JP2002522784A - 光学部品を欠陥がないか検査するための検査モジュール - Google Patents
光学部品を欠陥がないか検査するための検査モジュールInfo
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Abstract
Description
検査モジュールに関する。
又はエッジの破損などの欠陥がないか検査しなければならない。その目的のため
に、光学部品を透過光で照らし、解像センサによって観察することが知られてい
る。すると、光の屈折又は散乱を生じさせる欠陥が暗く写る。解像センサによっ
て提供された画像データは画像処理手段によって評価される。その結果、欠陥品
として識別された部品は不合格となる。
ジュールは、高いスループットを可能にしなければならない。既知の検査装置は
比較的低速であり、したがって、そのスループットはひどく制限される。更には
、既知の検査装置は構造が複雑である。
る光学部品の高いスループットが可能になるような方法で、簡単な手段を使用し
て構成することである。
検査モジュールの他の重要な実施態様に関しては、従属項を参照されたい。
運搬容器中に導入される。理由は、液中にあると、応力を受けない状態になるか
らである。試料は、運搬容器の中で静かに底まで沈む。該容器は、該部品が底で
実質的に所定の位置をとることができるような形状である。本発明によると、運
搬容器が検査ステーションを通過する時、運搬容器は透明な蓋によって閉鎖され
る。この蓋の内面、少なくとも検査光線の領域は、液によって濡らされる。照射
は透明な蓋を通して起こるため、蓋を濡らすことは、運搬容器の動きによって引
き起こされる、計測を害するおそれのある液面の変動、例えば波立ちが起こらな
いことを保証する。運搬容器のこの構造が、コンタクトレンズの光学検査を運搬
容器の中で直に実施することを可能にし、別個の工程の必要性を除く。コンタク
トレンズを運搬容器に入れて運ぶと同時にその容器の中でコンタクトレンズを検
査するおかげで、検査されるコンタクトレンズの高速スループットが可能になり
、効率的且つ経済的な検査が保証される。検査中、運搬容器は蓋によって閉鎖さ
れているため、外部の影響、例えば液の波動を排除することができ、ライン上の
容器ごとに再現可能な計測が可能になる。光学部品は、検査された後、再び液か
ら取り出され、「良品」又は「不良品」として運び出される。本発明によると、
該容器は、エンドレスラインに沿って検査ステーションに通され、したがって、
各容器を簡単且つ低廉に誘導することができる。更に、ハンドリング手段が各容
器とシンクロして作動するため、個々のハンドリング工程に十分な期間が利用可
能であり、そのため、高いスループットにもかかわらず、信頼し得るコンタクト
レンズ検査が達成される。
ており、個々の運搬容器を誘導するための費用が、それらの容器をエンドレスラ
インに沿って配設することによって最小限になるため、構造及び誘導に関して簡
素である検査モジュールが本発明によって提供される。
し、開口端を透明な蓋によって閉鎖することもできる。そして、該容器は、検査
ステーションで蓋側から照射を受け、センサによって底を介して観測される。検
査される光学部品の寸法に適合させた容器のプリズム形状は、検査される部品が
所定の態様で液中を底まで沈み、そこで所定の位置をとることを保証する。
シャープネス範囲を有する像形成光学手段により、解像センサ上に結像される。
底の厚さ及び底と蓋との距離は、蓋が底の外面と同様に像形成光学手段のシャー
プネス範囲の外にくるのに十分な大きさで選択すべきである。蓋及び底の外面は
、それら自体が、容器のハンドリングによるかききずなどを有するかもしれない
。しかし、これらの面は、光学部品のセンサ上への結像のシャープネス範囲の外
である。したがって、蓋又は該外面上のかききず、ほこり又は他の欠陥は、セン
サによって鮮鋭には見えず、検査される光学部品における欠陥の幻影を作り出す
ことはできない。
を作り出すであろう気泡が部品に付着することがある。本発明の有利な発展態様
では、検査モジュールは、計測の前に液から気泡を除くための手段を有する。気
泡除去手段は、例えば、超音波で作動することができる。
に距離をおいて延びる並行な回転軸を有する第一及び第二のターンテーブルの回
りを通過せしめられる該容器の連鎖によって形成される。検査される光学部品を
導入し、検査を実行するための第一のハンドリング手段が第一のターンテーブル
とともに回転し、検査された光学部品を取り出すための第二のハンドリング手段
が第二のターンテーブルとともに回転する。第一のハンドリング手段は、検査さ
れる光学部品の導入の後で該容器の上に蓋を配置し、検査の後で蓋を取り外すた
めのグリッパを含むことができる。第二のハンドリング手段は、第二のターンテ
ーブルの入口領域で液に浸漬し得、光学部品を把持し、第二のターンテーブルの
出口領域で光学部品とともに液から抜け出し得るグリッパを含むことができる。
第二のターンテーブルの入口領域と出口領域との間には、液が吸引によって容器
から取り出され、新たな液と交換される液交換領域を設けることができる。該容
器の連鎖の移動方向に対して直角に延びる、検査される部品を供給し、検査され
た部品を取り出すための運搬手段をターンテーブルとターンテーブルとの間に配
設することができる。該ハンドリング手段は、ハンドリング手段がその上を通過
する固定カムによってエンドレスラインに沿って誘導され得る。液が充填された
該容器は、連続的に駆動され得る。この類のカム誘導は実現しやすい。個々の該
容器の噛合が固定連結を提供し、総じて、誘導に要する費用が最小限になる。
し、第二のハンドリング手段は第二のターンテーブルとともに回転する。したが
って、別個の同期化は不要である。高いスループットを得るために該容器の連鎖
及びターンテーブルが比較的高速で作動している時でも、該ハンドリング手段の
種々の機能にとって十分な時間がある。したがって、該ハンドリング手段は、比
較的ゆっくりと動かしてよい。これが、該ハンドリング手段が該容器の連鎖とと
もにその上を通過する固定カムによって簡単にハンドリング手段を誘導する、例
えばグリッパを上昇させることを可能にする。また、ハンドリング手段の同時作
動のおかげで、該容器の連鎖の駆動を定速で連続的に、すなわち無段階的に実施
することができる。これもまた簡素化をもたらす。
ある。したがって、上述の類の複数の検査モジュールそれぞれがそれぞれのコン
ピュータによって共通のサーバに接続されるような方法で、光学部品、特にコン
タクトレンズを欠陥がないか検査するための検査装置を構成することが可能であ
る。1個の検査モジュールが故障したとしても、全体の検査能力が失われて必然
的に製造の中止を招くようなことはなく、高い割合、例えば80%の検査能力が
維持される。
ききず、ボイドなどがないか検査される容器を示している。容器10は、プリズ
ム状の基本的形状、ここでは具体的に円筒状の基本的形状である。コンタクトレ
ンズ12は、容器10の内壁14から離間した状態で、該容器の底に静止してい
る。該容器は、透明な厚い底16を有している。容器10は、その上端において
、透明な材料からなるストッパ様の蓋18によって閉鎖されている。蓋18は、
容器10の上縁22に載るヘッドピース20と、容器10の中に突出するストッ
パ部24とを有している。ストッパ部24と容器10の内壁14との間には隙間
26が形成されている。容器10は、液28、すなわち水が充填されている。液
28は、蓋18の下面30を濡らし、隙間26の中をわずかに上昇している。
される。該光は、透明な蓋18及び液28を通過し、検査されるコンタクトレン
ズ12に当たる。コンタクトレンズ12は、解像センサ34によって観測される
。そのために、コンタクトレンズ12は、像形成光学系36によってセンサ34
上に結像される。コンタクトレンズにおける光学的欠陥が入射光の散乱又は偏向
を引き起こす。したがって、そのような欠陥は画像中で暗く写る。像形成光学系
36による結像は、図1中、両方向矢印38によって示すシャープネス範囲を有
している。蓋18の面30及び底16の外面は、そのシャープネス範囲38の外
にある。これらの面は、容器又は蓋18のハンドリングの間にかききずなどを負
っているかもしれない。しかし、そのような欠陥は、センサ34によって鮮鋭に
は見えず、検査されるコンタクトレンズ12における欠陥の幻想を作り出すこと
ができない。蓋18の該面が液28によって濡れているという事実のおかげで、
照射方向における液の表面が正確に画定される。該表面は、容器10の振動又は
移動の結果として変動したり波を立てたりして検査を困難にすることはない。
、互いに距離をおいて配設され、互いに並行な軸を有する2個のターンテーブル
48及び50を有している。容器の連鎖52は、ターンテーブル48及び50の
周囲を巡回する。容器の連鎖52は、図1に示す類の液が充填された容器10を
一列に配設したものからなる。容器の連鎖52の各容器10は、エンドレスライ
ンとして2個のターンテーブル48及び50の周囲を移動する。2個のターンテ
ーブル48及び50の間には、検査されるコンタクトレンズを供給し、検査され
たコンタクトレンズを取り出すための運搬装置54が配設されている。運搬装置
54は、ターンテーブル48及び50の間を動く容器の連鎖52の直線セクショ
ンに対して直角に容器の連鎖52の上を延伸している。ターンテーブル48及び
50は連続的に、すなわち一定の回転速度で回転する。
ーブル48及び50とともに連続的に回転する。明確に示すため、図2において
は、そのようなグリッパ56及び58は1個ずつしか示されてない。実際には、
グリッパ56及び58は、1個のそのようなグリッパ56及び58がターンテー
ブル48及び50の外寄り半円上で容器の連鎖52中の容器10それぞれの上方
に位置し、その容器10とともに回転するような方法で放射状に配設される。し
たがって、これらの外寄り半円上では、容器10とそれぞれのグリッパ56及び
58との間に周方向の相対移動は起こらない。グリッパ56及び58は、カム6
0及び62によってそれぞれ昇降させられる。カム60及び62は、対応するタ
ーンテーブル48及び50それぞれの回転軸の周りに円形状に延びている。
供給されたコンタクトレンズが容器10中に導入される。該容器の循環路のセク
ション66では、コンタクトレンズは、図1に示したように、液中を容器10の
底まで沈み込む。該循環路のセクション68では、蓋18(図1)が、対応する
容器10の上方に位置するグリッパ56によって容器10の上に配される。その
目的のために、グリッパ56は、カム60によって降下させられる。グリッパ5
6は、蓋18を吸引によって拾い上げ、それを容器10の上に配した後それを解
放する吸引ヘッドを有している。グリッパ56はまた、コンタクトレンズ12の
導入又は計測のために容器10の上部開口を開けておくため、カム(図示せず)
によって容器の脇に移動させれ得る。
ある気泡がセクション70で除去される。これは、超音波によって実施すること
ができるが、ここでは詳細には示さない。セクション70からの出口では、コン
タクトレンズ12は容器10の底まで沈んでおり、気泡は除去されており、蓋1
8は配されており、その下面は液によって濡らされている。
トレンズの検査が実施される。その時、グリッパ56は、カム誘導によって照射
装置32の光路の外に移動される。
的のために、グリッパ56が再び蓋18の上に降ろされる。吸引ヘッドが吸引に
よって蓋を拾い上げた後、ターンテーブル48の、容器の連鎖52が通過しない
内寄り半円にわたってグリッパ56によって持ち上げておく。次に、ターンテー
ブル48の半回転後、セクション68で、グリッパ56が、コンタクトレンズ1
2を導入された新たな容器10の上に蓋18を再び配する。
クションを通過して第二のターンテーブル50に達する。
示さない、グリッパ58の形態のハンドリング手段が同様に回転している。該グ
リッパは、容器の連鎖52の個々の容器10まで星形に延び、それぞれが図2に
示すターンテーブル48から遠い外寄り半円上で容器10の1個とともに回転す
る。グリッパ58は、カム62によって昇降させることができる。
ン78において、容器10の底に位置するコンタクトレンズ78が、グリッパ5
8に装着された吸引ヘッドにより、吸引によって拾い上げられる。
て、吸引によって液が除去される。セクション82において、新鮮な液が導入さ
れる。これは、グリッパ58に設けられた流路によって実施することができる。
最後に、セクション84において、グリッパ58が、吸引によって拾い上げられ
たコンタクトレンズ12とともに、カム62によって容器の外に持ち出される。
とともに、ターンテーブル50の内寄り半円上を移動し続ける。コンタクトレン
ズ12を取り除かれた容器10は、図2に示すエンドレスラインの上部直線セク
ションに沿ってターンテーブル48まで移動し続ける。そこで、前記一連の動作
が繰り返される。グリッパ58は、領域86で、検査されたコンタクトレンズを
運搬装置54の上に降ろす。そして、これらの検査されたコンタクトレンズは、
矢印88によって示すように、運搬装置によって運び出される。
6E及び46Fを含むコンタクトレンズの検査装置を略示している。各検査モジ
ュール46A、46B、46C、46E及び46Fは、対応するコンピュータ9
0A、90B、90C、90D、90E及び90Fにそれぞれ接続されている。
コンピュータ90A、90B、90C、90D、90E及び90Fは、ネットワ
ーク92においてサーバ94に接続されている。余裕をもたせる理由から、ネッ
トワーク92は、第二のサーバ94Aを含むことが有利である。ネットワーク9
2は、モニタ96及び入力キーボード98に接続されている。ネットワーク92
は、検査装置の障害の遠隔診断のため、データライン100を介して制御中枢、
例えば検査装置の製造者に接続することができる。
図である。
Claims (16)
- 【請求項1】 光学部品(12)、特に射出成形部品として製造されたコン
タクトレンズを欠陥がないか検査するための、照射装置と、画像認識センサ(3
4)と、画像処理手段とを含む検査ステーションを有し、該光学部品(12)が
一方の側から照射を受け、その側とは反対にある側から解像センサ(34)によ
って観測され、該センサ(34)の画像データが欠陥の識別のために該画像処理
手段に転送される検査モジュール(46)であって、 エンドレスラインにおいて巡回する一連の運搬容器(10)が検査される光学
部品のために設けられ、該運搬容器(10)は、その上端において開口し、液が
充填され、それぞれ透明な蓋によって閉鎖可能であり、該ラインは検査ステーシ
ョン(72)を通過し、また運搬容器(10)は、検査ステーション(72)を
通過する間、透明な蓋(18)により、蓋(18)の内面(30)が液(28)
によって濡されるようなやり方で閉鎖され、ハンドリング手段(56、58)は
各運搬容器(10)とシンクロして作動し、該ハンドリング手段(56、58)
により、検査される光学部品(12)を、検査ステーション(72)よりも上流
側のライン上の位置(64)で、それぞれの運搬容器(10)中に導入すること
ができ、検査された部品(12)を、該ライン上の別の位置で、運搬容器(10
)から再び取り出すことができる検査モジュール。 - 【請求項2】 運搬容器(10)が円筒形であり、透明な材料からなる底(
16)を有する、請求項1記載の検査モジュール。 - 【請求項3】 照射装置(32)が、運搬容器(10)が蓋側(18)から
照射を受けるように検査ステーションに配設され、画像認識センサ(34)が、
底(16)を観測することができるように配設されている、請求項2記載の検査
モジュール。 - 【請求項4】 検査ステーション(72)が、底(16)の内面上に位置す
る検査される光学部品(12)を画像認識センサ(34)上に結像することがで
きるようなシャープネス範囲(38)を有する像形成光学手段(36)を含む、
請求項3記載の検査モジュール。 - 【請求項5】 底(16)の厚さ及び底(16)と蓋(18)との距離が、
底(16)の外面(40)と同様に、像形成光学手段(36)のシャープネス範
囲(38)の外にくるように、運搬容器(10)が寸法決定されている、請求項
4記載の検査モジュール。 - 【請求項6】 検査ステーション(72)の通過の前に、液(28)から気
泡を除くための手段が設けられている、請求項5記載の検査モジュール。 - 【請求項7】 該気泡除去手段が超音波で作動する、請求項6記載の検査モ
ジュール。 - 【請求項8】 該エンドレスラインが、一列縦隊に配設された運搬容器(1
0)の連鎖によって形成され、該連鎖(52)が、互いから一定の距離をおいて
配設され、並行な回転軸を有する第一及び第二のターンテーブル(48、50)
の周りを通される、請求項7記載の検査モジュール。 - 【請求項9】 検査される部品(12)を容器(10)中に導入し、検査を
実施するための第一のハンドリング手段が該第一のターンテーブル(48)とと
もに回転し、検査された光学部品(12)を取り出すための第二のハンドリング
手段が第二のターンテーブル(50)とともに回転する、請求項8記載の検査モ
ジュール。 - 【請求項10】 該第一のハンドリング手段が、検査される光学部品(12
)を導入した後で容器(10)の上に蓋(18)を配し、検査の後で蓋(18)
を取り外すためのグリッパ(56)を有する、請求項9記載の検査モジュール。 - 【請求項11】 該第二のハンドリング手段が、第二のターンテーブル(5
0)の入口領域(76)において液に浸漬可能であり、光学部品(12)を把持
し、第二のターンテーブル(50)の出口領域(84)において光学部品(12
)とともに液(28)から出され得るグリッパ(58)を有する、請求項10記
載の検査モジュール。 - 【請求項12】 第二のターンテーブル(50)の入口領域(76)と出口
領域(84)との間に、液(28)を吸引によって容器(10)から取り出し、
新たな液と交換することができる液交換のための領域が設けられている、請求項
11記載の検査モジュール。 - 【請求項13】 検査される部品(12)を供給し、検査された部品(12
)を取り去るための運搬手段(54)が両ターンテーブル(48、50)の間に
配設されている、請求項12記載の検査モジュール。 - 【請求項14】 ハンドリング手段を誘導するために、固定カム(60、6
2)が容器の連鎖(52)に沿って設けられている、請求項13記載の検査モジ
ュール。 - 【請求項15】 液を充填された容器(10)が連続的に駆動される、請求
項14記載の検査モジュール。 - 【請求項16】 光学部品(12)、特に射出成形部品として製造されたコ
ンタクトレンズを欠陥がないか検査するための検査装置であって、請求項1〜1
5のいずれか1項記載の複数の検査モジュール(46A〜F)それぞれが対応す
るコンピュータ(90A〜F)によって共通のサーバ(94)を有するネットワ
ーク(92)に接続されている検査装置。
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WO (1) | WO2000009980A1 (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002522785A (ja) * | 1998-08-17 | 2002-07-23 | ノバルティス アクチエンゲゼルシャフト | 眼科用レンズの光学的検査のためのキュベット |
JPWO2003087755A1 (ja) * | 2002-04-12 | 2005-08-18 | 株式会社メニコン | コンタクトレンズユーザのサポートシステムおよびサポート方法 |
US9718625B2 (en) | 2015-11-20 | 2017-08-01 | Greatquo Technology Co., Ltd. | Automatically cycling detecting-and-sorting device |
Families Citing this family (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6765661B2 (en) * | 2001-03-09 | 2004-07-20 | Novartis Ag | Lens inspection |
US6909503B2 (en) | 2001-08-17 | 2005-06-21 | Novartis Ag | Cuvette for lens inspection |
US7130037B1 (en) * | 2003-01-09 | 2006-10-31 | Kla-Tencor Technologies Corp. | Systems for inspecting wafers and reticles with increased resolution |
US7347466B1 (en) * | 2005-02-14 | 2008-03-25 | Michael Alan Feldman | Multipurpose contact lens accessory |
US20070152459A1 (en) * | 2005-12-29 | 2007-07-05 | Bausch & Lomb Incorporated | Contact lens picker |
US8811691B2 (en) * | 2006-06-05 | 2014-08-19 | Visicon Inspection Technologies Llc | Stent inspection system |
US7477366B2 (en) * | 2006-12-07 | 2009-01-13 | Coopervision International Holding Company, Lp | Contact lens blister packages and methods for automated inspection of hydrated contact lenses |
WO2009076049A1 (en) * | 2007-12-10 | 2009-06-18 | Bausch & Lomb Incorporated | Apparatus and method for degassing a fluid to enhance inspection of ophthalmic devices |
US20100129181A1 (en) * | 2008-11-21 | 2010-05-27 | Blasiak Joseph D | Lens handler |
HUE033724T2 (en) | 2010-12-16 | 2017-12-28 | Novartis Ag | Procedure and apparatus for transmitting contact lenses between two consecutive processing stations operated at different cycle rates |
EP2715306B1 (en) * | 2011-06-03 | 2015-07-01 | Johnson & Johnson Vision Care Inc. | Multiple radiation inspection of ophthalmic lenses |
US8789282B2 (en) * | 2012-05-25 | 2014-07-29 | Shavelogic, Inc. | Magnetic attachment for shaving cartridge |
US20150253257A1 (en) | 2014-03-05 | 2015-09-10 | Novartis Ag | Method for automatic inspect of contact lenses |
EP3224591B1 (en) * | 2014-11-25 | 2020-04-22 | Alcon Inc. | Cuvette system and methods for the inspection of ophthalmic lenses |
CN107727366B (zh) * | 2017-09-30 | 2019-11-22 | 北京亚欧震达科技发展有限公司 | 动车检修库管廊照明的检测方法、装置、系统及存储介质 |
Citations (16)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6098035U (ja) * | 1983-12-13 | 1985-07-04 | キヤノン株式会社 | ソフトコンタクトレンズの光学特性測定用装置 |
JPH0260872U (ja) * | 1988-10-26 | 1990-05-07 | ||
JPH03500977A (ja) * | 1988-09-07 | 1991-03-07 | ビーリ・フリッツ | コンタクトレンズ用保存兼検査装置 |
JPH04321186A (ja) * | 1990-12-19 | 1992-11-11 | Ciba Geigy Ag | 光学部品、特に目に関する光学部品を検査するためのプロセスおよび装置、および透明被検体を照明する装置 |
JPH05127130A (ja) * | 1990-12-19 | 1993-05-25 | Ciba Geigy Ag | コンタクトレンズを親水性にする方法 |
JPH05256855A (ja) * | 1992-06-29 | 1993-10-08 | Toshiba Corp | 自動化学分析装置 |
JPH06229868A (ja) * | 1992-12-21 | 1994-08-19 | Johnson & Johnson Vision Prod Inc | 眼科レンズの検査装置および方法 |
JPH06258180A (ja) * | 1992-12-21 | 1994-09-16 | Johnson & Johnson Vision Prod Inc | 眼レンズを搬送するための装置 |
JPH07190884A (ja) * | 1993-12-27 | 1995-07-28 | Menicon Co Ltd | コンタクトレンズ外観検査方法および外観検査装置 |
JPH0884618A (ja) * | 1994-06-10 | 1996-04-02 | Johnson & Johnson Vision Prod Inc | 眼科レンズの位置決め方法 |
JPH0894491A (ja) * | 1994-06-10 | 1996-04-12 | Johnson & Johnson Vision Prod Inc | コンタクトレンズを検査ならびに梱包用に準備する方法および装置 |
JPH08122337A (ja) * | 1994-10-24 | 1996-05-17 | Toshiba Corp | 自動分析装置 |
JPH09504095A (ja) * | 1993-07-29 | 1997-04-22 | ウェズリー ジェッセン コーポレイション | 光学構成要素の検査装置 |
JPH10197442A (ja) * | 1997-01-07 | 1998-07-31 | Iseki & Co Ltd | 分光分析機の遠隔集中管理装置 |
JPH10206318A (ja) * | 1996-10-02 | 1998-08-07 | Texas Instr Inc <Ti> | 固定式光センサ及び分散式センサネットワーク |
JPH11503232A (ja) * | 1995-03-30 | 1999-03-23 | ウェズリー ジェッセン コーポレイション | 光学部品の検査 |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4623249A (en) * | 1983-10-14 | 1986-11-18 | Grant Alan H | Container for an optical element |
US4736130A (en) * | 1987-01-09 | 1988-04-05 | Puskas William L | Multiparameter generator for ultrasonic transducers |
US5086397A (en) * | 1989-07-18 | 1992-02-04 | Schuster Pamela K | Method and apparatus for data collection of testing and inspection of products made on a production assembly line |
GR1002072B (en) * | 1992-12-21 | 1995-11-30 | Johnson & Johnson Vision Prod | Illumination system for opthalmic lens inspection. |
-
1999
- 1999-08-13 AT AT99941608T patent/ATE433100T1/de not_active IP Right Cessation
- 1999-08-13 AU AU55158/99A patent/AU5515899A/en not_active Abandoned
- 1999-08-13 JP JP2000565375A patent/JP4414595B2/ja not_active Expired - Lifetime
- 1999-08-13 DE DE59915032T patent/DE59915032D1/de not_active Expired - Lifetime
- 1999-08-13 WO PCT/EP1999/005935 patent/WO2000009980A1/de active Application Filing
- 1999-08-13 EP EP99941608A patent/EP1105707B1/de not_active Expired - Lifetime
-
2001
- 2001-02-15 US US09/784,455 patent/US6606150B2/en not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (16)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6098035U (ja) * | 1983-12-13 | 1985-07-04 | キヤノン株式会社 | ソフトコンタクトレンズの光学特性測定用装置 |
JPH03500977A (ja) * | 1988-09-07 | 1991-03-07 | ビーリ・フリッツ | コンタクトレンズ用保存兼検査装置 |
JPH0260872U (ja) * | 1988-10-26 | 1990-05-07 | ||
JPH04321186A (ja) * | 1990-12-19 | 1992-11-11 | Ciba Geigy Ag | 光学部品、特に目に関する光学部品を検査するためのプロセスおよび装置、および透明被検体を照明する装置 |
JPH05127130A (ja) * | 1990-12-19 | 1993-05-25 | Ciba Geigy Ag | コンタクトレンズを親水性にする方法 |
JPH05256855A (ja) * | 1992-06-29 | 1993-10-08 | Toshiba Corp | 自動化学分析装置 |
JPH06229868A (ja) * | 1992-12-21 | 1994-08-19 | Johnson & Johnson Vision Prod Inc | 眼科レンズの検査装置および方法 |
JPH06258180A (ja) * | 1992-12-21 | 1994-09-16 | Johnson & Johnson Vision Prod Inc | 眼レンズを搬送するための装置 |
JPH09504095A (ja) * | 1993-07-29 | 1997-04-22 | ウェズリー ジェッセン コーポレイション | 光学構成要素の検査装置 |
JPH07190884A (ja) * | 1993-12-27 | 1995-07-28 | Menicon Co Ltd | コンタクトレンズ外観検査方法および外観検査装置 |
JPH0884618A (ja) * | 1994-06-10 | 1996-04-02 | Johnson & Johnson Vision Prod Inc | 眼科レンズの位置決め方法 |
JPH0894491A (ja) * | 1994-06-10 | 1996-04-12 | Johnson & Johnson Vision Prod Inc | コンタクトレンズを検査ならびに梱包用に準備する方法および装置 |
JPH08122337A (ja) * | 1994-10-24 | 1996-05-17 | Toshiba Corp | 自動分析装置 |
JPH11503232A (ja) * | 1995-03-30 | 1999-03-23 | ウェズリー ジェッセン コーポレイション | 光学部品の検査 |
JPH10206318A (ja) * | 1996-10-02 | 1998-08-07 | Texas Instr Inc <Ti> | 固定式光センサ及び分散式センサネットワーク |
JPH10197442A (ja) * | 1997-01-07 | 1998-07-31 | Iseki & Co Ltd | 分光分析機の遠隔集中管理装置 |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002522785A (ja) * | 1998-08-17 | 2002-07-23 | ノバルティス アクチエンゲゼルシャフト | 眼科用レンズの光学的検査のためのキュベット |
JPWO2003087755A1 (ja) * | 2002-04-12 | 2005-08-18 | 株式会社メニコン | コンタクトレンズユーザのサポートシステムおよびサポート方法 |
US9718625B2 (en) | 2015-11-20 | 2017-08-01 | Greatquo Technology Co., Ltd. | Automatically cycling detecting-and-sorting device |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP1105707A1 (de) | 2001-06-13 |
WO2000009980A1 (de) | 2000-02-24 |
JP4414595B2 (ja) | 2010-02-10 |
ATE433100T1 (de) | 2009-06-15 |
US6606150B2 (en) | 2003-08-12 |
EP1105707B1 (de) | 2009-06-03 |
DE59915032D1 (de) | 2009-07-16 |
US20020009217A1 (en) | 2002-01-24 |
AU5515899A (en) | 2000-03-06 |
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