JP2002507823A - 分配型誘導結合プラズマソース - Google Patents
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- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J37/00—Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
- H01J37/32—Gas-filled discharge tubes
-
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 半導体プロセスチャンバ内のプラズマに電力を誘導結合するための装置及び方法。
【解決手段】 第1の側面では、誘導コイルのアレイは、円形の横断面を有している幾何学面の上に分配される。各コイルは、アレイの任意の2つの隣接し合うコイルの隣辺が幾何学面の円形の横断面の半径とほぼ平行であるように、くさび形である横断面を有する。隣接し合うコイルの側面は平行であるので、コイルアレイによって発生される磁界の半径方向の均一性を高める。第2の側面では、プラズマに最も近いコイルのワイヤのターンが電気的アースポテンシャルに最も近くなるよう、電源に各誘導コイルを接続することによって誘導コイルとプラズマの間の静電結合を最小にする。
Description
【0001】
本発明は、半導体プロセスチャンバのための誘導結合プラズマソースに関する
。
。
【0002】
エッチングや堆積等の半導体製造プロセスの多くは、プラズマ励起型又はプラ
ズマアシスト型であり、即ち、真空チャンバ内で励起されてプラズマ状態になる
プロセス反応物を使用している。通常プラズマは、プロセスガス混合ガスに高周
波(RF)電力を結合させることにより励起される。このRF電界は、プロセスガス
混合ガス中の原子を解離して、プラズマを生成する。
ズマアシスト型であり、即ち、真空チャンバ内で励起されてプラズマ状態になる
プロセス反応物を使用している。通常プラズマは、プロセスガス混合ガスに高周
波(RF)電力を結合させることにより励起される。このRF電界は、プロセスガス
混合ガス中の原子を解離して、プラズマを生成する。
【0003】 処理ガスにRF電力を結合する方法の一つに誘導結合があり、ここでは、RF電源
装置は、誘電体であるチャンバ壁のちょうど外側かチャンバ内側に装備される誘
導コイルに接続している。容量結合プラズマソースと比較すれば、誘導結合プラ
ズマソースの利点は、半導体ワークピースの直流バイアス電圧に対して独立して
プラズマへ供給されるRF電力を調整できるようになるということである。
装置は、誘電体であるチャンバ壁のちょうど外側かチャンバ内側に装備される誘
導コイルに接続している。容量結合プラズマソースと比較すれば、誘導結合プラ
ズマソースの利点は、半導体ワークピースの直流バイアス電圧に対して独立して
プラズマへ供給されるRF電力を調整できるようになるということである。
【0004】 誘導コイルは一般に、筒形コイルの形状をとるが、これは、真空チャンバの円
筒状の側壁を取り囲むか、あるいはチャンバの円形の頂部壁の上に装備されるも
のである。他の従来の誘導コイルは、チャンバの円形の平坦形又はドーム形の頂
部壁に装備される平面状又は半平面状のスパイラルの形状をとる。筒形コイルと
渦巻コイルは共に、半導体ワークピースの方へコイルの軸に沿って延びるRF電磁
界を生成するという不利を有する。ワークピースの上に製造された半導体デバイ
スを傷つけ得る可能性があるため、ワークピースの近くの大きいRF電界は望まし
くない。
筒状の側壁を取り囲むか、あるいはチャンバの円形の頂部壁の上に装備されるも
のである。他の従来の誘導コイルは、チャンバの円形の平坦形又はドーム形の頂
部壁に装備される平面状又は半平面状のスパイラルの形状をとる。筒形コイルと
渦巻コイルは共に、半導体ワークピースの方へコイルの軸に沿って延びるRF電磁
界を生成するという不利を有する。ワークピースの上に製造された半導体デバイ
スを傷つけ得る可能性があるため、ワークピースの近くの大きいRF電界は望まし
くない。
【0005】 Ogleへの1995年7月25日発行の米国特許第5,435,881では、半
導体ワークピースの近くのRF磁場を最小にする誘導結合プラズマソースを開示す
る。これは、プロセスチャンバの誘電円形頂部壁に分配される一列の誘導コイル
を使用する。各コイルの軸は、チャンバ頂部壁及び半導体ワークピースに対して
垂直であり、隣接しあうコイルは、反対の極性の磁場を形成するよう、位相が外
れるように接続される。この配列は、隣接の「近距離場」の中に「カスプ」磁場
パターンを生成するプラズマ状態に処理ガスを励起する頂部壁。しかし、ワーク
ピースの近くの「遠距離場(ファーフィールド)」内では、反対の極性の磁場は
相殺されるので、ワークピースの近くの磁界強度を無視することができ、そのた
め、製造される半導体デバイスに対する損傷のあらゆる危険を最小にする。
導体ワークピースの近くのRF磁場を最小にする誘導結合プラズマソースを開示す
る。これは、プロセスチャンバの誘電円形頂部壁に分配される一列の誘導コイル
を使用する。各コイルの軸は、チャンバ頂部壁及び半導体ワークピースに対して
垂直であり、隣接しあうコイルは、反対の極性の磁場を形成するよう、位相が外
れるように接続される。この配列は、隣接の「近距離場」の中に「カスプ」磁場
パターンを生成するプラズマ状態に処理ガスを励起する頂部壁。しかし、ワーク
ピースの近くの「遠距離場(ファーフィールド)」内では、反対の極性の磁場は
相殺されるので、ワークピースの近くの磁界強度を無視することができ、そのた
め、製造される半導体デバイスに対する損傷のあらゆる危険を最小にする。
【0006】
Ogleのデザインの不利な点の1つは、RF磁場が誘導コイルのアレイの周囲の近
くで不均一になる点である。具体的には、Ogleの磁石アレイの周囲は、均一に間
隔をあけられた交互の極性(磁極)の中心パターンからずれている。RF電界の中
にそのような空間の不均一性があることは、プラズマ励起型の半導体製造プロセ
スにおいて、望ましくない空間の不均一性を形成する場合がある。
くで不均一になる点である。具体的には、Ogleの磁石アレイの周囲は、均一に間
隔をあけられた交互の極性(磁極)の中心パターンからずれている。RF電界の中
にそのような空間の不均一性があることは、プラズマ励起型の半導体製造プロセ
スにおいて、望ましくない空間の不均一性を形成する場合がある。
【0007】
本発明は、半導体プロセスチャンバ内のプラズマに電力を誘導結合するための
装置と方法である。
装置と方法である。
【0008】 第1の側面では、本発明は円形の横断面を有している幾何学の面の上に分配さ
れる誘導コイルのアレイを備える。ユニークなことに、あらゆるアレイ内の隣接
する2つのコイルの隣辺がおおよそ幾何学面の円形の横断面の半径に対して平行
線であるように、各コイルはくさび形の横断面を有する。
れる誘導コイルのアレイを備える。ユニークなことに、あらゆるアレイ内の隣接
する2つのコイルの隣辺がおおよそ幾何学面の円形の横断面の半径に対して平行
線であるように、各コイルはくさび形の横断面を有する。
【0009】 本発明は、優れた空間均一性(すなわち、半径方向の大きさと方位角方向の大
きさの両方の均一性)を有するプラズマを、プラズマチャンバ内で半導体ワーク
ピースに隣接して生成することができる。
きさの両方の均一性)を有するプラズマを、プラズマチャンバ内で半導体ワーク
ピースに隣接して生成することができる。
【0010】 隣接しあうコイルの隣辺同士がおおよそ平行であるので、このプラズマは半径
方向の均一性に優れている。コイルが幾何学面に対して方位角方向に等しく間隔
をあけられるので、方位角の均一性に優れている。
方向の均一性に優れている。コイルが幾何学面に対して方位角方向に等しく間隔
をあけられるので、方位角の均一性に優れている。
【0011】 我々の発明では、広範囲のチャンバ圧力にわたって運転できるように構成する
ことが可能である。従来のデザインでは、共振周波数で電子を連続的に加速する
ことによってプラズマにエネルギを結合するのであり、これは、電子の平均自由
行程が磁極間間隔より確実に大きくなるに十分低いチャンバ圧力である場合のみ
実現される。対照的に、我々の発明は電子の連続加速を必要としないので、低い
チャンバ圧力での操作に限定されない。
ことが可能である。従来のデザインでは、共振周波数で電子を連続的に加速する
ことによってプラズマにエネルギを結合するのであり、これは、電子の平均自由
行程が磁極間間隔より確実に大きくなるに十分低いチャンバ圧力である場合のみ
実現される。対照的に、我々の発明は電子の連続加速を必要としないので、低い
チャンバ圧力での操作に限定されない。
【0012】 我々の発明は、アレイに誘導コイルを加えることによって、より大きなプラズ
マチャンバや異なる形状のプラズマチャンバに適用することが可能である。隣接
し合う任意の2つのコイルによりもたらされるプラズマ励起がこの2つのコイル
の近傍に局所化されるので、異なるプロセスと異なるチャンバサイズ及びチャン
バ形状に対して我々のデザインを最適化することは容易である。対照的に、典型
的には単一の誘導コイルを使用する従来のデザインを適用させることはあまり容
易ではない。
マチャンバや異なる形状のプラズマチャンバに適用することが可能である。隣接
し合う任意の2つのコイルによりもたらされるプラズマ励起がこの2つのコイル
の近傍に局所化されるので、異なるプロセスと異なるチャンバサイズ及びチャン
バ形状に対して我々のデザインを最適化することは容易である。対照的に、典型
的には単一の誘導コイルを使用する従来のデザインを適用させることはあまり容
易ではない。
【0013】 好ましくは、幾何学面は、プロセスチャンバの一端での平坦な円形の誘電体壁
の面であり、また、コイルのアレイは、この壁の外部の表面に装備される。ある
いは、コイルのアレイは真空チャンバ内に装備されてもよく、この場合、幾何学
の面は、典型的には物理的な物体にあらず、単に幾何学形状だけである。
の面であり、また、コイルのアレイは、この壁の外部の表面に装備される。ある
いは、コイルのアレイは真空チャンバ内に装備されてもよく、この場合、幾何学
の面は、典型的には物理的な物体にあらず、単に幾何学形状だけである。
【0014】 好ましい具体例では、隣接し合うコイルは、極性が反対の磁界を形成する。本
発明が有利なのは、多くの従来の誘導コイルのデザインとは対照的に、隣接し合
うコイルにより誘導される渦電流が、互いを補強することよりむしろ互いに相殺
し合う傾向があるため、渦電流がチャンバ壁12の周囲のまわりで循環しないこ
とである。
発明が有利なのは、多くの従来の誘導コイルのデザインとは対照的に、隣接し合
うコイルにより誘導される渦電流が、互いを補強することよりむしろ互いに相殺
し合う傾向があるため、渦電流がチャンバ壁12の周囲のまわりで循環しないこ
とである。
【0015】 本発明の前述の具体例は、円形の半導体ウエハの処理用の円筒状のプラズマチ
ャンバに対して理想的である。フラットパネルディスプレイ等の長方形のワーク
ピースの処理に理想的に適する別の具体例では、誘導コイルは円形のアレイより
もむしろ方形のアレイ又は行列に整列される。方形のアレイでは、コイルは特定
の形状である必要はなく、例えば、円形又は方形の断面であってもよい。プラズ
マの横方向の均一性を最大にするため、隣接し合うコイルの隣辺同士の間の横方
向又は長軸方向のスペーシング"W"が、全ての隣接し合うコイル対について等し くなる必要がある。隣接し合うコイルが反対の極性を有するRF磁場を生成するよ
う、コイルはそれぞれの極性でRF電源装置に接続する。
ャンバに対して理想的である。フラットパネルディスプレイ等の長方形のワーク
ピースの処理に理想的に適する別の具体例では、誘導コイルは円形のアレイより
もむしろ方形のアレイ又は行列に整列される。方形のアレイでは、コイルは特定
の形状である必要はなく、例えば、円形又は方形の断面であってもよい。プラズ
マの横方向の均一性を最大にするため、隣接し合うコイルの隣辺同士の間の横方
向又は長軸方向のスペーシング"W"が、全ての隣接し合うコイル対について等し くなる必要がある。隣接し合うコイルが反対の極性を有するRF磁場を生成するよ
う、コイルはそれぞれの極性でRF電源装置に接続する。
【0016】 発明の第2の側面では、プラズマに最も近いコイルのワイヤのターンが電気的
アースポテンシャル又はその付近にあるような方法で、各誘導コイルは電源装置
に接続している。
アースポテンシャル又はその付近にあるような方法で、各誘導コイルは電源装置
に接続している。
【0017】 発明のこの側面によれば、誘導コイルとプラズマの間の容量(静電)結合を最
小にすることにより、コイルに隣接したチャンバ壁のスパッタリングを最小にと
どめる。
小にすることにより、コイルに隣接したチャンバ壁のスパッタリングを最小にと
どめる。
【0018】 具体例の1つでは、プラズマに最も近い各コイルの一方の端部は電気的アース
に直接に接続しており、コイルの反対の端部はRF電源装置の不平衡出力に接続し
ている。第2のと第3の具体例では、2つのコイルは、プラズマに最も近い各コ
イルの端部を一緒に接続させることにより、直列に接続される。第2の具体例で
は、各コイルの反対側の(「RF高温」)端部は、RF電源装置のそれぞれの平衡出
力に接続する。第3の具体例では、一のコイルの高温の端部は、RF電源装置の不
平衡出力に接続しており、他方のコイルの高温の端部は、キャパシタを通して電
気的アースに接続しており、このキャパシタは、RF電源装置の振動数で後者のコ
イルに共鳴する。
に直接に接続しており、コイルの反対の端部はRF電源装置の不平衡出力に接続し
ている。第2のと第3の具体例では、2つのコイルは、プラズマに最も近い各コ
イルの端部を一緒に接続させることにより、直列に接続される。第2の具体例で
は、各コイルの反対側の(「RF高温」)端部は、RF電源装置のそれぞれの平衡出
力に接続する。第3の具体例では、一のコイルの高温の端部は、RF電源装置の不
平衡出力に接続しており、他方のコイルの高温の端部は、キャパシタを通して電
気的アースに接続しており、このキャパシタは、RF電源装置の振動数で後者のコ
イルに共鳴する。
【0019】 本発明の第3の側面は、電気的アース電位に近い2つのコイルの間の接合を維
持するよう、この2つのコイルを不均衡電源装置出力に結合するための前出のパ
ラグラフの第3の具体例で用いた回路である。この回路は新規であり、コイルが
プラズマチャンバに関連するかどうかとは関係なく価値がある。
持するよう、この2つのコイルを不均衡電源装置出力に結合するための前出のパ
ラグラフの第3の具体例で用いた回路である。この回路は新規であり、コイルが
プラズマチャンバに関連するかどうかとは関係なく価値がある。
【0020】
図1は、本発明を利用するプラズマチャンバを示す。ここに例示されたチャン
バは、シリコンウエハ上の誘電体膜をプラズマ励起エッチングするためのもので
あるが、本発明は、エッチング、化学気相堆積やスパッタ堆積等の半導体製造プ
ロセスのために用いられるあらゆるプラズマチャンバに等しく有用である。
バは、シリコンウエハ上の誘電体膜をプラズマ励起エッチングするためのもので
あるが、本発明は、エッチング、化学気相堆積やスパッタ堆積等の半導体製造プ
ロセスのために用いられるあらゆるプラズマチャンバに等しく有用である。
【0021】 真空チャンバは、円筒状のアルミニウム側壁12と、円形のアルミニウム底部
壁14と、酸化アルミニウム(Al2O3(一般にアルミナと呼ばれている))、
窒化アルミニウム又はシリコンカーバイド等の誘電材料でできた円形の頂部壁又
はリッド10を有する。我々はアルミナを推奨するが、それは先ず、他の多くの
プラズマチャンバデザインに対して誘電体として成功を収めてきたからであり、
また、他の予想される誘電材料よりコスト的に非常に有利であるからである。
壁14と、酸化アルミニウム(Al2O3(一般にアルミナと呼ばれている))、
窒化アルミニウム又はシリコンカーバイド等の誘電材料でできた円形の頂部壁又
はリッド10を有する。我々はアルミナを推奨するが、それは先ず、他の多くの
プラズマチャンバデザインに対して誘電体として成功を収めてきたからであり、
また、他の予想される誘電材料よりコスト的に非常に有利であるからである。
【0022】 チャンバの側壁と底部壁は、電気的に接地される。アルミニウム陰極電極16
は、チャンバの円柱軸に垂直な方向を向き、そして、接地されたチャンバ壁から
誘電支持体棚18によって電気的に絶縁される。シリコンウエハ(図示されず)
等の半導体ワークピースが、機械的クランプリングまたは静電チャック等の従来
の手段によって陰極電極の上面上に装着される。このチャンバ構造は、完全に従
来のものである。
は、チャンバの円柱軸に垂直な方向を向き、そして、接地されたチャンバ壁から
誘電支持体棚18によって電気的に絶縁される。シリコンウエハ(図示されず)
等の半導体ワークピースが、機械的クランプリングまたは静電チャック等の従来
の手段によって陰極電極の上面上に装着される。このチャンバ構造は、完全に従
来のものである。
【0023】 リッド10の下で、チャンバ側壁12のまわりで方位角方向に間隔をあけられ
た(図示されず)いくつかのガス入口を通して、処理ガス22はチャンバ内へ流
入する。第1のRF電源装置32と第2のRF電源装置34は、プロセスガスからプ
ラズマを形成するためにチャンバ内部100にRF電力を結合する。
た(図示されず)いくつかのガス入口を通して、処理ガス22はチャンバ内へ流
入する。第1のRF電源装置32と第2のRF電源装置34は、プロセスガスからプ
ラズマを形成するためにチャンバ内部100にRF電力を結合する。
【0024】 排気ポンプ(図示されない)は、チャンバ底部壁14の排気口24の外側に装
備される。ポンプは、曲がりくねった排気バッフル25を通してチャンバから処
理ガスや反応生成物を排気し、排気ガスポート24からこれを出す。
備される。ポンプは、曲がりくねった排気バッフル25を通してチャンバから処
理ガスや反応生成物を排気し、排気ガスポート24からこれを出す。
【0025】 好適な排気バッフル25によって押しつけられる曲がりくねった排気軌道は、
プラズマが排気口に達することを妨害するように機能する。排気バッフルは、陽
極酸化アルミニウム外側ライナ26とインナーライナ27の重なり合う横の延長
部から成る。これらライナは、クリーニングを容易にするために取り外し可能で
ある。曲がりくねった排気バッフル及びライナは、1996年6月20日に出願
のShanらの出願中の米国特許出願第08/666981号において詳細に説明さ
れる。
プラズマが排気口に達することを妨害するように機能する。排気バッフルは、陽
極酸化アルミニウム外側ライナ26とインナーライナ27の重なり合う横の延長
部から成る。これらライナは、クリーニングを容易にするために取り外し可能で
ある。曲がりくねった排気バッフル及びライナは、1996年6月20日に出願
のShanらの出願中の米国特許出願第08/666981号において詳細に説明さ
れる。
【0026】 外側ライナ26の上側の端部は、内方へ延びる環状の棚28を有し、この上に
はリッド10が載置され、またOリングが介在して真空シールを提供する。外側
ライナ内のガス流路は、処理ガス22のフローを吸気口に提供する。
はリッド10が載置され、またOリングが介在して真空シールを提供する。外側
ライナ内のガス流路は、処理ガス22のフローを吸気口に提供する。
【0027】 第1のRF電源装置32は、第1のインピーダンス整合ネットワーク31を通し
て、誘電チャンバリッド10の上に装備される新規な誘導コイルのアレイ30に
電力を供給する。アレイ30のコイル40、42のそれぞれは、チャンバ軸と平
行な(即ちチャンバリッドに対して垂直な、そして、半導体ワークピースに対し
て垂直な)軸の周りに巻かれる。プラズマへRF電力を結合しそれによってプラズ
マの密度を高めるよう、誘導コイルを流れるRF電流は、リッドの真下のチャンバ
の領域内にRF電磁界を形成する。(図7は、RF磁場ライン120を表す。) 従来では、電気的に接地されたチャンバ壁に対してマイナスの直流バイアス電
圧をカソード電極に発生するために、第2のインピーダンス整合ネットワーク3
3が第2のRF電源装置34をカソード電極16に容量結合している。カソード電
極16の負のバイアス電圧が、半導体ワークピースの方へプロセスガス混合ガス
からのイオンを引きつけ、これにより、ワークピース面上の既存の膜をエッチン
グするための従来のプロセスや面上に新しい膜を堆積するための従来のプロセス
等の所望の半導体製造プロセスを、ワークピースの面上でプロセスガスが実行す
る。
て、誘電チャンバリッド10の上に装備される新規な誘導コイルのアレイ30に
電力を供給する。アレイ30のコイル40、42のそれぞれは、チャンバ軸と平
行な(即ちチャンバリッドに対して垂直な、そして、半導体ワークピースに対し
て垂直な)軸の周りに巻かれる。プラズマへRF電力を結合しそれによってプラズ
マの密度を高めるよう、誘導コイルを流れるRF電流は、リッドの真下のチャンバ
の領域内にRF電磁界を形成する。(図7は、RF磁場ライン120を表す。) 従来では、電気的に接地されたチャンバ壁に対してマイナスの直流バイアス電
圧をカソード電極に発生するために、第2のインピーダンス整合ネットワーク3
3が第2のRF電源装置34をカソード電極16に容量結合している。カソード電
極16の負のバイアス電圧が、半導体ワークピースの方へプロセスガス混合ガス
からのイオンを引きつけ、これにより、ワークピース面上の既存の膜をエッチン
グするための従来のプロセスや面上に新しい膜を堆積するための従来のプロセス
等の所望の半導体製造プロセスを、ワークピースの面上でプロセスガスが実行す
る。
【0028】 図2〜4及び6は、アレイ30の8つの誘導コイル40、42の各々の楔形形
状を表し、これらコイルは、チャンバリッド10の方位角のまわりに等しく間隔
をあけられている。図4〜7に示すように、コイル40、42のそれぞれは、中
空の巻型50に巻きつけられた多数の銅線43のターンを有する。各巻型は、図
2〜4に示すように楔形の上面54を有し、それぞれは図4〜6に示すような一
方より見れば、U字形形状の横断面を有している。具体的には、各巻型50は、
カーブした方形の広い外面53と、ほぼ三角形の楔形の上面54と、カーブした
狭い内部の歯先曲面55とを有している。図4〜7に示すように、各巻型の方位
角の側44は完全に開いている。
状を表し、これらコイルは、チャンバリッド10の方位角のまわりに等しく間隔
をあけられている。図4〜7に示すように、コイル40、42のそれぞれは、中
空の巻型50に巻きつけられた多数の銅線43のターンを有する。各巻型は、図
2〜4に示すように楔形の上面54を有し、それぞれは図4〜6に示すような一
方より見れば、U字形形状の横断面を有している。具体的には、各巻型50は、
カーブした方形の広い外面53と、ほぼ三角形の楔形の上面54と、カーブした
狭い内部の歯先曲面55とを有している。図4〜7に示すように、各巻型の方位
角の側44は完全に開いている。
【0029】 コイル巻線が電気的に短絡することなく巻型に接触することができるよう、各
巻型50は誘電材料から成る。巻型は好ましくは、コイル巻線の寄生容量を最小
にするよう非常に低い誘電率を有する必要があり、それによってコイルの自己共
振周波数を上げる必要がある。巻型のための我々の好ましい材料は、テフロンで
ある。
巻型50は誘電材料から成る。巻型は好ましくは、コイル巻線の寄生容量を最小
にするよう非常に低い誘電率を有する必要があり、それによってコイルの自己共
振周波数を上げる必要がある。巻型のための我々の好ましい材料は、テフロンで
ある。
【0030】 チャンバリッド10を開けることなく誘導コイルアレイを単一のユニットとし
て装着や取り外しを容易にするため、8つのくさび形の巻型50は、プッシュオ
ンファスナ51によって、単一のディスク形の基部56に取り付けられる。好ま
しい具体例では、ベース56は、巻型に用いられるテフロンより高い機械的剛性
を有するプラスチック材料から成る。好ましいプラスチックは、商標ウルテム(U
ltem)でデュポン社(Dupont)より販売されているものである。一般に、炭素を有 する「ブラックウルテム」と区別するため、「ナチュラルウルテム」と呼ばれて
いる。
て装着や取り外しを容易にするため、8つのくさび形の巻型50は、プッシュオ
ンファスナ51によって、単一のディスク形の基部56に取り付けられる。好ま
しい具体例では、ベース56は、巻型に用いられるテフロンより高い機械的剛性
を有するプラスチック材料から成る。好ましいプラスチックは、商標ウルテム(U
ltem)でデュポン社(Dupont)より販売されているものである。一般に、炭素を有 する「ブラックウルテム」と区別するため、「ナチュラルウルテム」と呼ばれて
いる。
【0031】 各誘導コイル40、42は、磁心52を取り囲むことが好ましい。隣接し合う
コイル40、42の間に延びる磁力線120が、図7に示すようにプラズマチャ
ンバ内部100内の各コイルのそれぞれの下側の軸の端部の間に延びる弧の中に
主に1点に集中するように、磁心52が電磁界を集中及び形成していると、我々
は考える。磁心52がなければ、磁束の大部分は横に広がり、リッド10の上の
コイルの中央ターン43の間に至るだろう。換言すれば、磁心52がプラズマで
占められているチャンバ内部領域100内に磁束120を集中し、それによって
誘導コイル40、42がプラズマにRF電力を結合する効率を改良していると、我
々は考えている。
コイル40、42の間に延びる磁力線120が、図7に示すようにプラズマチャ
ンバ内部100内の各コイルのそれぞれの下側の軸の端部の間に延びる弧の中に
主に1点に集中するように、磁心52が電磁界を集中及び形成していると、我々
は考える。磁心52がなければ、磁束の大部分は横に広がり、リッド10の上の
コイルの中央ターン43の間に至るだろう。換言すれば、磁心52がプラズマで
占められているチャンバ内部領域100内に磁束120を集中し、それによって
誘導コイル40、42がプラズマにRF電力を結合する効率を改良していると、我
々は考えている。
【0032】 好ましい具体例では、各誘導コイルの磁心は、約40〜60の透磁率を有する
マグネシウム亜鉛軟質炭フェライトの棒52が12本から成る。(我々がテスト
したフェライトの販売業者は透磁率が60であると主張するが、参考の諸文献に
よればマグネシウム亜鉛フェライトの透磁率は一般に40を示す。) フェライト棒を空冷できるよう、フェライト棒同士は離間される。フェライト
棒同士間のギャップは、空気で占められる。フェライト棒のスペーシング及びア
ライメントを維持するために、各棒の頂部は巻型50の頂部54にある個別の開
口の中にあり、各棒の底部はベースプレート56の個別の開口の中にある。ベー
スプレートの開口は、各フェライト棒の底部を下げるという長所があり、このた
めチャンバリッド10に対して更に近づくので、コイルアレイ30によりチャン
バ内に発生する磁気の電界の強度が最大になる。
マグネシウム亜鉛軟質炭フェライトの棒52が12本から成る。(我々がテスト
したフェライトの販売業者は透磁率が60であると主張するが、参考の諸文献に
よればマグネシウム亜鉛フェライトの透磁率は一般に40を示す。) フェライト棒を空冷できるよう、フェライト棒同士は離間される。フェライト
棒同士間のギャップは、空気で占められる。フェライト棒のスペーシング及びア
ライメントを維持するために、各棒の頂部は巻型50の頂部54にある個別の開
口の中にあり、各棒の底部はベースプレート56の個別の開口の中にある。ベー
スプレートの開口は、各フェライト棒の底部を下げるという長所があり、このた
めチャンバリッド10に対して更に近づくので、コイルアレイ30によりチャン
バ内に発生する磁気の電界の強度が最大になる。
【0033】 コイルは、第1のRF電源32に接続しており、RF電流波形の任意の半サイクル
の間、これらコイル半数40を流れる電流は時計回りであり、そして、これらコ
イルの他の半数42を流れる電流は反時計回りであり、これら2種類の極性のコ
イルは交互に、アレイの方位角のまわりに配置されている。図2及び7では、交
互に並べられたコイル40にS、42にはNと、それぞれラベルをつけることで
、この交互の配列を例示し、RF電流波形の半サイクルの間にそれぞれのコイルに
よって発生される磁気の電界を表している。次の半サイクルの間、S及びNの磁
極が交替する。
の間、これらコイル半数40を流れる電流は時計回りであり、そして、これらコ
イルの他の半数42を流れる電流は反時計回りであり、これら2種類の極性のコ
イルは交互に、アレイの方位角のまわりに配置されている。図2及び7では、交
互に並べられたコイル40にS、42にはNと、それぞれラベルをつけることで
、この交互の配列を例示し、RF電流波形の半サイクルの間にそれぞれのコイルに
よって発生される磁気の電界を表している。次の半サイクルの間、S及びNの磁
極が交替する。
【0034】 コイルのアレイ30からの交互の有極性磁界が発生する磁界は、「近距離場」
(すなわち、チャンバリッド10に最も近い)に発生され、この近距離場は、図
7に磁界ライン120で表されるように、「カスプ」パターンを有している。従
って、RF電源32によって提供される電力は、チャンバリッド10に隣接したプ
ロセス混合ガスに結合して、プラズマの密度を高める。
(すなわち、チャンバリッド10に最も近い)に発生され、この近距離場は、図
7に磁界ライン120で表されるように、「カスプ」パターンを有している。従
って、RF電源32によって提供される電力は、チャンバリッド10に隣接したプ
ロセス混合ガスに結合して、プラズマの密度を高める。
【0035】 任意の隣接し合う2つのコイルの隣辺44がおよそ平行となるよう、各コイル
はくさび形である。リッドの中央を除いて、方位角方向に隣接する2つのコイル
の間の方位角のギャップ「W」は、全ての半径方向の位置においてほぼ同じであ るので、これらコイルが、半径方向の均一性に優れた磁界を発生できる。
はくさび形である。リッドの中央を除いて、方位角方向に隣接する2つのコイル
の間の方位角のギャップ「W」は、全ての半径方向の位置においてほぼ同じであ るので、これらコイルが、半径方向の均一性に優れた磁界を発生できる。
【0036】 誘導コイルアレイ30の底部からの距離が増えることにより、反対の極性を有
する磁界ライン同士が相殺されるので、磁界強度は無視してよいレベルまで迅速
に下がる。ここで、その磁界強度がリッドに隣接した磁界強度より少なくとも1
〜2桁小さくなるに十分コイルアレイの底部から離れているようなチャンバ内の
領域を、「遠距離場」と呼ぶことにする。また、磁気のカスプ磁場120がチャ
ンバ内まで延びる距離のことを、「浸透距離」と呼ぶことにし、即ちこの浸透距
離は、「近距離場」の深さこのとである。
する磁界ライン同士が相殺されるので、磁界強度は無視してよいレベルまで迅速
に下がる。ここで、その磁界強度がリッドに隣接した磁界強度より少なくとも1
〜2桁小さくなるに十分コイルアレイの底部から離れているようなチャンバ内の
領域を、「遠距離場」と呼ぶことにする。また、磁気のカスプ磁場120がチャ
ンバ内まで延びる距離のことを、「浸透距離」と呼ぶことにし、即ちこの浸透距
離は、「近距離場」の深さこのとである。
【0037】 好ましくは、半導体ワークピース(カソード電極16の上に装着されている)
は、磁界強度が無視できるような遠距離場の中に配置されるに十分に、誘導コイ
ルアレイ30から離れている。このことは、2つの理由から有利である。
は、磁界強度が無視できるような遠距離場の中に配置されるに十分に、誘導コイ
ルアレイ30から離れている。このことは、2つの理由から有利である。
【0038】 第1の理由は、半導体ワークピースにおける磁界を最小にすることにより、ワ
ークピースの上に製造される半導体デバイスにダメージを与える危険性を最小に
するのに役立つからであり、これは、磁界も最小にすることの重要性が、実行さ
れている半導体製造プロセスの他のパラメータ及びワークピースの上ですでに製
造された誘電体及び半導体構造体の上に依存するにもかかわらずである。
ークピースの上に製造される半導体デバイスにダメージを与える危険性を最小に
するのに役立つからであり、これは、磁界も最小にすることの重要性が、実行さ
れている半導体製造プロセスの他のパラメータ及びワークピースの上ですでに製
造された誘電体及び半導体構造体の上に依存するにもかかわらずである。
【0039】 第2に、コイルアレイから実質的に浸透距離よりも長い距離にワークピースを
配置することにより、近距離場の磁界強度における局所化された空間的不均一性
の影響を取り除くということである。具体的に我々は、プラズマグローが最も明
るいことに気付き、これは隣接し合うコイルの間のギャップの近くで、磁界が最
も強いことを示す。コイルアレイの配置がワークピースに近すぎる場合は、ワー
クピースにおけるプロセス速度は、コイル間のギャップに対応してピークを、そ
してコイル中心に対応して谷間を、それぞれ示すだろう。逆に、磁界の浸透距離
以上に距離を増やすことにより、プラズマ密度の均一性は拡散により漸次的に向
上する。したがって、ワークピースが浸透距離を実質的に超えるように配置され
る場合は、半導体製造プロセスは優れた空間の均一性を実現することができる。
配置することにより、近距離場の磁界強度における局所化された空間的不均一性
の影響を取り除くということである。具体的に我々は、プラズマグローが最も明
るいことに気付き、これは隣接し合うコイルの間のギャップの近くで、磁界が最
も強いことを示す。コイルアレイの配置がワークピースに近すぎる場合は、ワー
クピースにおけるプロセス速度は、コイル間のギャップに対応してピークを、そ
してコイル中心に対応して谷間を、それぞれ示すだろう。逆に、磁界の浸透距離
以上に距離を増やすことにより、プラズマ密度の均一性は拡散により漸次的に向
上する。したがって、ワークピースが浸透距離を実質的に超えるように配置され
る場合は、半導体製造プロセスは優れた空間の均一性を実現することができる。
【0040】 誘導コイルアレイが近距離場でプラズマ密度を高めるため、遠距離場内のプラ
ズマ密度(コイルアレイからの磁界の浸透距離を実質的に越えている)は近距離
場内のプラズマ密度より一般に低い。従って、ワークピースが浸透距離よりも遠
くに配置されれば、ワークピースのプロセス速度が低減されるという望ましくな
い結果を得る。例えば、シリコンウエハ上の酸化シリコン膜をエッチングするた
めのプロセスを用いて実行される試験では、コイルアレイとワークピース(ウエ
ハ)を近接して置いた場合に、エッチング速度が望ましく増加したことを見出し
た。従って、ワークピースの装着位置及びコイルアレイの浸透距離を設計するこ
とは、ワークピースが浸透距離に近づく場合にプロセス速度が向上することと、
ワークピースが浸透距離を越えてより遠くにある場合はプロセス空間の均一性が
向上することとの間のバランスをとることである。
ズマ密度(コイルアレイからの磁界の浸透距離を実質的に越えている)は近距離
場内のプラズマ密度より一般に低い。従って、ワークピースが浸透距離よりも遠
くに配置されれば、ワークピースのプロセス速度が低減されるという望ましくな
い結果を得る。例えば、シリコンウエハ上の酸化シリコン膜をエッチングするた
めのプロセスを用いて実行される試験では、コイルアレイとワークピース(ウエ
ハ)を近接して置いた場合に、エッチング速度が望ましく増加したことを見出し
た。従って、ワークピースの装着位置及びコイルアレイの浸透距離を設計するこ
とは、ワークピースが浸透距離に近づく場合にプロセス速度が向上することと、
ワークピースが浸透距離を越えてより遠くにある場合はプロセス空間の均一性が
向上することとの間のバランスをとることである。
【0041】 プラズマ密度は、ワークピースの近くでの半径方向の分配とは全く異なる半径
方向の分配を、コイルアレイ30の近くで有する。具体的には、プラズマからの
イオンがワークピースの方へコイルアレイの近傍から移る際、チャンバの周囲(
及びワークピースの周囲)の近くのプラズマ密度は、チャンバ側壁12でイオン
の再結合によって減らされる傾向がある。従って、好ましくは、ワークピースの
近くにおけるプラズマ密度の半径方向の均一性を最大にするために、コイルアレ
イの磁界パターンは、密度が半径方向に不均一であるプラズマを発生する必要が
あり、具体的には、このプラズマの密度がコイルアレイの周囲の近くでは、コイ
ルアレイの中央よりも強くなる必要がある。従って、例示された好ましい具体例
では、コイルアレイ30は、コイルアレイの周囲の近くで最大のRF磁界を発生す
るよう、誘導コイルなしの中央領域を有する。プラズマ種がコイルアレイの近傍
からワークピースの方へ移動する際の側方拡散により、中心軸の近くでプラズマ
密度が増加し、ワークピースに隣接して半径方向に一様なプラズマ密度が形成さ
れる。
方向の分配を、コイルアレイ30の近くで有する。具体的には、プラズマからの
イオンがワークピースの方へコイルアレイの近傍から移る際、チャンバの周囲(
及びワークピースの周囲)の近くのプラズマ密度は、チャンバ側壁12でイオン
の再結合によって減らされる傾向がある。従って、好ましくは、ワークピースの
近くにおけるプラズマ密度の半径方向の均一性を最大にするために、コイルアレ
イの磁界パターンは、密度が半径方向に不均一であるプラズマを発生する必要が
あり、具体的には、このプラズマの密度がコイルアレイの周囲の近くでは、コイ
ルアレイの中央よりも強くなる必要がある。従って、例示された好ましい具体例
では、コイルアレイ30は、コイルアレイの周囲の近くで最大のRF磁界を発生す
るよう、誘導コイルなしの中央領域を有する。プラズマ種がコイルアレイの近傍
からワークピースの方へ移動する際の側方拡散により、中心軸の近くでプラズマ
密度が増加し、ワークピースに隣接して半径方向に一様なプラズマ密度が形成さ
れる。
【0042】 チャンバ側壁12の近くでさらにプラズマ密度を最大にするために、コイルア
レイの直径は、チャンバの直径に近いか又はこれよりも大きくなることが好まし
い。例示された好ましい具体例では、コイルの外の端部53をカバー58に対し
てできるだけ近づけて配置することにより、これが実現される。有利なことに、
我々のデザインでは、カバー又は側壁に大きい渦電流を誘導することなく、カバ
ー58又はチャンバ側壁12の近くにコイルが配置できるようになる。
レイの直径は、チャンバの直径に近いか又はこれよりも大きくなることが好まし
い。例示された好ましい具体例では、コイルの外の端部53をカバー58に対し
てできるだけ近づけて配置することにより、これが実現される。有利なことに、
我々のデザインでは、カバー又は側壁に大きい渦電流を誘導することなく、カバ
ー58又はチャンバ側壁12の近くにコイルが配置できるようになる。
【0043】 RF電源32から電力が熱として消散し、それによってプラズマに結合される電
力が低減されるので、渦電流は望ましくない。我々のデザインでは、個々のコイ
ル40または42が、チャンバ壁に渦電流を誘導する傾向があるという意味では
、全体のコイルアレイ30によって誘導される累積的渦電流は最小になり、何故
なら、隣接したコイルが反対の極性の磁界を有しており、従って反対の極性の渦
電流を誘導するからである。従って、従来の誘導コイルデザインの多くとは対照
的に、隣接し合うコイルによって誘導される渦電流は、渦電流がチャンバ壁12
の周囲のまわりで循環しないよう、お互いを補強するよりむしろお互いを相殺す
る傾向がある。
力が低減されるので、渦電流は望ましくない。我々のデザインでは、個々のコイ
ル40または42が、チャンバ壁に渦電流を誘導する傾向があるという意味では
、全体のコイルアレイ30によって誘導される累積的渦電流は最小になり、何故
なら、隣接したコイルが反対の極性の磁界を有しており、従って反対の極性の渦
電流を誘導するからである。従って、従来の誘導コイルデザインの多くとは対照
的に、隣接し合うコイルによって誘導される渦電流は、渦電流がチャンバ壁12
の周囲のまわりで循環しないよう、お互いを補強するよりむしろお互いを相殺す
る傾向がある。
【0044】 例示された好ましい具体例が、8インチ径のシリコンウエハを製造するための
プラズマチャンバに対して実行された。この具体例では、コイルアレイの直径は
12インチ(30cm)であり、各コイルの軸長または高さは2インチ(5cm)で
ある。隣接し合うコイルの平行面44の間のギャップWは、1.25インチ(3 .2cm)である。対立しているコイルのチップ55の間では、コイルアレイの
中央領域の直径Dは3.9インチ(9.9cm)である。各コイルは、銅線43の 33/4ターンを有する。アルミナセラミックリッド10は、直径12インチ(
30cm)、厚さ0.65インチ(1.65cm)である。カソード電極16は、リ
ッドの下の3インチ(7.6cm)に、8インチのシリコンウエハを支持する。
8インチのシリコンウエハの上の酸化シリコン層をエッチングするための標準プ
ロセスを用いるこの具体例の試験では、エッチングは、空間的に一様であったと
考えられ、フェライトコアの形状又はくさび形のコイルに対応するエッチングパ
ターンは視覚的に認められなかった。1-シグマ空間の不平等性を測定したが、 これは1パーセント(3mmの端部排除で)に等しいエッチング速度であった。こ
のように優れたエッチング速度均一性の観察値及び測定値は、ウエハでの磁界強
度が無視できることを意味する、また、リッドに隣接した磁界の均一性は少なく
とも、ウエハ上で優れたプロセス均一性を実現するために必要な程度であったこ
とを意味する。
プラズマチャンバに対して実行された。この具体例では、コイルアレイの直径は
12インチ(30cm)であり、各コイルの軸長または高さは2インチ(5cm)で
ある。隣接し合うコイルの平行面44の間のギャップWは、1.25インチ(3 .2cm)である。対立しているコイルのチップ55の間では、コイルアレイの
中央領域の直径Dは3.9インチ(9.9cm)である。各コイルは、銅線43の 33/4ターンを有する。アルミナセラミックリッド10は、直径12インチ(
30cm)、厚さ0.65インチ(1.65cm)である。カソード電極16は、リ
ッドの下の3インチ(7.6cm)に、8インチのシリコンウエハを支持する。
8インチのシリコンウエハの上の酸化シリコン層をエッチングするための標準プ
ロセスを用いるこの具体例の試験では、エッチングは、空間的に一様であったと
考えられ、フェライトコアの形状又はくさび形のコイルに対応するエッチングパ
ターンは視覚的に認められなかった。1-シグマ空間の不平等性を測定したが、 これは1パーセント(3mmの端部排除で)に等しいエッチング速度であった。こ
のように優れたエッチング速度均一性の観察値及び測定値は、ウエハでの磁界強
度が無視できることを意味する、また、リッドに隣接した磁界の均一性は少なく
とも、ウエハ上で優れたプロセス均一性を実現するために必要な程度であったこ
とを意味する。
【0045】 磁界の形状及び均一性は、次の次元の相対値によって影響を受ける。コイルの
軸長または高さ「H」、隣接し合うコイルの間の方位角のギャップ「W」、コイル
に占められていないコイルアレイの中央領域の直径「D」、即ち、半径方向の反 対側のコイルチップにより画される直径(図2及び図5を参照)、そして、方位
角方向に隣接し合うコイルの角方向の中心間距離である。
軸長または高さ「H」、隣接し合うコイルの間の方位角のギャップ「W」、コイル
に占められていないコイルアレイの中央領域の直径「D」、即ち、半径方向の反 対側のコイルチップにより画される直径(図2及び図5を参照)、そして、方位
角方向に隣接し合うコイルの角方向の中心間距離である。
【0046】 方位角方向に隣接し合うコイルの間の方位角方向のギャップW及び角方向の中 心間距離は重要なデザインパラメータであり、それは、磁気のカスプ磁場がチャ
ンバリッド10の下のチャンバ内部100まで延びる「浸透距離」にこれらが影
響を及ぼすからである。コイル間の方位角のギャップW又はコイル間角方向中心 間距離を増加させることにより、典型的には磁界の浸透距離が増加する。誘導コ
イルアレイ30を設計する際、典型的には、磁界の浸透距離を最適化することが
、方位角のギャップを選択することの主要な考慮事項である。
ンバリッド10の下のチャンバ内部100まで延びる「浸透距離」にこれらが影
響を及ぼすからである。コイル間の方位角のギャップW又はコイル間角方向中心 間距離を増加させることにより、典型的には磁界の浸透距離が増加する。誘導コ
イルアレイ30を設計する際、典型的には、磁界の浸透距離を最適化することが
、方位角のギャップを選択することの主要な考慮事項である。
【0047】 磁界の浸透距離の最適化のためには、プロセス速度の考慮と空間均一性の考慮
をバランスさせる。浸透距離を増加させることは有利であり、何故ならRF電力が
結合されるリッドの下にあるプラズマの容量を増加させるからである。しかし、
浸透距離を低減すれば、半導体ワークピースを磁界が無視できる遠距離場の中に
止めつつ、半導体ワークピースをコイルアレイ30に近接して配置することがで
きるため、有利である。所与の浸透距離に対して、ワークピースの距離が浸透距
離よりも大きくなれば、先に述べたようにプロセス速度及び空間の均一性に影響
を及ぼす。
をバランスさせる。浸透距離を増加させることは有利であり、何故ならRF電力が
結合されるリッドの下にあるプラズマの容量を増加させるからである。しかし、
浸透距離を低減すれば、半導体ワークピースを磁界が無視できる遠距離場の中に
止めつつ、半導体ワークピースをコイルアレイ30に近接して配置することがで
きるため、有利である。所与の浸透距離に対して、ワークピースの距離が浸透距
離よりも大きくなれば、先に述べたようにプロセス速度及び空間の均一性に影響
を及ぼす。
【0048】 ここに説明した具体例のように、ワークピースがリッドの下3インチである場
合でも、ワークピースでの磁界強度は無視できることを見出し、これはここに説
明した試験のエッチレイトで有意な方位変化がないことにより立証された。従っ
て、磁界の有効浸透距離は、3インチ未満である必要がある。
合でも、ワークピースでの磁界強度は無視できることを見出し、これはここに説
明した試験のエッチレイトで有意な方位変化がないことにより立証された。従っ
て、磁界の有効浸透距離は、3インチ未満である必要がある。
【0049】 例示された好ましい具体例では、チャンバリッド10の方位角のまわりで離間
される8つくさび形のコイル40、42を使用する。従って、隣接し合うコイル
間の角方向の中心間距離は、360°の1/8 = 45°である。コイルの数を増や
しコイル間の角方向間隔を低減することは、2点の影響を生じるだろう。第1に
、ワークピースの近くでプラズマの方位角の均一性を改良するだろう。第2に、
コイル間の方位角のギャップWが、コイル間の角方向間隔の減少に比例して減少 する場合は、チャンバへの磁界の浸透距離は、先に述べたように減少するだろう
。 方位角のギャップW又は角方向の中心間距離を調節することにより磁界の浸透距 離を調整するこれまでの説明では、図7の磁界ライン120で示すように、コイ
ルにより発生される磁界が、隣接し合うコイルの間のギャップの中に主に現れる
ことを仮定しており、これは隣接し合うコイルが反対の極性ではなく同じ極性を
有するケースで生じるように各コイルの真下にあるのではない。
される8つくさび形のコイル40、42を使用する。従って、隣接し合うコイル
間の角方向の中心間距離は、360°の1/8 = 45°である。コイルの数を増や
しコイル間の角方向間隔を低減することは、2点の影響を生じるだろう。第1に
、ワークピースの近くでプラズマの方位角の均一性を改良するだろう。第2に、
コイル間の方位角のギャップWが、コイル間の角方向間隔の減少に比例して減少 する場合は、チャンバへの磁界の浸透距離は、先に述べたように減少するだろう
。 方位角のギャップW又は角方向の中心間距離を調節することにより磁界の浸透距 離を調整するこれまでの説明では、図7の磁界ライン120で示すように、コイ
ルにより発生される磁界が、隣接し合うコイルの間のギャップの中に主に現れる
ことを仮定しており、これは隣接し合うコイルが反対の極性ではなく同じ極性を
有するケースで生じるように各コイルの真下にあるのではない。
【0050】 大きさについて上で述べた好ましい具体例では、方位角のギャップWとコイル 高さHの比は約1.6であり、即ちH:W = 1.6:1である。また、方位角のギ
ャップWが1.25インチから5インチまで増加した具体例の試験を行い、ギャ ップコイル高さより2.5倍大きくなり、比が逆になり、即ちH:W = 1:2. 5となった。この試験では、各コイル真下のワークピースの領域で最大エッチレ
イトの領域を示した。これは、各コイルによって発生される磁界が、コイルの下
で集中したことを示すH:W = 1:2.5の場合であり、隣接し合うコイルの間 に延びるH:W = 1.6:1の場合ではない。
ャップWが1.25インチから5インチまで増加した具体例の試験を行い、ギャ ップコイル高さより2.5倍大きくなり、比が逆になり、即ちH:W = 1:2. 5となった。この試験では、各コイル真下のワークピースの領域で最大エッチレ
イトの領域を示した。これは、各コイルによって発生される磁界が、コイルの下
で集中したことを示すH:W = 1:2.5の場合であり、隣接し合うコイルの間 に延びるH:W = 1.6:1の場合ではない。
【0051】 この結果から推論すれば、H:Wが1よりも大きくなることが好ましく、即ち、
軸方向のコイル長さ又は高さが、隣接し合うコイルの間の方位角のギャップWよ りも大きくなる必要があり、これは、それは各コイルの真下に集中するのではな
くコイル間のギャップの中に一様に延びる磁界パターンを発生するためである。
このパターンは、ワークピースの近くに最良のプラズマ空間均一性を提供すると
考えられ、また、先述したように磁界の浸透距離の調整を可能にすると考えられ
る。
軸方向のコイル長さ又は高さが、隣接し合うコイルの間の方位角のギャップWよ りも大きくなる必要があり、これは、それは各コイルの真下に集中するのではな
くコイル間のギャップの中に一様に延びる磁界パターンを発生するためである。
このパターンは、ワークピースの近くに最良のプラズマ空間均一性を提供すると
考えられ、また、先述したように磁界の浸透距離の調整を可能にすると考えられ
る。
【0052】 中央領域の直径Dが隣接し合うコイルの間の方位角のギャップWと比べてあまり
に大きい場合は、コイルアレイの中心の近くに磁界強度の低下部分が存在するだ
ろう。上述の通り、D = 3.9インチW =1.25インチで優れたプロセス均一 性を観測した。逆に、直径Dが方位角のギャップWに匹敵する値又はそれ以下に実
質的に減らされる場合は、全てのコイルは、我々が試験ないし分析しなかった複
雑な方法で、強く相互作用するに十分に近づくだろう。従って、現時点で我々は
、形成されている磁界のパターンを予測することができない。
に大きい場合は、コイルアレイの中心の近くに磁界強度の低下部分が存在するだ
ろう。上述の通り、D = 3.9インチW =1.25インチで優れたプロセス均一 性を観測した。逆に、直径Dが方位角のギャップWに匹敵する値又はそれ以下に実
質的に減らされる場合は、全てのコイルは、我々が試験ないし分析しなかった複
雑な方法で、強く相互作用するに十分に近づくだろう。従って、現時点で我々は
、形成されている磁界のパターンを予測することができない。
【0053】 我々の発明の1の利点は、任意の2つの隣接し合うコイルによって貢献される
プラズマ励起が、この2つのコイルの近傍に局所化されるので、異なるプロセス
及び異なるチャンバサイズのためのデザイン及び形状を最適化することが容易で
あるという点である。例えば、空間の均一性を最大にするため、プラズマ密度又
はプロセス速度が最も低いか最も高い半導体ワークピース領域に最も近いコイル
によって発生される磁界を増減することによって、我々のデザインを容易に最適
化できる。別の例では、我々のデザインは、単に多くのコイルを加える事と、各
コイルのサイズを増加する事の一方又は双方により、大型のチャンバに適合させ
ることが可能である。
プラズマ励起が、この2つのコイルの近傍に局所化されるので、異なるプロセス
及び異なるチャンバサイズのためのデザイン及び形状を最適化することが容易で
あるという点である。例えば、空間の均一性を最大にするため、プラズマ密度又
はプロセス速度が最も低いか最も高い半導体ワークピース領域に最も近いコイル
によって発生される磁界を増減することによって、我々のデザインを容易に最適
化できる。別の例では、我々のデザインは、単に多くのコイルを加える事と、各
コイルのサイズを増加する事の一方又は双方により、大型のチャンバに適合させ
ることが可能である。
【0054】 また別の例では、我々のデザインは、円形のアレイではなく方形又は行列のア
レイでコイルを整列させることにより、方形のフラットパネルディスプレイ用の
方形のチャンバに適合させることが可能である。ワークピースの近くでプラズマ
密度の横の均一性を最大にするため、隣接し合うコイル間の周囲の横方向又は横
のスペーシングWは、隣接し合うコイルのあらゆる対に対して等しくなければな らない。円形の半導体ウエハを製造するために用いられる円形の横断面を有する
前述のチャンバでは、この均等なスペーシング「W」を得るには、くさび形のコ イルを用いるのが最良である。方形の半導体ワークピースの製造用の方形の横断
面を有するチャンバでは、コイルの周囲のギャップ「W」が均等である場合に、 均等なスペーシング「W」は各誘導コイルの形には無関係に得ることができる。 図14は、コイルが円筒状、すなわち各コイルが円形の横断面を有する誘導コイ
ル40、42の方形のアレイを例示する。図15は、各コイルが方形の横断面を
有する方形のアレイを例示する。
レイでコイルを整列させることにより、方形のフラットパネルディスプレイ用の
方形のチャンバに適合させることが可能である。ワークピースの近くでプラズマ
密度の横の均一性を最大にするため、隣接し合うコイル間の周囲の横方向又は横
のスペーシングWは、隣接し合うコイルのあらゆる対に対して等しくなければな らない。円形の半導体ウエハを製造するために用いられる円形の横断面を有する
前述のチャンバでは、この均等なスペーシング「W」を得るには、くさび形のコ イルを用いるのが最良である。方形の半導体ワークピースの製造用の方形の横断
面を有するチャンバでは、コイルの周囲のギャップ「W」が均等である場合に、 均等なスペーシング「W」は各誘導コイルの形には無関係に得ることができる。 図14は、コイルが円筒状、すなわち各コイルが円形の横断面を有する誘導コイ
ル40、42の方形のアレイを例示する。図15は、各コイルが方形の横断面を
有する方形のアレイを例示する。
【0055】 リッド10の温度を調整することは、少なくとも2つの理由で重要である。第
1に、リッド(及びプラズマに曝露される他のチャンバ面の)の温度は、プラズ
マプロセスの性能に強い影響を及ぼす。従って、リッドの温度は、始終一貫した
プロセス性能を確実にするために調整されなければならない。第2に、リッド上
にポリマーが不可避的に堆積するプロセスでは、過多な温度変動によって、ポリ
マーが剥がれ落ちワークピースを汚染するようになる。
1に、リッド(及びプラズマに曝露される他のチャンバ面の)の温度は、プラズ
マプロセスの性能に強い影響を及ぼす。従って、リッドの温度は、始終一貫した
プロセス性能を確実にするために調整されなければならない。第2に、リッド上
にポリマーが不可避的に堆積するプロセスでは、過多な温度変動によって、ポリ
マーが剥がれ落ちワークピースを汚染するようになる。
【0056】 プラズマがチャンバの中に存在する間、リッドの温度は上昇する傾向があり、
これは、プラズマからの熱の吸収及びコイル40、42からの熱及びRFエネル
ギーの吸収による。逆に、ワークピースがチャンバに搬入出の最中にプラズマが
オフにされている間、リッドの温度は降下する。
これは、プラズマからの熱の吸収及びコイル40、42からの熱及びRFエネル
ギーの吸収による。逆に、ワークピースがチャンバに搬入出の最中にプラズマが
オフにされている間、リッドの温度は降下する。
【0057】 リッドの温度を調整するために、リッドの我々の好ましい具体例ではチャンネ
ル(図示されない)を有し、このチャンネルの中を誘電冷却流体、好ましくは脱
イオン水とエチレングリコールの混合物がポンプ輸送される。外部の制御システ
ムは、冷却流体の温度を50℃に調整する。
ル(図示されない)を有し、このチャンネルの中を誘電冷却流体、好ましくは脱
イオン水とエチレングリコールの混合物がポンプ輸送される。外部の制御システ
ムは、冷却流体の温度を50℃に調整する。
【0058】 例示された好ましい具体例の場合のように各コイル40、42が磁気コア52
を有する場合、磁性体材料の大部分の透磁率が温度従属性を有するので、磁気コ
アの温度を調整することは重要である。大部分のフェライト材について、透磁率
は特定の閾値温度での最大値までは昇温と共に増加し、閾値より高い温度では低
下する。我々の好ましい具体例で用いられる特定のマンガン-亜鉛フェライトの 閾値温度は、約100℃である。
を有する場合、磁性体材料の大部分の透磁率が温度従属性を有するので、磁気コ
アの温度を調整することは重要である。大部分のフェライト材について、透磁率
は特定の閾値温度での最大値までは昇温と共に増加し、閾値より高い温度では低
下する。我々の好ましい具体例で用いられる特定のマンガン-亜鉛フェライトの 閾値温度は、約100℃である。
【0059】 磁気コアの温度がこの閾値温度より高くなれば、温度が制御できずに高くなる
(熱暴走する)が、これは、磁気コアの温度が増加すればこれらの透磁率を低減
するからであり、これは、各コイルのインダクタンスを低減し、そしてこれは、
各コイルを流れる電流を増加し、それゆえこのコイルを流れる電流の増加により
コアの温度を更に上昇させる。このような熱暴走を防止するため、磁気コアの温
度をこの閾値温度よりも低く維持することが非常に好ましい。
(熱暴走する)が、これは、磁気コアの温度が増加すればこれらの透磁率を低減
するからであり、これは、各コイルのインダクタンスを低減し、そしてこれは、
各コイルを流れる電流を増加し、それゆえこのコイルを流れる電流の増加により
コアの温度を更に上昇させる。このような熱暴走を防止するため、磁気コアの温
度をこの閾値温度よりも低く維持することが非常に好ましい。
【0060】 この閾値温度よりも低く磁気コア52を維持すること以上に、この温度変動を
実際可能な限り制限するためにコアの温度を調整することが好ましい。温度変動
がコイル40、42のインダクタンスを変えるので、インピーダンス整合ネット
ワーク31の可変インダクタと可変コンデンサの一方又は両方を調整して、RF電
源32からプラズマに結合されるRF電力を一定のレベルに維持するようにしなけ
ればならない。従来の整合ネットワーク31は、自動的に及び連続的に必要な調
整を実行することができる。しかし、磁気コアの温度の変動が許容される範囲を
広く取れば、インピーダンス整合ネットワークの可変インダクタと可変コンデン
サの一方又は両方に要する調整の範囲も広くなり、その結果、可変インダクタや
可変コンデンサのコストが増加する。従って、整合ネットワークのコストを最小
にするために、実際可能な限りこの温度変動を制限するためにコアの温度を調整
することが好ましい。
実際可能な限り制限するためにコアの温度を調整することが好ましい。温度変動
がコイル40、42のインダクタンスを変えるので、インピーダンス整合ネット
ワーク31の可変インダクタと可変コンデンサの一方又は両方を調整して、RF電
源32からプラズマに結合されるRF電力を一定のレベルに維持するようにしなけ
ればならない。従来の整合ネットワーク31は、自動的に及び連続的に必要な調
整を実行することができる。しかし、磁気コアの温度の変動が許容される範囲を
広く取れば、インピーダンス整合ネットワークの可変インダクタと可変コンデン
サの一方又は両方に要する調整の範囲も広くなり、その結果、可変インダクタや
可変コンデンサのコストが増加する。従って、整合ネットワークのコストを最小
にするために、実際可能な限りこの温度変動を制限するためにコアの温度を調整
することが好ましい。
【0061】 この好ましい具体例では、我々は2つの手段によってフェライトコア52を冷
却する。第1は、ファン(図示されず)がコイルアレイ30の上方に装着され、
コイルアレイに下向きに比較的低温の雰囲気空気を吹きつける。冷却は、中空で
かつ方位角側44で開いている巻型50によって容易になされ、これによりフェ
ライトコアのこの側は低温の空気に完全に曝露されるようになる。第2は、チャ
ンバリッド10の前述の温度調整により、リッド及び巻型54とベースプレート
56の両方の間の熱移動によるコイルアレイの冷却を補う。従って、我々はフェ
ライトコアの温度を20℃〜45℃の範囲内に維持する。
却する。第1は、ファン(図示されず)がコイルアレイ30の上方に装着され、
コイルアレイに下向きに比較的低温の雰囲気空気を吹きつける。冷却は、中空で
かつ方位角側44で開いている巻型50によって容易になされ、これによりフェ
ライトコアのこの側は低温の空気に完全に曝露されるようになる。第2は、チャ
ンバリッド10の前述の温度調整により、リッド及び巻型54とベースプレート
56の両方の間の熱移動によるコイルアレイの冷却を補う。従って、我々はフェ
ライトコアの温度を20℃〜45℃の範囲内に維持する。
【0062】 より積極的な冷却機構がより高いRF電力を必要とする他の用途に必要であるだ
ろう事が、考えられる。このような用途のために、我々はコイルアレイ30の強
制ガス冷却を採用する可能性を予想する。具体的には、我々はベースプレート5
6内に形成されるチャンネルに空気又は窒素ガスがポンプ輸送されることを予想
し、そこからガスは上方へと流れコイル40、42に至り、その後、コイルアレ
イより上に置かれるガス排気マニホルドによって排気される。
ろう事が、考えられる。このような用途のために、我々はコイルアレイ30の強
制ガス冷却を採用する可能性を予想する。具体的には、我々はベースプレート5
6内に形成されるチャンネルに空気又は窒素ガスがポンプ輸送されることを予想
し、そこからガスは上方へと流れコイル40、42に至り、その後、コイルアレ
イより上に置かれるガス排気マニホルドによって排気される。
【0063】 軸方向距離がコイルアレイ30から離れるに従い磁界強度が急に降下するため
、プラズマからコイルアレイを隔てる誘電体リッド10はできるだけ薄くすべき
であるが、容易にクラックが入るほど薄くない方がよく、そうでなければダメー
ジを受ける。前述のように、この好ましい具体例ではリッドは厚さ0.65イン
チである。好ましいリッドがそれほど厚い理由は、ここで説明した水冷チャンネ
ルを適応させるためである。我々は、冷却流路を削除することによってリッド厚
さがこの量の半分に減らされることを予想する。しかし、我々は先に述べたよう
に、リッドの温度を調整することの重要性のため、冷却チャンネルを削除するこ
とが非実用的であると考える。
、プラズマからコイルアレイを隔てる誘電体リッド10はできるだけ薄くすべき
であるが、容易にクラックが入るほど薄くない方がよく、そうでなければダメー
ジを受ける。前述のように、この好ましい具体例ではリッドは厚さ0.65イン
チである。好ましいリッドがそれほど厚い理由は、ここで説明した水冷チャンネ
ルを適応させるためである。我々は、冷却流路を削除することによってリッド厚
さがこの量の半分に減らされることを予想する。しかし、我々は先に述べたよう
に、リッドの温度を調整することの重要性のため、冷却チャンネルを削除するこ
とが非実用的であると考える。
【0064】 例示された具体例では、リッドのアルミナ材料がコイルアレイに堅くボルトで
締められる応力に確実に耐えるには十分強くないので、基部56は直接にリッド
10に固定されない。その代わりに、基部はメタルカバー58に取り付けられ、
カバーはチャンバ壁12に取り付けられる。このカバーの目的は、近くの他の電
気設備を妨害するコイルからのRF放射を単に防止するためであり、また、人間が
コイルに接触して感電される危険から保護するためである。更に具体的には、基
部は、4つのL形のねじ切り入り誘電引き分け57によって、メタルカバーに取 り付けられ、そしてそれは、基部56の周囲及びカバー58の対応する装着穴に
、ねじ59によって固定される。
締められる応力に確実に耐えるには十分強くないので、基部56は直接にリッド
10に固定されない。その代わりに、基部はメタルカバー58に取り付けられ、
カバーはチャンバ壁12に取り付けられる。このカバーの目的は、近くの他の電
気設備を妨害するコイルからのRF放射を単に防止するためであり、また、人間が
コイルに接触して感電される危険から保護するためである。更に具体的には、基
部は、4つのL形のねじ切り入り誘電引き分け57によって、メタルカバーに取 り付けられ、そしてそれは、基部56の周囲及びカバー58の対応する装着穴に
、ねじ59によって固定される。
【0065】 プロセス性能の整合性及び繰返し性を確実にするため、コイルアレイ30の中
心を正確にチャンバの中心軸にアラインメントすることが重要である。従って、
ここ説明した引き分け、留め金具及び装着穴は、チャンバに対しての基部56の
配置を決めるものであり、これらは厳密な寸法公差を有する必要がある。我々は
、数ミル即ち約0.1mmよりも小さな寸法公差を維持することが実用的であるこ
とを見出した。
心を正確にチャンバの中心軸にアラインメントすることが重要である。従って、
ここ説明した引き分け、留め金具及び装着穴は、チャンバに対しての基部56の
配置を決めるものであり、これらは厳密な寸法公差を有する必要がある。我々は
、数ミル即ち約0.1mmよりも小さな寸法公差を維持することが実用的であるこ
とを見出した。
【0066】 リッド10のアラインメントは、リッドが電気的に活性の構成要素を有しない
ので、コイルアレイのアラインメントほど重要でない。例示された好ましい具体
例では、リッドの周囲は、外側ライナ26の内方へ単に突き出る棚28の上に置
かれる。留め金具は、用いられず、チャンバが排気されるまで、リッドは自重だ
けで適所に保持される。チャンバ内に真空が形成される場合は、リッドの外側の
大気圧はリッドを適所にタイトに保持する。
ので、コイルアレイのアラインメントほど重要でない。例示された好ましい具体
例では、リッドの周囲は、外側ライナ26の内方へ単に突き出る棚28の上に置
かれる。留め金具は、用いられず、チャンバが排気されるまで、リッドは自重だ
けで適所に保持される。チャンバ内に真空が形成される場合は、リッドの外側の
大気圧はリッドを適所にタイトに保持する。
【0067】 プラズマチャンバの中に磁界強度を最大にするために、基部56をベース10
にできるだけ近く載置することが望ましい。基部を装着する我々の好ましい方法
では、リッドの上に直接に配置することが可能である。具体的には、ねじ59が
中に延びるカバー58の穴は垂直に延び、これにより、ねじがしっかりと締めら
れる前に、カバーに対してベース56が垂直に運動できるようにする。先ず、コ
イルアレイ30の全体は、カバーの穴の中にねじ59を伸ばし、引き分け57に
一部これらのねじを止めることにより、カバーにゆるく取り付けられる。次に、
基部56がリッド10の上に配置されるよう、できあがった組立体は、チャンバ
リッド上まで下げられる。最後に、カバーはチャンバにボルト締めされ、そして
コイルアレイのアラインメントをしっかりと維持するために、ねじ59がしっか
りと締められる。
にできるだけ近く載置することが望ましい。基部を装着する我々の好ましい方法
では、リッドの上に直接に配置することが可能である。具体的には、ねじ59が
中に延びるカバー58の穴は垂直に延び、これにより、ねじがしっかりと締めら
れる前に、カバーに対してベース56が垂直に運動できるようにする。先ず、コ
イルアレイ30の全体は、カバーの穴の中にねじ59を伸ばし、引き分け57に
一部これらのねじを止めることにより、カバーにゆるく取り付けられる。次に、
基部56がリッド10の上に配置されるよう、できあがった組立体は、チャンバ
リッド上まで下げられる。最後に、カバーはチャンバにボルト締めされ、そして
コイルアレイのアラインメントをしっかりと維持するために、ねじ59がしっか
りと締められる。
【0068】 図8〜10はそれぞれ、隣接し合うコイル40、42の各対に、反対の磁界極
性を発生するための3つの代替回路を示す。図面を単純化するため、図8〜9は
4つのコイル対のうち1つだけを示し、図10は4つのコイル対のうち2つだけ
を示す。図8〜10の3つ回路の全てにおいて、4つのコイル対は実際、インピ
ーダンス整合ネットワークの出力に相互に並列に接続している。図10は、相互
に並列に接続したコイル対110のうちの2対を示すことによって、4つのコイ
ル対の並列接続を例示する。
性を発生するための3つの代替回路を示す。図面を単純化するため、図8〜9は
4つのコイル対のうち1つだけを示し、図10は4つのコイル対のうち2つだけ
を示す。図8〜10の3つ回路の全てにおいて、4つのコイル対は実際、インピ
ーダンス整合ネットワークの出力に相互に並列に接続している。図10は、相互
に並列に接続したコイル対110のうちの2対を示すことによって、4つのコイ
ル対の並列接続を例示する。
【0069】 図8のデザインでは、8つのコイル40、42の全ては、電源32に並列に接
続し、従って電源は、各個々のコイルを流れる電流の8倍に等しい全電流をコイ
ルアレイに供給しなければならない。図9及び図10に示されるデザインでは、
隣接し合うコイル40a、42の対110のそれぞれは直列に接続し、よって得
られた4つの直列接続のコイル対は、電源32に並列に接続している。従って電
源は、各個々のコイルを流れる電流の4倍に等しい全電流をコイルアレイに供給
しなければならない。図9及び図10のデザインで要する電流の2倍の電流を供
給する電源を必要とするので、我々は図8デザインの方が望ましくないと考える
。
続し、従って電源は、各個々のコイルを流れる電流の8倍に等しい全電流をコイ
ルアレイに供給しなければならない。図9及び図10に示されるデザインでは、
隣接し合うコイル40a、42の対110のそれぞれは直列に接続し、よって得
られた4つの直列接続のコイル対は、電源32に並列に接続している。従って電
源は、各個々のコイルを流れる電流の4倍に等しい全電流をコイルアレイに供給
しなければならない。図9及び図10のデザインで要する電流の2倍の電流を供
給する電源を必要とするので、我々は図8デザインの方が望ましくないと考える
。
【0070】 多くの半導体製造プロセスに対して、プラズマからのイオンによるチャンバリ
ッドのスパッタリングを最小にするよう、できる限り第1の電源32からのRF電
力が容量的に(即ち静電的に)ではなく誘導的にプラズマに結合されることが望
ましい。図8〜10に示される配線案の全ては、各コイルの最も下のターンを電
気的アースポテンシャル又はその近傍に維持する利点を共有する。従って、各コ
イルのプラズマに最も近い部分は最も低いRF電圧を有し、そのためコイルとプラ
ズマの間の容量結合が低減される。
ッドのスパッタリングを最小にするよう、できる限り第1の電源32からのRF電
力が容量的に(即ち静電的に)ではなく誘導的にプラズマに結合されることが望
ましい。図8〜10に示される配線案の全ては、各コイルの最も下のターンを電
気的アースポテンシャル又はその近傍に維持する利点を共有する。従って、各コ
イルのプラズマに最も近い部分は最も低いRF電圧を有し、そのためコイルとプラ
ズマの間の容量結合が低減される。
【0071】 コイルとプラズマの間でさらに容量性の(静電の)結合を減らすことが要望さ
れる場合は、従来のファラデーシールドを誘導コイルアレイとチャンバ内部の間
に装備すべきである。
れる場合は、従来のファラデーシールドを誘導コイルアレイとチャンバ内部の間
に装備すべきである。
【0072】 図8の具体例では、第2のコイル42が時計回りに巻かれ、第1のコイル40
は逆時計回りに巻かれる。各コイルの最も下のターンは、電気的アースに接続し
ている。各コイルの最も上のターンは不均衡のインピーダンス整合ネットワーク
31の出力35に接続しており、これはRF電源32からその入力を受け取る。2
つのコイル40、42が反対方向に巻かれているため、同じRF電流によって駆動
される場合、これらはそれぞれ反対の極性の磁界を発生する。
は逆時計回りに巻かれる。各コイルの最も下のターンは、電気的アースに接続し
ている。各コイルの最も上のターンは不均衡のインピーダンス整合ネットワーク
31の出力35に接続しており、これはRF電源32からその入力を受け取る。2
つのコイル40、42が反対方向に巻かれているため、同じRF電流によって駆動
される場合、これらはそれぞれ反対の極性の磁界を発生する。
【0073】 図9及び図10の具体例では、コイル40a及び42は、同じ方向で巻かれて
おり、ここでは時計回りに例示されているが、適切であれば逆時計回りでもよい
。2つのコイルは、接合部39で第2のコイルの最低のターンに、第1のコイル
の最低のターンを接続することにより、直列に接続している。
おり、ここでは時計回りに例示されているが、適切であれば逆時計回りでもよい
。2つのコイルは、接合部39で第2のコイルの最低のターンに、第1のコイル
の最低のターンを接続することにより、直列に接続している。
【0074】 図9のデザインでは、2つの出力48、49の間の差し引きの出力信号(すな
わち差)を提供するインピーダンス整合ネットワーク31aを通して、RF電源3
2は各対の2つのコイルに接続している。整合ネットワークの第1の出力ターミ
ナル48は、第1のコイル40aの最も上のターンに接続しており、第2の出力
ターミナル49は、第2のコイル42の最も上のターンに接続している。一方の
コイルの電流フローの方向が他方のコイルの電流フローの方向と反対になるので
、2つのコイル40a及び42は、反対の極性の磁界を発生する。接地されたト
ランスセンタータップに対して整合ネットワークの2の出力が均衡を保たれるの
で、各コイル40a、42(これらは接合部39で接続される)の最も下のター
ンは電気的アースポテンシャルにある。
わち差)を提供するインピーダンス整合ネットワーク31aを通して、RF電源3
2は各対の2つのコイルに接続している。整合ネットワークの第1の出力ターミ
ナル48は、第1のコイル40aの最も上のターンに接続しており、第2の出力
ターミナル49は、第2のコイル42の最も上のターンに接続している。一方の
コイルの電流フローの方向が他方のコイルの電流フローの方向と反対になるので
、2つのコイル40a及び42は、反対の極性の磁界を発生する。接地されたト
ランスセンタータップに対して整合ネットワークの2の出力が均衡を保たれるの
で、各コイル40a、42(これらは接合部39で接続される)の最も下のター
ンは電気的アースポテンシャルにある。
【0075】 図9のデザインの見込まれる修正(図示されず)としては、トランス二次巻線
のセンタータップを除外することが考えられ、ここでは、誘導コイル40a、4
2は、アースに対して「フロート」しており、すなわち、二次巻線及び誘導コイ
ルをアースに接続する経路が存在しない。この代替的な「フロート」の実施例に
おいては、コイルアレイのレイアウトが、インピーダンス整合ネットワークの平
衡出力48、49に対して対称的であるので、各コイルの最も下のターン及び接
合部39は、電気的アースポテンシャルの近く維持されたままであるだろう。 図9デザインでは、インピーダンス整合ネットワーク31aは、平衡出力48、
49へ電源32の不平衡出力を変換するためにトランス38を使用する。図9デ
ザインの不利な点は、効率のよい高電力のRFトランス、即ちアーク発生なしで高
RF電圧に耐えることができ、高効率を実現するために十分に低い抵抗を有し、一
次巻き線と二次巻線の間に高い結合係数を有するようなトランスを設計すること
が難しいということである。
のセンタータップを除外することが考えられ、ここでは、誘導コイル40a、4
2は、アースに対して「フロート」しており、すなわち、二次巻線及び誘導コイ
ルをアースに接続する経路が存在しない。この代替的な「フロート」の実施例に
おいては、コイルアレイのレイアウトが、インピーダンス整合ネットワークの平
衡出力48、49に対して対称的であるので、各コイルの最も下のターン及び接
合部39は、電気的アースポテンシャルの近く維持されたままであるだろう。 図9デザインでは、インピーダンス整合ネットワーク31aは、平衡出力48、
49へ電源32の不平衡出力を変換するためにトランス38を使用する。図9デ
ザインの不利な点は、効率のよい高電力のRFトランス、即ちアーク発生なしで高
RF電圧に耐えることができ、高効率を実現するために十分に低い抵抗を有し、一
次巻き線と二次巻線の間に高い結合係数を有するようなトランスを設計すること
が難しいということである。
【0076】 図10は、各対の2つのコイル40a、42の間の接合部39がおよそ電気的
アースポテンシャルにあるように、各誘導コイル対110を駆動するための新規
な回路を示す。一対の平衡出力48〜49を有するインピーダンス整合ネットワ
ーク31aを必要とする図9のデザインとは対照的に、図10のデザインは、不
平衡出力35を有するあらゆる従来のインピーダンス整合ネットワーク31に有
効である。
アースポテンシャルにあるように、各誘導コイル対110を駆動するための新規
な回路を示す。一対の平衡出力48〜49を有するインピーダンス整合ネットワ
ーク31aを必要とする図9のデザインとは対照的に、図10のデザインは、不
平衡出力35を有するあらゆる従来のインピーダンス整合ネットワーク31に有
効である。
【0077】 具体的には、図10のデザインでは、第1の誘導コイル40aの「高温の」端
部(即ち第2のコイル42に接続していない方の第1のコイル40aの端部)は
整合ネットワーク31の出力35に接続しており、第2の誘導コイル42の「高
温の」端部はキャパシタ90を通して電気的アースに接続している。キャパシタ
90は、RF電源32の周波数でほぼ第2の誘導コイル42のインダクタンスで直
列共振をつくるように選ばれるキャパシタンス値を有する。この直列共振のため
、2つの誘導コイルの間の接合部39は電気的アースに近接する。キャパシタ9
0の容量性リアクタンスが第2のコイル42の誘導リアクタンスをほぼ相殺する
ので、インピーダンス整合ネットワーク31の出力35に接続した負荷インピー
ダンスは、第1のコイル40aのインダクタンスに、プラズマの負荷インピーダ
ンスを加えた(更にフェライトコアに放散される熱のためのより小さい抵抗成分
を加えた)ものにほぼ等しい。
部(即ち第2のコイル42に接続していない方の第1のコイル40aの端部)は
整合ネットワーク31の出力35に接続しており、第2の誘導コイル42の「高
温の」端部はキャパシタ90を通して電気的アースに接続している。キャパシタ
90は、RF電源32の周波数でほぼ第2の誘導コイル42のインダクタンスで直
列共振をつくるように選ばれるキャパシタンス値を有する。この直列共振のため
、2つの誘導コイルの間の接合部39は電気的アースに近接する。キャパシタ9
0の容量性リアクタンスが第2のコイル42の誘導リアクタンスをほぼ相殺する
ので、インピーダンス整合ネットワーク31の出力35に接続した負荷インピー
ダンスは、第1のコイル40aのインダクタンスに、プラズマの負荷インピーダ
ンスを加えた(更にフェライトコアに放散される熱のためのより小さい抵抗成分
を加えた)ものにほぼ等しい。
【0078】 誘導コイル対110が相互に並列に接続しているので、キャパシタ90がRF電
源の周波数で共鳴する際のインダクタンスは、全てのコイル対110のそれぞれ
の第2のコイル42の並列結合である。同一のコイル対がN個あるならば、N個
の第2のコイル42の結合インダクタンスは、1個の第2のコイル42のインダ
クタンスをNで除したものであろう。従って、キャパシタ90に要するキャパシ
タンスの値は、RF電源の周波数において第2のコイル42の1個と共鳴するキャ
パシタンスのN倍である(図1〜7の好ましい具体例では、4つのコイル対11
0があり、従ってN=4である)。
源の周波数で共鳴する際のインダクタンスは、全てのコイル対110のそれぞれ
の第2のコイル42の並列結合である。同一のコイル対がN個あるならば、N個
の第2のコイル42の結合インダクタンスは、1個の第2のコイル42のインダ
クタンスをNで除したものであろう。従って、キャパシタ90に要するキャパシ
タンスの値は、RF電源の周波数において第2のコイル42の1個と共鳴するキャ
パシタンスのN倍である(図1〜7の好ましい具体例では、4つのコイル対11
0があり、従ってN=4である)。
【0079】 あらゆる従来のインピーダンス整合ネットワーク31を用いることが可能であ
るが、図8及び図10は、整合ネットワークのために我々の好ましい回路を示し
、これは従来の「Lネットワーク」である。このネットワークは、電源32の5 0オームの抵抗出力インピーダンスに整合するためのプラズマ負荷インピーダン
スを変換する。可変の「負荷」キャパシタ91及び可変の「同調」インダクタ9
3は、従来の反射電力検出部によって測定されるように、RF電源32の出力にお
ける反射電力を最小にするようフィードバック制御ループにより調整されること
が好ましい。ネットワークが反射電力を最小限にするように調整される場合、3
つのキャパシタ90、91、92及び3つのインダクタ40a、42、93の直
列の結合がおよそRF電源32の周波数で共鳴するように、「同調」インダクタ9
3のインダクタンスが大まかに調整される。プラズマ負荷インピーダンスが変化
される入力インピーダンスは、「負荷」キャパシタ91の調整値により主に決定
される。
るが、図8及び図10は、整合ネットワークのために我々の好ましい回路を示し
、これは従来の「Lネットワーク」である。このネットワークは、電源32の5 0オームの抵抗出力インピーダンスに整合するためのプラズマ負荷インピーダン
スを変換する。可変の「負荷」キャパシタ91及び可変の「同調」インダクタ9
3は、従来の反射電力検出部によって測定されるように、RF電源32の出力にお
ける反射電力を最小にするようフィードバック制御ループにより調整されること
が好ましい。ネットワークが反射電力を最小限にするように調整される場合、3
つのキャパシタ90、91、92及び3つのインダクタ40a、42、93の直
列の結合がおよそRF電源32の周波数で共鳴するように、「同調」インダクタ9
3のインダクタンスが大まかに調整される。プラズマ負荷インピーダンスが変化
される入力インピーダンスは、「負荷」キャパシタ91の調整値により主に決定
される。
【0080】 あるいは、固定コンデンサ92を可変の「同調」キャパシタと取り替えること
ができ、その場合には、「同調」インダクタ93を除外してもよい。しかし、適
切な可変キャパシタは非常に高価であるため、我々はこの高電圧用途の可変イン
ダクタを可変キャパシタよりも好ましいと考える。また、代表的な高電圧可変キ
ャパシタの同調シャフトは回転摩擦が高いため、インピーダンス整合ネットワー
クを高速で同調する際の妨げになる。
ができ、その場合には、「同調」インダクタ93を除外してもよい。しかし、適
切な可変キャパシタは非常に高価であるため、我々はこの高電圧用途の可変イン
ダクタを可変キャパシタよりも好ましいと考える。また、代表的な高電圧可変キ
ャパシタの同調シャフトは回転摩擦が高いため、インピーダンス整合ネットワー
クを高速で同調する際の妨げになる。
【0081】 対照的に、「荷重」キャパシタ91のインピーダンスは非常に低く、それゆえ
に、このような高電圧に耐える必要はなく、経済性よく制作ないし製造すること
が可能である。Richard Mettらの1997年10月20日出願の米国特許出願0
8/954376、標題"High Efficiency Impedance Matching Network,"には 、可変の「負荷」キャパシタのための我々の好ましいデザインが説明されている
。 このコイルアレイ30の好ましい具体例では、8つの誘導コイル(すなわち4つ
のコイル対)を使用し、これら8つのコイルのそれぞれは3.6μHのインダク
タンスを有している。図9及び図10のデザインでは、誘導コイルの対40a、
42が直列に接続し、4つの対が並列に接続しており、インピーダンス整合ネッ
トワークの出力35とキャパシタ90の間に接続しているコイルアレイの全イン
ダクタンスは、1.8μHである。
に、このような高電圧に耐える必要はなく、経済性よく制作ないし製造すること
が可能である。Richard Mettらの1997年10月20日出願の米国特許出願0
8/954376、標題"High Efficiency Impedance Matching Network,"には 、可変の「負荷」キャパシタのための我々の好ましいデザインが説明されている
。 このコイルアレイ30の好ましい具体例では、8つの誘導コイル(すなわち4つ
のコイル対)を使用し、これら8つのコイルのそれぞれは3.6μHのインダク
タンスを有している。図9及び図10のデザインでは、誘導コイルの対40a、
42が直列に接続し、4つの対が並列に接続しており、インピーダンス整合ネッ
トワークの出力35とキャパシタ90の間に接続しているコイルアレイの全イン
ダクタンスは、1.8μHである。
【0082】 我々の現在好ましい具体例では図10の回路を用いるが、ここではRF電源の周
波数が13.56MHzであり、キャパシタ90が120pfであり、負荷キャパ シタ91は、30〜1300pfの可変キャパシタに並列な、450pfの固定キ
ャパシタであり、同調キャパシタ92は90pfであり、同調インダクタは0.
35〜0.70μHである。
波数が13.56MHzであり、キャパシタ90が120pfであり、負荷キャパ シタ91は、30〜1300pfの可変キャパシタに並列な、450pfの固定キ
ャパシタであり、同調キャパシタ92は90pfであり、同調インダクタは0.
35〜0.70μHである。
【0083】 前述のように、好ましい具体例では各誘導コイル40a、42は、33/4タ
ーンのワイヤを有する。以前のプロトタイプでは、各誘導コイルは、6ターンの
ワイヤを有していた。
ーンのワイヤを有する。以前のプロトタイプでは、各誘導コイルは、6ターンの
ワイヤを有していた。
【0084】 我々は、以前のプロトタイプのコイルアレイの浮遊容量が、アレイに約14MH
zの自己共振周波数を与え、これはRF電源32の周波数13.56MHzとほぼ同じ
であることを見出した。従って、あらゆるインピーダンス整合ネットワークにつ
いて電源出力インピーダンスにコイルアレイを整合させることは非常に困難であ
った。本発明の33/4ターンまで巻数を減らすことにより、自己共振周波数を
約28MHzまで上げた。この実験は、最適デザインがコイルアレイの物理的なレ イアウトにおける寄生インダクタンス及び寄生キャパシタンスによって影響を受
けることを例示する。
zの自己共振周波数を与え、これはRF電源32の周波数13.56MHzとほぼ同じ
であることを見出した。従って、あらゆるインピーダンス整合ネットワークにつ
いて電源出力インピーダンスにコイルアレイを整合させることは非常に困難であ
った。本発明の33/4ターンまで巻数を減らすことにより、自己共振周波数を
約28MHzまで上げた。この実験は、最適デザインがコイルアレイの物理的なレ イアウトにおける寄生インダクタンス及び寄生キャパシタンスによって影響を受
けることを例示する。
【0085】 直列接続コイルの各対(40、42)又は(40a、42)は随意、磁気によ
って対の2つのコイルの磁気コアに接続する磁気分流器(図示されず)がその上
部にある。このような分流器は、コイルよって発生される磁束を多少増やすこと
になるだろう。しかし、我々の実験では、分流器による利益は見られなかったた
め、分流器は好ましい具体例には含まれない。
って対の2つのコイルの磁気コアに接続する磁気分流器(図示されず)がその上
部にある。このような分流器は、コイルよって発生される磁束を多少増やすこと
になるだろう。しかし、我々の実験では、分流器による利益は見られなかったた
め、分流器は好ましい具体例には含まれない。
【0086】 前述のように、図1〜3に示される誘導コイルアレイは、アレイの中央のギャ
ップに誘導コイルがないにもかかわらず、テストされた半導体製造プロセスの優
れた空間の均一性を形成する。それでもなお、アレイの中央にコイルを加え磁界
パターンを変更することによって、プロセスの空間の均一性を向上することがで
きる用途が存在する。図11及び12は、代替誘導コイルアレイを示し、これは
、軸が周囲のコイル40、42の軸に平行である円筒形状のテフロン誘電体巻型
62に巻かれる円筒状の中心コイル60を加える。円筒状のフェライト磁心64
は、巻型62の中央の円筒キャビティの中を占めることが好ましい。
ップに誘導コイルがないにもかかわらず、テストされた半導体製造プロセスの優
れた空間の均一性を形成する。それでもなお、アレイの中央にコイルを加え磁界
パターンを変更することによって、プロセスの空間の均一性を向上することがで
きる用途が存在する。図11及び12は、代替誘導コイルアレイを示し、これは
、軸が周囲のコイル40、42の軸に平行である円筒形状のテフロン誘電体巻型
62に巻かれる円筒状の中心コイル60を加える。円筒状のフェライト磁心64
は、巻型62の中央の円筒キャビティの中を占めることが好ましい。
【0087】 中心コイルは、くさび形のコイル40、42に電力を供給する同じRF電源32
に接続している。中心コイル60がSコイル40と同期して又はNコイル42と
同期して接続されるかどうかは問題ではない。中心コイルの磁界強度は、所望の
磁界パターンを発生するために調整可能である。磁界の空間の均一性を最大にす
るか、ワークピースの上で実行される製造プロセスの空間の均一性を最大にする
よう、中心コイルの電界強度は、経験的に調整されることが好ましい。磁界強度
の調整は、コイルが巻かれるコアの中に用いられる鉄の材料の量又は組成を変え
ることにより、また、中心コイル60の中にワイヤの巻数を変えることにより、
または、他のコイルと比較して中心コイルに印加されるRF電力の量を調整するこ
とにより、行うことが可能である。
に接続している。中心コイル60がSコイル40と同期して又はNコイル42と
同期して接続されるかどうかは問題ではない。中心コイルの磁界強度は、所望の
磁界パターンを発生するために調整可能である。磁界の空間の均一性を最大にす
るか、ワークピースの上で実行される製造プロセスの空間の均一性を最大にする
よう、中心コイルの電界強度は、経験的に調整されることが好ましい。磁界強度
の調整は、コイルが巻かれるコアの中に用いられる鉄の材料の量又は組成を変え
ることにより、また、中心コイル60の中にワイヤの巻数を変えることにより、
または、他のコイルと比較して中心コイルに印加されるRF電力の量を調整するこ
とにより、行うことが可能である。
【0088】 図13は、コイルの2つの同心アレイを有する誘導コイルアレイの代替的な別
の具体例を示す。具体的には、この具体例では、図2具体例のくさび形のコイル
のそれぞれが、半径方向内側のコイル70と半径方向外側のコイル72に分割さ
れ、これらの間にはギャップがある。図13でS及びNの記号によって示される
ように、あらゆる方向で隣接し合うコイルが反対の極性を有するように選択され
た極性で、コイルは第1のRF電源に接続している。
の具体例を示す。具体的には、この具体例では、図2具体例のくさび形のコイル
のそれぞれが、半径方向内側のコイル70と半径方向外側のコイル72に分割さ
れ、これらの間にはギャップがある。図13でS及びNの記号によって示される
ように、あらゆる方向で隣接し合うコイルが反対の極性を有するように選択され
た極性で、コイルは第1のRF電源に接続している。
【0089】 図13の同心のコイルの具体例は、半導体ワークピース上で実行されるプロセ
スの空間的な均一性を最大にするため、あるいは他のプロセス性能パラメータを
最適化するために、独立に調整可能な多数の物理パラメータの余裕を持つ。例え
ば、独立に調整されることができる次元には、隣接し合う内側コイル70同士の
間の方位角方向のギャップや、隣接し合う外側コイル72同士の間の方位角方向
のギャップや、内側コイル70とこれに隣接した外側コイル72の間の半径方向
のギャップが含まれる。これらのパラメータ間の作用が複雑であるので、調整の
最適化は通常、経験的になされるだろう。
スの空間的な均一性を最大にするため、あるいは他のプロセス性能パラメータを
最適化するために、独立に調整可能な多数の物理パラメータの余裕を持つ。例え
ば、独立に調整されることができる次元には、隣接し合う内側コイル70同士の
間の方位角方向のギャップや、隣接し合う外側コイル72同士の間の方位角方向
のギャップや、内側コイル70とこれに隣接した外側コイル72の間の半径方向
のギャップが含まれる。これらのパラメータ間の作用が複雑であるので、調整の
最適化は通常、経験的になされるだろう。
【0090】 図13の同心のコイル具体例は、半径方向の成分がその方位角の成分に大きさ
の点で匹敵するカスプパターンを有する磁界を発生する。対照的に、図2の具体
例は、半径方向の成分が無視できる磁界を発生する。この差異は、プロセスチャ
ンバ内に発生するプラズマの均一性に影響を及ぼすが、何故なら、半径方向に指
向する磁界がプラズマ中の電子の方位角方向のドリフトを引き起こすことにより
、プラズマ密度の方位角方向の不均一性に貢献するからである。逆に、方位角方
向に指向する磁界はプラズマ中の電子の半径方向のドリフトを引き起こし、それ
によってプラズマ密度の半径方向の不均一性に貢献する。図2の具体例と図13
の具体例のいずれを選択するかは、空間の均一性に影響する他のチャンバデザイ
ン及び化学プロセス因子を補正する必要性に依るだろう。
の点で匹敵するカスプパターンを有する磁界を発生する。対照的に、図2の具体
例は、半径方向の成分が無視できる磁界を発生する。この差異は、プロセスチャ
ンバ内に発生するプラズマの均一性に影響を及ぼすが、何故なら、半径方向に指
向する磁界がプラズマ中の電子の方位角方向のドリフトを引き起こすことにより
、プラズマ密度の方位角方向の不均一性に貢献するからである。逆に、方位角方
向に指向する磁界はプラズマ中の電子の半径方向のドリフトを引き起こし、それ
によってプラズマ密度の半径方向の不均一性に貢献する。図2の具体例と図13
の具体例のいずれを選択するかは、空間の均一性に影響する他のチャンバデザイ
ン及び化学プロセス因子を補正する必要性に依るだろう。
【0091】 上で説明した好ましい具体例ではRF電源32を使用するが、これは13.56
MHzの周波数でコイルアレイに電力を供給する。我々の理論解析では、所与の電 力レベルではRF周波数を下げればコイルを流れる電流が増加し、誘導コイルのワ
イヤの抵抗のため熱として消費される電力を増加させるだろう。また、電流が増
加すれば、誘起磁場を増大させ、フェライトコアに熱として消費される電力を増
加させるだろう。我々は、電源周波数を13MHzから2MHzへと変えることによっ
てこの理論を試験した。我々の試験では、電源により供給される同じRF電力レベ
ルに対して、2MHzの方が13MHzよりもフェライトコアが高温であると確認した
。 また、我々の解析では、RF周波数を下げれば磁界の浸透距離が増加するだろ
うと予測する。前述のように、コイルアレイに対して相対的に与えられたワーク
ピース取付位置に対して、浸透距離を増加すれば一般には、プロセス速度が増加
しプロセスの空間の均一性が低減する。
MHzの周波数でコイルアレイに電力を供給する。我々の理論解析では、所与の電 力レベルではRF周波数を下げればコイルを流れる電流が増加し、誘導コイルのワ
イヤの抵抗のため熱として消費される電力を増加させるだろう。また、電流が増
加すれば、誘起磁場を増大させ、フェライトコアに熱として消費される電力を増
加させるだろう。我々は、電源周波数を13MHzから2MHzへと変えることによっ
てこの理論を試験した。我々の試験では、電源により供給される同じRF電力レベ
ルに対して、2MHzの方が13MHzよりもフェライトコアが高温であると確認した
。 また、我々の解析では、RF周波数を下げれば磁界の浸透距離が増加するだろ
うと予測する。前述のように、コイルアレイに対して相対的に与えられたワーク
ピース取付位置に対して、浸透距離を増加すれば一般には、プロセス速度が増加
しプロセスの空間の均一性が低減する。
【0092】 ここに説明した好ましい具体例では、コイルアレイ30から誘導的に結合され
るRF電力とカソード電極16から容量的に結合されるRF電力の組合わせによって
、処理ガスはプラズマ状態に励起される。また、我々の発明のコイルアレイは、
他のあらゆるタイプのプラズマソースによって励起されるプラズマの密度を高め
るために用いることができる。
るRF電力とカソード電極16から容量的に結合されるRF電力の組合わせによって
、処理ガスはプラズマ状態に励起される。また、我々の発明のコイルアレイは、
他のあらゆるタイプのプラズマソースによって励起されるプラズマの密度を高め
るために用いることができる。
【図1】 図1は、本発明を用いるプラズマチャンバの部分的な概要の横断面図である。
【図2】 図2は、チャンバ内の誘導コイルのアレイの概要の平面図である。
【図3】 図3は、部分的に概要の、図2の誘導コイルアレイの斜視図である。
【図4】 図4は、図1〜3の誘導コイルのうちの一の斜視図である。
【図5】 図5は、図1〜3の誘導コイルのうちの一の断面図である。
【図6】 図6は、図5の誘導コイルの破断斜視図である。
【図7】 図7は、方位角方向に指向するカスプ磁場を示す半円弧形断面軌道に沿った誘導
コイルアレイの断面図である。
コイルアレイの断面図である。
【図8】 図8は、RF電源装置と電気的アースの間で並列に接続した2つの隣接コイルの電
気回路図である。
気回路図である。
【図9】 図9は、RF電源装置の平衡出力に接続する2つの直列に接続した隣接コイルの電
気回路図である。
気回路図である。
【図10】 図10は、RF電源装置の不平衡出力に接続する2つの直列に接続した隣接コイル
の電気回路図であり、一のコイルがキャパシタを通して電気的アースに接続する
という新規な特徴を有する。
の電気回路図であり、一のコイルがキャパシタを通して電気的アースに接続する
という新規な特徴を有する。
【図11】 図11は、中央コイルを有する別の誘導コイルアレイの概要の平面図である。
【図12】 図12は、図11の誘導コイルアレイの部分的に概要の斜視図である。
【図13】 図13は、同心のコイルを有する別の誘導コイルアレイの概要の平面図である。
【図14】 図14は、円筒状の誘導コイルの方形のアレイの概要の平面図である。
【図15】 図15は、誘導コイルの方形のアレイの概要の平面図であり、各コイルが方形の
横断面を有している。
横断面を有している。
10…リッド、12…側壁、14…底部壁。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 シャン, ホンチン アメリカ合衆国, カリフォルニア州, サン ノゼ, タンブル ウェイ 3639 (72)発明者 ブジョルクマン, クラエス アメリカ合衆国, カリフォルニア州, マウンテン ヴュー, カリフォルニア ストリート 1532 ナンバー5 (72)発明者 ドアン, ケニー アメリカ合衆国, カリフォルニア州, サン ノゼ, クランペット ウェイ 1583 (72)発明者 ウェルチ, マイク アメリカ合衆国, カリフォルニア州, リヴァーモア, ローマ ストリート 940 (72)発明者 メット, リチャード, レイモンド アメリカ合衆国, カリフォルニア州, サンタ クララ, アンナ ドライヴ 2255 Fターム(参考) 5F004 AA01 AA06 BA20 BB20
Claims (82)
- 【請求項1】 真空チャンバ内のプラズマに電力を誘導結合するためのプラズマソースであっ
て、 第1の複数の誘導コイル を備え、 該コイルのそれぞれは、円形の横断面を有する第1の幾何学面に隣接して配置さ
れる軸端部を有し、 該コイルは、第1の幾何学の面の前記円形の横断面に対して、方位角方向に等し
い間隔で配置され、 該コイルのそれぞれは、任意の2つの隣接し合うコイルの隣辺が第1の幾何学面
の円形横断面の半径と略平行であるように、くさび形である横断面を有するプラ
ズマソース。 - 【請求項2】 該コイルのそれぞれが、自身が巻かれる縦軸を有し、各コイ
ルの縦軸は第1の幾何学面に対して略垂直である請求項1に記載のプラズマソー
ス。 - 【請求項3】 任意の2つの隣接し合うコイルがそれぞれ、反対の極性の磁
界を発生する請求項1に記載のプラズマソース。 - 【請求項4】 任意の2つの隣接し合うコイルがそれぞれ、反対の極性の磁
界を発生するよう、それぞれの極性でそれぞれの誘導コイルに電力を供給するた
めに接続された電源を更に備える請求項1に記載のプラズマソース。 - 【請求項5】 任意の2つの隣接し合うコイルに対して、前記2つの隣接し
合うコイルの一方は時計回りに巻かれ、前記2つの隣接し合うコイルの他方は逆
時計回りに巻かれる請求項4に記載のプラズマソース。 - 【請求項6】 該コイルのそれぞれは同じ方向に巻かれ、電源からの電流が
前記2つの隣接し合うコイルを反対方向に流れるよう、任意の2つの隣接したコ
イルが反対の極性で電源に接続する請求項4に記載のプラズマソース。 - 【請求項7】 該誘導コイルのそれぞれが、実質的に1より大きな透磁率を
有している磁気コアを更に有する請求項1に記載のプラズマソース。 - 【請求項8】 第1の幾何学面の中心に隣接して配置される軸の端部を有す
る中心誘導コイルを更に備え、該中心コイルは、第1の複数のコイルに囲まれて
いる請求項1に記載のプラズマソース。 - 【請求項9】 第2の複数の誘導コイルを更に備え、 第2の複数のコイルのそれぞれは、第1の幾何学面に対して同心でかつこれを取
り囲む略平坦な環状の面に隣接して配置される軸の端部を有し、 該第2の複数のコイルは、環状の面に対して方位角方向に等しい間隔で配置され
、 該コイルのそれぞれは、任意の2つの隣接し合うコイルの隣辺が環状の面の半径
と略平行になるように、くさび形の横断面を有する請求項1に記載のプラズマソ
ース。 - 【請求項10】 任意の2つの隣接し合うコイルがそれぞれ反対の極性の磁
界を発生する請求項9に記載のプラズマソース。 - 【請求項11】 半導体を製造するためのプラズマチャンバであって、 内部の容量をシールし前記内部に真空を維持するためのエンクロージャと、 RF電源と、 コイルが前記内部の部分の中に磁界を発生するように、RF電源から電力を受け取
るように接続された複数の誘導コイルと を備え、 該コイルのそれぞれは、円形の横断面を有する第1の幾何学面に隣接して配置さ
れる軸の端部を有し、 該コイルは、第1の幾何学面の前記円形横断面に対して、方位角方向に等しい間
隔で配置され、 該コイルのそれぞれは、任意の2つの隣接し合うコイルの隣辺が幾何学面の円形
横断面の半径と略平行であるよう、くさび形の横断面を有するプラズマチャンバ
。 - 【請求項12】 該幾何学面がエンクロージャの円形の誘電体壁の表面でで
あり、該誘導コイルが該円形の壁に隣接しその外に配置される請求項11に記載
のプラズマチャンバ。 - 【請求項13】 半導体ワークピースを該幾何学面に平行に保持するための
チャックを更に備える請求項11に記載のプラズマチャンバ。 - 【請求項14】 該コイルのそれぞれが、自身が巻かれる縦軸を有し、該コ
イルのそれぞれ縦軸が、第1の幾何学面に対して略垂直である請求項11に記載
のプラズマチャンバ。 - 【請求項15】 任意の2つの隣接し合う誘導コイルが反対の極性の磁界を
それぞれ発生するよう、それぞれの極性でそれぞれの誘導コイルに電力を供給す
るために電源が接続される請求項11に記載のプラズマチャンバ。 - 【請求項16】 誘導コイルからの距離であるチャンバ内の配置に半導体
ワークピースを保持するためのチャック を更に備え、 コイルによって発生される任意の磁界の強度について、ワークピースの位置にお
いては、プラズマチャンバ内のコイルにより近い他の位置におけるよりも少なく
とも10倍小さくなるよう、コイルとワークピースの位置と間の距離に比べて十
分に小さな方位角方向のギャップだけ、誘導コイル同士は間隔をあけられる請求
項15に記載のプラズマチャンバ。 - 【請求項17】 チャックが半導体ワークピースを幾何学面に平行に保持す
る請求項16に記載のプラズマチャンバ。 - 【請求項18】 任意の2つの隣接し合うコイルに対して、前記2つの隣接
し合うコイルの一方が時計回りに巻かれ、前記2つの隣接し合うコイルの他方は
逆時計回りに巻かれる請求項15に記載のプラズマチャンバ。 - 【請求項19】 該コイルのそれぞれが同じ方向に巻かれ、電源からの電流
が前記2つの隣接し合うコイルを反対の方向に流れるように、任意の2つの隣接
したコイル同士は反対の極性で電源に接続する請求項15に記載のプラズマチャ
ンバ。 - 【請求項20】 該誘導コイルのそれぞれが、1より略大きな透磁率を有す
る磁気コアを更に備える請求項11に記載のプラズマチャンバ。 - 【請求項21】 電源に接続し、幾何学面の中心に隣接して配置される軸の
端部を有する中心誘導コイルを更に備え、 中心コイルは、第1の複数のコイルに囲まれる請求項11に記載のプラズマチャ
ンバ。 - 【請求項22】 第2の複数の誘導コイルを更に備え、 第2の複数のコイルのそれぞれは、第1の幾何学面と同心でかつこれを取り囲む
略平坦な環状の面に隣接して配置される軸の端部を有し、 該コイルは、環状面に対して第2の複数のコイルは、方位角方向に等しい間隔で
配置され、 該コイルは、任意の2つの隣接し合うコイルの隣辺が環状の面の半径と略平行で
あるよう、くさび形の横断面を有する請求項11に記載のプラズマチャンバ。 - 【請求項23】 任意の2つの隣接し合う誘導コイルが、反対の極性の磁界
をそれぞれ発生する請求項22に記載のプラズマチャンバ。 - 【請求項24】 半導体を製造するためのプラズマチャンバであって、 内部の容量をシールし、前記内部に真空を維持するエンクロージャと、 前記内部の中の中央軸を有する略平坦な円形のワークピース領域に半導体ワーク
ピースを保持するためのチャックと、 RF電源と、 前記内部の部分の中に磁界を発生するため、RF電源から電力を受け取るようにた
めに接続した複数の誘導コイルと を備え、 該コイルのそれぞれは、前記中央軸と略平行であるそれぞれの軸に巻かれ、 該コイルは、前記中央軸の周りで方位角方向に等しい間隔で配置され、 該コイルのそれぞれは、任意の2つの隣接し合うコイルに対して、前記2つの隣
接し合うコイルのそれぞれの隣辺が円形のワークピース領域の半径と略平行であ
るように、くさび形の横断面を有するプラズマチャンバ。 - 【請求項25】 該誘導コイルのそれぞれが、ワークピース領域に面した軸
の端部を有し、全ての誘導コイルのそれぞれの軸の端部は、ワークピース領域と
平行な平面に配置される請求項24に記載のプラズマチャンバ。 - 【請求項26】 あらゆる2つの隣接した誘導コイルがそれぞれ反対の極性
の磁界を発生するよう、それぞれの極性でそれぞれの誘導コイルに電力を供給す
るために電源が接続される請求項24に記載のプラズマチャンバ。 - 【請求項27】 該誘導コイルのそれぞれが、ワークピース領域から少なく
とも距離をおいて配置され、コイルによって発生される任意の磁界の強度につい
て、ワークピースの位置においては、プラズマチャンバ内のコイルにより近い他
の位置におけるよりも少なくとも10倍小さくなるよう、前記距離に比べて十分
に小さな方位角方向のギャップだけ、あらゆる2つの隣接し合う誘導コイルの隣
辺が間隔をあけられる請求項26に記載のプラズマチャンバ。 - 【請求項28】 任意の2つの隣接し合うコイルに対して、前記2つの隣接
し合うコイルの一方が時計回りに巻かれ、前記2つの隣接し合うコイルの他方は
逆時計回りに巻かれる請求項26に記載のプラズマチャンバ。 - 【請求項29】 該コイルのそれぞれが同じ方向に巻かれ、 電源からの電流が前記2つの隣接し合うコイルを反対の方向に流れるように、任
意の2つの隣接したコイル同士は反対の極性で電源に接続する請求項26に記載
のプラズマチャンバ。 - 【請求項30】 該誘導コイルのそれぞれが、1より略大きな透磁率を有す
る磁気コアを更に備える請求項24に記載のプラズマチャンバ。 - 【請求項31】 電源に接続し、幾何学面の中心に隣接して配置される軸の
端部を有する中心誘導コイルを更に備える請求項24に記載のプラズマチャンバ
。 - 【請求項32】 半導体を製造するためのプラズマチャンバであって、 内部の容量をシールし、前記内部に真空を維持するエンクロージャと、 方形のアレイで整列される複数の誘導コイルであって、該コイルのそれぞれは、
自身が巻かれる縦の軸を有し、該コイルのそれぞれの縦の軸は、幾何学面に対し
て略垂直であり、該コイルのそれぞれは、幾何学面に隣接して配置される軸の端
部を有し、任意の2つの隣接し合う該コイルのそれぞれの周囲の間の横のギャッ
プが、任意の2つの隣接し合う該コイルに対して実質的に同一である第1の予め
定められた距離に等しいように、該コイルはお互いから離れて間隔をあけられる
、前記誘導コイルと、 該誘導コイルが前記内部の部分の中に磁界を発生するように、該誘導コイルに電
力を供給するために接続したRF電源であって、該RF電源は、任意の2つの隣接し
合う該誘導コイルがそれぞれ反対の極性の磁界を発生するよう、それぞれの極性
でそれぞれの該誘導コイルに接続する、前記RF電源と を備えるプラズマチャンバ。 - 【請求項33】 各誘導コイルが、円形の横断面を有する請求項32に記載
のプラズマチャンバ。 - 【請求項34】 各誘導コイルが方形の横断面を有し、隣接し合うコイルの
隣辺が平行である請求項32に記載のプラズマチャンバ。 - 【請求項35】 半導体ワークピースを幾何学面に平行に保持するためのチ
ャックを更に備える請求項32に記載のプラズマチャンバ。 - 【請求項36】 誘導コイルからの距離をおくチャンバ内の位置で半導体ワ
ークピースを保持するためのチャックを更に備え、 コイルによって発生される任意の磁界の強度について、ワークピースの位置にお
いては、プラズマチャンバ内のコイルにより近い他の位置におけるよりも少なく
とも10倍小さくなるよう、第1の予め定められた距離は、コイルとワークピー
ス位置の間の距離と比較して十分に小さい請求項32に記載のプラズマチャンバ
。 - 【請求項37】 チャックが、半導体ワークピースを幾何学面に平行に保持
する請求項36に記載のプラズマチャンバ。 - 【請求項38】 任意の2つの隣接し合うコイルに対して、前記2つの隣接
し合うコイルの一方が時計回りに巻かれ、前記2つの隣接し合うコイルの他方は
逆時計回りに巻かれる請求項36に記載のプラズマチャンバ。 - 【請求項39】 該コイルのそれぞれが同じ方向に巻かれ、 RF電源からの電流が前記2つの隣接し合うコイルを反対の方向に流れるように、
任意の2つの隣接したコイル同士は反対の極性でRF電源に接続する請求項26に
記載のプラズマチャンバ。 - 【請求項40】 該誘導コイルのそれぞれが、1より略大きな透磁率を有す
る磁気コアを更に備える請求項32に記載のプラズマチャンバ。 - 【請求項41】 半導体を製造するためのプラズマチャンバであって、 内部の容量をシールし、前記内部に真空を維持するエンクロージャと RF電源と、内部に隣接して装着され電源に接続している多数の誘導コイルと を備え、 コイルのそれぞれが内部より近い第1の端部と内部から遠い第2の端部とを有し
、 コイルのそれぞれが、前記コイルの第1の端部が電気的アースに対して前記コイ
ルの第2の端部より実質的に低いRF電圧にあるように、電源に接続されるプラズ
マチャンバ。 - 【請求項42】 RF電源が、電気的に接地される出力及び接地されてない出
力の2つの出力を備え、 各コイルの第1の端部は、電気的アースに接続し、各コイルの第2の端部は、接
地されてない電源出力に接続する請求項41に記載のプラズマチャンバ。 - 【請求項43】 2つのターミナルを有するキャパシタであって、2つのキ
ャパシタターミナルの一方が電気的アースに接続し、キャパシタターミナルの他
方が接地されない、前記キャパシタを更に備え、 RF電源が電気的に接地されている出力と接地されてない出力の2つの出力を備え
、 該誘導コイルが対で一緒に接続することにより、各対が該誘導コイルのうちの2
つから成り、また誘導コイルの各対に対して、 対の2つのコイルのそれぞれの第1のコイル端部が一緒に接続し、 対のコイルの一方の第2のコイル端部がキャパシタの接地されてないターミナル
に接続し、 対のコイルの他方の第2のコイル端部がRF電源の接地されてない出力に接続する
ようになり、キャパシタが全てのコイル対のそれぞれの第1のコイルを並列に接
続することによって提供されるインダクタンスで、RF電源の周波数で共鳴するキ
ャパシタンス値を有する請求項41に記載のプラズマチャンバ。 - 【請求項44】 2つのターミナルを有するキャパシタであって、2つのキ
ャパシタターミナルの一方が電気的アースに接続し、キャパシタターミナルの他
方が接地されない、前記キャパシタを更に備え、 RF電源が電気的に接地されている出力と接地されてない出力の2つの出力を備え
、 前記誘導コイルの数が、整数Nに2を乗じた数であり、 該誘導コイルがN個の対で一緒に接続することにより、各対が該誘導コイルのう
ちの2つから成り、また誘導コイルの各対に対して、 対の2つのコイルのそれぞれの第1のコイル端部が一緒に接続し、 対のコイルの一方の第2のコイル端部がキャパシタの接地されてないターミナル
に接続し、 対のコイルの他方の第2のコイル端部がRF電源の接地されてない出力に接続し、
キャパシタは、キャパシタンス値によって増加させられる整数Nに略等しいキャ パシタンス値を有し、このキャパシタンス値は、N個のコイル対のうちの1の第 1のコイルのインダクタンスで、RF電源の周波数で共鳴する、請求項41に記載
のプラズマチャンバ。 - 【請求項45】 RF電源が、電気的なアースに対して平衡する2つの出力を
備え、誘導コイルは対で一緒に接続することにより、各対が2つの誘導コイルか
ら成るようになり、また誘導コイルの各対に対して、対の2つのコイルのそれぞ
れの第1のコイル端部が一緒に接続し、 対の2つのコイルのそれぞれの第2のコイル端部が第1の電源出力及び第2の電
源出力に接続するようになる請求項41に記載のプラズマチャンバ。 - 【請求項46】 RF電源が、電気的なアースに対してフロートする2つの出
力を備え、 誘導コイルは対で一緒に接続することにより、各対が2つの誘導コイルから成る
ようになり、また誘導コイルの各対に対して、 対の2つのコイルのそれぞれの第1のコイル端部が一緒に接続し、 対の2つのコイルのそれぞれの第2のコイル端部が第1の電源出力及び第2の電
源出力に接続するようになる請求項41に記載のプラズマチャンバ。 - 【請求項47】 半導体を製造するためのプラズマチャンバであって、 内部の容量をシールし、前記内部に真空を維持するエンクロージャと、 RF電源と、 前記領域内にプラズマに電磁電力を結合するために電源に接続し内部の領域に隣
接して装着される多数の誘導コイルと、 を備え、 コイルのそれぞれが内部より近い第1の端部と内部から遠い第2の端部とを有し
、 コイルのそれぞれが、前記コイルの第1の端部が電気的アースに対して、前記コ
イルの第2の端部より実質的に低いRF電圧にあるように、電源に接続されるプラ
ズマチャンバ。 - 【請求項48】 半導体を製造するためのプラズマチャンバであって、 内部の容量をシールし、前記内部に真空を維持するエンクロージャと それぞれ電気的に接地される出力及び接地されてない出力の2つの出力を有して
いるRF電源と、 前記領域内にプラズマに電磁電力を結合するために電源に接続し内部の領域に隣
接して装着される多数の誘導コイルと、 を備え、 コイルのそれぞれが内部より近い第1の端部と内部から遠い第2の端部とを有し
、 第1のコイル端部は電気的アースに接続し、 第2のコイル端部は接地されてない電源出力に接続しているプラズマチャンバ。 - 【請求項49】 半導体を製造するためのプラズマチャンバであって、 内部の容量をシールし、前記内部に真空を維持するエンクロージャと、 それぞれ電気的に接地される出力及び接地されてない出力の2つの出力を有して
いるRF電源と、 2つのターミナルを有するキャパシタであって、2つのキャパシタターミナルの
一方が電気的アースに接続し、キャパシタターミナルの他方が接地されない、前
記キャパシタと、 前記領域内にプラズマに電磁電力を結合するために電源に接続し内部の領域に隣
接して装着される多数の誘導コイルと、 を備え、 該誘導コイルが対で一緒に接続することにより、各対が該誘導コイルのうちの2
つから成り、また誘導コイルの各対に対して、 対の2つのコイルのそれぞれの第1のコイル端部が一緒に接続し、 対のコイルの一方の第2のコイル端部がキャパシタの接地されてないターミナル
に接続し、 対のコイルの他方の第2のコイル端部がRF電源の接地されてない出力に接続する
ようになり、 キャパシタが全てのコイル対のそれぞれの第1のコイルを並列に接続することに
よって提供されるインダクタンスで、RF電源の周波数で共鳴するキャパシタンス
値を有するプラズマチャンバ。 - 【請求項50】 半導体を製造するためのプラズマチャンバであって、 内部の容量をシールし、前記内部に真空を維持するエンクロージャと それぞれ電気的に接地される出力及び接地されてない出力の2つの出力を有して
いるRF電源と、 2つのターミナルを有するキャパシタであって、2つのキャパシタターミナルの
一方が電気的アースに接続し、キャパシタターミナルの他方が接地されない、前
記キャパシタと、 前記領域内にプラズマに電磁電力を結合するために電源に接続し内部の領域に隣
接して装着される多数の誘導コイルと、 を備え、 前記誘導コイルの数が、整数Nに2を乗じた数であり、 該誘導コイルがN個の対で一緒に接続することにより、各対が該誘導コイルのう
ちの2つから成り、また誘導コイルの各対に対して、 対の2つのコイルのそれぞれの第1のコイル端部が一緒に接続し、 対のコイルの一方の第2のコイル端部がキャパシタの接地されてないターミナル
に接続し、 対のコイルの他方の第2のコイル端部がRF電源の接地されてない出力に接続し、
キャパシタは、キャパシタンス値によって増加させられる整数Nに略等しいキャ パシタンス値を有し、このキャパシタンス値は、N個のコイル対のうちの1の第 1のコイルのインダクタンスで、RF電源の周波数で共鳴するプラズマチャンバ。 - 【請求項51】 半導体を製造するためのプラズマチャンバであって、 内部の容量をシールし、前記内部に真空を維持するエンクロージャと 電気的アースに関して平衡を保つ第1の出力及び第2の出力を有しているRF電源
と、 前記領域内にプラズマに電磁電力を結合するために電源に接続し内部の領域に隣
接して装着される多数の誘導コイルの対と を備え、 該対のそれぞれが2つの誘導コイルを有し、該コイルのそれぞれが内部より近い
第1の端部と内部から遠い第2の端部とを有し、 対の2つのコイルのそれぞれの第1のコイル端部が一緒に接続し、対の2つのコ
イルのそれぞれの第2のコイル端部が第1の電源出力及び第2の電源出力に接続
するようになるプラズマチャンバ。 - 【請求項52】 半導体を製造するためのプラズマチャンバであって、 内部の容量をシールし、前記内部に真空を維持するエンクロージャと、 電気的アースに関してフロートである第1の出力及び第2の出力を有するRF電源
と、 前記領域内にプラズマに電磁電力を結合するために電源に接続し内部の領域に隣
接して装着される多数の誘導コイルの対と を備え、 該対のそれぞれが2つの誘導コイルを有し、該コイルのそれぞれが内部より近い
第1の端部と内部から遠い第2の端部とを有し、 対の2つのコイルのそれぞれの第1のコイル端部が一緒に接続し、対の2つのコ
イルのそれぞれの第2のコイル端部が第1の電源出力及び第2の電源出力に接続
するようになるプラズマチャンバ。 - 【請求項53】 一対の誘導コイルをRF電源に結合するための回路であって
、 2つの出力を有し、出力の一方は電気的アースに接続し、他方は接地されない、
RF電源と、 入力及び出力を有しているインピーダンス整合ネットワークであって、整合ネッ
トワークの入力は、電源の接地されてない出力に接続される、前記インピーダン
ス整合ネットワークと、 それぞれが第1の端部及び第2の端部を有する第1の誘導コイルと第2の誘導コ
イルであって、第1のコイルの第1の端部が第2のコイルの第1の端部に接続し
、及び、第1のコイルの第2の端部がインピーダンス整合ネットワークの出力に
接続する、該第1の誘導コイルと該第2の誘導コイルと、第2のコイルの電気的
アースと第2の端部の間に接続するキャパシタであって、該キャパシタがRF電源
の周波数で、第2のコイルで共鳴するキャパシタンス値を有する、該キャパシタ
と を備える回路。 - 【請求項54】 RF電源に複数の誘導コイルを結合するための回路であって
、 2つの出力を有しているRF電源であって、出力の一方は電気的アースに接続され
、出力の他方は接地されてない、該RF電源と、 入力及び出力を有しているインピーダンス整合ネットワークであって、整合ネッ
トワークの入力は、電源の接地されてない出力に接続される、該インピーダンス
整合ネットワークと、 2つのターミナルを有しているキャパシタであって、 キャパシタターミナルの一方は電気的アースに接続し、キャパシタターミナルの
他方は接地されない、該キャパシタと、複数の誘導コイルであって、該コイルの
それぞれは、第1の端部及び第2の端部を有し、 前記誘導コイルの数が、整数Nに2を乗じた数であり、 該誘導コイルがN個の対で一緒に接続することにより、各対が該誘導コイルのう
ちの2つから成り、また誘導コイルの各対に対して、 対の2つのコイルのそれぞれの第1のコイル端部が一緒に接続し、 対のコイルの一方の第2のコイル端部がキャパシタの接地されてないターミナル
に接続し、 対のコイルの他方の第2のコイル端部がRF電源の接地されてない出力に接続し、
キャパシタは、キャパシタンス値によって増加させられる整数Nに略等しいキャ パシタンス値を有し、このキャパシタンス値は、N個のコイル対のうちの1の第 1のコイルとRF電源の周波数で共鳴するプラズマチャンバ。 - 【請求項55】 真空チャンバ内のプラズマへ電力を誘導結合する方法であ
って、 真空チャンバの内部の領域に隣接して複数のくさび形の誘導コイルを装着する
ステップであって、 円形の横断面を有する幾何学面に対して該コイルのそれぞれが配置されるよう、
該コイルが装着されることにより、該コイルのそれぞれ軸の端部が幾何学の面に
隣接して配置されるようになり、該コイルは、幾何学面に対して方位角方向に等
しい間隔で配置され、任意の2つの隣接し合うコイルの隣辺は、幾何学面の円形
横断面の半径と略平行である、前記装着のステップと、該コイルが磁界を発生す
るよう、交流電流を該コイルに供給するステップと を有する方法。 - 【請求項56】 電流を供給する前記ステップが更に、 任意の2つの隣接した誘導コイルがそれぞれ、反対の極性の磁界を発生するよう
、それぞれの誘導コイルに前記電流をそれぞれの極性で供給する工程を有する請
求項55に記載の方法。 - 【請求項57】 任意の2つの隣接し合うコイルに対して、前記2つの隣接
し合うコイルの一方を時計まわりに巻き、前記2つの隣接し合うコイルの他方を
反時計まわりに巻くステップ を更に有する請求項56に記載の方法。 - 【請求項58】 電流を供給する前記ステップが更に、 該コイルのそれぞれを同方向に巻く工程と、 2つの電源出力の間に前記交流を供給する工程と、供給された前記2つの隣接し
合うコイルを電流が反対の方向に流れるように、2つの電源出力に任意の2つの
隣接し合うコイルを反対の極性で接続する工程と を更に有する請求項56に記載の方法。 - 【請求項59】 該幾何学面が、チャンバの円形の誘電体壁の表面である請
求項55に記載の方法。 - 【請求項60】 チャンバ内の誘導コイルから離れた位置に半導体ワークピ
ースを保持するステップを更に備え、 誘導コイルを装着する前記ステップが、コイルによって発生される磁界の強度
が、ワークピース位置においては、コイルにより近いプラズマチャンバ内の別の
配置に比べて少なくとも10倍小さくなるよう、コイルとワークピース配置の間
の距離に比べて十分小さい方位角方向のギャップにより方位角方向に隣接し合う
誘導コイルを隔てる工程を更に有する請求項55に記載の方法。 - 【請求項61】 .真空チャンバ内のプラズマに電力を誘導結合する方法で あって、 真空チャンバの内側にあり中央軸を有する略平坦な円形のワークピース領域で、
半導体ワークピースを保持するステップと、 真空チャンバの内部の領域に隣接して複数のくさび形の誘導コイルを装着するス
テップであって、 該コイルのそれぞれは、前記中央軸と略平行であるそれぞれの軸に巻かれ、 該コイルは、前記中央軸のまわりで方位角方向に等しく間隔をあけられ、 該コイルのそれぞれは、あらゆる2つの隣接し合うコイルに対して、前記2つの
隣接し合うコイルのそれぞれの隣辺が円形のワークピース領域の半径と略平行で
あるよう、くさび形の横断面を有する、前記装着のステップと、コイルが磁界を
発生するように交流電流をコイルに供給するステップと を有する方法。 - 【請求項62】 誘導コイルを装着するステップが更に、 コイルの軸の端部がワークピース領域を向くように、誘導コイルのそれぞれを指
向する工程と、ワークピース領域に平行である平面の中に、誘導コイルの全ての
それぞれの軸の端部が配置されるように、誘導コイルを装着する工程と を有する請求項61に記載の方法。 - 【請求項63】 電流を供給するステップが更に、 任意の2つの隣接した誘導コイルそれぞれ反対の極性の磁界を発生するよう、
それぞれの極性でそれぞれの誘導コイルに前記電流を供給する工程を有する請求
項61に記載の方法。 - 【請求項64】 任意の2つの隣接し合うコイルに対して、前記2つの隣接
し合うコイルの一方を時計まわりに巻き、前記2つの隣接し合うコイルの他方を
反時計まわりに巻くステップを更に有する請求項61に記載の方法。 - 【請求項65】 電流を供給するステップが更に、 該コイルのそれぞれを同方向に巻く工程と、 2つの電源出力の間に前記交流を供給する工程と、 供給された電流が反対の方向で前記2つの隣接し合うコイルを流れるように、反
対の極性で電源出力に任意の2つの隣接し合うコイルを接続する工程と を有する請求項61に記載の方法。 - 【請求項66】 誘導コイルを装着するステップが更に、 コイルによって発生される磁界の強度が、ワークピース位置においては、コイル
により近いプラズマチャンバ内の別の配置に比べて少なくとも10倍小さくなる
よう、コイルとワークピース配置の間の距離に比べて十分小さい方位角方向のギ
ャップにより方位角方向に隣接し合う誘導コイルを隔てる工程を更に有する請求
項61に記載の方法。 - 【請求項67】 巻軸を有する付加的な誘導コイルを提供するステップと、
巻軸がワークピース領域の中央軸と一致するように、該付加的な誘導コイルを装
着するステップと、付加コイルへの磁界を発生するために交流電流を供給するス
テップと を更に有する請求項61に記載の方法。 - 【請求項68】 真空チャンバ内のプラズマにRF電力を誘導結合する方法で
あって、 それぞれがそのコイルが巻かれる縦の軸を有する、複数の誘導コイルを提供する
ステップと、 真空チャンバの内部の領域に隣接して方形の行列で誘導コイルを配置するステッ
プであって、 該コイルのそれぞれが幾何学面に隣接して配置される軸の端部を有するように、
該コイルが配置され、 該コイルの縦の軸が、幾何学面に対して垂直に配置され、 任意の2つの隣接し合うコイルのそれぞれの周囲の間の横方向ギャップが、任意
の2つの隣接し合うコイルに対して同じである第1の予め定められた距離に等し
いように、コイルはお互いから離れて間隔をあけられる、前記配置のステップと
、コイルが前記内部の部分の中に磁界を発生するよう誘導コイルに電力を供給す
るためにRF電源を接続するステップであって、任意の2つの隣接した誘導コイル
が反対の極性でそれぞれの磁界を発生するように、RF電源は、それぞれの誘導コ
イルにそれぞれの極性で接続される、前記接続のステップと を有する方法。 - 【請求項69】 円形の横断面を有する前記コイルを提供するステップを更
に有する請求項68に記載の方法。 - 【請求項70】 方形の横断面を有する前記コイルを提供するステップを更
に有し、及び前記配置のステップが更に、隣接し合うコイルの隣辺が平行である
ように、前記コイルを配置する工程を有する請求項68に記載の方法。 - 【請求項71】 半導体ワークピースを幾何学面に平行に保持するステップ
を更に有する請求項68に記載の方法。 - 【請求項72】 誘導コイルから距離をおくチャンバ内の位置で半導体ワー
クピースを保持するステップを更に有し、 コイルによって発生される任意の磁界の強度について、ワークピースの位置にお
いては、プラズマチャンバ内のコイルにより近い他の位置におけるよりも少なく
とも10倍小さくなるよう、第1の予め定められた距離は、コイルとワークピー
ス位置の間の距離と比較して十分に小さい請求項68に記載の方法。 - 【請求項73】 半導体ワークピースを幾何学面に平行に保持するステップ
を更に有する請求項72に記載の方法。 - 【請求項74】 実質的に1より大きな透磁率を有する磁気コアを各誘導コ
イルに装着するステップを更に有する請求項68に記載の方法。 - 【請求項75】 真空チャンバ内のプラズマに電力を誘導結合する方法であ
って、 2つの電源出力間にRF電気信号を供給するステップと、 各コイルが、前記領域に近い第1の端部と遠い第2の端部とをそれぞれ有するよ
うに、真空チャンバの内部の領域に隣接して多数の誘導コイルを装着するステッ
プと、前記コイルの第1の端部が電気的アースに対して前記コイルの第2の端部
より実質的に低いRF電圧となるよう、2つの電源出力を各コイルに接続するステ
ップと を有する方法。 - 【請求項76】 真空チャンバ内のプラズマへの電力を誘導結合する方法で
あって、 電気的に接地された出力と接地されてない出力の2つの電源出力の間にRF電気信
号を供給するステップと、 各コイルが、前記領域に近い第1の端部と遠い第2の端部とをそれぞれ有するよ
うに、真空チャンバの内部の領域に隣接して多数の誘導コイルを装着するステッ
プと、 電気的アースに各コイルの第1の端部を接続するステップと、接地されてない電
源出力に各コイルの第2の端部を接続するステップと を有する方法。 - 【請求項77】 真空チャンバ内のプラズマへの電力を誘導結合する方法で
あって、 電気的に接地された出力と接地されてない出力の2つの電源出力の間にRF電気信
号を供給するステップと、 それぞれのコイルが前記領域に近い第1の端部と遠い第2の端部とをそれぞれ有
するように、真空チャンバの内部の領域に隣接して多数の誘導コイルを装着する
ステップと、 第1のターミナルと第2のターミナルを有するキャパシタを提供するステップと
、 電気的アースにキャパシタの第1のターミナルを接続するステップと、各対が誘
導コイルのうちの2つから成るよう、誘導コイルを対で接続するステップであっ
て、該接続のステップは各対について、 対の2つのコイルのそれぞれの第1のコイル端部を接続するステップと、 対のコイルの一方の第2のコイル端部をキャパシタの第2のターミナルに接続す
るステップと、 対のコイルの他方の第2のコイル端部を接地されてない電源出力に接続するステ
ップと、 を有する前記接続のステップと を有し、キャパシタは、全てのコイル対のそれぞれの第1のコイルに並列に接続
することによって提供されるインダクタンスで、RF信号の周波数で共鳴するキャ
パシタンス値を有する方法。 - 【請求項78】 真空チャンバ内のプラズマへの電力を誘導結合する方法で
あって、 電気的に接地された出力と接地されてない出力の2つの電源出力の間にRF電気信
号を供給するステップと 第1のターミナルと第2のターミナルを有するキャパシタを提供するステップと
、 電気的アースにキャパシタの第1のターミナルを接続するステップと、 各コイルが、前記領域に近い第1の端部と遠い第2の端部とをそれぞれ有するよ
うに、真空チャンバの内部の領域に隣接して多数の誘導コイルを装着するステッ
プであって、前記誘導コイルの数が整数Nの2倍である、前記装着のステップと
、 各対が誘導コイルのうちの2から成るよう、N個の対で誘導コイルを接続するス
テップであって、該接続のステップは各対に対して、 対の2つのコイルのそれぞれの第1のコイル端部を一緒に接続するステップと、
キャパシタの第2のターミナルに対のコイルの一方の第2のコイル端部を接続す
るステップと、 接地されてない電源出力に対のコイルの他方の第2のコイル端部を接続するステ
ップと、 を有する前記接続のステップと を有し、 キャパシタが、N個のコイル対のうちの1の第1のコイルのインダクタンスでRF
信号の周波数で共鳴するだろうキャパシタンス値に整数Nを乗じた値に等しいキ
ャパシタンス値を有する方法。 - 【請求項79】 真空チャンバ内のプラズマへの電力を誘導結合する方法で
あって、 電気的アースに対して均衡を保たれる第1の電源出力及び第2の電源出力の間に
RF電気信号を供給するステップと、 各コイルが前記領域に近い第1の端部と遠い第2の端部を有するように真空チャ
ンバの内部の領域に隣接して多数の誘導コイルを装着するステップと、 各対が誘導コイルのうちの2つから成るよう、誘導コイルを対で接続するステッ
プと を有し、該接続のステップは各対について、 対の2つのコイルのそれぞれの第1のコイル端部を一緒に接続するステップと、
第1の電源出力と第2の電源出力に対の2つのコイルのそれぞれの第2のコイル
端部を接続するステップと を有する方法。 - 【請求項80】 真空チャンバ内のプラズマへの電力を誘導結合する方法で
あって、 電気的アースに関して浮動である第1の電源出力と第2の電源出力の間にRF電気
信号を供給するステップと、 各コイルがそれぞれ前記領域により近い第1の端部と遠い第2の端部を有するよ
うに、真空チャンバの内部の領域に隣接して多数の誘導コイルを装着するステッ
プと、及び対の中に一緒に 各対が誘導コイルのうちの2から成るよう、誘導コイルを対に接続するステップ
と を有し、 該接続のステップは各対に対して、 対の2つのコイルのそれぞれの第1のコイル端部を一緒に接続するステップと、
第1の電源出力と第2の電源出力に対の2つのコイルのそれぞれの第2のコイル
端部を接続するステップと を有する方法。 - 【請求項81】 RF電源に一対の誘導コイルを結合する方法であって、 それぞれ電気的に接地される出力と接地されてない出力の2つの電源出力の間に
RF電気信号を供給するステップと、 入力と出力を有するインピーダンス整合ネットワークを提供するステップと、 接地されてない電源出力に整合ネットワークの入力を接続するステップと、 それぞれが第1の端部及び第2の端部を有する第1の誘導コイルと第2の誘導コ
イルを提供するステップと、 第2のコイルの第1の端部に第1のコイルの第1の端部を接続し、インピーダン
ス整合ネットワークの出力に第1のコイルの第2の端部を接続するステップと、
RF信号の周波数で、第2のコイルで共鳴するキャパシタンス値を有するキャパシ
タを提供するステップと、第2のコイルの電気的アースと第2の端部の間でキャ
パシタを接続するステップと を有する方法。 - 【請求項82】 RF電源に一対の誘導コイルを結合する方法であって、 それぞれ電気的に接地される出力と接地されてない出力の2つの電源出力の間に
RF電気信号を供給するステップと、 入力及び出力を有するインピーダンス整合ネットワークを提供するステップと、
接地されてない電源出力に整合ネットワークの入力を接続するステップと、 第1の端部と第2の端部を有する、整数Nに2を乗じた数の複数の誘導コイルを
提供するステップと、 各対が第1の誘導コイルと第2の誘導コイルから成るよう、N個の対で誘導コイ
ルを接続するステップであって、該接続のステップは、誘導コイルの各対に対し
て、 対の第2のコイルの第1の端部に対の第1のコイルの第1の端部を接続するステ
ップと、 インピーダンス整合ネットワークの出力に対の第1のコイルの第2の端部を接続
するステップと を有する接続のステップと、 N個のコイル対のうちの1の第1のコイルについてRF信号の周波数で共鳴するキ
ャパシタンス値に整数Nを乗じたものに等しいキャパシタンス値を有しているキ
ャパシタを提供するステップと、電気的アースと各対の第2のコイルの第2の端
部の間にキャパシタを接続するステップと、 を有する方法。
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