JP2002236138A - 電子機器検査方法及び装置 - Google Patents
電子機器検査方法及び装置Info
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Abstract
ップ電圧を印加して検査待ちとし、その中の1個又はそ
れ以上のみに標準検査電圧を与え、標準検査電圧を各電
子機器に確実に与えることを目的とする。 【解決手段】 本発明による電子機器検査方法及び装置
は、各電子機器(20)にウォーミングアップ電圧(15a)を
印加して検査待ち状態とし、電子機器(20)の1個又はそ
れ以上を選択して標準検査電圧(15b)に切換えることに
より、各電子機器(20)に確実に標準検査電圧(15b)を供
給する構成である。
Description
及び装置に関し、特に、多数の電子機器に非制御状態の
ウォーミングアップ電圧を供給して検査待ち状態とし、
検査する電子機器のみを一定電圧に制御された標準検査
電圧に切換えて検査することにより、各電子機器に対し
て確実に標準検査電圧が印加されて検査が行われている
ことの確認が取れるようにするための新規な改良に関す
る。
ーダ等の電子機器の製品検査の場合、大量生産を行うた
めに、多数(例えば、100個)の電子機器を1ロット
として検査し、全ての電子機器に対してウォーミングア
ップ電圧を供給して同時にウォーミングアップし、ウォ
ーミングアップが完了すると、同時に標準検査電圧に切
換えて各電子機器の各種データを取るようにしていた。
法及び装置は、以上のように構成されていたため、次の
ような課題が存在していた。すなわち、各電子機器は、
大量生産しているため、必ずしも同一品質に製作されて
いるとは限らず、各部品等のバラツキにより、標準検査
電圧が印加されていない場合もあり、その保証が確実で
はなかった。
めになされたもので、特に、多数の電子機器に非制御状
態のウォーミングアップ電圧を供給して検査待ち状態と
し、検査する電子機器のみを一定電圧に制御された標準
検査電圧に切換えて検査することにより、各電子機器に
対して確実に標準検査電圧が印加されて検査が行われて
いることの確認が取れるようにした電子機器検査方法及
び装置を提供することを目的とする。
査方法は、複数の電子機器に非制御状態のウォーミング
アップ電圧を印加して検査待ち状態とする電子機器検査
方法において、前記各電子機器の中の何れか1個又はそ
れ以上のみを前記ウォーミングアップ電圧から一定電圧
に制御された標準検査電圧に切換え、残りの前記電子機
器は前記ウォーミングアップ電圧の印加状態を維持する
方法であり、また、前記電子機器は、ジャイロからなる
方法であり、また、本発明による電子機器検査装置は、
複数の電子機器に非制御状態のウォーミングアップ電圧
を印加して検査待ち状態とする電子機器検査装置におい
て、前記各電子機器に接続され前記ウォーミングアップ
電圧と一定電圧に制御された標準検査電圧とを切換える
ための切換部と、前記切換部を制御するための制御部と
を備え、前記各電子機器の中の1個又はそれ以上のみを
前記切換部により前記ウォーミングアップ電圧から標準
検査電圧に切換え、残りの前記電子機器は前記ウォーミ
ングアップ電圧の印加状態を維持するようにした構成で
あり、また、前記各電子機器を実装するための実装体
と、前記実装体を保持する回転テーブルと、前記回転テ
ーブルが内設された恒温槽と、前記実装体と制御部との
間に設けられた回転接続体とからなる構成であり、ま
た、前記電子機器は、ジャイロからなる構成である。
子機器検査方法及び装置の好適な実施の形態について説
明する。図1において符号1で示されるものは、制御部
であり、この制御部1は、コントローラ2及びターンテ
ーブル制御盤3並びに前記コントローラ2に接続された
制御ボード4とから主として構成されている。前記制御
ボード4には、CPU5、パワーアンプ6、マルチプレ
クサ7及びフォトカプラ8が設けられ、前記パワーアン
プ6はレートターンテーブル本体10のスリップリング
等からなる回転接続体11を介して恒温槽12の回転テ
ーブル13上の実装体14に一定電圧に制御された標準
検査電圧15bとして供給されている。尚、この標準検
査電圧15bは、後述の電源電圧センサ22からの電圧
信号に基づいてCPU5で処理し、パワーアンプ6で一
定化(5V)している。
回転テーブル13を駆動するためのモータ16には、前
記ターンテーブル制御盤3からのモータ電源が供給さ
れ、このモータ16に接続されたエンコーダ17からの
エンコーダ信号17aはターンテーブル制御盤3に入力
され、回転テーブル13の回転制御が行われている。
は、マザーボード14aと実装ボード14bとからなる
前記実装体14が載置して設けられており、この実装ボ
ード14bには例えば、ジャイロ、エンコーダ等の電子
機器20が着脱自在に設けられている。前記標準検査電
圧15は、パワーアンプ6により上下動自在に構成さ
れ、ウォーミングアップ電圧15aは電圧制御器等で制
御されていない非制御状態(変動することもある)で実
装体14に供給されている。
0からの出力データとしての供試品出力21が入力され
ると共に、前記電源電圧センサ22からのセンサ信号2
2aが入力されるように構成されている。前記フォトカ
プラ8からの供試品選択信号30は、前記マザーボード
14aに入力されている。
記電子機器20が着脱自在に設けられ、各電子機器20
の前段には多接点型のリレー40が設けられ、このリレ
ー40の後段側にはウォーミングアップ電圧15a(検
査待ち状態)が常時供給されるように構成され、前記供
試品選択信号30により選択された該当の電子機器20
のみのリレー40が切換えられ、ウォーミングアップ電
圧15aよりも一定電圧に制御された標準検査電圧15
bが選択された電子機器20に供給されるように構成さ
れている。
20に対して、ウォーミングアップ電圧15aを予め印
加して検査待ち状態とした後、各電子機器20の中の何
れか1個(又はそれ以上の場合もある)のみを選択して
ウォーミングアップ電圧15aから標準検査電圧15b
に切換え、残りの電子機器20はウォーミングアップ電
圧15aの印加状態を維持しているため、各電子機器2
0を順次標準検査電圧15bに切換えて行くことによ
り、全ての電子機器20の実際の動作状態におけるデー
タである供試品出力21を得ることができ、標準検査電
圧15bが各電子機器20に対して確実に供給されてい
ることを確認することができる。なお、電子機器20と
してはレゾルバ、各種部品、IC等幅広く適用可であ
る。
は、以上のように構成されているため、次のような効果
を得ることができる。すなわち、従来のように全ての電
子機器を同時にウォーミングアップ電圧から標準検査電
圧に切換えるのではなく、1個(それ以上の場合もあ
る)のみの電子機器を標準検査電圧として各種データの
検出を行うため、確実に個々の電子機器に対する標準検
査電圧の印加を確認することができ、検出の信頼性を大
幅に向上させることができる。
図である。
Claims (5)
- 【請求項1】 複数の電子機器(20)に非制御状態のウォ
ーミングアップ電圧(15a)を印加して検査待ち状態とす
る電子機器検査方法において、前記各電子機器(20)の中
の何れか1個又はそれ以上のみを前記ウォーミングアッ
プ電圧(15a)から一定電圧に制御された標準検査電圧(15
b)に切換え、残りの前記電子機器(20)は前記ウォーミン
グアップ電圧(15a)の印加状態を維持することを特徴と
する電子機器検査方法。 - 【請求項2】 前記電子機器(20)は、ジャイロからなる
ことを特徴とする請求項1記載の電子機器検査方法。 - 【請求項3】 複数の電子機器(20)に非制御状態のウォ
ーミングアップ電圧(15a)を印加して検査待ち状態とす
る電子機器検査装置において、前記各電子機器(20)に接
続され前記ウォーミングアップ電圧(15a)と一定電圧に
制御された標準検査電圧(15b)とを切換えるための切換
部(40)と、前記切換部(40)を制御するための制御部(1)
とを備え、前記各電子機器(20)の中の1個又はそれ以上
のみを前記切換部(40)により前記ウォーミングアップ電
圧(15a)から標準検査電圧(15b)に切換え、残りの前記電
子機器(20)は前記ウォーミングアップ電圧(15a)の印加
状態を維持するように構成したことを特徴とする電子機
器検査装置。 - 【請求項4】 前記各電子機器(20)を実装するための実
装体(14)と、前記実装体(14)を保持する回転テーブル(1
3)と、前記回転テーブル(13)が内設された恒温槽(12)
と、前記実装体(14)と制御部(1)との間に設けられた回
転接続体(11)とからなることを特徴とする請求項3記載
の電子機器検査装置。 - 【請求項5】 前記電子機器(20)は、ジャイロからなる
ことを特徴とする請求項3又は4記載の電子機器検査装
置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001031137A JP2002236138A (ja) | 2001-02-07 | 2001-02-07 | 電子機器検査方法及び装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001031137A JP2002236138A (ja) | 2001-02-07 | 2001-02-07 | 電子機器検査方法及び装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2002236138A true JP2002236138A (ja) | 2002-08-23 |
Family
ID=18895265
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2001031137A Withdrawn JP2002236138A (ja) | 2001-02-07 | 2001-02-07 | 電子機器検査方法及び装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2002236138A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009058229A (ja) * | 2007-08-29 | 2009-03-19 | Denso Corp | 振動型の物理量センサの検査装置及び振動型の物理量センサ |
-
2001
- 2001-02-07 JP JP2001031137A patent/JP2002236138A/ja not_active Withdrawn
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JP2009058229A (ja) * | 2007-08-29 | 2009-03-19 | Denso Corp | 振動型の物理量センサの検査装置及び振動型の物理量センサ |
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