JP2002271191A - 周波数同期ループ回路および位相同期ループ回路 - Google Patents
周波数同期ループ回路および位相同期ループ回路Info
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Abstract
ない回路スペースを使用し、かつ高い費用効果で製造で
きるPLL(FLL)回路を提供する。 【解決手段】 このPLL(FLL)回路は、追従型発
振器3の出力信号の位相関係(周波数)と基準発振器2
の出力信号の位相関係(周波数)を比較し、位相(周波
数)偏移を特徴づける出力信号を発振器3に供給する
と、位相(周波数)誤差が小さくなるようにこの信号を
制御する位相(周波数)比較器6と、信号の位相関係
(周波数)が外部パラメータに影響される制御可能な発
振器3と、信号の位相関係(周波数)が一定な基準発振
器2と、さらに、位相(周波数)偏移を特徴づける出力
信号を表す信号を受信して外部パラメータの実際の値を
表す測定値に変えることができる外部パラメータ監視用
の素子10とを含む。
Description
路(phase-locked loop circuit:PLL)および周波数同
期ループ回路(frequency-locked loop circuit:FLL)
に関する。
路は、周波数を制御可能な追従型発振器(frequency-co
ntorollable tracking oscillator)(通常は電圧制御
発振器「VCO」)を、電圧制御発振器と比較して位相
または周波数がそれぞれ本質的に一定である(水晶制御
発振器のような)基準発振器の信号に、位相または周波
数のいずれかで同期させるために電子回路内で複数の用
途に使用されている。追従型発振器によって発生するク
ロック周波数は或る因子(たとえば100)だけ基準発
振器の周波数よりも高く、分周器(frequency divide
r)を介して追従型発振器の制御用信号をそれぞれ発生
する位相比較器または周波数比較器に使用される。追従
型発振器で発生する出力信号は、たとえば、マイクロプ
ロセッサのシステムクロック信号として使用されうる。
かとは別に、現今は、各種機能を満たすために複数のい
ろいろな回路要素(circuit components)が同一チップ
上に集積されるのが一般的である。これらには、たとえ
ば、周囲温度や変化する供給電圧のようなある種のパラ
メータであって、この情報が重要な機能を備えた他の回
路要素にこの情報を使用できるようにする前記パラメー
タを測定するための回路要素が含まれる。
数の回路要素のすべてに対してマイクロチップ上で利用
可能なスペースを最大限使用可能にすることともに、こ
れらの回路要素のサイズを最大限可能な程度に小さくす
ることが絶えず追求されている。温度および電圧または
それらのいずれかをそれぞれ測定するための回路ととも
に使用されるPLLおよびFLLの双方またはそれらの
いずれかを含むこれまでの回路において可能な最善の方
法でも、この要求条件は満足されていなかった。
度や供給電圧のような)特定のパラメータの測定用回路
とともに、これまでの実施例による解決方法よりも少な
い回路スペースを使用して、高い費用効果で製造するこ
とができるPLLまたはFLL回路をそれぞれ提供する
ことである。
によって供給される信号の位相関係と基準発振器によっ
て供給される信号の位相関係を比較し、位相偏移(phas
e shift)を特徴づける出力信号を追従型発振器に供給
すると、位相誤差が小さくなるようにこの信号が制御さ
れる位相比較器とともに、信号の位相関係が外部パラメ
ータによって影響を受ける制御可能な追従型発振器、お
よび信号の位相関係が一定である基準発振器と一緒に使
用され、さらに、位相偏移を特徴づける出力信号を表す
信号を受信でき、それを外部パラメータの実際の値を表
す測定値に変えることができるように考慮されている外
部パラメータ監視用の素子が設けられている位相同期ル
ープ回路(PLL回路)によって満たされる。
よって供給される周波数と、基準発振器によって供給さ
れる信号の周波数を比較するとともに、周波数誤差を特
徴づける出力信号を追従型発振器に供給すると、周波数
誤差が小さくなるようにこの信号が制御される周波数比
較器とともに、周波数が外部パラメータの影響を受ける
制御可能な追従型発振器、および周波数が一定の基準発
振器と一緒に使用され、さらに、周波数偏移を特徴づけ
る出力信号を表す信号を受信でき、それを外部パラメー
タの実際の値を表す測定値に変えることができるように
考慮されている外部パラメータ監視用の素子が設けられ
ている周波数同期ループ回路(FLL回路)によって満
たされる。
囲温度のような1つだけの外部パラメータによって影響
を受ける場合には、PLLまたはFLL制御回路の動作
中に、位相/周波数比較器が出力する信号のレベルがこ
のパラメータを特徴づけるので、周囲温度のようなパラ
メータの測定値は、1つの別の素子を使用することによ
って前記信号レベルから決定される。したがって、本発
明は以前に使用したパラメータ決定用回路要素をPLL
またはFLL回路自体に集積して、従来の解決方法に比
べて回路スペースの要求条件を緩和するとともに、製造
原価を削減する。
る素子は、マイクロプロセッサで構成されることが望ま
しい。マイクロプロセッサにクロックパルスを供給する
ために追従型発振器が使用されるとすれば、既存の従来
方法と比較してもパラメータの決定とともに、位相また
は周波数に追従する回路素子を更に備える必要はない。
本発明の更なる有利な展開は、従属請求項に指定されて
いる。
型式で本発明を説明する。
す。この従来のPLL回路は、この場合水晶制御発振器
で構成された基準発振器2と、この場合デジタル制御発
振器(DCO)である制御された追従型発振器3とを含
む。
準発振器2の周波数fACLKよりも因子Nだけ高い。
これは、追従型発振器3の出力に接続された分周器4に
よって基準発振器2の周波数になる。
れ、第2の入力が分周器の出力に接続され、基準発振器
の出力の信号の位相と分周器4からの信号の位相を比較
し、さらにこれら2つの信号の間の位相偏移の特徴であ
る出力信号7を出力する位相比較器6がさらに設けられ
ている。
フィルタ8により、位相偏移がゼロになって、同時に条
件、fMCLK=N*fACLKが満足されるように、
すなわち、追従型発振器3の周波数が基準発振器2の
(一定な)周波数のN倍の周波数に対応するように制御
可能な追従型発振器3を制御するために、この出力信号
7は対応するデジタル信号9に変換される。
CLKの変化が本質的に外部パラメータの影響の結果で
あるように具体化されていると想定されたい。本例にお
けるこの外部パラメータは周囲温度Tであると想定す
る。
発振器3の周波数、fMCLKの変化が生起する。これ
が生起すると、位相比較器6からの出力信号7のレベル
に対応する変化が生じ、デジタル形式の出力信号を特徴
づけるデジタルフィルタ8の出力信号9のレベルにも対
応する変化が生じる。PLL回路の動作中に温度が変化
するのと同じ速度で、位相比較器6からの出力信号また
はデジタルフィルタ8からの出力信号9に対応する変化
が発生して、デジタル形式のこの出力信号をそれぞれ特
徴づける。
によって特徴づけられた信号、つまり、温度変化から温
度を決定することができるように具体化されているマイ
クロプロセッサ10の信号入力11に印加される。
応する温度の値について、デジタルフィルタによって出
力されたデジタル値の割り当てを格納するメモリの中に
ルックアップテーブルを保持することができる。この割
り当てシステムを使用して、マイクロプロセッサの信号
入力11に供給される制御信号9のデジタル値と、テー
ブルに格納されている値を比較することにより、現在温
度の値を決定することが可能になる。
0は、基準発振器2によって供給される周波数fACLKの
出力信号が存在するクロック入力12を更に備えてい
る。温度測定のサンプルの時系列は、対応する位相比較
器6と制御信号9の配信におけるその予定時間とになっ
ているので、クロック入力12があることは有利であ
る。デジタル制御信号が丁度生起した場合にのみ意味が
あるとして、温度測定値の更新されたサンプリング処理
が表示されることを意味する。デジタル制御信号9の変
化が基準発振器2によって供給される周波数fACLKの信
号によって制御されるとすれば、温度値のサンプリング
処理の時系列は、この信号によって優先的に制御され
る。これは、たとえば、位相比較器6が基準発振器の信
号の正の傾きのところでデジタル制御信号9を出力する
ときは、いつも温度決定のための新しいサンプル値を評
価用のマイクロプロセッサに供給することができること
を意味する。
器のクロック信号はマイクロプロセッサのクロック信号
として使用することができるので、マイクロプロセッサ
10自体が専用のクロック信号発生器を備える必要はな
い。
知の各種の異なる数値計算法によってなされる。
精度を上げるために、特定の数のサンプリングの値を、
マイクロプロセッサ10のメモリの中に指定した時間間
隔で逐次格納して累積することが可能である。
新のサンプリング値で置き換えることによって、移動平
均値(sliding average value)を求めることができ
る。
路の利用に限定されるものでないことは勿論であり、周
波数追従型同期回路によって同等に使用され、この場合
は、図1に示す位相比較器の代わりに周波数比較器が設
けられる。
具体化されることは必ずしも必要ではないことは勿論で
あり、従来の電圧制御発振器(VCO)を同等に使用し
てもよい。
まる外部パラメータは、周囲温度によって代表される必
要はない。たとえば、追従型発振器の周波数または位相
に本質的に影響を与えるのは、追従型発振器の供給電圧
でありうる。かかる場合、図1に示すマイクロプロセッ
サは、追従型発振器の供給電圧の測定値を供給すること
ができる。
条件から構成されていないことは勿論である。低域通過
フィルタによって供給されるアナログ信号が、マイクロ
プロセッサの中のアナログ・デジタル変換器によってデ
ジタル化される実施例も同等に考慮されうる。
ロセッサで構成すべきことは必ずしも必要ではないこと
は勿論であるが、制御信号9からパラメータの測定値を
発生することができる論理回路も同等に適切である。
る。 (1)追従型発振器によって供給される信号の位相関係
と、基準発振器によって供給される信号の位相関係を比
較し、前記追従型発振器の位相偏移を特徴づける出力信
号を前記追従型発振器に供給すると、前記位相誤差が小
さくなるようにこの信号が制御される位相比較器ととも
に、信号/位相関係が本質的に外部パラメータに依存す
る制御可能な前記追従型発振器、および信号の位相関係
が一定の前記基準発振器を備えた位相同期ループ回路
(PLL回路)であって、前記位相偏移を特徴づける出
力信号を表す信号をデジタルフィルタから受信し、さら
にルックアップテーブルに格納された前記信号を、前記
外部パラメータの実際の値を示す測定値に変換するよう
に具体化されている前記外部パラメータを監視するため
の素子を更に含むことを特徴とする前記回路。
号の周波数と、基準発振器によって供給される信号の位
相関係を比較し、前記追従型発振器の周波数誤差を特徴
づける出力信号を前記追従型発振器に供給すると、前記
周波数誤差が小さくなるようにこの信号が制御される周
波数比較器とともに、信号が本質的に外部パラメータに
依存する制御可能な前記追従型発振器、および周波数が
一定の前記基準発振器を備えた周波数同期ループ回路
(FLL回路)であって、前記周波数偏移を特徴づける
出力信号を表す信号をデジタルフィルタから受信し、さ
らにルックアップテーブルに格納された前記信号を、前
記外部パラメータの実際の値を示す測定値に変換するよ
うに具体化されている前記外部パラメータを監視するた
めの素子を更に含むことを特徴とする前記回路。
路において、前記外部パラメータは、前記周囲温度によ
って代表される前記回路。
路において、前記外部パラメータは、前記追従型発振器
の供給電圧によって代表される前記回路。
において、前記外部パラメータの測定するための前記素
子は、前記周波数偏移を特徴づける出力信号を表す前記
信号を受信することができる信号入力を備えたマイクロ
プロセッサから構成される前記回路。
グ・デジタル変換器が設けられ、前記アナログ・デジタ
ル変換器は、前記位相比較器または周波数比較器の出力
と、前記マイクロプロセッサの前記信号入力との間に接
続される前記回路。
従型発振器は、前記アナログ・デジタル変換器で発生す
る前記デジタル信号を受信するデジタル制御発振器であ
る、前記回路。
において、前記基準発振器の周波数は、前記追従型発振
器の基本周波数よりも低く、前記追従型発振器の出力と
前記位相または周波数比較器の入力との間に分周器が設
けられる前記回路。
において、前記マイクロプロセッサのメモリは、中に比
較用の値が格納されるルックアップテーブルを格納し、
前記マイクロプロセッサは前記値を使用して、パラメー
タのサンプリング値から前記パラメータの測定値を決定
することができる前記回路。
路において、前記基準発振器の出力は前記マイクロプロ
セッサのクロック入力に接続され、前記基準発振器のク
ロック信号は、前記位相比較器の出力信号を特徴づける
前記信号の値のサンプリングが実行される時点を決定す
る前記回路。
マイクロプロセッサは、複数のサンプリング値を累積し
て、その値からパラメータの平均値を計算することがで
きるように具体化されている前記回路。
記マイクロプロセッサは、前記基準発振器からのクロッ
ク信号を前記マイクロプロセッサのクロック信号として
使用することができるように具体化されている前記回
路。
または周波数の誤差を小さくできるように前記追従型発
振器を制御するために使用される位相または周波数比較
器とともに、その信号の位相関係または周波数が外部の
パラメータによって影響を受ける制御可能な追従型発振
器を備えた位相同期ループ回路および周波数同期ループ
回路(PLL回路およびFLL回路)に関する。本発明
は、外部パラメータを測定するための位相比較器または
周波数比較器の出力信号を表す信号を受信して、その信
号を外部パラメータの現在の値を表す測定値に変換する
ことができる(マイクロプロセッサのような)素子を備
えている。この外部パラメータは、たとえば、周囲温度
や追従型発振器の供給電圧を表すことができる。
発明によるPLL回路を示す図。
Claims (1)
- 【請求項1】 追従型発振器によって供給される信号の
位相関係と、基準発振器によって供給される信号の位相
関係を比較し、前記追従型発振器の位相偏移を特徴づけ
る出力信号を前記追従型発振器に供給すると、前記位相
誤差が小さくなるようにこの信号が制御される位相比較
器とともに、信号/位相関係が本質的に外部パラメータ
に依存する制御可能な前記追従型発振器、および信号の
位相関係が一定の前記基準発振器を備えた位相同期ルー
プ回路(PLL回路)であって、 前記位相偏移を特徴づける出力信号を表す信号をデジタ
ルフィルタから受信し、さらにルックアップテーブルに
格納された前記信号を、前記外部パラメータの実際の値
を示す測定値に変換するように具体化されている前記外
部パラメータを監視するための素子を更に含むことを特
徴とする前記回路。
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US5216389A (en) * | 1992-01-31 | 1993-06-01 | Motorola, Inc. | Temperature compensation of a crystal reference using direct digital synthesis |
DE4209843A1 (de) * | 1992-03-26 | 1993-11-18 | Telefunken Microelectron | Temperaturkompensierte Oszillatoranordnung |
US5576666A (en) * | 1993-11-12 | 1996-11-19 | Nippondenso Technical Center Usa, Inc. | Fractional-N frequency synthesizer with temperature compensation |
JPH0856151A (ja) * | 1994-08-12 | 1996-02-27 | Nec Miyagi Ltd | 電圧制御発振回路 |
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JPH10271002A (ja) * | 1997-03-21 | 1998-10-09 | Sony Corp | 発振制御装置 |
US5856766A (en) * | 1997-06-30 | 1999-01-05 | Motorola Inc. | Communication device with a frequency compensating synthesizer and method of providing same |
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