JP2002236138A - 電子機器検査方法及び装置 - Google Patents
電子機器検査方法及び装置Info
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- JP2002236138A JP2002236138A JP2001031137A JP2001031137A JP2002236138A JP 2002236138 A JP2002236138 A JP 2002236138A JP 2001031137 A JP2001031137 A JP 2001031137A JP 2001031137 A JP2001031137 A JP 2001031137A JP 2002236138 A JP2002236138 A JP 2002236138A
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- electronic devices
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 本発明は、多数の電子機器にウォーミングア
ップ電圧を印加して検査待ちとし、その中の１個又はそ
れ以上のみに標準検査電圧を与え、標準検査電圧を各電
子機器に確実に与えることを目的とする。 【解決手段】 本発明による電子機器検査方法及び装置
は、各電子機器(20)にウォーミングアップ電圧(15a)を
印加して検査待ち状態とし、電子機器(20)の１個又はそ
れ以上を選択して標準検査電圧(15b)に切換えることに
より、各電子機器(20)に確実に標準検査電圧(15b)を供
給する構成である。
ップ電圧を印加して検査待ちとし、その中の１個又はそ
れ以上のみに標準検査電圧を与え、標準検査電圧を各電
子機器に確実に与えることを目的とする。 【解決手段】 本発明による電子機器検査方法及び装置
は、各電子機器(20)にウォーミングアップ電圧(15a)を
印加して検査待ち状態とし、電子機器(20)の１個又はそ
れ以上を選択して標準検査電圧(15b)に切換えることに
より、各電子機器(20)に確実に標準検査電圧(15b)を供
給する構成である。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、電子機器検査方法
及び装置に関し、特に、多数の電子機器に非制御状態の
ウォーミングアップ電圧を供給して検査待ち状態とし、
検査する電子機器のみを一定電圧に制御された標準検査
電圧に切換えて検査することにより、各電子機器に対し
て確実に標準検査電圧が印加されて検査が行われている
ことの確認が取れるようにするための新規な改良に関す
る。
及び装置に関し、特に、多数の電子機器に非制御状態の
ウォーミングアップ電圧を供給して検査待ち状態とし、
検査する電子機器のみを一定電圧に制御された標準検査
電圧に切換えて検査することにより、各電子機器に対し
て確実に標準検査電圧が印加されて検査が行われている
ことの確認が取れるようにするための新規な改良に関す
る。
【０００２】
【従来の技術】従来、用いられていたジャイロ、エンコ
ーダ等の電子機器の製品検査の場合、大量生産を行うた
めに、多数（例えば、１００個）の電子機器を１ロット
として検査し、全ての電子機器に対してウォーミングア
ップ電圧を供給して同時にウォーミングアップし、ウォ
ーミングアップが完了すると、同時に標準検査電圧に切
換えて各電子機器の各種データを取るようにしていた。
ーダ等の電子機器の製品検査の場合、大量生産を行うた
めに、多数（例えば、１００個）の電子機器を１ロット
として検査し、全ての電子機器に対してウォーミングア
ップ電圧を供給して同時にウォーミングアップし、ウォ
ーミングアップが完了すると、同時に標準検査電圧に切
換えて各電子機器の各種データを取るようにしていた。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】従来の電子機器検査方
法及び装置は、以上のように構成されていたため、次の
ような課題が存在していた。すなわち、各電子機器は、
大量生産しているため、必ずしも同一品質に製作されて
いるとは限らず、各部品等のバラツキにより、標準検査
電圧が印加されていない場合もあり、その保証が確実で
はなかった。
法及び装置は、以上のように構成されていたため、次の
ような課題が存在していた。すなわち、各電子機器は、
大量生産しているため、必ずしも同一品質に製作されて
いるとは限らず、各部品等のバラツキにより、標準検査
電圧が印加されていない場合もあり、その保証が確実で
はなかった。
【０００４】本発明は、以上のような課題を解決するた
めになされたもので、特に、多数の電子機器に非制御状
態のウォーミングアップ電圧を供給して検査待ち状態と
し、検査する電子機器のみを一定電圧に制御された標準
検査電圧に切換えて検査することにより、各電子機器に
対して確実に標準検査電圧が印加されて検査が行われて
いることの確認が取れるようにした電子機器検査方法及
び装置を提供することを目的とする。
めになされたもので、特に、多数の電子機器に非制御状
態のウォーミングアップ電圧を供給して検査待ち状態と
し、検査する電子機器のみを一定電圧に制御された標準
検査電圧に切換えて検査することにより、各電子機器に
対して確実に標準検査電圧が印加されて検査が行われて
いることの確認が取れるようにした電子機器検査方法及
び装置を提供することを目的とする。
【０００５】
【課題を解決するための手段】本発明による電子機器検
査方法は、複数の電子機器に非制御状態のウォーミング
アップ電圧を印加して検査待ち状態とする電子機器検査
方法において、前記各電子機器の中の何れか１個又はそ
れ以上のみを前記ウォーミングアップ電圧から一定電圧
に制御された標準検査電圧に切換え、残りの前記電子機
器は前記ウォーミングアップ電圧の印加状態を維持する
方法であり、また、前記電子機器は、ジャイロからなる
方法であり、また、本発明による電子機器検査装置は、
複数の電子機器に非制御状態のウォーミングアップ電圧
を印加して検査待ち状態とする電子機器検査装置におい
て、前記各電子機器に接続され前記ウォーミングアップ
電圧と一定電圧に制御された標準検査電圧とを切換える
ための切換部と、前記切換部を制御するための制御部と
を備え、前記各電子機器の中の１個又はそれ以上のみを
前記切換部により前記ウォーミングアップ電圧から標準
検査電圧に切換え、残りの前記電子機器は前記ウォーミ
ングアップ電圧の印加状態を維持するようにした構成で
あり、また、前記各電子機器を実装するための実装体
と、前記実装体を保持する回転テーブルと、前記回転テ
ーブルが内設された恒温槽と、前記実装体と制御部との
間に設けられた回転接続体とからなる構成であり、ま
た、前記電子機器は、ジャイロからなる構成である。
査方法は、複数の電子機器に非制御状態のウォーミング
アップ電圧を印加して検査待ち状態とする電子機器検査
方法において、前記各電子機器の中の何れか１個又はそ
れ以上のみを前記ウォーミングアップ電圧から一定電圧
に制御された標準検査電圧に切換え、残りの前記電子機
器は前記ウォーミングアップ電圧の印加状態を維持する
方法であり、また、前記電子機器は、ジャイロからなる
方法であり、また、本発明による電子機器検査装置は、
複数の電子機器に非制御状態のウォーミングアップ電圧
を印加して検査待ち状態とする電子機器検査装置におい
て、前記各電子機器に接続され前記ウォーミングアップ
電圧と一定電圧に制御された標準検査電圧とを切換える
ための切換部と、前記切換部を制御するための制御部と
を備え、前記各電子機器の中の１個又はそれ以上のみを
前記切換部により前記ウォーミングアップ電圧から標準
検査電圧に切換え、残りの前記電子機器は前記ウォーミ
ングアップ電圧の印加状態を維持するようにした構成で
あり、また、前記各電子機器を実装するための実装体
と、前記実装体を保持する回転テーブルと、前記回転テ
ーブルが内設された恒温槽と、前記実装体と制御部との
間に設けられた回転接続体とからなる構成であり、ま
た、前記電子機器は、ジャイロからなる構成である。
【０００６】
【発明の実施の形態】以下、図面と共に本発明による電
子機器検査方法及び装置の好適な実施の形態について説
明する。図１において符号１で示されるものは、制御部
であり、この制御部１は、コントローラ２及びターンテ
ーブル制御盤３並びに前記コントローラ２に接続された
制御ボード４とから主として構成されている。前記制御
ボード４には、ＣＰＵ５、パワーアンプ６、マルチプレ
クサ７及びフォトカプラ８が設けられ、前記パワーアン
プ６はレートターンテーブル本体１０のスリップリング
等からなる回転接続体１１を介して恒温槽１２の回転テ
ーブル１３上の実装体１４に一定電圧に制御された標準
検査電圧１５ｂとして供給されている。尚、この標準検
査電圧１５ｂは、後述の電源電圧センサ２２からの電圧
信号に基づいてＣＰＵ５で処理し、パワーアンプ６で一
定化（５Ｖ）している。
子機器検査方法及び装置の好適な実施の形態について説
明する。図１において符号１で示されるものは、制御部
であり、この制御部１は、コントローラ２及びターンテ
ーブル制御盤３並びに前記コントローラ２に接続された
制御ボード４とから主として構成されている。前記制御
ボード４には、ＣＰＵ５、パワーアンプ６、マルチプレ
クサ７及びフォトカプラ８が設けられ、前記パワーアン
プ６はレートターンテーブル本体１０のスリップリング
等からなる回転接続体１１を介して恒温槽１２の回転テ
ーブル１３上の実装体１４に一定電圧に制御された標準
検査電圧１５ｂとして供給されている。尚、この標準検
査電圧１５ｂは、後述の電源電圧センサ２２からの電圧
信号に基づいてＣＰＵ５で処理し、パワーアンプ６で一
定化（５Ｖ）している。
【０００７】前記ターンテーブル本体１０内に設けられ
回転テーブル１３を駆動するためのモータ１６には、前
記ターンテーブル制御盤３からのモータ電源が供給さ
れ、このモータ１６に接続されたエンコーダ１７からの
エンコーダ信号１７ａはターンテーブル制御盤３に入力
され、回転テーブル１３の回転制御が行われている。
回転テーブル１３を駆動するためのモータ１６には、前
記ターンテーブル制御盤３からのモータ電源が供給さ
れ、このモータ１６に接続されたエンコーダ１７からの
エンコーダ信号１７ａはターンテーブル制御盤３に入力
され、回転テーブル１３の回転制御が行われている。
【０００８】前記恒温槽１２内の回転テーブル１３に
は、マザーボード１４ａと実装ボード１４ｂとからなる
前記実装体１４が載置して設けられており、この実装ボ
ード１４ｂには例えば、ジャイロ、エンコーダ等の電子
機器２０が着脱自在に設けられている。前記標準検査電
圧１５は、パワーアンプ６により上下動自在に構成さ
れ、ウォーミングアップ電圧１５ａは電圧制御器等で制
御されていない非制御状態（変動することもある）で実
装体１４に供給されている。
は、マザーボード１４ａと実装ボード１４ｂとからなる
前記実装体１４が載置して設けられており、この実装ボ
ード１４ｂには例えば、ジャイロ、エンコーダ等の電子
機器２０が着脱自在に設けられている。前記標準検査電
圧１５は、パワーアンプ６により上下動自在に構成さ
れ、ウォーミングアップ電圧１５ａは電圧制御器等で制
御されていない非制御状態（変動することもある）で実
装体１４に供給されている。
【０００９】前記マルチプレクサ７には、各電子機器２
０からの出力データとしての供試品出力２１が入力され
ると共に、前記電源電圧センサ２２からのセンサ信号２
２ａが入力されるように構成されている。前記フォトカ
プラ８からの供試品選択信号３０は、前記マザーボード
１４ａに入力されている。
０からの出力データとしての供試品出力２１が入力され
ると共に、前記電源電圧センサ２２からのセンサ信号２
２ａが入力されるように構成されている。前記フォトカ
プラ８からの供試品選択信号３０は、前記マザーボード
１４ａに入力されている。
【００１０】図２で示される実装ボード１４ｂには、前
記電子機器２０が着脱自在に設けられ、各電子機器２０
の前段には多接点型のリレー４０が設けられ、このリレ
ー４０の後段側にはウォーミングアップ電圧１５ａ（検
査待ち状態）が常時供給されるように構成され、前記供
試品選択信号３０により選択された該当の電子機器２０
のみのリレー４０が切換えられ、ウォーミングアップ電
圧１５ａよりも一定電圧に制御された標準検査電圧１５
ｂが選択された電子機器２０に供給されるように構成さ
れている。
記電子機器２０が着脱自在に設けられ、各電子機器２０
の前段には多接点型のリレー４０が設けられ、このリレ
ー４０の後段側にはウォーミングアップ電圧１５ａ（検
査待ち状態）が常時供給されるように構成され、前記供
試品選択信号３０により選択された該当の電子機器２０
のみのリレー４０が切換えられ、ウォーミングアップ電
圧１５ａよりも一定電圧に制御された標準検査電圧１５
ｂが選択された電子機器２０に供給されるように構成さ
れている。
【００１１】従って、前述の構成において、各電子機器
２０に対して、ウォーミングアップ電圧１５ａを予め印
加して検査待ち状態とした後、各電子機器２０の中の何
れか１個（又はそれ以上の場合もある）のみを選択して
ウォーミングアップ電圧１５ａから標準検査電圧１５ｂ
に切換え、残りの電子機器２０はウォーミングアップ電
圧１５ａの印加状態を維持しているため、各電子機器２
０を順次標準検査電圧１５ｂに切換えて行くことによ
り、全ての電子機器２０の実際の動作状態におけるデー
タである供試品出力２１を得ることができ、標準検査電
圧１５ｂが各電子機器２０に対して確実に供給されてい
ることを確認することができる。なお、電子機器２０と
してはレゾルバ、各種部品、ＩＣ等幅広く適用可であ
る。
２０に対して、ウォーミングアップ電圧１５ａを予め印
加して検査待ち状態とした後、各電子機器２０の中の何
れか１個（又はそれ以上の場合もある）のみを選択して
ウォーミングアップ電圧１５ａから標準検査電圧１５ｂ
に切換え、残りの電子機器２０はウォーミングアップ電
圧１５ａの印加状態を維持しているため、各電子機器２
０を順次標準検査電圧１５ｂに切換えて行くことによ
り、全ての電子機器２０の実際の動作状態におけるデー
タである供試品出力２１を得ることができ、標準検査電
圧１５ｂが各電子機器２０に対して確実に供給されてい
ることを確認することができる。なお、電子機器２０と
してはレゾルバ、各種部品、ＩＣ等幅広く適用可であ
る。
【００１２】
【発明の効果】本発明による電子機器検査方法及び装置
は、以上のように構成されているため、次のような効果
を得ることができる。すなわち、従来のように全ての電
子機器を同時にウォーミングアップ電圧から標準検査電
圧に切換えるのではなく、１個（それ以上の場合もあ
る）のみの電子機器を標準検査電圧として各種データの
検出を行うため、確実に個々の電子機器に対する標準検
査電圧の印加を確認することができ、検出の信頼性を大
幅に向上させることができる。
は、以上のように構成されているため、次のような効果
を得ることができる。すなわち、従来のように全ての電
子機器を同時にウォーミングアップ電圧から標準検査電
圧に切換えるのではなく、１個（それ以上の場合もあ
る）のみの電子機器を標準検査電圧として各種データの
検出を行うため、確実に個々の電子機器に対する標準検
査電圧の印加を確認することができ、検出の信頼性を大
幅に向上させることができる。
【図１】本発明による電子機器検査装置を示すブロック
図である。
図である。
【図２】図１の実装ボードの詳細ブロック図である。
１ 制御部 １５ａ ウォーミングアップ電圧 １５ｂ 標準検査電圧 ２０ 電子機器 ４０ 切換部
Claims (5)
- 【請求項１】 複数の電子機器(20)に非制御状態のウォ
ーミングアップ電圧(15a)を印加して検査待ち状態とす
る電子機器検査方法において、前記各電子機器(20)の中
の何れか１個又はそれ以上のみを前記ウォーミングアッ
プ電圧(15a)から一定電圧に制御された標準検査電圧(15
b)に切換え、残りの前記電子機器(20)は前記ウォーミン
グアップ電圧(15a)の印加状態を維持することを特徴と
する電子機器検査方法。 - 【請求項２】 前記電子機器(20)は、ジャイロからなる
ことを特徴とする請求項１記載の電子機器検査方法。 - 【請求項３】 複数の電子機器(20)に非制御状態のウォ
ーミングアップ電圧(15a)を印加して検査待ち状態とす
る電子機器検査装置において、前記各電子機器(20)に接
続され前記ウォーミングアップ電圧(15a)と一定電圧に
制御された標準検査電圧(15b)とを切換えるための切換
部(40)と、前記切換部(40)を制御するための制御部(1)
とを備え、前記各電子機器(20)の中の１個又はそれ以上
のみを前記切換部(40)により前記ウォーミングアップ電
圧(15a)から標準検査電圧(15b)に切換え、残りの前記電
子機器(20)は前記ウォーミングアップ電圧(15a)の印加
状態を維持するように構成したことを特徴とする電子機
器検査装置。 - 【請求項４】 前記各電子機器(20)を実装するための実
装体(14)と、前記実装体(14)を保持する回転テーブル(1
3)と、前記回転テーブル(13)が内設された恒温槽(12)
と、前記実装体(14)と制御部(1)との間に設けられた回
転接続体(11)とからなることを特徴とする請求項３記載
の電子機器検査装置。 - 【請求項５】 前記電子機器(20)は、ジャイロからなる
ことを特徴とする請求項３又は４記載の電子機器検査装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001031137A JP2002236138A (ja) | 2001-02-07 | 2001-02-07 | 電子機器検査方法及び装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001031137A JP2002236138A (ja) | 2001-02-07 | 2001-02-07 | 電子機器検査方法及び装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2002236138A true JP2002236138A (ja) | 2002-08-23 |
Family
ID=18895265
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2001031137A Withdrawn JP2002236138A (ja) | 2001-02-07 | 2001-02-07 | 電子機器検査方法及び装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2002236138A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009058229A (ja) * | 2007-08-29 | 2009-03-19 | Denso Corp | 振動型の物理量センサの検査装置及び振動型の物理量センサ |
-
2001
- 2001-02-07 JP JP2001031137A patent/JP2002236138A/ja not_active Withdrawn
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009058229A (ja) * | 2007-08-29 | 2009-03-19 | Denso Corp | 振動型の物理量センサの検査装置及び振動型の物理量センサ |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| RD04 | Notification of resignation of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424 Effective date: 20060615 |
|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20080110 |
|
| RD04 | Notification of resignation of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424 Effective date: 20080605 |
|
| A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20081222 |
|
| A761 | Written withdrawal of application |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A761 Effective date: 20100118 |