JP2002196346A - 電気光学装置及びその製造方法、並びに投射型表示装置 - Google Patents

電気光学装置及びその製造方法、並びに投射型表示装置

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JP2002196346A
JP2002196346A JP2001277106A JP2001277106A JP2002196346A JP 2002196346 A JP2002196346 A JP 2002196346A JP 2001277106 A JP2001277106 A JP 2001277106A JP 2001277106 A JP2001277106 A JP 2001277106A JP 2002196346 A JP2002196346 A JP 2002196346A
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electro
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Masao Muraide
正夫 村出
Masahide Uchida
雅秀 内田
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 液晶装置等の電気光学装置において、比較的
簡単な構成で一方の基板上の配線と他方の基板上の対向
電極との間における寄生容量を低減して、ゴーストの低
減された高品位の画像表示を行なう。 【解決手段】 電気光学装置は、TFTアレイ基板(1
0)に、画素電極(9a)と、これに接続されたTFT
(30)を備える。更に、周辺領域(額縁領域やシール
領域を含む)には、画素電極の駆動に係るデータ線駆動
回路(101)やサンプリング回路(301)等の周辺
回路と、画像信号等を供給する配線とを備える。対向基
板(20)上には、このような配線に対向する領域を避
けて対向電極(21)が形成される。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、一対の基板間に電
気光学物質が挟持されてなり、該一対の基板における電
気光学物質に面する側に設けられた一対の電極を備えた
液晶装置等の電気光学装置及びその製造方法の技術分野
に属する。
【0002】
【従来の技術】一般にこの種の電気光学装置では、画素
電極、これをスイッチング制御する薄膜トランジスタ
(以下適宜、TFT(Thin Film Transistor)と称す)
及びこれに接続され画像信号を供給するデータ線や、走
査信号を供給する走査線等の配線などが設けられたTF
Tアレイ基板を備える。更に、このTFTアレイ基板の
配線等が配置された側に対向配置されており、カラーフ
ィルタ、遮光膜等の他に、全面に対向電極が設けられた
対向基板を備える。これらのTFTアレイ基板及び対向
基板間に液晶等の電気光学物質が挟持される。そして、
画素電極に対応する画素毎に、画素電極及び対向電極間
に駆動電圧を発生させて各電気光学物質部分を駆動する
(例えば、液晶の配向状態を変化させる)ことにより、
表示動作を行なうように構成されている。
【0003】また、この種の電気光学装置には、画像表
示領域の外側の周辺領域に、画像信号をサンプリング回
路に供給するための画像信号線等の各種配線や、画像信
号線に供給される画像信号をサンプリング回路駆動信号
に応じてサンプリングしてデータ線に供給するサンプリ
ング回路、このサンプリング回路駆動信号をサンプリン
グ回路に供給するデータ線駆動回路、データ線に供給さ
れた画像信号を画素電極に供給するためにTFTのスイ
ッチング動作を行う走査信号を走査線に供給するための
走査線駆動回路などの周辺駆動回路を備えた駆動回路内
蔵型のものがある。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述の
如くTFTアレイ基板上の画像信号線、当該画像信号線
からの引き出し配線等の配線と対向基板上の対向電極と
が対向配置されていると、両者間の寄生容量により、画
像信号の電位変動で対向電極の電位変動が生じる。即
ち、図16において、画像信号線に供給される画像信号
VIDの電位変化が、本来一定電位(但し、反転駆動時
における周期的に反転する一定電位も含む)であるべき
対向電極電位LCCOMを矢印aに示すように変動させ
る。この対向電極電位LCCOMの変動即ち共通配線の
電位変動が本来の設定電圧に復帰する前に、次段以降の
データ線の選択動作時に電気光学物質に印加される電位
が不測に変化してしまうため、表示画像にゴーストが発
生するという問題点がある。
【0005】特に、透過型の電気光学装置の場合には、
対向電極は透明電極から形成する必要があるので、この
ような対向電極は、ITO(Indium Tin Oxide)膜から
形成するのが一般的である。しかしながら、ITO膜の
如き比較的高抵抗な導電膜から対向電極を形成すると、
上述の如き画像信号線等との寄生容量による電位変動後
に対向電極が共通電位になる以前に、画像信号の画素電
極への書き込みが終了してしまう。このため、係る寄生
容量によるゴーストの発生が顕著となるという問題点が
ある。
【0006】また、駆動回路内蔵型の場合には特に、電
位変動の幅が大きい或いは周波数の高い信号を供給する
配線と対向電極とが対向配置されているため、このよう
な寄生容量による対向電極における電位変動が大きくな
り、結果としてゴーストの発生がより顕著となるという
問題点がある。
【0007】更に、画像信号をシリアル−パラレル変換
してシリアルな画像信号を複数のパラレルな画像信号に
変化して周波数を低くする場合、パラレルな画像信号に
変換する数が多い程、このようなゴーストが視覚上目立
つという問題点がある。即ち、係るゴーストは、画面上
で、シリアル−パラレル変換数に等しいデータ線の本数
だけ本来の画像から離れて発生するため、シリアル−パ
ラレル変換数が多いほど、当該ゴーストは大きなブロッ
ク状に広がって視認し易くなるのである。特に、動画表
示ならともかく、パソコン画面等のデータ表示の場合に
は、当該ブロック状のゴーストは、視覚上一層目立つと
いう問題点もある。
【0008】尚、このような問題に対して、対向電極を
画像信号線等からシールドするシールド膜を設けたり、
対向電極自体を低抵抗膜から形成したり或いは対向電極
上に低抵抗膜を追加形成する対策も考えられるが、いず
れの場合にも、対向基板の積層構造及び製造工程の複雑
化により、コストの上昇を招くことや追加されたシール
ド膜等により電気光学物質の動作不良が起こることが予
想される。
【0009】本発明は上記問題点に鑑みなされたもので
あり、比較的簡単な構成で一方の基板上に配置された配
線等とこれに対向する他方の基板上に配置された対向電
極との間における寄生容量を低減することにより、係る
寄生容量に起因した対向電極の電位変動を低減し、これ
によりゴーストの低減された高品位の画像表示が可能で
ある電気光学装置及びその製造方法を提供することを課
題とする。
【0010】
【課題を解決するための手段】本発明の電気光学装置は
上記課題を解決するために、一対の第1及び第2基板間
に電気光学物質が挟持されてなり、前記第1基板上にお
ける画像表示領域に、複数の画素電極を備えており、前
記第1基板上における前記画像表示領域及び前記画像表
示領域の周辺に位置する周辺領域に、前記画素電極に信
号を供給するための配線を備えており、前記第2基板上
における前記複数の画素電極に対向すると共に前記配線
のうち少なくとも前記周辺領域にある配線部分に対向す
る領域の少なくとも一部には対向電極は形成されないこ
とを特徴とする。
【0011】本発明の電気光学装置によれば、その動作
時には、第1基板上に形成された配線に画像信号等の信
号が供給され、画素電極に供給される。従って、係る信
号に応じて画素毎に画素電極及び対向電極間に駆動電圧
が印加され、両者間にある電気光学物質が駆動されて、
電気光学的な画像表示が行なわれる。ここで特に、画像
信号線等の配線のうち周辺領域にある配線部分に対向す
る領域の少なくとも一部には、対向電極は形成されてい
ない。従って、周辺領域において対向電極が配線に対向
する領域にも全て形成されている場合や、更に第2基板
の全面に対向電極が形成されている場合と比較して、対
向電極が配線に対向していない分だけ、対向電極及び配
線間の寄生容量が低減される。この結果、本発明によれ
ば、係る対向電極及び配線間の寄生容量に起因した配線
に供給される信号(例えば、画像信号)の電位変動によ
る対向電極の電位変動を低減できる。特に、当該電気光
学装置が透過型であり、ITO膜等の比較的高抵抗の透
明導電膜から対向電極を形成しても、係る対向電極及び
配線間の寄生容量が低減されているので、これに起因す
る対向電極の電位変動を低減することが可能となり、大
変有利である。この結果、対向電極の電位を良好に一定
電位(但し、反転駆動時における、周期的に反転する一
定電位も含む)とすることができ、これによりゴースト
の低減された高品位の画像表示が可能となる。
【0012】尚、このような対向電極は、周辺領域にあ
る配線部分に対向する領域に部分的に形成されてもよい
し、或いは周辺領域にある配線部分に対向する領域に全
く形成されていなくてもよい。
【0013】本発明の電気光学装置の一態様では、前記
対向電極は、平面的に見て前記配線に対向する領域を配
線毎に避けるように短冊状或いはストライプ状に形成さ
れている。
【0014】この態様によれば、第1基板上の配線に対
向する領域を配線毎に避けるように対向電極は、短冊状
に形成されている。例えば、周辺領域における配線に対
向する領域には、配線毎に対向電極が形成されていな
い。或いは、第1基板上の配線に対向する領域を配線毎
に避けるように、対向電極はストライプ状に形成されて
いる。例えば、周辺領域及び画像表示領域の全体におけ
る配線に対向する領域には、配線毎に対向電極が形成さ
れていない。従って、配線及び対向電極間の寄生容量に
起因した配線に供給される信号の電位変動による対向電
極の電位変動を低減できる。
【0015】或いは本発明の電気光学装置における他の
態様では、前記対向電極は、平面的に見て前記配線に対
向する領域を相隣接する複数の配線毎に避けるように形
成されている。
【0016】この態様によれば、第1基板上の配線に対
向する領域を複数の配線毎に避けるように対向電極は、
形成されている。例えば、周辺領域の辺毎にブロック状
に、対向電極が形成されていない領域がある。従って、
配線及び対向電極間の寄生容量に起因した配線に供給さ
れる信号の電位変動による対向電極の電位変動を低減で
きる。
【0017】或いは本発明の電気光学装置における他の
態様では、前記対向電極は、前記周辺領域に全く形成さ
れていない。
【0018】この態様によれば、第1基板上の配線に対
向する領域では、対向電極は、周辺領域に全く形成され
ていない。従って、配線及び対向電極間の寄生容量に起
因した配線に供給される信号の電位変動による対向電極
の電位変動を極力低減できる。
【0019】本発明の電気光学装置における他の態様で
は、前記配線は、前記周辺領域に形成された画像信号を
供給するための画像信号線を含む。
【0020】この態様によれば、一般に電位変動の幅が
大きく且つ周波数が高い画像信号が供給される画像信号
線に対向する領域では、対向電極は少なくとも部分的に
形成されていない。従って、画像信号線及び対向電極間
の寄生容量に起因した画像信号線に供給される画像信号
の電位変動による対向電極の電位変動を低減できる。
【0021】本発明の電気光学装置における他の態様で
は、前記配線は、少なくとも前記画像表示領域に形成さ
れており画像信号を供給するためのデータ線を含む。
【0022】この態様によれば、一般に電位変動の幅が
大きく且つ周波数が高い画像信号が供給されるデータ線
に対向する領域では、対向電極は少なくとも部分的に形
成されていない。従って、データ線及び対向電極間の寄
生容量に起因したデータ線に供給される画像信号の電位
変動による対向電極の電位変動を低減できる。
【0023】この態様では、相隣接する複数のデータ線
には、シリアル−パラレル変換された画像信号が同一タ
イミングで供給されてもよい。
【0024】このように構成すれば、シリアル−パラレ
ル変換した画像信号を供給する画像信号線と、対向電極
間の寄生容量に起因した電位変動による対向電極の電位
変動を低減できる。従って、シリアル−パラレル変換数
に応じてブロック状に視認されるゴーストを低減でき
る。このため特に、駆動周波数を高めつつ低性能のTF
Tをサンプリング回路として用いて複数のデータ線の同
時駆動を行っても、ブロック状のゴーストを発生しない
ようにできるので、実用上大変有利である。
【0025】本発明の電気光学装置における他の態様で
は、前記周辺領域に周辺回路を更に備えており、前記配
線は、前記周辺領域に形成された画像信号を供給するた
めの画像信号線及び該画像信号線と前記周辺回路とを接
続する引き出し配線を含む。
【0026】この態様によれば、一般に電位変動の幅が
大きく且つ周波数が高い画像信号が供給される画像信号
線及び引き出し配線に対向する領域では、対向電極は少
なくとも部分的に形成されていない。従って、画像信号
線や引き出し配線と対向電極との間の寄生容量に起因し
た、画像信号の電位変動による対向電極の電位変動を低
減できる。
【0027】この態様では、前記周辺回路は、前記引き
出し配線に供給される画像信号をサンプリングするサン
プリング回路を含んでもよい。
【0028】このように構成すれば、画像信号線からの
引き出し配線に供給される画像信号をサンプリング回路
によりサンプリングして、データ線等の配線を介して各
画素電極に供給することが可能となる。
【0029】本発明の電気光学装置における他の態様で
は、前記対向電極と前記配線の一部とを電気的に接続す
るための上下導通端子が、前記第2基板の隅に設けられ
ている。
【0030】この態様によれば、第2基板(対向基板)
の隅に設けられた上下導通端子及び配線の一部を介し
て、対向電極を、良好に一定電位(但し、反転駆動時に
おける、周期的に反転する一定電位も含む)とすること
が可能となる。
【0031】本発明の電気光学装置における他の態様で
は、前記第1及び第2基板は、前記画像表示領域の外側
に設けられたシール領域においてシール材により貼り合
わされており、前記対向電極は、前記シール領域内で、
前記配線に対向する領域には少なくとも部分的に形成さ
れていない。
【0032】この態様によれば、対向電極は、シール領
域内における、配線に対向する領域に少なくとも部分的
に形成されていない。従って、シール領域における配線
及び対向電極間の寄生容量に起因した配線に供給される
信号の電位変動による対向電極の電位変動を低減でき
る。尚、本願における“シール領域”は、画像表示領域
の外側の領域であり、周辺領域に含まれる。
【0033】この態様では、前記対向電極は、前記シー
ル領域に全く形成されていなくてもよい。
【0034】このように構成すれば、シール領域におけ
る配線及び対向電極間の寄生容量に起因した配線に供給
される信号の電位変動による対向電極の電位変動を極力
低減できる。しかも、例えば対角2センチメートル程度
の小型の電気光学装置において、シール材中に第1基板
及び第2基板との基板間ギャップを制御するためのギャ
ップ材を混入する場合に、ギャップ材が接触する第2基
板表面の高さをシール領域の全体に渡って均一とできる
ため、当該基板間ギャップの制御を高精度で行なうこと
も可能となる。
【0035】この態様では更に、前記第2基板に、前記
画像表示領域の周囲に額縁を規定すると共に前記配線の
一部と前記対向電極とを電気的に接続するための上下導
通端子部を含む導電性の遮光膜を更に備えてもよい。
【0036】このように構成すれば、遮光膜が、額縁を
規定する機能と上下導通端子部としての機能との両者を
果たすことができ有利である。しかも、額縁を規定する
遮光膜の隅から延設して上下導通端子部を設ければ、額
縁の周辺に位置する周辺領域で上下導通をとる構成が無
理なく得られるので大変有利である。尚、本願における
“額縁”が形成される領域は、周辺領域のうち画像表示
領域の周囲に沿った領域(前述のシール領域と画像表示
領域との間にある領域)であり、周辺領域に含まれる。
【0037】本発明の電気光学装置における他の態様で
は、前記第2基板に、前記画像表示領域の周囲に額縁を
規定すると共にアルミニウムを含有した膜からなる導電
性の遮光膜を更に備えており、前記額縁を規定する遮光
膜上には、前記対向電極が形成されている。
【0038】この態様によれば、アルミニウムを含有し
た膜からなる遮光膜が、良好な遮光性を有する額縁を規
定する機能と、良好な導電性を有する上下導通端子部と
しての機能との両者を果たすことができ有利である。し
かも、係る遮光膜上には、対向電極が形成されており、
対向電極をエッチングする際にエッチングに曝されるこ
ともない。従って、このような構成を採ると、当該遮光
膜を電気的な腐食に強い或いは化学的に安定した材質か
ら形成する必要がなくなり有利である。
【0039】本発明の他の電気光学装置は上記課題を解
決するために、一対の第1基板及び第2基板間に電気光
学物質が挟持されてなり、前記第1基板上における画像
表示領域に、複数の画素電極を備えており、前記第1基
板上における前記画像表示領域及び前記画像表示領域の
周辺に位置する周辺領域に、前記画素電極に信号を供給
するための配線を備えており、前記第2基板上における
前記複数の画素電極に対向すると共に前記配線のうち少
なくとも前記周辺領域にある配線部分に対向しない領域
に形成された対向電極を備えてもよい。
【0040】本発明の他の電気光学装置によれば、周辺
領域において対向電極が配線に対向する領域にも全て形
成されている場合や、更に第2基板の全面に対向電極が
形成されている場合と比較して、対向電極が配線に対向
していない分だけ、対向電極及び配線間の寄生容量が低
減される。この結果、係る対向電極及び配線間の寄生容
量に起因した配線に供給される信号(例えば、画像信
号)の電位変動による対向電極の電位変動を低減でき
る。
【0041】本発明の対向基板の製造方法は上記課題を
解決するために、上述した本発明の電気光学装置に係る
対向基板(その各種態様も含む)の製造方法であって、
前記第2基板の全面に前記対向電極となる導電膜を形成
する成膜工程と、前記導電膜に対するフォトリソグラフ
ィ及びエッチングにより、前記配線に対向する領域に形
成された前記導電膜を少なくとも部分的に除去すること
により前記対向電極を形成するエッチング工程とを備え
る。
【0042】本発明の対向基板の製造方法によれば、先
ず成膜工程では、第2基板の全面に対向電極となる導電
膜を形成し、その後エッチング工程では、フォトリソグ
ラフィ及びエッチングにより、配線に対向する領域に形
成された導電膜を少なくとも部分的に除去する。従っ
て、上述した本発明の電気光学装置(その各種態様も含
む)に係る対向基板を比較的簡単に製造できる。
【0043】本発明の対向基板の一態様では、前記対向
基板をマザー基板上に複数形成し、前記エッチング工程
では、前記配線に対向する領域に加えて、切断線に沿っ
た領域に形成された前記導電膜を除去し、前記導電膜が
除去された切断線に沿った領域内で切断を行う切断工程
を更に備える。
【0044】この態様によれば、対向基板は、マザー基
板上にて複数形成される。そして、エッチング工程で
は、切断線に沿った領域に形成された導電膜を除去し、
その後、マザー基板から複数の対向基板を切り離す切断
工程では、導電膜が除去された切断線に沿った領域内で
切断が行われる。従って、切断工程で、ITO膜等から
なる対向電極が切断されることで生じる塵や異物の発生
を未然防止できる。逆に言えば、このような切断工程に
おけるITO膜等からの塵や異物の発生を低減するため
のエッチング工程を元々含む製造方法を基準とすれば、
本発明は、エッチングする領域に若干の変更を加えるだ
けで済むので、製造工程の増加を殆ど招かないで済み、
実践上大変有利である。
【0045】本発明の対向基板の切断工程は、ダイシン
グブレードにて切断する。
【0046】この態様によれば、マザー基板上に設けら
れた切断線に沿ってダイシングブレードを回転させなが
ら対向基板を容易に切り離すことができる。
【0047】本発明の投射型表示装置は上記課題を解決
するために、光源と、本発明の電気光学装置でなるライ
トバルブと、前記光源から発生した光を前記ライトバル
ブに導光する導光部材と、前記ライトバルブで変調され
た光を投射する投射光学部材とを備えることを特徴とす
る。
【0048】本発明のこのような作用及び他の利得は次
に説明する実施の形態から明らかにされる。
【0049】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施形態を図面に
基づいて説明する。以下の実施形態は、本発明の電気光
学装置を液晶装置に適用したものである。
【0050】先ず、本発明の実施形態における電気光学
装置の全体構成について、図1及び図2を参照して説明
する。ここでは、電気光学装置の一例である駆動回路内
蔵型のTFTアクティブマトリクス駆動方式の液晶装置
を例にとる。
【0051】図1は、TFTアレイ基板をその上に形成
された各構成要素と共に対向基板の側から見た平面図で
あり、図2は、図1のH−H’断面図である。
【0052】図1及び図2において、本実施形態に係る
電気光学装置では、TFTアレイ基板10と対向基板2
0とが対向配置されている。TFTアレイ基板10と対
向基板20との間に液晶層50が封入されており、TF
Tアレイ基板10と対向基板20とは、画像表示領域1
0aの周囲に位置するシール領域に設けられたシール材
52により相互に接着されている。
【0053】シール材52は、両基板を貼り合わせるた
めの、例えば紫外線硬化樹脂、熱硬化樹脂等からなり、
製造プロセスにおいてTFTアレイ基板10上に塗布さ
れた後、紫外線照射、加熱等により硬化させられたもの
である。また、シール材52中には、両基板間の間隔
(基板間ギャップ)を所定値とするためのグラスファイ
バ或いはガラスビーズ等のギャップ材が散布されてい
る。即ち、本実施形態の電気光学装置は、プロジェクタ
のライトバルブ用として小型で拡大表示を行うのに適し
ている。但し、当該電気光学装置が液晶ディスプレイや
液晶テレビのように大型で等倍表示を行う液晶装置であ
れば、このようなギャップ材は、液晶層50中に含まれ
てもよい。
【0054】シール材52が配置されたシール領域の内
側に並行して、画像表示領域10aを規定する遮光性の
額縁53が対向基板20側に設けられている。額縁53
はTFTアレイ基板10側に設けても良いことは言うま
でもない。画像表示領域の周辺に広がる周辺領域のう
ち、シール材52が配置されたシール領域の外側部分に
は、データ線駆動回路101及び外部回路接続端子10
2がTFTアレイ基板10の一辺に沿って設けられてお
り、走査線駆動回路104が、この一辺に隣接する2辺
に沿って設けられている。更にTFTアレイ基板10の
残る一辺には、画像表示領域10aの両側に設けられた
走査線駆動回路104間をつなぐための複数の配線10
5が設けられている。また図1に示すように、対向基板
20のコーナー部の少なくとも1ヶ所(図1では4ヶ
所)において、両基板間に上下導通材106が配置され
ており、対向基板20に形成された対向電極21のコー
ナー部が対向基板20側の上下導通端子として機能す
る。他方、TFTアレイ基板10にはこれらのコーナー
に対向する領域において、TFTアレイ基板10側の上
下導通端子が設けられている。これらにより、TFTア
レイ基板10と対向基板20との間で電気的な導通をと
ることができる。
【0055】本実施形態では特に、額縁53下にあるT
FTアレイ基板10上の領域に、サンプリング回路30
1が設けられている。サンプリング回路301は、画像
信号線に供給される画像信号をデータ線駆動回路101
から供給されるサンプリング回路駆動信号に応じてサン
プリングしてデータ線に供給するように構成されてい
る。
【0056】次に以上の如く構成された電気光学装置に
おける回路構成及び動作について図3を参照して説明す
る。図3は、電気光学装置の画像表示領域を構成するマ
トリクス状に形成された複数の画素における各種素子、
配線等の等価回路と周辺回路とを示すブロック図であ
る。
【0057】図3において、本実施形態における電気光
学装置の画像表示領域を構成するマトリクス状に形成さ
れた複数の画素には夫々、画素電極9aと当該画素電極
9aをスイッチング制御するための画素TFT30とが
形成されており、画像信号が供給されるデータ線6aが
当該画素TFT30のソースに電気的に接続されてい
る。
【0058】画像表示領域10a外である周辺領域に
は、データ線6aの一端(図3中で下端)が、サンプリ
ング回路301を構成するサンプリングTFT302の
ドレインに接続されている。他方、画像信号線115
は、引き出し配線116を介してサンプリングTFT3
02のソースに接続されている。データ線駆動回路10
1に接続されたサンプリング回路駆動信号線114は、
サンプリングTFT302のゲートに接続されている。
そして、画像信号線115に供給される画像信号VID
1〜VID6は、データ線駆動回路101からサンプリ
ング回路駆動信号線114を介してサンプリング回路駆
動信号が供給されるのに応じて、サンプリングTFT3
02によりサンプリングされて各データ線6aに画像信
号S1〜Snが供給されるように構成されている。
【0059】ここで、本実施形態では相隣接する6本の
データ線6aを同じタイミングで同画像信号を書き込め
るように、前記データ線6aに対応するサンプリングT
FT302のゲートに共通のサンプリング回路駆動信号
を供給する。外部回路であるシリアル−パラレル変換回
路で、シリアルな画像信号を6倍に伸長して、パラレル
な画像信号VID1〜VID6にシリアル−パラレル変
換して供給する。このように画像信号をデータ線6本毎
にシリアル−パラレル変換することにより、画像信号の
書き込み時間を6倍にできるだけでなく、データ線駆動
回路の駆動周波数を1/6に低減する事ができる。これ
により、サンプリングTFT302や画素TFT30の
能力が低くても、高速な画像処理が可能になる。尚、シ
リアル−パラレル変換数が多ければ多いほど画像信号の
書き込み時間を伸長することができるが、画像信号線1
15をシリアル−パラレル変換数分だけ設ける必要があ
る。
【0060】また、画素TFT30のゲートに走査線3
aが電気的に接続されており、所定のタイミングで、走
査線3aにパルス的に走査信号G1、G2、…、Gm
を、走査線駆動回路104により、この順に線順次で印
加するように構成されている。画素電極9aは、画素T
FT30のドレインに電気的に接続されており、スイッ
チング素子である画素TFT30を一定期間だけそのス
イッチを閉じることにより、データ線6aから供給され
る画像信号S1、S2、…、Snを所定のタイミングで
書き込む。画素電極9aを介して電気光学物質の一例と
しての液晶に書き込まれた所定レベルの画像信号S1、
S2、…、Snは、図2における対向基板20に形成さ
れた対向電極21との間で一定期間保持される。液晶
は、印加される電位レベルにより分子集合の配向や秩序
が変化することにより、光を変調し、階調表示を可能に
する。ノーマリーホワイトモードであれば、各画素の単
位で印加された電圧に応じて入射光に対する透過率が減
少し、ノーマリーブラックモードであれば、各画素の単
位で印加された電圧に応じて入射光に対する透過率が増
加され、全体として電気光学装置からは画像信号に応じ
たコントラストを持つ光が出射する。ここで、保持され
た画像信号がリークするのを防ぐために、画素電極9a
と対向電極21との間に形成される液晶容量と並列に蓄
積容量70を付加する。走査線3aに並んで、蓄積容量
70の固定電位側容量電極を含むと共に定電位に固定さ
れた容量線3bが設けられている。容量線3bは、画像
表示領域10aの外側において定電位線と接続されてお
り、固定電位VCAPが供給される。固定電位VCAP
は電気光学装置の外部から供給される。あるいは、TF
Tアレイ基板上に設けられるデータ線駆動回路101や
走査線駆動回路104の電源等の定電位線から供給して
も良いし、対向基板20の対向電極21に供給される定
電位の対向電極電位と接続しても良い。このような構成
を採れば、図1における外部回路接続端子102を固定
電位VCAP供給のために設ける必要が無いため、電気
光学装置の小型化に有利である。
【0061】次に、図2の破線で囲ったC領域における
電気光学装置の詳細構成について、図4を参照して説明
する。ここに図4は、この領域の平面図であり、図3の
等価回路図を具体的なパターン図として表している。
【0062】図4において、サンプリング回路301を
構成するサンプリングTFT302は、半導体層304
のソースに画像信号線から延設された引き出し配線11
6とコンタクトホール305aを介して電気的に接続さ
れている。一方、半導体層304のドレインはデータ線
6aとコンタクトホール305bを介して電気的に接続
されている。サンプリングTFT302のゲートはサン
プリング回路駆動信号線114とコンタクトホール30
5bを介して電気的に接続されている。データ線6aは
画素電極9aに画像信号S1〜Snを供給している。こ
こで、隣接するサンプリングTFT302を6個同時に
制御できるように、ゲート線303が6個のサンプリン
グTFT30のゲートに共通配線として設けられてい
る。
【0063】図3及び図4に示すように、本実施形態で
は画像信号線115とサンプリング回路301の間に、
TFTアレイ基板10と対向基板20を貼り合わせるた
めのシール材52を塗布したシール領域を設けている。
これは、サンプリング回路駆動信号線114や引き出し
配線116といった配線領域を有効活用する事により、
シール領域を形成している。また、走査線駆動回路10
4が図1に示すように対向基板20より外側のTFTア
レイ基板10上に形成している場合は、走査線3aの延
設部を有効活用してシール領域としても良い。
【0064】ここで本実施形態では、従来、対向基板2
0の全面に形成していたITO等の透明性導電膜を、シ
ール材52が塗布されるシール領域やその付近におい
て、サンプリング回路駆動信号を供給するサンプリング
回路駆動信号線114や画像信号を供給する引き出し配
線116に少なくとも部分的に重ならないように対向電
極を形成しないように構成する。
【0065】具体的には図4のA−A’線の断面図を示
した図5において、画像信号を供給する引き出し配線1
16部には、対向基板20上の対向電極21を設けない
ようにする。これにより、引き出し配線116と対向電
極との間で寄生容量が生じないため、引き出し配線11
6に供給される画像信号の電位変動の影響を受け、対向
電極21に供給される対向電極電位が変動することはな
い。従って、図16に示すように、サンプリングTFT
302がONしている期間(即ちデータ線6aの選択期
間)において、画像信号VIDの電位変動の影響を受け
ることなく常に対向電極電位LCCOMが矢印bのよう
に一定であるため、ゴーストが生じる事がない。
【0066】特に、シリアルな画像信号をシリアル−パ
ラレル変換する場合、複数のデータ線6aを同時に選択
するため、対向電極電位LCCOMに矢印aのような電
位変動が起こると、選択された複数のデータ線6aが全
て影響を受けるためにブロック状のゴーストが発生し、
画質品位を著しく低下させたが、本実施形態では画像信
号VIDと対向電極電位LCCOMが容量結合しないた
め、シリアル−パラレル変換数が増えてもゴーストが発
生する事が無い。高精細な電気光学装置になるほど画像
信号VIDの周波数が高速になるため、サンプリングT
FT302の能力を向上させない限りは、シリアル−パ
ラレル変換数を増やさざるを得ないが、本実施形態の構
成を採る事により、ゴーストが無く画質品位の高い高精
細な電気光学装置を実現する事が可能になる。
【0067】次に、本実施形態の対向基板20の各種具
体例について図6から図11を参照して説明する。尚、
図6から図10は夫々、図1に示した対向基板20に形
成される対向電極21の平面パターンを額縁53と共に
示す平面図である。
【0068】図6に示す例では、対向電極21は平面的
に見て、データ線駆動回路101からサンプリング回路
301の間に設けられた図3で示す画像信号線115や
当該画像信号線115からの引き出し配線116、サン
プリング回路駆動信号線114等の配線に対向する領域
401を配線毎に避けるように短冊状に形成されてい
る。これにより、配線と対向基板20が重なる領域には
少なくともその一部において対向電極21が形成されて
いないため、配線及び対向電極21間の寄生容量に起因
した配線に供給される信号の電位変動による対向電極2
1の電位変動を低減できる。
【0069】図7に示す例では、対向電極21は平面的
に見て、データ線駆動回路101からサンプリング回路
301の間に設けられた図3で示す画像信号線115や
当該画像信号線115からの引き出し配線116、サン
プリング回路駆動信号線114等の複数の配線に対向す
るブロック状の領域402を避けるように形成されてい
る。これにより、配線と対向基板20が重なる領域には
少なくともその一部においてブロック状に対向電極21
が形成されていないため、配線及び対向電極21間の寄
生容量に起因した配線に供給される信号の電位変動によ
る対向電極21の電位変動を大幅に低減できる。
【0070】図8に示す例では、対向電極21は平面的
に見て、データ線駆動回路101からサンプリング回路
301の間に設けられた図3で示す画像信号線115や
当該画像信号線115からの引き出し配線116、サン
プリング回路駆動信号線114等の配線に対向する領域
だけでなく、対向基板20の四辺付近において夫々、ブ
ロック状の領域403を避けるように形成されている。
この構成によれば、図1におけるシール材52中にTF
Tアレイ基板10と対向基板20間ギャップを制御する
ためのギャップ材を混入しても、対向電極21は、対向
基板20の四辺を均等に避けるよう形成されているの
で、 TFTアレイ基板10と対向基板20間のギャッ
プ制御を高精度で行うことができる。これにより、配線
と対向基板20が重なる領域には少なくともその一部に
おいてブロック状に対向電極21が形成されていないた
め、配線及び対向電極21間の寄生容量に起因した配線
に供給される信号の電位変動による対向電極21の電位
変動を大幅に低減できるだけでなく、安定したギャップ
制御により色むら等のない画質品位の高い電気光学装置
を実現できる。
【0071】尚、図6から図8に示した具体例では、対
向基板20の4つのコーナー部に延設された対向電極2
1部分が夫々、図1に示したTFTアレイ基板10上の
上下導通材106と接触する上下導通端子として機能し
ている。TFTアレイ基板10から対向基板20上の対
向電極21に対向電極電位を供給する上下導通端子は、
対向基板20の1つ以上のコーナー部に設けてあれば良
い。更に、図6から図8に示した具体例では、額縁53
を構成する遮光膜は、対向基板20上において対向電極
21を構成するITO等の透明性導電膜により覆われて
いる。従って、この場合には、その製造中に対向電極2
1をエッチングで形成する際に、額縁53を構成する遮
光膜がエッチングに曝されることはない。このため、電
気的な腐食に弱く、化学的な安定性の低いAl(アルミ
ニウム)を含有した遮光膜から額縁53を形成しても問
題がない。逆に、Alを含有した遮光膜から額縁53を
形成すれば、良好な遮光性及び良好な導電性が比較的安
価にして得られるだけでなく、投射型のライトバルブと
して用いる場合には、反射率の高いAlにより入射光を
反射できるため、電気光学装置表面の温度上昇を防ぐ事
ができる。これにより、耐光性寿命を向上する事がで
き、有利である。
【0072】図9に示す例では、対向電極21は平面的
に見て、シール領域を含めて周辺領域404に全く形成
されていない。即ち、対向電極21は、画像表示領域1
0aより若干大きめに形成されている。このように構成
すれば、データ線駆動回路101からサンプリング回路
301の間に設けられた図3で示す画像信号線115や
当該画像信号線115からの引き出し配線116、サン
プリング回路駆動信号線114等の配線と対向電極21
とが重なる領域がないため、配線及び対向電極21間の
寄生容量に起因した配線に供給される信号の電位変動に
よる対向電極21の電位変動が生じないため、ゴースト
が発生する事はない。また、本実施形態により、図1に
おけるシール材52中に混入されたギャップ材が接触す
る対向基板20の表面高さをシール領域の全体に渡って
均一にできる。このため、ギャップ材による基板間ギャ
ップの制御を高精度で行える。例えば、対向電極21を
構成するITO膜の膜厚は、100〜200nmである
ので、シール領域内で局所的に対向電極21を形成しな
いようにすると、この膜厚に応じて基板間ギャップの制
御が不安定となってしまうのである。
【0073】但し、図9のように対向電極21を小さく
形成すると、図6から図8に示した具体例の如く図1に
示した上下導通材106に接触する上下導通端子として
機能させることができなくなる。従って、この場合に
は、図9に示したように、額縁53を導電性の遮光膜か
ら形成すると共に、額縁53を対向基板20の4つのコ
ーナー部に延設して上下導通端子53’とすればよい。
この場合、額縁53を形成する導電性の遮光膜と対向電
極21を電気的に接続するのは言うまでもない。
【0074】更に、このように対向電極21を小さく形
成すると、その製造中に対向電極21をエッチングする
際に、その下層に位置する額縁53を構成する遮光膜も
エッチングに曝されることになる。従って、この場合、
額縁53を電気的な腐食に強い或いは化学的に安定した
遮光膜から形成するのが好ましい。
【0075】以上図6から図9に示したように、周辺領
域において対向電極21が配線に対向する領域にも全て
形成されている場合や更に対向基板20の全面に対向電
極21が形成されている場合と比較して、本実施形態で
は、シール領域や額縁領域を含む周辺領域で、対向電極
21が画像信号線115や当該画像信号線115からの
引き出し配線116、サンプリング回路駆動信号線11
4等の配線に対向していない分だけ、対向電極21及び
配線間の寄生容量が低減される。この結果、本実施形態
によれば、対向電極21及び配線間の寄生容量に起因し
た配線上の画像信号等の電位変動による対向電極21の
電位変動を低減できる。
【0076】特に、本実施形態の如く対向電極21が比
較的高抵抗のITO膜等からなる場合にも、このように
対向電極21及び配線間の寄生容量を低減することで、
これに起因する対向電極21の電位変動を効率的に低減
できる。この結果、対向電極21の電位を良好に一定電
位(但し、反転駆動時における、周期的に反転する一定
電位も含む)とすることができる。
【0077】加えて、本実施形態の如く、シール領域に
対向電極21を形成しなければ、その分この領域におけ
る透過率が向上するので、例えば紫外線硬化樹脂、熱硬
化樹脂等からなるシール材を、紫外線等を用いて硬化さ
せる際に多少有利となる。
【0078】次に、本実施形態の応用例を図10及び図
11に示す。本実施形態では、画像信号線115や当該
画像信号線115からの引き出し配線116、サンプリ
ング回路駆動信号線114等の配線だけでなく、データ
線6aと対向電極21との容量結合を防ぐ場合について
説明する。
【0079】図10は、図6に示した対向基板20の実
施例に、更にデータ線6aと重なる領域405において
対向電極21を設けないようにする。これにより、デー
タ線6aに供給される画像信号により、対向電極電位の
電位変動が生じないため、更に大幅にゴーストの発生を
低減する事ができる。
【0080】図11は、図10のように構成した場合、
対向電極21の抵抗が高くなるのを防ぐための工夫で、
データ線6aと重なる対向電極21を領域406におい
て取り除くように構成する事で、画素電極9aと重なる
部分の対向電極21の抵抗をできるだけ小さくする事が
できる。
【0081】尚、図10,図11に示した応用例は、図
6〜図9に示した対向基板20の具体例と組合せること
が可能である。
【0082】次に、本実施形態の電気光学装置の画像表
示領域における構成について、図12及び図13を参照
して説明する。図12は、データ線、走査線、画素電極
等が形成されたTFTアレイ基板の相隣接する複数の画
素群の平面図である。図13は、図12のB−B’断面
図である。尚、図12及び図13においては、各層や各
部材を図面上で認識可能な程度の大きさとするため、各
層や各部材毎に縮尺を異ならしめてある。
【0083】図12及び図13において、電気光学装置
は、TFTアレイ基板10と、これに対向配置される透
明な対向基板20とを備えている。TFTアレイ基板1
0は、例えば石英基板、ガラス基板、シリコン基板から
なり、対向基板20は、例えばガラス基板や石英基板か
らなる。
【0084】図12において、電気光学装置のTFTア
レイ基板上には、マトリクス状に複数の透明な画素電極
9a(点線部9a’により輪郭が示されている)が設け
られており、画素電極9aの縦横の境界に各々沿ってデ
ータ線6a及び走査線3aが設けられている。
【0085】また、半導体層1aのうち図12中右上が
りの斜線領域で示したチャネル領域1a’に対向するよ
うに走査線3aが配置されており、走査線3aはゲート
電極として機能する。このように、走査線3aとデータ
線6aとの交差する個所には夫々、チャネル領域1a’
に走査線3aがゲート電極として対向配置された画素T
FT30が設けられている。
【0086】図12及び図13に示すように、容量線3
bは、画素TFT30の高濃度ドレイン領域1eから延
設された画素電位側容量電極1fとの間に絶縁薄膜2を
介して蓄積容量70aを形成している。容量線3bは走
査線3aと同層のポリシリコン膜で形成されており、同
一工程によりエッチングされる。即ち、画素電位側容量
電極1fは、画素TFT30のチャネル領域1a’と同
一膜からなり、第1蓄積容量70aを形成する絶縁薄膜
2は、画素TFT30のゲート絶縁膜と同一膜から形成
されている。これにより、絶縁薄膜2の膜厚が薄くても
緻密で高耐圧な誘電体膜で蓄積容量が形成できる。ま
た、容量線3b及び画素電位側容量電極1fはデータ線
6aの下方まで延設され、この領域においても第1蓄積
容量70aを形成される。このように、非開口領域を有
効に使うことにより図3における蓄積容量70を増大す
ることができる。
【0087】他方、TFTアレイ基板10上におけるT
FT30の下側には、下側遮光膜11aが格子状に設け
られている。下側遮光膜11aは、例えば、Ti(チタ
ン)、Cr(クロム)、W(タングステン)、Ta(タ
ンタル)、Mo(モリブデン)、Pb(鉛)等の高融点
金属のうちの少なくとも一つを含む、金属単体、合金、
金属シリサイド、ポリシリサイド、これらを積層したも
の等からなる。下側遮光膜11aは、下側絶縁膜12を
介して画素TFT30をTFTアレイ基板10側から覆
うように配置することで、TFTアレイ基板10側から
の反射光を遮光することができる。これにより、少なく
とも画素TFT30のチャネル領域1a’とその隣接す
る領域を遮光することができるため、光が起因して生じ
るリーク電流の発生を防ぐことができる。また、図12
に示すように下側遮光膜11aは、データ線6aの下方
において、容量線3bとコンタクトホール13を介して
電気的に接続すれば、容量線3bの冗長配線として機能
する。これにより、容量線の定抵抗化が実現できるだけ
でなく、画素電位側容量電極1fと下側遮光膜11aと
の間に下側絶縁膜12を介して蓄積容量を形成する事も
可能である。
【0088】画素電極9aは、中継層80aを中継する
ことにより、コンタクトホール8a及び8bを介して半
導体層1aのうち高濃度ドレイン領域1eに電気的に接
続されている。中継層80aは、半導体層1aの高濃度
ドレイン領域1eとコンタクトホール8aを介して電気
的に接続されている。中継層80aは図13に示すよう
に、容量線3bとの間に誘電体膜81を介して重ねるよ
うに構成すれば、第2蓄積容量70bを形成することが
できる。このように容量線3bの上方及び下方にて積層
容量を形成することにより、平面的に見て小さい領域に
おいても蓄積容量70を増大することができる。これに
より、開口領域を広げても十分な蓄積容量70を得るこ
とができる。誘電体膜81は、耐圧が許す限り薄膜化す
ることにより、第2蓄積容量70bをさらに増大するこ
とができる。
【0089】また、中継層80aを、例えばTi(チタ
ン)、Cr(クロム)、W(タングステン)、Ta(タ
ンタル)、Mo(モリブデン)、Pb(鉛)等の高融点
金属のうちの少なくとも一つを含む、金属単体、合金、
金属シリサイド、ポリシリサイド、これらを積層したも
の等から形成すれば、遮光膜として機能することができ
る。
【0090】更に、この中継層80aと同一層で、デー
タ線6aの下方に上方遮光膜80bを島状に形成しても
良い。これにより、データ線6aと半導体層1aの間に
遮光膜を形成できるので、チャネル領域1a’及びその
隣接領域への光照射を効果的に防ぐことができる。
【0091】画素電極9aは、第1層間絶縁膜4及び第
2層間絶縁膜7に開孔したコンタクトホール8bを介し
て中継層80aに電気的に接続されている。このよう
に、中継層80aを介在させることにより、エッチング
時に薄い半導体層1aを突き抜けることがないため、接
続不良等の歩留まり低下を招くことがない。
【0092】図13に示すように、データ線6aは、絶
縁薄膜2、誘電体膜81、及び第1層間絶縁膜4に開孔
されたコンタクトホール5を介して半導体層1aの高濃
度ソース領域1dと電気的に接続されている。データ線
6aは、Al等の遮光性の低抵抗膜から形成されてお
り、画素TFT30のチャネル領域1a’及びその隣接
領域を対向基板20側から見て遮光することにより、入
射光を遮光する働きをする。これにより、少なくとも画
素TFT30のチャネル領域1a’とその隣接する領域
を遮光することができるため、光が起因して生じるリー
ク電流の発生を防ぐことができる。
【0093】また、画素スイッチング用のTFT30
は、LDD(Lightly Doped Drain)構造を有してお
り、走査線3a、当該走査線3aからの電界によりチャ
ネルが形成される半導体層1aのチャネル領域1a’、
走査線3aと半導体層1aとを絶縁するゲート絶縁膜を
含む絶縁薄膜2、半導体層1aの低濃度ソース領域1b
及び低濃度ドレイン領域1c、半導体層1aの高濃度ソ
ース領域1d並びに高濃度ドレイン領域1eを備えてい
る。
【0094】更に、画素電極9aの上側には、ラビング
処理等の所定の配向処理が施された配向膜16が設けら
れている。画素電極9aは例えば、ITOなどの透明性
導電膜からなる。また配向膜16は例えば、ポリイミド
膜などの有機膜からなる。
【0095】他方、対向基板20には、その全面に渡っ
て対向電極21が設けられており、その下側には、ラビ
ング処理等の所定の配向処理が施された配向膜22が設
けられている。対向電極21は例えば、ITOなどの透
明性導電膜からなる。また配向膜22は、ポリイミド膜
などの有機膜からなる。
【0096】対向基板20には、格子状又はストライプ
状の遮光膜23を設けるようにしてもよい。このような
構成を採ることで、対向基板20側からの入射光がチャ
ネル領域1a’や低濃度ソース領域1b及び低濃度ドレ
イン領域1cに侵入するのを、より確実に阻止できる。
更に、このような対向基板20上の遮光膜は、少なくと
も入射光が照射される面を高反射なAl等で形成するこ
とにより、電気光学装置の温度上昇を防ぐ働きをする。
また、遮光膜23は、図における額縁53と同一膜で、
同一工程にて形成されても良い。
【0097】このように構成された、画素電極9aと対
向電極21とが対面するように配置されたTFTアレイ
基板10と対向基板20との間には、シール材52(図
1及び図2参照)により囲まれた空間に電気光学物質の
一例である液晶が封入され、液晶層50が形成される。
【0098】本実施形態では、第2層間絶縁膜7の表面
は、CMP(Chemical MechanicalPolishing:化学的機
械研磨)処理等により平坦化されており、その下方に存
在する各種配線や素子による段差に起因する液晶層50
における液晶の配向不良を低減する。
【0099】以上説明した実施形態では、図13に示し
たように多数の導電層を積層することにより、画素電極
9aの下地面におけるデータ線6aや走査線3aに沿っ
た領域に段差が生じるのを、第3層間絶縁膜7の表面を
平坦化することで緩和しているが、これに代えて或いは
加えて、TFTアレイ基板10、下地絶縁膜12、第1
層間絶縁膜4、第2層間絶縁膜7に溝を掘って、データ
線6a等の配線や画素TFT30等を埋め込むことによ
り平坦化処理を行っても良い。
【0100】尚、画素TFT30と同一工程により、図
3におけるデータ線駆動回路101、サンプリング回路
301や走査線駆動回路104を構成するTFTを形成
することができることは言うまでもない。
【0101】次に、図14及び図15を参照して、対向
電極21等を備えた対向基板20の製造プロセスについ
て説明を加える。ここに図14は、対向基板の製造の各
工程における図5に対応する個所の断面を順を追って示
す工程図であり、図15は、マザー基板上に多数形成さ
れている対向基板を示す平面図である。
【0102】図14の工程(1)では、対向基板20上
の全面に、Al、Cr等の遮光膜をスパッタリング、C
VD(化学蒸着)等により形成後、フォトリソグラフィ
及びエッチングにより、図1に示した平面パターンを有
する額縁53を形成する。
【0103】次に、図14の工程(2)では、額縁53
を含めた対向基板20の全面に、CVD等によりITO
膜21’を形成する。一般には、このように形成された
ITO膜21’がそのまま対向電極21として利用され
ている。
【0104】次に、図14の工程(3)では、フォトリ
ソグラフィ及びエッチングにより、配線部と重なる領域
(例えば、図6の領域401)を除く領域にフォトレジ
スト600を形成する。
【0105】次に、図14の工程(4)では、このフォ
トレジスト600を介して、ドライエッチング、ウエッ
トエッチング或いは両者の組み合わせにより、ITO膜
21’をエッチングし、対向電極21を形成する。その
後フォトレジスト600を剥離する。特に、図6から図
8に示した具体例を製造する場合には、この工程で、額
縁53がエッチングに曝されることはないため、前述の
ように額縁を、電気的な腐食に弱いAlを含む膜から形
成することが可能となる。他方、図8に示した具体例を
製造する場合には、この工程で、額縁53が露出してエ
ッチングに曝されるため、電気的な腐食に強い遮光膜を
採用することが望ましい。
【0106】最後に、図14の工程(5)では、対向電
極21を含めた対向基板20上の全面にポリイミド膜等
の有機膜を形成し、これに所定方向のラビング処理を施
して、配向膜22を形成する。
【0107】以上のように本実施形態の製造プロセスに
よれば、上述した本実施形態の電気光学装置に係る対向
基板を比較的簡単に製造できる。特に、通常の基板全面
に対向電極を形成する製造プロセスと比較して、図14
の工程(3)及び工程(4)に示したITO膜21’を
パターニングするプロセスだけ追加すれば済む。
【0108】図15に示すように、本実施形態では好ま
しくは、図14の各工程をマザー基板500上の切断線
501で区切られた各領域に対して行なうことにより、
多数の対向基板20を同時形成する。そして、図14の
工程(5)の後に、切断線501に沿ってダイシングブ
レードを回転させることで容易に切断できる。これによ
り、個々の対向基板20とする。ここでより好ましく
は、工程(3)及び工程(4)でITO膜21’をパタ
ーニングする際に、切断線501に沿った領域に形成さ
れたITO膜21’部分も除去する。具体的には、切断
線501から破線502の領域までITO膜21’を取
り除いておくことにより、対向基板を切り出す際に生じ
るITO膜の塵や異物の発生を未然防止できる。即ち、
対向電極21をパターニングする工程と、マザー基板5
00から対向基板20を切り出す際にITO膜から塵や
異物が発生するのを防ぐための工程とを同一工程として
行なえるので製造工程上有利である。また、マザー基板
500から対向基板20を切り出す方法としては、スク
ライブ法を用いても良い。
【0109】以上図1から図12を参照して説明した実
施形態では、データ線駆動回路101及び走査線駆動回
路104をTFTアレイ基板10の上に設ける代わり
に、例えばTAB(Tape Automated bonding)基板上に
実装された駆動用LSIに、TFTアレイ基板10の周
辺部に設けられた異方性導電フィルムを介して電気的及
び機械的に接続するようにしてもよい。また、対向基板
20の投射光が入射する側及びTFTアレイ基板10の
出射光が出射する側には各々、例えば、TNモード、V
A(Vertically Aligned)モード、PDLC(Polymer D
ispersed LiquidCrystal)モード等の動作モードや、ノ
ーマリーホワイトモード/ノーマリーブラックモードの
別に応じて、偏光フィルム、位相差フィルム、偏光板な
どが所定の方向で配置される。
【0110】(電気光学装置の応用例)以上説明した各
実施形態における電気光学装置は、プロジェクタに適用
できる。上述した電気光学装置をライトバルブとして用
いたプロジェクタについて説明する。図17は、このプ
ロジェクタの構成を示す平面図である。この図に示され
るように、プロジェクタ1100内部には、ハロゲンラ
ンプ等の白色光源からなるランプユニット1102が設
けられている。このランプユニット1102から射出さ
れた投射光は、内部に配置された3枚のミラー1106
および2枚のダイクロイックミラー1108によってR
GBの3原色に分離されて、各原色に対応するライトバ
ルブ100R、100Gおよび100Bにそれぞれ導か
れる。ここで、ライトバルブ100R、100Gおよび
100Bの構成は、上述した実施形態に係る電気光学装
置と同様であり、画像信号を入力する処理回路(図示省
略)から供給されるR、G、Bの原色信号でそれぞれ駆
動されるものである。また、B色の光は、他のR色やG
色と比較すると、光路が長いので、その損失を防ぐため
に、入射レンズ1122、リレーレンズ1123および
出射レンズ1124からなるリレーレンズ系1121を
介して導かれる。
【0111】さて、ライトバルブ100R、100G、
100Bによってそれぞれ変調された光は、ダイクロイ
ックプリズム1112に3方向から入射する。そして、
このダイクロイックプリズム1112において、R色お
よびB色の光は90度に屈折する一方、G色の光は直進
する。したがって、各色の画像が合成された後、スクリ
ーン1120には、投射レンズ1114によってカラー
画像が投射されることとなる。
【0112】なお、ライトバルブ100R、100Gお
よび100Bには、ダイクロイックミラー1108によ
って、R、G、Bの各原色に対応する光が入射するの
で、上述したようにカラーフィルタを設ける必要はな
い。また、ライトバルブ100R、100Bの透過像は
ダイクロイックミラー1112により反射した後に投射
されるのに対し、ライトバルブ100Gの透過像はその
まま投射されるので、ライトバルブ100R、100B
による表示像を、ライトバルブ100Gによる表示像に
対して左右反転させる構成となっている。
【0113】尚、各実施形態では、対向基板20に、カ
ラーフィルタは設けられていない。しかしながら、画素
電極9aに対向する所定領域にRGBのカラーフィルタ
をその保護膜と共に、対向基板20上に形成してもよ
い。このようにすれば、プロジェクタ以外の直視型や反
射型のカラー電気光学装置について、各実施形態におけ
る電気光学装置を適用できる。また、対向基板20上に
1画素1個対応するようにマイクロレンズを形成しても
よい。あるいは、TFTアレイ基板10上のRGBに対
向する画素電極9a下にカラーレジスト等でカラーフィ
ルタ層を形成することも可能である。このようにすれ
ば、入射光の集光効率を向上することで、明るい電気光
学装置が実現できる。更にまた、対向基板20上に、何
層もの屈折率の相違する干渉層を堆積することで、光の
干渉を利用して、RGB色を作り出すダイクロイックフ
ィルタを形成してもよい。このダイクロイックフィルタ
付き対向基板によれば、より明るいカラー電気光学装置
が実現できる。
【0114】本発明は、上述した実施形態に限られるも
のではなく、請求の範囲及び明細書全体から読み取れる
発明の要旨或いは思想に反しない範囲で適宜変更可能で
あり、そのような変更を伴なう電気光学装置及びその製
造方法もまた本発明の技術的範囲に含まれるものであ
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施形態の電気光学装置におけるTF
Tアレイ基板をその上に形成された各構成要素と共に対
向基板の側から見た平面図である。
【図2】図1のH−H’断面図である。
【図3】本発明の実施形態の電気光学装置における画像
表示領域を構成するマトリクス状の複数の画素に設けら
れた各種素子、配線等の等価回路及び周辺回路のブロッ
ク図である。
【図4】図2のC領域における平面パターン図である。
【図5】図4のA−A’断面図である。
【図6】本実施形態の電気光学装置における対向電極の
平面パターンの一具体例を示す平面図である。
【図7】本実施形態の電気光学装置における対向電極の
平面パターンの他の具体例を示す平面図である。
【図8】本実施形態の電気光学装置における対向電極の
平面パターンの他の具体例を示す平面図である。
【図9】本実施形態の電気光学装置における対向電極の
平面パターンの他の具体例を示す平面図である。
【図10】本実施形態の電気光学装置における対向電極
の平面パターンの一応用例を示す平面図である。
【図11】本実施形態の電気光学装置における対向電極
の平面パターンの他の応用例を示す平面図である
【図12】実施形態の電気光学装置におけるデータ線、
走査線、画素電極等が形成されたTFTアレイ基板の相
隣接する複数の画素群の平面図である。
【図13】図12のB−B’断面図である。
【図14】本実施形態に係る対向基板の製造プロセスを
示す工程図である。
【図15】本実施形態に係る対向基板を多数含むマザー
基板の平面図である。
【図16】画像信号の電位変動による対向電極電位の電
位変動を示したタイミングチャート図である。
【図17】プロジェクタの構成を示す平面図である。
【符号の説明】
1a…半導体層 1a’…チャネル領域 1b…低濃度ソース領域 1c…低濃度ドレイン領域 1d…高濃度ソース領域 1e…高濃度ドレイン領域 2…絶縁薄膜 3a…走査線 6a…データ線 9a…画素電極 10…TFTアレイ基板 11a…下側遮光膜 12…下地絶縁膜 16…配向膜 20…対向基板 21…対向電極 22…配向膜 30…TFT 50…液晶層 70…蓄積容量 101…データ線駆動回路 104…走査線駆動回路 114…サンプリング回路駆動信号線 115…画像信号線 116…引き出し配線 301…サンプリング回路 500…マザー基板
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) G02F 1/1368 G02F 1/1368 5C080 G03B 21/00 G03B 21/00 E 5C094 G09F 9/00 348 G09F 9/00 348C 5G435 9/30 330 9/30 330Z 340 340 349 349C G09G 3/20 623 G09G 3/20 623L 680 680C 680G // G09G 3/36 3/36 Fターム(参考) 2H088 EA12 HA02 HA06 HA08 HA12 HA13 HA24 HA28 HA30 MA01 MA04 2H091 FA02Y FA05Z FA23Z FA26X FA29 FA41Z GA03 GA08 GA11 GA13 LA17 2H092 GA32 GA51 JA26 JA34 JA37 JA46 JB02 JB14 JB22 JB31 JB51 JB69 KB04 MA13 MA18 NA01 PA03 PA06 PA08 PA13 2H093 NC23 ND15 5C006 BB16 BC14 BC20 BC23 BF11 EB05 FA37 5C080 AA10 BB05 DD30 FF11 JJ02 JJ04 JJ06 KK43 5C094 AA02 BA03 BA43 CA19 DA14 DA15 DB01 DB03 DB04 EA04 EA07 EB02 HA10 5G435 AA00 BB12 BB17 DD02 DD04 EE33 EE37 FF05 FF13 GG02 GG21 KK05 LL15

Claims (19)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 一対の第1及び第2基板間に電気光学物
    質が挟持されてなり、 前記第1基板上における画像表示領域に、複数の画素電
    極を備えており、 前記第1基板上における前記画像表示領域及び前記画像
    表示領域の周辺に位置する周辺領域に、前記画素電極に
    信号を供給するための配線を備えており、 前記第2基板上における前記複数の画素電極に対向する
    と共に前記配線のうち少なくとも前記周辺領域にある配
    線部分に対向する領域の少なくとも一部には対向電極は
    形成されないことを特徴とする電気光学装置。
  2. 【請求項2】 前記対向電極は、平面的に見て前記配線
    に対向する領域を配線毎に避けるように短冊状或いはス
    トライプ状に形成されていることを特徴とする請求項1
    に記載の電気光学装置。
  3. 【請求項3】 前記対向電極は、平面的に見て前記配線
    に対向する領域を相隣接する複数の配線毎に避けるよう
    に形成されていることを特徴とする請求項1に記載の電
    気光学装置。
  4. 【請求項4】 前記対向電極は、前記周辺領域に全く形
    成されていないことを特徴とする請求項1に記載の電気
    光学装置。
  5. 【請求項5】 前記配線は、前記周辺領域に形成された
    画像信号を供給するための画像信号線を含むことを特徴
    とする請求項1から4のいずれか一項に記載の電気光学
    装置。
  6. 【請求項6】 前記配線は、少なくとも前記画像表示領
    域に形成されており画像信号を供給するためのデータ線
    を含むことを特徴とする請求項1から5のいずれか一項
    に記載の電気光学装置。
  7. 【請求項7】 相隣接する複数のデータ線には、シリア
    ル−パラレル変換された画像信号が同一タイミングで供
    給されることを特徴とする請求項6に記載の電気光学装
    置。
  8. 【請求項8】 前記周辺領域に周辺回路を更に備えてお
    り、 前記配線は、前記周辺領域に形成された画像信号を供給
    するための画像信号線及び該画像信号線と前記周辺回路
    とを接続する引き出し配線を含むことを特徴とする請求
    項1から7のいずれか一項に記載の電気光学装置。
  9. 【請求項9】 前記周辺回路は、前記引き出し配線に供
    給される画像信号をサンプリングするサンプリング回路
    を含むことを特徴とする請求項8に記載の電気光学装
    置。
  10. 【請求項10】 前記対向電極と前記配線の一部とを電
    気的に接続するための上下導通端子が、前記第2基板の
    隅に設けられていることを特徴とする請求項1から9の
    いずれか一項に記載の電気光学装置。
  11. 【請求項11】 前記第1及び第2基板は、前記画像表
    示領域の外側に設けられたシール領域においてシール材
    により貼り合わされており、 前記対向電極は、前記シール領域内で、前記配線に対向
    する領域には少なくとも部分的に形成されていないこと
    を特徴とする請求項1から10のいずれか一項に記載の
    電気光学装置。
  12. 【請求項12】 前記対向電極は、前記シール領域に全
    く形成されていないことを特徴とする請求項11に記載
    の電気光学装置。
  13. 【請求項13】 前記第2基板に、前記画像表示領域の
    周囲に額縁を規定すると共に前記配線の一部と前記対向
    電極とを電気的に接続するための上下導通端子部を含む
    導電性の遮光膜を更に備えたことを特徴とする請求項1
    2に記載の電気光学装置。
  14. 【請求項14】 前記第2基板に、前記画像表示領域の
    周囲に額縁を規定すると共にアルミニウムを含有した膜
    からなる導電性の遮光膜を更に備えており、 前記額縁を規定する遮光膜上には、前記対向電極が形成
    されていることを特徴とする請求項1から13のいずれ
    か一項に記載の電気光学装置。
  15. 【請求項15】 一対の第1基板及び第2基板間に電気
    光学物質が挟持されてなり、 前記第1基板上における画像表示領域に、複数の画素電
    極を備えており、 前記第1基板上における前記画像表示領域及び前記画像
    表示領域の周辺に位置する周辺領域に、前記画素電極に
    信号を供給するための配線を備えており、 前記第2基板上における前記複数の画素電極に対向する
    と共に前記配線のうち少なくとも前記周辺領域にある配
    線部分に対向しない領域に形成された対向電極を備えた
    ことを特徴とする電気光学装置。
  16. 【請求項16】 請求項1から15のいずれか一項に記
    載の電気光学装置に係る対向基板の製造方法であって、 前記第2基板の全面に前記対向電極となる導電膜を形成
    する成膜工程と、 前記導電膜に対するフォトリソグラフィ及びエッチング
    により、前記配線に対向する領域に形成された前記導電
    膜を少なくとも部分的に除去することにより前記対向電
    極を形成するエッチング工程とを備えたことを特徴とす
    る対向基板の製造方法。
  17. 【請求項17】 前記対向基板をマザー基板上に複数形
    成し、 前記エッチング工程では、前記配線に対向する領域に加
    えて、切断線に沿った領域に形成された前記導電膜を除
    去し、 前記導電膜が除去された切断線に沿った領域内で切断を
    行う切断工程を更に備えたことを特徴とする請求項16
    に記載の対向基板の製造方法。
  18. 【請求項18】 前記切断工程は、ダイシングブレード
    にて切断することを特徴とする請求項17に記載の対向
    基板の製造方法。
  19. 【請求項19】 光源と、 請求項1から15のいずれか一項に記載の電気光学装置
    でなるライトバルブと、 前記光源から発生した光を前記ライトバルブに導光する
    導光部材と、 前記ライトバルブで変調された光を投射する投射光学部
    材とを備えることを特徴とする投射型表示装置。
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005084650A (ja) * 2003-09-11 2005-03-31 Seiko Epson Corp 表示装置及び電子機器
JP2009053298A (ja) * 2007-08-24 2009-03-12 Sony Corp El表示パネルモジュール、タイミングジェネレータ、ライトスキャンドライバ及び電子機器
JP2009199078A (ja) * 2008-02-20 2009-09-03 Toppoly Optoelectronics Corp 画像表示システム
US7615810B2 (en) 2005-02-17 2009-11-10 Seiko Epson Corporation Electro-optical device, method of manufacturing electro-optical device, and electronic apparatus

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005084650A (ja) * 2003-09-11 2005-03-31 Seiko Epson Corp 表示装置及び電子機器
JP4556404B2 (ja) * 2003-09-11 2010-10-06 セイコーエプソン株式会社 表示装置及び電子機器
US7615810B2 (en) 2005-02-17 2009-11-10 Seiko Epson Corporation Electro-optical device, method of manufacturing electro-optical device, and electronic apparatus
JP2009053298A (ja) * 2007-08-24 2009-03-12 Sony Corp El表示パネルモジュール、タイミングジェネレータ、ライトスキャンドライバ及び電子機器
JP2009199078A (ja) * 2008-02-20 2009-09-03 Toppoly Optoelectronics Corp 画像表示システム

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