JPH10197442A - 分光分析機の遠隔集中管理装置 - Google Patents
分光分析機の遠隔集中管理装置Info
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- JPH10197442A JPH10197442A JP1201497A JP1201497A JPH10197442A JP H10197442 A JPH10197442 A JP H10197442A JP 1201497 A JP1201497 A JP 1201497A JP 1201497 A JP1201497 A JP 1201497A JP H10197442 A JPH10197442 A JP H10197442A
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- Japan
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- sample
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- Automatic Analysis And Handling Materials Therefor (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】 (修正有)
【課題】複数の場所に分散して設置されている分光分析
機を、1台のホストコンピュータに接続して集中管理す
るネットワークシステムを構成することにより、分光分
析機の遠隔操作、データの一元管理などを行う。 【解決手段】1台のホストコンピュータAに集線装置B
を介して複数の端末コンピュータCを接続するクライア
ント・サーバ型LANシステムを構成し、それぞれの端
末コンピュータCにインタフェースを介して分光分析機
Dを接続する。端末コンピュータCのアプリケーション
・プログラムは、ネットワーク制御システムのディレク
トリを介してホストコンピュータAのディスプレイ装置
に端末コンピュータCの画面を呼び出し、この画面を通
して測定波長の範囲、測定波長間隔、出力信号の種類、
セルの種類などの条件を指定し、これらのパラメータを
端末コンピュータCを介して分光分析機に入力する。
機を、1台のホストコンピュータに接続して集中管理す
るネットワークシステムを構成することにより、分光分
析機の遠隔操作、データの一元管理などを行う。 【解決手段】1台のホストコンピュータAに集線装置B
を介して複数の端末コンピュータCを接続するクライア
ント・サーバ型LANシステムを構成し、それぞれの端
末コンピュータCにインタフェースを介して分光分析機
Dを接続する。端末コンピュータCのアプリケーション
・プログラムは、ネットワーク制御システムのディレク
トリを介してホストコンピュータAのディスプレイ装置
に端末コンピュータCの画面を呼び出し、この画面を通
して測定波長の範囲、測定波長間隔、出力信号の種類、
セルの種類などの条件を指定し、これらのパラメータを
端末コンピュータCを介して分光分析機に入力する。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、吸光スペクトルを
利用してサンプルの成分組成を分析する分光分析機に関
し、特にその遠隔集中管理装置に関する。
利用してサンプルの成分組成を分析する分光分析機に関
し、特にその遠隔集中管理装置に関する。
【0002】
【発明が解決しようとする課題】農家で生産した米を集
荷して貯蔵するライスセンターなどでは、分光分析機を
用いて集荷した米の食味値を判定し、その品質や等級を
決定する。これにより農家に支払う代金を計算したり、
品質や等級を区別して貯蔵する米の在庫量を管理する。
荷して貯蔵するライスセンターなどでは、分光分析機を
用いて集荷した米の食味値を判定し、その品質や等級を
決定する。これにより農家に支払う代金を計算したり、
品質や等級を区別して貯蔵する米の在庫量を管理する。
【0003】このライスセンターは、人が中に立ち入る
と、外部の異物を持ち込んだり、穀物からでる排藁や排
塵などが人体に悪影響を与えるので、遠隔操作による分
光分析機の無人運転が望まれている。また、各地に分散
するライスセンターにおける食味値などの判定基準を統
一すると共に、品質や等級を区別して各地に貯蔵する米
の在庫量を一か所で集中的に管理することも望まれてい
る。
と、外部の異物を持ち込んだり、穀物からでる排藁や排
塵などが人体に悪影響を与えるので、遠隔操作による分
光分析機の無人運転が望まれている。また、各地に分散
するライスセンターにおける食味値などの判定基準を統
一すると共に、品質や等級を区別して各地に貯蔵する米
の在庫量を一か所で集中的に管理することも望まれてい
る。
【0004】そこで本発明は、複数の場所に分散して設
置されている分光分析機を、1台のホストコンピュータ
に接続して集中管理するネットワークシステムを構成す
ることにより、分光分析機の遠隔操作、食味値などの統
一、データの一元管理などを行うことを目的になされた
ものである。
置されている分光分析機を、1台のホストコンピュータ
に接続して集中管理するネットワークシステムを構成す
ることにより、分光分析機の遠隔操作、食味値などの統
一、データの一元管理などを行うことを目的になされた
ものである。
【0005】
【課題を解決するための手段】かかる目的を達成するた
めに、本発明は以下のように構成した。
めに、本発明は以下のように構成した。
【0006】すなわち、複数の分光分析機をそれぞれ端
末コンピュータを介して1台のホストコンピュータに接
続し、前記分光分析機の測定データを前記端末コンピュ
ータにアクセスするアクセス手段と、前記端末コンピュ
ータにアクセスした測定データまたは前記端末コンピュ
ータにて加工した加工データを前記ホストコンピュータ
にアクセスするリモートアクセス手段と、を備えて、異
なる場所に分散して設置した複数の分光分析機を1台の
ホストコンピュータで集中的に一括管理することを特徴
とする分光分析機の遠隔集中管理装置である。
末コンピュータを介して1台のホストコンピュータに接
続し、前記分光分析機の測定データを前記端末コンピュ
ータにアクセスするアクセス手段と、前記端末コンピュ
ータにアクセスした測定データまたは前記端末コンピュ
ータにて加工した加工データを前記ホストコンピュータ
にアクセスするリモートアクセス手段と、を備えて、異
なる場所に分散して設置した複数の分光分析機を1台の
ホストコンピュータで集中的に一括管理することを特徴
とする分光分析機の遠隔集中管理装置である。
【0007】
【発明の実施の形態】以下に図面を参照して本発明の実
施の形態について説明する。
施の形態について説明する。
【0008】図1に、本発明を実施した分光分析機の遠
隔集中管理装置の構成図を示す。遠隔集中管理装置は、
1台のホストコンピュータAに集線装置Bを介して複数
の端末コンピュータCを接続するクライアント・サーバ
型LANシステムを構成し、それぞれの端末コンピュー
タCにインタフェース、例えばシリアルインタフェース
(RS−232C)を介して分光分析機Dを接続する。
なお、遠隔集中管理装置として、ピア・トウ・ピア型L
ANを用いてもよい。
隔集中管理装置の構成図を示す。遠隔集中管理装置は、
1台のホストコンピュータAに集線装置Bを介して複数
の端末コンピュータCを接続するクライアント・サーバ
型LANシステムを構成し、それぞれの端末コンピュー
タCにインタフェース、例えばシリアルインタフェース
(RS−232C)を介して分光分析機Dを接続する。
なお、遠隔集中管理装置として、ピア・トウ・ピア型L
ANを用いてもよい。
【0009】図2に、分光分析機Dの分光部の構成図を
示す。分光部は、光源1、反射鏡2、回析格子3、レン
ズ4、波長校正用フィルタホイール5、反射光用光検出
器61、透過光用光検出器62、試料セル7、排出弁8
で構成し、反射鏡2、回析格子3、レンズ4、波長校正
用フィルタホイール5、試料セル7、反射光用光検出器
61、透過光用光検出器62をそれぞれ光源1の光路上
に配置する。
示す。分光部は、光源1、反射鏡2、回析格子3、レン
ズ4、波長校正用フィルタホイール5、反射光用光検出
器61、透過光用光検出器62、試料セル7、排出弁8
で構成し、反射鏡2、回析格子3、レンズ4、波長校正
用フィルタホイール5、試料セル7、反射光用光検出器
61、透過光用光検出器62をそれぞれ光源1の光路上
に配置する。
【0010】図3に、分光分析機Dの分析部の構成図を
示す。分析部は、CPU9にメモリ(ROM/RAM)
10を内蔵し、I/Oボード11を介してディスプレイ
装置12、キーボードなどの入力装置13、プリンタな
どの印字装置14を接続し、I/Oボード11に、光源
1、回析格子3の駆動モータ3a、試料セル7の移送モ
ータ7a、反射光用光検出器61、透過光用光検出器6
2、波長校正用フィルタホイール5の駆動モータ5aを
接続する。
示す。分析部は、CPU9にメモリ(ROM/RAM)
10を内蔵し、I/Oボード11を介してディスプレイ
装置12、キーボードなどの入力装置13、プリンタな
どの印字装置14を接続し、I/Oボード11に、光源
1、回析格子3の駆動モータ3a、試料セル7の移送モ
ータ7a、反射光用光検出器61、透過光用光検出器6
2、波長校正用フィルタホイール5の駆動モータ5aを
接続する。
【0011】本発明を実施した分光分析機の遠隔集中管
理装置は以上のような構成で、試料の成分組成を分析す
るときは、端末コンピュータCにインストールしたアプ
リケーション・プログラムから分光分析機Dをアクセス
する。すなわち、測定波長の範囲、測定波長間隔、出力
信号の種類(反射率、吸光度など)、セルの種類などの
条件を端末コンピュータCの画面上で指定し、これらの
パラメータを分光分析機のCPU9に入力する。
理装置は以上のような構成で、試料の成分組成を分析す
るときは、端末コンピュータCにインストールしたアプ
リケーション・プログラムから分光分析機Dをアクセス
する。すなわち、測定波長の範囲、測定波長間隔、出力
信号の種類(反射率、吸光度など)、セルの種類などの
条件を端末コンピュータCの画面上で指定し、これらの
パラメータを分光分析機のCPU9に入力する。
【0012】CPU9は、これらのパラメータに基づい
て光源1を点灯し、回析格子3の駆動モータ3a(ステ
ッピングモータ)を回動して回析格子3の光軸に対する
角度θを切り替え、光の波長を連続的に変化させる。
て光源1を点灯し、回析格子3の駆動モータ3a(ステ
ッピングモータ)を回動して回析格子3の光軸に対する
角度θを切り替え、光の波長を連続的に変化させる。
【0013】そして、この光を試料セル7に充填した試
料に投射し、拡散反射あるいは透過した光の強度を測定
波長点ごとに反射光用光検出器61あるいは透過光用光
検出器62で検出する。検出した光の強度は測定データ
として、アナログ信号からデジタル信号に変換して端末
コンピュータCに出力する。
料に投射し、拡散反射あるいは透過した光の強度を測定
波長点ごとに反射光用光検出器61あるいは透過光用光
検出器62で検出する。検出した光の強度は測定データ
として、アナログ信号からデジタル信号に変換して端末
コンピュータCに出力する。
【0014】端末コンピュータCのアプリケーション・
プログラムは、この測定データを決められた書式に従っ
て端末コンピュータCのハードディスク内のデータ領域
に書き込んだり、与えられた条件に従って加工したりす
る。
プログラムは、この測定データを決められた書式に従っ
て端末コンピュータCのハードディスク内のデータ領域
に書き込んだり、与えられた条件に従って加工したりす
る。
【0015】端末コンピュータCのアプリケーション・
プログラムは、ネットワーク制御システムのディレクト
リを介してホストコンピュータAからもアクセスするこ
とができる。すなわち、ホストコンピュータAのディス
プレイ装置に端末コンピュータCの画面を呼び出し、こ
の画面を通して測定波長の範囲、測定波長間隔、出力信
号の種類、セルの種類などの条件を指定し、これらのパ
ラメータを端末コンピュータCを介して分光分析機のC
PU9に入力する。これにより、それぞれ異なる場所に
分散して設置した複数の分光分析機Dを1台のホストコ
ンピュータAで集中的に一括管理することができる。
プログラムは、ネットワーク制御システムのディレクト
リを介してホストコンピュータAからもアクセスするこ
とができる。すなわち、ホストコンピュータAのディス
プレイ装置に端末コンピュータCの画面を呼び出し、こ
の画面を通して測定波長の範囲、測定波長間隔、出力信
号の種類、セルの種類などの条件を指定し、これらのパ
ラメータを端末コンピュータCを介して分光分析機のC
PU9に入力する。これにより、それぞれ異なる場所に
分散して設置した複数の分光分析機Dを1台のホストコ
ンピュータAで集中的に一括管理することができる。
【0016】次に、本発明に関連して、1台のコンピュ
ータ上で複数のタスクを同時に走らせ、送信側タスクと
受信側タスクを通信手段により接続し、送信側タスクの
信号により受信側タスクを経由して分析装置をアクセス
する装置について説明する。
ータ上で複数のタスクを同時に走らせ、送信側タスクと
受信側タスクを通信手段により接続し、送信側タスクの
信号により受信側タスクを経由して分析装置をアクセス
する装置について説明する。
【0017】この装置は、図4に示すように、1台のコ
ンピュータC上で2つのタスクを同時に走らせ、送信側
タスクソフトC1と受信側タスクソフトC2をシリアル
インタフェースC3、通信回線C4、キーボードやマウ
スなどのデバイスドライバC5により接続し、送信側タ
スクソフトC1の信号により受信側タスクソフトC2の
アプリケーションを介して分光分析機Dの測定データを
アクセスする。アクセスした測定データは、分光分析機
DからシリアルインタフェースC3を経由して端末コン
ピュータCのハードディスクC6に書き込む。
ンピュータC上で2つのタスクを同時に走らせ、送信側
タスクソフトC1と受信側タスクソフトC2をシリアル
インタフェースC3、通信回線C4、キーボードやマウ
スなどのデバイスドライバC5により接続し、送信側タ
スクソフトC1の信号により受信側タスクソフトC2の
アプリケーションを介して分光分析機Dの測定データを
アクセスする。アクセスした測定データは、分光分析機
DからシリアルインタフェースC3を経由して端末コン
ピュータCのハードディスクC6に書き込む。
【0018】この装置は、1台のコンピュータC上で複
数のタスクを同時に走らせて分光分析機Dをアクセスす
る。従って、この装置によれば、LANシステムのよう
にホストコンピュータAと端末コンピュータCの2台の
コンピュータは必要でなく、1台のコンピュータで異な
るアプリケーション間のデータ交換ができる。
数のタスクを同時に走らせて分光分析機Dをアクセスす
る。従って、この装置によれば、LANシステムのよう
にホストコンピュータAと端末コンピュータCの2台の
コンピュータは必要でなく、1台のコンピュータで異な
るアプリケーション間のデータ交換ができる。
【0019】また、受信側タスクソフトC2として、既
存の市販ソフトが流用できるので、分光分析ソフトの開
発工数を低減することができ、既存の市販ソフトにはな
い新たな機能を送信側タスクソフトC1に組み込むこと
もできる。
存の市販ソフトが流用できるので、分光分析ソフトの開
発工数を低減することができ、既存の市販ソフトにはな
い新たな機能を送信側タスクソフトC1に組み込むこと
もできる。
【0020】この他、分光分析データを測定しながら、
その測定データと過去あるいは他のデータを同時並行し
て対比させることができるので、より効果的な分析処理
ができる。例えば、米の食味値の測定に当たっては、分
析した人の食味値や化学分析値を前年あるいは前々年の
データと対比させることにより、より深い分析結果が得
られる。
その測定データと過去あるいは他のデータを同時並行し
て対比させることができるので、より効果的な分析処理
ができる。例えば、米の食味値の測定に当たっては、分
析した人の食味値や化学分析値を前年あるいは前々年の
データと対比させることにより、より深い分析結果が得
られる。
【0021】次に、測定用試料の分光特性を複数回測定
し、その平均分光特性より品質特性値を求めるとき、測
定終了までに要する時間を演算して表示する分光分析装
置について説明する。
し、その平均分光特性より品質特性値を求めるとき、測
定終了までに要する時間を演算して表示する分光分析装
置について説明する。
【0022】分光分析により試料を仕分けたり、加工す
るシステムにおいては、試料を自動的にサンプリングし
て測定するため、セルに投入する試料の充填が不安定で
あったり、電源ノイズが発生したり、外気湿度が変化す
ると、測定データの精度が悪く、不安定になる。この問
題を解決するために、試料の分光特性を複数回測定し、
その平均分光特性より品質特性値を求めるときに、従来
の分光分析機は所定の測定回数に限定していたが、本出
願人は特開平7−12722において測定回数を変更し
て測定する方法を提案している。
るシステムにおいては、試料を自動的にサンプリングし
て測定するため、セルに投入する試料の充填が不安定で
あったり、電源ノイズが発生したり、外気湿度が変化す
ると、測定データの精度が悪く、不安定になる。この問
題を解決するために、試料の分光特性を複数回測定し、
その平均分光特性より品質特性値を求めるときに、従来
の分光分析機は所定の測定回数に限定していたが、本出
願人は特開平7−12722において測定回数を変更し
て測定する方法を提案している。
【0023】この分光分析装置は、試料の分光特性を複
数回測定し、その平均分光特性より品質特性値を求める
とき、測定終了までに要する時間を演算して表示する。
従って、例えば玄米ブレンドシステムのように、荷受玄
米を投入して分光分析データによって仕分けるシステム
にこの分光分析機を組み込む場合、その測定時間がその
都度変わることを踏まえて前工程のエレベータ運転を制
御できるようになる。また、このことをシステムオペレ
ータに報知するための表示警告を発することもできる。
数回測定し、その平均分光特性より品質特性値を求める
とき、測定終了までに要する時間を演算して表示する。
従って、例えば玄米ブレンドシステムのように、荷受玄
米を投入して分光分析データによって仕分けるシステム
にこの分光分析機を組み込む場合、その測定時間がその
都度変わることを踏まえて前工程のエレベータ運転を制
御できるようになる。また、このことをシステムオペレ
ータに報知するための表示警告を発することもできる。
【0024】次に、検量線の自動校正をしながら連続的
に測定を行う分光分析装置について説明する。
に測定を行う分光分析装置について説明する。
【0025】図5に、この分光分析装置のシステム構成
図を示す。分光分析装置は、校正用試料の貯留タンク2
0と、測定用試料の貯留タンク21と、分光分析機22
と、コントローラ23で構成する。校正用試料の測定
は、コントローラ23の指令で校正用試料の貯留タンク
20の排出バルブ20aを開いて校正用試料をコンベア
20bに排出し、ホッパ24を介して分光分析機22の
試料セル22aに校正用試料を投入する。
図を示す。分光分析装置は、校正用試料の貯留タンク2
0と、測定用試料の貯留タンク21と、分光分析機22
と、コントローラ23で構成する。校正用試料の測定
は、コントローラ23の指令で校正用試料の貯留タンク
20の排出バルブ20aを開いて校正用試料をコンベア
20bに排出し、ホッパ24を介して分光分析機22の
試料セル22aに校正用試料を投入する。
【0026】そして、校正用試料を測定して検量線の自
動校正を行うと、試料セル22aの排出バルブ22bを
開いて校正用試料を排出し、切替器25を切替えてエレ
ベータ26aとコンベア20cにより校正用試料を元の
貯留タンク20へ戻す。
動校正を行うと、試料セル22aの排出バルブ22bを
開いて校正用試料を排出し、切替器25を切替えてエレ
ベータ26aとコンベア20cにより校正用試料を元の
貯留タンク20へ戻す。
【0027】測定用試料の測定は、コントローラ23の
指令で測定用試料の貯留タンク21の排出バルブ21a
を開いて測定用試料をコンベア21bに排出し、ホッパ
24を介して分光分析機22の試料セル22aに測定用
試料を投入する。
指令で測定用試料の貯留タンク21の排出バルブ21a
を開いて測定用試料をコンベア21bに排出し、ホッパ
24を介して分光分析機22の試料セル22aに測定用
試料を投入する。
【0028】そして、測定用試料を測定すると、試料セ
ル22aの排出バルブ22bを開いて測定用試料を排出
し、切替器25を切替えてエレベータ26bとコンベア
21cにより測定用試料を元の貯留タンク21へ戻す。
ル22aの排出バルブ22bを開いて測定用試料を排出
し、切替器25を切替えてエレベータ26bとコンベア
21cにより測定用試料を元の貯留タンク21へ戻す。
【0029】この分光分析装置は以上のような構成で、
測定用試料と既知の校正用試料を交互に自動測定して検
量線の自動校正をしながら連続的に測定用試料の分光特
性を分析する。この分光分析装置は、校正用試料を適宜
自動供給して検量線の自動校正を行うと共に、校正用試
料を貯留するタンクを複数基設けたことを特徴とする。
従って、この分光分析装置は、連続的に数多くの試料を
測定しても、その都度校正をかけるので、長期にわたっ
て安定した測定結果が得られる。
測定用試料と既知の校正用試料を交互に自動測定して検
量線の自動校正をしながら連続的に測定用試料の分光特
性を分析する。この分光分析装置は、校正用試料を適宜
自動供給して検量線の自動校正を行うと共に、校正用試
料を貯留するタンクを複数基設けたことを特徴とする。
従って、この分光分析装置は、連続的に数多くの試料を
測定しても、その都度校正をかけるので、長期にわたっ
て安定した測定結果が得られる。
【0030】
【発明の効果】本発明の分光分析機の遠隔集中管理装置
は、複数の場所に分散して設置されている分光分析機
を、1台のホストコンピュータに接続してクライアント
・サーバ型LANシステムを構成する。従って、本発明
によれば、分光分析機の遠隔操作、食味値などの統一、
データの一元管理などを一か所で集中的に行うことがで
きる。また、LANシステムを構成することにより、既
存の市販ソフトが使えるのでアプリケーションの開発工
数を低減すると共に、既存の市販ソフトにはない新たな
機能をホストコンピュータに組み込むこともできる。
は、複数の場所に分散して設置されている分光分析機
を、1台のホストコンピュータに接続してクライアント
・サーバ型LANシステムを構成する。従って、本発明
によれば、分光分析機の遠隔操作、食味値などの統一、
データの一元管理などを一か所で集中的に行うことがで
きる。また、LANシステムを構成することにより、既
存の市販ソフトが使えるのでアプリケーションの開発工
数を低減すると共に、既存の市販ソフトにはない新たな
機能をホストコンピュータに組み込むこともできる。
【図1】本発明の分光分析機の遠隔集中管理装置の構成
図である。
図である。
【図2】分光分析機の分光部の構成図である。
【図3】分光分析機の分析部の構成図である。
【図4】マルチタスクシステムの構成図である。
【図5】連続的に測定を行う分光分析装置のシステム構
成図である。
成図である。
A ホストコンピュータ B 集線装置 C 端末コンピュータ D 分光分析機 1 光源 2 反射鏡 3 回析格子 4 レンズ 5 波長校正用フィルタホイール 61 反射光用光検出器 62 透過光用光検出器 7 試料セル 8 排出弁 9 CPU 10 メモリ 11 I/Oボード 12 ディスプレイ装置 13 入力装置 14 印字装置
Claims (1)
- 【請求項1】 複数の分光分析機をそれぞれ端末コンピ
ュータを介して1台のホストコンピュータに接続し、 前記分光分析機の測定データを前記端末コンピュータに
アクセスするアクセス手段と、 前記端末コンピュータにアクセスした測定データまたは
前記端末コンピュータにて加工した加工データを前記ホ
ストコンピュータにアクセスするリモートアクセス手段
と、を備えて、 異なる場所に分散して設置した複数の分光分析機を1台
のホストコンピュータで集中的に一括管理することを特
徴とする分光分析機の遠隔集中管理装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1201497A JPH10197442A (ja) | 1997-01-07 | 1997-01-07 | 分光分析機の遠隔集中管理装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1201497A JPH10197442A (ja) | 1997-01-07 | 1997-01-07 | 分光分析機の遠隔集中管理装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH10197442A true JPH10197442A (ja) | 1998-07-31 |
Family
ID=11793750
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1201497A Withdrawn JPH10197442A (ja) | 1997-01-07 | 1997-01-07 | 分光分析機の遠隔集中管理装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH10197442A (ja) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002522784A (ja) * | 1998-08-17 | 2002-07-23 | ノバルティス アクチエンゲゼルシャフト | 光学部品を欠陥がないか検査するための検査モジュール |
JP2002221505A (ja) * | 2001-01-26 | 2002-08-09 | Figaro Eng Inc | ガス検出システム及びガス検出方法 |
JP2010044001A (ja) * | 2008-08-18 | 2010-02-25 | Asahi Spectra Co Ltd | 複数点分光光度測定装置 |
JP2010223871A (ja) * | 2009-03-25 | 2010-10-07 | Sharp Corp | 汚染検知装置、汚染浄化システム、および、洗濯機 |
JP2010534322A (ja) * | 2007-07-23 | 2010-11-04 | フィオ コーポレイション | 生物学的および環境的被検体に関して収集分析されたデータを照合し、保存し、分析し、アクセス可能とするための方法およびシステム |
-
1997
- 1997-01-07 JP JP1201497A patent/JPH10197442A/ja not_active Withdrawn
Cited By (6)
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