JP2003031475A - 現像装置および現像方法 - Google Patents

現像装置および現像方法

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JP2003031475A
JP2003031475A JP2001215691A JP2001215691A JP2003031475A JP 2003031475 A JP2003031475 A JP 2003031475A JP 2001215691 A JP2001215691 A JP 2001215691A JP 2001215691 A JP2001215691 A JP 2001215691A JP 2003031475 A JP2003031475 A JP 2003031475A
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JP
Japan
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substrate
developing solution
nozzle
gas
developing
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Application number
JP2001215691A
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English (en)
Inventor
Osamu Tamada
修 玉田
Masakazu Sanada
雅和 真田
Akiko Tanaka
晶子 田中
Kayoko Nakano
佳代子 中野
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Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
Original Assignee
Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
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  • Photosensitive Polymer And Photoresist Processing (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 短時間で基板の全面に処理液を効率よく均一
に供給することができる基板処理装置および基板処理方
法を提供することである。 【解決手段】 外側カップ5の両側にはそれぞれ待機ポ
ット6,7が配置され、外側カップ5の一方の側部側に
はガイドレール8が配設されている。現像液ノズルアー
ム9およびガスノズルアーム17がアーム駆動部10に
よりガイドレール8に沿って走査方向Aおよびその逆方
向に移動可能に設けられている。現像液ノズルアーム9
には、下端部にスリット状吐出口15を有する現像液吐
出ノズル11がガイドレール8と垂直に取り付けられて
おり、ガスノズルアーム17には、下端部にスリット状
噴出口19を有するガス噴出ノズル16がガイドレール
8と垂直に取り付けられている。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、現像液を吐出する
現像液吐出ノズルを備えた現像装置および現像方法に関
する。
【0002】
【従来の技術】半導体ウエハ、液晶表示装置用ガラス基
板、フォトマスク用ガラス基板、光ディスク用基板等の
基板上に形成された感光性膜に現像処理を行うために現
像装置が用いられる。
【0003】図10は従来の現像装置により基板に現像
液を吐出する工程の一部を示す模式図であり、図11は
図10の現像液吐出ノズルの形状を示す模式図である。
【0004】図10に示すように、従来の現像装置によ
り基板100に現像液を吐出する工程では、現像液吐出
ノズル11のスリット状吐出口15から現像液51を吐
出しつつ、現像液吐出ノズル11を基板100外の一方
端縁から基板100上を通過して基板100外の他方端
縁まで(図中A方向)移動させる。また、図11に示す
ように、現像液吐出ノズル11のスリット状吐出口15
の吐出幅Lは、現像処理の対象となる基板100の直径
とほぼ同じかそれよりも大きく設定されている。
【0005】これにより、基板100上のフォトレジス
ト等の感光性膜の全面に現像液51が供給される。そし
て、供給された現像液51が、基板100上の感光性膜
と接触し、表面張力により基板100上に保持された状
態(液盛り)となる。この状態で一定時間基板100が
静止される。その結果、基板100上の感光性膜の現像
が行われる。
【0006】上記の現像装置では、静止した基板100
上に現像液を供給することにより、反応によって劣化し
た現像液の劣化の影響が少なく、また非常に穏やかな液
盛りが可能なため、非常に高度な現像性能が得られる。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】一方、近年の加工寸法
の縮小に伴い線幅の均一性の要求は日増しに高くなって
きている。現在は、露光用の光源としてKrF(フッ化
クリプトン)エキシマレーザ(波長248nm)が主に
用いられ、基板上に線幅0.18〜0.13μmのパタ
ーンが作製されている。さらに、線幅0.13〜0.1
μmに対応するArF(フッ化アルゴン)エキシマレー
ザ(波長196nm)や線幅0.1〜0.07μmに対
応するF2(フッ素ダイマ)エキシマレーザ(波長15
7nm)の使用も予想されており、さらなる線幅の精度
の向上が要求されている。
【0008】しかしながら、ArFエキシマレーザやF
2エキシマレーザを用いたフォトリソグラフィでは、非
常に撥水性が大きいフォトレジスト液が用いられる。そ
のため、基板100上に形成されたフォトレジスト膜上
に現像液51が供給された際に、基板100上に液が存
在しない部分が生じることがある。
【0009】図12は現像液が供給された際の基板10
0の平面図である。図中矢印は現像液吐出ノズル11の
移動方向(A方向)を示す。領域52は現像液が存在す
る領域を示しており、領域53は現像液が存在しない領
域を示している。
【0010】このように、スリット状吐出口15から基
板100上に現像液51を吐出しながら現像液吐出口ノ
ズル11を基板100外の一方端縁から基板100上を
通過して基板100外の他方端縁まで移動させた後、基
板100の主に一方端縁側に現像液が存在しない領域5
3が生じることがある。
【0011】この現象に対する解決手段の一つとして、
現像液吐出口ノズル11を低速で移動させる方法が考え
られる。この方法は、現像液吐出ノズル11を低速で基
板100上に移動させ現像液を吐出させることにより、
現像液が存在しない領域53の発生を防止するものであ
る。しかし、現像液吐出口ノズル11を低速で移動させ
る方法では、基板100上のフォトレジスト膜に対する
現像液の反応に時間差が発生することから基板100上
の線幅の不均一化が発生してしまう。
【0012】また、最近の現像処理においては、生産性
向上およびプロセス優位性(線幅の均一化)のために現
像処理の全体の時間を短縮することが要求されるように
なっている。ここで、現像処理の全体の時間の短縮化が
進むと、現像処理の全体の時間に対する現像液の液盛り
の時間の割合が相対的に大きくなる。その結果、現像液
吐出ノズル11の移動速度を低速化すると、現像液の供
給時間により現像処理の全体の時間の短縮化が制限され
る。
【0013】本発明の目的は、短時間で基板の全面に現
像液を効率よく均一に供給することができる現像装置お
よび現像方法を提供することである。
【0014】
【発明を解決するための手段および発明の効果】第1の
発明に係る現像装置は、基板を保持する基板保持手段
と、基板保持手段に保持された基板上に現像液を供給す
る現像液吐出ノズルと、基板上に気体を噴出する気体噴
出ノズルと、基板保持手段に静止状態で保持された基板
外の一方の位置から基板上を通過して基板外の他方の位
置まで現像液吐出ノズルおよび気体噴出ノズルを移動さ
せる移動手段とを備えたものである。
【0015】第1の発明に係る現像装置においては、移
動手段により現像液吐出ノズルおよび気体噴出ノズルが
基板保持手段に静止状態で保持された基板外の一方の位
置から基板上を通過して基板外の他方の位置まで移動さ
れつつ、現像液吐出ノズルから基板上に現像液が供給さ
れるとともに、気体噴出ノズルから基板上に気体が噴出
される。
【0016】この場合、現像液吐出ノズルにより基板上
に供給される現像液に気体噴出ノズルから噴出される気
体による運動エネルギーが与えられることにより、現像
液吐出ノズルの移動による現像液の慣性が打ち消され
る。それにより、現像液が現像液吐出ノズルに引っ張ら
れることにより発生する基板上の現像処理の不均一が防
止され、短時間で基板の全面に現像液が均一に供給され
る。したがって、現像吐出ノズルの移動速度の高速化が
可能となり、生産向上および現像処理の線幅の均一化を
図ることができる。
【0017】第2の発明に係る現像装置は、第1の発明
に係る現像装置の構成において、気体噴出ノズルは、現
像液吐出ノズルに設けられたものである。
【0018】この場合、現像液吐出ノズルとともに気体
噴出ノズルが移動するので、気体噴出ノズルから噴出さ
れる気体による運動エネルギーを、現像液吐出ノズルか
ら吐出される現像液の慣性を打ち消すように効率よく与
えることができる。
【0019】第3の発明に係る現像装置は、第1または
第2の発明に係る現像装置の構成において、気体噴出ノ
ズルは、現像液吐出ノズルの移動方向の前方側に配設さ
れたものである。
【0020】この場合、現像液吐出ノズルの前方側から
現像液に気体を噴出することにより、現像液吐出ノズル
の移動に伴って現像液が現像液吐出ノズルの前方側に移
動することを防止することができる。
【0021】第4の発明に係る現像装置は、第1または
第2の発明に係る現像装置の構成において、気体噴出ノ
ズルは、現像液吐出ノズルの移動方向の後方側に配設さ
れたものである。
【0022】この場合、現像液吐出ノズルの後方側から
現像液に気体を噴出することにより、現像液吐出ノズル
の移動に伴って現像液が現像液吐出ノズルの前方側に移
動することを防止することができる。
【0023】第5の発明に係る現像装置は、第1または
第2の発明に係る現像装置の構成において、気体噴出ノ
ズルは、現像液吐出ノズルの移動方向の前方側および後
方側に配設されたものである。
【0024】この場合、現像液吐出ノズルの前方側およ
び後方側から現像液に気体を噴出することにより、現像
液吐出ノズルの移動に伴って現像液が現像液吐出ノズル
の前方側に移動することをより確実に防止することがで
きる。
【0025】第6の発明に係る現像装置は、第3または
第5の発明に係る現像装置の構成において、現像液吐出
ノズルの移動方向の前方側に配設された気体噴出ノズル
は、移動手段による移動方向の後方側斜め下方に向けて
気体を噴出するものである。
【0026】この場合、現像液吐出ノズルの移動方向の
前方側に配設された気体噴出ノズルが移動方向の後方側
斜め下方に向けて気体を噴出することにより、現像液吐
出ノズルの移動に伴って現像液が現像液吐出ノズルの前
方側に移動することをより確実に防止することができ
る。
【0027】第7の発明に係る現像装置は、第1〜第6
のいずれかの発明に係る現像装置の構成において、現像
液吐出ノズルは、現像処理の対象となる基板の直径以上
の領域にわたって形成された現像液吐出口を有し、気体
噴出ノズルは、現像処理の対象となる基板の直径以上の
領域にわたって形成された気体噴出口を有するものであ
る。
【0028】この場合、1回の走査で現像液吐出ノズル
から基板上に現像液を供給するとともに基板上に供給さ
れる現像液に気体噴出ノズルにより気体を噴出すること
ができる。
【0029】第8の発明に係る現像装置は、第1〜第7
のいずれかの発明に係る現像装置の構成において、現像
液吐出ノズルは、移動手段による移動方向とほぼ垂直な
方向に直線状に現像液を吐出し、気体噴出ノズルは、移
動手段による移動方向とほぼ垂直な方向に直線状に気体
を噴出するものである。
【0030】この場合、移動方向とほぼ垂直な方向に直
線状に現像液を吐出し、かつ気体を噴出することによ
り、基板上に均一に現像液を供給することができ、さら
に現像液および気体の消費量が少なくなる。
【0031】第9の発明に係る現像方法は、基板保持手
段に静止状態で保持された基板上に現像液吐出ノズルか
ら現像液を吐出供給する現像方法であって、現像液吐出
ノズルから基板上に現像液を供給しかつ基板上に供給さ
れる現像液に気体噴出ノズルから気体を噴出させつつ現
像液吐出ノズルを気体噴出ノズルとともに基板外の一方
側の位置から基板上を通過して基板外の他方側の位置ま
で移動させるものである。
【0032】第9の発明に係る現像方法においては、現
像液吐出ノズルおよび気体噴出ノズルが基板保持手段に
静止状態で保持された基板外の一方の位置から基板上を
通過して基板外の他方の位置まで移動されつつ、現像液
吐出ノズルから基板上に現像液が供給されるとともに、
気体噴出ノズルから基板上に供給される現像液に気体が
噴出される。
【0033】この場合、現像液吐出ノズルにより基板上
に供給される現像液に気体噴出ノズルから噴出される気
体による運動エネルギーが与えられることにより、現像
液吐出ノズルの移動による現像液の慣性が打ち消され
る。それにより、現像液が現像液吐出ノズルに引っ張ら
れることにより発生する基板上の現像処理の不均一が防
止され、短時間で基板の全面に現像液が均一に供給され
る。したがって、現像吐出ノズルの移動速度の高速化が
可能となり、生産向上および現像処理の線幅の均一化を
図ることができる。
【0034】
【発明の実施の形態】図1は本発明の一実施の形態にお
ける現像装置の平面図、図2は図1の現像装置の主要部
のX−X線断面図、図3は図1の現像装置の主要部のY
−Y線断面図である。
【0035】図2および図3に示すように、現像装置
は、基板100を水平姿勢で吸引保持する基板保持部1
を備える。基板保持部1は、モータ2の回転軸3の先端
部に固定され、鉛直方向の軸の周りで回転可能に構成さ
れている。基板保持部1の周囲には、基板100を取り
囲むように円形の内側カップ4が上下動自在に設けられ
ている。また、内側カップ4の周囲には、正方形の外側
カップ5が設けられている。
【0036】図1に示すように、外側カップ5の両側に
はそれぞれ待機ポット6,7が配置され、外側カップ5
の一方の側部側にはガイドレール8が配設されている。
また、現像液ノズルアーム9およびガスノズルアーム1
7がアーム駆動部10によりガイドレール8に沿って走
査方向Aおよびその逆方向に移動可能に設けられてい
る。外側カップ5の他方の側部側には、純水を吐出する
純水吐出ノズル14が矢印Rの方向に回動可能に設けら
れている。
【0037】現像液ノズルアーム9には、下端部にスリ
ット状吐出口15を有する現像液吐出ノズル11がガイ
ドレール8と平面視において垂直に取り付けられてお
り、ガスノズルアーム17には、下端部にガス噴出口1
9を有するガス噴出ノズル16が平面視においてガイド
レール8と垂直に取り付けられている。ガスノズルアー
ム17は、現像液吐出ノズル11の移動方向である走査
方向Aの前方側に配設されている。
【0038】そして、現像液吐出ノズル11およびガス
噴出ノズル16は、待機ポット6の位置から基板100
上を通過して待機ポット7の位置まで走査方向Aに沿っ
て直線状に平行移動可能となっている。
【0039】図2に示すように、現像液吐出ノズル11
には、現像液供給系12により現像液が供給される。ま
た、ガス噴出ノズル16には、ガス供給系18によりガ
スが供給される。制御部13は、モータ2の回転動作、
アーム駆動部10による現像液吐出ノズル11の走査お
よびガス噴出ノズル16の走査、現像液吐出ノズル11
からの現像液の吐出およびガス噴出ノズル16からのガ
スの噴出を制御する。
【0040】ここで、ガス噴出ノズル16から噴出され
るガスは、例えば、窒素(N2)または圧縮空気等であ
る。
【0041】図4は現像液吐出ノズル11およびガス噴
出ノズル16の概略断面図である。また、図5は現像液
吐出ノズル11のスリット状吐出口15およびガス噴出
ノズル16のガス噴出口19を示す模式図であり、図5
(a)は現像液吐出ノズル11のスリット状吐出口15
およびガス噴出ノズル16のガス噴出口19の一例を示
す正面図であり、図5(b)は現像液吐出ノズル11の
スリット状吐出口およびガス噴出ノズル16のガス噴出
口の他の例を示す正面図である。
【0042】図4(a)に示すように、現像液吐出ノズ
ル11は現像液供給口21およびスリット状吐出口15
を有する。また、この現像液吐出ノズル11の移動方向
の前方側の側壁にガス噴出ノズル16が取り付けられて
いる。図4(b)に示すように、ガス噴出ノズル16は
管状部材22からなり、その周壁にガス噴出口19が設
けられている。ガス噴出口19は、ガス噴出ノズル16
の移動方向である走査方向Aよりも後方側に向けて斜め
方向にガスを噴出するように調整されている。
【0043】また、図5(a)に示すように、スリット
状吐出口15は、現像液吐出ノズル11の走査方向Aと
垂直に配置される。スリット状吐出口15のスリット幅
t1は0.05〜1.0mmであり、本実施の形態では
0.2mmである。また、スリット状吐出口15の吐出
幅L1は、現像対象となる基板100の直径と同じかま
たはそれよりも大きく設定され、直径8インチの基板1
00を現像処理する本実施の形態では210mmに設定
される。一方、ガス噴出口19のスリット幅t2および
噴出幅L2は、それぞれスリット状吐出口15のスリッ
ト幅t1および吐出幅L1と同じかまたはそれよりも大
きく設定される。現像液吐出ノズル11は、スリット状
吐出口15が基板100の表面に対して平行な状態を保
つように走査方向Aに走査され、またガス噴出ノズル1
6は、ガス噴出口19が基板100の表面に対して一定
の気体噴出角度を保つように走査方向Aに走査される。
【0044】また、現像液吐出ノズル11のスリット状
吐出口15およびガス噴出ノズル16のガス噴出口19
の形状を他の形状としてもよい。
【0045】例えば、図5(b)に示すように、スリッ
ト状吐出口25およびガス噴出口29を円形としてもよ
い。この場合、図5(b)に示すスリット状吐出口15
のスリット幅t3は、図5(a)に示したスリット状吐
出口15のスリット幅t1に対してほぼ同じもしくはそ
れ以上に設定される。そして、図5(b)に示すスリッ
ト状吐出口25の吐出幅L3は、図5(a)に示したス
リット状吐出口15の吐出幅L1に対してほぼ同じもし
くはそれ以上に設定される。同様に、ガス噴出口29の
スリット幅t4は、図5(a)に示したスリット幅t2
に対して同じかまたはそれよりも大きく設定され、図5
(b)に示すスリット状吐出口25の吐出幅L4は、図
5(a)に示したスリット状吐出口15の吐出幅L2に
対してほぼ同じもしくはそれ以上に設定される。
【0046】また、現像液吐出ノズル11は、現像液5
1の供給時にはスリット状吐出口15が基板100の上
面に対して0.2〜5.0mm、より好ましくは0.2
〜1.0mmの間隔を保つように走査される。本実施の
形態では、現像液吐出ノズル11のスリット状吐出口1
5と基板100の上面との間隔が1.5±0.5mmに
設定される。
【0047】本実施の形態では、基板保持部1が基板保
持手段に相当し、現像液吐出ノズル11が現像液吐出ノ
ズルに相当し、ガス噴出ノズル16が気体噴出ノズルに
相当し、アーム駆動部10が移動手段に相当し、制御部
13が制御手段に相当する。
【0048】次に、図6を参照しながら図1の現像装置
の動作を説明する。図6は図1の現像装置の動作を説明
する模式的工程図である。
【0049】まず、図6に示すように、現像装置内に基
板100が搬入され、基板100は基板保持部1により
静止状態で保持されている。そして、現像液吐出ノズル
11は、待機ポット6内の位置P0に待機している。現
像液の供給時には、現像液吐出ノズル11およびガス噴
出ノズル16が上昇した後、走査方向Aに移動し、外側
カップ5内の走査開始位置P1で下降する。
【0050】次に、現像液吐出ノズル11およびガス噴
出ノズル16は、走査開始位置P1から所定の走査速度
で走査を開始する。この時点では、現像液吐出ノズル1
1から現像液の吐出およびガス噴出ノズル16からのガ
スの噴出は行わない。本実施の形態では、走査速度は1
0〜500mm/秒とする。
【0051】現像液吐出ノズル11およびガス噴出ノズ
ル16の走査開始後、ガス噴出ノズル16のガス噴出口
19が基板100上に到達する前に、吐出開始位置P2
にてガス噴出口19からガスが所定の流量で噴出される
とともに、現像液吐出ノズル11から所定の流量で現像
液吐出ノズル11による現像液の吐出が開始される。本
実施の形態では、現像液の吐出流量は1.5L/分とす
る。
【0052】ここで、ガスの所定の流量とは、一定の流
量としてもよいし、基板100上に対する現像液の供給
が均一となるように流量制御を行ってもよい。
【0053】さらに、現像液吐出ノズル11は吐出開始
位置P2から基板100上を走査方向Aに直線状に移動
し、基板100上にスリット状吐出口15から現像液を
吐出し、かつガス噴出口19からガスを噴出しつつ基板
100上を移動する。これにより、基板100上の全面
に現像液が均一に供給される。そして、供給された現像
液は、表面張力により基板100上に保持される。
【0054】そして、現像液吐出ノズル11およびガス
噴出ノズル16が、基板100上を通過した後、基板1
00上から外れた吐出停止位置P3でスリット状吐出口
15からの現像液の吐出およびガス噴出口19からのガ
スの噴出を停止させる。
【0055】その後、現像液吐出ノズル11およびガス
噴出ノズル16は、外側カップ5内の走査停止位置P4
に到達した時点で走査を停止し、走査停止位置P4で上
昇した後、他方の待機ポット7の位置P5まで移動し、
待機ポット7内に下降する。
【0056】待機ポット7内では、現像液吐出ノズル1
1の先端に付着した現像液を水洗洗浄ノズル(図示せ
ず)で水洗洗浄し、その後残留する水滴を吸引ノズル
(図示せず)で吸引して除去する洗浄処理が行われる。
なお、これらの洗浄処理で発生する水滴の飛沫が現像処
理中の基板に飛び散らないように、待機ポット6,7は
側壁で囲まれている(図3参照)。
【0057】そして、基板100上に現像液が保持され
た状態を所定時間(例えば約60秒)維持し、基板10
0上のフォトレジスト膜等の感光性膜の現像を進行させ
る。このとき、通常は基板100を静止させておくが、
モータ2により基板保持部1を回転駆動することによ
り、基板100上の現像液の流動による現像むらが発生
しない程度のごく低速(約5rpm以下)で基板100
を回転または間欠回転させてもよい。
【0058】次に、図6(b)に示すように、モータ2
により回転数1000rpm程度で基板100を回転さ
せ、図1に示すように、純水吐出ノズル14を図1の矢
印Rの方向に回転させ、純水を基板100の中心部分お
よび周辺部分に供給し、一定時間基板100の表面を洗
浄する。これにより、純水が基板100に供給された時
点で現像液の規定度は純水で薄められて速やかに低下す
る。そのため、基板100上の現像液に純水が供給され
ると濃度の変化に敏感なフォトレジスト膜等の感光性膜
の現像反応は直ちに停止する。そして、一定時間純水に
より洗浄処理を行い、基板100上に残留した現像液や
現像液に溶解したレジスト成分等を除去する。
【0059】最後に、図6(c)に示すように、純水吐
出ノズル14による純水の供給を停止し、モータ2によ
り基板100を約4000rpm以上の高速で回転さ
せ、基板100から純水を振り切り、基板100を乾燥
させる。その後、基板100の回転を停止させ、現像処
理を終了する。
【0060】また、走査開始位置P1と吐出開始位置P
2の各位置、吐出停止位置P3と走査停止位置P4の各
位置は、上記の例に限らず、それぞれ同一の位置として
もよい。すなわち、現像液吐出ノズル11が走査開始位
置P1から走査を開始すると同時に、または走査開始位
置P1から走査を開始するよりも前に走査開始位置P1
において、現像液吐出ノズル11による現像液の吐出を
行う構成としてもよい。さらに、ガス噴出ノズル16が
走査開始位置P1から走査を開始すると同時に、また
は、走査開始位置P1から走査を開始するよりも前に走
査開始位置P1において、ガス噴出ノズル16によるガ
スの噴出を行う構成としてもよい。
【0061】また、上記実施の形態においては現像液吐
出ノズル11およびガス噴出ノズル16からの現像液、
ガスの噴出開始および吐出停止を同時とする場合につい
て説明したが、これに限定されず各々の動作をずらして
もよい。
【0062】次に、図6の現像液吐出時におけるガス噴
出ノズル16のガス噴出口19から噴出されるガスの効
果について説明する。
【0063】図7は図6の基板100上に現像液を吐出
する工程におけるガスの効果を示す模式図であり、図8
は図7のガス噴出ノズル16の位置を現像液吐出ノズル
11の移動方向の後方側に配設した場合のガスの効果を
示す模式図であり、図9はガス噴出ノズル16の位置を
現像液吐出ノズル11の移動方向の前方側および後方側
に配設した場合のガスの効果を示す模式図である。
【0064】図7に示すように、現像液吐出ノズル11
およびガス噴出ノズル16は基板100の一方端縁から
基板100上を通過して他方端縁の位置まで移動する
(図中矢印A)。現像液吐出ノズル11の移動方向の前
方側にガス噴出ノズル16を配設した場合、現像液吐出
ノズル11のスリット状吐出口15から吐出される現像
液に対してガス噴出ノズル16のガス噴出口19から噴
出されるガスにより運動エネルギーが与えられる。それ
により、現像液51に対して下向後方側に向かって力F
が発生し撥水性および表面張力の高い現像液51が、現
像液吐出ノズル11に引っ張られることなく基板100
上において供給された位置から移動することが抑制され
る。その結果、基板100上に均一に現像液51の供給
を行うことが可能となる。
【0065】また、図8に示すように、現像液吐出ノズ
ル11の移動方向の後方側にガス噴出ノズル16を配設
した場合において、現像液吐出ノズル11から吐出され
る現像液51に対してガス噴出ノズル16のガス噴出口
19から噴出されるガスにより運動エネルギーが与えら
れる。それにより、現像液51に対して下向後方側に向
かって力Fが発生し撥水性および表面張力の高い現像液
51が、現像液吐出ノズル11に引っ張られることなく
基板100上において供給された位置から移動すること
が抑制される。その結果、基板100上に均一に現像液
51の供給を行うことが可能となる。
【0066】さらに、図9に示すように、現像液吐出ノ
ズル11の移動方向の前方側および後方側にガス噴出ノ
ズル16を配設した場合、現像液吐出ノズル11のスリ
ット状吐出口15から吐出される現像液に対してガス噴
出ノズル16aのガス噴出口19aから噴出されるガス
およびガス噴出ノズル16bのガス噴出口19bから噴
出されるガスにより運動エネルギーが与えられる。それ
により、現像液51に対して下向後方側に向かって力F
が発生し撥水性および表面張力の高い現像液51が、現
像液吐出ノズル11に引っ張られることなく基板100
上において供給された位置から移動することがさらに抑
制される。その結果、さらに基板100上に均一に現像
液51の供給を行うことが可能となる。
【0067】このように、本実施の形態の現像装置で
は、移動する現像液吐出ノズル11から吐出される現像
液51の慣性に対して、ガス噴出口19から噴出される
ガスの運動エネルギーが与えられることにより、現像液
51の慣性を打ち消すことができる。したがって、現像
液51が、移動する現像液吐出ノズル11に引っ張られ
ることなく基板100上に均一に供給される。これらの
ことより、現像液吐出ノズル11の走査を高速化して
も、ガスの噴出量を制御することにより短時間で基板の
全面に現像液を均一に供給することができ、さらに生産
性向上および現像処理の線幅の不均一化を防止すること
ができる。
【0068】なお、上記実施の形態では、本発明をスリ
ット状吐出口を有する現像液吐出ノズルを用いた現像装
置および現像方法に適用した場合を説明したが、本発明
は、他の現像液吐出ノズルを用いた現像装置および現像
方法にも適用することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施の形態における現像装置の平面
図である。
【図2】図1の現像装置の主要部のX−X線断面図であ
る。
【図3】図1の現像装置の主要部のY−Y線断面図であ
る。
【図4】現像液吐出ノズルおよびガス噴出ノズルの概略
断面図である。
【図5】現像液吐出ノズルのスリット状吐出口およびガ
ス噴出ノズルのガス噴出口を示す模式図である。
【図6】図1の現像装置の動作を説明する模式的工程図
である。
【図7】図6の基板上に現像液を吐出する工程における
ガスの効果を示す模式図である。
【図8】図7のガス噴出ノズルの位置を現像液吐出ノズ
ルの移動方向の後方側に配設させた場合のガスの効果を
示す模式図である。
【図9】ガス噴出ノズルの位置を現像液吐出ノズルの移
動方向の前方側および後方側に配設した場合のガスの効
果を示す模式図である。
【図10】従来の現像装置により基板に現像液を吐出す
る工程の一部を示す模式図である。
【図11】図10の現像液吐出ノズルの形状を示す模式
図である。
【図12】現像液が供給された際の基板の平面図であ
る。
【符号の説明】
1 基板保持部 2 モータ 3 回転軸 4 内側カップ 5 外側カップ 6,7 待機ポット 8 ガイドレール 9 現像液ノズルアーム 10 アーム駆動部 11 現像液吐出ノズル 12 現像液供給系 13 制御部 14 純水吐出ノズル 15 スリット状吐出口 16 ガス噴出ノズル 17 ガスノズルアーム 18 ガス供給系 19 ガス噴出口 21 現像液供給口 22 管状部材 51 現像液 52 領域 53 領域 100 基板
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 真田 雅和 京都市上京区堀川通寺之内上る4丁目天神 北町1番地の1 大日本スクリーン製造株 式会社内 (72)発明者 田中 晶子 京都市上京区堀川通寺之内上る4丁目天神 北町1番地の1 大日本スクリーン製造株 式会社内 (72)発明者 中野 佳代子 京都市上京区堀川通寺之内上る4丁目天神 北町1番地の1 大日本スクリーン製造株 式会社内 Fターム(参考) 2H096 AA25 AA28 GA23 GA26 5F046 LA03 LA04 LA06

Claims (9)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 基板を保持する基板保持手段と、 前記基板保持手段に保持された基板上に現像液を供給す
    る現像液吐出ノズルと、 前記基板上に気体を噴出する気体噴出ノズルと、 前記基板保持手段に静止状態で保持された基板外の一方
    の位置から前記基板上を通過して基板外の他方の位置ま
    で前記現像液吐出ノズルおよび前記気体噴出ノズルを移
    動させる移動手段とを備えたことを特徴とする現像装
    置。
  2. 【請求項2】 前記気体噴出ノズルは、前記現像液吐出
    ノズルに設けられたことを特徴とする請求項1記載の現
    像装置。
  3. 【請求項3】 前記気体噴出ノズルは、前記現像液吐出
    ノズルの移動方向の前方側に配設されたことを特徴とす
    る請求項1または2記載の現像装置。
  4. 【請求項4】 前記気体噴出ノズルは、前記現像液吐出
    ノズルの移動方向の後方側に配設されたことを特徴とす
    る請求項1または2記載の現像装置。
  5. 【請求項5】 前記気体噴出ノズルは、前記現像液吐出
    ノズルの移動方向の前方側および後方側に配設されたこ
    とを特徴とする請求項1又は2記載の現像装置。
  6. 【請求項6】 前記現像液吐出ノズルの移動方向の前方
    側に配設された前記気体噴出ノズルは、前記移動手段に
    よる移動方向の後方側斜め下方に向けて気体を噴出する
    ことを特徴とする請求項3または5記載の現像装置。
  7. 【請求項7】 前記現像液吐出ノズルは、現像処理の対
    象となる基板の直径以上の領域にわたって形成された現
    像液吐出口を有し、 前記気体噴出ノズルは、現像処理の対象となる基板の直
    径以上の領域にわたって形成された気体噴出口を有する
    ことを特徴とする請求項1〜6のいずれかに記載の現像
    装置。
  8. 【請求項8】 前記現像液吐出ノズルは、前記移動手段
    による移動方向とほぼ垂直な方向に直線状に現像液を吐
    出し、 気体噴出ノズルは、前記移動手段による移動方向とほぼ
    垂直な方向に直線状に気体を噴出することを特徴とする
    請求項1〜7のいずれかに記載の現像装置。
  9. 【請求項9】 基板保持手段に静止状態で保持された基
    板上に現像液吐出ノズルから現像液を吐出供給する現像
    方法であって、 前記現像液吐出ノズルから前記基板上に現像液を供給し
    かつ前記基板上に供給される現像液に気体噴出ノズルか
    ら気体を噴出させつつ前記現像液吐出ノズルを前記気体
    噴出ノズルとともに前記基板外の一方側の位置から前記
    基板上を通過して前記基板外の他方側の位置まで移動さ
    せることを特徴とする現像方法。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010182715A (ja) * 2009-02-03 2010-08-19 Tokyo Electron Ltd 現像処理方法及び現像処理装置
JP2011129953A (ja) * 2011-03-03 2011-06-30 Tokyo Electron Ltd 現像装置
JP2018026477A (ja) * 2016-08-10 2018-02-15 東京エレクトロン株式会社 液処理装置及び液処理方法

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