JP3456592B2 - 光デイスク装置 - Google Patents

光デイスク装置

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JP3456592B2 JP13397693A JP13397693A JP3456592B2 JP 3456592 B2 JP3456592 B2 JP 3456592B2 JP 13397693 A JP13397693 A JP 13397693A JP 13397693 A JP13397693 A JP 13397693A JP 3456592 B2 JP3456592 B2 JP 3456592B2
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    • G11B11/10515Reproducing
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11BINFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B7/00Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
    • G11B7/004Recording, reproducing or erasing methods; Read, write or erase circuits therefor
    • G11B7/005Reproducing

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【目次】以下の順序で本発明を説明する。 産業上の利用分野 従来の技術(図3〜図5) 発明が解決しようとする課題(図3〜図5) 課題を解決するための手段(図1及び図2) 作用(図1及び図2) 実施例 (1)実施例の構成(図1及び図2) (2)実施例の効果 (3)他の実施例 発明の効果
【0002】
【産業上の利用分野】本発明は光デイスク装置に関し、
例えばビタビ復号の手法を適用してデイスク状記録媒体
に記録したデータを再生する光磁気デイスク装置等に適
用して好適なものである。
【0003】
【従来の技術】従来、この種の光磁気デイスク装置にお
いては、パーシヤルレスポンスを適用することにより、
データ間の符号間干渉を積極的に利用して高密度記録し
得るようになされている。
【0004】すなわちこの種の光磁気デイスク装置にお
いては、直流信号を再生し得ることにより、パーシヤル
レスポンスのクラス1を適用し得、これによりクロツク
の位相マージンも充分に確保することができ、さらに復
号の際、ビタビ復号の手法を適用してビツトエラーレー
トも低減することができる。
【0005】すなわちこの種の光磁気デイスクにおいて
は、図3に示すように、情報記録面をセクタ単位に分割
し、各セクタをさらに複数のセグメントに分割する(図
3(A))。さらに光磁気デイスクにおいては、各セグ
メントの先頭にサーボエリアSBを形成し、このサーボ
エリアSBを再生してトラツキング制御し得るようにな
されている。このようにしてセグメントを形成する際、
パーシヤルレスポンス及びビタビ復号の手法を適用する
場合、光磁気デイスクにおいては、このセクタの先頭セ
グメント及び続くセグメントをアドレス領域及びリフア
レンス領域に割り当て、残りのセグメントをデータ記録
領域に割り当てることにより、確実にデータを再生し得
るようにする方法が考えられる。
【0006】すなわち光磁気デイスクは、このアドレス
領域に各セクタのアドレスデータを予めプリフオーマツ
トして記録するのに対し、続くリフアレンス領域に位相
合わせ用データ及びレベル検出用データを記録する。こ
こで位相合わせ用データは、論理0及び1のデータが2
ビツトづつ連続するデータで形成され(図3(B)及び
(C))、これにより光磁気デイスク装置においては、
この位相合わせ用データを基準にしてクロツクの位相ず
れを補正し得るようにする(図3(D))。
【0007】これに対してレベル検出用データは、論理
0及び1のデータが所定ビツト連続するデータで形成さ
れ、これにより光磁気デイスク装置においては、このレ
ベル検出用のデータの再生結果を基準にしてデータ復調
用の基準レベルを設定し得るようにする。
【0008】すなわち光磁気デイスク装置は、このレベ
ル検出用のデータを再生して信号レベルが所定期間立ち
下がつた後所定レベルに立ち上がる再生信号RFを得る
ことができ、ビタビ復号の場合、位相合わせデータの再
生結果を基準にして、この再生信号RFをサンプリング
することにより、再生信号RFの信号レベルL1、…
…、L4、H1、……、H4を検出する。
【0009】さらに光磁気デイスク装置は、信号レベル
検出結果L1、……、L4、H1、……、H4に基づい
て、次式
【数1】
【数2】
【数3】
【数4】
【数5】 の演算処理を実行することにより、再生信号RFのLレ
ベルAVLOW、再生信号RFのHレベルAVHIG
H、再生信号RFの平均振幅S、再生信号RFのセンタ
レベルCEN、再生信号RFの振幅値Ykを得、このL
レベルAVLOW、HレベルAVHIGH、平均振幅
S、再生信号RFのセンタレベルCEN、再生信号RF
の振幅値Ykを基準にして再生信号RFを復調する。
【0010】ここでクラス1のパーシヤルレスポンスの
場合、図4に振幅の中心値を0レベルに取つて再生信号
RFを示すように、再生信号RFにおいては、論理1の
データが連続する場合と、論理1及び0のデータが連続
する場合、論理0及び1のデータが連続する場合とで信
号レベルがレベル−S、0、Sの間で正弦波状に変化す
る。これによりビタビ復号回路においては、順次得られ
る再生信号RFの信号レベルからセンタレベルCENを
減算して各データの再生結果を0レベルからの振幅値Y
k-1 、Yk、……で表し、この振幅値Yk-1 、Yk、…
…の変化を基準にしてデータの遷移を判断する。
【0011】さらにビタビ復号回路においては、この遷
移結果を基準にして復調データの論理レベルを仮設定
し、さらに遷移判断結果を追跡することにより、仮設定
した復調データを訂正する。
【0012】このデータ遷移の判断において、ビタビ復
号回路は、次式
【数6】
【数7】
【数8】 の関係式の何れの関係式が成立するか判断することによ
り、連続するデータがどの様な状態遷移を示したかを判
断し、これにより(6)〜(8)式の何れかの関係式が
成立するとき、(6)〜(8)式に対応してそれぞれ、
次式
【数9】
【数10】
【数11】 で表される復調データDnを生成する。
【0013】すなわち図5に示すように、(6)〜
(8)式の関係式がそれぞれ成立するとき、値+1及び
−1で論理レベルが変化する復調対象のデータは、それ
ぞれ+1のレベルから+1又は−1のレベルに遷移した
第1の遷移パターンの場合(図5(A))、+1のレベ
ルから−1のレベル又は−1のレベルから+1のレベル
に0レベルを横切つて遷移した第2の遷移パターンの場
合(図5(B))、−1のレベルから+1又は−1のレ
ベルに遷移した第3の遷移パターンの場合(図5
(C))の何れかと判断することができる。
【0014】このとき第1及び第2の遷移パターンの場
合、1ビツト前のデータはそれぞれ論理1及び0と判断
することができ、これによりこの第1〜第3の遷移パタ
ーンが連続したとき、第1及び第3の遷移パターンを基
準にして連続するデータの復調結果を判断することがで
きる。
【0015】なお、ここでPOLは、続く演算結果の極
性を表し、Yp及びBkは、それぞれ(6)〜(8)式
の関係式が成立するとき、(6)〜(8)式に対応して
次式
【数12】
【数13】
【数14】 で表される。
【0016】これによりビタビ復号回路においては、
(6)〜(8)式の演算処理を実行して再生信号RFの
遷移を検出して復号結果を得ると共に、その復号結果に
基づいて続くデータの復号基準でなる基準値Yp及びB
kを更新するようになされている。さらにビタビ復号回
路においては、この更新のための必要な基準値Sと再生
信号RFの振幅値YkとをセンタレベルCENを基準に
して生成するようになされ、例えば図3について上述し
たフオーマツトの場合リフアレンス領域を再生してこの
センタレベルCENを検出することができる。
【0017】すなわちセンタレベルCENにおいては、
(4)式の演算処理を実行することにより(1)式及び
(2)式の演算処理を実行して求められるLレベルAV
LOW、HレベルAVHIGHの平均値として得ること
ができ、再生信号RFの信号レベルからこの中心値CE
Nを減算してビタビ復号に用いる再生信号RFの振幅値
Ykを検出することができる。
【0018】
【発明が解決しようとする課題】ところで光磁気デイス
クにおいては、光ビームの複屈折等により、再生信号R
Fの直流レベルが変動する場合がある。この直流レベル
が変動すると、ビタビ復号回路においては、再生信号R
Fの振幅値Ykを正しく検出し得なくなり、その分復号
結果のビツトエラーレートが劣化する問題がある。
【0019】この問題を解決するため、各セグメントに
形成されたサーボパターンを利用して再生信号RFをク
ランプする方法が考えられるが、この方法の場合セグメ
ント内における直流レベルの変動は回避し得ない欠点が
あり、またサーボパターンを正しく検出し得ない場合も
考えられ、実用上未だ不十分な問題がある。
【0020】本発明は以上の点を考慮してなされたもの
で、直流レベルが変動した場合でもビツトエラーレート
の劣化を有効に回避することができる光デイスク装置を
提案しようとするものである。
【0021】
【課題を解決するための手段】かかる課題を解決するた
め本発明においては、クラス1のパーシヤルレスポンス
を適用してデイスク状記録媒体2に記録したデータを再
生する光磁気デイスク装置1において、デイスク状記録
媒体2に光ビームを照射し、デイスク状記録媒体2から
得られる反射光を受光し、反射光に応じて信号レベルが
変化する再生信号RFを出力する再生信号出力手段5、
6と、再生信号RFを所定周期でデイジタル値DRFに
変換して出力するアナログデイジタル変換手段13と、
デイジタル値DRFの遷移を検出することにより、デイ
ジタル値DRFの遷移が所定の遷移パターンの何れに該
当するか検出し、該遷移パターンの検出結果に基づいて
再生信号RFを復号するビタビ復号回路20とを備え、
ビタビ復号回路20は、デイスク状記録媒体2に記録し
た所定のリフアレンスデータを再生して再生信号RFの
最大値AVHIGH及び最小値AVLOWを検出し、最
大値AVHIGH及び最小値AVLOWの平均値レベル
をセンタレベルCENに設定し、センタレベルCENを
基準にしてデイジタル値DRFの遷移パターンを検出
し、デイジタル値DRFがセンタレベルCENを横切つ
て変化する遷移パターンが検出されたとき、センタレベ
ルCENを横切る前のデイジタル値DRF及びセンタレ
ベルCENを横切つた後のデイジタル値DRFの平均値
と、センタレベルCENとの減算値が0になるようにセ
ンタレベルCENを補正する。
【0022】さらに第2の発明において、ビタビ復号回
路20は、センタレベルCENを横切る前のデイジタル
値DRF及びセンタレベルCENを横切つた後のデイジ
タル値DRFの平均値を所定回数分平均した値と、セン
タレベルCENとの減算値が0になるようにセンタレベ
ルCENを補正する。
【0023】
【0024】
【作用】デイジタル値DRFがセンタレベルCENを横
切つて変化する遷移パターンが検出されたとき、センタ
レベルCENを横切る前のデイジタル値DRF及びセン
タレベルCENを横切つた後のデイジタル値DRFの平
均値と、センタレベルCENとの減算値が0になるよう
にセンタレベルCENを補正すれば、直流レベルの変動
に追従してセンタレベルCENを補正し得、これにより
直流レベルが変動した場合でもビツトエラーレートの劣
化を有効に回避することができる。
【0025】
【実施例】以下図面について、本発明の一実施例を詳述
する。
【0026】(1)実施例の構成 図1において、1は全体として光磁気デイスク装置を示
し、光磁気デイスク2に所望のデータを熱磁気記録し、
さらに記録したデータを再生する。
【0027】すなわち光磁気デイスク2は、所定のデイ
スク状基板に磁性膜を形成するようになされ、これによ
り熱磁気記録の手法を適用して所望のデータを熱磁気記
録し得るようになされている。さらに光磁気デイスク2
は、情報記録面がセクタ、セグメントに分割され、各セ
グメントの先頭にサンプルフオーマツトのサーボエリア
SBが予めプリフオーマツトして記録され、さらに各セ
クタの先頭セグメントと続くセグメントにそれぞれアド
レスデータと位相合わせ用データ及びレベル検出用デー
タを記録するようになされている。
【0028】この光磁気デイスク2に対して光磁気デイ
スク装置1においては、スピンドル制御回路3でスピン
ドルモータを駆動することにより、光磁気デイスク2を
所定の回転速度で回転駆動する。この状態で光磁気デイ
スク装置1は、光ピツクアツプ5に内蔵したレーザーダ
イオードの動作をレーザー制御回路4で制御することに
より、光ピツクアツプ5を駆動して光磁気デイスク2に
光ビームを照射し、データ記録時、リフアレンス領域を
形成して続くデータ領域に所望のデータを熱磁気記録
し、さらに再生時光ビームを照射して得られる反射光を
光ピツクアツプ5に内蔵した所定の受光素子で受光す
る。
【0029】I−V変換マトリツクス回路6は、この受
光素子の出力電流を電流電圧変換した後、所定の加減算
処理することにより、再生信号RF、トラツキングエラ
ー信号生成用の和信号TEE、フオーカスエラー信号F
Eを生成して出力する。アナログデイジタル変換回路
(A/D)7は、このうちトラツキングエラー信号生成
用の和信号TEEをデイジタル信号に変換して出力し、
PLL回路8は、このデイジタル信号を基準にしてクロ
ツクを生成し、このクロツクをアナログデイジタル変換
回路7に出力する。
【0030】これにより光磁気デイスク装置1は、光磁
気デイスク2に形成されたサーボパターン、リフアレン
ス領域のデータを基準にしてクロツクを生成するように
なされ、このクロツクを基準にして全体の動作を制御す
るようになされている。すなわちタイミングジエネレー
タ9は、このPLL回路8の出力信号を基準にして動作
基準の各タイミング信号を生成する。
【0031】トラツキングエラー生成回路10は、サー
ボパターンを再生するタイミングでアナログデイジタル
変換回路7の出力信号を入力し、これによりこのサーボ
パターンの再生結果に基づいてトラツキングエラー信号
TEを生成する。これにより光磁気デイスク装置1は、
トラツキングエラー信号TE及びフオーカスエラー信号
FEを基準にしてサーボ制御回路11で光ピツクアツプ
5に内蔵されたフオーカスコイル及びトラツキングコイ
ルを駆動し、これにより対物レンズを上下左右に可動し
てフオーカス制御及びトラツキング制御し得るようにな
されている。
【0032】これに対してクランプ回路12は、サーボ
パターンの再生結果を基準にして再生信号RF(この場
合カー効果を利用して得られる受光素子の差分信号でな
る)を所定の信号レベルにクランプし、アナログデイジ
タル変換回路13は、このクランプした信号をピツト形
成周期でデイジタル信号に変換して出力し、データ検出
回路14は、ビタビ復号の手法を適用してこのデイジタ
ル信号を復調する。
【0033】図2に示すように、このデータ検出回路1
4においては、ビタビ復号回路20は、アナログデイジ
タル変換回路13の出力データDRFをイコライザ回路
(図示せず)を介して波形等化した後、演算回路21に
入力し、ここでリフアレンス領域のデータを取り込んで
(1)〜(5)式の演算処理を実行することにより、セ
ンタレベルCEN、平均振幅Sを検出する。
【0034】さらにビタビ復号回路20は、アナログデ
イジタル変換回路13の出力データDRFを減算回路
(SUB)22に入力し、ここで演算回路21で検出し
たセンタレベルCENを減算することにより、再生信号
RFの振幅値Ykを検出する。これに対してセレクタ
(SEL)23は、パターンデコーダ(DEC)50で
検出された1ビツト前のデコード結果に基づいて接点を
切り換え、減算回路22から出力される再生信号RFの
振幅値Yk又は反転回路(−1)25の出力データを選
択的に出力する。
【0035】レジスタ24は、このセレクタ23の出力
データを保持して出力し、反転回路25は、この出力デ
ータの符号を反転して出力する。これによりビタビ復号
回路20は、パターンデコーダ50のデコード結果に基
づいてセレクタ23の接点を切り換え、これにより(1
2)〜(14)式の演算処理を実行して(6)〜(7)式
について上述した基準値Yp-1 を生成する。
【0036】加算回路(ADD)26は、この基準値Y
p-1 及び振幅値Ykを加算することにより、(6)〜
(8)式の値Yk+Yp-1 を検出する。セレクタ(SE
L)27及び28は、ぞれぞれパターンデコーダ50で
検出された1ビツト前のデコード結果に基づいて接点を
切り換えることにより、それぞれ値0又はS、値−S又
は0のデータを選択的に出力し、これにより1ビツト前
のデコード結果に基づいて基準値Bk-1 を設定して
(6)〜(8)式の値S/2+Bk-1 、−S/2+Bk-
1 を設定する。
【0037】比較回路(CMP)29は、セレクタ27
の出力データと加算回路26の出力データとの間で比較
結果を得ることにより、(6)式の関係式が成立するか
否かを判断し、比較回路30は、セレクタ28の出力デ
ータと加算回路26の出力データとの間で比較結果を得
ることにより、(8)式の関係式が成立するか否かを判
断する。
【0038】パターンデコーダ50は、この比較回路2
9及び30の比較結果に基づいて(6)〜(8)式の何
れの関係式が成立するか否かの判断結果を出力し、これ
によりビタビ復号回路20においては、アナログデイジ
タル変換回路13の出力データについて1ビツト単位で
上述の処理を繰り返して順次デコード結果を検出し得る
ようになされ、このデコード結果に基づいて(12)〜
(14)式について上述した基準値Yp及びBkを設定し
得るようになされている。
【0039】これに対して割り算器(1/2)31及び
32は、それぞれ演算回路21で検出された振幅値S及
び−Sを1/2に割り算して出力し、減算回路33及び
34は、それぞれ減算回路22の出力データYkから割
り算器31及び32の出力データS/2及び−S/2を
減算し、その減算結果の最上位ビツトを出力する。これ
により減算回路33及び34は、それぞれ(9)式及び
(11)式の演算処理を実行するようになされ、その演算
処理結果をビツトデコーダ(BITDEC)35に出力
する。
【0040】これに対してセレクタ36は、パターンデ
コーダ50で検出された1ビツト前のデコード結果に基
づいて反転回路37の出力データ、割り算器31及び3
2の出力データS/2及び−S/2を選択的に出力し、
レジスタ38は、この選択出力データを保持して出力す
る。反転回路37は、レジスタ38の出力データを入力
して符号を反転して出力するようになされ、これにより
ビタビ復号回路20においては、セレクタ36、反転回
路37、レジスタ38で基準値Bk-1 の値を設定するよ
うになされている。
【0041】これに対して減算回路39は、レジスタ2
4の出力データからレジスタ38の出力データを減算
し、減算結果の最上位ビツトを出力することにより、
(10)式の演算処理結果を得、この演算処理結果をビツ
トデコーダ35に出力する。ビツトデコーダ35は、パ
ターンデコーダ50のデコード結果に基づいて、減算回
路33、34、39の出力データを選択的にレジスタ4
0に出力する。
【0042】ここでレジスタ40は、20ビツトのシフト
レジスタで形成され、これによりビタビ復号回路20
は、復号結果を20ビツト順次保持して出力するようにな
されている。さらにビタビ復号回路20は、このレジス
タ40と並列的に20ビツトのシフトレジスタ41を有
し、ビツトデコーダ35は、レジスタ40に復号結果を
出力する際、このレジスタ40に格納する復号結果に対
して第2の遷移パターンが検出されるとシフトレジスタ
41にフラグを格納するようになされている。
【0043】このときビタビ復号回路20は、パターン
デコーダ50で検出された第1及び第3の遷移パターン
検出結果に基づいて、第2の遷移パターンに対応するレ
ジスタ40の復号データが正しく復号されたものか否か
判断し、ここで否定結果が得られると、シフトレジスタ
41のフラグを基準にして正しく復号し得なかつたデー
タの論理レベルを訂正し、これにより遷移検出結果に基
づいて正しいデータを復号し得るようになされている。
【0044】さらにこの実施例の場合、演算回路21
は、パターンデコーダ50において、+1のレベルから
−1のレベル又は−1のレベルから+1のレベルに0レ
ベルを横切つて遷移する第2の遷移パターンが検出され
た場合、アナログデイジタル変換回路13の出力データ
を取り込んで保持し、この取り込んだデータが所定個数
だけ累積されると、その平均値でセンタレベルCENを
更新する。
【0045】すなわちパターンデコーダ50において、
+1のレベルから−1のレベル又は−1のレベルから+
1のレベルに0レベルを横切つて遷移した遷移パターン
が検出された場合、再生信号RFの信号レベルにおいて
は、センタレベルCENを横切つて変化した場合と判断
することができる。これに対して第1及び第3の遷移パ
ターンの場合、センタレベルCENを横切つて再生信号
の信号レベルが変化した場合と断定し得ない特徴があ
る。
【0046】これによりビタビ復号回路20において
は、この第2の遷移パターンが検出された場合、取り込
んだデータの平均値でセンタレベルCENを更新するこ
とにより、直流レベルの変動に追従してセンタレベルC
ENを更新し得、これにより直流レベルが変動した場合
でもビツトエラーレートの劣化を有効に回避し得るよう
になされている。
【0047】さらにこのとき平均値でセンタレベルCE
Nを更新することにより、ノイズによるセンタレベルC
ENの誤設定を有効に回避し得、これにより光磁気デイ
スク装置1全体としてビツトエラーレートの劣化を有効
に回避し得るようになされている。
【0048】(2)実施例の効果 以上の構成によれば、再生信号の信号レベルがセンタレ
ベルを横切つて変化する第2の遷移パターンが検出され
ると、この再生信号の信号レベルを平均値化してセンタ
レベルを更新することにより、再生信号の直流レベルが
変動した場合でも、正しく再生信号を復号し得、これに
よりビツトエラーレートの劣化を有効に回避することが
できる。
【0049】(3)他の実施例 なお上述の実施例においては、減算回路22の入力値を
基準にしてセンタレベルを更新する場合について述べた
が、本発明はこれに限らず、この減算回路22の出力値
を基準にしてセンタレベルを補正するようにしてもよ
い。
【0050】さらに上述の実施例においては、本発明を
サンプルフオーマツトの光磁気デイスク装置に適用した
場合にについて述べたが、本発明はこれに限らず、いわ
ゆるコンテニユアスサーボの光磁気デイスク装置にも適
用することができる。
【0051】さらに上述の実施例においては、本発明を
光磁気デイスク装置に適用して3つの遷移パターンの間
で再生信号の遷移を検出する場合について述べたが、本
発明はこれに限らず、デイスク状記録媒体に記録したデ
ータを再生する種々の光デイスク装置に広く適用するこ
とができる。
【0052】
【発明の効果】上述のように本発明によれば、再生信号
をデイジタル値に変換してビタビ復号する際に、再生信
号の信号レベルがセンタレベルを横切つて変化する遷移
パターンが検出されると、センタレベルを補正すること
により、再生信号の直流レベルが変動した場合でも、正
しく再生信号を復号し得、これによりビツトエラーレー
トの劣化を有効に回避することができる光デイスク装置
を得ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例による光磁気デイスク装置を
示すブロツク図である。
【図2】ビタビ復号回路を示すブロツク図である。
【図3】その動作の説明に供する信号波形図である。
【図4】遷移パターンを示す略線図である。
【図5】光磁気デイスクの記録パターンの説明に供する
略線図である。
【符号の説明】
1……光磁気デイスク装置、2……光磁気デイスク、
7、13……アナログデイジタル変換回路、14……デ
ータ検出回路、20……ビタビ復号回路。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G11B 20/18 G11B 20/10 G11B 20/14

Claims (2)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】クラス1のパーシヤルレスポンスを適用し
    てデイスク状記録媒体に記録したデータを再生する光デ
    イスク装置において、 上記デイスク状記録媒体に光ビーム照射し、上記デイ
    スク状記録媒体から得られる反射光を受光し、上記反射
    光に応じて信号レベルが変化する再生信号を出力する再
    生信号出力手段と、 上記再生信号を所定周期でデイジタル値に変換して出力
    するアナログデイジタル変換手段と、 上記デイジタル値の遷移を検出することにより、上記デ
    イジタル値の遷移が所定の遷移パターンの何れに該当す
    るか検出し、該遷移パターンの検出結果に基づいて上記
    再生信号を復号するビタビ復号回路とを具え、 上記ビタビ復号回路は、 上記デイスク状記録媒体に記録した所定のリフアレンス
    データを再生して上記再生信号の最大値及び最小値を検
    出し、上記最大値及び最小値の平均値レベルをセンタレ
    ベルに設定し、上記センタレベルを基準にして上記デイ
    ジタル値の遷移パターンを検出し、 上記デイジタル値が上記センタレベルを横切つて変化す
    る遷移パターンが検出されたとき、上記センタレベルを
    横切る前の上記デイジタル値及び上記センタレベルを横
    切つた後の上記デイジタル値の平均値と、上記センタレ
    ベルとの減算値が0になるように上記センタレベルを補
    正するを具えることを特徴とする光デイスク装置。
  2. 【請求項2】上記ビタビ復号回路は、上記センタレベル
    を横切る前の上記デイジタル値及び上記センタレベルを
    横切つた後の上記デイジタル値の平均値を所定回数分平
    均した値と、上記センタレベルとの減算値が0になるよ
    うに上記センタレベルを補正することを特徴とする請求
    項1に記載の光デイスク装置。
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