JP2002351741A - 半導体集積回路装置 - Google Patents

半導体集積回路装置

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JP2002351741A
JP2002351741A JP2001163237A JP2001163237A JP2002351741A JP 2002351741 A JP2002351741 A JP 2002351741A JP 2001163237 A JP2001163237 A JP 2001163237A JP 2001163237 A JP2001163237 A JP 2001163237A JP 2002351741 A JP2002351741 A JP 2002351741A
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semiconductor
access
semiconductor memory
integrated circuit
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Isao Tanaka
功 田中
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Panasonic Holdings Corp
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Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 大容量のデータ集合体の格納を安価な低速メ
モリを用いて行おうとすると、データ集合体中で特定領
域のみに高速アクセスしたい場合でもレイテンシが発生
し、装置全体の性能が低下する。 【解決手段】 データ集合体の特定領域にランダムな高
速アクセスの必要なデータが存在する場合、その特定領
域を示す優先情報をレジスタ103に書き込む。レジス
タ103に格納された優先情報に基づいてアクセス制御
回路100は、その部分だけを第2の半導体メモリ10
2に格納する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は半導体集積回路装
置に関し、さらに詳しくは、複数のデータを含んだデー
タ集合体を取り扱う半導体集積回路装置に関する。
【0002】
【従来の技術】近年、処理装置の高速化に伴い、これに
データを供給する記憶装置の応答性の向上が望まれるよ
うになり、高速読み出し可能なSRAMなどが記憶装置
に用いられるようになっている。しかし、一般にこのよ
うな高速なメモリは面積パワーなどの観点から比較的高
価であるため処理装置全体のメモリをSRAMのみで構
成することは難しく、よりビットコストの安い低速なD
RAMなどの記憶装置が主記憶部分として使用されてい
る。DRAMなどの半導体記憶装置は、連続したアドレ
スへのアクセスは高速に行うことができるけれども連続
データの先頭部分へのアクセスは高速化できない。この
ためサイクルの待ち状態(レイテンシ)が発生し、処理
装置全体の性能が低下する。これを解決するため、デー
タの先頭領域のみを別の高速な半導体記憶装置に格納
し、シーケンシャルに制御することによってレイテンシ
を回避する方法が提案されている(特開平6−3655
0号公報参照)。
【0003】以下、このような半導体集積回路の一例に
ついて図12を参照しつつ説明する。図12に示した半
導体集積回路は、半導体メモリ1201および1202
と、制御回路1200とを備える。半導体メモリ120
1には、データ集合体の先頭以外の部分Data3−D
ata7が格納される。半導体メモリ1201は、単独
のデータに対するアクセスは低速であるけれども連続し
たアドレスのデータに対するアクセスは高速に実行する
ことができるメモリである。半導体メモリ1202に
は、データ集合体の先頭部分のデータData1,Da
ta2が格納される。半導体メモリ1202は、単独の
データアクセスを高速に実現することができるメモリで
ある。制御回路1200は、アドレス情報と制御信号と
を入力とし、半導体メモリ1201および1202に対
してアクセスアドレスおよびアクセス制御信号を出力す
る。制御回路1200は内部にカウンタを持っており、
半導体メモリ1201と半導体メモリ1202とのどち
らにアクセスするかをカウンタの値に応じて決定してア
クセス制御信号を発行する。また制御回路1200は、
半導体メモリ1201および1202に対するアクセス
アドレスをカウンタの値とアドレス情報とに基づいて生
成する。
【0004】次に、以上のように構成された半導体集積
回路の動作について説明する。ここではデータ集合体中
のデータの数が8(Data1−Data8)、低速な
半導体メモリ1201のレイテンシが2サイクルであ
り、連続する8アドレスのデータを読み出すものとす
る。
【0005】書き込み要求が発生すると、8つの連続す
るデータData1−Data8で構成されるデータ集
合体が外部から送られる。書き込み動作が開始される
と、制御回路1200は、内蔵するカウンタの値に従っ
て半導体メモリ1201のレイテンシ期間に相当する2
サイクル期間 アクセス制御信号およびアクセスアドレ
スを半導体メモリ1202に発行し、データ集合体中の
先頭部分のデータData1,Data2を半導体メモ
リ1202へ順次書き込む。これと並行して制御回路1
200は、高速ページモードアクセスを開始するための
アクセスアドレスを半導体メモリ1201へ発行し、第
3番目のデータData3の書き込みの準備を実施して
いる。そして3サイクル目以降は、データ集合体の3番
目以降のデータData3−Data8を高速ページモ
ードによって半導体メモリ1201に順次書き込む。
【0006】読み出し動作の場合も同様に、先頭の2デ
ータData1,Data2までは高速な半導体メモリ
1202から読み出し、3サイクル目以降は、高速ペー
ジモードによって半導体メモリ1201から読み出す。
低速な半導体メモリ1201のレイテンシ期間には高速
な半導体メモリ1202でもアクセス準備を実施させる
ため、処理装置においてデータ待ち期間(レイテンシ)
を発生しない。
【0007】このように、図12に示した半導体集積回
路では、高速な半導体メモリ1202へのアクセスと半
導体メモリ1201への高速ページモードによるアクセ
スとを連続的に行うため、メモリのすべてを高速な半導
体メモリで構成した場合と比べてアクセス速度を同程度
に保ったまま低価格化または小型化を実現することがで
きる。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】図12に示した半導体
集積回路では、データ集合体の先頭部分のデータDat
a1,Data2の書き込み/読み出しに関しては高速
性が確保される。しかし、高速なランダムアクセスが必
要なデータがデータ集合体の先頭部分以外に入っていた
場合にはその度にレイテンシが発生してしまう。特に、
データ集合体の先頭部分以外の特定領域のデータだけを
連続で取り出してデータ処理に用いるような場合にはア
クセスのたびにレイテンシが発生し、データ処理装置の
性能の著しい低下を引き起こす。
【0009】この発明は上記のような問題を解決するた
めになされたものであり、その目的は、データ集合体に
含まれる複数のデータのうちの任意のデータについて高
速なランダムアクセスが可能な半導体集積回路装置を提
供することである。
【0010】
【課題を解決するための手段】この発明による半導体集
積回路装置は、データ集合体内での高速アクセスが必要
なデータを示す優先情報をレジスタに格納し、この優先
情報に基づいて、データ集合体のうちの任意の部分を第
2の半導体記憶装置に書き込むと同時に、第1の半導体
記憶装置にも書き込み、高速なランダムアクセスが必要
な場合には、第1の半導体記憶装置から読み出すもので
ある。この半導体集積回路によれば、小規模な回路の追
加とあらかじめ優先情報をレジスタに格納しておくこと
によりデータ集合体中の任意のデータに対して高速なラ
ンダムアクセスを可能とし、メモリシステムとしての性
能を向上させることができる。
【0011】具体的には、この発明の1つの局面に従っ
た半導体集積回路装置は、第1の半導体記憶装置と、第
2の半導体記憶装置と、レジスタと、アクセス制御回路
とを備える。第1の半導体記憶装置は、複数のデータを
含んだデータ集合体の主記憶部分となる記憶装置であ
る。レジスタには、データ集合体に含まれる複数のデー
タのうち特定のデータを示す優先情報が格納される。第
2の半導体記憶装置は、データ集合体に含まれる複数の
データのうち、レジスタに格納された優先情報によって
指定されたデータを格納する記憶装置である。アクセス
制御回路は、レジスタに格納された優先情報とアドレス
情報と制御信号とに基づいて、第1の半導体記憶装置お
よび第2の半導体記憶装置へのアクセスを制御する。
【0012】好ましくは、上記優先情報は、データ集合
体に含まれる複数のデータのうち高速にアクセスする必
要があるデータを示すものである。
【0013】好ましくは、上記優先情報は、データ集合
体に含まれる複数のデータのうちアクセス頻度が高いデ
ータを示すものである。
【0014】好ましくは、上記第1の半導体記憶装置
は、同一容量の記憶装置を実現するための半導体記憶素
子の大きさが第2の半導体記憶装置より小さい。
【0015】好ましくは、上記第2の半導体記憶装置
は、単独のデータアクセスを高速に可能な半導体記憶装
置であり、上記第1の半導体記憶装置は、単独のデータ
アクセスは低速であるが、連続したデータアクセスを高
速に実現可能な半導体記憶装置である。
【0016】好ましくは、上記第2の半導体記憶装置
は、単独のデータアクセスを第1の半導体記憶装置より
も低消費電力で実現可能な半導体記憶装置である。
【0017】好ましくは、上記半導体集積回路装置はさ
らに、第3の半導体記憶装置と、アクセス判定回路と、
アクセス制御回路とを備える。第3の半導体記憶装置に
は、第1の半導体記憶装置に格納されたデータのうちラ
ンダムアクセス要求が行われたデータがコピーされる。
アクセス判定回路は、第3の半導体記憶装置に格納され
たデータのアドレス情報を蓄積し、当該アドレス情報が
第3の半導体記憶装置内に格納されているかどうかを判
定する。アクセス制御回路は、アクセス判定回路の判定
結果とアドレス情報と制御信号とに基づいて、第1から
第3の半導体記憶装置のいずれかに対してアクセスを実
施させる。
【0018】好ましくは、上記半導体集積回路装置はさ
らにバッファを備える。バッファは、第3の半導体記憶
装置とデータバスとの間に設けられ、第1の半導体記憶
装置から読み出されたデータを一時的に格納する。
【0019】好ましくは、上記アクセス制御回路は、与
えられたアドレスと第2の半導体記憶装置に対するアク
セスアドレスとの間の変換機構をもつ。
【0020】この発明のもう1つの局面に従うと、半導
体集積回路装置は、第1の半導体記憶装置と、第2の半
導体記憶装置と、アクセス判定回路と、アクセス制御回
路とを備える。第1の半導体記憶装置は、複数のデータ
を含んだデータ集合体の主記憶部分となる記憶装置であ
る。第2の半導体記憶装置には、第1の半導体記憶装置
に格納されたデータのうちランダムアクセスが要求され
たデータがコピーされる。アクセス判定回路は、第2の
半導体記憶装置に格納されたデータのアドレス情報を蓄
積し、当該アドレス情報が第2の半導体記憶装置内に格
納されているかどうかを判定する。アクセス制御回路
は、アクセス判定回路の判定結果とアドレス情報と制御
信号とに基づいて、第1または第2の半導体記憶装置の
いずれかに対するアクセスを実施させる。
【0021】好ましくは、上記半導体集積回路装置はさ
らにバッファを備える。バッファは、第2の半導体記憶
装置とデータバスとの間に設けられ、第1の半導体記憶
装置から読み出されたデータを一時的に格納する。
【0022】好ましくは、上記第1の半導体記憶装置
は、同一容量の記憶装置を実現するための半導体記憶素
子の大きさが第2の半導体記憶装置より小さい。
【0023】好ましくは、上記第2の半導体記憶装置
は、単独のデータアクセスを高速に可能な半導体記憶装
置であり、上記第1の半導体記憶装置は、単独のデータ
アクセスは低速であるが、連続したデータアクセスを高
速に実現可能な半導体記憶装置である。
【0024】好ましくは、上記第2の半導体記憶装置
は、単独のデータアクセスを第1の半導体記憶装置より
も低消費電力で実現可能な半導体記憶装置である。
【0025】
【発明の実施の形態】以下、この発明の実施の形態を図
面を参照して詳しく説明する。なお、図中同一または相
当部分には同一の符号を付しその説明は繰り返さない。
【0026】(第1の実施形態)図1は、この発明の第
1の実施形態による半導体集積回路の全体構成を示すブ
ロック図である。図1に示す半導体集積回路は処理装置
のデータ供給部分として使用されるものであり、アクセ
ス制御回路100と、第1の半導体メモリ101と、第
2の半導体メモリ102と、レジスタ103とを備え
る。
【0027】半導体メモリ101は、単独のデータに対
するアクセスは低速であるけれども連続したデータに対
しては高速ページモードによって高速にアクセスするこ
とができるメモリである。ここでは、高速ページモード
によってアクセスする連続データの先頭データにアクセ
スするときの半導体メモリ101のレイテンシを2サイ
クルとする。半導体メモリ102は、単独データに対す
る高速なランダムアクセスが可能なメモリである。第1
の半導体メモリ101および第2の半導体メモリ102
としては以下のものを用いることができる。例えば、第
1の半導体メモリ101としてDRAM、第2の半導体
メモリ102としてSRAMを用いることができる。ま
た、第1の半導体メモリ101として大容量のSRA
M、第2の半導体メモリとして小容量のSRAMを用い
ることができる。
【0028】レジスタ103には、データ集合体に含ま
れるデータData1−Data8のうちの何番目のデ
ータを高速にアクセスすべきかを示す優先情報が格納さ
れる。データ集合体は、複数のデータからなる1かたま
りのデータである。このようなデータ集合体の例として
画像データや通信用の情報などが挙げられる。
【0029】アクセス制御回路100は、レジスタ10
3に格納された優先情報・アドレスバスからのアドレス
情報・外部からの制御信号(/CS,CLK,/WE,
/RE)を受け、半導体メモリ101および102に対
するアクセスを制御する。
【0030】次に、以上のように構成された半導体集積
回路の動作について説明する。ここでは、データ集合体
に含まれるデータの数を8(Data1−Data8)
とする。そして、データ集合体に含まれるデータDat
a1−Data8のうち、(1)先頭から5番目のデー
タData5を高速にアクセスするデータとする場合、
(2)先頭から1番目および2番目のデータData1
およびData2を高速にアクセスするデータとする場
合、(3)先頭から1番目、2番目および5番目のデー
タData1,Data2およびData5を高速にア
クセスするデータとする場合について説明する。
【0031】(1)先頭から5番目のデータData5
を高速にアクセスするデータとする場合 まず、データ集合体の先頭から5番目のデータData
5だけを用いてデータ処理装置が高速なデータ処理を行
う必要があるケースについて説明する。このようなケー
スとしては、例えば、複数のデータ集合体の各々から5
番目のデータData5を抜き出して処理を行うような
場合が挙げられる。このとき優先情報は、データ集合体
に含まれるデータのうちの5番目のデータに対して設定
される。
【0032】図2は、このときの各信号のタイミングを
示すタイムチャートである。以下、図2を参照しつつ説
明する。
【0033】データ集合体のアクセスが始まる前である
時刻t0以前において、高速なアクセスが必要なデータ
がデータ集合体の5番目にあることを示す優先情報があ
らかじめレジスタ103に格納される。すなわち時刻t
0においてはすでに前述の優先情報がレジスタ103に
格納されている。
【0034】時刻t0においてアクセス要求信号/CS
およびライト要求信号/WEが発行され、データ集合体
の取り込みが開始される。データ集合体の1番目のデー
タData1に対するアドレス情報がアドレスバスから
アクセス制御回路100に与えられる。アクセス制御回
路100は、活性のライト要求信号/WE1およびアド
レス情報ADR1を半導体メモリ101に与える。これ
により半導体メモリ101は書き込み可能状態になり、
アドレス情報ADR1に従った位置にデータData1
が書き込まれる。一方、データ集合体の1番目のデータ
Data1は、レジスタ103に格納された優先情報に
指定されたデータではないため、アクセス制御回路10
0は不活性のライト要求信号/WE2を半導体メモリ1
02に与える。これにより半導体メモリ102は書き込
み不能状態となる。すなわち半導体メモリ102にはデ
ータData1は書き込まれない。同様にしてデータ集
合体の2番目−4番目のデータData2−Data4
が半導体メモリ101に書き込まれ、半導体メモリ10
2には書き込まれない。
【0035】5番目のデータData5の書き込み時に
は、優先情報が設定されているので、半導体メモリ10
1への書き込みと並行して半導体メモリ102への書き
込みが実施される。すなわちアクセス制御回路100は
活性の書き込み要求信号/WE2およびアドレス情報A
DR2を半導体メモリ102に与える。これにより、半
導体メモリ102は書き込み可能状態になり、アドレス
情報ADR2に従った位置にデータData5が書き込
まれる。半導体メモリ101にも同様にデータData
5が書き込まれる。半導体メモリ102は1サイクルで
のアクセスを半導体メモリ101よりも高速に行うこと
ができかつそのアクセス動作は半導体メモリ101のア
クセス動作に同期しているため、この書き込み動作によ
るタイミング的なペナルティは発生しない。
【0036】6番目以降のデータData6−Data
8については、再び、半導体メモリ101のみへの書き
込みが順次実施され、データ集合体すべてのデータの半
導体メモリ101および102への書き込みが完了す
る。以降、データ集合体が取り込まれるたびに、半導体
メモリ101にはすべてのデータData1−Data
8が書き込まれ、半導体メモリ102には5番目のデー
タData5のみが選択的に書き込まれる。外部からの
データ集合体の書き込みがすべて終了した時点で、すべ
てのデータ集合体中の5番目のデータData5は1サ
イクルアクセス可能な高速な半導体メモリ102に格納
されている。したがって、高速な半導体メモリ102の
最高速度を維持したまま必要なデータ群(5番目のデー
タ)を1サイクルごとに連続に読み出してデータ処理を
行うことができる。
【0037】(2)先頭から1番目および2番目のデー
タData1,Data2を高速にアクセスするデータ
とする場合 このとき優先情報は、データ集合体に含まれるデータの
うちの1番目および2番目のデータに対して設定され
る。
【0038】図3は、書き込み動作時の各信号のタイミ
ングを示すタイムチャートである。以下、図3を参照し
つつ説明する。
【0039】データ集合体のアクセスが始まる前である
時刻t0以前において、高速なアクセスが必要なデータ
がデータ集合体の1番目および2番目にあることを示す
優先情報があらかじめレジスタ103に格納される。
【0040】時刻t0においてアクセス要求信号/CS
およびライト要求信号/WEが発行され、データ集合体
の取り込みが開始される。データの第1番目のデータ開
始アドレス情報に従って1番目のデータが半導体メモリ
101に書き込まれる。この場合は、半導体メモリ10
1に対する通常の高速ページモードとなるので、先頭デ
ータの書き込みに関しては2サイクルのレイテンシのの
ち書き込み動作が実施され、3サイクル目からは、1サ
イクル1データ毎に順次書き込みが行われる。この時、
レジスタ103に格納された優先情報に基づき、並行し
て半導体メモリ102へもデータ集合体中の1番目およ
び2番目のデータData1およびDat2が書き込ま
れる。
【0041】図4は、上述のようにして書きこまれたデ
ータを読み出すときのタイムチャートである。以下、図
4を参照しつつ説明する。
【0042】時刻T0においてアクセス要求信号/CS
およびリード要求信号/REが発行され、リード動作が
開始される。アクセス制御回路101によりレイテンシ
の発生する1番目および2番目のデータData1およ
びData2を読み出す場合には、高速な半導体メモリ
102から1サイクルアクセスでデータData1およ
びData2を読み出し、並行して3番目のデータDa
ta3へ高速ページモードでアクセスする。3サイクル
目からは、半導体メモリ101から1サイクルごとに順
次データData3−Data8を読み出す。したがっ
て、データ集合体としての読み出し時にはレイテンシを
発生することなくこの半導体集積回路からデータ処理装
置へのデータ転送が可能となる。もちろん先頭部分のデ
ータのランダムアクセスも可能である。
【0043】(3)先頭から1番目、2番目および5番
目のデータData1,Data2およびData5を
高速にアクセスするデータとする場合 このとき優先情報は、データ集合体に含まれるデータの
うちの1番目、2番目および5番目のデータに対して設
定される。
【0044】図5は、書き込み動作時の各信号のタイミ
ングを示すタイムチャートである。以下、図5を参照し
つつ説明する。
【0045】データ集合体のアクセスが始まる前である
時刻t0以前において、高速なアクセスが必要なデータ
がデータ集合体の1番目、2番目および5番目にあるこ
とを示す優先情報があらかじめレジスタ103に格納さ
れる。
【0046】時刻t0においてアクセス要求信号/CS
およびライト制御信号/WEが発行され、データ集合体
の取り込みが開始される。データの第1番目のデータ開
始アドレス情報に従って1番目のデータが半導体メモリ
101に書き込まれる。この場合も同様に、通常の高速
ページモードとなるので、先頭データの書き込みに関し
ては2サイクルのレイテンシののち書き込み動作が実施
され、3サイクル目からは、1サイクル1データ毎に順
次書き込みが行われる。この時、レジスタ103に格納
された優先情報に基づき、並行して半導体メモリ102
へもデータ集合体中の1番目、2番目および5番目のデ
ータData1,Data2およびData5が書き込
まれる。読み出し動作に関しては、上述の(1)および
(2)の場合と同様に、データ集合体を連続に読み出す
場合には、半導体メモリ101および102の読み出し
を並行して行い、3サイクル目で切り替えることによ
り、レイテンシを発生することなくデータ処理装置へデ
ータを供給することが出来る。また、高速アクセスが必
要な5番目のデータData5も全て1サイクル高速ア
クセスが可能である。
【0047】以上のように第1の実施形態による半導体
集積回路では、単独のデータアクセスを高速に実行可能
な第2の半導体メモリ102と、単独のアクセスは低速
であるが連続したデータアクセスは高速に実行可能な第
1の半導体メモリ101と、高速なランダムアクセスが
必要なデータ位置の情報を示す優先情報を格納するレジ
スタ103と、レジスタ103の値・アドレス情報・制
御信号を用いて半導体記憶装置101および102を並
列に制御するアクセス制御回路100とを設けている。
そして、優先情報によってあらかじめ指定されたデータ
に関しては自動的に高速な半導体メモリ102にも並行
して書き込みを行い、リード時には半導体メモリ101
と半導体メモリ102とを切り替えて使用する。これに
より、低速な半導体メモリ101を用いながら、メモリ
で発生するレイテンシによるタイミングペナルティを回
避することができる。
【0048】なお、ここでは優先情報が設定されたデー
タを第1の半導体メモリ101および第2の半導体メモ
リ102の両方に格納している。これにより、単独デー
タのランダムアクセスでの高速性とともに、データ集合
体としての連続読み出し時には先頭部分での簡単な制御
以外は通常の高速ページアクセスと同じ制御によってデ
ータの高速読み出しが可能となるという効果を有する。
しかし、優先情報によって指定されたデータに関しては
高速な第2の半導体メモリ102のみに書き込む構成に
することもできる。この場合にはアクセス制御回路10
0でのアクセス制御が複雑にはなるけれども、データを
2重に持つことがなくなるためメモリの仕様効率が向上
するという効果を有する。
【0049】また、第1の半導体メモリ101をメモリ
セル面積の小さいダイナミックランダムアクセスメモリ
(DRAM)、第2の半導体メモリ102をセル面積が
大きいスタテックランダムアクセスメモリ(SRAM)
で実現すれば、主記憶となる第1の半導体メモリ101
の部分は面積を抑えながら大容量化し、速度の必要な部
分は小容量で高速なSRAMとすることにより、高速性
の必要な部分はSRAMの速度を維持したまま、他の部
分に関してはビットコストの有利なDRAMで構成でき
るので、処理装置全体を低コスト化できる。
【0050】(第2の実施形態)図6は、この発明の第
2の実施形態による半導体集積回路の全体構成を示すブ
ロック図である。図6において、第1の半導体メモリ6
01は主記憶部分となるメモリであり、第2の半導体メ
モリ602は単独データに対して低消費電力でランダム
アクセスが可能なメモリである。半導体メモリ602の
アクセス時の消費電力は半導体メモリ601のアクセス
時の消費電力よりも小さい。レジスタ603には、複数
のデータからなるデータ集合体において優先すべきラン
ダムアクセスが何番目に位置しているかという優先情報
を格納する。また、アクセス制御回路600は、レジス
タ603に格納された優先情報・アドレスバスからのア
ドレス情報・制御信号を入力とし、半導体メモリ601
および602を制御する。半導体メモリ601および6
02のアクセス時の消費電力の関係が異なることを除い
て基本的な動作は第1の実施形態とほぼ同様である。こ
こでは、レジスタ603に格納された優先情報で指定さ
れたデータのみが 低消費電力メモリで構成される半導
体メモリ602に書き込まれ、残りのデータは半導体メ
モリ601へ書き込まれる。例えば、データ集合体の中
で優先情報によって指定されたデータのみのアクセス頻
度が高いような場合、一度半導体メモリ602に書き込
まれたデータに対しては常に低消費電力なアクセスが可
能であり、低消費電力化の効果が大きい。なお、低消費
電力化の実現は、一般に回路的な工夫に加えてメモリ容
量を削減することによっても実現可能であり、ここで
は、第1の半導体メモリ601の容量に対して、第2の
半導体メモリ602の容量を小さく作ることによって、
稼動部分の規模を小さくすることにより容易に実現可能
である。
【0051】(第3の実施形態)図7は、この発明の第
3の実施形態による半導体集積回路の全体構成を示すブ
ロック図である。図7に示す半導体集積回路は、アクセ
ス制御回路700がアドレスの変換機構を有すること以
外は図1に示した半導体集積回路と構成は同じである。
図7に示し半導体集積回路の基本的な動作は、第1およ
び第2の実施形態における半導体集積回路と同じであ
り、レジスタ103に格納された優先情報に従って半導
体メモリ101および102がアクセス制御回路700
によって動作を切り替えながら使用される。
【0052】図7に示すアクセス制御回路700は、ア
ドレスバスから入力されるアドレスから半導体メモリ1
02へ出力するアドレスへの変換機構を有している。ア
クセス制御回路700は、レジスタ103の優先情報に
よって半導体メモリ102へのアクセスが要求される場
合には、変換後のアドレス情報を半導体メモリ102へ
出力する。これは例えば、アドレスバスからのアドレス
と変換後のアドレスとの変換テーブルをアクセス制御回
路700に設けることによって実現可能である。半導体
メモリ102へのアクセス時には、実際のアクセスは半
導体メモリ102内のこの変換後のアドレスに相当する
部分へ行われる。このようにアドレス変換を行うことに
より、半導体メモリ102の構成の自由度が非常に向上
する。アドレス変換を伴わない場合には、該当するアド
レスが来た場合、そのアドレスに相当する半導体メモリ
102のアドレス番地がアクセスされるようアドレスご
とのイネーブル信号を設ける必要がある。半導体メモリ
102の容量が少量ですむ場合にはアドレス変換を行わ
なくてもイネーブル信号の本数は限られた範囲で納まる
ため、アドレス変換機構がないほうがかえって回路の増
加を発生しないため有利である。しかしながら、半導体
メモリ102に格納するデータの容量が多くなると、変
換機構を持たない場合には爆発的にイネーブル信号の本
数が増加してしまうことになる。アドレス変換機構によ
りアドレスとして半導体メモリ102へ格納場所を指示
する場合には、制御信号の本数は高々アドレスの幅に治
めることが可能であり、半導体メモリ102の容量を増
加させることが非常に容易に実現できる。
【0053】(第4の実施形態)図8は、この発明の第
4の実施形態による半導体集積回路の全体構成を示すブ
ロック図である。図8に示す半導体集積回路は、第1の
半導体メモリ801と、第2の半導体メモリ802と、
アクセス判定回路804と、アクセス制御回路800と
を備える。半導体メモリ801は、主記憶部分となるメ
モリである。半導体メモリ802は、単独データに対し
て低消費電力で高速なランダムアクセスが可能なメモリ
である。アクセス判定回路804は、アドレスレジスタ
を含む。アドレスレジスタは、データ集合体としてでは
ないランダムなリードアクセス要求が半導体メモリ80
1に対して発生した場合にそのアドレス情報を記憶す
る。そしてアクセス判定回路804は、次回以降のラン
ダムアクセス時には、アドレスレジスタに格納したアド
レスとの比較を行う。アクセス制御回路800は、アド
レスバスからのアドレス情報・制御信号・アクセス判定
回路804からの判定結果を入力とし、半導体メモリ8
01および802を制御する。
【0054】次に以上のように構成された半導体集積回
路の動作について説明する。
【0055】初期状態では、アクセス判定回路804内
のアドレスレジスタはクリアされ何も格納されていな
い。ここで書き込み要求が行われると、複数のデータか
ら構成されるデータ集合体が順番に半導体メモリ801
に格納されていく。この状態では、半導体メモリ802
に対しては何のアクセス要求もなされない。
【0056】書き込み終了後、データ集合体の特定の部
分への単独アクセスが発生した場合には、アクセス判定
回路804は該当アドレス情報を内部のアドレスレジス
タへ格納すると同時にアドレス情報およびアクセス要求
信号をアクセス制御回路800へ発行する。この情報に
従ってアクセス制御回路800は、半導体メモリ801
に対して該当アドレスの読み出し要求を発行する。ま
た、同時に半導体メモリ802に対しては書き込み要求
を発行する。したがって、この期間には、半導体メモリ
801からのデータバスへのデータの読み出しと、デー
タバスから半導体メモリ802へのデータの書き込みが
実施される。この書き込みサイクルはデータ読み出し期
間と並行して実施されるので、半導体メモリ801から
半導体メモリ802へデータのコピーを実施するための
余分なデータバスの占有は発生しない。その後、該当す
るアドレスへの単独データに対する読み出し要求が発生
した場合には、アクセス判定回路804でアドレスバッ
ファに格納されているアドレスとの比較が行われ、一致
した場合には一致検出信号と半導体メモリ802内での
データ位置情報がアクセス制御回路800に発行され
る。この一致検出信号および位置情報に従って半導体メ
モリ802からデータが読み出される。この時、半導体
メモリ801は動作しないようアクセス制御回路800
により制御されているため、不要なアクセスによる電流
の消費等は発生しない。また、集合体としての連続アク
セス要求時は、アクセス判定回路804での比較動作自
体が実行されないようマスキングされており、この場合
にはたとえアクセス判定回路804内のアドレスバッフ
ァに格納されたアドレスであっても半導体メモリ801
側から読み出しが実行される。該当データへの単独アク
セスに関しては、高速な半導体メモリ802から読み出
し可能なため、アクセス時のペナルティは発生しない。
【0057】(第5の実施形態)図9は、この発明の第
5の実施形態による半導体集積回路の全体構成を示すブ
ロック図である。図9に示す半導体集積回路は、図8に
示した半導体集積回路に加えてさらにバッファ911を
備える。バッファ911は、データバスと半導体メモリ
802との間に設けられる。
【0058】以下、図9に示した半導体集積回路の動作
について説明する。
【0059】初期動作に関しては図8に示した半導体集
積回路と同一であり、データ集合体が半導体メモリ80
1に格納される。
【0060】すでに半導体メモリ801に格納されたデ
ータに関しての単独アクセスが要求されると、アクセス
判定回路804は該当アドレス情報を内部のアドレスレ
ジスタへ格納すると同時にアドレス情報およびアクセス
要求信号をアクセス制御回路800へ発行する。この情
報に従ってアクセス制御回路800は、半導体メモリ8
01に対して該当アドレスの読み出し要求を発行する。
同時に半導体メモリ802に対しては書き込み要求を発
行する。したがって、この期間には半導体メモリ801
からのデータバスへのデータの読み出しとデータバスか
ら半導体メモリ802へのデータの書き込みとが実施さ
れる。ただし、半導体メモリ802に直接に格納される
わけではなく、同一サイクル内はバッファ911にデー
タバス上のデータが書き込まれる。これにより、半導体
メモリ801からデータバス上に読み出されたデータを
半導体メモリ802へ書き込むための時間はほとんど発
生しない。したがって、半導体メモリ801の最高性能
を阻害することなくデータのコピーを実施できる。バッ
ファ911から半導体メモリ802への書き込みは、次
サイクルにそのまま実施してもよいし、半導体メモリ8
02に対して次の書き込み要求が発生した時点で、前回
取り込んだデータを書き込んでもよい。この場合には、
半導体メモリ802への書き込みが発生した直後のサイ
クルにおいて半導体メモリ802内のデータに関するア
クセスが発生したときでも調停のためのペナルティをお
こさずに済むため、データ処理装置の性能低下を防止で
きる。データ集合体の一部のデータに関しての単独読み
出しアクセスが発生した場合には、図8に示した回路と
同様にアクセス判定回路804でのアドレス比較動作が
実施され、アドレスが一致した場合には一致検出信号と
半導体メモリ802内でのデータ位置情報がアクセス制
御回路800に発行される。この一致検出信号およびデ
ータ位置情報に従って半導体メモリ802からデータが
読み出される。
【0061】なお、第2の半導体メモリ802の容量が
非常に小さいとき(たとえば数十行程度の容量)には一
致信号をそのままデータ位置情報として使用することが
でき、データ位置情報を発生するための追加の回路は不
要となる。
【0062】また、第1の半導体メモリ801をメモリ
セル面積の小さいダイナミックランダムアクセスメモリ
(DRAM)で、第2の半導体メモリ802をセル面積
が大きいスタテックランダムアクセスメモリ(SRA
M)で実現すれば、主記憶となる第1の半導体メモリ8
01の部分は面積を抑えながら大容量化し、速度の必要
な部分は小容量で高速なSRAMとすることにより、高
速性の必要な部分はSRAMの速度を維持したまま、他
の部分に関してはビットコストの有利なDRAMで構成
できるので、処理装置全体を低コスト化できる。
【0063】また、第2の半導体メモリ802を第1の
半導体メモリ801に比べて単独のデータアクセスを低
消費電力で実現可能な半導体メモリで実現すれば、主記
憶となる第1の半導体メモリ801の部分は面積を抑え
ながら大容量化し、低消費電力の必要な部分は低消費電
力な第2の半導体メモリ802のみでアクセスさせる構
成とすることが可能となり、処理装置全体を低コストに
維持したまま低消費電力化できる。
【0064】(第6の実施形態)図10は、この発明の
第6の実施形態による半導体集積回路の全体構成を示す
ブロック図である。図10に示す半導体集積回路は、第
1の半導体メモリ1001と、第2の半導体メモリ10
02と、第3の半導体メモリ1005と、レジスタ10
03と、アクセス判定回路1004と、アクセス制御回
路1000とを備える。第1の半導体メモリ1001は
主記憶部分となるメモリである。第2の半導体メモリ1
002は、単独データに対して低消費電力で高速なラン
ダムアクセスが可能なメモリである。レジスタ1003
には、複数のデータからなるデータ集合体において優先
すべきランダムアクセスが何番目に位置しているかとい
う優先情報が格納される。アクセス判定回路1004
は、データ集合体としてではないランダムなリードアク
セス要求が半導体メモリ1001に対して発生した場合
にそのアドレス情報を記憶し、次回以降のランダムアク
セス時には記憶したアドレスとの比較を行う。第3の半
導体メモリ1005は、半導体メモリ1001から読み
出されたデータをコピーし格納するための、高速なラン
ダムアクセス可能なメモリである。アクセス制御回路1
000は、レジスタ1003に格納された優先情報・ア
ドレスバスからのアドレス情報・制御信号を入力とし、
半導体メモリ1001,1002および1005を制御
する。
【0065】図10に示す半導体集積回路の動作は、図
1および図8に示した半導体集積回路の動作と同様であ
り、図8に示した第2の半導体メモリ802の役割を図
10に示した第3の半導体メモリ1005が果たす。す
なわち、データ集合体のデータのうちあらかじめ優先度
の分かっているアドレスのデータに関しては第2の半導
体メモリ1002を用いてペナルティなしでのアクセス
が実施される。一方、書き込む時点では優先度がついて
いないが単独データとしてのアクセスが発生することに
より優先度が認識されたアドレスのデータについては第
3の半導体メモリ1005に、第1の半導体メモリ10
01からの読み出しと平行してデータのコピーを行い、
次回のアクセス以降は、該当アドレスにヒットした場合
は第3の半導体メモリ1005側だけからアクセスさせ
ることにより、単独アクセスの高速化を実現する。これ
により、データ集合体としてのアクセスに関しては第1
の半導体メモリ1001を使用することによって効率よ
くデータの格納を行い、高速性・低消費電力性の必要な
部分のみ第2の半導体メモリ1002、第3の半導体メ
モリ1005に格納し、アクセスを行うことにより、全
体として安価で高性能な半導体集積回路を実現できる。
【0066】本実施形態において第1の半導体メモリ1
001をメモリセル面積の小さいダイナミックランダム
アクセスメモリ(DRAM)で、第2の半導体メモリ1
002をセル面積が大きいスタテックランダムアクセス
メモリ(SRAM)で実現すれば、主記憶となる第1の
半導体メモリ1001の部分は面積を抑えながら大容量
化し、速度の必要な部分は小容量で高速なSRAMとす
ることにより、高速性の必要な部分はSRAMの速度を
維持したまま、他の部分に関してはビットコストの有利
なDRAMで構成できるので、処理装置全体を低コスト
化できる。
【0067】また、第2の半導体メモリ1002を第1
の半導体メモリ1001に比べて単独のデータアクセス
を低消費電力で実現可能な半導体メモリで実現すれば、
主記憶となる第1の半導体メモリ1001の部分は面積
を抑えながら大容量化し、低消費電力の必要な部分は低
消費電力な第2の半導体メモリ1002のみでアクセス
させる構成とすることが可能となり、処理装置全体を低
コストに維持したまま低消費電力化できる。
【0068】(第7の実施形態)図11は、この発明の
第7の実施形態による半導体集積回路の全体構成を示す
ブロック図である。図11に示す半導体集積回路は、図
10に示した半導体集積回路に加えてさらにバッファ1
111を備える。バッファ1111は、第3の半導体メ
モリ1005とデータバスとの間に設けられ、第1の半
導体メモリ1001からの読み出しデータを一時的に格
納する。
【0069】図11に示した半導体集積回路の基本動作
は、第3の半導体メモリ1005へのデータの書き込み
時以外は図10に示した半導体集積回路と同様である。
第3の半導体メモリ1005への書き込み動作に関して
は、図9に示した半導体集積回路における第2の半導体
メモリ802への書き込み動作と同様に動作する。すな
わち、第1の半導体メモリ1001からの単独データと
しての読み出し動作によりデータバス上に読み出された
情報を次サイクルのエッジでバッファ1111へ取り込
み、そのサイクルまたは次の書き込み要求があった場合
に第3の半導体メモリ1005本体へ書き込む。これに
より、半導体集積回路全体としては安価に保ちながら単
独アクセスを高速または低消費電力で実施できると同時
に、第3の半導体メモリ1005を設けることによる高
速性の低下の発生を防ぐことができる。
【0070】
【発明の効果】この発明による半導体集積回路によれ
ば、データ集合体の中の優先度の高いデータへのアクセ
スがアクセススピードに対するペナルティなしで実現で
きる。例えば、外部から書き込むデータ集合体の特定領
域にランダムな高速アクセスの必要なデータが存在する
場合、その特定領域に該当する部分の優先情報をレジス
タに書き込み、その情報に基づきアクセス制御回路によ
り、その部分のみを第2の半導体記憶装置に格納し、さ
らに第1の半導体記憶装置にも格納しておくことによ
り、外部からの書き込みの全てが終了した時点でランダ
ムな高速アクセスの必要なデータのみを高速に読み出す
ことができる。
【0071】また、優先情報を先頭部分のデータに対し
て与えた場合には、第1の半導体記憶装置と、連続した
データアクセスを高速に実行することが可能な第2の半
導体記憶装置とをシーケンシャルに制御することによっ
て、レイテンシを発生させることなく連続アクセスが可
能である。上記制御を行うことにより、メモリシステム
としての性能が向上する。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明の第1の実施形態による半導体集積回
路の全体構成を示すブロック図である。
【図2】図1に示した半導体集積回路の書き込み動作を
説明するためのタイムチャートである。
【図3】図1に示した半導体集積回路の書き込み動作を
説明するためのタイムチャートである。
【図4】図1に示した半導体集積回路の読み出し動作を
説明するためのタイムチャートである。
【図5】図1に示した半導体集積回路の書き込み動作を
説明するためのタイムチャートである。
【図6】この発明の第2の実施形態による半導体集積回
路の全体構成を示すブロック図である。
【図7】この発明の第3の実施形態による半導体集積回
路の全体構成を示すブロック図である。
【図8】この発明の第4の実施形態による半導体集積回
路の全体構成を示すブロック図である。
【図9】この発明の第5の実施形態による半導体集積回
路の全体構成を示すブロック図である。
【図10】この発明の第6の実施形態による半導体集積
回路の全体構成を示すブロック図である。
【図11】この発明の第7の実施形態による半導体集積
回路の全体構成を示すブロック図である。
【図12】従来の半導体集積回路の全体構成を示すブロ
ック図である。
【符号の説明】
100,600,700,800,900,1000
アクセス制御回路 101,601,801,901,1001 第1の半
導体メモリ 102,602,802,902,1002 第2の半
導体メモリ 1005 第3の半導体メモリ 103,603,1003 レジスタ 804,904,1004 アクセス判定回路 911,1111 バッファ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) G06F 12/08 551 G06F 12/08 551G G11C 11/401 G11C 11/34 371Z

Claims (14)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 複数のデータを含んだデータ集合体の主
    記憶部分となる第1の半導体記憶装置と、 前記データ集合体に含まれる複数のデータのうち特定の
    データを示す優先情報を格納するレジスタと、 前記データ集合体に含まれる複数のデータのうち、前記
    レジスタに格納された優先情報によって指定されたデー
    タを格納する第2の半導体記憶装置と、 前記レジスタに格納された優先情報とアドレス情報と制
    御信号とに基づいて、前記第1の半導体記憶装置および
    前記第2の半導体記憶装置へのアクセスを制御するアク
    セス制御回路とを備えることを特徴とする半導体集積回
    路装置。
  2. 【請求項2】 請求項1に記載の半導体集積回路装置に
    おいて、 前記優先情報は、前記データ集合体に含まれる複数のデ
    ータのうち高速にアクセスする必要があるデータを示す
    ことを特徴とする半導体集積回路装置。
  3. 【請求項3】 請求項1に記載の半導体集積回路装置に
    おいて、 前記優先情報は、前記データ集合体に含まれる複数のデ
    ータのうちアクセス頻度が高いデータを示すことを特徴
    とする半導体集積回路装置。
  4. 【請求項4】 請求項1に記載の半導体集積回路装置に
    おいて、 前記第1の半導体記憶装置は、同一容量の記憶装置を実
    現するための半導体記憶素子の大きさが前記第2の半導
    体記憶装置より小さいことを特徴とする半導体集積回路
    装置。
  5. 【請求項5】 請求項1または請求項4に記載の半導体
    集積回路装置において、 前記第2の半導体記憶装置は、単独のデータアクセスを
    高速に可能な半導体記憶装置であり、 前記第1の半導体記憶装置は、単独のデータアクセスは
    低速であるが、連続したデータアクセスを高速に実現可
    能な半導体記憶装置であることを特徴とする半導体集積
    回路装置。
  6. 【請求項6】 請求項1または請求項4に記載の半導体
    集積回路装置において、 前記第2の半導体記憶装置は、単独のデータアクセスを
    前記第1の半導体記憶装置よりも低消費電力で実現可能
    な半導体記憶装置であることを特徴とする半導体集積回
    路装置。
  7. 【請求項7】 請求項1から請求項6のいずれかに記載
    の半導体集積回路装置において、 前記第1の半導体記憶装置に格納されたデータのうちラ
    ンダムアクセス要求が行われたデータがコピーされる第
    3の半導体記憶装置と、 前記第3の半導体記憶装置に格納されたデータのアドレ
    ス情報を蓄積し、当該アドレス情報が前記第3の半導体
    記憶装置内に格納されているかどうかを判定するアクセ
    ス判定回路と、 前記アクセス判定回路の判定結果とアドレス情報と制御
    信号とに基づいて、前記第1から第3の半導体記憶装置
    のいずれかに対するアクセスを実施させるアクセス制御
    回路とをさらに備えることを特徴とする半導体集積回路
    装置。
  8. 【請求項8】 請求項7に記載の半導体集積回路装置に
    おいて、 前記第3の半導体記憶装置とデータバスとの間に設けら
    れ、前記第1の半導体記憶装置から読み出されたデータ
    を一時的に格納するバッファをさらに備えることを特徴
    とする半導体集積回路装置。
  9. 【請求項9】 請求項1から請求項6のいずれかに記載
    の半導体集積回路装置において、 前記アクセス制御回路は、与えられたアドレスと前記第
    2の半導体記憶装置に対するアクセスアドレスとの間の
    変換機構をもつことを特徴とする半導体集積回路装置。
  10. 【請求項10】 複数のデータを含んだデータ集合体の
    主記憶部分となる第1の半導体記憶装置と、 前記第1の半導体記憶装置に格納されたデータのうちラ
    ンダムアクセスが要求されたデータがコピーされる第2
    の半導体記憶装置と、 前記第2の半導体記憶装置に格納されたデータのアドレ
    ス情報を蓄積し、当該アドレス情報が前記第2の半導体
    記憶装置内に格納されているかどうかを判定するアクセ
    ス判定回路と、 前記アクセス判定回路の判定結果とアドレス情報と制御
    信号とに基づいて、前記第1または第2の半導体記憶装
    置のいずれかに対するアクセスを実施させるアクセス制
    御装置とを備えることを特徴とする半導体集積回路装
    置。
  11. 【請求項11】 請求項10に記載の半導体集積回路装
    置において、 前記第2の半導体記憶装置とデータバスとの間に設けら
    れ、前記第1の半導体記憶装置から読み出されたデータ
    を一時的に格納するバッファをさらに備えることを特徴
    とする半導体集積回路装置。
  12. 【請求項12】 請求項10または請求項11に記載の
    半導体集積回路装置において、 前記第1の半導体記憶装置は、同一容量の記憶装置を実
    現するための半導体記憶素子の大きさが前記第2の半導
    体記憶装置より小さいことを特徴とする半導体集積回路
    装置。
  13. 【請求項13】 請求項10または請求項11に記載の
    半導体集積回路装置において、 前記第2の半導体記憶装置は、単独のデータアクセスを
    高速に可能な半導体記憶装置であり、 前記第1の半導体記憶装置は、単独のデータアクセスは
    低速であるが、連続したデータアクセスを高速に実現可
    能な半導体記憶装置であることを特徴とする半導体集積
    回路装置。
  14. 【請求項14】 請求項10または請求項11に記載の
    半導体集積回路装置において、 前記第2の半導体記憶装置は、単独のデータアクセスを
    前記第1の半導体記憶装置よりも低消費電力で実現可能
    な半導体記憶装置であることを特徴とする半導体集積回
    路装置。
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