JP2003014837A - レーダ装置 - Google Patents
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 ミリ波レーダ装置に関し、特にＦＭ−ＣＷ方
式を用いて移動体間の車間距離及び相対速度を測定する
ミリ波レーダ装置に組み込まれ、装置単体でアナログ試
験が可能なミリ波レーダ試験装置を提供する。 【解決手段】 ミリ波レーダ試験装置は、ミリ波レーダ
装置内部に組み込まれ、所定の状況を模擬した試験信号
を生成出力するための擬似信号発生手段と、受信信号又
は前記試験信号のいずれか一方を選択してアナログ受信
回路へ入力し、試験時には前記試験信号を選択するスイ
ッチと、前記アナログ受信回路からの出力信号を測定し
てその正常性を試験する試験手段を含み、前記擬似信号
発生手段、スイッチ、及び試験手段を制御して少なくと
も一つ以上の試験項目を順次又は選択的に実行する試験
制御手段と、で構成される。
式を用いて移動体間の車間距離及び相対速度を測定する
ミリ波レーダ装置に組み込まれ、装置単体でアナログ試
験が可能なミリ波レーダ試験装置を提供する。 【解決手段】 ミリ波レーダ試験装置は、ミリ波レーダ
装置内部に組み込まれ、所定の状況を模擬した試験信号
を生成出力するための擬似信号発生手段と、受信信号又
は前記試験信号のいずれか一方を選択してアナログ受信
回路へ入力し、試験時には前記試験信号を選択するスイ
ッチと、前記アナログ受信回路からの出力信号を測定し
てその正常性を試験する試験手段を含み、前記擬似信号
発生手段、スイッチ、及び試験手段を制御して少なくと
も一つ以上の試験項目を順次又は選択的に実行する試験
制御手段と、で構成される。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明はミリ波レーダ装置に
関し、特にＦＭ−ＣＷ (Frequency Modulated -Continu
ous Waves) 方式を用いて移動体間の車間距離及び相対
速度を測定するミリ波レーダの試験装置に関するもので
ある。
関し、特にＦＭ−ＣＷ (Frequency Modulated -Continu
ous Waves) 方式を用いて移動体間の車間距離及び相対
速度を測定するミリ波レーダの試験装置に関するもので
ある。
【０００２】
【従来の技術】ＦＭ−ＣＷレーダ方式を用いた装置移動
体間の車間距離及び相対速度の計測においては、先ず送
信側の移動体からガン発振器等により発生させたミリ波
信号をＦＭ変調器により三角波周波数変調を行い、それ
を送信アンテナから前方の移動体に向けて発射する。次
に、前方移動体からの反射波を受信アンテナで受信し、
それと送信信号の一部とを混合し、それらの間の位相差
によって生じるビート信号を用いて前方移動体との車間
距離及び相対速度を求める。
体間の車間距離及び相対速度の計測においては、先ず送
信側の移動体からガン発振器等により発生させたミリ波
信号をＦＭ変調器により三角波周波数変調を行い、それ
を送信アンテナから前方の移動体に向けて発射する。次
に、前方移動体からの反射波を受信アンテナで受信し、
それと送信信号の一部とを混合し、それらの間の位相差
によって生じるビート信号を用いて前方移動体との車間
距離及び相対速度を求める。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】このように、ＦＭ−Ｃ
Ｗレーダ方式は比較的簡易な回路構成で移動体間の車間
距離及び相対速度が同時に求まるという大きな利点を有
している。しかしながら、上記動作を実現するため、フ
ィルタやＡＧＣ (Auto-Gain Control) 等のアナログ回
路やＦＦＴ (Fast Fourier Transform) 演算処理を行な
うデジタル信号処理デバイス（ＤＳＰ）等の種々の回路
要素が装置内部に組み込まれている。
Ｗレーダ方式は比較的簡易な回路構成で移動体間の車間
距離及び相対速度が同時に求まるという大きな利点を有
している。しかしながら、上記動作を実現するため、フ
ィルタやＡＧＣ (Auto-Gain Control) 等のアナログ回
路やＦＦＴ (Fast Fourier Transform) 演算処理を行な
うデジタル信号処理デバイス（ＤＳＰ）等の種々の回路
要素が装置内部に組み込まれている。
【０００４】このため、各回路要素の正常動作の確認が
必要となるが、特に車両の走行を制御し、それにより搭
乗者等の人命に直結するミリ波レーダ装置の正常性確認
については、従来のように工場出荷時の試験・検査に頼
ることなく、常時若しくは定期的に、または必要なら車
両の走行中でも行ない得ることが必要である。
必要となるが、特に車両の走行を制御し、それにより搭
乗者等の人命に直結するミリ波レーダ装置の正常性確認
については、従来のように工場出荷時の試験・検査に頼
ることなく、常時若しくは定期的に、または必要なら車
両の走行中でも行ない得ることが必要である。
【０００５】しかしながら、ソフトウェア処理に関する
ものについては装置への電源投入時毎等にチェック可能
であるが、測定対象物を必要とするビート検出機能や外
部からの入力信号を必要とするアナログ回路等をミリ波
レーダ装置単体で試験するには困難があった。
ものについては装置への電源投入時毎等にチェック可能
であるが、測定対象物を必要とするビート検出機能や外
部からの入力信号を必要とするアナログ回路等をミリ波
レーダ装置単体で試験するには困難があった。
【０００６】そこで本発明の目的は、ミリ波レーダ装置
単体で必要な時はいつでも自らのハードウェア機能や測
定対象物を必要とする機能等の試験を実施できるミリ波
レーダ装置を提供することにある。
単体で必要な時はいつでも自らのハードウェア機能や測
定対象物を必要とする機能等の試験を実施できるミリ波
レーダ装置を提供することにある。
【０００７】
【課題を解決するための手段】本発明によれば、試験信
号を生成出力するための擬似信号発生手段と、受信信号
又は前記試験信号のいずれか一方を選択して受信回路へ
入力し、試験時には前記試験信号を選択する信号切替手
段と、前記受信回路からの出力信号を測定してその正常
性を試験する試験手段を含み、前記擬似信号発生手段、
信号切替手段、及び試験手段を制御して少なくとも一つ
以上の自己診断試験項目を順次又は選択的に実行する試
験制御手段と、を有するレーダ装置が提供される。
号を生成出力するための擬似信号発生手段と、受信信号
又は前記試験信号のいずれか一方を選択して受信回路へ
入力し、試験時には前記試験信号を選択する信号切替手
段と、前記受信回路からの出力信号を測定してその正常
性を試験する試験手段を含み、前記擬似信号発生手段、
信号切替手段、及び試験手段を制御して少なくとも一つ
以上の自己診断試験項目を順次又は選択的に実行する試
験制御手段と、を有するレーダ装置が提供される。
【０００８】前記受信回路は、利得制御部を含み、前記
試験手段は、前記擬似信号発生手段に所定のアナログ信
号出力を指示し、さらに前記受信回路のゲインコントロ
ールの制御を行なうことにより前記利得制御部の性能及
び異常の有無を検出する。また、前記受信回路は、フィ
ルタ部を含み、前記試験手段は、前記擬似信号発生手段
に所定の信号の出力を指示し、所定の周波数ポイントに
おける前記受信回路からの出力信号レベルから前記フィ
ルタ部の性能及び異常の有無を検出する。
試験手段は、前記擬似信号発生手段に所定のアナログ信
号出力を指示し、さらに前記受信回路のゲインコントロ
ールの制御を行なうことにより前記利得制御部の性能及
び異常の有無を検出する。また、前記受信回路は、フィ
ルタ部を含み、前記試験手段は、前記擬似信号発生手段
に所定の信号の出力を指示し、所定の周波数ポイントに
おける前記受信回路からの出力信号レベルから前記フィ
ルタ部の性能及び異常の有無を検出する。
【０００９】さらに、前記試験手段は、前記擬似信号発
生手段に前方移動体からの反射波を模擬した擬似ビート
信号の出力を指示し、所定の周波数ポイントにおける閾
値による検知を含むレベル測定によりビート異常を検出
する。さらにまた、前記試験手段は、前記擬似信号発生
手段に近距離検知すべき信号と近距離検知すべきでない
信号の出力を指示し、それらの信号の閾値による検知を
含むレベル測定により近距離検知異常を検出する。
生手段に前方移動体からの反射波を模擬した擬似ビート
信号の出力を指示し、所定の周波数ポイントにおける閾
値による検知を含むレベル測定によりビート異常を検出
する。さらにまた、前記試験手段は、前記擬似信号発生
手段に近距離検知すべき信号と近距離検知すべきでない
信号の出力を指示し、それらの信号の閾値による検知を
含むレベル測定により近距離検知異常を検出する。
【００１０】
【発明の実施の形態】図１は、本発明によるＦＭ−ＣＷ
ミリ波レーダ装置の一実施例を示したものである。図１
において、ミキサー１１は受信したＦＭ−ＣＷミリ波と
その送信波の一部とを混合してビート信号を発生させ
る。ミキサー１１の出力信号はスイッチ１２に入力され
る。スイッチ１２は、ミキサー１１からの信号又は擬似
信号発生回路１７からの信号のいずれか一方を選択して
通過させる。擬似信号発生回路１７は、試験に必要なア
ナログ入力信号や前方移動体からの反射を模擬する擬似
信号等を発生させる。
ミリ波レーダ装置の一実施例を示したものである。図１
において、ミキサー１１は受信したＦＭ−ＣＷミリ波と
その送信波の一部とを混合してビート信号を発生させ
る。ミキサー１１の出力信号はスイッチ１２に入力され
る。スイッチ１２は、ミキサー１１からの信号又は擬似
信号発生回路１７からの信号のいずれか一方を選択して
通過させる。擬似信号発生回路１７は、試験に必要なア
ナログ入力信号や前方移動体からの反射を模擬する擬似
信号等を発生させる。
【００１１】アナログ回路１３は、スイッチ１２で選択
された信号のフィルタリング処理１４及びＡＧＣ処理１
５を行なう。その信号はＤＳＰ等から成るＦＦＴ (Fast
Fourier Transform) 部でそこに内臓されたＡ／Ｄコン
バータによってデジタル信号に変換され、ＦＦＴを用い
たデジタル信号処理が行なわれる。その結果は受信信号
として出力されるか、又は本発明による試験判定のため
の情報としてマイクロプロセッサ（ＭＰＵ）２０に与え
られる。
された信号のフィルタリング処理１４及びＡＧＣ処理１
５を行なう。その信号はＤＳＰ等から成るＦＦＴ (Fast
Fourier Transform) 部でそこに内臓されたＡ／Ｄコン
バータによってデジタル信号に変換され、ＦＦＴを用い
たデジタル信号処理が行なわれる。その結果は受信信号
として出力されるか、又は本発明による試験判定のため
の情報としてマイクロプロセッサ（ＭＰＵ）２０に与え
られる。
【００１２】一方、スイッチ１２の出力信号の一部は、
前記アナログ回路１３を経ることなく直接近距離検知回
路１６へ入力される。そこで検出された受信信号のレベ
ル情報もまたマイクロプロセッサ２０に与えられる。マ
イクロプロセッサ２０は、これらの入力情報の正常性を
確認するため各ソフトウェア機能、すなわちＡＧＣ異常
検出処理２１、フィルタ異常検出処理２２、ビート異常
検出処理２３、又は近距離検知異常検出処理２４、を起
動して正常性の判定処理を行なう。
前記アナログ回路１３を経ることなく直接近距離検知回
路１６へ入力される。そこで検出された受信信号のレベ
ル情報もまたマイクロプロセッサ２０に与えられる。マ
イクロプロセッサ２０は、これらの入力情報の正常性を
確認するため各ソフトウェア機能、すなわちＡＧＣ異常
検出処理２１、フィルタ異常検出処理２２、ビート異常
検出処理２３、又は近距離検知異常検出処理２４、を起
動して正常性の判定処理を行なう。
【００１３】判定結果が異常の場合は、図示しない表示
部２５等に警告を表示させ及び／又は警告音発生部から
警告音を出力させる。なお、マイクロプロセッサ２０に
は一般にワンチップタイプのマイクロプロッセサが使用
されており、そこにはＡ／Ｄコンバータが内臓されてい
るため図示するように判定に必要なアナログ信号はマイ
クロプロセッサ２０に直接入力される。
部２５等に警告を表示させ及び／又は警告音発生部から
警告音を出力させる。なお、マイクロプロセッサ２０に
は一般にワンチップタイプのマイクロプロッセサが使用
されており、そこにはＡ／Ｄコンバータが内臓されてい
るため図示するように判定に必要なアナログ信号はマイ
クロプロセッサ２０に直接入力される。
【００１４】本発明においては、上述した種々の正常性
試験は全てミリ波レーダ装置内部で実施される。すなわ
ち、マイクロプロセッサ２０は定期的又は所定のイベン
ト等の発生を契機に、さらに必要なら走行中においても
運転者によるマニュアル操作等によっていつでもミリ波
レーダ装置内部で試験が開始される。その際、マイクロ
プロセッサ２０は、擬似信号発生回路１７に対して試験
項目に対応した擬似信号の発生を指示し、さらにスイッ
チ１２に対しては擬似信号発生回路１７の側を選択する
ように指示する。これによって対応する試験がミリ波レ
ーダ装置内部で開始される。
試験は全てミリ波レーダ装置内部で実施される。すなわ
ち、マイクロプロセッサ２０は定期的又は所定のイベン
ト等の発生を契機に、さらに必要なら走行中においても
運転者によるマニュアル操作等によっていつでもミリ波
レーダ装置内部で試験が開始される。その際、マイクロ
プロセッサ２０は、擬似信号発生回路１７に対して試験
項目に対応した擬似信号の発生を指示し、さらにスイッ
チ１２に対しては擬似信号発生回路１７の側を選択する
ように指示する。これによって対応する試験がミリ波レ
ーダ装置内部で開始される。
【００１５】図２及び３は、本発明のミリ波レーダ試験
装置における試験項目の一例を示したものであり、各試
験項目（ａ）〜（ｄ）毎の試験系を図１の構成から図式
的に抽出したものである。従って、図２及び３の各引用
符号は図１のそれらに対応している。また、図４〜７に
は試験項目（ａ）〜（ｄ）にそれぞれ対応した試験動作
の説明図を示している。以下、それらを使って各試験項
目毎の試験動作について説明する。なお、試験開始時に
スイッチ１２は擬似信号発生回路１７側を選択してい
る。
装置における試験項目の一例を示したものであり、各試
験項目（ａ）〜（ｄ）毎の試験系を図１の構成から図式
的に抽出したものである。従って、図２及び３の各引用
符号は図１のそれらに対応している。また、図４〜７に
は試験項目（ａ）〜（ｄ）にそれぞれ対応した試験動作
の説明図を示している。以下、それらを使って各試験項
目毎の試験動作について説明する。なお、試験開始時に
スイッチ１２は擬似信号発生回路１７側を選択してい
る。
【００１６】先ず、図２の（ａ）に示すアナログ回路１
３のゲインコントロール（ＡＧＣ）異常の試験系につい
て図４を用いて説明する。ここでは、先ずマイクロプロ
セッサ２０内のＡＧＣ異常検出処理２１が起動され、Ａ
ＧＣ異常検出処理２１はそれにより擬似信号発生回路１
７に所定レベルの信号を出力するように指示する。さら
にアナログ回路１３に対してゲインコントロールのオン
／オフを指示する。
３のゲインコントロール（ＡＧＣ）異常の試験系につい
て図４を用いて説明する。ここでは、先ずマイクロプロ
セッサ２０内のＡＧＣ異常検出処理２１が起動され、Ａ
ＧＣ異常検出処理２１はそれにより擬似信号発生回路１
７に所定レベルの信号を出力するように指示する。さら
にアナログ回路１３に対してゲインコントロールのオン
／オフを指示する。
【００１７】その結果、アナログ回路１３からはゲイン
コントロールのオン／オフに基づいて所定の増幅又は減
衰を受けた２つの異なるレベルのアナログ信号が出力さ
れる。図４の例では、ゲインコントロールのオフ時にＰ
１レベルの信号が出力され、反対にゲインコントロール
のオン時にはＡＧＣによって所定レベルに減衰されたＰ
２レベルの信号が出力される。
コントロールのオン／オフに基づいて所定の増幅又は減
衰を受けた２つの異なるレベルのアナログ信号が出力さ
れる。図４の例では、ゲインコントロールのオフ時にＰ
１レベルの信号が出力され、反対にゲインコントロール
のオン時にはＡＧＣによって所定レベルに減衰されたＰ
２レベルの信号が出力される。
【００１８】ここでは、一例として図４の（ａ）に示す
ようにＰ１とＰ２のレベル差が｜Ｐ２−Ｐ１｜＞ｋｄＢ
の場合にＡＧＣ１５は正常であり、それ以外は異常と判
定する。図４の（ｂ）にはＡＧＣ異常によってＰ２＝Ｐ
１となった例も示してある。また、異常と判定した場合
には、表示部２５にその旨の警告を表示する。
ようにＰ１とＰ２のレベル差が｜Ｐ２−Ｐ１｜＞ｋｄＢ
の場合にＡＧＣ１５は正常であり、それ以外は異常と判
定する。図４の（ｂ）にはＡＧＣ異常によってＰ２＝Ｐ
１となった例も示してある。また、異常と判定した場合
には、表示部２５にその旨の警告を表示する。
【００１９】次に、図２の（ｂ）に示すアナログ回路１
３のフィルタ（ＦＩＬ）異常の試験系について図５を用
いて説明する。先ずマイクロプロセッサ２０内のフィル
タ異常検出処理２２が起動され、フィルタ異常検出処理
２２はそれにより擬似信号発生回路１７に複数の周波数
ポイント（Ｆ１、Ｆ２、Ｆ３、及びＦ４）からなる所定
レベルの信号を順次出力するように指示する。なお、複
数周波数ポイントの信号に代えて所定レベルの擬似ホワ
イトノイズを発生させるようにしてもよい。この場合に
は後段のＦＦＴ部１９のＦＦＴ処理を介して各周波数ポ
イントのレベルが求まる。
３のフィルタ（ＦＩＬ）異常の試験系について図５を用
いて説明する。先ずマイクロプロセッサ２０内のフィル
タ異常検出処理２２が起動され、フィルタ異常検出処理
２２はそれにより擬似信号発生回路１７に複数の周波数
ポイント（Ｆ１、Ｆ２、Ｆ３、及びＦ４）からなる所定
レベルの信号を順次出力するように指示する。なお、複
数周波数ポイントの信号に代えて所定レベルの擬似ホワ
イトノイズを発生させるようにしてもよい。この場合に
は後段のＦＦＴ部１９のＦＦＴ処理を介して各周波数ポ
イントのレベルが求まる。
【００２０】アナログ回路１３からはＦＩＬ１４の周波
数特性に応じたレベル信号が出力され、フィルタ異常検
出処理２２は各周波数ポイント毎に計測された各信号レ
ベルにより、次のようにフィルタ異常を判定する。１つ
は、各周波数ポイントの絶対レベルが所定範囲にあるか
否かの判断により、例えば、｜Ｆ１のレベル｜＞Ｋ１ｄ
Ｂ、｜Ｆ２のレベル｜＞Ｋ２ｄＢ、｜Ｆ３のレベル｜＞
Ｋ３ｄＢ、｜Ｆ４のレベル｜＞Ｋ３ｄＢ等の判定を行な
う。
数特性に応じたレベル信号が出力され、フィルタ異常検
出処理２２は各周波数ポイント毎に計測された各信号レ
ベルにより、次のようにフィルタ異常を判定する。１つ
は、各周波数ポイントの絶対レベルが所定範囲にあるか
否かの判断により、例えば、｜Ｆ１のレベル｜＞Ｋ１ｄ
Ｂ、｜Ｆ２のレベル｜＞Ｋ２ｄＢ、｜Ｆ３のレベル｜＞
Ｋ３ｄＢ、｜Ｆ４のレベル｜＞Ｋ３ｄＢ等の判定を行な
う。
【００２１】別には、各周波数ポイント間のレベル差が
所定範囲にあるか否かを判断してもよく、例えば、｜Ｆ
２−Ｆ１｜＞Ｋ１ｄＢ、｜Ｆ３−Ｆ２｜＞Ｋ２ｄＢ、｜
Ｆ４−Ｆ３｜＞Ｋ３ｄＢ等の判定を行なう。これによ
り、フィルタ形状（周波数特性）が異常と判定した場合
には、表示部２５にその旨の警告を表示する。なお、図
５の例では、ＦＩＬ１４からのアナログ出力信号をＡ／
Ｄ変換するために２００ＫＨｚのサンプリング周波数を
使用している。この場合、２００ＫＨｚよりも高い周波
数であるＦ４（２５０ＫＨｚ）についてはそのままサン
プリングできないため、ここではその折り返し周波数で
あるＦ４’（１５０ＫＨｚ）をＦ４の代わりに使用して
いる。
所定範囲にあるか否かを判断してもよく、例えば、｜Ｆ
２−Ｆ１｜＞Ｋ１ｄＢ、｜Ｆ３−Ｆ２｜＞Ｋ２ｄＢ、｜
Ｆ４−Ｆ３｜＞Ｋ３ｄＢ等の判定を行なう。これによ
り、フィルタ形状（周波数特性）が異常と判定した場合
には、表示部２５にその旨の警告を表示する。なお、図
５の例では、ＦＩＬ１４からのアナログ出力信号をＡ／
Ｄ変換するために２００ＫＨｚのサンプリング周波数を
使用している。この場合、２００ＫＨｚよりも高い周波
数であるＦ４（２５０ＫＨｚ）についてはそのままサン
プリングできないため、ここではその折り返し周波数で
あるＦ４’（１５０ＫＨｚ）をＦ４の代わりに使用して
いる。
【００２２】図３の（ｃ）には、ビート異常を検出する
ための試験系を示しており、これについては図６を用い
て説明する。先ずマイクロプロセッサ２０内のビート異
常検出処理２３が起動され、ビート異常検出処理２３は
擬似信号発生回路１７に対して前方移動体からの反射波
を模擬した擬似反射信号を発生させるように指示する。
それにより、擬似信号発生回路１７は内部ＲＯＭ等に格
納してある擬似反射信号を生成し出力する。
ための試験系を示しており、これについては図６を用い
て説明する。先ずマイクロプロセッサ２０内のビート異
常検出処理２３が起動され、ビート異常検出処理２３は
擬似信号発生回路１７に対して前方移動体からの反射波
を模擬した擬似反射信号を発生させるように指示する。
それにより、擬似信号発生回路１７は内部ＲＯＭ等に格
納してある擬似反射信号を生成し出力する。
【００２３】その信号は、アナログ回路１３を経由して
ＤＳＰ１８で構成されるＦＦＴ部１９に入力され、ＦＦ
Ｔ処理によって擬似反射信号の周波数成分が検出され
る。図６の（ａ）には正常なビート信号を受信した例が
示されており、ビート信号の中心周波数成分だけが所定
の閾値を超えることになる。一方、図６の（ａ）にはビ
ート信号の異常を検出した例を示しており、本例ではア
ナログ回路１３内部の増幅器障害等により過大な直流オ
フセット電圧が発生し、その結果ＦＦＴ処理後の直流付
近のレベルも閾値を越えて検出される。
ＤＳＰ１８で構成されるＦＦＴ部１９に入力され、ＦＦ
Ｔ処理によって擬似反射信号の周波数成分が検出され
る。図６の（ａ）には正常なビート信号を受信した例が
示されており、ビート信号の中心周波数成分だけが所定
の閾値を超えることになる。一方、図６の（ａ）にはビ
ート信号の異常を検出した例を示しており、本例ではア
ナログ回路１３内部の増幅器障害等により過大な直流オ
フセット電圧が発生し、その結果ＦＦＴ処理後の直流付
近のレベルも閾値を越えて検出される。
【００２４】従って、本試験では直流近辺の周波数（ｆ
０）のレベルが所定閾値ＢｄＢを超えたときに異常と判
定する。なお、上記直流オフセット電圧の検出に限らず
種々の障害原因を考慮して複数の周波数ポイントに複数
の閾値を設定することも当然に可能である。これによ
り、図５に示したようなフィルタ特性等をも含む複合的
な試験を行なうことができる。
０）のレベルが所定閾値ＢｄＢを超えたときに異常と判
定する。なお、上記直流オフセット電圧の検出に限らず
種々の障害原因を考慮して複数の周波数ポイントに複数
の閾値を設定することも当然に可能である。これによ
り、図５に示したようなフィルタ特性等をも含む複合的
な試験を行なうことができる。
【００２５】図３の（ｄ）の最後の例には、近距離検知
の異常を検出するための試験系を示しており、これにつ
いては図７を用いて説明する。マイクロプロセッサ２０
内の近距離検知異常検出処理２４が起動され、近距離検
知異常検出処理２４は擬似信号発生回路１７に対し近距
離検知検出回路１６にて近距離検知すべき所定レベルの
周波数信号（Ｆ１）と、近距離検知すべきでない所定レ
ベルの周波数信号（Ｆ２）とを順じ発生し、それらの検
出の有無を判定する。
の異常を検出するための試験系を示しており、これにつ
いては図７を用いて説明する。マイクロプロセッサ２０
内の近距離検知異常検出処理２４が起動され、近距離検
知異常検出処理２４は擬似信号発生回路１７に対し近距
離検知検出回路１６にて近距離検知すべき所定レベルの
周波数信号（Ｆ１）と、近距離検知すべきでない所定レ
ベルの周波数信号（Ｆ２）とを順じ発生し、それらの検
出の有無を判定する。
【００２６】また前記とは別に、擬似信号発生回路１７
からの同信号（Ｆ１及びＦ２）を、アナログ回路１３に
入力して、双方の試験信号についてゲインコントロール
オン／オフ時の各検出を行うことで近距離検知の異常を
検出するようにしてもよい。図７にはこの場合の例を示
しており、ここではＦ１にて近距離検知信号が検出され
ない場合又はＦ２にて近距離検知信号が検出される場合
に異常と判定する。異常と判定した場合には、表示部２
５にその旨の警告を表示する。
からの同信号（Ｆ１及びＦ２）を、アナログ回路１３に
入力して、双方の試験信号についてゲインコントロール
オン／オフ時の各検出を行うことで近距離検知の異常を
検出するようにしてもよい。図７にはこの場合の例を示
しており、ここではＦ１にて近距離検知信号が検出され
ない場合又はＦ２にて近距離検知信号が検出される場合
に異常と判定する。異常と判定した場合には、表示部２
５にその旨の警告を表示する。
【００２７】なお、上述した実施例では近距離検知回路
１６や擬似信号発生回路１７をそれぞれ独立した回路ブ
ロックとして構成しているが、それらはＤＳＰ１８やＭ
ＰＵ２０の一機能として実現することもできる。
１６や擬似信号発生回路１７をそれぞれ独立した回路ブ
ロックとして構成しているが、それらはＤＳＰ１８やＭ
ＰＵ２０の一機能として実現することもできる。
【００２８】
【発明の効果】以上述べたように、本発明によれば、ミ
リ波レーダ装置単体で必要な時はいつでも自らのハード
ウェア機能や測定対象物を必要とする機能等の試験を実
施可能となる。
リ波レーダ装置単体で必要な時はいつでも自らのハード
ウェア機能や測定対象物を必要とする機能等の試験を実
施可能となる。
【図１】本発明によるＦＭ−ＣＷミリ波レーダ装置の一
実施例を示した図である。
実施例を示した図である。
【図２】本発明によるミリ波レーダ試験装置における試
験系の一例（１）を示した図である。
験系の一例（１）を示した図である。
【図３】本発明によるミリ波レーダ試験装置における試
験系の一例（２）を示した図である。
験系の一例（２）を示した図である。
【図４】アナログ回路のゲインコントロール異常試験の
説明図である。
説明図である。
【図５】アナログ回路のフィルタ異常試験の説明図であ
る。
る。
【図６】ビート異常検出試験の説明図である。
【図７】近距離検知異常検出試験の説明図である。
１１…ミキサー
１２…スイッチ
１３…アナログ回路
１４…フィルタ部
１５…ＡＧＣ部
１６…近距離検知回路
１７…擬似信号発生回路
１８…ＤＳＰ
１９…ＦＦＴ部
２０…ＭＰＵ
２１…ゲインコントロール異常検出処理部
２２…フィルタ異常検出処理部
２３…ビート異常検出処理部
２４…近距離検知異常検出処理部
２５…表示部
Claims (5)
- 【請求項１】 試験信号を生成出力するための擬似信号
発生手段と、 受信信号又は前記試験信号のいずれか一方を選択して受
信回路へ入力し、試験時には前記試験信号を選択する信
号切替手段、 前記受信回路からの出力信号を測定してその正常性を試
験する試験手段を含み、前記擬似信号発生手段、信号切
替手段、及び試験手段を制御して少なくとも一つ以上の
自己診断試験項目を順次又は選択的に実行する試験制御
手段と、を有することを特徴とするレーダ装置。 - 【請求項２】 前記受信回路は、利得制御部を含み、 前記試験手段は、前記擬似信号発生手段に所定のアナロ
グ信号出力を指示し、さらに前記受信回路のゲインコン
トロールの制御を行なうことにより前記利得制御部の性
能及び異常の有無を検出する、請求項１記載の装置。 - 【請求項３】 前記受信回路は、フィルタ部を含み、 前記試験手段は、前記擬似信号発生手段に所定の信号出
力を指示し、所定の周波数ポイントにおける前記受信回
路からの出力信号レベルから前記フィルタ部の性能及び
異常の有無を検出する、請求項１記載の装置。 - 【請求項４】 前記試験手段は、前記擬似信号発生手段
に前方移動体からの反射波を模擬した擬似ビート信号の
出力を指示し、所定の周波数ポイントにおける閾値によ
る検知を含むレベル測定によりビート異常を検出する、
請求項１記載の装置。 - 【請求項５】 前記試験手段は、前記擬似信号発生手段
に近距離検知すべき信号と近距離検知すべきでない信号
の出力を指示し、それらの信号の閾値による検知を含む
レベル測定により近距離検知異常を検出する、請求項１
記載の装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001196652A JP2003014837A (ja) | 2001-06-28 | 2001-06-28 | レーダ装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001196652A JP2003014837A (ja) | 2001-06-28 | 2001-06-28 | レーダ装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2003014837A true JP2003014837A (ja) | 2003-01-15 |
Family
ID=19034417
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2001196652A Pending JP2003014837A (ja) | 2001-06-28 | 2001-06-28 | レーダ装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2003014837A (ja) |
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- 2001-06-28 JP JP2001196652A patent/JP2003014837A/ja active Pending
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