JP2002359451A - プリント配線板 - Google Patents
プリント配線板Info
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- JP2002359451A JP2002359451A JP2001162665A JP2001162665A JP2002359451A JP 2002359451 A JP2002359451 A JP 2002359451A JP 2001162665 A JP2001162665 A JP 2001162665A JP 2001162665 A JP2001162665 A JP 2001162665A JP 2002359451 A JP2002359451 A JP 2002359451A
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- Japan
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- circuit
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- lower limit
- impedance
- wiring board
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- Printing Elements For Providing Electric Connections Between Printed Circuits (AREA)
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 導体回路の特性を正確に把握することができ
るインピーダンス測定領域を持つプリント配線板を提供
すること。 【解決手段】 導体回路７１を有し製品となるべき製品
領域７と，特性インピーダンスを測定するためのインピ
ーダンス測定領域６とを備えたプリント配線板８であっ
て，インピーダンス測定領域６は，導体回路７１におい
て発生し得る特性インピーダンスの上限値を測定する上
限値測定用回路１と，導体回路７１において発生し得る
特性インピーダンスの下限値を測定する下限値測定用回
路２とからなる。
るインピーダンス測定領域を持つプリント配線板を提供
すること。 【解決手段】 導体回路７１を有し製品となるべき製品
領域７と，特性インピーダンスを測定するためのインピ
ーダンス測定領域６とを備えたプリント配線板８であっ
て，インピーダンス測定領域６は，導体回路７１におい
て発生し得る特性インピーダンスの上限値を測定する上
限値測定用回路１と，導体回路７１において発生し得る
特性インピーダンスの下限値を測定する下限値測定用回
路２とからなる。
Description
【０００１】
【技術分野】本発明は，プリント配線板に関し，特に特
性インピーダンスの測定に関する。
性インピーダンスの測定に関する。
【０００２】
【従来技術】プリント配線板の品質を維持するために
は，導体回路の特性インピーダンスを測定することが必
要である。従来，導体回路の特性インピーダンスは，図
６に示すごとく，インピーダンス測定機９１に接続され
たプローブ９２を，プリント配線板９３のインピーダン
ス測定領域９４に接触させて電気信号を発信し受信する
ことにより測定されていた。インピーダンス測定領域９
４には，測定用回路９５と，接地回路９６とを設けてい
る。測定用回路９５は測定用端子９５１と，接地回路９
６は接地用端子９６１と接続している。プローブ９２
は，測定ピン９２５と，接地ピン９２６とを有し，それ
ぞれ，プリント配線板９３の測定用端子９５１及び接地
用端子９６１に接触させる。そして，インピーダンス測
定機９１から所定電圧のパルス電流からなる信号電流
を，測定用回路９５に発信する。すると，測定用回路９
５からインピーダンス測定機９１に向けて反射電流が流
れる。入射電圧と反射電圧とにより，プリント配線板の
導体回路の特性インピーダンスを演算し表示する。な
お，符号９７はケーブルである。
は，導体回路の特性インピーダンスを測定することが必
要である。従来，導体回路の特性インピーダンスは，図
６に示すごとく，インピーダンス測定機９１に接続され
たプローブ９２を，プリント配線板９３のインピーダン
ス測定領域９４に接触させて電気信号を発信し受信する
ことにより測定されていた。インピーダンス測定領域９
４には，測定用回路９５と，接地回路９６とを設けてい
る。測定用回路９５は測定用端子９５１と，接地回路９
６は接地用端子９６１と接続している。プローブ９２
は，測定ピン９２５と，接地ピン９２６とを有し，それ
ぞれ，プリント配線板９３の測定用端子９５１及び接地
用端子９６１に接触させる。そして，インピーダンス測
定機９１から所定電圧のパルス電流からなる信号電流
を，測定用回路９５に発信する。すると，測定用回路９
５からインピーダンス測定機９１に向けて反射電流が流
れる。入射電圧と反射電圧とにより，プリント配線板の
導体回路の特性インピーダンスを演算し表示する。な
お，符号９７はケーブルである。
【０００３】近年，コンピュータ等の処理速度の向上に
伴い，信号が流れるプリント配線板の性能に対する要求
も厳しくなってきている。このため，プリント配線板に
生じ得る特性インピーダンスも，正確に把握したいとい
う要望がある。
伴い，信号が流れるプリント配線板の性能に対する要求
も厳しくなってきている。このため，プリント配線板に
生じ得る特性インピーダンスも，正確に把握したいとい
う要望がある。
【０００４】
【解決しようとする課題】しかしながら，従来のインピ
ーダンス測定領域９４では，測定用回路９５が単線であ
ったため，プリント配線板内の導体回路において生じ得
る特性インピーダンスの最大値を測定できるに過ぎなか
った。実際は，導体回路において生じ得る特性インピー
ダンスにはバラツキがある。このため，特性インピーダ
ンスの上限値だけを測定したのでは，導体回路の特性を
正確に把握することができない。
ーダンス測定領域９４では，測定用回路９５が単線であ
ったため，プリント配線板内の導体回路において生じ得
る特性インピーダンスの最大値を測定できるに過ぎなか
った。実際は，導体回路において生じ得る特性インピー
ダンスにはバラツキがある。このため，特性インピーダ
ンスの上限値だけを測定したのでは，導体回路の特性を
正確に把握することができない。
【０００５】本発明はかかる従来の問題点に鑑み，導体
回路の特性を正確に把握することができるインピーダン
ス測定領域を持つプリント配線板を提供しようとするも
のである。
回路の特性を正確に把握することができるインピーダン
ス測定領域を持つプリント配線板を提供しようとするも
のである。
【０００６】
【課題の解決手段】本発明は，導体回路を有し製品とな
るべき製品領域と，特性インピーダンスを測定するため
のインピーダンス測定領域とを備えたプリント配線板で
あって，上記インピーダンス測定領域は，上記導体回路
において発生し得る特性インピーダンスの上限値を測定
する上限値測定用回路と，上記導体回路において発生し
得る特性インピーダンスの下限値を測定する下限値測定
用回路とからなることを特徴とするプリント配線板であ
る（請求項１）。
るべき製品領域と，特性インピーダンスを測定するため
のインピーダンス測定領域とを備えたプリント配線板で
あって，上記インピーダンス測定領域は，上記導体回路
において発生し得る特性インピーダンスの上限値を測定
する上限値測定用回路と，上記導体回路において発生し
得る特性インピーダンスの下限値を測定する下限値測定
用回路とからなることを特徴とするプリント配線板であ
る（請求項１）。
【０００７】本発明のプリント配線板においては，製品
領域内の導体回路において発生し得る特性インピーダン
スの最大値だけでなく最小値をも測定することができ
る。このため，導体回路の特性を正確に把握することが
できる。以上のように本発明によれば，導体回路の特性
を正確に把握することができるインピーダンス測定領域
を持つプリント配線板を提供することができる。
領域内の導体回路において発生し得る特性インピーダン
スの最大値だけでなく最小値をも測定することができ
る。このため，導体回路の特性を正確に把握することが
できる。以上のように本発明によれば，導体回路の特性
を正確に把握することができるインピーダンス測定領域
を持つプリント配線板を提供することができる。
【０００８】
【発明の実施の形態】本発明において，上限値測定用回
路及び下限値測定用回路の上側または／及び下側には，
絶縁層を介して，電源回路または接地回路が配置されて
いることがある。上限値測定用回路及び下限値測定用回
路は，プリント配線板の表面に形成されている場合もあ
るが，内部に形成されている場合もある。
路及び下限値測定用回路の上側または／及び下側には，
絶縁層を介して，電源回路または接地回路が配置されて
いることがある。上限値測定用回路及び下限値測定用回
路は，プリント配線板の表面に形成されている場合もあ
るが，内部に形成されている場合もある。
【０００９】上記上限値測定用回路は単線であり，上記
下限値測定用回路の両側には，その長手方向に沿って，
補助回路が配置されており，かつ上記上限値測定用回
路，上記下限値測定用回路及び上記補助回路の線幅は，
上記導体回路の線幅と同じかまたはその差異が±１０％
以内であり，且つ上記下限値測定用回路と上記補助回路
との配線ピッチは，上記導体回路の配線ピッチと同じか
またはその差異が±２％以内であることが好ましい（請
求項２）。
下限値測定用回路の両側には，その長手方向に沿って，
補助回路が配置されており，かつ上記上限値測定用回
路，上記下限値測定用回路及び上記補助回路の線幅は，
上記導体回路の線幅と同じかまたはその差異が±１０％
以内であり，且つ上記下限値測定用回路と上記補助回路
との配線ピッチは，上記導体回路の配線ピッチと同じか
またはその差異が±２％以内であることが好ましい（請
求項２）。
【００１０】上限値測定用回路は，上記のごとく導体回
路の線幅とほぼ同じ線幅の単一線であり，導体回路で生
じ得る特性インピーダンスの最大値を測定できる。下限
値測定用回路は，複数の補助回路を並列させている。こ
の構造は，製品領域の導体回路において発生し得る特性
インピーダンスの最小値を示すであろうと考えられる部
位の構造をモデル化したものである。したがって，この
下限値測定用回路によれば，導体回路で生じ得る特性イ
ンピーダンスの最小値を測定することができる。
路の線幅とほぼ同じ線幅の単一線であり，導体回路で生
じ得る特性インピーダンスの最大値を測定できる。下限
値測定用回路は，複数の補助回路を並列させている。こ
の構造は，製品領域の導体回路において発生し得る特性
インピーダンスの最小値を示すであろうと考えられる部
位の構造をモデル化したものである。したがって，この
下限値測定用回路によれば，導体回路で生じ得る特性イ
ンピーダンスの最小値を測定することができる。
【００１１】製品領域の導体回路において発生し得る特
性インピーダンスの最小値を示すであろうと考えられる
部位は，例えば，導体回路において測定対象部位の隣に
少なくとも１本の導体回路があり，両回路間の間隙が狭
い部位である。ここで，補助回路は，導体回路の隣に配
置されている回路をモデル化したものである。補助回路
は，下限値測定用回路の両側に少なくとも１本配置され
ている。上記下限値測定用回路と補助回路との配線ピッ
チとは，両回路の中心部間の距離をいう。
性インピーダンスの最小値を示すであろうと考えられる
部位は，例えば，導体回路において測定対象部位の隣に
少なくとも１本の導体回路があり，両回路間の間隙が狭
い部位である。ここで，補助回路は，導体回路の隣に配
置されている回路をモデル化したものである。補助回路
は，下限値測定用回路の両側に少なくとも１本配置され
ている。上記下限値測定用回路と補助回路との配線ピッ
チとは，両回路の中心部間の距離をいう。
【００１２】一方，上限値測定用回路，下限値測定用回
路及び補助回路の線幅と，導体回路の線幅との差異が±
１０％を超える場合，または下限値測定用回路と補助回
路との配線ピッチと，導体回路の配線ピッチとの差異が
±２％を超える場合には，導体回路の特性インピーダン
スの上限値及び下限値を測定することができないおそれ
がある。
路及び補助回路の線幅と，導体回路の線幅との差異が±
１０％を超える場合，または下限値測定用回路と補助回
路との配線ピッチと，導体回路の配線ピッチとの差異が
±２％を超える場合には，導体回路の特性インピーダン
スの上限値及び下限値を測定することができないおそれ
がある。
【００１３】上限値測定用回路，下限値測定用回路及び
補助回路の線幅は，導体回路において特性インピーダン
スを知りたい測定対象部位の線幅と同じかまたはその差
異が１０％以内であることが好ましい。これにより，当
該測定対象部位の特性インピーダンスの上限値及び下限
値を測定することができる。製品領域の中に特性インピ
ーダンスを知りたい測定対象部位が２本ある場合には，
たとえば，線幅の細い測定対象部位の線幅に，上限値測
定用回路，下限値測定用回路及び補助回路の線幅を上記
のように合わせることが多い。線幅の太い測定対象部位
の特性インピーダンスは，線幅の細い測定対象部位の特
性インピーダンスの上限値及び下限値の範囲内に入ると
考えられるからである。
補助回路の線幅は，導体回路において特性インピーダン
スを知りたい測定対象部位の線幅と同じかまたはその差
異が１０％以内であることが好ましい。これにより，当
該測定対象部位の特性インピーダンスの上限値及び下限
値を測定することができる。製品領域の中に特性インピ
ーダンスを知りたい測定対象部位が２本ある場合には，
たとえば，線幅の細い測定対象部位の線幅に，上限値測
定用回路，下限値測定用回路及び補助回路の線幅を上記
のように合わせることが多い。線幅の太い測定対象部位
の特性インピーダンスは，線幅の細い測定対象部位の特
性インピーダンスの上限値及び下限値の範囲内に入ると
考えられるからである。
【００１４】下限値測定用回路と補助回路との配線ピッ
チは，導体回路において特性インピーダンスを知りたい
測定対象部位の配線ピッチと同じかまたはその差異が±
２％以内であることが好ましい。これにより，測定対象
部位の特性インピーダンスの上限値及び下限値を測定す
ることができる。製品領域の中に配線ピッチが異なる導
体回路がある場合には，たとえば，狭い方の配線ピッチ
に，下限値測定用回路と補助回路との配線ピッチを上記
のごとくあわせることが多い。配線ピッチが広い方の測
定対象部位の特性インピーダンスの下限値は，配線ピッ
チが狭い方の測定対象部位の特性インピーダンスの下限
値よりも大きいと考えられるからである。
チは，導体回路において特性インピーダンスを知りたい
測定対象部位の配線ピッチと同じかまたはその差異が±
２％以内であることが好ましい。これにより，測定対象
部位の特性インピーダンスの上限値及び下限値を測定す
ることができる。製品領域の中に配線ピッチが異なる導
体回路がある場合には，たとえば，狭い方の配線ピッチ
に，下限値測定用回路と補助回路との配線ピッチを上記
のごとくあわせることが多い。配線ピッチが広い方の測
定対象部位の特性インピーダンスの下限値は，配線ピッ
チが狭い方の測定対象部位の特性インピーダンスの下限
値よりも大きいと考えられるからである。
【００１５】上記上限値測定用回路又は／及び上記下限
値測定用回路のそれぞれの長さＬ１と上記製品領域の長
さＬ２との比率（Ｌ１／Ｌ２）は，０．５〜１であるこ
とが好ましい（請求項３）。これにより，特性インピー
ダンスの測定値が安定になる。Ｌ１／Ｌ２が０．５未満
の場合に，測定値が不正確になるおそれがある。また，
特性インピーダンスの測定は，製品領域をある程度個片
化した後に行われることが多い。このため，上記Ｌ１／
Ｌ２が１を超えて長くても，個片化時に１を超えた分だ
け切断されてしまうため，無意味になるからである。
値測定用回路のそれぞれの長さＬ１と上記製品領域の長
さＬ２との比率（Ｌ１／Ｌ２）は，０．５〜１であるこ
とが好ましい（請求項３）。これにより，特性インピー
ダンスの測定値が安定になる。Ｌ１／Ｌ２が０．５未満
の場合に，測定値が不正確になるおそれがある。また，
特性インピーダンスの測定は，製品領域をある程度個片
化した後に行われることが多い。このため，上記Ｌ１／
Ｌ２が１を超えて長くても，個片化時に１を超えた分だ
け切断されてしまうため，無意味になるからである。
【００１６】上記インピーダンス測定領域は，上記製品
領域の外部に配置されていることが好ましい（請求項
４）。インピーダンス測定領域は，製品領域の外部に形
成されていると，製品領域の外形加工のときに切断除去
され，製品の中に残らない。したがって，製品の小型化
を妨げなくてすむ。
領域の外部に配置されていることが好ましい（請求項
４）。インピーダンス測定領域は，製品領域の外部に形
成されていると，製品領域の外形加工のときに切断除去
され，製品の中に残らない。したがって，製品の小型化
を妨げなくてすむ。
【００１７】上記インピーダンス測定領域は，上記製品
領域の中に配置されていることが好ましい（請求項
５）。これにより，各製品領域毎に特性インピーダンス
を測定できるため，より正確な測定値が得られる。
領域の中に配置されていることが好ましい（請求項
５）。これにより，各製品領域毎に特性インピーダンス
を測定できるため，より正確な測定値が得られる。
【００１８】
【実施例】本発明の実施形態について実施例を用いて更
に詳細に説明する。 （実施例１）本例のプリント配線板８は，図１に示すご
とく，導体回路７１を有する製品領域７と，インピーダ
ンス測定領域６とを備えている。インピーダンス測定領
域６は，製品領域７内の導体回路７１において発生し得
る特性インピーダンスの上限値を測定する上限値測定用
回路１と，導体回路７１において発生し得る特性インピ
ーダンスの下限値を測定する下限値測定用回路２とから
なる。
に詳細に説明する。 （実施例１）本例のプリント配線板８は，図１に示すご
とく，導体回路７１を有する製品領域７と，インピーダ
ンス測定領域６とを備えている。インピーダンス測定領
域６は，製品領域７内の導体回路７１において発生し得
る特性インピーダンスの上限値を測定する上限値測定用
回路１と，導体回路７１において発生し得る特性インピ
ーダンスの下限値を測定する下限値測定用回路２とから
なる。
【００１９】下限値測定用回路２及び補助回路３の線幅
Ｂ２，Ｂ３，配線ピッチＰ２３，Ｐ ３３，間隙幅
Ｂ２３，Ｂ３３は，導体回路７１の中で線幅Ｂ７１１，
配線ピッチＰ７１及び間隙幅Ｂ７０が狭い配線部７１
１，例えばボンディングパッドの近傍部位に合わせてい
る。具体的には，下限値測定用回路２の線幅Ｂ２は，１
００μｍであり，導体回路７１の上記配線部７１１の線
幅Ｂ７１１と同じである。下限値測定用回路２の両側に
は，その長手方向に沿って，導体回路７１の配線部７１
１の間隙幅Ｂ７０と同じ間隙幅Ｂ２３を隔てて補助回路
３が２本ずつ配置されている。補助回路３同士の間隙幅
Ｂ３３も，１００μｍであり，導体回路７１の配線部７
１１の間隙幅Ｂ７０と同じである。補助回路３の線幅Ｂ
３は，１００μｍであり，導体回路７１の配線部７１１
の線幅Ｂ７１１と同じである。下限値測定用回路２と補
助回路３との配線ピッチＰ２３，及び補助回路３同士の
配線ピッチＰ３３は，導体回路７１の配線部７１１の配
線ピッチＰ７０と同じである。上限値測定用回路１は，
導体回路７１の配線部７１１の線幅Ｂ７１１と同じ線幅
Ｂ１を有する単線である。その線幅Ｂ１は１００μｍで
ある。
Ｂ２，Ｂ３，配線ピッチＰ２３，Ｐ ３３，間隙幅
Ｂ２３，Ｂ３３は，導体回路７１の中で線幅Ｂ７１１，
配線ピッチＰ７１及び間隙幅Ｂ７０が狭い配線部７１
１，例えばボンディングパッドの近傍部位に合わせてい
る。具体的には，下限値測定用回路２の線幅Ｂ２は，１
００μｍであり，導体回路７１の上記配線部７１１の線
幅Ｂ７１１と同じである。下限値測定用回路２の両側に
は，その長手方向に沿って，導体回路７１の配線部７１
１の間隙幅Ｂ７０と同じ間隙幅Ｂ２３を隔てて補助回路
３が２本ずつ配置されている。補助回路３同士の間隙幅
Ｂ３３も，１００μｍであり，導体回路７１の配線部７
１１の間隙幅Ｂ７０と同じである。補助回路３の線幅Ｂ
３は，１００μｍであり，導体回路７１の配線部７１１
の線幅Ｂ７１１と同じである。下限値測定用回路２と補
助回路３との配線ピッチＰ２３，及び補助回路３同士の
配線ピッチＰ３３は，導体回路７１の配線部７１１の配
線ピッチＰ７０と同じである。上限値測定用回路１は，
導体回路７１の配線部７１１の線幅Ｂ７１１と同じ線幅
Ｂ１を有する単線である。その線幅Ｂ１は１００μｍで
ある。
【００２０】上限値測定用回路１及び下限値測定用回路
２の一端には，上限値測定用端子１１及び下限値測定用
端子２１が接続されている。図２，図３に示すごとく，
インピーダンス測定領域６の内部には，ベタ状の電源回
路４が配置されている。この電源回路４は，製品領域に
おける電源回路とほぼ同じ位置にほぼ近似した形状であ
る。内部の電源回路４は，インピーダンス測定領域６内
に形成された直径０．３ｍｍのビアホール４２を通じ
て，外部の電源用端子４３と接続している。図３に示す
ごとく，電源回路４と，上限値測定用回路１及び下限値
測定用回路２との間には，ガラスエポキシ樹脂からなる
厚み７５μｍの絶縁層８５が介在している。上限値測定
用回路１，下限値測定用回路２，補助回路３及び電源回
路４は，それぞれ板状であり，互いに板面が並行に対向
してマイクロストリップライン構造をなす。
２の一端には，上限値測定用端子１１及び下限値測定用
端子２１が接続されている。図２，図３に示すごとく，
インピーダンス測定領域６の内部には，ベタ状の電源回
路４が配置されている。この電源回路４は，製品領域に
おける電源回路とほぼ同じ位置にほぼ近似した形状であ
る。内部の電源回路４は，インピーダンス測定領域６内
に形成された直径０．３ｍｍのビアホール４２を通じ
て，外部の電源用端子４３と接続している。図３に示す
ごとく，電源回路４と，上限値測定用回路１及び下限値
測定用回路２との間には，ガラスエポキシ樹脂からなる
厚み７５μｍの絶縁層８５が介在している。上限値測定
用回路１，下限値測定用回路２，補助回路３及び電源回
路４は，それぞれ板状であり，互いに板面が並行に対向
してマイクロストリップライン構造をなす。
【００２１】図１に示すごとく，上限値測定用回路１及
び下限値測定用回路２の長さＬ１は４０ｍｍであり，製
品領域７の長さＬ２は４２．５ｍｍであって，両者の比
率（Ｌ１／Ｌ２）は，０．９４である。製品領域７に設
けられた導体回路７１は，配線部７１１と，ボンディン
グパッド７１２と，ビアホール７１０とを有する。製品
領域７の中央には，電子部品を搭載するための搭載部７
２が設けられている。
び下限値測定用回路２の長さＬ１は４０ｍｍであり，製
品領域７の長さＬ２は４２．５ｍｍであって，両者の比
率（Ｌ１／Ｌ２）は，０．９４である。製品領域７に設
けられた導体回路７１は，配線部７１１と，ボンディン
グパッド７１２と，ビアホール７１０とを有する。製品
領域７の中央には，電子部品を搭載するための搭載部７
２が設けられている。
【００２２】図４に示すごとく，インピーダンス測定領
域６は，製品領域７の外部に形成されている。インピー
ダンス測定領域６は，プリント配線板８の周縁部のつか
み代８１に形成されており，基板端部から２０ｍｍ内側
に位置している。インピーダンス測定領域６は，製品領
域７の外形の延長線と同じになるように配置されてい
る。
域６は，製品領域７の外部に形成されている。インピー
ダンス測定領域６は，プリント配線板８の周縁部のつか
み代８１に形成されており，基板端部から２０ｍｍ内側
に位置している。インピーダンス測定領域６は，製品領
域７の外形の延長線と同じになるように配置されてい
る。
【００２３】図１に示すごとく，インピーダンス測定領
域６において特性インピーダンスを測定するにあたって
は，インピーダンス測定機５１に接続された測定ピン５
２５及び電源ピン５２６を，それぞれ，インピーダンス
測定領域６の上限値測定用端子１１及び電源用端子４３
に接触させる。このときの特性インピーダンスは５３Ω
であった。次に，測定ピン５２５及び電源ピン５２６
を，それぞれ，下限値測定用端子１２及び電源用端子４
３に接触させる。このときの特性インピーダンスは４８
Ωであった。インピーダンス測定領域６は，特性インピ
ーダンス測定後に，外形加工により，つかみ代８１の一
部として切断除去される。
域６において特性インピーダンスを測定するにあたって
は，インピーダンス測定機５１に接続された測定ピン５
２５及び電源ピン５２６を，それぞれ，インピーダンス
測定領域６の上限値測定用端子１１及び電源用端子４３
に接触させる。このときの特性インピーダンスは５３Ω
であった。次に，測定ピン５２５及び電源ピン５２６
を，それぞれ，下限値測定用端子１２及び電源用端子４
３に接触させる。このときの特性インピーダンスは４８
Ωであった。インピーダンス測定領域６は，特性インピ
ーダンス測定後に，外形加工により，つかみ代８１の一
部として切断除去される。
【００２４】本例のプリント配線板８においては，導体
回路において発生し得る特性インピーダンスの最大値だ
けでなく最小値をも測定することができる。このため，
導体回路の特性を正確に把握することができる。
回路において発生し得る特性インピーダンスの最大値だ
けでなく最小値をも測定することができる。このため，
導体回路の特性を正確に把握することができる。
【００２５】（実施例２）本例は，図５に示すごとく，
インピーダンス測定領域６が製品領域７の内部に配置さ
れている例である。プリント配線板８の外形加工により
製品領域６が個片化されて製品となるが，この製品には
インピーダンス測定領域６が残る。インピーダンス測定
領域６は，各製品領域７毎に形成されている。このた
め，各製品領域ごとの正確な特性インピーダンスを測定
することができる。その他は，実施例１と同様である。
本例においては実施例１と同様の効果を発揮できる。
インピーダンス測定領域６が製品領域７の内部に配置さ
れている例である。プリント配線板８の外形加工により
製品領域６が個片化されて製品となるが，この製品には
インピーダンス測定領域６が残る。インピーダンス測定
領域６は，各製品領域７毎に形成されている。このた
め，各製品領域ごとの正確な特性インピーダンスを測定
することができる。その他は，実施例１と同様である。
本例においては実施例１と同様の効果を発揮できる。
【図１】実施例１のプリント配線板の平面図。
【図２】実施例１における，プリント配線板の内部に形
成された電源回路の平面図。
成された電源回路の平面図。
【図３】実施例１における，プリント配線板の断面図。
【図４】実施例１における，インピーダンス測定領域の
配置説明図。
配置説明図。
【図５】実施例２における，インピーダンス測定領域の
配置説明図。
配置説明図。
【図６】従来例のインピーダンス測定方法の説明図。
１．．．上限値測定用回路， １１．．．上限値測定用端子， ２．．．下限値測定用回路， ２１．．．下限値測定用端子， ３．．．補助回路， ４．．．電源回路， ４２．．．ビアホール， ４３．．．電源用端子， ５１．．．インピーダンス測定機， ６．．．インピーダンス測定領域， ７．．．製品領域， ７１．．．導体回路， ７１１．．．配線部， ８．．．プリント配線板，
Claims (5)
- 【請求項１】 導体回路を有し製品となるべき製品領域
と，特性インピーダンスを測定するためのインピーダン
ス測定領域とを備えたプリント配線板であって，上記イ
ンピーダンス測定領域は，上記導体回路において発生し
得る特性インピーダンスの上限値を測定する上限値測定
用回路と，上記導体回路において発生し得る特性インピ
ーダンスの下限値を測定する下限値測定用回路とからな
ることを特徴とするプリント配線板。 - 【請求項２】 請求項１において，上記上限値測定用回
路は単線であり，上記下限値測定用回路の両側には，そ
の長手方向に沿って，補助回路が配置されており，かつ
上記上限値測定用回路，上記下限値測定用回路及び上記
補助回路の線幅は，上記導体回路の線幅と同じかまたは
その差異が±１０％以内であり，且つ上記下限値測定用
回路と上記補助回路との配線ピッチは，上記導体回路の
配線ピッチと同じかまたはその差異が±２％以内である
ことを特徴とするプリント配線板。 - 【請求項３】 請求項１または２において，上記上限値
測定用回路又は／及び上記下限値測定用回路のそれぞれ
の長さＬ１と上記製品領域の長さＬ２との比率（Ｌ１／
Ｌ２）は，０．５〜１であることを特徴とするプリント
配線板。 - 【請求項４】 請求項１〜３のいずれか１項において，
上記インピーダンス測定領域は，上記製品領域の外部に
配置されていることを特徴とするプリント配線板。 - 【請求項５】 請求項１〜３のいずれか１項において，
上記インピーダンス測定領域は，上記製品領域の中に配
置されていることを特徴とするプリント配線板。
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|---|---|---|---|
| JP2001162665A JP4810756B2 (ja) | 2001-05-30 | 2001-05-30 | プリント配線板 |
Applications Claiming Priority (1)
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|---|---|---|---|
| JP2001162665A JP4810756B2 (ja) | 2001-05-30 | 2001-05-30 | プリント配線板 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2002359451A true JP2002359451A (ja) | 2002-12-13 |
| JP4810756B2 JP4810756B2 (ja) | 2011-11-09 |
Family
ID=19005758
Family Applications (1)
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|---|---|---|---|
| JP2001162665A Expired - Lifetime JP4810756B2 (ja) | 2001-05-30 | 2001-05-30 | プリント配線板 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP4810756B2 (ja) |
Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0541567A (ja) * | 1991-08-06 | 1993-02-19 | Fujitsu Ltd | プリント配線板 |
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- 2001-05-30 JP JP2001162665A patent/JP4810756B2/ja not_active Expired - Lifetime
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| Publication number | Publication date |
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| JP4810756B2 (ja) | 2011-11-09 |
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