JP2003027280A5 - - Google Patents

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【0007】
【課題を解決するための手段】
このような従来技術における問題点を解決するために、本発明の一態様は、基板を搬送する第1の基板搬送装置を有するロード・アンロード部と、基板を処理する少なくとも1つの基板処理ユニットと、基板にめっき処理を施す少なくとも1つのめっき処理ユニットを有するめっき空間と、基板を上記めっき処理ユニットに搬送する第2の基板搬送装置とを有する処理空間とを備え、上記処理空間内のめっき空間を上記処理空間とは別に給排気可能したことを特徴とするめっき装置である。
また、本発明の好ましい一態様は、上記基板処理ユニットは、基板を保持する基板保持部を備えたことを特徴とする。更に、本発明の好ましい一態様は、上記めっき処理ユニットは、内部にめっき液を収容するめっき処理槽を備えたことを特徴とする。
また、本発明の好ましい一態様は、上記第2の基板搬送装置が、上記第1の基板搬送装置、上記基板処理ユニット、及び上記めっき処理ユニットとの間で基板を搬送することを特徴とする。
また、上記処理空間に空気を供給するファンを設けることが好ましく、上記処理空間内で空気を循環させる循環配管を設けることが好ましい。更に、上記めっき空間に空気を供給するファンを設けることが好ましく、上記めっき空間内で空気を循環させる循環配管を設けることが好ましい。更に、上記めっき空間から空気を排気する配管を設けることが好ましく、上記めっき空間の圧力が上記処理空間の圧力よりも低くなるように上記めっき空間から空気を排気することが好ましい
本発明の好ましい一態様は、隔壁により上記めっき空間を外部の上記処理空間から隔絶し、上記隔壁に少なくとも1つの開口部を設け、上記めっき空間と上記処理空間との間で上記隔壁に設けられた開口部を介して基板を出入れすることを特徴とする。また、上記めっき空間の内部には基板搬送装置が配置されないことが好ましい。更に、上記近接させた複数のめっき処理ユニットを取り囲むように上記めっき空間を形成することが好ましい。また、上記処理空間に対して負圧となるように上記めっき空間を給排気することとしてもよい。
また、本発明の好ましい一態様は、上記めっき空間には、上記第2の基板搬送装置に対して片側に複数のめっき処理ユニットを近接させて配置したことを特徴とする。また、上記第2の基板搬送装置は、自走タイプの基板搬送装置であることが好ましく、上記第2の基板搬送装置は、上記めっき空間内で基板を搬送することが好ましい。
更に、本発明の好ましい一態様は、上記基板処理ユニットが、基板を加熱するアニールユニットであることを特徴とする。この場合において、上記第2の基板搬送装置を、上記アニールユニットと上記めっき処理ユニットとの間に配置することが好ましい。
更に、本発明の好ましい一態様は、上記基板処理ユニットが、基板の周縁部を洗浄する洗浄ユニットであることを特徴とする。この場合において、上記第2の基板搬送装置を、上記洗浄ユニットと上記めっき処理ユニットとの間に配置することが好ましい。

Claims (18)

  1. 基板を搬送する第1の基板搬送装置を有するロード・アンロード部と、
    基板を処理する少なくとも1つの基板処理ユニットと、基板にめっき処理を施す少なくとも1つのめっき処理ユニットを有するめっき空間と、基板を前記めっき処理ユニットに搬送する第2の基板搬送装置とを有する処理空間とを備え、
    前記処理空間内のめっき空間を前記処理空間とは別に給排気可能したことを特徴とするめっき装置。
  2. 前記基板処理ユニットは、基板を保持する基板保持部を備えたことを特徴とする請求項1に記載のめっき装置。
  3. 前記めっき処理ユニットは、内部にめっき液を収容するめっき処理槽を備えたことを特徴とする請求項1又は2に記載のめっき装置。
  4. 前記第2の基板搬送装置は、前記第1の基板搬送装置、前記基板処理ユニット、及び前記めっき処理ユニットとの間で基板を搬送することを特徴とする請求項1乃至3のいずれか一項に記載のめっき装置。
  5. 前記処理空間に空気を供給するファンを更に備えたことを特徴とする請求項1乃至4のいずれか一項に記載のめっき装置。
  6. 前記処理空間内で空気を循環させる循環配管を更に備えたことを特徴とする請求項1乃至5のいずれか一項に記載のめっき装置。
  7. 前記めっき空間に空気を供給するファンを更に備えたことを特徴とする請求項1乃至6のいずれか一項に記載のめっき装置。
  8. 前記めっき空間内で空気を循環させる循環配管を更に備えたことを特徴とする請求項1乃至7のいずれか一項に記載のめっき装置。
  9. 前記めっき空間から空気を排気する配管を更に備えたことを特徴とする請求項1乃至8のいずれか一項に記載のめっき装置。
  10. 前記めっき空間の圧力が前記処理空間の圧力よりも低くなるように前記めっき空間から空気を排気することを特徴とする請求項9に記載のめっき装置。
  11. 隔壁により前記めっき空間を外部の前記処理空間から隔絶し、
    前記隔壁に少なくとも1つの開口部を設け、前記めっき空間と前記処理空間との間で前記隔壁に設けられた開口部を介して基板を出入れすることを特徴とする請求項1乃至10のいずれか一項に記載のめっき装置。
  12. 前記めっき空間には、前記第2の基板搬送装置に対して片側に複数のめっき処理ユニットを近接させて配置したことを特徴とする請求項1乃至11のいずれか一項に記載のめっき装置。
  13. 前記第2の基板搬送装置は、自走タイプの基板搬送装置であることを特徴とする請求項1乃至12のいずれか一項に記載のめっき装置。
  14. 前記第2の基板搬送装置は、前記めっき空間内で基板を搬送することを特徴とする請求項1乃至13のいずれか一項に記載のめっき装置。
  15. 前記基板処理ユニットは、基板を加熱するアニールユニットであることを特徴とする請求項1乃至14のいずれか一項に記載のめっき装置。
  16. 前記第2の基板搬送装置は、前記アニールユニットと前記めっき処理ユニットとの間に配置されていることを特徴とする請求項15に記載のめっき装置。
  17. 前記基板処理ユニットは、基板の周縁部を洗浄する洗浄ユニットであることを特徴とする請求項1乃至14のいずれか一項に記載のめっき装置。
  18. 前記第2の基板搬送装置は、前記洗浄ユニットと前記めっき処理ユニットとの間に配置されていることを特徴とする請求項17に記載のめっき装置。
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Families Citing this family (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3979464B2 (ja) * 2001-12-27 2007-09-19 株式会社荏原製作所 無電解めっき前処理装置及び方法
US7128823B2 (en) 2002-07-24 2006-10-31 Applied Materials, Inc. Anolyte for copper plating
WO2004094702A2 (en) * 2003-04-18 2004-11-04 Applied Materials, Inc. Multi-chemistry plating system
JP4295032B2 (ja) * 2003-07-22 2009-07-15 大日本スクリーン製造株式会社 めっき装置
WO2006060643A2 (en) * 2004-12-03 2006-06-08 University Of Pittsburgh Novel bladder matrix protein peptides and methods of detection of bladder cancer
JP4519037B2 (ja) * 2005-08-31 2010-08-04 東京エレクトロン株式会社 加熱装置及び塗布、現像装置
KR100809594B1 (ko) * 2006-09-12 2008-03-04 세메스 주식회사 척킹부재 및 이를 포함하는 스핀헤드
KR101367898B1 (ko) * 2007-05-17 2014-02-26 위순임 플라즈마 감금 장벽 및 이를 구비한 기판 처리 시스템 및방법
KR20110051588A (ko) * 2009-11-10 2011-05-18 삼성전자주식회사 기판 도금 장치 및 방법
GB201021326D0 (en) * 2010-12-16 2011-01-26 Picofluidics Ltd Electro chemical deposition apparatus
US20140220777A1 (en) * 2013-02-05 2014-08-07 International Business Machines Corporation Processing system for combined metal deposition and reflow anneal for forming interconnect structures
KR20200086582A (ko) * 2019-01-09 2020-07-17 삼성전자주식회사 원자층 증착 장치 및 이를 이용한 박막 형성 방법
JP6937972B1 (ja) * 2021-02-25 2021-09-22 株式会社荏原製作所 めっき装置及びめっき装置の気泡除去方法

Family Cites Families (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5679059A (en) * 1994-11-29 1997-10-21 Ebara Corporation Polishing aparatus and method
US5565034A (en) * 1993-10-29 1996-10-15 Tokyo Electron Limited Apparatus for processing substrates having a film formed on a surface of the substrate
US6921467B2 (en) * 1996-07-15 2005-07-26 Semitool, Inc. Processing tools, components of processing tools, and method of making and using same for electrochemical processing of microelectronic workpieces
TW405158B (en) * 1997-09-17 2000-09-11 Ebara Corp Plating apparatus for semiconductor wafer processing
EP1061157A4 (en) * 1998-03-02 2009-05-06 Ebara Corp SUBSTRATE COATING DEVICE
CN1191605C (zh) * 1998-11-28 2005-03-02 Acm研究公司 在电镀和/或电抛光期间装载和定位半导体工件的方法与设备
US6267853B1 (en) * 1999-07-09 2001-07-31 Applied Materials, Inc. Electro-chemical deposition system
US6660139B1 (en) * 1999-11-08 2003-12-09 Ebara Corporation Plating apparatus and method
JP3556882B2 (ja) * 2000-05-10 2004-08-25 東京エレクトロン株式会社 塗布現像処理システム
KR100800531B1 (ko) * 2000-06-30 2008-02-04 가부시키가이샤 에바라 세이사꾸쇼 구리 도금액, 도금 방법 및 도금 장치
JP3284496B2 (ja) * 2000-08-09 2002-05-20 株式会社荏原製作所 めっき装置及びめっき液除去方法
CN1260778C (zh) * 2000-12-04 2006-06-21 株式会社荏原制作所 基片加工方法
JP2002212786A (ja) * 2001-01-17 2002-07-31 Ebara Corp 基板処理装置
JP2002220692A (ja) * 2001-01-24 2002-08-09 Ebara Corp めっき装置及び方法
KR20020092444A (ko) * 2001-02-23 2002-12-11 가부시키 가이샤 에바라 세이사꾸쇼 구리-도금 용액, 도금 방법 및 도금 장치

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