JP2003099927A - 光ディスク記録装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 ＣＡＶ記録等記録中に線速度が変化するモー
ドでの記録において、高信頼性のデータ記録を実現す
る。 【解決手段】 光ディスクに形成された溝部の蛇行周期
に相当する信号を２値化したウォブル２値化信号３０５
が、線速度情報検出手段１１２に入力される。線速度情
報検出手段１１２は、ウォブル２値化信号３０５の周期
を計測し現在の線速度情報２０７を出力する。線速度変
化率算出手段３１０は線速度情報２０７から線速度の変
化率を算出する。システム制御手段１１０は線速度情報
２０７及び線速度変化率情報から、線速度検出及び記録
パルス発生や半導体レーザ制御に要する時間後の線速度
を予測し、予測結果に応じたパワー設定２０５及びパル
ス形状設定３０７を行い、さらに設定値を目標値に対し
て段階的に制御していくことにより記録補償値の急激な
変動を抑え再生系への影響を最小限にし、高い信号品質
で記録を実現する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は光ディスクへ情報を
記録する光ディスク記録装置に関するものであり、特
に、ＣＡＶ方式に基づく回転制御により、光ディスクを
回転させる光ディスク記録装置に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】近年、光ディスクは大容量の情報記録媒
体として注目され、コンピュータの外部記憶装置や映像
音声記録用として開発及び商品化が進められている。一
般に光ディスクでは、ディスク面に螺旋状もしくは同心
円上のトラックを設け、レーザビームを前記トラック位
置に沿って照射することにより、情報の記録・再生を行
う。また前記トラックは更に情報データの記録・再生の
最小単位となるセクタに分割されている。光ディスクの
セクタ配置法として、従来からＣＬＶ(Constant Linear
Velocity）方式、ＣＡＶ（Constant Angular Velocit
y）方式、ＣＡＶを改良したＺＣＡＶ（Zoned ＣＡＶ）
方式、ＣＬＶ方式を改良したＺＣＬＶ（Zoned ＣＬＶ）
方式が知られている。

【０００３】上記方式の内、ＺＣＬＶ方式は、記録・再
生の周波数は一定とし、光ディスクを半径方向にゾーン
と呼ばれる所定本数からなるトラック単位に分割し、ゾ
ーン毎にディスクの回転数を内周から外周に向けて低く
なるように変化させる。これによりＣＬＶ方式に近い記
憶容量を確保しつつ、ＣＬＶ方式よりもディスクモータ
の回転制御が簡易化されるという利点がある。その反
面、ゾーン毎にディスクの回転数を切り換えるため、ゾ
ーン間に跨るような検索動作を行う場合、正規の線速度
になるまで、すなわちディスクモータが正規の回転数に
整定するまでに時間がかかる。また一般にＺＣＬＶ方式
もしくはＣＬＶ方式を採用した光ディスクの記録膜は線
速度依存性を持っているため、線速度が基準の範囲内に
ないと記録が品質よく行えないという課題を有してい
る。

【０００４】ＣＡＶ方式は、ディスクモータの回転数が
一定であるため、ディスクモータの制御が簡易化され、
また消費電力の点でも有利であるという利点がある一
方、ディスクの内周と外周で線速度が変わるために、線
速度に応じて記録パワーや記録パルスの位置の制御が必
要になるという課題を有している。

【０００５】以上述べたＣＡＶ方式の課題を解決し、デ
ィスクの全領域において歪の小さい良好な記録マークを
形成し、再生波形のジッタを小さく抑えながら記録する
ことでエラーレートを低減して、光ディスクの記録容量
を拡大する方式として例えば、「特開平６−１２６７４
号」が提案されている。その構成の一例を図１３に示
す。以下、図に従って従来の光ディスク記録装置の動作
を説明する。図１３において、光ディスク６はスピンド
ルモータ７に取り付けられ、一定の回転数で回転してい
る。光学ヘッド８は半導体レーザを光源とし、コリメー
タレンズ、対物レンズ等により光ディスク上にレーザス
ポットを形成する。半導体レーザはレーザ駆動回路９に
より駆動されるが、信号を記録する場合、入力信号は波
形補正回路Ａ１０もしくは波形補正回路Ｂ１１のいずれ
かの回路により、波形補正された後レーザ駆動回路へ入
力される。ここでは入力信号はＥＦＭ信号であり、波形
補正回路ＡはＥＦＭ信号を短パルス列に変換する回路で
あり、短パルス列化された波形でレーザ駆動回路を変調
すると図１４（ｃ）の記録波形が得られる。また波形補
正回路Ｂはパルス幅を短く変換する回路であり、短くさ
れた波形でレーザ駆動回路を変調すると図１４（ｄ）の
記録波形が得られる。波形補正回路Ｂは遅延素子とＡＮ
Ｄ回路により構成できる。すなわち入力信号を、遅延素
子を通した後,もとの入力信号との論理積を求めること
で図１４（ｄ）の記録波形が得られる。本装置は信号を
記録する場合に、最初にレーザスポットを光ディスク上
に照射して、信号トラックにあらかじめ設けられたアド
レス信号をアドレス再生回路１２で判読し、システムコ
ントローラ１３によりレーザスポット照射部分の線速度
を計算する。その線速度があらかじめ設定された値より
小さければ、波形補正手段としてスイッチ１４により波
形補正回路Ａが選択され、逆に線速度があらかじめ設定
された値より大きければ、波形補正手段としてスイッチ
１４により波形補正回路Ｂが選択される。波形補正回路
は、例えば入力信号が図１４（ａ）のような場合、線速
度があらかじめ設定された値Ｌ０より遅い場合には、レ
ーザの変調波形は（ｃ）のように短パルス列化し（以
下、この短パルス列された波形を記録波形Ａと記す）、
Ｌ０より速い場合には、レーザの変調波形は（ｄ）のよ
うに入力パルス幅を少し短くしたパルス（以下この波形
を記録波形Ｂと記す）に変換して光ディスク上に照射す
る。上記記録波形Ａ、Ｂに対する再生波形歪の関係を以
下に説明する。本従来例で採用した具体的な記録波形の
形状を図１４に示す。（ａ）はＥＦＭ信号の入力波形の
一例であり、Ｔはクロック周期である。（ｂ）は（ａ）
の入力波形で直接レーザを変調した記録波形Ｃである。
（ｃ）は記録波形Ａである。この場合、短パルスの幅お
よび間隔はどちらも０．５Ｔとした。すなわちこの記録
波形Ａのクロック周期は０．５Ｔであり、従ってＥＦＭ
信号の２倍の周波数のクロックが必要である。（ｄ）は
記録波形Ｂである。この場合、すべての記録パルスの幅
をＥＦＭ信号よりＴだけ短くしている。なお、ＥＦＭ信
号のクロック周波数は、線速度が変わっても記録マーク
長が同じになるように変化させた。具体的には、１．５
ｍ／ｓのとき４．３ＭＨｚ、３ｍ／ｓのとき８．６ＭＨ
ｚ、６ｍ／ｓのとき１７．２ＭＨｚ、９ｍ／ｓのとき２
５．８ＭＨｚである。記録された信号を再生し、その再
生波形の歪の大きさを求めた。再生波形歪の低調的な評
価は、再生波形をあらかじめ２値化した後、タイムイン
ターバルアナライザに入力してジッタ量を位相マージン
として求めた。位相マージンが大きい程、記録マークの
前後のエッジ位置のずれ長が小さく、記録マークの歪が
小さい。図１５に各条件における最大の位相マージンと
線速度の関係を、また図１６にその時の記録パワー（光
ディスクの盤面上）と線速度の関係を示す。なお、消去
パワーは全ての記録波形の違いにかかわらず、それぞれ
の線速度において一定にした。図１５から明らかなよう
に、記録波形Ｂ，Ｃの場合には線速度が速いほど位相マ
ージンは大きくなっている。これはひとつの記録マーク
をひとつのパルスで記録する方法では、線速度が小さい
程、記録マークの歪が大きくなり、従って再生波形の歪
の大きいことを示している。ここで記録波形Ｃよりも記
録波形Ｂの方が位相マージンが大きくなっている。これ
は、オーバライトの場合、記録膜は消去レベル以上のパ
ワーで照射されて常に予熱されているために、記録マー
クは記録パルス幅よりもトラック方向に長くなってしま
うためと考えられる。すなわち、所望の長さの記録マー
クを得るためには、その長さよりも短い記録パルスで照
射するのがよいことを示している。記録波形Ａの場合に
は、線速度にあまり依存せずほぼ一定であり、特に低線
速度でも大きな位相マージンが得られており、記録波形
Ｂ、Ｃより優れているのが分かる。しかし、線速度が速
くなるにつれて記録波形ＡとＢの場合の位相マージンは
近づき、６ｍ／ｓではほとんど等しくなっている。な
お、９ｍ／ｓの場合には入力波形を記録波形Ａに変換す
るための回路クロックが高くなりすぎたために、記録波
形Ａでの記録再生は行っていない。

【０００６】また、記録パワーは図１６に示すように記
録波形Ｃ、Ｂ、Ａの順に大きくなる。記録波形Ａでは記
録膜に与えるエネルギーを短パルス列で与えているた
め、大きな記録パワーが必要になり、そのため、特に高
線速度においては、光源として出力の大きな半導体レー
ザが必要になる。以上のように本実施例の構成では、線
速度が約６ｍ／ｓより遅いところでは記録波形Ａが優
れ、約６ｍ／ｓより速いところでは記録波形Ｂが優れて
おり、したがって、光ディスクの線速度を検出して、そ
れに基づいて記録波形の補正手段を変えることにより、
光ディスクの全領域において位相マージンの広い記録手
段を容易に提供することができる。その結果、光ディス
クの全領域において歪の小さい良好な記録マークの形成
が簡単な装置ででき、再生波形のジッタを小さく抑えな
がら記録することができる。これは光ディスクの記録容
量の拡大を図ることができる。

【０００７】また、高密度記録における光ディスクの熱
干渉を補償し高い精度の記録を行う方式として「特開平
５−１３５３６３号」が提案されている。本方式の構成
の一例を図１７に示す。図１７において光ディスク１は
スピンドルモータ２により一定角速度（ＣＡＶ）で回転
しており、光ピックアップ３により記録再生用のレーザ
光が絞り込みレンズでディスク１上の記録膜面に集光さ
れる。光ピックアップ３は情報の記録位置に対応してデ
ィスク半径方向に移動できるようになっている。光ピッ
クアップ３中の検出器により検出された信号は、増幅器
４により所望のレベルに増幅された後、等価回路５によ
り、波形の等価が行われ、再生信号の分解能が確保され
る。この後、この信号は２値化回路６によりディジタル
信号である再生２値化信号７に変換され、ＰＬＬ回路８
によりデータ信号とクロック信号に分離され、復調回路
９により再生データとなる。以上が本方式におけるデー
タ再生信号処理系である。次に本方式の記録信号処理系
について説明する。情報を記録する際に、記録情報は変
調回路１３で光情報記録系の特性に合うよう、符号変調
が行われる。この符号変調された記録信号に対し、エッ
ジ位置調整回路１４、およびエッジ位置調整テーブル１
５、１６において、各エッジ位置がその直前までのエッ
ジ間隔情報に従って調整される。そして、この調整後の
記録信号がレーザドライバ回路１７に入力され、信号に
応じて光ピックアップ３内のレーザ強度を変調させ、デ
ィスク１上に情報が記録される。なおエッジ位置調整テ
ーブル１５、１６は記録条件判定モードの結果、エッジ
調整量を変更する必要があると判定された場合、および
記録線速度が変化した場合にエッジ位置調整テーブル切
替回路１８によりその内容が変更される。記録条件判定
回路１１は通常の情報記録再生時以外の、所定の時間間
隔おきにコントローラから指令される記録条件判定モー
ド時に動作する。

【０００８】図１８に本方式のエッジ位置調整回路１４
の構成を示す。この回路では、エッジ位置の情報をＲＡ
Ｍ等の記憶素子で構成されるエッジ位置調整テーブル１
５、１６の内容を参照する形で求めている。カウンタ回
路１００１、１００２は変調回路１３から送信されてき
た信号のパルス／ギャップ間隔が変調回路の基本クロッ
ク間隔何個分に相当するかを検出して、エッジ位置調整
テーブル１５、１６のアドレス線となっている。またラ
ッチ回路１００３、１００４、１００５、１００６はエ
ッジ位置調整テーブル１５、及び１６に入力される各ア
ドレス信号線のタイミングを調整するために、シフトレ
ジスタ回路１００７、１００８は変調信号とエッジ位置
調整量とのタイミングを調整するために用いられてい
る。セレクタ回路１００９は立ち上がり側と立ち下がり
側のエッジ位置調整量を交互にきりかえる回路であり、
プログラマブルディレイライン回路１０１０はエッジ位
置調整分だけ、エッジ位置をディレイさせ、エッジ位置
の調整を行う回路である。従って、この出力信号が調整
後信号３０２としてレーザドライバ回路１７に入力され
る。図１９はエッジ位置調整テーブル切替回路１８の一
構成例である。この回路は記録線速度、記録媒体の温度
変化に従って、エッジ位置調整テーブルの内容を切替え
る動作を行い、使用範囲内の各記録線速度、および記録
媒体の温度毎のエッジ位置調整量のデータが格納されて
いる変換テーブル用データバッファ１１０２と、その切
替え動作を制御する回路から構成される。記録条件判定
モードでの検出結果、エッジ位置調整テーブルの内容を
変更する必要があると判定された場合、および光スポッ
トが移動して線速度が変化した場合に、コントローラ１
２からテーブル変更指令信号がカウンタ１１０１に入力
され、エッジ位置調整テーブル１５、１６の内容が更新
される。この内容変更動作では、まず、変換テーブル用
データバッファ１１０２に光スポットの記録媒体上での
移動速度、および記録条件判定モードで検出された記録
媒体の温度が入力されて、変換テーブル用データバッフ
ァ１１０２内にあるどのエッジ位置調整テーブルが選択
されるかを決定する。そして、カウンタ回路１１０１か
ら入力されるアドレス番号ごとに変換テーブル用データ
バッファ１１０２から各エッジ調整量が送信され、エッ
ジ位置調整テーブル１５、１６のうちどちらかを選択す
るためのテーブル切替え信号として使用され、残りの信
号は変換テーブル用データバッファ１１０２およびエッ
ジ位置調整テーブル１５、１６のアドレス信号として使
用されている。

【０００９】本方式によれば、同一記録パルスにおいて
その前の記録パターンが違うために発生する、熱干渉に
よる再生波形でのエッジ位置の変動分をなくすことがで
きる。また、記録時の光ビーム強度や、記録媒体の温度
が変化した場合にも対応するため、常に最適な記録条件
を実現しており、マーク長記録を用いた、より高密度な
記録が製作時の厳密な調整なしに容易に実現でき、しか
も記録データに対する信頼性を大幅に向上させることが
できる。

【００１０】

【発明が解決しようとする課題】高密度記録を考えた場
合、光ディスクの熱干渉が影響を及ぼす範囲は最短の記
録マーク長よりも大きくなる。すなわち、ある記録マー
クのエッジ位置決定に対して、熱が拡散するために記録
照射光パルスの複数個の記録パルス間隔の長さが影響を
与え、その結果、同じ長さの記録パルスを照射しても、
時間的に前に位置する記録パターンの組み合わせによ
り、エッジ位置が変わってしまう。特に、レーザ光の強
度に対する記録感度が高く、低いレーザパワーでも記録
できるような記録媒体の場合、一般に熱伝導度が大き
く、この熱干渉による影響を及ぼす範囲が大きい。この
熱干渉による影響を補償するためには一般的に、ビット
クロックの周期をＴとすると０．０５Ｔ以下の精度でエ
ッジ位置を制御する必要がある。

【００１１】従来の光ディスク記録装置「特開平６−１
２６７４号」においてはＥＦＭ信号のクロックをもとに
記録パルスを生成しているため、上記したようにディス
クの熱干渉を補償し、高い信号品質で記録を行おうとす
る場合、非常に高い周波数のクロックが必要になり、回
路規模や消費電力の面で不利である。

【００１２】また、従来の光ディスク記録装置「特開平
６−１２６７４号」及び「特開平５−１３５３６３号」
において線速度の検出結果に応じて半導体レーザの制御
をコントローラで行っている。通常は線速度の検出に応
じてある程度の期間平均化を行いジッタ等の影響による
線速度検出誤差を低減する処理が必要である。以上述べ
たような線速度検出における平均化や、半導体レーザの
制御に要する時間のために、線速度を検出してから実際
に半導体レーザを制御するまでに遅延時間が発生する。
この遅延時間のために半導体レーザを制御する時点では
前に検出した線速度と実際の線速度に誤差が発生する。
この誤差により最適な半導体レーザの制御が行えないと
いう問題があった。さらに、「特開平６−１２６７４
号」及び「特開平５−１３５３６３号」においては、記
録パルスの位置をコントローラで設定しているため、記
録パルスの設定が時間的に連続して行うことができず、
離散的に設定を行うことになる。この結果、例えばＣＡ
Ｖ記録で連続記録を実行中にこのような動作を行ってし
まうと記録パルスの位置が急激に変動する可能性があ
り、再生系のデータＰＬＬに対して、ジッタの増加や、
最悪ＰＬＬはずれ等の悪影響を及ぼす可能性がある。

【００１３】本発明は、上記のような従来のものの問題
点を解決するためになされたものであり、ＣＡＶ記録等
記録中に線速度が変化するモードでの記録において、高
信頼性のデータ記録を実現することのできる光ディスク
記録装置を提供することを目的としている。

【００１４】

【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、本発明の請求項１に記載の光ディスク記録装置は、
円盤に螺旋状もしくは同心円上の所定の周期で蛇行した
溝部がトラックとして形成された光ディスクに対し、記
録すべきデータに従い変調された少なくとも２種類のパ
ワーのレーザ光を照射することにより記録を行う光ディ
スク記録装置において、上記光ディスクから信号を読み
取る信号読み取り手段と、上記信号読み取り手段により
読み取った再生信号を２値化し、上記溝部の蛇行周期に
沿ったウォブル２値化信号を得るウォブル２値化手段
と、上記ウォブル２値化信号の周期を計測することで現
在の線速度を検出する線速度情報検出手段と、上記線速
度情報検出手段から出力される線速度情報を基に記録パ
ルスのエッジ位置と、上記レーザー光のパワーとを設定
するシステム制御手段と、上記システム制御手段により
設定された記録パルス位置を基に、記録パルスを発生す
る記録パルス発生手段と、上記記録パルス発生手段の出
力する記録パルスと、上記システム制御手段で設定した
レーザー光のパワーとを基にレーザを駆動するレーザ駆
動手段とを具備し、上記システム制御手段により、上記
レーザー光のパワーと、上記記録パルス位置とを設定目
標値に向かって段階的に制御して記録を行うものであ
る。これにより、ウォブル２値化信号から線速度を検出
し、検出した線速度を基に記録パルス位置の設定を行
い、設定値に対して段階的に制御して記録するので、記
録パルスの急激な変動を押さえ，再生系のデータＰＬＬ
に対して、ジッタの増加や、ＰＬＬはずれ等の悪影響を
最小限にすることができ、高信頼性のデータ記録を実現
することができる。

【００１５】また，本発明の請求項２に記載の光ディス
ク記録装置は、円盤に螺旋状もしくは同心円上の所定の
周期で蛇行した溝部がトラックとして形成された光ディ
スクに対し、記録すべきデータに従い変調された少なく
とも２種類のパワーのレーザ光を照射することにより記
録を行う光ディスク記録装置において、上記光ディスク
の回転周波数に応じた周期のＦＧ信号を出力するＦＧ信
号出力手段と、上記ＦＧ信号出力手段の出力から現在の
線速度を検出する線速度情報検出手段と、上記線速度情
報検出手段から出力される線速度情報を基に記録パルス
のエッジ位置と、上記レーザー光のパワーとを設定する
システム制御手段と、上記システム制御手段により設定
された記録パルス位置を基に、記録パルスを発生する記
録パルス発生手段と、上記記録パルス発生手段の出力す
る記録パルスと、上記システム制御手段で設定したレー
ザー光のパワーを基にレーザを駆動するレーザ駆動手段
とを具備し、上記システム制御手段により、上記レーザ
ー光のパワーと、記録パルス位置とを設定目標値に向か
って段階的に制御して記録を行うものである。これによ
り、光ディスクの回転周波数に応じた周期のＦＧ信号か
ら線速度を検出し、検出した線速度を基に記録パルス位
置の設定を行い、設定値に対して段階的に制御して記録
するので、記録パルスの急激な変動を押さえ，再生系の
データＰＬＬに対して、ジッタの増加や、ＰＬＬはずれ
等の悪影響を最小限にすることができ、高信頼性のデー
タ記録を実現することができる。

【００１６】また、本発明の請求項３に記載の光ディス
ク記録装置は、請求項１または２記載の光ディスク記録
装置において、上記システム制御手段は、データシンク
パターンの記録中には記録パルスの位置を変更せず、該
データシンクパターンを保護する。これにより、データ
シンクパターンの記録において、パルス位置変更による
信号品質の影響を防ぎ、データシンクパターンの部分が
正しく記録され、後続のデータが正しく再生できる。

【００１７】また、本発明の請求項４に記載の光ディス
ク記録装置は、請求項１または２に記載の光ディスク記
録装置において、上記線速度情報検出手段により検出し
た現在の線速度情報から、記録パルス位置設定に要する
時間後の線速度を予測するものである。これにより、線
速度を検出してから実際に半導体レーザを制御するまで
の遅延時間を考慮して予測するので、検出した線速度と
実際の線速度の誤差を抑え、最適な半導体レーザの制御
を行うことができるとともに、高信頼性のデータ記録を
実現することができる。

【００１８】また、本発明の請求項５に記載の光ディス
ク記録装置は、請求項１または２に記載の光ディスク記
録装置において、上記レーザー駆動手段は、複数の電流
源と、該複数の電流源の出力電流値を各々独立に制御す
る電流値制御手段と、上記各電流源に各々直列に接続さ
れ、該各電流源出力の半導体レーザへの供給をオン／オ
フする、少なくとも上記電流源の数と同数のスイッチと
を備え、上記記録パルス発生手段により、記録すべきデ
ータに従い変調され生成された、上記スイッチの数と同
数のパルス信号を、上記スイッチのオン／オフを独立に
切り換え、該各パルス信号を独立に制御するものであ
る。これにより、半導体レーザの発光波形におけるレー
ザ光のパワー値を制御することができる。

【００１９】また、本発明の請求項６に記載の光ディス
ク記録装置は、請求項１または２に記載の光ディスク記
録装置において、上記線速度情報検出手段は、上記ウォ
ブル２値化信号あるいは上記ＦＧ信号の平均をとり、そ
の平均値から上記線速度情報を得ることを可能とするも
のである。これにより、ディスクの欠陥等により、線速
度検出に必要とする信号が正しく得られない場合でも、
平均化処理によりその影響を低減することができる。

【００２０】また、本発明の請求項７に記載の光ディス
ク記録装置は、円盤に螺旋状もしくは同心円上の所定の
周期で蛇行した溝部がトラックとして形成された光ディ
スクに対し、記録すべきデータに従い変調された少なく
とも２種類のパワーのレーザ光を照射することにより記
録を行う光ディスク記録装置において、上記光ディスク
から信号を読み取る信号読み取り手段と、上記信号読み
取り手段により読み取られた再生信号を２値化し、前記
溝部の蛇行周期に沿ったウォブル２値化信号を得るウォ
ブル２値化手段と、上記ウォブル２値化信号の周期を計
測することで現在の線速度を検出する線速度情報検出手
段と、前記線速度情報検出手段から出力される線速度情
報を基に記録パルスのエッジ位置と、上記レーザー光の
パワーとを設定するシステム制御手段と、上記システム
制御手段により設定された記録パルス位置を基に、記録
パルスを発生する記録パルス発生手段と、前記記録パル
ス発生手段の出力する記録パルスと、上記システム制御
手段で設定したレーザ光のパワーとを基にレーザを駆動
するレーザ駆動手段と、記録データのスペース部分を検
出する記録スペース検出手段とを具備し、上記記録スペ
ース検出手段で検出したスペース部分において、上記記
録パルス位置の設定を行うものである。これにより、記
録データのスペース部分において、記録パルスの位置設
定を行うので、記録パルスの急激な変動を押さえ，再生
系のデータＰＬＬに対して、ジッタの増加や、ＰＬＬは
ずれ等の悪影響を最小限にすることができ、高信頼性の
データ記録を実現することができる。

【００２１】また、本発明の請求項８に記載の光ディス
ク記録装置は、光ディスクに記録すべきデータに従い変
調された少なくとも２種類のパワーのレーザ光を照射す
ることにより記録を行う光ディスク記録装置において、
上記光ディスクの回転周波数に応じた周期のＦＧ信号を
出力するＦＧ信号出力手段と、上記ＦＧ信号出力手段の
出力から現在の線速度を検出する線速度情報検出手段
と、上記線速度情報検出手段から出力される線速度情報
を基に記録パルスのエッジ位置と、上記レーザ光のパワ
ーとを設定するシステム制御手段と、上記システム制御
手段により設定された記録パルス位置を基に、記録パル
スを発生する記録パルス発生手段と、上記記録パルス発
生手段の出力する記録パルスと、上記システム制御手段
で設定したレーザ光のパワーとを基にレーザを駆動する
レーザ駆動手段と、記録データのスペース部分を検出す
る記録スペース検出手段とを具備し、上記記録スペース
検出手段で検出したスペース部分において、上記記録パ
ルス位置を設定するものである。これにより、記録デー
タのスペース部分において、記録パルス位置の設定を行
うので、記録パルスの急激な変動を押さえ，再生系のデ
ータＰＬＬに対して、ジッタの増加や、ＰＬＬはずれ等
の悪影響を最小限にすることができ、高信頼性のデータ
記録を実現することができる。

【００２２】また、本発明の請求項９に記載の光ディス
ク記録装置は、請求項７または８記載の光ディスク記録
装置において、上記線速度情報検出手段により検出した
現在の線速度情報から、記録パルス位置設定に要する時
間後の線速度を予測するものである。これにより、線速
度を検出してから実際に半導体レーザを制御するまでの
遅延時間を考慮して予測するので、検出した線速度と実
際の線速度の誤差を抑え、最適な半導体レーザの制御を
行うことができるとともに、高信頼性のデータ記録を実
現することができる。

【００２３】また、本発明の請求項１０に記載の光ディ
スク記録装置は、請求項７または８に記載の光ディスク
記録装置において、上記レーザー駆動手段は、複数の電
流源と、該複数の電流源の出力電流値を各々独立に制御
する電流値制御手段と、上記各電流源に各々直列に接続
され、該各電流源出力の半導体レーザへの供給をオン／
オフする、少なくとも上記電流源の数と同数のスイッチ
とを備え、上記記録パルス発生手段により、記録すべき
データに従い変調され生成された、上記スイッチの数と
同数のパルス信号を、上記スイッチのオン／オフを独立
に切り換え、該各パルス信号を独立に制御するものであ
る。これにより、半導体レーザの発光波形における、レ
ーザ光のパワー値を制御するこができる。

【００２４】また、本発明の請求項１１に記載の光ディ
スク記録装置は、請求項７または８に記載の光ディスク
記録装置において、上記線速度情報検出手段は、上記ウ
ォブル２値化信号あるいは上記ＦＧ信号の平均をとり、
その平均値から上記線速度情報を得ることを可能とする
ものである。これにより、ディスクの欠陥等により、線
速度検出に必要とする信号が正しく得られない場合で
も、平均化処理によりその影響を低減することができ
る。

【００２５】

【発明の実施の形態】実施の形態１．以下、本発明の実
施の形態について、図面を参照しながら説明する。図１
は本発明の実施の形態１に係る光ディスク記録装置の構
成を示すブロック図である。図１においてディスクモー
タ１０２は、光ディスク１０１を所定の回転数で回転さ
せる。ここで光ディスク１０１は、従来の技術で述べた
データの書き換えが可能な相変化型光ディスクであると
する。また、ディスクモータ１０２は、同じく従来の技
術で説明したＣＡＶ方式に基づく回転制御により、光デ
ィスク１０１を回転させるものとする。

【００２６】光ヘッド１０３は、図示していないが半導
体レーザ、光学系、光検出器などを内蔵し、半導体レー
ザにより発光されたレーザ光が光学系により集光され、
光ディスク１０１の記録面に光スポットを照射すること
によりデータの記録再生を行う。また記録面からの反射
光は光学系により集光され光検出器で電流に変換され、
さらに増幅器１０４で電圧変換及び増幅され、再生信号
として出力される。

【００２７】サーボ手段１０５は、ディスクモータ１０
２の回転制御、光ヘッド１０３を光ディスク１０１の半
径方向に移動させる移送制御、記録面に光スポットの焦
点を合わせるためのフォーカス制御、トラックの中心に
光スポットをトラッキングさせるためのトラッキング制
御を行う。なお、フォーカス制御及びトラッキング制御
には、増幅器１０４の出力である再生信号のうち、フォ
ーカス誤差信号（光ディスク１０１の記録面からの光ス
ポットのずれを示す電気信号）及びトラッキング誤差信
号（光ディスク１０１の所定のトラックからの光スポッ
トのずれを示す電気信号）を用いる。

【００２８】再生信号処理手段１０６は、再生信号より
光ディスク１０１のヘッダ領域に形成されたピットやデ
ータ記録領域に記録されたデータに相当する信号成分を
取り出し、取り出した信号を２値化し、２値化データと
基準クロックから、内蔵のＰＬＬ( Phase Locked Loo
p：位相同期ループ）によりリードクロックとリードク
ロックに同期したリードデータを生成する。またトラッ
キング誤差信号から、ウォブルの蛇行周期に相当する信
号成分を取り出し、取り出した信号を２値化し、それを
ウォブル２値化信号として出力する。

【００２９】レーザ駆動手段１０８は、アドレス及びデ
ータの再生時には再生用のパワーで、記録時には記録用
のパワーで、光ヘッド１０３に内蔵される半導体レーザ
が発光するようにレーザ駆動信号を出力する。

【００３０】フォーマットエンコーダ／デコーダ１０７
は、再生信号処理手段１０６より出力されたリードクロ
ックとリードデータにより、光ディスク１０１のヘッダ
領域に記録されたアドレス情報を再生し、再生されたア
ドレス位置を基準として光ディスク１０１のセクタに同
期したタイミングで記録再生に必要となる各タイミング
信号を発生供給する役割を有する。例えば、再生信号処
理手段１０６へアドレスまたはデータの２値化・ＰＬＬ
処理に必要なリードゲート等のタイミング信号を出力し
たり、レーザ駆動手段１０８へは記録時に、記録用のパ
ワーの発光を許可するライトゲート等の信号を出力する
ことにより、正しいタイミングでデータの記録再生を行
うことができる。

【００３１】また、フォーマットエンコーダ／デコーダ
１０７は、記録時にはホストインターフェース１０９を
通じて外部装置から供給されるユーザデータに誤り訂正
符号等の冗長データを付加し、所定のフォーマットに従
い変調したビット系列を、さらに内蔵の記録パルス発生
手段１１１で所定の記録パルス信号に加工し、レーザ駆
動手段１０８へ出力する。また再生時には、再生信号処
理手段１０６より出力されたリードクロックとリードデ
ータより、光ディスク１０１のヘッダ領域に記録された
アドレス情報を再生し、データ記録領域に記録されたデ
ータの復調・誤り訂正を行い、訂正後のデータをホスト
インターフェース１０９を通じて外部装置へ送信する。

【００３２】また、フォーマットエンコーダ／デコーダ
１０７には、線速度情報検出手段１１２と線速度変化率
情報算出手段が内蔵されている。線速度情報検出手段１
１２は、再生信号処理手段１０６の出力もしくはその他
の情報を用いて、現在の線速度、即ち光スポットと光ス
ポットがトラッキングされているトラックとの相対速度
を実時間で検出する。また、後述する、線速度変化率情
報算出手段は、線速度情報検出手段１１２が検出した線
速度から、その変化率を算出する。線速度検出手段及び
線速度変化率算出手段３１０の動作については後述す
る。

【００３３】システム制御手段１１０は、ホストインタ
ーフェース１０９を通じて外部装置から供給されるコマ
ンド（命令）を解釈して、光ディスク１０１の所定のセ
クタに対して、データの記録再生がなされるように、サ
ーボ手段１０５、再生信号処理手段１０６、フォーマッ
トエンコーダ／デコーダ１０７、レーザ駆動手段１０
８、及びホストインターフェース１０９の動作を制御す
る。

【００３４】図２はレーザ駆動手段１０８の内部構成の
一例を示すブロック図である。レーザ駆動手段１０８へ
の入力としては、レーザパワー値を決めるためにパワー
設定２０５、記録パルス発生手段１１１において記録す
べきデータに従い変調された３種類の記録パルス２０６
ａ、２０６ｂ、２０６ｃがある。記録パルス発生手段１
１１による記録パルス２０６ａ、２０６ｂ、２０６ｃの
発生方法については後述する。レーザ駆動手段１０８か
らの出力としては、光ヘッド１０３に内蔵された半導体
レーザ２０１を発光させるための出力電流２０９があ
る。レーザ駆動手段１０８には、電流値制御手段２０
４、３つの電流源２０３ａ、２０３ｂ、２０３ｃ、３つ
のスイッチ手段２０２ａ、２０２ｂ、２０２ｃが内蔵さ
れている。電流値制御手段２０４はシステム制御手段１
１０からのパワー設定２０５を受けて、３つの電流源２
０３a、２０３ｂ、２０３ｃの各出力電流値を制御す
る。スイッチ手段２０２ａは記録パルス発生手段１１１
より供給される記録パルス２０６ａに応じて、電流源２
０３ａの出力電流の半導体レーザ２０１への供給をオン
／オフする。同様に、スイッチ手段２０２ｂは記録パル
ス２０６ｂに応じて、電流源２０３ｂの出力電流の半導
体レーザ２０１への供給をオン／オフする。各スイッチ
手段２０２ａ、２０２ｂ、２０２ｃは光ヘッド１０３に
内蔵の半導体レーザ２０１へ流れる出力電流２０９は、
各スイッチ手段２０２ａ、２０２ｂ、２０２ｃを通して
供給される各電流源２０３ａ、２０３ｂ、２０３ｃの出
力電流の合計となる。このようにして、半導体レーザ２
０１に流される電流値に応じて、レーザ光のパワー、ひ
いては光ディスクに集光される光スポットのパワーが制
御される。

【００３５】図３（ａ）、（ｂ）は、記録パルス発生手
段１１１による記録パルス２０６ａ、２０６ｂ、２０６
ｃの発生タイミング例、並びに半導体レーザ２０１の発
光波形例、それに伴い光ディスク上に形成される記録マ
ークについて、模式的に説明する図である。本例では、
記録すべきデータに伴い変調された１，０のビット系列
に対し、ビット１のときのみ信号の論理を反転させるＮ
ＲＺＩ( Non Return to Zero Inverted )の形式により
データの変調を行いＰＷＭ( Pulse Width Modulation )
方式により記録を行うものとする。

【００３６】図３（ａ）において、時間は左から右の方
向に流れるとし、変調データ２０８は記録パルス発生手
段１１１への入力であり、図では６Ｔマークに相当する
波形を示している。記録クロックは、その周期が１チャ
ネルビットの時間長となるクロックであり、フォーマッ
トエンコーダ／デコーダ１０７におけるデータ変調処
理、記録パルス発生手段１１１における記録パルス発生
処理に用いられる。各記録パルス２０６ａ、２０６ｂ、
２０６ｃは、変調データ２０８と記録クロックのタイミ
ングに応じて図に示すようなタイミングで生成される。
半導体レーザ２０１の発光波形は、各記録パルス２０６
ａ、２０６ｂ、２０６ｃのタイミングに応じて図に示す
ような形状となる。

【００３７】１つのマークを記録するための発光波形
は、複数のパルス部に分割されており、時間的に早い方
から、ファーストパルス部、マルチパルス部、ラストパ
ルス部、クーリングパルス部と呼ぶ。相変化型光ディス
クなど熱により記録膜に変化を与えるような記録方式に
おいては、本例のように時系列な複数のパルス部により
１つの記録マークを形成する方法は既に公知である。例
えば、マルチパルス部は高いパワーと低いパワーを断続
的に与えることにより長いマークを記録する場合にマー
クの形状が涙滴型になるのを防ぐ。また、クーリングパ
ルス部は、次のマークを記録する際の熱の影響を遮断す
る役割を果たしている。

【００３８】一方、発光波形の縦方向すなわち振幅はレ
ーザの発光パワーを示しており、そのパワー値は低い順
に、０レベル、バイアスパワー２、バイアスパワー１、
ピークパワーの４種類に分けられる。相変化記録の場
合、バイアスパワー１に相当するパワーを照射すること
により、記録膜の相を結晶化し、ピークパワーに相当す
るパワーを照射することにより、記録膜の相をアモルフ
ァス化する。基本的にアモルファス化した部分を記録マ
ークと呼んでいる。またバイアスパワー２や０レベルの
パワーは記録膜に与える熱を一時的に小さくする。

【００３９】次にこの４種類のパワーと、図２にて説明
したレーザ駆動手段１０８の動作との関係について説明
する。まず０レベルのパワーは図２の例でスイッチ手段
２０２ａ、２０２ｂ、２０２ｃをすべてオフに、即ち各
記録パルス２０６ａ、２０６ｂ、２０６ｃをすべてＬレ
ベルにすることで実現される。バイアスパワー２はスイ
ッチ手段２０２ａのみオン、２０２ｂ、２０２ｃは共に
オフに、即ちパルス２０６ａはＨレベル、２０６ｂ、２
０６ｃはＬレベルにすることで実現できる。この時、電
流源２０３ａの出力電流のみ半導体レーザ２０１へ供給
され、振幅Ｐａに相当するパワーで発光する。バイアス
パワー１はスイッチ手段２０２ａ、２０２ｂと共にオ
ン、２０２ｃをオフに、即ち記録パルス２０６ａ、２０
６ｂはＨレベル、２０６ｃはＬレベルにすることで実現
できる。この時、電流源２０３ａの出力電流と、電流源
２０３ｂの出力電流の合計が半導体レーザ２０１へ供給
され、振幅Ｐａ＋Ｐｂに相当するパワーで発光する。ピ
ークパワーはスイッチ手段２０６ａ、２０６ｂ、２０６
ｃをすべてオンに、即ち記録パルス２０６ａ、２０６
ｂ、２０６ｃをすべてＨレベルにすることにより実現で
きる。この時、電流源２０３ａ、２０３ｂ、２０３ｃの
出力電流の合計が半導体レーザ２０１へ供給され、振幅
Ｐａ＋Ｐｂ＋Ｐｃに相当するパワーで発光する。

【００４０】ここで、パワーＰａ、Ｐｂ、Ｐｃはそれぞ
れ電流値制御手段２０４に対して行われるパワー設定２
０５により制御される。例えば、電流値制御手段２０４
は、各パワー振幅Ｐａ、Ｐｂ、Ｐｃに関する設定値を別
々に保持し、パワー設定２０５により設定された値に相
当するパワー振幅となるように各電流源２０３ａ、２０
３ｂ、２０３ｃの電流を独立に制御する。この構成によ
り、各パワー振幅Ｐａ、Ｐｂ、Ｐｃはそれぞれ独立に制
御可能となる。

【００４１】また、ファーストパルス立ち上がり位置Ｓ
ＦＰ、ファーストパルス立下り位置ＥＦＰ、マルチパル
ス幅ＭＰＷ、ラストパルス立ち上がり位置ＳＬＰ、ラス
トパルス立下り位置ＥＬＰ、クーリングパルス立ち上が
り位置ＥＣＰは、各記録パルス２０６ａ、２０６ｂ、２
０６ｃのタイミングにより、それぞれ独立に制御でき
る。

【００４２】図３（ｂ）はファーストパルスの立ち上が
り部分における記録パルス２０６ａを拡大したタイミン
グ図であり、ファーストパルス立ち上がり位置ＳＦＰの
一例を説明するためのものである。図において、中心位
置は記録クロックの立下りに同期したタイミングであ
り、ＳＦＰ＝０にコード化されている。またＳＦＰの設
定は中心位置から前後に所定ステップ数、例えば５００
ピコ秒おきに１０ステップずつ用意されており、それぞ
れの設定値は−１０から＋１０にコード化されている。
従って、記録パルス発生手段１１１に対し、−１０から
＋１０の範囲でＳＦＰの設定値を与えることにより、図
３（ｂ）に示すような立ち上がり位置を、例えば−５ナ
ノ秒から＋５ナノ秒の範囲内で制御することが可能とな
る。

【００４３】図３（ｂ）の例では、ファーストパルス立
ち上がり位置に関して説明したが、変更可能なその他の
設定ＥＦＰ，ＭＰＷ，ＳＬＰ，ＥＬＰ，ＥＣＰに関して
も同様である。例えばファーストパルス立下り位置ＥＦ
Ｐは、ＥＦＰ＝０にコード化された中心位置が記録クロ
ックの立下りに同期して設定され、ＥＦＰ＝０を中心と
する範囲で設定を行うことにより、中心位置に対して前
後に立ち下がり位置を設定することができる。また、マ
ルチパルスの立ち上がり位置は、記録クロックの立ち上
がりに同期した位置に固定とし、マルチパルス幅ＭＰＷ
をマルチパルスの立ち上がり位置から立下り位置までの
幅として規定する。例えばＭＰＷ＝０の場合にマルチパ
ルスのデューティが５０％、即ち図３（ａ）の発光波形
で、ピークパワーの発光時間とバイアス２パワーの発光
時間が１：１になるように設定値を決めると、０を中心
とする所定の範囲でＭＰＷの設定を行うことにより、デ
ューティ５０％に対して前後に幅を設定することができ
る。

【００４４】このように記録パルスの位置及びデューテ
ィを変化させることを一般に記録補償と呼び、記録パル
ス位置及びデューティの変化量を記録補償量と呼ぶ。記
録補償により記録マーク間の熱干渉の影響を低減し、記
録密度を高めることが可能になる。

【００４５】以下、本発明の実施の形態１の動作につい
て説明する。図４は本発明の実施の形態１における記録
パルス発生手段１１１、線速度情報検出手段１１２、線
速度変化率算出手段３１０、及びその周辺の一構成例を
示すブロック図である。図４を用いてウォブル２値化信
号の周期から検出した線速度の変化率を算出し、算出し
た線速度の変化率に基づいてレーザパワー値、及び記録
パルス形状の設定を行うタイミングにおける線速度を予
測し、予測結果に応じてレーザパワー値及び記録パルス
形状の設定を行う場合の動作について説明する。

【００４６】記録動作時に、符号化手段３０１は光ディ
スクへ記録すべきユーザデータに誤り訂正符号等の冗長
データを付加し、所定のフォーマットに従い変調を行
い、変調データ２０８を記録パルス発生手段１１１に供
給する。記録パルス発生手段１１１は、符号化手段３０
１より供給される変調データ２０８と、パルス形状設定
保持手段３０４により保持されているパルス形状設定３
０８に従い３種類の記録パルス２０６ａ、２０６ｂ、２
０６ｃを発生し、レーザ駆動手段１０８へ供給する。な
お、記録パルス発生手段１１１による記録パルス２０６
ａ、２０６ｂ、２０６ｃのタイミングは図３ａにて説明
した通りであり、ここでの説明は省略する。

【００４７】レーザ駆動手段１０８は例えば図２で説明
したような内部構成を備えており、各記録パルス２０６
ａ、２０６ｂ、２０６ｃのタイミング、及びパワー設定
２０５に従い、記録時に光ヘッド１０３に内蔵された半
導体レーザ２０１を、例えば図３（ａ）にて説明したよ
うな波形で発光するように駆動させる。

【００４８】システム制御手段１１０は、線速度情報検
出手段１１２及び線速度変化率算出手段３１０より供給
される情報に応じて、パルス形状設定保持手段３０４に
対してパルス形状設定３０７を、レーザ駆動手段１０８
に対してパワー設定２０５を行う。パワー設定２０５
は、複数種類のレーザパワー値（例えば図２及び図３
（ａ）で説明した振幅Ｐａ、Ｐｂ、Ｐｃ）に関する設定
を行うものである。パルス形状設定は、例えば図３
（ａ）、（ｂ）で説明したファーストパルス立ち上がり
位置ＳＦＰ、ファーストパルス立下り位置ＥＦＰ，マル
チパルス幅ＭＰＷ，ラストパルス立ち上がり位置ＳＬ
Ｐ、ラストパルス立下り位置ＥＬＰ、クーリングパルス
立ち上がり位置ＥＣＰ等を設定するものである。なお、
システム制御手段１１０は、データシンクパターンの記
録中には、記録パルス位置を変更せず、該データシンク
パターンを保護する。

【００４９】次に線速度情報検出手段１１２による線速
度検出の動作について説明する。本実施例における線速
度情報検出手段１１２は、ウォブル周期計測手段３０２
と線速度情報出力手段３０３とを備えており、再生信号
処理手段１０６から供給されるウォブル２値化信号３０
５、及び計測用クロック信号３０６を入力として線速度
の検出を行い、線速度情報２０７をシステム制御手段１
１０へ出力する。

【００５０】図５（ａ）、（ｂ）は、光ディスクのトラ
ックに形成されたウォブルグルーブからウォブル２値化
信号を生成し、さらに線速度情報２０７を抽出するまで
の信号の流れを説明するためのタイミング図である。図
５（ａ）において、差動増幅信号３０９は、図４の増幅
器１０４の出力であり、ヘッダ領域９０４に形成された
ピット情報及びウォブルグルーブの蛇行周期に相当した
信号成分が増幅されている。ウォブル２値化信号３０５
は、図４の再生信号処理手段１０６の出力であり、再生
信号処理手段１０６において差動増幅信号３０９のう
ち、ウォブルに相当する信号成分のみを分離し、さらに
所定のレベルで２値化したデジタル信号である。

【００５１】ウォブル周期計測手段３０２ではウォブル
２値化信号３０５の１周期の時間を計測用クロック信号
３０６によりカウントし、カウントした値を測定結果と
して線速度情報出力手段３０３へ供給する。図５（ｂ）
は以上の動作の一例を示している。ウォブル２値化信号
３０５の立ち上がりから立下りまでの時間を計測用クロ
ック信号３０６によりカウントしており、ある２周期分
に対して計測結果であるカウント値は２１、２１となっ
ている。ここで基準線速度に対してウォブル１周期が計
測用クロックの２０クロック分になるように計測用クロ
ック信号３０６の周波数を定めておいたとすると、計測
結果は２０／２１＝０．９５２となり、基準線速度に対
して約５％遅いことがわかる。従って、線速度情報出力
手段３０３は線速度情報２０７として−５％という結果
を出力する。なおアドレス期間においては、線速度の検
出は行わない。なぜならば、アドレス期間においてはウ
ォブルグルーブ自体が存在しないため、ウォブル２値化
信号が正しい周期で得られないためである。

【００５２】なお、本発明の実施の形態において、線速
度情報検出手段１１２は計測結果であるカウント値を線
速度のずれに変換し、そのパーセンテージを線速度情報
２０７として出力する構成としたが、この構成に限定す
るものではない。例えば計測結果であるカウント値をそ
のまま線速度情報２０７として、システム制御手段１１
０においてソフトウェア的に線速度のずれを計算する構
成としてもよい。また本例において、線速度情報検出手
段１１２はカウント値が更新されるウォブル１周期毎に
線速度情報２０７を更新する構成としたが、この構成に
限定するものではない。例えばウォブル数周期のカウン
ト値の平均をとり、その平均値から線速度情報２０７を
得る構成としてもよい。このような構成とすることによ
り、ディスクの欠陥等によりウォブル２値化信号が正し
く得られない場合でも、平均化処理によりその影響を低
減することができる効果がある。

【００５３】次に、線速度変化率算出手段３１０の動作
について説明する。線速度変化率算出手段３１０は図６
に示すように、線速度情報出力手段３０３の出力する線
速度情報２０７の時間的な変化量を算出するものであ
る。ここで、時刻ｔ ＝０の時点での線速度をＶ０、Ｔ
ａ時間後の線速度をＶ１とすれば、線速度の変化率Ｖｄ
はＶｄ＝（Ｖ１−Ｖ０）／Ｔａにより算出できる。

【００５４】図７に線速度変化率算出手段３１０の詳細
な構成図を示す。図７において７０５は線速度情報出力
手段３０３の出力する線速度情報２０７をある一定時間
毎にサンプリングするためのタイミング信号を生成する
タイミング信号生成部、７００及び７０１はタイミング
信号生成部７０５の出力するタイミング信号により線速
度情報２０７を保持するシフトレジスタ、７０２はシフ
トレジスタ７００と７０１の出力結果から線速度変化率
を演算する演算部である。タイミング信号生成部７０５
は周期Ｔａでシフトレジスタ７００及び７０１に対する
シフトクロックを生成する。シフトレジスタ７００及び
７０１はシフトクロックに従って、線速度情報検出手段
の出力する線速度情報２０７をＴａ時間毎にシフトして
いく。従ってシフトレジスタ７００には現時点での線速
度Ｖｎ+１が、シフトレジスタ７０１にはＴａ時間前の
線速度Ｖｎが保持される。ここでＶｎはＴａ時間毎にサ
ンプリングした線速度情報であり、ｎ＝０、１、２…で
ある。これらのシフトレジスタ７００及び７０１の保持
情報を演算部により（Ｖｎ+１−Ｖｎ）／Ｔａの演算を
行うことにより線速度変化率Ｖｄを算出することができ
る。

【００５５】なお、本発明の実施の形態において、線速
度変化率算出手段３１０をハードウェアによる構成で説
明したが、例えばシステム制御手段１１０によりソフト
ウェア的に演算する構成としてもよい。

【００５６】さて、一般に、ディスクモータの回転数を
一定に制御して記録を行うＣＡＶ記録においては、光デ
ィスクの位置に依って、光ディスクと光ヘッドの相対速
度、すなわち線速度が異なり、ディスクの外周に行くほ
ど線速度は大きくなる。従って、同一パワーで記録を行
うと、外周に行くほど単位面積当りに加わるパワーすな
わちパワー密度が低くなっていくため、記録膜の温度上
昇が足らず正しいマークを形成できなかったり、オーバ
ライトする際に元のマークが消しきれなくなり、再生ジ
ッターが増えデータの品質が劣化する可能性がある。

【００５７】さらに図３に示すように、記録膜に形成さ
れる記録マーク同士の熱干渉を防ぐためには、ファース
トパルス、マルチパルス、ラストパルス、及びクーリン
グパルスの位置を高精度に制御する必要があるが、線速
度が変化した場合、それらのパルス位置も線速度に追従
して変化させる必要がある。具体的には、例えばファー
ストパルスの位置がＮＲＺＩ信号の立ちあがりエッジか
ら０．５Ｔの位置にある場合には、線速度が変化してＴ
の値が変化した場合にも、パルスの位置は０．５Ｔの位
置を保持する必要がある。このような制御を行わない
と、ディスクの位置、すなわち線速度に依って記録補償
量が異なってしまい、熱干渉を精度よく補償できなくな
り、信号品質を劣化させてしまう可能性がある。

【００５８】上記のような問題を防ぐため、上述したよ
うに抽出された線速度情報２０７を用いて、システム制
御手段１１０はパルス形状設定３０７及びパワー設定２
０５を行う。

【００５９】図３（ａ）、（ｂ）に述べたように記録補
償量を記録クロックに対する絶対時間で規定しているよ
うな場合、線速度が変化しても同じ記録補償量を用いて
記録を行うと、記録クロックの周期に対して補償量の割
合が変化してしまうため、パルス形状がいびつになって
しまう。これを防ぐため、パルス形状設定手段３０７は
線速度が速いほどパルス幅を短くし、線速度が変化して
も相対的なパルス位置が変化しないように行われる。図
３（ａ）、（ｂ）にて説明したように、ファーストパル
ス立ち上がり位置ＳＦＰ、ファーストパルス立下り位置
ＥＦＰ、マルチパルス幅ＭＰＷ、ラストパルス立ち上が
り位置ＳＬＰ、ラストパルス立下り位置ＥＬＰ，クーリ
ングパルス立ち上がり位置ＥＣＰを設定する場合の一例
を述べる。前述の線速度情報検出手段１１２及び線速度
変化率算出手段３１０の出力から、平均化処理を含む線
速度検出処理及びシステム制御手段１１０におけるパル
ス形状設定に要する時間を考慮し、パルス形状設定時点
における線速度の予測を行う。即ち、線速度変化率算出
手段３１０により算出された線速度変化率Ｖｄを用いる
と、平均化を含む線速度検出における処理とパルス形状
設定に要する時間をＴとした場合、時点Ｔにおける線速
度ＶｐはＶｐ＝Ｖｄ×Ｔから算出することができる。な
お、本例において線速度の予測を線形近似により求める
構成としたが、数点の線速度情報をサンプリングし、そ
の結果から高次関数による近似計算により線速度の予測
を行う構成としてもよい。以上のように線速度の予測値
をＶｐ、基準線速度Vｒにおける予め定めた形状設定値
をＳＦＰ０、ＥＦＰ０、ＭＰＷ０、ＳＬＰ０、ＥＬＰ
０、ＥＣＰ０とした場合、ファーストパルス立ち上がり
位置ＳＦＰは、 ＳＦＰ＝ＳＦＰ０×（Ｖｐ／Ｖｒ） ファーストパルス立下り位置ＥＦＰは、 ＥＦＰ＝ＥＦＰ０×（Ｖｐ／Ｖｒ） マルチパルス幅ＭＰＷは、 ＭＰＷ＝ＭＰＷ０×（Ｖｐ／Ｖｒ） ラストパルス立ち上がり位置ＳＬＰは、 ＳＬＰ＝ＳＬＰ０×（Ｖｐ／Ｖｒ） ラストパルス立下り位置ＥＬＰは、 ＥＬＰ＝ＥＬＰ０×（Ｖｐ／Ｖｒ） クーリングパルス立ち上がり位置ＥＣＰは、 ＥＣＰ＝ＥＣＰ０×（Ｖｐ／Ｖｒ） となるように、パルス形状設定３０７を行う。このよう
な制御を行うことにより線速度に応じて、記録補償量を
一定に保つことができ、ＣＡＶ記録においてディスク前
面で高品質な記録を行うことができる。

【００６０】パルス形状設定の動作は、図６に示すよう
にパルス形状設定の設定値演算時間と設定値を実際に設
定する時間とを鑑みた時間後の線速度の予測値Ｖｐに対
する設定を演算し、その設定値を一度に設定するのでは
なく、図に示すように段階的に設定値に近づけていく。
これは、記録中に記録補償値を大きく変更すると、再生
信号の位相誤差が急激に大きくなりデータＰＬＬに悪影
響を与え、ジッタ劣化や最悪ＰＬＬはずれ等が発生する
可能性があるためであり、本発明の実施の形態１のよう
に記録補償値を段階的に制御することにより、上記のよ
うな悪影響を防ぐことができる。

【００６１】また、パワー設定２０５は、線速度が速い
ほど半導体レーザ２０１のレーザパワーが高くなるよう
に行われる。図３（ａ）にて説明したように、３種類の
パワーＰａ、Ｐｂ、Ｐｃを設定する場合の一例を述べ
る。まず、前述の線速度情報検出手段１１２及び線速度
変化率算出手段３１０の出力から、平均化処理を含む線
速度検出処理及びシステム制御手段１１０におけるパワ
ー設定処理に要する時間を考慮し、パワー設定時点にお
ける線速度の予測を行う。即ち、線速度変化率算出手段
３１０により算出された線速度変化率Ｖｄを用いると、
平均化を含む線速度検出における処理と後述するパワー
設定に要する時間をＴとした場合、時点Ｔにおける線速
度ＶｐはＶｐ＝Ｖｄ×Ｔから算出することができる。な
お、本例において線速度の予測を線形近似により求める
構成としたが、数点の線速度情報をサンプリングし、そ
の結果から高次関数による近似計算により線速度の予測
を行う構成としてもよい。上述のようにして得られた線
速度の予測値Ｖｐ、規定線速度におけるパワー設定値を
Ｐａ０、Ｐｂ０、Ｐｃ０とした場合に、パワー設定値Ｐ
ａは Ｐａ＝Ｐａ０ ×ｋ１（Ｖｐ／Ｖｒ） パワー設定値Ｐｂは、 Ｐｂ＝Ｐｂ０ ×ｋ２（Ｖｐ／Ｖｒ） パワー設定値Ｐｂは、 Ｐｃ＝Ｐｃ０ ×ｋ３（Ｖｐ／Ｖｒ） となるように、パワー設定２０５を行う。ここでｋ１、
ｋ２、ｋ３は予め定めた定数であり、記録膜の特性から
実験的に定める値である。これにより、記録パワーを基
準線速度と現在の線速度のずれに対して線形な値にする
ことができる。

【００６２】以上述べたように、線速度検出に要する時
間（線速度の平均化処理を含む）と、記録パルス、及び
記録パワー設定に要する時間とを考慮して、現在の線速
度変化率から設定時点での線速度を予測し、それに応じ
た設定を行う際に、設定を目標値に向かって段階的に制
御していくことにより、記録補償値の急激な変動を抑え
再生系への影響を最小限にすることができ、高い信号品
質で記録を実現することができる。

【００６３】なお、上述のパワー設定及び、パルス形状
設定において線速度の予測値Ｖｐを連続値として表して
いるが、計測自体がクロック数をカウントするといった
方式により行われているので、実際には離散値となる。
また各数式の左辺に相当するパワー設定やパルス形状設
定自体も分解能に限界があるため、離散的な値となる方
が実際的である。

【００６４】また、設定に要する装置の処理負荷を軽減
するため、線速度を所定数の範囲に分解し、所定の範囲
内では設定値を更新しないようにして、設定を行う頻度
を減少させてもよい。また、システム制御手段１１０
は、データシンクパターンの記録中には記録パルスの位
置を変更せず、該データシンクパターンを保護する。

【００６５】以上のような本実施の形態１に係る光ディ
スク記録装置は、ウォブル２値化信号を基に線速度の変
化率を算出し、線速度検出に要する時間（線速度の平均
化処理を含む）と、レーザ光のパワー設定、及びパルス
形状設定に要する時間とを考慮して，現在の線速度変化
率からパワー設定，およびパルス形状設定時点での線速
度を予測し、それに応じた設定を行う際に，設定を目標
値に向かって段階的に制御していくことにより、記録補
償値の急激な変動を抑え、再生系への影響を最小限にす
ることができ，高い信号品質で記録を実現することがで
きる。

【００６６】また、データシンクパターンの記録中には
記録パルスの位置を変更せず、該データシンクパターン
を保護するので、データシンクパターンの部分が正しく
記録され、後続のデータが正しく再生できる。

【００６７】実施の形態２．本発明の実施の形態２に係
る光ディスク記録装置は、高い信号品質で記録を行うた
めに、光ディスクの回転周波数によって得られるＦＧ信
号から線速度を求め、記録パルス位置を設定するもので
ある。

【００６８】図８は本発明の実施の形態２に係る光ディ
スク記録装置の構成を示すブロック図である。なお、本
図において実施の形態１で説明した構成要素と同一の符
号を付与したものは同等の機能を有するブロックであ
り、その具体的説明は省略する。

【００６９】本実施の形態２における線速度情報検出手
段１１２は、ディスクモータＦＧ信号１５０３の周期を
計測するＦＧ周期計測手段１５０１と、線速度情報出力
手段１５０２から構成される。

【００７０】ＦＧ周期計測手段１５０１は基準クロック
信号１５０４を用いてディスクモータＦＧ信号１５０３
のＮ周期（Ｎは自然数）分の信号を計測する。ディスク
モータＦＧ信号１５０３は、図示していないが光ディス
クを回転させるモータに内蔵されている周波数発生器
（一般にＦＧ＝Frequency Generator と呼ぶ）より出力
され、モータが一回転する間に所定周期分のパルス信号
としてでてくる。ＣＡＶ方式の場合、光ディスクを一定
角速度で回転させるため、ディスクモータのＦＧ信号を
用いてモータの回転制御を行うことは一般的に行われて
いる。またＣＡＶ方式、ＺＣＡＶ方式以外の回転制御を
行っている装置であっても、ディスクモータＦＧ信号の
周期を計測することでディスクの回転数が実時間で算出
できる。例えば、ディスクモータＦＧ信号１５０３のＮ
周期分の長さ（即ち光ディスクが１回転する時間）を、
基準クロック１５０４を用いて計測したところ、約３０
ミリ秒であったとすると、ディスク回転数は１／０．０
３＝２０００ｒｐｍと算出される。このようにして検出
したディスクの回転数を用いれば、現在の線速度を検出
することが可能である。即ちモータの規定回転数をＲ
０、ＦＧにより検出したモータの回転数をＲとすれば、
規定回転数に対する回転数のずれ、即ち線速度のずれは
Ｒ／Ｒ０から算出することができる。本発明の実施の形
態２において、線速度情報出力手段１５０２は計測結果
であるディスクモータＦＧ信号１５０３の周期を線速度
のずれに変換し、そのパーセンテージを線速度情報２０
７として出力する構成としているが、この構成に限定す
るものではない。例えば、周期計測結果を線速度情報と
して出力し、システム制御手段１１０においてソフトウ
ェア的に線速度のずれを算出してもよい。

【００７１】また、実施の形態１と同様、ＦＧ信号の数
周期のカウント値の平均をとり、その平均値から線速度
情報２０７を得る構成としてもよい。

【００７２】以上のように、ディスクモータのＦＧパル
ス周期より現在のディスク回転数を計測し、検出した回
転数から規定線速度に対する現在の線速度のずれを算出
することが可能になる。

【００７３】このようにして検出された線速度情報２０
７は線速度変化率算出手段３１０へ供給され線速度の変
化率が算出される。システム制御手段１１０により線速
度の変化率からパワー設定２０５、及びパルス形状設定
３０７のタイミングにおける線速度を予測し、予測値を
基に最適なパワー設定及びパルス形状設定を行う。線速
度変化率情報算出手段、パワー設定２０５及びパルス形
状設定３０７の動作については第１の実施例と同一であ
るので詳しい説明は省略する。

【００７４】なお、実施の形態１と同様、システム制御
手段１１０は、データシンクパターンの記録中には記録
パルスの位置を変更せず、該データシンクパターンを保
護する。

【００７５】以上のような本実施の形態２に係る光ディ
スク記録装置は、ＦＧ周期を基に線速度の変化率を算出
し、線速度検出に要する時間（線速度の平均化処理を含
む）と、パワー設定、及びパルス形状設定に要する時間
とを考慮して、現在の線速度変化率からパワー設定、パ
ルス形状設定時点での線速度を予測し、それに応じた設
定を行う際に、設定を目標値に向かって段階的に制御し
ていくことにより、記録補償値の急激な変動を抑え再生
系への影響を最小限にすることができ、高い信号品質で
記録を実現することができる。

【００７６】また、データシンクパターンの記録中には
記録パルス位置を変更せず、該データシンクパターンを
保護するので、データシンクパターンの部分が正しく記
録され、後続のデータが正しく再生できる。

【００７７】実施の形態３．本発明の実施の形態３に係
る光ディスク記録装置は、記録補償値の急激な変動を抑
えるために、記録データのスペース部分を検出し、ウォ
ブル２値化信号から求めた線速度を基にした記録パルス
位置設定を、該検出した記録データのスペース部分で行
うものである。

【００７８】図９は本発明の実施の形態３に係る光ディ
スク記録装置の構成を示すブロック図である。図におい
て、実施の形態１に係る光ディスク記録装置の構成に、
記録データのスペース部分を検出する記録スペース検出
手段３２０を備えたことを特徴とする。なお、図におい
て、実施の形態１で説明した構成要素と同一の符号を付
与したものは同等の機能を有するブロックであり、その
具体的説明は省略する。

【００７９】本実施の形態３において、システム制御手
段１１０は、線速度情報検出手段１１２の出力する線速
度情報を基にパワー設定及びパルス形状の設定を行う。
線速度情報検出手段１１２は、本発明の実施の形態１の
線速度情報検出手段１１２と同一の構成であり、ディス
クの再生信号から抽出したウォブル２値化信号の周期を
カウントすることにより線速度情報を検出する。

【００８０】そして、前記線速度検出手段からの線速度
情報２０７により、実施の形態１と同様にシステム制御
手段１１０は、記録パルス位置及び記録パワーの設定値
を算出し、設定した記録パルス位置を、記録スペース検
出手段３２０により検出したスペース部分において、記
録パルス位置の設定を行う。

【００８１】なお、本実施の形態１と同様、線速度を予
測する際に、線速度変化率をハードウェアにより演算を
行うか、あるいは、例えばシステム制御手段１１０によ
り、ソフトウェア的に演算を行ってもよい。また、実施
の形態１と同様、ウォブル数周期のカウント値の平均を
とり、その平均値から線速度情報２０７を得る構成とし
てもよい。

【００８２】次に、記録スペース検出手段３２０の構成
の一例を図１０に示す。記録スペース検出手段は、符号
化手段３０１の出力である記録データ２０８をタイミン
グ調整のために遅延させるディレイライン３３０、記録
データ２０８を記録クロックによりシフトするシフトレ
ジスタ３３１、及びシフトレジスタのレジスタ値とスペ
ース検出を行うためのスペース長指定値とを比較する比
較器３３２から構成される。

【００８３】記録スペース検出手段３２０は、例えば１
１のスペースを検出する場合には、シフトレジスタのレ
ジスタ値が10000000001になるパターンを検出し、これ
と一致した場合にスペース検出信号を出力する。このス
ペース検出信号は、システム制御手段１１０の記録パル
ス位置設定をラッチするクロックとして使用される。こ
のような構成により、システム制御手段１１０のパルス
位置設定値が、記録データのスペース検出のタイミング
と同期して、パルス発生手段に出力される。

【００８４】以上のような実施の形態３に係る光ディス
ク記録装置は、ウォブル２値化信号の周期からディスク
の線速度を検出し、さらに記録データのスペース部分を
検出し、該スペース部分において記録パルス位置の設定
を行うことにより、記録補償値の急激な変動を抑え再生
系への影響を最小限にすることができ、高い信号品質で
記録を実現することができる。

【００８５】実施の形態４．本発明の実施の形態４に係
る光ディスク記録装置は、高い信号品質で記録を行うた
めに、ＦＧ信号から求めた線速度を基にした記録パルス
設定を、記録データのスペース部分で行うものである。

【００８６】図１２は本発明の実施の形態４に係る光デ
ィスク記録装置の構成を示すブロック図である。図にお
いて、実施の形態２に係る光ディスク記録装置の構成
に、記録データのスペース部分を検出する記録スペース
検出手段３２０を備えたことを特徴とする。

【００８７】なお、図において、実施の形態１または２
で説明した構成要素と同一の符号を付与したものは同等
の機能を有するブロックであり、その具体的説明は省略
する。

【００８８】本実施の形態４におけるシステム制御手段
１１０は、線速度情報検出手段１１２の出力する線速度
情報を基にパワー設定及びパルス形状の設定を行う。線
速度情報検出手段は本発明の実施の形態２の線速度情報
検出手段と同一の構成であり、ディスクモータＦＧ信号
１５０３の周期を計測するＦＧ周期計測手段１５０１
と、線速度情報出力手段１５０２から構成される。ＦＧ
周期計測手段１５０１は基準クロック信号１５０４を用
いてディスクモータＦＧ信号１５０３のＮ周期（Ｎは自
然数）分の信号を計測する。ディスクモータＦＧ信号１
５０３は、図示していないが光ディスクを回転させるモ
ータに内蔵されている周波数発生器（一般にＦＧ＝Freq
uency Generator と呼ぶ）より出力され、モータが一回
転する間に所定周期分のパルス信号としてでてくる。こ
のディスクモータＦＧ信号の周期を計測することでディ
スクの回転数が実時間で算出できる。算出した回転数を
基に線速度情報２０７を検出する。

【００８９】そして、前記線速度検出手段からの線速度
情報２０７により、実施の形態１と同様にシステム制御
手段１１０は、記録パルス位置及び記録パワーの設定値
を算出し、記録スペース検出手段３２０により検出した
スペース部分において、記録パルス位置の設定を行う。

【００９０】なお、実施の形態２と同様、線速度を予測
する際に、線速度変化率をハードウェアにより演算を行
うか、あるいは、例えばシステム制御手段１１０によ
り、ソフトウェア的に演算を行ってもよい。

【００９１】また、実施の形態２と同様、例えば、ＦＧ
信号の数周期のカウント値の平均をとり、その平均値か
ら線速度情報２０７を得る構成としてもよい。

【００９２】次に、記録スペース検出手段３２０は、実
施の形態３と同様、図１０に示すように、符号化手段３
０１の出力である記録データ２０８をタイミング調整の
ために遅延させるディレイライン３３０、記録データ２
０８を記録クロックによりシフトするシフトレジスタ３
３１、及びシフトレジスタのレジスタ値とスペース検出
を行うためのスペース長指定値とを比較する比較器３３
２から構成される。このスペース検出信号は、システム
制御手段１１０の記録パルス位置設定をラッチするクロ
ックとして使用される。このような構成により、システ
ム制御手段１１０のパルス位置設定値が、記録データの
スペース検出のタイミングと同期して、パルス発生手段
に出力される。

【００９３】以上のような本発明の実施の形態４に係る
光ディスク記録装置は、ディスクモータのＦＧ信号の周
期からディスクの線速度を検出し，該スペース部分にお
いて記録パルス位置の設定を行うことにより、記録補償
値の急激な変動を抑え、再生系への影響を最小限にする
ことができ、高い信号品質で記録を実現することができ
る。

【００９４】

【発明の効果】以上のように、本発明の請求項１に記載
の光ディスク記録装置によれば、円盤に螺旋状もしくは
同心円上の所定の周期で蛇行した溝部がトラックとして
形成された光ディスクに対し、記録すべきデータに従い
変調された少なくとも２種類のパワーのレーザ光を照射
することにより記録を行う光ディスク記録装置におい
て、上記光ディスクから信号を読み取る信号読み取り手
段と、上記信号読み取り手段により読み取った再生信号
を２値化し、上記溝部の蛇行周期に沿ったウォブル２値
化信号を得るウォブル２値化手段と、上記ウォブル２値
化信号の周期を計測することで現在の線速度を検出する
線速度情報検出手段と、上記線速度情報検出手段から出
力される線速度情報を基に記録パルスのエッジ位置と、
上記レーザー光のパワーとを設定するシステム制御手段
と、上記システム制御手段により設定された記録パルス
位置を基に、記録パルスを発生する記録パルス発生手段
と、上記記録パルス発生手段の出力する記録パルスと、
上記システム制御手段で設定したレーザー光のパワーと
を基にレーザを駆動するレーザ駆動手段とを具備し、上
記システム制御手段により、上記レーザー光のパワー
と、上記記録パルス位置とを設定目標値に向かって段階
的に制御して記録を行うので、記録パルスの急激な変動
を押さえ，再生系のデータＰＬＬに対して、ジッタの増
加や、ＰＬＬはずれ等の悪影響を最小限にすることがで
き、高信頼性のデータ記録を実現することができる効果
がある。

【００９５】また、本発明の請求項２に記載の光ディス
ク記録装置によれば、円盤に螺旋状もしくは同心円上の
所定の周期で蛇行した溝部がトラックとして形成された
光ディスクに対し、記録すべきデータに従い変調された
少なくとも２種類のパワーのレーザ光を照射することに
より記録を行う光ディスク記録装置において、上記光デ
ィスクの回転周波数に応じた周期のＦＧ信号を出力する
ＦＧ信号出力手段と、上記ＦＧ信号出力手段の出力から
現在の線速度を検出する線速度情報検出手段と、上記線
速度情報検出手段から出力される線速度情報を基に記録
パルスのエッジ位置と、上記レーザー光のパワーとを設
定するシステム制御手段と、上記システム制御手段によ
り設定された記録パルス位置を基に、記録パルスを発生
する記録パルス発生手段と、上記記録パルス発生手段の
出力する記録パルスと、上記システム制御手段で設定し
たレーザー光のパワーとを基にレーザを駆動するレーザ
駆動手段とを具備し、上記システム制御手段により、上
記レーザー光のパワーと、記録パルス位置とを設定目標
値に向かって段階的に制御して記録を行うので、記録パ
ルスの急激な変動を押さえ，再生系のデータＰＬＬに対
して、ジッタの増加や、ＰＬＬはずれ等の悪影響を最小
限にすることができ、高信頼性のデータ記録を実現する
ことができる効果がある。

【００９６】また、本発明の請求項３に記載の光ディス
ク記録装置によれば、請求項１または２に記載の光ディ
スク記録装置において、上記システム手段は、データシ
ンクパターンの記録中には記録パルスの位置を変更せ
ず、該データシンクパターンを保護するので、データシ
ンクパターンの記録において、パルス位置変更により、
信号品質に影響が出るのを防ぎ、データシンクパターン
正しく記録され、後続のデータが正しく再生できる効果
がある。

【００９７】また、本発明の請求項４に記載の光ディス
ク記録装置によれば、請求項１または２に記載の光ディ
スク記録装置において、上記線速度情報検出手段により
検出した現在の線速度情報から、記録パルス位置設定に
要する時間後の線速度を予測するので、線速度を検出し
てから実際に半導体レーザを制御するまでの遅延時間を
考慮して予測することにより、検出した線速度と実際の
線速度の誤差を抑え、最適な半導体レーザの制御を行う
ことができるとともに、高信頼性のデータ記録を実現す
ることができる効果がある。

【００９８】また、本発明の請求項５に記載の光ディス
ク記録装置によれば、請求項１または２に記載の光ディ
スク記録装置において、上記レーザー駆動手段は、複数
の電流源と、該複数の電流源の出力電流値を各々独立に
制御する電流値制御手段と、上記各電流源に各々直列に
接続され、該各電流源出力の半導体レーザへの供給をオ
ン／オフする、少なくとも上記電流源の数と同数のスイ
ッチとを備え、上記記録パルス発生手段により、記録す
べきデータに従い変調され生成された、上記スイッチの
数と同数のパルス信号を、上記スイッチのオン／オフを
独立に切り換え、該各パルス信号を独立に制御するの
で、半導体レーザの発光波形におけるレーザ光のパワー
値を制御することができる効果がある。

【００９９】また、本発明の請求項６に記載の光ディス
ク記録装置によれば、請求項１または２に記載の光ディ
スク記録装置において、上記線速度情報検出手段は、上
記ウォブル２値化信号あるいは上記ＦＧ信号の平均をと
り、その平均値から上記線速度情報を得ることを可能と
するので、ディスクの欠陥等により、線速度検出に必要
とする信号が正しく得られない場合でも、平均化処理に
よりその影響を低減することができる効果がある。

【０１００】また、本発明の請求項７に記載の光ディス
ク記録装置によれば、円盤に螺旋状もしくは同心円上の
所定の周期で蛇行した溝部がトラックとして形成された
光ディスクに対し、記録すべきデータに従い変調された
少なくとも２種類のパワーのレーザ光を照射することに
より記録を行う光ディスク記録装置において、上記光デ
ィスクから信号を読み取る信号読み取り手段と、上記信
号読み取り手段により読み取られた再生信号を２値化
し、前記溝部の蛇行周期に沿ったウォブル２値化信号を
得るウォブル２値化手段と、上記ウォブル２値化信号の
周期を計測することで現在の線速度を検出する線速度情
報検出手段と、前記線速度情報検出手段から出力される
線速度情報を基に記録パルスのエッジ位置と、上記レー
ザー光のパワーとを設定するシステム制御手段と、上記
システム制御手段により設定された記録パルス位置を基
に、記録パルスを発生する記録パルス発生手段と、前記
記録パルス発生手段の出力する記録パルスと、上記シス
テム制御手段で設定したレーザ光のパワーとを基にレー
ザを駆動するレーザ駆動手段と、記録データのスペース
部分を検出する記録スペース検出手段とを具備し、上記
記録スペース検出手段で検出したスペース部分におい
て、上記記録パルス位置の設定を行うので、記録データ
のスペース部分において、ウォブル２値信号を基にした
記録パルスの位置設定を行うことにより、記録パルスの
急激な変動を押さえ，再生系のデータＰＬＬに対して、
ジッタの増加や、ＰＬＬはずれ等の悪影響を最小限にす
ることができ、高信頼性のデータ記録を実現することが
できる効果がある。

【０１０１】また、本発明の請求項８に記載の光ディス
ク記録装置によれば、光ディスクに記録すべきデータに
従い変調された少なくとも２種類のパワーのレーザ光を
照射することにより記録を行う光ディスク記録装置にお
いて、上記光ディスクの回転周波数に応じた周期のＦＧ
信号を出力するＦＧ信号出力手段と、上記ＦＧ信号出力
手段の出力から現在の線速度を検出する線速度情報検出
手段と、上記線速度情報検出手段から出力される線速度
情報を基に記録パルスのエッジ位置と、上記レーザ光の
パワーとを設定するシステム制御手段と、上記システム
制御手段により設定された記録パルス位置を基に、記録
パルスを発生する記録パルス発生手段と、上記記録パル
ス発生手段の出力する記録パルスと、上記システム制御
手段で設定したレーザ光のパワーとを基にレーザを駆動
するレーザ駆動手段と、記録データのスペース部分を検
出する記録スペース検出手段とを具備し、上記記録スペ
ース検出手段で検出したスペース部分において、上記記
録パルス位置を設定するので、記録パルスの急激な変動
を押さえ，再生系のデータＰＬＬに対して、ジッタの増
加や、ＰＬＬはずれ等の悪影響を最小限にすることがで
き、高信頼性のデータ記録を実現することができる効果
がある。

【０１０２】また、本発明の請求項９に記載の光ディス
ク記録装置によれば、請求項７または８記載の光ディス
ク記録装置において、上記線速度情報検出手段により検
出した現在の線速度情報から、記録パルス位置設定に要
する時間後の線速度を予測するので、線速度を検出して
から実際に半導体レーザを制御するまでの遅延時間を考
慮して予測することにより、検出した線速度と実際の線
速度の誤差を抑え、最適な半導体レーザの制御を行うこ
とができるとともに、高信頼性のデータ記録を実現する
ことができる効果がある。

【０１０３】また、本発明の請求項１０に記載の光ディ
スク記録装置によれば、請求項７または８に記載の光デ
ィスク記録装置において、上記レーザー駆動手段は、複
数の電流源と、該複数の電流源の出力電流値を各々独立
に制御する電流値制御手段と、上記各電流源に各々直列
に接続され、該各電流源出力の半導体レーザへの供給を
オン／オフする、少なくとも上記電流源の数と同数のス
イッチとを備え、上記記録パルス発生手段により、記録
すべきデータに従い変調され生成された、上記スイッチ
の数と同数のパルス信号を、上記スイッチのオン／オフ
を独立に切り換え、該各パルス信号を独立に制御するの
で、半導体レーザの発光波形における、レーザ光のパワ
ー値を制御するこができる効果がある。

【０１０４】また、本発明の請求項１１に記載の光ディ
スク記録装置によれば、請求項７または８に記載の光デ
ィスク記録装置において、上記線速度情報検出手段は、
上記ウォブル２値化信号あるいは上記ＦＧ信号の平均を
とり、その平均値から上記線速度情報を得ることを可能
とするので、ディスクの欠陥等により、線速度検出に必
要とする信号が正しく得られない場合でも、平均化処理
によりその影響を低減することができる効果がある。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明に係る光ディスク記録装置の構成を示す
ブロック図である。

【図２】本発明に係るレーザ駆動手段１０８の内部構成
の一例を示すブロック図である。

【図３】本発明に係る記録パルスの形状、半導体レーザ
２０１の発光波形及び形成される記録マークの一例を説
明するための模式図である。

【図４】本発明の実施の形態１に係る光ディスク記録装
置の構成を示すブロック図である。

【図５】本発明の実施の形態１における線速度情報検出
動作を説明するためのタイミング図である。

【図６】本発明の実施の形態１における線速度変化率算
出の動作を説明するための模式図である。

【図７】本発明の実施の形態１における線速度変化率算
出手段３１０の内部構成の一例を示すブロック図であ
る。

【図８】本発明の実施の形態２に係る光ディスク記録装
置の構成を示すブロック図である。

【図９】本発明の実施の形態３に係る光ディスク記録装
置の構成を示すブロック図である。

【図１０】本発明の実施の形態３における記録スペース
検出手段の構成を示すブロック図である。

【図１１】本発明の実施の形態３における記録スペース
検出手段の動作を説明するための模式図である。

【図１２】本発明の実施の形態４に係る光ディスク記録
装置の構成を示すブロック図である。

【図１３】従来の光ディスク記録装置の構成の一例を示
すブロック図である。

【図１４】従来の光ディスク記録装置の動作を説明する
ための記録波形の形状を示した図である。

【図１５】図１４における記録波形の位相マージンと線
速度の関係をグラフで示した図である。

【図１６】図１４における記録波形の記録パワーと線速
度の関係をグラフで示した図である。

【図１７】従来の光ディスク記録装置の構成の一例を示
すブロック図である。

【図１８】図１７の従来の光ディスク記録装置における
エッジ位置調整回路の構成を示す図である。

【図１９】図１７の従来の光ディスク記録装置における
エッジ位置調整テーブル切替回路の一構成例を示す図で
ある。

【符号の説明】

１０１ 光ディスク １０２ ディスクモータ １０３ 光ヘッド １０４ 増幅器 １０５ サーボ手段 １０６ 再生信号処理手段 １０７ フォーマットエンコーダ／デコーダ １０８ レーザ駆動手段 １０９ ホストインターフェース １１０ システム制御手段 １１１ 記録パルス発生手段 １１２ 線速度情報検出手段 ２０１ 半導体レーザ ２０２ａ，２０２ｂ，２０２ｃ スイッチ ２０３ａ，２０３ｂ，２０３ｃ 電流源 ２０４ 電流値制御手段 ２０５ パワー設定 ２０６ａ，２０６ｂ，２０６ｃ 記録パルス ２０７ 線速度情報 ２０８ 変調データ（記録データ） ２０９ 出力電流 ３０１ 符号化手段 ３０２ ウォブル周期計測手段 ３０３ 線速度情報出力手段 ３０４ パルス形状設定保持手段 ３０５ ウォブル２値化信号 ３０６ 計測用クロック信号 ３０７ パルス形状設定 ３０８ パルス形状設定 ３０９ 差動増幅信号 ３１０ 線速度変化率算出手段 ３２０ 記録スペース検出手段 ３３０ ディレイライン ３３１ シフトレジスタ ３３２ 比較器 ７００ シフトレジスタ ７０１ シフトレジスタ ７０２ 演算部 ７０４ 線速度変化率情報 ７０５ タイミング信号生成部 ９０４ ヘッダ領域 １５０１ ＦＧ周期計測手段 １５０２ 線速度情報出力手段 １５０３ ディスクモータＦＧ信号 １５０４ 基準クロック信号

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Ｆターム(参考） 5D090 AA01 BB04 CC01 DD03 DD05 FF36 GG03 GG26 KK03 KK05 5D119 AA23 BA01 BB03 DA01 EC09 HA26 HA45 HA60 HA68 5D789 AA23 BA01 BB03 DA01 EC09 HA26 HA45 HA60 HA68

Claims (11)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 円盤に螺旋状もしくは同心円上の所定の
   周期で蛇行した溝部がトラックとして形成された光ディ
   スクに対し、記録すべきデータに従い変調された少なく
   とも２種類のパワーのレーザ光を照射することにより記
   録を行う光ディスク記録装置において、 上記光ディスクから信号を読み取る信号読み取り手段
   と、 上記信号読み取り手段により読み取った再生信号を２値
   化し、上記溝部の蛇行周期に沿ったウォブル２値化信号
   を得るウォブル２値化手段と、 上記ウォブル２値化信号の周期を計測することで現在の
   線速度を検出する線速度情報検出手段と、 上記線速度情報検出手段から出力される線速度情報を基
   に記録パルスのエッジ位置と、上記レーザー光のパワー
   とを設定するシステム制御手段と、 上記システム制御手段により設定された記録パルス位置
   を基に、記録パルスを発生する記録パルス発生手段と、 上記記録パルス発生手段の出力する記録パルスと、上記
   システム制御手段で設定したレーザー光のパワーとを基
   にレーザを駆動するレーザ駆動手段とを具備し、 上記システム制御手段により、上記レーザー光のパワー
   と、上記記録パルス位置とを設定目標値に向かって段階
   的に制御して記録を行う、 ことを特徴とする光ディスク記録装置。
2. 【請求項２】 円盤に螺旋状もしくは同心円上の所定の
   周期で蛇行した溝部がトラックとして形成された光ディ
   スクに対し、記録すべきデータに従い変調された少なく
   とも２種類のパワーのレーザ光を照射することにより記
   録を行う光ディスク記録装置において、 上記光ディスクの回転周波数に応じた周期のＦＧ信号を
   出力するＦＧ信号出力手段と、 上記ＦＧ信号出力手段の出力から現在の線速度を検出す
   る線速度情報検出手段と、 上記線速度情報検出手段から出力される線速度情報を基
   に記録パルスのエッジ位置と、上記レーザー光のパワー
   とを設定するシステム制御手段と、 上記システム制御手段により設定された記録パルス位置
   を基に、記録パルスを発生する記録パルス発生手段と、 上記記録パルス発生手段の出力する記録パルスと、上記
   システム制御手段で設定したレーザー光のパワーとを基
   にレーザを駆動するレーザ駆動手段とを具備し、 上記システム制御手段により、上記レーザー光のパワー
   と、記録パルス位置とを設定目標値に向かって段階的に
   制御して記録を行う、ことを特徴とする光ディスク記録
   装置。
3. 【請求項３】 請求項１または２に記載の光ディスク記
   録装置において、 上記システム制御手段は、データシンクパターンの記録
   中には記録パルスの位置を変更せず、該データシンクパ
   ターンを保護する、 ことを特徴とする光ディスク記録装置。
4. 【請求項４】 請求項１または２に記載の光ディスク記
   録装置において、 上記線速度情報検出手段により検出した現在の線速度情
   報から、記録パルス位置設定に要する時間後の線速度を
   予測する、 ことを特徴とする光ディスク記録装置。
5. 【請求項５】 請求項１または２に記載の光ディスク記
   録装置において、 上記レーザー駆動手段は、複数の電流源と、 該複数の電流源の出力電流値を各々独立に制御する電流
   値制御手段と、 上記各電流源に各々直列に接続され、該各電流源出力の
   半導体レーザへの供給をオン／オフする、少なくとも上
   記電流源の数と同数のスイッチとを備え、 上記記録パルス発生手段により、記録すべきデータに従
   い変調され生成された、上記スイッチの数と同数のパル
   ス信号を、上記スイッチのオン／オフを独立に切り換
   え、該各パルス信号を独立に制御する、 ことを特徴とする光ディスク記録装置。
6. 【請求項６】 請求項１または２に記載の光ディスク記
   録装置において、 上記線速度情報検出手段は、上記ウォブル２値化信号あ
   るいは上記ＦＧ信号の平均をとり、その平均値から上記
   線速度情報を得ることを可能とする、 ことを特徴とする光ディスク記録装置。
7. 【請求項７】 円盤に螺旋状もしくは同心円上の所定の
   周期で蛇行した溝部がトラックとして形成された光ディ
   スクに対し、記録すべきデータに従い変調された少なく
   とも２種類のパワーのレーザ光を照射することにより記
   録を行う光ディスク記録装置において、 上記光ディスクから信号を読み取る信号読み取り手段
   と、 上記信号読み取り手段により読み取られた再生信号を２
   値化し、前記溝部の蛇行周期に沿ったウォブル２値化信
   号を得るウォブル２値化手段と、 上記ウォブル２値化信号の周期を計測することで現在の
   線速度を検出する線速度情報検出手段と、 前記線速度情報検出手段から出力される線速度情報を基
   に記録パルスのエッジ位置と、上記レーザー光のパワー
   とを設定するシステム制御手段と、 上記システム制御手段により設定された記録パルス位置
   を基に、記録パルスを発生する記録パルス発生手段と、 前記記録パルス発生手段の出力する記録パルスと、上記
   システム制御手段で設定したレーザ光のパワーとを基に
   レーザを駆動するレーザ駆動手段と、 記録データのスペース部分を検出する記録スペース検出
   手段とを具備し、 上記記録スペース検出手段で検出したスペース部分にお
   いて、上記記録パルス位置の設定を行う、 ことを特徴とする光ディスク記録装置。
8. 【請求項８】 光ディスクに記録すべきデータに従い変
   調された少なくとも２種類のパワーのレーザ光を照射す
   ることにより記録を行う光ディスク記録装置において、 上記光ディスクの回転周波数に応じた周期のＦＧ信号を
   出力するＦＧ信号出力手段と、 上記ＦＧ信号出力手段の出力から現在の線速度を検出す
   る線速度情報検出手段と、 上記線速度情報検出手段から出力される線速度情報を基
   に記録パルスのエッジ位置と、上記レーザ光のパワーと
   を設定するシステム制御手段と、 上記システム制御手段により設定された記録パルス位置
   を基に、記録パルスを発生する記録パルス発生手段と、 上記記録パルス発生手段の出力する記録パルスと、上記
   システム制御手段で設定したレーザ光のパワーとを基に
   レーザを駆動するレーザ駆動手段と、 記録データのスペース部分を検出する記録スペース検出
   手段とを具備し、 上記記録スペース検出手段で検出したスペース部分にお
   いて、上記記録パルス位置を設定する、 ことを特徴とする光ディスク記録装置。
9. 【請求項９】 請求項７または８記載の光ディスク記録
   装置において、 上記線速度情報検出手段により検出した現在の線速度情
   報から、記録パルス位置設定に要する時間後の線速度を
   予測する、 ことを特徴とする光ディスク記録装置。
10. 【請求項１０】 請求項７または８に記載の光ディスク
    記録装置において、 上記レーザー駆動手段は、複数の電流源と、 該複数の電流源の出力電流値を各々独立に制御する電流
    値制御手段と、 上記各電流源に各々直列に接続され、該各電流源出力の
    半導体レーザへの供給をオン／オフする、少なくとも上
    記電流源の数と同数のスイッチとを備え、 上記記録パルス発生手段により、記録すべきデータに従
    い変調され生成された、上記スイッチの数と同数のパル
    ス信号を、上記スイッチのオン／オフを独立に切り換
    え、該各パルス信号を独立に制御する、 ことを特徴とする光ディスク記録装置。
11. 【請求項１１】 請求項７または８に記載の光ディスク
    記録装置において、 上記線速度情報検出手段は、上記ウォブル２値化信号あ
    るいは上記ＦＧ信号の平均をとり、その平均値から上記
    線速度情報を得ることを可能とする、 ことを特徴とする光ディスク記録装置。