JP2000258681A - 焦点調節装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】単一のＡＦ方式による簡単な構成で、被写体の
コントラストや照度によらず合焦位置の検出を確実に行
い、信頼性の高い自動焦点調節を行う焦点調節装置を提
供する。 【解決手段】撮像光学系１により結像された被写体像に
対応して蓄積された信号電荷をＣＣＤ５から読み出し、
撮像回路６、Ａ／Ｄ変換器７、バッファメモリ８および
Ｄ／Ａ変換器９を介してＬＣＤ１０で表示したり、圧縮
／伸長回路１１を介して記録用メモリ１２に記録する電
子スチルカメラにおいて、ハイパスフィルタ３１で抽出
されたＣＣＤ１０からの画像信号の高周波成分の信号量
を累積加算器３２でＡＦ評価値として求め、２回のスキ
ャンで得られたＡＦ評価値をメモリ３４−１，３４−２
に記憶した後、加算器３５で加算してＡＦ評価値を求め
る機能を持つＡＦ処理部１４を有する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、ＣＣＤ二次元イメ
ージセンサのような固体撮像素子を用いて撮像を行う電
子的撮像装置に係り、特に信頼性が高く、かつ高速動作
の可能な焦点調節装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】被写体像を撮像光学系により固体撮像素
子、例えばＣＣＤ二次元イメージセンサ上に結像して電
気信号に変換し、これにより得られた画像信号を半導体
メモリや磁気ディスクのような記録媒体に記録する電子
的撮像装置、いわゆる電子スチルカメラが広く普及しつ
つある。

【０００３】このような電子スチルカメラにおいては、
一般に撮像光学系のフォーカスレンズの焦点誤差を検出
し、この焦点誤差の情報に基づいてフォーカスレンズ群
を光軸方向に移動させて自動的に焦点調節を行うオート
フォーカス（ＡＦ）システムが設けられる。電子スチル
カメラにおけるＡＦシステムの一つとして、撮像素子に
よって得られる画像信号に含まれる高周波成分の差異
（コントラストという）に基づいて焦点誤差を検出して
合焦位置を判定するイメージャＡＦ方式が知られてい
る。

【０００４】より具体的には、イメージャＡＦ方式では
フォーカスレンズを光軸方向にステップ的に移動させな
がら、撮像素子により得られる画像信号からハイパスフ
ィルタにより高周波成分を抽出し、この高周波成分の信
号量、具体的には高周波成分の累積加算値を合焦状態か
否かを判定するためのＡＦ評価値とする。そして、各フ
ォーカスレンズ位置に対応するＡＦ評価値を比較して、
ＡＦ評価値がピークを示す最大コントラスト点を合焦位
置と判定し、この合焦位置にフォーカスレンズを光軸方
向に駆動する。このＡＦ方式は、いわゆる山登り方式と
呼ばれる。このような従来のＡＦシステムの例は、例え
ば特開平９−１６８１１３号公報、特開平９−２００５
９７号公報等に開示されている。

【０００５】このような従来のＡＦシステムにおいて
は、被写体のコントラストが十分であれば、フォーカス
レンズの位置変化に伴い、図２（ａ）に示すようにＡＦ
評価値のピークが明瞭に現れるため、合焦位置の判定を
容易に行うことができる。ところが、低コントラストの
被写体の場合には、図２（ｂ）に示すようにフォーカス
レンズの位置変化に対するＡＦ評価値の変化が小さく、
ピークが明瞭に現れないため、合焦位置の判定を的確に
行うことが難しく、誤った位置にフォーカスレンズを駆
動する可能性があり、ＡＦ動作の信頼性に乏しい。同様
の問題は、被写体の照度が低い場合にも起こり得る。

【０００６】そこで、１回目のフォーカスレンズの駆動
で合焦位置を検出できないときは、再度フォーカスレン
ズを駆動して合焦位置の検出を行う方式も考えられてい
る。しかし、このようにフォーカスレンズの駆動を単純
に複数回行ってＡＦ評価値を得るようにしても、信頼性
の高いＡＦ評価値が得られるとは限らず、また合焦状態
となるまでに時間がかかってしまう。

【０００７】一方、特開平９−１８１９５２号公報に
は、位相差検出方式のＡＦ系とサーボ方式のＡＦ系を切
り替え可能にした電子スチルカメラのＡＦシステムが開
示されている。このＡＦシステムは、被写体のコントラ
ストなどの状態に合った最適なＡＦ方式を選択できる利
点はあるが、異なる複数のＡＦ方式に対応するために装
置が大型化する。特に、位相差検出方式は専用の光学系
や機構部品を必要とするため、装置の大型化、高コスト
化の原因となる。

【０００８】

【発明が解決しようとする課題】上述したように、従来
の電子スチルカメラにおけるＡＦシステムでは、被写体
のコントラストや照度が低い場合、フォーカスレンズの
位置変化に対するＡＦ評価値のピークが明瞭に現れない
ために合焦位置の検出が難しく、ＡＦ動作の信頼性が低
いという問題点があり、またフォーカスレンズの駆動を
複数回行って合焦位置の検出を複数回行う方式は、信頼
性の高いＡＦ動作が得られないばかりでなく、合焦状態
が得られるまでに時間がかかるという問題点があり、さ
らに被写体の状態によって異なるＡＦ方式を切り替える
ＡＦシステムでは、装置の大型化、高コスト化を招くと
いう問題点があった。

【０００９】本発明の目的は、基本的に単一のＡＦ方式
による簡単な構成で、被写体のコントラストや照度によ
らず合焦位置の検出を確実に行って、信頼性の高い自動
焦点調節を行うことができる焦点調節装置を提供するこ
とにある。

【００１０】また、本発明の他の目的は、さらに高精度
かつ高速の自動焦点調節を可能とした焦点調節装置を提
供することにある。

【００１１】

【課題を解決するための手段】上記の課題を解決するた
め、本発明に係る第１の焦点調節装置は、撮像光学系の
フォーカスレンズを光軸方向に駆動しながら撮像素子か
ら得られる画像信号の高周波成分の信号量を検出し、こ
の高周波成分の信号量が増加する方向にフォーカスレン
ズを駆動して該フォーカスレンズを合焦位置に移動させ
る焦点調節装置において、画像信号の高周波成分の信号
量を検出する高周波成分信号量検出手段と、フォーカス
レンズを光軸方向に駆動しながら該高周波成分信号量検
出手段により検出された高周波成分の信号量を記憶する
第１の記憶手段と、この第１の記憶手段に記憶された信
号量に基づいてフォーカスレンズの合焦位置の検出が可
能か否かを判定する判定手段と、この判定手段により合
焦位置の検出が不可能と判定されたときは、再びフォー
カスレンズを光軸方向に駆動しながら高周波成分信号量
検出手段により検出された高周波成分の信号量を記憶す
る第２の記憶手段と、第１の記憶手段に記憶された信号
量と第２の記憶手段に記憶された信号量を加算する加算
手段と、判定手段により合焦位置の検出が可能と判定さ
れたときは第１の記憶手段に記憶された信号量に基づい
て、また合焦位置の検出が不可能と判定されたときは加
算手段により加算された信号量に基づいてフォーカスレ
ンズの合焦位置を検出する合焦位置検出手段と、この合
焦位置検出手段により検出された合焦位置にフォーカス
レンズを移動させる駆動手段とを備えたことを特徴とす
る。

【００１２】この第１の焦点調節装置によると、第１、
第２の記憶手段に記憶された信号量に対して、これらを
加算した信号量はＳ／Ｎが改善される。従って、被写体
のコントラストや照度が低いために、第１の記憶手段に
記憶された信号量からは合焦位置の検出が不可能なとき
でも、この加算した信号量に基づいて合焦位置を検出す
ることが可能となり、これによりフォーカスレンズを合
焦位置に確実に移動させることができる。

【００１３】本発明に係る第２の焦点調節装置は、撮像
光学系のフォーカスレンズを光軸方向に駆動しながら撮
像素子から得られる画像信号の高周波成分の信号量を検
出し、この高周波成分の信号量が増加する方向にフォー
カスレンズを駆動して該フォーカスレンズを合焦位置に
移動させる焦点調節装置において、画像信号の高周波成
分の信号量を検出する高周波成分信号量検出手段と、フ
ォーカスレンズを光軸方向に駆動しながら該高周波成分
信号量検出手段により検出された高周波成分の信号量を
記憶する第１の記憶手段と、この第１の記憶手段に記憶
された信号量に基づいて合焦位置の検出が可能か否かを
判定する第１の判定手段と、この第１の判定手段により
合焦位置の検出が不可能と判定されたときは、高周波成
分信号量検出手段の検出特性を変更した後、再びフォー
カスレンズを光軸方向に駆動しながら検出手段により検
出された高周波成分の信号量を記憶する第２の記憶手段
と、この第２の記憶手段に記憶された信号量に基づいて
合焦位置の検出が可能か否かを判定する第２の判定手段
と、この第１の判定手段により合焦位置の検出が可能と
判定されたときは第２の記憶手段に記憶された信号量に
基づいて、また第１の判定手段により合焦位置の検出が
不可能と判定され、かつ第２の判定手段により合焦位置
の検出が可能と判定されたときは第２の記憶手段に記憶
された信号に基づいて合焦位置を検出する合焦位置検出
手段と、この合焦位置検出手段により検出された合焦位
置にフォーカスレンズを駆動する駆動手段とを備えたこ
とを特徴とする。

【００１４】この第２の焦点調節装置によると、被写体
のコントラストや照度が低いために第１の記憶手段によ
り記憶される高周波成分の信号量に基づいて合焦位置の
検出が不可能なときは、高周波成分の信号量の検出特性
を変更した状態で第２の記憶手段に記憶された高周波成
分の信号量に基づいて合焦位置の検出を行うことによっ
て、高周波成分の信号量を単純に２回検出して合焦位置
の検出を行う方法に比較して、より確実に合焦位置の検
出が可能となる。

【００１５】また、この第２の焦点調節装置において、
第１の焦点調節装置と同様に、第１の記憶手段に記憶さ
れた信号量と第２の記憶手段に記憶された信号量を加算
する加算手段を有し、合焦位置検出手段において第１の
判定手段により合焦位置の検出が不可能と判定され、か
つ第２の判定手段により合焦位置の検出が不可能と判定
されたときは、加算手段により加算された信号量に基づ
いて合焦位置を検出するようにしてもよい。

【００１６】第１、第２の記憶手段に記憶された信号量
を加算した信号量はＳ／Ｎが改善されるため、第１、第
２の記憶手段の個々に記憶された信号量からは合焦位置
の検出が不可能なときでも、この加算した信号量に基づ
いて合焦位置を検出することが可能となり、これにより
フォーカスレンズを合焦位置に確実に駆動することがで
きる。

【００１７】第１および第２の焦点調節装置において、
第１の記憶手段はフォーカスレンズを光軸方向の一方の
方向に駆動しながら高周波成分信号量検出手段により検
出された高周波成分の信号量を記憶し、第２の記憶手段
はフォーカスレンズを光軸方向の他方の方向に駆動しな
がら高周波成分信号量検出手段により検出された高周波
成分の信号量を記憶するようにしてもよい。このように
すると、第２の記憶手段により高周波成分の信号量を記
憶する場合、フォーカスレンズを元の位置に戻す必要が
ないので、より短時間で焦点位置調節を行うことが可能
となる。

【００１８】また、第１および第２の焦点調節装置にお
いて、判定手段は高周波成分の信号量の大きさによって
合焦位置の検出が可能か否かを判定することを特徴とす
る。このようにすると、複雑な演算を行うことなく合焦
位置の検出が可能か否かの判定ができる。

【００１９】さらに、第１および第２の焦点調節装置に
おいて、高周波成分信号量検出手段は画像信号の高周波
成分を抽出するフィルタを有し、第２の記憶手段が高周
波成分の信号量を記憶するとき該フィルタの特性を切り
替えるようにしてもよい。これにより合焦位置の検出に
最適なフィルタ特性を設定でき、合焦位置の検出がより
容易となる。

【００２０】また、第１および第２の焦点調節装置にお
いて、第２の記憶手段が高周波成分の信号量を記憶する
ときにフォーカスレンズを光軸方向に駆動する範囲を第
１の記憶手段が高周波成分の信号量を記憶するときにフ
ォーカスレンズを光軸方向に駆動する範囲より小さくし
てもよい。こうすることによって、フォーカスレンズの
無駄な駆動を行わず、より高速に合焦状態を得ることが
できる。

【００２１】

【発明の実施の形態】以下、図面を参照して本発明の実
施の形態を説明する。図１は、本発明の一実施形態に係
る電子的撮像装置の構成を示すブロック図である。図１
において、被写体光は図示しないレンズ鏡筒に設けられ
た撮像光学系１を構成するズームレンズ群２および撮像
レンズであるフォーカスレンズ群３を通過し、さらに光
量調節手段である絞り４を介して固体撮像素子、例えば
ＣＣＤ二次元イメージセンサ（以下、単にＣＣＤとい
う）５に入射する。これにより、ＣＣＤ５の撮像面上に
被写体像が結像される。

【００２２】ＣＣＤ５は、画素と呼ばれる複数の光電変
換素子を二次元のマトリクス状に配列して撮像面を構成
し、さらに撮像面にカラーフィルタを配置したものであ
り、ＣＣＤドライバ１５によって駆動制御されることに
より、撮像光学系１および絞り４を通過した被写体光に
より撮像面に結像された被写体像に対応した信号電荷を
蓄積して、蓄積した信号電荷が画素信号と呼ばれる電気
信号として読み出される。このＣＣＤ５から読み出され
た画素信号は撮像回路６に入力され、ここで色信号の分
離、ＣＤＳ（相関二重サンプリング）その他の処理が施
されることにより、所定フォーマットの画像信号が生成
される。

【００２３】撮像回路６によって生成された画像信号
は、Ａ／Ｄ変換器７によりディジタル信号に変換された
後、バッファメモリ８に一時的に記憶される。バッファ
メモリ８から読み出される画像信号はＤ／Ａ変換器９に
よりアナログ信号に戻され、さらに再生出力に適した形
態に変換された後、ＬＣＤ（液晶ディスプレイ）１０に
供給され、画像として表示される。

【００２４】バッファメモリ８にはさらに圧縮／伸長回
路１１が接続され、この圧縮伸長回路１１には画像デー
タおよび付随するデータを記録するための記録媒体であ
る記録用メモリ１２が接続される。記録用メモリ１２と
しては、例えばフラッシュメモリのような固体型の半導
体メモリや、カード形状またはスティック形状からなり
装置に対して着脱可能に構成されたカード型フラッシュ
メモリのような半導体メモリのほか、ハードディスクや
フロッピディスクのような磁気記録媒体等、種々の形態
のものを使用できる。

【００２５】圧縮伸長回路１１は、バッファメモリ８に
記憶された画像信号を読み出して圧縮（符号化）処理を
行うことにより、記録用メモリ１２への記録に適した形
態とするための圧縮回路部と、記録用メモリ１２に記録
された画像信号を読み出して伸長（復号化）処理を行う
ことにより、表示やプリント等の再生出力に適した形態
とするための伸長回路部とからなる。

【００２６】また、Ａ／Ｄ変換器７から出力される画像
信号は、ＡＥ処理部１３およびＡＦ処理部１４に供給さ
れる。ＡＥ処理部１３は、Ａ／Ｄ変換器７より出力され
る画像信号を受け、各画素からの画素信号の累積加算を
主体とする演算処理を行い、この累積加算値に基づき被
写体の明るさに応じたＡＥ評価値（測光値）を求め、こ
のＡＥ評価値に基づいてＣＰＵ１５を介して露光量を自
動的に調整する自動露出（ＡＥ）処理を行う回路であ
る。

【００２７】ＡＦ処理部１４は、基本的にはＡ／Ｄ変換
器７より出力される画像信号を受けてその高周波成分を
抽出し、この高周波成分に対して累積加算処理を行うこ
とによって高域側の輪郭成分量に対応するＡＦ評価値を
算出し、これに基づいてＣＰＵ１５を介して自動焦点調
節（ＡＦ）処理を行う回路である。この例では、ＡＦ処
理部１４は高周波成分を抽出するためのハイパスフィル
タ（ＨＰＦ）３１、抽出された高周波成分を累積加算す
る累積加算器３２、切替器３３、第１、第２のメモリ３
４−１，３４−２および加算器３５により構成される。

【００２８】本実施形態では、後に詳しく説明するよう
にフォーカスレンズ群３を駆動しながら累積加算器３３
で得られた累積加算値を第１のメモリ３４−１に記憶す
る動作を行うとともに、このときの累積加算値をＡＦ評
価値としてＣＰＵ１５によりフォーカスレンズ群３の合
焦位置の検出が可能か否かが判定される。ここで合焦位
置の検出が可能と判定されたときは、第１のメモリ３４
−１に記憶された累積加算値をＡＦ評価値としてＣＰＵ
１５により合焦位置の検出が行われる。

【００２９】一方、合焦位置の検出が不可能と判定され
たときは、再びフォーカスレンズ群３を駆動しながら累
積加算器３３で得られた累積加算値を第２のメモリ３４
−２に記憶する動作が行われる。そして、第１、第２の
メモリ３４−１，３４−２Ｉにそれぞれ記憶された累積
加算値を加算器３５により加算した値がＣＰＵ１５に供
給され、この加算値をＡＦ評価値としてＣＰＵ１５によ
り合焦位置の検出が行われる。なお、メモリ３４−１，
３４−２はＣＰＵ１５内のＲＡＭからなる作業用メモリ
を用いることもできる。

【００３０】また、本実施形態ではハイパスフィルタ３
１として特性可変のフィルタが使用され、フォーカスレ
ンズ群３の二回目の駆動時には、ＣＰＵ１５からの制御
によりハイパスフィルタ３１の特性、例えばカットオフ
周波数を変更することで、一回目のフォーカスレンズ群
３の駆動時とはフォーカス誤差検出特性を異ならせるよ
うにしている。

【００３１】ＣＰＵ１５は撮像装置全体の制御を司るも
のであり、このＣＰＵ１５には上述したＡＥ処理部１３
およびＡＦ処理部１４のほか、タイミング発生器１６、
第１モータドライバ１８、第２モータドライバ１９、第
３モータドライバ２０、操作部２４、ＥＥＰＲＯＭ２
５、および電池２６が接続されている。タイミング発生
器１６は、ＣＰＵ１５、ＣＣＤドライバ１７および撮像
回路６に供給する各種のタイミング信号を発生する。

【００３２】第１モータドライバ１８は、絞り４を駆動
する絞り駆動モータ２１の駆動制御を行う。ＣＰＵ１５
はＡＥ処理回路１３で算出されたＡＥ評価値に基づい
て、この第１モータドライバ１８を制御することによ
り、適正な露光量が得られるように絞り４の絞り量を調
整するＡＥ制御を行う。

【００３３】第２モータドライバ１９は、フォーカスレ
ンズ群３を駆動するフォーカスモータ２２の駆動制御を
行う。ＣＰＵ１５はＡＦ算出回路１４で算出されたＡＦ
評価値に基づいて、この第２モータドライバ１９を制御
することにより、合焦状態が得られるようにフォーカス
レンズ群３を光軸方向に移動させるＡＦ制御を行う。

【００３４】第３モータドライバ２０は、ズームレンズ
群２を駆動するズームモータ２３の駆動制御を行う。Ｃ
ＰＵ１５は後述する操作部２４内のズームスイッチが操
作されたとき、このズームスイッチからの指令信号に従
って第３モータドライバ２０を制御することにより、所
望の変倍動作が得られるようにズームレンズ群２を光軸
方向に移動させるズーム制御を行う。

【００３５】電池２６はＣＰＵ１５により制御され、撮
像装置の各部への電源供給を行う。ＥＥＰＲＯＭ２５は
電気的に書き換え可能なメモリであり、各種の制御プロ
グラムや各種の動作を行わせるために使用するデータを
予め記憶している。

【００３６】操作部２４は、各種の動作を行わせるため
の指令信号を発生してＣＰＵ１５に伝達する複数の操作
スイッチ群からなる。具体的には、操作部２４には例え
ば撮像装置を起動させて電源供給を行わせるための指令
信号を発生させる主電源スイッチと、撮影／記録動作を
開始させるための指令信号を発生させるレリーズスイッ
チと、再生動作を開始させるための指令信号を発生させ
る再生スイッチと、ズームレンズ群２を移動させて変倍
動作を開始させるための指令信号を発生させるズームス
イッチ（ズームアップスイッチおよびズームダウンスイ
ッチ）等が備えられている。

【００３７】レリーズスイッチは、撮影動作に先立って
行うＡＥ処理およびＡＦ処理を開始させる指令信号を発
生させる第１段レリーズスイッチと、この第１段レリー
ズスイッチにより発生される指令信号を受けて実際の撮
像動作を開始させる指令信号を発生させる第２段レリー
ズスイッチからなる。

【００３８】次に、本実施形態におけるＡＦシステムに
ついて詳細に説明する。図３は、本実施形態におけるＡ
Ｆシステムの概略動作を説明するための図であり、フォ
ーカスモータ２２によるフォーカスレンズ群３の駆動の
ステップ数が７の場合の例である。本実施形態では、ま
ず図３（ａ）に示すようにフォーカスレンズ群３を矢印
で示す方向、つまり無限遠側から至近側に向けて、Ｌ０
（無限遠位置）→Ｌ１→Ｌ２→Ｌ３→Ｌ４→Ｌ５→Ｌ６
（至近位置）の順でステップ的に駆動し（以後、この方
向のフォーカスレンズ群３の駆動をスキャン１と呼
ぶ）、これに伴いＡＦ評価値を算出する。

【００３９】すなわち、各レンズ位置Ｌ０，Ｌ１，Ｌ
２，Ｌ３，Ｌ４，Ｌ５，Ｌ６毎に、ＡＦ処理部１４にお
いてＡ／Ｄ変換器７より出力される画像信号の高周波成
分をハイパスフィルタ３１により抽出し、この高周波成
分に対して累積加算器３２で累積加算処理を行って、高
周波成分の信号量を検出する。これら各レンズ位置Ｌ
０，Ｌ１，Ｌ２，Ｌ３，Ｌ４，Ｌ５，Ｌ６毎の累積加算
値は、ＣＰＵ１５からの制御により第１のメモリ３４−
１側に接続されている切替器３３を介してメモリ３４−
１に順次格納される。

【００４０】そして、第１のメモリ３４−１に記憶され
た累積加算値をＡＦ評価値として合焦位置の検出が可能
か否かの判定がＣＰＵ１５により行われ、可能であれば
メモリ３４−１に記憶された累積加算値をＡＦ評価値と
し、これに基づいて合焦位置の検出が行われる。合焦位
置の検出が可能か否かの判定は、例えば累積加算値の大
きさがある閾値以上か否かにより行うことができる。

【００４１】一方、上述したスキャン１において、例え
ば累積加算値の大きさが閾値に達せず合焦位置の検出が
不可能と判定されたときは、図３（ｂ）に示すようにフ
ォーカスレンズ群３を矢印で示す方向、つまり図３
（ａ）の場合とは逆に、至近側から無限遠側に向けて、
Ｌ６（至近位置）→Ｌ５→Ｌ４→Ｌ３→Ｌ２→Ｌ１→Ｌ
０（無限遠位置）の順でステップ的に駆動し（以後、こ
の方向のフォーカスレンズ群３の駆動をスキャン２と呼
ぶ）、これに伴いＡＦ評価値を算出する。この場合にお
いても、スキャン１の場合と同様に各レンズ位置Ｌ６，
Ｌ５，Ｌ４，Ｌ３，Ｌ２，Ｌ１，Ｌ０毎に、ＡＦ処理部
１４においてＡ／Ｄ変換器７より出力される画像信号の
高周波成分をハイパスフィルタ３１により抽出し、この
高周波成分に対して累積加算器３２で累積加算処理を行
う。これら各レンズ位置Ｌ６，Ｌ５，Ｌ４，Ｌ３，Ｌ
２，Ｌ１，Ｌ０毎の累積加算値は、ＣＰＵ１５からの制
御による第２のメモリ３４−２側に切り替えられている
切替器３３を介してメモリ３４−２に順次格納される。

【００４２】そして、スキャン２において第２のメモリ
３４−２に記憶された累積加算値とスキャン１において
第１のメモリ３４−１に記憶された累積加算値が図３
（ｃ）に示すように加算器３５で加算され、この加算値
がＣＰＵ１５に供給される。ＣＰＵ１５では、この加算
器３５からの加算値を新たにＡＦ評価値として合焦位置
の検出を行う。

【００４３】図３（ｃ）に示すようにメモリ３４−１，
３４−２に記憶されたスキャン１，２で得られた累積加
算値の加算値であるＡＦ評価値は、図３（ａ）（ｂ）に
示した各スキャン１，２で得られた累積加算値からなる
ＡＦ評価値に比較してＳ／Ｎが改善されており、フォー
カスレンズ群３のレンズ位置によるレベル変化が大きく
なっている。この結果、ＡＦ評価値のピークが明瞭に現
れており、図３（ｃ）の例ではレンズ位置Ｌ３でＡＦ評
価値がピークを示している。すなわち、レンズ位置Ｌ３
が合焦位置となるので、この位置Ｌ３にフォーカスレン
ズ群３を移動させればよい。

【００４４】このように本実施形態によると、スキャン
１で得られたＡＦ評価値に基づいて合焦位置の検出が不
可能と判定されたときは、スキャン２において再びフォ
ーカスレンズ群３を光軸方向に駆動して、スキャン１と
スキャン２で得られたＡＦ評価値を加算した値を新たな
ＡＦ評価値とするため、Ｓ／Ｎが改善されたＡＦ評価値
を得ることができ、これにより合焦位置を正確に検出し
て、フォーカスレンズ群３を確実に合焦位置に駆動する
ことができる。

【００４５】また、本実施形態ではスキャン２の駆動方
向をスキャン１の駆動方向と逆にすることにより、スキ
ャン１の終了後フォーカスレンズ群３を元の位置（例え
ば無限遠位置ＬＯ）まで戻すことなく、そのままの位置
（例えば至近位置Ｌ６）からスキャン２を開始すること
ができ、高速にＡＦ制御を行うことが可能となる。

【００４６】さらに、本実施形態ではスキャン１とスキ
ャン２とで、ＡＦ処理部１４内の高周波成分抽出用のハ
イパスフィルタ３１の特性、例えばカットオフ周波数を
変化させるようにする。

【００４７】図４は、ハイパスフィルタ３１のカットオ
フ周波数とＡＦ評価値の関係を示す図である。図４（ａ
１）に示すようにカットオフ周波数が低い場合（ｆｃ
１）、フォーカスレンズ群３のレンズ位置によるＡＦ評
価値の変化は図４（ｂ１）に示すように比較的緩やかで
ある。これに対して、図４（ａ２）に示すようにカット
オフ周波数が高い場合（ｆｃ２）には、レンズ位置によ
るＡＦ評価値の変化は図４（ｂ２）に示すように急峻と
なる。図４（ｂ１）と図４（ｂ２）を比較して明らかな
ように、図４（ａ１）の特性と図４（ａ２）の特性は一
長一短がある。

【００４８】すなわち、図４（ａ１）の特性では合焦状
態の検出精度は低いが、フォーカスレンズ群３のステッ
プ移動に伴い、必ずＡＦ評価値の変化が現れる。一方、
図４（ａ２）の特性では合焦状態の検出が可能な場合は
高精度の検出ができるが、フォーカスレンズ群３のステ
ップ移動に際して、隣接する二つのレンズ位置の間に合
焦位置が存在する場合には、ＡＦ評価値はほとんど変化
せず、合焦位置を検出できない。

【００４９】従って、例えばハイパスフィルタ３１をス
キャン１では図４（ａ２）に示す特性に設定し、スキャ
ン２では図４（ａ１）に示す特性に設定すれば、これら
両者の特性の長所を兼ね備えたＡＦ動作を行うことが可
能となる。

【００５０】すなわち、高周波成分を十分に持つ通常の
被写体に対しては、図４（ａ２）に示す特性で合焦検出
を行うことが可能である。しかし、高周波成分の少ない
低コントラストの被写体に対しては、図４（ａ２）に示
す特性ではＡＦ評価値の変化が明瞭に現れない。そこ
で、図４（ａ１）に示す特性でスキャンを行うことによ
り、ＡＦ評価値の変化が明確に現れるようになるため、
合焦位置を容易に検出することが可能となる。

【００５１】このようにスキャン１を図４（ａ２）に示
す特性で行い、スキャン２を図４（ａ１）に示す特性で
行うことにより、良好な使い勝手のよいＡＦを実現する
ことができる。具体的には、高周波成分を十分持つ通常
の被写体に対しては、１回のスキャンでＡＦ評価値の急
峻な変化が得られるので、高速かつ高精度のＡＦが可能
となる。一方、低コントラストの被写体に対しては、２
回目のスキャンで合焦検出可能なＡＦ評価値の変化が得
られるので、多少時間がかかるものの、確実にＡＦを行
うことが可能となる。

【００５２】なお、上記の説明ではスキャン１とスキャ
ン２でフォーカスレンズ群３を光軸方向に駆動する範囲
を共に無限遠位置と至近位置との間としたが、後述する
ようにスキャン２においてフォーカスレンズ群３を光軸
方向に駆動する範囲をスキャン１におけるそれより小さ
くしてもよい。

【００５３】次に、図５および図６を用いて本実施形態
における動作手順の第１の例について説明する。図５は
主としてＡＦ動作の動作手順を示すフローチャートであ
り、図６はフォーカスレンズ位置と第１、第２のメモリ
３４−１，３４−２の動作の関係を示す図である。

【００５４】第１段レリーズスイッチを押すと、ステッ
プＳ１０１でＡＥ動作が行われた後ＡＦ動作が開始され
る。ＡＦ動作が開始すると、まずスキャン１の動作が行
われる。

【００５５】すなわち、フォーカスレンズ群３が無限遠
（∞）位置（Ｌ０）に駆動されると共に、スキャン１の
各ステップ動作毎にインクリメントされるカウント値Ｉ
が初期値０にセットされ（ステップＳ１０２〜Ｓ１０
３）、この状態でＡＦ評価値が取得されて第１のメモリ
３４−１のアドレス（Ｉ）に格納される（ステップＳ１
０４〜Ｓ１０５）。

【００５６】そして、フォーカスレンズ群３がステップ
Ｓ１０６で至近位置（Ｌ６）に到達したと判断されるま
で、カウント値Ｉが１ずつインクリメントされると共
に、フォーカスレンズ群３は無限遠位置（Ｌ０）ら至近
位置（Ｌ６）に向けて所定量ずつステップ的にＬ１，Ｌ
２，Ｌ３，Ｌ４，Ｌ５，Ｌ６の位置に駆動され（ステッ
プＳ１０７〜Ｓ１０８）、その都度ステップＳ１０４〜
Ｓ１０５の処理が繰り返される。

【００５７】このスキャン１の動作により、フォーカス
レンズ群３の各レンズ位置Ｌ０，Ｌ１，Ｌ２，Ｌ３，Ｌ
４，Ｌ５，Ｌ６におけるＡＦ評価値が第１のメモリ３４
−１のアドレス０，１，２，３，４，５，６にそれぞれ
格納される。これらのアドレスのアドレス値をＩとす
る。

【００５８】ステップＳ１０８でフォーカスレンズ群３
が至近位置に（Ｌ６）に達したと判断されると、合焦位
置の検出が可能か否かが判定され（ステップＳ１０
９）、可能であれば合焦位置の検出が行われ（ステップ
Ｓ１２３）、フォーカスレンズ群３は検出された合焦位
置に駆動される（ステップＳ１２４）。ステップＳ１０
９の判定は、スキャン１で得られたＡＦ評価値の大きさ
に基づいて行われ、例えばスキャン１で得られた各レン
ズ位置でのＡＦ評価値の大きさ（平均値またはピーク
値）が所定の閾値以上であれば合焦位置の検出が可能と
判定され、ＡＦ評価値の大きさが閾値に満たなければ不
可能と判定される。

【００５９】一方、ステップＳ１０９で合焦位置の検出
が不可能と判断されると、フォーカス誤差検出特性、つ
まりハイパスフィルタ３１の特性が例えば図４（ａ２）
に示した特性から図４（ａ１）に示した特性に変更され
る（ステップＳ１１０）。この後、スキャン２の動作が
行われる。

【００６０】スキャン２においては、フォーカスレンズ
群３が至近位置（Ｌ６）に位置している状態で、スキャ
ン２の各ステップ動作毎にインクリメントされるカウン
ト値Ｊが１にセットされ（ステップＳ１１１）、この状
態でＡＦ評価値が取得されて第２のメモリ３４−２のア
ドレス（Ｉ＋Ｊ）に格納される（ステップＳ１１２〜Ｓ
１１３）。

【００６１】そして、フォーカスレンズ群３がステップ
Ｓ１１４で無限遠位置（Ｌ０）に到達したと判断される
まで、カウント値Ｊが１ずつインクリメントされると共
に、フォーカスレンズ群３は至近位置（Ｌ６）から無限
遠位置（ＬＯ）に向けて所定量ずつステップ的にＬ５，
Ｌ４，Ｌ３，Ｌ２，Ｌ１，Ｌ０の位置に駆動され（ステ
ップＳ１１５〜Ｓ１１６）、その都度ステップＳ１１２
〜Ｓ１１３の処理が繰り返される。

【００６２】このスキャン２の動作により、フォーカス
レンズ群３の各レンズ位置Ｌ６，Ｌ５，Ｌ４，Ｌ３，Ｌ
２，Ｌ１，Ｌ０におけるＡＦ評価値が第２のメモリ３４
−２のアドレス７，８，９，１０，１１，１２，１３に
それぞれ格納される。これらのアドレスのアドレス値を
Ｉ＋Ｊとする。

【００６３】ステップＳ１１４でフォーカスレンズ群３
が無限遠位置に（Ｌ０）に達したと判断されると、合焦
位置の検出が可能か否かが判定され（ステップＳ１１
７）、可能であれば合焦位置の検出が行われ（ステップ
Ｓ１２３）、フォーカスレンズ群３は検出された合焦位
置に駆動される（ステップＳ１２４）。ステップＳ１１
７の判定も、ステップＳ１０９と同様に、スキャン２で
得られたＡＦ評価値の大きさに基づいて行われ、例えば
スキャン２で得られた各レンズ位置でのＡＦ評価値の大
きさ（平均値またはピーク値）が所定の閾値以上であれ
ば合焦位置の検出が可能と判定され、ＡＦ評価値の大き
さが閾値に満たなければ不可能と判定される。

【００６４】一方、ステップＳ１１７で合焦位置の検出
が不可能と判断されると、第１、第２のメモリ３４−
１，３４−２にそれぞれ格納されているＡＦ評価値の同
じレンズ位置に対応する値どうしが加算され、この加算
値に基づいて合焦位置の検出が行われる。

【００６５】すなわち、ステップＳ１１７で合焦位置の
検出が不可能と判断された場合は、まず加算時のステッ
プ動作毎にインクリメントされるカウント値Ｋが０にセ
ットされ（ステップＳ１１８）、この状態で第１のメモ
リ３４−１のアドレスＫと第２のメモリ３４−２のアド
レスＩ＋Ｊ−Ｋから、それぞれレンズ位置Ｌ０のＡＦ評
価値が読み出されて加算される（ステップＳ１１９）。
そして、ステップＳ１２０でカウント値ＫがＩに達した
と判断されるまでＫが１ずつインクリメントされ（ステ
ップＳ１２１）、ステップＳ１１９の読み出しと加算が
繰り返される。

【００６６】ステップＳ１２０でカウント値ＫがＩに達
し、第１、第２のメモリ３４−１，３４−２に格納され
た全てのＡＦ評価値の同じレンズ位置に対応する値どう
しの加算が終了すると、このＡＦ評価値の加算値の大き
さに基づいて合焦位置の検出が可能か否かが判定され
（ステップＳ１２２）、可能であれば合焦位置の検出が
行われ（ステップＳ１２３）、フォーカスレンズ群３は
検出された合焦位置に駆動される（ステップＳ１２
４）。また、ステップＳ１２２で合焦位置の検出が不可
能と判断された場合は、エラー処理が行われる（ステッ
プＳ１２５）。

【００６７】次に、図７および図８を用いて本実施形態
における動作手順の第２の例について説明する。図７は
主としてＡＦ動作の動作手順を示すフローチャートであ
り、図８はフォーカスレンズ位置と第１、第２のメモリ
３４−１，３４−２の動作の関係を示す図である。

【００６８】この第２の例は、スキャン２においてフォ
ーカスレンズ群３を光軸方向に駆動する範囲をスキャン
１のそれより小さくする点が図５および図６を用いて説
明した第１の例と異なる。

【００６９】図５と同一の処理に同一符号を付して説明
すると、図７においてスキャン１の動作、つまりステッ
プＳ１０１からＳ１１１までの処理は図５と同様であ
る。

【００７０】スキャン１の動作が終了すると、ステップ
Ｓ１１１でスキャン２の各ステップ動作毎にインクリメ
ントされるカウント値Ｊが１にセットされた後、フォー
カスレンズ群３が再スキャン開始位置（スキャン２の開
始位置、この例ではレンズ位置Ｌ４）に駆動される（ス
テップＳ２０１）。この状態でＡＦ評価値が取得され、
第２のメモリ３４−２のアドレス（Ｉ＋Ｊ）に格納され
る（ステップＳ１１２〜Ｓ１１３）。

【００７１】そして、フォーカスレンズ群３がステップ
Ｓ２０２で再スキャン終了位置（スキャン２の終了位
置、この例ではレンズ位置Ｌ２）に到達したと判断され
るまで、カウント値Ｊが１ずつインクリメントされると
共に、フォーカスレンズ群３は再スキャン開始位置Ｌ４
から再スキャン終了位置Ｌ２に向けて所定量ずつステッ
プ的に駆動され（ステップＳ１１５〜Ｓ１１６）、その
都度ステップＳ１１２〜Ｓ１１３の処理が繰り返され
る。

【００７２】このスキャン２の動作により、フォーカス
レンズ群３の再スキャン開始位置Ｌ４から再スキャン終
了位置Ｌ２までの各レンズ位置Ｌ４，Ｌ３，Ｌ２におけ
るＡＦ評価値が第２のメモリ３４−２のアドレス７，
８，９にそれぞれ格納される。これらのアドレスのアド
レス値をＩ＋Ｊとする。

【００７３】ステップＳ２０２でフォーカスレンズ群３
が再スキャン終了位置Ｌ２に達したと判断されると、ス
キャン２で得られたＡＦ評価値の大きさに基づいて合焦
位置の検出が可能か否かが判定され（ステップＳ１１
７）、可能であれば合焦位置の検出が行われ（ステップ
Ｓ１２３）、フォーカスレンズ群３は検出された合焦位
置に駆動される（ステップＳ１２４）。

【００７４】一方、ステップＳ１１７で合焦位置の検出
が不可能と判断されると、第１、第２のメモリ３４−
１，３４−２にそれぞれ格納されているＡＦ評価値の同
じレンズ位置に対応する値どうしが加算され、この加算
値に基づいて合焦位置の検出が行われる。

【００７５】すなわち、ステップＳ１１７で合焦位置の
検出が不可能と判断された場合は、まず加算時のステッ
プ動作毎にインクリメントされるカウント値Ｋが０にセ
ットされ（ステップＳ１１８）、この状態で第１のメモ
リ３４−１のアドレス＊＊＊と第２のメモリ３４−２の
アドレスＩ＋Ｊ−Ｋから同一レンズ位置のＡＦ評価値が
読み出されて加算される（ステップＳ２０３）。第１の
メモリ３４−１のアドレス＊＊＊は、第２のメモリ３４
−２のアドレスＩ＋Ｊ−Ｋに格納されているスキャン１
で得られたＡＦ評価値と同じレンズ位置のスキャン２で
得られたＡＦ評価値が格納されているアドレスである。
そして、ステップＳ１２０でカウント値ＫがＩに達した
と判断されるまでＫが１ずつインクリメントされ（ステ
ップＳ１２１）、ステップＳ２０３の読み出しと加算が
繰り返される。

【００７６】ステップＳ１２０でカウント値ＫがＩに達
し、第２のメモリ３４−２から読み出されるスキャン２
で得られた再スキャン開始位置Ｌ４から再スキャン終了
位置Ｌ２までのＡＦ評価値と、これらと同一レンズ位置
の第１のメモリ３４−１から読み出されるスキャン１で
得られたＡＦ評価値との加算が終了すると、合焦位置の
検出が可能か否かが判定され（ステップＳ１２２）、可
能であれば合焦位置の検出が行われ（ステップＳ１２
３）、フォーカスレンズ群３は検出された合焦位置に駆
動される（ステップＳ１２４）。また、ステップＳ１２
２で合焦位置の検出が不可能と判断された場合は、エラ
ー処理が行われる（ステップＳ１２５）。

【００７７】この第２の動作例において、再スキャン開
始位置、つまりスキャン２の開始位置（図７、図８の例
ではＬ４）は、合焦位置が含まれる可能性の高い位置、
例えばフォーカスレンズ群３の焦点深度の２倍程度が好
ましい。

【００７８】このように第２の動作例によると、スキャ
ン２のスキャン範囲をスキャン１のスキャン範囲よりも
小さくすることによって、スキャン１とスキャン２に要
する合計の時間を短縮でき、より高速に合焦状態を得る
ことが可能となる。

【００７９】なお、上述した第１、第２の動作例におい
てはスキャン１とスキャン２におけるフォーカスレンズ
群３のステップ駆動の停止位置を同一（ＬＯ，Ｌ１，Ｌ
２，Ｌ３，Ｌ４，Ｌ５，Ｌ６）としたが、これらの位置
を異ならせてもよい。すなわち、例えばスキャン１にお
けるフォーカスレンズ群３の停止位置をＬＯ，Ｌ１，Ｌ
２，Ｌ３，Ｌ４，Ｌ５，Ｌ６としたとき、スキャン２に
おけるフォーカスレンズ群３の停止位置をＬＯ，Ｌ１，
Ｌ２，Ｌ３，Ｌ４，Ｌ５，Ｌ６の中間位置（Ｌ１−Ｌ
０，Ｌ２−Ｌ１，Ｌ３−Ｌ２，Ｌ４−Ｌ３，Ｌ５−Ｌ
４，Ｌ６−Ｌ５）としてもよい。

【００８０】このようにすると、真の合焦位置がＬＯ，
Ｌ１，Ｌ２，Ｌ３，Ｌ４，Ｌ５，Ｌ６のうちの一つ、あ
るいはＬ１−Ｌ０，Ｌ２−Ｌ１，Ｌ３−Ｌ２，Ｌ４−Ｌ
３，Ｌ５−Ｌ４，Ｌ６−Ｌ５のうちの一つのいずれに存
在する場合でも、精度よく合焦状態を得ることができ
る。

【００８１】

【発明の効果】以上説明したように、本発明によればフ
ォーカスレンズを光軸方向に駆動しながら画像信号の高
周波成分の信号量をＡＦ評価値として検出する動作を２
回行う場合に、１回目と２回目の検出時にそれぞれ得ら
れるＡＦ評価値を加算する機能を備え、１回目の検出時
にも２回目の検出時にも合焦位置の検出ができないとき
は、この加算したＡＦ評価値に基づいて合焦位置を検出
することによって、被写体が低コントラストまたは低照
度の場合でも、基本的に単一のＡＦ方式（山登り方式）
で合焦位置の検出を確実に行い、信頼性の高いＡＦ制御
を実現することができる。

【００８２】また、本発明では１回目と２回目の検出で
ＡＦ評価値の検出特性を変更する機能を備え、１回目の
検出時に得られるＡＦ評価値で合焦位置の検出ができな
いときは検出特性を変えて２回目の検出時に得られるＡ
Ｆ評価値に基づいて合焦位置の検出を確実に行うことが
でき、信頼性の高いＡＦ制御が可能となる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の一実施形態に係る電子的撮像装置の構
成を示すブロック図

【図２】被写体の高コントラスト時および低コントラス
ト時のフォーカスレンズ位置とＡＦ評価値の関係を示す
図

【図３】同実施形態におけるスキャン１およびスキャン
２におけるフォーカスレンズ位置とＡＦ評価値および加
算後のＡＦ評価値との関係を示す図

【図４】同実施形態におけるハイパスフィルタのカット
オフ周波数とＡＦ評価値との関係を示す図

【図５】同実施形態における第１の動作例を示すフロー
チャート

【図６】第１の動作例におけるフォーカスレンズ位置と
第１、第２のメモリの動作の関係を示す図

【図７】同実施形態における第２の動作例を示すフロー
チャート

【図８】第２の動作例におけるフォーカスレンズ位置と
第１、第２のメモリの動作の関係を示す図

【符号の説明】

１…撮像光学系 ２…ズームレンズ群 ３…フォーカスレンズ群 ４…絞り ５…ＣＣＤ（撮像素子） ６…撮像回路 ７…Ａ／Ｄ変換器 ８…バッファメモリ ９…Ｄ／Ａ変換器 １０…ＬＣＤ（液晶ディスプレイ） １１…圧縮／伸長回路 １２…記録用メモリ（記録媒体） １３…ＡＥ処理部（自動露出処理部） １４…ＡＦ処理部（自動焦点調節処理部） １５…ＣＰＵ １６…タイミング発生器 １７…ＣＣＤドライバ １８〜２０…モータドライバ ２１…絞りモータ ２２…フォーカスモータ ２３…ズームモータ ２４…操作部 ２５…ＥＥＰＲＯＭ ３１…ハイパスフィルタ ３２…累積加算器 ３３…切替器 ３４−１…第１のメモリ ３４−２…第２のメモリ ３５…加算器

フロントページの続き (51)Int.Cl.⁷ 識別記号 ＦＩ テーマコート゛(参考） Ｇ０３Ｂ 3/00 Ａ

Claims (7)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】撮像光学系のフォーカスレンズを光軸方向
   に駆動しながら撮像素子から得られる画像信号の高周波
   成分の信号量を検出し、この高周波成分の信号量が増加
   する方向に前記フォーカスレンズを駆動して該フォーカ
   スレンズを合焦位置に移動させる焦点調節装置におい
   て、 前記画像信号の高周波成分の信号量を検出する高周波成
   分信号量検出手段と、 前記フォーカスレンズを光軸方向に駆動しながら前記高
   周波成分信号量検出手段により検出された高周波成分の
   信号量を記憶する第１の記憶手段と、 前記第１の記憶手段に記憶された信号量に基づいて前記
   フォーカスレンズの合焦位置の検出が可能か否かを判定
   する判定手段と、 前記判定手段により前記合焦位置の検出が不可能と判定
   されたときは、再び前記フォーカスレンズを光軸方向に
   駆動しながら前記高周波成分信号量検出手段により検出
   された高周波成分の信号量を記憶する第２の記憶手段
   と、 前記第１の記憶手段に記憶された信号量と前記第２の記
   憶手段に記憶された信号量を加算する加算手段と、 前記判定手段により前記合焦位置の検出が可能と判定さ
   れたときは前記第１の記憶手段に記憶された信号量に基
   づいて、また前記判定手段により前記合焦位置の検出が
   不可能と判定されたときは前記加算手段により加算され
   た信号量に基づいて前記フォーカスレンズの合焦位置を
   検出する合焦位置検出手段と、 前記合焦位置検出手段により検出された合焦位置に前記
   フォーカスレンズを移動させる駆動手段と、 を備えたことを特徴とする焦点調節装置。
2. 【請求項２】撮像光学系のフォーカスレンズを光軸方向
   に駆動しながら撮像素子から得られる画像信号の高周波
   成分の信号量を検出し、この高周波成分の信号量が増加
   する方向に前記フォーカスレンズを駆動して該フォーカ
   スレンズを合焦位置に移動させる焦点調節装置におい
   て、 前記画像信号の高周波成分の信号量を検出する高周波成
   分信号量検出手段と、 前記フォーカスレンズを光軸方向に駆動しながら前記高
   周波成分信号量検出手段により検出された高周波成分の
   信号量を記憶する第１の記憶手段と、 前記第１の記憶手段に記憶された信号量に基づいて合焦
   位置の検出が可能か否かを判定する第１の判定手段と、 前記第１の判定手段により前記合焦位置の検出が不可能
   と判定されたときは、前記高周波成分信号量検出手段の
   検出特性を変更した後、再び前記フォーカスレンズを光
   軸方向に駆動しながら前記高周波成分信号量検出手段に
   より検出された高周波成分の信号量を記憶する第２の記
   憶手段と、 前記第２の記憶手段に記憶された信号量に基づいて合焦
   位置の検出が可能か否かを判定する第２の判定手段と、 前記第１の判定手段により合焦位置の検出が可能と判定
   されたときは前記第２の記憶手段に記憶された信号量に
   基づいて、また前記第１の判定手段により合焦位置の検
   出が不可能と判定され、かつ前記第２の判定手段により
   合焦位置の検出が可能と判定されたときは前記第２の記
   憶手段に記憶された信号に基づいて合焦位置を検出する
   合焦位置検出手段と、 前記合焦位置検出手段により検出された合焦位置に前記
   フォーカスレンズを移動させる駆動手段と、 を備えたことを特徴とする焦点調節装置。
3. 【請求項３】前記第１の記憶手段に記憶された信号量と
   前記第２の記憶手段に記憶された信号量を加算する加算
   手段を有し、 前記合焦位置検出手段は、前記第１の判定手段により合
   焦位置の検出が不可能と判定され、かつ前記第２の判定
   手段により合焦位置の検出が不可能と判定されたとき
   は、前記加算手段により加算された信号量に基づいて合
   焦位置を検出することを特徴とする請求項２記載の焦点
   調節装置。
4. 【請求項４】前記第１の記憶手段は、前記フォーカスレ
   ンズを光軸方向の一方の方向に駆動しながら前記高周波
   成分信号量検出手段により検出された高周波成分の信号
   量を記憶し、 前記第２の記憶手段は、前記フォーカスレンズを光軸方
   向の他方の方向に駆動しながら前記高周波成分信号量検
   出手段により検出された高周波成分の信号量を記憶する
   ことを特徴とする請求項１または２記載の焦点調節装
   置。
5. 【請求項５】前記判定手段は、前記高周波成分の信号量
   の大きさによって合焦位置の検出が可能か否かを判定す
   ることを特徴とする請求項１または２記載の焦点調節装
   置。
6. 【請求項６】前記高周波成分信号量検出手段は、前記画
   像信号の高周波成分を抽出するフィルタを有し、前記第
   ２の記憶手段が前記高周波成分の信号量を記憶するとき
   に該フィルタの特性を切り替えることを特徴とする請求
   項１または２記載の焦点調節装置。
7. 【請求項７】前記第２の記憶手段が前記高周波成分の信
   号量を記憶するときに前記フォーカスレンズを光軸方向
   に駆動する範囲を前記第１の記憶手段が前記高周波成分
   の信号量を記憶するときに前記フォーカスレンズを光軸
   方向に駆動する範囲より小さくすることを特徴とする請
   求項１または２記載の焦点調節装置。