JP2001229564A

JP2001229564A - 光ディスク記録方法及び装置

Info

Publication number: JP2001229564A
Application number: JP2000038913A
Authority: JP
Inventors: Yasunori Inoue; 育徳井上; Toyoji Gushima; 豊治具島; Mamoru Shoji; 衛東海林
Original assignee: Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Current assignee: Panasonic Holdings Corp
Priority date: 2000-02-17
Filing date: 2000-02-17
Publication date: 2001-08-24

Abstract

(57)【要約】【課題】光ディスクへの高信頼性のデータ記録を実現
することを目的とする。【解決手段】光ディスクに形成された溝部の蛇行周期
に相当する信号を２値化したウォブル２値化信号３０５
が、線速度情報検出手段１１２に入力される。線速度情
報１１２は、ウォブル２値化信号３０５の周期を計測し
現在の線速度情報２０７を出力する。線速度変化率算出
手段３１０は線速度情報２０７から線速度の変化率を算
出する。システム制御手段１１０は線速度情報２０７及
び線速度変化率情報から、線速度検出及び半導体レーザ
制御に要する時間後の線速度を予測し、予測結果に応じ
たパワー設定２０５及びパルス形状設定３０７を行うこ
とにより、線速度検出から半導体レーザ制御までの遅延
時間を考慮した最適なパワー設定やパルス形状設定を行
い高信頼性のデータ記録を実現する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は光ディスクへ情報を
記録する光ディスク装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】近年、光ディスクは大容量の情報記録媒
体として注目され、コンピュータの外部記憶装置や映像
音声記録用として開発及び商品化が進められている。一
般に光ディスクでは、ディスク面に螺旋状もしくは同心
円上のトラックを設け、レーザビームを前記トラック位
置に沿って照射することにより、情報の記録・再生を行
う。また前記トラックは更に情報データの記録・再生の
最小単位となるセクタに分割されている。

【０００３】光ディスクのセクタ配置法として、従来か
らＣＬＶ(Constant Linear Velocity）方式、ＣＡＶ（C
onstant Angular Velocity）方式、ＣＡＶを改良したＺ
ＣＡＶ（Zoned ＣＡＶ）方式、ＣＬＶ方式を改良したＺ
ＣＬＶ（Zoned ＣＬＶ）方式が知られている。

【０００４】上記方式の内、ＺＣＬＶ方式は、記録・再
生の周波数は一定とし、光ディスクを半径方向にゾーン
と呼ばれる所定本数からなるトラック単位に分割し、ゾ
ーン毎にディスクの回転数を内周から外周に向けて低く
なるように変化させる。これによりＣＬＶ方式に近い記
憶容量を確保しつつ、ＣＬＶ方式よりもディスクモータ
の回転制御が簡易化されるという利点がある。その反
面、ゾーン毎に光ディスクの回転数を切り換えるため、
ゾーン間に跨るような検索動作を行う場合、正規の線速
度になるまで、すなわちディスクモータが正規の回転数
に整定するまでに時間がかかる。また一般にＺＣＬＶ方
式もしくはＣＬＶ方式を採用した光ディスクの記録膜は
線速度依存性を持っているため、線速度が基準の範囲内
にないと記録が品質よく行えないという課題を有してい
る。

【０００５】以上述べたＺＣＬＶ方式の課題を解決し、
高速・高信頼性の記録を行う方式として例えば、特開平
１０−１０６００８号公報の光ディスク装置が提案され
ている。その構成の一例を図２１に示す。

【０００６】以下、図に従って従来の光ディスク装置の
基本的な動作を説明する。

【０００７】光ディスク装置は、光ディスク１と、光源
である半導体レーザを用いて前記光ディスク１にレーザ
光を照射し情報を記録・再生する光ヘッドと２、光ヘッ
ド２で読み出した信号を処理しデジタル信号に変換する
信号処理手段３と、前記デジタル信号から光ディスク１
に記録された同期信号を抽出する同期信号生成手段４
と、記録信号を生成する基本クロックを発生するＶＣＯ
７と、前記同期信号と前記ＶＣＯの位相を比較して誤差
信号を出力する位相比較手段５と、前記誤差信号の低周
波成分のみを通過させるローパスフィルタ６と、記録信
号の符号やパルス幅、レーザ出力を始め光ディスク装置
全体の制御を行うコントローラ１０と、前記ＶＣＯ７が
発生するクロックとコントローラ１０の指令に基づいて
記録信号を生成する記録信号生成手段８と、記録信号生
成手段８の信号に応じて半導体レーザを発光させるレー
ザ駆動手段９と、光ディスク１を回転させる主軸モータ
１５と、信号処理手段３の出力から主軸モータ１５を所
定の回転数で回転させるための同期信号を生成する同期
信号生成手段１１と、主軸モータ１５を一定の回転数で
回転させるための基準となる信号を発生すると同時に、
コントローラ１０の指令を受けて主軸モータ１５の目標
回転数を決定するＶＣＯ１６と、前記同期信号とＶＣＯ
１６の周波数を比較して誤差信号を生成する周波数比較
手段１３と、前記同期信号と前記ＶＣＯ１６の位相を比
較して誤差信号を生成する位相比較手段１２と、前記誤
差信号に基づいて主軸モータを駆動する主軸モータ駆動
手段１４とより構成される。

【０００８】まず、主軸モータ１５の駆動系について説
明する。

【０００９】同期信号生成手段１１は、信号処理手段３
の出力から主軸モータ１５を回転させるのに必要な同期
信号を生成する。前記同期信号は、前記周波数比較手段
１３と前記位相比較手段１２でＶＣＯ１６の出力と比較
され、誤差信号が主軸モータ駆動手段１４に出力され
る。主軸モータ駆動手段１４の出力により、主軸モータ
１５は回転する。

【００１０】ここで前記コントローラ１０は、信号処理
手段３の出力信号を受けて、その物理アドレス情報か
ら、光ヘッド２の位置を認識している。さらに、光ヘッ
ド２の位置に応じて主軸モータ１５の回転数を変化せし
めるようにＶＣＯ１６を制御する。即ち、光ヘッド２が
内周にあるときは主軸モータ１５の回転数を高く、光ヘ
ッド２が外周にあるときは主軸モータ１５の回転数を低
くし、内外周で線速度が一定になるように制御する。こ
れは従来のＣＬＶ制御と同じである。

【００１１】次に、記録信号生成系について説明する。

【００１２】まず信号処理手段３の出力は、同期信号生
成手段４に入力される。ここで、記録信号を光ディスク
１の正しい位置に所定の周波数で記録するために必要な
同期信号が生成される。ＶＣＯ７は、前記記録信号の基
本クロックを発生する。位相比較手段５は、前記基本ク
ロックと前記同期信号の位相を比較し、誤差信号を出力
する。ローパスフィルタ６は、前記誤差信号の低域のみ
を通過させＶＣＯ７に供給する。ＶＣＯ７は十分広いキ
ャプチャレンジを持っており、光ディスク１の線速度に
広い範囲で追従する。よってＶＣＯ７の出力周波数は前
記同期信号に同期しており、光ヘッド２の位置で線速度
が速くなれば高く、遅くなれば低くなるように制御され
る。本来、前記線速度は一定になるように制御される
が、シーク時の光ヘッド２の移動に伴う回転数の変更に
は時間を要するため、過渡状態における線速度は規定値
を逸脱している。しかしＶＣＯ７は広い範囲でこの線速
度変動に追従するので、前記回転数が整定する前に記録
動作を開始することが可能となり、書き込みに要する時
間を短縮することができる。さらにＶＣＯ７のキャプチ
ャレンジが広ければＣＡＶ制御でも線速度一定の記録が
可能である。なおここでいう前記同期信号とは、例えば
プリピット領域の同期パターンから得られるものであ
る。即ちある種の記録可能な光ディスクでは、あらかじ
め信号再生に必要な基本クロックを生成するのに用いら
れる同期パターンが凹凸ピットで記録されている。記録
時でも、これを読むことにより、線速度に比例した同期
信号を得ることができる。また、別のある種の光ディス
クでは、光ディスク上のピットを形成する溝（グルー
ブ）が一定周期で蛇行している（ウォブリング)。この
ようなウォブリングされたディスクならばウォブル信号
を逓倍することによって同期信号を生成してもよい。

【００１３】記録信号生成手段８は、ＶＣＯ７の出力を
基本クロックとして、コントローラ１０からの記録デー
タから記録信号を生成する。前記半導体レーザは、前記
記録信号に応じて発光する。ここでディスク全面にわた
って均一な記録ピットを形成するためには、前記半導体
レーザからピット形成のために前記光ディスクに照射さ
れる１チャネルビット当たりのエネルギーは線速に応じ
て制御されなくてはならない。即ち、光ヘッド２の位置
でみた線速度が小さいときは低く、大きい時は高くする
ように制御されなくてはならない。これもコントローラ
１０によって行われる。具体的な方法の一つとして、前
記半導体レーザの出力を表す前記記録信号のパルスの高
さを変える方法がある。この様子を図２２を参照しなが
ら説明する。

【００１４】まず前記線速度は、図２１の前記コントロ
ーラ１０で認識されている。例えば中程度の線速度にお
ける記録パルスを（ａ）とする。より大きな線速度であ
る場合（ｂ）、前記コントローラは前記記録パルスの高
さを高くして、より強いレーザ光を光ディスクに照射す
る。一方、より小さな線速度である場合（ｃ）、前記コ
ントローラは前記記録パルスの高さを低くしてより弱い
レーザ光を光ディスクに照射する。この制御によりディ
スク全面にわたり均一な大きさの記録ピットを形成でき
る。

【００１５】

【発明が解決しようとする課題】上記に述べたようにＺ
ＣＬＶ方式では、ゾーン毎にディスクの回転数を切り換
えるため、ゾーン間に跨るような検索動作を行う場合、
正規の線速度になるまで、即ちディスクモータが正規の
回転数に整定されるまで時間がかかる。またＣＬＶ方式
についても半径位置に応じてディスク回転数を変化させ
るため、同様に時間がかかる。一般にＺＣＬＶ方式もし
くはＣＬＶ方式を採用した光ディスクの記録膜は線速度
依存性を持っているため、線速度が基準の範囲内にない
と記録が品質よく行えないという問題がある。

【００１６】また、従来の光ディスク装置において線速
度の検出結果に応じて半導体レーザの制御をコントロー
ラで行っている。また、通常は線速度の検出に応じてあ
る程度の期間平均化を行いジッタ等の影響による線速度
検出誤差を低減する処理が必要である。以上述べたよう
な線速度検出における平均化や、半導体レーザの制御に
要する時間のために、線速度を検出してから実際に半導
体レーザを制御するまでに遅延時間が発生する。この遅
延時間のために半導体レーザを制御する時点では前に検
出した線速度と実際の線速度に誤差が発生する。この誤
差により最適な半導体レーザの制御が行えないという問
題がある。

【００１７】本発明は、光ディスクへの高信頼性のデー
タ記録を実現することを目的とする。

【００１８】

【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、本発明の光ディスク装置は、円盤に螺旋状もしくは
同心円上の所定の周期で蛇行した溝部がトラックとして
形成された光ディスクに対し、記録すべきデータに従い
変調された少なくとも２種類のパワーのレーザ光を照射
することにより記録を行う光ディスク記録装置であっ
て、前記光ディスクから信号を読み取る信号読み取り手
段と、前記信号読み取り手段により読み取られた再生信
号を２値化し、前記溝部の蛇行周期に沿ったウォブル２
値化信号を得るウォブル２値化手段と、前記ウォブル２
値化信号の周期を計測することで現在の線速度を検出す
る線速度情報検出手段と、前記線速度情報検出手段の出
力から線速度の変化率を算出する線速度変化率情報算出
手段と、前記線速度情報検出手段と前記線速度変化率情
報算出手段の出力に応じて、記録時に照射するレーザ光
のパワー値を設定するパワー設定手段と、前記パワー設
定手段により設定されたパワー値でレーザが照射される
ようにレーザを駆動するレーザ駆動手段とを備える。

【００１９】また、本発明の光ディスク装置は、円盤に
螺旋状もしくは同心円上の所定の周期で蛇行した溝部が
トラックとして形成された光ディスクに対し、記録すべ
きデータに従い変調された少なくとも２種類のパワーの
レーザ光を照射することにより記録を行う光ディスク記
録装置であって、前記光ディスクから信号を読み取る信
号読み取り手段と、前記信号読み取り手段により読み取
られた再生信号を２値化し、前記溝部の蛇行周期に沿っ
たウォブル２値化信号を得るウォブル２値化手段と、前
記ウォブル２値化信号の周期を計測することで現在の線
速度を検出する線速度情報検出手段と、前記線速度情報
検出手段の出力に応じて、記録時に照射するレーザ光の
パワー値を設定するパワー設定手段と、前記パワー設定
手段により設定されたパワー値でレーザが照射されるよ
うにレーザを駆動するレーザ駆動手段とを具備してな
り、前記パワー設定手段が、線速度を複数の線速度範囲
に分割し、前記線速度情報検出手段の出力する線速度情
報に応じて線速度範囲を切り換え、選択した範囲の代表
値からパワー設定を行うことを特徴とし、前記パワー設
定手段は、好ましくは、前記線速度範囲の切り換えに制
御にヒステリシス特性をもち、前記線速度情報検出手段
の出力する線速度情報からディスクの偏心を検出し、検
出した偏心情報から線速度範囲の切り換えにおけるヒス
テリシス特性を決定する構成とする。

【００２０】前記パワー設定手段は、好ましくは、線速
度変化率情報算出手段の出力する線速度変化率から次に
パワー設定を行うタイミングにおける線速を予測してパ
ワー設定を行うこと構成とする。

【００２１】また、本発明の光ディスク記録方法は、光
ディスクの線速度と光ディスク媒体の記録状態に応じて
レーザーパルスの高さと時間軸制御の少なくとも一方を
制御する。好ましくは、前記光ディスク媒体の記録状態
が悪い場合に線速度が規定値になってから記録を開始す
る方法とし、また前記光ディスク媒体の記録状態を光デ
ィスクの再生信号のジッタや光ディスクのビットエラー
レート、あるいは光ディスクの物理アドレスの読み取り
状態から検出する方法とする。

【００２２】また、本発明の光ディスク記録装置は、円
盤に螺旋状もしくは同心円上の所定の周期で蛇行した溝
部がトラックとして形成された光ディスクに対し、記録
すべきデータに従い変調された少なくとも２種類のパワ
ーのレーザ光を照射することにより記録を行う光ディス
ク記録装置であって、前記光ディスクから信号を読み取
る信号読み取り手段と、前記信号読み取り手段により読
み取られた再生信号を２値化し、前記溝部の蛇行周期に
沿ったウォブル２値化信号を得るウォブル２値化手段
と、前記ウォブル２値化信号の周期を計測することで現
在の線速度を検出する線速度情報検出手段と、前記信号
読み取り手段の出力から光ディスク媒体の記録状態を検
出するメディア状態検出手段と、前記線速度情報検出手
段とメディア状態検出手段の出力に応じて、記録時に照
射するレーザ光のパワー値を設定するパワー設定手段
と、前記パワー設定手段により設定されたパワー値でレ
ーザが照射されるようにレーザを駆動するレーザ駆動手
段とを備える。

【００２３】また、本発明の光ディスク記録方法は、光
ディスクに記録された記録制御情報に基づき、光ディス
クの線速度に応じたレーザーパルスの高さと時間軸制御
の少なくとも一方を制御する。好ましくは、前記光ディ
スクに記録された記録制御情報は光ディスクの線速度に
応じてレーザパルスの制御を行う場合の線速度の許容範
囲とする。また前記光ディスクに記録された記録制御情
報は、光ディスクの種別を識別する情報とする。

【００２４】また、本発明の光ディスク記録装置は、円
盤に螺旋状もしくは同心円上の所定の周期で蛇行した溝
部がトラックとして形成された光ディスクに対し、記録
すべきデータに従い変調された少なくとも２種類のパワ
ーのレーザ光を照射することにより記録を行う光ディス
ク記録装置であって、前記光ディスクから信号を読み取
る信号読み取り手段と、前記信号読み取り手段により読
み取られた再生信号を２値化し、前記溝部の蛇行周期に
沿ったウォブル２値化信号を得るウォブル２値化手段
と、前記ウォブル２値化信号の周期を計測することで現
在の線速度を検出する線速度情報検出手段と、前記線速
度情報検出手段の出力に応じて、記録時に照射するレー
ザ光のパワー値を設定するパワー設定手段と、前記パワ
ー設定手段により設定されたパワー値でレーザが照射さ
れるようにレーザを駆動するレーザ駆動手段とを具備し
てなり、前記パワー設定手段が前記信号読み取り手段に
より読み出したディスク上の記録制御情報に基づいてパ
ワー設定を行う。

【００２５】

【発明の実施の形態】以下、本発明の各実施の形態につ
いて、図面を参照しながら説明する。

【００２６】（第１の実施例）図１〜図７は本発明の第
１の実施例を示す。

【００２７】図１においてディスクモータ１０２は、光
ディスク１０１を所定の回転数で回転させる。ここで光
ディスク１０１は、従来の従来の技術で述べたデータの
書き換えが可能な相変化型光ディスクであるとし、ＺＣ
ＬＶ方式の光ディスクと同様のセクタ構造及びセクタ配
置を備えているとする。また、ディスクモータ１０２
は、同じく従来の技術で説明したＺＣＬＶ方式に基づく
回転制御により、光ディスク１０１を回転させるものと
する。

【００２８】光ヘッド１０３は、図示していないが半導
体レーザ、光学系、光検出器などを内蔵し、半導体レー
ザにより発光されたレーザ光が光学系により集光され、
光ディスク１０１の記録面に光スポットを照射すること
によりデータの記録再生を行う。また記録面からの反射
光は光学系により集光され光検出器で電流に変換され、
さらに増幅器１０４で電圧変換及び増幅され、再生信号
として出力される。

【００２９】サーボ手段１０５は、ディスクモータ１０
２の回転制御、光ヘッド１０３を光ディスク１０１の半
径方向に移動させる移送制御、記録面に光スポットの焦
点を合わせるためのフォーカス制御、トラックの中心に
光スポットをトラッキングさせるためのトラッキング制
御を行う。なお、フォーカス制御及びトラッキング制御
には、増幅器１０４の出力である再生信号のうち、フォ
ーカス誤差信号（光ディスク１０１の記録面からの光ス
ポットのずれを示す電気信号）及びトラッキング誤差信
号（光ディスク１０１の所定のトラックからの光スポッ
トのずれを示す電気信号）を用いる。

【００３０】再生信号処理手段１０６は、再生信号より
光ディスク１０１のヘッダ領域に形成されたピットやデ
ータ記録領域に記録されたデータに相当する信号成分を
取り出し、取り出した信号を２値化し、２値化データと
基準クロックから内蔵のＰＬＬ( Phase Locked Loop：
位相同期ループ）によりリードクロックとリードクロッ
クに同期したリードデータを生成する。またトラッキン
グ誤差信号から、ウォブルの蛇行周期に相当する信号成
分を取り出し、取り出した信号を２値化し、それをウォ
ブル２値化信号として出力する。

【００３１】レーザ駆動手段１０８は、アドレス及びデ
ータの再生時には再生用のパワーで、記録時には記録用
のパワーで、光ヘッド１０３に内蔵される半導体レーザ
が発光するようにレーザ駆動信号を出力する。

【００３２】フォーマットエンコーダ／デコーダ１０７
は、再生信号処理手段１０６より出力されたリードクロ
ックとリードデータにより、光ディスク１０１のヘッダ
領域に記録されたアドレス情報を再生し、再生されたア
ドレス位置を基準として光ディスク１０１のセクタに同
期したタイミングで記録再生に必要となる各タイミング
信号を発生供給する役割を有する。例えば、再生信号処
理手段１０６へアドレスまたはデータの２値化・ＰＬＬ
処理に必要なリードゲート等のタイミング信号を出力し
たり、レーザ駆動手段１０８へは記録時に、記録用のパ
ワーの発光を許可するライトゲート等の信号を出力する
ことにより、正しいタイミングでデータの記録再生を行
うことができる。

【００３３】また、フォーマットエンコーダ／デコーダ
１０７は、記録時にはホストインターフェース１０９を
通じて外部装置から供給されるユーザデータに誤り訂正
符号等の冗長データを付加し、所定のフォーマットに従
い変調したビット系列を、さらに内蔵の記録パルス発生
手段１１１で所定の記録パルス信号に加工し、レーザ駆
動手段１０８へ出力する。また再生時には、再生信号処
理手段１０６より出力されたリードクロックとリードデ
ータより、光ディスク１０１のヘッダ領域に記録された
アドレス情報を再生し、データ記録領域に記録されたデ
ータの復調・誤り訂正を行い、訂正後のデータをホスト
インターフェース１０９を通じて外部装置へ送信する。

【００３４】また、フォーマットエンコーダ／デコーダ
１０７には、線速度情報検出手段１１２と線速度変化率
情報算出手段３１０（図１に図示せず）が内蔵されてい
る。線速度情報検出手段１１２は、再生信号処理手段１
０６の出力もしくはその他の情報を用いて、現在の線速
度、即ち光スポットと光スポットがトラッキングされて
いるトラックとの相対速度を実時間で検出する。また、
線速度変化率情報算出手段３１０は、線速度情報検出手
段１１２が検出した線速度から、その変化率を算出す
る。線速度検出手段及び線速度変化率算出手段３１０の
動作については図４に基づいて後述する。

【００３５】システム制御手段１１０は、ホストインタ
ーフェース１０９を通じて外部装置から供給されるコマ
ンド（命令）を解釈して、光ディスク１０１の所定のセ
クタに対して、データの記録再生がなされるように、サ
ーボ手段１０５、再生信号処理手段１０６、フォーマッ
トエンコーダ／デコーダ１０７、レーザ駆動手段１０
８、及びホストインターフェース１０９の動作を制御す
る。

【００３６】図２はレーザ駆動手段１０８の内部構成の
一例を示す。

【００３７】レーザ駆動手段１０８への入力としては、
レーザパワー値を決めるためにパワー設定２０５、記録
パルス発生手段１１１において記録すべきデータに従い
変調された３種類の記録パルス２０６a、２０６ｂ、２
０６ｃがある。記録パルス発生手段１１１による記録パ
ルス２１０a、２１０ｂ、２１０ｃの発生方法について
は後述する。

【００３８】レーザ駆動手段１０８からの出力として
は、光ヘッド１０３に内蔵された半導体レーザ２０１を
発光させるための出力電流２０７がある。レーザ駆動手
段１０８には、電流値制御手段２０４、３つの電流源２
０３ａ、２０３ｂ、２０３ｃ、３つのスイッチ手段２０
２ａ、２０２ｂ、２０２ｃが内蔵されている。電流値制
御手段２０４はシステム制御手段１１０からのパワー設
定２０５を受けて、３つの電流源２０３a、２０３ｂ、
２０３ｃの各出力電流値を制御する。スイッチ手段２０
２ａは記録パルス発生手段１１１より供給される記録パ
ルス２０６ａに応じて、電流源２０３ａの出力電流の半
導体レーザ２０１への供給をオン／オフする。同様に、
スイッチ手段２０２ｂは記録パルス２１０ｂに応じて、
電流源２０３ｃの出力電流の半導体レーザ２０１への供
給をオン／オフする。各スイッチ手段２０２ａ、２０２
ｂ、２０２ｃは光ヘッド１０３に内蔵の半導体レーザ２
０１へ流れる出力電流２０７は、各スイッチ手段２０２
ａ、２０２ｂ、２０２ｃを通して供給される各電流源２
０３ａ、２０３ｂ、２０３ｃの出力電流の合計となる。
このようにして、半導体レーザ２０１に流される電流値
に応じて、レーザ光のパワー、ひいては光ディスクに集
光される光スポットのパワーが制御される。

【００３９】図３（ａ）（ｂ）は、記録パルス発生手段
１１１による記録パルス２０６ａ、２０６ｂ、２０６ｃ
の発生タイミング例、並びに半導体レーザ２０１の発光
波形例、それに伴い光ディスク上に形成される記録マー
クについて、模式的に説明する図である。

【００４０】この実施例では、記録すべきデータに伴い
変調された１，０のビット系列に対し、ビット１のとき
のみ信号の論理を反転させるＮＲＺＩ( Non Return to
ZeroInverted )の形式によりデータの変調を行いＰＷＭ
方式により記録を行うものとする。

【００４１】図３（ａ）において、時間軸は左から右の
方向に流れるとし、変調データ２０８は記録パルス発生
手段１１１への入力で、図では６Ｔマークに相当する波
形を示している。記録クロックは、その周期が１チャネ
ルビットの時間長となるクロックで、フォーマットエン
コーダ／デコーダ１０７におけるデータ変調処理、記録
パルス発生手段１１１における記録パルス発生処理に用
いられる。各記録パルス２０６ａ、２０６ｂ、２０６ｃ
は、変調データ２０８と記録クロックのタイミングに応
じて図に示すようなタイミングで生成される。半導体レ
ーザ２０１の発光波形は、各記録パルス２０６ａ、２０
６ｂ、２０６ｃのタイミングに応じて図に示すような形
状となる。

【００４２】１つのマークを記録するための発光波形
は、複数のパルス部に分割されており、時間的に早い方
から、ファーストパルス部、マルチパルス部、ラストパ
ルス部、クーリングパルス部と呼ぶ。相変化型光ディス
クなど熱により記録膜に変化を与えるような記録方式に
おいては、この例のように時系列な複数のパルス部によ
り１つの記録マークを形成する方法は既に公知である。

【００４３】例えば、マルチパルス部は高いパワーと低
いパワーを断続的に与えることにより長いマークを記録
する場合にマークの形状が涙滴型になるのを防ぐ。ま
た、クーリングパルス部は、次のマークを記録する際の
熱の影響を遮断する役割を果たしている。

【００４４】一方、発光波形の縦方向すなわち振幅はレ
ーザの発光パワーを示しており、そのパワー値は低い順
に、０レベル、バイアスパワー２、バイアスパワー１、
ピークパワーの４種類に分けられる。相変化記録の場
合、バイアスパワー１に相当するパワーを照射すること
により、記録膜の相を結晶化し、ピークパワーに相当す
るパワーを照射することにより、記録膜の相をアモルフ
ァス化する。基本的にアモルファス化した部分を記録マ
ークと呼んでいる。またバイアスパワー２や０レベルの
パワーは記録膜に与える熱を一時的に小さくする。

【００４５】次にこの４種類のパワーと、図２にて説明
したレーザ駆動手段１０８の動作との関係について説明
する。

【００４６】まず０レベルのパワーは図２の例でスイッ
チ手段２０２ａ、２０２ｂ、２０２ｃをすべてオフに、
即ち各記録パルス２０６ａ、２０６ｂ、２０６ｃをすべ
てＬレベルにすることで実現される。バイアスパワー２
はスイッチ手段２０２ａのみオン、２０２ｂ、２０２ｃ
は共にオフに、即ちパルス２０６ａはＨレベル、２０６
ｂ、２０６ｃはＬレベルにすることで実現できる。この
時、電流源２０３ａの出力電流のみ半導体レーザ２０１
へ供給され、振幅Ｐａに相当するパワーで発光する。バ
イアスパワー１はスイッチ手段２０２ａ、２０２ｂと共
にオン、２０２ｃをオフに、即ち記録パルス２０６ａ、
２０６ｂはＨレベル、２０６ｃはＬレベルにすることで
実現できる。この時、電流源２０３ａの出力電流と、電
流源２０３ｂの出力電流の合計が半導体レーザ２０１へ
供給され、振幅Ｐａ＋Ｐｂに相当するパワーで発光す
る。ピークパワーはスイッチ手段２０６ａ、２０６ｂ、
２０６ｃをすべてオンに、即ち記録パルス２０６ａ、２
０６ｂ、２０６ｃをすべてＨレベルにすることにより実
現できる。この時、電流源２０３ａ、２０３ｂ、２０３
ｃの出力電流の合計が半導体レーザ２０１へ供給され、
振幅Ｐａ＋Ｐｂ＋Ｐｃに相当するパワーで発光する。

【００４７】ここで、パワーＰａ、Ｐｂ、Ｐｃはそれぞ
れ電流値制御手段２０５に対して行われるパワー設定２
０５により制御される。例えば、電流値制御手段２０４
は、各パワー振幅Ｐａ、Ｐｂ、Ｐｃに関する設定値を別
々に保持し、パワー設定２０５により設定された値に相
当するパワー振幅となるように各電流源２０３ａ、２０
３ｂ、２０３ｃの電流を独立に制御する。この構成によ
り、各パワー振幅Ｐａ、Ｐｂ、Ｐｃはそれぞれ独立に制
御可能となる。

【００４８】また、ファーストパルス立ち上がり位置Ｓ
ＦＰ、ファーストパルス立下り位置ＥＦＰ、マルチパル
ス幅ＭＰＷ、ラストパルス立ち上がり位置ＳＬＰ、ラス
トパルス立下り位置ＥＬＰ、クーリングパルス立ち上が
り位置ＥＣＰは、各記録パルス２０６ａ、２０６ｂ、２
０６ｃのタイミングにより、それぞれ独立に制御でき
る。

【００４９】図３（ｂ）はファーストパルスの立ち上が
り部分における記録パルス２０６ａを拡大したタイミン
グ図であり、ファーストパルス立ち上がり位置ＳＦＰの
一例を説明するためのものである。図において、中心位
置は記録クロックの立下りに同期したタイミングであ
り、ＳＦＰ＝０にコード化されている。またＳＦＰの設
定は中心位置から前後に所定ステップ数、例えば５００
ピコ秒おきに１０ステップずつ用意されており、それぞ
れの設定値は−１０から＋１０にコード化されている。
従って、記録パルス発生手段１１１に対し、−１０から
＋１０の範囲でＳＦＰの設定値を与えることにより、図
３（ｂ）に示すような立ち上がり位置を、例えば−５ナ
ノ秒から＋５ナノ秒の範囲内で制御することが可能とな
る。

【００５０】図３（ｂ）の例では、ファーストパルス立
ち上がり位置に関して説明したが、変更可能なその他の
設定ＥＦＰ，ＭＰＷ，ＳＬＰ，ＥＬＰ，ＥＣＰに関して
も同様である。例えばファーストパルス立下り位置ＥＦ
Ｐは、ＥＦＰ＝０にコード化された中心位置が記録クロ
ックの立下りに同期して設定され、ＥＦＰ＝０を中心と
する範囲で設定を行うことにより、中心位置に対して前
後に立ち下がり位置を設定することができる。また、マ
ルチパルスの立ち上がり位置は、記録クロックの立ち上
がりに同期した位置に固定とし、マルチパルス幅ＭＰＷ
をマルチパルスの立ち上がり位置から立下り位置までの
幅として規定する。例えばＭＰＷ＝０の場合にマルチパ
ルスのデューティが５０％、即ち図３ａの発光波形で、
ピークパワーの発光時間とバイアス２パワーの発光時間
が１：１になるように設定値を決めると、０を中心とす
る所定の範囲でＭＰＷの設定を行うことにより、デュー
ディ５０％に対して前後に幅を設定することができる。

【００５１】このように記録パルスの位置及びデューテ
ィを変化させることを一般に記録補償と呼び、記録パル
ス位置及びデューティの変化量を記録補償量と呼ぶ。記
録補償により記録マーク間の熱干渉の影響を低減し、記
録密度を高めることが可能になる。

【００５２】以下、本実施例の動作について説明する。
図４は本発明の第１の実施例における記録パルス発生手
段１１１、線速度情報検出手段１１２、線速度変化率算
出手段３１０、及びその周辺の一構成例を示すブロック
図である。図４を用いてウォブル２値化信号の周期から
検出した線速度の変化率を算出し、算出した線速度の変
化率に基づいてレーザパワー値及び記録パルス形状の設
定を行うタイミングにおける線速度を予測し、予測結果
に応じてレーザパルスの高さと時間軸制御の設定を行う
場合の動作について説明する。

【００５３】記録動作時に、符号化手段３０１は光ディ
スクへ記録すべきユーザデータに誤り訂正符号等の冗長
データを付加し、所定のフォーマットに従い変調を行
い、変調データ２０８を記録パルス発生手段１１１に供
給する。記録パルス発生手段１１１は、符号化手段３０
１より供給される変調データ２０８と、パルス形状設定
保持手段３０４により保持されているパルス形状設定３
０７に従い３種類の記録パルス２０６a、２０６ｂ、２
０６ｃを発生し、レーザ駆動手段１０８へ供給する。な
お、記録パルス発生手段１１１による記録パルス２０６
ａ、２０６ｂ、２０６ｃのタイミングは図３（ａ）にて
説明した通りであり、ここでの説明は省略する。

【００５４】レーザ駆動手段１０８は例えば図２で説明
したような内部構成を備えており、各記録２０６ａ、２
０６ｂ、２０６ｃのタイミング、及びパワー設定２０５
に従い、記録時に光ヘッド１０３に内蔵された半導体レ
ーザ２０１が例えば図３（ａ）にて説明したような波形
で発光するように半導体レーザ２０１を駆動する。

【００５５】システム制御手段１１０は線速度情報検出
手段１１２及び線速度変化率算出手段３１０より供給さ
れる情報に応じて、パルス形状設定保持手段３０４に対
してパルス形状設定３０７を、レーザ駆動手段１０８に
対してパワー設定２０５を行う。パワー設定２０５は、
複数種類のレーザパワー値（例えば図２及び図３（ａ）
で説明した振幅Ｐａ、Ｐｂ、Ｐｃ）に関する設定を行う
ものである。パルス形状設定（レーザパルスの時間軸制
御）は、例えば図３（ａ）（ｂ）で説明したファースト
パルス立ち上がり位置ＳＦＰ、ファーストパルス立下り
位置ＥＦＰ，マルチパルス幅ＭＰＷ，ラストパルス立ち
上がり位置ＳＬＰ、ラストパルス立下り位置ＥＬＰ、ク
ーリングパルス立ち上がり位置ＥＣＰ等を設定するもの
である。

【００５６】次に線速度情報検出手段１１２による線速
度検出の動作について説明する。

【００５７】本実施例における線速度情報検出手段１１
２は、ウォブル周期計測手段３０２と線速度情報出力手
段３０３とを備えており、再生信号処理手段１０６から
供給されるウォブル２値化信号３０５及び基準クロック
信号３０６を入力として線速度の検出を行い、線速度情
報２０７をシステム制御手段１１０へ出力する。

【００５８】図５（ａ）（ｂ）は、光ディスクのトラッ
クに形成されたウォブルグルーブからウォブル２値化信
号を生成し、さらに線速度情報２０７を抽出するまでの
信号の流れを説明するためのタイミング図である。

【００５９】図５（ａ）において、差動増幅信号３０９
は図３の増幅器１０４の出力であり、ヘッダ領域９０４
に形成されたピット情報及びウォブルグルーブの蛇行周
期に相当した信号成分が増幅されている。ウォブル２値
化信号３０５は、図４の再生信号処理手段１０６の出力
であり、再生信号処理手段１０６において差動増幅信号
３０４のうち、ウォブルに相当する信号成分のみを分離
し、さらに所定のレベルで２値化したデジタル信号であ
る。

【００６０】ウォブル周期計測手段３０２ではウォブル
２値化信号３０５の１周期の時間を計測用クロック信号
３０６によりカウントし、カウントした値を測定結果と
して線速度情報出力手段３０３へ供給する。図５（ｂ）
は以上の動作の一例を示している。ウォブル２値化信号
３０５の立ち上がりから立下りまでの時間を計測用クロ
ック信号３０６によりカウントしており、ある２周期分
に対して計測結果であるカウント値は２１、２１となっ
ている。ここで基準線速度に対してウォブル１周期が計
測用クロックの２０クロック分になるように計測用クロ
ック信号３０６の周波数を定めておいたとすると、計測
結果は２０／２１＝０．９５２となり、基準線速度に対
して約５％遅いことがわかる。従って、線速度情報出力
手段３０３は線速度情報２０７として−５％という結果
を出力するなど、アドレス期間においては、線速度の検
出は行わない。なぜならば、アドレス期間においてはウ
ォブルグルーブ自体が存在しないため、ウォブル２値化
信号が正しい周期で得られないためである。

【００６１】なお、この実施例において線速度情報検出
手段３０３は、計測結果であるカウント値を線速度のず
れに変換し、そのパーセンテージを線速度情報２０７と
して出力する構成としたが、この構成に限定するもので
はない。例えば計測結果であるカウント値をそのまま線
速度情報２０７として、システム制御手段１１０におい
てソフトウェア的に線速度のずれを計算する構成として
もよい。またこの実施例において、線速度情報検出手段
３０３はカウント値が更新されるウォブル１周期毎に線
速度情報２０７を更新する構成としたが、この構成に限
定するものではない。例えばウォブル数周期のカウント
値の平均をとり、その平均値から線速度情報２０７を得
る構成としてもよい。このような構成とすることによ
り、ディスクの欠陥等によりウォブル２値化信号が正し
く得られない場合でも、平均化処理によりその影響を低
減することができる効果がある。

【００６２】次に、線速度変化率算出手段３１０の動作
について説明する。

【００６３】線速度変化率検出手段３１０は図６に示す
ように、線速度情報検出手段３０３の出力する線速度情
報２０７の時間的な変化量を算出するものである。ここ
で、時刻t ＝０の時点での線速度をＶ0、Ｔａ時間後の
線速度をＶ1とすれば、線速度の変化率ＶｄはＶｄ＝
（Ｖ1−Ｖ0）／Ｔａにより算出できる。

【００６４】図７に線速度変化率算出手段３１０の詳細
な構成図を示す。

【００６５】図７において７０５は線速度情報検出手段
３０３の出力する線速度情報２０７をある一定時間毎に
サンプリングするためのタイミング信号を生成するタイ
ミング信号生成部、７００及び７０１はタイミング信号
生成部７０５の出力するタイミング信号により線速度情
報２０７を保持するシフトレジスタ、７０２はシフトレ
ジスタ７００と７０１の出力結果から線速度変化率を演
算する演算部である。

【００６６】タイミング信号生成部７０５は周期Ｔａで
シフトレジスタ７００及び７０１に対するシフトクロッ
クを生成する。シフトレジスタ７００及び７０１はシフ
トクロックに従って、線速度情報検出手段の出力する線
速度情報２０７をＴａ時間毎にシフトしていく。従って
シフトレジスタ７００には現時点での線速度Ｖn+1が、
シフトレジスタ７０１にはＴａ時間前の線速度Ｖnが保
持される。ここでＶｎはＴａ時間毎にサンプリングした
線速度情報であり、ｎ＝０、１、２…である。これらの
シフトレジスタ７００及び７０１の保持情報を演算部に
より（Ｖn+1−Ｖn）／Ｔａの演算を行うことにより線速
度変化率Ｖｄを算出することができる。

【００６７】なお、線速度変化率算出手段３１０をハー
ドウェアによる構成で説明したが、例えばシステム制御
手段１１０によりソフトウェア的に演算する構成として
もよい。

【００６８】さて、一般に、相変化など熱により記録膜
に変化を与えることによりデータの記録を行う光ディス
クでは、線速度が大きいほど高いパワーを必要とする傾
向がある。なぜなら、線速度が大きいと同じパワーで記
録を行っても、単位距離当たりに加わるパワー、即ちパ
ワー密度が低くなるためである。パワー密度が足りない
と記録膜の温度上昇が足りず、正しいマークを形成でき
なかったり、オーバライトする際に元のマークが消しき
れなくなり、再生ジッターが増えデータの品質が劣化す
る可能性がある。

【００６９】上記のような問題を防ぐため、上述したよ
うに抽出された線速度情報２０７を用いて、システム制
御手段１１０はパワー設定２０５を行う。

【００７０】パワー設定２０５は、線速度が速いほど半
導体レーザ２０１のレーザパワーが高くなるように行わ
れる。図３（ａ）にて説明したように、３種類のパワー
Ｐａ、Ｐｂ、Ｐｃを設定する場合の一例を述べる。ま
ず、前述の線速度情報検出手段１１２及び線速度変化率
算出手段３１０の出力から、平均化処理を含む線速度検
出処理及びシステム制御手段１１０におけるパワー設定
処理に要する時間を考慮し、パワー設定時点における線
速度の予測を行う。即ち、線速度変化率算出手段３１０
により算出された線速度変化率Ｖｄを用いると、平均化
を含む線速度検出における処理と後述するパワー設定に
要する時間をＴとした場合、時点Ｔにおける線速度Ｖｐ
はＶｐ＝Ｖｄ×Ｔから算出することができる。なお、こ
の実施例において線速度の予測を線形近似により求める
構成としたが、数点の線速度情報をサンプリングし、そ
の結果から高次関数による近似計算により線速度の予測
を行う構成としてもよい。上述のようにして得られた線
速度の予測値Ｖｐ、規定線速度におけるパワー設定値を
Ｐa0、Ｐb0、Ｐc0とした場合に、パワー設定値ＰａはＰa ＝Ｐa0 ＋ α × Ｖp パワー設定値Ｐbは、Ｐb ＝Ｐb0 ＋ β × Ｖp パワー設定値Ｐbは、Ｐc ＝Ｐc0 ＋ γ × Ｖp となるように、パワー設定２０５を行う。ここでα、
β、γは予め定めた定数であり、記録膜の特性から実験
的に定める値である。これにより、記録パワーを基準線
速度と現在の線速度のずれに対して線形な値にすること
ができる。

【００７１】以上述べたように、線速度検出に要する時
間（線速度の平均化処理を含む）及びパワー設定に要す
る時間を考慮して、現在の線速度変化率からパワー設定
時点での線速度を予測し、それに応じたパワー設定を行
うことにより、常に線速度が変化している状態において
も、最適な記録パワーに設定できることができるため、
記録に対する線速度マージンを向上することができる。

【００７２】また、図３（ａ）（ｂ）に述べたように記
録補償量を記録クロックに対する絶対時間で規定してい
るような場合、線速度が変化しても同じ記録補償量を用
いて記録を行うと、記録クロックの周期に対して補償量
の割合が変化してしまうため、パルス形状がいびつにな
ってしまう。これを防ぐため、パルス形状設定手段３０
７は線速度が速いほどパルス幅を短くし、線速度が変化
しても相対的なパルス位置が変化しないように行われ
る。図３（ａ）（ｂ）にて説明したように、ファースト
パルス立ち上がり位置ＳＦＰ、ファーストパルス立下り
位置ＥＦＰ、マルチパルス幅ＭＰＷ、ラストパルス立ち
上がり位置ＳＬＰ、ラストパルス立下り位置ＥＬＰ，ク
ーリングパルス立ち上がり位置ＥＣＰを設定する場合の
一例を述べる。パワー設定の場合と同様に、前述の線速
度情報検出手段１１２及び線速度変化率算出手段３１０
の出力から、平均化処理を含む線速度検出処理及びシス
テム制御手段１１０におけるパルス形状設定に要する時
間を考慮し、パルス形状設定時点における線速度の予測
を行う。即ち、線速度変化率算出手段３１０により算出
された線速度変化率Ｖｄを用いると、平均化を含む線速
度検出における処理とパルス形状設定に要する時間をＴ
とした場合、時点Ｔにおける線速度ＶｐはＶｐ＝Ｖｄ×
Ｔから算出することができる。なお、この実施例におい
て線速度の予測を線形近似により求める構成としたが、
数点の線速度情報をサンプリングし、その結果から高次
関数による近似計算により線速度の予測を行う構成とし
てもよい。以上のように線速度の予測値をＶｐ、基準線
速度における予め定めた形状設定値をＳＦＰ０、ＥＦＰ
０、ＭＰＷ０、ＳＬＰ０、ＥＬＰ０、ＥＣＰ０とした場
合、ファーストパルス立ち上がり位置ＳＦＰは、ＳＦＰ＝ＳＦＰ０＋ θ1 × Ｖｐファーストパルス立下り位置ＥＦＰは、ＥＦＰ＝ＥＦＰ０ − θ2 × Ｖｐマルチパルス幅ＭＰＷは、ＭＰＷ＝ＭＰＷ０ − θ3 × Ｖｐラストパルス立ち上がり位置ＳＬＰは、ＳＬＰ＝ＳＬＰ０＋ θ4 × Ｖｐラストパルス立下り位置ＥＬＰは、ＥＬＰ＝ＥＬＰ０ − θ5 × Ｖｐクーリングパルス立ち上がり位置ＥＣＰは、ＥＣＰ＝ＥＣＰ０ − θ6 × Ｖｐとなるように、パルス形状設定３０７を行う。ここでθ
1、θ2、θ3、θ4、θ5、θ6は予め定めた係数であり、
記録膜の特性等から実験的に定める値である。これによ
り記録パルスの形状を基準線速度と現在の線速度のずれ
量に対して線形な形状にすることができる。

【００７３】以上述べたように、線速度検出に要する時
間（線速度の平均化処理を含む）及びパルス形状設定に
要する時間を考慮して、現在の線速度変化率からパルス
形状設定時点での線速度を予測し、それに応じたパルス
形状設定を行うことにより、常に線速度が変化している
状態においても、最適なパルス形状に設定できることが
できるため、記録に対する線速度マージンを向上するこ
とができる。

【００７４】なお、上述のレーザパルスの高さと時間軸
制御において線速度の予測値Ｖｐを連続値として表して
いるが、計測自体がクロック数をカウントするといった
方式により行われているので、実際には離散値となる。
また各数式の左辺に相当するレーザパルスの高さと時間
軸制御自体も分解能に限界があるため、離散的な値とな
る方が実際的である。

【００７５】また、設定に要する装置の処理負荷を軽減
するため、線速度を所定数の範囲に分解し、所定の範囲
内では設定値を更新しないようにして、設定を行う頻度
を減少させてもよい。

【００７６】次にシステム制御手段１１０は、パワー設
定２０５及びパルス形状設定３０７をどのようなタイミ
ングで行うべきであるかを述べる。設定値が変更された
場合に、記録パワーの不連続、または記録パルス形状の
不連続が発生する。この不連続が記録データに対して影
響を及ぼさないようにする必要がある。特に、記録パル
スの形状に極端な不連続があると、設定変更直前の記録
マークと設定変更後の記録マークとの間にも不連続が発
生してしまい、再生時にデータエラーを発生してしまう
可能性があるため、設定値変更のタイミングには細心の
注意が必要である。以上述べたことを考慮すると、パワ
ー設定２０５またはパルス形状設定３０７をデータの記
録を行わない期間に行うことが望ましい。

【００７７】書き換え可能な光ディスクのデータフォー
マットは、アドレス領域とデータ領域に分かれた構造に
なっている。また、データ記録領域の最初から最後まで
隙間なくデータの記録を行うのではなく、アドレス領域
の前後にはギャップ領域と呼ばれるデータの記録を行わ
ない領域が存在し、記録装置がデータの記録を行うため
の準備期間、もしくは線速度変化があった場合にも次の
セクタのアドレス領域を書きつぶしてしまわないための
マージン期間として使用される。記録装置において、セ
クタ毎に記録を行う期間と行わない期間を確実に分離す
るため、例えばフォーマッタエンコーダ／デコーダ１０
７がセクタに同期した記録ゲート信号（例えば記録を行
う期間はＨレベル）を生成し、記録動作に関連した各構
成要素に供給する方法が一般的に行われる。

【００７８】従って、システム制御手段１１０は記録ゲ
ート信号をフォーマッタエンコーダ／デコーダ１０７か
ら受け取り、パワー設定２０５もしくはパルス形状設定
３０７を記録ゲート信号がＬレベル（記録を行わない期
間）であるときのみ行う構成としてもよい。

【００７９】（第２の実施例）図８は本発明の第２の実
施例を示す。

【００８０】なお、本図において第１の実施例で説明し
た構成要素と同一の符号を付与したものは同等の機能を
有するブロックであり、その具体的説明は省略する。

【００８１】この実施例における線速度情報検出手段１
１２は、ＦＧ信号出力手段から出力されるディスクモー
タＦＧ信号１５０３の周期を計測するＦＧ周期計測手段
１５０１と、線速度情報出力手段１５０２から構成され
る。ＦＧ周期計測手段１５０１は基準クロック信号１５
０４を用いてディスクモータＦＧ信号１５０３のＮ周期
（Ｎは自然数）分の信号を計測する。ディスクモータＦ
Ｇ信号１５０３は、図示していないが光ディスクを回転
させるモータに内蔵されている周波数発生器（一般にＦ
Ｇ＝Frequency Generator と呼ぶ）より出力され、モー
タが一回転する間に所定周期分のパルス信号としてでて
くる。ＣＡＶ方式の場合、光ディスクを一定角速度で回
転させるため、ディスクモータのＦＧ信号を用いてモー
タの回転制御を行うことは一般的に行われている。また
ＣＡＶ方式、ＺＣＡＶ方式以外の回転制御を行っている
装置であっても、ディスクモータＦＧ信号の周期を計測
することでディスクの回転数が実時間で算出できる。例
えば、ディスクモータＦＧ信号１５０３のＮ周期分の長
さ（即ち光ディスクが１回転する時間）を基準クロック
１５０４を用いて計測したところ、約３０ミリ秒であっ
たとすると、ディスク回転数は１／０．０３＝２０００
ｒｐｍと算出される。このようにして検出したディスク
の回転数を用いれば、現在の線速度を検出することが可
能である。即ちモータの規定回転数をＲ0、ＦＧにより
検出したモータの回転数をＲとすれば、規定回転数に対
する回転数のずれ、即ち線速度のずれはＲ／Ｒ0から算
出することができる。この実施例において、線速度情報
出力手段１５０２は計測結果であるディスクモータＦＧ
信号１５０３の周期を線速度のずれに変換し、そのパー
センテージを線速度情報２０７として出力する構成とし
ているが、この構成に限定するものではない。例えば、
周期計測結果を線速度情報をして出力し、システム制御
手段１１０においてソフトウェア的に線速度のずれを算
出してもよい。

【００８２】以上のように、ディスクモータのＦＧパル
ス周期より現在のディスク回転数を計測し、検出した回
転数から規定線速度に対する現在の線速度のずれを算出
することが可能になる。

【００８３】このようにして検出された線速度情報２０
７は線速度変化率算出手段３１０へ供給され線速度の変
化率が算出される。システム制御手段１１０により線速
度の変化率からパワー設定２０５及びパルス形状設定２
０７のタイミングにおける線速度を予測し、予測値を基
に最適なパワー設定及びパルス形状設定を行う。線速度
変化率情報算出手段、パワー設定２０５及びパルス形状
設定３０７の動作については第１の実施例と同一である
ので詳しい説明は省略する。

【００８４】以上述べたように、ＦＧ周期を基に線速度
の変化率を算出し、線速度検出に要する時間（線速度の
平均化処理を含む）及びパワー設定、パルス形状設定に
要する時間を考慮して、現在の線速度変化率からパワー
設定、パルス形状設定時点での線速度を予測し、それに
応じたパワー設定、パルス形状設定を行うことにより、
常に線速度が変化している状態においても、最適な記録
パワー、パルス形状に設定できることができるため、記
録に対する線速度マージンを向上することができる。

【００８５】（第３の実施例）図９〜図１１は本発明の
第３の実施例を示す。

【００８６】なお、本図において第１の実施例で説明し
た構成要素と同一の符号を付与したものは同等の機能を
有するブロックであり、その具体的説明は省略する。

【００８７】この実施例におけるシステム制御手段１１
０は線速度情報検出手段１１２の出力する線速度情報２
０７を基にパワー設定及びパルス形状の設定を行う。線
速度情報検出手段は本発明の第１実施例の線速度情報検
出手段と同一の構成であり、ディスクの再生信号から抽
出したウォブル２値化信号の周期をカウントすることに
より線速度情報を検出する。

【００８８】ディスク偏心検出手段３１１は、モータが
規定回転数にある状態において、線速度情報検出手段の
出力する線速度情報をディスク１回転分監視し、規定線
速度に対する線速度のずれ（パーセンテージ）の最大値
からディスクの偏心を検出する。なお、この実施例にお
いては偏心をウォブル２値化信号より検出する構成とし
たが、トラッキングエラー信号より検出する構成として
もよい。

【００８９】図１０に示すように、システム制御手段１
１０は線速度情報検出手段１１２の出力する線速度情報
２０７を複数の線速度領域に分割し、線速度が同一の領
域内にある場合はパワー設定及びパルス形状設定を行わ
ないものとする。このような構成とすることにより、シ
ステム制御手段１１０の処理負荷を低減することができ
る。

【００９０】しかしながら、図１０に示すように検出し
た線速度が前述の線速度領域１と領域２の境界付近に存
在する場合、偏心あるいは線速度検出におけるメディア
欠陥等の影響による線速度誤差によって、検出した線速
度が領域１と領域２の間を頻繁に遷移する可能性があ
る。このような状態が発生した場合、システム制御手段
は領域１と領域２の線速度範囲の変化に対応して頻繁に
パワー設定及びパルス形状設定を行わなければならず、
システム制御手段の処理負荷が増大し、ホスト転送処理
等システム制御手段の他の処理が遅延したりする影響を
与える可能性がある。

【００９１】上述したような問題を避けるために、線速
度範囲の遷移においてヒステリシス特性を設ける。すな
わち、例えば図１１に示すように、線速度領域１と線速
度領域２の境界値をＶbとした場合に、線速度情報検出
手段１１２により検出した線速度がＶ1からＶ2へ変化し
境界値Ｖｂを超えた場合に線速度領域１から線速度領域
２へ遷移する。逆に線速度領域２から線速度領域１への
遷移に対しては線速度がＶｂ＋Ｖｈを超えた場合に領域
の切り換えを行うようにする。ここでＶｈはヒステリシ
ス量であり、前述した偏心量に相当する値に設定され
る。なお、ヒステリシス量は規定の線速度に対してずれ
が大きくなる方向に対する線速度範囲の変化に対して設
けるものとする。これは、通常の記録及び再生におい
て、線速度は規定線速度に整定する方向に制御されるた
めである。

【００９２】このようにするとメディア欠陥等の影響に
よる微小な線速度変動（線速度Ｖ２から線速度Ｖ１への
変化）をマスクすることができ、前述したような頻繁な
線速度範囲の切り換えが発生せず、システム制御手段１
１０のパワー設定及びパルス形状設定に要する処理負荷
を低減することができる。

【００９３】上述のように、検出された線速度範囲に応
じてシステム制御手段はパワー設定及びパルス形状設定
を行う。パワー設定及びパルス形状設定を行うが、パワ
ー設定２０５及びパルス形状設定３０７の動作について
は第１の実施例と同一であるので詳しい説明は省略す
る。

【００９４】（第４の実施例）図１２は本発明の第４の
実施例を示す。

【００９５】なお、本図において第１の実施例で説明し
た構成要素と同一の符号を付与したものは同等の機能を
有するブロックであり、その具体的説明は省略する。

【００９６】この実施例における線速度情報検出手段１
１２は、ディスクモータＦＧ信号１５０３の周期を計測
するＦＧ周期計測手段１５０１と、線速度情報出力手段
１５０２から構成される。本実施例の線速度情報検出手
段３０３は第2の実施例と同様であるので、詳細な説明
は省略する。

【００９７】この実施例におけるシステム制御手段１１
０は、線速度情報検出手段１１２の出力する線速度を複
数の線速度範囲に分割し、線速度が同一の範囲内にある
場合はパワー設定及びパルス形状設定を行わないものと
るする。ここで、線速度範囲の遷移においてヒステリシ
ス特性を設ける。すなわち、第３の実施例と同様に、線
速度領域１と線速度領域２の境界値をＶbとした場合
に、線速度情報検出手段により検出した線速度がＶ1か
らＶ2へ変化し境界値Ｖｂを超えた場合に線速度領域１
から線速度領域２へ遷移する。逆に線速度領域２から線
速度領域１への遷移に対しては線速度がＶｂ＋Ｖｈを超
えた場合に領域の切り換えを行うようにする。ここでＶ
ｈはヒステリシス量であり、前述した偏心量に相当する
値に設定される。なお、ヒステリシス量は規定の線速度
に対してずれが大きくなる方向に対する線速度範囲の変
化に対して設けるものとする。これは、通常の記録及び
再生において、線速度は規定線速度に整定する方向に制
御されるためである。

【００９８】このようにするとメディア欠陥等の影響に
よる微小な線速度変動（線速度Ｖ２から線速度Ｖ１への
変化）をマスクすることができ、前述したような頻繁な
線速度範囲の切り換えが発生せず、システム制御手段１
１０のパワー設定及びパルス形状設定に要する処理負荷
を低減することができる。

【００９９】（第５の実施例）図１３と図１４は本発明
の第５の実施例における光ディスク記録方法を示す。

【０１００】以下、本実施例の動作について本図を用い
て説明する。本実施例において、記録を行うにあたって
まずディスク状態の良否判定を行う。この判定結果に従
って、ディスクの状態が良い場合は、記録時にディスク
モータが規定回転数に満たない状態で記録を行うことに
より記録（検索動作を含む）に要する時間を短縮する。
この場合、前述の第１の実施例等で説明したように、デ
ィスクの線速度に応じた記録パワーや、パルス形状の設
定を行う。以下、このディスクモータの回転数に適応し
て記録を行う動作をジッタフリー記録と呼ぶ。しかしな
がら、ディスク媒体の線速度依存性のバラツキよって
は、ジッタフリー記録によって、ディスクモータの回転
数に適応してパワー設定やパルス形状設定を行った場合
にディスク上に記録された信号品質が劣化してしまうと
いう問題が発生する場合がある。このような状態のディ
スクに対してはジッタフリー記録を行わず、規定線速度
における記録を行うことが望ましい。

【０１０１】以上説明したように、本実施例ではジッタ
フリー記録動作を行うかどうかの判定をディスク状態の
良否により決定する。ディスク状態の良否判定は次のよ
うに行う。ディスク状態の良否判定は例えばディスクの
ベリファイ動作により行う。すなわち検査対象のディス
クのデータ部に記録されているデータを復調、エラー検
出を行い、そのエラー検出数に応じてディスクの状態を
判定する。例えばデータのデータフォーマットが図１4
に示すようなディスクについて説明する。図１4のデー
タフォーマットにはリードソロモン積符号によるエラー
訂正用の冗長コードが付加されている。図１4中のＤは
ホストパソコン側から送られたユーザデータを示してお
り、ＰＩは横方向に付加されたエラー訂正用の冗長コー
ドである。横方向のそれぞれのラインについて、ユーザ
データ１７２バイトに対して１０バイトの冗長コードが
付加されており、横方向１ライン当たり、最大５バイト
の訂正能力がある。ＰＯは縦方向に付加されたエラー訂
正用のコードを示している。縦方向のそれぞれのライン
について、ユーザデータ１９２バイトに対して１６バイ
トの冗長コードが付加されており、縦方向１ライン当た
り最大８バイトの訂正能力がある。ベリファイ動作にお
いては、例えば、セクタフォーマット横方向（ＰＩ方
向）のそれぞれのラインについて訂正を行い、訂正が行
えなかったライン、すなわち訂正能力を超えた誤りバイ
ト数が発生したラインを計測する。この結果が例えばＮ
／２０８以上になった場合にベリファイ失敗とし、ディ
スクの状態が悪いと判定する。なおＮは０以上、２０８
以下の自然数であり、実験的に算出される値である。

【０１０２】以上説明したようなディスク状態判定の結
果に対して、ディスクの状態が良い場合には、記録に当
たってディスクモータが規定回転数に達する前に記録動
作を開始する。ディスクの状態が悪い場合には、ディス
クモータが規定回転数に整定するのを待ってから記録を
開始する。

【０１０３】上述のようにディスクの状態に応じてジッ
タフリー記録の動作を制御することにより、ディスク媒
体の線速度依存性のバラツキによらず常に信頼性の高い
記録を行うことができる。

【０１０４】なお、本実施例においてディスク状態の判
定をベリファイ動作により行ったが、これをディスクに
記録されたデータのジッタを検出する方法にしてもよ
い。

【０１０５】すなわち、ジッタフリー記録を行うに当た
って、まずディスクのデータ部に記録されたデータのジ
ッタを測定し、そのジッタ測定結果が実験的に求めたク
ライテリアを満たすかどうかでディスク状態の判定を行
っても良い。

【０１０６】また、本実施例においてディスク状態の判
定をベリファイ動作により行ったが、これをディスク上
に記録されたデータのビットエラーレートから判定して
もよい。即ち、あらかじめビットエラーレート計測用の
データを記録し、計測用のデータと、記録したデータの
再生結果を比較する。例えば記録データＭバイト中に比
較した結果誤りがＮバイト発生した場合には、エラーレ
ートはＮ／Ｍとなる。このエラーレートを予め実験的に
求めたクライテリアと比較し、ディスク状態の良否判定
を行う。

【０１０７】また、ディスクの状態の判定をディスク上
のアドレス部の読み取り状態によって行っても良い。一
般的な記録装置においては、記録時の各ゲート信号のタ
イミングをアドレス部の情報により生成している。従っ
て、アドレス部が読めない場合には、記録用のゲート信
号とディスクとの同期が完全には取れず、誤った位置に
ゲート信号を出力する可能性がある。特にディスクモー
タが規定回転数に整定する前に記録を行うジッタフリー
記録動作の場合にその影響が大きい。従ってジッタフリ
ー記録を行うに当たって、まずディスクアドレス部の読
み取り状態を判定し、正しくアドレスが読めていれば、
ジッタフリー記録動作を行い、アドレスが読めていなけ
れば、ディスクモータが規定回転数に整定するのを待っ
てから記録動作を行う処理とすれば、上述したようなゲ
ート位置ずれの問題は発生しない。

【０１０８】（第６の実施例）図１５と図１６は本発明
の第６の実施例を示す。

【０１０９】なお、本図において第１の実施例で説明し
た構成要素と同一の符号を付与したものは同等の機能を
有するブロックであり、その具体的説明は省略する。こ
の実施例のフォーマットエンコード／デコード部１０７
には、ディスクの状態を検出するメディア状態検出手段
３２０が内蔵されている。以下、メディア状態検出手段
３２０の動作について説明する。メディア状態検出手段
３２０には、図１６に示すように、再生信号処理手段１
０６の出力するリードデータをリードクロックを元に復
調する復調部３２１、復調部３２１の出力する復調デー
タを保存するメモリ部３２２、メモリ部３２２に保存さ
れたデータに対してエラー検出を行うエラー検出３２３
から成る。メモリ部３２２およびエラー検出部３２３は
ディスクのデータフォーマットが第５の実施例で説明し
たような構成であるとすると、メモリ部３２２をデータ
フォーマットの横１ライン分１８２バイトを容量にもつ
ラインメモリとし、エラー訂正部はラインメモリに貯え
られた１ライン分の復調データ（ユーザデータ＋エラー
訂正用の冗長コード）に対してエラー検出を行う。エラ
ー検出部３２３は一般的なリードソロモン復号器で使用
されているシンドローム生成部３３０、ユークリッド演
算部３３１、チェンサーチ演算部３３２、及びエラー検
出の結果を保持するエラーカウンタ３３３とで構成され
ている。エラー検出はまず、ラインメモリに貯えられた
データに対してシンドローム多項式を演算し、シンドロ
ーム多項式の結果が０でなければユークリッド演算処理
を行い、誤り位置多項式と誤り数値多項式を算出する。
さらにチェンサーチにより誤り位置多項式の根を求め、
ラインメモリ上のどの位置にいくつ誤りが生じているか
を算出する。またユークリッド演算あるいはチェンサー
チ演算の過程において、多項式が算出できない場合には
訂正能力以上の誤りが発生していると判断する。エラー
検出部は復調データの各ラインに対して上述したような
エラー検出の処理を行い、誤り訂正ができない場合、あ
るいは予め実験的に定められた１ライン当たりのエラー
個数以上になった場合に、エラーカウンタをカウントア
ップする。

【０１１０】次に、システム制御手段は上記エラー訂正
手段の出力するエラー数カウンタの結果が所定のクライ
テリアを超えた場合にディスクの状態が悪いと判定す
る。

【０１１１】この場合、線速度情報検出手段１１２の出
力する線速度情報２０７が規定回転数に相当する値に整
定するのを待ってから、レーザ駆動手段及びフォーマッ
タエンコーダ／デコーダを制御し記録動作を開始する。
またディスクの状態が良いと判定した場合には、第１の
実施例において説明したように、線速度情報検出手段の
出力する線速度情報に応じたパワー設定およびパルス形
状設定を行い、ディスクの線速度に応じた記録動作を行
う。

【０１１２】なお、本実施例においてディスク状態の判
定を復調データに対してエラー訂正動作を行いその結果
から判定するベリファイ動作により行ったが、これをデ
ィスクに記録されたデータのジッタを検出する方法にし
てもよい。すなわち、ディスク状態検出部を再生信号処
理部の出力するリードデータのジッタを検出する構成と
し、ジッタフリー記録を行うに当たって、まずディスク
のデータ部に記録されたデータのジッタを測定し、その
ジッタ測定結果が実験的に求めたクライテリアを満たす
かどうかでディスク状態の判定を行っても良い。また、
本実施例においてディスク状態の判定をエラー訂正動作
を行った結果から判定するベリファイ動作により行った
が、これをディスク上に記録されたデータのビットエラ
ーレートから判定してもよい。即ち、あらかじめビット
エラーレート計測用のデータを記録し、記録したデータ
と、再生信号処理部およびフォーマッタエンコーダ／デ
コーダにより復調した結果を比較する。例えば記録デー
タＭバイト中に比較した結果誤りがＮバイト発生した場
合には、エラーレートはＮ／Ｍとなる。このエラーレー
トを予め実験的に求めたクライテリアと比較し、ディス
ク状態の良否判定を行う。また、ディスクの状態の判定
をディスク上のアドレス部の読み取り状態によって行っ
ても良い。即ち、再生信号処理部の出力するリードデー
タおよびリードクロックからディスクのアドレス部に相
当する部分を抽出・復調し、復調結果に対してアドレス
が正しく読めているかどうかを判定する構成としてもよ
い。

【０１１３】（第７の実施例）図１７は本発明の第７の
実施例を示す。

【０１１４】なお、本図において第２の実施例で説明し
た構成要素と同一の符号を付与したものは同等の機能を
有するブロックであり、その具体的説明は省略する。

【０１１５】この実施例における線速度情報検出手段１
１２は、ディスクモータＦＧ信号１５０３の周期を計測
するＦＧ周期計測手段１５０１と、線速度情報出力手段
１５０２から構成される。ＦＧ周期計測手段１５０１は
基準クロック信号１５０４を用いてディスクモータＦＧ
信号１５０３のＮ周期（Ｎは自然数）分の信号を計測す
る。ディスクモータＦＧ信号１５０３は、図示していな
いが光ディスクを回転させるモータに内蔵されている周
波数発生器（一般にＦＧ＝Frequency Generator と呼
ぶ）より出力され、モータが一回転する間に所定周期分
のパルス信号としてでてくる。このディスクモータＦＧ
信号の周期を計測することでディスクの回転数が実時間
で算出できる。この実施例のフォーマットエンコード／
デコード部１０７には、ディスクの状態を検出するディ
スク状態検出手段が内蔵されている。ディスク状態検出
手段３２０は第６の実施例と同様に再生信号処理手段の
出力するリードデータをリードクロックを元に復調し、
その結果に対してエラー訂正処理を行い、エラー訂正を
行った結果のエラー数をシステム制御手段に供給する。

【０１１６】システム制御手段１１０はメディア状態検
出手段３２０の出力するエラー数カウンタの結果が所定
のクライテリアを超えた場合にディスクの状態が悪いと
判定する。

【０１１７】この場合、線速度情報検出手段１１２の出
力する線速度情報が規定回転数に相当する値に整定する
のを待ってから、レーザ駆動手段及びフォーマッタエン
コーダ／デコーダを制御し記録動作を開始する。またデ
ィスクの状態が良いと判定した場合には、第１の実施例
において説明したように、線速度情報検出手段１１２の
出力する線速度情報に応じたパワー設定およびパルス形
状設定を行い、ディスクの線速度に応じた記録動作を行
う。

【０１１８】なお、本実施例においてディスク状態の判
定を復調データに対してエラー訂正動作を行いその結果
から判定するベリファイ動作により行ったが、これをデ
ィスクに記録されたデータのジッタを検出する方法にし
てもよい。すなわち、ディスク状態検出部を再生信号処
理部の出力するリードデータのジッタを検出する構成と
し、ジッタフリー記録を行うに当たって、まずディスク
のデータ部に記録されたデータのジッタを測定し、その
ジッタ測定結果が実験的に求めたクライテリアを満たす
かどうかでディスク状態の判定を行っても良い。また、
本実施例においてディスク状態の判定をエラー訂正動作
を行った結果から判定するベリファイ動作により行った
が、これをディスク上に記録されたデータのビットエラ
ーレートから判定してもよい。即ち、あらかじめビット
エラーレート計測用のデータを記録し、記録したデータ
と、再生信号処理部およびフォーマッタエンコーダ／デ
コーダにより復調した結果を比較する。例えば記録デー
タＭバイト中に比較した結果誤りがＮバイト発生した場
合には、エラーレートはＮ／Ｍとなる。このエラーレー
トを予め実験的に求めたクライテリアと比較し、ディス
ク状態の良否判定を行う。また、ディスクの状態の判定
をディスク上のアドレス部の読み取り状態によって行っ
ても良い。即ち、再生信号処理部の出力するリードデー
タおよびリードクロックからディスクのアドレス部に相
当する部分を抽出・復調し、復調結果に対してアドレス
が正しく読めているかどうかを判定する構成としてもよ
い。

【０１１９】（第８の実施例）図１８に本発明の第８の
実施例に係る動作を説明するフローチャートを示す。

【０１２０】本発明においては、予めディスク上記記録
された線速度の許容範囲を元に、ディスクの線速度の応
じたパワー設定やパルス形状の設定を行う。

【０１２１】一般に、ディスク媒体の線速度依存性によ
り所定の信号品質を満足するための記録時の許容線速度
範囲が決定される。しかしながら、ディスク媒体の線速
度依存性はディスクのメーカやディスクのロットにより
ばらつく可能性がある。従って、各ディスクに対して一
律に同じ許容線速度範囲、例えば規定の線速度に対して
＋５％の線速度における記録を行うと、あるディスクに
対しては信号品質が劣化してしまう可能性がある。この
ようなディスクに依存する線速度のバラツキを補正する
ために、あらかじめディスクの線速度依存性に応じた許
容線速度をディスク上に記録しておき、記録時にこの情
報を参照することにより、ディスクの特性バラツキに依
存しないジッタフリー記録を行うことができる。

【０１２２】本実施例においては、まずディスク上に記
録された線速度許容範囲情報を読み出し、記録時に検出
された線速度情報がこの許容範囲に入るのをまってから
記録動作を行う。

【０１２３】なお、本発明においてディスク上に予め記
録されるジッタフリー記録の制御情報を記録時の許容線
速度範囲としたが、これをディスクのメーカおよびロッ
ト番号などのディスク識別情報としてもよい。この場
合、ディスクの識別番号に応じた線速度の許容範囲を予
めテーブルとして持っておき、読み出した識別番号に応
じたテーブルの内容を使用しジッタフリー記録を行う。

【０１２４】（第９の実施例）図１９は本発明の第９の
実施例を示す。

【０１２５】なお、本図において第１の実施例で説明し
た構成要素と同一の符号を付与したものは同等の機能を
有するブロックであり、その具体的説明は省略する。

【０１２６】本実施例においては、まずディスク上に記
録された線速度許容範囲情報を読み出し、記録時に検出
された線速度情報がこの許容範囲に入るのをまってから
記録動作を行う。

【０１２７】本実施例の線速度情報検出手段は、第１の
実施例と同様に、光ディスクに形成されたウォブルグル
ーブを再生信号処理手段１０６により再生・２値化した
ウォブル２値化信号の周期をカウントすることにより線
速度の検出を行う。

【０１２８】本実施例のシステム制御手段はディスク上
に予め記録された許容線速度情報を読み出すため、まず
サーボ手段（図示せず）を制御し光ヘッド１０３を許容
線速度情報が記録された位置に移送する。その後、フォ
ーマッタエンコーダ／デコーダ手段１０７を制御し、光
ディスクに記録された許容線速度情報を読み出す。

【０１２９】記録動作を行う場合において、システム制
御手段は先に読み出しておいた許容線速度範囲を参照
し、フォーマッタエンコーダ／デコーダの出力する線速
度情報が許容線速度範囲に入るのを待ち、その後パワー
設定及びパルス形状設定を行い、線速度に応じた記録動
作を行う。

【０１３０】（第１０の実施例）図２０は本発明の第１
０の実施例を示す。

【０１３１】この実施例における線速度情報検出手段１
１２は、第２の実施例と同様にディスクモータＦＧ信号
周期を計測するすることにより線速度の検出を行う。

【０１３２】本実施例のシステム制御手段１１０はディ
スク上に予め記録された許容線速度情報を読み出すた
め、まずサーボ手段（図示せず）を制御し光ヘッド１０
３を許容線速度情報が記録された位置に移送する。その
後、フォーマッタエンコーダ／デコーダ手段１０７を制
御し、光ディスクに記録された許容線速度情報を読み出
す。

【０１３３】記録動作を行う場合において、システム制
御手段は先に読み出しておいた許容線速度範囲を参照
し、線速度検出手段１１２の出力する線速度情報が許容
線速度範囲に入るのを待ち、その後レーザパルスの高さ
と時間軸制御を制御して記録するを行い、線速度に応じ
た記録動作を行う。

【０１３４】上記の各実施例においては、光ディスクの
記録状態に応じてレーザパルスの高さと時間軸制御を制
御して記録したが、レーザパルスの高さと時間軸制御の
少なくとも一方を制御して記録することによっても適正
な記録を実現できる。

【０１３５】

【発明の効果】以上のように本発明によれば、ディスク
に形成されたウォブルグルーブを再生・２値化したウォ
ブル２値化信号の周期あるいはモータのＦＧ信号の周期
からディスクの線速度を検出し、さらに検出した線速度
から線速度の変化率を算出し、線速度検出に要する時間
（線速度の平均化処理を含む）及びパワー設定に要する
時間を考慮して、現在の線速度変化率からパワー設定時
点での線速度を予測し、それに応じたパワー設定を行う
ことにより、常に線速度が変化している状態において
も、最適な記録パワーに設定できることができるため、
記録に対する線速度マージンを向上することができる。

【０１３６】また、ディスクに形成されたウォブルグル
ーブを再生・２値化したウォブル２値化信号の周期ある
いはモータのＦＧ信号周期からディスクの線速度を検出
し、検出した線速度を複数の線速度範囲に分割し、同一
の線速度範囲内においてはレーザパルスの高さと時間軸
制御を行わない。さらに線速度範囲の切換制御において
ヒステリシス特性を設けることにより、このようにする
とメディア欠陥等の影響による微小な線速度変動をマス
クすることができ、頻繁な線速度範囲の切り換えが発生
せずパワー設定及びパルス形状設定に要する処理負荷を
低減することができる。

【０１３７】また、ディスクの状態を検出し、ディスク
の状態に応じてディスクモータの回転数に適応したジッ
タフリー記録動作を制御することにより、ディスクの状
態に応じた高い信頼性の記録動作が可能になる。

【０１３８】また、あらかじめディスクの線速度依存性
に応じた許容線速度をディスク上に記録しておき、記録
時にこの情報を参照することにより、ディスクの特性バ
ラツキに依存しないジッタフリー記録を行うことができ
る。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明に係る光ディスク装置の構成図

【図２】本発明に係るレーザ駆動手段１０８の内部構成
の一例を示すブロック図

【図３】本発明に係る記録パルスの形状、半導体レーザ
２０１の発光波形及び形成される記録マークの一例を説
明するための模式図

【図４】本発明の第１の実施例に係る光ディスク装置の
構成図

【図５】本発明の第１の実施例における線速度情報検出
動作を説明するためのタイミング図

【図６】本発明の第１の実施例における線速度変化率算
出の動作を説明するための模式図

【図７】本発明の第１の実施例における線速度変化率算
出手段３１０の内部構成の一例を示すブロック図

【図８】本発明の第２の実施例における光ディスク装置
の構成図

【図９】本発明の第３の実施例における光ディスク装置
の構成図

【図１０】本発明の第３の実施例における線速度領域検
出の動作を説明するための模式図

【図１１】本発明の第３の実施例における線速度領域検
出のヒステリシスの動作を説明するための模式図

【図１２】本発明の第４の実施例における光ディスク装
置の構成図

【図１３】本発明の第５の実施例における光ディスク記
録方法の動作を示すフローチャート

【図１４】本発明の第５の実施例におけるセクタのデー
タフォーマットを示す模式図

【図１５】本発明の第６の実施例における光ディスク装
置の構成図

【図１６】本発明の第６の実施例におけるメディア状態
検出手段３２０の内部構成の一例を示すブロック図

【図１７】本発明の第７の実施例における光ディスク装
置の構成図

【図１８】本発明の第８の実施例における光ディスク記
録方法を示すフローチャート図

【図１９】本発明の第９の実施例における光ディスク装
置の構成図

【図２０】本発明の第１０の実施例における光ディスク
装置の構成図

【図２１】従来の光ディスク装置の構成図

【図２２】従来のレーザーパルスの制御の説明図

【符号の説明】

１０１光ディスク１０２ディスクモータ（回転手段）１０３光ヘッド（信号読み取り手段）１０４増幅器１０５サーボ手段１０６再生信号処理手段（ウォブル２値化手段）１０７フォーマットエンコーダ／デコーダ手段１０８レーザ駆動手段１０９ホストインターフェース１１０システム制御手段（パワー設定手段）１１１記録パルス発生手段１１２線速度情報検出手段３０１符号化手段３０２ウォブル周期計測手段３０３線速度情報出力手段３０４パルス形状設定保持手段３１０線速度変化率算出手段３２０メディア状態検出手段７００，７０１シフトレジスタ７０２演算部７０５タイミング信号生成手段１５０１ＦＧ周期計測手段１５０２線速度情報出力手段

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者東海林衛大阪府門真市大字門真1006番地松下電器産業株式会社内Ｆターム(参考） 5D090 AA01 BB03 BB04 CC01 DD03 GG09 GG26 HH01 KK03 LL01 5D119 AA23 BA01 DA01 FA05 HA27 HA45 KA02

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】円盤に螺旋状もしくは同心円上の所定の周
期で蛇行した溝部がトラックとして形成された光ディス
クに対し、記録すべきデータに従い変調された少なくと
も２種類のパワーのレーザ光を照射することにより記録
を行う光ディスク記録装置であって、前記光ディスクから信号を読み取る信号読み取り手段
と、前記信号読み取り手段により読み取られた再生信号を２
値化し前記溝部の蛇行周期に沿ったウォブル２値化信号
を得るウォブル２値化手段と、前記ウォブル２値化信号の周期を計測することで現在の
線速度を検出する線速度情報検出手段と、前記線速度情報検出手段の出力から線速度の変化率を算
出する線速度変化率情報算出手段と、前記線速度情報検出手段と前記線速度変化率情報算出手
段の出力に応じて記録時に照射するレーザ光のパワー値
を設定するパワー設定手段と、前記パワー設定手段により設定されたパワー値でレーザ
が照射されるようにレーザを駆動するレーザ駆動手段と
を具備した光ディスク記録装置。
【請求項２】光ディスクに記録すべきデータに従い変調
された少なくとも２種類のパワーのレーザ光を照射する
ことにより記録を行う光ディスク装置であって、前記光ディスクを回転させる回転手段と、前記光ディスクの回転周波数に応じた周期のＦＧ信号を
出力するＦＧ信号出力手段と、前記ＦＧ信号出力手段の出力から現在の線速度を検出す
る線速度情報検出手段と、前記線速度情報検出手段の出力から線速度の変化率を算
出する線速度変化率情報算出手段と、前記線速度情報検出手段と前記線速度変化率情報算出手
段の出力に応じて記録時に照射するレーザ光のパワー値
を設定するパワー設定手段と、前記パワー設定手段により設定されたパワー値でレーザ
が照射されるようにレーザを駆動するレーザ駆動手段と
を具備した光ディスク記録装置。
【請求項３】パワー設定手段は、線速度変化率情報算出
手段の出力する線速度変化率から次にパワー設定を行う
タイミングにおける線速を予測してパワー設定を行うこ
とを特徴とする請求項１または請求項２記載の光ディス
ク記録装置。
【請求項４】円盤に螺旋状もしくは同心円上の所定の周
期で蛇行した溝部がトラックとして形成された光ディス
クに対し、記録すべきデータに従い変調された少なくと
も２種類のパワーのレーザ光を照射することにより記録
を行う光ディスク記録装置であって、前記光ディスクから信号を読み取る信号読み取り手段
と、前記信号読み取り手段により読み取られた再生信号を２
値化し前記溝部の蛇行周期に沿ったウォブル２値化信号
を得るウォブル２値化手段と、前記ウォブル２値化信号の周期を計測することで現在の
線速度を検出する線速度情報検出手段と、前記線速度情報検出手段の出力に応じて記録時に照射す
るレーザ光のパワー値を設定するパワー設定手段と、前記パワー設定手段により設定されたパワー値でレーザ
が照射されるようにレーザを駆動するレーザ駆動手段と
を具備してなり、前記パワー設定手段が、線速度を複数
の線速度範囲に分割し、前記線速度情報検出手段の出力
する線速度情報に応じて線速度範囲を切り換え、選択し
た範囲の代表値からパワー設定を行うことを特徴とする
光ディスク記録装置。
【請求項５】パワー設定手段は、線速度情報検出手段の
出力する線速度情報から光ディスクの偏心を検出し、検
出した偏心情報から線速度範囲の切り換えにおけるヒス
テリシス特性を決定することを特徴とする請求項４記載
の光ディスク記録装置。
【請求項６】光ディスクに記録すべきデータに従い変調
された少なくとも２種類のパワーのレーザ光を照射する
ことにより記録を行う光ディスク装置であって、前記光ディスクを回転させる回転手段と、前記光ディスクの回転周波数に応じた周期のＦＧ信号を
出力するＦＧ信号出力手段と、前記ＦＧ信号出力手段の出力から現在の線速度を検出す
る線速度情報検出手段と、前記線速度情報検出手段の出力に応じて記録時に照射す
るレーザ光のパワー値を設定するパワー設定手段と、前記パワー設定手段により設定されたパワー値でレーザ
が照射されるようにレーザを駆動するレーザ駆動手段と
を具備してなり、前記パワー設定手段が線速度を複数の
線速度範囲に分割し前記線速度情報検出手段の出力する
線速度情報に応じて線速度範囲を切り換え、選択した範
囲の代表値からパワー設定を行うことを特徴とする光デ
ィスク記録装置。
【請求項７】パワー設定手段は、線速度範囲の切り換え
においてヒステリシス特性を有するように制御すること
を特徴とする請求項６記載の光ディスク記録装置。
【請求項８】パワー設定手段は、光ディスクのトラッキ
ングエラー信号から光ディスクの偏心を検出し、検出し
た偏心情報から線速度範囲の切り換えにおけるヒステリ
シス特性を決定することを特徴とする請求項６記載の光
ディスク記録装置。
【請求項９】光ディスクの線速度と光ディスク媒体の記
録状態に応じて、レーザパルスの高さと時間軸制御の少
なくとも一方を制御して記録する光ディスク記録方法。
【請求項１０】光ディスク媒体の記録状態が悪い場合
に、線速度が規定値になってから記録を開始することを
特徴とする請求項９記載の光ディスク記録方法。
【請求項１１】光ディスク媒体の記録状態を光ディスク
の再生信号のジッタから検出することを特徴とする請求
項９記載の光ディスク記録方法。
【請求項１２】光ディスク媒体の記録状態を光ディスク
のビットエラーレートから検出することを特徴とする請
求項９記載の光ディスク記録方法。
【請求項１３】光ディスク媒体の記録状態を光ディスク
の物理アドレスの読み取り状態から検出することを特徴
とする請求項９記載の光ディスク記録方法。
【請求項１４】円盤に螺旋状もしくは同心円上の所定の
周期で蛇行した溝部がトラックとして形成された光ディ
スクに対し、記録すべきデータに従い変調された少なく
とも２種類のパワーのレーザ光を照射することにより記
録を行う光ディスク記録装置であって、前記光ディスクから信号を読み取る信号読み取り手段
と、前記信号読み取り手段により読み取られた再生信号を２
値化し前記溝部の蛇行周期に沿ったウォブル２値化信号
を得るウォブル２値化手段と、前記ウォブル２値化信号の周期を計測することで現在の
線速度を検出する線速度情報検出手段と、前記信号読み取り手段の出力から光ディスク媒体の記録
状態を検出するメディア状態検出手段と、前記線速度情報検出手段とメディア状態検出手段の出力
に応じて記録時に照射するレーザ光のパワー値を設定す
るパワー設定手段と、前記パワー設定手段により設定されたパワー値でレーザ
が照射されるようにレーザを駆動するレーザ駆動手段と
を具備した光ディスク記録装置。
【請求項１５】光ディスクに記録すべきデータに従い変
調された少なくとも２種類のパワーのレーザ光を照射す
ることにより記録を行う光ディスク装置であって、前記光ディスクを回転させる回転手段と、前記光ディスクの回転周波数に応じた周期のＦＧ信号を
出力するＦＧ信号出力手段と、前記ＦＧ信号出力手段の出力から現在の線速度を検出す
る線速度情報検出手段と、前記信号読み取り手段の出力から光ディスク媒体の記録
状態を検出するメディア状態検出手段と、前記線速度情報検出手段とメディア状態検出手段の出力
に応じて記録時に照射するレーザ光のパワー値を設定す
るパワー設定手段と、前記パワー設定手段により設定されたパワー値でレーザ
が照射されるようにレーザを駆動するレーザ駆動手段と
を具備した光ディスク記録装置。
【請求項１６】メディア状態検出手段が、信号読み取り
手段の出力から検出したジッタにより媒体の記録状態を
検出することを特徴とする請求項１４または請求項１５
記載の光ディスク記録装置。
【請求項１７】メディア状態検出手段が、信号読み取り
手段の出力から検出したビットエラーレートにより媒体
の記録状態を検出することを特徴とする請求項１４また
は請求項１５記載の光ディスク記録装置。
【請求項１８】光ディスクに記録された記録制御情報に
基づき、光ディスクの線速度に応じたレーザパルスの高
さと時間軸制御の少なくとも一方を制御して記録する光
ディスク記録方法。
【請求項１９】光ディスクに記録された記録制御情報
が、光ディスクの線速度に応じてレーザパルスの制御を
行う場合の線速度の許容範囲を示すことを特徴とする請
求項１８記載の光ディスク記録方法。
【請求項２０】光ディスクに記録された記録制御情報
が、光ディスクの種別を識別する情報であることを特徴
とする請求項１８記載の光ディスク記録方法。
【請求項２１】円盤に螺旋状もしくは同心円上の所定の
周期で蛇行した溝部がトラックとして形成された光ディ
スクに対し、記録すべきデータに従い変調された少なく
とも２種類のパワーのレーザ光を照射することにより記
録を行う光ディスク記録装置であって、前記光ディスクから信号を読み取る信号読み取り手段
と、前記信号読み取り手段により読み取られた再生信号を２
値化し前記溝部の蛇行周期に沿ったウォブル２値化信号
を得るウォブル２値化手段と、前記ウォブル２値化信号の周期を計測することで現在の
線速度を検出する線速度情報検出手段と、前記線速度情報検出手段の出力に応じて記録時に照射す
るレーザ光のパワー値を設定するパワー設定手段と、前記パワー設定手段により設定されたパワー値でレーザ
が照射されるようにレーザを駆動するレーザ駆動手段と
を具備してなり、前記パワー設定手段が前記信号読み取
り手段により読み出した光ディスク上の記録制御情報に
基づいてパワー設定を行うことを特徴とする光ディスク
記録装置。
【請求項２２】光ディスクに記録すべきデータに従い変
調された少なくとも２種類のパワーのレーザ光を照射す
ることにより記録を行う光ディスク装置であって、前記光ディスクを回転させる回転手段と、前記光ディスクの回転周波数に応じた周期のＦＧ信号を
出力するＦＧ信号出力手段と、前記ＦＧ信号出力手段の出力から現在の線速度を検出す
る線速度情報検出手段と、前記線速度情報検出手段とメディア状態検出手段の出力
に応じて記録時に照射するレーザ光のパワー値を設定す
るパワー設定手段と、前記パワー設定手段により設定されたパワー値でレーザ
が照射されるようにレーザを駆動するレーザ駆動手段と
を具備してなり、前記パワー設定手段が前記線速度情報
検出手段の出力する線速度情報が許容線速度範囲に入っ
たことを検出してパワー設定を行って線速度に応じた記
録動作を行うことを特徴とする光ディスク記録装置。