JP2002319863A - Ad変換器 - Google Patents
Ad変換器Info
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- JP2002319863A JP2002319863A JP2001123114A JP2001123114A JP2002319863A JP 2002319863 A JP2002319863 A JP 2002319863A JP 2001123114 A JP2001123114 A JP 2001123114A JP 2001123114 A JP2001123114 A JP 2001123114A JP 2002319863 A JP2002319863 A JP 2002319863A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 リニアリティ特性の補正を可能とする。
【解決手段】 複数のコンパレータ回路C1〜C4を有す
るフラッシュ型のAD変換器であって、各コンパレータ
回路のオフセット量を測定する測定手段と、各コンパレ
ータ回路に対してそれぞれ、AD変換器の分割能より細
分化させた電圧レベルの異なる複数の基準電圧を発生さ
せる基準電圧発生手段(r,R)と、複数の基準電圧か
ら任意の一の基準電圧を前記コンパレータ回路に入力す
るための複数のスイッチ手段S11〜S43と、測定手段に
より測定されたオフセット量に基づいて複数の基準電圧
から基準電圧を選択し、選択された基準電圧を一の基準
電圧として各コンパレータ回路に入力すべく、複数のス
イッチ手段を制御する制御手段と、を備える。
るフラッシュ型のAD変換器であって、各コンパレータ
回路のオフセット量を測定する測定手段と、各コンパレ
ータ回路に対してそれぞれ、AD変換器の分割能より細
分化させた電圧レベルの異なる複数の基準電圧を発生さ
せる基準電圧発生手段(r,R)と、複数の基準電圧か
ら任意の一の基準電圧を前記コンパレータ回路に入力す
るための複数のスイッチ手段S11〜S43と、測定手段に
より測定されたオフセット量に基づいて複数の基準電圧
から基準電圧を選択し、選択された基準電圧を一の基準
電圧として各コンパレータ回路に入力すべく、複数のス
イッチ手段を制御する制御手段と、を備える。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明はAD変換器に関し、
特にリニアリティを補正可能なフラッシュ型(並列型)
AD変換器およびそれを用いたパイプライン型(直並列
型)AD変換器に関する。
特にリニアリティを補正可能なフラッシュ型(並列型)
AD変換器およびそれを用いたパイプライン型(直並列
型)AD変換器に関する。
【0002】
【従来の技術】図9は従来のフラッシュ型(並列型)A
D変換器を示した回路ブロック図である。図9において
は、分解能が2ビットである場合を示している。4個の
コンパレータ回路C1〜C4と、コンパレータ回路C1〜
C4のタップに相当する基準抵抗R1〜R4と、コンパレ
ータ回路C1〜C4に接続されるアンド回路と、バイナリ
コードに変換するためのエンコーダとによって構成され
ている。また入力信号Vinは全コンパレータ回路C1〜C
4のアナログ入力端子にパラレルに接続され、基準抵抗
R1〜R4の両端にはフルスケール電圧に相当する基準電
圧Vref1,Vref2が印加されている(ただしVref2>Vref
1)。ここでは、Vin>Vnref(n=1,2,3,4)の関係にあるコ
ンパレータ回路の出力はすべてハイレベル、Vin<Vnref
(n=1,2,3,4)の関係にあるコンパレータ回路の出力はす
べてロウレベルになり、これらのコンパレータ出力をエ
ンコーダ回路でバイナリコードに変換する。
D変換器を示した回路ブロック図である。図9において
は、分解能が2ビットである場合を示している。4個の
コンパレータ回路C1〜C4と、コンパレータ回路C1〜
C4のタップに相当する基準抵抗R1〜R4と、コンパレ
ータ回路C1〜C4に接続されるアンド回路と、バイナリ
コードに変換するためのエンコーダとによって構成され
ている。また入力信号Vinは全コンパレータ回路C1〜C
4のアナログ入力端子にパラレルに接続され、基準抵抗
R1〜R4の両端にはフルスケール電圧に相当する基準電
圧Vref1,Vref2が印加されている(ただしVref2>Vref
1)。ここでは、Vin>Vnref(n=1,2,3,4)の関係にあるコ
ンパレータ回路の出力はすべてハイレベル、Vin<Vnref
(n=1,2,3,4)の関係にあるコンパレータ回路の出力はす
べてロウレベルになり、これらのコンパレータ出力をエ
ンコーダ回路でバイナリコードに変換する。
【0003】前記フラッシュ型(並列型)AD変換器は分
解能をnビットとすると2n個ものコンパレータ回路が
要求されるため、分解能が大きくなると素子数が極端に
多くなり、同時に入力信号は全コンパレータ回路にパラ
レルに接続されるため入力容量がかなり大きくなる。そ
こで高分解能かつ高速のAD変換器には、パイプライン
型(直並列型)AD変換器がしばしば用いられる。
解能をnビットとすると2n個ものコンパレータ回路が
要求されるため、分解能が大きくなると素子数が極端に
多くなり、同時に入力信号は全コンパレータ回路にパラ
レルに接続されるため入力容量がかなり大きくなる。そ
こで高分解能かつ高速のAD変換器には、パイプライン
型(直並列型)AD変換器がしばしば用いられる。
【0004】図10は従来のパイプライン型(直並列
型)AD変換器を示した回路ブロック図である。図10
中のA/D変換器には通常フラッシュ型(並列型)AD
変換器が用いられ、本例では4つのフラッシュ型(並列
型)AD変換器F1〜F4が用いられている。パイプライ
ン型(直並列型)AD変換器では変換動作を複数ステッ
プにわけて行う。図10において、アナログ入力信号は
SH回路でサンプリングされる。続いて上位ビットのA
D変換が最初のステップ(フラッシュ型AD変換器F
1)で行われ、変換されたディジタルデータとSH回路
にホールドされたアナログデータからつづく下位ビット
のAD変換が可能なレベルがMDAC(乗算型DAコン
バータ) M1より出力される。以下順次最下位ビット
まで、フラッシュ型AD変換器F2〜F4,MDAC M
2,MDAC M3を用いて、同様の処理を段階的に行
いAD変換が終了する。
型)AD変換器を示した回路ブロック図である。図10
中のA/D変換器には通常フラッシュ型(並列型)AD
変換器が用いられ、本例では4つのフラッシュ型(並列
型)AD変換器F1〜F4が用いられている。パイプライ
ン型(直並列型)AD変換器では変換動作を複数ステッ
プにわけて行う。図10において、アナログ入力信号は
SH回路でサンプリングされる。続いて上位ビットのA
D変換が最初のステップ(フラッシュ型AD変換器F
1)で行われ、変換されたディジタルデータとSH回路
にホールドされたアナログデータからつづく下位ビット
のAD変換が可能なレベルがMDAC(乗算型DAコン
バータ) M1より出力される。以下順次最下位ビット
まで、フラッシュ型AD変換器F2〜F4,MDAC M
2,MDAC M3を用いて、同様の処理を段階的に行
いAD変換が終了する。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】上記した従来技術には
以下に述べる問題点があった。すなわちコンパレータ回
路には素子の特性ばらつきなどに起因するオフセット
(offset)が存在する。結果、AD変換器のリニアリテ
ィ誤差が生じる。
以下に述べる問題点があった。すなわちコンパレータ回
路には素子の特性ばらつきなどに起因するオフセット
(offset)が存在する。結果、AD変換器のリニアリテ
ィ誤差が生じる。
【0006】本発明はコンパレータ回路にオフセット
(offset)が存在し、かつオフセット量にばらつきがあ
ってもリニアリティの良好なAD変換器を実現すること
を目的とする。
(offset)が存在し、かつオフセット量にばらつきがあ
ってもリニアリティの良好なAD変換器を実現すること
を目的とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明のAD変換器は、
複数のコンパレータ回路を有するフラッシュ型(並列型)
のAD変換器であって、各コンパレータ回路のオフセッ
ト量を測定する測定手段と、各コンパレータ回路に対し
てそれぞれ、AD変換器の分割能より細分化させた電圧
レベルの異なる複数の基準電圧を発生させる基準電圧発
生手段と、前記複数の基準電圧から任意の一の基準電圧
を前記コンパレータ回路に入力するための複数のスイッ
チ手段と、前記測定手段により測定された前記オフセッ
ト量に基づいて前記複数の基準電圧から基準電圧を選択
し、該選択された基準電圧を前記一の基準電圧として各
コンパレータ回路に入力すべく、前記複数のスイッチ手
段を制御する制御手段と、を備えたものである。
複数のコンパレータ回路を有するフラッシュ型(並列型)
のAD変換器であって、各コンパレータ回路のオフセッ
ト量を測定する測定手段と、各コンパレータ回路に対し
てそれぞれ、AD変換器の分割能より細分化させた電圧
レベルの異なる複数の基準電圧を発生させる基準電圧発
生手段と、前記複数の基準電圧から任意の一の基準電圧
を前記コンパレータ回路に入力するための複数のスイッ
チ手段と、前記測定手段により測定された前記オフセッ
ト量に基づいて前記複数の基準電圧から基準電圧を選択
し、該選択された基準電圧を前記一の基準電圧として各
コンパレータ回路に入力すべく、前記複数のスイッチ手
段を制御する制御手段と、を備えたものである。
【0008】また本発明のAD変換器は、複数のコンパ
レータ回路を有するフラッシュ型のAD変換器であっ
て、各コンパレータ回路に対してそれぞれ、AD変換器
の分割能より細分化させた電圧レベルの異なる複数の基
準電圧を発生させる基準電圧発生手段と、前記複数の基
準電圧から一の基準電圧を前記コンパレータ回路の一方
の入力端子に入力する第1スイッチ手段と、前記一の基
準電圧を含む前記複数の基準電圧を順次前記コンパレー
タ回路の他方の入力端子に入力する複数の第2スイッチ
手段と、前記第1スイッチ手段をオンし、前記複数の第
2スイッチ手段を順次オンさせたときの、前記コンパレ
ータの出力に基づいて、各コンパレータ回路のオフセッ
ト量を測定する測定手段と、前記測定手段により測定さ
れた前記オフセット量に基づいて複数の基準電圧から基
準電圧を選択し、選択された基準電圧を各コンパレータ
回路に入力すべく、前記第2スイッチ手段を制御する制
御手段と、を備えたものである。
レータ回路を有するフラッシュ型のAD変換器であっ
て、各コンパレータ回路に対してそれぞれ、AD変換器
の分割能より細分化させた電圧レベルの異なる複数の基
準電圧を発生させる基準電圧発生手段と、前記複数の基
準電圧から一の基準電圧を前記コンパレータ回路の一方
の入力端子に入力する第1スイッチ手段と、前記一の基
準電圧を含む前記複数の基準電圧を順次前記コンパレー
タ回路の他方の入力端子に入力する複数の第2スイッチ
手段と、前記第1スイッチ手段をオンし、前記複数の第
2スイッチ手段を順次オンさせたときの、前記コンパレ
ータの出力に基づいて、各コンパレータ回路のオフセッ
ト量を測定する測定手段と、前記測定手段により測定さ
れた前記オフセット量に基づいて複数の基準電圧から基
準電圧を選択し、選択された基準電圧を各コンパレータ
回路に入力すべく、前記第2スイッチ手段を制御する制
御手段と、を備えたものである。
【0009】また本発明のAD変換器は上記AD変換器
をパイプライン型(直並列型)のAD変換器に用いたも
のである。
をパイプライン型(直並列型)のAD変換器に用いたも
のである。
【0010】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て説明する。
て説明する。
【0011】図1は本発明に係るAD変換器の実施形態
を示した回路ブロック図である。なお図1では図9に示
したような、アンド回路、エンコーダは簡易化のために
記載を省略している。
を示した回路ブロック図である。なお図1では図9に示
したような、アンド回路、エンコーダは簡易化のために
記載を省略している。
【0012】図1において、基準抵抗のアレイは補助抵
抗rによってAD変換器の分割能よりさらに細分化さ
れ、抵抗Rと補助抵抗rにより構成される。基準電圧Vr
ef1の入力端子と補助抵抗rとの接続点、補助抵抗rと
補助抵抗rとの接続点、及び補助抵抗rと抵抗Rとの接
続点はスイッチS11〜S13を介してコンパレータ回路C
1の一方の入力端子(負入力端子)に接続され、補助抵
抗rと補助抵抗rとの接続点はスイッチScal1を介して
コンパレータ回路C1の他方の入力端子(正入力端子)
に接続されている。同様に、抵抗Rと補助抵抗rとの接
続点、補助抵抗rと補助抵抗rとの接続点、及び補助抵
抗rと抵抗Rとの接続点はスイッチSn1〜Sn3(n=2,3,
4)を介してコンパレータ回路C2〜C4の一方の入力端
子に接続され、補助抵抗rと補助抵抗rとの接続点はス
イッチScaln(n=2,3,4)を介してコンパレータ回路C2
〜C4の他方の入力端子に接続されている。スイッチSn
1〜Sn3(n=1,2,3,4)を順次オンすることで、各接続点
の電圧がコンパレータ回路C1〜C4の一方の入力端子に
入力される。
抗rによってAD変換器の分割能よりさらに細分化さ
れ、抵抗Rと補助抵抗rにより構成される。基準電圧Vr
ef1の入力端子と補助抵抗rとの接続点、補助抵抗rと
補助抵抗rとの接続点、及び補助抵抗rと抵抗Rとの接
続点はスイッチS11〜S13を介してコンパレータ回路C
1の一方の入力端子(負入力端子)に接続され、補助抵
抗rと補助抵抗rとの接続点はスイッチScal1を介して
コンパレータ回路C1の他方の入力端子(正入力端子)
に接続されている。同様に、抵抗Rと補助抵抗rとの接
続点、補助抵抗rと補助抵抗rとの接続点、及び補助抵
抗rと抵抗Rとの接続点はスイッチSn1〜Sn3(n=2,3,
4)を介してコンパレータ回路C2〜C4の一方の入力端
子に接続され、補助抵抗rと補助抵抗rとの接続点はス
イッチScaln(n=2,3,4)を介してコンパレータ回路C2
〜C4の他方の入力端子に接続されている。スイッチSn
1〜Sn3(n=1,2,3,4)を順次オンすることで、各接続点
の電圧がコンパレータ回路C1〜C4の一方の入力端子に
入力される。
【0013】また、入力信号VinはスイッチScalbn(n
=1,2,3,4)を介してコンパレータ回路C1〜C4の他方の
入力端子に接続されている。スイッチScaln(n=1,2,3,
4)は信号cal(信号cal_in)がハイレベルになったとき
に導通状態となり、信号calがロウレベルになったとき
に遮断状態となる。一方、スイッチScalbn(n=1,2,3,
4)は信号calb(信号cal_inの反転信号)がハイレベル
になったときに導通状態となり、信号calbがロウレベル
になったときに遮断状態となる。つまり、各コンパレー
タ回路C1〜C4の他方の入力端子には信号cal_inのレベ
ルによって選択的に入力信号Vinか補助抵抗rと補助抵
抗rとの接続点の電圧が入力される。
=1,2,3,4)を介してコンパレータ回路C1〜C4の他方の
入力端子に接続されている。スイッチScaln(n=1,2,3,
4)は信号cal(信号cal_in)がハイレベルになったとき
に導通状態となり、信号calがロウレベルになったとき
に遮断状態となる。一方、スイッチScalbn(n=1,2,3,
4)は信号calb(信号cal_inの反転信号)がハイレベル
になったときに導通状態となり、信号calbがロウレベル
になったときに遮断状態となる。つまり、各コンパレー
タ回路C1〜C4の他方の入力端子には信号cal_inのレベ
ルによって選択的に入力信号Vinか補助抵抗rと補助抵
抗rとの接続点の電圧が入力される。
【0014】図2は図1の回路の制御ブロックを示して
いる。図2に示す論理回路は図1に示した論理回路に対
応し、コンパレータ回路の出力に基づいてオフセット量
を測定し、オフセット量に基づいて制御信号n1〜n3(n
=1,2,3,4)のレベル(ハイレベル又はロウレベル)を決
定する。図2のブロックは図3〜図5に示したシーケン
スで動作し、図1の回路の各スイッチを制御する。図1
に示した入力端子の信号cal_inをハイレベルとすること
によって信号calがハイレベル(アクティブ)となり、
補正動作を開始する。この信号によってコンパレータの
正入力はVinから補助抵抗rの中心レベル(補助抵抗r
と補助抵抗rとの接続点の基準電圧)に切り替わる。
いる。図2に示す論理回路は図1に示した論理回路に対
応し、コンパレータ回路の出力に基づいてオフセット量
を測定し、オフセット量に基づいて制御信号n1〜n3(n
=1,2,3,4)のレベル(ハイレベル又はロウレベル)を決
定する。図2のブロックは図3〜図5に示したシーケン
スで動作し、図1の回路の各スイッチを制御する。図1
に示した入力端子の信号cal_inをハイレベルとすること
によって信号calがハイレベル(アクティブ)となり、
補正動作を開始する。この信号によってコンパレータの
正入力はVinから補助抵抗rの中心レベル(補助抵抗r
と補助抵抗rとの接続点の基準電圧)に切り替わる。
【0015】この後、スイッチSn1,Sn2,Sn3(n=1,2,
3,4)を順次導通状態とするよう信号を出力し、そのと
きのコンパレータ出力comp_outの状態によって、動作状
態を変化させる。コンパレータ回路の特性が理想的でオ
フセットが無視できる場合、コンパレータ出力comp_out
は図3のようになる。すなわちスイッチSn1の制御信号
n1(n=1,2,3,4)がハイレベルの期間はコンパレータ出
力comp_outがロウレベル、スイッチSn2の制御信号n2
(n=1,2,3,4)がハイレベルの次の期間はコンパレータ
出力comp_outがハイレベルまたはロウレベルになるが、
スイッチSn3の制御信号n3がハイレベルの次の期間はコ
ンパレータ出力comp_outがハイレベルとなる。この場
合、以後再びcal_in信号が入力されるまで制御信号n2は
ハイレベル、制御信号n1およびn3はロウレベルに固定さ
れる。
3,4)を順次導通状態とするよう信号を出力し、そのと
きのコンパレータ出力comp_outの状態によって、動作状
態を変化させる。コンパレータ回路の特性が理想的でオ
フセットが無視できる場合、コンパレータ出力comp_out
は図3のようになる。すなわちスイッチSn1の制御信号
n1(n=1,2,3,4)がハイレベルの期間はコンパレータ出
力comp_outがロウレベル、スイッチSn2の制御信号n2
(n=1,2,3,4)がハイレベルの次の期間はコンパレータ
出力comp_outがハイレベルまたはロウレベルになるが、
スイッチSn3の制御信号n3がハイレベルの次の期間はコ
ンパレータ出力comp_outがハイレベルとなる。この場
合、以後再びcal_in信号が入力されるまで制御信号n2は
ハイレベル、制御信号n1およびn3はロウレベルに固定さ
れる。
【0016】次にコンパレータ回路のオフセット量が正
でかつ補正が必要な大きさの場合、コンパレータ出力co
mp_outは図4のようになる。すなわちスイッチSn1の制
御信号n1(n=1,2,3,4)がハイレベル、スイッチSn2の
制御信号n2(n=1,2,3,4)がハイレベル、スイッチSn3
の制御信号n3(n=1,2,3,4)がハイレベルのいずれの期
間もコンパレータ出力comp_outはハイレベルになる。こ
の場合、以後再びcal_in信号が入力されるまで制御信号
n1はハイレベル、制御信号n2およびn3はロウレベルに固
定される。
でかつ補正が必要な大きさの場合、コンパレータ出力co
mp_outは図4のようになる。すなわちスイッチSn1の制
御信号n1(n=1,2,3,4)がハイレベル、スイッチSn2の
制御信号n2(n=1,2,3,4)がハイレベル、スイッチSn3
の制御信号n3(n=1,2,3,4)がハイレベルのいずれの期
間もコンパレータ出力comp_outはハイレベルになる。こ
の場合、以後再びcal_in信号が入力されるまで制御信号
n1はハイレベル、制御信号n2およびn3はロウレベルに固
定される。
【0017】最後にコンパレータ回路のオフセット量が
負でかつ補正が必要な大きさの場合、コンパレータ出力
comp_outは図5のようになる。すなわちスイッチSn1の
制御信号n1(n=1,2,3,4)がハイレベル、スイッチSn2
の制御信号n2(n=1,2,3,4)がハイレベル、スイッチSn
3の制御信号n3(n=1,2,3,4)がハイレベルのいずれの期
間もコンパレータ出力comp_outはロウレベルとなる。こ
の場合、以後再びcal_in信号が入力されるまで、制御信
号n3はハイレベル、制御信号n1およびn2はロウレベルに
固定される。以上のようにコンパレータ回路C1〜C4ご
とのオフセット量によって基準電圧値を調整することに
よって、各コンパレータ回路のオフセットを見かけ上小
さくすることが可能となる。
負でかつ補正が必要な大きさの場合、コンパレータ出力
comp_outは図5のようになる。すなわちスイッチSn1の
制御信号n1(n=1,2,3,4)がハイレベル、スイッチSn2
の制御信号n2(n=1,2,3,4)がハイレベル、スイッチSn
3の制御信号n3(n=1,2,3,4)がハイレベルのいずれの期
間もコンパレータ出力comp_outはロウレベルとなる。こ
の場合、以後再びcal_in信号が入力されるまで、制御信
号n3はハイレベル、制御信号n1およびn2はロウレベルに
固定される。以上のようにコンパレータ回路C1〜C4ご
とのオフセット量によって基準電圧値を調整することに
よって、各コンパレータ回路のオフセットを見かけ上小
さくすることが可能となる。
【0018】図6は本発明に係るAD変換器のコンパレ
ータ回路のオフセット量を測定するための基準電圧発生
に好適な回路ブロック図である。上記した実施形態にお
いては基準電圧を発生する抵抗分割回路を補正とオフセ
ット量測定用の基準電圧発生に共用したが、本例ではア
ナログ入力端子Vinに図6の回路を接続することによっ
て、各コンパレータ回路のオフセット量を測定する。基
準電圧発生回路の分解能は補正しようとする分解能にも
依存するが、少なくともAD変換器の分解能よりも高い
分解能で設計される。
ータ回路のオフセット量を測定するための基準電圧発生
に好適な回路ブロック図である。上記した実施形態にお
いては基準電圧を発生する抵抗分割回路を補正とオフセ
ット量測定用の基準電圧発生に共用したが、本例ではア
ナログ入力端子Vinに図6の回路を接続することによっ
て、各コンパレータ回路のオフセット量を測定する。基
準電圧発生回路の分解能は補正しようとする分解能にも
依存するが、少なくともAD変換器の分解能よりも高い
分解能で設計される。
【0019】図7は本発明に係わるAD変換器のコンパ
レータ回路のオフセット量を測定し、オフセットを補正
する回路の制御部の一例を示した回路ブロック図であ
る。図7においては、信号calによってスイッチがオン
し、制御信号n1,n2,n3(n=1,2,3,4)を出力する制御
線はSR(シフトレジスタ)回路に接続される。そし
て、制御信号n1から制御信号n3へと順にSR回路によっ
て制御信号n1,n2,n3が出力される。論理回路は制御信
号n1,n2,n3が出力されたときの3回のコンパレータ回
路の出力によってオフセット量を測定し、このオフセッ
トを補正できるように制御信号n1,n2,n3を制御する内
容をメモリー回路に書き込む。例えばコンパレータ回路
の出力が図3のような出力である場合には、制御信号n2
がハイレベル、制御信号n1およびn3がロウレベルとなる
ようにメモリー回路に書き込む。なお、このメモリー回
路はフラッシュメモリーや1回書き込みROMといった
不揮発性のメモリー回路であることが望ましい。通常半
導体ICは回路動作チェックを行い選別される。本発明
に係わるAD変換器では選別する際、前述した手法によ
りオフセット量の検出を行い、メモリ回路にオフセット
を補正できる内容を書き込むことが可能である。コンパ
レータ回路のオフセットは半導体プロセスの素子のバラ
ツキにより発生する場合が多く、経時的変化は少ない場
合が多い。よって不揮発性のメモリーを用いて選別時に
上記補正動作を完了することにより、使用時には特別な
回路動作を行うことなく特性の良好なAD変換器が実現
できる。
レータ回路のオフセット量を測定し、オフセットを補正
する回路の制御部の一例を示した回路ブロック図であ
る。図7においては、信号calによってスイッチがオン
し、制御信号n1,n2,n3(n=1,2,3,4)を出力する制御
線はSR(シフトレジスタ)回路に接続される。そし
て、制御信号n1から制御信号n3へと順にSR回路によっ
て制御信号n1,n2,n3が出力される。論理回路は制御信
号n1,n2,n3が出力されたときの3回のコンパレータ回
路の出力によってオフセット量を測定し、このオフセッ
トを補正できるように制御信号n1,n2,n3を制御する内
容をメモリー回路に書き込む。例えばコンパレータ回路
の出力が図3のような出力である場合には、制御信号n2
がハイレベル、制御信号n1およびn3がロウレベルとなる
ようにメモリー回路に書き込む。なお、このメモリー回
路はフラッシュメモリーや1回書き込みROMといった
不揮発性のメモリー回路であることが望ましい。通常半
導体ICは回路動作チェックを行い選別される。本発明
に係わるAD変換器では選別する際、前述した手法によ
りオフセット量の検出を行い、メモリ回路にオフセット
を補正できる内容を書き込むことが可能である。コンパ
レータ回路のオフセットは半導体プロセスの素子のバラ
ツキにより発生する場合が多く、経時的変化は少ない場
合が多い。よって不揮発性のメモリーを用いて選別時に
上記補正動作を完了することにより、使用時には特別な
回路動作を行うことなく特性の良好なAD変換器が実現
できる。
【0020】図8は本発明に係るAD変換器の他の実施
形態を示した回路ブロック図である。本実施形態ではパ
イプライン型(直並列型)AD変換器のもっとも下位ビ
ットを出力するフラッシュ型(並列型)AD変換器にコ
ンパレータ回路のオフセット補正が可能なフラッシュ型
(並列型)AD変換器を用いている。このことにより、
リニアリティ補正の可能なパイプライン型(直並列型)
AD変換器が実現できる。
形態を示した回路ブロック図である。本実施形態ではパ
イプライン型(直並列型)AD変換器のもっとも下位ビ
ットを出力するフラッシュ型(並列型)AD変換器にコ
ンパレータ回路のオフセット補正が可能なフラッシュ型
(並列型)AD変換器を用いている。このことにより、
リニアリティ補正の可能なパイプライン型(直並列型)
AD変換器が実現できる。
【0021】
【発明の効果】以上の説明から明らかなように、本発明
によれば、コンパレータ回路のオフセット補正が可能な
ためリニアリティ特性の補正が可能なフラッシュ型(並
列型)AD変換器さらにはパイプライン型(直並列型)
AD変換器を実現できる。
によれば、コンパレータ回路のオフセット補正が可能な
ためリニアリティ特性の補正が可能なフラッシュ型(並
列型)AD変換器さらにはパイプライン型(直並列型)
AD変換器を実現できる。
【図1】本発明に係るフラッシュ型(並列型)AD変換
器の実施形態を示す回路ブロック図である。
器の実施形態を示す回路ブロック図である。
【図2】図1の回路の制御部を説明する回路ブロック図
である。
である。
【図3】本発明に係る補正動作を説明するタイミング図
である。
である。
【図4】本発明に係る補正動作を説明するタイミング図
である。
である。
【図5】本発明に係る補正動作を説明するタイミング図
である。
である。
【図6】本発明に係るオフセット量測定のための基準電
圧発生に好適な回路例を示した回路図である。
圧発生に好適な回路例を示した回路図である。
【図7】本発明に係わるAD変換器のコンパレータ回路
のオフセット量を測定し、オフセットを補正する回路の
制御部の一例を示した回路ブロック図である。
のオフセット量を測定し、オフセットを補正する回路の
制御部の一例を示した回路ブロック図である。
【図8】本発明に係るパイプライン型(直並列型)AD
変換器の実施形態を示した回路ブロック図である。
変換器の実施形態を示した回路ブロック図である。
【図9】従来のフラッシュ型(並列型)AD変換器を示
した回路ブロック図である。
した回路ブロック図である。
【図10】従来のパイプライン型(直並列型)AD変換
器を示した回路ブロック図である。
器を示した回路ブロック図である。
【符号の説明】 C1〜C4 コンパレータ回路 Sn1〜Sn3(n=1,2,3,4) スイッチ r 補助抵抗 R 抵抗
Claims (7)
- 【請求項1】 複数のコンパレータ回路を有するフラッ
シュ型のAD変換器であって、 各コンパレータ回路のオフセット量を測定する測定手段
と、 各コンパレータ回路に対してそれぞれ、AD変換器の分
割能より細分化させた電圧レベルの異なる複数の基準電
圧を発生させる基準電圧発生手段と、 前記複数の基準電圧から任意の一の基準電圧を前記コン
パレータ回路に入力するための複数のスイッチ手段と、 前記測定手段により測定された前記オフセット量に基づ
いて前記複数の基準電圧から基準電圧を選択し、該選択
された基準電圧を前記一の基準電圧として各コンパレー
タ回路に入力すべく、前記複数のスイッチ手段を制御す
る制御手段と、を備えたAD変換器。 - 【請求項2】 複数のコンパレータ回路を有するフラッ
シュ型のAD変換器であって、 各コンパレータ回路に対してそれぞれ、AD変換器の分
割能より細分化させた電圧レベルの異なる複数の基準電
圧を発生させる基準電圧発生手段と、 前記複数の基準電圧から一の基準電圧を前記コンパレー
タ回路の一方の入力端子に入力する第1スイッチ手段
と、 前記一の基準電圧を含む前記複数の基準電圧を順次前記
コンパレータ回路の他方の入力端子に入力する複数の第
2スイッチ手段と、 前記第1スイッチ手段をオンし、前記複数の第2スイッ
チ手段を順次オンさせたときの、前記コンパレータの出
力に基づいて、各コンパレータ回路のオフセット量を測
定する測定手段と、 前記測定手段により測定された前記オフセット量に基づ
いて複数の基準電圧から基準電圧を選択し、選択された
基準電圧を各コンパレータ回路に入力すべく、前記第2
スイッチ手段を制御する制御手段と、を備えたAD変換
器。 - 【請求項3】 前記基準電圧発生手段は、AD変換器の
分割能より細分化させた抵抗分割回路である請求項1又
は請求項2に記載のAD変換器。 - 【請求項4】 前記一方の入力端子はアナログ入力端子
であって、アナログ入力は第3スイッチ手段を介して前
記一方の入力端子に入力される請求項2に記載のAD変
換器。 - 【請求項5】 前記制御手段は、前記複数のスイッチ手
段を制御する信号を記憶する記憶手段を含んでいる請求
項1又は請求項2に記載のAD変換器。 - 【請求項6】 前記記憶手段は不揮発性の記憶手段であ
る請求項5に記載のAD変換器。 - 【請求項7】 フラッシュ型のAD変換器を複数段接続
したパイプライン型のAD変換器であって、 少なくとも最終段のフラッシュ型のAD変換器に請求項
1乃至6のいずれかに記載のフラッシュ型のAD変換器
を用いたパイプライン型のAD変換器。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001123114A JP2002319863A (ja) | 2001-04-20 | 2001-04-20 | Ad変換器 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001123114A JP2002319863A (ja) | 2001-04-20 | 2001-04-20 | Ad変換器 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2002319863A true JP2002319863A (ja) | 2002-10-31 |
Family
ID=18972722
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2001123114A Pending JP2002319863A (ja) | 2001-04-20 | 2001-04-20 | Ad変換器 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2002319863A (ja) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007035094A (ja) * | 2005-07-22 | 2007-02-08 | Fujitsu Ltd | アナログ/デジタル変換装置 |
JP2012094968A (ja) * | 2010-10-25 | 2012-05-17 | Fujitsu Semiconductor Ltd | アナログデジタル変換装置及びオフセット電圧補正方法 |
KR20140113388A (ko) | 2013-03-15 | 2014-09-24 | 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 | 반도체 장치 |
US8922402B2 (en) | 2010-03-16 | 2014-12-30 | Panasonic Corporation | Offset correction device of comparator |
US9349454B2 (en) | 2014-03-07 | 2016-05-24 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device and electronic device |
-
2001
- 2001-04-20 JP JP2001123114A patent/JP2002319863A/ja active Pending
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US9245650B2 (en) | 2013-03-15 | 2016-01-26 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device |
US9391598B2 (en) | 2013-03-15 | 2016-07-12 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device |
US9349454B2 (en) | 2014-03-07 | 2016-05-24 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device and electronic device |
US10002656B2 (en) | 2014-03-07 | 2018-06-19 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device and electronic device |
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