JP2002311087A - 部品試験装置 - Google Patents

部品試験装置

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JP2002311087A
JP2002311087A JP2001116761A JP2001116761A JP2002311087A JP 2002311087 A JP2002311087 A JP 2002311087A JP 2001116761 A JP2001116761 A JP 2001116761A JP 2001116761 A JP2001116761 A JP 2001116761A JP 2002311087 A JP2002311087 A JP 2002311087A
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Yoshiaki Fukukawa
義章 福川
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Yamaha Motor Co Ltd
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    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2851Testing of integrated circuits [IC]
    • G01R31/2893Handling, conveying or loading, e.g. belts, boats, vacuum fingers

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  • Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 試験の進行に伴う新たなトレイ(部品供給側
では試験前の部品を収納したトレイ、部品収納側では空
トレイ)の準備を迅速に行えるようにする。 【解決手段】 トレイ搬送手段を兼ねるP&Pロボット
20のヘッド23により第2トレイ収納部12(第1ト
レイ載置部)のトレイTrから部品(試験前の部品)を
取出して供給するようにした。第2トレイ収納部12に
は、昇降駆動式のテーブル16が設けられこのテーブル
上に複数のトレイTrが積層されている。そして、最上
位のトレイTrから部品を取出しつつ、これに伴い該ト
レイTrが空になると、ヘッド23により該空トレイを
搬出するとともに、テーブル16を上昇させて次ぎに最
上位となるトレイTrを所定の部品取出し高さ位置に位
置決めするようにした。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、ICチップ等の電
子部品を試験する部品試験装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】半導体装置などの製造過程においては、
最終的に製造されたICチップ等の電子部品に対して各
種試験を施す必要があるが、そのような試験を自動的に
行う装置として、従来特開平11−333775号公報
に開示されるような装置がある。
【0003】この装置は、トレイに収納された試験前の
ICチップを部品吸着用のノズル部材を有する第1搬送
装置により吸着して第1バッファ装置に載せ、第1バッ
ファ装置によりテストヘッド近傍まで搬送した後、部品
吸着用のノズル部材を有する第2搬送装置により第1バ
ッファ装置上のICチップを吸着してテストヘッドに移
載して試験を行う。そして試験後は、第2搬送装置によ
りテストヘッドから第2バッファ装置にICチップを移
載してトレイ載置部まで搬送した後、第1搬送装置によ
って試験結果に応じた所定のトレイ上にICチップを移
し替えるように構成されている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】この種の装置では、試
験前の部品をトレイから取出しながら供給するが、この
部品の取出しに伴いトレイが空になると、該トレイを次
ぎのトレイと交換する必要がある。この場合、例えば、
空になったトレイを搬送装置によってトレイ載置部から
別の場所に搬出した後、部品を満載した次のトレイを搬
送装置により前記トレイ載置部に搬入することが行われ
るが、この交換作業に時間がかかると、その間一時的に
次の部品の取出し動作を中断する必要が生じる等、一連
の試験動作を効率良く行う上で望ましくない事態が生じ
ることが考えられる。
【0005】同様に、部品(試験後の部品)の収納側に
ついても、部品の収納に伴いトレイが満載状態となる
と、該トレイを次の空トレイと交換する必要があが、こ
の場合もトレイの交換作業に時間がかかると、その間、
一時的に次の部品の収納動作を中断する必要が生じるこ
ととなる。
【0006】そのため、部品の供給側では部品を収納し
た新たなトレイを出来るだけ速やかに準備する一方、部
品の収納側では部品を収納するための新たな空トレイを
出来るだけ速やかに準備することが必要となる。
【0007】なお、この種の装置では省スペース化を図
ることも重要な課題であるため、新たなトレイの準備を
速やかに行い得るようにする一方で、装置構成を合理的
にコンパクト化できればより望ましい。
【0008】本発明は、上記課題に鑑みてなされたもの
であって、第1の目的は、試験の進行に伴う新たなトレ
イ(部品供給側では試験前の部品を収納したトレイ、部
品収納側では空トレイ)の準備を迅速に行えるようにす
ることにあり、第2の目的は、併せて装置構成を合理的
にコンパクト化することにある。
【0009】
【課題を解決するための手段】前記課題を解決するため
に、本発明は、試験前の部品を収納したトレイを載置す
る第1トレイ載置部と、試験後の部品を収納するトレイ
を載置する第2トレイ載置部とを有し、第1トレイ載置
部のトレイから部品を取出して試験装置本体に供給する
一方、試験後の部品を第2トレイ載置部のトレイに収納
する部品試験装置において、第1トレイ載置部又は第2
トレイ載置部の少なくとも一方に、昇降駆動式のテーブ
ルが設けられ、複数のトレイをこのテーブル上に積層し
た状態で載置するように構成されるとともに、第1トレ
イ載置部又は第2トレイ載置部と所定の空トレイ載置部
との間を移動して空トレイを搬送するトレイ搬送手段が
が設けられているものである。
【0010】特に、第1トレイ載置部に前記テーブルを
備え、この第1トレイ載置部と空トレイ載置部との間を
移動可能な前記搬送手段を備えるものでは、部品を収納
した複数のトレイが前記テーブル上に積層した状態で載
置され、かつ最上位のトレイが所定の部品取出し高さ位
置に位置決めされた状態で該最上位のトレイから順に部
品が取出されるとともに、この部品の取出しに伴い空に
なった最上位のトレイが前記搬送手段により第1トレイ
載置部から搬出され、このトレイの搬出に伴い、前記テ
ーブルが上昇して次のトレイを所定の部品取出し高さ位
置に位置決めするように前記テーブルおよび搬送手段が
構成される。
【0011】この装置によると、部品の供給に伴い最上
位のトレイが空になると、トレイ搬送手段により該空ト
レイが搬出され、テーブルが僅かに上昇することにより
次のトレイが準備される。このように部品を収納した複
数のトレイを予めテーブル上に積み重ねた状態で待機さ
せておくこにより、トレイの搬入に要する時間が短縮さ
れ、その結果、新たなトレイを準備するのに要する時間
が削減される。
【0012】一方、第2トレイ載置部に前記テーブルを
備え、この第2トレイ載置部と空トレイ載置部との間を
移動可能な前記搬送手段を備えるものでは、テーブル上
に載置されたトレイのうち最上位のトレイ(テーブル上
にトレイが一つだけの場合は当該トレイ)が所定の部品
収納高さ位置に位置決めされた状態で該トレイに部品が
収納され、この部品の収納に伴いトレイが満載状態とな
ると、搬送手段により空トレイが第2トレイ載置部に搬
入されて満載状態のトレイ上に積み重ねられるととも
に、テーブルが下降して空トレイを前記部品収納高さ位
置に位置決めするようにテーブルおよび搬送手段が構成
されているものである。
【0013】この装置によると、部品の収納に伴いトレ
イが満載状態となると、トレイ搬送手段により空トレイ
が搬入されてこの満載状態のトレイ上に重ねられ、テー
ブルが僅かに下降することにより次の部品の収納が可能
となる。このように満載状態となったトレイの上に順次
空トレイを積み重ねて部品を収納していくことにより、
満載状態のトレイを搬出するのに要する時間が短縮さ
れ、その結果、新たな空トレイを準備するのに要する時
間が削減される。
【0014】上記のような部品試験装置においては、第
2トレイ載置部として試験結果に対応する複数のトレイ
載置部が設けられ、これらトレイ載置部のうち合格部品
に対応するトレイ載置部がその他の結果に対応するトレ
イ載置部に比べて多くのトレイを載置できるように構成
されているのが好ましい。
【0015】つまり、試験に供される部品のうち大部分
は試験に合格するため、上記のように合格部品に対応す
るトレイ載置部の載置容量を大きく設定しておくこと
で、該合格部品に対応するトレイ載置部のトレイ(部品
収納後のトレイ)の取出し頻度を他のトレイ載置部と同
等にすることが可能となる。
【0016】また、上記の部品試験装置においては、試
験装置本体および部品搬送用の各種機器を配置するため
の基台が設けられ、この基台上にトレイ搬送手段が設け
られるとともに、この基台の下側に筐体が一体に設けら
れ、前記テーブルがこの筐体内に配設されて該テーブル
上に載置したトレイのうち少なくとも最上位のトレイを
基台に形成された開口部を介して基台上に配置するよう
に構成される。
【0017】この装置によれば、トレイが積み重ねられ
た状態で収納されるので装置全体を平面的にコンパクト
な構成とすることが可能となる。また、トレイを基台下
の筐体内に収納するので、その分、基台上のスペースを
有効活用することができる。
【0018】なお、この場合、第1および第2トレイ載
置部を夫々一乃至複数有するとともに、各トレイ載置部
に前記テーブルを備えるものでは、各トレイ載置部を直
線状に一列に配列されるとともに、第2トレイ載置部の
うち合格部品に対応する第2トレイ載置部をこの配列の
うち最端に配列し、前記筐体内におけるこの最端のトレ
イ載置部の側方であって、かつその他のトレイ載置部の
下方に各種駆動制御用の機器を収納するように構成する
のがより好ましい。
【0019】この構成によれば、前記筐体内にトレイと
駆動制御用の機器とを合理的に収納することが可能とな
り省スペース化の上で有利となる。
【0020】
【発明の実施の形態】本発明の実施の形態について図面
を用いて説明する。なお、図中には方向性を明確にする
ためにX軸、Y軸を示している。
【0021】図1及び図2は、本発明に係る部品試験装
置を概略的に示している。これらの図に示すように、部
品試験装置1(以下、試験装置1と略す)は、部品の搬
送及び試験中の部品保持(固定)という機械的な役割を
担うハンドラ2と、このハンドラ2に組込まれる試験装
置本体3とから構成されている。
【0022】試験装置本体3は、上面にテストヘッド4
を備えた箱型の装置で、テストヘッド4に設けられたソ
ケット(図示省略)に部品をセットして該部品の入力端
子にテスト電流を供給しつつ部品の出力端子からの出力
電流を受けることにより部品の品質を判断するように構
成されている。
【0023】試験装置本体3は、前記ハンドラ2に対し
て脱着可能に構成されており、図示を省略するが、例え
ば試験装置本体3を専用の台車に載せた状態でハンドラ
2の下側から所定の挿着位置に挿入し、テストヘッド4
をハンドラ2の基台2aに形成された開口部から後記テ
スト領域Taに臨ませた状態で固定することによりハン
ドラ2に対して組付けられている。なお、テストヘッド
4と試験装置本体3とは必ずしも一体である必要はな
く、テストヘッド4のみをハンドラ2に組付け、その他
の部分をハンドラ2から離間した位置に配置してテスト
ヘッド4に対して電気ケーブル等で電気的に接続するよ
うにしてもよい。この場合には、試験装置本体3を除く
ハンドラ2そのものを本発明の部品試験装置とみなすこ
とができる。
【0024】ハンドラ2は、同図に示すように、上部が
側方に迫出した略箱型の装置で、トレイに収納された部
品を取出して前記テストヘッド4に搬送し、さらに試験
後の部品をその試験結果に応じて仕分けするように構成
されている。以下、その構成について具体的に説明す
る。
【0025】ハンドラ2の基台2a上は、大きく分け
て、トレイTrが収納されるトレイ収納領域Saと、テ
ストヘッド4等が配置されるテスト領域Taの二つの領
域に分けられている。
【0026】トレイ収納領域Saには、X軸方向に複数
のトレイ収納部が並設されており、当実施形態では、図
2の左側から順に第1〜第5の5つのトレイ収納部11
〜15が一列に設けられている。そして、第2トレイ収
納部12及び第4トレイ収納部14に試験前(未検査)
の部品を載せたトレイTrが、第1トレイ収納部11に
空のトレイTrが、第3トレイ収納部13に試験後の部
品のうち合格品(Pass)を載せたトレイTrが、第5ト
レイ収納部15に試験後の部品のうち不合格品(Fail)
を載せたトレイTrが夫々収納されている。すなわち、
第2トレイ収納部12及び第4トレイ収納部14により
本発明の第1トレイ載置部が、第3トレイ収納部13及
び第5トレイ収納部15により本発明の第2トレイ載置
部が、第1トレイ収納部11により本発明の空トレイ載
置部が夫々構成されている。
【0027】なお、各トレイTrは何れも共通の構造を
有しており、図示を省略するが、例えばその表面には複
数の部品収納凹部(収納スペース)が区画形成され、I
Cチップ等の部品が各部品収納凹部内に収納されるよう
に構成されている。
【0028】各トレイ収納部11〜15は、夫々昇降可
能なテーブル上に複数のトレイTrを積み重ねた状態で
収納するように構成されており、最上位のトレイTrの
みを基台2a上に配置し、それ以外のトレイTrを基台
下の筐体2d内に収納するように構成されている。
【0029】具体的には、図3及び図4に示すように、
各トレイ収納部11〜15には、上下方向(Z軸方向)
に延びるレール17が設けられ、このレール17にテー
ブル16が移動可能に装着されている。また、サーボモ
ータ18により回転駆動されて前記レール17と平行に
延びるボールねじ軸19が設けられ、このボールねじ軸
19がテーブル16のナット部分16aに螺合装着され
ている。そして、テーブル16上に複数のトレイTrが
積み重ねられた状態で載置され、サーボモータ18によ
るボールねじ軸19の回転駆動に伴いテーブル16が昇
降することにより、テーブル16上に積み重ねられてい
るトレイTrの数に応じてその最上位のものを各開口部
11a〜15aを介して基台上に配置するように構成さ
れている。この際、トレイ収納部11〜15の各最上位
のトレイTrは後述するP&Pロボット20による所定
の部品受渡し高さ位置(部品の取出し高さ位置、部品の
収納高さ位置)に位置決めされる。
【0030】また、ハンドラ2の側壁には、図1に示す
ように各トレイ収納部11〜15に対応して扉11b〜
15bが設けられており、これらの扉11b〜15bを
開くことにより各トレイ収納部11〜15に対してトレ
イTrを出し入れできるように構成されている。
【0031】なお、試験に供される部品のうち大部分は
合格品であることを考慮して、上記トレイ収納部11〜
15のうち合格部品を収納する第3トレイ収納部13は
他のトレイ収納部11,12,14,15に比べてトレ
イTrの収納容量が大きく設定されている。これにより
第3トレイ収納部13に対するトレイTrの出し入れ頻
度が他のトレイ収納部に比べてあまりに多くなることが
ないように構成されている。
【0032】トレイ収納領域Saには、さらに図1及び
図2に示すようにP&Pロボット(Pick & Place Robo
t)20が設けられている。
【0033】P&Pロボット20は、移動可能なヘッド
23(搬送用ヘッド)を有しており、このヘッド23に
よって第2又は第4トレイ収納部12,14のトレイT
rから部品を取出して後述するシャトルロボット30
A,30Bに受け渡すとともに、試験後の部品をシャト
ルロボット30A,30Bから受け取って第3トレイ収
納部13又は第5トレイ収納部15のトレイTrに移載
するもので、さらに第1トレイ収納部11とその他のト
レイ収納部12〜15との間でトレイTrを搬送するト
レイ搬送機能も有している。
【0034】詳しく説明すると、上記基台2a上にはY
軸方向に延びる一対の固定レール21が設けられ、これ
ら固定レール21にヘッド支持部材22が移動可能に装
着されている。また、図示を省略するが、サーボモータ
により回転駆動されて前記固定レール21と平行に延び
るボールねじ軸が基台2a上に設けられ、このボールね
じ軸が前記支持部材22に設けられたナット部材(図示
省略)に螺合装着されている。さらに、詳しく図示して
いないが、前記支持部材22にX軸方向に延びる固定レ
ールが設けられてこの固定レールにヘッド23が移動可
能に装着されるとともに、サーボモータにより回転駆動
されて前記固定レールと平行に延びるボールねじ軸が設
けられ、このボールねじ軸がヘッド23に設けられたナ
ット部分に螺合装着されている。そして、上記各サーボ
モータによるボールねじ軸の回転駆動に応じて支持部材
22がY軸方向に、ヘッド23がX軸方向に夫々移動す
ることにより、ヘッド23が前記トレイ収納部11〜1
5及びシャトルロボット30A,30Bの後記部品受渡
し位置P1を含む範囲で平面的に移動(X−Y平面上を
移動)し得るように構成されている。
【0035】ヘッド23には、複数のノズル部材が搭載
されており、当実施形態では部品用の一対のノズル部材
24a,24b(第1ノズル24a,第2ノズル24
B)とトレイ用のノズル部材25(トレイ用ノズル部材
25という)との合計3つのノズル部材が搭載されてい
る。各ノズル部材24a,24b及び25は、図外の電
磁バルブ等を介して負圧発生源に接続されており、後述
する部品搬送時にはノズル部材24a,24bの先端に
部品吸着用の負圧が供給され、該負圧の作用により部品
を吸着するように構成されている。同様に、空トレイT
rの搬送時はノズル部材25の先端にトレ吸着用の負圧
が供給され、該負圧の作用によりトレイTrを吸着する
ように構成されている。
【0036】部品吸着用の各ノズル部材24a,24b
は、ヘッド23に対して昇降及び回転(ノズル軸回りの
回転)が可能となっており、図示を省略するがサーボモ
ータを駆動源とする駆動機構により夫々作動するように
構成されている。そして、第2トレイ収納部12等のト
レイTr上、あるいはシャトルロボット30A,30B
の後記テーブル32の上方にヘッド23が配置された状
態で、各ノズル部材24a,24bの昇降動作に伴いト
レイTrに対する部品の出し入れ等を行うように構成さ
れている。なお、トレイTrへの部品の収納に際して
は、このようなノズル昇降動作に加えて各ノズル部材2
4a,24bが回転することによりトレイTrに対して
予め定められた方向で部品を収納し得るように構成され
ている。
【0037】トレイ用ノズル部材25は、ヘッド23に
対して昇降動作のみが可能となっており、サーボモータ
を駆動源とする駆動機構により作動するように構成され
ている。そして、部品の取出しに伴い空になったトレイ
Trを吸着した状態で、ヘッド23の移動に伴い第2及
び第4トレイ収納部12,14から第1トレイ収納部1
1にトレイTrを移送するとともに、必要に応じて第1
トレイ収納部11に収納されている空のトレイTrを吸
着して第3又は第5のトレイ収納部13,15に移送す
るように構成されている。すなわち、当実施形態では、
P&Pロボット20が部品搬送装置としてのみではなく
本発明のトレイ搬送手段としても機能するように構成さ
れている。これによりノズル部材24a,24bを移動
させるための機構とトレイ用ノズル部材25を移動させ
るための機構とが共通化された合理的な構成が達成され
ている。
【0038】なお、トレイ用ノズル部材25について
は、トレイTrを良好に吸着すべくその先端部(下端
部)に例えば矩形板型の吸着パッドが組付けられること
により広い吸着面積が確保されている。
【0039】トレイ収納領域Saには、さらに各シャト
ルロボット30A,30Bの部品受渡し位置P1の間に
CCDエリアセンサからなる部品認識カメラ34が配設
されている。このカメラ34は、部品の吸着状態(吸着
誤差(ずれ))を画像の認識に基づいて調べるべくP&
Pロボット20の前記ヘッド23に吸着されている部品
を下側から撮像するもので、試験終了後の部品をトレイ
Trへの収納に先立って撮像するように構成されてい
る。なお、該部品認識カメラ34は、ヘッド23の各ノ
ズル部材24a,24bに吸着されている2つの部品を
同時に撮像し得るように構成されている。
【0040】一方、テスト領域Taには、前記テストヘ
ッド4、一対のシャトルロボット30A,30B(第1
シャトルロボット30A,第2シャトルロボット30
B)及びテストロボット40が配設されている。
【0041】テストヘッド4は、上述の通り基台2aに
形成された開口部からテスト領域Taの略中央部分に露
出した状態で配設されている。テストヘッド4の表面に
は、部品をセットするための複数のソケット(図示省
略)が配設されており、当試験装置1においては2つの
ソケットがX軸方向に並んだ状態で設けられている。
【0042】各ソケットには、それぞれ部品(ICチッ
プ等)の各リードに対応する接触部(図示せず)が設け
られており、各ソケットに部品を夫々位置決めすると、
部品の各リードとこれに対応する接触部とが接触して該
部品に対して導通試験や、入力電流に対する出力特性試
験等の電気的試験が施されるように構成されている。
【0043】シャトルロボット30A,30Bは、トレ
イ収納領域Saとテスト領域Taとの間で部品を搬送し
つつ前記P&Pロボット20およびテストロボット40
に対して部品の受渡しを行う装置で、図2に示すように
夫々Y軸方向に延びる固定レール31と、サーボモータ
を駆動源とする駆動機構により駆動されて前記固定レー
ル31に沿って移動するテーブル32とを有している。
そして、第1トレイ収納部11及び第5トレイ収納部1
5の近傍に設定されたP&Pロボット20に対する部品
受渡し位置P1と、テストヘッド4側方に設定されたテ
ストロボット40に対する部品受渡し位置P2との間で
前記テーブル32を固定レール31に沿って往復移動さ
せながら該テーブル32により部品を搬送するように構
成されている。
【0044】テーブル32には、試験前の部品を載置す
るためのエリアと、試験後の部品を載置するエリアとが
予め定められており、当実施形態では、図5に示すよう
にテーブル32のうちトレイ収納領域Sa側(同図では
下側)が試験後の部品を載置する第1エリアa1とさ
れ、その反対側が試験前の部品を載置する第2エリアa
2と定められている。各エリアa1,a2には、夫々一
対の吸着パッド33a,33bがX軸方向に所定間隔
で、具体的にはテストロボット40の各搬送用ヘッド4
2A,42Bにも浮けられる一対のヘッド本体43a,
43bの最小ピッチ、あるいはそれ以上のピッチであっ
て、かつP&Pロボット20の前記ヘッド23のノズル
部材24a,24bに対応する間隔で設けられおり、部
品搬送時には、これらパッド33a,33b上に部品が
置かれて吸着された状態で搬送されるように構成されて
いる。
【0045】なお、各シャトルロボット30A,30B
とP&Pロボット20及びテストロボット40との部品
の受渡しは、例えば、以下のようにして行われる。
【0046】まず、P&Pロボット20から各シャトル
ロボット30A,30Bに試験前の部品を移載する際に
は、図6(a)に示すように部品受渡し位置P1の所定
の位置にP&Pロボット20のノズル部材24a,24
b(ヘッド23)が位置決めされ、ノズル部材24a,
24bに第2エリアa2が対応するようにテーブル32
が位置決めされ(この位置を第2ポジションという)、
この状態でノズル部材24a,24bの昇降に伴いテー
ブル32上に部品が移載される。一方、シャトルロボッ
ト30A(30B)からP&Pロボット20に試験後の
部品を移載する際には、図6(B)に示すようにノズル
部材24a,24bに第1エリアa1が対応するように
テーブル32が位置決めされ(この位置を第1ポジショ
ンという)、この状態でテーブル32上の部品がノズル
部材24a,24bの昇降に伴い吸着される。
【0047】また、テストロボット40からシャトルロ
ボット30A(30B)に試験後の部品を移載する際に
は、図6(c)に示すように部品受渡し位置P2の所定
の位置にテストロボット40の後記ノズル部材60a,
60b(ヘッド本体43a,43b)がX軸方向に夫々
位置決めされるとともに、各ノズル部材60a,60b
に第1エリアa1が対応するようにテーブル32が位置
決めされ(第1ポジション)、この状態(すなわち、前
記両固定レール31の内側(図5では右側)に位置する
吸着パッド33bとノズル部材60b、固定レール31
の外側(図5では左側)に位置する吸着パッド33aと
ノズル部材60aとが夫々一致する状態)でノズル部材
60a,60bの昇降に伴ってテーブル32上に部品が
載置される。一方、シャトルロボット30A(30B)
からテストロボット40に試験前の部品を移載する際に
は、図6(d)に示すようにノズル部材60a,60b
に第2エリアa2が対応するようにテーブル32が位置
決めされ(第2ポジション)、この状態でノズル部材6
0a,60bの昇降に伴いテーブル32上から部品が吸
着されるようになっている。
【0048】テストロボット40は、上述のように各シ
ャトルロボット30A,30Bによりトレイ収納領域S
aからテスト領域Taに供給される部品をテストヘッド
4に搬送(供給)して該試験の間テストヘッド4に対し
て部品を押圧した状態で保持(固定)し、試験後は、部
品をそのままシャトルロボット30A,30Bに受け渡
す(排出する)装置である。
【0049】このテストロボット40は、シャトルロボ
ット30A,30Bを跨ぐように基台2a上に設けられ
た高架2Bに沿って移動する一対の搬送用ヘッド42
A,42B(第1搬送用ヘッド42A,第2搬送用ヘッ
ド42A)を有しており、これら搬送用ヘッド42A,
42Bに夫々搭載された一対のヘッド本体43a,43
b(第1ヘッド本体43a,第2ヘッド本体43b)に
よりテストヘッド4に対して部品の供給及び排出を行う
ように構成されている。以下、図1,図2及び図7〜図
9を参照しつつ搬送用ヘッド42A,42Bの構成につ
いて具体的に説明する。
【0050】各搬送用ヘッド42A,42Bは、夫々、
前記高架2B上に配設されたX軸方向の固定レール45
に沿って移動可能な一対の可動フレーム46a,46b
(第1可動フレーム46a,第2可動フレーム46b)
を有している。これらの可動フレーム46a,46bの
うち第1可動フレーム46aにはサーボモータ47が固
定されており、このサーボモータ47の出力軸にX軸方
向に延びるボールねじ軸48が一体的に連結されるとと
もに、このボールねじ軸48が第2可動フレーム46b
に設けられたナット部分49に螺合装着されている。ま
た、サーボモータ50により夫々回転駆動される前記固
定レール45と平行な一対のボールねじ軸51が基台2
aに設けられ、これらボールねじ軸51が搬送用ヘッド
42A,42Bの各第1可動フレーム46aに設けられ
たナット部分52に螺合装着されている。すなわち、サ
ーボモータ50によるボールねじ軸51の回転駆動に伴
い各搬送用ヘッド42A,42Bが固定レール45に沿
って夫々X軸方向に移動するとともに、前記サーボモー
タ47によるボールねじ軸48の回転駆動に伴い、各搬
送用ヘッド42A,42Bにおいて、図9の二点鎖線に
示すように第2可動フレーム46bが第1可動フレーム
46aに対して相対的にX軸方向に移動し得るように構
成されている。
【0051】各可動フレーム46a,46b上には、図
8及び図9に示すようにY軸方向に延びる固定レール5
4が夫々配設されている。各レール54には、ヘッド支
持部材55が夫々移動可能に支持されており、これらヘ
ッド支持部材55の先端部(図8では左側端部)に前記
ヘッド本体43a,43bが夫々組付けられている。そ
して、各可動フレーム46a,46bに、サーボモータ
57により駆動される前記固定レール54と平行なボー
ルねじ軸58が夫々固定台56を介して支持され、これ
らボールねじ軸58がヘッド支持部材55に設けられた
ナット部分59に夫々螺合装着されている。これにより
各サーボモータ57によるボールねじ軸58の回転駆動
に伴い各ヘッド本体43a,43bが可動フレーム46
a,46bに対して夫々Y軸方向に移動するように構成
されている。
【0052】各ヘッド本体43a,43bには、図8に
示すようにノズル部材60a,60b(第1ノズル部材
60a,第2ノズル部材60b)が夫々設けられてい
る。各各ノズル部材60a,60bは、図外の電磁バル
ブ等を介して負圧発生源に接続されており、テストヘッ
ド4への部品搬送時等にはノズル部材60a,60bの
先端に部品吸着用の負圧が供給され、該負圧の作用によ
り部品を吸着するように構成されている。
【0053】各ノズル部材60a,60bは、ヘッド本
体43a,43bのフレームに対して昇降及び回転(ノ
ズル軸回りの回転)が可能となっており、サーボモータ
を駆動源とする図外の駆動機構により駆動するように構
成されている。
【0054】また、各ヘッド本体43a,43bには、
テストヘッド4への部品供給の際にソケットに付された
基準マークを撮像するためのCCDエリアセンサからな
るソケット認識カメラ62が夫々搭載されている。
【0055】テスト領域Taには、さらに前記シャトル
ロボット30A,30Bの部品受渡し位置P2とテスト
ヘッド4との間に、夫々CCDエリアセンサからなる部
品認識カメラ64A,64Bが配設されている。これら
のカメラ64A,64Bは、部品の吸着状態(吸着誤差
(ずれ))を画像の認識に基づいて調べるべく各搬送用
ヘッド42A,42Bにより吸着されている2つの部品
をその下側から同時に撮像し得るように構成されてお
り、図10に示すように、ヘッド本体43a,43bに
より各シャトルロボット30A(又は30B)から部品
が取り上げられた後、該ヘッド本体43a,43bの移
動に伴い部品認識カメラ64A(又は64B)上方に部
品が配置されることにより部品を撮像するように構成さ
れている。なお、部品受渡し位置P2、部品認識カメラ
64A,64B及びテストヘッド4は、X軸と平行な同
一軸線上に配置されており、これにより搬送用ヘッド4
2A,42Bを夫々部品受渡し位置P2からテストヘッ
ド4に亘って最短距離で移動させながその途中で試験前
の部品を撮像し得るように構成されている。
【0056】なお、ハンドラ2の上部には、図1に示す
ように防塵用のカバー2cが装着されており、テスト領
域Ta及びトレイ収納領域Saを含む基台2a上の空間
がこのカバー2cによって覆われている。
【0057】図11は、試験装置1の制御系をブロック
図で示している。この図に示すように、試験装置1は、
論理演算を実行する周知のCPU70aと、そのCPU
70aを制御する種々のプログラムなどを予め記憶する
ROM70bと、装置動作中に種々のデータを一時的に
記憶するRAM70cとを備えた制御部70(制御手
段)を備えている。
【0058】この制御部70には、I/O部(図示せ
ず)を介して試験装置本体3、部品認識カメラ34,6
4A,64B及びソケット認識カメラ62が電気的に接
続されるとともに、前記P&Pロボット20、テストロ
ボット40、シャトルロボット30A,30Bの各コン
トローラ71,72,73A,73Bが電気的に接続さ
れている。また、各種情報を制御部70に入出力するた
めの操作部75及び試験状況等の各種情報を報知するた
めのCRT76等がこの制御部70に電気的に接続され
ている。
【0059】そして、前記ROM70bに記憶されたプ
ログラムに従ってハンドラ2の各ロボット等の動作が制
御部70により以下のように制御されるようになってい
る。
【0060】次に、上記制御部70の制御に基づく試験
装置1の動作について図12のタイミングチャートに基
づいて説明することにする。
【0061】なお、このタイミングチャートは試験動作
中の特定の時点(t0時点)からの動作を示しており、
該t0時点における各ロボット20,30A,30B,
40(搬送用ヘッド42A,42B)の状態は以下の通
りである。
【0062】・P&Pロボット20 ;試験後の部品を
トレイTrに収納すべくヘッド23が移動中の状態にあ
る。つまり、ヘッド23が第1シャトルロボット30A
の部品受渡し位置P1から、部品認識カメラ34の上方
を通過して第3トレイ収納部13上又は第5トレイ収納
部15上に向って移動中の状態になる。なお、認識カメ
ラ34による部品の撮像は終了しており、既に部品の吸
着誤差(ずれ)等が求められている。
【0063】・第1シャトルロボット30A ;次回第
1搬送用ヘッド42Aに供給する部品をテーブル32上
に保持した状態で部品受渡し位置P1に待機した状態に
ある。
【0064】・第1搬送用ヘッド42A ;次に試験を
行う部品を各ヘッド本体43a,43bにより吸着し、
かつ各部品を部品認識カメラ64A上方に配置(待機)
した状態、すなわち部品認識カメラ64Aによる部品の
撮像に基づき前記吸着誤差演算手段76により各ノズル
部材60a,60bに吸着されている部品の吸着誤差
(ずれ)が求められた状態になる。
【0065】・第2シャトルロボット30B ;次に第
2搬送用ヘッド42Bに供給する部品をテーブル32上
に保持した状態で部品受渡し位置P1に待機した状態に
ある。
【0066】・第2搬送用ヘッド42B ;テストヘッ
ド4において試験終了直後の状態にある。
【0067】以上のような状態下において、まず、第2
シャトルロボット30Bのテーブル32が部品受渡し位
置P2に移動するとともに(t1時点)、第2搬送用ヘ
ッド42Bの各ノズル部材60a,60bが部品をソケ
ットに押圧する状態から該部品を吸着する状態に切換
し、該試験後の部品を吸着したまま上昇し、上昇が完了
すると、試験後の部品を受け渡すべく第2搬送用ヘッド
42Bが第2シャトルロボット30Bの部品受渡し位置
P2に移動する(t3時点)。この際、第2搬送用ヘッ
ド42Bの各ヘッド本体43a,43bに吸着されてい
る部品同士のピッチがテーブル32における吸着パッド
33a,33bのピッチ(X軸方向の間隔)と一致しな
い場合は、第2搬送用ヘッド42Bの移動中にヘッド本
体43a,43bの間隔が両ソケットの間のピッチに一
致するように第2搬送用ヘッド42Bが駆動制御され
る。
【0068】部品受渡し位置P2に第2搬送用ヘッド4
2Bが到達すると(t7時点)、まず第2搬送用ヘッド
42Bから第2シャトルロボット30Bのテーブル32
上に試験後の部品が移載され、次いで、該テーブル32
に予め載置されている次の部品(試験前の部品)が第2
ロボット本体42Bに受け渡される。詳しくは、第2シ
ャトルロボット30Bのテーブル32がまず部品受渡し
位置P2において第1ポジション(図6(c)参照)に
位置決めされ、各ノズル部材60a,60bの昇降に伴
いテーブル32上の第1エリアa1に部品が移載される
(t9時点)。その後、テーブル32が第2ポジション
(図6(d)参照)に位置決めされ、テーブル上の第2
エリアa2に保持されている部品が各ノズル部材60
a,60bの昇降に伴い吸着される(t12時点)。
【0069】第2搬送用ヘッド42Bと第2シャトルロ
ボット30Bとの間での部品の受渡しが完了すると、第
2搬送用ヘッド42Bの移動に伴い各部品が部品認識カ
メラ64B上に配置されて(t18時点)、該部品の撮
像に基づき吸着状態を調べるための処理が行われ、この
処理が完了するとテストヘッド4への搬送待機状態とな
る。
【0070】一方、上記のように第2搬送用ヘッド42
Bが部品受渡し位置P2に移動すると、これと同じタイ
ミングで第1搬送用ヘッド42Aが次の部品の試験を行
うべくテストヘッド4に移動する(t3時点)。そし
て、第1搬送用ヘッド42Aがテストヘッド4に到達す
ると(t5時点)、各ノズル部材60a,60bが下降
し、この下降に伴い各ノズル部材60a,60bに吸着
されている部品がテストヘッド4の各ソケットに夫々同
時に押し付けられた状態で位置決めされ、これにより該
部品の試験が開始される(t8時点)。
【0071】同タイミングチャートでは詳細に示してい
ないが、ソケットへの部品の位置決めは、まず、第1搬
送用ヘッド42Aがテストヘッド4上の目標位置に配置
され、ソケット認識カメラ62によるマークの撮像に基
づいてソケットに対する第1搬送用ヘッド42Aの位置
誤差(ずれ)が求められる。そして、上述したように、
主制御手段74においてこの誤差と先に求められている
部品の吸着誤差(ずれ)とに基づいてソケットに対する
各部品の補正量が求められ、この補正量に基づいて第1
搬送用ヘッド42Aが駆動制御されることにより各ヘッ
ド本体43a,43bの吸着部品の位置が補正された
後、各ノズル部材60a,60bの下降に伴い各部品が
ソケット内に位置決めされる。
【0072】各部品位置の補正は、まずサーボモータ5
0の作動により第1搬送用ヘッド42A全体がX軸方向
に移動した後、サーボモータ47の作動により第2可動
フレーム46bのみがX軸方向に移動する。これにより
各ヘッド本体43a,43bに吸着されている部品が夫
々X軸方向に位置補正される。そして、サーボモータ5
7の作動により各ヘッド本体43a,43bが夫々Y軸
方向に移動することにより各部品がY軸方向に夫々位置
補正され、さらに不図示の各サーボモータによりヘッド
本体43a,43bの各ノズル部材60a,60bがノ
ズル軸回り回転することにより各部品が夫々回転方向に
位置補正される。これにより各ヘッド本体43a,43
bに吸着されている部品が夫々X軸方向、Y軸方向及び
回転方向に位置補正されることとなる。なお、ここでは
説明の便宜上、各部品の位置補正をX軸方向、Y軸方向
及び回転方向に分けて時系列的に説明したが、実際には
これら各方向の補正が並行して行われることにより各部
品の位置補正が速やかに行われる。
【0073】テストヘッド4に位置決めされている部品
の試験が終了すると(t20時点)、各ノズル部材60
a,60bの上昇に伴い部品がソケットから取り外され
(t23時点)、さらに第1搬送用ヘッド42Aの移動
に伴い該試験後の部品が第1シャトルロボット30Aと
の部品受渡し位置P2に搬送される(t25時点)。そ
して、上述した第2搬送用ヘッド42Bと第2シャトル
ロボット30Bとの部品受け渡し動作と同様にして、第
1搬送用ヘッド42Aと第1シャトルロボット30Aと
の間で部品の受け渡しが行われる。
【0074】また、部品受渡し位置P2への第1搬送用
ヘッド42Aの移動開始と同じタイミングで第2搬送用
ヘッド42Bがテストヘッド4に移動し(t23時
点)、第2搬送用ヘッド42Bの各ヘッド本体43a,
43bに吸着されている次の部品がテストヘッド4に押
し付けられた状態で位置決めされることとなる(t26
時点)。この際、第2搬送用ヘッド42Bの各ヘッド本
体43a,43bに吸着されている部品同士のピッチが
テストヘッド4上のソケットのピッチと異なる場合に
は、この移動中にヘッド本体43a,43bの間隔が両
ソケットの間のピッチに一致するように第2搬送用ヘッ
ド42Bが駆動制御される。
【0075】一方、P&Pロボット20及び各シャトル
ロボット30A,30Bについては、テストロボット4
0の各搬送用ヘッド42A,42Bに対する部品の受け
渡しが連続的に行われ得るように以下のようにそれらの
動作が制御される。
【0076】まず、第2シャトルロボット30Bについ
ては、第2搬送用ヘッド42Bが部品受渡し位置P2に
到達すると同時(t7時点)に試験後の部品を受け取る
べく、テーブル32が部品受渡し位置P2に移動する。
そして、上記の通りまずテーブル32が第1ポジション
(図6(c)参照)に配置された状態で第2搬送用ヘッ
ド42Bからテーブル32へ試験後の部品が受け渡され
(t9時点)、さらにテーブル32が第2ポジション
(図6(d)参照)に配置されて(t10時点)試験前
の部品がテーブル32から第2搬送用ヘッド42Bに受
け渡される(t12時点)。
【0077】その後、テーブル32が部品受渡し位置P
1に移動を開始し(t12時点)、まず第2ポジション
(図6(b)参照)にテーブル32が配置された状態で
(t14時点)、P&Pロボット20からテーブル32
に次ぎの部品(試験前の部品)が受け渡される(t16
時点)。次いで、テーブル32が第1ポジション(図6
(a)参照)に配置され(t17時点)、この状態でテ
ーブル32からP&Pロボット20に試験後の部品が受
け渡され(t19時点)、その後、次回の部品受渡しま
で部品受渡し位置P1において待機状態におかれる。な
お、これは第2シャトルロボット30Bの動作制御であ
るが、第1シャトルロボット30Aについても第1搬送
用ヘッド42Aとの関係で同様にその動作が制御され
る。
【0078】一方、P&Pロボット20は、先に試験が
終了した部品をその試験結果に応じたトレイTrに収納
すべくその動作が制御される。
【0079】具体的には、各ノズル部材24a,24b
に吸着された2つの部品(試験後の部品)のうち少なく
とも一つが合格品の場合には、まずヘッド23が第3ト
レイ収納部13上に配置され(t2時点)、例えば第1
ノズル部材24aの昇降に伴い該合格品がトレイTrに
収納される(t4時点)。次いで、第2ノズル部材24
bの吸着部品が合格品である場合にはヘッド23が同ト
レイTr上の次の部品収納部に僅かに移動した後、一
方、不合格品である場合にはヘッド23が第5トレイ収
納部15上に移動した後、第2ノズル部材24bの昇降
に伴い残りの部品がトレイTrに収納れる(t6時
点)。こうして第2ノズル部材24bの昇降に伴い部品
がその試験結果に応じて第3トレイ収納部13、あるい
は第5トレイ収納部15のトレイTr内に収納される
(t8時点)。なお、両方の部品が不合格品の場合に
は、ヘッド23が第5トレイ収納部15上に配置され
(t2時点)、例えば第1ノズル部材24aの昇降に伴
い最初の部品がトレイTrに収納され(t4時点)、そ
の後、ヘッド23が同トレイTr上の次の部品収納部上
に配置されて(t6時点)、第2ノズル部材24bの昇
降に伴い残りの部品がトレイTr内に収納される(t8
時点)。
【0080】なお、各トレイTrへの部品の収納時に
は、部品認識カメラ34の撮像に基づく各部品の吸着誤
差に基づいてヘッド23の移動及び各ノズル部材24
a,24bの回転が制御されることによりトレイTr内
に部品が正確に収納されることとなる。
【0081】試験後の部品のトレイTrへの収納が完了
すると、ヘッド23が第2トレイ収納部12又は第4ト
レイ収納部14の上方に配置され(t11時点)、新た
な部品がトレイTrから取出される(t13時点)。そ
して、ヘッド23が第2シャトルロボット30Bの部品
受渡し位置P1に移動配置され、上述したように当該新
たな部品が第2シャトルロボット30Bに受け渡される
とともに(t16時点)、試験後の部品が第2シャトル
ロボット30BからP&Pロボット20に受け渡される
(t19時点)。
【0082】このような第2シャトルロボット30Bに
対する部品の受渡しが完了すると、ヘッド23が部品認
識カメラ34上に配置され、試験後の部品の撮像に基づ
き該部品の吸着状態を調べるための処理が行われ、この
処理が完了すると、該部品をトレイTrに収納すべくヘ
ッド23等の動作が制御されることとなる(t22時
点)。なお、t22時点からt27時点(試験後の次ぎ
の部品を収納すべく第3トレイ収納部13等の上方にヘ
ッド23が位置決めされた時点)の間においては、試験
結果に応じて部品が所定のトレイTrへ収納された後、
第2トレイ収納部12等から新たな部品が取出されて第
1シャトルロボット30Aのテーブル32に受け渡され
るとともに、試験終了後の部品を受け取るための一連の
動作が第1第1シャトルロボット30A及びP&Pロボ
ット20により行われる。この一連の動作は、t2時点
からt19時点の間の動作と同様なものである。また、
t26時点からt28時点(次の部品の試験が終了した
時点)の間における第2搬送用ヘッド42Bによる試験
動作も、t8時点からt20時点の間における第1搬送
用ヘッド42Aによる動作と同様にその動作が制御され
る。
【0083】このようにして以後、図10に示すよう
に、部品受渡し位置P2とテストヘッド4との間で1搬
送用ヘッド42A(第2搬送用ヘッド42B)を移動さ
せつつテストヘッド4に2ずつ部品を搬送、位置決めし
て試験を行う一方で、これと並行して第2搬送用ヘッド
42B(又は第1搬送用ヘッド42A)と第2シャトル
ロボット30B(又は第2シャトルロボット30B)と
の間で部品の受け渡し(つまり試験後の部品と次回の部
品との受け渡し)を行いながら、さらにこのような第1
搬送用ヘッド42A及び第2搬送用ヘッド42Bに対す
る部品の受け渡し等が連続的に行われるように各シャト
ルロボット30A,30B及びP&Pロボット20の動
作が制御される。
【0084】なお、図13のタイミングチャート中には
示していないが、試験の進行に伴う部品の取出しにより
第2トレイ収納部12又は第4トレイ収納部14のトレ
イTr(最上位のトレイ)が空になると、ヘッド23
(トレイ用ノズル部材25)により該空トレイTrを吸
着して第2トレイ収納部12等から第1トレイ収納部1
1に搬出するようにP&Pロボット20の動作が制御さ
れた後、第2トレイ収納部12等においてサーボモータ
18の作動により前記テーブル16が上昇し、次のトレ
イTrがP&Pロボット20に対する部品受渡し高さ位
置(部品取出し高さ位置)に位置決めされる。これによ
って第2トレイ収納部12等において次ぎのトレイTr
からの部品の取出しが可能となる。
【0085】一方、第3トレイ収納部13又は第5トレ
イ収納部15において、トレイTr(最上位のトレイ)
に部品が満載状態となると、第1トレイ収納部11に収
納されている空トレイTrをヘッド23により吸着して
第3トレイ収納部13等に搬入するようにP&Pロボッ
ト20が動作制御される。この場合、例えば各第3トレ
イ収納部13等においてまずサーボモータ18の作動に
より前記テーブル16が下降し、この状態で空トレイT
rが満載状態のトレイ上に重ねられることにより、空ト
レイTrがP&Pロボット20に対する部品受渡し高さ
位置(部品収納高さ位置)に位置決めされる。これによ
り第3トレイ収納部13等において試験終了後の次の部
品の収納が可能となる。
【0086】以上説明したように、この試験装置1で
は、第2,第4トレイ収納部12,14のテーブル16
上に部品(試験前の部品)を収納したトレイTrを積層
した状態で載置しておき、その最上位のトレイTrから
部品を取出しつつ、該トレイTrが空になると、最上位
の該空トレイを搬出し、テーブル16を上昇させて次の
トレイTrを所定の部品取出し高さ位置に位置決めする
ことにより新たなトレイTrを準備するように構成して
いるので、次のトレイTrを搬入するための動作として
は、テーブル16をトレイTrの厚み分だけ移動(上
昇)させるという僅かな動作で済む。そのため、空トレ
イを搬出した後、全く別の場所から次ぎのトレイを搬入
して位置決めする従来のこの種の装置と比べると、次の
トレイTr(部品)の搬入および位置決めに要する時間
を大幅に短縮することができる。
【0087】また、第3,第5トレイ収納部13,15
についても、テーブル16上に置かれた空トレイTrに
部品を収納しながら、そのトレイTrが満載状態になる
と、次のトレイTrを所定の部品収納高さ位置に位置決
めし得るようにテーブル16を下降させて該満載状態の
トレイの上に空トレイTrを載置するように構成してい
るので、部品が満載状態となったトレイTrを搬出する
ための動作としては、テーブル16をトレイTrの厚み
分だけ移動(下降)させるという僅かな動作で済む。そ
のため、満載状態のトレイを全く異なる場所に搬出して
から、次の空トレイを搬入する従来のこの種の装置と比
べると、満載状態のトレイの搬出に要する時間を大幅に
短縮することができる。
【0088】つまり、この試験装置1によれば、試験前
の部品を収納した次のトレイTrの準備や、試験後の部
品を収納する空トレイTrの準備を従来に比べて迅速に
行うことが可能であり、新たなトレイの準備が間に合わ
ずに作業が中断されるといった事態の発生をより有効に
防止することができる。従って、試験装置1における一
連の試験動作をより効率良く行うことが可能になるとい
う効果がある。
【0089】また、上記のように各トレイ収納部11〜
15においては、トレイTrを積み重ねた状態で収納す
るように構成されているので、多くのトレイTrをハン
ドラ2に収納しながらも平面的な占有スペースを抑える
ことができ、試験装置1のコンパクト化の要請にも良好
に応えることができという効果もある。しかも、基台2
aの下側に設けた筐体2d内にトレイTrを収納し、基
台2aに形成された開口部を介してトレイTrをトレイ
収納領域Saに配置するように構成されているので、基
台上の作業スペースを有効に活用することができるとい
う効果もある。
【0090】また、第3トレイ収納部13におけるトレ
イTrの収納容量を上述したように他の第2トレイ収納
部12等に比して大きく設定していることにより、図3
の破線に示すように、筐体2d内には第3トレイ収納部
13の機構部分の両側(X軸方向両側)にスペースが形
成されることとなる。従って、このスペースに上記制御
部70等を含むか種駆動制御用の機器を格納することに
より、トレイTrや前記機器を一つの筐体2d内に合理
的に収納することができ、これにより装置構成のコンパ
クト化に寄与し得るとう効果もある。
【0091】ところで、以上説明した試験装置1は、本
発明に係る部品試験装置の一の実施形態であって、その
具体的な構成は、本発明の要旨を逸脱しない範囲で適宜
変更可能である。例えば、以下のような構成を採用する
こともできる。
【0092】 上記実施形態では、部品の取出しに伴
い第2トレイ収納部12等においてトレイTrが空にな
ると、まずP&Pロボット20により該空トレイを搬出
した後、テーブル16を上昇させて次のトレイTrを部
品受渡し高さ位置に位置決めするようにしているが、例
えば、テーブル16を上昇させて次のトレイTr(上か
ら2段目のトレイTr)を前記高さ位置に位置決めした
後、最上位の空トレイを搬出するようにしてもよいし、
また、可能な場合にはこのような空トレイの搬出動作と
テーブル16の上昇動作とを並行して行うようにしても
よい。
【0093】 上記実施形態では、部品の収納に伴い
3トレイ収納部13等においてトレイTrが満載状態と
ると、まずテーブル16を下降させてから、次の空トレ
イTrを満載状態のトレイ上に載置するようにしている
が、例えば、満載状態のトレイ上に空トレイを重ねて載
置した後、テーブル16を下降させて最上位のトレイT
rを部品収納高さ位置に位置決めするようにしてもよい
し、また、可能な場合にはこのような空トレイの搬入動
作とテーブル16の下降動作とを並行して行うようにし
てもよい。
【0094】 上記実施形態では、トレイ収納部11
〜15をX軸方向に一列に配列しその中央に合格部品を
収納するための第3トレイ収納部13を配置している
が、例えば、第3トレイ収納部13を最端に配置するよ
うにしてもよい。このようにすれば、第3トレイ収納部
13の側部であってその他の第1トレイ収納部11等の
テーブル16等の機構部分の下側に連続した広いスペー
スを確保することができ、制御部70等を含む各種駆動
制御用の機器を収納し易くなるという利点がある。
【0095】
【発明の効果】以上説明したように、本発明は、試験前
の部品を収納したトレイを載置する第1トレイ載置部又
は試験後の部品を収納するトレイを載置する第2トレイ
載置部に昇降駆動式のテーブルを設けて複数のトレイを
このテーブル上に積層した状態で載置し得るように構成
するとともに、第1トレイ載置部又は第2トレイ載置部
と所定の空トレイ載置部との間を移動して空トレイを搬
送するトレイ搬送手段を設けるようにしたので、例え
ば、第1載置部においては、前記テーブル上に複数のト
レイ(試験前の部品を収納したトレイ)を積層載置し、
最上位のトレイから部品を取出しつつ、該トレイが空に
なった場合には該空トレイをトレイ搬送手段により搬出
してテーブルを上昇させるようにすることにより、部品
の取出しに伴う次のトレイ(部品)の準備を迅速に行う
ことができる。また、第2載置部では、前記テーブル上
に空トレイを載置し、該トレイに部品を収納しつつ、該
トレイが満載状態となると、テーブルを下降させて次ぎ
の空トレイをトレイ搬送手段により搬入して該満載状態
のトレイ上に積み重ねるようにすることにより、部品の
収納に伴う次ぎの空トレイの準備を迅速に行うことがで
きる。従って、新たなトレイの準備が間に合わずに作業
が中断されるといった事態の発生をより有効に防止する
ことができ、その結果、一連の試験動作をより効率良く
行うことが可能になるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係る部品試験装置を示す斜視概略図で
ある。
【図2】部品試験装置を示す平面図である。
【図3】トレイ収納領域のトレイ収納部の構成を示す断
面図である。
【図4】トレイ収納部の構成を示す図3のA−A断面図
である。
【図5】シャトルロボットのテーブルの構成を示す平面
略図である。
【図6】シャトルロボットの部品受渡し位置におけるテ
ーブルの位置を示す図2のB矢指図である((a),
(c)はテーブルが第1ポジションに配置された状態、
(b),(d)はテーブルが第2ポジションに配置され
た状態を示す)。
【図7】テストロボットの具体的な構成を示す平面図で
ある。
【図8】テストロボットの具体的な構成を示す図7のC
−C断面図である。
【図9】テストロボットの具体的な構成を示す図8のD
−D断面図である。
【図10】テスト領域の構成を示す模式図である。
【図11】部品試験装置の制御系を示すブロック図であ
る。
【図12】図11に示す制御系の制御に基づく部品試験
装置の動作を示すタイミングチャートである。
【符号の説明】
1 部品試験装置 2 ハンドラ 3 試験装置本体 4 テストヘッド 11 第1トレイ収納部 12 第2トレイ収納部(第1トレイ載置部) 13 第3トレイ収納部(第2トレイ載置部) 14 第4トレイ収納部(第1トレイ載置部) 15 第5トレイ収納部(第2トレイ載置部) 20 P&Pロボット 23 ヘッド(トレイ搬送手段) 24a 第1ノズル部材 24b 第2ノズル部材 25 トレイ用ノズル部材 30A 第1シャトルロボット 30B 第2シャトルロボット 40 テストロボット 42A 第1搬送用ヘッド 42B 第2搬送用ヘッド 43a,43b ヘッド本体 70 制御部 Sa トレイ収納領域 Ta テスト領域 P1,P2 部品受渡し位置 Tr トレイ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 2G003 AA07 AF05 AF06 AG01 AG11 AG12 AG14 AG16 AH01 AH04 3F030 AA04 AA08 BA02 BB01 BC04 4M106 AA02 BA14 CA15 DG02 DG03 DG07 DG08 DG16 DG20 DG25 DJ05 DJ38

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 試験前の部品を収納したトレイを載置す
    る第1トレイ載置部と、試験後の部品を収納するトレイ
    を載置する第2トレイ載置部とを有し、第1トレイ載置
    部のトレイから部品を取出して試験装置本体に供給する
    一方、試験後の部品を第2トレイ載置部のトレイに収納
    する部品試験装置において、 第1トレイ載置部又は第2トレイ載置部の少なくとも一
    方に、昇降駆動式のテーブルが設けられ、複数のトレイ
    をこのテーブル上に積層した状態で載置するように構成
    されるとともに、前記第1トレイ載置部又は第2トレイ
    載置部と所定の空トレイ載置部との間を移動して空トレ
    イを搬送するトレイ搬送手段が設けられていることを特
    徴とする部品試験装置。
  2. 【請求項2】 請求項1記載の部品試験装置において、 第1トレイ載置部に前記テーブルを備えるとともに、こ
    の第1トレイ載置部と空トレイ載置部との間を移動可能
    な前記トレイ搬送手段を備えるものであって、部品を収
    納した複数のトレイが前記テーブル上に積層した状態で
    載置され、かつ最上位のトレイが所定の部品取出し高さ
    位置に位置決めされた状態で該最上位のトレイから順に
    部品が取出されるとともに、この部品の取出しに伴い空
    になった最上位のトレイが前記トレイ搬送手段により第
    1トレイ載置部から搬出され、このトレイの搬出に伴
    い、前記テーブルが上昇して次のトレイを前記部品取出
    し高さ位置に位置決めするように前記テーブルおよびト
    レイ搬送手段が構成されていることを特徴とする部品試
    験装置。
  3. 【請求項3】 請求項1又は2記載の部品試験装置にお
    いて、 第2トレイ載置部に前記テーブルを備えるとともに、こ
    の第2トレイ載置部と空トレイ載置部との間を移動可能
    な前記搬送手段を備えるものであって、前記テーブル上
    に載置されたトレイのうち最上位のトレイが所定の部品
    収納高さ位置に位置決めされた状態で該トレイに部品が
    収納され、この部品の収納に伴いトレイが満載状態とな
    ると、前記トレイ搬送手段により空トレイが第2トレイ
    載置部に搬入されて前記満載状態のトレイ上に積み重ね
    られるとともに、前記テーブルが下降して空トレイを前
    記部品収納高さ位置に位置決めするように前記テーブル
    およびトレイ搬送手段が構成されていることを特徴とす
    る部品試験装置。
  4. 【請求項4】 請求項3記載の部品試験装置において、 前記第2トレイ載置部として試験結果に対応する複数の
    トレイ載置部が設けられ、これらトレイ載置部のうち合
    格部品に対応するトレイ載置部がその他の結果に対応す
    るトレイ載置部に比べて多くのトレイを載置できるよう
    に構成されていることを特徴とする部品試験装置。
  5. 【請求項5】 請求項1乃至4の何れかに記載の部品試
    験装置において、 前記試験装置本体および部品搬送用の各種機器を配置す
    るための基台が設けられ、この基台上に前記トレイ搬送
    手段が設けられるとともに、この基台の下側に筐体が一
    体に設けられ、前記テーブルがこの筐体内に配設されて
    該テーブル上に載置したトレイのうち少なくとも最上位
    のトレイを前記基台に形成された開口部を介して基台上
    に配置するように構成されていることを特徴とする部品
    試験装置。
  6. 【請求項6】 請求項5記載の部品試験装置において、 第1および第2トレイ載置部を少なくとも含む複数のト
    レイ載置部を有するとともに、各トレイ載置部に前記テ
    ーブルを備えるものであって、 各トレイ載置部が直線状に一列に配列されるとともに、
    第2トレイ載置部のうち合格部品に対応する第2トレイ
    載置部がこの配列のうち最端に配列され、前記筐体内に
    おけるこの最端のトレイ載置部の側方であって、かつそ
    の他のトレイ載置部の下方に各種駆動制御用の機器が収
    納されていることを特徴とする部品試験装置。
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