JP2002533673A - 物体認識方法及び装置 - Google Patents

物体認識方法及び装置

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JP2002533673A JP2000589936A JP2000589936A JP2002533673A JP 2002533673 A JP2002533673 A JP 2002533673A JP 2000589936 A JP2000589936 A JP 2000589936A JP 2000589936 A JP2000589936 A JP 2000589936A JP 2002533673 A JP2002533673 A JP 2002533673A
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Hottinger Maschinenbau GmbH
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Abstract

(57)【要約】 本発明は、物体を認識するため、特に加工物、好ましくは射出中子（１）又は中子パケット上の欠陥を認識するための方法及び装置に関する。この方法によると、物体は光源（４）によって照明され、カメラ（３）によって記録又は検出される。その記録から得られたデータはコンピュータによって処理され、必要ならば記憶される。本発明は、物体が少なくとも２つの光源（４）によって異なった方向又は角度から照明されること、及びカメラ（３）が物体と照明から生じた影とを記録することを特徴とする。

Description

【発明の詳細な説明】
【０００１】 （技術分野） 本発明は、物体を光源によって照明し、カメラによって記録又は検出して、そ
の記録から得られたデータをコンピュータによって処理し、必要ならば記憶する
ようにして物体を認識し、特に加工物、好ましくは射出中子又は中子パケット上
の欠陥を検出する方法に関する。
【０００２】 さらに、本発明は、特に本発明の方法を適用する物体認識装置に関する。 包括的に言うと、本発明は、物体を認識するか、加工物上の欠陥を検出する方
法に関する。さらに特定すると、本方法は、射出中子又は中子パケット上の欠陥
を検出するのに適している。このため、本発明はまた、とりわけ鋳造の分野に関
する。
【０００３】 （背景技術） いずれの種類の鋳型部品の場合も、ほとんどの場合は鋳型中子又は型が個別部
品として作製され、組み合わされ、結合されて、鋳型又は中子パケットになる。
次に、これらの中子パケットに溶融金属を満たして、たとえば金属加工物を作製
する。連続製造では、溶融金属を満たす中子パケットが、生産ライン上を順次通
過する。
【０００４】 これに関連して、中子パケット内で鋳造された加工物は、非常に長い冷却段階
を必要とし、これはしばしば数時間にわたることが特に重要である。この冷却段
階後に初めて、鋳造加工物又は部品を検査することができる。したがって、中子
パケットで鋳造された部品に実際に欠陥がないか否かが、鋳造から数時間後、こ
のために同様に、中子射出から数時間後に初めてわかる。
【０００５】 欠陥のある中子を使用した場合、結果的に生じる不良品は、中子を作製してか
ら何時間も経った後に初めて検出することができる。また、それが工具の欠陥な
どのために中子に規則的に生じる、たとえば再発性の欠陥であるとすると、欠陥
が鋳造部品に確認されるまでの何時間もの間に不良品が生産されてしまう。前述
したように、これらの不良品の原因となる欠陥中子は、中子射出機の工具の欠陥
だけではなく、中子の取り扱い、輸送又は組み立て中に生じる中子の直接的破損
に起因する。いずれにしても、鋳造作業の完了後か、冷却済みの鋳造部品の検査
中にしか欠陥及びそれによる不良品を検出できないことは不適切である。
【０００６】 さらに、型部品及び／又は工具の破損は、射出機のすぐ近くだけでなく、型部
品及び／又は工具の取り扱い時、輸送中、型部品の機械加工時、工具の洗浄中、
また特に型部品をいずれかの形の型パケットに組み立てる間にも発生するであろ
う。
【０００７】 上記形式の中子及びシェル型射出機は、何十年もの実践から周知である。たと
えば、本出願人によって製造されるような中子及びシェル型射出機を開示してい
るドイツ特許第３１ ４８ ４６１Ｃ１号を参照することができる。
【０００８】 同様に、ドイツ特許第４４ ３４ ７９８Ａ１号は、工具の少なくとも１回の
目視検査を行う中子及びシェル型射出機を開示している。最後になるが、ドイツ
特許第４４ ３４ ７９８Ａ１号に記載されているように、目視制御は、完全自
動生産の範囲において工具を常に監視することができないため、実際的ではない
。目視検査のために、熟練工が工具を常に、すなわち、各射出作業後に監視しな
ければならない。そのような目視監視又は検査を実施したとしても、中子の取り
扱い又は機械加工中、中子の輸送中、さらには中子をパケットにする組み立て中
にも欠陥又は破損が発生するであろうから、輸送、機械加工、又はパケットにす
る組み立てを行わなければならない取り出し中子の運命はまったく未決定のまま
である。
【０００９】 ドイツ特許第１９５ ３４ ９８４Ｃ１号はすでに、型部品又は中子を、特に
それを中子射出機から取り出した後でも非接触技法で測定する一般的な方法を開
示している。この方法は、カメラによって好都合に行われが、十分な照明を必要
とする。この種類の方法では、画像記録を行い、それによって同様に欠陥の記録
を行うために複数のカメラを使用するか、あるいは検査中の物体又は中子の位置
に対してカメラを移動させる時だけ、隠れた領域又はアンダーカットを検査する
ことができる。いずれの方法も装置に相当な費用が必要となり、したがって、コ
スト面だけでも問題がある。さらに、複数のカメラを配置することは、特定の中
子の直接的な周囲環境を、即ちこの領域で使用中のマニピュレータを妨害する。
【００１０】 したがって、本発明の目的は、物体の認識を、特に加工物、好ましくは射出中
子又は中子パケット上の欠陥の検出を行うための一般的な種類の方法及び対応の
装置を、装置又は構成費用を可能最小限に抑えながら十分に満足できる物体認識
及び欠陥検出を可能にするように改良してさらに発展させることである。
【００１１】 （発明の開示） 物体を認識する本発明の方法は、請求項１の特徴部に記載された特徴によって
上記目的を達成する。即ち、この方法は、物体を少なくとも２つの光源によって
異なった方向又は角度から照明すること、及びカメラが物体と照明から物体又は
ベースなどの上に生じた影とを記録することを特徴とする。この処理で、異なっ
た光源を時間で順次切り換える（時分割多重方式）か、すべて又は個々の光源を
連続作動させる場合、それらを異なった色（色分割多重方式、波長分割多重方式
）にすることができる。さらに、分極多重方式も対応の偏光光によって可能であ
る。影は、光源及びそれから生じる投射の配置によって、物体自体の上、ベース
、壁又はスクリーンなどの上に形成することができる。
【００１２】 本発明によれば、非常に特殊な照明が与えられた時、単一のカメラで不規則形
状の物体、たとえば、アンダーカット、くぼみ、切り欠きなどを有する物体に考
えられる欠陥を検出することもできる。問題の種類の公知の方法とは異なって、
検査中の物体を照明するために、順次又は色付け区別に適応させた少なくとも２
つの光源を使用する。２つの光源は、物体を異なった方向又は角度から、順次又
は一緒に、すなわち、ある特定の物体の幾何学的形状に応じて照明する。特定の
物体に対する光源の配置に従って、物体の一部の影がベース上か、物体の他の部
分の上に投射されるので、投影によって物体を「展開」又は「拡張」することが
できる。言い換えると、光源をうまく配置することによって、「隠れた」位置に
あるために他の方法では単一カメラで認識できない領域を投影して、それを物体
の形状を補足する準追加画像情報として記録することができる。このため、考え
られる欠陥が特に発生しやすい重要な領域の非常に満足できる検査を実施すると
共に、そのような光学的な検査のために適当な投射によってそれらを拡大さえし
て、満足できる検出を促進することができる。
【００１３】 特に好都合なように、照明又は光源を、たとえば電子手段によるか、機械シャ
ッタによって切り換えることが可能である。同様に、この目的のために電極のな
い筒状蛍光灯を使用することが可能である。
【００１４】 本発明に従って選択された照明は、振動に敏感ではない。具体的に言うと、物
体は非常に広い円錐光によって照明されるので、振動は照明にほとんど影響を与
えない。しかし、カメラは準二点間記録を行い、したがってさらにそれを小型化
することができる。
【００１５】 本発明によれば、本明細書に具体的に請求されている物体の照明に基づいて、
欠陥の検出に３Ｄ（三次元）画像データが使用される。
【００１６】 好都合なように、物体を複数の、好ましくは３〜５個の光源によって異なった
方向又は角度から照明する。各照明方向について、個別の画像データを時間又は
色分割多重技術によって記録する。しかし、この点で、必要な光源の数は、特定
の物体の複雑さによって決まることに注意されたい。簡単な幾何学的形状の場合
、複雑な幾何学的形状の場合よりも少ない光源で間に合う。
【００１７】 前述したように、単一のカメラを使用して記録が行われる。そうする際に、同
一物体について連続的に行われる記録は所定位置から行われる。これに関連して
言うと、投影によって物体の異なった領域を連続的に検出するために、異なった
照明状態で異なった記録を行うことが可能である。いずれにしても、カメラは固
定配置されるため、汚れた環境や危険な雰囲気でもカメラを十分に保護すること
ができる。
【００１８】 これに関連して言うと、カメラが、物体に対して常に同一角度で、物体を上方
から、前方から、又は他の方向から記録すれば、さらに好都合であろう。前述し
たように、カメラを、少なくともそれのレンズ付近をケースに収納することによ
って、カメラ又はカメラの敏感なレンズの破損を効果的に防止することができる
。
【００１９】 基本的に、カメラのケースは閉鎖することができ、画像を記録するためだけに
、レンズ付近が開放する。これは、カメラの任意選択保護を行うことになる。
【００２０】 本発明の方法を実施する装置の本質的な構成部材がコンピュータであり、これ
は、一方では照明及びカメラの制御に、他方では獲得したデータの処理又は編集
、及び最終的な記憶に使用される。コンピュータは、最新のプロセッサ技術及び
十分な基本メモリを備えた市販のＰＣ（パーソナルコンピュータ）でよい。
【００２１】 当然ながら、本発明に従った方法の意味及び目的は、欠陥の検出だけというよ
りも、むしろ、たとえば、中子射出などの製造処理用の制御データを獲得できる
ようにすることにある。このため、「欠陥部品」を検出する際に、たとえば、欠
陥中子が組み立てられることや、それが存在するために中子パケット全体が「欠
陥部品」と見なされることを効果的に避けることができる。このため、コンピュ
ータが蓄積プログラム制御装置（ＳＰＣ）と通信して、処理信号及び結果信号が
コンピュータ及び蓄積プログラム制御装置間で取り交わされれば、特に好都合で
ある。このように獲得されて処理されたデータ及び編集データで処理制御を行う
ことができる。
【００２２】 好ましくは、記録画像又はそれぞれのデータについて定性又は定量画像処理が
行われる。本例では基本的に、特定物体の記録が基準画像と比較される。この基
準画像は、「合格」と分類された加工物のｎ個の画像からなる基準データ記録か
ら計算される。基準画像は、データ記録の個々の画像の統計的平均値に対応して
いる。この処理によって、基準画像の計算における合格部品の処理固有変動帯域
幅の影響を軽減することができる。同時に、誤警報の確率が高くなりすぎること
を避けるために、欠陥が連続検出される際には品質クラス内の変動帯域幅の大き
さを使用して、閾値を適当に決定することができる。
【００２３】 最後になるが、分散比較が行われる。この比較のために、たとえば、黒で埋め
尽くされた理想ケース内にまったく構造を示さないデルタフレームを準備するこ
とができる。その場合、試験画像と基準画像との間に完全な一致が生じることに
なる。
【００２４】 具体的に言うと、画像処理は、粗相関、すなわち、基準画像のデータか、好ま
しくはグレースケール値として予め決定できる限界値との大まかな比較を含むこ
とができる。これらの限界値は可変にすることができる、すなわち、ユーザが予
め決定することができる。物体によってはさらに、少なくとも２つの画像を記録
し、これらを互いに加算又は減算してさらなる処理に備えることができる。
【００２５】 さらに好ましくは、画像処理は、自動位置補正を含み、これは、基準データ、
実際に検査中の物体の考えられる並進及び回転位置誤差を突き合わせて補償する
。これによって、検出欠陥に対するシステムの感度が明確に向上することができ
る。位置補正は、物体自体に付けられた固定マークに関するだけでなく、相関技
術によって相当に大きい物体構造だけに関して行うこともできる。
【００２６】 さらに、画像処理は、記録のグレースケール値を適応させるための輝度調整を
含む。これは、同一物体が異なった強さで反射することによって、異なった測定
値を生じる状況を考慮に入れる。この処理で、システムに内在的な欠陥も補償さ
れる。
【００２７】 前述したように、画像処理はさらに、必要が生じた場合、濾過機能を有する
減算を含む。この減算は、検出欠陥を強調して目立たせるのに使用される。濾過
機能は、物体の点から可能であれば、得られたデータに対する妨害を軽減するた
めに使用される。最後になるが、画像処理は、上記説明に従った欠陥検出及び編
集又は処理データを含む。そのような欠陥検出の範囲において、物体上に現れて
いる欠陥に対する検出感度を予め決定可能な閾値で自由に定めることができるの
であれば、さらに好都合であろう。このために、欠陥部品と合格部品との区別す
る限界値を予め決定することができる。
【００２８】 さらに好ましくは、特別なＲｏＩハンドリングを実現する、すなわち、重要な
領域（ＲｏＩ＝Ｒｅｇｉｏｎｓ ｏｆ ｉｎｔｅｒｅｓｔ）のデータだけを処理
し続けるので、画像記録のデータが減少する。この場合、他のデータは重要でな
い。
【００２９】 具体的に言うと、記録画像の予め決定可能な領域を抽出又は除去用に適応させ
ることができる。抽出及び／又は除去用に、閾値又はその閾値に対応したグレー
スケール値を予め決定することもできる。この処理で、重要な領域に容易にマー
クを付けて、モニターによる対話式処理を行うことができる。欠陥又は破損が起
きやすい領域を特に注意して検査することができる。この処理で、全体としてデ
ータ量を減少させることができる。重要な個別領域（ＲｏＩ）の個別のパラメー
タ化によって、検出性能をさらに向上させることができる。
【００３０】 本発明の装置は、請求項２５の特徴部に記載された特徴によって上記目的を達
成する。即ち、この装置は、物体を照明するために、物体を異なった方向又は角
度から照明する少なくとも２つの光源を設けることと、物体及び照明によってベ
ース上に生じた影を記録するためにカメラを使用することとを特徴としている。
繰り返しを避けるために、本発明に従った方法の説明が参照としてここに援用さ
れる。
【００３１】 本発明の教示を好都合に改良してさらに発展させる様々な可能性が存在する。
このために、一方では独立請求項及び従属請求項を、他方では、図面を参照した
本発明の実施形態の以下の説明を参照することができる。図面を参照した好適な
実施形態に関連して、教示の一般的に好都合な改良及びさらなる発展もさらに詳
細に説明する。
【００３２】 （発明を実施するための最良の形態） 図１に示されている実施形態は、射出中子１上の欠陥を検出する装置である。
図面において、輸送用パレットなどにすることができるベース２上に２つの中子
１が載置されている。
【００３３】 装置は、カメラ３と２つの光源４とを有し、光源が中子１を異なった方向又は
角度から照明することによって、カメラ３は中子をそれの形状に従って検出する
だけでなく、光源４によって生じた影も検出する。
【００３４】 図２に示されているように、カメラ３及び光源４を使用して、中子１の画像を
記録することができる。これに関連して、カメラ３及び同様に光源４をプロセッ
サで制御してもよい。具体的に言うと、図示の実施形態では、カメラ３で撮った
画像７を受け取るＰＣ（パーソナルコンピュータ）５が設けられている。図２に
示されている実施形態はさらに、蓄積プログラム制御装置（ＳＰＣ）６による処
理制御も含む。蓄積プログラム制御装置（ＳＰＣ）６はＰＣ５と通信する、すな
わち、それは処理信号及び結果信号８を伝達する。
【００３５】 光源４をある程度うまく配置することによって、物体又は中子１の対応する影
が得られることに注意されたい。影の長さが、ｚ軸に関するデータを与える。こ
れにより、物体上の隠れた領域をそれから、すなわち、それの影によって正確に
投影することができる。カメラ３が物体上の隠れた領域に対して実際には不適切
な位置に配置されている時でも、この領域の検査が可能である。投影に従って、
カメラの視角から、カメラ３から直接的に見ることができない物体の一定領域の
間接検査を実施することもできる。
【００３６】 ＰＣ５のモニター上に、異なった表示又は表示方法を実現することができる。
複数のユーザ平面を準備することも可能であろう。異なった中子形式に対して、
電子データ処理に関する切り換え時間を最小限に抑えるために、自動プログラム
変更を行うことができる。
【００３７】 さらに、ＰＣ５を全システムのサービス又は製造会社のコンピュータとオンライ
ン接続することができる。この点で、遠隔メンテナンスを実施することが可能で
ある。
【００３８】 さらに、画像分析の上記系統的手順が、高い検出又は評価適応性を与えること
が重要である。所望画像操作と共に必要データの減少が可能である。
【００３９】 最後になるが、蓄積プログラム制御装置（ＳＰＣ）６は、開始信号及び自動プ
ログラム変更に関連した信号の両方をＰＣ５へ送ることができる。ＰＣから、測
定結果に関する状態又はデータがＳＰＣ６へ送られる。このため、主製造処理の
範囲内の直接処理制御にＳＰＣ６を使用することができる。
【００４０】 最後になるが、上記実施形態は、請求されている教示をさらに詳細に説明する
ためのものであって、それが実施形態に制限されることはないことに注意された
い。
【図面の簡単な説明】
【図１】 物体認識のための本発明に従った装置の概略図であって、装置は射出中子上の
欠陥を検出する装置である。
【図２】 本発明に従った装置の作動モードの概略図である。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (81)指定国 ＥＰ(ＡＴ，ＢＥ，ＣＨ，ＣＹ， ＤＥ，ＤＫ，ＥＳ，ＦＩ，ＦＲ，ＧＢ，ＧＲ，ＩＥ，Ｉ Ｔ，ＬＵ，ＭＣ，ＮＬ，ＰＴ，ＳＥ)，ＯＡ(ＢＦ，ＢＪ ，ＣＦ，ＣＧ，ＣＩ，ＣＭ，ＧＡ，ＧＮ，ＧＷ，ＭＬ， ＭＲ，ＮＥ，ＳＮ，ＴＤ，ＴＧ)，ＡＰ(ＧＨ，ＧＭ，Ｋ Ｅ，ＬＳ，ＭＷ，ＳＤ，ＳＬ，ＳＺ，ＴＺ，ＵＧ，ＺＷ )，ＥＡ(ＡＭ，ＡＺ，ＢＹ，ＫＧ，ＫＺ，ＭＤ，ＲＵ， ＴＪ，ＴＭ)，ＡＥ，ＡＬ，ＡＭ，ＡＴ，ＡＵ，ＡＺ， ＢＡ，ＢＢ，ＢＧ，ＢＲ，ＢＹ，ＣＡ，ＣＨ，ＣＮ，Ｃ Ｒ，ＣＵ，ＣＺ，ＤＫ，ＤＭ，ＥＥ，ＥＳ，ＦＩ，ＧＢ ，ＧＤ，ＧＥ，ＧＨ，ＧＭ，ＨＲ，ＨＵ，ＩＤ，ＩＬ， ＩＮ，ＩＳ，ＪＰ，ＫＥ，ＫＧ，ＫＰ，ＬＲ，ＬＳ，Ｌ Ｔ，ＬＵ，ＬＶ，ＭＡ，ＭＤ，ＭＧ，ＭＫ，ＭＮ，ＭＷ ，ＭＸ，ＮＯ，ＮＺ，ＰＬ，ＰＴ，ＲＯ，ＲＵ，ＳＤ， ＳＥ，ＳＧ，ＳＩ，ＳＫ，ＳＬ，ＴＪ，ＴＭ，ＴＲ，Ｔ Ｔ，ＴＺ，ＵＡ，ＵＧ，ＵＳ，ＵＺ，ＶＮ，ＹＵ，ＺＡ ，ＺＷ (71)出願人 Ｄ▲ｕ▼ｓｓｅｌｄｏｌｆｅｒ Ｓｔｒａ ▲ｓｓ▼ｅ 20−28， 69219 Ｍａｎｎ ｈｅｉｍ， ＧＥＲＭＡＮＹ Ｆターム(参考） 2F065 AA49 BB05 BB27 FF02 FF05 FF49 GG23 HH14 JJ07 JJ26 KK02 PP15 QQ24 QQ31 QQ41 QQ42 RR08 UU01 UU05 2G051 AA90 AB02 BA01 CA04 CB01 EA11 EA12 EA14 EB01 EC06 5B057 AA01 BA02 CA12 CA16 DA03 DB02

Claims (29)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】 物体を光源（４）によって照明し、カメラ（３）によって記
    録又は検出して、その記録から得られたデータをコンピュータによって処理し、
    必要ならば記憶するようにして物体を認識し、特に加工物、好ましくは射出中子
    （１）又は中子パケット上の欠陥を検出する方法であって、 物体を少なくとも２つの光源（４）によって異なった方向又は角度から照明す
    ることと、前記カメラが物体と照明から生じた影とを記録することとを特徴とす
    る方法。
  2. 【請求項２】 物体は、複数の、好ましくは３〜５個の光源（４）によって
    異なった方向又は角度から照明されることを特徴とする、請求項１に記載の方法
    。
  3. 【請求項３】 物体を記録するために使用される前記カメラ（３）は、所定
    位置からすべての記録を行うことを特徴とする、請求項１又は２に記載の方法。
  4. 【請求項４】 前記カメラ（３）は、固定配置されていることを特徴とする
    、請求項３に記載の方法。
  5. 【請求項５】 前記カメラ（３）は、物体を上方から、前方から、又は予め
    決定可能ないずれの角度でも記録することを特徴とする、請求項１乃至４のいず
    れか１項に記載の方法。
  6. 【請求項６】 前記カメラ（３）は、少なくともレンズ付近がケースに収納
    されていることを特徴とする、請求項１乃至５のいずれか１項記載の方法。
  7. 【請求項７】 画像を記録するために、前記カメラ（３）のケースが前記レ
    ンズ付近で開放することを特徴とする、請求項６に記載の方法。
  8. 【請求項８】 前記コンピュータとしてＰＣ（５）が使用されていることを
    特徴とする、請求項１乃至７のいずれか１項に記載の方法。
  9. 【請求項９】 前記コンピュータ及び蓄積プログラム制御装置（ＳＰＣ）（
    ６）間で処理信号及び結果信号が取り交わされることを特徴とする、請求項１乃
    至８のいずれか１項に記載の方法。
  10. 【請求項１０】 記録画像（７）又はそれぞれのデータについて定性又は定
    量画像評価を行うことを特徴とする、請求項１乃至９のいずれか１項に記載の方
    法。
  11. 【請求項１１】 データ処理の範囲内で、記録画像を基準画像又は基準デー
    タの記録と比較することを特徴とする、請求項１乃至１０のいずれか１項に記載
    の方法。
  12. 【請求項１２】 分散比較が行われることを特徴とする、請求項１１記載の
    方法。
  13. 【請求項１３】 前記画像処理は、粗相関、すなわち、基準画像のデータ（
    基準データ）との大まかな比較を含むことを特徴とする、請求項１０乃至１２の
    いずれか１項に記載の方法。
  14. 【請求項１４】 少なくとも２つの画像（７）を記録して、さらなる処理へ
    送ることを特徴とする、請求項１０乃至１３のいずれか１項に記載の方法。
  15. 【請求項１５】 前記画像処理は、位置補正を含むことを特徴とする、請求
    項１０乃至１４のいずれか１項に記載の方法。
  16. 【請求項１６】 前記記録画像（７）の位置を補正するために、照合マーク
    が記録されることを特徴とする、請求項１５に記載の方法。
  17. 【請求項１７】 前記照合マークは、ベース（２）上の線及び／又は点であ
    ることを特徴とする、請求項１６に記載の方法。
  18. 【請求項１８】 前記画像処理は、画像のグレースケール値を適応させるた
    めの輝度調整を含むことを特徴とする、請求項１０乃至１７のいずれか１項に記
    載の方法。
  19. 【請求項１９】 前記画像処理は、必要が生じた場合、濾過機能を有する減
    算を含むことを特徴とする、請求項１乃至１８のいずれか１項に記載の方法。
  20. 【請求項２０】 前記画像処理は、欠陥検出を含むことを特徴とする、請求
    項１０乃至１９に記載の方法。
  21. 【請求項２１】 物体の欠陥を予め決定可能なパラメータで定めることがで
    きることを特徴とする、請求項２０に記載の方法。
  22. 【請求項２２】 記録画像の予め決定可能な領域を抽出することができるこ
    とを特徴とする、請求項１乃至２１のいずれか１項に記載の方法。
  23. 【請求項２３】 記録画像（７）の擾乱領域を除去することができることを
    特徴とする、請求項１乃至２２のいずれか１項に記載の方法。
  24. 【請求項２４】 抽出及び／又は除去のため、閾値又は閾値に対応したグレ
    ースケール値を予め決定することができ、また、好ましくは前記閾値又はグレー
    スケール値を自動的に定めることができることを特徴とする、請求項２２又は２
    ３に記載の方法。
  25. 【請求項２５】 特に、請求項１乃至２４のいずれか１項の方法を適用し、
    物体を光源（４）によって照明し、カメラ（３）によって記録又は検出して、そ
    の記録から得られたデータをコンピュータによって処理し、必要ならば記憶する
    ようにして物体を認識し、特に加工物、好ましくは射出中子（１）又は中子パケ
    ット上の欠陥を検出する装置であって、 物体を照明するために、物体を異なった方向又は角度から照明する少なくとも
    ２つの光源（４）を設けていることと、前記カメラ（３）を使用して、物体と照
    明から生じた影とを記録することとを特徴とする装置。
  26. 【請求項２６】 物体を異なった方向又は角度から照明する複数の光源、好
    ましくは３〜５個の光源（４）が設けられていることを特徴とする、請求項２５
    に記載の装置。
  27. 【請求項２７】 前記カメラは、少なくともレンズ付近がケースに収納され
    ており、画像を記録するために、前記レンズ付近で開放することができることを
    特徴とする、請求項２５又は２６に記載の装置。
  28. 【請求項２８】 前記コンピュータとしてＰＣ（５）が使用されていること
    を特徴とする、請求項２５乃至２７のいずれか１項に記載の装置。
  29. 【請求項２９】 前記コンピュータは、蓄積プログラム制御装置（ＳＰＣ）
    （６）に接続していることを特徴とする、請求項２５乃至２８のいずれか１項に
    記載の装置。
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