JP2002319765A - 埋め込み樹脂 - Google Patents

埋め込み樹脂

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JP2002319765A
JP2002319765A JP2001352511A JP2001352511A JP2002319765A JP 2002319765 A JP2002319765 A JP 2002319765A JP 2001352511 A JP2001352511 A JP 2001352511A JP 2001352511 A JP2001352511 A JP 2001352511A JP 2002319765 A JP2002319765 A JP 2002319765A
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electronic component
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Hirotaka Takeuchi
裕貴 竹内
Toshifumi Kojima
敏文 小嶋
Kazue Obayashi
和重 大林
Hisato Kashima
壽人 加島
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NGK Spark Plug Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 (修正有) 【課題】 電子部品を搭載する配線基板の実装密度を高
め、かつ、絶縁性等の電気特性において優れた物性値が
得られるとともに、光の乱反射等を抑えたり、硬化時の
色むらが目立たないようにした埋め込み樹脂を提供する
こと。 【解決手段】 絶縁基板1に電子部品4を埋め込むため
の埋め込み樹脂6として、黒色、青色、緑色、赤色、橙
色、黄色、紫色のいずれかを基調とする色により着色さ
れている埋め込み樹脂を用いる。カーボンブラック、フ
タロシアニン系顔料、アゾ系顔料、キノリン系顔料、ア
ントラキノン系顔料、トリフェニルメタン系顔料、無機
酸化物から選ばれる少なくとも一種の着色剤を含有する
とよい。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、絶縁基板に設けられた
開口部内に配置されたチップコンデンサ、チップインダ
クタ、チップ抵抗等の電子部品を埋め込むための埋め込
み樹脂であって、黒色、青色、緑色、赤色、橙色、黄
色、紫色のいずれかを基調とする色により着色された埋
め込み樹脂に関する。特には、電子部品を埋め込んだ多
層配線基板、半導体素子収納用パッケージ等の用途に好
適なものである。
【0002】
【従来の技術】近年、ビルドアップ配線基板に多数の半
導体素子を搭載したマルチチップモジュール(MCM)
が検討されている。チップコンデンサ、チップインダク
タ、チップ抵抗等の電子部品を実装する場合には、配線
基板の表面に形成された実装用配線層上に半田を用いて
表面実装するのが一般的である。
【0003】しかし、ビルドアップ配線基板の表面に電
子部品を表面実装すると、個々の電子部品に対応する所
定の実装面積が必要なため、小型化にはおのずと限界が
ある。また、表面実装する際の配線の取り回しによっ
て、特性上好ましくない寄生インダクタンスが大きくな
り、電子機器の高周波化に対応が難しくなるという問題
がある。
【0004】これら諸問題を解決するために、絶縁基板
内部に電子部品を埋め込む方法が種々検討されている。
特開平11−126978では、電子部品を予め金属箔
からなる転写シート付き配線基板に半田実装してから転
写する方法が開示されているが、実装での位置精度等で
課題が残る。特開2000−124352には、コア基
板内部に埋め込んだ電子部品上に絶縁層をビルドアップ
した多層配線基板が開示されている。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】電子部品をコア基板等
の絶縁基板の内部に埋め込む方法においては、絶縁基板
と電子部品の隙間を埋め込み樹脂で埋めて、更に絶縁層
及び配線をビルドアップした後、電子部品の電極と絶縁
層上に形成した配線との間を無電解メッキ等の金属化手
法により電気的に接続する必要がある。
【0006】埋め込み樹脂は、ビルドアップした絶縁層
上に配線パターンを露光現像する際に問題となる光の乱
反射等を抑えたり、硬化時の色むらが目立たないように
黒色に着色していることが望ましい。そのため、カーボ
ン等を着色剤として配合する必要がある。
【0007】しかし、カーボン等の一部の着色剤は導電
性を有するため、過剰に添加すると絶縁性が低下する問
題がある。その為、いかに電子部品間、または絶縁層上
に形成した配線間の絶縁性を維持しつつ、光の乱反射等
を抑えたり、硬化時の色むらが目立たないように黒色に
着色するかが重要になってくる。
【0008】本発明は、電子部品を搭載する配線基板の
実装密度を高め、かつ、絶縁性等の電気特性において優
れた物性値が得られるとともに、光の乱反射等を抑えた
り、硬化時の色むらが目立たないようにした埋め込み樹
脂を提供することを課題とする。
【0009】
【課題を解決するための手段】本発明の埋め込み樹脂
は、絶縁基板に電子部品を埋め込むための埋め込み樹脂
であって、その埋め込み樹脂が黒色、青色、緑色、赤
色、橙色、黄色、紫色のいずれかを基調とする色により
着色されていることを特徴とする。ここにいう「電子部
品を埋め込む」とは、コア基板等の絶縁基板やビルドア
ップした絶縁層に設けた開口部(貫通穴(例えば図1)
やキャビティ等の凹部(例えば図10)等)の中に電子
部品を配置した後、電子部品と開口部との間に生じた隙
間に埋め込み樹脂を充填することをいう。開口部は、基
板を打ち抜いて形成した貫通孔または多層化技術により
形成したキャビティ等を利用するとよい。本発明に用い
る基板としては、FR−4、FR−5、BT等のいわゆ
るコア基板を用いるのがよいが、PTFE等の熱可塑性
樹脂シートに厚み35μm程度の厚手の銅箔を挟み込ん
でコア基板としたものに開口部を形成したものを用いて
もよい。また、コア基板の少なくとも一面に、絶縁層及
び配線層を交互に積層したビルドアップ層を形成すると
ともに、開口部をコア基板及びビルドアップ層の少なく
とも一方を貫通するように形成したものを用いることが
できる。この場合、図11に示すようなコンデンサ内蔵
型の多層配線基板であっても、いわゆるガラス−エポキ
シ複合材料(絶縁基板)の厚みを400μm程度と、通
常品の800μmの半分にまで薄くして低背化を図るこ
とができる利点がある。他の例としては、電子部品をコ
ア基板内部に埋め込んだ配線基板(例えば、図1)やビ
ルドアップ層の内部に埋め込んだ配線基板(例えば、図
10)を形成できる。尚、前記電子部品には、チップコ
ンデンサ、チップインダクタ、チップ抵抗、フィルタ等
の受動電子部品、トランジスタ、半導体素子、FET、
ローノイズアンプ(LNA)等の能動電子部品、あるいは
SAWフィルタ、LCフィルタ、アンテナスイッチモジ
ュール、カプラ、ダイプレクサ等の電子部品が含まれ
る。
【0010】本発明の埋め込み樹脂を着色するのは、前
述した配線パターンの露光現像にかかる問題を効果的に
回避するためである。埋め込み樹脂を着色することで、
埋め込み樹脂の上にビルドアップした絶縁層上に配線パ
ターンを露光現像する際に問題となる光の乱反射等を抑
えたり、硬化時の色むらが目立たないようにできる。
【0011】着色する色としては、黒色、青色、緑色、
赤色、橙色、黄色、紫色を基調とする色がよい。光の乱
反射による解像度の低下の防止を重視する場合は、黒
色、青色、緑色を基調とする色がよい。特には黒色系が
よい。
【0012】埋め込み樹脂を黒色系に着色するには、カ
ーボンブラック、黒鉛、カーボンブラックと黒鉛の混合
物等の黒色の炭素系粉末を添加したり、Cu2O、Cu
O、MnO2等の黒色の無機酸化物粉末を添加したり、
クロモファインブラックA1103等のアゾメチン系の
黒色有機顔料を添加することができる。
【0013】埋め込み樹脂を青色系に着色するには、フ
タロシアニンブルー、シアニンブルー5188等のフタ
ロシアニン系顔料、バリアミンブルー等のアゾ系顔料、
アントラキノンブルー等のアントラキノン系顔料などの
有機系顔料や、ウルトラマリン、コバルトブルー等の無
機酸化物を例示することができる。
【0014】埋め込み樹脂を緑色系に着色するには、フ
タロシアニングリーン、シアニングリーン5310R等
のフタロシアニン系顔料、クロームグリーン等のアゾ系
顔料、マラカイトグリーン等のトリフェニルメタン系顔
料などの有機系顔料、Cr23等の無機酸化物粉末を例
示することができる。
【0015】埋め込み樹脂を赤色系に着色するには、ア
ゾエオシン、アゾナフトールレッド、リソールレッド等
のアゾ系顔料、キナクリドン、ジアントラキノニルレッ
ド、クロモファインレッド6811などの有機系顔料、
弁柄、カドミウムレッド等の無機酸化物粉末を例示する
ことができる。
【0016】埋め込み樹脂を橙色系に着色するには、ク
ロムオレンジ、2900ペリカンファーストオレンジG
R等のアゾ系顔料、ベンツイミダゾロンなどの有機系顔
料、モリブデートオレンジなどの無機酸化物を例示する
ことができる。
【0017】埋め込み樹脂を黄色系に着色するには、ク
ロムエロー、クロモファインエロー2080K、ハンザ
エロー等のアゾ系顔料、キノリンエロー等のキノリン系
顔料、アントラエロー等のアントラキノン系顔料、ベン
ツイミダゾロン、イソインドリノンなどの有機系顔料、
カドミウムエロー、黄鉛、チタンイエローなどの無機酸
化物粉末を例示することができる。
【0018】埋め込み樹脂を紫系に着色するには、アン
トラキノンバイオレッド等のアントラキノン系顔料、ミ
ツイクリスタルバイオレッド等のトリフェニルメタン系
などの有機系顔料、マンガンバイオレッドなどの無機酸
化物粉末を例示することができる。
【0019】埋め込み樹脂を黒色、青色、緑色、赤色、
橙色、黄色、紫色のいずれかを基調とする色により着色
するには、単独の着色剤を用いてもよいが、種々の色の
着色剤を組み合わせて着色することができる。この際、
赤、黄、青の色の三原色を示す顔料を組み合わせるのが
よい。埋め込み樹脂をあらゆる全ての色で着色できるか
らである。
【0020】なお、カーボンブラック等の導電性物質以
外の着色剤の配合量は、光の乱反射等を抑えたり、硬化
時の色むらが目立たないようにできるように、工程条件
に適合する望ましい色調条件を満足するよう、適宜調整
される。通常は、0.1〜30質量%の範囲である。
【0021】本発明の埋め込み樹脂は、微細な粒子から
なるカーボンブラックを添加して黒色系をベースに着色
するのが特によい。絶縁性を確保するために、カーボン
ブラックを1.4質量%以下添加することができる。埋
め込み樹脂の絶縁信頼性、誘電特性のみならず、埋め込
み樹脂の上にビルドアップした絶縁層上に配線パターン
を露光現像する際に問題となる光の乱反射等を抑えた
り、硬化時の色むらが目立たないようにすることができ
る。より好ましくは1.0質量%以下がよい。体積抵抗
が大幅に落ちて電気的特性が悪化するからである。
【0022】上記の配線パターンの露光現像にかかる問
題を効果的に回避するためには、カーボンブラックを
0.1〜1.4質量%の範囲で含有するとよい。好まし
くは0.1〜1.0質量%、より好ましくは0.1〜
0.5質量%、特には0.1〜0.3質量%である。
【0023】カーボンブラックの含有量が配合割合を重
量比で1.5質量%を越えると、絶縁性の良否を示す指
標である体積抵抗が1.0×1014Ω・cmを下回る問
題が発生する。
【0024】本発明の埋め込み樹脂は、樹脂成分として
少なくとも熱硬化性樹脂を含み、かつ少なくとも一種類
以上の無機フィラーを含むとよい。少なくとも熱硬化性
樹脂を含むことで、樹脂充填後は熱処理により容易に硬
化することができる。熱硬化性樹脂としてエポキシ系樹
脂を用いた場合には、ジアルールヨードニウム塩等の光
重合開始剤を用いて直接エポキシ基をカチオン重合させ
てもよい。
【0025】本硬化前の仮硬化を行う目的で、熱硬化性
樹脂に感光性樹脂を添加してもよい。例えば、アクロイ
ル基を有する感光性樹脂を添加することができる。熱硬
化性樹脂としてはエポキシ系樹脂を用いた場合には、光
重合開始剤を用いて直接エポキシ基を光重合させて仮硬
化させてもよい。
【0026】熱硬化性樹脂としては、エポキシ系樹脂が
よい。具体的には、ビスフェノール型エポキシ樹脂、ナ
フタレン型エポキシ樹脂、フェノールノボラック型エポ
キシ樹脂及びクレゾールノボラック型エポキシ樹脂から
選ばれる少なくとも一種であるとよい。硬化後のエポキ
シ系樹脂は、3次元構造の骨格を有するため、配線のア
ンカー効果による密着強度を向上させるための粗化処理
を行った後においても埋め込み樹脂の形状が必要以上に
崩れることがないからである。硬化剤としては、酸無水
物系、イミダゾール系、フェノール系等の硬化剤を用い
ることができるが、酸無水物系が特に好ましい。低粘度
化が図れ、23℃±1℃程度の常温での埋め込み作業が
良好だからである。
【0027】埋め込み樹脂の流動性が悪いと電子部品の
電極間の隙間に充填不良が起こりやすくなり局所的に熱
膨張係数の極端に異なる部分が発生する。特に耐熱性、
耐湿性を考慮した場合には、ナフタレン型エポキシ樹脂
が優れているのでよい。
【0028】尚、埋め込み樹脂の粗化処理は通常、過マ
ンガン酸カリウムやクロム酸等の酸化剤を用いた湿式法
により行われるが、ブラズマやレーザ等を用いた乾式法
により行ってもよい。
【0029】無機フィラーを入れるのは、硬化後の熱膨
張係数の調整以外に、や、無機フィラーが奏する骨材と
しての効果によって、粗化処理後の埋め込み樹脂の形状
が必要以上に崩れることがないからである。
【0030】無機フィラーとしては、特に制限はない
が、結晶性シリカ、溶融シリカ、アルミナ、窒化ケイ素
等がよい。埋め込み樹脂の熱膨張係数を効果的に下げる
ことができる。これにより、熱応力に対する信頼性の向
上が得られる。
【0031】無機フィラーのフィラー径は、埋め込み樹
脂が電子部品の電極間の隙間にも容易に流れ込む必要が
あるため、粒径50μm以下のフィラーを使用するとよ
い。50μmを越えると、電子部品の電極間の隙間にフ
ィラーが詰まりやすくなり、埋め込み樹脂の充填不良に
より局所的に熱膨張係数の極端に異なる部分が発生す
る。フィラー径の下限値としては、0.1μm以上がよ
い。これよりも細かいと、埋め込み樹脂の流動性が確保
しにくくなる。好ましくは0.3μm以上、更に好まし
くは0.5μm以上がよい。埋め込み樹脂の低粘度、高
充填化を達成するためには、粒度分布を広くするとよ
い。
【0032】無機フィラーの形状は、埋め込み樹脂の流
動性と充填率とを高くするために、略球状であるとよ
い。特にシリカ系の無機フィラーは、容易に球状のもの
が得られるためよい。
【0033】無機フィラーの表面は、必要に応じてカッ
プリング剤にて表面処理するとよい。無機フィラーの樹
脂成分との濡れ性が良好になり、埋め込み樹脂の流動性
を良好にできるからである。カップリング剤の種類とし
ては、シラン系、チタネート系、アルミネート系等が用
いられる。
【0034】本発明の埋め込み樹脂を用いて電子部品を
内蔵した配線基板は、露光現像性、絶縁信頼性を有する
ものとなる。具体例を挙げると、図1や図10に示すよ
うなコンデンサ内蔵型のフリップチップパッケージとす
ることができる。ここで例示したバンプグリッドアレイ
型パッケージのみならず、ピングリッドアレイ型パッケ
ージとすることもできる。
【0035】
【発明の実施の形態】図1を例にすれば、本発明の埋め
込み樹脂を用いた配線基板は、以下のような工程により
製造できる。図2に示すように、このコア基板(1)に
金型を用いて所定の大きさの貫通孔(開口部:2)を設
け、このコア基板の一面にバックテープ(3)を貼り付
けた後、バックテープを貼り付けた面を下側にして置
く。
【0036】図3に示すように、他方の面から開口部
(2)内のパックテープ(3)の粘着面上の所定の位置
に、チップコンデンサ(4)をチップマウンタを用いて
配置する。ここで用いるチップコンデンサとしては、埋
め込み樹脂の回り込みが良いように、コンデンサ本体か
ら突出した電極(5)を有するものを用いるのがよい。
図4に示すように、開口部(2)内に配置されたチップ
コンデンサ(4)と開口部内の隙間に本発明の埋め込み
樹脂(6)をディスペンサを用いて流し込む。
【0037】埋め込み樹脂(6)を、100℃×80分
→120℃×60分→160℃×10分の条件により脱
泡および熱硬化する。硬化した埋め込み樹脂(6)の表
面を、ベルトサンダーを用いて粗研磨した後、ラップ研
磨にて仕上げ研磨する。研磨後における埋め込み樹脂
(6)の表面(60)を図5に示す。次いで、図6に示
すように、炭酸ガスレーザーを用いてビアホール(7)
を穴あけ加工して、チップコンデンサ(4)の電極
(5)を露出させる。
【0038】その後、膨潤液とKMnO4溶液を用い
て、埋め込み樹脂(6)の露出面(61)を粗化する。
粗化面をPd触媒活性化した後、無電解メッキ、電解メ
ッキの順番で銅メッキ(9)を施す。銅メッキ後の状態
を図7に示す。メッキ面の上にレジスト(図示せず)を
形成し、所定の配線パターンをパターニングする。不要
な銅をNa228/濃硫酸を用いてエッチング除去す
る。レジストを剥離して、配線(90)の形成を完了す
る。配線形成後の状態を図8に示す。
【0039】その上に絶縁層となるフィルム(14,1
5)をラミネートして熱硬化した後、レーザーを照射し
て層間接続用のビアホールを形成する。絶縁層の表面を
同じ酸化剤を用いて粗化し、同様の手法で所定の配線パ
ターンを形成する。配線基板の最表面にソルダーレジス
ト層となるドライフィルムをラミネートして、半導体素
子の実装パターンを露光、現像して形成して、ソルダー
レジスト層(12)を形成する。その状態を図9に示
す。半導体素子を実装する端子電極(13)には、Ni
メッキ、Auメッキの順番でメッキを施す。その後、ハ
ンダリフロー炉を通して半導体素子(18)を実装す
る。基板実装を行う電極には、低融点ハンダを用いてハ
ンダボール(17)を形成する。実装部にアンダーフィ
ル材(21)をディスペンサーで充填した後、熱硬化し
て、図1に示すような、目的とする配線基板の作製を完
了する。
【0040】コア基板の少なくとも一面に、絶縁層及び
配線層を交互に積層したビルドアップ層を形成するとと
もに、開口部をコア基板及びビルドアップ層を貫通する
ように形成した基板を用いた多層配線基板は、例えば以
下のように製造するとよい(図11〜図25)。ここで
は、図11に示すいわゆる「FC−PGA」構造の配線
基板を用いて以下に説明する。
【0041】図12に示すような、厚み0.4mmの絶
縁基板(100)に厚み18μmの銅箔(200)を貼
り付けたFR−5製両面銅張りコア基板を用意する。こ
こで用いるコア基板の特性は、TMAによるTg(ガラ
ス転移点)が175℃、基板面方向のCTE(熱膨張係
数)が16ppm/℃、基板面垂直方向のCTE(熱膨
張係数)が50ppm/℃、1MHzにおける誘電率ε
が4.7、1MHzにおけるtanδが0.018であ
る。
【0042】コア基板上にフォトレジストフィルムを貼
り付けて露光現像を行い、直径600μmの開口部及び
所定の配線形状に対応する開口部(図示せず)を設け
る。フォトレジストフィルムの開口部に露出した銅箔を
亜硫酸ナトリウムと硫酸を含むエッチング液を用いてエ
ッチング除去する。フォトレジストフィルムを剥離除去
して、図13に示すような露出部(300)及び所定の
配線形状に対応する露出部(図示せず)が形成されたコ
ア基板を得る。
【0043】市販のエッチング処理装置(メック社製
CZ処理装置)によってエッチング処理を施して銅箔の
表面粗化をした後、エポキシ樹脂を主体とする厚み35
μmの絶縁フィルムをコア基板の両面に貼り付ける。そ
して、170℃×1.5時間の条件にてキュアして絶縁
層(400)を形成する。このキュア後の絶縁層の特性
は、TMAによるTg(ガラス転移点)が155℃、D
MAによるTg(ガラス転移点)が204℃、CTE
(熱膨張係数)が66ppm/℃、1MHzにおける誘
電率εが3.7、1MHzにおけるtanδが0.03
3、300℃での重量減が−0.1%、吸水率が0.8
%、吸湿率が1%、ヤング率が3GHz、引っ張り強度
が63MPa、伸び率が4.6%である。
【0044】図14に示すように、炭酸ガスレーザを用
いて絶縁層(400)に層間接続用のビアホール(50
0)を形成する。ビアホールの形態は、表層部の直径は
120μm、底部の直径は60μmのすりばち状であ
る。更に炭酸ガスレーザの出力を上げて、絶縁層(40
0)とコア基板とを貫通するように直径300μmのス
ルーホール(600)を形成する。スルーホールの内壁
面はレーザ加工に特有のうねり(図示せず)を有する。
そして、基板を塩化パラジウムを含む触媒活性化液に浸
漬した後、全面に無電解銅メッキを施す(図示せず)。
【0045】次いで、基板の全面に厚み18μmの銅パ
ネルメッキ(700)をかける。ここで、ビアホール
(500)には、層間を電気的に接続するビアホール導
体(800)が形成される。またスルーホール(60
0)には、基板の表裏面を電気的に接続するスルーホー
ル導体(900)が形成される。市販のエッチング処理
装置(メック社製 CZ処理装置)によってエッチング
処理を施して銅メッキの表面粗化する。その後、同社の
防錆剤によって防錆処理(商標名:CZ処理)を施して
疎水化面を形成して、疎水化処理を完了する。疎水化処
理を施した導体層表面の水に対する接触角2θを、接触
角測定器(商品名:CA−A、協和科学製)により液適
法で測定したところ、接触角2θは101度であった。
【0046】真空吸引装置の付いた台座の上に不繊紙を
設置し、上記基板を、台座の上に配置する。その上にス
ルーホール(600)の位置に対応するように貫通孔を
有するステンレス製の穴埋めマスクを設置する。次い
で、銅フィラーを含むスルーホール充填用ペーストを載
せ、ローラー式スキージを加圧しながら穴埋め充填を行
う。
【0047】図15に示すように、スルーホール(60
0)内に充填したスルーホール充填用ペースト(100
0)を、120℃×20分の条件下で仮キュアさせる。
次いで、図16に示すように、ベルトサンダーを用いて
基板の表面を研磨(粗研磨)した後、バフ研磨(仕上げ
研磨)して平坦化し、150℃×5時間の条件下でキュ
アさせて、穴埋め工程を完了する。
【0048】図17に示すように、金型(図示せず)を
用いて□8mmの貫通孔(開口部:110)を形成す
る。図18に示すように、基板の一面にマスキングテー
プ(120)を貼り付ける。そして、図19に示すよう
に、貫通孔(110)に露出したマスキングテープ(1
20)上に、積層チップコンデンサ(130)をチップ
マウンタを用いて8個配置する。この積層チップコンデ
ンサは、1.2mm×0.6mm×0.4mmの積層体
(150)からなり、電極(140)が積層体から70
μm突き出している。
【0049】図20に示すように、積層チップコンデン
サ(130)を配置した貫通孔(110)の中に、本発
明の埋め込み樹脂(160)をディスペンサ(図示せ
ず。)を用いて充填する。埋め込み樹脂を、1次加熱工
程を80℃×3時間、2次加熱工程を170℃×6時間
の条件により脱泡および熱硬化する。
【0050】図21に示すように、硬化した埋め込み樹
脂(160)の表面を、ベルトサンダーを用いて粗研磨
した後、ラップ研磨にて仕上げ研磨する。研磨面には、
チップコンデンサ(130)の電極(140)の端面が
露出している。次いで、仮キュアした埋め込み樹脂(1
60)を150℃×5時間の条件下で硬化させる。
【0051】その後、膨潤液とKMnO4溶液を用い
て、埋め込み樹脂(160)の研磨面を粗化する。粗化
面をPd触媒活性化した後、無電解メッキ、電解メッキ
の順番で銅メッキ(170)を施す。図22に示すよう
に、埋め込み樹脂(160)の上に形成されたメッキ層
(170)は、チップコンデンサ(130)の電極(1
40)の端面と電気的に接続されている。メッキ面の上
にレジスト(図示せず)を形成し、所定の配線パターン
をパターニングする。不要な銅をNa228/濃硫酸
を用いてエッチング除去する。レジストを剥離して、図
23に示すように、配線の形成を完了する。市販のエッ
チング処理装置(メック社製 CZ処理装置)によって
エッチング処理を施して配線の銅メッキの表面粗化す
る。
【0052】その上に絶縁層となるフィルム(190)
をラミネートして熱硬化した後、炭酸ガスレーザーを照
射して層間接続用のビアホールを形成する。絶縁層の表
面を上記と同じ酸化剤を用いて粗化し、同様の手法で所
定の配線(201)を形成する。配線基板の最表面にソ
ルダーレジスト層となるドライフィルムをラミネートし
て、半導体素子の実装パターンを露光、現像して形成し
て、ソルダーレジスト層(210)の形成を完了する。
実装用のピン付けを行う裏面側についても同様の方法に
より、所定の配線(230)とソルダーレジスト層(2
40)を形成して、図24に示すように、ピン付け前の
多層プリント配線基板を得る。
【0053】半導体素子を実装する端子電極(201)
には、Niメッキ、Auメッキの順番でメッキを施す
(図示せず)。その上に低融点ハンダからなるハンダペ
ーストを印刷した後、ハンダリフロー炉を通して半導体
素子を実装するためのハンダバンプ(220)を形成す
る。
【0054】一方、半導体素子実装面の反対側には、高
融点ハンダからなるハンダペーストを印刷した後、ハン
ダリフロー炉を通してピン付けするためのハンダバンプ
(260)を形成する。治具(図示せず)にピン(25
0)をセットした上に基板を配置した状態で、ハンダリ
フロー炉を通してピン付けを行い(図示せず)、図25
に示すように、半導体素子を実装する前のFC−PGA
型の多層プリント配線基板を得る。投影機を用いて埋め
込み樹脂(160)で埋め込んだ開口部(110)に対
応する領域に付けられたピン(250)の先端の所定位
置からの位置ずれ量を測定したところ、0.1mm以下
と良好な結果が得られた。
【0055】半導体素子実装面上に半導体素子(27
0)を実装可能な位置に配置して、低融点ハンダ(22
0)のみが溶解する温度条件にてハンダリフロー炉を通
して、半導体素子(270)を実装する。実装部にアン
ダーフィル材(300)をディスペンサーで充填した
後、熱硬化して、図11に示すような半導体素子(27
0)を表面に実装したFC−PGA型の多層プリント配
線基板を用いた半導体装置を得る。
【0056】
【実施例】以下に本発明を実施例を用いて説明する。埋
め込み樹脂は、表1に示す組成になるように各成分を秤
量、混合し、3本ロールミルにて混練して作製する。こ
こで、表1中の記載事項の詳細は以下のようである。
【0057】エポキシ樹脂 ・ 「HP−4032D」:高純度ナフタレン型エポキ
シ樹脂(大日本インキ製) ・ 「YL−983U」:ビスフェノールF型エポキシ
樹脂(油化シェル製) ・ 「E―850S」:ビスフェノールA型エポキシ樹
脂(大日本インキ製) ・ 「N−740」:フェノールノボラック型エポキシ
樹脂(大日本インキ製)
【0058】硬化剤 ・ 「QH−200」:酸無水物系硬化剤(日本ゼオン
製) ・ 「B−570」:酸無水物系硬化剤(DIC製) ・ 「B−650」:酸無水物系硬化剤(DIC製) ・ 「YH−306」:酸無水物系硬化剤(油化シェル
エポキシ製) ・ 「YH−300」:酸無水物系硬化剤(油化シェル
エポキシ製)
【0059】促進剤(硬化促進剤) ・ 「2MAOK」:イミダゾール系硬化剤(四国化成
工業製)
【0060】無機フィラー ・ 「FB−5LDX」:シランカップリング処理済
(電気化学工業製:粒度分布による最大粒子径24μ
m)
【0061】着色剤 ・黒1:「カーボンブラック #4300」 東海カ
ーボン社製 ・黒2:「クロモファインブラック A1103」
大日精化工業社製 ・青 :「シアニンブルー 5188」 大日精化工
業社製 ・緑 :「シアニングリーン 5310R」 大日精
化工業社製 ・赤 :「クロモファインレッド 6811」 大日
精化工業社製 ・橙 :「2900ペリカンファーストオレンジ G
R」 大日精化工業社製・ 黄 :「クロモファインイエロー 2080K」
大日精化工業社製
【0062】着色剤は、試料番号15の30質量%を除
いて、エポキシ樹脂+硬化剤+無機フィラーの合計を1
00質量%に対して0.5質量%添加した。「カーボン
含有率」は、エポキシ樹脂+硬化剤+無機フィラーの合
計を100質量%に対して表1に示す割合で添加した。
「フィラー含有率」は、エポキシ+硬化剤+フィラーの
合計を100質量%に対して65質量%添加した。促進
剤の含有量は、エポキシ+硬化剤+フィラーの合計を1
00質量%に対して0.1質量%添加した。エポキシ樹
脂と硬化剤の混合割合は、官能基比で100/95とし
た。各添加量は表1に示す割合の残部とした。表1に示
す各埋め込み樹脂組成物に対して以下の評価を行った。
【0063】(信頼性評価)体積抵抗の評価用サンプル
は以下のように作製する。まず、ハルセル試験用銅板に
モールド樹脂を幅60mm×長さ90mm×厚み100
μmのサイズでスクリーン印刷法により印刷する。そし
て、100℃×80分→120℃×60分→160℃×
10分の3段階の熱条件により脱泡および熱硬化する。
これをハイ・レジスタンス・メーター(HEWLETT PACKARD
製 HP4339B)を使用して、体積抵抗を測定する。レジス
ティビティー・セルは直径26mmの物を使用し、充電時
間は20秒、出力電圧値は100Vとする。
【0064】露光現像時の歩留まり及び体積抵抗の評価
用サンプルは、以下のように作製する。まず、上記作製
した板状物の表面を膨潤液とKMnO4溶液を用いて粗
化する。粗化面をPd触媒活性化した後、無電解メッ
キ、電解メッキの順番で銅メッキを施す。メッキ面にレ
ジストを形成し、ライン幅/ラインスペースが40μm
/20μmの櫛歯の配線パターンを露光現像する。不要
な銅をNa228/濃硫酸を用いてエッチング除去す
る。レジストを剥離して、配線の形成を完了する。この
際の合格率を「露光歩留」として評価する。
【0065】これらの評価における合否判定基準は以下
のようにする。評価結果を表2に示す。 ・体積抵抗:1.0×1014Ω・cm以上 ・露光歩留:95%以上
【0066】
【表1】
【0067】
【表2】
【0068】結果より、実施例の試料番号1〜5及び試
料番号9から14では、全ての評価項目において良好な
結果が得られていることがわかる。カーボンブラックの
含有量が1.4質量%を超える(1.5〜2.0質量
%)実施例の試料番号6及び7と、有機顔料が30質量
%添加されている実施例の試料番号15は、若干の体積
抵抗の低下が見受けられたが合格レベルにある。試料番
号15はこれ以上有機顔料を入れようとすると充填性が
低下するため、実質的な添加量は30質量%が上限とい
える。一方、比較例である試料番号8のように、カーボ
ンブラックの添加量が2.5質量%までいくと、絶縁性
が確保できないレベルにまで体積抵抗が低下するのがわ
かる。
【0069】
【発明の効果】本発明の埋め込み樹脂は、配線パターン
の露光時の乱反射を防いで歩留まりの向上を図ることが
できる。さらにカーボンブラックの含有量を規定するこ
とで、体積抵抗も1.0×1014Ω・cmと、良好な絶縁
性を得ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の埋め込み樹脂を用いた配線基板をBG
A基板に適用した例を示す説明図である。
【図2】本発明の埋め込み樹脂を用いた配線基板の製造
方法の一態様を示す説明図である。
【図3】本発明の埋め込み樹脂を用いた配線基板の製造
方法の一態様を示す説明図である。
【図4】本発明の埋め込み樹脂を用いた配線基板の製造
方法の一態様を示す説明図である。
【図5】本発明の埋め込み樹脂を用いた配線基板の製造
方法の一態様を示す説明図である。
【図6】本発明の埋め込み樹脂を用いた配線基板の製造
方法の一態様を示す説明図である。
【図7】本発明の埋め込み樹脂を用いた配線基板の製造
方法の一態様を示す説明図である。
【図8】本発明の埋め込み樹脂を用いた配線基板の製造
方法の一態様を示す説明図である。
【図9】本発明の埋め込み樹脂を用いた配線基板の製造
方法の一態様を示す説明図である。
【図10】本発明の埋め込み樹脂を用いた配線基板をB
GA基板に適用した例を示す説明図である。
【図11】本発明の埋め込み樹脂を用いたFC−PGA
型の多層プリント配線基板の一態様を示す説明図。
【図12】厚み400μmの銅張りコア基板の概略図。
【図13】厚み400μmの銅張りコア基板のパターニ
ング後の状態を示す説明図。
【図14】コア基板の両面に絶縁層を形成した基板にビ
アホールとスルーホールを形成した状態を示す説明図。
【図15】コア基板の両面に絶縁層を形成した基板にパ
ネルメッキをかけた後の状態を示す説明図。
【図16】スルーホールを穴埋め充填した基板の説明
図。
【図17】貫通孔を打ち抜き形成した基板を示す説明
図。
【図18】貫通孔を打ち抜き形成した基板の一面にマス
キングテープを貼り付けた状態を示す説明図。
【図19】貫通孔内に露出したマスキングテープ上に積
層チップコンデンサを配置した状態を示す説明図。
【図20】貫通孔内に埋め込み樹脂を充填した状態を示
す説明図。
【図21】基板面を研磨して平坦化した状態を示す説明
図。
【図22】基板の研磨面にパネルメッキをかけた状態を
示す説明図。
【図23】配線をパターニングした状態を示す説明図。
【図24】基板上にビルドアップ層及びソルダーレジス
ト層を形成した状態を示す説明図。
【図25】本発明の埋め込み樹脂を用いたFC−PGA
型の多層プリント配線基板の一態様を示す説明図。
【符号の説明】 1 コア基板 2 貫通孔(開口部) 3 バックテープ 4 電子部品 5 電子部品の電極 6 埋め込み樹脂 60 平坦化面 61 粗化面
フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) H05K 3/28 H01L 23/12 B // H01L 23/12 (72)発明者 大林 和重 愛知県名古屋市瑞穂区高辻町14番18号 日 本特殊陶業株式会社内 (72)発明者 加島 壽人 愛知県名古屋市瑞穂区高辻町14番18号 日 本特殊陶業株式会社内 Fターム(参考) 4M109 AA01 BA07 EA03 EB08 5E314 AA32 AA43 AA45 BB06 BB13 CC01 DD05 DD06 FF05 FF17 FF21 GG03 GG24 5E336 AA07 AA08 BB03 BB15 BC02 BC26 CC31 CC52 CC53 EE20 GG30 5E346 AA02 AA43 AA60 BB20 CC08 CC09 CC32 CC46 DD25 DD32 EE33 FF07 GG15 GG27

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 絶縁基板に電子部品を埋め込むための埋
    め込み樹脂であって、該埋め込み樹脂が黒色、青色、緑
    色、赤色、橙色、黄色、紫色のいずれかを基調とする色
    により着色されていることを特徴とする埋め込み樹脂。
  2. 【請求項2】 少なくとも熱硬化性樹脂を含み、かつ少
    なくとも一種類以上の無機フィラーを含むことを特徴と
    する請求項1に記載の埋め込み樹脂。
  3. 【請求項3】 前記熱硬化性樹脂がビスフェノールエポ
    キシ樹脂、ナフタレン型エポキシ樹脂、フェノールノボ
    ラック型エポキシ樹脂及びクレゾールノボラック型エポ
    キシ樹脂から選ばれる少なくとも一種であることを特徴
    とする請求項2に記載の埋め込み樹脂。
  4. 【請求項4】 カーボンブラック、フタロシアニン系顔
    料、アゾ系顔料、キノリン系顔料、アントラキノン系顔
    料、トリフェニルメタン系顔料、無機酸化物から選ばれ
    る少なくとも一種の着色剤を含有することを特徴とする
    請求項1乃至請求項3のいずれかに記載の埋め込み樹
    脂。
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