで、現在と直
前のアイ開口部の大きさを比較し、前記アイ開口部の大
きさが増加している場合、前記分散等化器の分散値を増
加させ、前記アイ開口部の大きさが減少している場合、
前記分散等化器の分散値を減少させ、前記分散値を増加
させる場合に、前記アイ開口部の大きさの増加に応じ
て、前記分散値の増加量を段階的に小さくすることを特
徴とする。
【００２９】請求項１６の本発明の光データ信号の波形
最適化方法は、前記分散値の制御ステップで、現在と直
前のアイ開口部の大きさを比較し、前記アイ開口部の大
きさの増減方向が変化する度に、前記分散等化器の分散
値を所定値ずつ増加させる第１の処理と、前記分散等化
器の分散値を所定値ずつ減少させる第２の処理とを切り
替えて実行することを特徴とする。
【００３０】請求項１７の本発明は、分散等化器を介し
て入力した光信号を電気信号に変換し所定の振幅に増幅
されたデータ信号を、最適位置に制御された識別点で識
別するクロックデータ再生回路で識別再生する光受信装
置上で動作し光データ信号の波形最適化プログラムであ
って、所定の振幅に増幅されたデータ信号のアイパター
ンを制御して、前記クロックデータ再生回路によって再
生されたデータ信号のエラーが最小となるように前記分
散等化器の分散特性を制御する機能を有することを特徴
とする。
【００３１】請求項１８の本発明の光データ信号の波形
最適化プログラムは、前記クロックデータ再生回路から
のデータ信号の識別情報に基づいて、データ信号のアイ
パターンのアイ開口部を検出し、当該アイ開口部の大き
さに従って、前記データ信号のエラーが最小となるよう
に前記分散等化器の分散特性を制御することを特徴とす
る。
【００３２】請求項１９の本発明の光データ信号の波形
最適化プログラムは、アイパターンの時間軸上の左識別
点、中央識別点及び右識別点の３識別点の間隔を制御し
て前記３識別点が前記アイパターン内に収まるアイ開口
部の大きさを求めるステップと、求めた前記アイ開口部
の大きさに応じて、前記分散等化器の分散値を増減する
ことにより、前記分散値が最適な値となるように制御す
るステップとを備えることを特徴とする。
【００３３】請求項２０の本発明の光データ信号の波形
最適化プログラムは、前記分散値の制御ステップで、現
在と直前のアイ開口部の大きさを比較し、前記アイ開口
部の大きさの増減に応じて、前記分散等化器の分散値を
増減することを特徴とする。
【００３４】請求項２１の本発明の光データ信号の波形
最適化プログラムは、前記分散値の制御ステップで、現
在と直前のアイ開口部の大きさを比較し、前記アイ開口
部の大きさが増加している場合、前記分散等化器の分散
値を第１の所定値ずつ増加させ、前記アイ開口部の大き
さが減少している場合、前記前記前記分散等化器の分散
値を第２の所定値ずつ減少させることを特徴とする。
【００３５】請求項２２の本発明の光データ信号の波形
最適化プログラムは、前記分散値の制御ステップで、現
在と直前のアイ開口部の大きさを比較し、前記アイ開口
部の大きさの増減に応じて、前記分散等化器の分散値を
増減する第１の処理と、前記第１の処理の分散値の増減
を反転させる第２の処理を行なうことを特徴とする。
【００３６】請求項２３の本発明の光データ信号の波形
最適化プログラムは、前記分散値の制御ステップで、現
在と直前のアイ開口部の大きさを比較し、前記アイ開口
部の大きさが増加している場合、前記分散等化器の分散
値を増加させ、前記アイ開口部の大きさが減少している
場合、前記分散等化器の分散値を減少させ、前記分散値
を増加させる場合に、前記アイ開口部の大きさの増加に
応じて、前記分散値の増加量を段階的に小さくすること
を特徴とする。
【００３７】請求項２４の本発明の光データ信号の波形
最適化プログラムは、前記分散値の制御ステップで、現
在と直前のアイ開口部の大きさを比較し、前記アイ開口
部の大きさの増減方向が変化する度に、前記分散等化器
の分散値を所定値ずつ増加させる第１の処理と、前記分
散等化器の分散値を所定値ずつ減少させる第２の処理と
を切り替えて実行することを特徴とする。
【００３８】請求項２５の本発明の光受信装置は、前記
クロックデータ再生回路が、光入力信号を電気信号に変
換して入力データ信号として出力する光／電気変換回路
と、所定の振幅まで増幅された入力データ信号からクロ
ック成分を抽出し、そのクロックのタイミングで入力デ
ータ信号の１又は０を識別し、識別電圧を付与する機能
が追加された識別電圧付加機能付きクロックデータ再生
回路であって、エラーパルスの計測結果に応じて、３識
別点の幅を制御し、３識別点をその間隔を保ちつつ移動
し、エラーパルス計測時間を変更する処理を選択的に実
行することにより、前記識別点を最適に制御する識別電
圧制御回路を備えることを特徴とする。
【００３９】請求項２６の本発明の光受信装置は、前記
クロックデータ再生回路が、光入力信号を電気信号に変
換して入力データ信号として出力する光／電気変換回路
と、所定の振幅まで増幅された入力データ信号からクロ
ック成分を抽出し、そのクロックのタイミングで入力デ
ータ信号の１又は０を識別し、識別電圧を付与する機能
が追加された識別電圧付加機能付きクロックデータ再生
回路であって、エラーパルスの計測結果に応じて、３識
別点の幅を制御し、エラーパルス計測時間を変更する処
理を選択的に実行して前記識別点を最適に制御する識別
電圧制御回路を備えたことを特徴とする。
【００４０】請求項２７の本発明の光受信装置は、前記
クロックデータ再生回路が、光入力信号を電気信号に変
換して入力データ信号として出力する光／電気変換回路
と、所定の振幅まで増幅された入力データ信号からクロ
ック成分を抽出し、そのクロックのタイミングで入力デ
ータ信号の１又は０を識別し、識別電圧を付与する機能
が追加された識別電圧付加機能付きクロックデータ再生
回路であって、エラーパルスの計測結果に応じて、３識
別点の幅を制御し、３識別点をその間隔を保ちつつ移動
する処理を選択的に実行して識別点を最適に制御する識
別電圧制御回路を備えたことを特徴とする。
【００４１】請求項２８の本発明の光受信装置は、前記
クロックデータ再生回路が、光入力信号を電気信号に変
換して入力データ信号として出力する光／電気変換回路
と、所定の振幅まで増幅された入力データ信号からクロ
ック成分を抽出し、そのクロックのタイミングで入力デ
ータ信号の１又は０を識別し、識別電圧を付与する機能
が追加された識別電圧付加機能付きクロックデータ再生
回路であって、エラーパルスの計測結果に応じて、３識
別点の幅を制御して識別点を最適に制御する識別電圧制
御回路を備えたことを特徴とする。
【００４２】請求項２９の本発明の光受信装置は、前記
クロックデータ再生回路が、光入力信号を電気信号に変
換して入力データ信号として出力する光／電気変換回路
と、所定の振幅まで増幅された入力データ信号からクロ
ック成分を抽出し、そのクロックのタイミングで入力デ
ータ信号の１又は０を識別し、識別電圧を付与する機能
が追加された識別電圧付加機能付きクロックデータ再生
回路であって、入力データ信号のＨレベル近傍のエラー
数とＬレベル近傍のエラー数を計数処理するエラーカウ
ント部と、前記エラー計数結果に基づいて、Ｈレベル近
傍の上識別点と中央識別点又は、Ｌレベル近傍の下識別
点との幅を変化させ、前記エラー計数結果に基づいて、
前記上下各識別点及び中央識別点の間隔保持をしたまま
で、３識別点を同時に動し、前記エラー計数結果に基づ
いて、エラー数の計測時間を変化させる演算処理部とを
備え、前記入力データ信号のアイ開口部の内縁を検出し
ながら中央識別点を最適位置に設定する識別電圧制御回
路を備えたことを特徴とする。
【００４３】請求項３０の本発明の光受信装置は、前記
クロックデータ再生回路が、光入力信号を電気信号に変
換して入力データ信号として出力する光／電気変換回路
と、所定の振幅まで増幅された入力データ信号からクロ
ック成分を抽出し、そのクロックのタイミングで入力デ
ータ信号の１又は０を識別し、識別電圧を付与する機能
が追加された識別電圧付加機能付きクロックデータ再生
回路であって、入力データ信号のＨレベル近傍のエラー
数とＬレベル近傍のエラー数を計数処理するエラーカウ
ント部と、前記エラー計数結果に基づいて、Ｈレベル近
傍の上識別点と中央識別点又は、Ｌレベル近傍の下識別
点との幅を変化させ、前記エラー計数結果に基づいて、
エラー数の計測時間を変化させる演算処理部とを備え、
前記入力データ信号のアイ開口部の内縁を検出しながら
中央識別点を最適位置に設定する識別電圧制御回路を備
えたことを特徴とする。
【００４４】請求項３１の本発明の光受信装置は、前記
クロックデータ再生回路が、光入力信号を電気信号に変
換して入力データ信号として出力する光／電気変換回路
と、所定の振幅まで増幅された入力データ信号からクロ
ック成分を抽出し、そのクロックのタイミングで入力デ
ータ信号の１又は０を識別し、識別電圧を付与する機能
が追加された識別電圧付加機能付きクロックデータ再生
回路であって、入力データ信号のＨレベル近傍のエラー
数とＬレベル近傍のエラー数を計数処理するエラーカウ
ント部と、前記エラー計数結果に基づいて、Ｈレベル近
傍の上識別点と中央識別点又は、Ｌレベル近傍の下識別
点との幅を変化させ、前記エラー計数結果に基づいて、
前記上下各識別点及び中央識別点の間隔保持をしたまま
で、３識別点を同時に動かす演算処理部とを備え、前記
入力データ信号のアイ開口部の内縁を検出しながら中央
識別点を最適位置に設定する識別電圧制御回路を備えた
ことを特徴とする。
【００４５】請求項３２の本発明の光受信装置は、前記
クロックデータ再生回路が、光入力信号を電気信号に変
換して入力データ信号として出力する光／電気変換回路
と、所定の振幅まで増幅された入力データ信号からクロ
ック成分を抽出し、そのクロックのタイミングで入力デ
ータ信号の１又は０を識別し、識別電圧を付与する機能
が追加された識別電圧付加機能付きクロックデータ再生
回路であって、入力データ信号のＨレベル近傍のエラー
数とＬレベル近傍のエラー数を計数処理するエラーカウ
ント部と、前記エラー計数結果に基づいて、Ｈレベル近
傍の上識別点と中央識別点又は、Ｌレベル近傍の下識別
点との幅を変化させる演算処理部とを備え、前記入力デ
ータ信号のアイ開口部の内縁を検出しながら中央識別点
を最適位置に設定する識別電圧制御回路を備えたことを
特徴とする請求項１から請求項８の何れか１つに記載の
光受信装置。
【００４６】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て図面を参照して詳細に説明する。 （第１の実施の形態）本発明は、光受信装置又は光信号
の中継装置に適用することができるが、ここでは、本発
明を光受信装置に適用した第１の実施の形態について説
明する。図１は、本発明の第１の実施の形態による光受
信装置の構成を示すブロック図である。
【００４７】本実施の形態による光受信装置１は、可変
分散等化器１０と、光電気変換回路２０と、識別電圧調
整機能付きクロックデータ再生回路（ＣＤＲ）３０と、
波形最適化制御部４０とで構成される。また、波形最適
化制御部４０は、アイ開口部検出部４１と、演算処理部
４２とを備えてなる。
【００４８】可変分散等化器１０は、図８に示すよう
に、波長分散特性の傾きを変化させることのできる分散
等化器であり、ペルチェ素子等を用いて、分散等化器の
温度制御を行なうことで実現される。
【００４９】光電気変換回路２０は、光信号を電気信号
に変換し、所定の振幅に増幅するものである。
【００５０】識別電圧調整機能付きＣＤＲ３０は、光電
気変換回路２０からのデータ信号を、つねに最適位置に
制御された識別点で識別する。
【００５１】波形最適化制御部４０は、識別電圧調整機
能付きＣＤＲ３０から出力されるデータ信号の識別情報
に基づいて、データ信号をデータ信号に同期した時間軸
掃引して、時間軸上それらを重畳して得られるアイパタ
ーンのアイ開口部を検出し、光データ信号のアイパター
ンが最良になるように可変分散等化器１０を制御する。
【００５２】また、波形最適化制御部４０のアイ開口部
検出部４１は、アイパターンの開口部を検出し、アイ開
口部の大きさに対応する情報を出力する。このアイ開口
部検出部４１の構成例としては、図３に示すように、３
つの比較器４０１，４０２，４０３と、３つの識別器４
１１，４１２，４１３と、２つの排他論理和回路４２
１，４２２と、１つの論理和回路４３１と、識別器４１
１及び識別器４１３の遅延時間を制御する制御回路４４
１と、識別器４１１及び識別器４１３にクロックに対す
る遅延時間（クロック遅延量）与える２つの遅延回路４
５１，４５２からなる。
【００５３】波形最適化制御部４０の演算処理部４２
は、アイパターンの開口部の大きさに対する情報に基づ
いて、可変分散等化器１０の分散特性を調整する。
【００５４】次いで、上記のように構成される第１の実
施の形態にかかる光受信装置１の動作について、図１〜
図８を参照して説明する。
【００５５】図１において、光データ信号は、光電気変
換回路２０で電気信号に変換され、所定の振幅に増幅さ
れた後、、つねに最適位置に制御された識別点で識別す
る識別電圧調整機能付きＣＤＲ３０で識別再生される。
【００５６】図２は、識別電圧調整機能付きＣＤＲ３０
の構成例であり、入力した入力データ信号のＨレベル近
傍の上識別点、中央レベル近傍の中央識別点及びＬレベ
ル近傍の下識別点を識別する３値識別回路３００と、レ
ベル変動を検出して検出結果を識別電圧制御回路３４０
に出力するレベル変動検出回路３２０と、ＰＬＬ回路３
３０とを備えて構成される。
【００５７】ここで、３値識別回路３００は、比較器３
０１，３０２，３０３とフリップフロップからなる識別
器３１１，３１２，３１３とで構成され、レベル変動検
出回路３２０は、排他論理和回路３２１，３２２とで構
成される。
【００５８】この識別電圧調整機能付きＣＤＲ３０にお
いては、データのＨレベル近傍とデータの中央レベルと
データのＬレベル近傍のそれぞれに上識別点、中央識別
点、下識別点を配置し、識別器３１１（上識別点）と識
別器３１２（中央識別点）及び識別器３１２（中央識別
点）と識別器３１３（下識別点）における識別結果の一
致又は不一致を検出し、識別器３１１（上識別点）と識
別器３１２（中央識別点）の不一致であれば、Ｈレベル
エラーパルス、識別器３１２（中央識別点）と識別器３
１３（下識別点）の不一致であれば、Ｈレベルエラーパ
ルスを出力する。
【００５９】制御回路３４０は、Ｈレベルエラーパルス
とＬレベルエラーパルスを最小にする識別電圧Ｖｔｈ
（すなわち、最適識別電圧）を与えるように制御する。
【００６０】アイ開口部検出部４１は、上述したように
図３に示す構成例のように構成される。
【００６１】アイパターンの時間軸上に左クロスポイン
ト近傍に左識別点ＴＬ、中央識別点Ｔｔｈ、右クロスポ
イント近傍に右識別点ＴＲが配置されていて（図４参
照）、それぞれ識別器４１１、識別器４１２、識別器４
１３で識別を行なう。中央識別点Ｔｔｈは、識別電圧調
整機能付きＣＤＲ３０から、最適識別電圧Ｖｔｈと同じ
電圧と同じ位相が与えられている。
【００６２】ここで、図４に示すように、全ての識別点
がアイパターン内にあれば、左識別点ＴＬと中央識別点
Ｔｔｈ、中央識別点Ｔｔｈと右識別点ＴＲにおける識別
結果は一致する。
【００６３】ところが、図５に示すように、アイパター
ンが波形劣化等の影響で、波形がひずみ、識別点の１つ
がアイパターンから外れると（図４では、左識別点Ｔ
Ｌ）、左識別点ＴＬと中央識別点Ｔｔｈの識別結果は一
致しない。
【００６４】このように左識別点ＴＬ又は、右識別点Ｔ
Ｒのいずれか１つでもアイパターンから外れると不一致
となって、エラーパルスを制御回路４４１に送出する。
このとき制御回路４４１は、識別器４１１と識別器４１
３のクロック遅延量を制御することにより、エラーパル
スがなくなるまで、図７に示すように３点の間隔を縮め
る。
【００６５】一方、エラーを検出しなくなると、識別器
４１１と識別器４１３のクロック遅延量を制御すること
により、図６に示すように３点の間隔を広げる。
【００６６】これにより、左識別点ＴＬと右識別点ＴＲ
は常にアイパターンの両クロスポイント（アイパターン
の端）付近にいる留まることになり、左識別点ＴＬと右
識別点ＴＲの時間差を計測するか可変遅延回路４５１と
可変遅延回路４５２のクロック遅延量の差を求めればア
イパターンのアイ開口部の大きさを検出することができ
るものである。
【００６７】図３に示すように、アイ開口部検出回路４
１からは、可変遅延回路４５１と可変遅延回路４５２の
クロック遅延量が演算処理部４２に出力される。そし
て、演算処理部４２は、可変遅延回路４５１と可変遅延
回路４５２のクロック遅延量の差を求めることにより、
逐次アイ開口部の大きさを計測する。
【００６８】波形最適化制御部４０のアイ開口部検出回
路４１は、識別電圧調整機能付きＣＤＲ３０から、デー
タ信号の識別情報として、最適識別電圧Ｖｔｈとクロッ
クと、データ信号を得てアイ開口部の検出を行なう。
【００６９】図８は、可変分散等化器１０の特性例であ
る。分散等化器１０は、をペルチェ素子などで温度制御
することにより、特性曲線の傾きを変えて分散値を変化
させることで、波形整形ができ、したがって、アイパタ
ーンのアイ開口部の大きさを制御することができる。
【００７０】次に、図９、図１０、図１１、図１２を用
いて演算処理部４２における制御アルゴリズムについて
説明する。
【００７１】図９は、演算処理部４２における制御アル
ゴリズムの基本的な考え方を示す図である。
【００７２】演算処理部４２による処理工程は、分散値
Ｄを初期値からΔＤづつ増加又は減少させる工程（９０
１）と、アイ開口部の大きさを計測する工程（９０２）
と、直前に計測したアイ開口部の大きさと比較して直前
に計測したアイ開口部の大きさと比較して分散値Ｄを増
加させるか又は減少させるを判断する工程（９０３）か
ら構成される。
【００７３】アイ開口部の大きさは、上述のようにアイ
開口部検出回路４１からの可変遅延回路４５１と可変遅
延回路４５２のクロック遅延量の差に基づいて計測され
る。
【００７４】直前に計測したアイ開口部の大きさと比較
して分散値Ｄを増加させるか又は減少させるを判断する
工程９０１の具体例を図１０を用いて説明する。図１０
においては、図９の工程９０１〜９０３に対応する工程
をそれぞれ工程９０１Ａ〜９０３Ａで示している。
【００７５】図１０において、工程９０３Ａにおいて、
直前に測定したアイ開口部の大きさと現在のアイ開口部
の大きさを比較してアイ開口部の大きさが増加（改善）
していれば、工程９０１Ａへ戻り、分散値ＤをΔＤだけ
増加して同じ操作を繰り返す。
【００７６】この分散値Ｄの増加量ΔＤについては、光
受信装置で送受信される光信号の波長に基づいて任意に
設定される。
【００７７】また、逆に工程９０１Ａで直前に測定した
アイ開口部の大きさと現在のアイ開口部の大きさを比較
してアイ開口部の大きさが減少（悪化）していれば、ｎ
ΔＤ（ｎ≦２）だけ分散値を減少させて、工程９０２Ａ
へ戻って同じ動作を繰り返す。
【００７８】このようにアイ開口部の大きさが悪化した
時に、１ステップあたりの分散値Ｄの増加量（ΔＤ）よ
りも多い量（ｎΔＤ（ｎ≦２））を減少させて後戻りさ
せる点に特徴がある。
【００７９】これにより、工程９０１では、ΔＤづつ単
調増加させる動作だけですむという効果がある。
【００８０】本実施の形態では、分散値Ｄの最小値から
分散値Ｄを増加させる方向の場合で説明したが、逆に分
散値Ｄの大きい値から分散値Ｄを減少させる方向に制御
してもよい。この場合は、アイ開口部の大きさが増加
（改善）ごとにΔＤづつ減少させ、アイ開口部の大きさ
が減少（悪化）すればｎΔＤ（ｎ≦２）だけ分散値を増
加させることになる。さらには、分散値Ｄのどの値から
スタートさせても同じ結果になる。
【００８１】図１１に、本実施の形態の図９に示すアル
ゴリズムを実現したフローチャートを示す。
【００８２】初期値設定で分散値Ｄの初期値Ｄ０と１ス
テップ毎の増加量ΔＤを決める（ステップ１１０１）。
次に、分散値Ｄ０におけるアイ開口部の大きさの初期値
Ｐ０（図１２で分散値Ｄ０）を測定する（ステップ１１
０２）。
【００８３】次に、分散値ＤをΔＤだけ増加させて（ス
テップ１１０３）、図１２の分散値Ｄ１でのアイ開口部
の大きさＰ１を測定する（ステップ１１０４）。
【００８４】アイ開口部の大きさＰ０とＰ１を比較する
と（ステップ１１０５）、アイ開口部の大きさＰ１の方
が大きいので、ステップ１１０３に戻り、分散値Ｄ２＝
Ｄ１＋ΔＤとして、アイ開口部の大きさＰ２を測定す
る。
【００８５】さらに、ステップ１１０５でアイ開口部Ｐ
１とＰ２を比較すると、アイ開口部の大きさＰ２の方が
大きいので、ステップ１１０３で分散値Ｄ３＝Ｄ２＋Δ
Ｄとしてアイ開口部の大きさＰ３を測定する。
【００８６】これを繰り返し行なうことで、分散値Ｄを
最適位置に近づけていく。しかしながら、分散値Ｄ４で
はアイ開口部の大きさＰ４が、アイ開口部の大きさＰ３
より減り（ステップ１１０５でＮｏ）、最適位置よりも
遠のいたことがわかる。このとき分散値Ｄ＝Ｄ４−２Δ
Ｄ（すなわち、分散値Ｄ２に戻る）として（ステップ１
１０６）、アイ開口部の大きさを計測する。
【００８７】すなわち、分散値の設定をＤ０→Ｄ１→Ｄ
２→Ｄ３（最適位置）→Ｄ４→Ｄ２→Ｄ３（最適位置）
→Ｄ４→Ｄ２…と繰り返すことにより、常に分散値Ｄの
最適位置近傍に制御されるものである。
【００８８】勿論、分散値Ｄの初期値を分散値Ｄの大き
い値Ｄ６からアイ開口部の大きさが増加（改善）ごとに
ΔＤづつ減少させ、アイ開口部の大きさが減少（悪化）
すれば２ΔＤだけ分散値を増加させる制御を行なっても
よく、分散値Ｄのどの値からスタートさせても同じ結果
になることは言うまでもない。
【００８９】以上のように制御することにより、アイ開
口部の大きさが、常に最大になるように制御するので、
伝送路上で波形ひずみを受けても最良の状態で光信号を
識別することができるようになる。
【００９０】（第２の実施の形態）本発明の第２の実施
の形態について、図１３、図１４、図１５を用いて説明
する。
【００９１】図１３は本第２の実施の形態による演算処
理部４２における制御アルゴリズムの基本的な考え方を
示す図であり、図１４はその制御アルゴリズムを実現す
るフローチャート、図１５は分散値Ｄとアイ開口部の大
きさＰの関係を示す図である。
【００９２】この第２の実施の形態は、図９における直
前に計測したアイ開口部の大きさと比較して分散値Ｄを
増加させるか又は減少させるかを判断する工程９０３に
ついて他の考え方を用いたものである。
【００９３】すなわち、この実施の形態では、第１の実
施の形態と同様に、分散値Ｄの最小値Ｄ０からΔＤずつ
増加させていき、アイ開口部の大きさが増加（改善）す
るごとにΔＤずつ増加させる。
【００９４】しかしながら、図１３の制御アルゴリズム
の工程９０３Ｂに示すように、ΔＤずつ増加させた結
果、アイ開口部の大きさが減少（悪化）した時は、増減
の向きを変え、次にアイ開口部の大きさが減少するとこ
ろまでΔＤずつ分散特性を減少させるように制御するこ
とに特徴がある。
【００９５】図１４のフローチャートと、図１５を用い
て動作の詳細を説明する。
【００９６】前述した第１の実施の形態と同様に、分散
値Ｄの最小値Ｄ０からスタートさせるものとする。
【００９７】初期値設定において、分散値Ｄの初期値Ｄ
０と１ステップ毎の増加量ΔＤを決める（ステップ１４
０１）。次に、分散値Ｄ０におけるアイ開口部の大きさ
の初期値Ｐ０（図１５で分散値Ｄ０）を測定する（ステ
ップ１４０２）。さらに、分散値ＤをΔＤだけ増加（図
１５で分散値Ｄ１）させることにより（ステップ１４０
３）、アイ開口部の大きさＰ１を測定する（ステップ１
４０４）。
【００９８】アイ開口部の大きさＰ０とＰ１を比較する
と（ステップ１４０５）、アイ開口部の大きさＰ１の方
が大きいので、ステップ１４０３に戻り分散値Ｄ２＝Ｄ
１＋ΔＤとして、ステップ１４０４でアイ開口部の大き
さＰ２を測定する。さらに、ステップ１４０５でアイ開
口部の大きさＰ１とＰ２を比較すると、アイ開口部の大
きさＰ２の方が大きいので、ステップ１４０３でＤ３＝
Ｄ２＋ΔＤとして、ステップ１４０５でアイ開口部の大
きさＰ３を測定する。
【００９９】これを繰り返して、分散値Ｄ４におけるア
イ開口部の大きさＰ４ではＰ３に比べてアイ開口部の大
きさが減少しているので（ステップ１４０５でＮｏ）、
これ以降は、図１４のステップ１４０６に移り、分散値
ＤをＤ４→Ｄ３→Ｄ２と減少させ、アイ開口部の測定処
理（ステップ１４０７）及びアイ開口部の大きさの比較
処理（ステップ１４０８）を行なう。
【０１００】ここで、分散値Ｄ２におけるアイ開口部の
大きさＰ２はＰ３に比べて減少しているので（ステップ
１４０８でＮｏ）、再びステップ１４０３に移り、分散
値ＤをＤ２→Ｄ３→Ｄ４と増加させる制御を行なう。
【０１０１】上記の処理を実行することにより、結果と
して、分散値Ｄは、最適分散値であるＤ３の近傍に制御
されることになる。
【０１０２】なお、この第２の実施の形態でも、分散値
Ｄの最小値から制御をスタートさせたが、逆に分散値Ｄ
６等の分散値Ｄの大きい値からスタートさせてもよいこ
とは勿論である。何れからスタートさせても同じ結果に
なる。
【０１０３】（第３の実施の形態）本発明の第３の実施
の形態について図１６、図１７、図１８を用いて説明す
る。
【０１０４】図１６は、第３の実施の形態による演算処
理部４２における制御アルゴリズムの基本的な考え方を
示す図であり、図１７はその制御アルゴリズムを実現す
るフローチャート、図１８は分散値Ｄとアイ開口部の大
きさＰの関係を示す図である。
【０１０５】この第３の実施の形態は、図９における直
前に計測したアイ開口部の大きさと比較して分散値Ｄを
増加させるか又は減少させるかを判断する工程９０３に
ついてさらに他の考え方を用いたものである。
【０１０６】この実施の形態では、分散値Ｄの最小値Ｄ
０からΔＤずつ増加させていき、アイ開口部の大きさが
増加（改善）するごとにΔＤづつ増加させ、その結果、
アイ開口部の大きさが減少（悪化）した時は、増減の向
きを変える点については上述した第２の実施の形態と同
様である。
【０１０７】図１７に示すフローチャートのステップ１
７０６以外の処理ステップは、第２の実施の形態の図１
４に示すフローチャートの対応するステップと全く同じ
である。ここでは、第２の実施の形態と相違するステッ
プ１７０６について説明する。
【０１０８】この第３の実施の形態では、ステップ１７
０６において、減少させるステップの大きさを第２の実
施の形態と異なり、ｒΔＤ（０＜ｒ＜１）ずつ減少させ
ることが特徴である。このように、より小刻みに分散値
を設定することにより、分散値Ｄを、より正確に最適分
散値の近傍に制御することができるようになる。
【０１０９】なお、第１から第３の実施の形態による波
形最適化制御部４０における制御は、制御部の各機能を
ハードウェア的に実現することは勿論として、各機能を
備えるコンピュータプログラムである波形最適化プログ
ラムを、コンピュータ処理装置のメモリにロードされる
ことで実現することができる。この波形最適化プログラ
ムは、図１に示すように、磁気ディスク、半導体メモリ
その他の記録媒体２００に格納される。そして、その記
録媒体からコンピュータ処理装置にロードされ、コンピ
ュータ処理装置の動作を制御することにより、上述した
波形最適化制御部４０の各機能を実現する。
【０１１０】（第４の実施の形態）本実施の形態では、
図１に示す識別電圧付加機能付きＣＤＲ３０の識別電圧
制御回路３４０にデジタル演算処理を用いることによ
り、各受光レベルで識別位置を最適に制御することがで
きるようにしている。
【０１１１】図１９は、本発明の第１の実施の形態によ
る識別電圧付加機能付きＣＤＲの識別電圧制御回路の構
成を示すブロック図である。
【０１１２】識別電圧付加機能付きＣＤＲ３０は、光入
力信号を電気信号に変換し所定の振幅まで増幅された入
力データ信号からクロック成分を抽出し、そのクロック
のタイミングで入力データ信号の１又は０を識別するＣ
ＤＲ（clock and data recovery：クロックデータ再生
回路）に識別電圧を付与する機能が追加されている。識
別電圧制御回路３４０は、識別電圧付与機能付きＣＤＲ
３０において、制御アルゴリズムによりＣＤＲに最適な
識別電圧を与える。
【０１１３】識別電圧付加機能付きＣＤＲ３０は、従来
から提供されているものであり、その構成例は図２に示
した通りである。この識別電圧付加機能付きＣＤＲ３０
においては、エラーの検出は、隣り合う識別点における
識別結果の一致不一致を排他論理和で判定し、不一致で
あればエラーパルスを出力する。
【０１１４】図１９において、識別電圧制御回路３４０
は、エラーカウント部３５０、演算処理回路３６１を有
する演算処理部３６０、計測時間設定部３７０、Ｄ／Ａ
変換部３８０とで構成される。
【０１１５】エラーカウント部３５０は、Ｈレベルエラ
ーカウンタ３５１とＬレベルエラーカウンタ３５２とを
備えており、識別電圧付加機能付きＣＤＲ３０からの、
Ｈレベル近傍のエラーパルス（以下Ｈレベルエラーパル
ス）とＬレベル近傍のエラーパルス（以下Ｌレベルエラ
ーパルス）を各々Ｈレベルエラーカウンタ３５１とＬレ
ベルエラーカウンタ３５２で計数する。
【０１１６】演算処理部３６０の演算処理回路３６１
は、Ｈレベルエラーパルス数とＬレベルエラーパルスに
応じて、以下の過程を実行する。 （１）Ｈレベル近傍の識別点（上識別点）と中央識別点
又は、Ｌレベル近傍の識別点（下識別点）幅を変化させ
る過程 （２）上下各識別点及び中央識別点の間隔保持をしたま
まで、３識別点を同時に動かす過程 （３）計数したエラーの数に応じて、計数時間を変化さ
せる過程を１つ又は複数組み合わせて実行する。
【０１１７】計測時間設定部３７０は、Ｈレベルエラー
パルス数とＬレベルエラーパルス数に応じて、エラーカ
ウント部の計数時間を最適な計測時間に設定する。
【０１１８】Ｄ／Ａ変換部３８０は、演算処理部から出
力される上識別点電圧Ｖｍと中央識別点電圧Ｖthと下識
別点電圧Ｖｓをそれぞれアナログ電圧に変換する。この
Ｄ／Ａ変換部３８０は、上識別点電圧Ｖｍをアナログ電
圧に変換するＤ／Ａ変換回路３８１と、中央識別点Ｖth
アナログ電圧に変換するＤ／Ａ変換回路３８２と、下識
別点Ｖｓアナログ電圧に変換するＤ／Ａ変換回路３８３
とを備える。
【０１１９】なお、上記の構成では、識別電圧制御回路
を識別電圧付加機能付きＣＤＲ３０と別回路として説明
したが、識別電圧制御回路を識別電圧付加機能付きＣＤ
Ｒ３０に内蔵する構成とすることも勿論可能である。
【０１２０】図２を参照して、識別電圧付加機能付きＣ
ＤＲ３０の構成について簡単に説明する。
【０１２１】図２において、識別電圧付加機能付きＣＤ
Ｒ３０は、入力した入力データ信号のＨレベル近傍の上
識別点、中央レベル近傍の中央識別点及びＬレベル近傍
の下識別点を識別する３値識別回路３００と、レベル変
動を検出して検出結果を上記識別電圧制御回路３４０に
出力するレベル変動検出回路３２０と、ＰＬＬ回路３３
０とを備えて構成される。
【０１２２】ここで、３値識別回路３００は、比較器３
０１、３０２、３０３とフリップフロップ３１１、３１
２、３１３とで構成され、レベル変動検出回路３２０
は、排他的論理和回路３２１、３２２とで構成される。
【０１２３】また、本発明による識別電圧制御回路３４
０を適用した光受信装置の構成は図１に示す通りであ
る。この光受信装置１は、光データ信号を受信して電気
信号に変換し入力データ信号として出力する光電気変換
回路２０、上述した識別電圧付加機能付きＣＤＲ３０と
識別電圧制御回路３４０とで構成されており、識別電圧
付加機能付きＣＤＲ３０から識別されたデータ信号が出
力されるものである。
【０１２４】図２０から図２６を用いて本発明の実施の
形態による識別電圧制御回路の動作について説明する。
【０１２５】図２０は、本発明の特徴である上記識別電
圧制御回路３４０の演算処理部３６０における制御アル
ゴリズムの基本的考え方を示す図、図２１は、本発明の
制御アルゴリズムを用いたフローチャートの一例であ
る。また、図２２から図２５は、それぞれ図２１のフロ
ーチャート各過程におけるアイ開口部と上識別点電圧Ｖ
ｍと中央識別点Ｖthと下識別点Ｖｓとの位置関係を示す
図である。なお、中央識別点電圧Ｖｔｈの値について
は、入力する光データ信号のレベルやデータ品質に応じ
て、すなわち識別電圧付加機能付きＣＤＲ３０を使用す
るシステムに応じて任意に調整して設定するものとす
る。
【０１２６】ここで、 Ｈレベルエラー数：Ｃｍ Ｌレベルエラー数：Ｃｓ 最大計測値：Ｃmax（Ｃmax＞Ｃmin＞０） 最小計測値：Ｃmin（Ｃmin＞＝０） Ｈレベル識別点電圧：Ｖｍ Ｌレベル識別点電圧：Ｖｓ 中央識別点電圧：Ｖth（Ｖｍ＞Ｖth＞Ｖｓ） エラー計測時間：Ｔsamp と定義する。
【０１２７】初期状態における上識別点電圧Ｖｍと中央
識別点電圧Ｖｔｈと下識別点電圧Ｖｓの各位置が、図２
２のようになっていると仮定する。すなわち、３点はア
イ開口部内部にあるが、中央識別点電圧Ｖthは最適位置
から若干上にずれている。
【０１２８】この状態において、Ｈレベルエラー数Ｃｍ
とＬレベルエラー数Ｃｓを計数すると、Ｃｍ＜Ｃmin、
Ｃｓ＜Ｃminとなるので、ステップ２４０１の一番目の
判定がＹ（Ｙｅｓ）となり、アイ開口部の縁を検出する
ため、ＶｍをΔＶｍだけ上にあげ、かつＶｓをΔＶｓだ
け下に下げる（各識別点の幅を広げる）操作を行う（ス
テップ２４０２）。この操作により、図２３の状態にな
る。
【０１２９】このとき、Ｈレベルエラー数Ｃｍ、Ｌレベ
ルエラー数Ｃｓとも最小計測値Ｃminを下回っているの
で、計測時間内に計数するエラーパルスの数を増やして
計測精度を上げるために計測時間ＴsampをΔＴsampだけ
長くする（ステップ２４０３）。
【０１３０】次に、図２３において、上識別点電圧Ｖｍ
と下識別点電圧Ｖｓはアイ開口部の外側にずれているの
で、Ｈレベルエラー数ＣｍとＬレベルエラー数Ｃｓを計
数すると、Ｃmax＞Ｃｍ＞Ｃｓ＞Ｃminとなる。この結
果、ステップ２４０１の一番目の判定とステップ２４０
４の２番目の判定はＮ（Ｎｏ）となり、ステップ２４０
７の３番目の判定がＹ（Ｙｅｓ）となり、上識別点電圧
Ｖｍと中央識別点電圧Ｖthと下識別点電圧Ｖｓを３点同
時にΔＶthだけだけ下げる制御を行うことにより（ステ
ップ２４０８）、図２４の状態になる。
【０１３１】このときも、Ｈレベルエラー数Ｃｍ、Ｌレ
ベルエラー数Ｃｓは、最大計測値Ｃmaxを上回っていな
いので計測精度を上げるために計測時間ＴsampをΔＴsa
mpだけ長くする（ステップ２４０９）。
【０１３２】図２４では、中央識別点電圧Ｖthは最適位
置近傍あるが、まだ、上識別点電圧Ｖｍと下識別点電圧
Ｖｓはアイ開口部の縁を検出しているとは言えない。こ
のときのＨレベルエラー数ＣｍとＬレベルエラー数Ｃｓ
の計数結果は、Ｃmax＞Ｃｍ＝Ｃｓ＞Ｃminとなり、図２
１のフローチャートでは、ステップ２４０１の一番目か
らステップ２４１０の４番目の判定が全てＮ（Ｎｏ）と
なり、アイ開口部の縁を検出するため、上識別点電圧Ｖ
ｍをΔＶｍだけ下げ、かつ下識別点電圧ＶｓをΔＶｓだ
け上げる（各識別点の幅を縮める）（ステップ２４１
３）。
【０１３３】また同様に計測精度を上げるために計測時
間ＴsampをΔＴsampだけ長くする（ステップ２４１
４）。
【０１３４】以上の操作を繰り返し行うことで、上識別
点電圧Ｖｍと下識別点電圧Ｖｓでのエラー計測数が、Ｃ
max＞Ｃｍ＝Ｃｓ≒Ｃminを満足する状態における中央識
別点電圧Ｖthが最適識別点となる（図２５）。
【０１３５】図２１において、Ｈレベルエラー数Ｃｍ、
Ｌレベルエラー数Ｃｓのいずれかが最大計測値Ｃmaxを
越えた場合は（ステップ２４０４でＹｅｓ）、上識別点
電圧ＶｍをΔＶｍだけ下げ、かつ下識別点電圧ＶｓをΔ
Ｖｓだけ上げる（各識別点の幅を縮める）とともに（ス
テップ２４０５）、計測時間ＴsampをΔＴsampだけ短く
する（ステップ２４０６）。これにより、悪い状態から
すばやく脱出することができ、またカウンタのオーバー
フローを防ぐことができる。
【０１３６】以上のような動作により、本実施の形態に
よれば、中央識別点電圧Ｖthが最適識別点となること
で、図３７に示すように、識別点固定の場合に比べてエ
ラーレートの改善が図られるものである。
【０１３７】図２０における、識別点の制御とエラー計
測時間の制御はそれぞれに単独で行ってもよいし、複数
同時に行ってもよい。
【０１３８】すなわち、上識別点電圧ＶｍをΔＶｍだけ
下げ、かつ下識別点電圧ＶｓをΔＶｓだけ上げる（各識
別点の幅を縮める）制御と、上識別点電圧Ｖｍと中央識
別点電圧Ｖthと下識別点Ｖｓを３点同時にΔＶthだけ下
げる制御を同時に行ってもよい。
【０１３９】例えば、図２１においてＨレベルエラー数
Ｃｍ、Ｌレベルエラー数Ｃｓのいずれかが最大計測値Ｃ
maxを越えた場合は、上識別点電圧ＶｍをΔＶｍだけ下
げ、かつ下識別点電圧ＶｓをΔＶｓだけ上げる（各識別
点の幅を縮める）とともに、計測時間ＴsampをΔＴsamp
だけ短くする制御に加え、上識別点電圧Ｖｍと中央識別
点電圧Ｖthと下識別点電圧Ｖｓを３点同時にΔＶthだけ
下げる制御を同時に行ったほうが、悪い状態からより早
く脱出することができるであろう。
【０１４０】また、計測結果において、Ｈレベルエラー
数ＣｍとＬレベルエラー数Ｃｓが、Ｃmax＞Ｃｍ＞Ｃｓ
＞Ｃminを満たす場合は、計測数としては適切な値であ
るので、計測時間Ｔsampをかえないようにしてもよい。
【０１４１】図２１において一番目の判定と２番目の判
定は逆の順番でもよい。同様に３番目と４番目の判定の
順序が入れ替わってもよい。
【０１４２】また、一番目の判定（ステップ２４０
１）、と３番目、４番目の判定（ステップ２４０７、２
４１０）（又は４番目、３番目の判定）、２番目の判定
（ステップ２４０４）の順序で実行してもよい。あるい
は、２番目の判定（ステップ２４０４）、と３番目又は
４番目の判定（ステップ２４０７、２４１０）（又は４
番目、３番目の判定）、一番目の判定の順序で実行して
もよい。
【０１４３】また、ΔＶｍとΔＶｓは等しくてもよいし
等しくなくてもよい。ΔＶｍとΔＶｓを等しい値に設定
した場合は、中央識別点Ｖthは、上識別点電圧Ｖｍと下
識別点Ｖｓの中間に位置することになる。
【０１４４】上記説明において、ΔＶｍ、ΔＶｓ、ΔＶ
ｔｈの値は、制御の精度をどの程度に設定するかによっ
て変化することは言うまでもない。例えば、一般的な例
では、入力データ信号の１／１０〜１／１０００の範囲
で設定する。さらに、計測時間Ｔｓａｍｐ及びΔＴｓａ
ｍｐの値についても、制御の精度をどの程度に設定する
かによって変化する。一例として、計測時間Ｔｓａｍｐ
は、光受信装置が動作するエラーレートの最低値（例え
ば、ＢＥＲ＝１０−２〜１０−３）を計測できる時間か
ら、ほぼエラーフリーとみなされるエラーレート（例え
ば、ＢＥＲ＝１０−１２〜１０−１５）を計測できる時
間までの範囲で可変される。加えて、ΔＴｓａｍｐは、
一例として、上述した時間的範囲のさらに１／１０〜１
／１０００程度の刻みで設定する。
【０１４５】（第５の実施の形態）次に、本発明の第５
の実施の形態について説明する。図２６は、本発明の第
５の実施の形態による識別電圧制御回路の構成を示す
図、図２７は第５の実施の形態における制御アルゴリズ
ムの基本的考え方を示す図、図２８は、第５の実施の形
態における制御アルゴリズムを用いたフローチャートの
一例である。
【０１４６】この、第５の実施の形態では、上述した第
４の実施の形態をさらに簡略化したものであり、第４の
実施の形態における上下各識別点電圧Ｖｍ、Ｖｓ及び中
央識別点電圧Ｖｔｈの間隔保持をしたままで３識別点を
同時に動かす過程を省略した構成としている。その他の
上下各識別点電圧Ｖｍ、Ｖｓを移動するステップ及びエ
ラー計測時間Ｔｓａｍｐを変更するステップについて
は、図２１の対応するステップと同じである。
【０１４７】この第５の実施の形態による識別電圧制御
回路３４０では、中央識別点電圧Ｖｔｈは、演算処理部
３６０により上下識別点Ｖｍ、Ｖｓの間の任意に定めら
れた点に設定される。アナログ電圧に変換後、分圧回路
３９０を用いることにより、上下識別点電圧Ｖｍ、Ｖｓ
の間の任意定められた点に設定する構成としている。
【０１４８】（第６の実施の形態）次に、本発明の第６
の実施の形態について説明する。図２９は、本発明の第
６の実施の形態による識別電圧制御回路の構成を示す
図、図３０は第６の実施の形態における制御アルゴリズ
ムの基本的考え方を示す図、図３１は、第６の実施の形
態における制御アルゴリズムを用いたフローチャートの
一例である。
【０１４９】この第６の実施の形態では、第４の実施の
形態による識別電圧制御回路３４０において、計測時間
設定部３７０ａに固定の計測時間が設定されており、エ
ラーカウント部３５０における計数時間を固定し、エラ
ー計測時間Ｔｓａｍｐの変更を行わない構成としてい
る。
【０１５０】（第７の実施の形態）次に、本発明の第７
の実施の形態について説明する。図３２は、本発明の第
７の実施の形態による識別電圧制御回路の構成を示す
図、図３３は第７の実施の形態における制御アルゴリズ
ムの基本的考え方を示す図、図３４は、第７の実施の形
態における制御アルゴリズムを用いたフローチャートの
一例である。
【０１５１】この第７の実施の形態では、第５の実施の
形態による識別電圧制御回路３４０の構成に加えて、エ
ラーカウント部３５０における計数時間を固定し、エラ
ー計測時間Ｔｓａｍｐの変更を行わない構成としてい
る。
【０１５２】なお、第４から第７の実施の形態による識
別電圧制御回路３４０における制御は、制御回路の各機
能をハードウェア的に実現することは勿論として、各機
能を備えるコンピュータプログラムである識別電圧制御
プログラムを、コンピュータ処理装置のメモリにロード
されることで実現することができる。この識別電圧制御
プログラムは、磁気ディスク、半導体メモリその他の記
録媒体２００ａに格納される。そして、その記録媒体か
らコンピュータ処理装置にロードされ、コンピュータ処
理装置の動作を制御することにより、上述した識別電圧
制御回路３４０の各機能を実現する。
【０１５３】以上好ましい実施の形態及び実施例をあげ
て本発明を説明したが、本発明は必ずしも上記実施の形
態及び実施例に限定されるものではなく、その技術的思
想の範囲内において様々に変形して実施することができ
る。
【０１５４】上記実施の形態においては、分散値Ｄの増
加量ΔＤとｒΔＤを一定の値とした場合について説明し
たが、アイ開口部の大きさが増加方向に向かうに従っ
て、増加量ΔＤを段階的に小さくしていくことにより、
より精密に最適分散値の位置を求めることが可能であ
る。
【０１５５】例えば、上記の実施の形態では、本発明を
光受信装置に適用した場合を説明したが、光信号を中継
する中継装置に本発明を適用することもできる。このよ
うな中継装置は、実施の形態で示した光受信装置に信号
増幅器を加えた構成であり、その他の構成については、
図１の構成と同じである。
【０１５６】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、ア
イ開口部の大きさに応じて分散等化器の分散値を調整し
て、アイ開口部の大きさが常に最大になるように制御す
るので、伝送路上で波形ひずみを受けても最良の状態で
光信号を識別することができる。
【０１５７】また、アイ開口部の増減に従って変化させ
る分散値をより小刻みに設定することにより、分散値Ｄ
を、より正確に最適分散値の近傍に制御することができ
るようになる。
【０１５８】加えて、アイ開口部の大きさが増加方向に
向かうに従って、変化させる分散値の増加量を段階的に
小さくしていくことにより、より精密に最適分散値の位
置を求めることが可能である。
【０１５９】また、本発明の光受信装置によれば、上述
した効果に加えて、以下のような効果が達成される。
【０１６０】第１に、各受光レベルで識別位置を最適に
制御することができるので、識別点が固定されていた従
来の識別回路に比べてエラーレート特性が改善され、フ
ロアーを生じることがなくなる。
【０１６１】第２に、アイ開口部の内縁を検出するので
識別点Ｖthを最適位置に制御することができる。
【０１６２】第３に、エラーカウント部の計測結果をも
とに、計測時間を調整しているので、計測精度を上げる
ことができ、また、悪い状態からすばやく脱出すること
ができる。
【０１６３】第４に、計測したエラーの数に応じて、計
測時間を変更するので、いたずらに大規模なカウンタを
用いる必要がない。
【図面の簡単な説明】
【図１】 本発明の第１の実施の形態による光受信装置
の構成を示すブロック図である。
【図２】 本発明の第１の実施の形態の光受信装置にお
ける識別電圧付加機能付きＣＤＲの構成を示すブロック
図である。
【図３】 第１の実施の形態による光受信装置のアイ開
口部検出部の構成例を示すブロック図である。
【図４】 アイパターンと３識別点の状態を示す説明図
である。
【図５】 アイパターンと３識別点の状態を示す説明図
である。
【図６】 アイパターンと３識別点の状態を示す説明図
である。
【図７】 アイパターンと３識別点の状態を示す説明図
である。
【図８】 可変分散等化器の波長分散特性を説明する説
明図である。
【図９】 本発明の制御アルゴリズムの基本的な考え方
を説明する図である。
【図１０】 第１の実施の形態における演算処理部の制
御アルゴリズムを説明する図である。
【図１１】 第１の実施の形態による光受信装置の演算
処理部の動作を説明するフローチャートである。
【図１２】 第１の実施の形態における、アイ開口部と
分散値との関係を説明する図である。
【図１３】 第２の実施の形態における演算処理部の制
御アルゴリズムを説明する図である。
【図１４】 第２の実施の形態による光受信装置の演算
処理部の動作を説明するフローチャートである。
【図１５】 第２の実施の形態における、アイ開口部と
分散値との関係を説明する図である。
【図１６】 第３の実施の形態における演算処理部の制
御アルゴリズムを説明する図である。
【図１７】 第３の実施の形態による光受信装置の演算
処理部の動作を説明するフローチャートである。
【図１８】 第３の実施の形態における、アイ開口部と
分散値との関係を説明する図である。
【図１９】 本発明の第４の実施の形態による識別電圧
付加機能付きＣＤＲの識別電圧制御回路の構成を示すブ
ロック図である。
【図２０】 本発明の第４の実施の形態による識別電圧
制御回路の演算処理部における制御アルゴリズムの基本
的考え方を示す図である。
【図２１】 本発明の第４の実施の形態による識別電圧
制御回路の動作を説明するフローチャートである。
【図２２】 図２１のフローチャート各過程におけるア
イ開口部と上識別点電圧と中央識別点と下識別点Ｖとの
位置関係を示す図である。
【図２３】 図２１のフローチャート各過程におけるア
イ開口部と上識別点電圧と中央識別点と下識別点Ｖとの
位置関係を示す図である。
【図２４】 図２１のフローチャート各過程におけるア
イ開口部と上識別点電圧と中央識別点と下識別点Ｖとの
位置関係を示す図である。
【図２５】 図２１のフローチャート各過程におけるア
イ開口部と上識別点電圧と中央識別点と下識別点Ｖとの
位置関係を示す図である。
【図２６】 本発明の第５の実施の形態による識別電圧
付加機能付きＣＤＲの識別電圧制御回路の構成を示すブ
ロック図である。
【図２７】 本発明の第５の実施の形態による識別電圧
制御回路の演算処理部における制御アルゴリズムの基本
的考え方を示す図である。
【図２８】 本発明の第５の実施の形態による識別電圧
制御回路の動作を説明するフローチャートである。
【図２９】 本発明の第６の実施の形態による識別電圧
付加機能付きＣＤＲの識別電圧制御回路の構成を示すブ
ロック図である。
【図３０】 本発明の第６の実施の形態による識別電圧
制御回路の演算処理部における制御アルゴリズムの基本
的考え方を示す図である。
【図３１】 本発明の第６の実施の形態による識別電圧
制御回路の動作を説明するフローチャートである。
【図３２】 本発明の第７の実施の形態による識別電圧
付加機能付きＣＤＲの識別電圧制御回路の構成を示すブ
ロック図である。
【図３３】 本発明の第７の実施の形態による識別電圧
制御回路の演算処理部における制御アルゴリズムの基本
的考え方を示す図である。
【図３４】 本発明の第７の実施の形態による識別電圧
制御回路の動作を説明するフローチャートである。
【図３５】 送信後の光受信波形の例を示す図である。
【図３６】 送信後の光受信波形の例を示す図である。
【図３７】 エラーレートの改善効果を示す図である。
【符号の説明】
１ 光受信装置 １０ 可変分散等化器 ２０ 光電気変換回路 ３０ 識別電圧調整機能付きＣＤＲ ４０ 波形最適化制御部 ４１ アイ開口部検出部 ４２ 演算処理部 ３００ ３値識別回路 ３０１，３０２，３０３ 比較器 ３１１，３１２，３１３ 識別器 ３２０ レベル変動検出回路 ３２１，３２２ 排他論理和回路 ３３０ ＰＬＬ回路 ３４０ 識別電圧制御回路 ３５０ エラーカウント部 ３５１ Ｈレベルエラーカウンタ ３５２ Ｌレベルエラーカウンタ ３６０ 演算処理部 ３６１ 演算処理回路 ３７０，３７０ａ 計測時間設定部 ３８０ Ｄ／Ａ変換部 ３８１，３８２，３８３ Ｄ／Ａ変換回路 ３９０ 分圧回路 ４０１，４０２，４０３ 比較器 ４１１，４１２，４１３ 識別器 ４２１，４２２ 排他論理和回路 ４３１ 論理和回路 ４４１ 制御回路 ４５１，４５２ 可変遅延回路
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 松本 好博 東京都港区芝五丁目７番１号 日本電気株 式会社内 Ｆターム(参考） 5K002 AA03 CA01 DA05 FA01 5K047 AA05 BB02 GG23 MM28 MM36 MM46 MM53 MM62

Claims (32)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】 分散等化器を介して入力した光信号を電
    気信号に変換し所定の振幅に増幅されたデータ信号を、
    最適位置に制御された識別点で識別するクロックデータ
    再生回路で識別再生する光受信装置において、 所定の振幅に増幅されたデータ信号のアイパターンを制
    御して、前記クロックデータ再生回路によって再生され
    たデータ信号のエラーが最小となるように前記分散等化
    器の分散特性を制御する機能を有することを特徴とする
    光受信装置。
  2. 【請求項２】 前記クロックデータ再生回路からのデー
    タ信号の識別情報に基づいて、データ信号のアイパター
    ンのアイ開口部を検出し、当該アイ開口部の大きさに従
    って、前記データ信号のエラーが最小となるように前記
    分散等化器の分散特性を制御する波形最適化制御部を備
    えることを特徴とする請求項１に記載の光受信装置。
  3. 【請求項３】 前記波形最適化制御部が、 アイパターンの時間軸上の左識別点、中央識別点及び右
    識別点の３識別点の間隔を制御して前記３識別点が前記
    アイパターン内に収まるアイ開口部の大きさを求めるア
    イ開口部検出部と、 求めた前記アイ開口部の大きさに応じて、前記分散等化
    器の分散値を増減することにより、前記分散値が最適な
    値となるように制御する演算処理部とを備えることを特
    徴とする請求項２に記載の光受信装置。
  4. 【請求項４】 前記演算処理部が、 現在と直前のアイ開口部の大きさを比較し、前記アイ開
    口部の大きさの増減に応じて、前記分散等化器の分散値
    を増減することを特徴とする請求項３に記載の光受信装
    置。
  5. 【請求項５】 前記演算処理部が、 現在と直前のアイ開口部の大きさを比較し、前記アイ開
    口部の大きさが増加している場合、前記分散等化器の分
    散値を第１の所定値ずつ増加させ、 前記アイ開口部の大きさが減少している場合、前記分散
    等化器の分散値を第２の所定値ずつ減少させることを特
    徴とする請求項３に記載の光受信装置。
  6. 【請求項６】 前記演算処理部が、 現在と直前のアイ開口部の大きさを比較し、前記アイ開
    口部の大きさの増減に応じて、 前記分散等化器の分散値を増減する第１の処理と、 前記第１の処理の分散値の増減を反転させる第２の処理
    を行なうことを特徴とする請求項３に記載の光受信装
    置。
  7. 【請求項７】 前記演算処理部が、 現在と直前のアイ開口部の大きさを比較し、前記アイ開
    口部の大きさが増加している場合、前記分散等化器の分
    散値を増加させ、 前記アイ開口部の大きさが減少している場合、前記分散
    等化器の分散値を減少させ、 前記分散値を増加させる場合に、前記アイ開口部の大き
    さの増加に応じて、前記分散値の増加量を段階的に小さ
    くすることを特徴とする請求項３に記載の光受信装置。
  8. 【請求項８】 前記演算処理部が、 現在と直前のアイ開口部の大きさを比較し、前記アイ開
    口部の大きさの増減方向が変化する度に、前記分散等化
    器の分散値を所定値ずつ増加させる第１の処理と、前記
    分散等化器の分散値を所定値ずつ減少させる第２の処理
    とを切り替えて実行することを特徴とする請求項３に記
    載の光受信装置。
  9. 【請求項９】 分散等化器を介して入力した光信号を電
    気信号に変換し所定の振幅に増幅されたデータ信号を、
    最適位置に制御された識別点で識別するクロックデータ
    再生回路で識別再生する光受信装置の光データ信号の波
    形最適化方法において、 所定の振幅に増幅されたデータ信号のアイパターンを制
    御して、前記クロックデータ再生回路によって再生され
    たデータ信号のエラーが最小となるように前記分散等化
    器の分散特性を制御する機能を有することを特徴とする
    光データ信号の波形最適化方法。
  10. 【請求項１０】 前記クロックデータ再生回路からのデ
    ータ信号の識別情報に基づいて、データ信号のアイパタ
    ーンのアイ開口部を検出し、当該アイ開口部の大きさに
    従って、前記データ信号のエラーが最小となるように前
    記分散等化器の分散特性を制御することを特徴とする請
    求項９に記載の光データ信号の波形最適化方法。
  11. 【請求項１１】 アイパターンの時間軸上の左識別点、
    中央識別点及び右識別点の３識別点の間隔を制御して前
    記３識別点が前記アイパターン内に収まるアイ開口部の
    大きさを求めるステップと、 求めた前記アイ開口部の大きさに応じて、前記分散等化
    器の分散値を増減することにより、前記分散値が最適な
    値となるように制御するステップとを備えることを特徴
    とする請求項１０に記載の光データ信号の波形最適化方
    法。
  12. 【請求項１２】 前記分散値の制御ステップで、 現在と直前のアイ開口部の大きさを比較し、前記アイ開
    口部の大きさの増減に応じて、前記分散等化器の分散値
    を増減することを特徴とする請求項１１に記載の光デー
    タ信号の波形最適化方法。
  13. 【請求項１３】 前記分散値の制御ステップで、 現在と直前のアイ開口部の大きさを比較し、前記アイ開
    口部の大きさが増加している場合、前記分散等化器の分
    散値を第１の所定値ずつ増加させ、 前記アイ開口部の大きさが減少している場合、前記前記
    前記分散等化器の分散値を第２の所定値ずつ減少させる
    ことを特徴とする請求項１１に記載の光データ信号の波
    形最適化方法。
  14. 【請求項１４】 前記分散値の制御ステップで、 現在と直前のアイ開口部の大きさを比較し、前記アイ開
    口部の大きさの増減に応じて、 前記分散等化器の分散値を増減する第１の処理と、 前記第１の処理の分散値の増減を反転させる第２の処理
    を行なうことを特徴とする請求項１１に記載の光データ
    信号の波形最適化方法。
  15. 【請求項１５】 前記分散値の制御ステップで、 現在と直前のアイ開口部の大きさを比較し、前記アイ開
    口部の大きさが増加している場合、前記分散等化器の分
    散値を増加させ、 前記アイ開口部の大きさが減少している場合、前記分散
    等化器の分散値を減少させ、 前記分散値を増加させる場合に、前記アイ開口部の大き
    さの増加に応じて、前記分散値の増加量を段階的に小さ
    くすることを特徴とする請求項１１に記載の光データ信
    号の波形最適化方法。
  16. 【請求項１６】 前記分散値の制御ステップで、 現在と直前のアイ開口部の大きさを比較し、前記アイ開
    口部の大きさの増減方向が変化する度に、前記分散等化
    器の分散値を所定値ずつ増加させる第１の処理と、前記
    分散等化器の分散値を所定値ずつ減少させる第２の処理
    とを切り替えて実行することを特徴とする請求項１１に
    記載の光データ信号の波形最適化方法。
  17. 【請求項１７】 分散等化器を介して入力した光信号を
    電気信号に変換し所定の振幅に増幅されたデータ信号
    を、最適位置に制御された識別点で識別するクロックデ
    ータ再生回路で識別再生する光受信装置上で動作し光デ
    ータ信号の波形最適化プログラムであって、 所定の振幅に増幅されたデータ信号のアイパターンを制
    御して、前記クロックデータ再生回路によって再生され
    たデータ信号のエラーが最小となるように前記分散等化
    器の分散特性を制御する機能を有することを特徴とする
    光データ信号の波形最適化プログラム。
  18. 【請求項１８】 前記クロックデータ再生回路からのデ
    ータ信号の識別情報に基づいて、データ信号のアイパタ
    ーンのアイ開口部を検出し、当該アイ開口部の大きさに
    従って、前記データ信号のエラーが最小となるように前
    記分散等化器の分散特性を制御することを特徴とする請
    求項１７に記載の光データ信号の波形最適化プログラ
    ム。
  19. 【請求項１９】 アイパターンの時間軸上の左識別点、
    中央識別点及び右識別点の３識別点の間隔を制御して前
    記３識別点が前記アイパターン内に収まるアイ開口部の
    大きさを求めるステップと、 求めた前記アイ開口部の大きさに応じて、前記分散等化
    器の分散値を増減することにより、前記分散値が最適な
    値となるように制御するステップとを備えることを特徴
    とする請求項１７に記載の光データ信号の波形最適化プ
    ログラム。
  20. 【請求項２０】 前記分散値の制御ステップで、 現在と直前のアイ開口部の大きさを比較し、前記アイ開
    口部の大きさの増減に応じて、前記分散等化器の分散値
    を増減することを特徴とする請求項１７に記載の光デー
    タ信号の波形最適化プログラム。
  21. 【請求項２１】 前記分散値の制御ステップで、 現在と直前のアイ開口部の大きさを比較し、前記アイ開
    口部の大きさが増加している場合、前記分散等化器の分
    散値を第１の所定値ずつ増加させ、 前記アイ開口部の大きさが減少している場合、前記前記
    前記分散等化器の分散値を第２の所定値ずつ減少させる
    ことを特徴とする請求項１７に記載の光データ信号の波
    形最適化プログラム。
  22. 【請求項２２】 前記分散値の制御ステップで、 現在と直前のアイ開口部の大きさを比較し、前記アイ開
    口部の大きさの増減に応じて、 前記分散等化器の分散値を増減する第１の処理と、 前記第１の処理の分散値の増減を反転させる第２の処理
    を行なうことを特徴とする請求項１７に記載の光データ
    信号の波形最適化プログラム。
  23. 【請求項２３】 前記分散値の制御ステップで、 現在と直前のアイ開口部の大きさを比較し、前記アイ開
    口部の大きさが増加している場合、前記分散等化器の分
    散値を増加させ、 前記アイ開口部の大きさが減少している場合、前記分散
    等化器の分散値を減少させ、 前記分散値を増加させる場合に、前記アイ開口部の大き
    さの増加に応じて、前記分散値の増加量を段階的に小さ
    くすることを特徴とする請求項１７に記載の光データ信
    号の波形最適化プログラム。
  24. 【請求項２４】 前記分散値の制御ステップで、 現在と直前のアイ開口部の大きさを比較し、前記アイ開
    口部の大きさの増減方向が変化する度に、前記分散等化
    器の分散値を所定値ずつ増加させる第１の処理と、前記
    分散等化器の分散値を所定値ずつ減少させる第２の処理
    とを切り替えて実行することを特徴とする請求項１７に
    記載の光データ信号の波形最適化プログラム。
  25. 【請求項２５】 前記クロックデータ再生回路が、光入
    力信号を電気信号に変換して入力データ信号として出力
    する光／電気変換回路と、所定の振幅まで増幅された入
    力データ信号からクロック成分を抽出し、そのクロック
    のタイミングで入力データ信号の１又は０を識別し、識
    別電圧を付与する機能が追加された識別電圧付加機能付
    きクロックデータ再生回路であって、 エラーパルスの計測結果に応じて、３識別点の幅を制御
    し、３識別点をその間隔を保ちつつ移動し、エラーパル
    ス計測時間を変更する処理を選択的に実行することによ
    り、前記識別点を最適に制御する識別電圧制御回路を備
    えることを特徴とする請求項１から請求項８の何れか１
    つに記載の光受信装置。
  26. 【請求項２６】 前記クロックデータ再生回路が、光入
    力信号を電気信号に変換して入力データ信号として出力
    する光／電気変換回路と、所定の振幅まで増幅された入
    力データ信号からクロック成分を抽出し、そのクロック
    のタイミングで入力データ信号の１又は０を識別し、識
    別電圧を付与する機能が追加された識別電圧付加機能付
    きクロックデータ再生回路であって、 エラーパルスの計測結果に応じて、３識別点の幅を制御
    し、エラーパルス計測時間を変更する処理を選択的に実
    行して前記識別点を最適に制御する識別電圧制御回路を
    備えたことを特徴とする請求項１から請求項８の何れか
    １つに記載の光受信装置。
  27. 【請求項２７】 前記クロックデータ再生回路が、光入
    力信号を電気信号に変換して入力データ信号として出力
    する光／電気変換回路と、所定の振幅まで増幅された入
    力データ信号からクロック成分を抽出し、そのクロック
    のタイミングで入力データ信号の１又は０を識別し、識
    別電圧を付与する機能が追加された識別電圧付加機能付
    きクロックデータ再生回路であって、 エラーパルスの計測結果に応じて、３識別点の幅を制御
    し、３識別点をその間隔を保ちつつ移動する処理を選択
    的に実行して識別点を最適に制御する識別電圧制御回路
    を備えたことを特徴とする請求項１から請求項８の何れ
    か１つに記載の光受信装置。
  28. 【請求項２８】 前記クロックデータ再生回路が、光入
    力信号を電気信号に変換して入力データ信号として出力
    する光／電気変換回路と、所定の振幅まで増幅された入
    力データ信号からクロック成分を抽出し、そのクロック
    のタイミングで入力データ信号の１又は０を識別し、識
    別電圧を付与する機能が追加された識別電圧付加機能付
    きクロックデータ再生回路であって、 エラーパルスの計測結果に応じて、３識別点の幅を制御
    して識別点を最適に制御する識別電圧制御回路を備えた
    ことを特徴とする請求項１から請求項８の何れか１つに
    記載の光受信装置。
  29. 【請求項２９】 前記クロックデータ再生回路が、光入
    力信号を電気信号に変換して入力データ信号として出力
    する光／電気変換回路と、所定の振幅まで増幅された入
    力データ信号からクロック成分を抽出し、そのクロック
    のタイミングで入力データ信号の１又は０を識別し、識
    別電圧を付与する機能が追加された識別電圧付加機能付
    きクロックデータ再生回路であって、 入力データ信号のＨレベル近傍のエラー数とＬレベル近
    傍のエラー数を計数処理するエラーカウント部と、 前記エラー計数結果に基づいて、Ｈレベル近傍の上識別
    点と中央識別点又は、Ｌレベル近傍の下識別点との幅を
    変化させ、 前記エラー計数結果に基づいて、前記上下各識別点及び
    中央識別点の間隔保持をしたままで、３識別点を同時に
    動し、 前記エラー計数結果に基づいて、エラー数の計測時間を
    変化させる演算処理部とを備え、 前記入力データ信号のアイ開口部の内縁を検出しながら
    中央識別点を最適位置に設定する識別電圧制御回路を備
    えたことを特徴とする請求項１から請求項８の何れか１
    つに記載の光受信装置。
  30. 【請求項３０】 前記クロックデータ再生回路が、光入
    力信号を電気信号に変換して入力データ信号として出力
    する光／電気変換回路と、所定の振幅まで増幅された入
    力データ信号からクロック成分を抽出し、そのクロック
    のタイミングで入力データ信号の１又は０を識別し、識
    別電圧を付与する機能が追加された識別電圧付加機能付
    きクロックデータ再生回路であって、 入力データ信号のＨレベル近傍のエラー数とＬレベル近
    傍のエラー数を計数処理するエラーカウント部と、 前記エラー計数結果に基づいて、Ｈレベル近傍の上識別
    点と中央識別点又は、Ｌレベル近傍の下識別点との幅を
    変化させ、 前記エラー計数結果に基づいて、エラー数の計測時間を
    変化させる演算処理部とを備え、 前記入力データ信号のアイ開口部の内縁を検出しながら
    中央識別点を最適位置に設定する識別電圧制御回路を備
    えたことを特徴とする請求項１から請求項８の何れか１
    つに記載の光受信装置。
  31. 【請求項３１】 前記クロックデータ再生回路が、光入
    力信号を電気信号に変換して入力データ信号として出力
    する光／電気変換回路と、所定の振幅まで増幅された入
    力データ信号からクロック成分を抽出し、そのクロック
    のタイミングで入力データ信号の１又は０を識別し、識
    別電圧を付与する機能が追加された識別電圧付加機能付
    きクロックデータ再生回路であって、 入力データ信号のＨレベル近傍のエラー数とＬレベル近
    傍のエラー数を計数処理するエラーカウント部と、 前記エラー計数結果に基づいて、Ｈレベル近傍の上識別
    点と中央識別点又は、Ｌレベル近傍の下識別点との幅を
    変化させ、 前記エラー計数結果に基づいて、前記上下各識別点及び
    中央識別点の間隔保持をしたままで、３識別点を同時に
    動かす演算処理部とを備え、 前記入力データ信号のアイ開口部の内縁を検出しながら
    中央識別点を最適位置に設定する識別電圧制御回路を備
    えたことを特徴とする請求項１から請求項８の何れか１
    つに記載の光受信装置。
  32. 【請求項３２】 前記クロックデータ再生回路が、光入
    力信号を電気信号に変換して入力データ信号として出力
    する光／電気変換回路と、所定の振幅まで増幅された入
    力データ信号からクロック成分を抽出し、そのクロック
    のタイミングで入力データ信号の１又は０を識別し、識
    別電圧を付与する機能が追加された識別電圧付加機能付
    きクロックデータ再生回路であって、 入力データ信号のＨレベル近傍のエラー数とＬレベル近
    傍のエラー数を計数処理するエラーカウント部と、 前記エラー計数結果に基づいて、Ｈレベル近傍の上識別
    点と中央識別点又は、Ｌレベル近傍の下識別点との幅を
    変化させる演算処理部とを備え、 前記入力データ信号のアイ開口部の内縁を検出しながら
    中央識別点を最適位置に設定する識別電圧制御回路を備
    えたことを特徴とする請求項１から請求項８の何れか１
    つに記載の光受信装置。
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