JP2002314426A - シグマ−デルタ変調器を動作させる方法及びシグマ−デルタ変調器 - Google Patents

シグマ−デルタ変調器を動作させる方法及びシグマ−デルタ変調器

Info

Publication number
JP2002314426A
JP2002314426A JP2001400180A JP2001400180A JP2002314426A JP 2002314426 A JP2002314426 A JP 2002314426A JP 2001400180 A JP2001400180 A JP 2001400180A JP 2001400180 A JP2001400180 A JP 2001400180A JP 2002314426 A JP2002314426 A JP 2002314426A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
signal
sigma
delta modulator
amplitude
input
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP2001400180A
Other languages
English (en)
Inventor
Vesa J Korkala
イー.コルカラ ベサ
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nokia Oyj
Original Assignee
Nokia Oyj
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nokia Oyj filed Critical Nokia Oyj
Publication of JP2002314426A publication Critical patent/JP2002314426A/ja
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03MCODING; DECODING; CODE CONVERSION IN GENERAL
    • H03M3/00Conversion of analogue values to or from differential modulation
    • H03M3/30Delta-sigma modulation
    • H03M3/322Continuously compensating for, or preventing, undesired influence of physical parameters
    • H03M3/324Continuously compensating for, or preventing, undesired influence of physical parameters characterised by means or methods for compensating or preventing more than one type of error at a time, e.g. by synchronisation or using a ratiometric arrangement
    • H03M3/326Continuously compensating for, or preventing, undesired influence of physical parameters characterised by means or methods for compensating or preventing more than one type of error at a time, e.g. by synchronisation or using a ratiometric arrangement by averaging out the errors
    • H03M3/328Continuously compensating for, or preventing, undesired influence of physical parameters characterised by means or methods for compensating or preventing more than one type of error at a time, e.g. by synchronisation or using a ratiometric arrangement by averaging out the errors using dither
    • H03M3/3287Continuously compensating for, or preventing, undesired influence of physical parameters characterised by means or methods for compensating or preventing more than one type of error at a time, e.g. by synchronisation or using a ratiometric arrangement by averaging out the errors using dither the dither being at least partially dependent on the input signal
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03MCODING; DECODING; CODE CONVERSION IN GENERAL
    • H03M3/00Conversion of analogue values to or from differential modulation
    • H03M3/30Delta-sigma modulation
    • H03M3/322Continuously compensating for, or preventing, undesired influence of physical parameters
    • H03M3/324Continuously compensating for, or preventing, undesired influence of physical parameters characterised by means or methods for compensating or preventing more than one type of error at a time, e.g. by synchronisation or using a ratiometric arrangement
    • H03M3/326Continuously compensating for, or preventing, undesired influence of physical parameters characterised by means or methods for compensating or preventing more than one type of error at a time, e.g. by synchronisation or using a ratiometric arrangement by averaging out the errors
    • H03M3/328Continuously compensating for, or preventing, undesired influence of physical parameters characterised by means or methods for compensating or preventing more than one type of error at a time, e.g. by synchronisation or using a ratiometric arrangement by averaging out the errors using dither
    • H03M3/33Continuously compensating for, or preventing, undesired influence of physical parameters characterised by means or methods for compensating or preventing more than one type of error at a time, e.g. by synchronisation or using a ratiometric arrangement by averaging out the errors using dither the dither being a random signal
    • H03M3/332Continuously compensating for, or preventing, undesired influence of physical parameters characterised by means or methods for compensating or preventing more than one type of error at a time, e.g. by synchronisation or using a ratiometric arrangement by averaging out the errors using dither the dither being a random signal in particular a pseudo-random signal
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03MCODING; DECODING; CODE CONVERSION IN GENERAL
    • H03M3/00Conversion of analogue values to or from differential modulation
    • H03M3/30Delta-sigma modulation
    • H03M3/39Structural details of delta-sigma modulators, e.g. incremental delta-sigma modulators
    • H03M3/412Structural details of delta-sigma modulators, e.g. incremental delta-sigma modulators characterised by the number of quantisers and their type and resolution
    • H03M3/422Structural details of delta-sigma modulators, e.g. incremental delta-sigma modulators characterised by the number of quantisers and their type and resolution having one quantiser only
    • H03M3/43Structural details of delta-sigma modulators, e.g. incremental delta-sigma modulators characterised by the number of quantisers and their type and resolution having one quantiser only the quantiser being a single bit one

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Compression, Expansion, Code Conversion, And Decoders (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 量子化器を含むタイプのシグマ−デルタ変調
器を動作させるための方法を提供する。 【解決手段】 この方法は、(a)シグマ−デルタ変調
器(10)に対する入力信号の振幅をサンプリングする
段階、及び(b)量子化器(14)の入力端でディザー
信号を生成するため入力信号のサンプリングされた振幅
に従って、スイッチドキャパシタンスバンク(20)の
切換えを制御する段階を有する。このディザー信号は、
入力信号のサンプリングされた振幅に反比例する擬似ラ
ンダム振幅を有するように生成される。制御及び生成の
段階は、前記キャパシタンスバンクの複数のキャパシタ
ンスのうちの個々のキャパシタンスをキャパシタンスネ
ットワークのイン及びアウトに切換えるべく線形フィー
ドバックシフトレジスタを動作させる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、シグマ−デルタ
(SD)変調器、より特定的には、アナログ−デジタル
変換器回路内で使用され、その性能を改善するためにデ
ィザー信号を利用するSD変調器に関する。
【0002】
【従来の技術】アナログ−デジタル変換器(ADC)に
おいて使用されるSD変調器は、当該技術分野において
周知である。例えば、S.R.Norsworthy et al.,「デ
ルタ−シグマデータ変換器」IEEE Press, NY, 19
97及び J.G. Proakis et al., 「デジタル信号処理」
第3版、Prentice-Hall,1996を参照することができ
る。
【0003】従来のSD変調器は、トーンすなわち入力
信号の振幅及び周波数の関数である振幅及び周波数をも
つ周期的変動として現われる望ましくない信号の生成に
悩まされていることがわかっている。トーンは、特に入
力信号の振幅及び周波数が低いとき、量子化雑音がつね
にランダムでないことを主たる理由として生成される。
この問題を克服するための従来の技術は、入力信号に付
加されるディザー信号の使用である。この点に関して
は、M. Zarubinsky et al. による米国特許第5,88
9,482号、「ディザーを用いたアナログ−デジタル
変換器及びアナログ信号をデジタル信号に変換するため
の方法」を参照することができる。Zarubinsky et al.
のアプローチは、SD変調器内にディザー信号を付加
し、次にADCの出力端子に到達する前に該ディザー信
号をキャンセルするか又は抑制することにある。この技
術は、高い信号雑音比(SNR)を保存し、出力信号内
に低いスペクトルトーンしか提供しないものであると言
われている。変換器に対する入力信号が小さな振幅を有
する場合には、シグマ−デルタ変調器の出力端における
信号はディザー信号Dと高レベルの相関関係をもつ。入
力信号が、最大許容振幅に近い場合、変調器はディザー
信号を部分的に抑制し、出力信号は実質的に非線形ひず
みのない状態にとどまる。
【0004】Zarubinsky et al.の図4Bは、最大値と
最小値の間の異なる大きさをもつマルチレベル信号であ
りうるディザー信号Dを示している。ディザー信号の大
きさは、BDとして表現され、これは1つの時間的間隔
全体にわたり一定にとどまり、ここでステップ指標nは
ランダムに変動する。
【0005】ディザー信号、特に一定の振幅をもつディ
ザー信号の使用がもつ欠点は、SD変調器に対する入力
端における最大許容入力信号が、量子化器の過負荷の確
率の増大に伴って低下するという点にある。その最終的
結果は、ADCのダイナミックレンジの低下である。
【0006】ディザー信号の使用がADCのダイナミッ
クレンジに不利な影響を与えず、集積回路面積を効率良
く利用し少ない電力消費量で動作するような形でディザ
ー信号が生成される、改善されたシグマ−デルタ変調器
及びディザー信号、特にスイッチドキャパシタ(SC)
型SD変調器ならびに連続時間型SD変調器を提供する
必要性が存在している。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】本発明の第1の目的及
び利点は、改善されたシグマ−デルタ変調器を提供する
ことにある。
【0008】本発明のさらなる目的及び利点は、ディザ
ー信号の使用に起因するダイナミックレンジの多大な低
下を生ずることのない改良型シグマ−デルタ変調器を提
供することにある。
【0009】
【課題を解決するための手段】本発明の実施形態に従っ
た方法及び装置によって、前述の及びその他の問題は克
服され、前述の目的及び利点が実現される。
【0010】本発明の教示は、SD変調器に対する入力
信号の振幅の関数である振幅をもつディザー信号を利用
する、複雑でない単一ビットSD変調器の実施形態を提
供している。本発明の教示は同様に、多重ビットSD変
調器にもあてはまる。これらの実施形態においては、S
D変調器の量子化器の入力端に対しディザー信号として
擬似ランダム雑音が付加され、擬似ランダム雑音の振幅
は、入力信号の振幅に反比例するような形で制御され
る。すなわち、ディザー信号の振幅は、入力信号の振幅
が最大であるとき最小であり、その逆も又成り立つ。
【0011】現在好まれている実施形態においては、量
子化器の入力ノードに結合された電圧可変キャパシタン
スバンクの入力端に対する電圧電位の切換えを制御する
ためにそれ自体使用される擬似ランダムコードシーケン
スを生成するために、少なくとも1つの線形フィードバ
ックシフトレジスタ(LFSR)が使用されている。量
子化器の入力ノードでのキャパシタンスの変動は、量子
化器入力信号の電圧遷移を生成し、かくして入力信号を
量子化器にディザーする。
【0012】本発明のさらなる実施形態においては、入
力信号の瞬間的振幅は、少なくとも1つのLFSRへの
クロック信号を制御する少なくとも1つの複雑でないウ
ィンドウ検出器で量子化される。
【0013】量子化器を含むタイプのシグマ−デルタ変
調器を動作させる方法が開示されている。この方法は、
(a)シグマ−デルタ変調器に対する入力信号の振幅を
サンプリングする段階、及び(b)量子化器の入力端で
ディザー信号を生成するため入力信号のサンプリングさ
れた振幅に従って、キャパシタンスバンクの切換えを制
御する段階を有する。このディザー信号は、入力信号の
サンプリングされた振幅に反比例する擬似ランダム振幅
を有するように生成される。
【0014】制御及び生成の段階は、前記キャパシタン
スバンクの複数のキャパシタンスのうちの個々のキャパ
シタンスをキャパシタンスネットワークのイン及びアウ
トに切換えるべく線形フィードバックシフトレジスタを
動作させる。
【0015】1つの実施形態では、少なくとも1つの線
形フィードバックシフトレジスタを動作させる段階は、
入力信号の振幅の関数として線形フィードバックシフト
レジスタのクロック信号をオン及びオフに切換える。好
ましくはサンプリング段階は、キックバック雑音の発生
を防ぐために入力信号をサンプリングする。
【0016】1つの実施形態では、サンプリング段階は
少なくとも1つのウィンドウ検出器を動作させ、ディザ
ー信号は、入力信号の振幅と少なくとも1つのウィンド
ウ検出器の電圧閾値の間の関係に応じてオフ及びオンに
切換えられる。
【0017】もう1つの実施形態では、サンプリング段
階は、整流された出力信号を提供するべく量子化器への
入力信号を整流する整流器を動作させ、制御及び生成の
段階は、量子化器の入力端とキャパシタンスバンクの間
で移送される電流量を制御するためキャパシタンスバン
クに対し整流された出力信号を擬似ランダムに印加す
る。
【0018】これらの実施形態の両方において、ディザ
ー信号の存在は、入力信号の振幅が大きいときにSD変
調器の性能を劣化させることなく、トーンが最も邪魔で
あるとき(すなわち入力信号が欠如しているか又は低レ
ベルにあるとき)に出力信号中の望ましくないトーンを
低減させる。
【0019】ディザー信号は開示されている実施形態の
両方において本質的にランダムか又は擬似ランダムであ
ることから、実現に際しては、単純であると同時に精確
を要しない回路を使用することができ、かくして、必要
とされる集積回路面積及び電力消費量が低減される。こ
れらは、手持ち式セルラー電話及びパーソナルコミュニ
ケータといったような大量生産されるバッテリ式消費者
製品においてSD変換器及びADCを使用するときに重
要な考慮事項である。
【0020】
【発明の実施の形態】図1を参照すると、本発明の教示
に従って動作するシグマ−デルタ変調器(SDM)10
が示されている。SDM10は、アナログ入力信号を受
信するための入力ノード及び(1ビット又は多重ビッ
ト)デジタル出力信号を出力するための出力ノードを含
んでいる。入力信号はループフィルタ12に印加され、
またループフィルタから量子化器14に印加される。ル
ープフィルタ12は、1つの積分器を含むことができ、
あるいはまたより高い確率で、所望のより高次のろ波
(例えば3次又は4次以上)を達成するため直列接続さ
れた複数の積分器を含むことができる。入力信号はま
た、第1の実施形態(図2および3)においてはスイッ
チドキャパシタバンク20に振幅制御信号を出力し、第
2の実施形態(図6)では、擬似ランダム信号発生器ブ
ロック18に対しクロック制御信号を出力する振幅測定
ブロック16にも印加される。擬似ランダム電流発生器
ブロック18の出力は、スイッチドキャパシタバンク2
0に印加されるディザー制御信号である。スイッチドキ
ャパシタバンク20の出力は、量子化器14の第2の入
力端に印加される。いずれの実施形態についてもその動
作の効果は、入力信号の振幅に反比例するような形で擬
似ランダム雑音の振幅が制御されるように、量子化器1
4の入力端において、擬似ランダム雑音すなわちディザ
ー信号を付加することにある。すなわちディザー信号の
振幅は、入力信号の振幅が最大であるとき最小であり、
その逆も成り立つ。
【0021】かくして、本発明の教示は、単一ビットの
スイッチドキャパシタSD変調器において入力信号依存
型ディザリングを実現するための単純でかつ費用効果性
のある技術を提供している。
【0022】図2に描かれている第1の実施形態を参照
すると、電圧比較器として示されている量子化器14の
入力端に対しキャパシタとして複数のPMOSトランジ
スタM1〜M6が接続されている。代替的には、複数の
実際のキャパシタを、単独で又はトランジスタM1〜M
6と組合わせた形で使用することができる。M1〜M6
のゲート端子は、線形フィードバックシフトレジスタ
(LFSR)22によって制御される。LFSR22
は、図1の擬似ランダム信号発生器18を実現するため
フィードバック論理23に結合され、既知の要領で擬似
ランダムシーケンスを生成するように動作する。好まし
い実施形態においては、LFSR22により使用される
コードは白色スペクトルを伴う最大長コードであるが、
信号バンド内でのディザー雑音を低減させる利点を有し
得ることから、カラーコードを利用することも可能であ
る。
【0023】SDM10の差動入力信号は又、整流器2
4に対しても入力されるものとして示されている。これ
は、整流器24への入力が好ましくは、実際には多次数
のループフィルタ12からなる積分器の連鎖での最終の
積分器である積分器26の出力端から得られることか
ら、図11に関して以下でさらに詳しく説明されるよう
に、1つの簡略化である。
【0024】この第1の実施形態においては、整流器2
4は図1の振幅測定ブロック16を実現し、整流器24
の1つの適切な実施形態の回路図が図3に示されてい
る。差動入力信号及び整流器24の出力の依存性は図4
及び5に示されており、これらの図中、入力信号は実線
で、また整流器の出力は破線で示されている。図4及び
5は、入力信号の振幅が小さくなるにつれて整流器24
の出力電圧が大きくなり、その逆も成立することを示し
ている。整流器24の出力端は、その各々がLFSR2
2の出力(DFF1−DFF6)の1つによって制御さ
れている単極双投(SPDT)スイッチS1〜S6を介
してPMOSトランジスタM1〜M6のゲート端子に結
合されている。スイッチS1〜S6の1組の入力端子が
回路グラウンドに接続され、一方スイッチS1〜S6の
もう1組の入力端子は整流器24の出力端に接続されて
いる。M1〜M6の短絡したソース−ドレイン端子(M
1〜M6がキャパシタとして機能するということに留意
されたい)は、量子化器14の入力端に並列に接続さ
れ、M1〜M3はVin+量子化器入力端子に接続され、
M4〜M6はVin−量子化器入力端子に接続されてい
る。その他の実施形態においては、6個以上又はそれ以
下のPMOS FETを使用し、LFSR22のDFF
出力のうちの6つ以上又は以下により制御されるスイッ
チを通してそれらを接続することができる。トランジス
タM1〜M6のチャネル電荷は、量子化器14の入力ノ
ードから取られ、電荷の移動が量子化器14の入力ノー
ドにおける電圧の変化をひき起こす。入力信号の振幅が
上昇すればするほど、M1〜M6により表わされるキャ
パシタンスのチャージは少なくなり、対応する電圧変化
又は量子化器14の入力ノードにおける変動は小さくな
る。
【0025】この第1の実施形態をここでより詳しく説
明すると、整流器24の出力電圧の大きさは、単純さを
期してSDM10の差動入力信号として示されている、
入力信号の絶対値によって左右される。SDM10の入
力信号は実際には、ループフィルタ12の最終の積分器
であるものとみなすことのできる積分器26に間接的に
印加される。積分器26の差動出力は、量子化器14の
差動入力ノードを駆動する。図4及び5に示されている
ように差動信号が大きいとき、整流器24の出力も大き
く、その逆も成り立つ。整流器24の出力電圧は、スイ
ッチS1〜S6を通してPMOSトランジスタM1〜M
6のゲート端子に接続され、その切換え状態は、LFS
R22の6つのDFFからのタップにより制御されてい
る。その結果、PMOSトランジスタM1〜M6のチャ
ネル電荷は、SDM10の入力信号によって左右され
る。電荷は、量子化器14の入力ノードから抽出される
か又はこの中に注入され、ここでそれは電圧ステップを
ひき起こし、その大きさは、量子化器の入力ノードとM
1〜M6の各チャネルの間でどれほどの電荷が前後に移
動しているかに左右される。同じ電荷が量子化器の入力
ノードとトランジスタのチャネルの間で移動させられる
ことから、整流器24内以外では電流消費が全く無い、
という点に留意されたい。図5に示されているように、
SDM10の入力信号の振幅が最大であるとき、電荷の
移動が量子化器の入力端の両方のノード(Vin+及びV
in−)で発生し、かくしてディザー信号は最も有効であ
る。SDM10の入力信号の振幅が減少するにつれて、
量子化器のノードの一方のみがディザーされ、それに対
応して電荷の移動は減少する。
【0026】PMOSトランジスタM1〜M6は、その
ゲート−ソース電圧がPMOSトランジスタの閾値電圧
Vtpよりも高い場合にのみチャネル電荷を有する。有効
電圧Veffが大きくなればなるほど、より多くのPMO
SトランジスタM1〜M6がチャージされ、量子化器1
4に対する入力端における誘導されたディザー信号の大
きさは大きくなる。
【0027】一例としては、M1〜M6のための1つの
適切なチャネル幅は約2マイクロメートルであってよ
く、適切なチャネル長は約1マイクロメートルである。
当業者であれば、M1〜M6のチャネル幅及び長さを設
計するとき考慮すべきパラメータとしては、供給電圧、
使用すべき集積回路技術、所望のディザー信号の大きさ
ならびに整流器24の出力端における信号の揺れの予想
上の大きさがある、ということがわかるだろう。
【0028】LFSR22は、擬似ランダムコードを生
成し、一連のデータフリップフロップ(DFF)及びX
ORゲートで構成され得るフィードバック論理23で適
切に実現される。PMOSトランジスタゲートM1〜M
6は、スイッチS1〜S6を介してLFSR22によっ
て制御され、スイッチ制御信号は、好ましくはLFSR
22の任意のロケーションからとられる。
【0029】レジスタ(R)は、電荷の移動から電圧ス
テップを生成するべく積分器26の出力ノードと量子化
器14の入力ノードの間に直列接続される。積分器24
を実現するのに使用された増幅器は、好ましくは演算相
互コンダクタンス(Tranconductance)
増幅器(OTA)タイプであり、抵抗器R無しで増幅器
は、量子化器14の入力ノードで望ましい電圧ステップ
を生成することなく直ちに移動する電荷を吸収すること
になる。好ましい実施形態においては、抵抗器R及びP
MOSトランジスタM1〜M6のキャパシタンスCの結
果として得られるRC時定数は小さく、かくして、積分
器26の整定特性に対し無視できるほどの影響しかもた
ない。電圧ステップの振幅及びその時定数は、PMOS
トランジスタM1〜M6のチャネルのサイズを変更し、
かつ/又は抵抗器(R)の値を調整することによって容
易に変更可能である。整流器24のDCレベル及び出力
の揺れも、望ましい場合には変動可能である。
【0030】LFSR22の擬似ランダムシーケンス
は、好ましくは長さが少なくとも1秒であり、それより
長くてもよい。このようにして、必要とされるDFFの
合計数は、クロック周波数の関数である。一例として
は、3MHzのクロック周波数を仮定すると、1.398
秒のLFSR周期を得るのに22のDFFを使用するこ
とが可能である。
【0031】低い過剰サンプリング比(例えば4)を伴
う4次のSDMといったような多次のSDM10の場合
については、4次のループフィルタ12を通過する信号
が量子化器14への入力端において過度に大きい遅延を
受けることになる可能性が存在する。それでも、PMO
SトランジスタM1〜M6のチャージを制御する、整流
器24を制御する入力信号についての遅延は、ほとんど
全く存在しない。従って、ディザー信号が実際の入力信
号より進みうる可能性が存在する。この条件は、量子化
器14によるトーンの生成を防ぐことなく、SNRに対
する不利な影響を及ぼすことになる。
【0032】この問題は、整流器24への入力が、より
高次のループフィルタ12を実現する一連の積分器のう
ちの最終の積分器26の差動出力から取られる、図11
に示された実施形態によって克服される。最終の積分器
26の差動出力は当然、SDM10の差動入力信号に追
従し、この点から整流器24の入力を取ることにより、
(整流器24内の遅延が実質的に無視できるものである
ことを仮定して)ディザー信号は量子化器14の入力端
で正しくタイミングされる。最終の積分器26の出力は
基本的に量子化された信号であるものの、これは、SD
M10の入力信号の大きさに対するディザー信号の大き
さの依存性に不利な影響を及ぼすものではない。
【0033】ここで図6を参照すると、これらの教示に
従った第2の実施形態が示されている。この実施形態に
おいて、図1の振幅測定ブロック16は少なくとも1つ
の電圧ウィンドウ検出器28を用いて実現されており、
この検出器は、擬似ランダム信号発生器18に対してク
ロック制御信号を提供している(振幅測定ブロック16
のチャージ制御出力は存在しない)。
【0034】より特定的には、SDM10の入力信号
は、少なくとも1つのウィンドウ検出器(WD)28に
印加される。WDの数は、図8および9に関して以下に
説明されているように、入力信号の振幅に対するディザ
ー信号の依存性の精度を増大させるべく、1以上であり
得る。ディザー信号とSDM10への入力信号との依存
性を示すグラフが、(1つのウィンドウ検出器28のケ
ースについて)図7に示されており、図12は、このウ
ィンドウ検出器28の適切な実施形態を示している。ウ
ィンドウ検出器28は、スイッチS7及びS8によりサ
ンプリングキャパシタンスC上にサンプリングされる入
力信号の振幅を量子化する。ウィンドウ検出器28は精
確である必要はなく、図12に示されているように、再
生可能な(regenerative)負荷及びNOR
ゲートを伴う2つの差動トランジスタ対から成る小型で
低電流の構造を使用することができる。ウィンドウ検出
器28の出力は、ANDゲート30を介して、LFSR
22に対するクロック(CLK)信号の印加を制御す
る。ウィンドウ検出器28に対する電圧閾値(±Vth)
は、抵抗器又はダイオード接続されたMOSトランジス
タの連鎖(図示せず)を用いて生成可能である。電圧閾
値は精確である必要はなく、小型構造を使用することが
できるようになっている。入力信号Vinの振幅がウィン
ドウ検出器28に印加される閾値電圧の範囲内に入るか
ぎり、ウィンドウ検出器はANDゲート30に対しイネ
ーブル信号を出力し、このゲートが次にクロックをLF
SR22に渡す。ウィンドウ検出器28がディザーが必
要とされないことを見極めた時点で、ウィンドウ検出器
28は、ANDゲート30を介してLFSR22への入
力クロックをディスエーブルすることによってLFSR
22を停止させる。この実施形態においては、図2およ
び3の実施形態の場合と同様、LFSR22はスイッチ
S1〜S6を介してトランジスタM1〜M6を制御す
る。しかしながら、この実施形態においては、M1〜M
6のゲート端子は、LFSR22のDFFタップDFF
1−DFF6タップにより生成された制御信号に応じ
て、グラウンド電位又はいくらかのその他の(一定の)
電位例えばVddのいずれかに接続される。
【0035】より特定的には、入力信号Vinは、ウィン
ドウ検出器28からのキックバック雑音を回避するため
S7を閉じることにより(S8は開放)小型キャパシタ
C上にサンプリングされ、その後S7は開かれS8が閉
じられる。Cの両端に現われるサンプリングされた入力
電圧は、S8を通してウィンドウ検出器28のVin端子
に印加され、該検出器28はサンプリングされた振幅を
量子化して、LFSR22のクロッキングを制御する。
入力信号の振幅が充分に大きい、すなわちウィンドウ検
出器28のウィンドウ閾値の外側にある場合、いかなる
ディザーも必要とされず、ウィンドウ検出器の出力は、
ANDゲート30を介してLFSR22へのクロックを
停止させる。一例を挙げると、ウィンドウ検出器の閾値
+Vth及び−Vthは、(図6にあるような1つのウィン
ドウ検出器28の使用を仮定して)最大の予想された正
及び負の入力信号振幅エクスカーションよりも約50%
低くセットされ得る。かくして、SDM10への入力信
号の振幅に対するディザー信号の依存性は、図2および
3の実施形態の場合にそうであったように、PMOSト
ランジスタM1〜M6の可変チャネル電荷を用いてでは
なく、単数又は複数のウィンドウ検出器28を用いて制
御される。その代り、この実施形態においては、そして
ディザーが必要とされる場合にのみ、キャパシタ接続さ
れたPMOSトランジスタM1〜M6のゲート端子が、
LFSR22により生成された制御信号に応じて、Vdd
と回路グラウンドの間で擬似ランダムに切換えられる。
しかしながら、量子化器14の入力ノードにある可変の
数のキャパシタンスのイン及びアウトの切換えは、望ま
しいディザー信号を形成する一定でない振幅の過渡電圧
が生成されることから、図2および3の実施形態の場合
と実質的に同じ効果をもつ。
【0036】図8および9は、ディザー信号の大きさに
対し図6の実施形態に比べさらに微細な制御が達成され
る実施形態を例示している。これは、28A,28B,
及び28C(まとめてウィンドウ検出器28と呼ばれ
る)と呼称されている3つのような複数のウィンドウ検
出器を提供することによって達成される。ウィンドウ検
出器28の各々は、22A,22B及び22Cと呼称さ
れる(まとめてLFSR22と呼ばれる)対応するLF
SR22、及びフィードバック論理23A,23B及び
23Cと関連付けられている。ウィンドウ検出器28の
各々は、図10にも示されているように、異なる1組の
閾値電圧±Vth1,±Vth2、及びVth3で動作する。
この実施形態においては、LFSR22の長さは好まし
くは異なっており、異なるコード反復周期を提供し、最
大長さは、図6の単一のLFSRの実施形態の場合より
も短かいものであってよい。ウィンドウ検出器28の各
々は、付随するANDゲート30A,30B,30Cを
介して、それぞれ付随するLFSR22A,22B,2
2Cに印加されるクロック信号のオン/オフ状態を制御
する。
【0037】動作中、そしてウィンドウ検出器28への
入力信号がVth1と、Vth2の間にあるとき(図10参
照)、LFSR22Aのみがランしている(LFSR2
2B及び22Cに対するクロックがオフにゲートされ
る)。2つの制御信号DFF1及びDFF6がLFSR
22Aから取られ、かくして量子化器14の差動入力ノ
ードの各々に対し最小量のディザーを印加する。入力信
号の大きさがゼロに向かって減少するにつれて、まずは
LFSR22Bがそして次にLFSR22Cがランし始
め、かくしてより多くのディザー信号を量子化器14の
入力ノード内に注入する。
【0038】LFSR22Aのみがランしているとき、
SDM10のSNR及び出力スペクトルの影響を最小限
しか受けない最少量のディザーが生成される。そのた
め、LFSR22Aの長さが重要でないということがわ
かる。残りのLFSR22B及び22Cは好ましくはさ
らに短かい。例えば、クロック信号が3MHzである場
合、LFSR22Aが22個のDFF段をもつと仮定す
ると、LFSR22Bは、7つのDFFを含むことがで
き、LFSR22Cは4つのDFFを含むことができ
る。LFSR22Aより多くがランしている場合、M1
〜M6への制御信号は、各々異なる長さ及びコード反復
周期をもつ、LFSR22のうちの異なるものから取ら
れることから、量子化器14の入力ノード内に注入され
たディザー信号は、より大きい擬似ランダム性を帯びる
ということがわかる。従って、量子化器14への入力端
において一種のミキシングが発生する。
【0039】本発明の上述の実施形態は、ディザー信号
が量子化雑音と同じ雑音整形特性をもつ量子化器14へ
の入力端に対しディザーを付加し、従って、SDM10
のダイナミックレンジの最少量の低下しかひき起こさな
い。これらの実施形態では、ディザーの振幅はSDM1
0に対する入力信号の振幅により左右され、これに対し
反比例する。大きい入力信号では、ディザー信号の振幅
は小さく、かくして量子化器を過負荷とせず、SDM1
0のダイナミックレンジを低下させない。小さな入力信
号では、ディザーの振幅は、トーンの生成を防止し、か
くしてSDM10の信号雑音比(SNR)を改善するの
に充分なほどに大きい。予め定められた方形波のディザ
ー信号の使用を回避することにより、バンド外雑音は信
号バンド内に顕著にミキシングされず、量子化器14を
過負荷する確率も低減される。その上、開示された実施
形態は比較的実現が簡単であり、集積回路ダイ面積及び
動作電力をほとんど消費しない。これらの実施形態は、
アナログ又はデジタルCMOS技術において実現され得
る。
【0040】これらの教示の以上の実施形態の両方は、
シグマ−デルタ変調器10に対する入力信号の振幅をサ
ンプリングし、入力信号のサンプリングされた振幅に反
比例する擬似ランダム振幅を有するようにディザー信号
が生成される、量子化器14の入力端においてディザー
信号を生成するための入力信号のサンプリングされた振
幅に従ってキャパシタンスバンク20の切換えを制御す
るように動作する、ということを認識すべきである。
【0041】キャパシタンス接続された特定の数のPM
OS FET及び付随するスイッチ及びLFSR段など
といった情況下で記述されてきたが、これらは現在好ま
れている実施形態の例であり、これらの教示の実践の時
点で制限的意味で読まれることを意図したものでない、
ということを認識すべきである。さらに、図の少なくと
も一部分ではシングルエンド構成で開示されているもの
の、本発明の教示は、差動構成でも同様に実現可能であ
る。
【0042】かくして、本発明は、その好ましい実施形
態に関して特に示され記述されてきたが、当業者であれ
ば、本発明の範囲及び精神から逸脱することなく形態及
び細部の変更をこれに加えることができるということが
理解されることだろう。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の教示に従ったSD変調器のための入力
信号依存型擬似ランダムディザー信号生成回路を描いた
単純化されたブロック図である。
【図2】入力信号依存型擬似ランダムディザー信号を利
用するSD変調器の第1の実施形態の回路図である。
【図3】図2の整流器の一実施形態の回路図である。
【図4】図2の実施形態について、整流済み入力信号、
及び正弦波入力信号のために生成されたディザー信号を
示す、シミュレートされた波形図(その1)である。
【図5】図2の実施形態について、整流済み入力信号、
及び正弦波入力信号のために生成されたディザー信号を
示す、シミュレートされた波形図(その2)である。
【図6】ディザー信号が、入力信号の振幅の関数として
選択的にオフ及びオンに切換えられる、入力信号依存型
擬似ランダムディザー信号を使用するSD変調器の第2
の実施形態の回路図である。
【図7】図6の第2の実施形態についての入力信号とデ
ィザーの大きさの間の依存性を示す波形図である。
【図8】多数のウィンドウ検出器及び擬似ランダム信号
生成器が提供され、ここでディザー信号が入力信号の振
幅の関数として選択的に制御されている、入力信号依存
型擬似ランダムディザー信号を使用するSD変調器の第
3の実施形態の回路図(その1)である。
【図9】多数のウィンドウ検出器及び擬似ランダム信号
生成器が提供され、ここでディザー信号が入力信号の振
幅の関数として選択的に制御されている、入力信号依存
型擬似ランダムディザー信号を使用するSD変調器の第
3の実施形態の回路図(その2)である。
【図10】図8および図9の第3の実施形態の場合のよ
うな多数のウィンドウ検出器の場合についての入力信号
とディザーの大きさの間の依存性を示す波形図である。
【図11】量子化器の直前での、ループフィルタの最終
の積分器段の出力端への整流器入力信号の結合の好まし
い実施形態を示す図である。
【図12】図6及び図8、図9の実施形態内に見い出さ
れるウィンドウ検出器の1つの適切な構成を例示する図
である。
【符号の説明】
10…シグマ−デルタ変調器 12…ループフィルタ 14…量子化器 16…振幅測定ブロック 18…擬似ランダム発生器 20…スイッチドキャパシタバンク 22…線形フィードバックシフトレジスタ(LFSR) 23…フィードバック論理 24…整流器 26…積分器 28…ウィンドウ検出器
フロントページの続き Fターム(参考) 5J064 AA00 BA03 BB07 BC00 BC03 BC04 BC06 BC10 BC11 BC13 BC14 BC16 BC19 BD01

Claims (18)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 量子化器を含むタイプのシグマ−デルタ
    変調器を動作させる方法であって、 前記シグマ−デルタ変調器に対する入力信号の振幅をサ
    ンプリングする段階、及び前記量子化器の入力端でディ
    ザー信号を生成するため入力信号のサンプリングされた
    振幅に従って、スイッチドキャパシタンスバンクの切換
    えを制御する段階であって、前記ディザー信号が、入力
    信号のサンプリングされた振幅に反比例する擬似ランダ
    ム振幅を有するように生成される段階、を有して成る方
    法。
  2. 【請求項2】 前記制御及び生成の段階が、前記キャパ
    シタンスバンクの複数のキャパシタンスのうちの個々の
    キャパシタンスをキャパシタンスネットワークのイン及
    びアウトに切換えるべく線形フィードバックシフトレジ
    スタを動作させる、請求項1に記載の方法。
  3. 【請求項3】 少なくとも1つの前記線形フィードバッ
    クシフトレジスタを動作させる段階が、入力信号の振幅
    の関数として線形フィードバックシフトレジスタのクロ
    ック信号をオン及びオフに切換える、請求項2に記載の
    方法。
  4. 【請求項4】 前記サンプリングの段階が、入力信号内
    へのキックバック雑音の発生を防ぐために前記入力信号
    をサンプリングする、請求項1に記載の方法。
  5. 【請求項5】 前記サンプリングの段階が、少なくとも
    1つのウィンドウ検出器を動作させ、前記ディザー信号
    が、前記入力信号の振幅と前記ウィンドウ検出器の電圧
    閾値との間の関係に応じてオフ及びオンに切換えられ
    る、請求項1に記載の方法。
  6. 【請求項6】 前記サンプリングの段階が、整流された
    出力信号を提供するべく前記量子化器の入力端に印加さ
    れた信号を整流する整流器を動作させ、前記制御及び生
    成の段階が、前記量子化器の入力端とキャパシタンスバ
    ンクとの間で移送される電流量を制御するためキャパシ
    タンスバンクに対し整流された出力信号を擬似ランダム
    に印加する、請求項1に記載の方法。
  7. 【請求項7】 量子化器を含むタイプのシグマ−デルタ
    変調器であって、 前記量子化器の入力端に印加されるべき信号の振幅をサ
    ンプリングするための回路、及び前記量子化器の入力ノ
    ードでディザー信号を生成するためのスイッチドキャパ
    シタンスバンクであって、前記ディザー信号が、信号の
    サンプリングされた振幅に反比例する擬似ランダム振幅
    を有するように生成されるスイッチドキャパシタンスバ
    ンク、を有して成るシグマ−デルタ変調器。
  8. 【請求項8】 前記キャパシタンスバンクの複数のキャ
    パシタンスのうちの個々のキャパシタンスをキャパシタ
    ンスネットワークのイン及びアウトへ切換えるため前記
    スイッチドキャパシタンスバンクに結合された出力端を
    有する線形フィードバックシフトレジスタをさらに有し
    て成る、請求項7に記載のシグマ−デルタ変調器。
  9. 【請求項9】 前記サンプリングする回路が、入力信号
    の振幅の関数として線形フィードバックシフトレジスタ
    のクロック信号をオン及びオフに切換える、請求項8に
    記載のシグマ−デルタ変調器。
  10. 【請求項10】 前記サンプリングする回路が、キック
    バック雑音の発生を防ぐために信号をサンプリングす
    る、請求項7に記載のシグマ−デルタ変調器。
  11. 【請求項11】 前記サンプリングする回路が少なくと
    も1つのウィンドウ検出器を有して成り、前記ディザー
    信号が、信号の振幅と前記ウィンドウ検出器の電圧閾値
    との間の関係に応じてオフ及びオンに切換えられる、請
    求項7に記載のシグマ−デルタ変調器。
  12. 【請求項12】 前記サンプリングする回路が、整流さ
    れた出力信号を提供するべく信号を整流する整流器を有
    し、さらに量子化器の入力端とキャパシタンスバンクと
    の間で移送される電流量を制御するためキャパシタンス
    バンクに対し整流された出力信号を擬似ランダムに印加
    するための回路を有して成る請求項7に記載のシグマ−
    デルタ変調器。
  13. 【請求項13】 量子化器を含むタイプのシグマ−デル
    タ変調器であって、 前記シグマ−デルタ変調器の入力信号の振幅に反比例す
    る振幅をもつ整流された出力信号を提供するため、前記
    量子化器に対する入力信号を整流する整流器、 前記量子化器の第1の入力ノードに対し並列に結合され
    た第1の電圧可変キャパシタンスバンク及び前記量子化
    器の第2の入力ノードに並列に結合された第2の電圧可
    変キャパシタンスバンク、及び前記電圧可変キャパシタ
    ンスの端子を制御するため整流済み出力信号又はもう1
    つの信号のいずれかを選択的に印加するための擬似ラン
    ダムに動作させられる複数のスイッチであって、前記整
    流済み出力信号の大きさが、前記シグマ−デルタ変調器
    の入力信号の振幅に反比例する擬似ランダム振幅をもつ
    ディザー信号を生成するために前記量子化器の入力ノー
    ドに提示される合計キャパシタンスの値を制御するよう
    にされているスイッチ、を有して成るシグマ−デルタ変
    調器。
  14. 【請求項14】 前記第1及び第2のキャパシタンスバ
    ンクがFETで構成されており、ここで前記複数のスイ
    ッチが、前記整流済み出力信号又は前記もう1つの信号
    を、個々の前記FETのゲート端子に選択的に印加す
    る、請求項13に記載のシグマ−デルタ変調器。
  15. 【請求項15】 前記整流器が、積分器から出力された
    差動信号を整流し、前記積分器の出力信号も前記量子化
    器に入力される、請求項13に記載のシグマ−デルタ変
    調器。
  16. 【請求項16】 その切換えを制御するため前記複数の
    スイッチに結合された出力端を有する少なくとも1つの
    線形フィードバックシフトレジスタをさらに有して成
    る、請求項13に記載のシグマ−デルタ変調器。
  17. 【請求項17】 量子化器を含むタイプのシグマ−デル
    タ変調器であって、 ウインドウ検出信号を生成するべく一対の閾値電位に対
    し前記シグマ−デルタ変調器への入力信号を比較する少
    なくとも1つのウィンドウ検出器、 前記量子化器の第1の入力ノードに対し並列に結合され
    た第1の電圧可変キャパシタンスバンク、及び前記量子
    化器の第2の入力ノードに並列に結合された第2の電圧
    可変キャパシタンスバンク、 前記ウィンドウ検出信号によりオン又はオフに選択的に
    ゲートされる入力クロック信号をもつ擬似ランダム信号
    発生器、及び前記擬似ランダム信号発生器に結合され、
    かくして、入力信号の振幅に反比例する擬似ランダム振
    幅をもつディザー信号を生成するため前記量子化器の入
    力ノードに提示される合計キャパシタンスの値を制御す
    るべく前記電圧可変キャパシタンスの端子を制御するよ
    うに、第1の電圧電位又は第2の電圧電位のいずれかを
    選択的に印加するために擬似ランダムに動作させられる
    複数のスイッチ、を有して成るシグマ−デルタ変調器。
  18. 【請求項18】 前記第1及び第2のキャパシタンスバ
    ンクがFETで構成されており、ここで前記複数のスイ
    ッチが前記第1の電圧電位又は前記第2の電圧電位を個
    々の前記FETのゲート端子に選択的に印加する、請求
    項17に記載のシグマ−デルタ変調器。
JP2001400180A 2001-04-05 2001-12-28 シグマ−デルタ変調器を動作させる方法及びシグマ−デルタ変調器 Withdrawn JP2002314426A (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US09/826980 2001-04-05
US09/826,980 US6462685B1 (en) 2001-04-05 2001-04-05 Dither signal insertion inversely proportional to signal level in delta-sigma modulators

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2002314426A true JP2002314426A (ja) 2002-10-25

Family

ID=25248003

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2001400180A Withdrawn JP2002314426A (ja) 2001-04-05 2001-12-28 シグマ−デルタ変調器を動作させる方法及びシグマ−デルタ変調器

Country Status (3)

Country Link
US (1) US6462685B1 (ja)
EP (1) EP1248376A3 (ja)
JP (1) JP2002314426A (ja)

Families Citing this family (46)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE10142191C2 (de) * 2001-08-29 2003-08-28 Infineon Technologies Ag SD-ADC mit digitaler Dithersignalverarbeitung
WO2003077529A2 (en) * 2002-03-04 2003-09-18 Stmicroelectronics, N.V. Coder apparatus for resonant power conversion and method
US7924937B2 (en) 2002-03-04 2011-04-12 Stmicroelectronics N.V. Resonant power converter for radio frequency transmission and method
US6975148B2 (en) 2002-12-24 2005-12-13 Fujitsu Limited Spread spectrum clock generation circuit, jitter generation circuit and semiconductor device
US6992606B2 (en) * 2003-07-09 2006-01-31 Texas Instruments Incorporated Method and circuit for multi-standard sigma-delta modulator
US6880262B1 (en) * 2003-09-30 2005-04-19 Broadcom Corporation Continuous time ΔΣ ADC with dithering
US6822594B1 (en) * 2003-10-09 2004-11-23 Cirrus Logic, Inc. Overload protection and stability for high order 1-bit delta-sigma modulators
US7221299B2 (en) * 2004-06-12 2007-05-22 Nordic Semiconductor Asa Method and apparatus for an ADC circuit with wider input signal swing
JP4539446B2 (ja) * 2004-06-24 2010-09-08 ソニー株式会社 デルタシグマ変調装置及びデルタシグマ変調方法
US7348906B2 (en) * 2004-09-10 2008-03-25 Analog Devices, Inc. INL curve correction in a pipeline ADC
DE102004049481B4 (de) * 2004-10-11 2007-10-18 Infineon Technologies Ag Analog-Digital-Wandler
US7362250B2 (en) * 2005-01-31 2008-04-22 Texas Instruments Incorporated Dynamic dither for sigma-delta converters
US7042375B1 (en) * 2005-03-29 2006-05-09 Broadcom Corporation System and method using dither to tune a filter
US7154326B2 (en) * 2005-04-18 2006-12-26 Visteon Global Technologies, Inc. Dither amplitude correction for constant current drivers
EP1727287B1 (en) 2005-05-27 2015-07-15 STMicroelectronics Srl Method of adding a dither signal in output to the last integrator of a sigma-delta converter and relative sigma-delta converter
US7321325B2 (en) * 2005-07-07 2008-01-22 Realtek Semiconductor Corp. Background calibration of continuous-time delta-sigma modulator
US7324028B2 (en) * 2005-09-23 2008-01-29 Realtek Semiconductor Corp. Self-calibrating continuous-time delta-sigma modulator
US7277032B2 (en) * 2005-10-21 2007-10-02 Realtek Semiconductor Corp. Low-pass filter based delta-sigma modulator
US7221302B1 (en) * 2005-12-20 2007-05-22 Cirrus Logic, Inc. Delta-sigma modulator coefficient calibration method and apparatus
TWI314401B (en) * 2006-05-08 2009-09-01 Realtek Semiconductor Corp Sigma-delta modulator and output speed reduction method thereof
US7821436B2 (en) * 2006-06-08 2010-10-26 Cosmic Circuits Private Limited System and method for reducing power dissipation in an analog to digital converter
US7375666B2 (en) * 2006-09-12 2008-05-20 Cirrus Logic, Inc. Feedback topology delta-sigma modulator having an AC-coupled feedback path
US7446687B2 (en) * 2006-10-27 2008-11-04 Realtek Semiconductor Corp. Method and apparatus to reduce internal circuit errors in a multi-bit delta-sigma modulator
US7411534B1 (en) * 2007-06-20 2008-08-12 Cirrus Logic, Inc. Analog-to-digital converter (ADC) having integrator dither injection and quantizer output compensation
US8401208B2 (en) * 2007-11-14 2013-03-19 Infineon Technologies Ag Anti-shock methods for processing capacitive sensor signals
US7786910B2 (en) * 2008-08-12 2010-08-31 Analog Devices, Inc. Correlation-based background calibration of pipelined converters with reduced power penalty
US7760121B2 (en) * 2008-09-03 2010-07-20 Intel Corporation Dual data weighted average dynamic element matching in analog-to-digital converters
US8004436B2 (en) 2008-10-09 2011-08-23 Analog Devices, Inc. Dithering technique for reducing digital interference
US7961125B2 (en) * 2008-10-23 2011-06-14 Microchip Technology Incorporated Method and apparatus for dithering in multi-bit sigma-delta digital-to-analog converters
JP5426220B2 (ja) * 2009-04-13 2014-02-26 株式会社東芝 電源ノイズ除去回路
JP2010273307A (ja) * 2009-05-25 2010-12-02 Canon Inc 信号伝送装置
US8068045B2 (en) * 2010-03-01 2011-11-29 Analog Devices, Inc. Calibration methods and structures for pipelined converter systems
US20120049903A1 (en) * 2010-08-30 2012-03-01 Rf Micro Devices, Inc. Low noise charge pump
US8723707B2 (en) 2011-11-14 2014-05-13 Analog Devices, Inc. Correlation-based background calibration for reducing inter-stage gain error and non-linearity in pipelined analog-to-digital converters
US8471740B2 (en) * 2011-11-14 2013-06-25 Analog Devices, Inc. Reducing the effect of non-linear kick-back in switched capacitor networks
CA2859560A1 (en) 2011-12-19 2013-06-27 The Nielsen Company (Us), Llc Methods and apparatus for crediting a media presentation device
US8970409B2 (en) 2012-03-22 2015-03-03 Hittite Microwave Corporation Dynamic dithering method and apparatus for analog-to-digital converters
US8810443B2 (en) * 2012-04-20 2014-08-19 Linear Technology Corporation Analog-to-digital converter system and method
JP2014023106A (ja) 2012-07-23 2014-02-03 Renesas Electronics Corp 半導体装置及び通信装置
US9390861B2 (en) * 2013-01-29 2016-07-12 Intel Deutschland Gmbh Capacitance bank systems and methods
US10073812B2 (en) * 2014-04-25 2018-09-11 The University Of North Carolina At Charlotte Digital discrete-time non-foster circuits and elements
US9976924B2 (en) * 2015-04-20 2018-05-22 Infineon Technologies Ag System and method for a MEMS sensor
CN107919871B (zh) * 2017-11-13 2021-08-24 清华大学深圳研究生院 一种过采样模数转换器
US10790850B1 (en) * 2019-06-28 2020-09-29 Nxp B.V. Signal amplitude aware dithering method for enhancing small signal linearity in an analog-to-digital converter
KR20230057907A (ko) * 2021-10-22 2023-05-02 삼성전자주식회사 랜덤 리셋 신호를 이용한 커패시터 기반 디지털-아날로그 변환기 및 이를 포함하는 집적 회로
US12003247B2 (en) * 2022-06-22 2024-06-04 STMicroelectron S.r.l. Noise shaper variable quantizer

Family Cites Families (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0652872B2 (ja) * 1983-12-21 1994-07-06 沖電気工業株式会社 ディジタルアナログ変換器
JPH0738588B2 (ja) * 1985-07-11 1995-04-26 ティアツク株式会社 アナログ―デイジタル変換装置
JPS62112221U (ja) * 1985-12-27 1987-07-17
JP2801644B2 (ja) * 1989-06-05 1998-09-21 パイオニア株式会社 ディザ回路
US5144308A (en) 1991-05-21 1992-09-01 At&T Bell Laboratories Idle channel tone and periodic noise suppression for sigma-delta modulators using high-level dither
US5745061A (en) * 1995-07-28 1998-04-28 Lucent Technologies Inc. Method of improving the stability of a sigma-delta modulator employing dither
CA2285355C (en) 1997-04-02 2004-06-08 Karsten Nielsen Pulse referenced control method for enhanced power amplification of a pulse modulated signal
US5835038A (en) * 1997-05-08 1998-11-10 Burr-Brown Corporation DC dither circuitry and method for delta-sigma modulator
JP3852721B2 (ja) 1997-07-31 2006-12-06 旭化成マイクロシステム株式会社 D/a変換器およびデルタシグマ型d/a変換器
US5990815A (en) 1997-09-30 1999-11-23 Raytheon Company Monolithic circuit and method for adding a randomized dither signal to the fine quantizer element of a subranging analog-to digital converter (ADC)
US5889482A (en) 1997-10-06 1999-03-30 Motorola Inc. Analog-to-digital converter using dither and method for converting analog signals to digital signals
US6326911B1 (en) 1997-11-19 2001-12-04 Texas Instruments Incorporated Method and apparatus for dithering idle channel tones in delta-sigma analog-to-digital converters
US6087969A (en) 1998-04-27 2000-07-11 Motorola, Inc. Sigma-delta modulator and method for digitizing a signal
US6011501A (en) 1998-12-31 2000-01-04 Cirrus Logic, Inc. Circuits, systems and methods for processing data in a one-bit format

Also Published As

Publication number Publication date
US6462685B1 (en) 2002-10-08
US20020145550A1 (en) 2002-10-10
EP1248376A3 (en) 2004-01-02
EP1248376A2 (en) 2002-10-09

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6462685B1 (en) Dither signal insertion inversely proportional to signal level in delta-sigma modulators
US6445318B1 (en) Method and apparatus for providing signal dependent dither generator for sigma-delta modulator
US5920273A (en) Digital-to-analog converter
US7696910B2 (en) Dither circuit and analog digital converter having dither circuit
CN100568737C (zh) 以低通滤波器为基础的三角积分调制器
Arias et al. A 32-mW 320-MHz continuous-time complex delta-sigma ADC for multi-mode wireless-LAN receivers
KR100893885B1 (ko) 다중-비트 시그마-델타 변조기용의 디더링 및 다중-한계값생성 기능을 갖는 정전용량이 작고, 킥백 잡음이 낮은다중-레벨 양자화기 입력단
US8830097B2 (en) A/D converter
JP4981968B2 (ja) フィードバック信号に基づいた動的なスルー・レート制御
US7671773B2 (en) Jitter insensitive single bit digital to analog converter
US9639226B2 (en) Differential sigma-delta capacitance sensing devices and methods
Sharma et al. A 6b 800ms/s 3.62 mw nyquist ac-coupled VCO-based ADC in 65nm CMOS
JPH08162960A (ja) Δςディジタル/アナログ変換器
Guessab et al. A passive delta-sigma modulator for low-power applications
Tajalli et al. Subthreshold current-mode oscillator-based quantizer with 3-decade scalable sampling rate and pico-ampere range resolution
Hou et al. An Op-amp free SAR-VCO hybrid ADC with second-order noise shaping
Dai et al. A 410 μW, 70 dB SNR high performance analog front-end for portable audio application
Fogelman et al. An area-efficient differential input ADC with digital common mode rejection
Dolev et al. COMPARISON OF SIGMA–DELTA CONVERTER CIRCUIT ARCHITECTURES IN DIGITAL CMOS TECHNOLOGY
Kirishnathasan Design and Implementation of a High Resolution, Discrete-Time Delta-Sigma ADC
Khalil et al. Novel technique for reducing the comparator delay dispersion in 45nm CMOS technology for level-crossing ADCs
Deshmukh et al. Design of resolution/power controllable Asynchronous Sigma-Delta Modulator
Reis CMOS RF Sigma-Delta Converter
ES2238146B1 (es) Conversor digital/analogico que genera formas de onda de tipo exponencial decreciente para el lazo de realimentacion de un conversor sigma-delta de tiempo continuo.
Harmanani et al. Efficient shaped quantizer dithering implementation for sigma delta modulators

Legal Events

Date Code Title Description
A300 Application deemed to be withdrawn because no request for examination was validly filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300

Effective date: 20050301