JP2002532849A - 有機発光デバイスの製造方法 - Google Patents

有機発光デバイスの製造方法

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JP2002532849A JP2000588819A JP2000588819A JP2002532849A JP 2002532849 A JP2002532849 A JP 2002532849A JP 2000588819 A JP2000588819 A JP 2000588819A JP 2000588819 A JP2000588819 A JP 2000588819A JP 2002532849 A JP2002532849 A JP 2002532849A
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カーター、ジュリアン、チャールズ
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    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
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    • H10K50/00Organic light-emitting devices
    • H10K50/80Constructional details
    • H10K50/805Electrodes
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
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    • H05B33/00Electroluminescent light sources
    • H05B33/10Apparatus or processes specially adapted to the manufacture of electroluminescent light sources

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Abstract

(57)【要約】 【解決手段】第1電極と第2電極との間に有機発光材料が配置されて、前記第1電極および前記第2電極が前記有機発光材料に電荷担体を注入可能な発光デバイスにおける黒点(black spot)を低減する方法に関する。この方法は、本来的に所望しないピンホールが発生してしまうような成膜法で前記有機発光材料上に第1層としての材料層を成膜することによって、前記第1電極および前記第2電極の少なくとも一方を形成する工程と、適切な成膜法で前記第1層上に第2層としての材料層を成膜する工程とを有する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】発明の分野 本発明は、有機発光デバイス(OLED)の製造方法に関する。
【0002】発明の背景 米国特許第5,247,190号や米国特許第4,539,507号に開示さ
れているような有機発光デバイスは、今後、種々のディスプレイに利用される可
能性があり、このような有機発光デバイスに対する期待は大きい。なお、前記米
国特許第5,247,190号および米国特許第4,539,507号を参照す
ることによって、その開示内容を本明細書中に盛り込んだものとする。有機発光
デバイスの製造方法の一つにおいては、ガラスまたはプラスチックの基板をイン
ジウム−スズ酸化物(ITO)等の透明な第1電極(アノード)で被覆した後、
エレクトロルミネッセント有機材料の薄膜層を少なくとも1層成膜する。最後に
、通常は、金属または合金からなる第2電極層(カソード)を成膜する。
【0003】 通常、カソード層は、少なくとも一つの仕事関数の低い金属の層からなるもの
であるか、少なくとも一つの仕事関数の低い金属を含有する合金の層からなるも
のである。
【0004】 このようなカソード層は、通常、真空蒸着、または高周波(RF)スパッタリ
ングや直流(DC)マグネトロンスパッタリング等のスパッタリング法によって
成膜される。下部の有機材料層が可溶性共役ポリマー等の比較的損傷を受け易い
材料からなる層である場合には、該下部の有機材料層の損傷を少なくするため、
第1層を成膜する際に、比較的に低いエネルギを用いた処理である真空蒸着を好
適な方法として用いることが多い。
【0005】 本発明者は、カソード層を従来技術の真空蒸着法によって成膜すると、該カソ
ード層にピンホールが形成され、このピンホールを通過してデバイスに侵入した
水分や酸素が有機層とカソード層との間の界面で反応を起こしてしまうことに着
目した。このような反応は、発光性を失った黒点が形成する原因となり、デバイ
ス性能を劣化させるものである。
【0006】 本発明の目的は、従来技術の問題点を回避するか、または、少なくとも軽減す
るような、有機発光材料上での電極形成方法を提供することにある。
【0007】 また、本発明の目的は、有機発光デバイスにおける黒点を減少させることにあ
る。
【0008】 真空蒸着およびスパッタリングは、エレクトロルミネッセント層上に薄い導電
材料層を成膜するために採用される従来の方法である。特に、可溶性共役ポリマ
ー等の比較的損傷を受け易い有機材料層上に導電材料層を成膜する場合には、ス
パッタリングと比較して、下部の有機材料層を損傷させることが少ない真空蒸着
を好適な方法として用いることが多い。
【0009】 しかしながら、従来の真空蒸着法を用いた場合には、SIDダイジェスト(SI
D Digest F-28, 1997, Arjan Bernsten et al.)に説明されているように、蒸着
された膜上にピンホール(欠陥)が形成されるという問題がある。このような蒸
着されたカソード層に存在するピンホールを通過してデバイスに侵入した水分や
酸素は、該カソード層と有機層との間の界面で反応を起こす。このような反応は
、発光性を失った黒点が形成する原因となり、デバイス性能を劣化させるもので
ある。
【0010】 本発明の別の目的は、従来技術の問題点を回避するか、または、少なくとも軽
減するような、有機材料を含む基体上に導電層を蒸着する方法を提供することに
ある。
【0011】発明の要旨 本発明の発明者は、所望しないピンホールが存在する層の上に適切な成膜法で
層を形成することによって、発光デバイスの黒点が低減するという効果が得られ
ることを見いだした。
【0012】 本発明の第1の側面によれば、第1電極と第2電極との間に有機発光材料が配
置されて、前記第1電極および前記第2電極が前記有機発光材料に電荷担体を注
入可能な発光デバイスにおける黒点(black spot)を低減する方法であって、 本来的に所望しないピンホールが発生してしまうような成膜法で前記有機発光
材料上に第1層としての材料層を成膜することによって、前記第1電極および前
記第2電極の少なくとも一方を形成する工程と、 適切な成膜法で前記第1層上に第2層としての材料層を成膜する工程とを有す
ることを特徴とする発光デバイスにおける黒点を減少させる方法が提供される。
なお、適切な成膜法とは、蒸着源に直接露呈していない部分が基体に存在してい
るか否かに関わらず、ターゲットである基体の表面全体に層を形成することがで
きるスパッタリング法等である。
【0013】 好ましい実施の形態においては、第1層および第2層が、前記有機発光材料に
負の電荷担体を注入可能な材料で形成される。第1層は、仕事関数が3.7eV
以下、好ましくは、3.2eVの金属で形成してもよく、このような仕事関数の
低い金属を含有する合金で形成してもよい。
【0014】 第2層を成膜するためのスパッタリング等の適切な成膜法を用いることによっ
て、第2層の材料がピンホールの各々の隙間に浸透し、少なくとも部分的にこれ
らのピンホールを充填するという効果が得られる。これにより、ピンホールが閉
塞されるだけでなく、所望しない反応性物質が侵入することを抑制することがで
きる。各電極の下部に位置する有機発光材料層の概ね表面全体が、第1層または
第2層と接触するようになる。第1層および第2層は、電荷担体(カソードの場
合は負の電荷担体)を注入可能な材料で形成されることが特に望ましい。この理
由は、各電極の下部に位置する有機発光材料層の概ね表面全体に電荷担体を注入
可能となるからである。
【0015】 本発明の第2の側面によれば、有機材料層を有する基体上に電極を形成する方
法であって、 熱蒸着法のような低エネルギ成膜法で前記有機材料層上に一つ以上の導電材料
層を成膜することによって半製品を形成する工程と、 前記半製品の前記有機材料層から離間して低エネルギ成膜法で成膜された最外
層の表面上に適切な成膜法で層を成膜する工程とを含み、 低エネルギ成膜法および適切な成膜法による層の成膜を行う際の雰囲気以外の
雰囲気に対して前記半製品を露呈させることなく、前記低エネルギ成膜法で成膜
された最外層と前記適切な成膜法で成膜された層とを成膜することを特徴とする
基体上に電極を形成する方法が提供される。
【0016】 低エネルギ成膜法は、熱蒸着法等、下部の有機層に損傷を与え難いものであれ
ばどのような成膜方法でもよい。
【0017】 低エネルギ成膜法で成膜される最外層および適切な成膜法で成膜される層は、
好ましくは、同一のチャンバ内で成膜される。
【0018】 本発明の第2の側面に係る実施の形態の一つにおいては、有機材料は有機発光
材料であり、該有機発光材料に隣接する低いエネルギ成膜法によって成膜される
層は、仕事関数の低い金属、好ましくはカルシウムの層である。適切な成膜法で
成膜される層は、例えば、接点としての機能を有するアルミニウム等の延性金属
層とすることができる。また、スパッタ層は、保護層としての機能を有する窒化
アルミニウム等の誘電材料層とすることができる。
【0019】 真空蒸着法で一つ以上の層を有機層上に成膜した後、適切な成膜法で層を成膜
する場合には、蒸着層を成膜する間に真空状態が失われないように蒸着層の成膜
を行うことが好ましく、また、各蒸着層、最外の蒸着層、さらに、適切な成膜法
で成膜される層を同一のチャンバで成膜することが好ましい。
【0020】 適切な成膜方法としては、RFスパッタリングやDCマグネトロンスパッタリ
ングを例示することができる。スパッタリングによって金属または合金の層を成
膜する場合、スパッタターゲット/カソードは、金属または合金によって形成さ
れ、アルゴンやネオンなどの不活性ガスが放電ガスとして用いられる。アルゴン
よりもネオンの方が好適である。この理由は、ネオンを用いて蒸着層上にスパッ
タ層を形成する場合の方が、蒸着層内に存在するピンホールを介して下部の有機
層が損傷することが少ないからである。
【0021】 本発明の第3の側面によれば、真空蒸着によって蒸着源からの蒸発材料を基体
表面上に蒸着させて層を成膜する際に、前記基体を動作させることによって前記
蒸着源の位置に対する前記基体表面の配向角度を変更させる蒸着法を、有機発光
デバイスを製造する場合に使用する蒸着法の有機発光デバイスの製造での使用が
提供される。
【0022】 本発明の第4の側面によれば、第1電極上に有機発光材料層を形成する工程と
、該有機発光材料層上に第2電極を形成する工程とを有する有機発光デバイスの
製造方法において、 前記第2電極を形成する工程は、 蒸着源からの蒸発材料を前記第1電極から離間した前記有機発光材料層上に蒸
着させて層を成膜する際、前記有機発光材料層を動作させることによって前記蒸
着源の固定位置に対する前記有機発光材料層の表面の配向角度を変更させる工程
からなることを特徴とする有機発光デバイスの製造方法が提供される。
【0023】 本発明の第5の側面によれば、有機発光層を含む基体上に概ねピンホールの存
在しない電極層を成膜する方法であって、 蒸着源からの蒸発材料を前記基体表面上に蒸着させて電極層を成膜する際、前
記基体を移動させることによって前記蒸着源の固定位置に対する前記基体の配向
角度を変更させることを特徴とする概ねピンホールの存在しない電極層を成膜す
る方法が提供される。
【0024】 本発明の第3〜第5の側面に係る実施の形態の一つによれば、基体は、少なく
とも、該基体の平面に平行な第1軸を中心として回転される。
【0025】 本発明の第3〜第5の側面に係る別の実施の形態によれば、さらに、基体は、
第1軸に直交する第2軸を中心として回転される。実施の形態の一つによれば、
この第2軸は、基体平面に直交する。第1軸を中心とする回転と第2軸を中心と
する回転とは同時に行われることが好ましい。
【0026】 本発明の第3〜第5の側面に係る方法は、有機発光層上に直接導電層を成膜す
る場合に特に適している。さらに、本発明の第3〜第5の側面に係る方法を、例
えば、有機発光層の上に例えば従来の真空蒸着法または本発明の方法で第1導電
層を成膜した後、この第1導電層上に第2導電層を成膜する場合にも適用するこ
とができる。
【0027】 以下、本発明の好ましい実施の形態につき添付の図面を参照して例示的に説明
する。
【0028】好ましい実施の形態の説明 図1において、排気口3を介してサイロポンプによって真空引きされる一個の
真空チャンバ1が示されている。この真空チャンバ1には、蒸着ステーション2
5およびスパッタリングステーション30が収容されている。また、基体ホルダ
10が真空チャンバ1に設けられている。基体ホルダ10は、実線で示す蒸着ス
テーション25の上側の位置Aと破線で示すスパッタリングステーション30の
下側の位置Bとの間を移動可能である。基体ホルダにおいて、基板を露呈するた
めの開放側を、図1において矢印で示す。基体ホルダの移動の際、該基体ホルダ
の開放側は、蒸着ステーション25に隣接すると下側を向き、スパッタリングス
テーション30に隣接すると上側を向く。また、ターゲットを横向きにして、ス
パッタリングステーションを水平方向(即ち、垂直方向に対して概ね直交する方
向)に配置させてもよい。この場合、基体ホルダは、該基体ホルダの開放側が横
向きになる(即ち、垂直方向に対して概ね直交する方向を向く)ように移動し、
スパッタリングステーションに隣接すると、直接ターゲットの側を向く。
【0029】 蒸着ステーション25はハウジング4を有し、該ハウジング4の底部には、蒸
着用原材料を積載した蒸着ボート5が配置されている。
【0030】 スパッタリングリングステーション30は、ハウジング7を有するDCマグネ
トロンスパッタリング装置である。ハウジング7の後部表面には、スパッタカソ
ード/ターゲットが支持されている。ハウジング7内には、ガスを供給するマニ
ホールドチューブ16が設けられている。電力供給源8は、15W/cm2まで
の電力を供給する。
【0031】 次に、本発明の方法を、図2に示す有機発光デバイス(OLED)を製造する
場合に関連して、詳細かつ例示的に説明する。この有機発光デバイスは、ガラス
基板101と、該ガラス基板101上に成膜されたITO(インジウム−スズ酸
化物)層102と、該ITO層102上に成膜された有機PPV層103と、該
有機PPV層103上に成膜された薄いカルシウム層104と、該薄いカルシウ
ム層104上に成膜されたアルミニウム被覆層105とを有する。
【0032】 ガラス基板、該ガラス基板上に成膜されたITO層、該ITO層上に成膜され
た有機PPV層とを有する部分的に形成されたOLEDを、有機PPV層の外表
面が露呈するように基体ホルダ上に取り付ける。次に、基体ホルダを位置Aに移
動させ、蒸着ボート5内の蒸着用原材料、即ち、カルシウム金属に有機PPV層
の表面を露呈させる。真空チャンバは、サイロポンプによって真空引きされ、1
-8mbに減圧される。
【0033】 蒸着ボート内のカルシウム金属が蒸発し、蒸発したカルシウムの原子が有機P
PV層の露呈した表面に凝縮するまで蒸着ボートを加熱する。蒸着ボート2内の
カルシウム金属は、例えば、抵抗加熱によって過熱することができる。
【0034】 抵抗加熱を用いる場合には、蒸着される金属の融点よりも高い融点を有する材
料で形成された蒸着ボートを使用しなければならない。好適な材料としては、タ
ングステンやモリブデンが挙げられる。また、一つの変形例として、蒸着ボート
の代わりに、蒸着用原材料で被覆したワイヤの巻線を用いてもよい。
【0035】 このようにして、厚さ200nmのカルシウムを有機PPV層に蒸着すると、
図3に示す半製品が得られる。次に、半製品を支持する基体ホルダを位置Bに移
動させ、半製品において新たに形成されたカルシウム層の外表面が、スパッタリ
ングステーション30のアルミニウム製スパッタターゲット/カソード9に向く
ようにする。
【0036】 スパッタ成膜工程において放電ガスとして機能するネオンを、マニホールドチ
ューブ16を介して真空チャンバ内に注入する。スパッタリング処理を開始する
際、カソードとハウジングとの間に電圧が印加されると、材料がターゲットから
基板にスパッタされ、カルシウム層の表面に、厚さ10μmのアルミニウム層が
成膜される。スパッタリング処理における各処理パラメータは、以下の通りであ
る。
【0037】 処理圧力 5×10-3mb 電力密度 3W/cm2 ネオンの流量 25sccm 成膜時間 180秒 ターゲットと基板との距離 75mm アルゴンを用いてスパッタリングを行う場合よりも、ネオンを用いてスパッタ
リングを行う場合の方が成膜速度が遅い。従って、真空チャンバに残留するガス
の量を制御することが重要である。残圧は、10-10mb未満となることが理想
的である。これは、ポンプ力を強くするとともにチャンバを良好に封止すること
によって基準圧力を低くしたり、例えば、側板12を伸長させて残留ガスの経路
を制限し、該側板12の表面をゲッターポンプとして機能させることで低残留性
の局所環境を形成したりすることによって行われる。
【0038】 ネオンを放電ガスとして用いることによって大きな利点が得られる。なぜなら
ば、アルゴンを用いた場合に比べ、ネオンを用いたスパッタ処理では、第1の蒸
着層内に本来的に存在するピンホールを介して露呈している下層の有機層が損傷
することが大幅に抑制されるからである。
【0039】 蒸着とスパッタリングとの切換は連続的に行われ、蒸着工程によって得られた
製品(即ち、図3に示す半製品)は、後続するアルミニウム層をスパッタリング
によって成膜する際に使用されるネオンガス雰囲気以外の雰囲気中で露呈するこ
とはない。換言すれば、スパッタリング用の放電ガスを導入する前に真空状態が
失われることはない。このため、蒸着層に存在するピンホールがスパッタリング
で成膜されたアルミニウム層によって充填される前に、このピンホールを介して
湿気や酸素等の反応性物質が通過して有機層と蒸着層との間の界面で反応が起こ
る可能性を低減することができるという効果が得られる。
【0040】 装置に対し、例えば、蒸着ステーションを追加するような改変を施すこともで
きる。この場合、スパッタ層を成膜する前に、有機PPV層上に複数の蒸着層を
各々異なる材料で形成する場合であっても、真空状態が失われることはない。
【0041】 例えば、第2の蒸着ステーションを設けることによって、スパッタアルミニウ
ム層を成膜する前に厚さ約1μmのアルミニウムの中間層を成膜することができ
る。
【0042】 上記においては、本発明の第1および第2の側面に係る方法を、複数層からな
るカソードを形成する際に適用した場合を例示して説明した。しかしながら、本
発明の第1および第2の側面に係る方法は、複数層からなるアノードを形成する
際に適用することもできる。例えば、最初にガラス基板にカソードを形成し、次
に、該カソード上に有機発光層を成膜し、最後にこの有機発光層上にアノードを
形成することによって有機発光デバイスを製造する際にも適用可能である。
【0043】 次に、本発明の第3〜第5の側面に係る方法を、ガラス基板、アノードとして
のITO層、有機発光層、およびカソードを有する発光装置におけるカソード層
の成膜に適用した場合を例として説明する。
【0044】 図4において、蒸着チャンバ201内には、蒸着用原材料203を積載した蒸
着ボート202が配置されている。基体ホルダ204は、水平シャフト205に
取り付けられている。水平シャフトは、一対の垂直な支持体206に取り付けら
れ、その軸を中心として回転自在となっている。この水平シャフト205の一端
部は、蒸着チャンバ201の外部に設けられたアクチュエータ207に連結され
ている。アクチュエータ207は、水平シャフト205の軸を中心として、該水
平シャフト205とともに基体ホルダ204を回転させる機能を有する。
【0045】 ガラス基板、該ガラス基板上に成膜されたITO層、および該ITO層上に成
膜された有機発光層を有する基体が、該有機層の最外表面のみが蒸着用原材料を
積載した蒸着ボートに対して露呈するように基体ホルダに取り付けられる。
【0046】 蒸着用原材料は、カソード層を形成するために用いられる。この蒸着用原材料
は、例えば、仕事関数の低い金属元素や合金等である。仕事関数は、通常は、約
3.5eV以下であるが、約3eV以下であることが好ましい。例としては、C
a、Ba、Li、Sm、Yb、Tb等が挙げられる。または、Al、Ag等とC
a、Ba、Li、Sm、Yb、Tb等の仕事関数の低い金属元素との合金であっ
てもよい。特に好ましいのはカルシウムである。
【0047】 次に、真空ポンプ(図4に示さず)を用いて蒸着チャンバ201を真空引きし
た後、蒸着ボートを、該蒸着ボート内の蒸着用原材料が蒸発し、蒸発した原子が
有機層の露呈した表面に凝縮するまで加熱する。
【0048】 また、アクチュエータ207を操作し、水平シャフト205の軸を中心として
、水平シャフト205とともに基体ホルダ204を回転させる。水平シャフト2
05の軸方向から見た図5A〜図5Eにおいて、この回転の状態を示す。これら
の図5A〜図5Eは、基体ホルダの位置を示す。
【0049】 図5Bに示すように、まず、アクチュエータを操作して、図5Aに示す初期位
置から固定角度(X°)だけ第1の方向に基体ホルダを回転させる。
【0050】 次に、アクチュエータを操作して、基体ホルダをX°反転させて図5Cに示す
初期位置に戻した後、図5Dに示す位置にさらにX°回転させる。次に、図5E
に示すように、アクチュエータを操作して、基体ホルダをX°だけ第1の方向に
回転させて初期位置に戻す。
【0051】 この操作手順を、蒸着処理が完了するまで繰り返す。アクチュエータの操作を
制御ユニット(図示せず)によって自動的に制御することが好ましい。
【0052】 蒸着ボート202内の蒸着用原材料を、例えば、抵抗加熱によって加熱するよ
うにしてもよく、また、電子衝撃加熱によって加熱するようにしてもよい。
【0053】 抵抗加熱で加熱する場合には、蒸着される金属の融点よりもかなり高い融点を
有する材料で形成された蒸着ボートを使用しなければならない。好適な材料とし
ては、タングステンやモリブデンが挙げられる。また、一つの変形例として、蒸
着ボートの代わりに、蒸着材料で被覆したワイヤの巻線を用いてもよい。
【0054】 蒸着用原材料を蒸発させる別の方法は、電子ビーム蒸着法である。この方法は
、高密度の集束電子ビームを用いて蒸着用原材料を蒸発させるものであり、極め
て高い純度の層を基体上に蒸着させることができ、より多種に渡った材料を蒸着
させることができるという利点がある。しかしながら、現在OLEDに用いられ
ている有機発光材料は、比較的に損傷を受け易い材料であるため、このような高
エネルギ法を行った場合には、有機発光材料上で直接蒸着を行う際に、有機層に
損傷を与える可能性がある。
【0055】 基体ホルダには、一個の基体を取り付けてもよく、複数の基体を取り付けても
よい。
【0056】 図4に示す装置においては、導電性材料層が蒸着される有機層の平面に平行な
軸を中心とする回転のみを可能とするように基体ホルダが取り付けられている。
【0057】 一つの好ましい変形例では、図4に示す基体ホルダを用いる代わりに、図6に
示すタイプの基体ホルダが用いられる。支持体300が水平シャフト205に固
定され、該支持体300に基体ホルダ310が取り付けられる。支持体300は
、基体ホルダ310の平面に直交する中心軸Zを中心として回転可能である。す
なわち、支持体300の後部には、ドライブシャフト(図示せず)を介して、軸
Zを中心として基体ホルダ310を回転駆動するための別のアクチュエータ32
0が配置されている。このドライブシャフトは、支持体300に設けられた孔部
を介して基体ホルダ310に連結されている。
【0058】 好ましくは、アクチュエータ207、320は、水平シャフト205の軸を中
心とする回転(この回転に合わせて、支持体300および基体ホルダ310が回
転する)と、基体ホルダ310の軸Zを中心とする回転とは、同時に行われるよ
うに操作される。
【0059】 本発明の第3〜第5の側面に係る方法に基づく別の変形例では、図7に示す装
置が用いられる。垂直な支持体206は、蒸着チャンバ201の床部に固定され
た円環状基台215に取り付けられ、該円環状基台215の中心軸を中心として
回転可能である。この装置の構成は、例えば、ギアシステムを用いることによっ
て実施可能となる。このギアシステムでは、小型の駆動ギア220が蒸着チャン
バの床面に回転可能に取り付けられる。駆動ギア220の歯車(図7に示さず)
は、円環状基台215の側周壁部に形成された歯車(図7に示さず)と噛合して
いる。第2のアクチュエータ225は、蒸着チャンバの外部に設けられ、垂直な
シャフト230を介して駆動ギアの歯車を回転駆動するために用いられる。この
ようにして、円環状基台215が中心軸を中心に回転する。
【0060】 図7に示す簡素な構成の基体ホルダに代えて、図6に示す基体ホルダを用いる
ようにしてもよい。
【0061】 図7に示すように、アクチュエータ207は、水平シャフト205をその軸を
中心として回転駆動するために用いられ、蒸着チャンバの内側で、一方の垂直な
支持体206の頂部に取り付けられている。
【0062】 水平シャフト205のその軸を中心とする回転と、円環状基台215のその中
心軸を中心とする回転とは、好ましくは同時に行われる。
【0063】 本発明の第3〜第5の側面に係る方法によれば、以下の機構を採用することに
よって、ピンホールの数を減少することができるとともに、ピンホールの大きさ
を縮小させることができるという効果が得られることが理解される。しかしなが
ら、本発明の範囲は、この機構を採用することに制限されるものではない。
【0064】 有機層上に成膜された蒸着層におけるピンホールは、有機層の表面上に存在す
る比較的大きな粒子によって形成されると考えられる。この粒子は、有機材料自
体の凝集物である場合もあれば、異物である場合もある。これらの大きな粒子の
影響について、図8Aを参照して説明する。図8Aは、このような比較的大きな
粒子が表面上に存在する有機層を部分的に拡大した断面図である。真空蒸着は、
矢印方向に沿って行われる。真空蒸着を行うための蒸着用原材料に対して有機層
の表面が不動である場合には、比較的大きな粒子によって遮られた部分(図8A
において寸法Dを有する部分)は、粒子の蒸着経路に対して露呈していない。こ
のため、この領域が被覆されなくなり、その結果、所望しないピンホールが形成
される。
【0065】 本発明の第3〜第5の側面に係る方法によれば、例えば、有機層の面に対して
平行な軸を中心に表面を回転させることによって、該有機層の表面角度を変更す
ることができる。すなわち、有機層の表面と蒸発粒子の飛行経路との間に角度が
生じる。これにより、図8Bおよび図8Cに示すように、有機層が不動である場
合には比較的大きな粒子に遮られていた表面領域が、蒸発粒子の経路に対して少
なくとも部分的に露呈するようになる。このように、例えば、有機層面に平行な
軸を中心として該有機層を回転させることに伴って有機層表面の角度が変更され
ることにより、蒸発粒子の経路に対して露呈していない有機層の表面領域が少な
くとも縮小され、少なくともピンホールが小さくなる。
【0066】 上記においては、本発明の第3〜第5の側面に係る方法を、複数層からなるカ
ソードを形成する際に適用した場合を例示して説明した。しかしながら、これら
の方法は、複数層からなるアノードを形成する際に適用することもできる。例え
ば、最初にガラス基板にカソードを形成し、次に、該カソード上に有機発光層を
成膜し、最後にこの有機発光層上にアノードを形成することによって有機発光デ
バイスを製造する際にも適用可能である。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の第1および第2の側面における実施の形態の方法を実施するための装
置の概略図である。
【図2】 本発明の第1および第2の側面における実施の形態の方法で製造された有機発
光デバイスの断面図である。
【図3】 本発明の第1および第2の側面に係る方法に基づく実施の形態において、スパ
ッタリングを行う前に得られる半製品の断面図である。
【図4】 本発明の第3〜第5の側面に係る方法に基づく実施の形態を実施するための装
置の概略図である。
【図5】 図5A〜図5Cは、本発明の第3〜第5の側面に係る方法に基づく実施の形態
を実施するための基体ホルダの概略図である。
【図6】 本発明の第3〜第5の側面に係る方法に基づく別の実施の形態を実施するため
の基体ホルダの概略図である。
【図7】 本発明の第3〜第5の側面に係る方法に基づく実施の形態を実施するための装
置の概略図である。
【図8】 図8A〜図8Cは、本発明の第3〜第5の側面に係る方法による効果を説明す
るための、真空蒸着される有機層の表面を示す拡大断面図である。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (81)指定国 EP(AT,BE,CH,CY, DE,DK,ES,FI,FR,GB,GR,IE,I T,LU,MC,NL,PT,SE),AT,AU,B R,CA,CH,CN,CZ,DE,DK,ES,FI ,GB,IL,IN,JP,KR,LU,MX,PT, RU,SE,SG,US (72)発明者 カーター、ジュリアン、チャールズ イギリス国、ケンブリッジ シービー3 0エイチジェイ、マディングリー ロー ド、マディングリー ライズ、グリーンウ ィッチ ハウス、ケンブリッジ ディスプ レイ テクノロジー リミテッド内 (72)発明者 ヒークス、ステファン、カール イギリス国、ケンブリッジ シービー3 0エイチジェイ、マディングリー ロー ド、マディングリー ライズ、グリーンウ ィッチ ハウス、ケンブリッジ ディスプ レイ テクノロジー リミテッド内 Fターム(参考) 3K007 AB00 CA01 CA05 CB01 DA00 DB03 EB00 FA00 FA01

Claims (29)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 第1電極と第2電極との間に有機発光材料が配置されて、前記第1電極および
    前記第2電極が前記有機発光材料に電荷担体を注入可能な発光デバイスにおける
    黒点(black spot)を低減する方法であって、 本来的に所望しないピンホールが発生してしまうような成膜法で前記有機発光
    材料上に第1層としての材料層を成膜することによって、前記第1電極および前
    記第2電極の少なくとも一方を形成する工程と、 適切な成膜法で前記第1層上に第2層としての材料層を成膜する工程とを有す
    ることを特徴とする発光デバイスにおける黒点を減少させる方法。
  2. 【請求項2】 請求項1記載の発光デバイスにおける黒点を減少させる方法において、前記適
    切な成膜法がスパッタリング法であることを特徴とする発光デバイスにおける黒
    点を減少させる方法。
  3. 【請求項3】 請求項1または2に記載の発光デバイスにおける黒点を減少させる方法におい
    て、前記第1層および前記第2層が、前記有機発光材料に負の電荷担体を注入可
    能な材料で形成されることを特徴とする発光デバイスにおける黒点を減少させる
    方法。
  4. 【請求項4】 請求項1〜3のいずれか1項に記載の発光デバイスにおける黒点を減少させる
    方法において、前記第1層は、仕事関数が3.7eV以下の材料で形成されるこ
    とを特徴とする発光デバイスにおける黒点を減少させる方法。
  5. 【請求項5】 請求項1〜4のいずれか1項に記載の発光デバイスにおける黒点を減少させる
    方法において、スパッタリング処理において用いられる放電ガスがアルゴンであ
    ることを特徴とする発光デバイスにおける黒点を減少させる方法。
  6. 【請求項6】 請求項1〜5のいずれか1項に記載の発光デバイスにおける黒点を減少させる
    方法において、スパッタリング処理において用いられる放電ガスの発光スペクト
    ルがアルゴンの発光スペクトルよりも低エネルギであることを特徴とする発光デ
    バイスにおける黒点を減少させる方法。
  7. 【請求項7】 請求項6記載の発光デバイスにおける黒点を減少させる方法において、スパッ
    タリング処理において用いられる放電ガスがネオンであることを特徴とする発光
    デバイスにおける黒点を減少させる方法。
  8. 【請求項8】 有機材料層を有する基体上に電極を形成する方法であって、 低エネルギ成膜法で前記有機材料層上に一つ以上の導電材料層を成膜すること
    によって半製品を形成する工程と、 前記半製品の前記有機材料層から離間して低エネルギ成膜法で成膜された最外
    層の表面上に適切な成膜法で層を成膜する工程とを含み、 低エネルギ成膜法および適切な成膜法による層の成膜を行う際の雰囲気以外の
    雰囲気に対して前記半製品を露呈させることなく、前記低エネルギ成膜法で成膜
    された最外層と前記適切な成膜法で成膜された層とを成膜することを特徴とする
    基体上に電極を形成する方法。
  9. 【請求項9】 請求項8記載の電極形成方法において、前記低エネルギ成膜法が熱蒸着法であ
    ることを特徴とする電極形成方法。
  10. 【請求項10】 請求項8または9記載の電極形成方法において、前記適切な成膜法がスパッタ
    リング法であることを特徴とする電極形成方法。
  11. 【請求項11】 請求項8〜10のいずれか1項に記載の電極形成方法において、前記半製品が
    、前記有機材料層上に形成された仕事関数の低い導電材料からなる単一層を有す
    ることを特徴とする電極形成方法。
  12. 【請求項12】 請求項11記載の電極形成方法において、前記仕事関数の低い導電材料からな
    る単一層が、厚さ200nm以下のカルシウム層であることを特徴とする電極形
    成方法。
  13. 【請求項13】 請求項8記載の電極形成方法において、前記半製品が、前記有機材料層上に形
    成された仕事関数の低い導電材料層と、該仕事関数の低い導電材料層上に前記有
    機材料層から離間して形成された延性金属層とを有することを特徴とする電極形
    成方法。
  14. 【請求項14】 請求項13記載の電極形成方法において、前記仕事関数の低い導電材料層が厚
    さ200nm以下のカルシウム層であり、前記延性金属層が厚さ約1μmのアル
    ミニウム層であることを特徴とする電極形成方法。
  15. 【請求項15】 請求項8〜14のいずれか1項に記載の電極形成方法において、前記適切な成
    膜法で成膜された層が、厚さ0.01〜10μmのアルミニウム層であることを
    特徴とする電極形成方法。
  16. 【請求項16】 請求項8〜15のいずれか1項に記載の電極形成方法において、前記有機材料
    層が有機発光材料層であることを特徴とする電極形成方法。
  17. 【請求項17】 請求項8記載の電極形成方法において、前記半製品が前記有機材料層上に二つ
    以上の低エネルギ成膜法で成膜された層を有し、該低エネルギ成膜法で成膜され
    た層の各々は、真空状態を破ることなく成膜されることを特徴とする電極形成方
    法。
  18. 【請求項18】 請求項13記載の電極形成方法において、前記仕事関数の低い導電材料層と前
    記延性金属層とが真空状態を破ることなく真空蒸着によって成膜されることを特
    徴とする電極形成方法。
  19. 【請求項19】 請求項8記載の電極形成方法において、前記低エネルギ成膜法で成膜された最
    外層と前記適切な成膜法で成膜された層が、同一のチャンバ内で成膜されること
    を特徴とする電極形成方法。
  20. 【請求項20】 添付の図面を参照して本明細書中に実質的に開示された発光デバイスにおける
    黒点を減少させる方法。
  21. 【請求項21】 添付の図面を参照して本明細書中に実質的に開示された電極形成方法。
  22. 【請求項22】 真空蒸着によって蒸着源からの蒸発材料を基体表面上に蒸着させて層を成膜す
    る際に、前記基体を動作させることによって前記蒸着源の位置に対する前記基体
    表面の配向角度を変更させる蒸着法を、有機発光デバイスを製造する場合に使用
    する蒸着法の有機発光デバイスの製造での使用。
  23. 【請求項23】 請求項22記載の蒸着法の有機発光デバイスの製造での使用において、前記基
    体を、該基体の平面に平行な第1軸を中心として回転させることを特徴とする蒸
    着法の有機発光デバイスの製造での使用。
  24. 【請求項24】 請求項23記載の蒸着法の有機発光デバイスの製造での使用において、さらに
    、前記基体を、前記第1軸に直交する第2軸を中心として回転させることを特徴
    とする蒸着法の有機発光デバイスの製造での使用。
  25. 【請求項25】 請求項24記載の蒸着法の有機発光デバイスの製造での使用において、前記第
    2軸が前記基体の平面に直交することを特徴とする蒸着法の有機発光デバイスの
    製造での使用。
  26. 【請求項26】 請求項24記載の蒸着法の有機発光デバイスの製造での使用において、前記第
    2の軸が前記基体の平面に平行であることを特徴とする蒸着法の有機発光デバイ
    スの製造での使用。
  27. 【請求項27】 請求項24〜26のいずれか1項に記載の蒸着法の有機発光デバイスの製造で
    の使用において、前記第1軸を中心とする回転と前記第2軸を中心とする回転と
    が同時に行われることを特徴とする蒸着法の有機発光デバイスの製造での使用。
  28. 【請求項28】 第1電極上に有機発光材料層を形成する工程と、該有機発光材料層上に第2電
    極を形成する工程とを有する有機発光デバイスの製造方法において、 前記第2電極を形成する工程は、 蒸着源からの蒸発材料を前記第1電極から離間した前記有機発光材料層上に蒸
    着させて層を成膜する際、前記有機発光材料層を動作させることによって前記蒸
    着源の固定位置に対する前記有機発光材料層の表面の配向角度を変更させる工程
    からなることを特徴とする有機発光デバイスの製造方法。
  29. 【請求項29】 有機発光層を含む基体上に概ねピンホールの存在しない電極層を成膜する方法
    であって、 蒸着源からの蒸発材料を前記基体表面上に蒸着させて電極層を成膜する際、前
    記基体を移動させることによって前記蒸着源の固定位置に対する前記基体の配向
    角度を変更させることを特徴とする概ねピンホールの存在しない電極層を成膜す
    る方法。
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