JP2002184704A - 回転電極のドライクリーニング装置及びプラズマ処理装置 - Google Patents

回転電極のドライクリーニング装置及びプラズマ処理装置

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JP2002184704A JP2000381810A JP2000381810A JP2002184704A JP 2002184704 A JP2002184704 A JP 2002184704A JP 2000381810 A JP2000381810 A JP 2000381810A JP 2000381810 A JP2000381810 A JP 2000381810A JP 2002184704 A JP2002184704 A JP 2002184704A
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裕史 後藤
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Abstract

(57)【要約】 【課題】稼働率の向上を図れ、しかも生産コストの低廉
化が可能な回転電極のドライクリーニング装置及び回転
電極を用いたプラズマ処理装置を提供する。 【解決手段】電源15により放電発生用電圧が印加さ
れ、サセプタ17との間の処理用狭隙間17aにおいて
プラズマ17bを発生させて反応ガスを分解させる回転
電極12をドライクリーニングするためのものであっ
て、回転電極12の周囲であって、サセプタ17から回
転電極12の周方向に外れた位置に、回転電極12との
間にクリーニング用狭隙間112aを形成する第2対向
電極112と、クリーニング用狭隙間112aにクリー
ニングガスを存在させる雰囲気調整手段(隔壁部材11
3、ガス導入管115、排気管116等)とを具備す
る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、回転電極を各々用いた
プラズマCVD装置、エッチング装置及び表面処理装置
などのプラズマ処理装置、並びにそのプラズマ処理装置
における回転電極のドライクリーニング装置に関するも
のである。
【0002】
【従来の技術】薄膜形成処理やエッチング処理、表面改
質などの表示処理に、プラズマを利用することが行われ
ている。そのプラズマとしては、反応ガスの導入を伴う
反応性プラズマ、一般的には0.1〜10Torrの低
圧下でのグロー放電プラズマが用いられている。
【0003】上記グロー放電プラズマを用いる表面処理
装置では排気系が接続された真空容器が必要である故に
大型化を伴い、装置コストが高価なものとなってしまう
という難点がある。
【0004】そこで、コストの低廉化を図るべく、低圧
下ではなく、大気圧付近の圧力下でグロー放電プラズマ
を生成させ、その生成したグロー放電プラズマを用いて
表面処理を行う方法が提案されている(特開平6−21
49)。
【0005】更には、グロー放電プラズマの生成空間を
小さくする方法が提案されている(特開平9−1049
85)。この方法は、対向する2つの対向電極の一方で
ある放電電極側を回転電極とし、回転電極ともう一方の
対向電極との狭隙間において線状のグロー放電プラズマ
を生成させ、そのプラズマ生成部に被処理体をスキャン
移動させて表面処理を行う方法である。この方法による
場合には、回転電極を用いる故に、回転電極と対向電極
の狭隙間において線状のプラズマ生成部を局所的に発生
させ得、放電空間を小さくすることができる。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】ところで、回転電極を
用いる場合には、プラズマによって生成される反応種が
回転電極表面に堆積する。例えば、被処理体である基板
上にSiH4を用いてアモルファスシリコンを堆積させ
る場合には、基板上の堆積量と同程度のアモルファスシ
リコンが回転電極表面に堆積する。また、CF4などの
フルオロカーボンガスを用いてエッチングを行う場合に
も、回転電極にバイアス電圧が印加されていなければ、
同様に回転電極表面にフルオロカーボンポリマーが堆積
する。
【0007】このように回転電極に堆積した膜はパーテ
ィクル発生の原因となり、また膜の累積厚が厚くなると
膜そのものが剥離して基板上へ落下するなどし、成膜条
件の悪化が招来されるという欠点がある。
【0008】そこで、成膜条件の改善を図るべく、累積
膜厚がある程度に達するとメンテナンス作業を行ってい
る。そのメンテナンス作業としては、回転電極を交換す
ること、ウェットクリーニングを行うこと、あるいは、
容器内のガスを置換してSF 6などのクリーニングガス
を導入し、ドライクリーニングを行うことなどが用いら
れる。
【0009】しかしながら、このメンテナンス作業は、
生産を一時停止して行われるため、稼働率の低下を招
き、生産コストが上がるなどの問題点がある。
【0010】本発明は、このような従来技術の課題を解
消させるべくなされたものであり、稼働率の向上を図
れ、しかも生産コストの低廉化が可能な回転電極のドラ
イクリーニング装置及び回転電極を用いたプラズマCV
D装置を提供することを目的とする。
【0011】
【課題を解決するための手段】本発明の請求項1に係る
回転電極のドライクリーニング装置は、放電発生用電圧
が印加され、対向電極との間の処理用狭隙間でグロー放
電によるプラズマを発生させて反応ガスを分解させる回
転電極をドライクリーニングするためのものであって、
該回転電極の周囲であり、該対向電極から回転電極の周
方向に外れた位置に、該回転電極との間にクリーニング
用狭隙間を形成する第2対向電極と、該クリーニング用
狭隙間にクリーニングガスを存在させる雰囲気調整手段
とを具備することを特徴とする。
【0012】この回転電極のドライクリーニング装置に
あっては、回転電極を用いたプラズマCVD装置、エッ
チング装置又は表面処理装置等のプラズマ処理装置にお
いて、該当する処理を行うと、つまり回転電極に放電発
生用電圧(例えば高周波或いは直流電圧)を印加する
と、処理用狭隙間だけでなく、クリーニング用狭隙間に
おいてもグロー放電によるプラズマが発生する。このプ
ラズマは被処理体に該当する処理を施すための反応ガス
によるプラズマではなく、第1空間内に導入されたクリ
ーニングガスによるプラズマであり、回転電極の表面を
ドライクリーニングすることができる。したがって、対
向電極側では被処理体への膜堆積などの処理を、その一
方、第2対向電極側では回転電極のドライクリーニング
処理を同時に行うことが可能となる。あるいは被処理体
への膜堆積などの処理と次処理との間の待ち時間、つま
り被処理体が処理用狭隙間に存在しない場合に、回転電
極に放電発生用電圧を印加し、第2対向電極側において
回転電極のクリーニング処理を行うことが可能となる。
【0013】例えば、SiH4を用いて対向電極側でア
モルファスシリコンを被処理体上に成膜する場合、第2
対向電極側において、第1空間内に導入するクリーニン
グガスにSF6あるいはNF3を用いると、Fラジカルを
含むプラズマを発生させ得、これにより回転電極表面に
堆積するアモルファスシリコンをドライエッチングする
ことができる。あるいは、対向電極側においてCF4
CHF3,C26,C36,C48などのフルオロカー
ボンガスを用いて被処理体にフルオロカーボンポリマー
を成膜する場合や、CH4やC24などを用いて被処理
体にアモルファスカーボンやDLC(ダイヤモンドライ
クカーボン)を成膜する場合にあっては、第2対向電極
側においては、第1空間内に導入するクリーニングガス
にO2を用いてOラジカルを発生させ、回転電極表面に
堆積するフルオロカーボンポリマーやアモルファスカー
ボン、DLCなどを灰化させてドライエッチングするこ
とができる。また、CF4およびO2を用いて被処理体を
等方的にエッチングする場合や、CF4やCHF3,C2
6,C36,C48などのフルオロカーボンガスを用
いると共に被処理体にバイアス電圧を印加して異方的に
エッチングする表面処理を行う場合なども、第1空間内
に導入するO2によってOラジカルを発生させ、回転電
極表面に堆積するフルオロカーボンポリマーなどを灰化
させてドライエッチングすることができる。
【0014】このように対向電極側ではプラズマによる
被処理体への膜堆積やエッチング、或いは表示処理など
の処理を、第2対向電極側ではプラズマによるドライク
リーニング処理が同時に可能となる結果、あるいは被処
理体への処理間の待ち時間において同クリーニング処理
が可能となる結果、回転電極の交換や回転電極のウェッ
トクリーニングなどのメンテナンス作業のサイクルを大
幅に延ばすことができるため、稼働率の向上を図れ、生
産コストの低廉化が可能である。
【0015】また、本発明の請求項2に係る回転電極の
ドライクリーニング装置は、前記回転電極、前記対向電
極及び前記第2対向電極を内部に含む容器を有し、前記
雰囲気調整手段は、該容器内の空間を、該クリーニング
用狭隙間を含む第1空間と該処理用狭隙間を含む第2空
間とに隔て、かつ回転電極との間に狭隙間を有する状態
で設けられた絶縁性の隔壁部材と、該第1空間内にクリ
ーニングガスを導入するための導入管と、該第1空間内
を排気するための排気管とを備えることを特徴とする。
【0016】この発明にあっては、クリーニング用狭隙
間を含む第1空間と処理用狭隙間を含む第2空間とが隔
壁部材にて隔てられているので、第1空間に導入管を介
して導入したクリーニングガスが第2空間へ拡散し難く
なって第1空間から排気管によって容器外へ排気され
る。このため、第2空間で行われている前記該当する処
理は、クリーニングガスによる悪影響を受け難くなる。
【0017】本発明の請求項3に係る回転電極のドライ
クリーニング装置は、前記第1空間の圧力が前記第2空
間の圧力よりも小さいことを特徴とする。
【0018】この発明にあっては、第1空間の圧力が第
2空間の圧力よりも小さいので、隔壁部材と回転電極と
の間に狭隙間があっても、第1空間内に導入したクリー
ニングガスが第2空間に拡散することを抑制できる。
【0019】また、本発明の請求項4に係る回転電極の
ドライクリーニング装置は、前記回転電極、前記対向電
極及び前記第2対向電極を内部に含む容器を有し、前記
雰囲気調整手段は、該容器内の空間を、前記クリーニン
グ用狭隙間を含む第1空間、前記処理用狭隙間を含む第
2空間、及び第1空間と第2空間との間の第3空間に隔
て、かつ回転電極との間に狭隙間を有する状態で設けら
れた複数の絶縁性の隔壁部材と、該第1空間内にクリー
ニングガスを導入するための導入管と、該第3空間内を
排気するための排気管とを備えることを特徴とする。
【0020】この発明にあっては、容器内の空間を第1
空間と第2空間と第3空間とに隔壁部材により隔てら
れ、第1空間にはクリーニングガスが導入され、第3空
間には排気管が設けられているので、第1空間に導入さ
れたクリーニングガスが隔壁部材と回転電極との間の狭
隙間から第3空間に拡散しても排気管により排気され、
一方第2空間内の反応ガスが隔壁部材と回転電極との間
の狭隙間から第3空間に拡散しても排気管により排気さ
れるので、第1空間のクリーニングガスが第2空間に拡
散すること、及び第2空間の反応ガスが第1空間に拡散
することが抑制される。
【0021】また、本発明の請求項5に係る回転電極の
ドライクリーニング装置は、前記隔壁部材が、第1空間
と第3空間との間を隔てる第1隔壁部材と、第2空間と
第3空間との間を隔てる第2隔壁部材とを有し、第1又
は第2隔壁部材の少なくとも一方の内部に、前記回転電
極に向けてパージガスを噴出するためのガス導入孔を有
することを特徴とする。
【0022】この発明にあっては、第1隔壁部材及び第
2隔壁部材の少なくとも一方から回転電極に向けて噴出
するパージガスにより該当する隔壁部材と回転電極との
狭隙間がパージされるので、第1空間のクリーニングガ
スが第3空間に拡散すること、及び第2空間の反応ガス
が第3空間に拡散することが抑制され、これにより、第
1空間のクリーニングガスが第2空間に拡散すること、
及び第2空間の反応ガスが第1空間に拡散することがさ
らに抑制される。
【0023】また、本発明の請求項6に係る回転電極の
ドライクリーニング装置は、前記第2対向電極が、その
回転電極側表面にクリーニングガスを回転電極に向けて
噴出させる噴出口を有することを特徴とする。
【0024】この発明にあっては、回転電極に接近して
設けられる第2対向電極の回転電極側表面からクリーニ
ングガスが噴出するので、回転電極の表面を確実にドラ
イクリーニングすることが可能になる。
【0025】本発明の請求項7に係る回転電極のドライ
クリーニング装置は、前記第2対向電極が、前記回転電
極に対して接離可能に設けられ、前記クリーニング用狭
隙間を調整できる構成となっていることを特徴とする。
【0026】この発明にあっては、第2対向電極を回転
電極に対して接離することができるので、例えば対向電
極側で被処理体への堆積等の処理中において、あるいは
処理間の待ち時間において、第2対向電極を回転電極に
接近させてプラズマを発生させたり、或いは第2対向電
極を回転電極から遠ざけてプラズマを消滅させるといっ
た制御を行うことが可能となる。
【0027】本発明の請求項8に係るプラズマ処理装置
は、反応ガスが導入される容器と、該容器内に互いに対
向して離隔設置された一対の回転電極及び対向電極と、
該回転電極に放電発生用電圧を印加する電源とを備え、
該回転電極と対向電極との間の処理用狭隙間においてグ
ロー放電によるプラズマを発生させて、該処理用狭隙間
に配した被処理体の表面に処理を施すプラズマ処理装置
において、該回転電極の周囲であって、該対向電極から
回転電極の周方向に外れた位置に、請求項1乃至7のい
ずれかに記載の回転電極のドライクリーニング装置が設
けられていることを特徴とする。
【0028】このプラズマ処理装置にあっては、回転電
極を用いたプラズマCVD装置、エッチング装置又は表
面処理装置等のプラズマ処理装置において、該当する処
理を行うと、つまり回転電極に放電発生用電圧(例えば
高周波或いは直流電圧)を印加すると、処理用狭隙間だ
けでなく、クリーニング用狭隙間においてもグロー放電
によるプラズマが発生する。このプラズマは被処理体に
該当する処理を施すための反応ガスによるプラズマでは
なく、第1空間内に導入されたクリーニングガスによる
プラズマであり、回転電極の表面をドライクリーニング
することができる。したがって、対向電極側では被処理
体への膜堆積などの処理を、その一方、第2対向電極側
では回転電極のドライクリーニング処理を同時に行うこ
とも可能であり、もちろん処理間の待ち時間において同
クリーニング処理のみを行うことも可能となる。
【0029】このように対向電極側ではプラズマによる
被処理体への膜堆積などの処理を、第2対向電極側では
プラズマによるドライクリーニング処理が同時に可能と
なる結果、回転電極の交換や回転電極のウェットクリー
ニングなどのメンテナンス作業のサイクルを大幅に延ば
すことができるため、稼働率の向上を図れ、生産コスト
の低廉化が可能である。
【0030】また、第1空間と第2空間とが隔壁部材に
て隔てられているので、第1空間に導入管を介して導入
したクリーニングガスが第2空間へ拡散し難くなって第
1空間から排気管によって容器外へ排気される。このた
め、第2空間で行われている前記該当する処理は、クリ
ーニングガスによる悪影響を受け難くなる。
【0031】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施形態を具体的
に説明する。
【0032】(第1実施形態)図1に、本発明の第1実
施形態に係る回転電極のドライクリーニング装置を組み
込んだプラズマCVD装置の模式図を示す。
【0033】このプラズマCVD装置は、容器11と、
容器11内に設置され、回転軸13にて回転可能に支持
された回転電極12と、容器11内であって回転電極1
2の下側に設けられ、回転電極12に対向して第1対向
電極として機能するサセプタ17と、容器11内であっ
て回転電極12の上側に設けられ、回転電極12に対向
する第2対向電極112とを有する。
【0034】回転電極12は、軸心部に回転軸13を有
する概略円柱状のアルミニウム製であり、その外径は3
00mm、幅は500mmである。回転電極12の表面
にはAl23膜が、例えば厚さ100μmで溶射被覆さ
れている。回転電極12の回転数は0〜3000rpm
の範囲で可変可能となっており、本実施形態では150
0rpmとした。回転軸13には整合器14を介して高
周波電源15が接続されている。高周波電源15は、本
実施形態ではその周波数を150MHzとし、また高周
波電力を1kWとした。
【0035】サセプタ17は、矢印19方向にスキャン
移動可能となっていて、その上側には、被処理体として
の基板16が真空チャックにて設置される。なお、図1
中の11b、11cは、基板16の出し入れを行うため
の開閉部である。基板16は、本実施形態では30cm
角で厚さ1.1mmのガラス基板を使用した。回転電極
12とガラス基板16との間の処理用狭隙間17aは、
本実施形態では1mmとした。この狭隙間17aには、
回転電極12に高周波電源15から前記高周波電力を供
給することによりグロー放電プラズマ17bが発生す
る。サセプタ17内にはヒーター18が内蔵され、基板
16の温度は0〜300℃の範囲で可変可能である。
【0036】容器11内にはガス導入管110と排気管
111とが連通連結されていて、ガス導入管110より
反応ガスが導入され、排気管111より反応ガスの排気
が行われ、容器11内は所望の圧力を維持できるように
なっている。反応ガスの容器11内への導入は、本実施
形態ではHeを10slm、H2を10slm、SiH4
を1slmで導入した。容器11内の圧力は、本実施形
態では200Torrに設定した。
【0037】第2対向電極112は、回転軸13に沿っ
て長いライン状のものであり、第2対向電極112には
昇降装置114が具備されている。昇降装置114によ
り昇降される第2対向電極112と回転電極12との間
のクリーニング用狭隙間112aは0〜50mmまで可
変可能となっており、本実施形態では1mmとした。
【0038】第2対向電極112の外側には、クリーニ
ング用狭隙間112aを含む空間113aと容器内空間
11aとに隔てる絶縁性の隔壁部材113が設置されて
いる。隔壁部材113は、図2に示すように回転電極1
2の上側表面を覆う4側面113A、113B、113
C、113Dを有し、各側面113A〜113Dに、例
えば厚み20mmのAl23セラミックを使用したもの
で、容器11の天井11bに垂下状態で取付けられ、隔
壁部材113と回転電極12との間の狭隙間113bは
0.5mmとした。上記空間113aの内部には、ガス
導入管115と排気管116とが連通連結されていて、
空間113aにはガス導入管115よりガスが導入され
る。本実施形態ではガス導入管115より希ガスHeを
1slm、クリーニングガスSF6を100sccm導
入した。また、空間113aの圧力を容器内圧力200
Torrよりも減圧の100Torrに設定し、その圧
力差により、空間113aに導入したクリーニングガス
が狭隙間113bを介して容器内空間11aへ拡散する
ことを抑制している。なお、隔壁部材113、ガス導入
管115及び排気管116は雰囲気調整手段を構成し、
また、その雰囲気調整手段及び第2対向電極112は回
転電極12をクリーニングするドライクリーニング装置
を構成する。
【0039】次に、このように構成された、ドライクリ
ーニング装置を備えるプラズマCVD装置の動作内容を
説明する。
【0040】所定の準備が終了すると、サセプタ17上
に設置したガラス基板16の先端16aを回転電極12
の直下に位置させておき、回転電極12に高周波電力1
5を供給し、回転電極12とガラス基板16間の狭隙間
17aにグロー放電プラズマ17bを発生させて前記反
応ガスを分解する。
【0041】プラズマ17bが発生した後、サセプタ1
7を矢印19方向に、例えばスキャン速度を4mm/s
ecとしてスキャン移動させる。これにより、ガラス基
板16上にはアモルファスシリコンが堆積する。ガラス
基板16上に堆積するアモルファスシリコンの成膜厚み
はスキャン速度に依存する。
【0042】然る後、ガラス基板16の後端16bが回
転電極12直下に到着すると、高周波電源15からの高
周波電力の供給を停止し、プラズマをオフさせる。
【0043】上述したプラズマ17bの発生とほぼ同時
に、第2対向電極112と回転電極12との間のクリー
ニング用狭隙間112aにもプラズマ112bが発生す
る。このプラズマ112bはSF6を含む反応性プラズ
マであり、このプラズマ112bによって回転電極12
の表面に堆積したアモルファスシリコンがエッチングさ
れる。
【0044】したがって、第1実施形態のプラズマCV
D装置による場合には、サセプタ17側ではガラス基板
16上にアモルファスシリコンが堆積する処理が行わ
れ、第2対向電極112側では回転電極12の表面に堆
積したアモルファスシリコンをエッチングする処理が行
われるので、生産を一時中止することなく回転電極12
をクリーニングすることができる。このとき、上述した
本実施形態の条件で生産した場合は、放電終了後の回転
電極12における累積膜厚を、クリーニングしない場合
の累積膜厚に対して1/10にまで低減することができ
た。これにより、メンテナンス作業のサイクルを大幅に
延ばすことが可能となる故に、稼働率の向上を図れ、し
かも生産コストの低廉化が可能となる。
【0045】また、昇降装置114により第2対向電極
112を回転電極12に対して接離することができるの
で、例えばサセプタ17側で基板16への処理中におい
て、第2対向電極112を回転電極12に接近させてプ
ラズマを発生させたり、或いは第2対向電極112を回
転電極12から遠ざけてプラズマを消滅させる制御を行
うことが可能となる。これによって被処理体への膜堆積
などの処理間の待ち時間、つまりガラス基板16が処理
用狭隙間17aに存在しない場合に、第2対向電極11
2を昇降装置114を通じて回転電極12に接近させて
プラズマを発生させることで、処理間の待ち時間をメン
テナンス時間へと変えることにより待ち時間を減少また
は無くすことも可能となる。
【0046】(第2実施形態)図3に、本発明の第2実
施形態に係る回転電極のドライクリーニング装置を示
す。
【0047】このドライクリーニング装置は、隔壁部材
を二重構造とし、クリーニングガスの容器内空間への拡
散を極力抑制したものであり、以下に詳述する。
【0048】回転電極21の上側に、第2対向電極22
が回転電極21との間のクリーニング用狭隙間22aを
確保して設置されている。第2対向電極22は、昇降装
置23を備え、これにより昇降可能となっていて、狭隙
間22aを0〜50mmの範囲で可変可能である。
【0049】第2対向電極22の外側には絶縁性の第1
隔壁部材24が設置されている。第1隔壁部材24は、
図4に示すように回転電極21の上側表面を覆う4側面
24A、24B、24C、24Dを有し、各側面24A
〜24Dに例えば厚みが20mmのAl23セラミック
を使用したものであり、容器天井28bに垂下状態で取
付けられ、第1隔壁部材24と回転電極21との間の狭
隙間24bは0.5mmとした。
【0050】さらに第1隔壁部材24の外側には絶縁性
の第2隔壁部材25が設置されている。第2隔壁部材2
5は、図4に示すように回転電極21の上側表面を覆う
4側面25A、25B、25C、25Dを有し、各側面
25A〜25Dに、例えば厚みが20mmのAl23
ラミックを使用したものであり、容器天井28bに垂下
状態で取付けられ、第2隔壁部材25と回転電極21と
の間の狭隙間25bは0.5mmとした。
【0051】第1隔壁部材24で囲まれた空間24aに
はガス導入管26が連通連結されており、さらに第1隔
壁部材24と第2隔壁部材25とで囲まれた空間25a
には排気管27が連通連結されている。なお、第1隔壁
部材24、第2隔壁部材25、ガス導入管26及び排気
管27は雰囲気調整手段を構成する。
【0052】このように構成された第2実施形態のドラ
イクリーニング装置において、ガス導入管26から第1
実施形態と同様にHeとSF6を導入してクリーニング
用狭隙間22aにプラズマ22bを発生させると共に、
容器内空間28の圧力を200Torr、第1隔壁部材
24と第2隔壁部材25内の空間25aの圧力を100
Torrに設定した。この場合、容器内空間28の圧力
と、空間25aの圧力と、空間24aの圧力との関係
が、下記(1)式及び(2)式の関係が成り立つように
なり、これらの圧力差により、空間24aに導入された
クリーニングガスが狭隙間24bから空間25aに拡散
しても排気管27により排気され、一方容器内空間28
内の反応ガスが狭隙間25bから空間25aに拡散して
も排気管27により排気される。
【0053】容器内空間28圧力>空間25aの圧力
…(1)空間25aの圧力<空間24aの圧力 …
(2)以上のことにより、第2実施形態のドライクリー
ニング装置による場合には、空間24aに導入したクリ
ーニングガスが容器内空間28へ拡散すること、及び容
器内空間28の反応ガスが空間24aへ拡散することを
抑制することができる。
【0054】(第3実施形態)図5に、本発明の第3実
施形態に係る回転電極のドライクリーニング装置を示
す。
【0055】このドライクリーニング装置は、回転電極
31の上側に、第2対向電極32が回転電極31との間
のクリーニング用狭隙間32aを確保して設置されてい
る。第2対向電極32は、昇降装置33を備え、これに
より昇降可能となっていて、狭隙間32aを0〜50m
mの範囲で可変可能である。
【0056】第2対向電極32の外側には、第2実施形
態と同様にして、絶縁性の第1隔壁部材34が設置さ
れ、その外側に絶縁性の第2隔壁部材35が設置されて
いる。第1隔壁部材34は、図6に示すように回転電極
31の上側表面を覆う4側面34A、34B、34C、
34Dを有し、各側面34A〜34Dに、例えば厚みが
20mmのAl23セラミックを使用したものであり、
容器天井38bに垂下状態で取付けられ、第1隔壁部材
34と回転電極31との間の狭隙間34bは0.5mm
とした。また、第1隔壁部材34を構成する4側面34
A〜34Dそれぞれの内部にはガス導入孔34dが設け
られ、ガス導入孔34dにはガス導入管34cが連通連
結されている。
【0057】第2隔壁部材35は、図6に示すように回
転電極31の上側表面を覆う4側面35A、35B、3
5C、35Dを有し、各側面35A〜35Dに、例えば
厚みが20mmのAl23セラミックを使用したもので
あり、容器天井38bに垂下状態で取付けられ、第2隔
壁部材35と回転電極31との間の狭隙間35bは0.
5mmとした。また、第2隔壁部材35を構成する4側
面35A〜35Dそれぞれの内部にはガス導入孔35d
が設けられ、ガス導入孔35dにはガス導入管35cが
連通連結されている。
【0058】第1隔壁部材34で囲まれた空間34aに
はガス導入管36が連通連結されており、さらに第1隔
壁部材34と第2隔壁部材35とで囲まれた空間35a
には排気管37が連通連結されている。上記ガス導入管
36からは、クリーニングガスが空間34aに導入され
る。第2隔壁部材35の外側は容器内空間38となって
いる。図5中の32bは、狭隙間32aに発生するプラ
ズマである。
【0059】このように構成された第3実施形態のドラ
イクリーニング装置において、ガス導入管34c及びガ
ス導入孔34dを介して第1隔壁部材34と回転電極3
1との間の狭隙間34bにパージガス、例えばHe等の
希ガスを噴出すると共に、ガス導入管35c及びガス導
入孔35dを介して第2隔壁部材35と回転電極31間
の狭隙間35bにパージガス、例えばHe等の希ガスを
噴出することで、狭隙間34b、35bが希ガスにより
パージされるので、空間34aのクリーニングガスが空
間35aに拡散すること、及び容器内空間38の反応ガ
スが空間35aに拡散することが抑制され、これによ
り、空間34aのクリーニングガスが容器内空間38に
拡散すること、及び容器内空間38の反応ガスが空間3
4aに拡散することをより効果的に抑制できる。
【0060】なお、ガス導入管34c及びガス導入孔3
4dを介して狭隙間34bにパージガスを噴出させるこ
とと、ガス導入管35c及びガス導入孔35dを介して
狭隙間35bにパージガスを噴出させることとのいずれ
か一方を行うようにしてもよい。この場合においても、
空間34aのクリーニングガスが容器内空間38に拡散
すること、及び容器内空間38の反応ガスが空間34a
に拡散することをより効果的に抑制できる。
【0061】また、第3実施形態のドライクリーニング
装置におけるガス導入孔34d、35dは種々の形態を
採ることができる。例えば、ガス導入孔34d、35d
は第1隔壁部材34、第2隔壁部材35の4側面に沿っ
た矩形状に形成したり、4側面に沿って多数配設した構
成としてもよい。要は、ガス導入孔34d、35dから
のパージガスが狭隙間34b、35bの全域をパージで
きればよい。
【0062】また、ガス導入孔34d、35dのそれぞ
れに連通連結させるガス導入管34c、35cは、ガス
導入孔34d、35dと同様に矩形状に形成したり、4
側面に沿って多数配設した構成としてもよい。要は、狭
隙間34b、35bの全域をパージできるようにガス導
入孔34d、35dにパージガスを供給できればよい。
【0063】(第4実施形態)図7に、本発明の第4実
施形態に係る回転電極のドライクリーニング装置の要部
を示す。
【0064】このドライクリーニング装置においては、
第2対向電極42の内部及び昇降装置43の内部を通っ
てガス導入孔45が設けられ、そのガス導入孔45にガ
ス導入管46が連通連結されている。これらガス導入管
46及びガス導入孔45を介してクリーニングガスが第
2対向電極42から回転電極41に向けて噴出されるよ
うに構成されている。
【0065】このように構成された第4実施形態のドラ
イクリーニング装置にあっては、回転電極41に接近し
ている第2対向電極42からクリーニングガスがプラズ
マ発生部42bに供給されるので、プラズマ発生部42
bにおいてプラズマを確実に発生させることが可能にな
る。
【0066】第4実施形態に係る回転電極のドライクリ
ーニング装置は、上述した第1〜第3実施形態に適用す
ることが可能である。但し、第1実施形態に適用する場
合には、排気系については、隔壁部材44で囲まれた空
間44aと連通連結するように二点鎖線にて示す排気管
47を設けるようにすればよい。また、第2実施形態に
適用する場合には、隔壁部材44と回転電極41との狭
隙間から隔壁部材44の外側の空間(図3の25a)に
拡散したクリーニングガスを排気管(図3の27)から
排気するようにすればよい。また、第3実施形態に適用
し、かつ隔壁部材44の内部を通りパージガスを回転電
極41に向けて噴出させる場合には、二点鎖線にて示す
排気管47を設けるようにすればよく、一方、第3実施
形態に適用し、かつ隔壁部材44の内部を通りパージガ
スを回転電極41に向けて噴出させない場合には、第2
実施形態に適用する場合と同様にすればよい。
【0067】なお、上述した第1〜第4実施形態では回
転電極のドライクリーニング装置を適用させたプラズマ
CVD装置では、SiH4を用いて被処理体であるガラ
ス基板上にアモルファスシリコンを成膜し、一方、ドラ
イクリーニング装置では回転電極に堆積したアモルファ
スシリコンをドライエッチングすべくクリーニングガス
にSF6を用いているが、本発明はこれに限らない。例
えば、CF4やCHF3、C26、C36、C48などの
フルオロカーボンガスを用いて被処理体上にフルオロカ
ーボンポリマーを成膜する場合、或いはCH4やC24
などを用いて被処理体上にアモルファスカーボンやDL
Cを成膜する場合には、第2対向電極やクリーニング用
狭隙間を含む空間に導入するクリーニングガスにO2
用いて、第2対向電極でプラズマ放電を発生させること
により、回転電極表面に堆積するフルオロカーボンポリ
マーやアモルファスカーボン、DLCなどをドライエッ
チングする場合にも適用できることは勿論である。
【0068】また、上述した実施形態では4側面からな
る隔壁部材を使用して回転電極の上側表面を覆い、第2
対向電極の周りと容器内空間とを隔てるようにしている
が、本発明に係る回転電極のクリーニング装置に適用で
きる隔壁部材はこれに限らない。例えば、回転電極の両
端が容器に接触又は接近している場合には、第2対向電
極の両側にそれぞれ板状の隔壁部材を設けて、回転電極
の上側表面を覆うようにしてもよいことは勿論である。
要は、隔壁部材により、少なくとも第2対向電極を含む
空間に導入されるクリーニングガスが容器内空間へ拡散
しない状態を確保できればよい。
【0069】また、上述した実施形態ではプラズマCV
D装置に適用しているが、本発明の回転電極のドライク
リーニング装置は、エッチング装置や表面処理装置など
のプラズマ処理装置にも同様に適用することが可能であ
る。例えば、エッチング装置により、CF4およびO2
用いて被処理体を等方的にエッチングする場合や、表面
処理装置により、CF4やCHF3,C26,C36,C
48などのフルオロカーボンガスを用いると共に被処理
体にバイアス電圧を印加して異方的にエッチングする表
面処理を行う場合なども、第2対向電極を含む空間内に
導入するO2によってOラジカルを発生させ、回転電極
表面に堆積するフルオロカーボンポリマーなどを灰化さ
せてドライエッチングすることができる。
【0070】また、上述した実施形態では回転電極のク
リーニング装置を、対向電極とは反対側である回転電極
の上側に設けるようにしているが、本発明はこれに限ら
ず、クリーニング装置を回転電極の周囲の任意な箇所
(但し、基板上への膜生成に支障の無い箇所に限る。)
に設けてもよいことは勿論である。
【0071】また、上述した実施形態では容器内の圧力
を100Torr〜200Torrの範囲としている
が、本発明のプラズマ処理装置では容器内の圧力を大気
圧と同様なレベルとした場合にも適用できる。
【0072】また、本発明は、被処理体への処理時だけ
でなく、被処理体への処理間(つまり待ち時間)におい
てもクリーニング処理を行うことができるが、待ち時間
においてクリーニング処理をする場合には、回転電極を
低速回転させてクリーニングすること、例えば待ち時間
が1minであるときに回転電極の回転数を1rpmと
低速で回転させてクリーニングすることが好ましい。こ
のように回転電極を低速回転させてクリーニング処理を
行う場合は、隔壁部材と回転電極間の隙間からクリーニ
ングガスが漏れることを大幅に抑制できる利点があるか
らである。但し、被処理体への処理時に電極クリーニン
グ処理も同時に行うと、クリーニングガスの拡散による
被処理体への処理空間への漏れがppmやppbオーダ
ーで問題となる場合には、被処理体への処理と電極クリ
ーニング処理とを同時に行わず、電極クリーニング処理
のみを行うようにし、かつ回転電極を低速回転させるこ
とが望ましい。
【0073】
【発明の効果】以上のように本発明によれば、回転電極
と対向電極との間の処理用狭隙間に発生するプラズマに
よる被処理体への膜堆積などの処理と、その一方では回
転電極と第2対向電極との間のクリーニング用狭隙間に
発生するプラズマによるクリーニング処理が同時に可能
となる。また被処理体への処理間の待ち時間にも第2対
向電極による回転電極のクリーニングが可能となる。そ
の結果、回転電極の交換や回転電極に対するウェットク
リーニングなどのメンテナンス作業のサイクルを大幅に
延ばすことができるため、稼働率の向上を図れ、しかも
生産コストの低廉化が可能になる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1実施形態に係る回転電極のドライ
クリーニング装置を組み込んだプラズマCVD装置を模
式的に示す正面図である。
【図2】本発明の第1実施形態に係る回転電極のドライ
クリーニング装置を構成する隔壁部材を回転電極と共に
示す斜視図である。
【図3】本発明の第2実施形態に係る回転電極のドライ
クリーニング装置を模式的に示す正面図である。
【図4】本発明の第2実施形態に係る回転電極のドライ
クリーニング装置を構成する隔壁部材を回転電極と共に
示す斜視図である。
【図5】本発明の第3実施形態に係る回転電極のドライ
クリーニング装置を模式的に示す正面図である。
【図6】本発明の第3実施形態に係る回転電極のドライ
クリーニング装置を構成する隔壁部材を回転電極と共に
示す斜視図である。
【図7】本発明の第4実施形態に係る回転電極のドライ
クリーニング装置の要部を模式的に示す正面図である。
【符号の説明】
11 容器 11a、28 容器内空間 12、21、31、41 回転電極 15 高周波電源 16 基板(ガラス基板) 17 サセプタ(対向電極) 17a 回転電極と基板との間の狭隙間(処理用狭隙
間) 24、34 第1隔壁部材 34c、35c ガス導入管 34d、35d、45 ガス導入孔 25、35 第2隔壁部材 112、22、32 第2対向電極 112a、22a、32a 第2対向電極と回転電極と
の間の狭隙間(クリーニング用狭隙間) 113、44 隔壁部材 114、23、33、43 昇降装置 115、26、36、46 ガス導入管 116、27、37、47 排気管
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 林 和志 神戸市西区高塚台1丁目5番5号 株式会 社神戸製鋼所神戸総合技術研究所内 (72)発明者 石橋 清隆 神戸市西区高塚台1丁目5番5号 株式会 社神戸製鋼所神戸総合技術研究所内 (72)発明者 小林 明 神戸市西区高塚台1丁目5番5号 株式会 社神戸製鋼所神戸総合技術研究所内 (72)発明者 後藤 裕史 神戸市西区高塚台1丁目5番5号 株式会 社神戸製鋼所神戸総合技術研究所内 (72)発明者 岡田 和人 神戸市西区高塚台1丁目5番5号 株式会 社神戸製鋼所神戸総合技術研究所内 (72)発明者 中上 明光 神戸市西区高塚台1丁目5番5号 株式会 社神戸製鋼所神戸総合技術研究所内 (72)発明者 森 勇藏 大阪府交野市私市8丁目16番19号 Fターム(参考) 4K030 AA06 BA30 CA06 DA06 EA12 FA03 KA16 KA30 5F004 AA15 BA20 BB13 BB32 BC02 BD04 CA05 DA00 DA01 DA02 DA03 DA16 DA18 DA22 DA26 5F045 AA08 AB01 AB04 AB39 AC01 AC02 DP03 EB06 EG01 EH04 EH07 EH12 EN04

Claims (8)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 放電発生用電圧が印加され、対向電極と
    の間の処理用狭隙間でグロー放電によるプラズマを発生
    させて反応ガスを分解させる回転電極をドライクリーニ
    ングするためのものであって、 該回転電極の周囲であり、該対向電極から回転電極の周
    方向に外れた位置に、該回転電極との間にクリーニング
    用狭隙間を形成する第2対向電極と、 該クリーニング用狭隙間にクリーニングガスを存在させ
    る雰囲気調整手段とを具備することを特徴とする回転電
    極のドライクリーニング装置。
  2. 【請求項2】 前記回転電極、前記対向電極及び前記第
    2対向電極を内部に含む容器を有し、 前記雰囲気調整手段は、 該容器内の空間を、該クリーニング用狭隙間を含む第1
    空間と該処理用狭隙間を含む第2空間とに隔て、かつ回
    転電極との間に狭隙間を有する状態で設けられた絶縁性
    の隔壁部材と、 該第1空間内にクリーニングガスを導入するための導入
    管と、 該第1空間内を排気するための排気管とを備えることを
    特徴とする請求項1に記載の回転電極のドライクリーニ
    ング装置。
  3. 【請求項3】 前記第1空間の圧力が前記第2空間の圧
    力よりも小さいことを特徴とする請求項2に記載の回転
    電極のドライクリーニング装置。
  4. 【請求項4】 前記回転電極、前記対向電極及び前記第
    2対向電極を内部に含む容器を有し、 前記雰囲気調整手段は、 該容器内の空間を、前記クリーニング用狭隙間を含む第
    1空間、前記処理用狭隙間を含む第2空間、及び第1空
    間と第2空間との間の第3空間に隔て、かつ回転電極と
    の間に狭隙間を有する状態で設けられた複数の絶縁性の
    隔壁部材と、 該第1空間内にクリーニングガスを導入するための導入
    管と、 該第3空間内を排気するための排気管とを備えることを
    特徴とする請求項1に記載の回転電極のドライクリーニ
    ング装置。
  5. 【請求項5】 前記隔壁部材が、第1空間と第3空間と
    の間を隔てる第1隔壁部材と、第2空間と第3空間との
    間を隔てる第2隔壁部材とを有し、第1又は第2隔壁部
    材の少なくとも一方の内部に、前記回転電極に向けてパ
    ージガスを噴出するためのガス導入孔を有することを特
    徴とする請求項4に記載の回転電極のドライクリーニン
    グ装置。
  6. 【請求項6】 前記第2対向電極が、その回転電極側表
    面にクリーニングガスを回転電極に向けて噴出させる噴
    出口を有することを特徴とする請求項1乃至5のいずれ
    かに記載の回転電極のドライクリーニング装置。
  7. 【請求項7】 前記第2対向電極が、前記回転電極に対
    して接離可能に設けられ、前記クリーニング用狭隙間を
    調整できる構成となっていることを特徴とする請求項1
    乃至6のいずれかに記載の回転電極のドライクリーニン
    グ装置。
  8. 【請求項8】 反応ガスが導入される容器と、該容器内
    に互いに対向して離隔設置された一対の回転電極及び対
    向電極と、該回転電極に放電発生用電圧を印加する電源
    とを備え、該回転電極と対向電極との間の処理用狭隙間
    においてグロー放電によるプラズマを発生させて、該処
    理用狭隙間に配した被処理体の表面に処理を施すプラズ
    マ処理装置において、 該回転電極の周囲であって、該対向電極から回転電極の
    周方向に外れた位置に、請求項1乃至7のいずれかに記
    載の回転電極のドライクリーニング装置が設けられてい
    ることを特徴とするプラズマ処理装置。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007142175A (ja) * 2005-11-18 2007-06-07 Sharp Corp プラズマプロセス方法およびプラズマプロセス装置

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH09104985A (ja) * 1995-08-08 1997-04-22 Sanyo Electric Co Ltd 回転電極を用いた高速成膜方法及びその装置
JP2001214275A (ja) * 2000-01-28 2001-08-07 Tdk Corp プラズマ処理装置
JP2001240971A (ja) * 2000-03-01 2001-09-04 Kobe Steel Ltd 薄膜形成装置
JP2002180256A (ja) * 2000-12-15 2002-06-26 Kobe Steel Ltd 表面処理装置

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH09104985A (ja) * 1995-08-08 1997-04-22 Sanyo Electric Co Ltd 回転電極を用いた高速成膜方法及びその装置
JP2001214275A (ja) * 2000-01-28 2001-08-07 Tdk Corp プラズマ処理装置
JP2001240971A (ja) * 2000-03-01 2001-09-04 Kobe Steel Ltd 薄膜形成装置
JP2002180256A (ja) * 2000-12-15 2002-06-26 Kobe Steel Ltd 表面処理装置

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007142175A (ja) * 2005-11-18 2007-06-07 Sharp Corp プラズマプロセス方法およびプラズマプロセス装置
JP4481921B2 (ja) * 2005-11-18 2010-06-16 シャープ株式会社 プラズマプロセス方法およびプラズマプロセス装置

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