JP2002358740A - データ再生装置における欠陥検出装置及びそのデータ再生装置 - Google Patents

データ再生装置における欠陥検出装置及びそのデータ再生装置

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Abstract

(57)【要約】 【課題】本発明の課題は、記録媒体のデータの記録欠陥
を的確に検出できるようにした欠陥検出装置を提供する
ことである。 【解決手段】上記課題は、記録媒体からの再生信号をサ
ンプリングし、そのサンプリング値からパーシャルレス
ポンスに対応した最尤復号アルゴリズムに従って記録デ
ータとして最も確からしいデータを復元するデータ再生
装置における上記記録データの欠陥を検出する欠陥検出
装置において、上記最尤復号アルゴリズムに従って最も
確からしいデータを復元する過程で得られる軟判定結果
に基づいて再生信号の波形の状態を表す情報を生成する
波形状態検出手段と、該波形状態検出手段にて生成され
る情報にて表される再生信号の波形の状態に基づいて記
録データの欠陥を判定する欠陥判定手段とを有する欠陥
検出装置にて解決される。

Description

【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、光ディスク装置、
磁気ディスク装置等のデータ再生装置における欠陥検出
装置に係り、詳しくは、記録媒体からの再生信号に基づ
いて記録データの欠陥を検出する欠陥検出装置に関す
る。
【０００２】また、本発明は、そのような欠陥検出装置
が適用されるデータ再生装置に関する。
【０００３】
【従来の技術】近年、記録媒体、例えば、光磁気ディス
クは記録情報の高密度化が進み、その光磁気ディスクの
再生系におけるデータの転送レートの向上も図られてい
る。このように情報の高密度記録された光磁気ディスク
から高速、かつ高精度に情報再生を行なう方法として、
ＰＲＭＬの記録再生方法が提案されている。
【０００４】このＰＲＭＬの記録再生方法では、記録す
べきデータをパーシャルレスポンス（ＰＲ）波形の信号
にて光磁気ディスクに書込み、その光磁気ディスクから
の再生信号を所定のクロックに同期してサンプルし、そ
のサンプリング値（量子化データ）から最尤（ＭＬ）復
号アルゴリズム（例えば、ビタビ復号アルゴリズム）に
従って最も確からしいデータの復元を行なう。
【０００５】上記ＰＲＭＬの記録再生方法を前提とした
データ再生装置（例えば、光磁気ディスク装置）では、
再生信号の直流レベル変動を検出し、その変動レベルを
最尤復号に使用する期待値や、サンプリング値等のデー
タ復調に用いられる情報にフィードバックすることも提
案されている。これにより、再生信号に直流レベル変動
があってもその再生信号のサンプリング値から高精度な
データの復元が可能となる。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】上記のようなデータ再
生装置において、記録媒体の傷、ほこりの付着などの記
録媒体の物理的な欠陥や、記録媒体へのデータ書込み時
の動作不良などによる記録データの欠陥があると、その
欠陥の影響を受けた再生信号のサンプリング値から適正
なデータの復元ができない。そのため、そのような記録
データの欠陥を検出することが重要である。
【０００７】また、その再生信号の変動レベルをデータ
復調に用いられる情報にフィードバックするようにした
データ再生装置では、そのような欠陥が発生した部分と
そうでない部分において、再生信号の変動レベルをデー
タ復調に用いられる情報にフィードバックする際の制御
をいかに行なうかが問題となる。
【０００８】そこで、本発明の第一の課題は、記録媒体
のデータの記録欠陥を的確に検出できるようにした欠陥
検出装置を提供することである。
【０００９】また、本発明の第二の課題は、そのような
欠陥検出装置が適用されるデータ再生装置を提供するこ
とである。
【００１０】
【課題を解決するための手段】上記第一の課題を解決す
るため、本発明は、請求項１に記載されるように、記録
媒体からの再生信号をサンプリングし、そのサンプリン
グ値からパーシャルレスポンスに対応した最尤復号アル
ゴリズムに従って記録データとして最も確からしいデー
タを復元するデータ再生装置における上記記録データの
欠陥を検出する欠陥検出装置において、上記最尤復号ア
ルゴリズムに従って最も確からしいデータを復元する過
程で得られる軟判定結果に基づいて再生信号の波形の状
態を表す情報を生成する波形状態検出手段と、該波形状
態検出手段にて生成される情報にて表される再生信号の
波形の状態に基づいて記録データの欠陥を判定する欠陥
判定手段とを有するように構成される。
【００１１】このような欠陥検出装置では、最尤復号ア
ルゴリズムに従って最も確からしいデータを復元する過
程で得られる軟判定結果は、再生信号のサンプリング値
に基づいて得られるデータの取り得る状態遷移を表す。
従って、この軟判定結果は、再生信号の波形の状態を反
映する。また、記録データの欠陥は、再生信号の異常と
して現れることから、その軟判定結果に基づいて記録デ
ータの欠陥を判定することができる。
【００１２】本発明は、請求項２に記載されるように、
上記欠陥検出装置において、上記波形状態検出手段は、
データ「０」及び「１」を確定するための軟判定結果に
基づいて再生信号のサンプリング値のピーク値部分とそ
うでない部分とに対応した２つの状態を区別して表す第
一の情報とそのボトム値部分とそうでない部分とに対応
した２つの状態を区別して表す第二の情報とを生成する
ようにし、欠陥判定手段は、上記第一の情報及び第二の
情報の少なくとも一方に基づいて記録データの欠陥を判
定するように構成することができる。
【００１３】容易に記録データの欠陥を判定できるとい
う観点から、本発明は、請求項３に記載されるように、
上記欠陥検出装置において、上記欠陥判定手段は、上記
第一の情報及び第二の情報の少なくとも一方の表す状態
が継続される時間を測定する状態継続時間測定手段を有
し、該状態継続時間測定手段にて測定された時間が所定
時間に達したときに記録データの欠陥を判定するように
構成することができる。
【００１４】このような欠陥検出装置では、上記第一の
情報または第二の情報が表す状態が継続される時間を測
定し、その測定結果により記録データの欠陥を判定する
ことができる。
【００１５】上記所定時間は、第一の情報または第二の
情報が継続してその状態を通常表し続けないであろう時
間や、経験的に記録データの欠陥として得られている時
間に基づいて定められる。
【００１６】上記第二の課題を解決するため、本発明
は、請求項４に記載されるように、記録媒体からの再生
信号をサンプリングし、そのサンプリング値からパーシ
ャルレスポンスに対応した最尤復号アルゴリズムに従っ
て記録データとして最も確からしいデータを復元するデ
ータ再生装置において、再生信号の変動レベルに基づい
て上記記録データを最尤復号アルゴリズムに従って復元
するために必要な情報をその再生信号の変動に追従する
ように調整する追従調整手段と、記録データの欠陥を検
出する欠陥検出手段と、該欠陥検出手段が記録データの
欠陥を検出したときに、第一の所定時間だけ上記記録デ
ータを復元するために必要な情報を初期値に固定する初
期化手段を有し、上記欠陥検出手段は、上記最尤復号ア
ルゴリズムに従って最も確からしいデータを復元する過
程で得られる軟判定結果に基づいて再生信号の波形の状
態を表す情報を生成する波形状態検出手段と、該波形状
態検出手段にて生成される情報にて表される再生信号の
波形の状態に基づいて記録データの欠陥を判定する欠陥
判定手段とを有するように構成される。
【００１７】このようなデータ再生装置では、記録デー
タの欠陥が検出されたときに、第一の所定時間だけ上記
記録データを復元するために必要な情報が初期値に固定
される。このため、その記録データを復元するために必
要な情報がその欠陥のある記録データに対応した再生信
号の変動に追従することがない。
【００１８】上記記録データを復元するために必要な情
報は、上記最尤復号アルゴリズムに従った処理におい
て、データの復元に用いられる情報であれば、特に限定
されない。例えば、パーシャルレスポンス波形で決まる
期待値、そのオフセット量あるいは、サンプリング値で
あってもよい。
【００１９】記録データを復元するために必要な情報を
できるだけ早く正常な再生信号の変動に追従できるよう
にするという観点から、本発明は、請求項５に記載され
るように、上記データ再生装置において、上記初期化手
段により第一の所定時間だけ上記データを復元するため
に必要な情報を初期値に固定した後に、上記追従調整手
段は、当該情報を再生信号の変動に追従させるためのゲ
インを第二の所定時間だけ上記再生信号の変動に追従さ
せる際のゲインより高くするように構成することができ
る。
【００２０】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図面
に基づいて説明する。
【００２１】本発明の実施の一形態に係るデータ再生装
置は、例えば、図１に示すように構成される。このデー
タ再生装置は、光磁気ディスク（ＭＯ）を記録媒体とし
た光ディスク装置に設けられている。
【００２２】図１において、このデータ再生装置は、光
磁気ディスク１０から光学的にデータの読取りを行なっ
て電気信号を出力する光学ヘッド１２及び光学ヘッド１
２からの出力信号の増幅処理を行なうヘッドアンプ１４
を有すると共に、アナログ・デジタル変換回路（以下、
ＡＤＣという）１６、デジタル等化器（以下、ＤＥＱと
いう）１８及び最尤検出器２０を有している。上記ヘッ
ドアンプ１４からの出力信号が再生信号としてＡＤＣ１
６に供給される。図示していないが、通常ヘッドアンプ
１４とＤＡＣ１６との間にエイリアシングノイズを除去
するためにローパスフィルタ（ＬＰＦ）が設けられる。
そして、ＡＤＣ１６が所定のクロック（クロック生成回
路は図示略）に同期して変換動作を行ない、その変換動
作により得られた値をサンプリング値（量子化データ）
として出力する。即ち、上記クロックに同期して再生信
号がＡＤＣ１６にてサンプリングされる。ＤＥＱ１８
は、ＡＤＣ１６からのサンプリング値に対してパーシャ
ルレスポンス波形（例えば、ＰＲ（1,1）波形）の等化
処理を施し、その波形等化されたサンプリング値Ｙtを
出力する。
【００２３】このデータ再生装置は、更に欠陥検出部３
０及び調整器（期待値追従器またはオフセット追従器）
４０を有する。欠陥検出部３０は、後述するように、最
尤検出器２０からの軟判定出力に基づいて記録データの
各種の欠陥を検出する。調整器４０は、再生信号の変動
レベルを検出し、その変動レベルに基づいて最尤検出器
２０でのデータ復調に用いられる情報、例えば、期待値
が再生信号の変動に追従して変化するようにその期待値
の制御を行う（期待値追従器）。または、調整器４０
は、上記再生信号の変動レベルに基づいて、パーシャル
レスポンス波形で決まる期待値に対するオフセット量が
その再生信号の変動に追従するようにそのオフセット量
の制御を行なう（オフセット追従器）。
【００２４】なお、調整器４０は、その再生信号の変動
レベルに基づいて最尤検出器２０でのデータ復調に用い
られる他の情報、例えば、サンプリング値Ｙtが再生信
号の変動に追従するように制御してもよい。
【００２５】最尤検出器２０は、上記ＤＥＱ１８からの
サンプリング値Ｙtから最尤復号アルゴリズム（例え
ば、ビタビ復号アルゴリズム）に従って記録データとし
て最も確からしいデータを復元する。この最尤検出器２
０は、ブランチメトリック計算ユニット（以下、ＢＭ計
算ユニットという）２１、加算・比較・選択ユニット
（以下、ＡＣＳユニットという）２２、パスメトリック
メモリ（ＰＭＭ）２３及びパスメモリ２４を有してい
る。
【００２６】（1,7）走長制限（ＲＬＬ）のＤ制約のあ
る３値（例えば、０、１、２）４状態（例えば、Ｓ0
（値「２」に対応）、Ｓ1（値「１」に対応）、Ｓ2（値
「１」に対応）、Ｓ3（値「０」に対応））のＰＲ（1,
1）波形の再生信号の場合を例に、更に、最尤検出器２
０を具体的に説明する。
【００２７】ＢＭ計算ユニット２１は、ＤＥＱ１８から
のサンプリング値Ｙtに基づいてブランチメトリック値
ＢＭ0、ＢＭ1、ＢＭ3、ＢＭ4、ＢＭ6、ＢＭ7のそれぞれ
を、そのＰＲ（1,1）で決まる期待値Ｐ0、Ｐ1、Ｐ3、Ｐ
4、Ｐ6、Ｐ7を用いて以下のように算出する。
【００２８】 ＢＭ0＝（Ｙt−Ｐ0）2 …（１） ＢＭ1＝（Ｙt−Ｐ1）2 …（２） ＢＭ3＝（Ｙt−Ｐ3）2 …（３） ＢＭ4＝（Ｙt−Ｐ4）2 …（４） ＢＭ6＝（Ｙt−Ｐ6）2 …（５） ＢＭ7＝（Ｙt−Ｐ7）2 …（６） 本来、ＢＭ1、ＢＭ5も演算されるべきものであるが、上
記（1,7）走長制限（ＲＬＬ）のＤ制約により、ＲＺ信
号の最密パターン１０１０１０１０…をＮＲＺ信号に直
すと、１１００１１００１１…となって、０１０、１０
１という状態がなくなるなめ、上記ＢＭ1、ＢＭ5は省か
れる。
【００２９】上記のように、ＢＭ計算ユニット２１は、
サンプリング値Ｙtと各期待値との差に依存したブラン
チメトリック値を算出する。
【００３０】ＡＣＳユニット２２は、上記ＢＭ値計算ユ
ニット２１からのブランチメトリック値とパスメトリッ
クメモリ２３に格納された１クロック前のパスメトリッ
ク値とを加算し（Add）、その加算後のパスメトリック
値を２つずつ比較する（Compare）。そして、ＡＣＳユ
ニット２２は、その比較の結果、小さい方のパスメトリ
ック値を新たなパスメトリック値として選択し（Selec
t）、そのパスメトリック値をパスメトリックメモリ２
３に格納する。このような処理の結果、パスメトリック
値は、上記ブランチメトリック値の積算値となる。
【００３１】上記ＡＣＳユニット２２は、具体的には、
上述したようにＤ制約がある場合、以下のようなパスメ
トリック値ＰＭ（t,0）、ＰＭ（t,1）、ＰＭ（t,2）、
ＰM（t,3）を演算する。
【００３２】 ＰＭ（t,0）＝min｛ＰＭ（t-1,0）＋ＢＭ0，ＰＭ（t-1,1）＋ＢＭ1｝…（７） ＰＭ（t,1）＝ＰＭ（t-1,3）＋ＢＭ3 …（８ ） ＰＭ（t,2）＝ＰＭ（t-1,0）＋ＢＭ4 …（９ ） ＰＭ（t,3）＝min｛ＰＭ（t-1,2）＋ＢＭ6，ＰＭ（t-1,3）＋ＢＭ7｝…（１０ ） 上記式（７）と（１０）がパスメトリック値の選択（Se
lect）の処理に相当する。
【００３３】上記式（７）、（１０）から、ＰＭ（t,
0）とＰＭ（t,3）の要素の大小関係は、 ＰＭ（t-1,0）＋ＢＭ0＜ＰＭ（t-1,1）＋ＢＭ1 …（１１） ＰＭ（t-1,0）＋ＢＭ0≧ＰＭ（t-1,1）＋ＢＭ1 …（１２） ＰＭ（t-1,2）＋ＢＭ6＜ＰＭ（t-1,3）＋ＢＭ7 …（１３） ＰM（t-1,2）＋ＢＭ6≧ＰＭ（t-1,3）＋ＢＭ7 …（１４） の４つの条件で示される。
【００３４】上記各条件の組合せにより、データを決め
るための状態遷移のパターンは、図２に示すように４種
類(１)、（２）、（３）、（４）に分類することができ
る。
【００３５】図２において、パターン（１）は、上記式
（１１）、（１３）で表される条件に対応し、時刻ｔ−
１から時刻ｔへの時間遷移において、Ｓ3からＳ1への状
態遷移、Ｓ2からＳ3への状態遷移、Ｓ0からＳ2への状態
遷移、Ｓ0からＳ0への状態遷移のいずれかが発生しうる
ことを表す。そのときＡＣＳユニット２２の出力（Ｄ
0、Ｄ1、Ｄ2、Ｄ3）は、Ｄ0＝０、Ｄ1＝１、Ｄ2＝０、
Ｄ3＝０となる。
【００３６】パターン（２）は、上記式（１１）、（１
４）で表される条件に対応し、時刻ｔ−１から時刻ｔへ
の時間遷移において、Ｓ3からＳ1への状態遷移、Ｓ3か
らＳ3への状態遷移、Ｓ0からＳ2への状態遷移、Ｓ0から
Ｓ0への状態遷移のいずれかが発生しうることを表す。
このときＡＣＳユニット２２に出力は、Ｄ0＝０、Ｄ1＝
１、Ｄ2＝０、Ｄ3＝１となる。
【００３７】パターン（３）は、上記式（１２）、（１
３）で表される条件に対応し、時刻ｔ−１から時刻ｔへ
の時間遷移において、Ｓ3からＳ1への状態遷移、Ｓ2か
らＳ3への状態遷移、Ｓ1からＳ0への状態遷移、Ｓ0から
Ｓ2への状態遷移のいずれかが発生しうることを表す。
このときＡＳＣユニット２２の出力は、Ｄ0＝１、Ｄ1＝
１、Ｄ2＝０、Ｄ3＝０となる。
【００３８】パターン（４）は、上記式（１２）、（１
４）で表される条件に対応し、時刻ｔ−１から時刻ｔへ
の時間遷移において、Ｓ3からＳ1への状態遷移、Ｓ3か
らＳ3への状態遷移、Ｓ1からＳ0への状態遷移、Ｓ0から
Ｓ2への状態遷移のいずれかが発生しうることを表す。
このときＡＳＣユニット２２の出力は、Ｄ0＝１、Ｄ1＝
１、Ｄ2＝０、Ｄ3＝１となる。
【００３９】上記のような条件に従って変化するＡＣＳ
ユニット２２からの出力Ｄ0、Ｄ1、Ｄ2、Ｄ3は、発生し
得る状態遷移を表すもので、その状態遷移で決まるデー
タの軟判定出力（軟判定結果）という。このデータの軟
判定出力Ｄ0、Ｄ1、Ｄ2、Ｄ3の値（０または１）が順次
パスメモリ２４に供給され、パスメモリ２４は、その値
を順次シフトする過程で、状態遷移の連続性に基づいて
選択されるべきでないとされた各パスに対応する値を順
次淘汰していく。そして、パスメモリ２４は生き残った
パスに対応する値（０または１）を検出データとして出
力する。
【００４０】パスメモリ２４は、例えば、図４に示すよ
うに構成される。
【００４１】これは、ＡＣＳユニット２２からの軟判定
出力Ｄ0、Ｄ1、Ｄ2、Ｄ3の各系列毎に、レジスタ（SR）
とセレクタ（Sel）とが交互に配列された構成となって
おり、それぞれ所定のクロックに同期して動作する。各
セレクタ（Sel）によって各レジスタ（SR）にセットさ
れる値が選択される。例えば、Ｄ3が「１」となるとき
は、図２に示すパターン（２）、（４）のように、Ｓ3
からＳ3への状態遷移に対応したパスが確からしいとし
て、Ｄ3の系列における全てのレジスタ（SR）は、時刻
ｔ−１の値が時刻ｔの値としてセットされる。また、Ｄ
3が「０」となるときは、図２に示すパターン（１）、
（３）のようにＳ2からＳ3への状態遷移に対応したパス
が確からしいとして、Ｄ3の系列の全てのレジスタ（S
R）には、時刻ｔ−１におけるＤ2の系列のレジスタ（S
R）の値が時刻ｔの値としてセット（コピー）される。
【００４２】上記のような動作が繰り返し行なわれるこ
とにより、各タイミングでより確からしいパス（状態遷
移）に対応したデータ（０または１）がレジスタ（SR）
に残るようになる。そして、いずれかのパスが確定する
（パスマージが発生する）と、そのときまでの最も確か
らしいパスに対応したデータがレジスタ（SR）に残る。
このとき、パスメモリ２４のメモリ長を十分長くしてお
けば、パスメモリ２４のある位置以降におけるＤ3〜Ｄ0
に対応した各レジスタ（SR）には同じデータ（値）がセ
ットされた状態になる。その結果、パスメモリ２４のＤ
3〜Ｄ0の各系列の最終データ（値）のいずれかが復元さ
れたデータ（復調データ）として出力される。
【００４３】なお、上述した４つの状態遷移のパターン
（図２参照）が少なくとも３つ以上連続したときに、上
記パスマージ（パスの確定）が発生する。その３つのパ
ターンの組合せは、例えば、図３に示す（ａ）から
（ｈ）に示す８種類となる。図３において、●印は、パ
スが確定（パスマージ）されたことを示す。即ち、その
パスが確定したときに、●印に連なる過去のパスが確定
される。
【００４４】次に、図１に示す欠陥検出部３０は、例え
ば、図５に示すように構成される。
【００４５】図５において、この欠陥検出部３０は、パ
スマージ絶対条件検出器３１、５つの欠陥検出器３３
（１）、３３（２）、３３（３）、３３（４）、３３
（５）、オア回路３５、復帰ゲート（Recover Gate）信
号作成器３６及びラッチ回路３７を有している。パスマ
ージ絶対条件検出器３１は、上記最尤検出器２０のＡＣ
Ｓユニット２２の軟判定出力に基づいて、最尤復号処理
においてデータパスが確定する状態であるパスマージが
確実に発生する条件を検出し、検出信号を出力する。そ
のパスマージによりデータ「１」が確定する状態をマー
ジ１（merge1）、及びそのパスマージによりデータ
「０」が確定する状態をマージ０（merge0）とする。す
ると、このマージ１の状態は、サンプリング値Ｙtのピ
ーク値に対応し、マージ０の状態は、サンプリング値Ｙ
tのボトム値に対応する。従って、上記マージ１及びマ
ージ０の組合せにより再生信号の波形の状態が推定でき
る。
【００４６】一方、サンプリング値が再生信号のエッジ
部分では、データの状態遷移が確定しないのに対して、
サンプリング値がピーク値またはボトム値となる場合、
データの遷移状態を確定し得る。即ち、上記軟判定出力
のうち、D3＝１、Ｄ0＝１となる状態は、図２のパター
ン（４）に対応して、状態Ｓ3からＳ3への状態遷移のパ
スが確からしいパスとして選択される。このことから、
Ｄ3＝１かつＤ0＝１のときに、上記マージ１の状態とな
る。また、上記軟判定出力のうち、Ｄ3＝０、Ｄ0＝０と
なる状態は、図２のパターン（１）に対応して、状態Ｓ
0からＳ0への状態遷移のパスが確からしいパスとして選
択される。このことから、Ｄ3＝０かつＤ0＝０のとき
に、上記マージ０の状態となる。
【００４７】従って、上記パスマージ絶対条件検出器３
１は、最尤検出器２０におけるＡＣＳユニット２２から
の軟判定出力Ｄ3、Ｄ0に基づいて上記データ「１」が確
定するマージ１とデータ「０」が確定するマージ０を検
出する。このパスマージ絶対検出器３１は、例えば、図
６に示すように構成される。
【００４８】図６において、このパスマージ絶対検出器
３１は、４つのアンド回路３１１、３１２、３２１及び
３２２を有している。アンド回路３１１には上記Ｄ3及
びＤ0が入力しており、その出力は、上記軟判定出力Ｄ3
＝１かつＤ0＝１となるときに有効（例えば、ハイレベ
ル）となる。このアンド回路３１１の出力は、後述する
ような第一のマスク信号によりゲート制御されるアンド
回路３２１に入力し、このアンド回路３２１の出力が上
記マージ１の状態を表すマージ１検出信号となる。
【００４９】また、アンド回路３１２には上記Ｄ3及び
Ｄ0の反転信号が入力しており、その出力は、上記軟判
定出力Ｄ3＝０かつＤ0＝０となるときに有効（例えば、
ハイレベル）となる。このアンド回路３１２の出力は、
後述するような第二のマスク信号によりゲート制御され
るアンド回路３２２に入力し、このアンド回路３２２の
出力が上記マージ０の状態を表すマージ０検出信号とな
る。
【００５０】上記Ｄ3及びＤ0は、排他的論理和回路（以
下、Eor回路という）３１３に入力し、その判定出力が
ラッチ回路３１４に入力されている。このEor回路３１
３の反転出力は、Ｄ3とＤ0が同じときに有効（例えば、
ハイレベル）となる信号である。従って、Eor回路３１
４の反転出力とラッチ回路３１４が共に有効であるとき
は、２クロック続けてＤ3とＤ0が同じとなる状態を表
す。
【００５１】上記Ｄ３はラッチ回路３１５に入力し、そ
のラッチ回路３１５にラッチされた信号及びそのＤ3がE
or回路３１６に入力している。このEor回路３１６は、
連続したＤ3の値が異なるとき、即ち、Ｄ3の変化点で有
効（例えば、ハイレベル）となる信号を出力する。この
Eor回路３１６からの信号と、上記Eor回路３１３及びラ
ッチ回路３１４からの各信号がアンド回路３１９に入力
される。その結果、アンド回路３１９は、上記Ｄ3が０
から１に変化し、かつＤ0が０から１に変化するとき有
効（ローレベル）となる上記第一のマスク信号を出力す
る。
【００５２】また、上記Ｄ0はラッチ回路３１７に入力
し、そのラッチ回路３１７にラッチされた信号及びその
Ｄ0がEor回路３１８に入力している。このEor回路３１
８は、連続したＤ0の値が異なるとき、即ち、Ｄ0の変化
点で有効となる信号を出力する。このEor回路３１８か
らの信号と、上記Eor回路３１３及びラッチ回路３１４
からの各信号がアンド回路３２０に入力される。その結
果、アンド回路３２０は、上記Ｄ0が０から１に変化
し、かつＤ3が０から１に変化するときに有効（ローレ
ベル）となる上記第二のマスク信号を出力する。
【００５３】上記のような構成のパスマージ絶対条件検
出器３１により、例えば、図７に示すように、ＤＥＱ１
８からのサンプリング値Ｙtが変化する場合、最尤検出
器２０におけるＡＣＳユニット２２からの軟判定出力Ｄ
3、Ｄ0、それらの論理積出力（アンド回路３１１の出
力：Ｄ3＆Ｄ0）、それらの反転信号の論理積出力（アン
ド回路３１２の出力：〜Ｄ3＆〜Ｄ0）に基づいてマージ
１検出信号とマージ０検出信号が生成される。そのマー
ジ１検出信号は、サンプリング値Ｙtがピーク状態とな
るときに有効となり、マージ０検出信号は、サンプリン
グ値Ｙtがボトム状態となるときに有効となる。
【００５４】なお、上記軟判定出力Ｄ3、Ｄ0が同時に０
から１に変化する場合、再生信号のエッジ部分である可
能性がある。その場合、アンド回路３１９及び３２０か
らの第一及び第二のマスク信号が有効となり、マージ１
検出信号及びマージ０検出信号は有効にならないように
マスクされる（図７に示す例では、マージ０検出信号が
マスクされている。）なお、サンプリング値Ｙtと、各
信号（Ｄ3、Ｄ0、Ｄ3＆Ｄ0、〜Ｄ3＆〜Ｄ0、マージ１検
出信号、マージ２検出信号）とは、処理遅延により、実
際には図７に示すような関係にはならない。図７では、
サンプリング値Ｙtはその処理遅延に見合ったシフトレ
ジスタにて遅延させた状態にて表されている。
【００５５】図５に戻って、各欠陥検出器３３（１）〜
３３（５）は、上述したようなパスマージ絶対条件検出
器３１からのマージ１検出信号及びマージ０検出信号を
入力すると共に、ＭＰＵ（制御ユニット：図示略）から
カウント値選択回路５０を介して時間測定用のカウント
値を入力する。各欠陥検出器３３（１）〜３３（５）
は、マージ１検出信号及びマージ０検出信号の状態の時
間測定結果に基づいてそれぞれ欠陥検出信号を出力す
る。各欠陥検出器３３（１）〜３３（５）からの欠陥検
出信号はオア回路３５を介して復帰ゲート信号作成器３
６に供給される。
【００５６】復帰ゲート信号作成器３６は、上記欠陥検
出器３３（１）〜３３（５）のいずれかから欠陥検出信
号が入力されたときに、後述するように、復帰ゲート
（Recover gate）信号及び初期化ゲート信号を生成して
上記調整器４０（図１参照）に供給する。調整器４０
は、この復帰ゲート信号及び初期化ゲート信号に基づい
て、上述したように最尤検出器２０にフィードバックす
べき期待値やその期待値に対する変動分の出力切換えを
行なう。
【００５７】また、上記各欠陥検出器３３（１）〜３３
（５）からの欠陥検出信号は、ラッチ回路３７にラッチ
され、その欠陥検出信号がＭＰＵ等のバスに供給され
る。ＭＰＵは、その欠陥信号の状態に基づいてどのよう
な種類の記録データの欠陥が発生しているかを認識する
ことができる。
【００５８】上記各欠陥検出器３３（１）〜３３（５）
は、次のように構成される。
【００５９】まず、欠陥検出器３３（１）は、例えば、
図８に示すように、カウンタ３３１、ビット反転回路３
３２、及びアンド回路３３３を有する。上記カウント値
選択回路５０を介してＭＰＵから供給されるカウント値
（１）がビット反転回路３３２を介してカウンタ３３１
のロード値端子（Ld値）に入力する。即ち、カウント値
（１）の補数値がロード値（Ld値）としてカウンタ３３
１に供給される。
【００６０】各セクタの所定のデータ部の開始タイミン
グで立ちあがるＤtrg信号がカウンタ３３１のクリア端
子（Xclr）に入力し、そのＤtrg信号がハイレベル（有
効）のときに、カウンタ３３１はその出力端子（Co）か
らローレベルを出力する。そして、カウンタ３３１がカ
ウントアップして所定最大値（上記カウント値（１）と
補数値の和）に達すると、カウンタ３３１は出力端子
（Co）からハイレベルを出力する。
【００６１】アンド回路３３３には、上記サンプリング
値Ｙtのボトム状態に対応し、データ「０」が確定する
ための条件を表すマージ０検出信号と、上記カウンタ３
３１の出力（Co）信号の反転信号がアンド回路３３３に
入力し、そのアンド回路３３３の出力信号がカウンタ３
３１のロード制御端子（Xld）に供給される。上記アン
ド回路３３３の出力がハイレベルに立ちあがるときに上
記カウント値（１）の補数値がカウンタ３３１にロード
され、カウンタ３３１のカウント動作が行なわれる。な
お、カウンタ３３１にはカウント動作のためのクロック
が入力されているが、図８ではそれを省略している（図
９乃至図１２及び図２０において同様）。
【００６２】欠陥検出器３３（１）は、上記のような構
成により、Ｄtrg信号がハイレベルになった後、マージ
０検出信号がハイレベル（有効）になると、アンド回路
３３３の出力信号がハイレベルになって、上記カウント
値（１）の補数値がカウンタ３３１にロードされる。そ
して、その補数値から上記所定の最大値までのカウント
動作（上記カウント値（１）分のカウント動作）が終了
すると、カウンタ３３１は、出力端子（Co）からハイレ
ベルを出力する。
【００６３】この出力（Co）のハイレベルによって、ア
ンド回路３３３の出力がローレベルになると、カウンタ
３３１のカウント動作が終了し、その直後に、出力（C
o）がローレベルになる。すると、再度、上記カウント
値（１）の補数値がカウンタ３３１にロードされると共
に、カウント動作が再開される。
【００６４】以後、マージ０検出信号がハイレベル（有
効）を維持する状態において、上記動作が繰り返され
る。その結果、カウンタ３３１は、ロードされた補数値
から所定最大値までのカウントを終了する毎に、即ち、
上記カウント値（１）分のカウント動作を終了する毎
に、出力端子（Co）からパルス信号を出力する。
【００６５】一方、上記カウンタ３３１のカウント動作
中に、マージ０検出信号がローレベルになると、アンド
回路３３３の出力がローレベルになってカウンタ３３１
はそのカウント動作を終了する。
【００６６】従って、この欠陥検出器３３（１）は、上
記カウント値（１）の計数時間より長い時間にわたって
マージ０検出信号がハイレベル（有効）に維持される
と、パルス状の欠陥検出信号１を出力する。このマージ
０検出信号が長時間にわたってハイレベル（有効）なる
ことは、図１３に示すように、再生信号が長時間にわた
ってローレベルになることを意味する。このことから、
上記カウント値（１）は、再生信号が通常ローレベルに
維持され得る最大限の時間に基づいて定めることができ
る。例えば、（1,7）走長制限（ＲＬＬ）の場合、６ク
ロック周期を越えて連続してデータが「０」にはならな
いので、その６クロック周期に基づいて上記カウント値
（１）を定めることができる。また、そのカウント値
（１）は、経験的に記録データの欠陥として得られてい
るデータ「０」が連続する長さ（０欠陥区間）に基づい
て定めることができる。
【００６７】即ち、欠陥検出器３３（１）は、再生信号
がローレベルに張りついてしまう状態として現れる記録
データの欠陥を検出する。
【００６８】次に、欠陥検出器３３（２）は、例えば、
図９に示すように構成される。
【００６９】図９において、この欠陥検出器３３（２）
は、カウンタ３３４、ビット反転回路３３５及びアンド
回路３３６を有している。カウンタ３３４は、図８に示
したカウンタ３３１と同様の機能を有し、ロード値端子
（Ld値）、クリア端子（Xclr）、ロード制御端子（Xl
d）及び出力端子（Co）を備えている。
【００７０】上記ロード値端子（Ld）には、上記カウン
ト値選択回路５０を介してＭＰＵから供給されるカウン
ト値（２）がビット反転回路３３５を介して入力される
（補数値の入力）。また、アンド回路３３６は、マージ
０検出信号の代わりに上記サンプリング値Ｙtのピーク
状態に対応し、データ「１」が確定するための条件を表
すマージ１信号が入力される点を除いて図８に示すアン
ド回路３３３と同じである。
【００７１】上記のような構成により、欠陥検出器３３
（２）は、上記カウント値（２）の計数時間より長い時
間にわたってマージ１検出信号がハイレベル（有効）に
維持されるとパルス上の欠陥検出信号２を出力する。こ
のマージ１検出信号が長時間にわたってハイレベル（有
効）になることは、図１４に示すように、再生信号が長
時間にわたってハイレベルになることを意味する。この
ことから、上記カウント値（１）は、再生信号がハイレ
ベルに維持され得る最大限の時間に基づいて定めること
ができる。例えば、（1,7）走長制限（ＲＬＬ）の場
合、６クロック周期を越えて連続してデータ「１」には
ならないので、その６クロック周期に基づいて上記カウ
ント値（２）を定めることができる。また、そのカウン
ト値（２）は、経験的に記録データの欠陥として得られ
ているデータ「１」が連続する長さ（１欠陥区間）に基
づいて定めることができる。
【００７２】即ち、欠陥検出器３３（２）は、再生信号
がハイレベルに張りついてしまう状態として現れる記録
データの欠陥を検出する。
【００７３】更に、欠陥検出器３３（３）は、例えば、
図１０に示すように構成される。
【００７４】図１０において、この欠陥検出器３３
（３）は、カウンタ３３７、ビット反転回路３３８、反
転回路３３９及びアンド回路３４０を有している。カウ
ンタ３３７は、図８及び図９に示したカウンタ３３１及
び３３４と同様の機能を有し、ロード値端子（Ld値）、
クリア端子（Xclr）、ロード制御端子（Xld）及び出力
端子（Co）を備えている。
【００７５】上記ロード値端子（Ld）には、上記カウン
ト値選択回路５０を介してＭＰＵから供給されるカウン
ト値（３）がビット反転回路３３８を介して入力される
（補数値の入力）。また、アンド回路３３６は、マージ
０検出信号やマージ１検出信号の代わりに、マージ０検
出信号が反転回路３３９を介して入力する点を除いて図
８及び図９に示すアンド回路３３３及び３３６と同じで
ある。
【００７６】上記のような構成により、欠陥検出器３３
（３）は、上記カウント値（３）の計数時間より長い時
間にわてってマージ０検出信号がローレベルに維持され
るとパルス状の欠陥検出信号３を出力する。マージ１検
出信号がハイレベルになるとき、及び再生信号のエッジ
部分でマージ０検出信号がローレベルになる（図７参
照）。従って、このマージ０検出信号が長時間にわたっ
てローレベルになることは、図１５に示すように、再生
信号が長時間にわたって比較的高いレベルで変動する状
態となることを意味する。このことから、上記カウント
値（３）は、再生信号が通常比較的高いレベルで継続的
に変動し得る最大限の時間に基づいて定めることができ
る。また、そのカウント値（３）は、経験的に記録デー
タの欠陥として得られているデータが「１」及び「０」
のいずれにも確定できない状態の継続時間（ノーマージ
欠陥区間）に基づいて定めることができる。
【００７７】即ち、欠陥検出器３３（３）は、再生信号
がピーク値と中間値との間をふらついた状態として現れ
る記録データの欠陥を検出する。
【００７８】また、更に、欠陥検出器３３（４）は、例
えば、図１１に示すように構成される。
【００７９】図１１において、この欠陥検出器３３
（４）は、カウンタ３４１、ビット反転回３４２、反転
回路３４３及びアンド回路３４４を有している。カウン
タ３４１は、図８乃至図１０に示したカウンタ３３１、
３３４及び３３７と同様の機能を有し、ロード値端子
（Ld値）、クリア端子（Xclr）、ロード制御端子（Xl
d）及び出力端子（Co）を備えている。
【００８０】上記ロード値端子（Ld値）には、上記カウ
ント値選択回路５０を介してＭＰＵから供給されるカウ
ント値（４）がビット反転回路３４２を介して入力され
る（補数値の入力）。また、反転回路３４３は、マージ
０検出信号の代わりに、マージ１検出信号が入力する点
を除いて、図１０に示す反転回路３３９と同じである。
また、アンド回路３４４は、マージ０検出信号やマージ
１検出信号の代わりに、上記反転回路３４３の出力信号
が入力する点を除いて、図８及び図９に示すアンド回路
３３３及び３３６と同じである。
【００８１】上記のような構成により、欠陥検出器３３
（４）は、上記カウント値（４）の計数時間より長い時
間にわたってマージ１検出信号がローレベルに維持され
るとパルス状の欠陥検出信号４を出力する。マージ０検
出信号がハイレベルになるとき、及び再生信号のエッジ
部分でマージ１検出信号がハイレベルになる（図７参
照）。従って、このマージ１検出信号が長時間にわたっ
てローレベルになることは、図１６に示すように、再生
信号が長時間にわたって比較的低いレベルで変動する状
態となることを意味する。このことから、上記カウント
値（４）は、再生信号が通常比較的低いレベルで継続的
に変動し得る最大限の時間に基づいて定めることができ
る。また、そのカウント値（４）は、経験的に記録デー
タの欠陥として得られているデータが「１」及び「０」
のいずれにも確定できない状態の継続時間（ノーマージ
欠陥区間）に基づいて定めることができる。
【００８２】即ち、欠陥検出器３３（４）は、再生信号
がボトム値と中間値との間をふらついた状態として現れ
る記録データの欠陥を検出する。
【００８３】また、欠陥検出器３３（５）は、例えば、
図１２に示すように構成される。
【００８４】図１２において、この欠陥検出器３３
（５）は、カウンタ３４５、ビット反転回路３４６、反
転回路３４７及び３４８及びアンド回路３４９を有して
いる。カウンタ３４５は、図８乃至図１１に示したカウ
ンタ３３１、３３４、３３７及び３４１と同様の機能を
有し、ロード値端子（Ld値）、クリア端子（Xclr）、ロ
ード制御端子（Xld）及び出力端子（Co）を備えてい
る。
【００８５】上記ロード値端子（Ld値）には、上記カウ
ント値選択回路５０を介してＭＰＵから供給されるカウ
ント値（５）がビット反転回路３４２を介して入力され
る（補数値の入力）。マージ０検出信号が反転回路３４
７を介してアンド回路３４９に入力されると共にマージ
１検出信号が反転回路３４８を介してアンド回路３４９
に入力される。このアンド回路３４９には、更に、図８
乃至図１１に示す各アンド回路３３３、３３６、３４０
及び３４４と同様に、カウンタ３４５の出力（Co）信号
の反転信号が入力されている。そして、このアンド回路
３４９の出力信号がカウンタ３４５のロード制御端子
（Xld）に入力される。
【００８６】上記のような構成により、欠陥検出器３３
（５）は、上記カウント値（５）の計数時間より長い時
間にわたってマージ０検出信号及びマージ１検出信号の
双方がローレベルに維持されるとパルス状の欠陥検出信
号５を出力する。再生信号のエッジ部分においてマージ
０検出信号とマージ１検出信号が同時にローレベルにな
る（図７参照）。従って、このマージ０検出信号及びマ
ージ１検出信号が長時間にわたってローレベルになるこ
とは、図１７に示すように、再生信号が長時間にわたっ
て再生信号のエッジ部分に対応したほぼ中間値に維持さ
れる状態となることを意味する。このことから、上記カ
ウント値（５）は、再生信号が通常中間値程度に維持さ
れ得る最大限の時間に基づいて定めることができる。ま
た、そのカウント値（５）は、経験的に記録データの欠
陥として得られているデータが「１」及び「０」のいず
れにも確定できない状態の継続時間（ノーマージ欠陥区
間）に基づいて定めることができる。
【００８７】即ち、欠陥検出器３３（５）は、再生信号
が中間値のあたりをふらついた状態として現れる記録デ
ータの欠陥を検出する。
【００８８】ところで、光磁気ディスク１０に記録され
る基本的なデータフォーマットは、例えば、図１８に示
すようになっている。
【００８９】図１８において、各セクタは、ＩＤ部とＭ
Ｏ部を有する。ＩＤ部は、ＩＤ情報が書込まれる領域で
あり、例えば、２つのID1、ID2と、ID1、ID2のそれぞれ
の前に配置されたVfoから構成される。ＭＯ部は、デー
タが書込まれる領域であり、VfoとData部から構成され
る。
【００９０】このようなフォーマットに従ってデータの
記録がなされた光磁気ディスク１０からのデータ再生時
に、ＭＰＵは、各部に対応したタイミングゲート信号を
生成する。具体的には、ＩＤ部及びＭＯ部に対応したタ
イミングゲートを表すDtrg信号、ＩＤ部のVfoのタイミ
ングゲートを表すIdvfogt信号、ＩＤ部の各ID1、ID2の
タイミングゲートを表すIddtgt信号、ＭＯ部におけるVf
oのタイミングゲートを表すMovfogt信号及びＭＯ部にお
けるData部のタイミングゲートを表すModtgt信号が生成
される。
【００９１】記録領域の各部（ＩＤ部におけるVfo、ID
1、ID2、ＭＯ部におけるVfo、Data部など）毎に記録デ
ータの欠陥を検出するための計測時間、即ち、各欠陥検
出器３３（１）〜３３（５）に供給すべきカウント値
（１）〜（５）を変えることができる。このようにする
ことにより、記録領域の各部毎に記録データの欠陥の検
出能力を調整することができる。例えば、ＭＯ部におけ
るVfoは、最密パターンとなることから、欠陥を検出す
るための計測時間を短く（カウント値を少なく）するこ
とにより、Data部よりも欠陥の検出能力を上げることが
できる。
【００９２】このような場合、ＭＰＵは、各部のタイミ
ングゲートを有効にすると共に、そのタイミングゲート
に対応した領域に割当てられるカウント値を出力する。
この各部のタイミングゲートを表す信号と対応するカウ
ント値は、カウント値選択回路５０（図５参照）に供給
される。
【００９３】このカウント値選択回路５０は、例えば、
図１９に示すように構成される。
【００９４】図１９において、カウント値選択回路５０
は、データ入力端子Ａ１、Ｂ１、Ｃ１及びＤ１を有する
と共に、選択制御端子Ａ２、Ｂ２、Ｃ２及びＤ２を有す
るマルチプレクサ（ＭＵＸ）にて構成される。データ入
力端子Ａ１には、ＩＤ部のVfo用のカウント値が供給さ
れると共に、このデータ入力端子Ａ１と対になる選択制
御端子Ａ２には、そのVfoのタイミングゲートを表すIdv
fogt信号が入力される。データ入力端子Ｂ１には、ＩＤ
部の各ID1、ID2用のカウント値が供給されると共に、こ
のデータ入力端子Ｂ１と対になる選択制御端子Ｂ２に
は、そのID1、ID2のタイミングゲートを表すIddtgt信号
が入力される。また、データ入力端子Ｃ１には、ＭＯ部
のVfo用のカウント値が供給されると共に、このデータ
入力端子Ｃ１と対になる選択制御端子Ｃ２には、そのVf
oのタイミングゲートを表すMovfogt信号が入力される。
更に、データ入力端子Ｄ１には、ＭＯ部のData部用のカ
ウント値が供給されると共に、そのデータ入力端子Ｄ１
と対になる選択制御端子Ｄ２には、そのData部のタイミ
ングゲートを表すModtgtが入力される。
【００９５】上記のようなカウント値選択回路５０は、
各選択制御端子Ａ２、Ｂ２、Ｃ２、Ｄ２に入力する信号
が有効になるときに、それと対になるデータ入力端子に
入力されるカウント値を選択して出力する。例えば、選
択制御端子Ａ２に入力されるIdvfogt信号が有効になる
と、その選択制御端子Ａ２と対になるデータ入力端子Ａ
１に供給されるＩＤ部のVfo用のカウント値が選択さ
れ、出力される。また、選択制御端子Ｂ２に入力される
Iddtgt信号が有効になると、その選択制御端子Ｂ２と対
になるデータ入力端子Ｂ２に供給されるＩＤ部のID1、D
I2用カウント値が選択され、出力される。
【００９６】上記のようなカウント値選択回路５０を介
して記録領域の各部に固有なカウント値を上述した各欠
陥検出器３３（１）〜３３（５）に供給することによ
り、記録領域の各部毎に記録データの欠陥の検出能力を
調整することができる。
【００９７】なお、この場合、上記各部のタイミングゲ
ートとなる各信号（Idvfogt、Iddtgt、Movfogt、Modtg
t）は、例えば、オア回路を介して各欠陥検出器３３
（１）〜３３（５）におけるカウンタのクリア端子（Xc
lr）に入力される（図８乃至図１２参照）。
【００９８】更に、前述した復帰ゲート信号作成器３６
は、例えば、図２０に示すように構成される。
【００９９】図２０において、この復帰ゲート信号作成
器３６は、オア回路３６１、フリップフロップ３６２
（JKFF1）、ビット反転回路３６３、カウンタ３６４、
フリップフロップ３６５（JKFF2）、比較器３６６及び
アンド回路３６７を有する。各欠陥検出器３３（１）〜
３３（５）からの欠陥検出信号１〜５がオア回路３６１
を介してフリップフロップ３６２及び３６５のセット端
子（J）に入力している。所定時間に対応したゲート用
カウント値（GATE用Count値）がＭＰＵからビット反転
回路３６３を介してカウンタ３６４のロード値端子（Ld
値）に供給される（補数値の供給）。このゲート用カウ
ント値に対応する所定時間は、記録データの欠陥が継続
されることが予想される時間及びその記録データの欠陥
に対する対処に要する時間に基づいて定められる。即
ち、この所定時間に後述するような復帰処理（Recover
処理）が行なわれる。
【０１００】フリップフロップ３６２の出力信号がカウ
ンタ３６４のロード制御端子（Xld）に供給されると共
に、上記データ部（ＩＤ部、ＭＯ部）の開始タイミング
で立ち上がるＤtrg信号（図１８参照）がカウンタ３６
４のクリア端子（Xclr）及び各フリップフロップ３６
２、３６５のクリア端子（XCLR）に入力される。上記カ
ウンタ３６４は、上述したような各欠陥検出器３３
（１）〜３３（５）に設けられた各カウンタ（図８乃至
図１２参照）と同様の機能を有し、Ｄtrg信号がハイレ
ベルの状態で、フリップフロップ３６２の出力の立上が
り時に上記ゲート用カウント値の補数値がロードされ、
カウント動作を行なう。そして、そのゲート用カウント
値分のカウント動作が終了すると、カウンタ３６４の出
力端子（Co）からハイレベル信号が出力される。
【０１０１】この出力端子（Co）からの信号がフリップ
フロップ３６２のリセット端子（Ｒ）にフィードバック
され、出力端子（Co）からの出力信号の立上がりにてフ
リップフロップ３６２がリセットされる。それに伴っ
て、カウンタ３６４のロード制御端子（Xld）の入力信
号が立ち下がると、当該カウンタ３６４の出力端子（C
o）からの信号が立ち下がる。従って、カウンタ３６４
は、ゲート用カウント値分のカウント動作が終了する
と、出力端子（Co）からパルス状の信号を出力する。
【０１０２】一方、カウンタ３６４でのカウント動作に
対応したカウント値（CNT）と、ＭＰＵからの初期化ゲ
ート比較用のカウント値とが比較器３６６にて比較され
る。この初期化ゲート比較用のカウント値は、記録デー
タの欠陥が継続すると予想される時間に基づいて定めら
れる。比較器３６６は、上記カウント値（CNT）が上記
初期化ゲート比較用のカウント値に達すると有効（ハイ
レベル）になる比較結果信号を出力する。この比較結果
信号は、フリップフロップ３６５のリセット端子（Ｋ）
にフィードバックされ、比較結果信号の立上がりにてフ
リップフロップ３６５がリセットされる。
【０１０３】このフリップフロップ３６５からの出力信
号が初期化ゲート信号として当該復帰ゲート信号作成器
３６から出力される。また、このフリップフロップ３６
２からの出力信号と上記フリップフロップ３６５からの
出力信号の反転信号がアンド回路３６７に入力し、フリ
ップフロップ３６２からの出力信号が、上記フリップフ
ロップ３６５からの出力信号によりマスクされ、復帰ゲ
ート（Recover Gate）信号として当該復帰ゲート信号生
成器３６から出力される。
【０１０４】上記のような構成の復帰ゲート信号作成器
３６は、例えば、図２１に示すタイミングチャートに従
って動作する。
【０１０５】図２１に示すように、Ｄtrg信号がハイレ
ベルとなる状態において、例えば，欠陥検出器３３
（１）から欠陥検出信号１が入力される毎に、フリップ
フロップ３２６及びフリップフロップ３６５からの出力
信号が立ち上がる。そして、フリップフロップ３６５の
出力信号が初期化ゲート信号として出力される。この初
期化ゲート信号が立上がった状態では、アンド回路３６
７がフリップフロップ３６２の出力信号をマスクする。
【０１０６】そして、カウンタ３６４のカウント値（CN
T）が初期化ゲート比較用のカウント値に達すると、比
較器３６６からの比較結果信号の立ち上がりによりフリ
ップフロップ３６５がリセットされる。すると、初期化
ゲート信号が立ち下がると共に、フリップフロップ３６
２の出力信号に対するマスクが解除され、当該フリップ
フロップ３６２の出力信号に対応した復帰ゲート（Reco
ver Gate）信号が立ち上がる。
【０１０７】その後、カウンタ３６４でのカウント動作
によりそのカウント値（CNT）が順次増加する。そし
て、そのカウント値（CNT）がゲート用カウント値に達
すると、カウンタ３６４の出力端子（Co）からの出力信
号によりフリップフロップ３６２がリセットされる。そ
の結果、復帰ゲート信号が立ち下げられる。
【０１０８】上記のような手順で、復帰ゲート信号作成
器３６は、欠陥検出器３３（１）〜３３３（５）のいず
れかから欠陥検出信号が入力される毎に、その記録デー
タの欠陥が継続すると予想される時間有効となる初期化
ゲート信号を出力すると共に、その初期化ゲート信号の
立下りのタイミングで立上がる復帰ゲート信号を出力す
る。この初期化ゲート信号が有効（ハイレベル）となる
時間と復帰ゲート信号が有効（ハイレベル）となる時間
との和が、上記ゲート用カウント値に対応した所定時間
に等しくなる。
【０１０９】上記のようにして復帰ゲート信号作成器３
６から出力される初期化ゲート信号及び復帰ゲート信号
は、調整器４０（図１参照）に供給される。この調整器
４０は、前述したように、再生信号の変動レベルに基づ
いて、最尤検出器２０でのデータ復調に用いられる期待
値がその再生信号の変動に追従するように制御してい
る。そのような期待値の追従制御を行う際に、調整器４
０は、入力される初期化ゲート信号が有効となる期間で
は、記録データの欠陥が継続して適正な再生信号が得ら
れないと予想されるので、その再生信号の変動レベルに
基づいた上記期待値の追従制御を中止し、例えば、その
期待値を初期値に固定する。なお、所定の期待値に対す
るオフセット量を上記再生信号の変動に追従させるよう
なオフセット量の追従制御がなされる場合、上記初期化
ゲート信号が有効になる期間では、そのオフセット量を
ゼロに固定する。
【０１１０】そして、その初期化ゲート信号が立ち下が
って復帰ゲート信号が有効となる期間では、その期待値
が実際の再生信号に適する値により早く復帰できるよう
に、その追従制御のゲインを上げる。その後、復帰ゲー
ト信号が立ち下がると、調整器４０は、通常のゲインに
戻して、期待値が再生信号の変動に追従するような制御
（追従制御）を行う。
【０１１１】このようにして、記録データの欠陥が検出
された際に、初期化ゲート信号が有効となる期間、期待
値（または、そのオフセット量）を初期値に固定し、そ
の欠陥がなくなったであろうと予測される復帰ゲート信
号の立ち上がりからは、追従制御のゲインを上げて期待
値（または、そのオフセット量）の再生信号の変動に対
する追従制御がなされるので、その記録データの欠陥に
起因したデータの読取り性能の低下を最小限にすること
ができる。
【０１１２】上記各例において、図５に示すパスマージ
絶対条件検出器３１は、形状状態件検出手段に対応す
る。そして、マージ０検出信号及びマージ１検出信号が
再生信号の波形の状態を表す情報に対応する。特に、マ
ージ１検出信号は、サンプリング値のピーク値部分とそ
うでない部分とに対応した２つの状態を区別して表す第
一の情報に対応し、マージ０検出信号は、サンプリング
値のボトム値部分とそうでない部分とに対応した２つの
状態を区別して表す第二の情報に対応する。
【０１１３】各欠陥検出器３３（１）〜３３（５）は、
欠陥判定手段に対応し、特に、各欠陥検出器３３（１）
〜３３（５）に設けられたカウンタは、状態継続時間測
定手段に対応する。
【０１１４】調整器４０は、追従調整手段に対応し、欠
陥検出部３０は、欠陥検出手段に対応する。また、復帰
ゲート信号作成器３６からの初期化ゲート信号に基づく
調整器４０の機能が初期化手段に対応する。その初期化
ゲート信号が有効になる時間が第一の所定時間に対応
し、復帰ゲート信号作成器３６からの復帰ゲート信号が
有効になる時間が第二の所定時間に対応する。
【０１１５】なお、本発明を以下の通り付記として記
す。
【０１１６】（付記１）記録媒体からの再生信号をサン
プリングし、そのサンプリング値からパーシャルレスポ
ンスに対応した最尤復号アルゴリズムに従って記録デー
タとして最も確からしいデータを復元するデータ再生装
置における上記記録データの欠陥を検出する欠陥検出装
置において、上記最尤復号アルゴリズムに従って最も確
からしいデータを復元する過程で得られる軟判定結果に
基づいて再生信号の波形の状態を表す情報を生成する波
形状態検出手段と、該波形状態検出手段にて生成される
情報にて表される再生信号の波形の状態に基づいて記録
データの欠陥を判定する欠陥判定手段とを有する欠陥検
出装置。
【０１１７】（付記２）付記１記載の欠陥検出装置にお
いて、上記波形状態検出手段は、データ「０」及び
「１」を確定するための軟判定結果に基づいてサンプリ
ング値のピーク値部分とそうでない部分とに対応した２
つの状態を区別して表す第一の情報とそのボトム値部分
とそうでない部分とに対応した２つの状態を区別して表
す第二の情報とを生成するようにし、欠陥判定手段は、
上記第一の情報及び第二の情報の少なくと一方に基づい
て記録データの欠陥を判定するようにした欠陥検出装
置。
【０１１８】（付記３）付記２記載の欠陥検出装置にお
いて、上記欠陥判定手段は、上記第一の情報及び第二の
情報の少なくとも一方の表す状態が継続される時間を測
定する状態継続時間測定手段を有し、該状態継続時間測
定手段にて測定された時間が所定時間に達したときに記
録データの欠陥を判定するようにし欠陥検出装置。
【０１１９】（付記４）付記３記載の欠陥検出装置にお
いて、上記状態継続時間測定手段は、第二の情報の上記
ボトム値部分を表す状態が継続される時間を測定するよ
うにした欠陥検出装置。
【０１２０】（付記５）付記３記載の欠陥検出装置にお
いて、上記状態継続検出手段は、第一の情報の上記ピー
ク値部分を表す状態が継続される時間を測定するように
した欠陥検出装置。
【０１２１】（付記６）付記３記載の欠陥検出装置にお
いて、上記状態継続時間測定手段は、第二の情報の上記
ボトム値部分でない部分を表す状態が継続される時間を
測定するようにした欠陥検出装置。
【０１２２】（付記７）付記３記載の欠陥検出装置にい
おて、上記継続時間測定手段は、第一の情報の上記ピー
ク値部分でない部分を表す状態及び第二の情報の上記ボ
トム値部分でない部分を表す状態が継続される時間を測
定するようにした欠陥検出装置。
【０１２３】（付記８）請求項３乃至７いずれか記載の
欠陥検出装置において、記録データの欠陥を判定するた
めに用いられる上記所定時間を設定するための時間設定
手段（ＭＰＵが対応）を有する欠陥検出装置。
【０１２４】（付記９）請求項８記載の欠陥検出装置に
おいて、上記時間設定手段は、記録媒体上の記録データ
のフォーマットに基づいた各部位毎に異なる時間の設定
を行なう可変設定手段（カウント値選択回路５０が対
応）を有する欠陥検出装置。
【０１２５】（付記１０）記録媒体からの再生信号をサ
ンプリングし、そのサンプリング値からパーシャルレス
ポンスに対応した最尤復号アルゴリズムに従って記録デ
ータとして最も確からしいデータを復元するデータ再生
装置において、再生信号の変動レベルに基づいて上記記
録データを最尤復号アルゴリズムに従って復元するため
に必要な情報をその再生信号の変動に追従するように調
整する追従調整手段と、記録データの欠陥を検出する欠
陥検出手段と、該欠陥検出手段が記録データの欠陥を検
出したときに、第一の所定時間だけ上記記録データを復
元するために必要な情報を初期値に固定する初期化手段
を有し、上記欠陥検出手段は、上記最尤復号アルゴリズ
ムに従って最も確からしいデータを復元する過程で得ら
れる軟判定結果に基づいて再生信号の波形の状態を表す
情報を生成する波形状態検出手段と、該波形状態検出手
段にて生成される情報にて表される再生信号の波形の状
態に基づいて記録データの欠陥を判定する欠陥判定手段
とを有するデータ再生装置。
【０１２６】（付記１１）付記１０記載のデータ再生装
置において、上記初期化手段により第一の所定時間だけ
上記記録データを復元するために必要な情報を初期値に
固定した後に、上記追従調整手段は、当該情報を再生信
号の変動に追従させるためのゲインを第二の所定時間だ
け上記再生信号の変動に追従させる際のゲインより高く
するようにしたデータ再生装置。
【０１２７】（付記１２）請求項１０記載のデータ再生
装置において、上記第一の時間を設定する手段（ＭＰＵ
が対応）を有するデータ再生装置。
【０１２８】（付記１３）請求項１０乃至１２いずれか
記載のデータ再生装置において、上記第二の時間を設定
する手段（ＭＰＵが対応）を有するデータ再生装置。
【０１２９】
【発明の効果】以上、説明したように、請求項１乃至３
記載の本願発明によれば、上記最尤復号アルゴリズムに
従って最も確からしい記録データを復元する過程で得ら
れる軟判定結果は、再生信号の波形の状態を反映し、ま
た、記録データの欠陥は、再生信号の異常として現れる
ことから、その軟判定結果に基づいて記録データの欠陥
を判定することができる。その結果、記録媒体のデータ
の記録欠陥を的確に検出できるようにした欠陥検出装置
を実現することができるようになる。
【０１３０】また、請求項４及び５記載の本願発明によ
れば、そのような欠陥検出装置が適用されるデータ再生
装置を実現することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の実施の一形態に係るデータ再生装置の
構成例を示す図である。
【図２】最尤検出器において考慮される状態遷移パター
ンの類型の一例を示す図である。
【図３】パスマージが発生する場合の状態遷移のパター
ンの組合せ例の一例を示す図である。
【図４】最尤検出器におけるパスメモリの構成例を示す
図である。
【図５】データ再生装置における欠陥検出部の構成例を
示す図である。
【図６】欠陥検出部におけるパスマージ絶対条件検出器
の構成例を示す図である。
【図７】パスマージ絶対検出器の動作例を示すタイミン
グチャートである。
【図８】欠陥検出器の構成例を示す図である（その
１）。
【図９】欠陥検出器の構成例を示す図である（その
２）。
【図１０】欠陥検出器の構成例を示す図である（その
３）。
【図１１】欠陥検出器の構成例を示す図である（その
４）。
【図１２】欠陥検出器の構成例を示す図である（その
５）。
【図１３】図８に示す欠陥検出器にて検出される記録デ
ータの欠陥（再生信号の異常）を示す図である。
【図１４】図９に示す欠陥検出器にて検出される記録デ
ータの欠陥（再生信号の異常）を示す図である。
【図１５】図１０に示す欠陥検出器にて検出される記録
データの欠陥（再生信号の異常）を示す図である。
【図１６】図１１に示す欠陥検出器にて検出される記録
データの欠陥（再生信号の異常）を示す図である。
【図１７】図１２に示す欠陥検出器にて検出される記録
データの欠陥（再生信号の異常）を示す図である。
【図１８】光磁気ディスク（記録媒体）におけるデータ
の記録フォーマットと、そのフォーマットに従った各部
に対応するタイミングゲート信号を示す図である。
【図１９】カウント値選択回路の構成例を示す図であ
る。
【図２０】復帰ゲート信号作成器の構成例を示す図であ
る。
【図２１】復帰ゲート信号作成器の動作例を示すタイミ
ングチャートである。
【符号の説明】
１０ 光磁気ディスク（記録媒体） １２ 光学ヘッド １４ ヘッドアンプ １６ アナログ・デジタル変換回路（ＡＤＣ） １６ デジタル等化器（ＤＥＱ） ２０ 最尤検出器 ２１ ブランチメトリック計算ユニット（ＢＭ計算ユニ
ット） ２２ 加算・比較・選択ユニット（ＡＣＳユニット） ２３ パスメトリックメモリ（ＰＭＭ） ２４ パスメモリ ３０ 欠陥検出部 ３１ パスマージ絶対条件検出器 ３３（１）〜３３（５） 欠陥検出器 ３５ オア回路 ３６ 復帰ゲート信号作成器 ３７ ラッチ回路 ４０ 調整器（期待値追従器またはオフセット追従器） ５０ カウント値選択回路
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 田口 雅一 神奈川県川崎市中原区上小田中４丁目１番 １号 富士通株式会社内 Ｆターム(参考） 5D044 BC01 BC02 CC04 DE68 GL02 GL32

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】記録媒体からの再生信号をサンプリング
    し、そのサンプリング値からパーシャルレスポンスに対
    応した最尤復号アルゴリズムに従って記録データとして
    最も確からしいデータを復元するデータ再生装置におけ
    る上記記録データの欠陥を検出する欠陥検出装置におい
    て、 上記最尤復号アルゴリズムに従って最も確からしいデー
    タを復元する過程で得られる軟判定結果に基づいて再生
    信号の波形の状態を表す情報を生成する波形状態検出手
    段と、 該波形状態検出手段にて生成される情報にて表される再
    生信号の波形の状態に基づいて記録データの欠陥を判定
    する欠陥判定手段とを有する欠陥検出装置。
  2. 【請求項２】請求項１記載の欠陥検出装置において、 上記波形状態検出手段は、データ「０」及び「１」を確
    定するための軟判定結果に基づいてサンプリング値のピ
    ーク値部分とそうでない部分とに対応した２つの状態を
    区別して表す第一の情報とそのボトム値部分とそうでな
    い部分とに対応した２つの状態を区別して表す第二の情
    報とを生成するようにし、 欠陥判定手段は、上記第一の情報及び第二の情報の少な
    くとも一方に基づいて記録データの欠陥を判定するよう
    にした欠陥検出装置。
  3. 【請求項３】請求項２記載の欠陥検出装置において、 上記欠陥判定手段は、上記第一の情報及び第二の情報の
    少なくとも一方の表す状態が継続される時間を測定する
    状態継続時間測定手段を有し、 該状態継続時間測定手段にて測定された時間が所定時間
    に達したときに記録データの欠陥を判定するようにし欠
    陥検出装置。
  4. 【請求項４】記録媒体からの再生信号をサンプリング
    し、そのサンプリング値からパーシャルレスポンスに対
    応した最尤復号アルゴリズムに従って記録データとして
    最も確からしいデータを復元するデータ再生装置におい
    て、 再生信号の変動レベルに基づいて上記記録データを最尤
    復号アルゴリズムに従って復元するために必要な情報を
    その再生信号の変動に追従するように調整する追従調整
    手段と、 記録データの欠陥を検出する欠陥検出手段と、 該欠陥検出手段が記録データの欠陥を検出したときに、
    第一の所定時間だけ上記記録データを復元するために必
    要な情報を初期値に固定する初期化手段を有し、 上記欠陥検出手段は、 上記最尤復号アルゴリズムに従って最も確からしいデー
    タを復元する過程で得られる軟判定結果に基づいて再生
    信号の波形の状態を表す情報を生成する波形状態検出手
    段と、 該波形状態検出手段にて生成される情報にて表される再
    生信号の波形の状態に基づいて記録データの欠陥を判定
    する欠陥判定手段とを有するデータ再生装置。
  5. 【請求項５】請求項４記載のデータ再生装置において、 上記初期化手段により第一の所定時間だけ上記記録デー
    タを復元するために必要な情報を初期値に固定した後
    に、上記追従調整手段は、当該情報を再生信号の変動に
    追従させるためのゲインを第二の所定時間だけ上記再生
    信号の変動に追従させる際のゲインより高くするように
    したデータ再生装置。
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