JP2002203957A - トランジスタ - Google Patents
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- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/15—Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
- H01L2924/181—Encapsulation
Abstract
(57)【要約】
【課題】 電極配線や外部リードとの接続部における抵
抗を減らし、低い動作電圧で大電流が得られるトランジ
スタを提供する。 【解決手段】 平面形状で長方形の半導体基板にトラン
ジスタ構成単位のセルが多数配置され、表面側に、エミ
ッタに接続されるエミッタ電極1とベースに接続される
ベース電極2とが形成されると共に、エミッタ電極1お
よびベース電極2の電極パッド1a、2aが、長方形状
の相対向する長辺側にそれぞれ設けられ、半導体チップ
10の裏面側にコレクタと接続されるコレクタ電極3が
設けられることにより半導体チップ10が形成されてい
る。この半導体チップ10が第3のリード6先端部の長
方形状アイランド6a上にボンディングされ、第1およ
び第2のリード4、5がエミッタ電極パッド1aおよび
ベース電極パッド2aに直接接続されている。
抗を減らし、低い動作電圧で大電流が得られるトランジ
スタを提供する。 【解決手段】 平面形状で長方形の半導体基板にトラン
ジスタ構成単位のセルが多数配置され、表面側に、エミ
ッタに接続されるエミッタ電極1とベースに接続される
ベース電極2とが形成されると共に、エミッタ電極1お
よびベース電極2の電極パッド1a、2aが、長方形状
の相対向する長辺側にそれぞれ設けられ、半導体チップ
10の裏面側にコレクタと接続されるコレクタ電極3が
設けられることにより半導体チップ10が形成されてい
る。この半導体チップ10が第3のリード6先端部の長
方形状アイランド6a上にボンディングされ、第1およ
び第2のリード4、5がエミッタ電極パッド1aおよび
ベース電極パッド2aに直接接続されている。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、バイポーラトラン
ジスタ、MOSトランジスタ、IGBTなどのトランジ
スタに関する。さらに詳しくは、半導体チップに形成さ
れる配線やリードの直列抵抗をできるだけ小さくし、低
い電圧で大電流が得られるトランジスタに関する。
ジスタ、MOSトランジスタ、IGBTなどのトランジ
スタに関する。さらに詳しくは、半導体チップに形成さ
れる配線やリードの直列抵抗をできるだけ小さくし、低
い電圧で大電流が得られるトランジスタに関する。
【0002】
【従来の技術】バイポーラトランジスタは、エミッタの
面積およびその周囲長によりコレクタ電流が定まるた
め、大電流化のためには、できるだけエミッタ領域をベ
ース領域中に分散して形成することが好ましい。そのた
め、ストライプエミッタ構造、マルチエミッタ構造、マ
ルチベース構造などのトランジスタ構成単位のセルが多
数個分散して形成され、それぞれのセルに接続されるよ
うにエミッタ電極1およびベース電極2が形成され、図
3(a)および(b)にパッケージを除去した状態の斜
視説明図が示されるように、それぞれの電極1、2をク
シ歯状に形成し、それぞれが噛み合うように形成され
る。
面積およびその周囲長によりコレクタ電流が定まるた
め、大電流化のためには、できるだけエミッタ領域をベ
ース領域中に分散して形成することが好ましい。そのた
め、ストライプエミッタ構造、マルチエミッタ構造、マ
ルチベース構造などのトランジスタ構成単位のセルが多
数個分散して形成され、それぞれのセルに接続されるよ
うにエミッタ電極1およびベース電極2が形成され、図
3(a)および(b)にパッケージを除去した状態の斜
視説明図が示されるように、それぞれの電極1、2をク
シ歯状に形成し、それぞれが噛み合うように形成され
る。
【0003】また、MOSトランジスタにおいても、大
電流用としては、縦型MOSFETや2重拡散MOSF
ETが知られており、いずれもセル領域となるボディ領
域がマトリクス状に形成され、その各ボディ領域内に形
成されるソース領域と接続されるようにソース電極が形
成され、ソース電極パッドとゲート電極パッドとが半導
体チップ表面に形成される。なお、MOSFETの場
合、各セルのゲート電極およびそれらを接続するゲート
配線は、ポリシリコンで形成され、Alなどの金属膜か
らなるソース配線とは異なる層で形成されるが、ゲート
フィンガーとして部分的に金属配線で接続される場合も
ある。
電流用としては、縦型MOSFETや2重拡散MOSF
ETが知られており、いずれもセル領域となるボディ領
域がマトリクス状に形成され、その各ボディ領域内に形
成されるソース領域と接続されるようにソース電極が形
成され、ソース電極パッドとゲート電極パッドとが半導
体チップ表面に形成される。なお、MOSFETの場
合、各セルのゲート電極およびそれらを接続するゲート
配線は、ポリシリコンで形成され、Alなどの金属膜か
らなるソース配線とは異なる層で形成されるが、ゲート
フィンガーとして部分的に金属配線で接続される場合も
ある。
【0004】この種の半導体チップにおいて、電流特性
を大きくするには、パッケージ内に搭載する最大の面積
にする必要がある。また、そのパッケージは、たとえば
SC−59(商品名)のように、そのモールド部が長方
形状であるため、半導体チップも平面形状が長方形状に
形成される。そして、図3(a)に示されるように、エ
ミッタ電極1およびベース電極2は、クシ歯が長方形の
短辺に沿って延びるように形成され、それぞれの電極パ
ッド1a、2aは長辺側のほぼ中央部に形成される。そ
して、長方形状のダイパッド6a上に半導体チップ10
がダイボンディングされることにより、半導体チップ1
0の裏面に形成されるコレクタ電極3が第3のリード6
と電気的に接続される。そして、エミッタ電極パッド1
aと第1のリード4、ベース電極パッド2aと第2のリ
ード5との間が金線などのワイヤ7により接続され、そ
の周囲が一点鎖線で示されるモールド樹脂8により被覆
されている。
を大きくするには、パッケージ内に搭載する最大の面積
にする必要がある。また、そのパッケージは、たとえば
SC−59(商品名)のように、そのモールド部が長方
形状であるため、半導体チップも平面形状が長方形状に
形成される。そして、図3(a)に示されるように、エ
ミッタ電極1およびベース電極2は、クシ歯が長方形の
短辺に沿って延びるように形成され、それぞれの電極パ
ッド1a、2aは長辺側のほぼ中央部に形成される。そ
して、長方形状のダイパッド6a上に半導体チップ10
がダイボンディングされることにより、半導体チップ1
0の裏面に形成されるコレクタ電極3が第3のリード6
と電気的に接続される。そして、エミッタ電極パッド1
aと第1のリード4、ベース電極パッド2aと第2のリ
ード5との間が金線などのワイヤ7により接続され、そ
の周囲が一点鎖線で示されるモールド樹脂8により被覆
されている。
【0005】この構造では、半導体チップの中央部の電
極パッドと両端部に設けられるリードとの間がワイヤに
より接続されているため、ワイヤの長さL1が長くな
り、その抵抗成分が影響して、コレクタ・エミッタ間電
圧が高くなるという問題がある。
極パッドと両端部に設けられるリードとの間がワイヤに
より接続されているため、ワイヤの長さL1が長くな
り、その抵抗成分が影響して、コレクタ・エミッタ間電
圧が高くなるという問題がある。
【0006】一方、図3(b)に示されるように、半導
体チップ10上の電極パターンを、長方形状の半導体チ
ップ10の長辺方向にクシ歯が延びるように形成する
と、それぞれの電極パッド1a、2bが第1および第2
のリード4、5の近くになり、短いワイヤ7で接続する
ことができる。しかし、このような構造にすると、半導
体チップ上の配線パターンの長さL2が長くなり、金属
膜配線といえども薄い膜で、大電流になるとその抵抗を
無視することができなくなる。また、MOSFETでゲ
ート電極をポリシリコン膜で接続する場合には、電極パ
ッドから遠い位置にあるセルへの信号伝達速度が遅くな
るという問題がある。
体チップ10上の電極パターンを、長方形状の半導体チ
ップ10の長辺方向にクシ歯が延びるように形成する
と、それぞれの電極パッド1a、2bが第1および第2
のリード4、5の近くになり、短いワイヤ7で接続する
ことができる。しかし、このような構造にすると、半導
体チップ上の配線パターンの長さL2が長くなり、金属
膜配線といえども薄い膜で、大電流になるとその抵抗を
無視することができなくなる。また、MOSFETでゲ
ート電極をポリシリコン膜で接続する場合には、電極パ
ッドから遠い位置にあるセルへの信号伝達速度が遅くな
るという問題がある。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】前述のように、半導体
チップ内にトランジスタを構成するセルが多数個形成さ
れ、それぞれのセルに接続するように電極配線が形成さ
れる大電流用トランジスタでは、その電極パッドの位置
や外部リードとの接続のためのワイヤによる抵抗がトラ
ンジスタの特性に大きく影響し、低い動作電圧で充分な
大電流が得られなくなるという問題がある。
チップ内にトランジスタを構成するセルが多数個形成さ
れ、それぞれのセルに接続するように電極配線が形成さ
れる大電流用トランジスタでは、その電極パッドの位置
や外部リードとの接続のためのワイヤによる抵抗がトラ
ンジスタの特性に大きく影響し、低い動作電圧で充分な
大電流が得られなくなるという問題がある。
【0008】また、半導体チップ上の電極配線による抵
抗を下げるため、配線を2層にすることにより、配線面
積を増やすことができ、その抵抗を下げることができる
が、2層配線にすると、半導体チップの製造工程が増
え、製造コストが上昇するという問題がある。
抗を下げるため、配線を2層にすることにより、配線面
積を増やすことができ、その抵抗を下げることができる
が、2層配線にすると、半導体チップの製造工程が増
え、製造コストが上昇するという問題がある。
【0009】本発明は、このような問題を解決するため
になされたもので、電極配線や外部リードとの接続部に
おける抵抗を減らし、低い動作電圧で大電流が得られる
トランジスタを提供することを目的とする。
になされたもので、電極配線や外部リードとの接続部に
おける抵抗を減らし、低い動作電圧で大電流が得られる
トランジスタを提供することを目的とする。
【0010】
【課題を解決するための手段】本発明によるトランジス
タは、平面形状が長方形の半導体基板にトランジスタ構
成単位のセルが多数配置され、表面側に、エミッタもし
くはソースに接続される第1の電極とベースもしくはゲ
ートに接続される第2の電極とが形成されると共に、第
1および第2の電極の電極パッドが、前記長方形状の相
対向する長辺側にそれぞれ設けられ、前記半導体チップ
の裏面側にコレクタもしくはドレインと接続される第3
の電極が形成される半導体チップと、前記半導体チップ
がダイボンディングされる長方形状のアイランドを有
し、該アイランドの長辺側から該長辺に直角方向に導出
される第3のリードと、前記第1および第2の電極の電
極パッドに直接接続される第1および第2のリードと、
前記半導体チップの周囲を被覆する樹脂パッケージとか
らなっている。ここにトランジスタ構成単位のセルに
は、ストライプ状のものも含む意味である。
タは、平面形状が長方形の半導体基板にトランジスタ構
成単位のセルが多数配置され、表面側に、エミッタもし
くはソースに接続される第1の電極とベースもしくはゲ
ートに接続される第2の電極とが形成されると共に、第
1および第2の電極の電極パッドが、前記長方形状の相
対向する長辺側にそれぞれ設けられ、前記半導体チップ
の裏面側にコレクタもしくはドレインと接続される第3
の電極が形成される半導体チップと、前記半導体チップ
がダイボンディングされる長方形状のアイランドを有
し、該アイランドの長辺側から該長辺に直角方向に導出
される第3のリードと、前記第1および第2の電極の電
極パッドに直接接続される第1および第2のリードと、
前記半導体チップの周囲を被覆する樹脂パッケージとか
らなっている。ここにトランジスタ構成単位のセルに
は、ストライプ状のものも含む意味である。
【0011】この構造にすることによって、半導体チッ
プに形成される電極配線は、長方形状の短辺に沿って延
びる短い配線であり、半導体チップの端の方にあるセル
でも、それほど抵抗値が増大することがなく、また、電
極パッドが半導体チップの中央部にあり、第1および第
2のリードとの距離は比較的離れているが、ワイヤを介
さないで、第1および第2のリードが直接電極パッドに
接続されているため、第1および第2のリードは充分に
太くて抵抗も小さく、全然駆動電圧の増大を来さない。
プに形成される電極配線は、長方形状の短辺に沿って延
びる短い配線であり、半導体チップの端の方にあるセル
でも、それほど抵抗値が増大することがなく、また、電
極パッドが半導体チップの中央部にあり、第1および第
2のリードとの距離は比較的離れているが、ワイヤを介
さないで、第1および第2のリードが直接電極パッドに
接続されているため、第1および第2のリードは充分に
太くて抵抗も小さく、全然駆動電圧の増大を来さない。
【0012】前記第1および第2のリードが、前記長方
形状アイランドの端部側で、前記第3のリードと平行方
向に、該第3のリードと反対側から前記半導体チップの
方向に延びると共に、その先端部が前記半導体チップの
中心側に曲げられたL字形状をなし、該L字形状に折り
曲げられた前記第1および第2のリードの先端部が、相
互に平行で、かつ、それぞれ前記第1および第2の電極
の電極パッド上にくるように、前記第1および第2のリ
ードが形成されることにより、特性により半導体チップ
の大きなものや小さなものを数種類のシリーズとして製
品化する場合でも、長方形状の短辺方向の長さを一定に
し、長辺方向の長さを変えて半導体チップを作製すれ
ば、リードフレームは同じもので、半導体チップを代え
るだけで、同様の製造工程で組み立てることができる。
形状アイランドの端部側で、前記第3のリードと平行方
向に、該第3のリードと反対側から前記半導体チップの
方向に延びると共に、その先端部が前記半導体チップの
中心側に曲げられたL字形状をなし、該L字形状に折り
曲げられた前記第1および第2のリードの先端部が、相
互に平行で、かつ、それぞれ前記第1および第2の電極
の電極パッド上にくるように、前記第1および第2のリ
ードが形成されることにより、特性により半導体チップ
の大きなものや小さなものを数種類のシリーズとして製
品化する場合でも、長方形状の短辺方向の長さを一定に
し、長辺方向の長さを変えて半導体チップを作製すれ
ば、リードフレームは同じもので、半導体チップを代え
るだけで、同様の製造工程で組み立てることができる。
【0013】前記第1および第2の電極が、バイポーラ
トランジスタのエミッタおよびベースにそれぞれ接続さ
れるエミッタ電極およびベース電極であり、該エミッタ
電極およびベース電極がそれぞれクシ歯型で、クシ歯が
噛み合うように金属膜により形成される構造であれば、
とくに効果的である。
トランジスタのエミッタおよびベースにそれぞれ接続さ
れるエミッタ電極およびベース電極であり、該エミッタ
電極およびベース電極がそれぞれクシ歯型で、クシ歯が
噛み合うように金属膜により形成される構造であれば、
とくに効果的である。
【0014】
【発明の実施の形態】つぎに、本発明によるトランジス
タについて、図面を参照しながら説明をする。本発明に
よるトランジスタは、その一実施形態のパッケージを除
去した状態の平面説明図およびパッケージをつけた状態
の断面説明図が図1に示されるように、半導体チップ1
0が、平面形状で長方形の半導体基板にトランジスタ構
成単位のセルが多数配置され、表面側に、エミッタもし
くはソースに接続される第1の電極(エミッタ電極1)
とベースもしくはゲートに接続される第2の電極(ベー
ス電極2)とが形成されると共に、エミッタ電極1およ
びベース電極2の電極パッド1a、2aが、長方形状の
相対向する長辺側にそれぞれ設けられ、半導体チップ1
0の裏面側にコレクタもしくはドレインと接続される第
3の電極(コレクタ電極3)が設けられることにより形
成されている。
タについて、図面を参照しながら説明をする。本発明に
よるトランジスタは、その一実施形態のパッケージを除
去した状態の平面説明図およびパッケージをつけた状態
の断面説明図が図1に示されるように、半導体チップ1
0が、平面形状で長方形の半導体基板にトランジスタ構
成単位のセルが多数配置され、表面側に、エミッタもし
くはソースに接続される第1の電極(エミッタ電極1)
とベースもしくはゲートに接続される第2の電極(ベー
ス電極2)とが形成されると共に、エミッタ電極1およ
びベース電極2の電極パッド1a、2aが、長方形状の
相対向する長辺側にそれぞれ設けられ、半導体チップ1
0の裏面側にコレクタもしくはドレインと接続される第
3の電極(コレクタ電極3)が設けられることにより形
成されている。
【0015】また、リード側は、半導体チップ10がダ
イボンディングされる長方形状のアイランド6aを有
し、そのアイランド6aの長辺側から長辺に直角方向に
第3のリード6が導出されている。そして、第1および
第2のリード4、5がエミッタ電極パッド1aおよびベ
ース電極パッド2aに直接接続されている。この半導体
チップ10の周囲が樹脂パッケージ8により被覆されて
いる。
イボンディングされる長方形状のアイランド6aを有
し、そのアイランド6aの長辺側から長辺に直角方向に
第3のリード6が導出されている。そして、第1および
第2のリード4、5がエミッタ電極パッド1aおよびベ
ース電極パッド2aに直接接続されている。この半導体
チップ10の周囲が樹脂パッケージ8により被覆されて
いる。
【0016】半導体チップ10は、たとえば図2に示さ
れるように、たとえばn+形半導体基板11上にエピタ
キシャル成長されたn形半導体層12の表面側から、ボ
ロンなどのp形不純物が拡散されてp形ベース領域13
が形成され、そのベース領域13内にストライプ状にn
形エミッタ領域14が一定間隙で形成されることによ
り、ストライプエミッタ構造のトランジスタが形成され
ている。そして、この表面に設けられる図示しない絶縁
膜のコンタクト孔を介して、このストライプ方向に延び
るエミッタ領域14およびその間のベース領域13のそ
れぞれにコンタクトさせて前述のエミッタ電極1および
ベース電極2(図1参照)がそれぞれクシ歯状に、か
つ、クシ歯が噛み合うように形成される。そして、半導
体基板11の裏面にコレクタ電極3が全面に形成され
る。この半導体チップ10は、前述のように平面形状が
長方形に形成され、たとえばコレクタ電流が6A程度の
増幅用バイポーラトランジスタで、縦×横が0.8mm
×2mm程度に形成される。
れるように、たとえばn+形半導体基板11上にエピタ
キシャル成長されたn形半導体層12の表面側から、ボ
ロンなどのp形不純物が拡散されてp形ベース領域13
が形成され、そのベース領域13内にストライプ状にn
形エミッタ領域14が一定間隙で形成されることによ
り、ストライプエミッタ構造のトランジスタが形成され
ている。そして、この表面に設けられる図示しない絶縁
膜のコンタクト孔を介して、このストライプ方向に延び
るエミッタ領域14およびその間のベース領域13のそ
れぞれにコンタクトさせて前述のエミッタ電極1および
ベース電極2(図1参照)がそれぞれクシ歯状に、か
つ、クシ歯が噛み合うように形成される。そして、半導
体基板11の裏面にコレクタ電極3が全面に形成され
る。この半導体チップ10は、前述のように平面形状が
長方形に形成され、たとえばコレクタ電流が6A程度の
増幅用バイポーラトランジスタで、縦×横が0.8mm
×2mm程度に形成される。
【0017】このストライプ状エミッタ領域14が、前
述のように平面形状が長方形の半導体基板の短辺に沿っ
た方向に延び、長辺方向に何本も並んで形成されること
により、図1(a)に示されるように、エミッタ電極1
およびベース電極2はそれぞれが短く、横方向に何列に
も並んでその一端部側で連結され、その中央部にエミッ
タ電極パッド1aおよびベース電極パッド2aがそれぞ
れ長辺の相対向する側に形成されている。
述のように平面形状が長方形の半導体基板の短辺に沿っ
た方向に延び、長辺方向に何本も並んで形成されること
により、図1(a)に示されるように、エミッタ電極1
およびベース電極2はそれぞれが短く、横方向に何列に
も並んでその一端部側で連結され、その中央部にエミッ
タ電極パッド1aおよびベース電極パッド2aがそれぞ
れ長辺の相対向する側に形成されている。
【0018】エミッタ電極パッド1aおよびベース電極
パッド2aはそれぞれ長辺の中間部に形成されている
が、中間部に形成されておればチップ内の各セルに電極
パッドからの距離が極端にアンバランスにならず、抵抗
の増大を招かないため好ましいが、長辺の端部側に形成
されていても、各ストライプ状電極を連結する連結部を
幅広に形成することにより、抵抗成分は殆ど増加するこ
とはない。また、図2に示される構造は、ストライプエ
ミッタ構造の例であったが、エミッタ領域がマトリクス
状に設けられるマルチエミッタ構造や、エミッタ領域内
にベース領域がマトリクス状に露出するマルチベース構
造のトランジスタでも、同様にクシ歯状に電極を形成す
ることにより同様の構造になる。
パッド2aはそれぞれ長辺の中間部に形成されている
が、中間部に形成されておればチップ内の各セルに電極
パッドからの距離が極端にアンバランスにならず、抵抗
の増大を招かないため好ましいが、長辺の端部側に形成
されていても、各ストライプ状電極を連結する連結部を
幅広に形成することにより、抵抗成分は殆ど増加するこ
とはない。また、図2に示される構造は、ストライプエ
ミッタ構造の例であったが、エミッタ領域がマトリクス
状に設けられるマルチエミッタ構造や、エミッタ領域内
にベース領域がマトリクス状に露出するマルチベース構
造のトランジスタでも、同様にクシ歯状に電極を形成す
ることにより同様の構造になる。
【0019】第1および第2のリード4、5は、半導体
チップ10の長辺程度の間隔でフレームに形成されると
共に、その先端部側がリードの延びる方向と直角方向で
相互に向い合う方向に折り曲げられ、それぞれL字型に
形成されている。すなわち、半導体チップ10の両端部
側から中心側に向うように折り曲げられ、しかもその折
り曲げ部が、前述の半導体チップ10と組み立てる際
に、エミッタ電極パッド1aおよびベース電極パッド2
aの位置にそれぞれ一致するように少しずらせて平行に
なるように折り曲げられている。
チップ10の長辺程度の間隔でフレームに形成されると
共に、その先端部側がリードの延びる方向と直角方向で
相互に向い合う方向に折り曲げられ、それぞれL字型に
形成されている。すなわち、半導体チップ10の両端部
側から中心側に向うように折り曲げられ、しかもその折
り曲げ部が、前述の半導体チップ10と組み立てる際
に、エミッタ電極パッド1aおよびベース電極パッド2
aの位置にそれぞれ一致するように少しずらせて平行に
なるように折り曲げられている。
【0020】第3のリード6は、その先端部に前述の半
導体チップ10をボンディングするためのダイパッド6
aが形成されている。このダイパッド6aの形状は、モ
ールドパッケージに合せて最大面積の半導体チップが搭
載できるような形状にされるが、たとえばSC−59
(商品名)のパッケージでは、モールド部が長方形状で
あるため、ダイパッド6aも長方形状に形成されてい
る。そして、その中央部から第3のリードが延びてお
り、リードフレームの状態ではその先端部がサイドレー
ルに複数個分繋がれてフレーム状になっている。この第
3のリード6と前述の第1および第2のリード4、5を
1枚のリードフレームとすることもできる。
導体チップ10をボンディングするためのダイパッド6
aが形成されている。このダイパッド6aの形状は、モ
ールドパッケージに合せて最大面積の半導体チップが搭
載できるような形状にされるが、たとえばSC−59
(商品名)のパッケージでは、モールド部が長方形状で
あるため、ダイパッド6aも長方形状に形成されてい
る。そして、その中央部から第3のリードが延びてお
り、リードフレームの状態ではその先端部がサイドレー
ルに複数個分繋がれてフレーム状になっている。この第
3のリード6と前述の第1および第2のリード4、5を
1枚のリードフレームとすることもできる。
【0021】この第3のリード6先端部のダイパッド6
aに、半導体チップ10を導電性ペーストによりボンデ
ィングし、その後、第1および第2のリード4、5を半
導体チップ10のエミッタ電極パッド1aおよびベース
電極パッド2aと導電性接着剤、または電極パッド上に
形成されたハンダバンプなどを介して接続される。この
半導体チップ10およびそのボンディング部がエポキシ
樹脂などによりモールドされてパッケージ8が形成され
ることにより、本発明によるトランジスタが形成されて
いる。
aに、半導体チップ10を導電性ペーストによりボンデ
ィングし、その後、第1および第2のリード4、5を半
導体チップ10のエミッタ電極パッド1aおよびベース
電極パッド2aと導電性接着剤、または電極パッド上に
形成されたハンダバンプなどを介して接続される。この
半導体チップ10およびそのボンディング部がエポキシ
樹脂などによりモールドされてパッケージ8が形成され
ることにより、本発明によるトランジスタが形成されて
いる。
【0022】本発明のトランジスタによれば、半導体チ
ップの電極パターンは、その配線が半導体チップの短い
方向に形成されているため、長くなって先端側のセルへ
の抵抗が増大するということがなく、また、その電極配
線をまとめた電極パッドと外部に導出されるリードとの
接続は、ワイヤなどを介さず、そのリードが直接電極パ
ッドに接続されているため、その間での抵抗も問題にな
らず、結局外部に導出されるリードからトランジスタの
各セルに至る抵抗を大幅に減少させることができる。そ
の結果、バイポーラトランジスタのコレクタ・エミッタ
間飽和電圧を下げることができ、低い駆動電圧で大電流
を得ることができる。
ップの電極パターンは、その配線が半導体チップの短い
方向に形成されているため、長くなって先端側のセルへ
の抵抗が増大するということがなく、また、その電極配
線をまとめた電極パッドと外部に導出されるリードとの
接続は、ワイヤなどを介さず、そのリードが直接電極パ
ッドに接続されているため、その間での抵抗も問題にな
らず、結局外部に導出されるリードからトランジスタの
各セルに至る抵抗を大幅に減少させることができる。そ
の結果、バイポーラトランジスタのコレクタ・エミッタ
間飽和電圧を下げることができ、低い駆動電圧で大電流
を得ることができる。
【0023】さらに、第1および第2のリードの先端部
側が直角方向に折り曲げられるL字型に形成されること
により、動作電流に応じて半導体チップを大きくした
り、小さくする場合でも、L字型に曲げられた先端部側
のどこかで接続することができ、共通のリードフレーム
により、第1および第2の電極パッドとの接続を確実に
行うことができる。
側が直角方向に折り曲げられるL字型に形成されること
により、動作電流に応じて半導体チップを大きくした
り、小さくする場合でも、L字型に曲げられた先端部側
のどこかで接続することができ、共通のリードフレーム
により、第1および第2の電極パッドとの接続を確実に
行うことができる。
【0024】前述の例では、バイポーラトランジスタの
例で、エミッタ電極とベース電極とがクシ歯状に噛み合
う構造のトランジスタであったが、たとえばMOSFE
Tのように、マトリクス状セルのソース電極が半導体チ
ップ表面に広範囲に形成され、ゲート電極パッドとソー
ス電極パッドとが半導体チップの長辺側に形成される場
合でも、また、IGBTや接合型FETのようなトラン
ジスタでも同様に本発明による第1および第2のリード
をソース電極パッドおよびゲート電極パッドに接続させ
ることにより、直列抵抗が小さく、大電流を得ることが
できる。
例で、エミッタ電極とベース電極とがクシ歯状に噛み合
う構造のトランジスタであったが、たとえばMOSFE
Tのように、マトリクス状セルのソース電極が半導体チ
ップ表面に広範囲に形成され、ゲート電極パッドとソー
ス電極パッドとが半導体チップの長辺側に形成される場
合でも、また、IGBTや接合型FETのようなトラン
ジスタでも同様に本発明による第1および第2のリード
をソース電極パッドおよびゲート電極パッドに接続させ
ることにより、直列抵抗が小さく、大電流を得ることが
できる。
【0025】
【発明の効果】本発明によれば、半導体チップの電極パ
ッドからチップの端にあるセルまでの電極配線が短くな
るように形成されると共に、電極パッドと外部に導出さ
れるリードとの接続がワイヤレスで行われているため、
配線抵抗を非常に小さくすることができ、低い動作電圧
で大きな電流のトランジスタが得られる。
ッドからチップの端にあるセルまでの電極配線が短くな
るように形成されると共に、電極パッドと外部に導出さ
れるリードとの接続がワイヤレスで行われているため、
配線抵抗を非常に小さくすることができ、低い動作電圧
で大きな電流のトランジスタが得られる。
【0026】また、トランジスタの表面に接続するリー
ドがL字型に折り曲げられているため、半導体チップの
長さを変えた大小のチップに対しても、同じリードフレ
ームを使用することができ、汎用性が増大する。
ドがL字型に折り曲げられているため、半導体チップの
長さを変えた大小のチップに対しても、同じリードフレ
ームを使用することができ、汎用性が増大する。
【図1】本発明によるトランジスタの一実施形態を説明
する図である。
する図である。
【図2】図1に示されるトランジスタの半導体構造の一
例を示す説明図である。
例を示す説明図である。
【図3】従来のトランジスタの配線パターンおよび外部
リードとの接続構造の例を示す図である。
リードとの接続構造の例を示す図である。
1 エミッタ電極 1a 電極パッド 2 ベース電極 2a 電極パッド 3 コレクタ電極 4 第1のリード 5 第2のリード 6 第3のリード 10 半導体チップ
Claims (3)
- 【請求項1】 平面形状が長方形の半導体基板にトラン
ジスタ構成単位のセルが多数配置され、表面側に、エミ
ッタもしくはソースに接続される第1の電極とベースも
しくはゲートに接続される第2の電極とが形成されると
共に、第1および第2の電極の電極パッドが、前記長方
形状の相対向する長辺側にそれぞれ設けられ、前記半導
体チップの裏面側にコレクタもしくはドレインと接続さ
れる第3の電極が形成される半導体チップと、前記半導
体チップがダイボンディングされる長方形状のアイラン
ドを有し、該アイランドの長辺側から該長辺に直角方向
に導出される第3のリードと、前記第1および第2の電
極の電極パッドに直接接続される第1および第2のリー
ドと、前記半導体チップの周囲を被覆する樹脂パッケー
ジとからなるトランジスタ。 - 【請求項2】 前記第1および第2のリードが、前記長
方形状アイランドの端部側で、前記第3のリードと平行
方向に、該第3のリードと反対側から前記半導体チップ
の方向に延びると共に、その先端部が前記半導体チップ
の中心側に曲げられたL字形状をなし、該L字形状に折
り曲げられた前記第1および第2のリードの先端部が、
相互に平行で、かつ、それぞれ前記第1および第2の電
極の電極パッド上にくるように、前記第1および第2の
リードが形成されてなる請求項1記載のトランジスタ。 - 【請求項3】 前記第1および第2の電極が、バイポー
ラトランジスタのエミッタおよびベースにそれぞれ接続
されるエミッタ電極およびベース電極であり、該エミッ
タ電極およびベース電極がそれぞれクシ歯型で、クシ歯
が噛み合うように金属膜により形成されてなる請求項1
または2記載のトランジスタ。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2000402907A JP2002203957A (ja) | 2000-12-28 | 2000-12-28 | トランジスタ |
US10/026,529 US6476495B2 (en) | 2000-12-28 | 2001-12-27 | Transistor which can minimize the DC resistance of the wiring and lead formed on a semiconductor chip |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000402907A JP2002203957A (ja) | 2000-12-28 | 2000-12-28 | トランジスタ |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
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JP2002203957A true JP2002203957A (ja) | 2002-07-19 |
Family
ID=18867115
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2000402907A Pending JP2002203957A (ja) | 2000-12-28 | 2000-12-28 | トランジスタ |
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Country | Link |
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JP (1) | JP2002203957A (ja) |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JP2008177588A (ja) * | 2008-02-12 | 2008-07-31 | Renesas Technology Corp | 半導体装置 |
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JP2016040839A (ja) * | 2015-10-27 | 2016-03-24 | ルネサスエレクトロニクス株式会社 | 半導体装置の製造方法 |
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US7196313B2 (en) * | 2004-04-02 | 2007-03-27 | Fairchild Semiconductor Corporation | Surface mount multi-channel optocoupler |
US7772681B2 (en) | 2005-06-30 | 2010-08-10 | Fairchild Semiconductor Corporation | Semiconductor die package and method for making the same |
WO2008045877A2 (en) * | 2006-10-10 | 2008-04-17 | St. Jude Medical, Atrial Fibrillation Division, Inc. | Electrode tip and ablation system |
US7973393B2 (en) | 2009-02-04 | 2011-07-05 | Fairchild Semiconductor Corporation | Stacked micro optocouplers and methods of making the same |
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JPH0745671A (ja) * | 1993-08-03 | 1995-02-14 | Nec Yamagata Ltd | 半導体装置 |
KR100471520B1 (ko) * | 1996-07-03 | 2005-04-14 | 코닌클리케 필립스 일렉트로닉스 엔.브이. | 반도체디바이스 |
TW436866B (en) * | 2000-01-06 | 2001-05-28 | United Microelectronics Corp | Mixed mode device |
-
2000
- 2000-12-28 JP JP2000402907A patent/JP2002203957A/ja active Pending
-
2001
- 2001-12-27 US US10/026,529 patent/US6476495B2/en not_active Expired - Lifetime
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20020084511A1 (en) | 2002-07-04 |
US6476495B2 (en) | 2002-11-05 |
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