JP2003005024A - コンティニュアスａｆにおけるスキャン方式 - Google Patents
コンティニュアスａｆにおけるスキャン方式Info
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- JP2003005024A JP2003005024A JP2001192332A JP2001192332A JP2003005024A JP 2003005024 A JP2003005024 A JP 2003005024A JP 2001192332 A JP2001192332 A JP 2001192332A JP 2001192332 A JP2001192332 A JP 2001192332A JP 2003005024 A JP2003005024 A JP 2003005024A
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- rescanning
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 再スキャン判定をしている時の合焦／非合焦
の状態に応じて再スキャンを行う条件を変えることによ
り、ＣＡＦモードにおいてレリーズを押した時に素早く
撮影でき、かつ消費電力を低減できるコンティニュアス
ＡＦにおけるスキャン方式を提供する。 【解決手段】 合焦情報を検出した場合には、再スキャ
ン時間Ｔ1 と再スキャンしきい値Δ1 を設定し、最大Ａ
Ｆデータ位置にレンズを駆動し停止する。そして再スキ
ャン判定を開始する。一方、合焦検出できないでスキャ
ンの反転動作がｎ回以上行われた場合には、Ｔ1 より短
い再スキャン時間Ｔ2 とΔ1 より小さい再スキャンしき
い値Δ2 を設定し、最大ＡＦデータ位置にレンズを駆動
した後、今度は再スキャン時間Ｔ2 と再スキャンしきい
値Δ2 で判定を開始する。
の状態に応じて再スキャンを行う条件を変えることによ
り、ＣＡＦモードにおいてレリーズを押した時に素早く
撮影でき、かつ消費電力を低減できるコンティニュアス
ＡＦにおけるスキャン方式を提供する。 【解決手段】 合焦情報を検出した場合には、再スキャ
ン時間Ｔ1 と再スキャンしきい値Δ1 を設定し、最大Ａ
Ｆデータ位置にレンズを駆動し停止する。そして再スキ
ャン判定を開始する。一方、合焦検出できないでスキャ
ンの反転動作がｎ回以上行われた場合には、Ｔ1 より短
い再スキャン時間Ｔ2 とΔ1 より小さい再スキャンしき
い値Δ2 を設定し、最大ＡＦデータ位置にレンズを駆動
した後、今度は再スキャン時間Ｔ2 と再スキャンしきい
値Δ2 で判定を開始する。
Description
【０００１】
【発明が属する技術分野】本発明は、カメラ電源投入に
よりレリーズ未押下げ時にも自動焦点調節処理を行うカ
メラのＣＡＦ（コンティニュアスオートフォーカス）の
スキャン方式に関する。
よりレリーズ未押下げ時にも自動焦点調節処理を行うカ
メラのＣＡＦ（コンティニュアスオートフォーカス）の
スキャン方式に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来のカメラのＣＡＦモードでは、ＡＦ
データのピーク値（合焦情報）を検出し、その位置にレ
ンズをもたらした後、再スキャン判定状態になったと
き、ＡＦデータがある量変化するまで再スキャンを行わ
ないように構成されている。しかし、被写体によって移
動時のＡＦデータの変化量は異なるためその後のシーン
チェンジに対応できず、レリーズ半押時にピンボケした
状態で合焦判定を行ってしまったり、合焦判定までに長
時間を要してしまうことがあった。また、逆に僅かな手
ブレ等によってこまめに再スキャンを行ってしまうため
消費電力の増加を引き起こすことがあった。さらにピー
クを検出できない場合にはスキャンを延々繰り返してし
まい、かかる場合も消費電力の増加を引き起こす。
データのピーク値（合焦情報）を検出し、その位置にレ
ンズをもたらした後、再スキャン判定状態になったと
き、ＡＦデータがある量変化するまで再スキャンを行わ
ないように構成されている。しかし、被写体によって移
動時のＡＦデータの変化量は異なるためその後のシーン
チェンジに対応できず、レリーズ半押時にピンボケした
状態で合焦判定を行ってしまったり、合焦判定までに長
時間を要してしまうことがあった。また、逆に僅かな手
ブレ等によってこまめに再スキャンを行ってしまうため
消費電力の増加を引き起こすことがあった。さらにピー
クを検出できない場合にはスキャンを延々繰り返してし
まい、かかる場合も消費電力の増加を引き起こす。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】本発明は上記問題を解
決するもので、その目的は、ピークを検出できない場合
には非合焦として再スキャン判定を行うことにより消費
電力の低減を計るとともに再スキャン判定をしている時
の合焦／非合焦の状態に応じて再スキャンを行う条件を
変えることにより、ＣＡＦモードにおいてレリーズを押
した時に素早く撮影できるようにしたコンティニュアス
ＡＦにおけるスキャン方式を提供することにある。
決するもので、その目的は、ピークを検出できない場合
には非合焦として再スキャン判定を行うことにより消費
電力の低減を計るとともに再スキャン判定をしている時
の合焦／非合焦の状態に応じて再スキャンを行う条件を
変えることにより、ＣＡＦモードにおいてレリーズを押
した時に素早く撮影できるようにしたコンティニュアス
ＡＦにおけるスキャン方式を提供することにある。
【０００４】
【課題を解決するための手段】前記目的を達成するため
に本発明によるコンティニュアスＡＦにおけるスキャン
方式は、カメラのコンティニュアスＡＦスキャン方式に
おいて、合焦情報を検出したか否かを判定する合焦判定
手段と、前記合焦検出手段により合焦位置を検出した場
合、再スキャン時間Ｔ1 およびしきい値Δ1 を設定する
再スキャン時間およびしきい値設定手段と、最大ＡＦデ
ータ位置にレンズをもたらすレンズ駆動手段と、前記合
焦判定手段により合焦を検出できない状態において、前
記スキャンに関する所定の条件を満たしたか否かを判定
する条件判定手段と、前記条件判定手段により所定の条
件を満たしたと判定された場合、前記再スキャン時間
は、前記Ｔ1 より短いＴ2 に、前記しきい値はΔ1 より
小さいΔ2 に切り替える再スキャン時間およびしきい値
切替手段と、前記設定された再スキャン時間およびしき
い値を用いて再スキャン判定を行う手段とを備えて構成
されている。また、本発明における前記所定の条件は、
スキャンの反転した回数がｎ回に達したか否かというも
のである。さらに本発明における前記所定の条件は、一
定の時間が経過したか否かというものである。さらには
本発明における前記しきい値は、ＡＦデータの変化また
は被写体の明るさの変化に対する値である。また、本発
明における前記しきい値はＡＦデータの絶対値や被写体
の明るさ，ズームレンズの位置によって変更されるもの
である。
に本発明によるコンティニュアスＡＦにおけるスキャン
方式は、カメラのコンティニュアスＡＦスキャン方式に
おいて、合焦情報を検出したか否かを判定する合焦判定
手段と、前記合焦検出手段により合焦位置を検出した場
合、再スキャン時間Ｔ1 およびしきい値Δ1 を設定する
再スキャン時間およびしきい値設定手段と、最大ＡＦデ
ータ位置にレンズをもたらすレンズ駆動手段と、前記合
焦判定手段により合焦を検出できない状態において、前
記スキャンに関する所定の条件を満たしたか否かを判定
する条件判定手段と、前記条件判定手段により所定の条
件を満たしたと判定された場合、前記再スキャン時間
は、前記Ｔ1 より短いＴ2 に、前記しきい値はΔ1 より
小さいΔ2 に切り替える再スキャン時間およびしきい値
切替手段と、前記設定された再スキャン時間およびしき
い値を用いて再スキャン判定を行う手段とを備えて構成
されている。また、本発明における前記所定の条件は、
スキャンの反転した回数がｎ回に達したか否かというも
のである。さらに本発明における前記所定の条件は、一
定の時間が経過したか否かというものである。さらには
本発明における前記しきい値は、ＡＦデータの変化また
は被写体の明るさの変化に対する値である。また、本発
明における前記しきい値はＡＦデータの絶対値や被写体
の明るさ，ズームレンズの位置によって変更されるもの
である。
【０００５】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照して本発明の実
施の形態を詳しく説明する。図１は、本発明によるコン
ティニュアスＡＦにおけるスキャン方式を適用したカメ
ラの回路の実施の形態を示すブロック図である。図示し
ない被写体からの光はズームレンズ１，フォーカスレン
ズ２および絞りシャッタ３を介してＣＣＤ４に結像され
る。ＣＣＤ４ではタイミングジェネレータ６からのタイ
ミング信号により光画像信号が電気信号に変換され、相
関２重サンプリング（ＣＤＳ）回路／アナログディジタ
ルコーディック（ＡＤＣ）回路５に入力される。相関２
重サンプリング（ＣＤＳ）回路／アナログディジタルコ
ーディック（ＡＤＣ）回路５では所定のサンプリング処
理がなされた後、アナログ画像信号がディジタル信号に
変換され、制御部７に送られる。
施の形態を詳しく説明する。図１は、本発明によるコン
ティニュアスＡＦにおけるスキャン方式を適用したカメ
ラの回路の実施の形態を示すブロック図である。図示し
ない被写体からの光はズームレンズ１，フォーカスレン
ズ２および絞りシャッタ３を介してＣＣＤ４に結像され
る。ＣＣＤ４ではタイミングジェネレータ６からのタイ
ミング信号により光画像信号が電気信号に変換され、相
関２重サンプリング（ＣＤＳ）回路／アナログディジタ
ルコーディック（ＡＤＣ）回路５に入力される。相関２
重サンプリング（ＣＤＳ）回路／アナログディジタルコ
ーディック（ＡＤＣ）回路５では所定のサンプリング処
理がなされた後、アナログ画像信号がディジタル信号に
変換され、制御部７に送られる。
【０００６】ＣＣＤ信号処理部８では色補間処理，ガン
マ補正，画像圧縮，高周波成分検出などが行われ、メモ
リ部１１はこれら処理の作業メモリとして用いられ圧縮
画像などが記憶される。制御部７で処理された被写体画
像はＬＣＤ駆動回路９を介して液晶表示部（ＬＣＤ）１
０に表示される。また、高周波成分検出部８ｂではディ
ジタル画像信号より高周波成分を抽出し高周波信号レベ
ルを検出する。レリーズボタン１３が押されレリーズ情
報が制御部７に送られると、画像取込のための信号がタ
イミングジェネレータ６に送出され、被写体画像が制御
部７に取り込まれる。レリーズボタン１３を押した時点
で、合焦していれば、そのままシャッタが切れるが、合
焦していなければ、ＡＦ動作が行われ合焦した後にシャ
ッタが切れることとなる。なお、合焦状態でなくてもそ
のままシャッタボタン１３を押し切ることにより撮影す
ることが可能である。取り込まれた画像は、色補間処
理，ガンマ補正などが行われ画像圧縮部８ａで所定形式
に圧縮されてメモリ部１１に記憶される。メモリ部１１
に格納された画像は図示しないＳＤメモリなどのメディ
アに格納される。
マ補正，画像圧縮，高周波成分検出などが行われ、メモ
リ部１１はこれら処理の作業メモリとして用いられ圧縮
画像などが記憶される。制御部７で処理された被写体画
像はＬＣＤ駆動回路９を介して液晶表示部（ＬＣＤ）１
０に表示される。また、高周波成分検出部８ｂではディ
ジタル画像信号より高周波成分を抽出し高周波信号レベ
ルを検出する。レリーズボタン１３が押されレリーズ情
報が制御部７に送られると、画像取込のための信号がタ
イミングジェネレータ６に送出され、被写体画像が制御
部７に取り込まれる。レリーズボタン１３を押した時点
で、合焦していれば、そのままシャッタが切れるが、合
焦していなければ、ＡＦ動作が行われ合焦した後にシャ
ッタが切れることとなる。なお、合焦状態でなくてもそ
のままシャッタボタン１３を押し切ることにより撮影す
ることが可能である。取り込まれた画像は、色補間処
理，ガンマ補正などが行われ画像圧縮部８ａで所定形式
に圧縮されてメモリ部１１に記憶される。メモリ部１１
に格納された画像は図示しないＳＤメモリなどのメディ
アに格納される。
【０００７】フラッシュメモリ部１２には、通常のカメ
ラの設定情報の他に再スキャン時間Ｔ1 ，Ｔ2 および再
スキャン判定用ＡＦデータしきい値（データの絶対値に
対する係数）Δ1 ，Δ2 が、さらに最大反転回数ＲMAX
の情報が格納されている。ズームＳＷ１４，１５の操作
によりズーム情報が入力すると、制御部７はズーム制御
用ＣＰＵ１６にその情報を送出する。ズーム制御用ＣＰ
Ｕ１６は、ズームレンズ駆動部１７を駆動制御しズーム
レンズ１をズームＳＷ１４，１５の操作量に応じた量だ
け移動させる。ＡＦ動作では、フォーカスレンズ駆動部
１８によりフォーカスレンズが駆動され、所定の間隔で
画像信号が取り込まれ、高周波成分検出部８ｂにより画
像信号の高周波分が抽出される。抽出された高周波信号
について合焦判定手段７ａによりピーク位置であったか
否かが判定され、ピーク位置であった場合には、フォー
カスレンズ２をピーク位置にもたらし合焦動作を終了す
る。
ラの設定情報の他に再スキャン時間Ｔ1 ，Ｔ2 および再
スキャン判定用ＡＦデータしきい値（データの絶対値に
対する係数）Δ1 ，Δ2 が、さらに最大反転回数ＲMAX
の情報が格納されている。ズームＳＷ１４，１５の操作
によりズーム情報が入力すると、制御部７はズーム制御
用ＣＰＵ１６にその情報を送出する。ズーム制御用ＣＰ
Ｕ１６は、ズームレンズ駆動部１７を駆動制御しズーム
レンズ１をズームＳＷ１４，１５の操作量に応じた量だ
け移動させる。ＡＦ動作では、フォーカスレンズ駆動部
１８によりフォーカスレンズが駆動され、所定の間隔で
画像信号が取り込まれ、高周波成分検出部８ｂにより画
像信号の高周波分が抽出される。抽出された高周波信号
について合焦判定手段７ａによりピーク位置であったか
否かが判定され、ピーク位置であった場合には、フォー
カスレンズ２をピーク位置にもたらし合焦動作を終了す
る。
【０００８】図２は、本発明におけるスキャン方式の再
スキャン判定条件処理の動作を説明するためのフローチ
ャートである。ＣＡＦ動作において、上述のように焦点
位置検出処理が行われる（ステップ（以下「Ｓ」とい
う）２０１）。合焦判定手段７ａはフォーカスレンズ２
をある一方向に駆動しながら所定のレンズ位置毎に高周
波成分検出部８ｂによって抽出された高周波信号（ＡＦ
データ）を検出し、複数レンズ位置におけるＡＦデータ
を比較することにより合焦判定を行う（Ｓ２０２）。合
焦を検出した場合には、再スキャン時間およびしきい値
設定手段７ｂは、フラッシュメモリ部１２より合焦時の
再スキャン判定用ＡＦデータしきい値Δ1 を読み出し、
この再スキャン判定用ＡＦデータしきい値Δ1 をしきい
値Δとして設定する（Ｓ２０３）。また、合焦時の再ス
キャン開始待ち時間Ｔ1 を読み出し、この再スキャン開
始待ち時間Ｔ 1 を待ち時間Ｔとして設定する（Ｓ２０
４）。
スキャン判定条件処理の動作を説明するためのフローチ
ャートである。ＣＡＦ動作において、上述のように焦点
位置検出処理が行われる（ステップ（以下「Ｓ」とい
う）２０１）。合焦判定手段７ａはフォーカスレンズ２
をある一方向に駆動しながら所定のレンズ位置毎に高周
波成分検出部８ｂによって抽出された高周波信号（ＡＦ
データ）を検出し、複数レンズ位置におけるＡＦデータ
を比較することにより合焦判定を行う（Ｓ２０２）。合
焦を検出した場合には、再スキャン時間およびしきい値
設定手段７ｂは、フラッシュメモリ部１２より合焦時の
再スキャン判定用ＡＦデータしきい値Δ1 を読み出し、
この再スキャン判定用ＡＦデータしきい値Δ1 をしきい
値Δとして設定する（Ｓ２０３）。また、合焦時の再ス
キャン開始待ち時間Ｔ1 を読み出し、この再スキャン開
始待ち時間Ｔ 1 を待ち時間Ｔとして設定する（Ｓ２０
４）。
【０００９】そして、制御部７は、反転回数をリセット
し（Ｓ２１０）、フォーカスレンズ駆動部１８を制御し
てフォーカスレンズ２をＡＦデータ最大値位置にもたら
し停止させる（Ｓ２１１）。そして再スキャン判定処理
に進行する（Ｓ２１２）。一方、Ｓ２０２においてフォ
ーカスレンズの駆動範囲内において合焦位置が検出され
ない場合、条件判定手段７ｃはフォーカスレンズ駆動範
囲の無限側端位置と至近側端位置の間を反転した回数が
最大値になったか否かを判断する（Ｓ２０５）。反転回
数が最大値になっていない場合、駆動方向を反転し（Ｓ
２０８）、反転回数を１プラスして（Ｓ２０９）、焦点
位置検出処理に戻る（Ｓ２０１）。
し（Ｓ２１０）、フォーカスレンズ駆動部１８を制御し
てフォーカスレンズ２をＡＦデータ最大値位置にもたら
し停止させる（Ｓ２１１）。そして再スキャン判定処理
に進行する（Ｓ２１２）。一方、Ｓ２０２においてフォ
ーカスレンズの駆動範囲内において合焦位置が検出され
ない場合、条件判定手段７ｃはフォーカスレンズ駆動範
囲の無限側端位置と至近側端位置の間を反転した回数が
最大値になったか否かを判断する（Ｓ２０５）。反転回
数が最大値になっていない場合、駆動方向を反転し（Ｓ
２０８）、反転回数を１プラスして（Ｓ２０９）、焦点
位置検出処理に戻る（Ｓ２０１）。
【００１０】反転回数が最大値に達している場合、再ス
キャン時間およびしきい値切替手段７ｄは、フラッシュ
メモリ部１２より合焦不能時の再スキャン判定用ＡＦデ
ータしきい値Δ2 を読み出し、このΔ2 を再スキャン判
定用ＡＦデータしきい値Δとして切り替える（Ｓ２０
６）。ＡＦデータしきい値Δ2 はΔ1 に比較し小さな値
である。また、合焦不能時の再スキャン開始待ち時間Ｔ
2 を読み出し、このＴ2を再スキャン開始待ち時間Ｔと
して設定する（Ｓ２０７）。再スキャン開始待ち時間Ｔ
2 はＴ1 に比較し短い時間である。その後、反転回数を
リセットし（Ｓ２１０）、フォーカスレンズはＡＦデー
タ最大位置へ駆動され（Ｓ２１１）、再スキャン判定処
理に進行する（Ｓ２１２）。
キャン時間およびしきい値切替手段７ｄは、フラッシュ
メモリ部１２より合焦不能時の再スキャン判定用ＡＦデ
ータしきい値Δ2 を読み出し、このΔ2 を再スキャン判
定用ＡＦデータしきい値Δとして切り替える（Ｓ２０
６）。ＡＦデータしきい値Δ2 はΔ1 に比較し小さな値
である。また、合焦不能時の再スキャン開始待ち時間Ｔ
2 を読み出し、このＴ2を再スキャン開始待ち時間Ｔと
して設定する（Ｓ２０７）。再スキャン開始待ち時間Ｔ
2 はＴ1 に比較し短い時間である。その後、反転回数を
リセットし（Ｓ２１０）、フォーカスレンズはＡＦデー
タ最大位置へ駆動され（Ｓ２１１）、再スキャン判定処
理に進行する（Ｓ２１２）。
【００１１】図３は、図２の再スキャン判定処理の動作
を説明するためのフローチャートである。再スキャン判
定が開始され（Ｓ３０１）、ＡＦデータの変化がしきい
値Δ（合焦時はしきい値Δ1 ，合焦不能時はしきい値Δ
2 ）より大きいか否かを判断する（Ｓ３０２）。ＡＦデ
ータの変化がしきい値Δより大きい場合は焦点位置検出
処理に進む（Ｓ３０４）。この場合、つぎのスキャンに
至るための合焦不能時のしきい値Δ2 は合焦時のしきい
値Δ1 に対し小さくなっているので（例えば０．８Δ1
の値）、合焦時に比較し、少ない変化でもつぎのスキャ
ンを開始することとなる。
を説明するためのフローチャートである。再スキャン判
定が開始され（Ｓ３０１）、ＡＦデータの変化がしきい
値Δ（合焦時はしきい値Δ1 ，合焦不能時はしきい値Δ
2 ）より大きいか否かを判断する（Ｓ３０２）。ＡＦデ
ータの変化がしきい値Δより大きい場合は焦点位置検出
処理に進む（Ｓ３０４）。この場合、つぎのスキャンに
至るための合焦不能時のしきい値Δ2 は合焦時のしきい
値Δ1 に対し小さくなっているので（例えば０．８Δ1
の値）、合焦時に比較し、少ない変化でもつぎのスキャ
ンを開始することとなる。
【００１２】また、ＡＦデータの変化がしきい値に達し
ていない場合は、待機している時間が再スキャン開始待
ち時間Ｔ（合焦時は再スキャン開始待ち時間Ｔ1 ，合焦
不能時は再スキャン開始待ち時間Ｔ2 ）よりオーバした
か否かを判断する（Ｓ３０３）。待機している時間が再
スキャン開始待ち時間Ｔより短い間は、Ｓ３０１に戻
り、再スキャン判定を開始する。待機している時間が再
スキャン開始待ち時間Ｔよりオーバすれば、焦点位置検
出処理に進む（Ｓ３０４）。この場合、つぎのスキャン
に至るための合焦不能時の再スキャン開始待ち時間Ｔ2
は合焦時の再スキャン開始待ち時間Ｔ1 より短く設定さ
れている（例えば、合焦不能時の再スキャン待ち時間を
５秒，合焦時の再スキャン開始待ち時間Ｔ1 を２０秒）
ので、合焦不能時は合焦時に比較し、短い時間でつぎの
スキャンを開始することとなる。
ていない場合は、待機している時間が再スキャン開始待
ち時間Ｔ（合焦時は再スキャン開始待ち時間Ｔ1 ，合焦
不能時は再スキャン開始待ち時間Ｔ2 ）よりオーバした
か否かを判断する（Ｓ３０３）。待機している時間が再
スキャン開始待ち時間Ｔより短い間は、Ｓ３０１に戻
り、再スキャン判定を開始する。待機している時間が再
スキャン開始待ち時間Ｔよりオーバすれば、焦点位置検
出処理に進む（Ｓ３０４）。この場合、つぎのスキャン
に至るための合焦不能時の再スキャン開始待ち時間Ｔ2
は合焦時の再スキャン開始待ち時間Ｔ1 より短く設定さ
れている（例えば、合焦不能時の再スキャン待ち時間を
５秒，合焦時の再スキャン開始待ち時間Ｔ1 を２０秒）
ので、合焦不能時は合焦時に比較し、短い時間でつぎの
スキャンを開始することとなる。
【００１３】以上の実施の形態では、再スキャン開始待
ち時間およびしきい値を切替える判定条件はスキャンの
反転回数としたが、これに代えて一定の時間経過したか
否かを判定条件にしても同様に適用できる。また、ＡＦ
データをしきい値として使用した場合を説明したが、明
るさをしきい値として使用してもよく、かかる場合、合
焦不能時のしきい値は、合焦時に比較し、明るさデータ
の値が小さくなるように設定する。さらにしきい値をＡ
Ｆデータの絶対値や被写体の明るさ，ズームレンズの位
置によって変更しても良い。
ち時間およびしきい値を切替える判定条件はスキャンの
反転回数としたが、これに代えて一定の時間経過したか
否かを判定条件にしても同様に適用できる。また、ＡＦ
データをしきい値として使用した場合を説明したが、明
るさをしきい値として使用してもよく、かかる場合、合
焦不能時のしきい値は、合焦時に比較し、明るさデータ
の値が小さくなるように設定する。さらにしきい値をＡ
Ｆデータの絶対値や被写体の明るさ，ズームレンズの位
置によって変更しても良い。
【００１４】
【発明の効果】以上、説明したように本発明は再スキャ
ン判定をしている時の合焦／非合焦の状態に応じて判定
に用いる条件を変え、非合焦時はＡＦウィンドウ内の微
小な変化に対してもこまめに再スキャンを行うようにす
るものである。また、ＡＦデータの変化がない場合に
は、一定時間経過した時点で再スキャンを行い、この際
の再スキャンまでの時間も、非合焦時は合焦時よりも短
くするものである。したがって、ＣＡＦモードにおいて
従来のスキャン方式に比較し、フォーカスレンズを合焦
状態に早くもたらすことができ、レリーズボタンを押し
たとき素早い撮影を可能にするという効果がある。ま
た、不要なレンズ駆動を減少させることにより消費電力
の低減を計ることができる。
ン判定をしている時の合焦／非合焦の状態に応じて判定
に用いる条件を変え、非合焦時はＡＦウィンドウ内の微
小な変化に対してもこまめに再スキャンを行うようにす
るものである。また、ＡＦデータの変化がない場合に
は、一定時間経過した時点で再スキャンを行い、この際
の再スキャンまでの時間も、非合焦時は合焦時よりも短
くするものである。したがって、ＣＡＦモードにおいて
従来のスキャン方式に比較し、フォーカスレンズを合焦
状態に早くもたらすことができ、レリーズボタンを押し
たとき素早い撮影を可能にするという効果がある。ま
た、不要なレンズ駆動を減少させることにより消費電力
の低減を計ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明によるコンティニュアスＡＦにおけるス
キャン方式を適用したカメラの回路の実施の形態を示す
ブロック図である。
キャン方式を適用したカメラの回路の実施の形態を示す
ブロック図である。
【図２】本発明におけるスキャン方式の再スキャン判定
条件処理の動作を説明するためのフローチャートであ
る。
条件処理の動作を説明するためのフローチャートであ
る。
【図３】図２の再スキャン判定処理の動作を説明するた
めのフローチャートである。
めのフローチャートである。
１ ズームレンズ
２ フォーカスレンズ
３ 絞りシャッタ
４ ＣＣＤ
５ ＣＤＳ回路／ＡＤＣ回路（相関２重サンプリング回
路／アナログディジタルコーディック回路） ６ ＴＧ（タイミングジェネレータ） ７ 制御部 ７ａ 合焦判定手段 ７ｂ 再スキャン時間およびしきい値設定手段 ７ｃ 条件判定手段 ７ｄ 再スキャン時間およびしきい値切替手段 ８ ＣＣＤ信号処理部 ８ａ 画像圧縮部 ８ｂ 高周波成分検出部 ９ ＬＣＤ駆動部 １０ ＬＣＤ（液晶表示部） １１ メモリ部 １２ フラッシュメモリ部 １３ レリーズボタン １４，１５ ズームＳＷ １６ ズーム制御用ＣＰＵ １７ ズームレンズ駆動部 １８ フォーカスレンズ駆動部
路／アナログディジタルコーディック回路） ６ ＴＧ（タイミングジェネレータ） ７ 制御部 ７ａ 合焦判定手段 ７ｂ 再スキャン時間およびしきい値設定手段 ７ｃ 条件判定手段 ７ｄ 再スキャン時間およびしきい値切替手段 ８ ＣＣＤ信号処理部 ８ａ 画像圧縮部 ８ｂ 高周波成分検出部 ９ ＬＣＤ駆動部 １０ ＬＣＤ（液晶表示部） １１ メモリ部 １２ フラッシュメモリ部 １３ レリーズボタン １４，１５ ズームＳＷ １６ ズーム制御用ＣＰＵ １７ ズームレンズ駆動部 １８ フォーカスレンズ駆動部
─────────────────────────────────────────────────────
【手続補正書】
【提出日】平成１３年７月１０日（２００１．７．１
０）
０）
【手続補正１】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】全図
【補正方法】変更
【補正内容】
【図１】
【図２】
【図３】
Claims (5)
- 【請求項１】 カメラのコンティニュアスＡＦスキャン
方式において、 合焦情報を検出したか否かを判定する合焦判定手段と、 前記合焦検出手段により合焦位置を検出した場合、再ス
キャン時間Ｔ1 およびしきい値Δ1 を設定する再スキャ
ン時間およびしきい値設定手段と、 最大ＡＦデータ位置にレンズをもたらすレンズ駆動手段
と、 前記合焦判定手段により合焦を検出できない状態におい
て、前記スキャンに関する所定の条件を満たしたか否か
を判定する条件判定手段と、 前記条件判定手段により所定の条件を満たしたと判定さ
れた場合、前記再スキャン時間は、前記Ｔ1 より短いＴ
2 に、前記しきい値はΔ1 より小さいΔ2 に切り替える
再スキャン時間およびしきい値切替手段と、 前記設定された再スキャン時間およびしきい値を用いて
再スキャン判定を行う手段と、 を備えたことを特徴とするコンティニュアスＡＦにおけ
るスキャン方式。 - 【請求項２】 前記所定の条件は、スキャンの反転した
回数がｎ回に達したか否かであることを特徴と請求項１
記載のコンティニュアスＡＦにおけるスキャン方式。 - 【請求項３】 前記所定の条件は、一定の時間が経過し
たか否かであることを特徴とする請求項１記載のコンテ
ィニュアスＡＦにおけるスキャン方式。 - 【請求項４】 前記しきい値は、ＡＦデータの変化また
は被写体の明るさの変化に対する値であることを特徴と
する請求項１記載のコンティニュアスＡＦにおけるスキ
ャン方式。 - 【請求項５】 前記しきい値はＡＦデータの絶対値や被
写体の明るさ，ズームレンズの位置によって変更される
ことを特徴とする請求項１記載のコンティニュアスＡＦ
におけるスキャン方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001192332A JP2003005024A (ja) | 2001-06-26 | 2001-06-26 | コンティニュアスａｆにおけるスキャン方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001192332A JP2003005024A (ja) | 2001-06-26 | 2001-06-26 | コンティニュアスａｆにおけるスキャン方式 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2003005024A true JP2003005024A (ja) | 2003-01-08 |
Family
ID=19030797
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2001192332A Pending JP2003005024A (ja) | 2001-06-26 | 2001-06-26 | コンティニュアスａｆにおけるスキャン方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
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