JP2002315742A - Ｘ線診断装置およびｘ線診断装置の作動方法 - Google Patents
Ｘ線診断装置およびｘ線診断装置の作動方法Info
- Publication number
- JP2002315742A JP2002315742A JP2002031741A JP2002031741A JP2002315742A JP 2002315742 A JP2002315742 A JP 2002315742A JP 2002031741 A JP2002031741 A JP 2002031741A JP 2002031741 A JP2002031741 A JP 2002031741A JP 2002315742 A JP2002315742 A JP 2002315742A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- signal
- ray
- comet
- detail
- estimating means
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000011017 operating method Methods 0.000 title claims description 5
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 claims abstract 4
- 238000012937 correction Methods 0.000 claims description 29
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 21
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 claims description 16
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 5
- 238000001914 filtration Methods 0.000 claims description 3
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 abstract description 3
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 11
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 10
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 7
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 7
- 229910021417 amorphous silicon Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 2
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 2
- 102100033040 Carbonic anhydrase 12 Human genes 0.000 description 1
- 102100033041 Carbonic anhydrase 13 Human genes 0.000 description 1
- 101000867855 Homo sapiens Carbonic anhydrase 12 Proteins 0.000 description 1
- 101000867860 Homo sapiens Carbonic anhydrase 13 Proteins 0.000 description 1
- BUGBHKTXTAQXES-UHFFFAOYSA-N Selenium Chemical compound [Se] BUGBHKTXTAQXES-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- XQPRBTXUXXVTKB-UHFFFAOYSA-M caesium iodide Chemical compound [I-].[Cs+] XQPRBTXUXXVTKB-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 1
- XMBWDFGMSWQBCA-UHFFFAOYSA-N hydrogen iodide Chemical compound I XMBWDFGMSWQBCA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000000275 quality assurance Methods 0.000 description 1
- 229910052711 selenium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011669 selenium Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N5/00—Details of television systems
- H04N5/30—Transforming light or analogous information into electric information
- H04N5/32—Transforming X-rays
-
- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
- A61B6/00—Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
-
- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
- A61B6/00—Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
- A61B6/42—Arrangements for detecting radiation specially adapted for radiation diagnosis
- A61B6/4208—Arrangements for detecting radiation specially adapted for radiation diagnosis characterised by using a particular type of detector
- A61B6/4233—Arrangements for detecting radiation specially adapted for radiation diagnosis characterised by using a particular type of detector using matrix detectors
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03B—APPARATUS OR ARRANGEMENTS FOR TAKING PHOTOGRAPHS OR FOR PROJECTING OR VIEWING THEM; APPARATUS OR ARRANGEMENTS EMPLOYING ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ACCESSORIES THEREFOR
- G03B42/00—Obtaining records using waves other than optical waves; Visualisation of such records by using optical means
- G03B42/02—Obtaining records using waves other than optical waves; Visualisation of such records by using optical means using X-rays
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N25/00—Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
- H04N25/60—Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise
- H04N25/63—Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise applied to dark current
-
- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
- A61B6/00—Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
- A61B6/42—Arrangements for detecting radiation specially adapted for radiation diagnosis
- A61B6/4208—Arrangements for detecting radiation specially adapted for radiation diagnosis characterised by using a particular type of detector
- A61B6/4225—Arrangements for detecting radiation specially adapted for radiation diagnosis characterised by using a particular type of detector using image intensifiers
Landscapes
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Medical Informatics (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Biomedical Technology (AREA)
- Animal Behavior & Ethology (AREA)
- Biophysics (AREA)
- Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Pathology (AREA)
- Radiology & Medical Imaging (AREA)
- Veterinary Medicine (AREA)
- Heart & Thoracic Surgery (AREA)
- Molecular Biology (AREA)
- Surgery (AREA)
- High Energy & Nuclear Physics (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Public Health (AREA)
- Mathematical Physics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Multimedia (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
- Image Analysis (AREA)
- Measurement Of Radiation (AREA)
- Image Processing (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】コメットアーチファクトの補正を行ない、それ
によってコメットを持つ検出器も医用技術において使用
できるようにする。 【解決手段】像システム（６）が評価装置（２４，２
５）を備えたコメットアーチファクト補正装置を有し、
評価装置（２４，２５）に目標値推定手段（２６）およ
びディテール推定手段（２７，２８）が接続され、これ
らの推定手段が擾乱個所でＸ線検出器から出力された電
気信号から目標値およびディテール値を求め、推定手段
（２６〜２８）の出力信号が補正段（２９）に供給さ
れ、補正段（２９）が信号を構成する。
によってコメットを持つ検出器も医用技術において使用
できるようにする。 【解決手段】像システム（６）が評価装置（２４，２
５）を備えたコメットアーチファクト補正装置を有し、
評価装置（２４，２５）に目標値推定手段（２６）およ
びディテール推定手段（２７，２８）が接続され、これ
らの推定手段が擾乱個所でＸ線検出器から出力された電
気信号から目標値およびディテール値を求め、推定手段
（２６〜２８）の出力信号が補正段（２９）に供給さ
れ、補正段（２９）が信号を構成する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、Ｘ線を発生するＸ
線機器と、Ｘ線を検出し電気信号に変換するＸ線検出器
と、その電気信号を処理する像システムと、再生装置と
を備えたＸ線診断装置に関する。
線機器と、Ｘ線を検出し電気信号に変換するＸ線検出器
と、その電気信号を処理する像システムと、再生装置と
を備えたＸ線診断装置に関する。
【０００２】さらに、本発明は、Ｘ線機器によってＸ線
像を作成し、演算ユニットによってＸ線像を処理し、再
生装置によってＸ線像を表示するＸ線診断装置の作動方
法に関する。
像を作成し、演算ユニットによってＸ線像を処理し、再
生装置によってＸ線像を表示するＸ線診断装置の作動方
法に関する。
【０００３】
【従来の技術】図１にはドイツ特許第１９５２７１４８
号明細書により公知であるＸ線診断装置が示されてい
る。このＸ線診断装置は第１の支持体１と第２の支持体
４とを備え、第１の支持体１には円錐形状のＸ線３を放
射するＸ線放射器２が高さ調整可能に取付けられ、第２
の支持体４には高さをＸ線放射器２の高さに合わせられ
たＸ線検出器５が固定され、Ｘ線３がＸ線検出器５に当
たる。Ｘ線検出器５の出力信号は像コンピュータ又は像
システム６に供給される。像システム６はコンピュー
タ、変換器、像メモリおよび処理回路を有している。像
システム６は取得されたＸ線像を再生するためにコント
ロールモニタ７に接続されている。高電圧発生器８がＸ
線放射器２のＸ線管に高電圧および加熱電圧を供給す
る。像システム６は制御・データ線９を介してＸ線診断
装置のその他の構成要素に接続されている。
号明細書により公知であるＸ線診断装置が示されてい
る。このＸ線診断装置は第１の支持体１と第２の支持体
４とを備え、第１の支持体１には円錐形状のＸ線３を放
射するＸ線放射器２が高さ調整可能に取付けられ、第２
の支持体４には高さをＸ線放射器２の高さに合わせられ
たＸ線検出器５が固定され、Ｘ線３がＸ線検出器５に当
たる。Ｘ線検出器５の出力信号は像コンピュータ又は像
システム６に供給される。像システム６はコンピュー
タ、変換器、像メモリおよび処理回路を有している。像
システム６は取得されたＸ線像を再生するためにコント
ロールモニタ７に接続されている。高電圧発生器８がＸ
線放射器２のＸ線管に高電圧および加熱電圧を供給す
る。像システム６は制御・データ線９を介してＸ線診断
装置のその他の構成要素に接続されている。
【０００４】図２にはＸ線検出器５の斜視断面図が示さ
れている。Ｘ線検出器５の構成要素は固体画素マトリッ
クス、行ドライバおよび増幅器から構成されている。固
体画素マトリックスは例えばシンチレータ（例えばヨウ
化セシウムＣｓＩ）１１を備えた層から構成され、この
層はＸ線３を照射されると可視の光子をアモルファスシ
リコンから成る画素マトリックス１２に供給する。可視
の光子が可視のＸ線像を生じる。画素マトリックス１２
の各画素または各像点は図２に拡大して示されているよ
うにホトダイオード１３とスイッチ１４とから構成さ
れ、スイッチ１４は行線１５および列線１６に接続され
ている。画素マトリックス１２はガラス基板１０上に設
けられている。
れている。Ｘ線検出器５の構成要素は固体画素マトリッ
クス、行ドライバおよび増幅器から構成されている。固
体画素マトリックスは例えばシンチレータ（例えばヨウ
化セシウムＣｓＩ）１１を備えた層から構成され、この
層はＸ線３を照射されると可視の光子をアモルファスシ
リコンから成る画素マトリックス１２に供給する。可視
の光子が可視のＸ線像を生じる。画素マトリックス１２
の各画素または各像点は図２に拡大して示されているよ
うにホトダイオード１３とスイッチ１４とから構成さ
れ、スイッチ１４は行線１５および列線１６に接続され
ている。画素マトリックス１２はガラス基板１０上に設
けられている。
【０００５】１つの行の全ての画素が同時に行ドライバ
によってその都度アドレス化され、読み出される。１つ
の像は最も簡単な場合一行一行漸進的に読み出される。
信号は処理回路１８に供給される。信号はこの処理回路
１８内で多数の増幅器により並列処理され、マルチプレ
クサによって集められ、アナログ−ディジタル変換器
（Ａ−Ｄ変換器）で爾後のディジタル処理のためにディ
ジタル出力信号に変換される。
によってその都度アドレス化され、読み出される。１つ
の像は最も簡単な場合一行一行漸進的に読み出される。
信号は処理回路１８に供給される。信号はこの処理回路
１８内で多数の増幅器により並列処理され、マルチプレ
クサによって集められ、アナログ−ディジタル変換器
（Ａ−Ｄ変換器）で爾後のディジタル処理のためにディ
ジタル出力信号に変換される。
【０００６】例えばアモルファスシリコン（ａ−Ｓｉ）
から成る能動読出しマトリックスをベースにしたＸ線像
形成のための数年前から開発されて来たこの固体検出器
（ＳＤ）によって、像情報がＸ線コンバータ（例えばヨ
ウ化セシウムＣｓＩ）内で変換され、マトリックスのホ
トダイオード内に電荷として蓄積され、引続いて電子回
路を用いて能動スイッチング素子を介して読み出され、
アナログ−ディジタル変換される。
から成る能動読出しマトリックスをベースにしたＸ線像
形成のための数年前から開発されて来たこの固体検出器
（ＳＤ）によって、像情報がＸ線コンバータ（例えばヨ
ウ化セシウムＣｓＩ）内で変換され、マトリックスのホ
トダイオード内に電荷として蓄積され、引続いて電子回
路を用いて能動スイッチング素子を介して読み出され、
アナログ−ディジタル変換される。
【０００７】使用されたテクノロジーは同様にアモルフ
ァスシリコンから成る能動読出しマトリックスを使用し
ているが、しかし直接電荷を発生するコンバータ（例え
ばセレン）も使用している。電荷は電極に蓄積される。
蓄積された電荷は引続いて電子回路を用いて能動スイッ
チング素子を介して読み出され、アナログ−ディジタル
変換され、像システムによって継続処理される。
ァスシリコンから成る能動読出しマトリックスを使用し
ているが、しかし直接電荷を発生するコンバータ（例え
ばセレン）も使用している。電荷は電極に蓄積される。
蓄積された電荷は引続いて電子回路を用いて能動スイッ
チング素子を介して読み出され、アナログ−ディジタル
変換され、像システムによって継続処理される。
【０００８】個々の像素子（画素）は局部的なＸ線強度
を表し、従って全像に寄与する。個々の画素または画素
集積体（例えば行、列またはクラスタ）は種々の理由か
ら局部的なＸ線分布を表す像情報を持たないか又は誤っ
た像情報を持っている。
を表し、従って全像に寄与する。個々の画素または画素
集積体（例えば行、列またはクラスタ）は種々の理由か
ら局部的なＸ線分布を表す像情報を持たないか又は誤っ
た像情報を持っている。
【０００９】一般的に個々の画素は互いに独立してお
り、それゆえ読出し過程中、１つの画素内に蓄積された
信号は隣接画素の信号に影響を与えない。しかしなが
ら、特定の前提条件下では、１つの画素の信号または１
つの画素集積体の信号が読出し過程中に隣接画素の信号
に影響を与え、それによって読出し過程の終了時に誤っ
た信号を提供する。この信号はそれぞれの画素で発生し
たＸ線強度をもはや直接表さない。
り、それゆえ読出し過程中、１つの画素内に蓄積された
信号は隣接画素の信号に影響を与えない。しかしなが
ら、特定の前提条件下では、１つの画素の信号または１
つの画素集積体の信号が読出し過程中に隣接画素の信号
に影響を与え、それによって読出し過程の終了時に誤っ
た信号を提供する。この信号はそれぞれの画素で発生し
たＸ線強度をもはや直接表さない。
【００１０】図３にはかかる構成が概略的に示されてい
る。欠陥のある列１９は信号が存在していないが、その
隣りに位置する列に或る長さに亘って信号擾乱を生じさ
せる。この列と欠陥のある列との間隔が大きければ大き
い程、擾乱の長さおよび擾乱の振幅が小さくなる。信号
擾乱の形状に基づいてこの信号擾乱は“コメット（ｃｏ
ｍｅｔ）”２０と呼ばれている。コメットアーチファク
トによる擾乱は欠陥のある列１９内の信号の電気的クロ
ストークによって生成する。欠陥のある列１９およびコ
メット２０の他に、個々の欠陥のある画素もある。
る。欠陥のある列１９は信号が存在していないが、その
隣りに位置する列に或る長さに亘って信号擾乱を生じさ
せる。この列と欠陥のある列との間隔が大きければ大き
い程、擾乱の長さおよび擾乱の振幅が小さくなる。信号
擾乱の形状に基づいてこの信号擾乱は“コメット（ｃｏ
ｍｅｔ）”２０と呼ばれている。コメットアーチファク
トによる擾乱は欠陥のある列１９内の信号の電気的クロ
ストークによって生成する。欠陥のある列１９およびコ
メット２０の他に、個々の欠陥のある画素もある。
【００１１】図５には、多数のこの種のコメット擾乱２
３が発生しているファントム２２の写真が示されてい
る。このファントムは固体検出器内に発生する電荷の電
気的読出し過程に関係して発生する新しいファントムで
ある。コメット２３の場合の擾乱範囲は通常の補正法で
は補正できないほど大面積であるので、このような像擾
乱を有する検出器は医用診断分野では使用できない。コ
メット２３の外において隣接する擾乱されていない画素
を用いた補間による補正は大面積擾乱のために可能では
ない。というのは、そのような補正はディテール（ｄｅ
ｔａｉｌ）情報を得ていないからである。作成過程中ま
たは現場での使用中にコメットを生じる検出器は従って
排除されねばならない。
３が発生しているファントム２２の写真が示されてい
る。このファントムは固体検出器内に発生する電荷の電
気的読出し過程に関係して発生する新しいファントムで
ある。コメット２３の場合の擾乱範囲は通常の補正法で
は補正できないほど大面積であるので、このような像擾
乱を有する検出器は医用診断分野では使用できない。コ
メット２３の外において隣接する擾乱されていない画素
を用いた補間による補正は大面積擾乱のために可能では
ない。というのは、そのような補正はディテール（ｄｅ
ｔａｉｌ）情報を得ていないからである。作成過程中ま
たは現場での使用中にコメットを生じる検出器は従って
排除されねばならない。
【００１２】
【発明が解決しようとする課題】本発明の課題は、コメ
ットアーチファクトの補正を行ない、それによってこの
種の欠陥のある検出器も医用技術において使用できるよ
うにＸ線診断装置およびＸ線診断装置の作動方法を構成
することにある。
ットアーチファクトの補正を行ない、それによってこの
種の欠陥のある検出器も医用技術において使用できるよ
うにＸ線診断装置およびＸ線診断装置の作動方法を構成
することにある。
【００１３】
【課題を解決するための手段】Ｘ線診断装置に関する課
題は、本発明によれば、像システムが評価装置を備えた
コメットアーチファクト補正装置を有し、評価装置に目
標値推定手段およびディテール推定手段が接続され、こ
れらの推定手段が擾乱個所でＸ線検出器から出力された
電気信号から目標値およびディテール値を求め、推定手
段の出力信号が補正段に供給され、補正段が信号を構成
することによって解決される。
題は、本発明によれば、像システムが評価装置を備えた
コメットアーチファクト補正装置を有し、評価装置に目
標値推定手段およびディテール推定手段が接続され、こ
れらの推定手段が擾乱個所でＸ線検出器から出力された
電気信号から目標値およびディテール値を求め、推定手
段の出力信号が補正段に供給され、補正段が信号を構成
することによって解決される。
【００１４】本発明は、擾乱された信号が残留情報を含
み、それゆえ本来の信号情報が本発明による装置によっ
て復元されるという認識に基づいている。
み、それゆえ本来の信号情報が本発明による装置によっ
て復元されるという認識に基づいている。
【００１５】本発明によれば目標値推定手段が補間段で
あってよい。ディテール推定手段が、例えば低域通過フ
ィルタと減算段とを有する選択的高域通過フィルタであ
ると有利である。
あってよい。ディテール推定手段が、例えば低域通過フ
ィルタと減算段とを有する選択的高域通過フィルタであ
ると有利である。
【００１６】Ｘ線診断装置の作動方法に関する課題は、
本発明によれば、ｉ）コメットアーチファクトの幾何学
的解析を実施するステップと、ｉｉ）解析結果を利用し
てオリジナル信号から推定された目標値を求めるステッ
プと、ｉｉｉ）解析結果を利用してオリジナル信号から
推定されたディテール信号を求めるステップと、ｉｖ）
推定された目標値と推定されたディテール信号とに基づ
いて補正を行なうステップとを有することによって解決
される。
本発明によれば、ｉ）コメットアーチファクトの幾何学
的解析を実施するステップと、ｉｉ）解析結果を利用し
てオリジナル信号から推定された目標値を求めるステッ
プと、ｉｉｉ）解析結果を利用してオリジナル信号から
推定されたディテール信号を求めるステップと、ｉｖ）
推定された目標値と推定されたディテール信号とに基づ
いて補正を行なうステップとを有することによって解決
される。
【００１７】本発明による方法によれば、コメットによ
って規定された像範囲における信号の残留情報が使用さ
れ、信号を復元する。これによって、擾乱された像範囲
における診断上重要な情報が得られる。従って、コメッ
トを持つ検出器を現場で使用できることは相当な利点で
ある。
って規定された像範囲における信号の残留情報が使用さ
れ、信号を復元する。これによって、擾乱された像範囲
における診断上重要な情報が得られる。従って、コメッ
トを持つ検出器を現場で使用できることは相当な利点で
ある。
【００１８】ステップｉ）がカード内にコメットの一般
的識別を含んでいると有利であることが判明している。
的識別を含んでいると有利であることが判明している。
【００１９】本発明によれば、目標値が補間によってコ
メットの外の損傷を受けていない信号値から推定され
る。
メットの外の損傷を受けていない信号値から推定され
る。
【００２０】ディテール信号がコメットの主方向への低
域通過フィルタリングおよびオリジナル信号からの減算
によって形成されると有利である。
域通過フィルタリングおよびオリジナル信号からの減算
によって形成されると有利である。
【００２１】補正は推定された目標値と推定されたディ
テール信号との加算によって行なうことができる。
テール信号との加算によって行なうことができる。
【００２２】本発明によれば、幾何学的解析はオンライ
ン又は校正の枠内でオフラインで実施できる。
ン又は校正の枠内でオフラインで実施できる。
【００２３】
【発明の実施の形態】以下において本発明を図面に示さ
れた実施例に基づいて詳細に説明する。
れた実施例に基づいて詳細に説明する。
【００２４】図７は本発明による補正装置を示す。図７
に示されているように、図１に示されたＸ線診断装置の
像システム６はオリジナル信号を供給される解析ユニッ
ト２４を有している。解析ユニット２４はＸ線像内にお
いてコメット擾乱が出現している擾乱個所を求める。こ
の場所はいわゆるコメットマップとしてメモリ２５内に
格納される。メモリ２５には、同様にオリジナル信号を
供給される補間段２６が接続されている。メモリ２５は
さらにオリジナル信号に対する低域通過フィルタ２７が
接続されている。減算段２８において、オリジナル信号
と低域通過フィルタ２７でフィルタリングされた信号と
の差を形成することによって、補正するべきオリジナル
信号から、擾乱個所で高域通過フィルタリングされたデ
ィテール（ｄｅｔａｉｌ）信号が得られ、このディテー
ル信号が加算段２９において補間段２６の出力信号に混
合される。
に示されているように、図１に示されたＸ線診断装置の
像システム６はオリジナル信号を供給される解析ユニッ
ト２４を有している。解析ユニット２４はＸ線像内にお
いてコメット擾乱が出現している擾乱個所を求める。こ
の場所はいわゆるコメットマップとしてメモリ２５内に
格納される。メモリ２５には、同様にオリジナル信号を
供給される補間段２６が接続されている。メモリ２５は
さらにオリジナル信号に対する低域通過フィルタ２７が
接続されている。減算段２８において、オリジナル信号
と低域通過フィルタ２７でフィルタリングされた信号と
の差を形成することによって、補正するべきオリジナル
信号から、擾乱個所で高域通過フィルタリングされたデ
ィテール（ｄｅｔａｉｌ）信号が得られ、このディテー
ル信号が加算段２９において補間段２６の出力信号に混
合される。
【００２５】図８に基づいて以下において本発明による
コメット補正方法を詳細に説明する。オリジナル信号３
０は幾何学的解析３１を行なわれ、これに基づいて像内
の擾乱個所が求められる。これはオンライン又はオフラ
インで行なうことができる。オフラインの場合、解析は
例えば校正の構成要素である。オンラインもオフライン
も擾乱画素を識別できるカード（マップ）３２を提供す
る。このいわゆるコメットマップ２１は図４に示されて
いる。この画素においてのみ補正が実施される。そ他の
全ての画素は変えられないまま残される。
コメット補正方法を詳細に説明する。オリジナル信号３
０は幾何学的解析３１を行なわれ、これに基づいて像内
の擾乱個所が求められる。これはオンライン又はオフラ
インで行なうことができる。オフラインの場合、解析は
例えば校正の構成要素である。オンラインもオフライン
も擾乱画素を識別できるカード（マップ）３２を提供す
る。このいわゆるコメットマップ２１は図４に示されて
いる。この画素においてのみ補正が実施される。そ他の
全ての画素は変えられないまま残される。
【００２６】本発明によるコメット補正方法はさらに擾
乱画素に対して補正に関する推定値を提供する目標値推
定３３から構成されている。ディテール（ｄｅｔａｉ
ｌ）推定３４はコメット内の有益なディテール信号に関
する推定値を提供する。それを用いて、目標値推定３３
の推定値が精密にされる。
乱画素に対して補正に関する推定値を提供する目標値推
定３３から構成されている。ディテール（ｄｅｔａｉ
ｌ）推定３４はコメット内の有益なディテール信号に関
する推定値を提供する。それを用いて、目標値推定３３
の推定値が精密にされる。
【００２７】目標値推定３３に対して例えばコメットを
取囲む良品の画素による補間を行なうことができる。デ
ィテール推定３４はコメットの主方向における低域通過
フィルタリングとオリジナル信号からの減算とによって
構成される。
取囲む良品の画素による補間を行なうことができる。デ
ィテール推定３４はコメットの主方向における低域通過
フィルタリングとオリジナル信号からの減算とによって
構成される。
【００２８】補正３５は推定された目標値と推定された
ディテール信号との加算によって構成される。補正３５
に基づいて補正された信号３６が得られ、この補正され
た信号３６は例えばコントロールモニタ７で再生でき
る。このＸ線像は、図５の擾乱されたＸ線像に対応し、
図６に示されている。
ディテール信号との加算によって構成される。補正３５
に基づいて補正された信号３６が得られ、この補正され
た信号３６は例えばコントロールモニタ７で再生でき
る。このＸ線像は、図５の擾乱されたＸ線像に対応し、
図６に示されている。
【００２９】図８に示された一般的なコメットアーチフ
ァクト補正方法は図１のＸ線撮影装置の内部にあるが検
出器に外にあるシステム解析に基づいている。残留信号
を復元する本発明によるコメット補正方法はソフトウエ
ア又はハードウエアとして像コンピュータで実現でき
る。
ァクト補正方法は図１のＸ線撮影装置の内部にあるが検
出器に外にあるシステム解析に基づいている。残留信号
を復元する本発明によるコメット補正方法はソフトウエ
ア又はハードウエアとして像コンピュータで実現でき
る。
【００３０】コメットの発生は作成過程での内在部分で
あるので、コメットを補正することは極めて大きい利点
である。というのは、補正を行わない場合当該検出器は
排除されねばならないからである。このコメットアーチ
ファクト補正は品質保証を果たす。
あるので、コメットを補正することは極めて大きい利点
である。というのは、補正を行わない場合当該検出器は
排除されねばならないからである。このコメットアーチ
ファクト補正は品質保証を果たす。
【００３１】本発明による装置および補正方法によっ
て、コメットにより擾乱された像範囲を残留信号の使用
によって復元できる。これによって、上述の像擾乱を有
する検出器を医用診断分野で使用できる。
て、コメットにより擾乱された像範囲を残留信号の使用
によって復元できる。これによって、上述の像擾乱を有
する検出器を医用診断分野で使用できる。
【図１】Ｘ線検出器を備えた公知のＸ線診断装置を示す
概略図
概略図
【図２】公知のＸ線検出器の斜視断面図
【図３】欠陥のある列と特定の個所においてそれに隣接
する列における擾乱とを有する像マトリックスの一部を
示す概略図
する列における擾乱とを有する像マトリックスの一部を
示す概略図
【図４】図３に示された欠陥のある像マトリックスから
抜粋したコメットマップを示す概略図
抜粋したコメットマップを示す概略図
【図５】コメット擾乱を有する補正されていない像を示
す概略図
す概略図
【図６】補正が行なわれた後の図５に対応する概略図
【図７】本発明による補正装置を示すブロック回路図
【図８】本発明による補正方法の構成を説明するための
図
図
１ 支持体 ２ Ｘ線放射器 ３ Ｘ線 ４ 支持体 ５ Ｘ線検出器 ６ 像システム ７ コントロールモニタ ８ 高電圧発生器 ９ 制御・データ線 １０ ガラス基板 １１ シンチレータ １２ 画素マトリックス １３ ホトダイオード １４ スイッチ １５ 行線 １６ 列線 １７ 行ドライバ １８ 増幅器 １９ 欠陥のある列 ２０ コメット ２１ コメットマップ ２２ ファントム ２３ コメット ２４ 解析ユニット ２５ コメットマップ用メモリ ２６ 補間段 ２７ 低域通過フィルタ ２８ 減算段 ２９ 加算段 ３０ オリジナル信号 ３１ 幾何学的解析 ３２ コメットマップ ３３ 目標値推定 ３４ ディテール推定 ３５ 補正 ３６ 補正された信号
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 シュテファン ベーム ドイツ連邦共和国 90513 チルンドルフ ネルケンシュトラーセ ５ (72)発明者 マルチン シュパーン ドイツ連邦共和国 91054 エルランゲン シュパールドルファー シュトラーセ 39アー (72)発明者 ボリス シュトヴァッサー ドイツ連邦共和国 91058 エルランゲン ゲッベルトシュトラーセ 94 Ｆターム(参考） 4C093 AA01 AA16 CA13 EB12 EB13 EB17 FA32 FC11 FC30 FD05 FD07 FD13 5B057 AA08 BA03 CA02 CA08 CA12 CA16 CB02 CB08 CB12 CB16 CE02 CH09
Claims (11)
- 【請求項１】 Ｘ線（３）を発生するＸ線機器（１，
２）と、Ｘ線を検出し電気信号に変換するＸ線検出器
（５）と、その電気信号を処理する像システム（６）
と、再生装置（７）とを備えたＸ線診断装置において、
像システム（６）が評価装置（２４，２５）を備えたコ
メットアーチファクト補正装置を有し、評価装置（２
４，２５）に目標値推定手段（２６）およびディテール
推定手段（２７，２８）が接続され、これらの推定手段
が擾乱個所で前記電気信号から目標値およびディテール
値を求め、推定手段（２６〜２８）の出力信号が補正段
（２９）に供給され、補正段（２９）が信号を構成する
ことを特徴とするＸ線診断装置。 - 【請求項２】 目標値推定手段が補間段（２６）である
ことを特徴とする請求項１記載のＸ線診断装置。 - 【請求項３】 ディテール推定手段（２７，２８）が選
択的高域通過フィルタ（２７）であることを特徴とする
請求項１又は２記載のＸ線診断装置。 - 【請求項４】 ディテール推定手段（２７，２８）が低
域通過フィルタ（２７）および減算段（２８）を有する
ことを特徴とする請求項１乃至３の１つに記載のＸ線診
断装置。 - 【請求項５】 Ｘ線機器によってＸ線像を作成し、演算
ユニットによってＸ線像を処理し、再生装置によってＸ
線像を表示するＸ線診断装置の作動方法において、コメ
ットアーチファクトを補正するために、 ｉ）コメットアーチファクトの幾何学的解析（３１）を
実施するステップと、 ｉｉ）解析結果を利用してオリジナル信号（３０）から
推定された目標値（３３）を求めるステップと、 ｉｉｉ）解析結果を利用してオリジナル信号（３０）か
ら推定されたディテール信号（３４）を求めるステップ
と、 ｉｖ）推定された目標値（３３）と推定されたディテー
ル信号（３４）とに基づいて補正（３５）を行なうステ
ップとを有することを特徴とするＸ線診断装置の作動方
法。 - 【請求項６】 ステップｉ）がカード（３２）内にコメ
ットの一般的識別を含んでいることを特徴とする請求項
５記載の作動方法。 - 【請求項７】 目標値（３３）が補間によってコメット
の外の損傷を受けていない信号値から推定されることを
特徴とする請求項５又は６記載の作動方法。 - 【請求項８】 ディテール信号（３４）がコメットの主
方向への低域通過フィルタリングおよびオリジナル信号
からの減算によって形成されることを特徴とする請求項
５乃至７の１つに記載の作動方法。 - 【請求項９】 補正（３５）が推定された目標値（３
３）と推定されたディテール信号（３４）との加算によ
って行なわれることを特徴とする請求項５乃至８の１つ
に記載の作動方法。 - 【請求項１０】 幾何学的解析（３１）がオンラインで
実施されることを特徴とする請求項５乃至９の１つに記
載の作動方法。 - 【請求項１１】 幾何学的解析（３１）が校正の枠内で
オフラインで実施されることを特徴とする請求項５乃至
９の１つに記載の作動方法。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE10106907A DE10106907C2 (de) | 2001-02-13 | 2001-02-13 | Röntgendiagnostikeinrichtung mit Mitteln und Verfahren zur Korrektur von Kometenartefakten |
| DE10106907.3 | 2001-02-13 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2002315742A true JP2002315742A (ja) | 2002-10-29 |
| JP4242100B2 JP4242100B2 (ja) | 2009-03-18 |
Family
ID=7674050
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2002031741A Expired - Fee Related JP4242100B2 (ja) | 2001-02-13 | 2002-02-08 | Ｘ線診断装置およびｘ線診断装置におけるコメットアーチファクトの補正方法 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US6655836B2 (ja) |
| JP (1) | JP4242100B2 (ja) |
| DE (1) | DE10106907C2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006517826A (ja) * | 2003-02-05 | 2006-08-03 | コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ | 定量解析の精度表示 |
| JP2010022562A (ja) * | 2008-07-18 | 2010-02-04 | Fujifilm Corp | 信号ライン方法および装置 |
Families Citing this family (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7650046B2 (en) * | 2004-08-31 | 2010-01-19 | Agfa Healthcare | Method of correcting artifacts in an image signal |
| US7471767B2 (en) * | 2006-05-03 | 2008-12-30 | Siemens Medical Solutions Usa, Inc. | Systems and methods for determining image acquisition parameters |
| US7881555B2 (en) * | 2006-08-29 | 2011-02-01 | Siemens Medical Solutions Usa, Inc. | Methods and systems for reducing bright burn in images |
| US7474731B2 (en) * | 2006-08-29 | 2009-01-06 | Siemens Medical Solutions Usa, Inc. | Systems and methods for adaptive image processing using acquisition data and calibration/model data |
| DE102015213911B4 (de) * | 2015-07-23 | 2019-03-07 | Siemens Healthcare Gmbh | Verfahren zum Erzeugen eines Röntgenbildes und Datenverarbeitungseinrichtung zum Ausführen des Verfahrens |
Family Cites Families (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR2527878A1 (fr) | 1982-05-28 | 1983-12-02 | Thomson Brandt | Circuit de traitement de signal pour camera de television a detecteur matriciel d'image affecte de defauts localises |
| DE19527148C1 (de) * | 1995-07-25 | 1997-01-09 | Siemens Ag | Verfahren zum Betrieb eines digitalen Bildsystems einer Röntgendiagnostikeinrichtung |
| WO1997023090A2 (en) * | 1995-12-18 | 1997-06-26 | Philips Electronics N.V. | X-ray examination apparatus including an image sensor matrix with a correction unit |
| WO1998005003A1 (en) * | 1996-07-30 | 1998-02-05 | Philips Electronics N.V. | Correction for ring-like image artefacts |
| FR2786648B1 (fr) * | 1998-11-30 | 2001-01-05 | Commissariat Energie Atomique | Procede de correction des defauts d'images issues d'un detecteur de rayons x ou y de type matriciel |
| DE19860036C1 (de) * | 1998-12-23 | 2000-03-30 | Siemens Ag | Verfahren zum Reduzieren von spalten- oder zeilenkorreliertem bzw. teilspalten- oder teilzeilenkorreliertem Rauschen bei einem digitalen Bildsensor sowie Vorrichtung zur Aufnahme von Strahlungsbildern |
| US6118846A (en) * | 1999-02-23 | 2000-09-12 | Direct Radiography Corp. | Bad pixel column processing in a radiation detection panel |
| US6381357B1 (en) * | 1999-02-26 | 2002-04-30 | Intel Corporation | Hi-speed deterministic approach in detecting defective pixels within an image sensor |
-
2001
- 2001-02-13 DE DE10106907A patent/DE10106907C2/de not_active Expired - Fee Related
-
2002
- 2002-02-08 JP JP2002031741A patent/JP4242100B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2002-02-13 US US10/074,981 patent/US6655836B2/en not_active Expired - Fee Related
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006517826A (ja) * | 2003-02-05 | 2006-08-03 | コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ | 定量解析の精度表示 |
| JP2010022562A (ja) * | 2008-07-18 | 2010-02-04 | Fujifilm Corp | 信号ライン方法および装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| DE10106907C2 (de) | 2003-06-26 |
| US6655836B2 (en) | 2003-12-02 |
| US20020150216A1 (en) | 2002-10-17 |
| DE10106907A1 (de) | 2002-08-29 |
| JP4242100B2 (ja) | 2009-03-18 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP6853729B2 (ja) | 放射線撮像装置、放射線撮像システム、放射線撮像装置の制御方法及びプログラム | |
| US6904126B2 (en) | Radiological imaging apparatus and method | |
| EP1487193B1 (en) | Method and apparatus for correcting defect pixels in radiation imaging, computer program and computer-readable recording medium | |
| JP3950852B2 (ja) | 固体ｘ線検出器においてラインアーチファクトを識別し、修正する方法及び装置 | |
| JP2003198937A (ja) | Ｘ線検出器モニタリング | |
| JP2002281384A (ja) | 医学検査装置の画像システムの作動方法及び医学検査装置 | |
| JP2004041718A (ja) | アモルファスシリコンフラットパネル検出器の複数のオフセット修正を収集し且つ格納する方法及び装置 | |
| US6351519B1 (en) | Method for compensating the dark current of an electronic sensor having several pixels | |
| JP2001099944A (ja) | 放射線検出器のノイズリダクション方法、放射線検出器、放射線診断装置 | |
| WO2011119478A2 (en) | Transient pixel defect detection and correction | |
| JP2001189891A (ja) | センサのセンサ要素を読み出す方法及びセンサ | |
| JP4325788B2 (ja) | デジタル検出器においてデータ収集速度を増加させる方法及び装置 | |
| EP1120744B1 (en) | Correction of defective pixels in a detector | |
| JP4242100B2 (ja) | Ｘ線診断装置およびｘ線診断装置におけるコメットアーチファクトの補正方法 | |
| TW200948053A (en) | Solid-state imaging device and frame data correcting method | |
| JP2002186606A (ja) | インスタント像を作成するためのｘ線診断装置の作動方法 | |
| JP4640136B2 (ja) | Ｘ線診断装置 | |
| JP2006304213A (ja) | 撮像装置 | |
| JP2004080749A (ja) | 放射線撮像装置及び放射線撮像方法 | |
| JP2001066368A (ja) | 放射線撮像装置 | |
| JP2003130957A (ja) | Ｘ線フラットパネル検出器のラグ補正方法およびその装置並びにｘ線検査装置 | |
| US7415097B2 (en) | Method for recording correction frames for high energy images | |
| TWI458344B (zh) | Solid - state camera device and frame data correction method | |
| JP4500101B2 (ja) | Ｘ線ｃｔ装置 | |
| JP4746808B2 (ja) | 露光制御付きｘ線診断装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20050203 |
|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20070727 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20070816 |
|
| A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20071115 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20080626 |
|
| A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20080707 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20080731 |
|
| A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20081031 |
|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20081127 |
|
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20081224 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120109 Year of fee payment: 3 |
|
| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130109 Year of fee payment: 4 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |