JP2002216369A - ディスク装置 - Google Patents
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- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/08—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers
- G11B7/09—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/12—Heads, e.g. forming of the optical beam spot or modulation of the optical beam
- G11B7/125—Optical beam sources therefor, e.g. laser control circuitry specially adapted for optical storage devices; Modulators, e.g. means for controlling the size or intensity of optical spots or optical traces
- G11B7/126—Circuits, methods or arrangements for laser control or stabilisation
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B11/00—Recording on or reproducing from the same record carrier wherein for these two operations the methods are covered by different main groups of groups G11B3/00 - G11B7/00 or by different subgroups of group G11B9/00; Record carriers therefor
- G11B11/10—Recording on or reproducing from the same record carrier wherein for these two operations the methods are covered by different main groups of groups G11B3/00 - G11B7/00 or by different subgroups of group G11B9/00; Record carriers therefor using recording by magnetic means or other means for magnetisation or demagnetisation of a record carrier, e.g. light induced spin magnetisation; Demagnetisation by thermal or stress means in the presence or not of an orienting magnetic field
- G11B11/105—Recording on or reproducing from the same record carrier wherein for these two operations the methods are covered by different main groups of groups G11B3/00 - G11B7/00 or by different subgroups of group G11B9/00; Record carriers therefor using recording by magnetic means or other means for magnetisation or demagnetisation of a record carrier, e.g. light induced spin magnetisation; Demagnetisation by thermal or stress means in the presence or not of an orienting magnetic field using a beam of light or a magnetic field for recording by change of magnetisation and a beam of light for reproducing, i.e. magneto-optical, e.g. light-induced thermomagnetic recording, spin magnetisation recording, Kerr or Faraday effect reproducing
- G11B11/10595—Control of operating function
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
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- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/08—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers
- G11B7/09—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following
- G11B7/0908—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following for focusing only
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/08—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers
- G11B7/09—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following
- G11B7/0945—Methods for initialising servos, start-up sequences
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Optical Recording Or Reproduction (AREA)
- Optical Head (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【構成】 レーザ光は光学レンズ１４を通して光磁気デ
ィスク６８の記録面に照射され、ＴＥ信号またはＲＦ信
号は記録面で反射されたレーザ光に基づいて検出され
る。ここで、ＭＰＵ５０は光学レンズ１４を光軸方向に
変位させ、ＴＥ信号検出回路４２またはＲＦ信号検出回
路６０は変位された各々のレンズ位置でＴＥ信号または
ＲＦ信号を検出する。レーザパワーは、検出された各々
のＴＥ信号またはＲＦ信号の振幅が飽和値を下回るよう
に、ＭＰＵ５０によって調整される。パラメータが調整
されると、その後に検出されたＴＥ信号またはＲＦ信号
の振幅が最大となるように、光学レンズ１４の位置が制
御される。 【効果】 ＴＥ信号またはＲＦ信号を適切に再生するこ
とができる。
ィスク６８の記録面に照射され、ＴＥ信号またはＲＦ信
号は記録面で反射されたレーザ光に基づいて検出され
る。ここで、ＭＰＵ５０は光学レンズ１４を光軸方向に
変位させ、ＴＥ信号検出回路４２またはＲＦ信号検出回
路６０は変位された各々のレンズ位置でＴＥ信号または
ＲＦ信号を検出する。レーザパワーは、検出された各々
のＴＥ信号またはＲＦ信号の振幅が飽和値を下回るよう
に、ＭＰＵ５０によって調整される。パラメータが調整
されると、その後に検出されたＴＥ信号またはＲＦ信号
の振幅が最大となるように、光学レンズ１４の位置が制
御される。 【効果】 ＴＥ信号またはＲＦ信号を適切に再生するこ
とができる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、ディスク装置に関
し、特にたとえば、ディスク記録媒体の記録面にレンズ
を通してレーザ光を照射し、前記記録面から反射された
レーザ光に基づいて所定信号を生成する、ディスク装置
に関する。
し、特にたとえば、ディスク記録媒体の記録面にレンズ
を通してレーザ光を照射し、前記記録面から反射された
レーザ光に基づいて所定信号を生成する、ディスク装置
に関する。
【０００２】
【背景技術】この種のディスク装置では、レーザダイオ
ードから出射されたレーザ光は、光学系を経てディスク
記録媒体の記録面に照射され、記録面から反射されたレ
ーザ光は、光学系を経て光検出器によって検出される。
そして、光検出器の出力に基づいて、ＴＥ（Tracking E
rror）信号やＲＦ（Radio Frequency）信号が生成され
る。
ードから出射されたレーザ光は、光学系を経てディスク
記録媒体の記録面に照射され、記録面から反射されたレ
ーザ光は、光学系を経て光検出器によって検出される。
そして、光検出器の出力に基づいて、ＴＥ（Tracking E
rror）信号やＲＦ（Radio Frequency）信号が生成され
る。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかし、光学系に位置
ずれがあると、レーザ光の光路が本来の光路からずれて
しまい、ＦＥ（Focus Error）信号に基づいてフォーカ
スを設定しても、ＴＥ信号やＲＦ信号を適切に検出でき
ないおそれがある。たとえば、シーク制御時はレーザ光
が跨いだトラック数をＴＥ信号に基づいてカウントする
必要があるが、フォーカスが正確に設定されないために
ＴＥ信号が適切に検出されないと、目的のトラックを正
確にシークできないおそれがある。また、再生時はＲＦ
信号をデコードして再生信号を生成する必要あるが、フ
ォーカスが正確に設定されないためにＲＦ信号が適切に
検出されないと、再生信号の誤り率が高くなるおそれが
ある。
ずれがあると、レーザ光の光路が本来の光路からずれて
しまい、ＦＥ（Focus Error）信号に基づいてフォーカ
スを設定しても、ＴＥ信号やＲＦ信号を適切に検出でき
ないおそれがある。たとえば、シーク制御時はレーザ光
が跨いだトラック数をＴＥ信号に基づいてカウントする
必要があるが、フォーカスが正確に設定されないために
ＴＥ信号が適切に検出されないと、目的のトラックを正
確にシークできないおそれがある。また、再生時はＲＦ
信号をデコードして再生信号を生成する必要あるが、フ
ォーカスが正確に設定されないためにＲＦ信号が適切に
検出されないと、再生信号の誤り率が高くなるおそれが
ある。
【０００４】それゆえに、この発明の主たる目的は、記
録面で反射されたレーザから所定信号を適切に検出する
ことができる、ディスク装置を提供することである。
録面で反射されたレーザから所定信号を適切に検出する
ことができる、ディスク装置を提供することである。
【０００５】
【課題を解決するための手段】この発明は、ディスク記
録媒体の記録面にレンズを通してレーザ光を照射し、記
録面で反射されたレーザ光に基づいて所定信号を検出す
るディスク装置において、光軸方向においてレンズを変
位させる変位手段、変位手段によって変位された各々の
レンズ位置で所定信号を検出する検出手段、検出手段に
よって検出された各々の所定信号の振幅が飽和値を下回
るように振幅に関連するパラメータを調整する調整手
段、および調整手段によってパラメータが調整された後
に検出された所定信号の振幅が最大となるようにレンズ
位置を制御する制御手段を備えることを特徴とする、デ
ィスク装置である。
録媒体の記録面にレンズを通してレーザ光を照射し、記
録面で反射されたレーザ光に基づいて所定信号を検出す
るディスク装置において、光軸方向においてレンズを変
位させる変位手段、変位手段によって変位された各々の
レンズ位置で所定信号を検出する検出手段、検出手段に
よって検出された各々の所定信号の振幅が飽和値を下回
るように振幅に関連するパラメータを調整する調整手
段、および調整手段によってパラメータが調整された後
に検出された所定信号の振幅が最大となるようにレンズ
位置を制御する制御手段を備えることを特徴とする、デ
ィスク装置である。
【０００６】
【作用】レーザ光はレンズを通してディスク記録媒体の
記録面に照射され、検出信号は記録面で反射されたレー
ザ光に基づいて検出される。ここで、変位手段は光軸方
向においてレンズを変位させ、検出手段は変位された各
々のレンズ位置で所定信号を検出する。所定信号の振幅
に関連するパラメータは、検出された各々の所定信号の
振幅が飽和値を下回るように、調整手段によって調整さ
れる。パラメータが調整されると、その後に検出された
所定信号の振幅が最大となるようにレンズ位置が、制御
手段によって制御される。
記録面に照射され、検出信号は記録面で反射されたレー
ザ光に基づいて検出される。ここで、変位手段は光軸方
向においてレンズを変位させ、検出手段は変位された各
々のレンズ位置で所定信号を検出する。所定信号の振幅
に関連するパラメータは、検出された各々の所定信号の
振幅が飽和値を下回るように、調整手段によって調整さ
れる。パラメータが調整されると、その後に検出された
所定信号の振幅が最大となるようにレンズ位置が、制御
手段によって制御される。
【０００７】調整手段は、レーザ光を出射する半導体レ
ーザのパワーを調整してもよい。
ーザのパワーを調整してもよい。
【０００８】また、検出された所定信号に付与手段によ
ってゲインを付与する場合、調整手段はゲインを調整す
るようにしてもよい。
ってゲインを付与する場合、調整手段はゲインを調整す
るようにしてもよい。
【０００９】所定信号は、好ましくはＲＦ信号である。
【００１０】記録面にエンボス加工が施されている場
合、所定信号はエンボス信号であってもよい。
合、所定信号はエンボス信号であってもよい。
【００１１】記録面にエンボス加工によってトラックが
形成されている場合、エンボス信号は好ましくはトラッ
キングエラー信号である。
形成されている場合、エンボス信号は好ましくはトラッ
キングエラー信号である。
【００１２】
【発明の効果】この発明によれば、所定信号の振幅が飽
和値を下回るようにパラメータが調整され、パラメータ
の調整後に検出された所定信号の振幅が最大となるよう
にレンズ位置が制御されるため、所定信号を適切に検出
することができる。
和値を下回るようにパラメータが調整され、パラメータ
の調整後に検出された所定信号の振幅が最大となるよう
にレンズ位置が制御されるため、所定信号を適切に検出
することができる。
【００１３】この発明の上述の目的，その他の目的，特
徴および利点は、図面を参照して行う以下の実施例の詳
細な説明から一層明らかとなろう。
徴および利点は、図面を参照して行う以下の実施例の詳
細な説明から一層明らかとなろう。
【００１４】
【実施例】図１を参照して、この実施例の光ディスク装
置１０は、光学レンズ１４が設けられた光ピックアップ
（光学系）１２を含む。光学レンズ１４は、トラッキン
グアクチュエータ１６およびフォーカスアクチュエータ
１８によって支持される。レーザダイオード２０から放
出されたレーザ光は、図２に示す光学系部品を経てＡＳ
ＭＯ（Advanced Storage Magneto Optical disc）のよ
うな光磁気ディスク６８の記録面に照射される。記録時
はパルス変調されたレーザ光がレーザダイオード２０か
ら放出され、再生時は高周波が重畳されたレーザ光がレ
ーザダイオード２０から放出される。また、記録時は、
ＥＣＣエンコーダから出力された記録信号が磁気ヘッド
３８に与えられ、磁気ヘッド３８によって光磁気ディス
ク６８に磁界がかけられる。
置１０は、光学レンズ１４が設けられた光ピックアップ
（光学系）１２を含む。光学レンズ１４は、トラッキン
グアクチュエータ１６およびフォーカスアクチュエータ
１８によって支持される。レーザダイオード２０から放
出されたレーザ光は、図２に示す光学系部品を経てＡＳ
ＭＯ（Advanced Storage Magneto Optical disc）のよ
うな光磁気ディスク６８の記録面に照射される。記録時
はパルス変調されたレーザ光がレーザダイオード２０か
ら放出され、再生時は高周波が重畳されたレーザ光がレ
ーザダイオード２０から放出される。また、記録時は、
ＥＣＣエンコーダから出力された記録信号が磁気ヘッド
３８に与えられ、磁気ヘッド３８によって光磁気ディス
ク６８に磁界がかけられる。
【００１５】光磁気ディスク６８はスピンドル７０の上
に搭載され、スピンドルモータ７２によって回転する。
光磁気ディスク６８はＺＣＬＶ（Zone Constant Linear
Velocity）方式のディスクであり、回転数は光ピック
アップ１２が内周から外周へ移動するにつれて低下す
る。また、光磁気ディスク６８の記録面には、図５に示
すように、ランドトラックおよびグルーブトラックが１
トラックおきに交互に形成され、各トラックにはＦＣＭ
（Fine Clock Mark）が所定間隔でエンボス形成され
る。具体的には、ランドトラックは凸状に形成され、ラ
ンドトラック上のＦＣＭは凹状に形成される。これに対
して、グルーブトラックは凹状に形成され、グルーブト
ラック上のＦＣＭは凸状に形成される。さらに、この実
施例のディスク装置１０はＦＡＴ方式またはＵＤＦ方式
を採用し、ＥＣＣエンコーダ２２から出力された信号
は、記録面に離散的に形成された空き領域に間欠的に記
録される。
に搭載され、スピンドルモータ７２によって回転する。
光磁気ディスク６８はＺＣＬＶ（Zone Constant Linear
Velocity）方式のディスクであり、回転数は光ピック
アップ１２が内周から外周へ移動するにつれて低下す
る。また、光磁気ディスク６８の記録面には、図５に示
すように、ランドトラックおよびグルーブトラックが１
トラックおきに交互に形成され、各トラックにはＦＣＭ
（Fine Clock Mark）が所定間隔でエンボス形成され
る。具体的には、ランドトラックは凸状に形成され、ラ
ンドトラック上のＦＣＭは凹状に形成される。これに対
して、グルーブトラックは凹状に形成され、グルーブト
ラック上のＦＣＭは凸状に形成される。さらに、この実
施例のディスク装置１０はＦＡＴ方式またはＵＤＦ方式
を採用し、ＥＣＣエンコーダ２２から出力された信号
は、記録面に離散的に形成された空き領域に間欠的に記
録される。
【００１６】図２を参照して、レーザダイオード２０か
ら放出されたレーザ光は、グレーティング２２によって
分光される。これによって、１つのメインビームＭと２
つのサブビームＳ１およびＳ２とが生成される。これら
のビームは、ビームスプリッタ２４およびコリメータレ
ンズ２６を経て、立ち上げミラー２８に照射される。立
ち上げミラー２８で反射されたビームは、光学レンズ１
４で収束された後、図３に示す要領で光磁気ディスク５
６の記録面に照射される。メインビームＭは所望のトラ
ックに照射され、サブビームＳ１およびＳ２は所望のト
ラックの両側に隣接するトラックに照射される。なお、
図３に示す“Ｌ”および“Ｇ”はそれぞれ、ランドトラ
ックおよびグルーブトラックを意味する。
ら放出されたレーザ光は、グレーティング２２によって
分光される。これによって、１つのメインビームＭと２
つのサブビームＳ１およびＳ２とが生成される。これら
のビームは、ビームスプリッタ２４およびコリメータレ
ンズ２６を経て、立ち上げミラー２８に照射される。立
ち上げミラー２８で反射されたビームは、光学レンズ１
４で収束された後、図３に示す要領で光磁気ディスク５
６の記録面に照射される。メインビームＭは所望のトラ
ックに照射され、サブビームＳ１およびＳ２は所望のト
ラックの両側に隣接するトラックに照射される。なお、
図３に示す“Ｌ”および“Ｇ”はそれぞれ、ランドトラ
ックおよびグルーブトラックを意味する。
【００１７】記録面で反射されたメインビームＭ，サブ
ビームＳ１およびＳ２は、光学レンズ１４，立ち上げミ
ラー２８およびコリメータレンズ２６を経て、つまり上
述と逆の経路でビームスプリッタ２４まで戻される。ビ
ームスプリッタ２４に入射されたメインビームＭ，サブ
ビームＳ１およびＳ２は、３ビーム方式のウォラストン
プリズム３０と平凹レンズ３２とを経て光検出器３４に
照射される。
ビームＳ１およびＳ２は、光学レンズ１４，立ち上げミ
ラー２８およびコリメータレンズ２６を経て、つまり上
述と逆の経路でビームスプリッタ２４まで戻される。ビ
ームスプリッタ２４に入射されたメインビームＭ，サブ
ビームＳ１およびＳ２は、３ビーム方式のウォラストン
プリズム３０と平凹レンズ３２とを経て光検出器３４に
照射される。
【００１８】ウォラストンプリズム３０から出射される
とき、メインビームＭ，サブビームＳ１およびＳ２はい
ずれも３つに分光される。つまり、メインビームＭはビ
ームＭａ，ＭｂおよびＭｃに分光され、サブビームＳ１
はＳ１ａ，Ｓ１ｂおよびＳ１ｃに分光され、サブビーム
Ｓ２はＳ２ａ，Ｓ２ｂおよびＳ２ｃに分光される。ビー
ムＭａはメインビームＭと同じ成分を有するが、ビーム
ＭｂおよびＭｃはそれぞれメインビームＭの垂直偏向成
分および水平偏向成分のみを有する。サブビームＳ１お
よびＳ２についても同様であり、ビームＳ１ａ（Ｓ２
ａ）はサブビームＳ１（Ｓ２）と同じ成分を有するが、
ビームＳ１ｂ（Ｓ２ｂ）およびＳ１ｃ（Ｓ２ｃ）はそれ
ぞれサブビームＳ１（Ｓ２）の垂直偏向成分および水平
偏向成分のみを有する。
とき、メインビームＭ，サブビームＳ１およびＳ２はい
ずれも３つに分光される。つまり、メインビームＭはビ
ームＭａ，ＭｂおよびＭｃに分光され、サブビームＳ１
はＳ１ａ，Ｓ１ｂおよびＳ１ｃに分光され、サブビーム
Ｓ２はＳ２ａ，Ｓ２ｂおよびＳ２ｃに分光される。ビー
ムＭａはメインビームＭと同じ成分を有するが、ビーム
ＭｂおよびＭｃはそれぞれメインビームＭの垂直偏向成
分および水平偏向成分のみを有する。サブビームＳ１お
よびＳ２についても同様であり、ビームＳ１ａ（Ｓ２
ａ）はサブビームＳ１（Ｓ２）と同じ成分を有するが、
ビームＳ１ｂ（Ｓ２ｂ）およびＳ１ｃ（Ｓ２ｃ）はそれ
ぞれサブビームＳ１（Ｓ２）の垂直偏向成分および水平
偏向成分のみを有する。
【００１９】光検出器３４は、図４に示すように構成さ
れる。ビームＭａは検出素子３４ａ〜３４ｄによって検
出され、ビームＭｂおよびＭｃはそれぞれ検出素子３４
ｉおよび３４ｊによって検出される。一方、ビームＳ１
ａは検出素子３４ｅおよび３４ｆによって検出され、ビ
ームＳ２ａは検出素子３４ｇおよび３４ｈによって検出
される。他方、ビーム１ｂ，１ｃ，２ｂおよび２ｃは、
いずれの検出素子によっても検出されない。
れる。ビームＭａは検出素子３４ａ〜３４ｄによって検
出され、ビームＭｂおよびＭｃはそれぞれ検出素子３４
ｉおよび３４ｊによって検出される。一方、ビームＳ１
ａは検出素子３４ｅおよび３４ｆによって検出され、ビ
ームＳ２ａは検出素子３４ｇおよび３４ｈによって検出
される。他方、ビーム１ｂ，１ｃ，２ｂおよび２ｃは、
いずれの検出素子によっても検出されない。
【００２０】図１に戻って、ＦＥ信号検出回路４０は、
検出素子３４ａ〜３４ｄの出力に数１に従う演算を施
し、ＦＥ信号を検出する。ＴＥ信号検出回路４２は、検
出素子３４ａ〜３４ｈの出力に数２に従う演算を施し、
ＤＰＰ（Differential Push Pull）方式でＴＥ信号を生
成する。ＦＣＭ検出回路５２は、検出素子３４ａ〜３４
ｄの出力に数３に従う演算を施し、ＦＣＭ信号を検出す
る。ＲＦ信号検出回路６０は、検出素子３４ｉおよび３
４ｊの出力に数４に従う演算を施し、ＲＦ信号を検出す
る。
検出素子３４ａ〜３４ｄの出力に数１に従う演算を施
し、ＦＥ信号を検出する。ＴＥ信号検出回路４２は、検
出素子３４ａ〜３４ｈの出力に数２に従う演算を施し、
ＤＰＰ（Differential Push Pull）方式でＴＥ信号を生
成する。ＦＣＭ検出回路５２は、検出素子３４ａ〜３４
ｄの出力に数３に従う演算を施し、ＦＣＭ信号を検出す
る。ＲＦ信号検出回路６０は、検出素子３４ｉおよび３
４ｊの出力に数４に従う演算を施し、ＲＦ信号を検出す
る。
【００２１】なお、数１〜数４における“Ａ”〜“Ｊ”
はそれぞれ検出素子２２ａ〜２２ｊの出力に対応する。
また、ＲＦ信号に基づいて再生信号が生成されるため、
ＲＦ信号はＭＯ信号と定義してもよい。
はそれぞれ検出素子２２ａ〜２２ｊの出力に対応する。
また、ＲＦ信号に基づいて再生信号が生成されるため、
ＲＦ信号はＭＯ信号と定義してもよい。
【００２２】
【数１】ＦＥ＝（Ａ＋Ｃ）−（Ｂ＋Ｄ）
【００２３】
【数２】ＴＥ＝｛（Ａ＋Ｂ）−（Ｃ＋Ｄ）｝−α｛（Ｅ
＋Ｈ）−（Ｆ＋Ｇ）｝
＋Ｈ）−（Ｆ＋Ｇ）｝
【００２４】
【数３】ＦＣＭ＝（Ｂ+Ｃ）−（Ａ＋Ｄ）
【００２５】
【数４】ＲＦ＝Ｉ−Ｊ ＦＥ信号検出回路４０から出力されたＦＥ信号は、ＤＳ
Ｐ（Digital Signal Processor）４４に入力される。Ｄ
ＳＰ４４は、入力されたＦＥ信号に基づいてフォーカス
サーボを実行し、フォーカス制御信号を生成する。生成
されたフォーカス制御信号はフォーカスアクチュエータ
１８に与えられ、これによってフォーカスつまり光学レ
ンズ１４の光軸上の位置が調整される。
Ｐ（Digital Signal Processor）４４に入力される。Ｄ
ＳＰ４４は、入力されたＦＥ信号に基づいてフォーカス
サーボを実行し、フォーカス制御信号を生成する。生成
されたフォーカス制御信号はフォーカスアクチュエータ
１８に与えられ、これによってフォーカスつまり光学レ
ンズ１４の光軸上の位置が調整される。
【００２６】ＴＥ信号検出回路４２から出力されたＴＥ
信号もまた、ＤＳＰ４４に与えられる。ＤＳＰ４４は、
与えられたＴＥ信号に基づいてシーク処理またはトラッ
キング制御処理を実行し、トラッキングアクチュエータ
制御制御信号およびスレッド制御信号を生成する。トラ
ッキングアクチュエータ制御信号はトラッキングアクチ
ュエータ１６に与えられ、スレッド制御信号はスレッド
モータ４６に与えられる。これによって、光学レンズ１
４の径方向の位置と、スレッドモータ４６の回転速度お
よび回転方向とが制御される。ＴＥ信号は振幅測定回路
４８にも入力され、これによってＴＥ信号の振幅が測定
される。測定された振幅は、ＭＰＵ５０に与えられる。
信号もまた、ＤＳＰ４４に与えられる。ＤＳＰ４４は、
与えられたＴＥ信号に基づいてシーク処理またはトラッ
キング制御処理を実行し、トラッキングアクチュエータ
制御制御信号およびスレッド制御信号を生成する。トラ
ッキングアクチュエータ制御信号はトラッキングアクチ
ュエータ１６に与えられ、スレッド制御信号はスレッド
モータ４６に与えられる。これによって、光学レンズ１
４の径方向の位置と、スレッドモータ４６の回転速度お
よび回転方向とが制御される。ＴＥ信号は振幅測定回路
４８にも入力され、これによってＴＥ信号の振幅が測定
される。測定された振幅は、ＭＰＵ５０に与えられる。
【００２７】ＦＣＭ信号検出回路５２から出力されたＦ
ＣＭ信号は、クロックジェネレータ５４に与えられる。
クロックジェネレータ５４はＦＣＭ信号に基づくＰＬＬ
（Phase Lock Loop）制御によってクロック信号を生成
し、Ａ／Ｄ変換器６４，ゲート信号作成回路５６，振幅
測定回路５８およびＥＣＣデコーダ６６は、クロックジ
ェネレータ５４によって生成されたクロック信号に応答
して動作する。
ＣＭ信号は、クロックジェネレータ５４に与えられる。
クロックジェネレータ５４はＦＣＭ信号に基づくＰＬＬ
（Phase Lock Loop）制御によってクロック信号を生成
し、Ａ／Ｄ変換器６４，ゲート信号作成回路５６，振幅
測定回路５８およびＥＣＣデコーダ６６は、クロックジ
ェネレータ５４によって生成されたクロック信号に応答
して動作する。
【００２８】ＲＦ信号検出回路６０から出力されたＲＦ
信号は、ＡＧＣ（Automatic Gain Control）回路６２に
よるレベル調整およびＡ／Ｄ変換器６４によるＡ／Ｄ変
換を経て、タイミングジェネレータ５６，振幅測定回路
５８およびＥＣＣデコーダ６６に与えられる。タイミン
グジェネレータ５６は、Ａ／Ｄ変換器６４およびＦＣＭ
信号検出回路５２の各々から与えられたＲＦ信号および
ＦＣＭ信号に基づいてタイミング信号を作成する。振幅
測定回路５８は、タイミングジェネレータ５６からハイ
レベルのタイミング信号が入力されたときにＲＦ信号の
振幅を測定し、測定した振幅をＭＰＵ５０に与える。Ｅ
ＣＣデコーダ６６は、与えられたＲＦ信号に所定のデコ
ード処理を施し、再生信号を生成する。
信号は、ＡＧＣ（Automatic Gain Control）回路６２に
よるレベル調整およびＡ／Ｄ変換器６４によるＡ／Ｄ変
換を経て、タイミングジェネレータ５６，振幅測定回路
５８およびＥＣＣデコーダ６６に与えられる。タイミン
グジェネレータ５６は、Ａ／Ｄ変換器６４およびＦＣＭ
信号検出回路５２の各々から与えられたＲＦ信号および
ＦＣＭ信号に基づいてタイミング信号を作成する。振幅
測定回路５８は、タイミングジェネレータ５６からハイ
レベルのタイミング信号が入力されたときにＲＦ信号の
振幅を測定し、測定した振幅をＭＰＵ５０に与える。Ｅ
ＣＣデコーダ６６は、与えられたＲＦ信号に所定のデコ
ード処理を施し、再生信号を生成する。
【００２９】ＲＦ信号のデータ構造を図７〜図９に示
す。図７に示すように、１トラックは複数フレームから
なり、各フレームは１つのアドレスセグメントと３８個
のデータセグメントからなる。１フレームは２０７４８
ＤＣＢ（Data Channel Bit）であり、このうち５３２Ｄ
ＣＢがアドレスセグメントのために割り当てられ、残り
の２０２１６ＤＣＢはデータセグメント０〜３７のため
に割り当てられる。データセグメントは、図８に示すよ
うにＦＣＭフィールド，プリライトフィールド，データ
フィールドおよびポストライトフィールドからなる。Ｆ
ＣＭフィールドには１２ＤＣＢが割り当てられ、プリラ
イトフィールドには４ＤＣＢが割り当てられ、データフ
ィールドには５１２ＤＣＢが割り当てられ、そしてポス
トライトフィールドには４ＤＣＢが割り当てられる。な
お、図５に示すＦＣＭがＦＣＭフィールドに対応する。
す。図７に示すように、１トラックは複数フレームから
なり、各フレームは１つのアドレスセグメントと３８個
のデータセグメントからなる。１フレームは２０７４８
ＤＣＢ（Data Channel Bit）であり、このうち５３２Ｄ
ＣＢがアドレスセグメントのために割り当てられ、残り
の２０２１６ＤＣＢはデータセグメント０〜３７のため
に割り当てられる。データセグメントは、図８に示すよ
うにＦＣＭフィールド，プリライトフィールド，データ
フィールドおよびポストライトフィールドからなる。Ｆ
ＣＭフィールドには１２ＤＣＢが割り当てられ、プリラ
イトフィールドには４ＤＣＢが割り当てられ、データフ
ィールドには５１２ＤＣＢが割り当てられ、そしてポス
トライトフィールドには４ＤＣＢが割り当てられる。な
お、図５に示すＦＣＭがＦＣＭフィールドに対応する。
【００３０】つまり、各フレームには３８個のデータフ
ィールドが存在し、これらのデータフィールドによって
各フレームのヘッダデータとメインデータとが形成され
る。ヘッダデータはデータセグメント０のデータフィー
ルドに書き込まれており、具体的には図９に示すように
形成される。つまり、ヘッダデータは４０バイト（＝４
０ＤＣＢ）からなり、先頭２２バイトおよび末尾２バイ
トにショートマークフィールドがそれぞれ割り当てら
れ、残りの１６バイトにロングマークフィールドが割り
当てられる。ショートマークフィールドは図１０（Ａ）
に示すような“１１”および“００”の繰り返しであ
り、ロングマークフィールドは図１０（Ｂ）に示すよう
な“１１１１１１１１”および“００００００００”の
繰り返しである。
ィールドが存在し、これらのデータフィールドによって
各フレームのヘッダデータとメインデータとが形成され
る。ヘッダデータはデータセグメント０のデータフィー
ルドに書き込まれており、具体的には図９に示すように
形成される。つまり、ヘッダデータは４０バイト（＝４
０ＤＣＢ）からなり、先頭２２バイトおよび末尾２バイ
トにショートマークフィールドがそれぞれ割り当てら
れ、残りの１６バイトにロングマークフィールドが割り
当てられる。ショートマークフィールドは図１０（Ａ）
に示すような“１１”および“００”の繰り返しであ
り、ロングマークフィールドは図１０（Ｂ）に示すよう
な“１１１１１１１１”および“００００００００”の
繰り返しである。
【００３１】タイミングジェネレータ５６は、具体的に
は図６に示すように構成される。ゲート信号発生回路５
６ｂは、ＦＣＭ信号に基づいて、図８に示すプリライト
フィールドの先頭から６４ＤＣＢ期間にゲート信号をハ
イレベルとする。ＦＣＭフィールドは図７に示すデータ
セグメント０〜３７だけでなくアドレスセグメントにも
割り当てられ、ゲート信号は各セグメントにおいて上述
の６４ＤＣＢ期間にハイレベルとなる。このため、デー
タセグメント０においてゲート信号がハイレベルとなる
期間には、図９に示すヘッダデータ期間が必ず含まれ
る。
は図６に示すように構成される。ゲート信号発生回路５
６ｂは、ＦＣＭ信号に基づいて、図８に示すプリライト
フィールドの先頭から６４ＤＣＢ期間にゲート信号をハ
イレベルとする。ＦＣＭフィールドは図７に示すデータ
セグメント０〜３７だけでなくアドレスセグメントにも
割り当てられ、ゲート信号は各セグメントにおいて上述
の６４ＤＣＢ期間にハイレベルとなる。このため、デー
タセグメント０においてゲート信号がハイレベルとなる
期間には、図９に示すヘッダデータ期間が必ず含まれ
る。
【００３２】パターンマッチング検出回路５６ａは、ゲ
ート信号がハイレベルを示すとき能動化され、Ａ／Ｄ変
換器６４から入力されたＲＦ信号と“１１１１１１１
１”とのマッチングを行なう。データセグメント０に割
り当てられたヘッダデータは図１０（Ａ）に示すロング
マークフィールドを有するため、このロングマークフフ
ィールドがパターンマッチング検出回路５６ａに入力さ
れるとき、マッチング結果が“一致”を示す。マッチン
グ結果はタイミング信号出力回路５６ｃに与えられ、タ
イミング信号出力回路５６ｃは、“一致”を示すマッチ
ング結果の入力から８ビット期間にわたってタイミング
信号をハイレベルとする。
ート信号がハイレベルを示すとき能動化され、Ａ／Ｄ変
換器６４から入力されたＲＦ信号と“１１１１１１１
１”とのマッチングを行なう。データセグメント０に割
り当てられたヘッダデータは図１０（Ａ）に示すロング
マークフィールドを有するため、このロングマークフフ
ィールドがパターンマッチング検出回路５６ａに入力さ
れるとき、マッチング結果が“一致”を示す。マッチン
グ結果はタイミング信号出力回路５６ｃに与えられ、タ
イミング信号出力回路５６ｃは、“一致”を示すマッチ
ング結果の入力から８ビット期間にわたってタイミング
信号をハイレベルとする。
【００３３】レベル測定回路５８には図示しない遅延回
路が設けられており、Ａ／Ｄ変換器６４から出力された
ＲＦ信号は、この遅延回路によって８ビット期間遅延さ
れる。レベル測定回路５８は、ハイレベルのタイミング
信号が与えられる期間に、遅延回路によって遅延された
ＲＦ信号のレベルを測定する。これによって、“１１１
１１１１１”を示すＲＦ信号の振幅が測定される。
路が設けられており、Ａ／Ｄ変換器６４から出力された
ＲＦ信号は、この遅延回路によって８ビット期間遅延さ
れる。レベル測定回路５８は、ハイレベルのタイミング
信号が与えられる期間に、遅延回路によって遅延された
ＲＦ信号のレベルを測定する。これによって、“１１１
１１１１１”を示すＲＦ信号の振幅が測定される。
【００３４】図１に戻って、ＭＰＵ５０は、フォーカス
サーボがオンされかつトラッキングサーボがオフされて
いる状態で、振幅測定回路４８からＴＥ信号の振幅を取
り込み、ＴＥ振幅が最大となるデフォーカス値（フォー
カスオフセット値）を検出する。具体的には、互いに異
なるデフォーカス値をＤＳＰ４４に設定した状態でフォ
ーカスサーボを実行し、各々のデフォーカス値で検出さ
れたＴＥ信号の振幅を取り込む。そして、取り込まれた
振幅が最大となるデフォーカス値を最適デフォーカス値
ＤＦｔｅとして決定する。
サーボがオンされかつトラッキングサーボがオフされて
いる状態で、振幅測定回路４８からＴＥ信号の振幅を取
り込み、ＴＥ振幅が最大となるデフォーカス値（フォー
カスオフセット値）を検出する。具体的には、互いに異
なるデフォーカス値をＤＳＰ４４に設定した状態でフォ
ーカスサーボを実行し、各々のデフォーカス値で検出さ
れたＴＥ信号の振幅を取り込む。そして、取り込まれた
振幅が最大となるデフォーカス値を最適デフォーカス値
ＤＦｔｅとして決定する。
【００３５】ＭＰＵ５０はまた、フォーカスサーボがオ
ンされ、かつランドトラックまたはグルーブトラックに
対するトラッキングサーボがオンされている状態で、振
幅測定回路５８からＲＦ信号の振幅を取り込み、ＲＦ振
幅が最大となるデフォーカス値を検出する。これによっ
て、ランドトラックにおいてＲＦ信号の振幅が最大とな
る最適デフォーカス値ＤＦｒｆｌと、グルーブトラック
においてＲＦ信号の振幅が最大となる最適デフォーカス
値ＤＦｒｆｇとが求められる。
ンされ、かつランドトラックまたはグルーブトラックに
対するトラッキングサーボがオンされている状態で、振
幅測定回路５８からＲＦ信号の振幅を取り込み、ＲＦ振
幅が最大となるデフォーカス値を検出する。これによっ
て、ランドトラックにおいてＲＦ信号の振幅が最大とな
る最適デフォーカス値ＤＦｒｆｌと、グルーブトラック
においてＲＦ信号の振幅が最大となる最適デフォーカス
値ＤＦｒｆｇとが求められる。
【００３６】シーク処理時は、ＴＥ信号に基づいて決定
した最適デフォーカス値ＤＦｔｅがＤＳＰ４４に設定さ
れ、デコード処理時（トラッキング制御時）は、最適デ
フォーカス値ＤＦｒｆｌまたはＤＦｒｆｇがＤＳＰ４４
に設定される。このため、シーク処理時のフォーカスサ
ーボはＦＥ信号と最適デフォーカス値ＤＦｔｅとに基づ
いて実行され、デコード処理時のフォーカスサーボはＦ
Ｅ信号と最適デフォーカス値ＤＦｒｆｌまたはＤＦｒｆ
ｇとに基づいて実行される。この結果、シーク処理時
は、ＴＥ信号の振幅が最大となるようにフォーカスが制
御され、デコード処理時は、ＲＦ信号の振幅が最大とな
るようにフォーカスが制御される。
した最適デフォーカス値ＤＦｔｅがＤＳＰ４４に設定さ
れ、デコード処理時（トラッキング制御時）は、最適デ
フォーカス値ＤＦｒｆｌまたはＤＦｒｆｇがＤＳＰ４４
に設定される。このため、シーク処理時のフォーカスサ
ーボはＦＥ信号と最適デフォーカス値ＤＦｔｅとに基づ
いて実行され、デコード処理時のフォーカスサーボはＦ
Ｅ信号と最適デフォーカス値ＤＦｒｆｌまたはＤＦｒｆ
ｇとに基づいて実行される。この結果、シーク処理時
は、ＴＥ信号の振幅が最大となるようにフォーカスが制
御され、デコード処理時は、ＲＦ信号の振幅が最大とな
るようにフォーカスが制御される。
【００３７】なお、ＤＳＰ４４は、以上のフォーカスサ
ーボ，トラッキングサーボおよびスレッドサーボに加え
て、スピンドルサーボも実行する。このサーボ処理によ
って、スピンドルモータ７２から出力されたＦＧパルス
の周期が所定値を示すように、スピンドルモータ７２の
回転が制御される。
ーボ，トラッキングサーボおよびスレッドサーボに加え
て、スピンドルサーボも実行する。このサーボ処理によ
って、スピンドルモータ７２から出力されたＦＧパルス
の周期が所定値を示すように、スピンドルモータ７２の
回転が制御される。
【００３８】ＭＰＵ５０は、具体的には図１１〜図１７
に示すフロー図に従って動作する。このうち、図１１〜
図１６に示すフロー図はオフセット検出時に処理され、
図１７に示すフロー図は再生処理時に処理される。
に示すフロー図に従って動作する。このうち、図１１〜
図１６に示すフロー図はオフセット検出時に処理され、
図１７に示すフロー図は再生処理時に処理される。
【００３９】オフセット検出時は、まず図１１のステッ
プＳ１でスピンドルサーボをオンし、ステップＳ３で磁
気ヘッド３８を光磁気ディスク６８の上にセットし、ス
テップＳ５でレーザダイオード２０をオンし、そしてス
テップＳ７でフォーカスサーボをオンする。ステップＳ
５では再生レーザパワーをデフォルト値に設定し、レー
ザダイード２０は、高周波が重畳されたレーザ光をデフ
ォルト値のレーザパワーで出射する。また、ステップＳ
７ではデフォーカス値＝０をＤＳＰ４４に設定し、光学
レンズ１４はデフォーカス値＝０を中心として光軸方向
に振れる。
プＳ１でスピンドルサーボをオンし、ステップＳ３で磁
気ヘッド３８を光磁気ディスク６８の上にセットし、ス
テップＳ５でレーザダイオード２０をオンし、そしてス
テップＳ７でフォーカスサーボをオンする。ステップＳ
５では再生レーザパワーをデフォルト値に設定し、レー
ザダイード２０は、高周波が重畳されたレーザ光をデフ
ォルト値のレーザパワーで出射する。また、ステップＳ
７ではデフォーカス値＝０をＤＳＰ４４に設定し、光学
レンズ１４はデフォーカス値＝０を中心として光軸方向
に振れる。
【００４０】ステップＳ９ではカウンタ５０ａのカウン
ト値ｉを“１”に設定し、ステップＳ１１では現カウン
ト値ｉに対応するデフォーカス値ＤＦｔｅ（ｉ）をＤＳ
Ｐ４４に設定する。デフォーカス値の設定が完了する
と、ステップＳ１３で振幅測定回路４８から振幅ＴＥ
（ｉ）を取り込み、ステップＳ１５でこの振幅ＴＥ
（ｉ）を所定閾値ＴＥｔｈと比較する。ここでＴＥ
（ｉ）＜ＴＥｔｈであれば、ステップＳ２１でこの振幅
ＴＥ（ｉ）をワークメモリ５０ｂに格納し、ステップＳ
２３でカウント値ｉが“２０”に達したかどうかを判断
する。カウント値ｉが２０に達しないうちは、ステップ
Ｓ２５でカウンタ５０ａをインクリメントしてからステ
ップＳ１１に戻る。一方、ステップＳ１５でＴＥ（ｉ）
≧ＴＥｔｈと判断されると、ステップＳ１７でワークメ
モリ５０ｂをクリアし、ステップＳ１９でレーザパワー
を０．２ｍＷ低下させてからステップＳ９に戻る。
ト値ｉを“１”に設定し、ステップＳ１１では現カウン
ト値ｉに対応するデフォーカス値ＤＦｔｅ（ｉ）をＤＳ
Ｐ４４に設定する。デフォーカス値の設定が完了する
と、ステップＳ１３で振幅測定回路４８から振幅ＴＥ
（ｉ）を取り込み、ステップＳ１５でこの振幅ＴＥ
（ｉ）を所定閾値ＴＥｔｈと比較する。ここでＴＥ
（ｉ）＜ＴＥｔｈであれば、ステップＳ２１でこの振幅
ＴＥ（ｉ）をワークメモリ５０ｂに格納し、ステップＳ
２３でカウント値ｉが“２０”に達したかどうかを判断
する。カウント値ｉが２０に達しないうちは、ステップ
Ｓ２５でカウンタ５０ａをインクリメントしてからステ
ップＳ１１に戻る。一方、ステップＳ１５でＴＥ（ｉ）
≧ＴＥｔｈと判断されると、ステップＳ１７でワークメ
モリ５０ｂをクリアし、ステップＳ１９でレーザパワー
を０．２ｍＷ低下させてからステップＳ９に戻る。
【００４１】カウント値ｉが“２０”に達すると、ステ
ップＳ２３からステップＳ２７に進み、カウント値ｉを
“０”に設定する。ステップＳ２９では現カウント値ｉ
に対応するデフォーカス値ＤＦｔｅ（ｉ）をＤＳＰ４４
に設定し、ステップＳ３１では振幅測定回路４８から振
幅ＴＥ（ｉ）を取り込む。取り込んだ振幅ＴＥ（ｉ）が
所定閾値ＴＥｔｈを下回るときは、ステップＳ３９から
ステップＳ４１に進み、取り込んだ振幅ＴＥ（ｉ）をワ
ークメモリ５０ｂに格納する。ステップＳ４３ではカウ
ント値ｉを“−２０”と比較し、カウント値が“−２
０”まで減少しない限り、ステップＳ４５におけるカウ
ンタ５０ａのディクリメント処理を経てステップＳ２９
に戻る。一方、振幅ＴＥ（ｉ）が所定閾値ＴＥｔｈ以上
であれば、ステップＳ３５でワークメモリ５０ｂをクリ
アし、ステップＳ３７でレーザパワーを０．２ｍＷ低下
させてからステップＳ９に戻る。
ップＳ２３からステップＳ２７に進み、カウント値ｉを
“０”に設定する。ステップＳ２９では現カウント値ｉ
に対応するデフォーカス値ＤＦｔｅ（ｉ）をＤＳＰ４４
に設定し、ステップＳ３１では振幅測定回路４８から振
幅ＴＥ（ｉ）を取り込む。取り込んだ振幅ＴＥ（ｉ）が
所定閾値ＴＥｔｈを下回るときは、ステップＳ３９から
ステップＳ４１に進み、取り込んだ振幅ＴＥ（ｉ）をワ
ークメモリ５０ｂに格納する。ステップＳ４３ではカウ
ント値ｉを“−２０”と比較し、カウント値が“−２
０”まで減少しない限り、ステップＳ４５におけるカウ
ンタ５０ａのディクリメント処理を経てステップＳ２９
に戻る。一方、振幅ＴＥ（ｉ）が所定閾値ＴＥｔｈ以上
であれば、ステップＳ３５でワークメモリ５０ｂをクリ
アし、ステップＳ３７でレーザパワーを０．２ｍＷ低下
させてからステップＳ９に戻る。
【００４２】所定閾値ＴＥｔｈはＴＥ信号のダイナミッ
クレンジの最大値（飽和値）であり、振幅ＴＥ（ｉ）が
この飽和値を超えるようなレーザパワーでは、最適デフ
ォーカス値ＤＦｔｅを決定することはできない。つま
り、あるレーザパワーが設定されているときに各々のデ
フォーカス値ＤＦｔｅ（ｉ）に対して検出された振幅Ｔ
Ｅ（ｉ）が図１８に曲線Ａで示すように変化すれば、最
適デフォーカス値ＤＦｔｅは決定できない。このため、
あるレーザパワーで検出された振幅ＴＥ（ｉ）が１つで
も所定閾値ＴＥｔｈ以上となったときは、ワークメモリ
５０ｂをクリアし、より低いレーザパワーで振幅ＴＥ
（ｉ）を検出する。
クレンジの最大値（飽和値）であり、振幅ＴＥ（ｉ）が
この飽和値を超えるようなレーザパワーでは、最適デフ
ォーカス値ＤＦｔｅを決定することはできない。つま
り、あるレーザパワーが設定されているときに各々のデ
フォーカス値ＤＦｔｅ（ｉ）に対して検出された振幅Ｔ
Ｅ（ｉ）が図１８に曲線Ａで示すように変化すれば、最
適デフォーカス値ＤＦｔｅは決定できない。このため、
あるレーザパワーで検出された振幅ＴＥ（ｉ）が１つで
も所定閾値ＴＥｔｈ以上となったときは、ワークメモリ
５０ｂをクリアし、より低いレーザパワーで振幅ＴＥ
（ｉ）を検出する。
【００４３】ステップＳ４３でＹＥＳと判断されるの
は、あるレーザパワーにおいて検出された振幅ＴＥ（−
２０）〜ＴＥ（２０）のいずれもが所定閾値ＴＥｔｈを
下回ったときである。このとき、ステップＳ４３からス
テップＳ４７に進み、ワークメモリ５０ｂに格納された
振幅ＴＥ（−２０）〜ＴＥ（２０）の中から最大値を検
出する。ステップＳ４９では、検出された最大値に対応
するデフォーカス値を検出し、これを最適デフォーカス
値ＤＦｔｅとして決定する。
は、あるレーザパワーにおいて検出された振幅ＴＥ（−
２０）〜ＴＥ（２０）のいずれもが所定閾値ＴＥｔｈを
下回ったときである。このとき、ステップＳ４３からス
テップＳ４７に進み、ワークメモリ５０ｂに格納された
振幅ＴＥ（−２０）〜ＴＥ（２０）の中から最大値を検
出する。ステップＳ４９では、検出された最大値に対応
するデフォーカス値を検出し、これを最適デフォーカス
値ＤＦｔｅとして決定する。
【００４４】最適デフォーカス値ＤＦｔｅが決定される
と、ランドトラックにおいてＲＦ信号の測定レベルが最
大となる最適デフォーカス値ＤＦｒｆｌと、グルーブト
ラックにおいてＲＦ信号の測定レベルが最大となる最適
デフォーカス値ＤＦｒｆｇとを決定すべく、ステップＳ
５１以降の処理を行なう。
と、ランドトラックにおいてＲＦ信号の測定レベルが最
大となる最適デフォーカス値ＤＦｒｆｌと、グルーブト
ラックにおいてＲＦ信号の測定レベルが最大となる最適
デフォーカス値ＤＦｒｆｇとを決定すべく、ステップＳ
５１以降の処理を行なう。
【００４５】まずステップＳ５１でランドテストエリア
にシークし、ステップＳ５３でトラッキングサーボをオ
ンし、そしてステップＳ５５でランドテストエリアに対
するテストライトを行なう。記録レーザパワーはデフォ
ルト値に設定され、レーザダイオード２０からはパルス
変調されたレーザ光が出射される。テストライトが完了
すると、ステップＳ５７でＡＧＣ回路６２をオフし、ス
テップＳ５９で再生レーザパワーをデフォルト値に設定
する。ランドテストエリアに記録されたライト信号は、
ステップＳ５９の処理によって再生される。
にシークし、ステップＳ５３でトラッキングサーボをオ
ンし、そしてステップＳ５５でランドテストエリアに対
するテストライトを行なう。記録レーザパワーはデフォ
ルト値に設定され、レーザダイオード２０からはパルス
変調されたレーザ光が出射される。テストライトが完了
すると、ステップＳ５７でＡＧＣ回路６２をオフし、ス
テップＳ５９で再生レーザパワーをデフォルト値に設定
する。ランドテストエリアに記録されたライト信号は、
ステップＳ５９の処理によって再生される。
【００４６】ステップＳ６１ではカウンタ５０ａに
“１”を設定し、ステップＳ６３ではデフォーカス値Ｄ
Ｆｒｆｌ（ｉ）をＤＳＰ４４に設定する。デフォーカス
値ＤＦｒｆｌ（ｉ）が設定されると、ステップＳ６５で
振幅測定回路５８から振幅ＲＦ（ｉ）を取り込み、ステ
ップＳ６７でこの振幅ＲＦ（ｉ）を所定閾値ＲＦｔｈと
比較する。ここでＲＦ（ｉ）＜ＲＦｔｈであれば、ステ
ップＳ７３で振幅ＲＦ（ｉ）をワークメモリ５０ｂに格
納し、ステップＳ７５でカウント値ｉが“２０”に達し
たかどうかを判断する。そして、カウント値が“２０”
を下回る限り、ステップＳ７７におけるカウンタ５０ａ
のインクリメント処理を経てステップＳ７７に戻る。一
方、ＲＦ（ｉ）≧ＲＦｔｈであれば、ステップＳ６７で
ＹＥＳと判断し、ステップＳ６９でワークメモリ５０ａ
をクリアするとともに、ステップＳ７１でレーザパワー
を０．２ｍＷ低下させてからステップＳ６１に戻る。
“１”を設定し、ステップＳ６３ではデフォーカス値Ｄ
Ｆｒｆｌ（ｉ）をＤＳＰ４４に設定する。デフォーカス
値ＤＦｒｆｌ（ｉ）が設定されると、ステップＳ６５で
振幅測定回路５８から振幅ＲＦ（ｉ）を取り込み、ステ
ップＳ６７でこの振幅ＲＦ（ｉ）を所定閾値ＲＦｔｈと
比較する。ここでＲＦ（ｉ）＜ＲＦｔｈであれば、ステ
ップＳ７３で振幅ＲＦ（ｉ）をワークメモリ５０ｂに格
納し、ステップＳ７５でカウント値ｉが“２０”に達し
たかどうかを判断する。そして、カウント値が“２０”
を下回る限り、ステップＳ７７におけるカウンタ５０ａ
のインクリメント処理を経てステップＳ７７に戻る。一
方、ＲＦ（ｉ）≧ＲＦｔｈであれば、ステップＳ６７で
ＹＥＳと判断し、ステップＳ６９でワークメモリ５０ａ
をクリアするとともに、ステップＳ７１でレーザパワー
を０．２ｍＷ低下させてからステップＳ６１に戻る。
【００４７】ステップＳ７５でＹＥＳと判断されると、
ステップＳ７９でカウンタ５０ａを“０”に設定し、ス
テップＳ８１でデフォーカス値ＤＦｒｆｌ（ｉ）をＤＳ
Ｐ４４に設定する。ステップＳ８３では振幅ＲＦ（ｉ）
を振幅測定回路５８から取り込み、ステップＳ８５では
今回取り込まれた振幅ＲＦ（ｉ）を所定閾値ＲＦｔｈと
比較する。そして、ＲＦ（ｉ）＜ＲＦｔｈであればステ
ップＳ９１で振幅ＲＦ（ｉ）をワークメモリ５０ｂに格
納し、ステップＳ９３でカウント値ｉが“−２０”まで
減少したかどうか判断する。そして、ｉ＞−２０である
限り、ステップＳ９５におけるカウンタ５０ａのインク
リメント処理を経てステップＳ８１に戻る。一方、ＲＦ
（ｉ）≧ＲＦｔｈであれば、ステップＳ８５でＹＥＳと
判断し、ステップＳ８７でワークメモリ５０ａをクリア
するとともに、ステップＳ８９でレーザパワーを０．２
ｍＷ低下させてからステップＳ６１に戻る。
ステップＳ７９でカウンタ５０ａを“０”に設定し、ス
テップＳ８１でデフォーカス値ＤＦｒｆｌ（ｉ）をＤＳ
Ｐ４４に設定する。ステップＳ８３では振幅ＲＦ（ｉ）
を振幅測定回路５８から取り込み、ステップＳ８５では
今回取り込まれた振幅ＲＦ（ｉ）を所定閾値ＲＦｔｈと
比較する。そして、ＲＦ（ｉ）＜ＲＦｔｈであればステ
ップＳ９１で振幅ＲＦ（ｉ）をワークメモリ５０ｂに格
納し、ステップＳ９３でカウント値ｉが“−２０”まで
減少したかどうか判断する。そして、ｉ＞−２０である
限り、ステップＳ９５におけるカウンタ５０ａのインク
リメント処理を経てステップＳ８１に戻る。一方、ＲＦ
（ｉ）≧ＲＦｔｈであれば、ステップＳ８５でＹＥＳと
判断し、ステップＳ８７でワークメモリ５０ａをクリア
するとともに、ステップＳ８９でレーザパワーを０．２
ｍＷ低下させてからステップＳ６１に戻る。
【００４８】ｉ＝−２０と判断されるとステップＳ９３
からステップＳ９７に進み、ワークメモリ５０ｂに格納
された現レーザパワーに対応する複数の測定レベルＲＦ
（ｉ）の中から最大値を検出する。続くステップＳ９９
では、検出された最大値に対応するデフォーカス値を最
適デフォーカス値ＤＦｒｆｌとして決定する。
からステップＳ９７に進み、ワークメモリ５０ｂに格納
された現レーザパワーに対応する複数の測定レベルＲＦ
（ｉ）の中から最大値を検出する。続くステップＳ９９
では、検出された最大値に対応するデフォーカス値を最
適デフォーカス値ＤＦｒｆｌとして決定する。
【００４９】ランドトラックにおける最適デフォーカス
値ＤＦｒｆｌが決定されると、グルーブトラックにおけ
る最適デフォーカス値ＤＦｒｆｌｇを決定すべくステッ
プＳ１０１〜Ｓ１４９の処理を行なうが、これらの処理
は、ランドテストエリアの代わりにグルーブテストエリ
アにテストライトを行ない、グルーブテストエリアから
テスト信号を再生する点、およびオフ状態のＡＧＣ回路
６２を最適デフォーカス値ＤＦｆｌｇの決定後にオンす
る点を除き、上述のステップＳ５１〜Ｓ９９と同様であ
るため、重複した説明は省略する。
値ＤＦｒｆｌが決定されると、グルーブトラックにおけ
る最適デフォーカス値ＤＦｒｆｌｇを決定すべくステッ
プＳ１０１〜Ｓ１４９の処理を行なうが、これらの処理
は、ランドテストエリアの代わりにグルーブテストエリ
アにテストライトを行ない、グルーブテストエリアから
テスト信号を再生する点、およびオフ状態のＡＧＣ回路
６２を最適デフォーカス値ＤＦｆｌｇの決定後にオンす
る点を除き、上述のステップＳ５１〜Ｓ９９と同様であ
るため、重複した説明は省略する。
【００５０】再生処理時は、図１７に示すフロー図に従
う。まずステップＳ１５１で再生命令が与えられたかど
うか判断し、ＹＥＳであればステップＳ１５３で最適デ
フォーカス値ＤＦｔｅをＤＳＰ４４に設定する。フォー
カスサーボは既に開始されており、ＤＳＰ４４は、ＦＥ
信号と最適デフォーカス値ＤＦｔｅとに基づいてフォー
カスを調整する。最適デフォーカス値ＤＦｔｅを考慮し
たフォーカス調整によって、ＴＥ信号検出回路４２から
出力されるＴＥ信号の振幅は最大となる。
う。まずステップＳ１５１で再生命令が与えられたかど
うか判断し、ＹＥＳであればステップＳ１５３で最適デ
フォーカス値ＤＦｔｅをＤＳＰ４４に設定する。フォー
カスサーボは既に開始されており、ＤＳＰ４４は、ＦＥ
信号と最適デフォーカス値ＤＦｔｅとに基づいてフォー
カスを調整する。最適デフォーカス値ＤＦｔｅを考慮し
たフォーカス調整によって、ＴＥ信号検出回路４２から
出力されるＴＥ信号の振幅は最大となる。
【００５１】ステップＳ１５５では、最大振幅を有する
ＴＥ信号に基づいて再生先トラックをシークする。メイ
ンビームＭの照射先が再生先トラックの１トラック手前
に到達すると、ステップＳ１５７でＹＥＳと判断し、ス
テップＳ１５９およびＳ１６１の各々でトラッキングサ
ーボおよびスレッドサーボをオンする。さらに、シーク
先のトラックをステップＳ１６３で判別し、シーク先が
ランドトラックであればステップＳ１６５で最適デフォ
ーカス値ＤＦｒｆｌをＤＳＰ４４に設定し、シーク先が
グルーブトラックであれば最適デフォーカス値ＤＦｒｆ
ｇをＤＳＰ４４に設定する。ＤＳＰ４４は、ＦＥ信号と
最適デフォーカス値ＤＦｒｆｌまたはＤＦｒｆｇとに基
づいてフォーカスを調整し、これによってＲＦ信号検出
回路６０から出力されるＲＦ信号の振幅は最大となる。
ＴＥ信号に基づいて再生先トラックをシークする。メイ
ンビームＭの照射先が再生先トラックの１トラック手前
に到達すると、ステップＳ１５７でＹＥＳと判断し、ス
テップＳ１５９およびＳ１６１の各々でトラッキングサ
ーボおよびスレッドサーボをオンする。さらに、シーク
先のトラックをステップＳ１６３で判別し、シーク先が
ランドトラックであればステップＳ１６５で最適デフォ
ーカス値ＤＦｒｆｌをＤＳＰ４４に設定し、シーク先が
グルーブトラックであれば最適デフォーカス値ＤＦｒｆ
ｇをＤＳＰ４４に設定する。ＤＳＰ４４は、ＦＥ信号と
最適デフォーカス値ＤＦｒｆｌまたはＤＦｒｆｇとに基
づいてフォーカスを調整し、これによってＲＦ信号検出
回路６０から出力されるＲＦ信号の振幅は最大となる。
【００５２】メインビームＭの照射先が目的アドレスに
到達すると、ステップＳ１６９からステップＳ１７１に
進み、ＥＣＣデコーダ６６を起動して再生処理を行な
う。再生処理が完了すると、リターンする。ＦＡＴ方式
やＵＤＦ方式によって信号が離散的に記録されている場
合、以上のような再生処理が何回も繰り返され、信号は
所定量ずつ間欠的に再生される。
到達すると、ステップＳ１６９からステップＳ１７１に
進み、ＥＣＣデコーダ６６を起動して再生処理を行な
う。再生処理が完了すると、リターンする。ＦＡＴ方式
やＵＤＦ方式によって信号が離散的に記録されている場
合、以上のような再生処理が何回も繰り返され、信号は
所定量ずつ間欠的に再生される。
【００５３】以上の説明から分かるように、レーザ光は
光学レンズ１４を通して光磁気ディスク６８の記録面に
照射され、ＴＥ信号またはＲＦ信号は記録面で反射され
たレーザ光に基づいて検出される。ここで、ＭＰＵ５０
は光学レンズ１４を光軸方向に変位させ、ＴＥ信号検出
回路４２またはＲＦ信号検出回路６０は変位された各々
のレンズ位置でＴＥ信号またはＲＦ信号を検出する。レ
ーザパワーは、検出された各々のＴＥ信号またはＲＦ信
号の振幅が飽和値を下回るように、ＭＰＵ５０によって
調整される。パラメータが調整されると、その後に検出
されたＴＥ信号またはＲＦ信号の振幅が最大となるよう
に、光学レンズ１４の位置が制御される。このため、Ｔ
Ｅ信号またはＲＦ信号を適切に再生することができる。
光学レンズ１４を通して光磁気ディスク６８の記録面に
照射され、ＴＥ信号またはＲＦ信号は記録面で反射され
たレーザ光に基づいて検出される。ここで、ＭＰＵ５０
は光学レンズ１４を光軸方向に変位させ、ＴＥ信号検出
回路４２またはＲＦ信号検出回路６０は変位された各々
のレンズ位置でＴＥ信号またはＲＦ信号を検出する。レ
ーザパワーは、検出された各々のＴＥ信号またはＲＦ信
号の振幅が飽和値を下回るように、ＭＰＵ５０によって
調整される。パラメータが調整されると、その後に検出
されたＴＥ信号またはＲＦ信号の振幅が最大となるよう
に、光学レンズ１４の位置が制御される。このため、Ｔ
Ｅ信号またはＲＦ信号を適切に再生することができる。
【００５４】なお、この実施例では、ＴＥ信号またはＲ
Ｆ信号の振幅が所定閾値以上となるときにレーザパワー
を低下させるようにしたが、図１９に示すようにＴＥ信
号検出回路４２およびＲＦ信号検出回路６０の後段にＧ
ＣＡ（Gain Controlled Amplifier）６８および７０を
設け、これらのゲインを低下させるようにしてもよい。
この場合、ステップＳ５，Ｓ５９およびＳ１０７の各々
で再生レーザパワーをデフォルト値に設定するのに加え
てＶＣＡ６８および７０のゲインをデフォルト値に設定
する必要があり、ステップＳ１９，Ｓ３７，Ｓ７１，Ｓ
８９，Ｓ１１９およびＳ１３７の各々でレーザパワーを
低下させる代わりにＧＣＡ６８および７０のゲインを低
下させる必要がある。
Ｆ信号の振幅が所定閾値以上となるときにレーザパワー
を低下させるようにしたが、図１９に示すようにＴＥ信
号検出回路４２およびＲＦ信号検出回路６０の後段にＧ
ＣＡ（Gain Controlled Amplifier）６８および７０を
設け、これらのゲインを低下させるようにしてもよい。
この場合、ステップＳ５，Ｓ５９およびＳ１０７の各々
で再生レーザパワーをデフォルト値に設定するのに加え
てＶＣＡ６８および７０のゲインをデフォルト値に設定
する必要があり、ステップＳ１９，Ｓ３７，Ｓ７１，Ｓ
８９，Ｓ１１９およびＳ１３７の各々でレーザパワーを
低下させる代わりにＧＣＡ６８および７０のゲインを低
下させる必要がある。
【００５５】また、この実施例では、ＲＦ信号の振幅が
最大となるデフォーカス値を最適デフォーカス値ＤＦｒ
ｆｌまたはＤＦｒｆｇとして決定するようにしている
が、ＥＣＣデコーダによって生成される再生信号の誤り
率が最低となるデフォーカス値を最適デフォーカス値Ｄ
ＦｒｆｌまたはＤＦｒｆｇとして決定するようにしても
よい。
最大となるデフォーカス値を最適デフォーカス値ＤＦｒ
ｆｌまたはＤＦｒｆｇとして決定するようにしている
が、ＥＣＣデコーダによって生成される再生信号の誤り
率が最低となるデフォーカス値を最適デフォーカス値Ｄ
ＦｒｆｌまたはＤＦｒｆｇとして決定するようにしても
よい。
【図１】この発明の一実施例の構成を示すブロック図で
ある。
ある。
【図２】光ピックアップの構成の一部を示す図解図であ
る。
る。
【図３】メインビームおよびサブビームが記録面に照射
されている状態を示す図解図である。
されている状態を示す図解図である。
【図４】光検出器の構成を示す図解図である。
【図５】光磁気ディスクの記録面の形状を示す図解図で
ある。
ある。
【図６】タイミングジェネレータの構成を示すブロック
図である。
図である。
【図７】ＲＦ信号のデータ構造を示す図解図である。
【図８】データセグメントの構造を示す図解図である。
【図９】ヘッダデータの構造を示す図解図である。
【図１０】（Ａ）はショートマークフィールドに書き込
まれたデータ値を示す図解図であり、（Ｂ）はロングマ
ークフィールドに書き込まれたデータ値を示す図解図で
ある。
まれたデータ値を示す図解図であり、（Ｂ）はロングマ
ークフィールドに書き込まれたデータ値を示す図解図で
ある。
【図１１】フォーカスオフセット値（デフォーカス値）
を検出するときのＭＰＵの動作の一部を示すフロー図で
ある。
を検出するときのＭＰＵの動作の一部を示すフロー図で
ある。
【図１２】フォーカスオフセット値（デフォーカス値）
を検出するときのＭＰＵの動作の他の一部を示すフロー
図である。
を検出するときのＭＰＵの動作の他の一部を示すフロー
図である。
【図１３】フォーカスオフセット値（デフォーカス値）
を検出するときのＭＰＵの動作のその他の一部を示すフ
ロー図である。
を検出するときのＭＰＵの動作のその他の一部を示すフ
ロー図である。
【図１４】フォーカスオフセット値（デフォーカス値）
を検出するときのＭＰＵの動作のさらにその他の一部を
示すフロー図である。
を検出するときのＭＰＵの動作のさらにその他の一部を
示すフロー図である。
【図１５】フォーカスオフセット値（デフォーカス値）
を検出するときのＭＰＵの動作の他の一部を示すフロー
図である。
を検出するときのＭＰＵの動作の他の一部を示すフロー
図である。
【図１６】フォーカスオフセット値（デフォーカス値）
を検出するときのＭＰＵの動作のその他の一部を示すフ
ロー図である。
を検出するときのＭＰＵの動作のその他の一部を示すフ
ロー図である。
【図１７】再生処理を行なうときのＭＰＵの動作の一部
を示すフロー図である。
を示すフロー図である。
【図１８】デフォーカス値とＴＥ信号の振幅またはＲＦ
信号のレベルとの関係を示す波形図である。
信号のレベルとの関係を示す波形図である。
【図１９】この発明の他の実施例の構成を示すフロー図
である。
である。
１０…ディスク装置 １２…光ピックアップ ４０…ＦＥ信号検出回路 ４２…ＴＥ信号検出回路 ４４…ＤＳＰ ４８，５８…振幅測定回路 ５０…ＭＰＵ ５２…ＦＣＭ信号検出回路 ５６…タイミングジェネレータ ６０…ＲＦ信号検出回路 ６２…ＡＧＣ回路 ６６…ＥＣＣデコーダ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 永田 敬二 大阪府守口市京阪本通２丁目５番５号 三 洋電機株式会社内 (72)発明者 青井 義博 大阪府守口市京阪本通２丁目５番５号 三 洋電機株式会社内 (72)発明者 坂本 一三 大阪府守口市京阪本通２丁目５番５号 三 洋電機株式会社内 (72)発明者 浅野 賢二 大阪府守口市京阪本通２丁目５番５号 三 洋電機株式会社内 (72)発明者 岡島 正 大阪府守口市京阪本通２丁目５番５号 三 洋電機株式会社内 Ｆターム(参考） 5D090 AA01 CC04 FF01 KK03 5D118 AA14 BA01 BF02 CA02 CD02 CD03 5D119 AA09 BA01 DA05 EA02 EA03 FA05 HA54
Claims (6)
- 【請求項１】ディスク記録媒体の記録面にレンズを通し
てレーザ光を照射し、前記記録面で反射された前記レー
ザ光に基づいて所定信号を検出するディスク装置におい
て、 光軸方向において前記レンズを変位させる変位手段、 前記変位手段によって変位された各々のレンズ位置で前
記所定信号を検出する検出手段、 前記検出手段によって検出された各々の前記所定信号の
振幅が飽和値を下回るように前記振幅に関連するパラメ
ータを調整する調整手段、および前記調整手段によって
前記パラメータが調整された後に検出された前記所定信
号の振幅が最大となるように前記レンズ位置を制御する
制御手段を備えることを特徴とする、ディスク装置。 - 【請求項２】レーザ光を出射する半導体レーザをさらに
備え、 前記調整手段は前記半導体レーザのパワーを調整する、
請求項１記載のディスク装置。 - 【請求項３】前記検出手段によって検出された前記所定
信号にゲインを付与する付与手段をさらに備え、 前記調整手段は前記ゲインを調整する、請求項１記載の
ディスク装置。 - 【請求項４】前記所定信号はＲＦ信号である、請求項１
ないし３のいずれかに記載のディスク装置。 - 【請求項５】前記記録面はエンボス加工を施されてお
り、 前記所定信号はエンボス信号である、請求項１ないし３
のいずれかに記載のディスク装置。 - 【請求項６】前記記録面には前記エンボス加工によって
トラックが形成され、 前記エンボス信号はトラッキングエラー信号である、請
求項５記載のディスク装置。
Priority Applications (6)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001012183A JP2002216369A (ja) | 2001-01-19 | 2001-01-19 | ディスク装置 |
| PCT/JP2002/000060 WO2002058058A1 (fr) | 2001-01-19 | 2002-01-09 | Unite de disque |
| CNB028065891A CN1251199C (zh) | 2001-01-19 | 2002-01-09 | 光盘装置 |
| KR10-2003-7009363A KR20030071813A (ko) | 2001-01-19 | 2002-01-09 | 디스크 장치 |
| US10/250,680 US7187631B2 (en) | 2001-01-19 | 2002-01-09 | Disc apparatus for reproducing a signal on a disc using a laser beam |
| EP02732102A EP1355300A4 (en) | 2001-01-19 | 2002-01-09 | PLATE UNIT |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001012183A JP2002216369A (ja) | 2001-01-19 | 2001-01-19 | ディスク装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2002216369A true JP2002216369A (ja) | 2002-08-02 |
Family
ID=18879228
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2001012183A Pending JP2002216369A (ja) | 2001-01-19 | 2001-01-19 | ディスク装置 |
Country Status (6)
| Country | Link |
|---|---|
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| EP (1) | EP1355300A4 (ja) |
| JP (1) | JP2002216369A (ja) |
| KR (1) | KR20030071813A (ja) |
| CN (1) | CN1251199C (ja) |
| WO (1) | WO2002058058A1 (ja) |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100688535B1 (ko) | 2004-05-07 | 2007-03-02 | 삼성전자주식회사 | 강제 유발된 트랙 이동 신호를 이용하는 디스크 드라이브의 조정 파라메터 값 결정 방법, 및 강제 유발된 트랙 이동 신호를 이용하여 디스크 드라이브를 조정하는 디스크 드라이브, 광디스크 트래킹 시스템 및 광디스크 재생 시스템. |
| US7460448B2 (en) | 2002-08-23 | 2008-12-02 | Panasonic Corporation | Optical pick-up head, optical information apparatus, and optical information reproducing method |
| US7570551B2 (en) | 2004-01-28 | 2009-08-04 | Panasonic Corporation | Servo position adjustment method and servo position adjustment device |
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| US20080225915A1 (en) * | 2005-01-10 | 2008-09-18 | Koninklijke Philips Electronics, N.V. | Method and Apparatus for Prevention of Laser Saturation |
| US10064819B2 (en) | 2008-05-12 | 2018-09-04 | University Of Utah Research Foundation | Intraocular drug delivery device and associated methods |
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|---|---|---|---|---|
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| JP2642672B2 (ja) | 1988-06-29 | 1997-08-20 | 富士通株式会社 | 光ディスク装置 |
| JPH02162539A (ja) * | 1988-12-16 | 1990-06-22 | Sony Corp | 光ディスクの記録再生装置 |
| JPH02246026A (ja) * | 1989-03-18 | 1990-10-01 | Pioneer Electron Corp | フォーカスサーボループのループゲイン設定方法 |
| JPH0369025A (ja) * | 1989-08-07 | 1991-03-25 | Oki Electric Ind Co Ltd | 光ディスク装置の焦点調整方法 |
| JP2650466B2 (ja) | 1990-05-17 | 1997-09-03 | 松下電器産業株式会社 | 光ヘッド制御装置 |
| JPH0581685A (ja) * | 1991-09-24 | 1993-04-02 | Sony Corp | 光学式デイスク装置 |
| JP3223988B2 (ja) | 1993-02-17 | 2001-10-29 | キヤノン株式会社 | 光学的情報記録再生装置 |
| US5606536A (en) * | 1994-05-20 | 1997-02-25 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Optical recording/reproducing apparatus with variable control |
| JP3413680B2 (ja) | 1994-06-02 | 2003-06-03 | ソニー株式会社 | 追記型光ディスク装置及び追記型光ディスクの領域境界検索方法 |
| JPH0973649A (ja) * | 1995-09-04 | 1997-03-18 | Nikon Corp | 光ディスク装置 |
| DE69614095T2 (de) * | 1995-12-28 | 2002-03-14 | Sony Corp | Optische platte |
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-
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- 2001-01-19 JP JP2001012183A patent/JP2002216369A/ja active Pending
-
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- 2002-01-09 WO PCT/JP2002/000060 patent/WO2002058058A1/ja active Application Filing
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Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20051129 |
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