JPH11244760A - 基板処理装置 - Google Patents

基板処理装置

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Publication number
JPH11244760A
JPH11244760A JP4595098A JP4595098A JPH11244760A JP H11244760 A JPH11244760 A JP H11244760A JP 4595098 A JP4595098 A JP 4595098A JP 4595098 A JP4595098 A JP 4595098A JP H11244760 A JPH11244760 A JP H11244760A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
substrate
processing liquid
discharge nozzle
developer
discharge port
Prior art date
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Pending
Application number
JP4595098A
Other languages
English (en)
Inventor
Joichi Nishimura
讓一 西村
Masami Otani
正美 大谷
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Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
Original Assignee
Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
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Publication date
Application filed by Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd filed Critical Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
Priority to JP4595098A priority Critical patent/JPH11244760A/ja
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  • Coating Apparatus (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
  • Photosensitive Polymer And Photoresist Processing (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 基板上に均一に処理液を供給することができ
る基板処理装置を提供することである。 【解決手段】 現像液吐出ノズル11のノズル本体部1
6は、平面状の前方側底面17aおよび平面状の後方側
底面17bからなる段差状の底面17を有する。ノズル
本体部16の前方側底面17aと基板との間隔は後方側
底面17bと基板との間隔よりも小さい。ノズル本体部
16は親水性材料により形成され、ノズル本体部16の
前方側底面17aおよび前方側の外壁面18は撥水性材
料層20でコーティングされている。現像処理時に基板
を基板保持部により静止状態で保持する。現像液吐出ノ
ズル11を基板外の一方側の位置から基板上を通過して
基板外の他方側の位置へ直線状に移動させつつ現像液を
基板上に供給する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、処理液を吐出する
処理液吐出ノズルを備えた基板処理装置に関する。
【0002】
【従来の技術】半導体ウエハ、液晶表示装置用ガラス基
板、フォトマスク用ガラス基板、光ディスク用基板等の
基板上に処理液を供給して基板に所定の処理を行う基板
処理装置が用いられる。このような基板処理装置として
は、現像装置、塗布装置等がある。
【0003】現像装置では、基板上に形成された感光性
膜に処理液として現像液を供給することにより現像処理
を行う。また、塗布装置では、基板の表面に処理液とし
てフォトレジスト液等の塗布液を供給することにより塗
布処理を行う。
【0004】例えば、回転式現像装置は、基板を水平に
保持して鉛直軸の周りで回転させる回転保持部と、基板
の表面に現像液を供給する現像液吐出ノズルとを備え
る。現像液吐出ノズルは、水平面内で回動自在に設けら
れたノズルアームの先端に取り付けられており、基板の
上方位置と待機位置との間を移動することができる。
【0005】現像処理時には、現像液吐出ノズルが待機
位置から基板の上方に移動した後、基板上の感光性膜に
現像液を供給する。供給された現像液は、基板の回転に
よって基板の全面に塗り広げられ、感光性膜と接触す
る。表面張力により基板上に現像液を保持した状態(液
盛り)で一定時間基板を静止させることにより感光性膜
の現像が行われる。現像液の供給が終了すると、現像液
吐出ノズルはノズルアームの回動により基板の上方から
退いた待機位置に移動する。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】上記の従来の回転式現
像装置では、回転する基板に吐出開始時の現像液が当た
ることにより基板上の感光性膜が大きな衝撃を受ける。
その衝撃で現像液中に気泡が生じ、感光性膜の表面に残
留する微小な気泡が現像欠陥となる場合がある。また、
吐出開始時の現像液による衝撃で感光性膜が損傷するお
それもある。
【0007】そこで、スリット状吐出口を有する現像液
吐出ノズルから現像液を吐出しながら基板上の一端から
他端へ現像液吐出ノズルを直線状に移動させることによ
り、基板上に現像液を供給する現像方法が提案されてい
る。この現像方法によれば、基板上の感光性膜に衝撃が
加わらず、基板上に現像液が均一に供給される。
【0008】しかしながら、スリット状吐出口を有する
現像液吐出ノズルを直線状に移動させると、移動する現
像液吐出ノズルの位置よりも現像液が先行して基板上に
流れる現象が生じる。このような現象が生じると、基板
上の現像液が先行した部分で現像液が進んでしまい、基
板面内で現像むらを生じる不都合がある。また、このよ
うな現象が生じると、先行して基板上を流れた現像液が
現像の進行により劣化し、この劣化した現像液が現像液
吐出ノズルの移動とともに基板上を流動するので新鮮な
現像液が供給されない部分が基板上に生じ、それによ
り、基板面内で現像均一性が悪くなり、現像後のパター
ン線幅の均一性が低下したり、現像不良が生じることが
ある。
【0009】本発明の目的は、基板上に均一に処理液を
供給することができる基板処理装置を提供することであ
る。
【0010】
【課題を解決するための手段および発明の効果】第1の
発明に係る基板処理装置は、基板を保持する基板保持手
段と、処理液を吐出する吐出口を有する処理液吐出ノズ
ルと、基板保持手段に保持された基板上に処理液吐出ノ
ズルの吐出口から処理液が供給されるように処理液吐出
ノズルを基板に対して相対的に移動させる移動手段とを
備え、処理液吐出ノズルの移動方向において処理液吐出
ノズルの吐出口よりも前方側の下端と基板との間隔が吐
出口よりも後方側の下端と基板との間隔に比べて小さく
なるように処理液吐出ノズルの底面に段差が設けられた
ものである。
【0011】本発明に係る基板処理装置においては、基
板保持手段に保持された基板上に処理液吐出ノズルの吐
出口から処理液が供給されるように移動手段により処理
液吐出ノズルが基板に対して相対的に移動する。
【0012】この場合、処理液吐出ノズルの移動方向に
おいて処理液吐出ノズルの吐出口よりも前方側の下端と
基板との間隔が後方側の下端と基板との間隔に比べて小
さくなるように処理液吐出ノズルの底面に段差が設けら
れているので、処理液吐出ノズルの吐出口よりも前方側
での処理液の流動抵抗が吐出口よりも後方側での処理液
の流動抵抗に比べて大きくなる。そのため、吐出口の前
方側よりも後方側に処理液が流れやすくなり、処理液の
先行が防止されるとともに、吐出口の後方側に多くの処
理液が供給される。それにより、基板上への処理液の供
給が均一化され、処理液の先行に伴う基板面内での処理
の不均一性が抑えられる。その結果、処理不良の発生が
防止され、均一な処理が行われる。
【0013】第2の発明に係る基板処理装置は、第1の
発明に係る基板処理装置の構成において、吐出口がスリ
ット状吐出口であるものである。この場合、処理液が一
定幅の領域に同時に供給される。
【0014】第3の発明に係る基板処理装置は、第2の
発明に係る基板処理装置の構成において、移動手段が、
処理液吐出ノズルをスリット状吐出口とほぼ垂直な方向
に直線状に移動させるものである。この場合、処理液吐
出ノズルのスリット状吐出口が基板上を直線状に走査さ
れるので、処理液を基板上の広い面積に均一に供給する
ことができる。
【0015】第4の発明に係る基板処理装置は、第1、
第2または第3の発明に係る基板処理装置の構成におい
て、処理液吐出ノズルの移動方向において処理液吐出ノ
ズルの吐出口よりも前方側の表面が撥水性を有し、吐出
口よりも後方側の表面が親水性を有するものである。
【0016】この場合、処理液吐出ノズルの移動方向に
おいて処理液吐出ノズルの吐出口よりも前方側の表面が
撥水性を有するので、処理液吐出ノズルの吐出口よりも
前方側の表面に処理液が這い上がる現象が抑制される。
それにより、処理液吐出ノズルの前方側の表面での処理
液の液面の振動による微小な気泡の噛み込みが防止さ
れ、微小な気泡の噛み込みによる処理不良の発生が防止
される。
【0017】また、処理液吐出ノズルの吐出口よりも後
方側の表面が親水性を有するので、処理液吐出ノズルの
後方側に十分な液溜まりが形成される。それにより、処
理液吐出ノズルの吐出口からの処理液の吐出に多少のば
らつきがあっても、基板上への処理液の供給が均一化さ
れ、液切れ現象や液弾き現象が十分に抑制される。
【0018】第5の発明に係る基板処理装置は、第1〜
第4のいずれかの発明に係る基板処理装置の構成におい
て、処理液吐出ノズルの吐出口の内壁面が親水性を有す
るものである。
【0019】この場合、処理液吐出ノズルの吐出口の内
壁面での処理液の流動性が高くなる。それにより、処理
液吐出ノズルの吐出口からの処理液の吐出の均一性が十
分に確保される。
【0020】第6の発明に係る基板処理装置は、第1〜
第5のいずれかの発明に係る基板処理装置の構成におい
て、処理液吐出ノズルは、吐出口の後方側に平面状の底
面を有し、移動手段は、基板保持手段に保持された基板
の表面に対して処理液吐出ノズルの平面状の底面が平行
な状態を保つように処理液吐出ノズルを基板に対して相
対的に移動させるものである。
【0021】この場合、処理液吐出ノズルの吐出口の後
方側の平面状の底面と基板の表面との間に互いに平行な
平面で囲まれた空間が形成される。この空間により吐出
口から吐出された処理液の整流作用が生じる。それによ
り、処理液が処理液吐出ノズルの吐出口の後方側に均一
に流れやすくなり、処理液が基板の表面により均一に供
給される。
【0022】
【発明の実施の形態】以下、本発明に係る基板処理装置
の一例として現像装置について説明する。
【0023】図1は本発明の一実施例における現像装置
の平面図、図2は図1の現像装置の主要部のX−X線断
面図、図3は図1の現像装置の主要部のY−Y線断面図
である。
【0024】図2および図3に示すように、現像装置
は、基板100を水平姿勢で吸引保持する基板保持部1
を備える。基板保持部1は、モータ2の回転軸3の先端
部に固定され、鉛直方向の軸の周りで回転可能に構成さ
れている。基板保持部1の周囲には、基板100を取り
囲むように円形の内側カップ4が上下動自在に設けられ
ている。また、内側カップ4の周囲には、正方形の外側
カップ5が設けられている。
【0025】図1に示すように、外側カップ5の両側に
はそれぞれ待機ポット6,7が配置され、外側カップ5
の一方の側部側にはガイドレール8が配設されている。
また、ノズルアーム9がアーム駆動部10によりガイド
レール8に沿って走査方向Aおよびその逆方向に移動可
能に設けられている。外側カップ5の他方の側部側に
は、純水を吐出する純水吐出ノズル12が矢印Rの方向
に回動可能に設けられている。
【0026】ノズルアーム9には、底面にスリット状吐
出口15を有する現像液吐出ノズル11がガイドレール
8と垂直に取り付けられている。これにより、現像液吐
出ノズル11は、待機ポット6の位置から基板100上
を通過して待機ポット7の位置まで走査方向Aに沿って
直線状に平行移動可能となっている。後述するように、
現像液吐出ノズル15の底面は段差状に形成されてい
る。
【0027】図2に示すように、現像液吐出ノズル11
には、現像液供給系14により現像液が供給される。制
御部13は、モータ2の回転動作、アーム駆動部10に
よる現像液吐出ノズル11の走査および現像液吐出ノズ
ル11からの現像液の吐出を制御する。
【0028】本実施例では、基板保持部1が基板保持手
段に相当し、現像液吐出ノズル11が処理液吐出ノズル
に相当し、アーム駆動部10が移動手段に相当する。
【0029】図4は現像液吐出ノズル11の断面図であ
る。また、図5は現像液吐出ノズル11の底面図であ
る。
【0030】現像液吐出ノズル11のノズル本体部16
は段差状の底面17を有する。このノズル本体部16に
は、鉛直下向きに延びかつ底面17で開口するスリット
状吐出口15が設けられている。段差状の底面17は、
走査方向Aにおいてスリット状吐出口15よりも前方側
の平面状の底面(以下、前方側底面と呼ぶ)17aおよ
びスリット状吐出口15よりも後方側の平面状の底面
(以下、後方側底面と呼ぶ)17bからなる。前方側底
面17aは、後方側底面17bよりも低い位置に形成さ
れている。それにより、図1の基板保持部1に水平に保
持された基板100の表面と前方側底面17aとの間隔
が基板100の表面と後方側底面17bとの間隔よりも
小さくなる。
【0031】現像液吐出ノズル11は、前方側底面17
aおよび後方側底面17bが基板100の表面に対して
平行な状態を保つように走査方向Aに走査される。
【0032】ノズル本体部16は、ステンレス鋼、石英
ガラス、パイレックスガラス、セラミックス(例えばア
ルミナ、SiC、αC)等の比較的硬質な親水性材料に
より形成されている。
【0033】走査方向Aにおいてノズル本体部16の前
方側底面17aおよびスリット状吐出口15よりも前方
側の外壁面18は、PPS(ポリフェニレンサルファイ
ド)、PTFE(ポリテトラフルオロエチレン)等の樹
脂系の撥水性材料層20でコーティングされている。本
実施例では、PTFEからなる撥水性材料層20が用い
られる。走査方向Aにおいてノズル本体部16の後方側
底面17bおよびスリット状吐出口15よりも後方側の
外壁面19では、親水性材料が露出している。また、ス
リット状吐出口15の内壁面15aでも、親水性材料が
露出している。
【0034】図5に示すように、スリット状吐出口15
は現像液吐出ノズル11の走査方向Aと垂直に配置され
る。スリット状吐出口15のスリット幅tは0.05〜
1.0mmであり、本実施例では0.1mmである。ま
た、スリット状吐出口15の吐出幅Lは、処理対象とな
る基板100の直径と同じかまたはそれよりも大きく設
定され、直径8インチの基板100を処理する場合に
は、本実施例では210mmに設定される。
【0035】次に、図6および図7を参照しながら図1
の現像装置の動作を説明する。現像処理時には、基板1
00は基板保持部1により静止状態で保持されている。
【0036】待機時には、現像液吐出ノズル11は、待
機ポット6内の位置P0に待機している。現像処理時に
は、現像液吐出ノズル11が上昇した後、走査方向Aに
移動し、外側カップ5内の走査開始位置P1で下降す
る。
【0037】その後、現像液吐出ノズル11は、走査開
始位置P1から所定の走査速度で走査を開始する。この
時点では、現像液吐出ノズル11からまだ現像液の吐出
は行わない。本実施例では、走査速度は10〜500m
m/秒とする。
【0038】現像液吐出ノズル11の走査開始後、現像
液吐出ノズル11のスリット状吐出口15が基板100
上に到達する前に、吐出開始位置P2にて所定の流量で
現像液吐出ノズル11による現像液の吐出を開始する。
本実施例では、現像液の流量は1.5L/分とする。
【0039】現像液吐出ノズル11は、現像液を吐出し
ながら吐出開始位置P2から基板100上を走査方向A
に直線状に移動する(図7参照)。これにより、基板1
00の全面に現像液が連続的に供給される。供給された
現像液は、表面張力により基板100上に保持される。
【0040】現像液吐出ノズル11が基板100上を通
過した後、基板100上から外れた吐出停止位置P3で
現像液吐出ノズル11による現像液の吐出を停止させ
る。そして、現像液吐出ノズル11が外側カップ5内の
走査停止位置P4に到達した時点で現像液吐出ノズル1
1の走査を停止させる。
【0041】その後、現像液吐出ノズル11は、走査停
止位置P4で上昇した後、他方の待機ポット7の位置P
5まで移動し、待機ポット7内に下降する。
【0042】基板100上に現像液が供給された状態を
一定時間維持し、現像を進行させる。このとき、モータ
2により基板保持部1を回転駆動し、基板100を回転
させてもよい。その後、純水吐出ノズル12により純水
を基板100上に供給しながら基板100を高速回転さ
せることにより基板100上の現像液を振り切り、基板
100を乾燥させて現像処理を終了する。
【0043】図8は基板100上での現像液吐出ノズル
11の走査を示す断面図である。図8に示すように、ノ
ズル本体部16の前方側底面17aと基板100の表面
との間隔が後方側底面17bと基板100の表面との間
隔に比べて小さくなっているので、スリット状吐出口1
5よりも前方側での現像液の流動抵抗がスリット状吐出
口15よりも後方側での現像液の流動抵抗に比べて大き
くなる。そのため、スリット状吐出口15の前方側より
も後方側に現像液が流れやすくなり、現像液の先行が防
止されるとともに、スリット状吐出口15の後方側に多
くの現像液が供給される。それにより、基板100上の
全面に新鮮な現像液が均一に供給され、現像液の先行に
よる不都合を抑えられる。
【0044】また、ノズル本体部16の前方側底面17
aおよび前方側の外壁面18が撥水性材料層20でコー
ティングされているので、現像液吐出ノズル11のスリ
ット状吐出口15の前方側に現像液が先行すること、お
よび前方側の外壁面18に現像液が這い上がる現象が十
分に抑制される。それにより、現像液吐出ノズル11の
外壁面18での現像液の液面の振動による微小な気泡の
噛み込みが防止される。したがって、微小な気泡の噛み
込みによる現像欠陥の発生が防止される。
【0045】さらに、ノズル本体部16の後方側底面1
7bおよび後方側の外壁面19が親水性材料により形成
されているので、スリット状吐出口15の後方側におけ
る保液性が良好となり、後方側底面17bと基板100
の表面との間に十分な液溜まりが形成される。それによ
り、スリット状吐出口15からの現像液の吐出の均一性
が良くない場合でも、現像液吐出ノズル11のスリット
状吐出口15の後方側で液切れ現象や液弾き現象が発生
することがない。
【0046】また、ノズル本体部16に設けられたスリ
ット状吐出口15の内壁面15aが親水性材料で形成さ
れているので、スリット状吐出口15の内壁面15aで
の現像液の流動性が高くなる。それにより、スリット状
吐出口15の全域にわたって現像液の吐出の均一性が確
保される。
【0047】また、ノズル本体部16の後方側底面17
bと基板100の表面との間に互いに平行な平面で囲ま
れた空間が形成され、この空間によりスリット状吐出口
15から吐出された現像液の整流作用が生じる。それに
より、現像液がスリット状吐出口15の後方側により均
一に流れやすくなる。
【0048】これらの結果、現像パターンの線幅均一性
が向上するとともに、現像不良の発生が防止される。
【0049】加えて、ノズル本体部16が比較的硬質の
親水性材料からなるので、高い加工精度が得られ、経時
変化にも強い。したがって、良好な吐出均一性が安定し
て得られる。
【0050】また、本実施例の現像装置では、現像液吐
出ノズル11が静止した基板100上に到達する前に現
像液の吐出が開始されるので、吐出開始時の現像液が基
板100に衝撃を与えることが回避される。それによ
り、現像液中の気泡の発生が抑制され、現像欠陥の発生
が防止される。
【0051】また、現像液吐出ノズル11の移動中に空
気に接触するスリット状吐出口15付近の現像液が基板
100外に廃棄され、現像液吐出ノズル11が基板10
0上に到達した時点で現像液吐出ノズル11から新しい
現像液が静止した基板100上に供給される。それによ
り、変質した現像液により現像欠陥が発生することが防
止されるとともに、乾燥した現像液によるパーティクル
が基板100上の感光性膜の表面に付着することが防止
される。
【0052】さらに、現像液吐出ノズル11が静止した
基板100上をスリット状吐出口15と基板100の上
面とが近接した状態で水平方向に直線状に平行移動し、
スリット状吐出口15に形成された帯状の現像液が基板
100の表面に連続的に接触するので、基板100の表
面に衝撃が加わることなく基板100の全面に現像液が
均一に供給される。
【0053】また、現像液吐出ノズル11が基板100
上を通過するまで現像液の供給が続けられるので、吐出
停止時の衝撃による液盛り中の現像液への悪影響が防止
される。その結果、現像欠陥の発生が抑制されるととも
に、現像後の感光性膜パターンの線幅均一性が向上す
る。
【0054】また、現像液吐出ノズル11が基板100
上を通り過ぎた後に現像液の吐出が停止されるので、吐
出停止時の現像液の液だれにより基板100上の感光性
膜に衝撃が加わることが防止される。したがって、現像
欠陥の発生や感光性膜パターンの線幅均一性の劣化が防
止される。
【0055】なお、本実施例では、現像液吐出ノズル1
1のノズル本体部16を親水性材料により形成し、ノズ
ル本体部16の前方側底面17aおよび前方側の外壁面
18に撥水性材料層20をコーティングしているが、ノ
ズル本体部16の前方側底面17aおよび前方側の外壁
面18に他の方法で撥水性処理を行なってもよい。ま
た、ノズル本体部16を他の材料により形成し、ノズル
本体部16の前方側底面17aおよび前方側の外壁面1
8に撥水性処理を行い、後方側底面17b、後方側の外
壁面19およびスリット状吐出口15の内壁面15aに
親水性処理を行ってもよい。
【0056】図9は本発明の他の実施例における現像液
吐出ノズルの断面図である。図9の現像液吐出ノズル2
1のノズル本体部26は、段差状の底面27を有する。
このノズル本体部26には、鉛直下向きに延びかつ底面
27で開口するスリット状吐出口25が設けられてい
る。段差状の底面27は、走査方向Aにおいてスリット
状吐出口25よりも前方側の傾斜面29およびスリット
状吐出口25よりも後方側の傾斜面31からなる。前方
側の傾斜面29の下端は、後方側の傾斜面31の下端よ
りも低い位置に形成されている。これにより、図1の基
板保持部1に水平に保持された基板100の表面と前方
側の傾斜面29の下端との間隔が基板100の表面と後
方側の傾斜面31の下端との間隔に比べて小さくなる。
【0057】ノズル本体部26は、ステンレス鋼、石英
ガラス、パイレックスガラス、セラミックス(たとえば
アルミナ、SiC、αC)等の比較的硬質な親水性材料
により形成されている。
【0058】走査方向Aにおいてノズル本体部26の前
方側の外壁面28および前方側の傾斜面29は、PP
S、PTFE等の樹脂系の撥水性材料層32でコーティ
ングされている。本実施例では、PTFEからなる撥水
性材料層32が用いられる。走査方向Aにおいてノズル
本体部26の後方側の外壁面30、後方側の傾斜面31
およびスリット状吐出口25の内壁面25aでは、親水
性材料が露出している。
【0059】スリット状吐出口25は現像液吐出ノズル
21の走査方向Aと垂直に配置される。スリット状吐出
口25のスリット幅および吐出幅は、図5に示したスリ
ット状吐出口15と同様である。
【0060】本実施例の現像液吐出ノズル21において
は、ノズル本体部26の前方側の傾斜面29の下端と基
板100の表面との間隔が後方側の傾斜面31の下端と
基板100の表面との間隔よりも小さくなっているの
で、スリット状吐出口25よりも前方側での現像液の流
動抵抗がスリット状吐出口25よりも後方側での現像液
の流動抵抗に比べて大きくなる。そのため、スリット状
吐出口25の前方側よりも後方側に現像液が流れやすく
なり、現像液の先行が防止されるとともに、スリット状
吐出口25の後方側に多くの現像液が供給される。それ
により、基板100上への現像液の供給が均一化され、
液切れ現象や液弾き現象が抑えられる。
【0061】また、ノズル本体部26の前方側の傾斜面
29および外壁面28が撥水性材料層32でコーティン
グされているので、現像液吐出ノズル21のスリット状
吐出口25の前方側に現像液が先行すること、および前
方側の傾斜面29および外壁面28に現像液が這い上が
る現象が十分に抑制される。それにより、現像液吐出ノ
ズル21の傾斜面29および外壁面28での現像液の液
面の振動による微小な気泡の噛み込みが防止される。し
たがって、微小な気泡の噛み込みによる現像欠陥の発生
が防止される。
【0062】さらに、ノズル本体部26の後方側の傾斜
面31および外壁面30が親水性材料により形成されて
いるので、スリット状吐出口25の後方側における保液
性が良好となり、後方側の傾斜面31と基板100の表
面との間に十分な液溜まりが形成される。それにより、
スリット状吐出口25からの現像液の吐出の均一性が良
くない場合でも、現像液吐出ノズル21のスリット状吐
出口25の後方側で液切れ現象や液弾き現象が発生する
ことがない。
【0063】また、ノズル本体部26に設けられたスリ
ット状吐出口25の内壁面25aが親水性材料で形成さ
れているので、スリット状吐出口25の内壁面25aで
の現像液の流動性が高くなる。それにより、スリット状
吐出口25の全域にわたって現像液の吐出の均一性が確
保される。
【0064】これらの結果、現像パターンの線幅均一性
が向上するとともに、現像不良の発生が防止される。
【0065】加えて、ノズル本体部26が比較的硬質の
親水性材料からなるので、高い加工精度が得られ、経時
変化にも強い。したがって、良好な吐出均一性が安定し
て得られる。
【0066】なお、本実施例では、現像液吐出ノズル2
1のノズル本体部26を親水性材料により形成し、ノズ
ル本体部26の前方側の外壁面28および傾斜面29に
撥水性材料層32をコーティングしているが、ノズル本
体部26の前方側の外壁面28および傾斜面29に他の
方法で撥水性処理を行なってもよい。また、ノズル本体
部26を他の材料により形成し、ノズル本体部26の前
方側の外壁面28および傾斜面29に撥水性処理を行
い、後方側の外壁面30、後方側の傾斜面31およびス
リット状吐出口25の内壁面25aに親水性処理を行っ
てもよい。
【0067】上記実施例の現像液吐出ノズル11,21
において、ノズル本体部16,26のスリット状吐出口
15,25の前後の部分を互いに上下動可能に構成する
とともに、これらの部分を互いに上下動させる機構を設
けてもよい。それにより、現像液吐出ノズル11,21
を走査方向Aと逆の方向に移動させる場合に、走査方向
Aと逆の方向においてスリット状吐出口15,25の前
方側の底面または下端と基板100との間隔を後方側の
底面または下端と基板100との間隔よりも小さくする
ことが可能となり、現像液吐出ノズル11,21の走査
方向Aおよびその逆の方向においてそれぞれ現像処理を
行うことができる。その結果、現像処理のスループット
が向上する。
【0068】上記実施例では、本発明を現像装置に適用
した場合を説明したが、本発明は、たとえばレジスト液
等の塗布液を吐出する塗布液吐出ノズルを用いた塗布装
置など、他の基板処理装置にも適用することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例における現像装置の平面図で
ある。
【図2】図1の現像装置の主要部のX−X線断面図であ
る。
【図3】図1の現像装置の主要部のY−Y線断面図であ
る。
【図4】現像液吐出ノズルの断面図である。
【図5】現像液吐出ノズルの底面図である。
【図6】図1の現像装置の動作を説明するための図であ
る。
【図7】基板上での現像液吐出ノズルの走査を示す平面
図である。
【図8】基板上での現像液吐出ノズルの走査を示す断面
図である。
【図9】本発明の他の実施例における現像液吐出ノズル
の断面図である。
【符号の説明】
1 基板保持部 4 内側カップ 5 外側カップ 8 ガイドレール 9 ノズルアーム 10 ノズル駆動部 11,21 現像液吐出ノズル 13 制御部 14 現像液供給系 15,25 スリット状吐出口 15a,25a 内壁面 16,26 ノズル本体部 17 底面 17a 前方側底面 17b 後方側底面 18,19,28,30 外壁面 20,32 撥水性材料層 29,31 傾斜面
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 FI H01L 21/30 569C

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 基板を保持する基板保持手段と、 処理液を吐出する吐出口を有する処理液吐出ノズルと、 前記基板保持手段に保持された基板上に前記処理液吐出
    ノズルの前記吐出口から処理液が供給されるように前記
    処理液吐出ノズルを前記基板に対して相対的に移動させ
    る移動手段とを備え、 前記処理液吐出ノズルの移動方向において前記処理液吐
    出ノズルの前記吐出口よりも前方側の下端と前記基板と
    の間隔が前記吐出口よりも後方側の下端と前記基板との
    間隔に比べて小さくなるように前記処理液吐出ノズルの
    底面に段差が設けられたことを特徴とする基板処理装
    置。
  2. 【請求項2】 前記吐出口がスリット状吐出口であるこ
    とを特徴とする請求項1記載の基板処理装置。
  3. 【請求項3】 前記移動手段は、前記処理液吐出ノズル
    を前記スリット状吐出口とほぼ垂直な方向に直線状に移
    動させることを特徴とする請求項1または2記載の基板
    処理装置。
  4. 【請求項4】 前記処理液吐出ノズルの移動方向におい
    て前記処理液吐出ノズルの前記吐出口よりも前方側の表
    面が撥水性を有し、前記吐出口よりも後方側の表面が親
    水性を有することを特徴とする請求項1、2または3記
    載の基板処理装置。
  5. 【請求項5】 前記処理液吐出ノズルの前記吐出口の内
    壁面が親水性を有することを特徴とする請求項1〜4の
    いずれかに記載の基板処理装置。
  6. 【請求項6】 前記処理液吐出ノズルは、移動方向にお
    いて前記吐出口の後方側に平面状の底面を有し、 前記移動手段は、前記基板保持手段に保持された基板の
    表面に対して前記処理液吐出ノズルの前記平面状の底面
    が平行な状態を保つように前記処理液吐出ノズルを前記
    基板に対して相対的に移動させることを特徴とする請求
    項1〜5のいずれかに記載の基板処理装置。
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Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006043685A (ja) * 2004-02-16 2006-02-16 Mitsubishi Rayon Co Ltd 接着剤塗布装置および接着剤塗布方法
JP2006108287A (ja) * 2004-10-04 2006-04-20 Dainippon Screen Mfg Co Ltd 基板処理装置および基板処理方法
KR100588411B1 (ko) 2004-09-17 2006-06-14 호서대학교 산학협력단 포토 레지스트 분사노즐 장치
KR100722642B1 (ko) 2004-10-04 2007-05-28 다이니폰 스크린 세이조우 가부시키가이샤 기판 처리 장치 및 기판 처리 방법
JP2009172471A (ja) * 2008-01-22 2009-08-06 Voith Patent Gmbh カーテンコータのエッジガイド
JP2011082230A (ja) * 2009-10-05 2011-04-21 Dainippon Screen Mfg Co Ltd 基板塗布装置
JP2013145891A (ja) * 2013-02-15 2013-07-25 Sokudo Co Ltd 基板処理ユニットおよび基板処理装置
WO2015181918A1 (ja) * 2014-05-27 2015-12-03 株式会社Sat 塗布装置及び塗布方法
CN113102193A (zh) * 2021-03-04 2021-07-13 南昌大学 一种基于表面亲疏水微结构的涂布机刮刀

Cited By (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006043685A (ja) * 2004-02-16 2006-02-16 Mitsubishi Rayon Co Ltd 接着剤塗布装置および接着剤塗布方法
KR100588411B1 (ko) 2004-09-17 2006-06-14 호서대학교 산학협력단 포토 레지스트 분사노즐 장치
JP2006108287A (ja) * 2004-10-04 2006-04-20 Dainippon Screen Mfg Co Ltd 基板処理装置および基板処理方法
KR100722642B1 (ko) 2004-10-04 2007-05-28 다이니폰 스크린 세이조우 가부시키가이샤 기판 처리 장치 및 기판 처리 방법
JP2009172471A (ja) * 2008-01-22 2009-08-06 Voith Patent Gmbh カーテンコータのエッジガイド
JP2011082230A (ja) * 2009-10-05 2011-04-21 Dainippon Screen Mfg Co Ltd 基板塗布装置
JP2013145891A (ja) * 2013-02-15 2013-07-25 Sokudo Co Ltd 基板処理ユニットおよび基板処理装置
WO2015181918A1 (ja) * 2014-05-27 2015-12-03 株式会社Sat 塗布装置及び塗布方法
JP2015223550A (ja) * 2014-05-27 2015-12-14 株式会社Sat 塗布装置及び塗布方法
CN113102193A (zh) * 2021-03-04 2021-07-13 南昌大学 一种基于表面亲疏水微结构的涂布机刮刀
CN113102193B (zh) * 2021-03-04 2022-04-26 南昌大学 一种基于表面亲疏水微结构的涂布机刮刀

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