JP2002542085A - 増強された消去能力を具備する光学的記録媒体 - Google Patents
増強された消去能力を具備する光学的記録媒体Info
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Abstract
(57)【要約】
一つ以上の記録層(30)から成る光学的記録媒体。少なくとも一つの記録層(30)は光学的相変化記憶材料から成り、光学的相変化記憶材料は、光学的相変化合金、光学的相変化合金に添加され光学的記録媒体の消去能力を少なくとも3dBまで向上する少なくとも一つの改質剤元素から成る。
Description
【0001】 (発明の分野) 此処に開示された発明は、一般的には光学的記録媒体に、より正確には光学的
相変化記憶材利用からなる記録層を有する光化学的記録媒体に関する。
相変化記憶材利用からなる記録層を有する光化学的記録媒体に関する。
【0002】 (発明の背景) 非削磨型(non-ablative)光学的相変化記憶装置は、光学的エネルギーを加える
ことにより、少なくとも二つの検出可能な状態の間で切り換え可能な光学的相変
化記憶材料に情報を記録する。光学的相変化記憶材料は、一般的に、光学的相変
化記憶材料が基盤により支持され、カプセル材料によって保護される構造を備え
た光学的記録媒体中に合体される。光学的記録媒体の場合、カプセル材料は、例
えば、削磨防止材料及び層、熱絶縁材料及び層、反射防止材料及び層、反射層、
及び化学的絶縁層を含む。更に種々の層が、一つ以上のこれらの機能を果たすこ
とがある。例えば、反射防止層は、同時に削磨防止層及び熱絶縁層であることも
ある。光学的相変化記憶材料の層を含めた層の厚さは、高コントラスト比、搬送
波対雑音比、及び光学的相変化記憶材料の高安定性を最適化すると同時に、状態
変化をもたらすのに必要なエネルギーを最小化するように設計される。
ことにより、少なくとも二つの検出可能な状態の間で切り換え可能な光学的相変
化記憶材料に情報を記録する。光学的相変化記憶材料は、一般的に、光学的相変
化記憶材料が基盤により支持され、カプセル材料によって保護される構造を備え
た光学的記録媒体中に合体される。光学的記録媒体の場合、カプセル材料は、例
えば、削磨防止材料及び層、熱絶縁材料及び層、反射防止材料及び層、反射層、
及び化学的絶縁層を含む。更に種々の層が、一つ以上のこれらの機能を果たすこ
とがある。例えば、反射防止層は、同時に削磨防止層及び熱絶縁層であることも
ある。光学的相変化記憶材料の層を含めた層の厚さは、高コントラスト比、搬送
波対雑音比、及び光学的相変化記憶材料の高安定性を最適化すると同時に、状態
変化をもたらすのに必要なエネルギーを最小化するように設計される。
【0003】 光学的記録媒体の形成は、例えば蒸着、化学蒸着法、及び/又はプラズマ析出
によって、個別の層を析出させることを含んでいる。此処で用いられているよう
に、プラズマ析出はスパッタリング、グロー放電、及びプラズマ強化化学蒸着を含
んでいる。
によって、個別の層を析出させることを含んでいる。此処で用いられているよう
に、プラズマ析出はスパッタリング、グロー放電、及びプラズマ強化化学蒸着を含
んでいる。
【0004】 光学的相変化材料は、ある検出可能状態から別の検出可能状態へ光学的エネル
ギーを加えることで切り換えることができる。相変化可変材料の状態は、例えば
、屈折率、光吸収、光反射率、又はそれらの組み合わせのような特性によって検
出可能である。テルル基材料が相変化材料としてデータ記憶に用いられてきて、
変化は反射率のような物理的性質により明示される。テルル基状態可変材料は一
般に、単一又は多相系である。このような材料の規則化現象は、核発生及び成長
過程(均一及び不均一の両方又は何れかの核発生を含む)を含み、不規則材料系
を規則及び不規則材料の系へ変換する。ガラス化現象は、高移動性状態を達成す
ること及び相可変材料を急冷することにより、不規則及び規則材料から成る系を
、大部分が不規則材料から成る系に変態させる。上述の相変化及び分離は、相の
密接な連結及び全般的な構造上の区別によって、比較的短距離にわたって生じ、
化学量論的局所変化に非常に敏感である。本発明は高移動性状態を通過する高速
変態を提供する。この高速移動性状態は、ある相対的規則状態から別の状態へ高
速変態をさせる。高速移動状態は必ずしも溶融状態に対応せず、より正確には系
としての高い移動性に対応する。
ギーを加えることで切り換えることができる。相変化可変材料の状態は、例えば
、屈折率、光吸収、光反射率、又はそれらの組み合わせのような特性によって検
出可能である。テルル基材料が相変化材料としてデータ記憶に用いられてきて、
変化は反射率のような物理的性質により明示される。テルル基状態可変材料は一
般に、単一又は多相系である。このような材料の規則化現象は、核発生及び成長
過程(均一及び不均一の両方又は何れかの核発生を含む)を含み、不規則材料系
を規則及び不規則材料の系へ変換する。ガラス化現象は、高移動性状態を達成す
ること及び相可変材料を急冷することにより、不規則及び規則材料から成る系を
、大部分が不規則材料から成る系に変態させる。上述の相変化及び分離は、相の
密接な連結及び全般的な構造上の区別によって、比較的短距離にわたって生じ、
化学量論的局所変化に非常に敏感である。本発明は高移動性状態を通過する高速
変態を提供する。この高速移動性状態は、ある相対的規則状態から別の状態へ高
速変態をさせる。高速移動状態は必ずしも溶融状態に対応せず、より正確には系
としての高い移動性に対応する。
【0005】 一般的に、光学的相変化記憶材料における、非晶質と結晶質状態間の相転移を
起こさせる光学的エネルギーを供給するのにレーザが使われる。記憶材料に加え
られるエネルギー量は、レーザ・パルスが印加される時間と同様に、レーザ電力
の関数でもある。結晶化エネルギーは、記憶材料の非晶質領域を実質的に再結晶
させるのに必要な、単位体積当りのエネルギー量として此処では定義する。結晶
化エネルギーは、結晶化過程における核発生に必要なエネルギーを含む、多くの
因子に依存する。
起こさせる光学的エネルギーを供給するのにレーザが使われる。記憶材料に加え
られるエネルギー量は、レーザ・パルスが印加される時間と同様に、レーザ電力
の関数でもある。結晶化エネルギーは、記憶材料の非晶質領域を実質的に再結晶
させるのに必要な、単位体積当りのエネルギー量として此処では定義する。結晶
化エネルギーは、結晶化過程における核発生に必要なエネルギーを含む、多くの
因子に依存する。
【0006】 もしも結晶化エネルギーが高すぎる時は、材料を非晶質から結晶質状態へ変換
するために、より高い電力のレーザ・パルス又はより長いレーザ・パルスのいず
れかに曝すことを要求される。相変化記憶材料の結晶化エネルギーを、一つ以上
の改質剤元素の添加によって制御できることが望ましい。光学的記録媒体の消去
能力を増強することも、亦、望ましいことである。
するために、より高い電力のレーザ・パルス又はより長いレーザ・パルスのいず
れかに曝すことを要求される。相変化記憶材料の結晶化エネルギーを、一つ以上
の改質剤元素の添加によって制御できることが望ましい。光学的記録媒体の消去
能力を増強することも、亦、望ましいことである。
【0007】 (発明の要約) 本発明の一つの目的は、エネルギー必要量を低減した光学的記憶媒体である。
更に本発明のもう一つの目的は、消去能力を増強した光学的記憶媒体である。
更に本発明のもう一つの目的は、消去能力を増強した光学的記憶媒体である。
【0008】 本発明のこれら及びその他の目的は、一つ以上の記録層から成り、前記記録層
の少なくとも一層が、以下の構成の光学的相変化材料を含むことを特徴とする光
学的記録媒体によって満足される。すわなち、光学的相変化合金; 及び相変化合
金に添加され、光学的記録媒体の消去能力を少なくとも3 dBだけ増強する、少なく
とも一つの改質剤元素、である。
の少なくとも一層が、以下の構成の光学的相変化材料を含むことを特徴とする光
学的記録媒体によって満足される。すわなち、光学的相変化合金; 及び相変化合
金に添加され、光学的記録媒体の消去能力を少なくとも3 dBだけ増強する、少なく
とも一つの改質剤元素、である。
【0009】 本発明のこれら及びその他の目的は、 光学的記録媒体に光学的データを読み
取り、書き込み、及び消去するための光学的ヘッドを有する光学的駆動手段から成
り、光学的記録媒体が一つ以上の記録層から成り、前記記録層の少なくとも一層
が、以下の構成の光学的相変化材料を含むことを特徴とする、光学的データ記憶
検索装置によって同様に満足される。すなわち、光学的相変化合金; 及び相変化
合金に添加され、記録媒体の消去能力を少なくとも3 dBだけ増強する、少なくと
も一つの改質剤元素、である。
取り、書き込み、及び消去するための光学的ヘッドを有する光学的駆動手段から成
り、光学的記録媒体が一つ以上の記録層から成り、前記記録層の少なくとも一層
が、以下の構成の光学的相変化材料を含むことを特徴とする、光学的データ記憶
検索装置によって同様に満足される。すなわち、光学的相変化合金; 及び相変化
合金に添加され、記録媒体の消去能力を少なくとも3 dBだけ増強する、少なくと
も一つの改質剤元素、である。
【0010】 (発明の詳細な説明) 此処に開示されているのはね光学的相変化合金、及び光学的相変化合金に添加
された少なくとも一つの改質剤元素から成る、相変化記憶材料である。一般に、
本発明の光学的相変化合金は、(1)非晶質状態と結晶質状態を具備する、(2)
光学的エネルギーに応答して非晶質と結晶質状態の間を切り換わることができる
、(3)非晶質と結晶質状態の間で切り換わったとき、屈折率、光吸収、又は光
反射率に検出できる変化を受ける、材料であれば如何なるものであってもよいで
あろう。本発明の光学的相変化記憶材料は、改質された材料を形成するために少
なくとも一つの改質剤元素を光学的相変化合金に添加して、上述の相変化合金を
改質することにより形成される。光学的相変化記憶材料を形成するために少なく
とも一つの改質剤元素を添加して改質される相変化合金は、此処では「対応する
未改質相変化合金」と呼ぶ。
された少なくとも一つの改質剤元素から成る、相変化記憶材料である。一般に、
本発明の光学的相変化合金は、(1)非晶質状態と結晶質状態を具備する、(2)
光学的エネルギーに応答して非晶質と結晶質状態の間を切り換わることができる
、(3)非晶質と結晶質状態の間で切り換わったとき、屈折率、光吸収、又は光
反射率に検出できる変化を受ける、材料であれば如何なるものであってもよいで
あろう。本発明の光学的相変化記憶材料は、改質された材料を形成するために少
なくとも一つの改質剤元素を光学的相変化合金に添加して、上述の相変化合金を
改質することにより形成される。光学的相変化記憶材料を形成するために少なく
とも一つの改質剤元素を添加して改質される相変化合金は、此処では「対応する
未改質相変化合金」と呼ぶ。
【0011】 説明したように、本発明の光学的相変化記憶材料は、光学的相変化合金と光学
的相変化合金に添加される少なくとも一つの改質剤元素とから成る。好ましくは
、光学的相変化合金に添加されたとき、改質剤元素は光学的相変化合金の結晶化
エネルギーを少なくとも5%低下させる。より好ましくは、光学的相変化合金に添
加されたとき、改質剤元素は光学的相変化合金の結晶化エネルギーを少なくとも
10%低下させる。別の言葉でいえば、光学的相変化記憶材料は、対応する未改質
相変化合金の結晶化エネルギーよりも、好ましくは少なくとも5%低い、より好ま
しくは少なくとも10%低い結晶化エネルギーを有する。
的相変化合金に添加される少なくとも一つの改質剤元素とから成る。好ましくは
、光学的相変化合金に添加されたとき、改質剤元素は光学的相変化合金の結晶化
エネルギーを少なくとも5%低下させる。より好ましくは、光学的相変化合金に添
加されたとき、改質剤元素は光学的相変化合金の結晶化エネルギーを少なくとも
10%低下させる。別の言葉でいえば、光学的相変化記憶材料は、対応する未改質
相変化合金の結晶化エネルギーよりも、好ましくは少なくとも5%低い、より好ま
しくは少なくとも10%低い結晶化エネルギーを有する。
【0012】 此処で定義されているように、「結晶化エネルギー」は、相変化材料の非晶質
化された容積を実質的に再結晶させるための、単位体積当りのエネルギー量であ
る。相変化材料の容積を結晶化するのに必要とされるエネルギーは、電力P及び
パルス幅Wを有するレーザ・ビームのパルスにより供給される。非晶質化された
容積に伝達されるエネルギー量Eは、P×Wである。(1)本発明の相変化記憶材料
と(2)対応する未改質相変化合金との間の、結晶化エネルギーの差の百分率は
、各(1)及び(2)の試料容積を電力P及びパルス幅Wを有するレーザ・ビームで
照射し、試料の光学的反射率を測定するという「静的」験条件の下で測定するこ
とができる。
化された容積を実質的に再結晶させるための、単位体積当りのエネルギー量であ
る。相変化材料の容積を結晶化するのに必要とされるエネルギーは、電力P及び
パルス幅Wを有するレーザ・ビームのパルスにより供給される。非晶質化された
容積に伝達されるエネルギー量Eは、P×Wである。(1)本発明の相変化記憶材料
と(2)対応する未改質相変化合金との間の、結晶化エネルギーの差の百分率は
、各(1)及び(2)の試料容積を電力P及びパルス幅Wを有するレーザ・ビームで
照射し、試料の光学的反射率を測定するという「静的」験条件の下で測定するこ
とができる。
【0013】 上述したように、本発明の光学的相変化記憶材料は、光学的相変化合金と光学
的相変化合金に添加される少なくとも一つの改質剤元素とから成る。此処に開示
されているのは、一つ以上の記録層から成る光学的記録媒体である。記録層の少
なくとも一つが上述の光学的相変化記憶材料から成る(即ち、光学的相変化記憶
材料が光学的相変化合金と光学的相変化合金に添加される少なくとも一つの改質
剤元素とから成る)。本発明の一実施態様において、記録層の各々は上述した光
学的相変化記憶材料から成る。
的相変化合金に添加される少なくとも一つの改質剤元素とから成る。此処に開示
されているのは、一つ以上の記録層から成る光学的記録媒体である。記録層の少
なくとも一つが上述の光学的相変化記憶材料から成る(即ち、光学的相変化記憶
材料が光学的相変化合金と光学的相変化合金に添加される少なくとも一つの改質
剤元素とから成る)。本発明の一実施態様において、記録層の各々は上述した光
学的相変化記憶材料から成る。
【0014】 好ましくは、本発明の光学的記録媒体は、各記録層が対応する未改質光学的相
変化合金で形成されている「未改質の」光学的記録媒体(同一構造を有する)の
消去能力よりも、少なくとも3dB大きな消去能力を具備している。より好ましく
は、本発明の光学的記録媒体は未改質の光学的記録媒体の消去能力よりも、少な
くとも5dB大きな消去能力を具備している。上述した特性を有する光学的記録媒
体は、如何なるものでも本発明の範囲内にある。
変化合金で形成されている「未改質の」光学的記録媒体(同一構造を有する)の
消去能力よりも、少なくとも3dB大きな消去能力を具備している。より好ましく
は、本発明の光学的記録媒体は未改質の光学的記録媒体の消去能力よりも、少な
くとも5dB大きな消去能力を具備している。上述した特性を有する光学的記録媒
体は、如何なるものでも本発明の範囲内にある。
【0015】 一つの実施態様において、本発明の光学的記録媒体は、一つの記録層を具備し
ている。該記録層は本発明の光学的相変化記憶材料で形成されている(即ち、少
なくとも一つの改質剤元素の添加によって改質された光学的相変化合金)。好ま
しくは、この光学的記録媒体は、記録層が対応する未改質相変化合金から形成さ
れた「未改質の」光学的記録媒体(同一構造を持つ)の消去能力よりも、少なく
とも3dB大きな消去能力を有している。より好ましくは、この光学的記録媒体の消
去能力は、未改質光学的記録媒体の消去能力より少なくとも5dB大きい。上述し
た特性を有する光学的記録媒体は、如何なるものでも本発明の範囲内にある。
ている。該記録層は本発明の光学的相変化記憶材料で形成されている(即ち、少
なくとも一つの改質剤元素の添加によって改質された光学的相変化合金)。好ま
しくは、この光学的記録媒体は、記録層が対応する未改質相変化合金から形成さ
れた「未改質の」光学的記録媒体(同一構造を持つ)の消去能力よりも、少なく
とも3dB大きな消去能力を有している。より好ましくは、この光学的記録媒体の消
去能力は、未改質光学的記録媒体の消去能力より少なくとも5dB大きい。上述し
た特性を有する光学的記録媒体は、如何なるものでも本発明の範囲内にある。
【0016】 もう一つの実施態様においては、本発明の光学的記録媒体は二つ以上の記録層
を具備している。光学的記録層の少なくとも一つは、此処で述べた光学記憶材料
(即ち、少なくとも一つの改質剤元素によって改質された光学的相変化合金)か
ら成っている。好ましくは、この光学的記録媒体は、各記録層が対応する未改質
相変化合金から形成されている「未改質の」光学的記録媒体(同一構造を持つ)
の消去能力よりも、少なくとも3dB大きな消去能力を具備している。より好まし
くは、光学的記録媒体の消去能力は、未改質の光学的記録媒体の消去能力よりも
、少なくとも5dB大きい。上述した特性を有する光学的記録媒体は、如何なるも
のでも本発明の範囲内にある。
を具備している。光学的記録層の少なくとも一つは、此処で述べた光学記憶材料
(即ち、少なくとも一つの改質剤元素によって改質された光学的相変化合金)か
ら成っている。好ましくは、この光学的記録媒体は、各記録層が対応する未改質
相変化合金から形成されている「未改質の」光学的記録媒体(同一構造を持つ)
の消去能力よりも、少なくとも3dB大きな消去能力を具備している。より好まし
くは、光学的記録媒体の消去能力は、未改質の光学的記録媒体の消去能力よりも
、少なくとも5dB大きい。上述した特性を有する光学的記録媒体は、如何なるも
のでも本発明の範囲内にある。
【0017】 「消去能力」は、光学的記録媒体の記録された信号の搬送波対雑音比(「記録CNR
」)と消去後の搬送波対雑音比(「消去CNR」)の間の差(即ち、消去能力 = 記録C
NR−消去CNR)として此処では定義される。記録CNRは媒体の雑音水準の電力に対
する、媒体上に記録された搬送波周波数信号の電力の比である。これは従来、記
録CNR = 20×log10(記録された信号の平方自乗平均電圧 / 雑音平方自乗平均電
圧)として表されている。消去CNRは、媒体の信号が記録されていた部分が消去操
作を受けた後に、その媒体中に記録された信号の搬送波対雑音比である。
」)と消去後の搬送波対雑音比(「消去CNR」)の間の差(即ち、消去能力 = 記録C
NR−消去CNR)として此処では定義される。記録CNRは媒体の雑音水準の電力に対
する、媒体上に記録された搬送波周波数信号の電力の比である。これは従来、記
録CNR = 20×log10(記録された信号の平方自乗平均電圧 / 雑音平方自乗平均電
圧)として表されている。消去CNRは、媒体の信号が記録されていた部分が消去操
作を受けた後に、その媒体中に記録された信号の搬送波対雑音比である。
【0018】 記録CNR及び消去CNR両者の値は、用いられる記録電力Pwと共に変化する。従っ
て消去能力の測定値も記録電力Pwと共に変化することになる。上で注目したよう
に、相変化合金への改質剤元素の添加は、光学的記録媒体の消去能力を少なくと
も3dBまで増強させる。この3dB(又はそれより大)の増強は、「敷居値電力」Pthr eshold と「削磨電力」Pablationとの間のある記録電力で少なくとも起るであろう
。敷居値電力Pthresholdは、それ以下では雑音と識別できる測定可能な記録信号
がない電力として、此処では定義される。削磨電力Pablationは、それ以上では
材料が削磨され始め機能を失う電力として、此処では定義される.好ましくは、消
去能力測定は「最適記録電力」Poptでなされる。消去能力測定を行なうのによい最
適記録電力Poptの例は、第二調和波記録CNRが最小化される記録電力である。
て消去能力の測定値も記録電力Pwと共に変化することになる。上で注目したよう
に、相変化合金への改質剤元素の添加は、光学的記録媒体の消去能力を少なくと
も3dBまで増強させる。この3dB(又はそれより大)の増強は、「敷居値電力」Pthr eshold と「削磨電力」Pablationとの間のある記録電力で少なくとも起るであろう
。敷居値電力Pthresholdは、それ以下では雑音と識別できる測定可能な記録信号
がない電力として、此処では定義される。削磨電力Pablationは、それ以上では
材料が削磨され始め機能を失う電力として、此処では定義される.好ましくは、消
去能力測定は「最適記録電力」Poptでなされる。消去能力測定を行なうのによい最
適記録電力Poptの例は、第二調和波記録CNRが最小化される記録電力である。
【0019】 光学的記録媒体の構造例はたくさんある。光学的記録媒体の一つの形式では、
記録層は第一誘電体層と第二誘電体層の間にサンドイッチされている。光学的記
録媒体のこの形式の実施態様においては、光学的記録媒体は、少なくとも、基板
、基板の上面に析出させた第一誘電体層、第一誘電体層の上面に析出させた記録
層、及び記録層の上面に析出させた第二誘電体層から成る。多層光学的記録媒体
の実施例が図1に示されている。この実施例において、記憶媒体1は、基板10、基
板10の上面に析出させた第一誘電体層20、第一誘電体層20の上面に析出させた記
録層30、記録層30の上面に析出させた第二誘電体層40、第二誘電体層40の上面に
析出させた反射層50、及び第二誘電体層の上面に析出させた保護皮膜層60から成
る。基板はポリカーボネイト又はその他の類似の材料から形成されることがある
。好ましくは、基板10は実質的に光学的に不変な材料で、実質的に光学的に等方
的で、透明な薄板である。好ましい厚さは約0.6mmと約1.2mmの間である。基板10
は一般的には射出成形されるが、他の方法でも成形することができる。基板には
、レイザー源から伝達された光を案内するための溝が切られることがある。溝は
、基板10中へ重合、成形、射出成形、注型されることがある。好ましくは、溝の
深さは約200から約1000オングストロームであろう。
記録層は第一誘電体層と第二誘電体層の間にサンドイッチされている。光学的記
録媒体のこの形式の実施態様においては、光学的記録媒体は、少なくとも、基板
、基板の上面に析出させた第一誘電体層、第一誘電体層の上面に析出させた記録
層、及び記録層の上面に析出させた第二誘電体層から成る。多層光学的記録媒体
の実施例が図1に示されている。この実施例において、記憶媒体1は、基板10、基
板10の上面に析出させた第一誘電体層20、第一誘電体層20の上面に析出させた記
録層30、記録層30の上面に析出させた第二誘電体層40、第二誘電体層40の上面に
析出させた反射層50、及び第二誘電体層の上面に析出させた保護皮膜層60から成
る。基板はポリカーボネイト又はその他の類似の材料から形成されることがある
。好ましくは、基板10は実質的に光学的に不変な材料で、実質的に光学的に等方
的で、透明な薄板である。好ましい厚さは約0.6mmと約1.2mmの間である。基板10
は一般的には射出成形されるが、他の方法でも成形することができる。基板には
、レイザー源から伝達された光を案内するための溝が切られることがある。溝は
、基板10中へ重合、成形、射出成形、注型されることがある。好ましくは、溝の
深さは約200から約1000オングストロームであろう。
【0020】 第一及び第二誘電体層20、40は、記録層30をサンドイッチする。第一及び第二
誘電体層20、40の主な機能は、光源の反射率を最適化して前記光源から記憶材料
へ伝達される光学的エネルギーの量を最大化することである。最適化には、第一
及び第二誘電体層20、40の「光学的厚さ」を適切に選ぶことが必要である。材料
の層の光学的厚さは、層の物理的厚さをその材料の屈折率に乗じたものとして定
義される。
誘電体層20、40の主な機能は、光源の反射率を最適化して前記光源から記憶材料
へ伝達される光学的エネルギーの量を最大化することである。最適化には、第一
及び第二誘電体層20、40の「光学的厚さ」を適切に選ぶことが必要である。材料
の層の光学的厚さは、層の物理的厚さをその材料の屈折率に乗じたものとして定
義される。
【0021】 好ましくは、第一及び第二誘電体層は、1.5と2.5の間の光学的屈折率を有する
誘電体材料から選ばれる。より好ましくは、光学的屈折率は2.0と2.2の間から選
ばれる。第一及び第二誘電体層に使用されることのある材料は、酸化ゲルマニウ
ム(GeO2)、二酸化珪素(SiO2)、硫化亜鉛(ZnS)、二酸化アルミニウム、酸
化チタン、及び窒化珪素を含むが限定はされない。材料は個別に又は組み合わせ
て用いられるであろう。誘電体層20、40の何れか又は両方が記録層30内への拡散
を避けるために、多層化されるか又は濃度勾配が付けられることもある。
誘電体材料から選ばれる。より好ましくは、光学的屈折率は2.0と2.2の間から選
ばれる。第一及び第二誘電体層に使用されることのある材料は、酸化ゲルマニウ
ム(GeO2)、二酸化珪素(SiO2)、硫化亜鉛(ZnS)、二酸化アルミニウム、酸
化チタン、及び窒化珪素を含むが限定はされない。材料は個別に又は組み合わせ
て用いられるであろう。誘電体層20、40の何れか又は両方が記録層30内への拡散
を避けるために、多層化されるか又は濃度勾配が付けられることもある。
【0022】 光源の反射率を最適化すると同時に、第一及び第二誘電体層20、40は記録層30
を熱的に絶縁する手段も提供する。更に、それらは、記憶材料を化学的に変化さ
せる可能性のある要因が記録層30内に侵入するのを防ぐ作用をする。その上、そ
れらは、記憶材料が光源によって記録又は消去される際に加熱される時、基板10
が変形するのを防ぐ。
を熱的に絶縁する手段も提供する。更に、それらは、記憶材料を化学的に変化さ
せる可能性のある要因が記録層30内に侵入するのを防ぐ作用をする。その上、そ
れらは、記憶材料が光源によって記録又は消去される際に加熱される時、基板10
が変形するのを防ぐ。
【0023】 反射層50は、第二誘電体層40の上面に析出されるであろう。反射層50は記憶層
に入る反射光の量を増大させる。それは更に、急速冷却を促進する熱的吸い込み
を提供することによって、記憶層の熱的環境に影響をあたえる。一般的に、反射
層は金属薄膜で形成される。好ましいのは、Al、Au、Ag、Pt、Cu、Ti、Ni、Pd又
はそれらの合金で形成される。反射層は、好ましくは約30から約150 nmの厚さで
ある。反射層は、好ましくはスパッタリング、真空蒸着、などの物理的析出法で
形成される。
に入る反射光の量を増大させる。それは更に、急速冷却を促進する熱的吸い込み
を提供することによって、記憶層の熱的環境に影響をあたえる。一般的に、反射
層は金属薄膜で形成される。好ましいのは、Al、Au、Ag、Pt、Cu、Ti、Ni、Pd又
はそれらの合金で形成される。反射層は、好ましくは約30から約150 nmの厚さで
ある。反射層は、好ましくはスパッタリング、真空蒸着、などの物理的析出法で
形成される。
【0024】 保護層60は、反射層50の上面に引っ掻き及び腐食抵抗の目的で析出される。そ
れは、好ましくはアクリレイトなどの有機材料で形成される。より好ましくは、
保護層60は輻射線(一般的に、電子輻射線及び紫外輻射線)に曝すことにより硬
化される輻射線硬化化合物及び組成物で形成される。保護層60はこのましくは約
0.1から約1.5マイクロメータ厚さである。これはスピン塗布、グラビア印刷、又
は吹き付け被覆を含む従来被覆法の望一つで形成されるであろう。
れは、好ましくはアクリレイトなどの有機材料で形成される。より好ましくは、
保護層60は輻射線(一般的に、電子輻射線及び紫外輻射線)に曝すことにより硬
化される輻射線硬化化合物及び組成物で形成される。保護層60はこのましくは約
0.1から約1.5マイクロメータ厚さである。これはスピン塗布、グラビア印刷、又
は吹き付け被覆を含む従来被覆法の望一つで形成されるであろう。
【0025】 光学的記録媒体構造のもう一つの実施例において、光学的記録媒体は、少なく
とも、基板、第一保護層、記録層、及び第二保護層から成る。この型の多層構造
の実施例は、米国特許番号第5,063,097号に記載されており、その開示内容はこ
こに参考にして取り入れてある。
とも、基板、第一保護層、記録層、及び第二保護層から成る。この型の多層構造
の実施例は、米国特許番号第5,063,097号に記載されており、その開示内容はこ
こに参考にして取り入れてある。
【0026】 光学的記録媒体構造の更にもう一つの実施例において、記憶媒体は、少なくと
も、基板、下側誘電体層、記録層、第一上側誘電体層、及び第二上側誘電体層か
ら成る。この型の多層構造の実施例は、米国特許第5,498,507号に記載されてお
り、その開示内容はここに参考にして取り入れてある。
も、基板、下側誘電体層、記録層、第一上側誘電体層、及び第二上側誘電体層か
ら成る。この型の多層構造の実施例は、米国特許第5,498,507号に記載されてお
り、その開示内容はここに参考にして取り入れてある。
【0027】 光学的記録媒体構造の更にもう一つの実施例において、記録媒体は、少なくと
も、基板、第一反射層、第一誘電体層、記録層、第二誘電体層、及び第二反射層
から成る。
も、基板、第一反射層、第一誘電体層、記録層、第二誘電体層、及び第二反射層
から成る。
【0028】 本発明の光学的記録媒体は一つ以上の記録層から成る。本発明の光学的記録媒
体は一つの記録層を有することがある。光学的記録媒体は二つの記録層を有する
ことがある。光学的記録媒体は三つの記録層を有することがある。光学的記録媒
体は四つの記録層を有することがある。光学的記録媒体は五つの記録層を有する
ことがある。光学的記録媒体は六つの記録層を有することがある。光学的記録媒
体は七つの記録層を有することがある。光学的記録媒体は八つの記録層を有する
ことがある。本発明の光学的記録媒体は八つより多い記録層を有することがある
。
体は一つの記録層を有することがある。光学的記録媒体は二つの記録層を有する
ことがある。光学的記録媒体は三つの記録層を有することがある。光学的記録媒
体は四つの記録層を有することがある。光学的記録媒体は五つの記録層を有する
ことがある。光学的記録媒体は六つの記録層を有することがある。光学的記録媒
体は七つの記録層を有することがある。光学的記録媒体は八つの記録層を有する
ことがある。本発明の光学的記録媒体は八つより多い記録層を有することがある
。
【0029】 上で定義されているように、本発明の光学的相変化記憶材料は、光学的相変化
合金、及び少なくとも一つの相変化合金に添加された改質剤元素から成る。上で
述べたように、本発明の相変化合金は(1)非晶質状態及び結晶状態を具備する
(2)光学的エネルギーに応答して非晶質及び結晶状態の間で切り換えられるこ
とが出来る(3)非晶質及び結晶状態の間で切り換えられた時屈折率、光吸収、
又は光学的反射率のいずれかにおいて検出可能な変化を受ける。
合金、及び少なくとも一つの相変化合金に添加された改質剤元素から成る。上で
述べたように、本発明の相変化合金は(1)非晶質状態及び結晶状態を具備する
(2)光学的エネルギーに応答して非晶質及び結晶状態の間で切り換えられるこ
とが出来る(3)非晶質及び結晶状態の間で切り換えられた時屈折率、光吸収、
又は光学的反射率のいずれかにおいて検出可能な変化を受ける。
【0030】 望ましくは、改質剤元素は、V、Cr、Mn,Fe、Co、Mo、Ru、Rh、Ta、W、Re、
Os、及び、Irから成る群から選ばれる。より好ましくは、改質剤元素は、Fe、Cr
、及び、Moから成る群から選ばれる。最も好ましくは、改質剤元素はFeである。
Os、及び、Irから成る群から選ばれる。より好ましくは、改質剤元素は、Fe、Cr
、及び、Moから成る群から選ばれる。最も好ましくは、改質剤元素はFeである。
【0031】 ここで定義されるように、元素の「原子百分率」は、光学的相変化記憶材料内
の原子数当りのその元素の百分率である。一つの実施態様において、改質剤元素
は改質剤元素の原子百分率が、0.06と1.0の間であるように光学的相変化合金に
添加される。
の原子数当りのその元素の百分率である。一つの実施態様において、改質剤元素
は改質剤元素の原子百分率が、0.06と1.0の間であるように光学的相変化合金に
添加される。
【0032】 Feが改質剤元素として用いられる時は、Feの原子百分率は0.06と1.0の間が好
ましく、Feの原子百分率が0.08と0.8の間が更に好ましく、原子百分率は約0.3が
最も好ましい。代りの実施態様においては、Feの原子百分率が約0.1のことがあ
る。
ましく、Feの原子百分率が0.08と0.8の間が更に好ましく、原子百分率は約0.3が
最も好ましい。代りの実施態様においては、Feの原子百分率が約0.1のことがあ
る。
【0033】 上で定義されているように、材料の結晶化エネルギーは、相変化材料の非晶質
化された容積を再結晶させるのに必要な、単位体積当りのエネルギー量である。
結晶化は二つの基本的な過程に分けられる:(1)核の形成、及び(2)前記核
の結晶への成長。核発生過程は均一核発生又は不均一核発生のいずれかである。
一般に、不均一核発生に必要なエネルギー量は均一核発生に必要なものより小さ
い。理論に縛られることを望むわけではないが、改質剤元素は光学的相変化合金
に不均一核発生サイトを加えると信じられている。不均一核発生サイトの添加は
核発生に必要なエネルギー量を減少させ、それにより相変化材料の結晶化エネル
ギーを減少させる。更に、相変化材料の結晶化エネルギーの減少は、相変化材料
を用いる光学的記録媒体の消去能力を増強する。約0.06より下の原子百分率にお
いては、改質剤元素は材料の核発生特性に好ましい影響を与えるのに十分な不均
一核発生サイトを与えない。又、1.0より上の原子百分率においては、改質剤元
素は更なる効果的影響を与えず、むしろ相変化材料の望ましい特性にある場合に
は有害な影響を与える、ということが信じられている。
化された容積を再結晶させるのに必要な、単位体積当りのエネルギー量である。
結晶化は二つの基本的な過程に分けられる:(1)核の形成、及び(2)前記核
の結晶への成長。核発生過程は均一核発生又は不均一核発生のいずれかである。
一般に、不均一核発生に必要なエネルギー量は均一核発生に必要なものより小さ
い。理論に縛られることを望むわけではないが、改質剤元素は光学的相変化合金
に不均一核発生サイトを加えると信じられている。不均一核発生サイトの添加は
核発生に必要なエネルギー量を減少させ、それにより相変化材料の結晶化エネル
ギーを減少させる。更に、相変化材料の結晶化エネルギーの減少は、相変化材料
を用いる光学的記録媒体の消去能力を増強する。約0.06より下の原子百分率にお
いては、改質剤元素は材料の核発生特性に好ましい影響を与えるのに十分な不均
一核発生サイトを与えない。又、1.0より上の原子百分率においては、改質剤元
素は更なる効果的影響を与えず、むしろ相変化材料の望ましい特性にある場合に
は有害な影響を与える、ということが信じられている。
【0034】 本発明の一つの実施態様において、光学的相変化合金はGe、Sb、及びTeから成
る。これは此処ではGeSbTe相変化合金として定義されている。一つの実施態様に
おいては、Sb原子、Te原子に対するGe原子の比(即ち、Ge:Sb:Te)は「4:1:
5合金」を形成するために約4:1:5に選ばれる。好ましくは光学的相変化合金は
比、GewSbxTeyでGe、Sb、Teを含み、36≦w≦42、7≦x≦13、及び48≦y≦54であ
る。より好ましくはw+x+y=100%。改質剤元素は本発明の光学的相変化記憶材
料を形成するためGeSbTe相変化合金に添加される。
る。これは此処ではGeSbTe相変化合金として定義されている。一つの実施態様に
おいては、Sb原子、Te原子に対するGe原子の比(即ち、Ge:Sb:Te)は「4:1:
5合金」を形成するために約4:1:5に選ばれる。好ましくは光学的相変化合金は
比、GewSbxTeyでGe、Sb、Teを含み、36≦w≦42、7≦x≦13、及び48≦y≦54であ
る。より好ましくはw+x+y=100%。改質剤元素は本発明の光学的相変化記憶材
料を形成するためGeSbTe相変化合金に添加される。
【0035】 もう一つの実施態様において、原子比Ge:Sb:Teは「1:2:4合金」を形成す
るために、約1:2:4に選ばれる。好ましくは、光学的相変化合金は、比GewSbxT
eyでGe、Sb、Teを含み、11≦w≦17、25≦x≦31、及び53≦y≦59である。より好
ましくはw+x+y=100%。改質剤元素は本発明の光学的相変化記憶材料を形成す
るためGeSbTe相変化合金に添加される。
るために、約1:2:4に選ばれる。好ましくは、光学的相変化合金は、比GewSbxT
eyでGe、Sb、Teを含み、11≦w≦17、25≦x≦31、及び53≦y≦59である。より好
ましくはw+x+y=100%。改質剤元素は本発明の光学的相変化記憶材料を形成す
るためGeSbTe相変化合金に添加される。
【0036】 もう一つの実施態様において、原子比Ge:Sb:Teは「2:2:5合金」を形成す
るために、約2:2:5に選ばれる。好ましくは、光学的相変化合金は、比GewSbxT
eyでGe、Sb、Teを含み、19≦w≦25、19≦x≦25、及び53≦y≦59である。より好
ましくはw+x+y=100%。改質剤元素は本発明の光学的相変化記憶材料を形成す
るためGeSbTe相変化合金に添加される。
るために、約2:2:5に選ばれる。好ましくは、光学的相変化合金は、比GewSbxT
eyでGe、Sb、Teを含み、19≦w≦25、19≦x≦25、及び53≦y≦59である。より好
ましくはw+x+y=100%。改質剤元素は本発明の光学的相変化記憶材料を形成す
るためGeSbTe相変化合金に添加される。
【0037】 改質剤元素Feは、光学的相変化合金に添加され、Ge、Sb、Te、及びFeから成る
光学的相変化記憶材料を形成する。吟味したように、Feの原子百分率は好ましく
は0.06と1.0パーセントの間であり、より好ましくは0.08と0.8パーセントの間、
そして最も好ましいのは約0.3パーセントである。光学的相変化記憶材料の特別
の実施例は、上述の相変化合金からなり(Ge39Sb10Te51)99.7Fe0.3、(Ge14Sb2 8 Te56)99.7Fe0.3、(Ge22Sb22Te56)99.7Fe0.3、を含むが、限定はされない。
光学的相変化記憶材料を形成する。吟味したように、Feの原子百分率は好ましく
は0.06と1.0パーセントの間であり、より好ましくは0.08と0.8パーセントの間、
そして最も好ましいのは約0.3パーセントである。光学的相変化記憶材料の特別
の実施例は、上述の相変化合金からなり(Ge39Sb10Te51)99.7Fe0.3、(Ge14Sb2 8 Te56)99.7Fe0.3、(Ge22Sb22Te56)99.7Fe0.3、を含むが、限定はされない。
【0038】 本発明のもう一つの実施態様において、光学的相変化合金はGe、Sb、Te、及び
Seから成る。これは此処ではGeSbTeSe相変化合金として定義される。参考にして
ここに取り入れた米国特許番号第5、278、011で吟味されているようにSe元素は
、相変化合金の結晶化過程を遅らせてそれにより非晶質相を形成し易くするため
に用いられるであろう。材料が高移動性状態からの緩和に際して最終構造をとる
場合に、Seはガラス化過程における結晶形成を遅らせる。好ましくは、SeはTeの
代りに用いられ、最終組成の約5から15原子パーセントになるように相変化合金
に添加される。より好ましくは、セレンは組成の約5から11原子パーセントにな
るように添加される。最も好ましくは、セレンは組成の約7から10原子パーセン
トになるように添加される。一つの実施態様において、セレンは組成の約7原子
パーセントになっている。もう一つの実施態様において、セレンは組成の約8パ
ーセントになっている。更にもう一つの実施態様において、セレンは組成の約9
パーセントになっている。更にもう一つの実施態様において、セレンは組成の約
10パーセントになっている。
Seから成る。これは此処ではGeSbTeSe相変化合金として定義される。参考にして
ここに取り入れた米国特許番号第5、278、011で吟味されているようにSe元素は
、相変化合金の結晶化過程を遅らせてそれにより非晶質相を形成し易くするため
に用いられるであろう。材料が高移動性状態からの緩和に際して最終構造をとる
場合に、Seはガラス化過程における結晶形成を遅らせる。好ましくは、SeはTeの
代りに用いられ、最終組成の約5から15原子パーセントになるように相変化合金
に添加される。より好ましくは、セレンは組成の約5から11原子パーセントにな
るように添加される。最も好ましくは、セレンは組成の約7から10原子パーセン
トになるように添加される。一つの実施態様において、セレンは組成の約7原子
パーセントになっている。もう一つの実施態様において、セレンは組成の約8パ
ーセントになっている。更にもう一つの実施態様において、セレンは組成の約9
パーセントになっている。更にもう一つの実施態様において、セレンは組成の約
10パーセントになっている。
【0039】 セレンは、非晶質状態における結晶の形成を遅らせる。約15原子パーセントよ
り高いセレン濃度を有する組成物は、低すぎる結晶化速度を有する。加えて、約
5原子パーセントより低いセレン濃度を有する組成物は、結晶質層の形成を促進
して非晶質化に対して大きな電力を必要とすることになる。
り高いセレン濃度を有する組成物は、低すぎる結晶化速度を有する。加えて、約
5原子パーセントより低いセレン濃度を有する組成物は、結晶質層の形成を促進
して非晶質化に対して大きな電力を必要とすることになる。
【0040】 本発明の一つの実施態様においては、光学的相変化合金は、上述の4:1:5合
金におけるTeの代りに5と11原子パーセントの間のSeで置き換えて、形成される
。従って相変化合金は比GewSbxTey―zSezでGe、Sb、Te、及びSeを含み、36≦w
≦42、7≦x≦13、48≦y≦54、及び5≦z≦11であることが好ましい。より好まし
くはw+x+y+z=100%。
金におけるTeの代りに5と11原子パーセントの間のSeで置き換えて、形成される
。従って相変化合金は比GewSbxTey―zSezでGe、Sb、Te、及びSeを含み、36≦w
≦42、7≦x≦13、48≦y≦54、及び5≦z≦11であることが好ましい。より好まし
くはw+x+y+z=100%。
【0041】 もう一つの実施態様においては、上述の1:2:4合金におけるTeの代りに5と11
原子パーセントの間のSeで置き換えられる。相変化合金は比GewSbxTey―zSezで
Ge、Sb、Te、及びSeを含み、11≦w≦17、25≦x≦31、53≦y≦59、及び5≦z≦11
であることが好ましい。より好ましくはw+x+y+z=100%。
原子パーセントの間のSeで置き換えられる。相変化合金は比GewSbxTey―zSezで
Ge、Sb、Te、及びSeを含み、11≦w≦17、25≦x≦31、53≦y≦59、及び5≦z≦11
であることが好ましい。より好ましくはw+x+y+z=100%。
【0042】 更にもう一つの実施態様においては、上述の2:2:5合金におけるTeの代りに5
と11原子パーセントの間のSeで置き換えられる。相変化合金は比GewSbxTey―zS
ezでGe、Sb、Te、及びSeを含み、19≦w≦25、19≦x≦25、53≦y≦59、及び5≦z
≦11であることが好ましい。より好ましくはw+x+y+z=100%。
と11原子パーセントの間のSeで置き換えられる。相変化合金は比GewSbxTey―zS
ezでGe、Sb、Te、及びSeを含み、19≦w≦25、19≦x≦25、53≦y≦59、及び5≦z
≦11であることが好ましい。より好ましくはw+x+y+z=100%。
【0043】 改質剤元素がGeSbTeSe層変化合金に添加されることがある。特に、FeがGe、Sb
、Te、Se、及びFeから成る組成を有する光学的相変化記憶材料を形成するために
、上述の光学的相変化合金に添加されることがある。好ましくはFeの原子百分率
は0.06と1.0の間である。より好ましくはFeの原子百分率は0.08と0.8の間である
。最も好ましくは、Feの原子百分率は約0.3である。代りの実施態様において、F
eの原子百分率が約0.1になるように光学的相変化合金に添加されることもある。
本発明の光学的相変化記憶材料の特別な実施例は、(Ge39Sb10Te44Se7)99.7Fe0 .3 、(Ge22Sb22Te47Se9)99.7Fe0.3、及び(Ge14Sb28Te47Se9)99.7Fe0.3、を含
むが限定はされない。
、Te、Se、及びFeから成る組成を有する光学的相変化記憶材料を形成するために
、上述の光学的相変化合金に添加されることがある。好ましくはFeの原子百分率
は0.06と1.0の間である。より好ましくはFeの原子百分率は0.08と0.8の間である
。最も好ましくは、Feの原子百分率は約0.3である。代りの実施態様において、F
eの原子百分率が約0.1になるように光学的相変化合金に添加されることもある。
本発明の光学的相変化記憶材料の特別な実施例は、(Ge39Sb10Te44Se7)99.7Fe0 .3 、(Ge22Sb22Te47Se9)99.7Fe0.3、及び(Ge14Sb28Te47Se9)99.7Fe0.3、を含
むが限定はされない。
【0044】 同じく此処に開示されているのは、光学的データ記憶検索装置である。光学的
データ記憶検索装置は、光学的記憶媒体に光学的データを読み取り、書き込み、
及び消去するための光学的ヘッドを有する光学的駆動手段から成っている。光学
的ヘッドはレーザを含むことがある。光学的ヘッドは、光学的記録媒体へデータ
を記録し、それからデータを消去するために用いられる。記録媒体は、上で開示
した光学的相変化記憶材料から成る記録層を有する。光学的記録媒体は移動可能
又は移動不能であり、保護カートリッジケースの中に配置されたり、又は単独で
存在する(即ち保護ケースの中に入れられない)ことがある。
データ記憶検索装置は、光学的記憶媒体に光学的データを読み取り、書き込み、
及び消去するための光学的ヘッドを有する光学的駆動手段から成っている。光学
的ヘッドはレーザを含むことがある。光学的ヘッドは、光学的記録媒体へデータ
を記録し、それからデータを消去するために用いられる。記録媒体は、上で開示
した光学的相変化記憶材料から成る記録層を有する。光学的記録媒体は移動可能
又は移動不能であり、保護カートリッジケースの中に配置されたり、又は単独で
存在する(即ち保護ケースの中に入れられない)ことがある。
【0045】 (実施例) 実験は、基板(基板上に形成された第一誘電体層、第一誘電体層上に形成され
た記録層、及び記録層上に形成された第誘電体層)を有するディスク構造物につ
いて実施された。第一誘電体層、記録層、及び第二誘電体層は光学的エネルギー
源として用いられたレーザービームの波長780nmの1/4、1/2、及び1/2に等しい光
学的厚さを有している。第一及び第二誘電体層はZnSとSiO2の混合物から形成さ
れる。ディスク半径は3.207cm、ディスク回転速度は29.8Hz、ディスク直線速度
は6m/sであり、記録電力は2と15mWの間で変化し、記録周波数は4MHz、パルス幅
は100ns、消去電力は5mW、読み取り電力は1.499mWである。表1は、2〜15mWの記
録電力に対する記録CNR、消去CNR及び消去能力(記録CNR−消去CNR)を示す。表
1中の記録層は、組成Ge40Sb10Te41Se9を有する相変化合金で形成されている。
表2は同様に、2と15mWの間の記録電力に対する記録CNR、消去CNR及び消去能力
(記録CNR−消去CNR)を示す。表2において、光学的相変化記憶材料は0.3%Fe
が添加された相変化合金Ge40Sb10Te41Se9で形成されている。[従って組成は(Ge 40 Sb10Te41Se9)99.7Fe0.3]。表3は、表1及び2からの消去能力の比較である
。この実施例において、7から13mWの記録電力に対して、光学的相変化合金及び0
.3%の改質剤元素Feを含む光学的相変化材料で形成された記録層を有する記録媒
体の消去能力は、改質剤元素の添加のない合金単独で形成された記録媒体の消去
能力より少なくとも3dB大きい、ということに注目すること。7〜13mWの記録電力
は、上で定義した敷居電力Pthresholdより上で、上で定義した削磨電力Pablatio n より下である。
た記録層、及び記録層上に形成された第誘電体層)を有するディスク構造物につ
いて実施された。第一誘電体層、記録層、及び第二誘電体層は光学的エネルギー
源として用いられたレーザービームの波長780nmの1/4、1/2、及び1/2に等しい光
学的厚さを有している。第一及び第二誘電体層はZnSとSiO2の混合物から形成さ
れる。ディスク半径は3.207cm、ディスク回転速度は29.8Hz、ディスク直線速度
は6m/sであり、記録電力は2と15mWの間で変化し、記録周波数は4MHz、パルス幅
は100ns、消去電力は5mW、読み取り電力は1.499mWである。表1は、2〜15mWの記
録電力に対する記録CNR、消去CNR及び消去能力(記録CNR−消去CNR)を示す。表
1中の記録層は、組成Ge40Sb10Te41Se9を有する相変化合金で形成されている。
表2は同様に、2と15mWの間の記録電力に対する記録CNR、消去CNR及び消去能力
(記録CNR−消去CNR)を示す。表2において、光学的相変化記憶材料は0.3%Fe
が添加された相変化合金Ge40Sb10Te41Se9で形成されている。[従って組成は(Ge 40 Sb10Te41Se9)99.7Fe0.3]。表3は、表1及び2からの消去能力の比較である
。この実施例において、7から13mWの記録電力に対して、光学的相変化合金及び0
.3%の改質剤元素Feを含む光学的相変化材料で形成された記録層を有する記録媒
体の消去能力は、改質剤元素の添加のない合金単独で形成された記録媒体の消去
能力より少なくとも3dB大きい、ということに注目すること。7〜13mWの記録電力
は、上で定義した敷居電力Pthresholdより上で、上で定義した削磨電力Pablatio n より下である。
【0046】 本発明は好ましい実施態様及び手順との関連で説明してきたが、本発明を説明
した実施態様及び手順に限定することを意図していないことは理解されるべきで
ある。反対に上に添付した特許請求の範囲により定義される発明の精神と範囲内
に含まれる代替物、修正物及び等価物を包含することが意図されている。
した実施態様及び手順に限定することを意図していないことは理解されるべきで
ある。反対に上に添付した特許請求の範囲により定義される発明の精神と範囲内
に含まれる代替物、修正物及び等価物を包含することが意図されている。
【0047】
【表1】
【表2】
【表3】
【図1】 多層ディスクの断面の極端に様式化した図を示す。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 ストランド、 デイヴィッド エイ. アメリカ合衆国 48301 ミシガン州 ブ ルームフィールド タウンシップ プライ アール レーン 5611 Fターム(参考) 2H111 EA03 EA12 EA23 EA36 EA48 FA01 FA21 FA25 FA27 FB05 FB09 FB12 FB15 FB23 5D029 JA01 5D090 AA01 BB05 CC14 EE05
Claims (27)
- 【請求項1】 一つ以上の記録層から成り、前記記録層の少なくとも一層が
、以下の構成の光学的相変化材料を含むことを特徴とする光学的記録媒体。 光学的相変化合金; 及び 前記相変化合金に添加され、前記光学的記録媒体の消去能力を少なくとも3dB
だけ増強する、少なくとも一つの改質剤元素。 - 【請求項2】 前記少なくとも一つの改質剤元素が、不均一核生成サイトを
提供する不均一核生成剤であることを特徴とする、請求項1の光学的記録媒体。 - 【請求項3】 前記少なくとも一つの改質剤元素が、V、Cr、Mn、Fe、Co、Mo
、Ru、Rh、Ta、W、Re、Os、及びIrから成る群から選ばれることを特徴とする、請
求項1の光学的記録媒体。 - 【請求項4】 前記少なくとも一つの改質剤元素が、Fe、Cr、及びMoから成
る群から選ばれることを特徴とする、請求項1の光学的記録媒体。 - 【請求項5】 前記少なくとも一つの改質剤元素がFeであることを特徴とす
る、請求項1の光学的記録媒体。 - 【請求項6】 前記少なくとも一つの改質剤元素の原子百分率が、0.06と1.0
の間であることを特徴とする、請求項5の光学的記録媒体。 - 【請求項7】 前記少なくとも一つの改質剤元素の原子百分率が、0.08と0.8
の間であることを特徴とする、請求項6の光学的記録媒体。 - 【請求項8】 前記光学的相変化合金が、Ge、Sb、及びTeから成ることを特
徴とする、請求項1の光学的記録媒体。 - 【請求項9】 前記光学的相変化合金が、GewSbxTeyの割合のGe、Sb、Teから
成り、原子百分率の集合(w、x、y)は(36≦w≦42、7≦x≦13、48≦y≦54)、(11≦
w≦17、25≦x≦31、53≦y≦59)、及び(19≦w≦25、19≦x≦25、53≦y≦59)から
成る群から選ばれることを特徴とする、請求項8の光学的記録媒体。 - 【請求項10】 前記光学的相変化合金が、Ge、Sb、Te、及びSeから成ること
を特徴とする、請求項1の光学的記録媒体。 - 【請求項11】 前記光学的相変化合金が、GewSbxTey−zSezの割合のGe、Sb
、Te、Seから成り、原子百分率の集合(w、x、y、z)は(36≦w≦42、7≦x≦13、48
≦y≦54、5≦z≦11)、(11≦w≦17、25≦x≦31、53≦y≦59、5≦z≦11)、及び(19
≦w≦25、19≦x≦25、53≦y≦59、5≦z≦11)から成る群から選ばれることを特徴
とする、請求項10の光学的記録媒体。 - 【請求項12】 前記光学的相変化合金が、Ge、Sb、及びTeから成り、且前記
少なくとも一つの改質剤元素が、0.06と1.0の間の原子百分率を有するFeである
ことを特徴とする、請求項1の光学的記録媒体。 - 【請求項13】 前記光学的相変化合金が、Ge、Sb、Te及びSeから成り、且前
記少なくとも一つの改質剤元素が、0.06と1.0の間の原子百分率を有するFeであ
ることを特徴とする、請求項1の光学的記録媒体。 - 【請求項14】 光学的記録媒体に光学的データを読み取り、書き込み、及び消
去するための光学的ヘッドを有する光学的駆動手段から成り、前記光学的記録媒
体が一つ以上の記録層から成り、前記記録層の少なくとも一層が、以下の構成の
光学的相変化材料を含むことを特徴とする、光学的データ記憶、読み取りシステ
ム。 光学的相変化合金; 及び 前記相変化合金に添加され、前記記録媒体の消去能力を少なくとも3dBだけ増
強する、少なくとも一つの改質剤元素。 - 【請求項15】 前記少なくとも一つの改質剤元素が、不均一核生成サイトを
提供する不均一核生成剤であることを特徴とする、請求項14のシステム。 - 【請求項16】 前記少なくとも一つの改質剤元素が、V、Cr、Mn、Fe、Co、M
o、Ru、Rh、Ta、W、Re、Os、及びIrから成る群から選ばれることを特徴とする、
請求項14のシステム。 - 【請求項17】 前記少なくとも一つの改質剤元素が、Fe、Cr、及びMoから成
る群から選ばれることを特徴とする、請求項14のシステム。 - 【請求項18】 前記少なくとも一つの改質剤元素がFeであることを特徴とす
る、請求項14のシステム。 - 【請求項19】 前記少なくとも一つの改質剤元素の原子百分率が、0.06と1.
0の間であることを特徴とする、請求項18のシステム。 - 【請求項20】 前記光学的相変化合金が、Ge、Sb、及びTeから成ることを特
徴とする、請求項14のシステム。 - 【請求項21】 前記光学的相変化合金が、GewSbxTeyの割合のGe、Sb、Teか
ら成り、原子百分率の集合(w、x、y)は(36≦w≦42、7≦x≦13、48≦y≦54)、(11
≦w≦17、25≦x≦31、53≦y≦59)、及び(19≦w≦25、19≦x≦25、53≦y≦59)か
ら成る群から選ばれることを特徴とする、請求項20のシステム。 - 【請求項22】 前記光学的相変化合金が、Ge、Te、Sb、及びSeから成ること
を特徴とする、請求項14のシステム。 - 【請求項23】 前記光学的相変化合金が、GewSbxTey−zSezの割合のGe、Sb
、Te、Seから成り、原子百分率の集合(w、x、y、z)は(36≦w≦42、7≦x≦13、48
≦y≦54、5≦z≦11)、(11≦w≦17、25≦x≦31、53≦y≦59、5≦z≦11)、及び(19
≦w≦25、19≦x≦25、53≦y≦59、5≦z≦11)から成る群から選ばれることを特徴
とする、請求項22のシステム。 - 【請求項24】 前記光学的データ記憶媒体が独立して存在する、請求項14の
システム。 - 【請求項25】 前記光学的データ記憶媒体が、前記光学的駆動手段の内部に
置かれ、且移動不能であることを特徴とする、請求項14のシステム。 - 【請求項26】 前記光学的データ記憶媒体が保護カートリッジケースに内包
されていることを特徴とする、請求項14のシステム。 - 【請求項27】 前記保護ケース及び前記内包された光学的データ記憶媒体が
、動的読み取り、書き込み、消去を実行するために前期光学的駆動手段の内部に置
かれ、しかも輸送のために移動できる、請求項26のシステム。
Applications Claiming Priority (1)
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